JPH11344715A - Liquid crystal display device - Google Patents

Liquid crystal display device

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Publication number
JPH11344715A
JPH11344715A JP10154465A JP15446598A JPH11344715A JP H11344715 A JPH11344715 A JP H11344715A JP 10154465 A JP10154465 A JP 10154465A JP 15446598 A JP15446598 A JP 15446598A JP H11344715 A JPH11344715 A JP H11344715A
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JP
Japan
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liquid crystal
crystal display
film
light
shielded
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Pending
Application number
JP10154465A
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Japanese (ja)
Inventor
Masamitsu Furuya
政光 古家
Toru Sasaki
亨 佐々木
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal display device which prevents a display inferiority even if air bubbles are generated within liquid crystal. SOLUTION: The first transparent insulating substrate SUB2, which comprises a plurality of films containing a light shielding film BM dividing pixels, and the second transparent insulating substrate SUB1 comprising a plurality of films are placed so as to make their planes laminated with the films confronted with each other keeping a gap between them, are provided with a frame-shaped sealant located on the periphery of the two substrates and liquid crystal is filled inside the sealant to form a liquid crystal display. A groove is formed in the part of the display region, shielded by the film BM, formed inside the sealant of the liquid crystal display so as to make the gap of the liquid crystal layer LC in the region shielded by the film BM wider than the gap of liquid crystal layer in the region not shielded by the film BM.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置に係
り、特に画素を区画する遮光膜を含む複数の膜を有する
第1の透明絶縁基板と、複数の膜を有する第2の透明絶
縁基板とを、前記複数の膜を積層した面同士を間隙を持
って対向させ、前記第1と第2の透明絶縁基板間の縁周
囲に枠状に設けたシール材により貼り合わせ、前記シー
ル材の内側に液晶を注入した液晶表示素子を有する液晶
表示装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display, and more particularly to a first transparent insulating substrate having a plurality of films including a light-shielding film for partitioning pixels, and a second transparent insulating substrate having a plurality of films. And a surface where the plurality of films are laminated is opposed to each other with a gap therebetween, and is attached by a sealing material provided in a frame shape around an edge between the first and second transparent insulating substrates. The present invention relates to a liquid crystal display device having a liquid crystal display element into which liquid crystal is injected.

【0002】[0002]

【従来の技術】アクティブ・マトリクス方式の液晶表示
装置は、マトリクス状に配列された複数の画素電極のそ
れぞれに対応して非線形素子(スイッチング素子)を設
けたものである。各画素における液晶は理論的には常時
駆動(デューティ比1.0)されているので、時分割駆
動方式を採用している,所謂単純マトリクス方式と比べ
てコントラストが良好で、特にカラー液晶表示装置では
欠かせない技術となりつつある。上記スイッチング素子
の代表的なものとしては薄膜トランジスタ(TFT)が
ある。
2. Description of the Related Art An active matrix type liquid crystal display device is provided with a non-linear element (switching element) corresponding to each of a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix. Since the liquid crystal in each pixel is theoretically always driven (duty ratio 1.0), the contrast is better than that of a so-called simple matrix system that employs a time-division driving system. Then it is becoming an indispensable technology. A typical example of the switching element is a thin film transistor (TFT).

【0003】なお、薄膜トランジスタを使用したアクテ
ィブ・マトリクス方式の液晶表示装置は、例えば特開昭
63−309921号公報や、「冗長構成を採用した1
2.5型アクティブ・マトリクス方式カラー液晶ディス
プレイ」、日経エレクトロニクス、頁193〜210、
3〜210(1986年12月15日、日経マグロウヒ
ル社発行)で知られている。
Incidentally, an active matrix type liquid crystal display device using thin film transistors is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-309921 or "1.
2.5-inch active matrix color liquid crystal display ", Nikkei Electronics, pp. 193-210,
3-210 (Nikkei McGraw-Hill, December 15, 1986).

【0004】液晶表示装置(液晶表示モジュールとも称
する)は、例えば、一方に遮光膜とカラーフィルタおよ
び配向膜や絶縁膜等を積層し、他方に表示用の共通電極
と画素電極および配向膜等の絶縁膜を積層した2枚の透
明絶縁基板から構成し(所謂、横電界型(IPS型)の
液晶表示装置)、あるいは一方に表示用の透明共通電極
と配向膜や遮光膜あるいはカラーフィルタおよび絶縁膜
等を積層し、他方に表示用の透明画素電極や配向膜等の
絶縁膜を積層した2枚の透明絶縁基板から構成し(所
謂、縦電界型(TN型)の液晶表示装置)の面同士が対
向するように所定の間隙を隔てて重ね合わせ、該両基板
間の周縁部に枠状(ロの字状)に設けたシール材により
両基板を貼り合わせると共に、シール材の一部の切り欠
け部である液晶封入口から両基板間のシール材の内側に
液晶を注入して液晶層を形成した後、該封入口を光硬化
型樹脂からなる封止材により封止し、さらに両基板の外
側に偏光板を設けてなる液晶表示パネル(液晶表示素
子、LCD:リキッド クリスタル ディスプレイ(L
iquid Crystal Display))と、
液晶表示パネルの背面に配置されて液晶表示パネルに照
明光を供給するバックライトと、液晶表示パネルの外周
部の外側に配置した液晶駆動用回路基板と、バックライ
トを収納し保持するプラスチックモールド成型品である
下側ケースと、前記各部材を収納し、表示窓があけられ
た金属製シールドケース(上側ケース)等で構成されて
いる。
A liquid crystal display (also referred to as a liquid crystal display module) has, for example, a structure in which a light-shielding film, a color filter, an alignment film, an insulating film, and the like are stacked on one side, and a common electrode for display, a pixel electrode, an alignment film, and the like on the other side. It is composed of two transparent insulating substrates on which insulating films are laminated (a so-called in-plane switching (IPS) liquid crystal display device), or one of them has a transparent common electrode for display and an alignment film, a light-shielding film or a color filter and an insulating film. A surface of a so-called vertical electric field type (TN type) liquid crystal display device, which is composed of two transparent insulating substrates in which a film or the like is laminated and an insulating film such as a transparent pixel electrode for display or an alignment film is laminated on the other. The two substrates are overlapped with a predetermined gap therebetween so as to face each other, and both substrates are bonded to each other by a sealing material provided in a frame shape (a square shape) on a peripheral portion between the two substrates. Liquid crystal filling as notch After injecting liquid crystal into the sealing material between the two substrates to form a liquid crystal layer, the sealing port is sealed with a sealing material made of a photocurable resin, and a polarizing plate is further provided outside the two substrates. Liquid crystal display panel (liquid crystal display element, LCD: liquid crystal display (L
liquid Crystal Display)),
A backlight that is arranged on the back of the liquid crystal display panel and supplies illumination light to the liquid crystal display panel, a circuit board for driving the liquid crystal that is arranged outside the outer periphery of the liquid crystal display panel, and plastic mold molding that stores and holds the backlight A lower case, which is a product, and a metal shield case (upper case) that houses the above members and has an open display window.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来の液晶表示装置に
おいては、内面に形成した遮光膜(ブラックマトリク
ス)、カラーフィルタ、あるいはシール材、もしくは液
晶の衝撃や熱ストレスにより、あるいは2枚の基板の間
隙に液晶を注入する際に、液晶層の内部に気泡が発生す
ることがある。気泡には液晶が存在しないため透過光量
を制御できず,表示不良となる。
In a conventional liquid crystal display device, a light-shielding film (black matrix) formed on an inner surface, a color filter, a sealing material, or the impact or thermal stress of a liquid crystal, or the two substrates are used. When the liquid crystal is injected into the gap, bubbles may be generated inside the liquid crystal layer. Since there is no liquid crystal in the bubbles, the amount of transmitted light cannot be controlled, resulting in display failure.

【0006】この問題を解決するためには、気泡の発生
し難い液晶を用いることや、製造プロセス条件の検討、
構成材料からの発ガス抑制、等が考えられるが、完全な
対策は困難である。
In order to solve this problem, it is necessary to use a liquid crystal in which bubbles are unlikely to be generated, to examine manufacturing process conditions,
Suppression of outgassing from constituent materials is conceivable, but complete measures are difficult.

【0007】本発明の目的は、液晶内部に気泡が発生し
た場合でも表示不良とならない液晶表示装置を提供する
ことにある。
An object of the present invention is to provide a liquid crystal display device which does not cause display failure even when bubbles are generated inside the liquid crystal.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は、下記(1)〜(8)に記載の構成とした
ことを特徴とする。
Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is characterized by having the following constitutions (1) to (8).

【0009】(1)画素を区画する遮光膜を含む複数の
膜を有する第1の透明絶縁基板と、複数の膜を有する第
2の透明絶縁基板とを、前記複数の膜を積層した面同士
を間隙を持って対向させ、前記第1と第2の透明絶縁基
板間の縁周囲に枠状に設けたシール材により貼り合わ
せ、前記シール材の内側に液晶を注入した液晶表示素子
を有し、前記液晶表示素子の前記シール材の内側に形成
される表示領域の前記遮光膜で遮光される部分に、当該
遮光膜で遮光される部分の液晶層の間隙を前記遮光膜で
遮光されない部分の液晶層の間隙より大きくすることに
より形成した溝を有せしめた。
(1) A first transparent insulating substrate having a plurality of films including a light-shielding film for partitioning a pixel and a second transparent insulating substrate having a plurality of films are provided on a surface on which the plurality of films are laminated. And a liquid crystal display element in which liquid crystal is injected inside the sealing material by bonding them together with a sealing material provided in a frame shape around an edge between the first and second transparent insulating substrates. A portion of the liquid crystal display element that is shielded by the light-shielding film in a display region formed inside the sealant of the liquid crystal display element; Grooves formed by making the gap larger than the gap between the liquid crystal layers were provided.

【0010】この構成により、液晶内に発生した気泡は
間隙の大きい上記の溝の中に移動する。この溝は画素を
区画する遮光膜で被覆される部分であるため、気泡のた
めに液晶が排除されているための光変調機能が支障され
ても、表示に影響しないため、気泡による表示不良はな
く、高表示品質の液晶表示装置が得られる。
With this configuration, the bubbles generated in the liquid crystal move into the above-described groove having a large gap. Since this groove is a portion covered with a light-shielding film that partitions the pixels, even if the light modulation function due to the elimination of the liquid crystal due to bubbles does not affect the display, display defects due to bubbles are not affected. Thus, a liquid crystal display device with high display quality can be obtained.

【0011】(2)画素を区画する遮光膜と絶縁膜を含
む複数の膜を面上に積層した第1の透明絶縁基板と、走
査信号線と映像信号線と共通電極(対向電極)および画
素電極を含む複数の膜を面上に積層した第2の透明絶縁
基板の前記複数の膜を積層した面同士を間隙を持って対
向させ、前記第1と第2の透明絶縁基板間の縁周囲に枠
状に設けたシール材により貼り合わせ、前記シール材の
内側に液晶を注入した液晶表示素子を有し、前記液晶表
示素子の前記シール材の内側に形成される表示領域の前
記遮光膜で遮光される部分に、当該遮光膜で遮光される
部分の液晶層の間隙を前記遮光膜で遮光されない部分の
液晶層の間隙より大きくすることにより形成した溝を有
せしめた。
(2) A first transparent insulating substrate in which a plurality of films including a light shielding film and an insulating film for partitioning pixels are laminated on a surface, a scanning signal line, a video signal line, a common electrode (a counter electrode), and a pixel. A second transparent insulating substrate, on which a plurality of films including electrodes are laminated on a surface, faces each other with a gap between the surfaces on which the plurality of films are laminated, and a periphery of an edge between the first and second transparent insulating substrates. A liquid crystal display element in which liquid crystal is injected inside the seal material, and a light-shielding film in a display area formed inside the seal material of the liquid crystal display element. The light-shielded portion has a groove formed by making the gap between the liquid crystal layers in the portion shielded by the light-shielding film larger than the gap between the liquid crystal layers in the portion not shielded by the light-shielding film.

【0012】この構成は、所謂横電界型の液晶表示装置
に本発明を適用したものであり、遮光膜を有する透明絶
縁基板側に透明電極(共通電極:対向電極)を有せず、
遮光膜で遮蔽される部分の絶縁膜や配向膜を除去し、あ
るいは膜厚を薄くしてその部分の間隔を他の部分より大
きくして液晶内に発生した気泡を間隙の大きい上記の溝
の中に移動させる。この溝は画素を区画する遮光膜で被
覆される部分であるため、気泡のために液晶が排除され
ているための光変調機能が支障されても、表示に影響し
ないため、気泡による表示不良はなく、高表示品質の液
晶表示装置が得られる。
In this configuration, the present invention is applied to a so-called horizontal electric field type liquid crystal display device, which does not have a transparent electrode (common electrode: counter electrode) on a transparent insulating substrate side having a light shielding film.
Remove the insulating film or alignment film in the part shielded by the light-shielding film, or reduce the film thickness so that the space between the parts is larger than the other parts so that the bubbles generated in the liquid crystal can be removed from the above-mentioned groove with a large gap. Move inside. Since this groove is a portion covered with a light-shielding film that partitions the pixels, even if the light modulation function due to the elimination of the liquid crystal due to bubbles does not affect the display, display defects due to bubbles are not affected. Thus, a liquid crystal display device with high display quality can be obtained.

【0013】(3)画素を区画する遮光膜と透明共通電
極(対向電極)および絶縁膜を含む複数の膜を面上に積
層した第1の透明絶縁基板と、走査信号線と映像信号線
および透明画素電極を含む複数の透明電極膜を面上に積
層した第2の透明絶縁基板の前記複数の膜を積層した面
同士を間隙を持って対向させ、前記第1と第2の透明絶
縁基板間の縁周囲に枠状に設けたシール材により貼り合
わせ、前記シール材の内側に液晶を注入した液晶表示素
子を有し、前記液晶表示素子の前記シール材の内側に形
成される表示領域の前記遮光膜で遮光される部分に、当
該遮光膜で遮光される部分の液晶層の間隙を前記遮光膜
で遮光されない部分の液晶層の間隙より大きくすること
により形成した溝を有せしめた。
(3) A first transparent insulating substrate in which a plurality of films including a light-shielding film for partitioning pixels, a transparent common electrode (counter electrode), and an insulating film are laminated on a surface, a scanning signal line, a video signal line, A second transparent insulating substrate on which a plurality of transparent electrode films including a transparent pixel electrode are laminated on a surface thereof, the surfaces on which the plurality of films are laminated are opposed to each other with a gap therebetween, and the first and second transparent insulating substrates are A liquid crystal display element in which liquid crystal is injected inside the seal material is attached by a seal material provided in a frame shape around an edge between, and a display region formed inside the seal material of the liquid crystal display element is formed. A groove formed by making the gap between the liquid crystal layers in the portion shielded by the light-shielding film larger than the gap between the liquid crystal layers in the portion not shielded by the light-shielding film was provided in the portion shielded by the light-shielding film.

【0014】この構成は、所謂縦電界型液晶表示装置に
本発明を適用したものであり、遮光膜を有する透明絶縁
基板側に透明電極(共通電極:対向電極)を有し、遮光
膜で遮蔽される部分の絶縁膜や配向膜の膜厚を薄くしあ
るいは除去してその部分の間隔を他の部分より大きくす
る。液晶内に発生した気泡は間隙の大きい上記の溝の中
に移動する。この溝は画素を区画する遮光膜で被覆され
る部分であるため、気泡のために液晶が排除されている
ための光変調機能が支障されても、表示に影響しないた
め、気泡による表示不良はなく、高表示品質の液晶表示
装置が得られる。
In this structure, the present invention is applied to a so-called vertical electric field type liquid crystal display device, in which a transparent electrode (common electrode: counter electrode) is provided on a transparent insulating substrate side having a light shielding film, and is shielded by the light shielding film. The thickness of the insulating film or the alignment film in the portion to be removed is reduced or removed so that the interval between the portions is made larger than the other portions. Bubbles generated in the liquid crystal move into the above-described groove having a large gap. Since this groove is a portion covered with a light-shielding film that partitions the pixels, even if the light modulation function due to the elimination of the liquid crystal due to bubbles does not affect the display, display defects due to bubbles are not affected. Thus, a liquid crystal display device with high display quality can be obtained.

【0015】(4)(2)または(3)における前記溝
が、前記第1の透明絶縁基板の前記遮光膜で遮光される
部分の絶縁膜の少なくとも1つを除去することにより形
成する。
(4) The groove in (2) or (3) is formed by removing at least one of the insulating films in a portion of the first transparent insulating substrate which is shielded by the light shielding film.

【0016】この構成により、液晶内に発生した気泡は
間隙の大きい上記の溝の中に移動する。この溝は画素を
区画する遮光膜で被覆される部分であるため、気泡のた
めに液晶が排除されているための光変調機能が支障され
ても、表示に影響しないため、気泡による表示不良はな
く、高表示品質の液晶表示装置が得られる。
According to this structure, the bubbles generated in the liquid crystal move into the above-mentioned groove having a large gap. Since this groove is a portion covered with a light-shielding film that partitions the pixels, even if the light modulation function due to the elimination of the liquid crystal due to bubbles does not affect the display, display defects due to bubbles are not affected. Thus, a liquid crystal display device with high display quality can be obtained.

【0017】(5)(2)または(3)における前記溝
が、前記第1の透明絶縁基板の前記遮光膜で遮光される
部分の絶縁膜の少なくとも1つの膜厚を前記遮光膜で遮
光されない部分の膜厚より薄くしたことにより形成す
る。
(5) In the groove of (2) or (3), the thickness of at least one portion of the insulating film of the first transparent insulating substrate which is shielded by the light shielding film is not shielded by the light shielding film. It is formed by making it thinner than the film thickness of the part.

【0018】この構成によっても、液晶内に発生した気
泡は間隙の大きい上記の溝の中に移動する。この溝は画
素を区画する遮光膜で被覆される部分であるため、気泡
のために液晶が排除されているための光変調機能が支障
されても、表示に影響しないため、気泡による表示不良
はなく、高表示品質の液晶表示装置が得られる。
According to this structure, the bubbles generated in the liquid crystal move into the above-mentioned groove having a large gap. Since this groove is a portion covered with a light-shielding film that partitions the pixels, even if the light modulation function due to the elimination of the liquid crystal due to bubbles does not affect the display, display defects due to bubbles are not affected. Thus, a liquid crystal display device with high display quality can be obtained.

【0019】(6)(2)または(3)における前記溝
を、前記走査信号線と平行に形成された溝と、前記映像
信号線と平行に形成された溝の両方から構成した。
(6) The groove in (2) or (3) is composed of both a groove formed in parallel with the scanning signal line and a groove formed in parallel with the video signal line.

【0020】表示画素は走査信号線と映像信号線で囲ま
れているため、上記溝をこれらの信号線と平行に形成す
ることで、画素内に発生した気泡は効率よく両溝内に吸
収され表示品質を劣化させることがない。
Since the display pixels are surrounded by the scanning signal lines and the video signal lines, by forming the grooves in parallel with these signal lines, the bubbles generated in the pixels are efficiently absorbed in both grooves. There is no deterioration in display quality.

【0021】(7)(2)または(3)における前記溝
を、前記走査信号線と平行に形成した。
(7) The groove in (2) or (3) is formed in parallel with the scanning signal line.

【0022】表示画素は走査信号線と隣接しているた
め、上記溝を走査信号線と平行に形成することで、画素
内に発生した気泡は効率よく両溝内に吸収され表示品質
を劣化させることがない。
Since the display pixel is adjacent to the scanning signal line, by forming the groove in parallel with the scanning signal line, bubbles generated in the pixel are efficiently absorbed in both grooves and display quality is deteriorated. Nothing.

【0023】(8)(2)または(3)における前記溝
を、前記映像信号線と平行に形成した。
(8) The groove in (2) or (3) is formed in parallel with the video signal line.

【0024】表示画素は映像信号線と隣接しているた
め、上記溝を映像信号線と平行に形成することで、画素
内に発生した気泡は効率よく両溝内に吸収され表示品質
を劣化させることがない。
Since the display pixel is adjacent to the video signal line, by forming the groove in parallel with the video signal line, air bubbles generated in the pixel are efficiently absorbed in both grooves and display quality is deteriorated. Nothing.

【0025】すなわち、液晶表示素子を構成する液晶内
部に気泡が発生した場合、液晶(液体)と気泡(気体)
との間に表面張力が発生し、この表面張力により気泡は
表面積が小さくなろうとする。本発明では、遮光膜によ
り遮光される部分(遮光部)に溝を形成して遮光部の液
晶層の厚みを遮光されない部分(開口部)より大きくし
ているため、気泡はより表面積が小さくなる溝に移動し
て存在することになる。表示領域内であっても実際に表
示を行っているのは開口部(表示画素の部分)であり、
遮光部は表示に寄与しない。従って、本発明では気泡が
発生しても開口部に気泡が存在しないため表示不良の発
生を低減することができる。
That is, when bubbles are generated inside the liquid crystal constituting the liquid crystal display element, the liquid crystal (liquid) and the bubbles (gas)
And the surface tension of the bubbles tends to decrease due to the surface tension. In the present invention, since a groove is formed in a portion (light-shielding portion) that is shielded by the light-shielding film and the thickness of the liquid crystal layer of the light-shielding portion is made larger than that in the portion (opening portion) that is not shielded from light, bubbles have a smaller surface area. It will move to the groove and be present. It is the opening (display pixel portion) that actually performs display even in the display area,
The light shield does not contribute to the display. Therefore, according to the present invention, even if bubbles are generated, the occurrence of display defects can be reduced because no bubbles exist in the opening.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、実施例の図面を用いて詳細に説明する。なお、以下
で説明する図面で同一機能を有するものは同一符号を付
け、その繰り返しの説明は省略する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings described below, components having the same function are denoted by the same reference numerals, and repeated description thereof will be omitted.

【0027】ここでは、アクティブ・マトリクス方式の
カラー液晶表示装置に本発明を適用した実施例について
詳細に説明する。
Here, an embodiment in which the present invention is applied to an active matrix type color liquid crystal display device will be described in detail.

【0028】《マトリクス部(画素部)の平面構成》図
1は本発明による液晶表示装置の構成例を説明する横電
界型のアクティブ・マトリクス方式カラー液晶表示装置
の一画素とその周辺を示す平面図である。
<< Planar Configuration of Matrix Unit (Pixel Unit) >> FIG. 1 is a plan view showing one pixel of a lateral electric field type active matrix type color liquid crystal display device and its periphery for explaining a configuration example of a liquid crystal display device according to the present invention. FIG.

【0029】図1に示すように、各画素は走査信号線
(ゲート信号線または水平信号線)GLと、対向電圧信
号線(対向電極配線)CLと、隣接する2本の映像信号
線(ドレイン信号線または垂直信号線)DLとの交差領
域内(4本の信号線で囲まれた領域内)に配置されてい
る。
As shown in FIG. 1, each pixel has a scanning signal line (gate signal line or horizontal signal line) GL, a counter voltage signal line (counter electrode wiring) CL, and two adjacent video signal lines (drain). The signal line or the vertical signal line) is arranged in an intersecting region with the DL (in a region surrounded by four signal lines).

【0030】各画素は薄膜トランジスタTFT、蓄積容
量Cstg、画素電極PXおよび対向電極CTを含む。走
査信号線GL、対向電圧信号線CLは図では左右方向に
延在し、上下方向に複数本配置されている。映像信号線
DLは上下方向に延在し、左右方向に複数本配置されて
いる。画素電極PXは薄膜トランジスタTFTと接続さ
れ、対向電極CTは対向電圧信号線CLと一体になって
いる。
Each pixel includes a thin film transistor TFT, a storage capacitor Cstg, a pixel electrode PX, and a counter electrode CT. The scanning signal lines GL and the counter voltage signal lines CL extend in the left-right direction in FIG. The video signal lines DL extend in the up-down direction, and a plurality of video signal lines DL are arranged in the left-right direction. The pixel electrode PX is connected to the thin film transistor TFT, and the counter electrode CT is integrated with the counter voltage signal line CL.

【0031】画素電極PXと対向電極CTは互いに対向
し、各画素電極PXと対向電極CTとの間の電界により
液晶LCの光学的な状態を制御して表示を制御する。画
素電極PXと対向電極CTは櫛歯状に構成され、それぞ
れ、図の上下方向に長細い電極となっている。
The pixel electrode PX and the counter electrode CT face each other, and the display is controlled by controlling the optical state of the liquid crystal LC by the electric field between each pixel electrode PX and the counter electrode CT. The pixel electrode PX and the counter electrode CT are formed in a comb shape, and each is an electrode that is elongated in the vertical direction in the figure.

【0032】これらの各電極、各信号線等は第2の透明
絶縁基板である下部透明基板(ガラス基板)の内面に形
成され、これと対向して配置される遮光膜(ブラックマ
トリクス)およびカラーフィルタ等を形成した第1の透
明絶縁基板である上部透明基板(ガラス基板)が液晶L
Cを挟んで重ねあわされる。
These electrodes, signal lines, etc. are formed on the inner surface of a lower transparent substrate (glass substrate) which is a second transparent insulating substrate, and a light shielding film (black matrix) and a color The upper transparent substrate (glass substrate), which is the first transparent insulating substrate on which a filter and the like are formed, is a liquid crystal L
It is piled up across C.

【0033】《マトリクス部(画素部)の断面構成》図
2は本発明の第1実施例を説明する図1の3−3切断線
における断面図、図3は図1の6−6切断線における断
面図、図4は図1の4−4切断線における薄膜トランジ
スタTFTの断面図、図5は図1の5−5切断線におけ
る蓄積容量Cstgの断面図である。
<< Cross-Sectional Structure of Matrix Part (Pixel Part) >> FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line 3-3 in FIG. 1 for explaining the first embodiment of the present invention, and FIG. , FIG. 4 is a cross-sectional view of the thin film transistor TFT taken along section line 4-4 in FIG. 1, and FIG. 5 is a cross-sectional view of the storage capacitor Cstg along section line 5-5 in FIG.

【0034】図2〜図5に示すように、液晶(液晶層)
LCを基準にして下部透明ガラス基板SUB1側には薄
膜トランジスタTFT、蓄積容量Cstgおよび電極群が
形成され、上部透明ガラス基板SUB2側にはカラーフ
ィルタFIL、遮光用ブラックマトリクスパターンBM
が形成されている。
As shown in FIGS. 2 to 5, a liquid crystal (liquid crystal layer)
On the lower transparent glass substrate SUB1 side, a thin film transistor TFT, a storage capacitor Cstg and an electrode group are formed on the lower transparent glass substrate SUB1 side, and on the upper transparent glass substrate SUB2 side, a color filter FIL and a light-shielding black matrix pattern BM are formed.
Are formed.

【0035】平坦化膜OCはフォトリソグラフィ及びエ
ッチングにより遮光用ブラックマトリクスBM(遮光
膜)パターンの開口部のみに形成されている。ブラック
マトリクスBMの厚さは約1.2μm、カラーフィルタ
FILの厚さは約1.4μm、平坦化膜OCの厚さは約
1.4μmである。この時、平坦化膜OCが設けられて
いる部分と設けられていない部分とでは液晶層LCの厚
さの差は約2μmになる。
The flattening film OC is formed only in the opening of the light-shielding black matrix BM (light-shielding film) pattern by photolithography and etching. The thickness of the black matrix BM is about 1.2 μm, the thickness of the color filter FIL is about 1.4 μm, and the thickness of the flattening film OC is about 1.4 μm. At this time, the difference in the thickness of the liquid crystal layer LC between the portion where the flattening film OC is provided and the portion where the flattening film OC is not provided is about 2 μm.

【0036】また、透明ガラス基板SUB1,SUB2
のそれぞれの内側(液晶LC側)の表面には、液晶の初
期配向を制御する配向膜ORI1,ORI2が設けられ
ており、透明ガラス基板SUB1,SUB2のそれぞれ
の外側の表面には,偏光軸が直交して配置された(クロ
スニコル配置)偏光板が設けられている。
Further, the transparent glass substrates SUB1, SUB2
Are provided with alignment films ORI1 and ORI2 for controlling the initial alignment of the liquid crystal on the inner surface (on the liquid crystal LC side), respectively, and the polarizing axes are provided on the outer surfaces of the transparent glass substrates SUB1 and SUB2. A polarizing plate arranged orthogonally (crossed Nicols arrangement) is provided.

【0037】ところで、従来の液晶表示装置では、液晶
の封入時に気泡が混入したり、衝撃や熱ストレスにより
液晶層LCに気泡が発生した場合、気泡発生部は液晶が
存在せず透過光量を制御できないため黒のままとなる表
示不良の原因となっていた。本実施例においても、気泡
の発生それ自体を抑止することはできない。しかし本実
施例では、気泡はブラックマトリクスBMのパターン裏
に形成された平坦化膜OCの溝部に存在することになる
ため表示不良にはならない。理由を以下に示す。
In the conventional liquid crystal display device, when bubbles are mixed in when the liquid crystal is filled, or when bubbles are generated in the liquid crystal layer LC due to impact or thermal stress, the bubble generating portion controls the amount of transmitted light without the liquid crystal. This has been a cause of display defects that remain black because they cannot be performed. Also in the present embodiment, the generation of bubbles per se cannot be suppressed. However, in the present embodiment, the bubbles are present in the grooves of the flattening film OC formed on the back of the pattern of the black matrix BM, so that the display does not become defective. The reason is shown below.

【0038】従来の液晶表示装置では、平坦化膜OCは
遮光用ブラックマトリクスBMを含む上部透明ガラス基
板SUB2全面に形成されているため、遮光用ブラック
マトリクスBMにより遮光される部分(遮光部)と遮光
部の液晶層LCの厚みを遮光されない部分(開口部)で
は液晶層LCの厚さはほとんど変わらない。
In the conventional liquid crystal display device, the flattening film OC is formed on the entire surface of the upper transparent glass substrate SUB2 including the light-shielding black matrix BM. The thickness of the liquid crystal layer LC hardly changes in a portion (opening) where the thickness of the liquid crystal layer LC is not shielded from light.

【0039】実際に画像表示を行っているのはブラック
マトリクスBMで囲まれた開口部であり、遮光部は表示
に影響を及ぼさないが、この時気泡は遮光部と開口部の
区別なく存在することになり開口部に存在する気泡によ
って表示不良となる。本実施例では、ブラックマトリク
スBMで構成される遮光部に溝を形成して遮光部の液晶
層LCの厚み(両基板の内面の間隔)を開口部(表示画
素部)より大きくしている。
What actually displays an image is the opening surrounded by the black matrix BM, and the light-shielding portion does not affect the display. At this time, bubbles exist without distinction between the light-shielding portion and the opening. In other words, display defects are caused by bubbles existing in the openings. In the present embodiment, a groove is formed in the light-shielding portion constituted by the black matrix BM, and the thickness of the liquid crystal layer LC (interval between the inner surfaces of both substrates) of the light-shielding portion is made larger than the opening (display pixel portion).

【0040】液晶層LCに気泡が発生した場合、液晶
(液体)と気泡(気体)との間に表面張力が発生する。
この時、気泡は表面積が最小になるのが一番安定な状態
であるため、気泡は表面積が小さくなろうとする。従っ
て、気泡は、より表面積が小さくなる液晶層LCの厚さ
が大きい溝に存在することになる。よって、本実施例に
よれば、気泡が発生しても開口部には気泡が存在しない
ため表示不良にはならない。
When bubbles are generated in the liquid crystal layer LC, a surface tension is generated between the liquid crystal (liquid) and the bubbles (gas).
At this time, since the bubble is in the most stable state when the surface area is minimized, the bubble tends to have a small surface area. Therefore, the bubbles are present in the grooves having a larger thickness of the liquid crystal layer LC having a smaller surface area. Therefore, according to the present embodiment, even if bubbles are generated, there is no bubble in the opening, so that display failure does not occur.

【0041】本実施例では、上部透明ガラス基板SUB
2の平坦化膜OCを除去することにより遮光部に溝を形
成したが、遮光部の液晶層LCの厚さが開口部の液晶層
LCの厚さより大きい構造であれば、本実施例にとらわ
れることはなく、下部透明ガラス基板SUB1側の各種
膜を除去して溝を形成しても良いし、下部透明ガラス基
板SUB1と上部透明ガラス基板SUB2の両方の各種
膜を除去して溝を形成しても良い。
In this embodiment, the upper transparent glass substrate SUB
Although the groove was formed in the light-shielding portion by removing the flattening film OC of No. 2, if the structure of the liquid crystal layer LC in the light-shielding portion is larger than the thickness of the liquid crystal layer LC in the opening, the present embodiment is adopted. Instead, the grooves may be formed by removing various films on the lower transparent glass substrate SUB1 side, or may be formed by removing various films on both the lower transparent glass substrate SUB1 and the upper transparent glass substrate SUB2. May be.

【0042】また本実施例では、走査信号線GL、対向
電圧信号線CL及び映像信号線DLとそれぞれ平行に溝
を形成しているが、必ずしもその全てを形成する必要は
ない。全ての溝を形成するのが最も効果が大きいが1個
所だけ溝を形成した場合でも気泡発生時の表示不良対策
には効果がある。
In the present embodiment, the grooves are formed in parallel with the scanning signal lines GL, the counter voltage signal lines CL, and the video signal lines DL, but not all of them need be formed. It is most effective to form all the grooves, but even if only one groove is formed, it is effective for the display failure countermeasures when bubbles are generated.

【0043】図6は本発明の第2実施例を説明する前記
図3と同様の図1の6−6切断線における断面図であ
る。この実施例では、ブラックマトリクスBMの上に平
坦化膜OCを残存させている点で前記第1実施例と構成
が異なる。この平坦化膜OCの上に配向膜ORI2を有
しない分だけ液晶層LCの厚み(両基板の間隔)が他の
部分よりも大きくなり、この部分に気泡を収容する溝が
形成される。しかし、この溝による間隔をさらに大きく
とるには、ブラックマトリクスBMの上の平坦化膜OC
を他の部分より薄くすればよい。この他の構成と効果は
前記第1実施例と同様であるので、説明は省略する。
FIG. 6 is a sectional view taken along the line 6-6 in FIG. 1 similar to FIG. 3 for explaining the second embodiment of the present invention. This embodiment is different from the first embodiment in that the planarizing film OC remains on the black matrix BM. The thickness of the liquid crystal layer LC (the distance between the two substrates) is larger than that of the other portions by the amount that the alignment film ORI2 is not provided on the flattening film OC, and a groove for accommodating bubbles is formed in this portion. However, in order to further increase the interval due to the groove, the planarizing film OC on the black matrix BM is required.
Should be made thinner than the other parts. Other configurations and effects are the same as those of the first embodiment, and thus description thereof is omitted.

【0044】図7は本発明の第3実施例を説明する前記
図3と同様の図1の6−6切断線における断面図であ
る。この実施例では、ブラックマトリクスBMの上に薄
い平坦化膜OCと配向膜ORI2を残存させている点で
前記第1実施例と構成が異なる。この平坦化膜OCの厚
みが他の部分よりも薄い分だけ液晶層LCの厚み(両基
板の間隔)が他の部分よりも大きくなり、この部分に気
泡を収容する溝が形成される。この他の構成と効果は前
記第1実施例と同様であるので、説明は省略する。
FIG. 7 is a sectional view taken along the line 6-6 of FIG. 1 similar to FIG. 3 for explaining the third embodiment of the present invention. This embodiment is different from the first embodiment in that a thin planarizing film OC and an alignment film ORI2 are left on a black matrix BM. The thickness of the liquid crystal layer LC (the distance between the two substrates) is larger than that of the other portion by the thickness of the flattening film OC that is smaller than that of the other portion, and a groove for accommodating bubbles is formed in this portion. Other configurations and effects are the same as those of the first embodiment, and thus description thereof is omitted.

【0045】《薄膜トランジスタTFT》薄膜トランジ
スタTFTは、ゲート電極GTに正のバイアスを印加す
ると、ソース−ドレイン間のチャネル抵抗が小さくな
り、バイアスを零にすると、チャネル抵抗は大きくなる
ように動作する。
<< Thin Film Transistor >> The thin film transistor TFT operates so that the channel resistance between the source and the drain decreases when a positive bias is applied to the gate electrode GT, and the channel resistance increases when the bias is set to zero.

【0046】薄膜トランジスタTFTは、図4に示すよ
うに、ゲート電極GT、ゲート絶縁膜GI、i型(真
性,intrinsic,導電型決定不純物がドープされていな
い)非晶質シリコン(Si)からなるi型半導体層A
S、一対のソース電極SD1、ドレイン電極SD2を有
す。なお、ソースとドレインは本来その間のバイアス極
性によって決まるもので、この液晶表示装置の回路では
その極性は動作中反転するので、ソースとドレインは動
作中入れ替わると理解されたい。しかし,以下の説明で
は、便宜上一方をソース、他方をドレインと固定して表
現する。
As shown in FIG. 4, the thin-film transistor TFT has a gate electrode GT, a gate insulating film GI, and an i-type (intrinsic, intrinsic, not doped with conductivity type determining impurities) amorphous silicon (Si). Type semiconductor layer A
S, a pair of source electrode SD1 and drain electrode SD2. It should be understood that the source and the drain are originally determined by the bias polarity between them, and in the circuit of the liquid crystal display device, the polarity is inverted during the operation, and therefore, it should be understood that the source and the drain are switched during the operation. However, in the following description, for convenience, one is fixed as a source and the other is fixed as a drain.

【0047】《ゲート電極GT》ゲート電極GTは走査
信号線GLと連続して形成されており、走査信号線GL
の一部の領域がゲート電極GTとなるように構成されて
いる。ゲート電極GTは薄膜トランジスタTFTの能動
領域を超える部分であり、i型半導体層ASを完全に覆
うよう(下方からみて)それより大き目に形成されてい
る。
<< Gate Electrode GT >> The gate electrode GT is formed continuously with the scanning signal line GL.
Is configured to be a gate electrode GT. The gate electrode GT is a portion exceeding the active region of the thin film transistor TFT, and is formed to be larger (as viewed from below) so as to completely cover the i-type semiconductor layer AS.

【0048】これにより、ゲート電極GTの役割のほか
に、i型半導体層ASに外光やバックライト光が当たら
ないように工夫されている。本例では、ゲート電極GT
は、単層の導電膜g1で形成されている。導電膜g1と
しては例えばスパッタで形成されたアルミニュウム(A
l)膜が用いられ、その上にはAlの陽極酸化膜AOF
が設けられている。
Thus, in addition to the role of the gate electrode GT, it is designed so that external light and backlight do not hit the i-type semiconductor layer AS. In this example, the gate electrode GT
Is formed of a single-layer conductive film g1. As the conductive film g1, for example, aluminum (A
1) A film is used, on which an anodic oxide film AOF of Al
Is provided.

【0049】《走査信号線GL》走査信号線GLは導電
膜g1で構成されている。この走査信号線GLの導電膜
g1はゲート電極GTの導電膜g1と同一製造工程で形
成され、かつ一体に構成されている。この走査信号線G
Lにより、外部回路からゲート電圧Vgをゲート電極G
Tに供給する。また、走査信号線GL上にもAlの陽極
酸化膜AOFが設けられている。なお、映像信号線DL
と交差する部分は映像信号線DLとの短絡の確率を小さ
くするため細くし、また、短絡しても、レーザートリミ
ングで切り離すことができるように二股にしている。
<< Scanning Signal Line GL >> The scanning signal line GL is formed of the conductive film g1. The conductive film g1 of the scanning signal line GL is formed in the same manufacturing process as the conductive film g1 of the gate electrode GT, and is integrally formed. This scanning signal line G
L, the gate voltage Vg is applied from an external circuit to the gate electrode G.
Supply to T. An anodic oxide film AOF of Al is also provided on the scanning signal line GL. Note that the video signal line DL
The portion that intersects with the video signal line DL is made thin in order to reduce the probability of short-circuiting with the video signal line DL, and is made bifurcated so that even if it is short-circuited, it can be separated by laser trimming.

【0050】《対向電極CT》対向電極CTはゲート電
極GTおよび走査信号線GLと同層の導電膜g1で構成
されている。また、対向電極CT上にもAlの陽極酸化
膜AOFが設けられている。対向電極CTは陽極酸化膜
AOFで完全に覆われていることから、映像信号線と限
りなく近づけても、それらが短絡してしまうことがなく
なる。また、それらを交差させて構成させることもでき
る。対向電極CTには対向電圧Vcomが印加されるよう
に構成されている。本実施例では、対向電圧Vcomは映
像信号線DLに印加される最小レベルの駆動電圧Vdmi
nと最大レベルの駆動電圧Vdmaxとの中間直流電位か
ら、薄膜トランジスタ素子TFTをオフ状態にするとき
に発生するフィードスルー電圧△Vs分だけ低い電位に
設定されるが、映像信号駆動回路で使用される集積回路
の電源電圧を約半分に低減したい場合は、交流電圧を印
加すれば良い。
<< Counter Electrode CT >> The counter electrode CT is formed of the same conductive film g1 as the gate electrode GT and the scanning signal line GL. An Al anodic oxide film AOF is also provided on the counter electrode CT. Since the counter electrode CT is completely covered with the anodic oxide film AOF, even when the counter electrode CT is brought as close as possible to the video signal line, they are not short-circuited. Further, they may be configured to cross each other. The counter electrode CT is configured to apply a counter voltage Vcom. In the present embodiment, the counter voltage Vcom is the minimum level of the driving voltage Vdmi applied to the video signal line DL.
The potential is set to be lower than the intermediate DC potential between n and the maximum level of the drive voltage Vdmax by a feedthrough voltage ΔVs generated when the thin film transistor element TFT is turned off, and is used in the video signal drive circuit. When it is desired to reduce the power supply voltage of the integrated circuit to about half, an AC voltage may be applied.

【0051】《対向電圧信号線CL》対向電圧信号線C
Lは導電膜g1で構成されている。この対向電圧信号線
CLの導電膜g1はゲート電極GT、走査信号線GLお
よび対向電極CTの導電膜g1と同一製造工程で形成さ
れ、かつ対向電極CTと一体に構成されている。この対
向電圧信号線CLにより、外部回路から対向電圧Vcom
を対向電極CTに供給する。また、対向電圧信号線CL
上にもAlの陽極酸化膜AOFが設けられている。な
お、映像信号線DLと交差する部分は、走査信号線GL
と同様に映像信号線DLとの短絡の確率を小さくするた
め細くし、また、短絡しても、レーザートリミングで切
り離すことができるように二股にしている。
<< Counter Voltage Signal Line CL >> Counter Voltage Signal Line C
L is composed of the conductive film g1. The conductive film g1 of the counter voltage signal line CL is formed in the same manufacturing process as the conductive film g1 of the gate electrode GT, the scanning signal line GL, and the counter electrode CT, and is formed integrally with the counter electrode CT. The opposing voltage signal line CL allows the opposing voltage Vcom
Is supplied to the counter electrode CT. Also, the counter voltage signal line CL
An anodic oxide film AOF of Al is also provided thereon. The portion that intersects with the video signal line DL is the scanning signal line GL.
In the same manner as described above, the width is made thinner in order to reduce the probability of short-circuiting with the video signal line DL, and it is made bifurcated so that even if it is short-circuited, it can be separated by laser trimming.

【0052】《絶縁膜GI》絶縁膜GIは、薄膜トラン
ジスタTFTにおいて、ゲート電極GTと共に半導体層
ASに電界を与えるためのゲート絶縁膜として使用され
る。絶縁膜GIはゲート電極GTおよび走査信号線GL
の上層に形成されている。絶縁膜GIとしては例えばプ
ラズマCVDで形成された窒化シリコン膜が選ばれ、1
200〜2700Åの厚さに(本実施例では、2400
Å程度)形成される。ゲート絶縁膜GIは、マトリクス
部ARの全体を囲むように形成され、周辺部は外部接続
端子DTM、GTMを露出するよう除去されている。絶
縁膜GIは走査信号線GLおよび対向電圧信号線CLと
映像信号線DLの電気的絶縁にも寄与している。
<< Insulating Film GI >> The insulating film GI is used as a gate insulating film for applying an electric field to the semiconductor layer AS together with the gate electrode GT in the thin film transistor TFT. The insulating film GI includes the gate electrode GT and the scanning signal line GL.
Is formed in the upper layer. As the insulating film GI, for example, a silicon nitride film formed by plasma CVD is selected.
In a thickness of 200 to 2700 ° (in this embodiment, 2400
Å) formed. The gate insulating film GI is formed so as to surround the entire matrix part AR, and the peripheral part is removed so as to expose the external connection terminals DTM and GTM. The insulating film GI also contributes to electrical insulation between the scanning signal line GL and the counter voltage signal line CL and the video signal line DL.

【0053】《i型半導体層AS》i型半導体層ASは
非晶質シリコンで、200〜2200Åの厚さに(本実
施例では、2000Å程度の膜厚)で形成される。層d
0はオーミックコンタクト用のリン(P)をドープした
N(+)型非晶質シリコン半導体層であり、下側にi型
半導体層ASが存在し、上側に導電層d1(d2)が存
在するところのみに残されている。
<< i-Type Semiconductor Layer AS >> The i-type semiconductor layer AS is made of amorphous silicon and has a thickness of 200 to 2200 ° (in this embodiment, a thickness of about 2000 °). Layer d
Numeral 0 denotes an N (+) type amorphous silicon semiconductor layer doped with phosphorus (P) for ohmic contact, wherein an i-type semiconductor layer AS is present on the lower side, and a conductive layer d1 (d2) is present on the upper side. It is left only in places.

【0054】i型半導体層ASは走査信号線GLおよび
対向電圧信号線CLと映像信号線DLとの交差部(クロ
スオーバ部)の両者間にも設けられている。この交差部
のi型半導体層ASは交差部における走査信号線GLお
よび対向電圧信号線CLと映像信号線DLとの短絡を低
減する。
The i-type semiconductor layer AS is also provided between the scanning signal line GL and the intersection (crossover portion) between the counter voltage signal line CL and the video signal line DL. The i-type semiconductor layer AS at the intersection reduces a short circuit between the scanning signal line GL and the counter voltage signal line CL and the video signal line DL at the intersection.

【0055】《ソース電極SD1,ドレイン電極SD
2》ソース電極SD1、ドレイン電極SD2のそれぞれ
は、N(+)型半導体層d0に接触する導電膜d1とそ
の上に形成された導電膜d2とから構成されている。
<< Source electrode SD1, Drain electrode SD
2 >> Each of the source electrode SD1 and the drain electrode SD2 is composed of a conductive film d1 in contact with the N (+) type semiconductor layer d0 and a conductive film d2 formed thereon.

【0056】導電膜d1はスパッタで形成したクロム
(Cr)膜を用い、500〜1000Åの厚さに(本実
施例では、600Å程度)で形成される。Cr膜は膜厚
を厚く形成するとストレスが大きくなるので、2000
Å程度の膜厚を越えない範囲で形成する。Cr膜はN
(+)型半導体層d0との接着性を良好にし、導電膜d
2のAlがN(+)型半導体層d0に拡散することを防
止する(いわゆるバリア層の)目的で使用される。導電
膜d1として、Cr膜の他に高融点金属(Mo,Ti,
Ta,W)膜,高融点金属シリサイド(MoSi2 ,T
iSi2 ,TaSi2 ,WSi2 )膜を用いてもよい。
The conductive film d1 is formed of a chromium (Cr) film formed by sputtering and having a thickness of 500 to 1000 ° (about 600 ° in this embodiment). When the Cr film is formed with a large thickness, the stress becomes large.
The film is formed in a range not exceeding about 膜厚. Cr film is N
To improve the adhesion to the (+) type semiconductor layer d0,
2 is used for the purpose of preventing the diffusion of Al into the N (+) type semiconductor layer d0 (so-called barrier layer). As the conductive film d1, a refractory metal (Mo, Ti,
Ta, W) film, refractory metal silicide (MoSi 2 , T
iSi 2, TaSi 2, WSi 2 ) film may be used.

【0057】導電膜d2はAlのスパッタリングで30
00〜5000Åの厚さに(本実施例では、4000Å
程度)形成される。Al膜はCr膜に比べてストレスが
小さく、厚い膜厚に形成することが可能で、ソース電極
SD1、ドレイン電極SD2および映像信号線DLの抵
抗値を低減したり、ゲート電極GTやi型半導体層AS
に起因する段差乗り越えを確実にする(ステップカバー
レッジを良くする)働きがある。
The conductive film d2 has a thickness of 30
To a thickness of 00 to 5000 mm (in this embodiment, 4000 mm).
Degree) is formed. The Al film has a smaller stress than the Cr film and can be formed to have a large thickness, and can reduce the resistance values of the source electrode SD1, the drain electrode SD2 and the video signal line DL, and can reduce the gate electrode GT and the i-type semiconductor. Layer AS
Has the function of ensuring that the vehicle gets over a step (improves step coverage).

【0058】導電膜d1、導電膜d2を同じマスクパタ
ーンでパターニングした後、同じマスクを用いて、ある
いは導電膜d1、導電膜d2をマスクとして,N(+)
型半導体層d0が除去される。つまり、i型半導体層A
S上に残っていたN(+)型半導体層d0は導電膜d
1、導電膜d2以外の部分がセルフアラインで除去され
る。このとき、N(+)型半導体層d0はその厚さ分は
全て除去されるようエッチングされるので、i型半導体
層ASも若干その表面部分がエッチングされるが、その
程度はエッチング時間で制御すればよい。
After patterning the conductive films d1 and d2 with the same mask pattern, N (+) is applied using the same mask or using the conductive films d1 and d2 as masks.
The type semiconductor layer d0 is removed. That is, the i-type semiconductor layer A
The N (+) type semiconductor layer d0 remaining on S is a conductive film d.
1. The portion other than the conductive film d2 is removed by self-alignment. At this time, since the N (+)-type semiconductor layer d0 is etched so as to entirely remove the thickness thereof, the i-type semiconductor layer AS is also slightly etched at its surface, but the degree is controlled by the etching time. do it.

【0059】《映像信号線DL》映像信号線DLはソー
ス電極SD1、ドレイン電極SD2と同層の第2導電膜
d2、第3導電膜d3で構成されている。また、映像信
号線DLはドレイン電極SD2と一体に形成されてい
る。
<< Video Signal Line DL >> The video signal line DL is composed of the second conductive film d2 and the third conductive film d3 in the same layer as the source electrode SD1 and the drain electrode SD2. The video signal line DL is formed integrally with the drain electrode SD2.

【0060】《画素電極PX》画素電極PXはソース電
極SD1、ドレイン電極SD2と同層の第2導電膜d
2、第3導電膜d3で構成されている。また、画素電極
PXはソース電極SD1と一体に形成されている。
<< Pixel Electrode PX >> The pixel electrode PX is a second conductive film d of the same layer as the source electrode SD1 and the drain electrode SD2.
2, the third conductive film d3. Further, the pixel electrode PX is formed integrally with the source electrode SD1.

【0061】《蓄積容量Cstg》画素電極PXは、薄膜
トランジスタTFTと接続される端部と反対側の端部に
おいて、対向電圧信号線CLと重なるように形成されて
いる。この重ね合わせは、図5からも明らかなように、
画素電極PXを一方の電極PL2とし、対向電圧信号C
Lを他方の電極PL1とする蓄積容量(静電容量素子)
Cstgを構成する。この蓄積容量Cstgの誘電体膜は、薄
膜トランジスタTFTのゲート絶縁膜として使用される
絶縁膜GIおよび陽極酸化膜AOFで構成されている。
<< Storage Capacitor Cstg >> The pixel electrode PX is formed so as to overlap the counter voltage signal line CL at the end opposite to the end connected to the thin film transistor TFT. This superposition is apparent from FIG.
The pixel electrode PX is used as one electrode PL2, and the counter voltage signal C
Storage capacitance (capacitance element) where L is the other electrode PL1
Construct Cstg. The dielectric film of the storage capacitor Cstg includes an insulating film GI used as a gate insulating film of the thin film transistor TFT and an anodic oxide film AOF.

【0062】《蓄積容量Cstg》画素電極PXは、薄膜
トランジスタTFTと接続される端部と反対側の端部に
おいて、対向電圧信号線CLと重なるように形成されて
いる。この重ね合わせは、図5からも明らかなように、
画素電極PXを一方の電極PL2とし、対向電圧信号線
CLを他方の電極PL1とする蓄積容量(静電容量素
子)Cstgを構成する。この蓄積容量Cstgの誘電体膜
は、薄膜トランジスタTFTのゲート絶縁膜として使用
される絶縁膜GIおよび陽極酸化膜AOFで構成されて
いる。
<< Storage Capacitor Cstg >> The pixel electrode PX is formed so as to overlap the counter voltage signal line CL at the end opposite to the end connected to the thin film transistor TFT. This superposition is apparent from FIG.
A storage capacitor (capacitance element) Cstg having the pixel electrode PX as one electrode PL2 and the counter voltage signal line CL as the other electrode PL1 is formed. The dielectric film of the storage capacitor Cstg includes an insulating film GI used as a gate insulating film of the thin film transistor TFT and an anodic oxide film AOF.

【0063】図1に示すように平面的には蓄積容量Cst
gは対向電圧信号線CLの導電膜g1の幅を広げた部分
に形成されている。この場合、この蓄積容量Cstgは、
その絶縁膜GIに対して下側に位置づけられる電極の材
料がAlで形成され、かつ、その表面が陽極化成された
ものであることから、Alのいわゆるホイスカ等が原因
する点欠陥(上側に位置づけられる電極との短絡)によ
る弊害を発生し難くする蓄積容量を得ることができる。
As shown in FIG. 1, the storage capacitance Cst
g is formed at a portion where the width of the conductive film g1 of the counter voltage signal line CL is increased. In this case, the storage capacity Cstg is
Since the material of the electrode positioned on the lower side of the insulating film GI is made of Al and the surface thereof is anodized, the point defect caused by so-called whiskers of Al (positioned on the upper side) (A short-circuit with the electrode to be used) can be obtained.

【0064】《マトリクス周辺の構成》図8は上下のガ
ラス基板SUB1,SUB2を含む液晶表示パネルPN
Lのマトリクス(AR)部周辺の要部平面を示す図であ
る。また,図9は左側に走査回路が接続されるべき外部
接続端子GTM付近と右側に外部接続端子が無いところ
のシール部付近を説明する断面図である。
FIG. 8 shows a liquid crystal display panel PN including upper and lower glass substrates SUB1 and SUB2.
FIG. 4 is a diagram illustrating a main part plane around an L matrix (AR) part. FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating the vicinity of the external connection terminal GTM to which the scanning circuit is to be connected on the left side and the vicinity of the seal portion where no external connection terminal is provided on the right side.

【0065】この液晶表示パネルの製造では、小さいサ
イズであればスループット向上のため1枚のガラス基板
で複数個分のデバイスを同時に加工してから分割し、大
きいサイズであれば製造設備の共用のためどの品種でも
標準化された大きさのガラス基板を加工してから各品種
に合ったサイズに小さくし、いずれの場合も一通りの工
程を経てからガラスを切断する。
In the manufacture of this liquid crystal display panel, if the size is small, a plurality of devices are simultaneously processed on one glass substrate and then divided in order to improve the throughput. If the size is large, the manufacturing equipment is shared. any varieties be processed glass substrates standardized size and small size suitable to each kind from, in each case the glass is cut through the one way process for.

【0066】図8と図9は後者の例を示すもので、両図
とも上下基板SUB1,SUB2の切断後を表してお
り、LNは両基板の切断前の縁を示す。いずれの場合
も、完成状態では外部接続端子群Tg,Tdおよび端子
CTMが存在する(図で上辺と左辺の)部分はそれらを
露出するように上側基板SUB2の大きさが下側基板S
UB1よりも内側に制限されている。
FIG. 8 and FIG. 9 show the latter example. Both figures show the upper and lower substrates SUB1 and SUB2 after cutting, and LN indicates the edge of both substrates before cutting. In any case, in the completed state, the external connection terminal groups Tg, Td and the terminal CTM are present (the upper side and the left side in the figure) at the portions where the size of the upper substrate SUB2 is reduced so that they are exposed.
It is restricted to inside of UB1.

【0067】端子群Tg,Tdはそれぞれ後述する走査
回路接続用端子GTM、映像信号回路接続用端子DTM
とそれらの引出配線部を集積回路チップCHIが搭載さ
れたテープキャリアパッケージTCP(図19,図2
0)の単位に複数本まとめて名付けたものである。各群
のマトリクス部から外部接続端子部に至るまでの引出配
線は、両端に近づくにつれ傾斜している。これは、パッ
ケージTCPの配列ピッチ及び各パッケージTCPにお
ける接続端子ピッチに表示パネルPNLの端子DTM,
GTMを合わせるためである。
The terminal groups Tg and Td are respectively a scanning circuit connection terminal GTM and a video signal circuit connection terminal DTM described later.
The tape carrier package TCP on which the integrated circuit chip CHI is mounted (see FIGS. 19 and 2)
A plurality of units are collectively named in the unit of 0). The lead wiring from the matrix section of each group to the external connection terminal section is inclined as approaching both ends. This is because the terminals DTM, DTM of the display panel PNL are added to the arrangement pitch of the package TCP and the connection terminal pitch of each package TCP.
This is for matching GTM.

【0068】また、対向電極端子CTMは,対向電極C
Tに対向電圧を外部回路から与えるための端子である。
マトリクス部の対向電極信号線CLは、走査回路用端子
GTMの反対側(図では右側)に引き出し,各対向電圧
信号線を共通バスラインCBで一纏めにして,対向電極
端子CTMに接続している。
The counter electrode terminal CTM is connected to the counter electrode C
A terminal for applying a counter voltage to T from an external circuit.
The counter electrode signal line CL of the matrix portion is drawn out to the opposite side (right side in the figure) of the scanning circuit terminal GTM, and the respective counter voltage signal lines are grouped together by a common bus line CB and connected to the counter electrode terminal CTM. .

【0069】透明ガラス基板SUB1,SUB2の間に
は、その縁に沿って液晶封入口INJを除き、液晶LC
を封止するようにシール材からなるシールパターンSL
(以下、単にシール材とも言う)が形成される。シール
材は例えばエポキシ樹脂から成る。
Between the transparent glass substrates SUB1 and SUB2, except for the liquid crystal inlet INJ along the edge thereof, the liquid crystal LC
Pattern SL made of a sealing material so as to seal
(Hereinafter, also simply referred to as a sealing material) is formed. The sealing material is made of, for example, an epoxy resin.

【0070】配向膜ORI1,ORI2の層はシールパ
ターンSLの内側に形成される。偏光板POL1,PO
L2はそれぞれ下部透明ガラス基板SUB1と上部透明
ガラス基板SUB2の外側の表面に構成されている。液
晶LCは液晶分子の向きを設定する下部配向膜ORI1
と上部配向膜ORI2との間でシールパターンSLで仕
切られた領域に封入されている。下部配向膜ORI1は
下部透明ガラス基板SUB1側の保護膜PSV1の上部
に形成される(図2)。
The layers of the orientation films ORI1 and ORI2 are formed inside the seal pattern SL. Polarizing plates POL1, PO
L2 is formed on the outer surfaces of the lower transparent glass substrate SUB1 and the upper transparent glass substrate SUB2, respectively. The liquid crystal LC is a lower alignment film ORI1 for setting the direction of liquid crystal molecules.
And the upper alignment film ORI2 is sealed in a region partitioned by the seal pattern SL. The lower alignment film ORI1 is formed above the protective film PSV1 on the lower transparent glass substrate SUB1 side (FIG. 2).

【0071】この液晶表示装置は、下部透明ガラス基板
SUB1側と上部透明ガラス基板SUB2側で別個に種
々の層を積み重ね、シールパターンSLを基板SUB2
側に形成し、下部透明ガラス基板SUB1と上部透明ガ
ラス基板SUB2とを重ね合わせてシール材SLの開口
部INJから液晶LCを注入し、注入口INJをエポキ
シ樹脂などで封止し、上下基板を切断することによって
組み立てられる。
In this liquid crystal display device, various layers are separately stacked on the lower transparent glass substrate SUB1 side and the upper transparent glass substrate SUB2 side, and a seal pattern SL is formed on the substrate SUB2.
The lower transparent glass substrate SUB1 and the upper transparent glass substrate SUB2 are overlapped with each other, liquid crystal LC is injected from the opening INJ of the sealing material SL, the inlet INJ is sealed with epoxy resin or the like, and the upper and lower substrates are sealed. Assembled by cutting.

【0072】《ゲート端子部》図10は表示マトリクス
の走査信号線GLからその外部接続端子GTMまでの接
続構造の説明図であり、(A)は平面であり(B)は
(A)のB−B切断線における断面を示している。な
お,同図は図8左下方付近に対応し、斜め配線の部分は
便宜状一直線状で表した。
<< Gate Terminal Portion >> FIGS. 10A and 10B are explanatory diagrams of a connection structure from the scanning signal line GL of the display matrix to its external connection terminal GTM, where FIG. 10A is a plane view and FIG. 10B is a view B of FIG. 4 shows a cross section taken along section line -B. This figure corresponds to the vicinity of the lower left of FIG. 8, and the diagonal wiring portion is represented by a straight line for convenience.

【0073】AOはホトレジスト直接描画の境界線、言
い換えれば選択的陽極酸化のホトレジストパターンであ
る。従って、このホトレジストは陽極酸化後除去され、
図に示すパターンAOは完成品としては残らないが、ゲ
ート配線GLには断面図に示すように酸化膜AOFが選
択的に形成されるのでその軌跡が残る。(A)の平面図
において、ホトレジストの境界線AOを基準にして左側
はレジストで覆い陽極酸化をしない領域、右側はレジス
トから露出され陽極酸化される領域である。陽極酸化さ
れたAL層g1は表面にその酸化物Al2 3 膜AOF
が形成され下方の導電部は体積が減少する。勿論、陽極
酸化はその導電部が残るように適切な時間、電圧などを
設定して行われる。
AO is a boundary line for direct drawing of photoresist, in other words, a photoresist pattern of selective anodic oxidation. Therefore, this photoresist is removed after anodization,
The pattern AO shown in the figure does not remain as a finished product, but the locus remains because the oxide film AOF is selectively formed on the gate wiring GL as shown in the cross-sectional view. In the plan view of (A), the left side is a region covered with the resist and not subjected to anodic oxidation with reference to the boundary line AO of the photoresist, and the right side is a region exposed from the resist and anodized. The anodized AL layer g1 has an oxide Al 2 O 3 film AOF on its surface.
Are formed and the volume of the lower conductive portion is reduced. Of course, anodic oxidation is performed by setting an appropriate time, voltage and the like so that the conductive portion remains.

【0074】ゲート端子GTMはAl層g1と、更にそ
の表面を保護し、かつ、TCP(Tape Carri
er Packege)との接続の信頼性を向上させる
ための透明導電層g2とで構成されている。この透明導
電膜g2はスパッタリングで形成された透明導電膜(I
ndium−Tin−Oxide ITO:ネサ膜)か
らなり、1000〜2000Åの厚さに(本実施例で
は、1400Å程度の膜厚)形成される。またAl層g
1上及びその側面部に形成された導電層d1及びd2
は、Al層と透明導電層g2との接続不良を補うため
に、Al層と透明導電層g2の両方に接続性の良いCr
層d1を接続し,接続抵抗の低減を図るためのものであ
り、導電層d2は導電層d1と同一マスク形成している
ために残っているものである。
The gate terminal GTM protects the surface of the Al layer g1 and the surface thereof, and also uses TCP (Tape Carriage).
er Package) and a transparent conductive layer g2 for improving the reliability of connection. This transparent conductive film g2 is a transparent conductive film (I
ndium-Tin-Oxide ITO (Nesa film), and is formed to a thickness of 1000 to 2000 (in this embodiment, about 1400). Al layer g
1 and conductive layers d1 and d2 formed on side surfaces thereof
In order to compensate for poor connection between the Al layer and the transparent conductive layer g2, Cr having good connectivity to both the Al layer and the transparent conductive layer g2 is used.
This is for connecting the layer d1 to reduce the connection resistance, and the conductive layer d2 remains because the same mask is formed as the conductive layer d1.

【0075】図10(A)の平面図において、ゲート絶
縁膜GIはその境界線よりも右側に,保護膜PSV1も
その境界線よりも右側に形成されており、左端に位置す
る端子部GTMはそれらから露出し外部回路との電気的
接触ができるようになっている。図では、ゲート線GL
とゲート端子の一つの対のみが示されているが、実際は
このような対が図17に示すように上下に複数本並べら
れ端子群Tg(図8)が構成され、ゲート端子の左端
は、製造過程では、基板の切断領域を越えて延長され配
線SHg(図示せず)によって短絡される。製造過程に
おけるこのような短絡線SHgは陽極化成時の給電と、
配向膜ORI1のラビング時等の静電破壊防止に役立
つ。
In the plan view of FIG. 10A, the gate insulating film GI is formed on the right side of the boundary line, the protective film PSV1 is formed on the right side of the boundary line, and the terminal portion GTM located on the left end is They are exposed from them and can make electrical contact with external circuits. In the figure, the gate line GL
And only one pair of gate terminals is shown, but in practice a plurality of such pairs are arranged up and down as shown in FIG. 17 to form a terminal group Tg (FIG. 8). In the manufacturing process, the wiring is extended beyond the cutting region of the substrate and short-circuited by the wiring SHg (not shown). Such a short-circuit line SHg in the manufacturing process is supplied with power during anodization,
This is useful for preventing electrostatic breakdown at the time of rubbing or the like of the alignment film ORI1.

【0076】《ドレイン端子DTM》図11は映像信号
線DLからその外部接続端子DTMまでの接続構造の説
明図であり、(A)はその平面を示し、(B)は(A)
のB−B切断線における断面を示す。なお、同図は図8
右上付近に対応し、図面の向きは便宜上変えてあるが右
端方向が基板SUB1の上端部に該当する。
<< Drain Terminal DTM >> FIGS. 11A and 11B are explanatory diagrams of a connection structure from the video signal line DL to its external connection terminal DTM, where FIG.
2 shows a cross section taken along line BB of FIG. FIG. 8 shows FIG.
Corresponding to the vicinity of the upper right, the direction of the drawing is changed for convenience, but the right end corresponds to the upper end of the substrate SUB1.

【0077】TSTdは検査端子でありここには外部回
路は接続されないが、プローブ針等を接触できるよう配
線部より幅が広げられている。同様に、ドレイン端子D
TMも外部回路との接続ができるよう配線部より幅が広
げられている。外部接続ドレイン端子DTMは上下方向
に配列され、ドレイン端子DTMは、図15に示すよう
に端子群Td(添字省略)を構成し基板SUB1の切断
線を越えて更に延長され、製造過程中は静電破壊防止の
ためその全てが互いに配線SHd(図示せず)によって
短絡される。検査端子TSTdは図11に示すように一
本置きの映像信号線DLに形成される。
TSTd is a test terminal, which is not connected to an external circuit, but is wider than a wiring portion so that a probe needle or the like can be contacted. Similarly, the drain terminal D
The TM is also wider than the wiring part so that it can be connected to an external circuit. The external connection drain terminals DTM are vertically arranged, and the drain terminals DTM constitute a terminal group Td (subscript omitted) as shown in FIG. 15 and are further extended beyond the cutting line of the substrate SUB1. All of them are short-circuited to each other by a wiring SHd (not shown) to prevent electric breakdown. The inspection terminal TSTd is formed on every other video signal line DL as shown in FIG.

【0078】ドレイン接続端子DTMは透明導電層g2
単層で形成されており、ゲート絶縁膜GIを除去した部
分で映像信号線DLと接続されている。ゲート絶縁膜G
Iの端部上に形成された半導体層ASはゲート絶縁膜G
Iの縁をテーパ状にエッチングするためのものである。
端子DTM上では外部回路との接続を行うため保護膜P
SV1は勿論のこと取り除かれている。
The drain connection terminal DTM is connected to the transparent conductive layer g2.
It is formed of a single layer, and is connected to the video signal line DL at a portion where the gate insulating film GI is removed. Gate insulating film G
The semiconductor layer AS formed on the end of the gate insulating film G
This is for etching the edge of I into a tapered shape.
On the terminal DTM, a protective film P for connection with an external circuit is provided.
SV1 has of course been removed.

【0079】マトリクス部からドレイン端子部DTMま
での引出配線は、映像信号線DLと同じレベルの層d
1,d2が保護膜PSV1の途中まで構成されており、
保護膜PSV1の中で透明導電膜g2と接続されてい
る。これは、電触し易いAl層d2を保護膜PSV1や
シールパターンSLでできるだけ保護する狙いである。
The lead wiring from the matrix portion to the drain terminal portion DTM is a layer d of the same level as the video signal line DL.
1 and d2 are partially formed in the protective film PSV1,
The protective film PSV1 is connected to the transparent conductive film g2. This aims to protect the easily contacted Al layer d2 with the protective film PSV1 and the seal pattern SL as much as possible.

【0080】《対向電極端子CTM》図12は対向電極
信号線CL(図1)からその外部接続端子CTMまでの
接続構造の説明図であり、(A)はその平面を示し、
(B)は(A)のB−B切断線における断面を示す。な
お、同図は図8の左上付近に対応する。
<< Counter Electrode Terminal CTM >> FIG. 12 is an explanatory view of a connection structure from the counter electrode signal line CL (FIG. 1) to its external connection terminal CTM, and FIG.
(B) shows a cross section taken along the line BB of (A). This figure corresponds to the vicinity of the upper left of FIG.

【0081】各対向電圧信号線CLは共通バスラインC
Bで一纏めして対向電極端子CTMに引き出されてい
る。共通バスラインCBは導電層g1の上に導電層d
1,導電層d2を積層した構造となっている。これは、
共通バスラインCBの抵抗を低減し、対向電圧が外部回
路から各対向電圧信号線CLに十分に供給されるように
するためである。これにより、対向電極CTが末端の画
素まで充分に伝達され、これら各対向電極CTの映像信
号線DLに供給される映像信号に応じた歪みによるクロ
ストーク(特に画面の左右方向のクロストーク)の発生
を低減できる。本構造では、特に新たに導電層を負荷す
ることなく、共通バスラインの抵抗を下げられるのが特
徴である。共通バスラインCBの導電層g1は導電層d
1,導電層d2と電気的に接続されるように、陽極化成
はされていない。また、ゲート絶縁膜GIからも露出し
ている。
Each counter voltage signal line CL is connected to a common bus line C
B collectively leads to the counter electrode terminal CTM. The common bus line CB has a conductive layer d on the conductive layer g1.
1, a structure in which a conductive layer d2 is laminated. this is,
This is to reduce the resistance of the common bus line CB so that the opposing voltage is sufficiently supplied from the external circuit to each opposing voltage signal line CL. As a result, the counter electrode CT is sufficiently transmitted to the terminal pixel, and crosstalk (particularly, crosstalk in the horizontal direction of the screen) due to distortion according to the video signal supplied to the video signal line DL of each counter electrode CT is generated. Generation can be reduced. This structure is characterized in that the resistance of the common bus line can be reduced without particularly adding a new conductive layer. The conductive layer g1 of the common bus line CB is a conductive layer d.
1. Anodization is not performed so as to be electrically connected to the conductive layer d2. Also, it is exposed from the gate insulating film GI.

【0082】対向電極端子CTMは、導電層g1の上に
透明導電層g2が積層された構造になっている。透明導
電層g2により、その表面を保護し、電触等を防ぐため
に耐久性のよい透明導電層g2で,導電層g1を覆って
いる。
The counter electrode terminal CTM has a structure in which a transparent conductive layer g2 is laminated on a conductive layer g1. The transparent conductive layer g2 covers the conductive layer g1 with a durable transparent conductive layer g2 to protect the surface and prevent electric contact and the like.

【0083】《表示装置全体等価回路》図13は表示マ
トリクス部の等価回路とその周辺回路の結線を示す回路
図である。同図は回路図ではあるが、実際の幾何学的配
置に対応して描かれている。ARは複数の画素を二次元
状に配列したマトリクス・アレイである。
<< Equivalent Circuit of Entire Display Device >> FIG. 13 is a circuit diagram showing the connection of the equivalent circuit of the display matrix section and its peripheral circuits. Although the figure is a circuit diagram, it is drawn corresponding to an actual geometric arrangement. AR is a matrix array in which a plurality of pixels are two-dimensionally arranged.

【0084】図中、Xは映像信号線DLを意味し、添字
G,BおよびRがそれぞれ緑,青および赤画素に対応し
て付加されている。Yは走査信号線GLを意味し、添字
1,2,3,…,endは走査タイミングの順序に従って
付加されている。走査信号線Y(添字省略)は垂直走査
回路Vに接続されており、映像信号線X(添字省略)は
映像信号駆動回路Hに接続されている。
In the figure, X indicates a video signal line DL, and suffixes G, B and R are added corresponding to green, blue and red pixels, respectively. Y indicates the scanning signal line GL, and the suffixes 1, 2, 3,..., End are added according to the order of the scanning timing. The scanning signal line Y (subscript omitted) is connected to the vertical scanning circuit V, and the video signal line X (subscript omitted) is connected to the video signal driving circuit H.

【0085】SUPは1つの電圧源から複数の分圧した
安定化された電圧源を得るための電源回路やホスト(上
位演算処理装置)からのCRT(陰極線管)用の情報を
TFT液晶表示装置用の情報に交換する回路を含む回路
である。
The SUP uses a power supply circuit for obtaining a plurality of divided and stabilized voltage sources from one voltage source and information for a CRT (cathode ray tube) from a host (upper processing unit) as a TFT liquid crystal display device. This is a circuit that includes a circuit that exchanges information for use.

【0086】《駆動方法》図14は本発明の液晶表示装
置の駆動方法の一例を説明する波形図である。対向電圧
C をVCHとVCLの2値の交流矩型波にし、それに同期
させて走査信号VG(i-1),VG(i)の非選択電圧を1
走査期間ごとにVGLHとVGLLの2値で変化させる。対向
電圧の振幅値と非選択電圧の振幅値は同一にする。映像
信号電圧は、液晶層に印加したい電圧から対向電圧の振
幅の1/2を差し引いた電圧である。
<< Driving Method >> FIG. 14 is a waveform diagram illustrating an example of a driving method of the liquid crystal display device of the present invention. The counter voltage V C to the AC rectangular type wave binary of V CH and V CL, the scanning signal V G (i-1) in synchronism therewith, 1 unselected voltage V G (i)
V GLH and VGLL are changed for each scanning period. The amplitude value of the counter voltage and the amplitude value of the non-selection voltage are the same. The video signal voltage is a voltage obtained by subtracting の of the amplitude of the counter voltage from the voltage to be applied to the liquid crystal layer.

【0087】対向電圧は直流でもよいが、交流化するこ
とで映像信号電圧の最大振幅を低減でき、映像信号駆動
回路(信号側ドライバ)に耐圧の低いものを用いること
が可能になる。
The counter voltage may be DC, but by converting it to AC, the maximum amplitude of the video signal voltage can be reduced, and a video signal drive circuit (signal-side driver) having a low withstand voltage can be used.

【0088】《蓄積容量Cstgの働き》蓄積容量Cstg
は、画素に書き込まれた(薄膜トランジスタTFTがオ
フした後の)映像情報を、長く蓄積するために設ける。
本発明で用いている電界を基板面と平行に印加する方式
では、電界を基板面に垂直に印加する方式と異なり、画
素電極と対向電極で構成される容量(いわゆる液晶容
量)がほとんど無いため、蓄積容量Cstgが映像情報を
画素に蓄積することができない。したがって、電界を基
板面と平行に印加する方式では蓄積容量Cstgは必須の
構成要素である。
<< Function of Storage Capacitance Cstg >> Storage Capacitance Cstg
Is provided in order to accumulate video information (after the thin film transistor TFT is turned off) written in the pixel for a long time.
In the method of applying an electric field parallel to the substrate surface used in the present invention, unlike the method of applying the electric field perpendicular to the substrate surface, there is almost no capacitance (so-called liquid crystal capacitance) formed by the pixel electrode and the counter electrode. However, the storage capacity Cstg cannot store video information in the pixel. Therefore, in a system in which an electric field is applied in parallel with the substrate surface, the storage capacitor Cstg is an essential component.

【0089】また,蓄積容量Cstgは、薄膜トランジス
タTFTがスイッチングするとき、画素電極電位VS
対するゲート電位変化△VGの影響を低減するようにも
働く。この様子を式で表すと、次のようになる。
[0089] The storage capacitor Cstg, when the thin film transistor TFT is switched, also works to reduce the influence of the gate potential change △ V G to the pixel electrode potential V S. This situation is represented by the following equation.

【0090】 △VS={Cgs/(Cgs+Cstg+Cpix)}×△VG ここで,Cgsは薄膜トランジスタTFTのゲート電極G
Tとソース電極SD1との間に形成される寄生容量、C
pixは画素電極PXと対向電極CTとの間に形成される
容量、△VSは△VGによる画素電極電位の変化分いわゆ
るフィードスルー電圧を表わす。この変化分△VSは液
晶LCに加わる直流成分の原因となるが、保持容量Cst
gを大きくすればする程、その値を小さくすることがで
きる。液晶LCに印加される直流成分の低減は、液晶L
Cの寿命を向上し、液晶表示画面の切り替え時に前の画
像が残るいわゆる焼き付きを低減することができる。
[0090] △ V S = {Cgs / ( Cgs + Cstg + Cpix)} × △ V G where, Cgs is of the thin film transistor TFT gate electrode G
Parasitic capacitance formed between T and the source electrode SD1, C
pix is the capacitance formed between the pixel electrode PX and the counter electrode CT, △ V S represents the change in the so-called feed-through voltage of the pixel electrode potential due to △ V G. This change ΔV S causes a DC component applied to the liquid crystal LC, but the storage capacitance Cst
The larger the value of g, the smaller the value. The reduction of the DC component applied to the liquid crystal LC
The life of C can be improved, and so-called burn-in in which the previous image remains when the liquid crystal display screen is switched can be reduced.

【0091】《製造方法》つぎに、上述した液晶表示装
置の基板SUB1側の製造方法について図15〜図17
を参照して説明する。なお同図において,中央の文字は
工程名の略称であり、左側は図4に示す薄膜トランジス
タTFT部分、右側は図10に示すゲート端子付近の断
面形状でみた加工の流れを示す。
<< Manufacturing Method >> Next, a method of manufacturing the liquid crystal display device on the substrate SUB1 side will be described with reference to FIGS.
This will be described with reference to FIG. In the same figure, the letters in the center are the abbreviations of the process names, and the left side shows the flow of processing as viewed from the cross-sectional shape near the gate terminal shown in FIG.

【0092】工程B,工程Dを除き工程A〜工程Iは各
写真処理に対応して区分けしたもので、各工程のいずれ
の断面図も写真処理後の加工が終わりフォトレジストを
除去した段階を示している。なお、写真処理とは本説明
ではフォトレジストの塗布からマスクを使用した選択露
光を経てそれを現像するまでの一連の作業を示すものと
し、繰返しの説明は避ける。以下区分けした工程に従っ
て説明する。
Steps A to I except for Steps B and D are classified according to the respective photographic processes. Each of the cross-sectional views of each of the processes corresponds to the stage where the processing after the photographic process is completed and the photoresist is removed. Is shown. In the present description, photographic processing refers to a series of operations from application of a photoresist to selective exposure using a mask to development thereof, and a repeated description will be omitted. Description will be given below according to the divided steps.

【0093】工程A、図15 AN635ガラス(商品名)からなる下部透明ガラス基
板SUB1上に膜厚が3000ÅのAl−Pd,Al−
Si,Al−Ta,Al−Ti−Ta等からなる導電膜
g1をスパッタリングにより設ける。写真処理後、リン
酸と硝酸と氷酢酸との混酸液で導電膜g1を選択的にエ
ッチングする。それによって、ゲート電極GT,走査信
号線GL,対向電極CT,対向電圧信号線CL,電極P
L1,ゲート端子GTM,共通バスラインCBの第1導
電層,対向電極端子CTMの第1導電層,ゲート端子G
TMを接続する陽極酸化バスラインSHg(図示せず)
および陽極酸化バスラインSHgに接続された陽極酸化
パッド(図示せず)を形成する。
Step A, FIG. 15 A 3000 .ANG.-thick Al--Pd, Al-- layer is formed on a lower transparent glass substrate SUB1 made of AN635 glass (trade name).
A conductive film g1 made of Si, Al—Ta, Al—Ti—Ta, or the like is provided by sputtering. After the photographic processing, the conductive film g1 is selectively etched with a mixed acid solution of phosphoric acid, nitric acid, and glacial acetic acid. Thereby, the gate electrode GT, the scanning signal line GL, the counter electrode CT, the counter voltage signal line CL, and the electrode P
L1, gate terminal GTM, first conductive layer of common bus line CB, first conductive layer of counter electrode terminal CTM, gate terminal G
Anodizing bus line SHg for connecting TM (not shown)
Then, an anodic oxidation pad (not shown) connected to the anodic oxidation bus line SHg is formed.

【0094】工程B、図15 直接描画による陽極酸化マスクAOの形成後、3%酒石
酸をアンモニアによりPH6.25±0.05に調整し
た溶液をエチレングリコール液で1:9に稀釈した液か
らなる陽極酸化液中に基板SUB1を浸漬し、化成電流
密度が0.5mA/cm2になるように調整する(定電
流化成)。次に、所定のAl23膜厚が得られるのに必
要な化成電圧125Vに達するまで陽極酸化を行う。そ
の後、この状態で数10分保持することが望ましい(定
電圧化成)。これは均一なAl23膜を得る上で大事な
ことである。それによって、導電膜g1が陽極酸化さ
れ、ゲート電極GT,走査信号線GL,対向電極CT,
対向電圧信号線CLおよび電極PL1上に膜厚が180
0Åの陽極酸化膜AOFが形成される。
Step B, FIG. 15 After the formation of the anodic oxidation mask AO by direct writing, a solution in which 3% tartaric acid is adjusted to PH 6.25 ± 0.05 with ammonia and diluted 1: 9 with ethylene glycol liquid is used. The substrate SUB1 is immersed in an anodizing solution and adjusted so that the formation current density becomes 0.5 mA / cm2 (constant current formation). Next, anodic oxidation is performed until the formation voltage 125 V necessary for obtaining a predetermined Al 2 O 3 film thickness is reached. Thereafter, it is desirable to maintain this state for several tens of minutes (constant voltage formation). This is important for obtaining a uniform Al 2 O 3 film. Thereby, the conductive film g1 is anodized, and the gate electrode GT, the scanning signal line GL, the counter electrode CT,
The film thickness of 180 is formed on the counter voltage signal line CL and the electrode PL1.
A 0 ° anodic oxide film AOF is formed.

【0095】工程C、図15 膜厚が1400ÅのITO膜からなる透明導電膜g2を
スパッタリングにより設ける。写真処理後、エッチング
液として塩酸と硝酸との混酸液で透明導電膜g2を選択
的にエッチングすることにより、ゲート端子GTMの最
上層、ドレイン端子DTMおよび対向電極端子CTMの
第2導電層を形成する。
Step C, FIG. 15 A transparent conductive film g2 made of an ITO film having a thickness of 1400 ° is provided by sputtering. After the photoprocessing, the transparent conductive film g2 is selectively etched with a mixed acid solution of hydrochloric acid and nitric acid as an etchant to form the uppermost layer of the gate terminal GTM, the drain terminal DTM, and the second conductive layer of the counter electrode terminal CTM. I do.

【0096】工程D、図16 プラズマCVD装置にアンモニアガス、シランガス、窒
素ガスを導入して、膜厚が2200Åの窒化Si膜を設
け、プラズマCVD装置にシランガス、水素ガスを導入
して、膜厚が2000Åのi型非晶質Si膜を設けたの
ち、プラズマCVD装置に水素ガス、ホスフィンガスを
導入して、膜厚が300ÅのN(+)型非晶質Si膜を
設ける。
Step D, FIG. 16 An ammonia gas, a silane gas, and a nitrogen gas are introduced into a plasma CVD apparatus to provide a SiN film having a thickness of 2200 °, and a silane gas and a hydrogen gas are introduced into the plasma CVD apparatus. Is provided with an i-type amorphous Si film of 2000 .ANG., And then a hydrogen gas and a phosphine gas are introduced into a plasma CVD apparatus to form an N (+)-type amorphous Si film having a thickness of 300 .mu.m.

【0097】工程E、図16 写真処理後、ドライエッチングガスとしてSF6,CC
4を使用してN(+)型非晶質Si膜、i型非晶質S
i膜を選択的にエッチングすることにより、i型半導体
層ASの島を形成する。
Step E, FIG. 16 After photographic processing, SF 6 , CC is used as a dry etching gas.
Using l 4 , an N (+)-type amorphous Si film and an i-type amorphous S
By selectively etching the i-film, islands of the i-type semiconductor layer AS are formed.

【0098】工程F、図16 写真処理後,ドライエッチングガスとしてSF6を使用
して,窒化Si膜を選択的にエッチングする。
Step F, FIG. 16 After photo processing, the Si nitride film is selectively etched using SF 6 as a dry etching gas.

【0099】工程G、図17 膜厚が600ÅのCrからなる導電膜d1をスパッタリ
ングにより設け、さらに膜厚が4000ÅのAl−P
d,Al−Si,Al−Ta,Al−Ti−Ta等から
なる導電膜d2をスパッタリングにより設ける。写真処
理後、導電膜d2を工程Bと同様な液でエッチングし、
導電膜d1を工程Aと同様な液でエッチングし、映像信
号線DL、ソース電極SD1、ドレイン電極SD2、画
素電極PX、電極PL2、共通バスラインCBの第2導
電層、第3導電層およびドレイン端子DTMを短絡する
バスラインSHd(図示せず)を形成する。つぎに、ド
ライエッチング装置にCCl4,SF6を導入して,N
(+)型非晶質Si膜をエッチングすることによりソー
スとドレイン間のN(+)型半導体層d0を選択的に除
去する。
Step G, FIG. 17 A conductive film d1 made of Cr having a thickness of 600 .ANG. Is provided by sputtering, and an Al-P film having a thickness of 4000 .ANG.
A conductive film d2 made of d, Al-Si, Al-Ta, Al-Ti-Ta, or the like is provided by sputtering. After the photographic processing, the conductive film d2 is etched with the same liquid as in Step B,
The conductive film d1 is etched with the same liquid as in step A, and the video signal line DL, the source electrode SD1, the drain electrode SD2, the pixel electrode PX, the electrode PL2, the second conductive layer, the third conductive layer and the drain of the common bus line CB are formed. A bus line SHd (not shown) for short-circuiting the terminal DTM is formed. Next, CCl 4 and SF 6 were introduced into a dry etching apparatus,
The N (+) type semiconductor layer d0 between the source and the drain is selectively removed by etching the (+) type amorphous Si film.

【0100】工程H,図17 プラズマCVD装置にアンモニアガス、シランガス、窒
素ガスを導入して、膜厚が1μmの窒化Si膜を設け
る。写真処理後、ドライエッチングガスとしてSF6
使用した写真蝕刻技術で窒化Si膜を選択的にエッチン
グすることによって、保護膜PSV1を形成する。
Step H, FIG. 17 An ammonia gas, a silane gas, and a nitrogen gas are introduced into a plasma CVD apparatus to form a 1 μm-thick Si nitride film. After the photo processing, the protective film PSV1 is formed by selectively etching the Si nitride film by a photo etching technique using SF 6 as a dry etching gas.

【0101】《表示パネルPNLと駆動回路基板PCB
1》図18は,図8等に示した液晶表示パネルPNLに
映像信号駆動回路Hと垂直走査回路Vを接続した状態を
示す平面図である。
<< Display Panel PNL and Drive Circuit Board PCB
1 >> FIG. 18 is a plan view showing a state in which a video signal driving circuit H and a vertical scanning circuit V are connected to the liquid crystal display panel PNL shown in FIG. 8 and the like.

【0102】CHIは表示パネルPNLを駆動させる駆
動ICチップ(下側の5個は垂直走査回路側の駆動IC
チップ、左の10個ずつは映像信号駆動回路側の駆動I
Cチップ)である。TCPは図19、図20で後述する
ように駆動用ICチップCHIがテープ・オートメイテ
ィド・ボンディング法(TAB)により実装されたテー
プキャリアパッケージ、PCB1は上記TCPやコンデ
ンサ等が実装された駆動回路基板で、映像信号駆動回路
用と走査信号駆動回路用の2つに分割されている。FG
Pはフレームグランドパッドであり、シールドケースS
HDに切り込んで設けられたバネ状の破片が半田付けさ
れる。また、FCは下側の駆動回路基板PCB1と左側
の駆動回路基板PCB1を電気的に接続するフラットケ
ーブルである。
CHI is a drive IC chip for driving the display panel PNL (the lower five are drive ICs on the vertical scanning circuit side)
The left and right chips are the driving I on the video signal driving circuit side.
C chip). TCP is a tape carrier package in which a driving IC chip CHI is mounted by a tape automated bonding method (TAB), as will be described later with reference to FIGS. 19 and 20, and PCB1 is a driving circuit in which the above-described TCP, capacitors and the like are mounted. The substrate is divided into two, one for a video signal drive circuit and one for a scan signal drive circuit. FG
P is a frame ground pad, and a shield case S
A spring-shaped fragment provided by cutting into the HD is soldered. FC is a flat cable that electrically connects the lower drive circuit board PCB1 and the left drive circuit board PCB1.

【0103】フラットケーブルFCとしては図に示すよ
うに、複数のリード線(りん青銅の素材にSn鍍金を施
したもの)をストライプ状のポリエチレン層とポリビニ
ルアルコール層とでサンドイッチして支持したものを使
用する。
As shown in the figure, the flat cable FC is formed by sandwiching and supporting a plurality of lead wires (phosphor bronze material plated with Sn) with a striped polyethylene layer and a polyvinyl alcohol layer. use.

【0104】《TCPの接続構造》図19は走査信号駆
動回路Vや映像信号駆動回路Hを構成する集積回路チッ
プCHIがフレキシブル配線基板に搭載されたテープキ
ャリアパッケージTCPの断面構造を示す図であり,図
20はそれを液晶表示パネル、本例では走査信号回路用
端子GTMに接続した状態を示す要部断面図である。
<< Connection Structure of TCP >> FIG. 19 is a diagram showing a sectional structure of a tape carrier package TCP in which an integrated circuit chip CHI constituting the scanning signal driving circuit V and the video signal driving circuit H is mounted on a flexible wiring board. FIG. 20 is a cross-sectional view of a main part showing a state in which it is connected to a liquid crystal display panel, in this example, a scanning signal circuit terminal GTM.

【0105】同図において、TTBは集積回路CHIの
入力端子・配線部、TTMは集積回路CHIの出力端子
・配線部で、例えばCuから成り、それぞれの内側の先
端部(通称インナーリード)には集積回路CHIのボン
ディングパッドPADがいわゆるフェースダウンボンデ
ィング法により接続される。端子TTB,TTMの外側
の先端部(通称アウターリード)はそれぞれ半導体集積
回路チップCHIの入力及び出力に対応し、半田付け等
によりCRT/TFT変換回路・電源回路SUPに異方
性導電膜ACFによって液晶表示パネルPNLに接続さ
れる。パッケージTCPは、その先端部がパネルPNL
側の接続端子GTMを露出した保護膜PSV1を覆うよ
うにパネルに接続されている。従って、外部接続端子G
TM(DTM)は保護膜PSV1かパッケージTCPの
少なくとも一方で覆われるので電触に対して強くなる。
In the figure, TTB is an input terminal / wiring portion of the integrated circuit CHI, and TTM is an output terminal / wiring portion of the integrated circuit CHI, which is made of, for example, Cu. The bonding pads PAD of the integrated circuit CHI are connected by a so-called face-down bonding method. The outer ends (commonly called outer leads) of the terminals TTB and TTM correspond to the input and output of the semiconductor integrated circuit chip CHI, respectively, and are connected to the CRT / TFT conversion circuit / power supply circuit SUP by anisotropic conductive film ACF by soldering or the like. Connected to liquid crystal display panel PNL. The tip of the package TCP is a panel PNL
It is connected to the panel so as to cover the protective film PSV1 exposing the connection terminal GTM on the side. Therefore, the external connection terminal G
Since the TM (DTM) is covered with at least one of the protective film PSV1 and the package TCP, the TM (DTM) becomes strong against electric contact.

【0106】BF1はポリイミド等からなるベースフィ
ルムであり、SRSは半田付けの際半田が余計なところ
へつかないようにマスクするためのソルダレジスト膜で
ある。シールパターンSLの外側の上下ガラス基板の隙
間は洗浄後エポキシ樹脂EPX等により保護され,パッ
ケージTCPと上側基板SUB2の間には更にシリコー
ン樹脂SILが充填され保護が多重化されている。
BF1 is a base film made of polyimide or the like, and SRS is a solder resist film for masking so that solder does not stick to unnecessary portions during soldering. The gap between the upper and lower glass substrates outside the seal pattern SL is washed and protected by an epoxy resin EPX or the like, and the space between the package TCP and the upper substrate SUB2 is further filled with a silicone resin SIL to multiplex protection.

【0107】《駆動回路基板PCB2》図18に示され
た駆動回路基板PCB2は、IC、コンデンサ、抵抗等
の電子部品が搭載されている。この駆動回路基板PCB
2には1つの電圧源から複数の分圧した安定化された電
圧源を得るための電源回路や、ホスト(上位演算処理装
置)からのCRT(陰極線管)用の情報をTFT液晶表
示装置用の情報に変換する回路を含む回路SUPが搭載
されている。CJは外部と接続される図示しないコネク
タが接続されるコネクタ接続部である。駆動回路基板P
CB1と駆動回路基板PCB2とはフラットケーブルF
Cにより電気的に接続されている。
<< Drive Circuit Board PCB2 >> The drive circuit board PCB2 shown in FIG. 18 has electronic components such as ICs, capacitors, and resistors mounted thereon. This drive circuit board PCB
Reference numeral 2 denotes a power supply circuit for obtaining a plurality of divided and stabilized voltage sources from one voltage source, and information for a CRT (cathode ray tube) from a host (upper processing unit) for a TFT liquid crystal display device. A circuit SUP including a circuit for converting the information into the above information is mounted. CJ is a connector connection portion to which a connector (not shown) connected to the outside is connected. Drive circuit board P
CB1 and drive circuit board PCB2 are flat cable F
It is electrically connected by C.

【0108】図21は本発明による液晶表示装置の他の
構成例を説明する縦電界型のアクティブ・マトリクス方
式カラー液晶表示装置の一画素とその周辺を示す平面図
である。
FIG. 21 is a plan view showing one pixel of a vertical electric field type active matrix type color liquid crystal display device and its periphery for explaining another configuration example of the liquid crystal display device according to the present invention.

【0109】各画素は隣接する2本の走査信号線(ゲー
ト信号線または水平信号線)GLと、隣接する2本の映
像信号線(ドレイン信号線または垂直信号線)DLとの
交差領域内(4本の信号線で囲まれた領域内)に配置さ
れている。
Each pixel is located within an intersection area between two adjacent scanning signal lines (gate signal lines or horizontal signal lines) GL and two adjacent video signal lines (drain signal lines or vertical signal lines) DL. (In a region surrounded by four signal lines).

【0110】各画素は薄膜トランジスタTFT、透明画
素電極ITO1および保持容量素子Caddを含む。走
査信号線GLは列方向に延在し、行方向に複数本配置さ
れている。映像信号線DLは行方向に延在し、列方向に
複数本配置されている。
Each pixel includes a thin film transistor TFT, a transparent pixel electrode ITO1, and a storage capacitor Cadd. The scanning signal lines GL extend in the column direction, and a plurality of the scanning signal lines GL are arranged in the row direction. The video signal lines DL extend in the row direction, and a plurality of video signal lines DL are arranged in the column direction.

【0111】この縦電界型のアルミニウムマトリクス方
式液晶表示装置は、図21に示した表示用の各電極を下
部透明ガラス基板(第2の透明絶縁基板)に形成すると
共に、遮光膜(ブラックマトリクス:同図では、その位
置のみを示す)とカラーフィルタ(同、その位置のみを
示す)、および対向透明電極(共通電極)は図示しない
上部ガラス基板(第1の透明絶縁基板)の内面に形成
し、下部透明ガラス基板の画素電極PX(ITO)と上
部ガラス基板に形成した対向電極との間に形成される電
界で液晶を制御する方式である。
In the vertical electric field type aluminum matrix type liquid crystal display device, each electrode for display shown in FIG. 21 is formed on a lower transparent glass substrate (second transparent insulating substrate) and a light shielding film (black matrix: In the figure, only the position is shown, a color filter (only the position is shown), and a counter transparent electrode (common electrode) are formed on the inner surface of an upper glass substrate (first transparent insulating substrate) not shown. The liquid crystal is controlled by an electric field formed between a pixel electrode PX (ITO) on a lower transparent glass substrate and a counter electrode formed on an upper glass substrate.

【0112】図22は本発明の第4実施例を説明する図
21の3−3切断線における断面図である。液晶を基準
の下部透明ガラス基板側SUB1には薄膜トランジスタ
TFTおよび透明画素電極PX(ITO1)が形成さ
れ、これを駆動する薄膜トランジスタTFTが前記図4
と同様の構造で形成されている。この薄膜トランジスタ
TFT上には絶縁膜PSV1を介して配向膜ORI1が
成膜されている。
FIG. 22 is a sectional view taken along the line 3-3 in FIG. 21 for explaining the fourth embodiment of the present invention. A thin film transistor TFT and a transparent pixel electrode PX (ITO1) are formed on the lower transparent glass substrate side SUB1 based on the liquid crystal, and the thin film transistor TFT for driving the thin film transistor TFT is shown in FIG.
It is formed with the same structure as described above. On this thin film transistor TFT, an alignment film ORI1 is formed via an insulating film PSV1.

【0113】一方、上部透明ガラス基板SUB2の内面
には、ブラックマトリクスBM、複数色のカラーフィル
タFILが形成され、その上に絶縁膜PSV2(図2に
おける平滑層OCと同様の膜)を介して共通透明電極I
TO2(対向電極COM)が形成されている。そして、
その上面を覆って配向膜ORI2が成膜されている。こ
の実施例では、上部ガラス基板SUB2に形成した遮光
膜であるブラックマトリクスBMで遮光される部分の絶
縁膜PSV2の厚さを薄くし、かつ配向膜ORI2をこ
の部分で除去することによって、液晶層LCの厚さ(両
基板の内面の間隔)を他の部分より大きくして溝を形成
したものである。
On the other hand, a black matrix BM and a plurality of color filters FIL are formed on the inner surface of the upper transparent glass substrate SUB2, and an insulating film PSV2 (a film similar to the smoothing layer OC in FIG. 2) is formed thereon. Common transparent electrode I
TO2 (counter electrode COM) is formed. And
An alignment film ORI2 is formed to cover the upper surface. In this embodiment, the liquid crystal layer is formed by reducing the thickness of the portion of the insulating film PSV2 which is shielded by the black matrix BM which is the light shielding film formed on the upper glass substrate SUB2, and removing the alignment film ORI2 in this portion. The groove is formed by making the thickness of the LC (the interval between the inner surfaces of both substrates) larger than the other portions.

【0114】この構成により、液晶層LCに発生した気
泡は上記の溝内に収容され、表示画素部分に気泡が存在
しないようにしたものである。なお、図22では薄膜ト
ランジスタTFT1で隠されているので、溝の部分の間
隔が他の部分より大きいようには示されていないが、薄
膜トランジスタは図の手前に位置するので、溝の部分の
間隔は他の部分より大きい。
With this configuration, the air bubbles generated in the liquid crystal layer LC are accommodated in the above-mentioned grooves, so that no air bubbles exist in the display pixel portion. In FIG. 22, the interval between the grooves is not shown to be larger than the other portions because it is hidden by the thin film transistor TFT1, but since the thin film transistor is located in front of the figure, the interval between the grooves is Larger than other parts.

【0115】この実施例では、配向膜ORI2を溝の部
分で除去しているが、絶縁膜PSV2を十分に薄くでき
れば、この溝部分にも配向膜ORI2を存在させてもよ
い。また、この溝部分の絶縁膜PSV2と配向膜ORI
2を共に除去してもよい。
In this embodiment, the alignment film ORI2 is removed at the groove portion. However, if the insulating film PSV2 can be made sufficiently thin, the alignment film ORI2 may be present at this groove portion. Also, the insulating film PSV2 and the orientation film ORI in the groove portion are formed.
2 may be removed together.

【0116】この実施例によっても、上記した各実施例
と同様に、気泡は、より表面積が小さくなる液晶層LC
の厚さが大きい溝に存在することになり、気泡が発生し
ても開口部には気泡が存在しないため表示不良にはなら
ない。
In this embodiment, as in the above-described embodiments, bubbles are formed in the liquid crystal layer LC having a smaller surface area.
Is present in a groove having a large thickness, and even if bubbles are generated, there is no bubble in the opening, so that display failure does not occur.

【0117】《液晶表示モジュールの全体構成》図23
は本発明を適用した液晶表示モジュールMDLの各構成
部品を示す分解斜視図である。SHDは金属板から成る
枠状のシールドケース(メタルフレーム)、LCWその
表示窓、PNLは液晶表示パネル、SPBは光拡散板、
LCBは導光体、RMは反射板、BLはバックライト用
の蛍光管、LCAはバックライトケースであり、図に示
すような上下の配置関係で各部材が積み重ねられてモジ
ュールMDLが組み立てられる。
<< Overall Configuration of Liquid Crystal Display Module >> FIG.
FIG. 2 is an exploded perspective view showing each component of the liquid crystal display module MDL to which the present invention is applied. SHD is a frame-shaped shield case (metal frame) made of a metal plate, LCW and its display window, PNL is a liquid crystal display panel, SPB is a light diffusion plate,
LCB is a light guide, RM is a reflection plate, BL is a fluorescent tube for backlight, LCA is a backlight case, and the members are stacked in a vertical arrangement as shown in the figure to assemble a module MDL.

【0118】モジュールMDLは、シールドケースSH
Dに設けられた爪とフックによって全体が固定されるよ
うになっている。バックライトケースLCAはバックラ
イト蛍光管BL、光拡散板SPB光拡散板、導光体LC
B、反射板RMを収納する形状になっており、導光体L
CBの側面に配置されたバックライト蛍光管BLの光
を、導光体LCB、反射板RM、光拡散板SPBにより
表示面で一様なバックライトにし、液晶表示パネルPN
L側に出射する。バックライト用の蛍光管BLにはイン
バータ回路基板PCB3が接続されており、バックライ
ト用の蛍光管BLの電源となっている。
The module MDL is a shield case SH
The entirety is fixed by claws and hooks provided on D. The backlight case LCA includes a backlight fluorescent tube BL, a light diffusion plate SPB light diffusion plate, and a light guide LC.
B, a shape for storing the reflection plate RM, and the light guide L
The light of the backlight fluorescent tube BL arranged on the side surface of the CB is made uniform on the display surface by the light guide LCB, the reflection plate RM, and the light diffusion plate SPB, and the liquid crystal display panel PN is formed.
Light is emitted to the L side. An inverter circuit board PCB3 is connected to the backlight fluorescent tube BL, and serves as a power supply for the backlight fluorescent tube BL.

【0119】以上、本発明を実施の形態に基づいて具体
的に説明したが,本発明は前記実施の形態に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々
変更可能であることは勿論である。本発明は、駆動回路
の実装にTCPを用いたアクティブマトリクス方式の液
晶表示装置に適用した例を示したが、一方の透明絶縁基
板の周辺に駆動回路チップを直接搭載するCOG(チッ
プオンガラス)方式の液晶表示装置にも、また、単純マ
トリクス方式の液晶表示装置にも適用可能なことは言う
までもない。
Although the present invention has been described in detail with reference to the embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and may be variously modified without departing from the gist thereof. Of course. Although the present invention has been described with reference to an example in which the present invention is applied to an active matrix type liquid crystal display device using TCP for mounting a drive circuit, a COG (chip-on-glass) in which a drive circuit chip is directly mounted around one of the transparent insulating substrates. It is needless to say that the present invention can be applied to a liquid crystal display device of a simple matrix system and a liquid crystal display device of a simple matrix system.

【0120】[0120]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
液晶層の内部に発生した気泡を遮光膜の開口部から除去
出来るため、表示不良の発生を低減することができ、高
画質、かつ高信頼性を向上させた液晶表示装置を提供す
ることができる。
As described above, according to the present invention,
Since bubbles generated inside the liquid crystal layer can be removed from the opening of the light-shielding film, the occurrence of display defects can be reduced, and a liquid crystal display device with high image quality and high reliability can be provided. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明を適用するアクティブ・マトリックス型
カラー液晶表示装置の液晶表示部の一画素とその周辺構
造の一例を示す要部平面図である。
FIG. 1 is a plan view of a principal part showing an example of a pixel of a liquid crystal display unit and a peripheral structure thereof in an active matrix type color liquid crystal display device to which the present invention is applied.

【図2】本発明の第1実施例を説明する図1の3−3切
断線における画素の断面図である。
FIG. 2 is a sectional view of a pixel taken along section line 3-3 in FIG. 1 for explaining the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1実施例を説明する図1の6−6切
断線における画素の断面図である。
FIG. 3 is a sectional view of a pixel taken along section line 6-6 in FIG. 1 for explaining the first embodiment of the present invention;

【図4】図1の4−4切断線における薄膜トランジスタ
素子TFTの断面図である。
FIG. 4 is a sectional view of the thin film transistor element TFT taken along section line 4-4 in FIG. 1;

【図5】図1の5−5切断線における蓄積容量Cstgの
断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view of the storage capacitor Cstg taken along section line 5-5 in FIG. 1;

【図6】本発明の第2実施例を説明する図1の6−6切
断線における画素の断面図である。
FIG. 6 is a sectional view of a pixel taken along section line 6-6 in FIG. 1 for explaining a second embodiment of the present invention;

【図7】本発明の第3実施例を説明する図1の6−6切
断線における画素の断面図である。
FIG. 7 is a sectional view of a pixel taken along section line 6-6 in FIG. 1 for explaining a third embodiment of the present invention.

【図8】本発明の液晶表示装置を構成する液晶表示パネ
ルのマトリクス周辺部の構成を説明するための平面図で
ある。
FIG. 8 is a plan view for explaining a configuration of a matrix peripheral portion of a liquid crystal display panel constituting the liquid crystal display device of the present invention.

【図9】左側に走査信号端子、右側に外部接続端子の無
い液晶表示パネルの縁部分を示す断面図である。
FIG. 9 is a cross-sectional view showing an edge portion of the liquid crystal display panel having no scanning signal terminal on the left side and no external connection terminal on the right side.

【図10】ゲート端子GTMとゲート配線GLの接続部
近辺を示す平面図と断面図である。
10A and 10B are a plan view and a cross-sectional view illustrating the vicinity of a connection portion between a gate terminal GTM and a gate wiring GL.

【図11】ドレイン端子DTMと映像信号線DLとの接
続部付近を示す平面図と断面図である。
11A and 11B are a plan view and a cross-sectional view illustrating the vicinity of a connection between a drain terminal DTM and a video signal line DL.

【図12】共通電極端子CTM、共通バスラインCBお
よび共通電圧信号線CLの接続部付近を示す平面図と断
面図である。
FIGS. 12A and 12B are a plan view and a cross-sectional view showing the vicinity of a connection portion of a common electrode terminal CTM, a common bus line CB, and a common voltage signal line CL.

【図13】本発明のアクティブ・マトリックス型カラー
液晶表示装置のマトリクス部とその周辺を含む回路図で
ある。
FIG. 13 is a circuit diagram including a matrix portion and its periphery of the active matrix type color liquid crystal display device of the present invention.

【図14】本発明のアクティブ・マトリックス型カラー
液晶表示装置の駆動波形図である。
FIG. 14 is a driving waveform diagram of the active matrix type color liquid crystal display device of the present invention.

【図15】下側絶縁基板側の製造方法を説明する画素部
とゲート端子部の製造工程を示す断面図である。
FIG. 15 is a cross-sectional view illustrating a step of manufacturing a pixel portion and a gate terminal portion for explaining a method of manufacturing the lower insulating substrate side.

【図16】下側絶縁基板側の図15に続く製造方法を説
明する画素部とゲート端子部の製造工程を示す断面図で
ある。
FIG. 16 is a cross-sectional view showing a step of manufacturing the pixel portion and the gate terminal portion for explaining the manufacturing method subsequent to FIG. 15 on the lower insulating substrate side.

【図17】下側絶縁基板側の図16に続く製造方法を説
明する画素部とゲート端子部の製造工程を示す断面図で
ある。
FIG. 17 is a cross-sectional view showing a step of manufacturing the pixel portion and the gate terminal portion, for explaining the manufacturing method following the FIG. 16 on the lower insulating substrate side.

【図18】液晶表示パネルに周辺の駆動回路を実装した
状態を示す平面図である。
FIG. 18 is a plan view showing a state where peripheral driving circuits are mounted on the liquid crystal display panel.

【図19】駆動回路を構成する集積回路チップをフレキ
シブル配線基板に搭載したテープキャリアパッケージの
構造を説明する断面図である。
FIG. 19 is a cross-sectional view illustrating a structure of a tape carrier package in which an integrated circuit chip forming a driving circuit is mounted on a flexible wiring board.

【図20】テープキャリアパッケージを液晶表示パネル
の走査信号回路用端子に接続した状態を示す要部断面図
である。
FIG. 20 is a cross-sectional view of a main part showing a state where the tape carrier package is connected to a scanning signal circuit terminal of the liquid crystal display panel.

【図21】本発明による液晶表示装置の他の構成例を説
明する縦電界型のアクティブ・マトリクス方式カラー液
晶表示装置の一画素とその周辺を示す平面図である。
FIG. 21 is a plan view showing one pixel of a vertical electric field type active matrix type color liquid crystal display device and its periphery, illustrating another configuration example of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図22】本発明の第4実施例を説明する図21の3−
3切断線における断面図である。
FIG. 22 illustrates a fourth embodiment of the present invention.
It is sectional drawing in the 3 cutting line.

【図23】本発明による液晶表示モジュールの分解斜視
図である。
FIG. 23 is an exploded perspective view of a liquid crystal display module according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

SUB1 下部透明ガラス基板 SUB1 上部透明ガラス基板 GL 走査信号線 DL 映像信号線 CL 対向電圧信号線 PX 画素電極 CT 対向電極 GI 絶縁膜 GT ゲート電極 AS i型半導体層 SD ソース電極またはドレイン電極 PSV1,2 保護膜(絶縁膜) BM 遮光膜(ブラックマトリクス) LC 液晶(液晶層) TFT 薄膜トランジスタ OC 平滑層 ORI1,2 配向膜 g,d 導電膜 Cstg 蓄積容量 AOF 陽極酸化膜 AO 陽極酸化マスク GTM ゲート端子 DTM ドレイン端子 CB 共通バスライン DTM 共通電極端子 SHD シールドケース PNL 液晶表示パネル SPB 光拡散板 LCB 導光体 BL バックライト蛍光管 LCA バックライトケース RM 反射板 (以上添字省略)。 SUB1 Lower transparent glass substrate SUB1 Upper transparent glass substrate GL Scan signal line DL Video signal line CL Counter voltage signal line PX Pixel electrode CT Counter electrode GI Insulating film GT Gate electrode AS i-type semiconductor layer SD Source electrode or drain electrode PSV1,2 Film (insulating film) BM Light shielding film (black matrix) LC Liquid crystal (liquid crystal layer) TFT Thin film transistor OC Smoothing layer ORI1, Alignment film g, d Conductive film Cstg Storage capacitance AOF Anodized film AO Anodized mask GTM Gate terminal DTM Drain terminal CB Common bus line DTM Common electrode terminal SHD Shield case PNL Liquid crystal display panel SPB Light diffusion plate LCB Light guide BL Backlight fluorescent tube LCA Backlight case RM Reflector (abbreviated above).

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】画素を区画する遮光膜を含む複数の膜を有
する第1の透明絶縁基板と、複数の膜を有する第2の透
明絶縁基板とを、前記複数の膜を積層した面同士を間隙
を持って対向させ、前記第1と第2の透明絶縁基板間の
縁周囲に枠状に設けたシール材により貼り合わせ、前記
シール材の内側に液晶を注入した液晶表示素子を有する
液晶表示装置において、 前記液晶表示素子の前記シール材の内側に形成される表
示領域の前記遮光膜で遮光される部分に、当該遮光膜で
遮光される部分の液晶層の間隙を前記遮光膜で遮光され
ない部分の液晶層の間隙より大きくすることにより形成
した溝を有することを特徴とする液晶表示装置。
A first transparent insulating substrate having a plurality of films including a light-shielding film for partitioning a pixel, and a second transparent insulating substrate having a plurality of films, and A liquid crystal display having a liquid crystal display element in which a liquid crystal is injected into a space around the edge between the first and second transparent insulating substrates with a gap provided therebetween, and a liquid crystal is injected inside the seal material. In the device, a portion of the liquid crystal display element, which is formed inside the sealing material and is shielded by the light-shielding film, is not shielded by the light-shielding film from a gap between the liquid crystal layers in a portion shielded by the light-shielding film. A liquid crystal display device having a groove formed by making a gap larger than a gap between liquid crystal layers in a portion.
【請求項2】画素を区画する遮光膜と絶縁膜を含む複数
の膜を面上に積層した第1の透明絶縁基板と、走査信号
線と映像信号線と共通電極および画素電極を含む複数の
膜を面上に積層した第2の透明絶縁基板の前記複数の膜
を積層した面同士を間隙を持って対向させ、前記第1と
第2の透明絶縁基板間の縁周囲に枠状に設けたシール材
により貼り合わせ、前記シール材の内側に液晶を注入し
た液晶表示素子を有する液晶表示装置において、 前記液晶表示素子の前記シール材の内側に形成される表
示領域の前記遮光膜で遮光される部分に、当該遮光膜で
遮光される部分の液晶層の間隙を前記遮光膜で遮光され
ない部分の液晶層の間隙より大きくすることにより形成
した溝を有することを特徴とする液晶表示装置。
2. A first transparent insulating substrate in which a plurality of films including a light-shielding film and an insulating film for partitioning pixels are laminated on a surface, a plurality of films including a scanning signal line, a video signal line, a common electrode, and a pixel electrode. The surfaces of the second transparent insulating substrate on which the films are laminated are opposed to each other with a gap therebetween, and are provided in a frame shape around the edge between the first and second transparent insulating substrates. In a liquid crystal display device having a liquid crystal display element in which liquid crystal is injected inside the seal material, the light is shielded by the light shielding film in a display area formed inside the seal material of the liquid crystal display element. A liquid crystal display device comprising: a groove formed in a portion of the liquid crystal layer where the light is shielded by the light shielding film so as to be larger than a gap of the liquid crystal layer where the light is not shielded by the light shielding film.
【請求項3】画素を区画する遮光膜と透明共通電極およ
び絶縁膜を含む複数の膜を面上に積層した第1の透明絶
縁基板と、走査信号線と映像信号線および透明画素電極
を含む複数の透明電極膜を面上に積層した第2の透明絶
縁基板の前記複数の膜を積層した面同士を間隙を持って
対向させ、前記第1と第2の透明絶縁基板間の縁周囲に
枠状に設けたシール材により貼り合わせ、前記シール材
の内側に液晶を注入した液晶表示素子を有する液晶表示
装置において、 前記液晶表示素子の前記シール材の内側に形成される表
示領域の前記遮光膜で遮光される部分に、当該遮光膜で
遮光される部分の液晶層の間隙を前記遮光膜で遮光され
ない部分の液晶層の間隙より大きくすることにより形成
した溝を有することを特徴とする液晶表示装置。
3. A light-shielding film for partitioning pixels, a first transparent insulating substrate having a plurality of films including a transparent common electrode and an insulating film laminated on a surface, a scanning signal line, a video signal line, and a transparent pixel electrode. A surface of the second transparent insulating substrate, on which a plurality of transparent electrode films are laminated, is opposed to each other with a gap between the surfaces on which the plurality of films are laminated, and is formed around an edge between the first and second transparent insulating substrates. In a liquid crystal display device having a liquid crystal display element in which liquid crystal is injected into the inside of the seal material, the liquid crystal display element is bonded by a seal material provided in a frame shape, and the light shielding of a display area formed inside the seal material of the liquid crystal display element is Liquid crystal having a groove formed in a portion shielded by a film by making a gap between liquid crystal layers in a portion shielded by the light-shielding film larger than a gap between liquid crystal layers in a portion not shielded by the light-shielding film. Display device.
【請求項4】前記溝が、前記第1の透明絶縁基板の前記
遮光膜で遮光される部分の絶縁膜の少なくとも1つを除
去することにより形成したことを特徴とする請求項2ま
たは3に記載の液晶表示装置。
4. The method according to claim 2, wherein the groove is formed by removing at least one of the insulating films in a portion of the first transparent insulating substrate which is shielded from light by the light shielding film. The liquid crystal display device as described in the above.
【請求項5】前記溝が、前記第1の透明絶縁基板の前記
遮光膜で遮光される部分の絶縁膜の少なくとも1つの膜
厚を前記遮光膜で遮光されない部分の膜厚より薄くした
ことにより形成したことを特徴とする請求項2または3
に記載の液晶表示装置。
5. The groove according to claim 1, wherein the thickness of at least one portion of the insulating film of the first transparent insulating substrate which is shielded from light by the light shielding film is smaller than the thickness of the portion of the insulating film which is not shielded by the light shielding film. 4. The device according to claim 2, wherein
3. The liquid crystal display device according to 1.
【請求項6】前記走査信号線と平行に形成された溝と、
前記映像信号線と平行に形成された溝の何れか、または
両方を有していることを特徴とする請求項2または3に
記載の液晶表示装置。
6. A groove formed in parallel with the scanning signal line,
4. The liquid crystal display device according to claim 2, wherein the liquid crystal display device has one or both of grooves formed in parallel with the video signal line.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004341196A (en) * 2003-05-15 2004-12-02 Advanced Lcd Technologies Development Center Co Ltd Display device and manufacturing method therefor
JP2006301451A (en) * 2005-04-22 2006-11-02 Sharp Corp Liquid crystal display device

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