JPH11330316A - Electronic parts - Google Patents

Electronic parts

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JPH11330316A
JPH11330316A JP10137179A JP13717998A JPH11330316A JP H11330316 A JPH11330316 A JP H11330316A JP 10137179 A JP10137179 A JP 10137179A JP 13717998 A JP13717998 A JP 13717998A JP H11330316 A JPH11330316 A JP H11330316A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
exterior member
metal member
ray transmission
mounting direction
Prior art date
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Pending
Application number
JP10137179A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ikuo Fujiwara
郁雄 藤原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Tohoku Corp
Original Assignee
NEC Tohoku Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH11330316A publication Critical patent/JPH11330316A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain electronic parts against which not only the connectability of solder connections but also the mounting direction of the parts can be confirmed through the analysis of X-ray transmission pictures. SOLUTION: Electronic parts have a thick plate-like external member 11 which is made of a resin and packages a semiconductor chip, (n) pieces of L-shaped lead pins 121-12n which are protruded from both longer side faces of the member 11 and connected to the semiconductor chip through lead wires, and a heavy metal member 13 buried in a marker section 11a and has a high X-ray absorption factor. The member 13 is provided for confirming the position of the lead pin 121 having a pin number '1', namely, the mounting direction of the parts 10 by analyzing X-ray transmission pictures.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体素子等の電
子部品に関する。
The present invention relates to an electronic component such as a semiconductor device.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3(a)は、従来の電子部品1の外観
構成を示す斜視図であり、図3(b)は、図3(a)に
示す電子部品1の外観構成を示す平面図である。図3
(a)に示す電子部品1は、リフロー方式により、プリ
ント配線基板(PWD:PrintedWiring Board)にはん
だ付け接続される、いわゆる表面実装型電子部品(SM
D:Surface Mounted Device)である。図3(a)にお
いて、2は、図示しない半導体チップをパッケージング
する外装部材であり、樹脂が厚肉板形状に形成されてな
る。この外装部材2の両方の長側面からは、半導体チッ
プにリード線を介して各々接続された都合n個のリード
ピン31〜3n(図3(b)参照)が突出している。これ
らのリードピン31〜3nは、上記プリント配線基板の端
子に半田付けにより接続される。また、リードピン31
〜3nには、各々ピン番号1〜nまでの番号が付与され
ている。また、外装部材2の表面におけるリードピン3
1(ピン番号1)の近傍には、凹形状のマーカ部2aが
形成されており、このマーカ部2aは、ピン番号1のリ
ードピン31の位置を表す。
2. Description of the Related Art FIG. 3A is a perspective view showing the appearance of a conventional electronic component 1, and FIG. 3B is a plan view showing the appearance of the electronic component 1 shown in FIG. FIG. FIG.
The electronic component 1 shown in (a) is a so-called surface mount type electronic component (SM) that is connected by soldering to a printed wiring board (PWD: Printed Wiring Board) by a reflow method.
D: Surface Mounted Device). In FIG. 3A, reference numeral 2 denotes an exterior member for packaging a semiconductor chip (not shown), which is formed of a resin in a thick plate shape. From both long side surfaces of the exterior member 2, n lead pins 31 to 3n (see FIG. 3B) connected to the semiconductor chip via lead wires respectively project therefrom. These lead pins 31 to 3n are connected to terminals of the printed wiring board by soldering. In addition, lead pin 31
-3n are assigned pin numbers 1-n, respectively. The lead pins 3 on the surface of the exterior member 2
In the vicinity of 1 (pin number 1), a concave marker portion 2a is formed, and this marker portion 2a indicates the position of the lead pin 31 of pin number 1.

【0003】ここで、プリント配線基板にはんだ付けに
より実装された電子部品1においては、機能およびはん
だ接続部の接続信頼性を保証すべく、電子部品1の実装
方向、実装位置、実装部品名、はんだ接続部の接続性等
の確認が行われる。これらの確認項目のうち、はんだ接
続部の接続性を確認する方法の一例としては、プリント
配線基板に実装された電子部品1にX線を照射して、X
線透過画像を利用する方法がある。この方法は、比重が
高い材料ほどX線の吸収が大きくなるとともに、同一材
料であればその厚さが厚くなるほどX線の吸収が大きく
なるという、X線の性質を利用したものである。
Here, in the electronic component 1 mounted on the printed wiring board by soldering, the mounting direction, the mounting position, the name of the mounted component, Confirmation of the connectivity etc. of the solder connection part is performed. Among these check items, an example of a method of checking the connectivity of the solder connection portion is to irradiate the electronic component 1 mounted on the printed wiring board with X-rays,
There is a method using a line transmission image. This method utilizes the property of X-rays, that is, a material having a higher specific gravity has a greater absorption of X-rays, and the same material has a greater absorption of X-rays as its thickness increases.

【0004】また、上記方法においては、プリント配線
基板に実装された電子部品1に対してX線を照射するこ
とにより得られるX線透過画像を解析することにより、
はんだ接続部の接続状態を確認する。ここで、上記X線
透過画像の一例を図4に示す。図4は、図3(b)に示
す電子部品1にX線を照射したときのX線透過画像を示
す図である。この図において、4は、リードフレームで
ある。5、5、・・・は、電子部品1(図3(b)参照)
における複数のはんだ接続部である。ここで、はんだ接
続部5、5、・・・の濃度が他の領域より特に濃いのは、
はんだ接続部5の厚さが他の部分に比して厚いため、X
線の吸収率が高いからである。従って、はんだ接続部5
の接続性の確認は、図4に示すX線透過画像の濃度を解
析することにより行われる。また、上述した方法を利用
した表面実装型電子部品のはんだ付け自動検査装置が広
く普及している。
Further, in the above method, an X-ray transmission image obtained by irradiating the electronic component 1 mounted on the printed wiring board with X-rays is analyzed.
Check the connection status of the solder connection. Here, an example of the X-ray transmission image is shown in FIG. FIG. 4 is a diagram illustrating an X-ray transmission image when the electronic component 1 illustrated in FIG. 3B is irradiated with X-rays. In this figure, 4 is a lead frame. 5, 5,... Are the electronic components 1 (see FIG. 3B).
Are a plurality of solder connection portions. Here, the reason why the concentration of the solder connection parts 5, 5,.
Since the thickness of the solder connection portion 5 is thicker than other portions, X
This is because the line absorptivity is high. Therefore, the solder connection 5
Is checked by analyzing the density of the X-ray transmission image shown in FIG. Further, an automatic soldering inspection apparatus for surface-mounted electronic components using the above-described method has been widely used.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の電子
部品1においては、X線透過画像を解析することにより
はんだ接続部5、5、・・・の接続性の確認を行えるもの
の、このX線透過画像を解析する方法では、プリント配
線基板に実装された電子部品1の内部構造が長手方向の
軸に対して対称である場合、その実装方向の確認ができ
ないという欠点があった。従って、従来の電子部品1に
おいては、X線透過画像を利用したはんだ接続性の確認
の他に、別途実装方向の確認を別の方法により行わなけ
ればならなかった。本発明はこのような背景の下になさ
れたもので、X線透過画像を解析することによりはんだ
接続部の接続性の確認に加えて、実装方向の確認をも行
うことができる電子部品を提供することを目的とする。
By the way, in the conventional electronic component 1, although the connectivity of the solder connection portions 5, 5,... Can be confirmed by analyzing the X-ray transmission image, the X-ray The method of analyzing the transmission image has a drawback that when the internal structure of the electronic component 1 mounted on the printed wiring board is symmetric with respect to the longitudinal axis, the mounting direction cannot be confirmed. Therefore, in the conventional electronic component 1, in addition to the confirmation of the solder connectivity using the X-ray transmission image, the confirmation of the mounting direction has to be separately performed by another method. The present invention has been made under such a background, and provides an electronic component capable of confirming the mounting direction in addition to confirming the connectivity of a solder connection part by analyzing an X-ray transmission image. The purpose is to do.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、半導体チップをパッケージングする外装部材と、前
記半導体チップに電気的に接続され、前記外装部材の側
面から突出された複数のリードピンと、前記複数のリー
ドピンが基板に実装されたときの実装方向を示す、前記
外装部材の所定位置に設けられ、X線を吸収する金属部
材とを具備することを特徴とする。また、請求項2に記
載の発明は、請求項1に記載の電子部品において、前記
複数のリードピンには、ピン番号が付与されており、前
記金属部材は、前記外装部材における所定のピン番号の
近傍位置に設けられていることを特徴とする。また、請
求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載の電子
部品において、前記金属部材は、前記外装部材に埋設さ
れていることを特徴とする。また、請求項4に記載の発
明は、請求項1または2に記載の電子部品において、前
記金属部材は、前記外装部材に内蔵されていることを特
徴とする。また、請求項5に記載の発明は、請求項1ま
たは2に記載の電子部品において、前記金属部材は、前
記外装部材の表面における所定位置にコーティングされ
ていることを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an exterior member for packaging a semiconductor chip, and a plurality of leads electrically connected to the semiconductor chip and projecting from side surfaces of the exterior member. A pin, and a metal member that is provided at a predetermined position of the exterior member and that absorbs X-rays and that indicates a mounting direction when the plurality of lead pins are mounted on a substrate is provided. According to a second aspect of the present invention, in the electronic component according to the first aspect, a pin number is assigned to the plurality of lead pins, and the metal member has a predetermined pin number in the exterior member. It is characterized in that it is provided in the vicinity position. According to a third aspect of the present invention, in the electronic component according to the first or second aspect, the metal member is embedded in the exterior member. According to a fourth aspect of the present invention, in the electronic component according to the first or second aspect, the metal member is incorporated in the exterior member. According to a fifth aspect of the present invention, in the electronic component according to the first or second aspect, the metal member is coated at a predetermined position on a surface of the exterior member.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について説明する。図1(a)は本発明の一実施
形態による電子部品10の外観構成を示す斜視図であ
り、図1(b)は、図1(a)に示す電子部品10の外
観構成を示す平面図である。図1(a)において、電子
部品10は、例えば、SOP(Small Outline Packag
e)型のものである。11は、図示しない半導体チップ
をパッケージングする外装部材であり、樹脂が厚肉板形
状に形成されてなる。この外装部材11の両方の長側面
からは、半導体チップにリード線を介して各々接続され
た都合n個の略L字形状のリードピン121〜12n(図
1(b)参照)が突出している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1A is a perspective view illustrating an external configuration of an electronic component 10 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a plan view illustrating an external configuration of the electronic component 10 illustrated in FIG. It is. In FIG. 1A, an electronic component 10 is, for example, an SOP (Small Outline Packag).
e) type. Reference numeral 11 denotes an exterior member for packaging a semiconductor chip (not shown), which is formed of a resin in a thick plate shape. From both long side surfaces of the exterior member 11, n generally approximately L-shaped lead pins 121 to 12n (see FIG. 1B) protruding from the semiconductor chip via lead wires project therefrom.

【0008】これらのリードピン121〜12nは、上記
プリント配線基板の端子に半田付けにより接続される。
また、リードピン121〜12nには、各々ピン番号1〜
nまでの番号が付与されている。また、外装部材11の
表面におけるリードピン121(ピン番号1)の近傍に
は、凹形状のマーカ部11aが形成されており、このマ
ーカ部11aは、ピン番号1のリードピン121の位置
を表す。
The lead pins 121 to 12n are connected to terminals of the printed wiring board by soldering.
The lead pins 121 to 12n have pin numbers 1 to 12, respectively.
Numbers up to n are given. A concave marker portion 11a is formed near the lead pin 121 (pin number 1) on the surface of the exterior member 11, and the marker portion 11a indicates the position of the lead pin 121 of pin number 1.

【0009】13は、マーカ部11aに埋設された重金
属部材であり、X線の吸収率が高いという性質を有して
いる。言い換えれば、重金属部材13は、ピン番号1の
リードピン121の位置、すなわち電子部品10の実装
方向をX線透過画像により確認するためのものである。
Reference numeral 13 denotes a heavy metal member buried in the marker portion 11a, which has a property of high X-ray absorption. In other words, the heavy metal member 13 is for confirming the position of the lead pin 121 of the pin number 1, that is, the mounting direction of the electronic component 10 by an X-ray transmission image.

【0010】上記構成において、プリント配線基板には
んだ付けにより実装された電子部品10に図示しないX
線装置からX線が照射されると、図2に示すX線透過画
像が得られる。この図において、14は、リードフレー
ムである。15、15、・・・は、電子部品10(図1
(b)参照)における複数のはんだ接続部である。ここ
で、はんだ接続部15、15、・・・の濃度が他の領域よ
り特に濃いのは、はんだ接続部15の厚さが他の部分に
比して厚いため、X線の吸収率が高いからである。従っ
て、はんだ接続部15の接続性の確認は、図2に示すX
線透過画像の濃度を解析することにより行われる。
In the above configuration, X (not shown) is attached to the electronic component 10 mounted on the printed wiring board by soldering.
When X-rays are emitted from the X-ray apparatus, an X-ray transmission image shown in FIG. 2 is obtained. In this figure, 14 is a lead frame. Are electronic components 10 (FIG. 1).
(Refer to (b))). Here, the reason why the concentration of the solder connection portions 15, 15,... Is particularly higher than that of the other regions is that the thickness of the solder connection portions 15 is thicker than other portions, so that the X-ray absorption rate is high. Because. Therefore, the confirmation of the connectivity of the solder connection portion 15 is performed by using the X shown in FIG.
This is performed by analyzing the density of the line transmission image.

【0011】また、16は、重金属部材13(図1
(b)参照)に対応する重金属部であり、X線が高い割
合で吸収されることにより、他の領域に比して濃度が特
に濃い。すなわち、図2に示すX線透過画像は、重金属
部16が黒く写し出されることにより、長手方向の軸に
対して非対称の画像とされる。
Reference numeral 16 denotes a heavy metal member 13 (FIG. 1).
(See (b))), and the X-rays are absorbed at a high rate, so that the density is particularly high compared to other regions. That is, the X-ray transmission image shown in FIG. 2 is an image that is asymmetric with respect to the axis in the longitudinal direction because the heavy metal portion 16 is displayed in black.

【0012】従って、上述した一実施形態による電子部
品10の検査工程においては、電子部品10の内部構造
が長手方向の軸に対して対称であっても、図2に示すX
線透過画像が非対称となるため、このX線透過画像にお
ける重金属部16の位置を確認することにより、プリン
ト配線基板に実装された電子部品10の実装方向を確認
することができる。
Therefore, in the inspection process of the electronic component 10 according to the above-described embodiment, even if the internal structure of the electronic component 10 is symmetrical with respect to the longitudinal axis, X shown in FIG.
Since the X-ray transmission image is asymmetric, the mounting direction of the electronic component 10 mounted on the printed wiring board can be checked by checking the position of the heavy metal portion 16 in this X-ray transmission image.

【0013】以上説明したように、上述した一実施形態
による電子部品10によれば、マーカ部11aに重金属
部材13を埋設した構成としたので、プリント配線基板
に実装された電子部品10の実装方向をX線装置でも判
別することができる。従って、上述した一実施形態によ
る電子部品10によれば、従来、はんだ接続部15の接
続性の確認のみに用いられていたX線装置で電子部品1
0の実装方向をも検査することができる。
As described above, according to the electronic component 10 according to the above-described embodiment, since the heavy metal member 13 is embedded in the marker portion 11a, the mounting direction of the electronic component 10 mounted on the printed wiring board is reduced. Can also be determined by an X-ray device. Therefore, according to the electronic component 10 according to the above-described embodiment, the electronic component 1 is conventionally used in an X-ray apparatus that has been used only for checking the connectivity of the solder connection portion 15.
The mounting direction of 0 can also be inspected.

【0014】このことから、上述した一実施形態による
電子部品10によれば、電子部品10の極性または方向
の逆実装による部品破壊や回路の動作不良を回避するた
めに行われていた人間の目視による確認、およびはんだ
接続部15の接続性の確認の双方を自動的にX線装置の
みで行うことができる。
Thus, according to the electronic component 10 according to the above-described embodiment, human visual observation is performed to avoid component destruction or circuit malfunction due to reverse mounting of the polarity or direction of the electronic component 10. , And the connectivity of the solder connection portion 15 can be automatically performed only by the X-ray apparatus.

【0015】以上、本発明の一実施形態による電子部品
10を詳述してきたが、具体的な構成はこの一実施形態
に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範
囲の設計変更等があっても本発明に含まれる。例えば、
上述した一実施形態による電子部品10においては、重
金属部16をマーカ部11aに埋設する例について説明
したが、この例に限られるものではなく、外装部材11
の表面を重金属でコーティングしたり、重金属部16を
外装部材11に内蔵したりしてもよい。
Although the electronic component 10 according to one embodiment of the present invention has been described in detail above, the specific configuration is not limited to this embodiment, and a design change or the like may be made without departing from the gist of the present invention. The present invention is also included in the present invention. For example,
In the electronic component 10 according to the above-described embodiment, the example in which the heavy metal part 16 is embedded in the marker part 11a has been described. However, the present invention is not limited to this example.
May be coated with heavy metal, or the heavy metal portion 16 may be built in the exterior member 11.

【0016】また、上述した一実施形態による電子部品
10においては、ピン番号1のリードピン121の近傍
に重金属部材13を埋設した例について説明したが、こ
れに限られるものではなく、電子部品10の実装方向が
X線透過画像により確認できる位置であれば重金属部材
13の埋設位置はいずれの位置であってもよい。要する
に、この場合には、X線透過画像が非対称となるような
位置に重金属部材13を設ければよいのである。
Further, in the electronic component 10 according to the above-described embodiment, the example in which the heavy metal member 13 is embedded near the lead pin 121 of the pin number 1 has been described, but the present invention is not limited to this. The embedding position of the heavy metal member 13 may be any position as long as the mounting direction can be confirmed by the X-ray transmission image. In short, in this case, the heavy metal member 13 may be provided at a position where the X-ray transmission image becomes asymmetric.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基板にはんだ付けにより実装された状態でX線が照射さ
れたときに得られるX線透過画像において、はんだ接続
部に対応する領域に加えて金属部材に対応する領域が他
の領域に比して濃くなる。従って、本発明によれば、X
線透過画像を解析することによりはんだ接続部の接続性
の確認に加えて、実装方向の確認をも行うことができる
という効果が得られる。
As described above, according to the present invention,
In an X-ray transmission image obtained when X-rays are radiated while being mounted on a board by soldering, in addition to the area corresponding to the solder connection part, the area corresponding to the metal member is compared to other areas. Darkens. Therefore, according to the present invention, X
By analyzing the line transmission image, it is possible to obtain the effect that the mounting direction can be checked in addition to the checking of the connectivity of the solder connection portion.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施形態による電子部品10の外
観構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing an external configuration of an electronic component 10 according to an embodiment of the present invention.

【図2】 プリント配線基板に実装された図1(b)に
示す電子部品10にX線を照射した場合に得られるX線
透過画像を示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating an X-ray transmission image obtained when the electronic component 10 illustrated in FIG. 1B mounted on a printed wiring board is irradiated with X-rays.

【図3】 従来の電子部品1の外観構成を示す図であ
る。
FIG. 3 is a diagram showing an external configuration of a conventional electronic component 1.

【図4】 プリント配線基板に実装された図3(b)に
示す電子部品1にX線を照射した場合に得られるX線透
過画像を示す図である。
4 is a diagram showing an X-ray transmission image obtained when the electronic component 1 shown in FIG. 3B mounted on a printed wiring board is irradiated with X-rays.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 電子部品 11 外装部材 11a マーカ部 121〜12n リードピン 15 はんだ接続部 13 重金属部材 16 重金属部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Electronic component 11 Exterior member 11a Marker part 121-12n Lead pin 15 Solder connection part 13 Heavy metal member 16 Heavy metal part

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体チップをパッケージングする外装
部材と、 前記半導体チップに電気的に接続され、前記外装部材の
側面から突出された複数のリードピンと、 前記複数のリードピンが基板に実装されたときの実装方
向を示す、前記外装部材の所定位置に設けられ、X線を
吸収する金属部材と、 を具備することを特徴とする電子部品。
An exterior member for packaging a semiconductor chip; a plurality of lead pins electrically connected to the semiconductor chip and protruding from a side surface of the exterior member; and a case where the plurality of lead pins are mounted on a substrate. An electronic component, comprising: a metal member provided at a predetermined position on the exterior member, the metal member absorbing X-rays, the mounting member indicating the mounting direction of the electronic component.
【請求項2】 前記複数のリードピンには、ピン番号が
付与されており、 前記金属部材は、前記外装部材における所定のピン番号
の近傍位置に設けられていることを特徴とする請求項1
に記載の電子部品。
2. The plurality of lead pins are provided with pin numbers, and the metal member is provided at a position near a predetermined pin number on the exterior member.
Electronic components according to the above.
【請求項3】 前記金属部材は、前記外装部材に埋設さ
れていることを特徴とする請求項1または2に記載の電
子部品。
3. The electronic component according to claim 1, wherein the metal member is embedded in the exterior member.
【請求項4】 前記金属部材は、前記外装部材に内蔵さ
れていることを特徴とする請求項1または2に記載の電
子部品。
4. The electronic component according to claim 1, wherein the metal member is built in the exterior member.
【請求項5】 前記金属部材は、前記外装部材の表面に
おける所定位置にコーティングされていることを特徴と
する請求項1または2に記載の電子部品。
5. The electronic component according to claim 1, wherein the metal member is coated at a predetermined position on a surface of the exterior member.
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Cited By (3)

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