JPH11329243A - Manufacture of image display device - Google Patents

Manufacture of image display device

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JPH11329243A
JPH11329243A JP10133899A JP13389998A JPH11329243A JP H11329243 A JPH11329243 A JP H11329243A JP 10133899 A JP10133899 A JP 10133899A JP 13389998 A JP13389998 A JP 13389998A JP H11329243 A JPH11329243 A JP H11329243A
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JP
Japan
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image display
display device
getter
activation
gas
Prior art date
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Application number
JP10133899A
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Japanese (ja)
Inventor
Hidehiko Fujimura
秀彦 藤村
Masaaki Ogura
全昭 小倉
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPH11329243A publication Critical patent/JPH11329243A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of an image display device for removing impurities such as water in an vacuum atmosphere in an activating process, and to heighten electron emission efficiency of elements, then reducing electric power consumption. SOLUTION: In this manufacturing method of an image display device, where plural electron emission elements are arranged in a vacuum container, an activating process is constituted by introducing activated gas in a vacuum container and by impressing pulse voltage on the electron emission elements for activating them. Here, a getter provided in the vacuum container is activated, prior to the activated gas is introduced in the vacuum container.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子ビームを利用
した画像表示装置の製造方法に関する。
The present invention relates to a method for manufacturing an image display device using an electron beam.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、平板型画像表示装置としては、液
晶表示装置、EL表示装置、プラズマディスプレイパネ
ル(PDP)が実用化されている。しかし、これらの画像
表示装置は視野角、コントラスト比、輝度の点で一般に
使われている陰極線管(CRT)に比較すると劣ってい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, liquid crystal display devices, EL display devices, and plasma display panels (PDPs) have been put to practical use as flat panel image display devices. However, these image display devices are inferior in terms of viewing angle, contrast ratio, and brightness as compared with a generally used cathode ray tube (CRT).

【0003】このため、画像表示装置として、電子ビー
ム加速型の平板型ディスプレイが幾つか提案されてい
る。その中で、簡単な構造で電子の放出が得られる素子
としては、例えば、エム・アイ・エリンソン(M.I.Elinso
n)等によって発表された冷陰極素子[ラジオ・エンジニア
リング・エレクトロン・フィジックス(Radio Eng. Electr
on. Phys.)第10巻、1290〜1296頁、1965
年]が知られている。これは、基板上に形成された小面
積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことによって、電
子放出が生じる現象を利用するもので、一般には表面伝
導型電子放出素子と呼ばれている。
For this reason, several electron beam acceleration type flat panel displays have been proposed as image display devices. Among them, devices that can obtain electron emission with a simple structure include, for example, MIElinso
n), etc. [Radio Engineering Electron Physics (Radio Eng. Electr
on. Phys.) Volume 10, pp. 1290-1296, 1965
Year] is known. This utilizes the phenomenon that electron emission occurs when a current flows in a small area thin film formed on a substrate in parallel with the film surface, and is generally called a surface conduction electron-emitting device. .

【0004】この表面伝導型電子放出素子としては、前
記エリンソン等によって開発されたSnO2薄膜を用いた
ものや、カーボン薄膜によるもの[荒木久他:"真空"、第
26巻、第1号、22頁(1983年)]等が報告されてい
る。これらの表面伝導型電子放出素子は、(1)高い電子
放出効率が得られること、(2)構造が簡単なため、製造
が簡単であること、(3)同一の基板上に多数の素子を配
列形成できること、等の利点を有する。
As the surface conduction type electron-emitting device, one using an SnO 2 thin film developed by Elinson et al. Or one using a carbon thin film [Hisashi Araki et al .: “Vacuum”, Vol. 26, No. 1, 22 (1983)]. These surface conduction electron-emitting devices are (1) that high electron emission efficiency is obtained, (2) that their structure is simple and that they are easy to manufacture, and (3) that many devices are mounted on the same substrate. There are advantages such as being able to form an array.

【0005】以下、前記表面伝導型電子放出素子である
面状冷陰極を使用した、平板型画像表示装置の従来の製
造方法を説明する。上記画像表示装置の製造方法を示す
前に、その構造について図面を参照しながら説明する。
Hereinafter, a conventional method for manufacturing a flat panel type image display device using a planar cold cathode as the surface conduction electron-emitting device will be described. Before showing a method of manufacturing the image display device, its structure will be described with reference to the drawings.

【0006】図2は、表面伝導型電子放出素子を使用し
た画像表示装置の概略構成を示す模式図である。画像表
示装置は図2に示すように、ガラス等の絶縁物からなる
画像表示面としてのフェイスプレート1と、フェイスプ
レート1と対向して配置されたリアプレート2と、ガラ
ス等からなる絶縁性の外枠3とを、フェイスプレート1
およびリアプレート2の周辺部分において低融点ガラス
により接合し、気密容器を形成する。外部から気密容器
にかかる圧力は前記の外枠3と大気圧支持支柱7によっ
て支持され、フェイスプレート1とリアプレート2問の
間隔を一定に保つ。なお、フェイスプレート1とリアプ
レート2の間隔は本実施例の場合は10mmとした。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a schematic configuration of an image display device using a surface conduction electron-emitting device. As shown in FIG. 2, the image display device includes a face plate 1 as an image display surface made of an insulating material such as glass, a rear plate 2 disposed opposite to the face plate 1, and an insulating material made of glass or the like. Outer frame 3 and face plate 1
And it joins with low melting glass in the peripheral part of the rear plate 2, and forms an airtight container. The pressure applied to the airtight container from the outside is supported by the outer frame 3 and the atmospheric pressure support column 7, and the distance between the face plate 1 and the rear plate is kept constant. The distance between the face plate 1 and the rear plate 2 was 10 mm in the case of the present embodiment.

【0007】フェイスプレート1上には蛍光体4とアル
ミ薄膜5が形成されており、アルミ薄膜5には外部高圧
電源(不図示)により1〜10kVの高圧が印加される。
8は活性化処理時に導入するガスの導入管であるととも
に気密容器内の排気も行う。導入された活性化ガスは電
子放出素子6を活性化させる。9は前記気密容器を排気
する排気管であり、バルブを介して真空ポンプに接続し
てある。10は気密容器封止後、容器内の真空度を保つ
ために設けたゲツタであり、本実施例ではBa-Al-Ni
(バリウム、アルミニウム、ニッケル)の蒸発型ゲツタを
用いた。11はゲッタ材をフラッシュ(活性化)させたと
きに、ゲッタ材が画像表示領域に拡散するのを防止する
ための遮蔽板である。
A phosphor 4 and an aluminum thin film 5 are formed on the face plate 1, and a high voltage of 1 to 10 kV is applied to the aluminum thin film 5 by an external high voltage power supply (not shown).
Reference numeral 8 denotes a gas introduction pipe for introducing the gas during the activation process, and also exhausts the airtight container. The introduced activation gas activates the electron-emitting device 6. Reference numeral 9 denotes an exhaust pipe for exhausting the airtight container, which is connected to a vacuum pump via a valve. Reference numeral 10 denotes a getter provided to maintain the degree of vacuum in the container after sealing the airtight container. In this embodiment, Ba-Al-Ni is used.
(Barium, aluminum, nickel) evaporation type getter was used. Reference numeral 11 denotes a shielding plate for preventing the getter material from diffusing into the image display area when the getter material is flashed (activated).

【0008】図3に画像表示装置の電子源である表面伝
導型電子放出素子を示す。電子源はリアプレート2上に
素子電極12およびl3が形成されており、電極間は一
定の問隔(2μm程度)で配置されている。素子電極12
および13上に有機パラジウム薄膜14が形成されてお
り、有機パラジウム薄膜の中央部には亀裂部15が形成
されておりこの亀裂部が電子放出部15となっている。
FIG. 3 shows a surface conduction electron-emitting device which is an electron source of an image display device. The electron source has device electrodes 12 and 13 formed on a rear plate 2, and the electrodes are arranged at a constant distance (about 2 μm) between the electrodes. Device electrode 12
An organic palladium thin film 14 is formed on and 13, and a crack 15 is formed in the center of the organic palladium thin film, and the crack serves as an electron emitting portion 15.

【0009】上述した画像表示装置の製造方法について
説明する。リアプレート2には予め素子部を形成する。
素子部とは、配線、素子電極12および13、PdO(酸
化パラジウム)薄膜14からなるものである。素子部が
形成されたリアプレート2上に低融点ガラスを焼成させ
てゲツタ10および大気圧支持支柱7を固着させる。電
子放出素子6、ゲツタ10、および大気圧支持支柱7が
形成されたリアプレート2と、蛍光体4、アルミ薄膜5
が形成されたフェイスプレート1との周辺部と外枠3と
の接合部分に低融点ガラスを塗布しておく。また、外枠
3の周囲にはガス導入管8と、排気管9の配置部が設け
られており、前記設置部にも低融点ガラスが塗布されて
いる。これら部材を低融点ガラスを焼成することにより
封着させ気密容器を完成させる。封着からゲッタフラッ
シュ工程を経て、画像表示装置を完成させる製造工程を
示すフローチャートを図6に示す。
A method for manufacturing the above-described image display device will be described. An element portion is formed on the rear plate 2 in advance.
The element portion is composed of wiring, element electrodes 12 and 13, and a PdO (palladium oxide) thin film 14. The low melting glass is fired on the rear plate 2 on which the element portion is formed, and the getter 10 and the atmospheric pressure support column 7 are fixed. A rear plate 2 on which an electron-emitting device 6, a getter 10, and an atmospheric pressure support column 7 are formed; a phosphor 4;
A low-melting glass is applied to the joint between the outer frame 3 and the peripheral portion of the face plate 1 on which is formed. Further, around the outer frame 3, there are provided portions where the gas introduction pipe 8 and the exhaust pipe 9 are arranged, and the installation portion is also coated with low melting point glass. These members are sealed by firing the low-melting glass to complete an airtight container. FIG. 6 is a flowchart showing a manufacturing process for completing the image display device through the getter flash process after sealing.

【0010】全ての部材の封着後、ガス導入管8および
排気管9より気密容器内の残留気体を排気する。気密容
器内の圧力がおよそ1×10-5Torr以下に達した
ら、フォーミング処理(素子電極12,13に電圧印加)
を行いPdO薄膜14に電子放出部である亀裂15を形
成する。その後、気密容器内の圧力がおよそ1×10-7
Torr以下に達したら、気密容器内の圧力が5×l0
-6Torrとなるようにべンゾニトリルをガス導入管8
より導入し排気管9より排気し、素子の活性化処理を行
う。
After all the members are sealed, the residual gas in the hermetic container is exhausted from the gas introduction pipe 8 and the exhaust pipe 9. When the pressure in the hermetic container reaches about 1 × 10 −5 Torr or less, forming processing (voltage application to element electrodes 12 and 13)
Is performed to form a crack 15 as an electron emission portion in the PdO thin film 14. Then, the pressure in the hermetic container is about 1 × 10 -7
When the pressure reaches Torr or less, the pressure in the airtight container is 5 × 10
Benzonitrile gas inlet pipe 8 so that -6 Torr
Then, the gas is exhausted from the exhaust pipe 9 and the element is activated.

【0011】活性化処理とは、気密容器内に活性化ガス
を導入し、素子電極間にパルス電圧を印加する処理であ
る。この活性化処理を行うことにより電子放出の効率が
増大し、画像表示装置の輝度が向上する。素子の活性化
後脱ガス処理を行うため真空高温ベーキング処理を行
う。気密容器を200℃迄昇温し、5時間から10時間
保持する。その後室温まで降温する。その後、ガス導入
管8および排気管9を封止した後、ゲツタ11を誘導加
熱によつてフラッシュ(活性化)させる。ゲッタ11は排
気効果をもたせるものであり、このゲッタ11を活性化
することにより気密容器内の残留ガスは捕獲され、気密
容器内が長期にわたり高真空に維持される。
The activation process is a process of introducing an activation gas into an airtight container and applying a pulse voltage between device electrodes. By performing this activation process, the efficiency of electron emission is increased, and the brightness of the image display device is improved. After the activation of the device, a vacuum high-temperature baking process is performed to perform a degassing process. The temperature of the airtight container is raised to 200 ° C. and maintained for 5 to 10 hours. Thereafter, the temperature is lowered to room temperature. Then, after sealing the gas introduction pipe 8 and the exhaust pipe 9, the getter 11 is flashed (activated) by induction heating. The getter 11 has an exhausting effect. By activating the getter 11, the residual gas in the hermetic container is captured, and the inside of the hermetic container is maintained at a high vacuum for a long time.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】前記の画像表示装置に
おいて、消費電力をできるだけ押さえることが重要であ
る。そのためには素子の電子の放出効率を上げる必要が
ある。素子の電子の放出特性を向上させるためには、活
性化ガス種あるいは活性化における素子に印加する駆動
条件等を最適化する必要がある。
In the above-mentioned image display device, it is important to reduce power consumption as much as possible. For that purpose, it is necessary to increase the electron emission efficiency of the device. In order to improve the electron emission characteristics of the device, it is necessary to optimize the type of the activating gas or the driving conditions applied to the device during activation.

【0013】活性化における素子に印加する駆動条件
は、活性化ガス種と活性化ガス圧によって最適条件があ
る。活性化ガスに関しては、特開平8-7749号公報
に記載されているように、次のような常温状態で液体で
ある炭化化合物が適切である。例えば、プタジエン、n
-ヘキサン、1-ヘキサン、べンゼン、トルエン、O-キ
シレン、ベンゾニトリル、クロロエチレン、アセトン等
が挙げられる。
There are optimum driving conditions applied to the element during activation depending on the type of the activating gas and the pressure of the activating gas. As for the activating gas, as described in JP-A-8-7749, the following carbonized compound which is liquid at normal temperature is suitable. For example, butadiene, n
-Hexane, 1-hexane, benzene, toluene, O-xylene, benzonitrile, chloroethylene, acetone and the like.

【0014】活性化工程中に水の分圧が高いと、素子の
放出効率が低下することがわかつている。これらの炭化
化合物中には、水分が溶け込んでいる。そこで、活性化
ガス中の水分をできるだけ除去する必要がある。活性化
ガス中の水分を除去する方法として、液体状態のまま凍
結乾燥法により予め溶液中の水分を除去する方法やガス
状態で水分除去用のガスフィルターを使用し除去する方
法が挙げられる。前述したような方法で活性化ガス中の
水分を除去しても、素子の電子放出効率では画像表示装
置の消費電力観点から不十分である。
It has been found that when the partial pressure of water is high during the activation step, the emission efficiency of the device decreases. Moisture is dissolved in these carbonized compounds. Therefore, it is necessary to remove water in the activation gas as much as possible. Examples of a method for removing moisture in the activated gas include a method for removing the moisture in the solution in advance by a freeze-drying method in a liquid state and a method for removing the gas in a gas state by using a gas filter for removing moisture. Even if the water in the activation gas is removed by the method described above, the electron emission efficiency of the device is insufficient from the viewpoint of the power consumption of the image display device.

【0015】本発明は上記の問題点を解消するためのも
のであって、活性化工程中の真空雰囲気中の水分等の不
純物を除去し、素子の電子放出効率を高め、消費電力の
低い画像表示装置の製造方法の提供を目的とするもので
ある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and removes impurities such as moisture in a vacuum atmosphere during an activation step to increase the electron emission efficiency of the device and reduce the power consumption of an image. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a display device.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】上記の課題・目的は、以
下に示す本発明によって解決・達成される。すなわち本
発明は、真空気密容器内に電子放出素子を複数配置して
なる画像表示装置を製造する方法であって、該真空気密
容器内に活性化ガスを導入し電子放出素子にパルス電圧
を印加し活性化処理を施す活性化工程において、該活性
化ガスを真空気密容器内に導入する前に真空気密容器内
に具備されるゲッタの活性化処理を行うことを特徴とす
る、画像表示装置の製造方法を開示するものである。
The above objects and objects are solved and achieved by the present invention described below. That is, the present invention relates to a method for manufacturing an image display device comprising a plurality of electron-emitting devices arranged in a vacuum-tight container, wherein an activation gas is introduced into the vacuum-tight container to apply a pulse voltage to the electron-emitting devices. In the activation step of performing the activation process, the activation process of the getter provided in the vacuum hermetic container is performed before introducing the activation gas into the vacuum hermetic container. This discloses a manufacturing method.

【0017】本発明の画像表示装置の製造方法は、活性
化ガスを真空機密容器内に導入する前に、機密容器内に
具備されるゲッタを一部活性化することにより、活性化
工程中の活性化ガス成分以外の不純物を除去し、素子の
活性化工程を実施するものである。
According to the method of manufacturing an image display device of the present invention, the getter provided in the confidential container is partially activated before introducing the activating gas into the vacuum confidential container, so that the activation process can be performed during the activation step. This removes impurities other than the activation gas component and performs an element activation step.

【0018】(作用)本発明の画像表示装置の製造方法に
よれば、活性化中にゲッタが活性化状態であれば、ゲッ
タの吸着特性から炭化化合物のガスの不純物を除去する
ことができる。炭化化合物のゲッタの排気速度は水ある
いは酸素等のガスに比ベて1/30以下である。そのた
め、炭化化合物の不純物除去にはゲッタを利用するのは
最適な方法である。
(Function) According to the method of manufacturing an image display device of the present invention, if the getter is in an activated state during activation, impurities of the carbonized compound gas can be removed from the adsorption characteristics of the getter. The pumping speed of the carbonized compound getter is not more than 1/30 of that of a gas such as water or oxygen. Therefore, use of a getter is an optimal method for removing impurities from the carbonized compound.

【0019】これにより、素子の活性化工程で素子の電
子放出特性を劣化させる水等の不純物を除去することが
でき、素子の電子放出効率の高い画像表示装置を提供す
ることができる。
This makes it possible to remove impurities such as water which degrade the electron emission characteristics of the device in the device activation step, and to provide an image display device with high electron emission efficiency of the device.

【0020】[0020]

【実施例】以下、図面に基づき実施例により本発明の詳
細を説明するが、本発明はこれらによってなんら限定さ
れるものではない。 [実施例1]図1に本発明による画像表示装置の製造工
程の内、封着からゲッタフラッシュ工程までのブロック
フロー図を示す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to embodiments based on the drawings, but the present invention is not limited thereto. [Embodiment 1] FIG. 1 shows a block flow diagram from the sealing to the getter flash step in the manufacturing process of the image display device according to the present invention.

【0021】全ての部材の封着後、ガス導入管8および
排気管9より気密容器内の残留気体を排気する。気密容
器内の圧力がおよそ1×l0-5Torr以下に達した
ら、フォーミング処理(素子電極12,13に電圧印加)
を行いPdO薄膜14に電子放出部である亀裂15を形
成する。その後、気密容器内の圧力がおよそ1×l0-7
Torr以下に達したら、機密容器内のゲッタ10の一
部を活性化(フラッシュ)する。次に、気密容器内の圧力
が5×l0-6Torrとなるようにべンゾニトリルをガ
ス導入管8より導入し排気管9より排気し、素子の活性
化処理を行う。
After all the members are sealed, the residual gas in the airtight container is exhausted from the gas introduction pipe 8 and the exhaust pipe 9. When the pressure in the hermetic container reaches about 1 × 10 −5 Torr or less, forming processing (voltage application to element electrodes 12 and 13)
Is performed to form a crack 15 as an electron emission portion in the PdO thin film 14. Thereafter, the pressure in the airtight container is reduced to about 1 × 10 −7.
When the pressure reaches Torr or less, a part of the getter 10 in the confidential container is activated (flashed). Next, benzonitrile is introduced from the gas introduction pipe 8 and exhausted from the exhaust pipe 9 so that the pressure in the airtight container becomes 5 × 10 −6 Torr, and the element is activated.

【0022】活性化処理とは、気密容器内に活性化ガス
を導入し、素子電極間にパルス電圧を印加する処理であ
る。この活性化処理を行うことにより電子放出の効率が
増大し、画像表示装置の輝度が向上する。素子の活性後
脱ガス処理を行うため真空高温べ-キング処理を行う。
ベーキングエ程終了後、排気管9およびガス導入管8を
封止切りする。その後、ゲッタ11を誘導加熱によって
フラツシュ(活性化)させる。ゲッタ11は排気効果をも
たせるものであり、このゲッタ11を活性化することに
より気密容器内の残留ガスは捕獲され、気密容器内が長
期にわたり高真空に維持される。以上で画像表示装置を
完成させる。
The activation process is a process of introducing an activation gas into an airtight container and applying a pulse voltage between device electrodes. By performing this activation process, the efficiency of electron emission is increased, and the brightness of the image display device is improved. After activation of the device, vacuum high-temperature baking is performed to perform degassing.
After the baking process, the exhaust pipe 9 and the gas introduction pipe 8 are sealed off. Thereafter, the getter 11 is flushed (activated) by induction heating. The getter 11 has an exhausting effect. By activating the getter 11, the residual gas in the hermetic container is captured, and the inside of the hermetic container is maintained at a high vacuum for a long time. Thus, the image display device is completed.

【0023】上述したように構成された画像表示装置の
動作について、以下に説明する。所定の真空度に維持さ
れた画像表示装置において、外部駆動回路(不図示)によ
って電子放出素子2の素子電極12,13に駆動パルス
電圧を印加すると、電子放出部15から電子が放出され
る。放出された電子は、蛍光体4およびアルミ薄膜5に
印加された電圧(1〜10kV)によって加速され、アル
ミ薄膜5に衝突する。この衝突により蛍光体4が励起さ
れ画像表示面に画像が表示される。
The operation of the image display device configured as described above will be described below. When a driving pulse voltage is applied to the element electrodes 12 and 13 of the electron-emitting device 2 by an external driving circuit (not shown) in the image display device maintained at a predetermined degree of vacuum, electrons are emitted from the electron-emitting portion 15. The emitted electrons are accelerated by the voltage (1 to 10 kV) applied to the phosphor 4 and the aluminum thin film 5 and collide with the aluminum thin film 5. The collision excites the phosphor 4 and an image is displayed on the image display surface.

【0024】上述した画像表示装置を本実施例の製造方
法で作成した場合と、従来の製造方法で作成した画像表
示装置の特性を評価するために、素子特性の評価を行っ
た。素子電極問の駆動電圧を15V、パルス幅100μ
A、周期10mSの矩形波を印加した。また、蛍光体お
よびアルミ薄膜に4kVの加速電圧を印加した。このと
きの素子電極12,13問に流れる電流をIf、蛍光体
およびアルミ薄膜に流れる電流をIeとすると、電子の
放出効率η(%)は、 η(%)=(Ie/If)×100 となる。本実施例では、η=0.5〜0.6%であった。
従来の製造方法では、η=0.3〜0.4%であった。
Element characteristics were evaluated in order to evaluate the characteristics of the image display device manufactured by the manufacturing method of the present embodiment and the characteristics of the image display device manufactured by the conventional manufacturing method. Drive voltage between device electrodes is 15V, pulse width is 100μ
A, a rectangular wave having a period of 10 mS was applied. Further, an acceleration voltage of 4 kV was applied to the phosphor and the aluminum thin film. If the current flowing between the device electrodes 12 and 13 at this time is If, and the current flowing through the phosphor and the aluminum thin film is Ie, the electron emission efficiency η (%) is η (%) = (Ie / If) × 100 Becomes In this embodiment, η was 0.5 to 0.6%.
In the conventional manufacturing method, η was 0.3 to 0.4%.

【0025】この結果から、本実施例の製造方法で作成
された画像表示装置の素子特性は従来例に比ベて、電子
の放出効率が高くなったことがわかる。これは、活性化
工程で、真空機密容器内でゲッタを活性化することによ
り機密容器内の活性化ガス以外の不純物を除去すること
ができ、活性化工程で積層したカーボン膜中の不純物が
除去されて電子の散乱効率が増加したためと思われる。
これから、本実施例による画像表示装置の製造方法の効
果は明らかである。
From these results, it can be seen that the device characteristics of the image display device manufactured by the manufacturing method of this embodiment have higher electron emission efficiency than the conventional example. This is because, in the activation step, impurities other than the activation gas in the confidential container can be removed by activating the getter in the vacuum confidential container, and the impurities in the carbon film laminated in the activation step are removed. This is probably because the electron scattering efficiency has increased.
From this, the effect of the method for manufacturing an image display device according to the present embodiment is clear.

【0026】[実施例2]図4に本発明による画像表示
装置の製造工程の内、封着からゲッタフラッシュ完了ま
でのブロックフロー図を示す。また、本実施例を示す画
像表示装置の概略構成を図5に示す。
[Embodiment 2] FIG. 4 shows a block flow diagram from the sealing to the completion of getter flash in the manufacturing process of the image display device according to the present invention. FIG. 5 shows a schematic configuration of an image display apparatus according to the present embodiment.

【0027】全ての部材の封着後、ガス導入管8および
排気管9より気密容器内の残留気体を排気する。気密容
器内の圧力がおよそ1×l0-5Torr以下に達した
ら、フォーミング処理(素子電極12、13に電圧印加)
を行いPdO薄膜14に電子放出部である亀裂15を形
成する。その後、気密容器内の圧力がおよそ1×l0-7
Torr以下に達したら、機密容器内のZr-Ba-Feを
主成分とする非蒸発型ゲッタ16を通電加熱によつて活
性化させる。次に、気密容器内の圧力が5×10-6To
rrとなるようにべンゾニトリルをガス導入管8より導
入し排気管9より排気し、素子の活性化処理を行う。
After all the members are sealed, the residual gas in the airtight container is exhausted from the gas introduction pipe 8 and the exhaust pipe 9. When the pressure in the hermetic container reaches about 1 × 10 −5 Torr or less, forming processing (voltage application to element electrodes 12 and 13)
Is performed to form a crack 15 as an electron emission portion in the PdO thin film 14. Thereafter, the pressure in the airtight container is reduced to about 1 × 10 −7.
When the pressure reaches Torr or lower, the non-evaporable getter 16 containing Zr-Ba-Fe as a main component in the confidential container is activated by electric heating. Next, when the pressure in the airtight container is 5 × 10 −6 To
Benzonitrile is introduced from the gas introduction pipe 8 and exhausted from the exhaust pipe 9 so as to achieve rr, and the element is activated.

【0028】活性化処理とは、気密容器内に活性化ガス
を導入し素子電極間にパルス電圧を印加する処理であ
る。この活性化処理を行うことにより電子放出の効率が
増大し、画像表示装置の輝度が向上する。素子の活性
後、脱ガス処理を行うため真空高温ベーキング処理を行
う。べーキングエ程終了後、活性化工程で使用した非蒸
発型ゲッタ16を通電加熱によって、再活性化処理を行
う。排気管9およびガス導人管8を封止切りする。その
後、ゲツタ10を誘導加熱によってフラッシュ(活性化)
させる。以上で画像表示装置を完成させる。
The activation process is a process of introducing an activation gas into an airtight container and applying a pulse voltage between device electrodes. By performing this activation process, the efficiency of electron emission is increased, and the brightness of the image display device is improved. After the activation of the device, a vacuum high-temperature baking process is performed to perform a degassing process. After the baking process, the non-evaporable getter 16 used in the activation step is subjected to a reactivation process by electric heating. The exhaust pipe 9 and the gas guide pipe 8 are cut off. Thereafter, the getter 10 is flashed (activated) by induction heating.
Let it. Thus, the image display device is completed.

【0029】上述したように構成された画像表示装置の
動作について、以下に説明する。所定の真空度に維持さ
れた画像表示装置において、外部駆動回路(不図示)によ
って電子放出素子2の素子電極12,13に駆動パルス
電圧を印加すると、電子放出部15から電子が放出され
る。放出された電子は、蛍光体4およびアルミ薄膜5に
印加された電圧(1〜10kV)によって加速され、アル
ミ薄膜5に衝突する。この衝突により蛍光体4が励起さ
れ画像表示面に画像が表示される。
The operation of the image display device configured as described above will be described below. When a driving pulse voltage is applied to the element electrodes 12 and 13 of the electron-emitting device 2 by an external driving circuit (not shown) in the image display device maintained at a predetermined degree of vacuum, electrons are emitted from the electron-emitting portion 15. The emitted electrons are accelerated by the voltage (1 to 10 kV) applied to the phosphor 4 and the aluminum thin film 5 and collide with the aluminum thin film 5. The collision excites the phosphor 4 and an image is displayed on the image display surface.

【0030】上述した画像表示装置を本実施例の製造方
法で作成した場合と、従来の製造方法で作成した画像表
示装置の特性を評価するために、素子特性の評価を行っ
た。素子電極間の駆動電圧を15V、パルス幅100μ
A、周期10mSの矩形波を印加した。また、蛍光体お
よびアルミ薄膜に4kVの加速電圧を印加した。このと
きの素子電極12,13間に流れる電流をIf、蛍光体
およびアルミ薄膜に流れる電流をIeとすると、電子の
放出効率η(%)は、 η(%)=(Ie/If)×100 となる。本実施例では、η=0.5〜0.6%であった。
従来の製造方法では、η=0.3〜0.4%であった。
The device characteristics were evaluated in order to evaluate the characteristics of the image display device manufactured by the manufacturing method of this embodiment and the image display device manufactured by the conventional manufacturing method. Drive voltage between device electrodes is 15V, pulse width is 100μ
A, a rectangular wave having a period of 10 mS was applied. Further, an acceleration voltage of 4 kV was applied to the phosphor and the aluminum thin film. If the current flowing between the device electrodes 12 and 13 at this time is If and the current flowing through the phosphor and the aluminum thin film is Ie, the electron emission efficiency η (%) is η (%) = (Ie / If) × 100 Becomes In this embodiment, η was 0.5 to 0.6%.
In the conventional manufacturing method, η was 0.3 to 0.4%.

【0031】この結果から、本実施例の製造方法で作成
された画像表示装置の素子特性は従来例に比ベて、電子
の放出効率が高くなったことがわかる。これは、活性化
工程で、真空機密容器内でゲッタを活性化することによ
り機密容器内の活性化ガス以外の不純物を除去すること
ができ、活性化工程で積層したカーボン膜中の不純物が
除去されて電子の散乱効率が増加したためと思われる。
これから、本実施例による画像表示装置の製造方法の効
果は明らかである。
From these results, it can be seen that the device characteristics of the image display device manufactured by the manufacturing method of the present embodiment have higher electron emission efficiency than the conventional example. This is because, in the activation step, impurities other than the activation gas in the confidential container can be removed by activating the getter in the vacuum confidential container, and the impurities in the carbon film laminated in the activation step are removed. This is probably because the electron scattering efficiency has increased.
From this, the effect of the method for manufacturing an image display device according to the present embodiment is clear.

【0032】本実施例では、活性化工程で不純物除去に
利用したゲッタを非蒸発型ゲッタとすることにより、活
性化工程終了後でも再活性化すれば再度ゲッタとして利
用できる利点を有している。そのため、封止終了後で
の、機密容器内の真空状態を良好に保つことができ、さ
らに素子を長時間安定に動作させることができる。
In this embodiment, the getter used for removing impurities in the activation step is a non-evaporable getter, so that it can be used again as a getter if it is reactivated after the activation step. . Therefore, the vacuum state in the confidential container after the sealing is completed can be favorably maintained, and the element can be operated stably for a long time.

【0033】本実施例では、非蒸発型ゲッタの再活性化
処理工程は、ベーキングエ程終了後に実施したが、活性
化処理工程終了後であればよく、これに限定されるもの
ではない。
In the present embodiment, the step of reactivating the non-evaporable getter is performed after the completion of the baking process, but may be performed after the completion of the activation step and is not limited to this.

【0034】さらに、非蒸発型ゲッタの活性化温度が比
較的低温であれば、ベーキング処理温度を非蒸発型ゲッ
タの活性化処理温度以上で行うことにより、非蒸発ゲッ
タの活性化処理を同時に実施することも可能である。こ
のように、非蒸発型ゲッタの再活性化処理工程を独立に
行わなくても、非蒸発型ゲッタを再活性化できれば間題
ない。
Furthermore, if the activation temperature of the non-evaporable getter is relatively low, the baking processing temperature is set to be higher than the activation processing temperature of the non-evaporable getter, so that the activation processing of the non-evaporable getter is simultaneously performed. It is also possible. As described above, there is no problem if the non-evaporable getter can be reactivated without independently performing the non-evaporable getter reactivation process.

【0035】また、本実施例ではゲツタ材としてBa-A
l-Niの蒸発型を用いたが、例えばTi(チタン)、Zr(ジ
ルコニウム)、Fe(鉄)、Ni(ニッケル)、V(バナジウ
ム)等を主成分とするゲツタ等がでもよく、また、蒸発
型および非蒸発型に限定されるものではない。
In this embodiment, Ba-A is used as the getter material.
Although the l-Ni evaporation type was used, for example, a getter containing Ti (titanium), Zr (zirconium), Fe (iron), Ni (nickel), V (vanadium) as a main component, or the like may be used. It is not limited to the evaporating type and the non-evaporating type.

【0036】また本実施例では、電子放出素子の活性化
ガスとしてべンゾニトリルを用いたが、本発明は電子放
出素子を活性化させるガスであれば特に限定されるもの
ではない。活性化ガス種としては、炭化化合物が有効で
ある。
In this embodiment, benzonitrile is used as the activating gas for the electron-emitting device. However, the present invention is not particularly limited as long as it is a gas for activating the electron-emitting device. As the activating gas species, a carbonized compound is effective.

【0037】[0037]

【発明の効果】上記のように本発明によれば、素子の活
性化処理前に機密容器内に具備してあるゲッタを活性化
することにより、活性化工程中の活性化ガス成分以外の
不純物を効率よく除去することができ、素子の電子放出
効率の向上が可能となり、消費電力の低い画像表示装置
の製造方法を提供することができる。
As described above, according to the present invention, by activating the getter provided in the confidential container before the activation processing of the element, impurities other than the activated gas component during the activation step can be obtained. Can be efficiently removed, the electron emission efficiency of the element can be improved, and a method of manufacturing an image display device with low power consumption can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の画像表示装置の製造工程(実施例1)
を示すのブロックフロー図。
FIG. 1 is a process for manufacturing an image display device of the present invention (Example 1).
FIG.

【図2】画像表示装置の概略構成を示す模式図。FIG. 2 is a schematic diagram showing a schematic configuration of an image display device.

【図3】画像表示装置の表面伝導型電子放出素子の概要
を示す模式図。
FIG. 3 is a schematic diagram showing an outline of a surface conduction electron-emitting device of the image display device.

【図4】本発明の画像表示装置の製造工程(実施例2)
を示すのブロックフロー図。
FIG. 4 is a view showing a manufacturing process of an image display device according to the present invention (Example 2).
FIG.

【図5】本発明の画像表示装置の概略構成を示す模式
図。
FIG. 5 is a schematic diagram showing a schematic configuration of an image display device of the present invention.

【図6】従来の画像表示装置の製造工程を示すのブロッ
クフロー図。
FIG. 6 is a block flow diagram showing a manufacturing process of a conventional image display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 フェイスプレート 2 リアプレート 3 外枠 4 蛍光体 5 アルミ薄膜 6 電子放出素子 7 大気圧支持支柱 8 ガス導入管 9 排気管 10 ゲツタ 11 遮蔽板 12,13 素子電極 14 パラジウム薄膜 15 電子放出部 16 非蒸発型ゲッタ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Face plate 2 Rear plate 3 Outer frame 4 Phosphor 5 Aluminum thin film 6 Electron emission element 7 Atmospheric pressure support column 8 Gas introduction pipe 9 Exhaust pipe 10 Getter 11 Shielding plate 12, 13 Element electrode 14 Palladium thin film 15 Electron emission part 16 Non Evaporable getter

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 真空気密容器内に電子放出素子を複数配
置してなる画像表示装置を製造する方法であって、該真
空気密容器内に活性化ガスを導入し電子放出素子にパル
ス電圧を印加し活性化処理を施す活性化工程において、
該活性化ガスを真空気密容器内に導入する前に真空気密
容器内に具備されるゲッタの活性化処理を行うことを特
徴とする、画像表示装置の製造方法。
1. A method for manufacturing an image display device comprising a plurality of electron-emitting devices arranged in a vacuum-tight container, wherein an activation gas is introduced into the vacuum-tight container and a pulse voltage is applied to the electron-emitting devices. In the activation step of performing the activation process,
A method for manufacturing an image display device, comprising performing an activation process of a getter provided in a vacuum-tight container before introducing the activation gas into the vacuum-tight container.
【請求項2】 前記真空気密容器内に具備されるゲッタ
が非蒸発型ゲッタであることを特徴とする、請求項1記
載の画像表示装置の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the getter provided in the vacuum-tight container is a non-evaporable getter.
【請求項3】 前記真空気密容器内に具備される非蒸発
型ゲッタを活性化工程終了後、非蒸発型ゲッタの再活性
化処理を施すことを特徴とする、請求項1または2記載
の画面表示装置の製造方法。
3. The screen according to claim 1, wherein after activating the non-evaporable getter provided in the vacuum-tight container, the non-evaporable getter is reactivated. A method for manufacturing a display device.
JP10133899A 1998-05-15 1998-05-15 Manufacture of image display device Pending JPH11329243A (en)

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