JP2000251714A - Manufacture for image forming device - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、真空容器内に非蒸
発型ゲッタを内包する表示装置や露光装置等の画像形成
装置の製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an image forming apparatus such as a display device or an exposure device, which includes a non-evaporable getter in a vacuum container.
【0002】[0002]
【従来の技術】電子源より放出された電子ビームを画像
形成部材である蛍光体に照射し、蛍光体を発光させて画
像を表示する装置においては、電子源と画像形成部材を
内包する真空容器(外囲器)の内部を高真空に保持しな
ければならない。それは、真空容器内部にガスが発生
し、圧力が上昇すると、その影響の程度はガスの種類に
より異なるが、電子源に悪影響を及ぼして電子放出量を
低下させ、明るい画像の表示ができなくなるためであ
る。また、発生したガスが、電子ビームにより電離され
てイオンとなり、これが電子を加速するための電界によ
り加速されて電子源に衝突することで、電子源に損傷を
与えることもある。さらに、場合によっては、内部で放
電を生じさせる場合もあり、この場合は装置を破壊する
こともある。2. Description of the Related Art In a device for irradiating an electron beam emitted from an electron source to a phosphor as an image forming member and causing the phosphor to emit light to display an image, a vacuum vessel containing the electron source and the image forming member is used. The interior of the (envelope) must be kept at a high vacuum. The reason is that when gas is generated inside the vacuum vessel and the pressure rises, the degree of the effect depends on the type of gas, but it adversely affects the electron source, reduces the amount of electron emission, and makes it impossible to display a bright image. It is. Further, the generated gas is ionized by the electron beam to become ions, which are accelerated by an electric field for accelerating the electrons and collide with the electron source, which may damage the electron source. Further, in some cases, a discharge may be generated inside, and in this case, the device may be destroyed.
【0003】通常、画像形成装置の真空容器はガラス部
材を組み合わせて、接合部をフリットガラスなどにより
接着して形成されており、―旦接合が完了した後の圧力
の維持は、真空容器内に設置されたゲッタによって行わ
れる。[0003] Usually, a vacuum container of an image forming apparatus is formed by combining glass members and bonding a bonding portion with frit glass or the like. This is done by an installed getter.
【0004】通常のCRTでは、Baを主成分とする合
金を、真空容器内で通電あるいは高周波により加熱し、
容器内壁に蒸着膜を形成し、これにより内部で発生した
ガスを吸着して高真空を維持している。In an ordinary CRT, an alloy containing Ba as a main component is heated in a vacuum vessel by energization or high frequency.
A vapor-deposited film is formed on the inner wall of the container, thereby adsorbing gas generated inside to maintain a high vacuum.
【0005】―方、多数の電子放出素子を平面基板上に
配置した電子源を用いた平面状ディスプレイの開発が進
められているが、この場合、真空容器の容積はCRTに
比べ小さくなるのに対し、ガスを放出する壁面の面積は
減少せず、このため同程度のガスの発生があった場合の
容器内の圧力の上昇が大きくなり、これによる悪影響は
深刻になる。また、CRTでは真空容器内部に、電子源
や画像形成部材のない壁面が十分にあって、この部分に
上述のようなゲッタ材を蒸着することができるが、平板
状ディスプレイの場合は、真空容器内面の面積の多く
を、電子源と画像形成部材が占めている。この部分に上
記のような蒸着型のゲッタ膜が付着すると、配線のショ
ートなどの悪影響が生ずるため、ゲッタ膜を形成できる
場所は限定される。そのため、真空容器のコーナーなど
をゲッタ膜の形成に用い、画像形成部材と電子源とで構
成される領域(以下、「画像表示領域」と呼ぶ。)にゲ
ッタ材が付着しないようにすることが考えられるが、平
板状ディスプレイの大きさがある程度大きくなると、ガ
ス放出量と比較して十分なゲッタ蒸着膜の面積を確保す
ることができなくなる。[0005] On the other hand, a flat display using an electron source in which a large number of electron-emitting devices are arranged on a flat substrate is being developed. In this case, the volume of the vacuum vessel is smaller than that of a CRT. On the other hand, the area of the wall surface for discharging the gas does not decrease, and therefore, the pressure inside the container increases when the same amount of gas is generated, and the adverse effect due to this increases. In the case of a CRT, there is sufficient wall surface without an electron source and an image forming member inside the vacuum container, and the getter material as described above can be deposited on this portion. An electron source and an image forming member occupy much of the inner surface area. If the above-described vapor deposition type getter film adheres to this portion, adverse effects such as short-circuiting of the wiring occur, so that the place where the getter film can be formed is limited. For this reason, the corners of the vacuum vessel are used for forming the getter film so that the getter material does not adhere to a region formed by the image forming member and the electron source (hereinafter, referred to as an “image display region”). It is conceivable that when the size of the flat display is increased to some extent, it becomes impossible to secure a sufficient area of the getter vapor-deposited film as compared with the gas emission amount.
【0006】これを解決し、十分なゲッタ膜の面積を確
保するため、図12(a)に示すように、外囲器121
内に対向配置された蛍光体123と電界放出素子124
との間の画像表示領域の外側、例えば外周部にワイヤー
ゲッタ122を張設し、これにより外周部の壁面にゲッ
タ膜125を蒸着して形成する方法(特開平5−151
916号公報)、図12(b)に示すように、フェース
プレート126とリアプレート127との空間の側方
に、ゲッタ膜を形成するためのゲッタ材128を有する
ゲッタ室129を付随させる方法(特開平4−2896
40号公報など)、電子源基板と真空容器のリアプレー
トの間に空間を設けて、ここにゲッタ膜を形成する方法
(特開平1−235152号公報など)などが提案され
ている。In order to solve this problem and to secure a sufficient getter film area, as shown in FIG.
Phosphor 123 and field emission device 124 disposed opposite to each other
A wire getter 122 is stretched outside the image display area between, for example, the outer peripheral portion, and the getter film 125 is formed on the outer peripheral wall surface by vapor deposition (Japanese Patent Laid-Open No. 5-151).
No. 916) and a method of attaching a getter chamber 129 having a getter material 128 for forming a getter film to the side of the space between the face plate 126 and the rear plate 127 as shown in FIG. JP-A-4-2896
Japanese Patent Laid-Open No. 1-235152, etc., and a method in which a space is provided between an electron source substrate and a rear plate of a vacuum vessel and a getter film is formed thereover has been proposed.
【0007】平板状画像形成装置における、真空容器内
でのガスの発生の問題には、上記のような問題のほか、
以下に説明するように、局所的に圧力が上昇しやすいと
いう問題がある。[0007] In the flat plate image forming apparatus, the problem of gas generation in the vacuum vessel includes the above-mentioned problems,
As described below, there is a problem that the pressure tends to increase locally.
【0008】従来のCRTの場合、画像形成部材と電子
源は離れており、両者の間には、真空容器内壁に形成さ
れたゲッタ膜があるため、画像形成部材で発生したガス
は、電子源に到達するまで広く拡散し、―部はゲッタ膜
に吸着されて、電子源のところではそれほど極端に圧力
が高くならない。また電子源の周りにもゲッタ膜がある
ため、電子源自体から放出されたガスによつても極端な
局所的な圧力上昇は生じない。ところが、平板状画像形
成装置においては、画像形成部材と電子源が接近してい
るため、画像形成部材から発生したガスは、十分拡散す
る前に電子源に到達して、局所的な圧力上昇をもたら
す。特に、電子ビームの照射によってガスを多く発生さ
せる画像形成領域の中央部では、ゲッタ膜を形成した領
域まで拡散することができないため、周辺部に比べ局所
的な圧力上昇が大きく現れるものと考えられる。発生し
たガスは、電子源から放出されて電子によりイオン化さ
れ、電子源と画像形成部材の間に損傷を及ぼしたり、放
電を生ぜしめて電子源を破壊したりする場合がある。In the case of a conventional CRT, the image forming member is separated from the electron source, and a getter film formed on the inner wall of the vacuum vessel is provided between the two. Is diffused widely until it reaches, and the-part is adsorbed by the getter film, and the pressure does not increase so much at the electron source. Further, since the getter film is also provided around the electron source, an extremely local pressure increase does not occur even by the gas emitted from the electron source itself. However, in the flat plate image forming apparatus, since the image forming member and the electron source are close to each other, gas generated from the image forming member reaches the electron source before sufficiently diffusing, and causes a local pressure increase. Bring. In particular, in the central part of the image forming region where a large amount of gas is generated by the irradiation of the electron beam, the gas cannot diffuse to the region where the getter film is formed, so that a local pressure rise is considered to be larger than in the peripheral part. . The generated gas is released from the electron source and is ionized by the electrons, which may cause damage between the electron source and the image forming member, or may cause an electric discharge to destroy the electron source.
【0009】このような事情を考慮して、特定の構造を
有する平板状画像形成装置では、画像表示領域内にゲッ
タ材を配置して、発生したガスを即座に吸着するように
した構成が開示されている。例えば特開平4−1243
6号公報では、電子ビームを引き出すゲート電極を有す
る電子源において、該ゲート電極をゲッタ材で形成する
方法が開示されており、円錐状突起を陰極とする電界放
出型の電子源と、pn接合を有する半導体電子源が例示
されている。また、特開昭63−181248号公報で
は、カソード(陰極)群と真空容器のフェースプレート
との間に、電子ビームを制御するための電極(グリッド
など)を配置する構造の平板状ディスプレイにおいて、
この制御用電極上にゲッタ材の膜を形成する方法が開示
されている。In view of such circumstances, in a flat plate image forming apparatus having a specific structure, a structure is disclosed in which a getter material is arranged in an image display area to immediately adsorb generated gas. Have been. For example, JP-A-4-1243
Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-26139 discloses a method of forming an electron source having a gate electrode for extracting an electron beam, wherein the gate electrode is formed of a getter material. Are exemplified. Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-181248 discloses a flat display having a structure in which an electrode (grid or the like) for controlling an electron beam is arranged between a cathode (cathode) group and a face plate of a vacuum vessel.
A method of forming a getter material film on the control electrode is disclosed.
【0010】―方、平板状ディスプレイに使用する電子
源を構成する電子放出素子としては、構造と製造方法が
簡単なものが、生産技術、製造コストなどの観点から見
て望ましいことは言うまでもない。製造プロセスが、薄
膜の積層と簡単な加工で構成されているもの、あるいは
大型のものを製造する場合は、印刷法などの真空装置を
必要としない技術により製造できるものが求められる。On the other hand, it is needless to say that an electron-emitting device constituting an electron source used in a flat display is simple in structure and manufacturing method from the viewpoint of production technology, manufacturing cost and the like. If the manufacturing process is composed of thin film lamination and simple processing, or if a large product is to be manufactured, one that can be manufactured by a technique such as a printing method that does not require a vacuum device is required.
【0011】この点で、上述の特開平4−12436号
公報に開示された、ゲート電極をゲッタ材により構成し
た電子源は、円錐状の陰極チップの製造、あるいは半導
体の接合の製造などが真空装置中での煩雑な工程を要
し、また大型化するには製造装置による限界がある。In this respect, the electron source disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-12436, in which the gate electrode is made of a getter material, requires a vacuum for manufacturing a conical cathode tip or a semiconductor junction. Complicated steps in the apparatus are required, and there is a limit to the increase in size due to the manufacturing apparatus.
【0012】また特開昭63−181248号公報のよ
うに、電子源とフェースプレートの間に、制御電極など
を設けた装置では、構造が複雑になり、製造工程ではこ
れらの部材の位置合わせなど煩雑な工程が伴うことにな
る。Further, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-181248, an apparatus in which a control electrode or the like is provided between an electron source and a face plate has a complicated structure. A complicated process will be involved.
【0013】また、製造工程が容易であると言う上述の
要求を満たし得る構造を持つた電子放出素子としては、
横型の電界放出型電子放出素子や、表面伝導型電子放出
素子を挙げることができる。横型の電界放出型電子放出
素子は、平面基板上に尖った電子放出部を有する陰極
(ゲート)を対向させて形成したもので、蒸着、スパッ
タ、メッキ法などの薄膜堆積法と、通常のフォトリソグ
ラフィー技術により、電子が放出されるもので、特開平
7−235255号公報にその―例が示されている。An electron-emitting device having a structure capable of satisfying the above-mentioned requirement that the manufacturing process is easy is as follows.
A horizontal field emission electron-emitting device and a surface conduction electron-emitting device can be given. A horizontal field emission type electron-emitting device is formed by opposing a cathode (gate) having a sharp electron-emitting portion on a flat substrate, and using a thin film deposition method such as vapor deposition, sputtering, plating, and the like, and a general photolithography method. Electrons are emitted by the lithography technique, and an example is shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-235255.
【0014】これらの素子を用いた電子源では、特開平
4−12436号公報に開示されたような形状のゲート
電極や、特開昭63−181248号公報に開示された
ような制御電極を有しないため、これらと同様な手法
で、画像表示領域内にゲッタを配置することはできず、
画像表示領域の外側にゲッタを配置することになり、上
記真空度の低下による劣化、破壊等を回避することは困
難である。An electron source using these elements has a gate electrode having a shape as disclosed in JP-A-4-12436 and a control electrode as disclosed in JP-A-63-181248. Therefore, getters cannot be placed in the image display area in a similar manner,
Since the getter is disposed outside the image display area, it is difficult to avoid the deterioration, destruction, and the like due to the decrease in the degree of vacuum.
【0015】[0015]
【発明が解決しようとする課題】既に述べたように、電
子源より放出された電子ビームを画像形成部材である蛍
光体に照射し、蛍光体を発光させて画像を表示する装置
においては、電子源と画像形成部材を内包する真空容器
の内部を高真空に保持しなければならない。As described above, in an apparatus that irradiates an electron beam emitted from an electron source to a phosphor as an image forming member and causes the phosphor to emit light, an image is displayed. The interior of the vacuum vessel containing the source and the imaging member must be maintained at a high vacuum.
【0016】上述のような画像形成装置において、ガス
の発生源として最も寄与の大きいものは高エネルギーの
電子によって衝撃を受ける蛍光膜などの画像表示部材で
ある。もちろん、高温で時間をかけてベーキングするな
ど、十分に脱ガス処理が実行できれば、ガスの発生は軽
減できるが、実際の装置では、電子放出素子その他の部
材が熱的なダメージを受けるため、十分に脱ガス処理が
行えない場合があり、このような場合には、ガスが発生
する可能性が高い。このガスが電子源の電子放出部に吸
着して特性に影響を及ぼす他、電子源から放出される電
子によってイオン化されたガス分子が、画像形成部材と
電子源の間、または電子源の正極と負極の間に印加され
た電圧によって形成された電界により加速され、電子源
の正極または負極に衝突してダメージを与える恐れがあ
る。In the above-described image forming apparatus, the most significant source of gas generation is an image display member such as a fluorescent film which is impacted by high-energy electrons. Of course, if degassing can be performed sufficiently, such as baking at a high temperature for a long time, the generation of gas can be reduced, but in an actual device, the electron-emitting device and other members are thermally damaged. In some cases, the degassing process cannot be performed, and in such a case, gas is highly likely to be generated. This gas adsorbs on the electron emission portion of the electron source to affect the characteristics, and gas molecules ionized by the electrons emitted from the electron source form a gap between the image forming member and the electron source or between the electron source and the positive electrode of the electron source. It is accelerated by the electric field formed by the voltage applied between the negative electrodes, and may collide with and damage the positive electrode or the negative electrode of the electron source.
【0017】また、局所的・瞬間的にガスの圧力が高く
なった場合には、電界により加速されたイオンが、別の
ガス分子に衝突して次々にイオンを生成し、放電を生ぜ
しめる恐れがある。この場合には、電子源が部分的に破
壊され、電子放出特性の劣化を引き起こす恐れがある。
画像形成部材からのガスの発生は、画像形成装置形成後
に電子を放出させ、これにより蛍光体を発光させる際、
蛍光体に含まれているH2 O,H2 ,CH4 ,CO,C
O2 ,O2 などのガスが急激に放出される。これにより
駆動開始初期に画像の輝度が目立って低下するなどの現
象を引き起こす場合がある。Further, when the gas pressure is locally and instantaneously increased, ions accelerated by the electric field may collide with another gas molecule to generate ions one after another, thereby causing a discharge. There is. In this case, the electron source may be partially destroyed, causing deterioration of the electron emission characteristics.
The generation of gas from the image forming member emits electrons after the image forming apparatus is formed, thereby causing the phosphor to emit light.
H 2 O, H 2 , CH 4 , CO, C contained in the phosphor
Gases such as O 2 and O 2 are rapidly released. This may cause phenomena such as a noticeable decrease in image brightness at the beginning of driving.
【0018】こうした課題を解決するためには、従来の
如く表示領域の外側にゲッタ領域を設けただけでは、画
像表示領域の中央付近で発生したガスは、外側のゲッタ
領域に到達するまでに時間がかかるだけでなくゲッタに
吸着される前に電子源に再吸着して、電子放出特性を劣
化させることになる。こうした画像表示領域の外周に設
けたゲッタ層では素子劣化を防止するのに、十分な効果
を発揮できず、特に画像表示領域の中央で、画像の輝度
低下が目立つ場合がある。従って、上記のようなゲート
電極あるいは制御電極を有しない構造の平板状画像形成
装置において、発生したガスが速やかに除去されるよ
う、画像表示領域内にゲッタ部材を配置しうる新規な構
造の装置を創出することが求められていた。In order to solve such a problem, merely providing a getter region outside the display region as in the related art requires gas generated near the center of the image display region to reach the outer getter region in a short time. In addition to this, it is re-adsorbed by the electron source before being adsorbed by the getter, thereby deteriorating the electron emission characteristics. The getter layer provided on the outer periphery of the image display area cannot exert a sufficient effect to prevent the deterioration of the element. In particular, the brightness of the image may be noticeably reduced particularly at the center of the image display area. Therefore, in the flat plate image forming apparatus having no gate electrode or control electrode as described above, a device having a novel structure capable of disposing a getter member in an image display area so that generated gas is quickly removed. Was required to be created.
【0019】上記課題を解決するために、米国特許5,
453,659号 ”AnodePlate for
Flat Panel Display having
lntegrated Getter”,issure
d 26 Sept.1995 to Wallace
et al.では、画像形成基板(アノードプレー
ト)上の、ストライプ状の蛍光体同士の隙間にゲッタ部
材を形成したものが開示されている。この例では、ゲッ
タ材は、蛍光体及びそれと電気的に接続された導電体と
は電気的に分離されており、ゲッタに適当な電位を与え
て電子源の放出した電子を照射・加熱することで、ゲッ
タの活性化を行うものである。しかしながら、そのゲッ
ター材は電子ビーム蒸着あるいは、イオンビームスパッ
タリング等の真空蒸着技術を用いて形成されており、形
成されたゲッター層は微小粒子の集合体としての薄膜で
あり表面積が小さくなってしまう。表面吸着によってガ
スを吸収するという非蒸発型ゲッタの性質上、表面積が
小さいということはゲッタとしての特性(吸着速度、及
び総吸着量)が悪くなることを意味しており、特に高温
で焼成を行うパネル封着時には、部材からの放出ガスが
多い場合、ゲッタの劣化を引き起こす場合がある。In order to solve the above problems, US Pat.
No. 453,659 "AnodePlate for
Flat Panel Display having
integrated Getter ”, issue
d 26 Sept. 1995 to Wallace
et al. Discloses a method in which a getter member is formed in a gap between stripe-shaped phosphors on an image forming substrate (anode plate). In this example, the getter material is electrically separated from the phosphor and the conductor electrically connected to the phosphor, so that an appropriate potential is applied to the getter to irradiate and heat the electrons emitted from the electron source. Then, the getter is activated. However, the getter material is formed by using a vacuum evaporation technique such as electron beam evaporation or ion beam sputtering, and the formed getter layer is a thin film as an aggregate of fine particles and has a small surface area. Due to the nature of the non-evaporable getter, which absorbs gas by surface adsorption, a small surface area means that the properties of the getter (adsorption rate and total adsorption amount) are worsened. At the time of panel sealing, if the amount of gas released from the member is large, the getter may be deteriorated.
【0020】本発明は、以上述べた不都合を解消し得る
画像形成装置の製造方法を提供することを目的とするも
ので、特に、パネル封着時のゲッタ劣化を低減する画像
形成装置の製造方法を提供することを目的とする。An object of the present invention is to provide a method of manufacturing an image forming apparatus capable of solving the above-mentioned disadvantages, and more particularly, to a method of manufacturing an image forming apparatus capable of reducing getter deterioration during panel sealing. The purpose is to provide.
【0021】[0021]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明における画像形成装置の製造方法は、外囲器
内に、少なくとも非蒸発型ゲッタを内包する画像形成装
置の製造方法において、外囲器の封着工程前に、真空中
にて、各構成部材を封着温度以上で加熱処理することを
特徴としているものである。In order to achieve the above object, a method of manufacturing an image forming apparatus according to the present invention is directed to a method of manufacturing an image forming apparatus including at least a non-evaporable getter in an envelope. Before the step of sealing the envelope, each component is subjected to a heat treatment at a sealing temperature or higher in a vacuum.
【0022】上記本発明の画像形成装置の製造方法は、
さらなる特徴として、「前記外囲器の封着が、低融点ガ
ラスフリットによる溶融、接着である」こと、「前記画
像形成装置は、外囲器内に、複数の電子放出素子が配設
された電子源基板と、画像形成部材が設けられた画像形
成基板を有する」こと、「前記電子放出素子が、表面伝
導型電子放出素子である」こと、「前記非蒸発型ゲッタ
を、前記電子源基板あるいは前記画像形成基板の表面に
形成する」こと、「前記非蒸発型ゲッタを、予め真空中
にて封着温度以上で加熱処理した前記電子源基板あるい
は前記画像形成基板に形成する」こと、「前記非蒸発型
ゲッタの材料が、Tiまたは/およびZrを主成分と
し、さらにAl、V、Fe、Mnのいずれか―種類以上
を副成分として含有する合金である」こと、「前記非蒸
発型ゲッタの活性化を、前記外囲器の封着後、該外囲器
を真空排気しながら加熱処理するベーキング工程におけ
る該加熱処理によって行う」こと、「前記非蒸発型ゲッ
タの活性化温度が、前記外囲器の封着温度より低い」こ
と、「前記画像形成装置は、少なくともいずれか―方の
基板に表示電極および補助電極を形成した前面基板と後
面基板とを対向配置した外囲器内に、発光媒質を封入
し、前記表示電極および補助電極に電圧を印加すること
により表示を行う画像形成装置である」こと、をも含
む。The method for manufacturing an image forming apparatus of the present invention is as follows.
As a further feature, "the sealing of the envelope is melting and bonding with a low melting point glass frit", "the image forming apparatus has a plurality of electron-emitting devices disposed in the envelope. Having an electron source substrate and an image forming substrate provided with an image forming member ";" the electron emitting element is a surface conduction electron emitting element "; and Alternatively, "forming on the surface of the image forming substrate", "forming the non-evaporable getter on the electron source substrate or the image forming substrate previously heat-treated at a sealing temperature or higher in vacuum", ""The material of the non-evaporable getter is an alloy containing Ti or / and Zr as a main component and further containing any one or more of Al, V, Fe, and Mn as an auxiliary component." Activation of getter After the sealing of the envelope, the heat treatment is performed in a baking step of performing a heat treatment while evacuating the envelope, "and" the activation temperature of the non-evaporable getter is set to Lower than the sealing temperature '', `` the image forming apparatus includes a light emitting medium in an envelope in which a front substrate and a rear substrate on which a display electrode and an auxiliary electrode are formed on at least one of the substrates are opposed to each other. It is an image forming apparatus that performs display by enclosing and applying a voltage to the display electrode and the auxiliary electrode. "
【0023】本発明の画像形成装置の製造工程における
特徴は、非蒸発型ゲッタを形成する画像形成装置の構成
部材を予め真空中で加熱し、所望の構成部材、特に好ま
しくは画像表示領域内の電子源基板もしくは画像形成基
板上に非蒸発型ゲッタを形成した後、封着によるパネル
化を行うところにある。このように予め封着温度以上で
真空加熱された部材は、封着温度でのガス放出が大幅に
低減され、封着工程における非蒸発型ゲッタの特性劣化
を抑制する事が可能となる。The feature of the manufacturing process of the image forming apparatus of the present invention is that the constituent members of the image forming apparatus for forming the non-evaporable getter are heated in advance in a vacuum, and the desired constituent members, particularly preferably in the image display area, After forming a non-evaporable getter on an electron source substrate or an image forming substrate, a panel is formed by sealing. As described above, in the member heated in advance at the sealing temperature or higher, the release of gas at the sealing temperature is greatly reduced, and the deterioration of the characteristics of the non-evaporable getter in the sealing step can be suppressed.
【0024】本発明者は、画像形成装置における非蒸発
型ゲッタの特性劣化に関し鋭意検討を行った結果、画像
形成装置の主要構成部材であるガラス基板、蛍光体、配
線材料、ガラスフリット等を真空加熱処理工程を通さず
に封着温度程度で加熱した際には、水素、酸素、水、二
酸化炭素、―酸化炭素等が発生することが分かつた。4
00℃〜450℃程度の封着温度下で上記ガスが存在す
る場合は、非蒸発型ゲッタの特性劣化が著しく、ゲッタ
の性能を示すガス吸着速度は真空加熱処理を行わない場
合、本来のゲッタの吸着速度の数分の一から数十分の一
になる。The inventor of the present invention has made intensive studies on the deterioration of the characteristics of the non-evaporable getter in the image forming apparatus. As a result, the main components of the image forming apparatus, such as glass substrate, phosphor, wiring material, glass frit, etc. When heated at about the sealing temperature without passing through the heat treatment step, it was found that hydrogen, oxygen, water, carbon dioxide, carbon dioxide, etc. were generated. 4
When the above gas is present at a sealing temperature of about 00 ° C. to 450 ° C., the characteristic deterioration of the non-evaporable getter is remarkable. Of the adsorption speed becomes several tenths to several tenths.
【0025】―方、本発明のように、構成部材の真空加
熱処理を行った後に当該構成部材上にゲッタを形成し、
さらに各々真空加熱処理を行った当該構成部材でパネル
化のための封着を行った場合には特性の劣化を効果的に
抑制できる。On the other hand, as in the present invention, a getter is formed on the constituent member after the constituent member is subjected to the vacuum heating process,
Further, when sealing for panelization is performed with the constituent members that have been subjected to the vacuum heat treatment, deterioration of characteristics can be effectively suppressed.
【0026】ただし、真空加熱処理を施した部材を用い
た場合でも、フリットガラスで封着する時、画像形成装
置内部が空気であっては本発明の効果は低減する。従つ
て、本発明の応用可能な封着雰囲気としては、アルゴン
等の不活性ガス中や窒素ガス中が好ましい。However, even when a member subjected to a vacuum heat treatment is used, the effects of the present invention are reduced when the interior of the image forming apparatus is air when sealing with frit glass. Therefore, the sealing atmosphere to which the present invention can be applied is preferably in an inert gas such as argon or nitrogen gas.
【0027】しかし、いかに不活性ガス中であっても構
成部材の真空加熱処理のない場合には、封着時に部材か
ら放出される非蒸発型ゲッタにとってのキラーガスによ
ってゲッタ特性の劣化が避けられないことは言うまでも
ない。However, even in an inert gas, if the constituent members are not subjected to the vacuum heating treatment, deterioration of the getter characteristics is inevitable due to the killer gas for the non-evaporable getter released from the members at the time of sealing. Needless to say.
【0028】―方、予め部材の真空加熱処理を行った場
合には、ゲッタの劣化が著しい300℃以上で封着温度
(400℃〜450℃程度)までの温度範囲でのガス放
出を激減させることが可能であり、効果的なゲッタ保護
手段となる。On the other hand, when the member is subjected to a vacuum heat treatment in advance, gas emission in a temperature range from 300 ° C. or more to a sealing temperature (about 400 ° C. to 450 ° C.) where the getter is significantly deteriorated is drastically reduced. This is an effective getter protection measure.
【0029】また、既に述べたように平板状画像形成装
置の場合、電子源駆動により発生するガスを効果的に排
気するためには画像表示領域内に非蒸発型ゲッタを配置
することが望ましいが、画像表示領域内でゲッタを配置
し得る場所として考えられる電子源基板上や蛍光体等を
配置した画像形成基板上は、いずれも非蒸発型ゲッタ本
来の特性を得やすい、高温でのゲッタ活性化を行うには
不向きな部材上であり、十分なゲッタ活性化を妨げるこ
とにもなる。As described above, in the case of a flat image forming apparatus, it is desirable to dispose a non-evaporable getter in the image display area in order to effectively exhaust gas generated by driving the electron source. In the image display area, the getter activity at high temperature can be easily obtained on the electron source substrate or the image forming substrate on which the fluorescent substance is arranged, which can be considered as a place where the getter can be arranged. This is on a member that is not suitable for performing gettering, and also prevents sufficient getter activation.
【0030】そこで、本発明では画像表示領域内にゲッ
タを配置し、パネル封着後、ゲッタ活性化をパネルの真
空ベーキング工程を併用して行うのが好ましい。従っ
て、活性化温度は封着温度以下に限定される。Therefore, in the present invention, it is preferable that a getter is arranged in the image display area, and after the panel is sealed, the getter is activated by using a vacuum baking step of the panel. Therefore, the activation temperature is limited to the sealing temperature or lower.
【0031】[0031]
【発明の実施の形態】以下に、本発明を適用し得る画像
形成装置の基本的構成について説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The basic structure of an image forming apparatus to which the present invention can be applied will be described below.
【0032】図1は、本発明を用いて作製した画像形成
装置の構成の―例を模式的に示すものである。FIG. 1 schematically shows an example of the configuration of an image forming apparatus manufactured by using the present invention.
【0033】1は電子源基板で、複数の電子放出素子2
を基板上に配置し、m本のX方向配線3とn本のY方向
配線4により適宜電気的に接続されたものである。な
お、このX方向配線3及びY方向配線4は、それぞれ容
器外に端子Dox1 〜Doxm 及びDoy1 〜Doyn として引
き出されている。11は電子源基板1を固定したリアプ
レート、12は支持枠、13は画像形成基板であるフェ
ースプレートで、各接合部において、フリットガラスな
どを用いて互いに接着され、外囲器17を形成してい
る。An electron source substrate 1 includes a plurality of electron-emitting devices 2.
Are arranged on a substrate, and are appropriately electrically connected by m X-directional wirings 3 and n Y-directional wirings 4. The X-directional wiring 3 and the Y-directional wiring 4 are respectively drawn out of the container as terminals Dox1 to Doxm and Doy1 to Doyn . Reference numeral 11 denotes a rear plate to which the electron source substrate 1 is fixed, 12 denotes a support frame, and 13 denotes a face plate which is an image forming substrate, and is bonded to each other using frit glass or the like at each joint to form an envelope 17. ing.
【0034】フェースプレート13は、ガラス基体14
の上に蛍光膜15、メタルバック16、透明導電膜(不
図示)が形成されてなり、この部分は画像表示領域とな
る。蛍光膜15は白黒画像の場合には、蛍光体のみから
なるが、カラー画像を表示する場合には、赤、緑、青の
3原色の蛍光体によりピクセルが形成されている。The face plate 13 comprises a glass substrate 14
A fluorescent film 15, a metal back 16, and a transparent conductive film (not shown) are formed thereon, and this portion becomes an image display area. The fluorescent film 15 is made of only a phosphor in the case of a black-and-white image, but in the case of displaying a color image, pixels are formed of phosphors of three primary colors of red, green and blue.
【0035】メタルバック16はAlなどの導電性薄膜
により構成される。メタルバック16は、蛍光体から発
生した光のうち、電子源基板1の方に進む光をガラス基
体14の方向に反射して輝度を向上させるとともに、外
囲器17内に残留したガスが電子線により電離されて生
成したイオンの衝撃によって、蛍光体が損傷を受けるの
を防止する働きもある。またフェースプレート13の画
像表示領域に導電性を与えて、電荷が蓄積されるのを防
ぎ、電子源基板1に対してアノード電極の役割を果たす
ものである。The metal back 16 is formed of a conductive thin film of Al or the like. The metal back 16 reflects light traveling toward the electron source substrate 1 out of the light generated from the phosphor toward the glass base 14 to improve the brightness, and the gas remaining in the envelope 17 reduces the light emitted from the phosphor. It also serves to prevent the phosphor from being damaged by the impact of ions generated by ionization by the wire. Further, it provides conductivity to the image display area of the face plate 13 to prevent charge from being accumulated, and serves as an anode electrode for the electron source substrate 1.
【0036】続いて蛍光膜15について説明する。図2
(a)は、蛍光体18がストライプ状に並べられた場合
で、赤(R)、緑(G)、青(B)の3原色の蛍光体1
8が順に形成されている。図2(b)は、蛍光体18の
ドットが格子状に並べられた場合で、各色の配置方法は
数種あり、これに応じてドットの並び型は、図示した三
角格子の他、正方格子などを採用する場合もある。な
お、フェースプレート13側に非蒸発型ゲッタを形成す
る場合、蛍光体18間の領域に非蒸発型ゲッタ19を形
成することができる。Next, the fluorescent film 15 will be described. FIG.
(A) is a case where the phosphors 18 are arranged in a stripe shape, and the phosphors 1 of three primary colors of red (R), green (G), and blue (B).
8 are formed in order. FIG. 2B shows a case where the dots of the phosphor 18 are arranged in a grid pattern. There are several types of arrangement methods for each color. In some cases, such as is adopted. When a non-evaporable getter is formed on the face plate 13 side, a non-evaporable getter 19 can be formed in a region between the phosphors 18.
【0037】ガラス基体14上への蛍光体18のパター
ニング法としては、スラリー法や印刷法などが使用でき
る。蛍光膜15を形成した後、さらにAlなどの金属を
形成し、メタルバック16とする。As a method of patterning the phosphor 18 on the glass substrate 14, a slurry method, a printing method, or the like can be used. After forming the fluorescent film 15, a metal such as Al is further formed to form a metal back 16.
【0038】次に、本発明に適用し得る電子源基板1に
ついて説明する。Next, the electron source substrate 1 applicable to the present invention will be described.
【0039】電子源基板1はガラス基板等の絶縁性基
板、あるいは絶縁性薄膜上にフォトリソ、印刷等の手法
を用いて形成されるもので、層間絶縁層を介して配置さ
れたX−Yマトリクス配線の交点に電子放出素子2を配
置したものや、梯子状に配置した2つの配線間に電子放
出素子を並列に配置したものがある。The electron source substrate 1 is formed on an insulating substrate such as a glass substrate, or an insulating thin film by using a method such as photolithography or printing, and has an XY matrix arranged via an interlayer insulating layer. There are a device in which the electron-emitting devices 2 are arranged at the intersections of the wires, and a device in which the electron-emitting devices are arranged in parallel between two wires arranged in a ladder shape.
【0040】ここで用いられる電子放出素子2として
は、微細な円錐形のカソードとカソードから電子を引き
出すためのグリッド電極からなるフィールドエミッター
(いわゆるSpindtタイプ)やフィールドエミッタ
ーを平面構成した横形の電界放出型電子放出素子、表面
伝導型電子放出素子等が挙げられる。As the electron-emitting device 2 used here, a field emitter (a so-called Spindt type) comprising a fine conical cathode and a grid electrode for extracting electrons from the cathode, and a horizontal field emission having a planar structure of the field emitter are used. Type electron-emitting devices, surface conduction electron-emitting devices, and the like.
【0041】これらの電子放出素子は動作中の素子表面
の影響を受け易く、画像形成装置に応用した場合には外
囲器(パネル)17内の真空度の低下により特性劣化を
引き起こしたり、放電の発生により素子破壊に至ること
もあり、真空維持のためのゲッタが必要となる。These electron-emitting devices are easily affected by the surface of the device during operation, and when applied to an image forming apparatus, the deterioration of the degree of vacuum in the envelope (panel) 17 causes deterioration of the characteristics or discharge. In some cases, the device may be destroyed due to the generation of the light, and a getter for maintaining a vacuum is required.
【0042】次に、本発明に用いる非蒸発型ゲッタにつ
いて説明する。Next, the non-evaporable getter used in the present invention will be described.
【0043】本発明に用いることのできる非蒸発型ゲッ
タは、画像形成装置の画像表示領域内に配置されるのが
望ましく、その配置場所は電子源基板1(電子源基板1
を固定する別体のリアプレートを用いない場合には、電
子源基板1自体をリアプレートとも呼ぶ。)上、あるい
は蛍光体を配置した画像形成基板であるフェースプレー
ト上が望ましい。The non-evaporable getter which can be used in the present invention is desirably disposed in the image display area of the image forming apparatus, and is disposed at the electron source substrate 1 (electron source substrate 1).
When a separate rear plate for fixing the electron source substrate is not used, the electron source substrate 1 itself is also called a rear plate. ) Or on a face plate which is an image forming substrate on which a phosphor is arranged.
【0044】上記画像表示領域以外のパネル内、例えば
画像表示領域の外周にリボン状ゲッタを配置した場合に
も本発明の効果は得られるが、素子駆動に伴って放出さ
れるガスを速やかに吸着する能力に対しては不向きであ
ることは前述のとおりである。The effect of the present invention can be obtained even when a ribbon-shaped getter is arranged in a panel other than the image display area, for example, on the outer periphery of the image display area. However, the gas released when the element is driven is quickly absorbed. As described above, it is not suitable for the ability to perform.
【0045】リアプレート上に非蒸発型ゲッタを配置す
る場合は、ゲッタ形成に先立ち、マトリクス配線等を形
成した後に真空中で加熱を行う。加熱する温度は、ゲッ
タ形成後の加熱工程、例えばリアプレートとフェースプ
レートを封着する際の封着温度以上とする。通常、ガラ
スフリットを用いて封着行為を行う場合にはその温度と
して400℃から450℃程度で加熱を行うため、構成
部材の真空中加熱処理温度は480℃程度が妥当であ
る。また、その処理時間は1時間程度の保持でよい。When a non-evaporable getter is arranged on the rear plate, heating is performed in a vacuum after forming matrix wiring and the like before forming the getter. The heating temperature is equal to or higher than a heating step after the formation of the getter, for example, a sealing temperature for sealing the rear plate and the face plate. Normally, when a sealing action is performed using a glass frit, heating is performed at a temperature of about 400 ° C. to 450 ° C., and therefore, a temperature of about 480 ° C. in a vacuum heat treatment of the constituent members is appropriate. The processing time may be maintained for about one hour.
【0046】フェースプレートに非蒸発型ゲッタを配置
する場合には、図2に示すように、電子放出素子から放
出された電子の照射を受けない領域、例えば赤、青、緑
の三原色蛍光体18の境界に非蒸発型ゲッタ層19を配
置する。When the non-evaporable getter is arranged on the face plate, as shown in FIG. 2, a region which is not irradiated with the electrons emitted from the electron-emitting device, for example, the three primary color phosphors 18 of red, blue and green. The non-evaporable getter layer 19 is arranged at the boundary of the.
【0047】真空加熱処理を行ったリアプレートあるい
はフェースプレート上に形成する非蒸発型ゲッタの膜厚
は、10μm〜200μm程度の範囲で適宜選択でき、
その場合のゲッタ層は、粒子層としては2層から数十層
で形成されればよい。The thickness of the non-evaporable getter formed on the rear plate or the face plate which has been subjected to the vacuum heat treatment can be appropriately selected within a range of about 10 μm to 200 μm.
In this case, the getter layer may be formed of two to several tens of layers as a particle layer.
【0048】次に、非蒸発型ゲッタ層19の作製方法に
ついて述べる。Next, a method for manufacturing the non-evaporable getter layer 19 will be described.
【0049】本発明におけるゲッタ層19は、ゲッタ活
性化後にはガス吸着特性を発現できる活性な表面を出し
うるような形態としなければならず、10μm〜50μ
mの粒状性を持つことが好ましい。そのため、前述の米
国特許第5,453,659号で示されているような電
子ビームを用いた真空蒸着法やスパッタ法は応用できな
い。その理由としては、上記のいわゆる真空蒸着では均
―な薄膜は形成できるものの必要とするμmオーダの粒
状性を得ることの困難さが挙げられる。The getter layer 19 in the present invention must be formed in such a form that an active surface capable of exhibiting gas adsorption characteristics can be obtained after the getter is activated.
It is preferable to have m granularity. Therefore, a vacuum evaporation method or a sputtering method using an electron beam as shown in the aforementioned US Pat. No. 5,453,659 cannot be applied. The reason is that although a uniform thin film can be formed by the above-described vacuum deposition, it is difficult to obtain the required granularity on the order of μm.
【0050】また、所望の粒状性を有する材料を導電性
の接着剤等で所望の位置に接着する方法も考えられる
が、接着剤が粒子表面を被覆し、清浄な表面が得られな
いため実現は困難である。A method of bonding a material having a desired granularity to a desired position with a conductive adhesive or the like is also conceivable, but the method is realized because the adhesive covers the particle surface and a clean surface cannot be obtained. It is difficult.
【0051】ここで、本発明で形成するゲッタに要求さ
れる粒状性について言及する。本発明で用いる非蒸発型
ゲッタによる排気は、活性表面へのガス吸着と内部への
拡散という工程を経ているため、粒状性は表面積の増大
に寄与し、その膜厚は吸着できるガスの総量に寄与す
る。Here, the granularity required for the getter formed in the present invention will be described. Since the exhaust by the non-evaporable getter used in the present invention has undergone a process of gas adsorption to the active surface and diffusion into the interior, the granularity contributes to an increase in the surface area, and the film thickness is reduced by the total amount of adsorbable gas. Contribute.
【0052】従って、充分な表面積を確保できれば上記
真空蒸着法でもゲッタ特性は期待できるものの、蒸着で
得られるような膜は微少な粒子の集合であり、かつゲッ
タ形成直後にきわめて活性な状態であるため真空装置か
ら取り出すことでガス吸着し、ゲッタとしての能力を失
うことになる。これは蒸発型ゲッタと同様の扱いにくさ
を意味する。また、前述の米国特許第5,453,65
9号記載の真空蒸着で作製した場合は、膜厚をサブミク
ロン以上にすることが密着性及びスループットの観点か
ら難しく、膜厚数μm以下の場合には封着工程でその特
性が著しく劣化する。Therefore, if a sufficient surface area can be ensured, getter characteristics can be expected even in the above-mentioned vacuum deposition method, but a film obtained by vapor deposition is a collection of fine particles and is in an extremely active state immediately after the formation of the getter. Therefore, the gas is adsorbed by being taken out of the vacuum device, and the ability as a getter is lost. This means the same difficulty as the evaporable getter. No. 5,453,65 mentioned above.
In the case of vacuum deposition described in No. 9, it is difficult to make the film thickness of submicron or more from the viewpoint of adhesion and throughput, and when the film thickness is several μm or less, the characteristics are significantly deteriorated in the sealing step. .
【0053】―方、表面吸着を利用するため、構成材料
の清浄表面が不可欠であり、通常は活性化という工程を
経ることでこれを得ている。しかし、ゲッタ材料を接着
剤等で固定した場合には表面を被覆してしまい、その後
の活性化工程では活性表面を得ることができなくなり、
充分な特性が得られないことになる。On the other hand, in order to utilize surface adsorption, a clean surface of the constituent material is indispensable, and this is usually obtained through a step of activation. However, if the getter material is fixed with an adhesive or the like, the surface is covered, and in the subsequent activation step, an active surface cannot be obtained,
Sufficient characteristics cannot be obtained.
【0054】以上の理由により、本発明のゲッタ層の作
製方法の―例としては、真空中あるいは不活性ガス中で
行う溶射技術が挙げられる。特に、減圧下で行うプラズ
マ溶射技術を用いることで、所望の粒状性を維持した状
態で所望の膜厚のゲッタ層を形成することができる。For the above reasons, as an example of the method for manufacturing the getter layer of the present invention, there is a thermal spraying technique performed in a vacuum or in an inert gas. In particular, by using a plasma spraying technique performed under reduced pressure, a getter layer having a desired thickness can be formed while maintaining desired granularity.
【0055】プラズマ溶射はプラズマの炎の中に所望の
材料の粉体を供給し、半溶融状態の材料を、形成したい
基板・部材等に当てることにより膜形成するもので、形
成される膜の粒状性は供給する粉体そのものの粒径とプ
ラズマのパワーにより、また、その組成は粉体の組成制
御により、それぞれ制御可能である。In the plasma spraying, a powder of a desired material is supplied into a plasma flame, and a material in a semi-molten state is applied to a substrate / member to be formed, thereby forming a film. The granularity can be controlled by the particle size of the supplied powder itself and the power of the plasma, and the composition can be controlled by controlling the composition of the powder.
【0056】また、パターニング手法は、通常のフォト
リソグラフィー技術を用いたエッチングやリフトオフ、
あるいはパターニングされた金属マスクを用いる等の方
法でよい。The patterning method includes etching and lift-off using a normal photolithography technique,
Alternatively, a method such as using a patterned metal mask may be used.
【0057】上述したように、各構成部材を真空加熱処
理した後、フェースプレートあるいはリアプレート上に
ゲッタを形成した部材をその他の構造体と組み合わせて
接合し、パネルを構成する。接合は、接合部にフリット
ガラスを付け、400℃程度に加熱して行う。なお、リ
アプレート上への電子源基板などの固定も同様に行う。
実際の操作としては、大気中で300℃程度の加熱処理
を行い、フリットガラス中にバインダーとして含まれる
成分を除去(この工程を「仮焼成」と呼ぶ。)した後、
Ar等の不活性ガス(inert gas)中で、40
0℃の加熱処理を行い、接合部を溶着する。As described above, after the constituent members are subjected to the vacuum heat treatment, the members having the getters formed on the face plate or the rear plate are combined with other structural members and joined to form a panel. The joining is performed by attaching frit glass to the joining portion and heating to about 400 ° C. The fixing of the electron source substrate and the like on the rear plate is performed in the same manner.
As an actual operation, a heat treatment at about 300 ° C. is performed in the air to remove components contained as a binder in the frit glass (this step is referred to as “temporary firing”).
In an inert gas such as Ar,
A heat treatment at 0 ° C. is performed to weld the joint.
【0058】つづいて、上記パネルを真空排気系に接続
しパネル内部を十分真空排気した後に、上記ゲッタ層の
活性化を行う。Subsequently, after the panel is connected to a vacuum exhaust system and the inside of the panel is sufficiently evacuated, the getter layer is activated.
【0059】なお、本明細書の以下の説明では、2種類
の異なつた処理を指す「活性化」という言葉が現れる。
第1は電子放出素子の活性化である。電子放出素子は、
その巨視的な形状が形成されただけでは全く電子を放出
しなかったり、ごく僅かしか電子を放出しない場合があ
る。これに表面を改質するなどの処理を行い、所望の強
さの電子放出が起こるようにすることを指すものであ
る。In the following description of the present specification, the word “activation”, which indicates two different types of processing, appears.
The first is activation of the electron-emitting device. The electron-emitting device is
In some cases, only the formation of the macroscopic shape does not emit electrons at all, or emits very little electrons. This means that the surface is subjected to a treatment such as surface modification so that electron emission of a desired intensity occurs.
【0060】第2は、ゲッタ材の活性化である。Zr,
Ti等を主成分とする非蒸着型のゲッタを真空中で加熱
するなどの方法により、表面吸着原子をゲッタ材の内部
に拡散させて、清浄な表面を形成し、ゲッタ作用が発現
するようにすることを指す。以下では、混乱を避けるた
め必要な場合には、ゲッタ材の活性化に対して「ゲッタ
活性化」という言葉を用いる。The second is activation of the getter material. Zr,
By diffusing the surface adsorbed atoms into the getter material by a method such as heating a non-evaporable getter mainly containing Ti or the like in a vacuum, a clean surface is formed, and the getter function is developed. To do. In the following, the term "getter activation" will be used for activating the getter material when necessary to avoid confusion.
【0061】本発明ではゲッタの活性化を真空排気した
パネルのベーキングによって行うことが好ましい。従っ
て、ゲッタ活性化温度は封着時の温度より低く、―例と
しては300℃〜350℃で10時間程度の活性化とな
るが、予め真空加熱処理を施した構成部材を用いてパネ
ル封着を行うことで封着工程でのゲッタ劣化が抑制され
ているため十分なゲッタ効果が得られる。In the present invention, it is preferable that the getter is activated by baking the evacuated panel. Therefore, the getter activation temperature is lower than the temperature at the time of sealing, for example, activation is performed at 300 ° C. to 350 ° C. for about 10 hours, but panel sealing is performed using a component which has been subjected to a vacuum heat treatment in advance. By doing so, the getter deterioration in the sealing step is suppressed, so that a sufficient getter effect can be obtained.
【0062】以上説明したように、予め真空加熱処理を
施した構成部材上、特に画像表示領域内のリアプレート
もしくはフェースプレート上に非蒸発型ゲッタを形成す
ることにより、広いゲッタ面積を確保でき、しかも、駆
動に伴って最も激しくガスを放出する部位のごく近傍に
ゲッタを配置することが可能となり、画像形成装置の外
囲器内部の圧力を低く保つことができるだけではなく、
発生したガスを速やかにゲッタに吸着させ、電子放出素
子の特性の劣化や放出電流量の揺らぎを引き起こすこと
を抑制した画像形成装置を実現できる。As described above, a wide getter area can be secured by forming a non-evaporable getter on a constituent member which has been subjected to a vacuum heat treatment in advance, especially on a rear plate or a face plate in an image display area. Moreover, it is possible to arrange the getter very close to the part where the gas is released most intensely with driving, and not only can the pressure inside the envelope of the image forming apparatus be kept low,
It is possible to realize an image forming apparatus in which the generated gas is quickly adsorbed on the getter, and the deterioration of the characteristics of the electron-emitting device and the fluctuation of the emission current are suppressed.
【0063】次に、上記の画像形成装置により、NTS
C方式のテレビ信号に基づいたテレビジョン表示を行う
為の駆動回路の構成例について、図3を用いて説明す
る。図3において、31は画像形成装置、32は走査回
路、33は制御回路、34はシフトレジスタ、35はラ
インメモリ、36は同期信号分離回路、37は変調信号
発生器、Vx及びVaは直流電圧源である。Next, NTS is performed by the above-described image forming apparatus.
An example of a configuration of a driving circuit for performing television display based on a C-system television signal will be described with reference to FIG. 3, reference numeral 31 denotes an image forming apparatus, 32 denotes a scanning circuit, 33 denotes a control circuit, 34 denotes a shift register, 35 denotes a line memory, 36 denotes a synchronizing signal separation circuit, 37 denotes a modulation signal generator, and Vx and Va denote DC voltages. Source.
【0064】画像形成装置(表示パネル)31は、端子
Dox1 乃至Doxm 、端子Doy1 乃至Doyn 及び高圧端子
Hvを介して外部の電気回路と接続している。[0064] Image forming apparatus (display panel) 31, terminal D ox1 to D oxm, connected to an external electric circuit via terminals D Oy1 through D Oyn and high voltage terminal Hv.
【0065】端子Dox1 乃至Doxm には、画像形成装置
31内に設けられている電子源、即ち、m行n列の行列
状にマトリクス配線された電子放出素子群を1行(n素
子)づつ順次駆動する為の走査信号が印加される。Terminals D ox1 to D oxm are connected to an electron source provided in the image forming apparatus 31, that is, a group of electron-emitting devices arranged in a matrix of m rows and n columns in one row (n elements). Scan signals for sequentially driving are applied one by one.
【0066】端子Doy1 乃至Doyn には、前記走査信号
により選択された1行の電子放出素子の各素子の出力電
子ビームを制御する為の変調信号が印加される。[0066] The terminal D Oy1 to D oyn, modulation signals for controlling the output electron beam of each of the electron-emitting devices of one row selected by a scan signal.
【0067】高圧端子Hvには、直流電圧源Vaより、
例えば10kVの直流電圧が供給されるが、これは表面
伝導型電子放出素子から放出される電子ビームに、蛍光
体を励起するのに十分なエネルギーを付与する為の加速
電圧である。The high voltage terminal Hv is connected to a DC voltage source Va.
For example, a DC voltage of 10 kV is supplied, which is an accelerating voltage for applying sufficient energy to the electron beam emitted from the surface conduction electron-emitting device to excite the phosphor.
【0068】走査回路32について説明する。同回路
は、内部にm個のスイッチング素子(図中、S1乃至S
mで模式的に示している)を備えたものである。各スイ
ッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電圧もしくは
0V(グランドレベル)のいずれか一方を選択し、画像
形成装置31の端子Dox1 乃至Doxm と電気的に接続さ
れる。各スイッチング素子S1乃至Smは、制御回路3
3が出力する制御信号TSCANに基づいて動作するもので
あり、例えばFETのようなスイッチング素子を組み合
わせることにより構成することができる。The scanning circuit 32 will be described. The circuit includes m switching elements (S1 to S
m is schematically shown). Each of the switching elements, the DC voltage source Vx of either the output voltage or 0V (ground level) is connected terminals D ox1 to D oxm and electrically the image forming apparatus 31. Each of the switching elements S1 to Sm includes a control circuit 3
3 operates based on the control signal T SCAN output by the control signal 3 and can be configured by combining switching elements such as FETs, for example.
【0069】直流電圧源Vxは、本例の場合には表面伝
導型電子放出素子等の特性(電子放出しきい値電圧)に
基づき、走査されていない素子に印加される駆動電圧が
電子放出しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力
するよう設定されている。In the case of the present embodiment, the DC voltage source Vx emits electrons based on the characteristics (electron emission threshold voltage) of a surface conduction electron-emitting device or the like, and the driving voltage applied to the unscanned device emits electrons. It is set to output a constant voltage that is equal to or lower than the threshold voltage.
【0070】制御回路33は、外部より入力される画像
信号に基づいて適切な表示が行われるように、各部の動
作を整合させる機能を有する。制御回路33は、同期信
号分離回路36より送られる同期信号TSYNCに基づい
て、各部に対してTSCAN,TSFT 及びTMRY の各制御信
号を発生する。The control circuit 33 has a function of matching the operation of each unit so that appropriate display is performed based on an image signal input from the outside. The control circuit 33 generates T SCAN , T SFT, and T MRY control signals for each unit based on the synchronization signal T SYNC sent from the synchronization signal separation circuit 36.
【0071】同期信号分離回路36は、外部から入力さ
れるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と輝
度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波数
分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期信
号分離回路36により分離された同期信号は、垂直同期
信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便宜上
TSYNC信号として図示した。前記テレビ信号から分離さ
れた画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信号と表し
た。このDATA信号は、シフトレジスタ34に入力さ
れる。The synchronizing signal separation circuit 36 is a circuit for separating a synchronizing signal component and a luminance signal component from an NTSC television signal input from the outside, and uses a general frequency separation (filter) circuit or the like. Can be configured. The synchronizing signal separated by the synchronizing signal separating circuit 36 includes a vertical synchronizing signal and a horizontal synchronizing signal, but is shown here as a T SYNC signal for convenience of explanation. The luminance signal component of the image separated from the television signal is represented as a DATA signal for convenience. This DATA signal is input to the shift register 34.
【0072】シフトレジスタ34は、時系列的にシリア
ルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン毎
にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制御
回路33より送られる制御信号TSFT に基づいて動作す
る(即ち、制御信号TSFT は、シフトレジスタ34のシ
フトクロックであると言い換えてもよい。)。シリアル
/パラレル変換された画像1ライン分のデータ(電子放
出素子n素子分の駆動データに相当)は、Id1乃至Idn
のn個の並列信号として前記シフトレジスタ34より出
力される。The shift register 34 is for serially / parallel-converting the DATA signal input serially in time series for each line of an image. The shift register 34 converts the DATA signal into a control signal T SFT sent from the control circuit 33. (Ie, the control signal T SFT may be a shift clock of the shift register 34). The data for one line of the serial / parallel-converted image (corresponding to the driving data for n electron-emitting devices) are I d1 to I dn.
Are output from the shift register 34 as n parallel signals.
【0073】ラインメモリ35は、画像1ライン分のデ
ータを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であり、
制御回路33より送られる制御信号TMRY に従って適宜
Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶された内容は、I
d'1 乃至Id'n として出力され、変調信号発生器37に
入力される。The line memory 35 is a storage device for storing data for one line of an image for a required time only.
The contents of I d1 to I dn are appropriately stored according to the control signal T MRY sent from the control circuit 33. The stored content is I
d'1 to be output as I d'n, it is input to the modulation signal generator 37.
【0074】変調信号発生器37は、画像データId'1
乃至Id'n の各々に応じて、電子放出素子の各々を適切
に駆動変調する為の信号源であり、その出力信号は、端
子Doy1 乃至Doyn を通じて画像形成装置31内の電子
放出素子に印加される。The modulation signal generator 37 outputs the image data I d′ 1
Or in response to each of the I d'n, a signal source for appropriately driving modulating each of the electron-emitting device, the output signal, the electron-emitting device of the image forming apparatus 31 through the terminals D Oy1 to D Oyn Is applied to
【0075】前述した特開平7−235255号公報に
も示されているように、本発明の画像形成装置の電子源
として適用可能な表面伝導型電子放出素子等は、放出電
流Ie に関して以下の基本特性を有している。即ち、電
子放出には明確なしきい値電圧Vthがあり、Vth以上の
電圧が印加された時のみ電子放出が生じる。電子放出し
きい値以上の電圧に対しては、素子への印加電圧の変化
に応じて放出電流も変化する。このことから、本素子に
パルス状の電圧を印加する場合、例えば電子放出しきい
値以下の電圧を印加しても電子放出は生じないが、電子
放出しきい値以上の電圧を印加する場合には電子ビーム
が出力される。その際、パルスの波高値Vmを変化させ
ることにより、出力電子ビームの強度を制御することが
可能である。また、パルスの幅Pwを変化させることに
より、出力される電子ビームの電荷の総量を制御するこ
とが可能である。As shown in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-235255, the surface conduction electron-emitting device applicable as the electron source of the image forming apparatus of the present invention has the following emission current Ie . Has basic characteristics. That is, electron emission has a clear threshold voltage Vth , and electron emission occurs only when a voltage equal to or higher than Vth is applied. For a voltage equal to or higher than the electron emission threshold, the emission current also changes according to the change in the voltage applied to the device. Therefore, when a pulse-like voltage is applied to the device, for example, when a voltage lower than the electron emission threshold is applied, electron emission does not occur, but when a voltage higher than the electron emission threshold is applied. Outputs an electron beam. At that time, the intensity of the output electron beam can be controlled by changing the peak value Vm of the pulse. Further, by changing the pulse width Pw, it is possible to control the total amount of charges of the output electron beam.
【0076】従って、入力信号に応じて電子放出素子を
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器37としては、一定長さの電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用い
ることができる。Therefore, as a method of modulating the electron-emitting device according to the input signal, a voltage modulation method, a pulse width modulation method, or the like can be adopted. When implementing the voltage modulation method, the modulation signal generator 37 generates a voltage pulse of a fixed length, and a voltage modulation circuit capable of appropriately modulating the peak value of the voltage pulse according to input data. Can be used.
【0077】パルス幅変調方式を実施するに際しては、
変調信号発生器37として、一定の波高値の電圧パルス
を発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルスの
幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いるこ
とができる。When implementing the pulse width modulation method,
As the modulation signal generator 37, a pulse width modulation type circuit that generates a voltage pulse having a constant peak value and appropriately modulates the width of the voltage pulse according to input data can be used.
【0078】シフトレジスタ34やラインメモリ35
は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもので
も採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や記
憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。The shift register 34 and the line memory 35
Can be adopted as a digital signal type or an analog signal type. This is because the serial / parallel conversion and storage of the image signal may be performed at a predetermined speed.
【0079】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路36の出力信号DATAをデジタル信号化す
る必要があるが、これには同期信号分離回路36の出力
部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連してライ
ンメモリ35の出力信号がデジタル信号かアナログ信号
かにより、変調信号発生器37に用いられる回路が若干
異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用いた電圧
変調方式の場合、変調信号発生器37には、例えばD/
A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等を付加す
る。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器37に
は、例えば高速の発振器及び発振器の出力する波数を計
数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値と前記メ
モリの出力値を比較する比較器(コンパレータ)を組み
合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較器の出力す
るパルス幅変調された変調信号を電子放出素子の駆動電
圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加することもで
きる。When the digital signal type is used, it is necessary to convert the output signal DATA of the synchronization signal separation circuit 36 into a digital signal. For this purpose, an A / D converter is provided at the output of the synchronization signal separation circuit 36. Just do it. In connection with this, the circuit used for the modulation signal generator 37 is slightly different depending on whether the output signal of the line memory 35 is a digital signal or an analog signal. That is, in the case of the voltage modulation method using a digital signal, the modulation signal generator 37 includes, for example, D / D
An A conversion circuit is used, and an amplification circuit and the like are added as necessary. In the case of the pulse width modulation method, the modulation signal generator 37 includes, for example, a high-speed oscillator, a counter for counting the number of waves output from the oscillator, and a comparator for comparing the output value of the counter with the output value of the memory. (Comparator) is used. If necessary, an amplifier for amplifying the pulse width modulated signal output from the comparator to the drive voltage of the electron-emitting device can be added.
【0080】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器37には、例えばオペアンプ等を用
いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト回
路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場合
には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増
幅するための増幅器を付加することもできる。In the case of the voltage modulation method using an analog signal, for example, an amplification circuit using an operational amplifier or the like can be used as the modulation signal generator 37, and a level shift circuit or the like can be added as necessary. In the case of the pulse width modulation method, for example, a voltage controlled oscillator (VCO) can be employed, and an amplifier for amplifying the voltage up to the driving voltage of the electron-emitting device can be added as necessary.
【0081】このような構成をとり得る本発明を適用可
能な画像形成装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dox1 乃至Doxm 、Doy1 乃至Doyn を介して電
圧を印加することにより、電子放出が生じる。高圧端子
Hvを介してメタルバック16あるいは透明電極(不図
示)に高圧を印加し、電子ビームを加速する。加速され
た電子は、蛍光膜15に衝突し、発光が生じて画像が形
成される。[0081] In the image forming apparatus to which the present invention can be applied which can take such a construction, the respective electron-emitting devices, applying a voltage through the vessel terminals D ox1 to D oxm, D oy1 to D Oyn As a result, electron emission occurs. A high voltage is applied to the metal back 16 or the transparent electrode (not shown) via the high voltage terminal Hv to accelerate the electron beam. The accelerated electrons collide with the fluorescent film 15 and emit light to form an image.
【0082】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついてはNTSC方式を挙げたが、入力信号はこれに限
られるものではなく、PAL、SECAM方式等の他、
これらよりも多数の走査線からなるTV信号(例えば、
MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも採用
できる。The configuration of the image forming apparatus described here is an example of an image forming apparatus to which the present invention can be applied, and various modifications can be made based on the technical idea of the present invention. The input signal has been described in the NTSC system. However, the input signal is not limited to this. In addition to the PAL and SECAM systems,
A TV signal composed of more scanning lines than these (for example,
A high-definition TV system such as the MUSE system can also be adopted.
【0083】本発明により作成される画像形成装置は、
テレビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコ
ンピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用い
て構成された光プリンターとしての画像形成装置等とし
ても用いることができる。The image forming apparatus produced according to the present invention
In addition to a display device of a television broadcast, a display device such as a video conference system and a computer, the present invention can be used as an image forming device as an optical printer including a photosensitive drum or the like.
【0084】[0084]
【実施例】以下に好ましい実施例を挙げて、本発明を更
に詳述する。The present invention will be described in more detail with reference to the following preferred embodiments.
【0085】[実施例1]本実施例の画像形成装置は、
図1に模式的に示された装置と同様の構成を有し、ゲッ
タ層は、フェースプレート13の蛍光体の境界領域に配
置されている。[Embodiment 1] The image forming apparatus of this embodiment is
It has a configuration similar to that of the device schematically shown in FIG. 1, and the getter layer is arranged in the boundary region of the phosphor of the face plate 13.
【0086】また、本実施例の画像形成装置は、複数
(100行×300列)の表面伝導型電子放出素子が単
純マトリクス配線された電子源基板1を備えている。The image forming apparatus of this embodiment includes an electron source substrate 1 on which a plurality (100 rows × 300 columns) of surface conduction electron-emitting devices are arranged in a simple matrix.
【0087】電子源基板1の―部の平面図を図4に示
す。また、図4中のA―A’断面図を図5に示す。但
し、図4、図5で同じ符号は、同じものを示す。ここで
3はX方向配線(下配線とも呼ぶ)、4はY方向配線
(上配線とも呼ぶ)、51はガラス基板、52は層間絶
縁層、54,55は素子電極、56は電子放出部形成用
の導電性膜、53は素子電極54と下配線3との電気的
接続のためのコンタクトホールである。FIG. 4 is a plan view of the negative part of the electron source substrate 1. FIG. 5 is a sectional view taken along the line AA ′ in FIG. However, the same reference numerals in FIGS. 4 and 5 indicate the same components. Here, 3 is an X-direction wiring (also called a lower wiring), 4 is a Y-direction wiring (also called an upper wiring), 51 is a glass substrate, 52 is an interlayer insulating layer, 54 and 55 are device electrodes, and 56 is an electron emission portion. A conductive film 53 is a contact hole for electrical connection between the element electrode 54 and the lower wiring 3.
【0088】以下に、本実施例の画像形成装置の製造方
法について、図6、図7を参照しつつ説明する。Hereinafter, a method for manufacturing the image forming apparatus of this embodiment will be described with reference to FIGS.
【0089】工程−a 清浄化した青板ガラス上に厚さ0.5μmのシリコン酸
化膜をスパッタ法で形成した基板51上に、真空蒸着に
より厚さ5nmのCr、厚さ600nmのAuを順次積
層した後、ホトレジスト(AZ1370/ヘキスト社
製)をスピンナーにより回転塗布、ベークした後、ホト
マスク像を露光、現像して、下配線3のレジストパター
ンを形成し、Au/Cr堆積膜をウェットエッチングし
て、所望の形状の下配線3を形成する(図6(a))。Step-a A 5 nm-thick Cr layer and a 600 nm-thick Au layer are successively deposited by vacuum evaporation on a substrate 51 having a 0.5 μm-thick silicon oxide film formed on a cleaned blue plate glass by a sputtering method. After that, a photoresist (AZ1370 / Hoechst) is spin-coated and baked by a spinner, and then a photomask image is exposed and developed to form a resist pattern of the lower wiring 3, and the Au / Cr deposited film is wet-etched. Then, the lower wiring 3 having a desired shape is formed (FIG. 6A).
【0090】工程−b 次に、厚さ1.0μmのシリコン酸化膜からなる層間絶
縁層52をRFスパッタ法により堆積する(図6
(b))。Step-b Next, an interlayer insulating layer 52 made of a silicon oxide film having a thickness of 1.0 μm is deposited by RF sputtering (FIG. 6).
(B)).
【0091】工程−c 前記工程−bで堆積したシリコン酸化膜にコンタクトホ
ール53を形成するためのホトレジストパターンを作
り、これをマスクとして層間絶縁層52をエッチングし
てコンタクトホール53を形成する。エッチングはCF
4 とH2 ガスを用いたRIE(Reactive Io
n Etching)法によった(図6(c))。Step-c A photoresist pattern for forming the contact hole 53 is formed in the silicon oxide film deposited in the step-b, and the interlayer insulating layer 52 is etched using the photoresist pattern as a mask to form the contact hole 53. Etching is CF
RIE (Reactive Io) using 4 and H 2 gas
n Etching) method (FIG. 6 (c)).
【0092】工程−d その後、素子電極となるべきパターンをホトレジスト
(RD−2000N−41/日立化成社製)で形成し、
真空蒸着法により、厚さ5nmのTi、厚さ100nm
のNiを順次堆積した。ホトレジストパターンを有機溶
剤で溶解し、Ni/Ti堆積膜をリフトオフし、素子電
極間隔Gは3μm、素子電極の幅は300μmとし、素
子電極54,55を形成した(図6(d))。Step-d Thereafter, a pattern to be used as an element electrode is formed with a photoresist (RD-2000N-41 / manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.).
5 nm thick Ti, 100 nm thick by vacuum evaporation
Of Ni were sequentially deposited. The photoresist pattern was dissolved in an organic solvent, and the Ni / Ti deposited film was lifted off. The device electrode gap G was 3 μm, the device electrode width was 300 μm, and the device electrodes 54 and 55 were formed (FIG. 6D).
【0093】工程−e 素子電極54,54の上に上配線4のホトレジストパタ
ーンを形成した後、厚さ5nmのTi、厚さ500nm
のAuを順次、真空蒸着により堆積し、リフトオフによ
り不要の部分を除去して、所望の形状の上配線4を形成
した(図7(e))。Step-e After forming a photoresist pattern of the upper wiring 4 on the device electrodes 54, 54, a Ti having a thickness of 5 nm and a thickness of 500 nm are formed.
Are sequentially deposited by vacuum evaporation, and unnecessary portions are removed by lift-off to form an upper wiring 4 having a desired shape (FIG. 7E).
【0094】この後、工程−eで得られた基板を1.3
×10-4Paの真空装置中で480℃、1時間の加熱処
理を行い基板からの脱ガスを行った。Then, the substrate obtained in the step-e was set to 1.3.
Heat treatment was performed at 480 ° C. for 1 hour in a vacuum device of × 10 −4 Pa to degas from the substrate.
【0095】工程−f 次に、膜厚100nmのCr膜57を真空蒸着により堆
積・パターニングし、その上にPdアミン錯体の溶液
(ccp4230/奥野製薬(株)製)をスピンナーに
より回転塗布、300℃で10分間の加熱焼成処理をし
た。こうして形成された、主元素としてPdよりなる微
粒子からなる電子放出部形成用の導電性膜56の膜厚は
8.5nm、シート抵抗値は3.9×104 Ω/□であ
った。なおここで述べる微粒子膜とは、複数の微粒子が
集合した膜であり、その微細構造として、微粒子が個々
に分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接、
あるいは、重なり合った状態(島状も含む)の膜を指
す。(図7(f))。Step-f Next, a 100 nm-thick Cr film 57 is deposited and patterned by vacuum evaporation, and a solution of a Pd amine complex (ccp4230 / Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) is spin-coated thereon with a spinner, A heating and baking treatment was performed at 10 ° C. for 10 minutes. The thus formed conductive film 56 for forming an electron emitting portion composed of fine particles composed of Pd as a main element had a thickness of 8.5 nm and a sheet resistance of 3.9 × 10 4 Ω / □. The fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are aggregated, and has a fine structure not only in a state in which the fine particles are individually dispersed but also in a state in which the fine particles are adjacent to each other.
Alternatively, it refers to a film in an overlapping state (including an island shape). (FIG. 7 (f)).
【0096】工程−g Cr膜57及び焼成後の電子放出部形成用の導電性膜5
6を酸エッチャントによリエッチングして所望のパター
ンを形成した(図7(g))。Step-g Cr Film 57 and Conductive Film 5 for Forming Electron Emission Portion after Firing
6 was re-etched with an acid etchant to form a desired pattern (FIG. 7 (g)).
【0097】工程−h コンタクトホール53部分以外にレジストを塗布するよ
うなパターンを形成し、真空蒸着により厚さ5nmのT
i、厚さ500nmのAuを順次堆積した。リフトオフ
により不要の部分を除去することにより、コンタクトホ
ール53を埋め込んだ(図7(h))。Step-h: A pattern is formed such that a resist is applied to portions other than the contact hole 53, and a 5 nm-thick T
i, Au having a thickness of 500 nm was sequentially deposited. Unnecessary portions were removed by lift-off to bury the contact holes 53 (FIG. 7H).
【0098】以上の工程により、基板51上に複数(1
00行×300列)の電子放出部形成用の導電性膜56
が上配線4と下配線3とにより単純マトリクス配線され
た電子源基板1を形成した。Through the above steps, a plurality of (1)
(00 rows × 300 columns) conductive film 56 for forming electron-emitting portions
Formed the electron source substrate 1 in which the upper wiring 4 and the lower wiring 3 were simply wired in a matrix.
【0099】工程−i 続いて、図1に示すフェースプレート13を、次のよう
に作製した。ガラス基体14の表面に透明導電膜(IT
O)を形成し、この上に蛍光膜15を印刷法により形成
した。尚、蛍光膜15はストライプ状の三原色蛍光体
(R、G、B)18が順次配列された図2(a)に示さ
れる蛍光膜とした。更に、蛍光膜15の上に、Al薄膜
よりなるメタルバック16をスパッタリング法により5
0nmの厚さに形成した。Step-i Subsequently, the face plate 13 shown in FIG. 1 was manufactured as follows. A transparent conductive film (IT
O), and a fluorescent film 15 was formed thereon by a printing method. Note that the fluorescent film 15 was a fluorescent film shown in FIG. 2A in which stripe-shaped three primary color phosphors (R, G, B) 18 were sequentially arranged. Further, a metal back 16 made of an Al thin film is formed on the fluorescent film 15 by a sputtering method.
It was formed to a thickness of 0 nm.
【0100】工程−j 次に、工程−iで得られたフェースプレートを、1.3
×10-4Paの真空装置中で480℃、1時間の加熱処
理を行い脱ガス処理を行った。続いて、図11に示すよ
うに、塗り分けられた三原色蛍光体18の各色の境界に
対応した開口113を持つメタルマスク112を、位置
合わせして配置し、減圧プラズマ溶射装置中でZr,
V,Mnからなるゲッタ材料を蒸着してゲッタ層19を
形成した。溶射終了後、充分冷却した後に窒素ガスを装
置中に導入してゲッタ表面を安定化させて画像形成基板
(フェースプレート13)の作製を終了した。本工程に
よって得られたゲッタ層の粒子径は20μm〜40μ
m、平均的な膜厚はほぼ80μmであった。Step-j Next, the face plate obtained in step-i was subjected to 1.3
Heat treatment was performed at 480 ° C. for 1 hour in a vacuum device of × 10 −4 Pa to perform degassing. Subsequently, as shown in FIG. 11, a metal mask 112 having an opening 113 corresponding to each color boundary of the three primary color phosphors 18 which are separately applied is aligned and arranged, and Zr, Zr are formed in the reduced pressure plasma spraying apparatus.
A getter layer 19 was formed by vapor deposition of a getter material composed of V and Mn. After the spraying was completed, the substrate was sufficiently cooled, and nitrogen gas was introduced into the apparatus to stabilize the getter surface, thereby completing the production of the image forming substrate (face plate 13). The particle size of the getter layer obtained in this step is from 20 μm to 40 μm.
m, the average film thickness was about 80 μm.
【0101】工程−k 続いて、図1に示す外囲器17を、次のように作製し
た。前述の工程により作製された電子源基板1を真空加
熱処理したリアプレート11に固定した後、真空加熱処
理した支持枠12及び上記フェースプレート13と組み
合わせ、電子源基板1の下配線3及び上配線4を行選択
用端子5及び信号入力端子6と各々接続し、電子源基板
1とフェースプレート13の位置を厳密に調整し、封着
して外囲器17を形成した。封着の方法は、各部材の接
合部にフリットガラスを塗布して大気中300℃で仮焼
成した後、各部材を組み合わせ、Arガス中400℃1
0分間の熱処理を行い接合した。なお、電子源基板1と
リアプレート11の固定も同様の処理により行った。Step-k Subsequently, the envelope 17 shown in FIG. 1 was manufactured as follows. After fixing the electron source substrate 1 manufactured by the above-described process to the rear plate 11 subjected to the vacuum heat treatment, the lower wiring 3 and the upper wiring of the electron source substrate 1 are combined with the support frame 12 and the face plate 13 subjected to the vacuum heat treatment. 4 was connected to the row selection terminal 5 and the signal input terminal 6, respectively, and the positions of the electron source substrate 1 and the face plate 13 were strictly adjusted and sealed to form an envelope 17. The sealing method is as follows: frit glass is applied to the joint of each member and calcined at 300 ° C. in the air.
A heat treatment for 0 minutes was performed to join. The electron source substrate 1 and the rear plate 11 were fixed in the same manner.
【0102】次の工程を説明する前に、以後の工程にて
用いられた真空処理装置について、図8を用いて述べ
る。Before describing the next step, the vacuum processing apparatus used in the subsequent steps will be described with reference to FIG.
【0103】図8において、81は製造工程下の画像表
示装置、83は真空チャンバーである。82は排気管で
あり、画像表示装置81と真空チャンバー83を接続し
ている。また、真空チャンバー83はゲートバルブ84
に連結されており、ゲートバルブ84は排気装置85に
連結されている。排気装置85はソープションポンプと
イオンポンプからなる超高真空用排気装置である。ま
た、真空チャンバー83には、内部の圧力をモニターす
る圧力計86と、真空チャンバー83内部のガス分圧構
成をモニターする四重極質量分析装置(Q―mass)
87が装備されている。外囲器17内の圧力や分圧を直
接測定することは困難なので、真空チャンバー83の圧
力と分圧を測定し、この値を外囲器17内のものとみな
す。更に、真空チャンバー83は、ガス導入ラインの途
中に設置されたガス導入量制御装置88を通じて、導入
物質源89が封入されたアンプル等に連結されており、
ガス導入量制御装置88によって導入量を制御できる。
ガス導入量制御装置88は、導入物質の種類、流量、必
要な制御精度などに応じて、ニードルバルブ、マスフロ
ーコントローラーなどが用いられる。本実施例において
は、ガラスアンプルに入れたアセトン((CH3 )2 C
O)を物質源89として用い、ガス導入量制御装置88
として、スローリークバルブを用いた。In FIG. 8, reference numeral 81 denotes an image display device in a manufacturing process, and reference numeral 83 denotes a vacuum chamber. An exhaust pipe 82 connects the image display device 81 and the vacuum chamber 83. The vacuum chamber 83 is provided with a gate valve 84.
, And the gate valve 84 is connected to an exhaust device 85. The exhaust device 85 is an ultra-high vacuum exhaust device including a sorption pump and an ion pump. The vacuum chamber 83 has a pressure gauge 86 for monitoring the internal pressure, and a quadrupole mass spectrometer (Q-mass) for monitoring the gas partial pressure inside the vacuum chamber 83.
87 are equipped. Since it is difficult to directly measure the pressure and the partial pressure in the envelope 17, the pressure and the partial pressure in the vacuum chamber 83 are measured, and these values are regarded as those in the envelope 17. Further, the vacuum chamber 83 is connected to an ampoule or the like in which the introduced substance source 89 is sealed, through a gas introduction amount control device 88 installed in the middle of the gas introduction line.
The introduction amount can be controlled by the gas introduction amount control device 88.
As the gas introduction amount control device 88, a needle valve, a mass flow controller, or the like is used according to the type, flow rate, and required control accuracy of the substance to be introduced. In this embodiment, acetone ((CH 3 ) 2 C
O) as a substance source 89 and a gas introduction amount control device 88
, A slow leak valve was used.
【0104】以上の真空処理装置を用いて以後の工程を
行った。The following steps were performed using the above vacuum processing apparatus.
【0105】工程−l 外囲器17の内部を排気し、圧力を1.3×10-3Pa
以下にし、電子源基板1上に配列された前述の複数の電
子放出部形成用の導電性膜56に、電子放出部を形成す
る為の以下のフォーミング処理を行った。Step-1 The inside of the envelope 17 was evacuated, and the pressure was increased to 1.3 × 10 −3 Pa.
In the following, the following forming process for forming an electron emitting portion was performed on the above-described conductive film 56 for forming a plurality of electron emitting portions arranged on the electron source substrate 1.
【0106】図9に示すように、Y方向配線4を共通結
線してグランドに接続する。91は制御装置で、パルス
発生器92とライン選択装置94を制御する。93は電
流計である。ライン選択装置94により、X方向配線3
から1ラインを選択し、これにパルス電圧を印加する。
フォーミング処理はX方向の素子行に対し、1行(30
0素子)毎に行った。印加したパルスの波形は、図10
(a)に示すような三角波パルスで、波高値を徐々に上
昇させた。パルス幅T1 =1msec.、パルス間隔T
2 =1Omsec.とした。また、三角波パルスの間
に、波高値0.1Vの矩形波パルスを挿入し、電流を測
ることにより各行の抵抗値を測定した。抵抗値が3.3
kΩ(1素子あたり1MΩ)を越えたところで、その行
のフォーミングを終了し、次の行の処理に移った。これ
をすべての行について行い、すべての前記導電性膜(電
子放出部形成用の導電性膜56)のフォーミングを完了
し各導電性膜に電子放出部を形成した。As shown in FIG. 9, the Y-direction wirings 4 are connected in common and connected to the ground. A control device 91 controls the pulse generator 92 and the line selection device 94. 93 is an ammeter. The X-directional wiring 3 by the line selecting device 94
, One line is selected, and a pulse voltage is applied to this.
In the forming process, one row (30 rows) is applied to the element row in the X direction.
0 elements). The waveform of the applied pulse is shown in FIG.
The peak value was gradually increased with a triangular pulse as shown in FIG. Pulse width T 1 = 1 msec. , Pulse interval T
2 = 1Omsec. And Further, a rectangular wave pulse having a peak value of 0.1 V was inserted between the triangular wave pulses, and the current was measured to measure the resistance value of each row. Resistance value is 3.3
When kΩ (1 MΩ per element) was exceeded, the forming of that row was terminated, and the processing of the next row was started. This was performed for all the rows, and the forming of all the conductive films (the conductive film 56 for forming the electron emission portions) was completed, and the electron emission portions were formed in each of the conductive films.
【0107】工程−m 真空チャンバー83内にアセトン((CH3 )2 CO)
と水素H2 を導入し、それぞれの分圧が(CH3 )2 C
O);1.3×10-3Pa、H2 ;1.3×10-2Pa
となるように調整し、素子電流If を測定しながら上記
電子源にパルスを印加して各電子放出素子の活性化処理
を行った。パルス発生器92により生成したパルス波形
は図10(b)に示した矩形波で、波高値は14V、パ
ルス幅T1 =100μsec.、パルス間隔は167μ
sec.である。ライン選択装置94により、167μ
sec.毎に選択ラインをDx1からDx100まで順次切り
替え、この結果、各素子行にはT1 =100μse
c.、T2 =16.7msec.の矩形波が行毎に位相
を少しずつシフトされて印加されることになる。Step-m Acetone ((CH 3 ) 2 CO) is placed in the vacuum chamber 83.
And hydrogen H 2 were introduced, and the partial pressure of each was changed to (CH 3 ) 2 C
O); 1.3 × 10 −3 Pa, H 2 ; 1.3 × 10 −2 Pa
Then, a pulse was applied to the electron source while measuring the device current If to activate each electron-emitting device. The pulse waveform generated by the pulse generator 92 is the rectangular wave shown in FIG. 10B, with a peak value of 14 V and a pulse width T 1 = 100 μsec. , Pulse interval is 167μ
sec. It is. 167μ by the line selection device 94
sec. The selection line is sequentially switched from D x1 to D x100 every time, and as a result, T 1 = 100 μs
c. , T 2 = 16.7 msec. Is applied with a slightly shifted phase for each row.
【0108】電流計93は、矩形波パルスのオン状態
(電圧が14Vになっている時)での電流値の平均を検
知するモードで使用し、この値が600mA(1素子あ
たり2mA)となったところで、活性化処理を終了し、
外囲器17内を排気した。The ammeter 93 is used in a mode for detecting the average of the current value in the ON state of the rectangular pulse (when the voltage is 14 V), and this value becomes 600 mA (2 mA per element). At this point, the activation process ends,
The inside of the envelope 17 was evacuated.
【0109】工程−n 排気を続けながら、不図示の加熱装置により、画像表示
装置81および真空チャンバー83の全体を300℃
に、24時間保持した。この処理により、外囲器17及
び真空チャンバー83の内壁などに吸着されていたと思
われる(CH3 )2 CO及びその分解物を除去するとと
もにフェースプレート17に形成した非蒸発型ゲッタの
活性化処理を行った。Step-n While continuing the evacuation, the entire image display device 81 and the vacuum chamber 83 were heated to 300 ° C. by a heating device (not shown).
For 24 hours. This process removes (CH 3 ) 2 CO and its decomposition products, which are presumably adsorbed on the envelope 17 and the inner wall of the vacuum chamber 83, and activates the non-evaporable getter formed on the face plate 17. Was done.
【0110】工程−o 圧力が1.3×10-5Pa以下となったことを確認して
から、排気管82をバーナーで加熱して、封じ切る。Step-o After confirming that the pressure is 1.3 × 10 −5 Pa or less, the exhaust pipe 82 is heated with a burner and sealed off.
【0111】以上により本実施例の画像形成装置を作製
した。Thus, the image forming apparatus of this embodiment was manufactured.
【0112】[実施例2]本実施例は、ゲッタ材料にT
i,Alを用いて電子源基板上の上配線上にゲッタ層を
形成した例を示すものである。実施例1同様、各構成部
材はすべて予め真空加熱処理を施したものを使用した。[Embodiment 2] In this embodiment, the getter material is made of T
This shows an example in which a getter layer is formed on an upper wiring on an electron source substrate using i and Al. As in the case of Example 1, all the components used were those subjected to a vacuum heat treatment in advance.
【0113】まず、実施例1と同様に工程−iまでを行
った後に、実施例1と同様の手法を用いて電子源基板1
上の上配線4上にゲッタの薄膜をプラズマ溶射により厚
さ50μmに形成した。用いた粉体の組成はTi85w
t%、Al15wt%の合金である。First, after performing the steps up to step-i in the same manner as in the first embodiment, the electron source substrate 1 is formed using the same method as in the first embodiment.
A getter thin film was formed on the upper wiring 4 to a thickness of 50 μm by plasma spraying. The composition of the powder used was Ti85w
The alloy is t%, Al 15 wt%.
【0114】次に、上記工程で得られた電子源基板、フ
ェースプレート等をアルゴン雰囲気中でガラスフリット
により溶着してパネル化を行った。Next, the electron source substrate, the face plate and the like obtained in the above steps were welded with a glass frit in an argon atmosphere to form a panel.
【0115】さらに作製したパネルを、図8の真空処理
装置の排気装置85として、ロータリーポンプとターボ
ポンプにより構成された高真空用排気装置に接続し、電
子放出素子のフォーミング処理を真空チャンバー83内
の圧力を1.3×10-4Pa以下として、実施例1の工
程−lと同様に行い、活性化処理を、実施例1の工程−
mと同様のパルスを印加して行った。Further, the produced panel is connected to a high-vacuum exhaust device constituted by a rotary pump and a turbo pump as an exhaust device 85 of the vacuum processing device shown in FIG. The pressure of 1.3 × 10 −4 Pa or less is set, and the activation treatment is performed in the same manner as in the process 1 of the first embodiment.
The same pulse as in m was applied.
【0116】なお、上記活性化処理は真空チャンバー8
3内に特にガスを導入することはせず、上記排気装置8
5からの拡散により真空チャンバー83内に僅かに残留
する有機物質を利用して炭素を堆積させることによって
行った。このとき真空チャンバー83内の圧力は2.7
×10-3Pa程度であった。The activation process is performed in the vacuum chamber 8
No particular gas is introduced into the exhaust device 3
This was performed by depositing carbon using an organic substance slightly remaining in the vacuum chamber 83 due to diffusion from 5. At this time, the pressure in the vacuum chamber 83 is 2.7.
It was about × 10 −3 Pa.
【0117】活性化終了後、16Vを印加して素子電流
If と、放出電流Ie の測定を行ったところ、1素子あ
たりの平均値は、If =2.2mA、Ie =2.2μA
であつた。After the activation was completed, the device current If and the emission current Ie were measured by applying 16 V, and the average value per device was If = 2.2 mA and Ie = 2. 2 μA
It was.
【0118】続いて、パネル全体を真空排気しながら3
00℃で24時間のベーキングを行い、パネル内の真空
排気とともにゲッタの活性化を行った。Subsequently, while the entire panel is evacuated, 3
Baking was performed at 00 ° C. for 24 hours, and the getter was activated together with evacuation of the inside of the panel.
【0119】最後に、実施例1の工程−oと同様に排気
管をバーナーで加熱して封じ切り、本実施例の画像形成
装置を作製した。Finally, the exhaust pipe was heated with a burner and sealed off in the same manner as in Step-o of Example 1, thereby producing an image forming apparatus of this example.
【0120】[0120]
【発明の効果】以上、述べたように本発明は、予め真空
加熱処理を施した構成部材を用いて非蒸発型ゲッタを内
包する画像形成装置を作製することにより、パネル作製
時のゲッタ劣化のない画像形成装置の製造方法を提供で
きるとともに、電子放出素子の特性の劣化を抑制でき、
結果的に、長時間動作させた場合の輝度の低下、とりわ
け画像表示領域の中央付近での輝度の低下のない画像形
成装置を提供できる。As described above, according to the present invention, an image forming apparatus including a non-evaporable getter is manufactured by using a constituent member which has been subjected to a vacuum heat treatment in advance, thereby reducing getter deterioration during panel manufacturing. Not only can provide a method of manufacturing an image forming apparatus, but also can suppress deterioration of the characteristics of the electron-emitting device,
As a result, it is possible to provide an image forming apparatus in which the luminance does not decrease when the device is operated for a long time, and particularly, the luminance does not decrease near the center of the image display area.
【0121】なお、実施例では表面伝導型電子放出素子
を用いた画像形成装置を示したが、いわゆるプラズマデ
ィスプレイパネルを用いた画像形成装置に対して本発明
を適用した場合にも、同様の効果が当然期待される。Although the embodiment shows the image forming apparatus using the surface conduction electron-emitting device, the same effect can be obtained when the present invention is applied to an image forming apparatus using a so-called plasma display panel. Is expected of course.
【図1】本発明の製法により作成される画像形成装置の
外囲器の構造例を示す、一部破断した斜視図である。FIG. 1 is a partially broken perspective view showing a structural example of an envelope of an image forming apparatus produced by a manufacturing method of the present invention.
【図2】蛍光膜の構造を説明するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining a structure of a fluorescent film.
【図3】マトリクス配置の電子源を用いて構成した画像
形成装置により、NTSC方式のテレビ信号に基づいた
テレビジョン表示を行うための駆動回路の構成例を示す
ブロック図である。FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration example of a drive circuit for performing television display based on an NTSC television signal by an image forming apparatus configured using an electron source arranged in a matrix.
【図4】実施例に係るマトリクス配置の電子源基板を模
式的に示した平面図である。FIG. 4 is a plan view schematically showing an electron source substrate having a matrix arrangement according to an example.
【図5】図4に示した電子源基板のA−A’断面図であ
る。FIG. 5 is a cross-sectional view of the electron source substrate taken along line AA ′ of FIG. 4;
【図6】図4に示した電子源基板の製造工程を説明する
ための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a manufacturing process of the electron source substrate shown in FIG.
【図7】図4に示した電子源基板の製造工程を説明する
ための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining a manufacturing process of the electron source substrate shown in FIG.
【図8】画像形成装置の製造に使用する真空処理装置の
概要を示す模式図である。FIG. 8 is a schematic diagram illustrating an outline of a vacuum processing apparatus used for manufacturing an image forming apparatus.
【図9】画像形成装置の製造工程、フォーミング処理及
び活性化処理に用いる装置の構成を示す模式図である。FIG. 9 is a schematic diagram illustrating a configuration of an apparatus used for a manufacturing process, a forming process, and an activation process of the image forming apparatus.
【図10】フォーミング処理及び活性化処理に与えられ
るパルス電圧波形の例を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating an example of a pulse voltage waveform applied to a forming process and an activation process.
【図11】実施例におけるゲッタ層の形成方法を説明す
るための図である。FIG. 11 is a diagram for explaining a method of forming a getter layer in an example.
【図12】従来の平板状画像形成装置のゲッタ処理に関
わる部分の断面図である。FIG. 12 is a cross-sectional view of a part related to getter processing in a conventional flat plate image forming apparatus.
1 電子源基板 2 電子放出素子 3 X方向配線(下配線) 4 Y方向配線(上配線) 5 行選択用端子 6 信号入力端子 11 リアプレート 12 支持枠 13 フェースプレート 14 ガラス基体 15 蛍光膜 16 メタルバック 17 外囲器 18 蛍光体 19 ゲッタ層 31 表示パネル 32 走査回路 33 制御回路 34 シフトレジスタ 35 ラインメモリ 36 同期信号分離回路 37 変調信号発生器 51 ガラス基板 52 層間絶縁層 53 コンタクトホール 54,55 素子電極 56 電子放出部形成用の導電性膜 57 Cr膜 81 製造工程下の画像表示装置 82 排気管 83 真空チャンバー 84 ゲートバルブ 85 排気装置 86 圧力計 87 Q―mass 88 ガス導入量制御装置 89 導入物質源 91 制御装置 92 パルス発生器 93 電流計 94 ライン選択装置 111 透明導電膜 112 メタルマスク 113 メタルマスクの開口部 114 溶射粒子 REFERENCE SIGNS LIST 1 electron source substrate 2 electron-emitting device 3 X-direction wiring (lower wiring) 4 Y-direction wiring (upper wiring) 5 row selection terminal 6 signal input terminal 11 rear plate 12 support frame 13 face plate 14 glass substrate 15 fluorescent film 16 metal Back 17 Enclosure 18 Phosphor 19 Getter layer 31 Display panel 32 Scan circuit 33 Control circuit 34 Shift register 35 Line memory 36 Synchronous signal separation circuit 37 Modulation signal generator 51 Glass substrate 52 Interlayer insulating layer 53 Contact hole 54, 55 element Electrode 56 Conductive film for forming electron-emitting portion 57 Cr film 81 Image display device during manufacturing process 82 Exhaust pipe 83 Vacuum chamber 84 Gate valve 85 Exhaust device 86 Pressure gauge 87 Q-mass 88 Gas introduction amount control device 89 Introduced substance Source 91 Controller 92 Pulse generator 93 Current Total 94 Line selection device 111 Transparent conductive film 112 Metal mask 113 Metal mask opening 114 Sprayed particles
Claims (12)
を内包する画像形成装置の製造方法において、 外囲器の封着工程前に、真空中にて、各構成部材を封着
温度以上で加熱処理することを特徴とする画像形成装置
の製造方法。1. A method for manufacturing an image forming apparatus including at least a non-evaporable getter in an envelope, wherein each component is heated to a sealing temperature or higher in a vacuum before a sealing step of the envelope. A method of manufacturing an image forming apparatus, comprising:
ットによる溶融、接着であることを特徴とする、請求項
1に記載の画像形成装置の製造方法。2. The method for manufacturing an image forming apparatus according to claim 1, wherein the sealing of the envelope is melting and bonding using a low melting point glass frit.
の電子放出素子が配設された電子源基板と、画像形成部
材が設けられた画像形成基板を有することを特徴とす
る、請求項1または2に記載の画像形成装置の製造方
法。3. The image forming apparatus according to claim 1, further comprising, in an envelope, an electron source substrate on which a plurality of electron-emitting devices are provided, and an image forming substrate on which an image forming member is provided. A method for manufacturing an image forming apparatus according to claim 1.
出素子であることを特徴とする、請求項3に記載の画像
形成装置の製造方法。4. The method according to claim 3, wherein the electron-emitting device is a surface conduction electron-emitting device.
の表面に形成することを特徴とする、請求項3に記載の
画像形成装置の製造方法。5. The method according to claim 3, wherein the non-evaporable getter is formed on a surface of the electron source substrate.
源基板を真空中にて封着温度以上で加熱処理した後に行
うことを特徴とする、請求項5に記載の画像形成装置の
製造方法。6. The method according to claim 5, wherein the formation of the non-evaporable getter is performed after the electron source substrate is heated in a vacuum at a sealing temperature or higher. Method.
板の表面に形成することを特徴とする、請求項3に記載
の画像形成装置の製造方法。7. The method according to claim 3, wherein the non-evaporable getter is formed on a surface of the image forming substrate.
形成基板を真空中にて封着温度以上で加熱処理した後に
行うことを特徴とする、請求項7に記載の画像形成装置
の製造方法。8. The method according to claim 7, wherein the formation of the non-evaporable getter is performed after the image forming substrate is heated in a vacuum at a sealing temperature or higher. Method.
は/およびZrを主成分とし、さらにAl、V、Fe、
Mnのいずれか―種類以上を副成分として含有する合金
であることを特徴とする、請求項1〜8のいずれかに記
載の画像形成装置の製造方法。9. The material of the non-evaporable getter contains Ti or / and Zr as a main component and further contains Al, V, Fe,
The method of manufacturing an image forming apparatus according to claim 1, wherein the alloy is an alloy containing any one or more of Mn as a subcomponent.
外囲器の封着後、該外囲器を真空排気しながら加熱処理
するベーキング工程における該加熱処理によって行うこ
とを特徴とする、請求項1〜9のいずれかに記載の画像
形成装置の製造方法。10. The activation of the non-evaporable getter is performed by a heat treatment in a baking step of performing a heat treatment while evacuating the envelope after sealing the envelope. A method for manufacturing an image forming apparatus according to claim 1.
前記外囲器の封着温度より低いことを特徴とする、請求
項10に記載の画像形成装置の製造方法。11. The activation temperature of the non-evaporable getter is:
The method according to claim 10, wherein the temperature is lower than a sealing temperature of the envelope.
れか―方の基板に表示電極および補助電極を形成した前
面基板と後面基板とを対向配置した外囲器内に、発光媒
質を封入し、前記表示電極および補助電極に電圧を印加
することにより表示を行う画像形成装置であることを特
徴とする、請求項1または2に記載の画像形成装置の製
造方法。12. The image forming apparatus according to claim 1, wherein a light-emitting medium is sealed in an envelope in which a front substrate and a rear substrate each having a display electrode and an auxiliary electrode formed on at least one of the substrates are arranged opposite to each other. 3. The method according to claim 1, wherein the image forming apparatus is configured to perform display by applying a voltage to the display electrode and the auxiliary electrode. 4.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11048135A JP2000251714A (en) | 1999-02-25 | 1999-02-25 | Manufacture for image forming device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11048135A JP2000251714A (en) | 1999-02-25 | 1999-02-25 | Manufacture for image forming device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000251714A true JP2000251714A (en) | 2000-09-14 |
Family
ID=12794903
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JP11048135A Withdrawn JP2000251714A (en) | 1999-02-25 | 1999-02-25 | Manufacture for image forming device |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2000251714A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007080770A1 (en) * | 2006-01-12 | 2007-07-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image display |
-
1999
- 1999-02-25 JP JP11048135A patent/JP2000251714A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2007080770A1 (en) * | 2006-01-12 | 2007-07-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image display |
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Legal Events
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