JPH11328361A - Position fine adjusting method of input image in image processor - Google Patents

Position fine adjusting method of input image in image processor

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JPH11328361A
JPH11328361A JP10128689A JP12868998A JPH11328361A JP H11328361 A JPH11328361 A JP H11328361A JP 10128689 A JP10128689 A JP 10128689A JP 12868998 A JP12868998 A JP 12868998A JP H11328361 A JPH11328361 A JP H11328361A
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JP
Japan
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image
camera
cameras
coordinates
horizontal
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JP10128689A
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Japanese (ja)
Inventor
Toru Ida
徹 井田
Shuzo Matsuno
修三 松野
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Nippon Avionics Co Ltd
Original Assignee
Nippon Avionics Co Ltd
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Publication date
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  • Image Processing (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide the position fine adjusting method of an input image without requiring high-precision mechanical adjustments. SOLUTION: On a green sheet 1, pieces 2 arranged in matrix are printed. Cameras 4-1 to 4-5 are fitted to a camera table 5 so that are arranged on one straight line parallel to an X direction at the same intervals as the pieces 2, but if a fitting error is present, identical patterns in the respective pieces 2 which are picked up by the cameras 4-1 to 4-5 have different coordinate values. An image recognizing device 6, when inputting two-dimensional images from the cameras 4-1 to 4-5 adjusts the horizontal and vertical input timing, camera by camera, so that the respective images have the same horizontal and vertical coordinates.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複数台のカメラに
よって画像取り込みを行うパターン検査装置等の画像処
理装置に係り、特に各カメラの取り付け誤差を補正して
各画像の水平、垂直方向の座標を一致させる取り込み画
像の位置微調方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image processing apparatus such as a pattern inspection apparatus which captures an image with a plurality of cameras, and more particularly to a horizontal and vertical coordinate system for each image by correcting a mounting error of each camera. And a method for finely adjusting the position of a captured image.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、IC、LSIの多ピン化要求
に適した実装技術として、PGA(Pin Grid Array)が
知られている。PGAは、チップを付けるパッケージの
ベースとしてセラミック基板を用い、リード線の取り出
し位置まで配線を行っている。このセラミック基板を作
るために、アルミナ粉末を液状のバインダで練り合わせ
てシート状にしたグリーンシートと呼ばれるものが使用
され、このグリーンシート上に高融点の金属を含むペー
ストがスクリーン印刷される。そして、このようなシー
トを焼成することにより、グリーンシートを焼結させる
と共にペーストを金属化させる、いわゆる同時焼成が行
われる。
2. Description of the Related Art Conventionally, PGA (Pin Grid Array) has been known as a mounting technique suitable for a demand for increasing the number of pins of ICs and LSIs. In PGA, a ceramic substrate is used as a base of a package for attaching a chip, and wiring is performed to a lead wire extraction position. To make this ceramic substrate, a so-called green sheet made by kneading alumina powder with a liquid binder is used, and a paste containing a high melting point metal is screen-printed on the green sheet. By firing such a sheet, so-called simultaneous firing, in which the green sheet is sintered and the paste is metallized, is performed.

【0003】また、その他の実装技術として、TAB
(Tape Automated Bonding)が知られている。TAB法
は、ポリイミド製のフィルムキャリア(TABテープ)
上に形成された銅箔パターンをICチップの電極に接合
して外部リードとする。銅箔パターンは、フィルムに銅
箔を接着剤で貼り付け、これをエッチングすることによ
って形成される。
[0003] As another mounting technique, TAB is used.
(Tape Automated Bonding) is known. TAB method is a polyimide film carrier (TAB tape)
The copper foil pattern formed thereon is joined to the electrode of the IC chip to form an external lead. The copper foil pattern is formed by attaching a copper foil to a film with an adhesive and etching this.

【0004】このようなグリーンシートあるいはフィル
ムキャリアでは、パターン形成後に顕微鏡を用いて人間
により目視でパターンの検査が行われる。ところが、微
細なパターンを目視で検査するには、熟練を要すると共
に、目を酷使するという問題点があった。そこで、目視
検査に代わるものとして、フィルムキャリア等に形成さ
れたパターンをTVカメラで撮像して自動的に検査する
技術が提案されている(例えば、特開平6−34196
0号公報)。
In such a green sheet or film carrier, a pattern is visually inspected by a human using a microscope after the pattern is formed. However, visually inspecting a fine pattern requires skill and has a problem of overworking the eyes. Therefore, as an alternative to the visual inspection, a technique has been proposed in which a pattern formed on a film carrier or the like is imaged by a TV camera and automatically inspected (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-34196).
No. 0).

【0005】特開平6−341960号公報に開示され
たパターン検査装置では、検査時間を短縮するために、
複数台のカメラを使用して取り込んだ画像を並列に処理
することが行われている。この場合、複数台のカメラを
検査ワークに応じて所定の間隔に配置することが必要と
なる。その理由は、通常、検査ワークには同一のパター
ンが一定間隔で複数形成されていることと、複数台のカ
メラで取り込んだ各入力画像を基準となるマスタパター
ンと比較照合するために、各入力画像を単一の座標系で
扱う必要があるからである。
In the pattern inspection apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-341960, in order to reduce the inspection time,
2. Description of the Related Art Images captured using a plurality of cameras are processed in parallel. In this case, it is necessary to arrange a plurality of cameras at predetermined intervals according to the inspection work. The reason is that the same pattern is usually formed at regular intervals on the inspection work, and each input image captured by multiple cameras is compared with the reference master pattern. This is because the image needs to be handled in a single coordinate system.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】近年のエレクトロニク
ス製品の小型化に伴う回路パターンの微細化により、検
出しなければならない欠陥の大きさは10μm以下とな
り、この欠陥を検出するための画像の分解能は数μm程
度が必要とされる。このため、複数台のカメラを使用す
る上記のようなパターン検査装置では、各カメラを等間
隔に、かつ数μm程度の高精度で配置する機械的調整が
必要となるが、このような機械的調整は極めて難しい作
業であり、このような調整が可能だとしても、検査ワー
クが変わった場合には、再び調整を行わなければならな
いという問題点があった。本発明は、上記課題を解決す
るためになされたもので、高精度の機械的調整を必要と
しない取り込み画像の位置微調方法を提供することを目
的とする。
With the miniaturization of circuit patterns accompanying the recent miniaturization of electronic products, the size of defects that must be detected is reduced to 10 μm or less, and the resolution of an image for detecting these defects is reduced. About several μm is required. For this reason, in the above-described pattern inspection apparatus using a plurality of cameras, it is necessary to mechanically arrange the cameras at equal intervals and with high accuracy of about several μm. Adjustment is an extremely difficult task, and even if such adjustment is possible, there is a problem that if the inspection work changes, the adjustment must be performed again. The present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to provide a position fine adjustment method of a captured image that does not require high-precision mechanical adjustment.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、請求項1に記
載のように、複数台のカメラによって撮像された複数の
2次元画像を取り込む際に、各画像の水平方向の座標が
一致するように水平方向の取り込みタイミングをカメラ
ごとに調整すると共に、各画像の垂直方向の座標が一致
するように垂直方向の取り込みタイミングをカメラごと
に調整するようにしたものである。このように、水平、
垂直方向の取り込みタイミングをカメラごとに調整する
ことにより、複数台のカメラが例えばX方向(画像の水
平方向)と平行な一直線上に所定の間隔で並ぶように配
置された場合、X方向と平行な一直線上に所定の間隔で
並ぶ複数の撮像対象(検査ワーク)上の同一点が同一の
X,Y座標となる。こうして、各カメラのX方向の間隔
の誤差及び上記直線からのY方向(画像の垂直方向)の
誤差を補正することができる。
According to the present invention, when taking in a plurality of two-dimensional images picked up by a plurality of cameras, the horizontal coordinates of each image coincide with each other. In this way, the horizontal capture timing is adjusted for each camera, and the vertical capture timing is adjusted for each camera so that the vertical coordinates of each image match. Thus, horizontal,
By adjusting the capture timing in the vertical direction for each camera, if a plurality of cameras are arranged at a predetermined interval on a straight line parallel to the X direction (horizontal direction of the image), for example, The same points on a plurality of imaging targets (inspection workpieces) arranged at predetermined intervals on a straight line have the same X, Y coordinates. In this way, it is possible to correct an error in the X direction of each camera and an error in the Y direction (vertical direction of the image) from the straight line.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の実施
の形態を示すパターン検査装置のブロック図である。図
1において、1は検査ワークとなるグリーンシート、2
はグリーンシート1上に形成された独立したパターン群
となるピース、3はグリーンシート1を載せるX−Yテ
ーブル、4−1,4−2,4−3,4−4,4−5はグ
リーンシート1を撮像する5台のラインセンサカメラ、
5はラインセンサカメラ4−1〜4−5を支持するカメ
ラテーブル、6はラインセンサカメラ4−1〜4−5に
よって撮像された被測定パターンの画像を基準となるマ
スタパターンと比較することにより被測定パターンを検
査する画像認識装置、7は装置全体を制御するホストコ
ンピュータ、8は検査結果を表示するための表示装置で
ある。
Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a pattern inspection apparatus showing an embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a green sheet serving as an inspection work;
Is an independent pattern group piece formed on the green sheet 1, 3 is an XY table on which the green sheet 1 is placed, 4-1, 4-2, 4-3, 4-4, and 4-5 are green. 5 line sensor cameras for imaging the sheet 1,
Reference numeral 5 denotes a camera table for supporting the line sensor cameras 4-1 to 4-5, and reference numeral 6 denotes an image of the pattern to be measured imaged by the line sensor cameras 4-1 to 4-5, which is compared with a reference master pattern. An image recognition device for inspecting the pattern to be measured, a host computer 7 for controlling the entire device, and a display device 8 for displaying the inspection result.

【0009】グリーンシート1上には、横n個×縦m個
(n,mは1以上の整数)のマトリクス状に配置された
ピース2が印刷されている。通常、ピース2は、同一パ
ターンであり、1ピースが例えばIC1個に相当する。
このようなグリーンシート1をX−Yテーブル3上に載
せ、5台のラインセンサカメラ4−1〜4−5によって
撮像する。
On the green sheet 1, pieces 2 arranged in a matrix of n rows × m columns (n and m are integers of 1 or more) are printed. Usually, the pieces 2 have the same pattern, and one piece corresponds to, for example, one IC.
Such a green sheet 1 is placed on the XY table 3 and imaged by five line sensor cameras 4-1 to 4-5.

【0010】ラインセンサカメラ4−1〜4−5は、X
方向と平行な一直線上に所定の間隔(本実施の形態で
は、ピース2の間隔)で並ぶようにカメラテーブル5に
取り付けられている。X方向に画素が配列されたライン
センサカメラ4−1〜4−5の画素数は例えば5000
画素である。そして、ホストコンピュータ7がX−Yテ
ーブル3を制御することにより、X−Yテーブル3は、
X方向と垂直なY方向に移動する。
The line sensor cameras 4-1 to 4-5 are X
It is attached to the camera table 5 so as to be arranged at a predetermined interval (in this embodiment, at an interval between the pieces 2) on a straight line parallel to the direction. The number of pixels of the line sensor cameras 4-1 to 4-5 in which pixels are arranged in the X direction is, for example, 5000.
Pixel. When the host computer 7 controls the XY table 3, the XY table 3
Move in the Y direction perpendicular to the X direction.

【0011】これにより、2次元の画像信号が各ライン
センサカメラ4−1〜4−5から出力される。なお、X
−Yテーブル3をY方向に移動させる代わりに、カメラ
テーブル5をY方向に移動させてもよいことは言うまで
もない。画像認識装置6は、ラインセンサカメラ4−1
〜4−5から出力された2次元画像を取り込む際に、後
述する水平、垂直の取り込みタイミングの調整により、
水平方向については上記5000画素のうちの4096
画素を取り込み、垂直方向については8192画素を取
り込む。
As a result, a two-dimensional image signal is output from each of the line sensor cameras 4-1 to 4-5. Note that X
Needless to say, instead of moving the Y table 3 in the Y direction, the camera table 5 may be moved in the Y direction. The image recognition device 6 includes a line sensor camera 4-1.
When capturing a two-dimensional image output from 4-5, the horizontal and vertical capture timings described below are adjusted.
In the horizontal direction, 4096 out of the 5000 pixels
Pixels are captured, and 8192 pixels are captured in the vertical direction.

【0012】こうして、画像認識装置6に取り込まれた
横4096画素×縦8192画素の2次元画像信号は、
画像認識装置6内でディジタル化され図示しない画像メ
モリに格納される。画像認識装置6は、画像メモリに格
納したパターンとグリーンシート1の良品等から作成し
たマスタパターンを比較して、グリーンシート1のパタ
ーンに欠陥がないかどうかを検査し、その結果をホスト
コンピュータ7に転送する。ホストコンピュータ7は、
検査結果を表示装置8に表示させる。
Thus, the two-dimensional image signal of 4096 pixels in width × 8192 pixels in height captured by the image recognition device 6 is
The image data is digitized in the image recognition device 6 and stored in an image memory (not shown). The image recognition device 6 compares the pattern stored in the image memory with a master pattern created from non-defective products of the green sheet 1 to check whether the pattern of the green sheet 1 has a defect. Transfer to The host computer 7
The inspection result is displayed on the display device 8.

【0013】以上のようなパターン検査装置において、
5台のラインセンサカメラ4−1〜4−5に取り付け誤
差が存在すると、カメラ4−1〜4−5で撮像した各ピ
ース2内の同一パターンが異なる座標値を有するため、
カメラ4−1〜4−5で撮像した各画像を同一のマスタ
パターンと比較したときに、誤って欠陥と認識してしま
う場合が起こり得る。そこで、画像認識装置6は、以下
のような処理により取り込み画像の位置の微調を行う。
In the above pattern inspection apparatus,
If the mounting error exists in the five line sensor cameras 4-1 to 4-5, the same pattern in each piece 2 captured by the cameras 4-1 to 4-5 has different coordinate values.
When each image captured by the cameras 4-1 to 4-5 is compared with the same master pattern, a case may be erroneously recognized as a defect. Thus, the image recognition device 6 performs fine adjustment of the position of the captured image by the following processing.

【0014】まず、位置微調用のパターンとなるマーク
Mが形成された図2(a)のようなシート11を用意す
る。このシート11がラインセンサカメラ4−1の真下
にくるようにX−Yテーブル3上に載置し、シート11
をカメラ4−1で撮像する。そして、画像認識装置6
は、ラインセンサカメラ4−1から取り込んだ図2
(b)のような画像においてマークMの重心のX,Y座
標(x1,y1)を求め、これを記憶する。なお、この
ときの座標値は、取り込み画像の例えば左上を原点とし
て算出したものである。
First, a sheet 11 as shown in FIG. 2A on which a mark M serving as a pattern for position fine adjustment is formed is prepared. The sheet 11 is placed on the XY table 3 so that the sheet 11 comes directly below the line sensor camera 4-1, and the sheet 11
Is captured by the camera 4-1. Then, the image recognition device 6
FIG. 2 is a view taken from the line sensor camera 4-1.
The X and Y coordinates (x1, y1) of the center of gravity of the mark M in the image as shown in (b) are obtained and stored. Note that the coordinate values at this time are calculated using, for example, the upper left of the captured image as the origin.

【0015】続いて、シート11がラインセンサカメラ
4−2の真下にくるようにX−Yテーブル3を上記所定
の間隔だけX方向に移動させて、シート11をカメラ4
−2で撮像する。そして、画像認識装置6は、ラインセ
ンサカメラ4−2から取り込んだ図2(c)のような画
像においてマークMの重心のX,Y座標(x2,y2)
を求め、これを記憶する。
Subsequently, the XY table 3 is moved in the X direction by the above-mentioned predetermined interval so that the sheet 11 is directly below the line sensor camera 4-2, and the sheet 11 is
Image is taken at -2. Then, the image recognizing device 6 uses the X and Y coordinates (x2, y2) of the center of gravity of the mark M in the image as shown in FIG.
And memorize it.

【0016】以下、同様に、X−Yテーブル3を所定の
間隔だけX方向に順次移動させながら、シート11をカ
メラ4−3,4−4,4−5で順次撮像し、カメラ4−
3,4−4,4−5から取り込んだ図2(d),図2
(e),図2(f)のような画像においてマークMの重
心のX,Y座標(x3,y3)、(x4,y4)、(x
5,y5)を順次算出し、記憶する。
Similarly, while the XY table 3 is sequentially moved in the X direction by a predetermined interval, the sheet 11 is sequentially imaged by the cameras 4-3, 4-4, and 4-5.
FIG. 2D and FIG. 2 taken from 3, 4-4 and 4-5.
(E), X and Y coordinates (x3, y3), (x4, y4), (x4) of the center of gravity of the mark M in the image as shown in FIG.
5, y5) are sequentially calculated and stored.

【0017】上述のようにラインセンサカメラ4−1〜
4−5の取り付け誤差により、カメラ4−1〜4−5で
撮像したマークMの座標値にはずれが生じている。そこ
で、画像認識装置6は、記憶したマークMの重心の座標
値を基に、水平、垂直方向の取り込みタイミングをカメ
ラごとに調整する。図3は画像認識装置6による水平、
垂直方向の取り込みタイミングの調整を説明するための
図である。図3において、NHは水平方向の4096画
素分の時間を示し、NVは垂直方向の8192画素分の
時間を示している。
As described above, the line sensor cameras 4-1 to 4-1
Due to the mounting error of 4-5, the coordinate values of the mark M captured by the cameras 4-1 to 4-5 are shifted. Therefore, the image recognition device 6 adjusts the horizontal and vertical capture timings for each camera based on the stored coordinate values of the center of gravity of the mark M. FIG. 3 is a horizontal view of the image recognition device 6.
FIG. 9 is a diagram for explaining adjustment of a fetch timing in a vertical direction. In FIG. 3, NH indicates the time for 4096 pixels in the horizontal direction, and NV indicates the time for 8192 pixels in the vertical direction.

【0018】例えば、ラインセンサカメラ4−3から取
り込んだ画像中のマークMの座標(x3,y3)を基準
とすると、ラインセンサカメラ4−1から取り込んだ画
像中のマークMの座標(x1,y1)はY座標が小さ
い。これは、カメラ4−1のY方向の位置が図2の下方
向にずれているからである。
For example, with reference to the coordinates (x3, y3) of the mark M in the image fetched from the line sensor camera 4-3, the coordinates (x1, y3) of the mark M in the image fetched from the line sensor camera 4-1. y1) has a small Y coordinate. This is because the position of the camera 4-1 in the Y direction is shifted downward in FIG.

【0019】そこで、画像認識装置6は、図3に示すよ
うに、カメラ4−1から2次元画像12を取り込む場合
の垂直方向の取り込みタイミングSV1をカメラ4−3
から画像12を取り込む場合の同タイミングSV3に比
べて早くする。これにより、座標(x1,y1)を座標
(x3,y3)と一致させることができる。なお、X座
標にはずれが存在しないので、カメラ4−1から画像1
2を取り込む場合の水平方向の取り込みタイミングSH
1はカメラ4−3から画像12を取り込む場合の同タイ
ミングSH3と同じに設定される。
Therefore, as shown in FIG. 3, the image recognizing device 6 sets the vertical capture timing SV1 when capturing the two-dimensional image 12 from the camera 4-1 to the camera 4-3.
This is earlier than at the same timing SV3 when the image 12 is taken in from. Thereby, the coordinates (x1, y1) can be matched with the coordinates (x3, y3). Since there is no deviation in the X coordinate, the image 1
2 in the horizontal direction when SH is taken
1 is set to be the same as the same timing SH3 when capturing the image 12 from the camera 4-3.

【0020】また、ラインセンサカメラ4−2から取り
込んだ画像中のマークMの座標(x2,y2)は、座標
(x3,y3)と比べてX座標が小さい。これは、カメ
ラ4−2のX方向の位置が図2の右方向にずれているか
らである。そこで、画像認識装置6は、カメラ4−2か
ら2次元画像12を取り込む場合の水平方向の取り込み
タイミングSH2をカメラ4−3から画像12を取り込
む場合の同タイミングSH3に比べて早くする。これに
より、座標(x2,y2)を座標(x3,y3)と一致
させることができる。なお、Y座標にはずれが存在しな
いので、カメラ4−2から画像12を取り込む場合の垂
直方向の取り込みタイミングSV2はカメラ4−3から
画像12を取り込む場合の同タイミングSV3と同じに
設定される。
The coordinates (x2, y2) of the mark M in the image captured from the line sensor camera 4-2 have a smaller X coordinate than the coordinates (x3, y3). This is because the position of the camera 4-2 in the X direction is shifted to the right in FIG. Therefore, the image recognition device 6 sets the horizontal capture timing SH2 when capturing the two-dimensional image 12 from the camera 4-2 earlier than the same timing SH3 when capturing the image 12 from the camera 4-3. Thereby, the coordinates (x2, y2) can be matched with the coordinates (x3, y3). Since there is no deviation in the Y coordinate, the vertical capture timing SV2 when capturing the image 12 from the camera 4-2 is set to be the same as the same timing SV3 when capturing the image 12 from the camera 4-3.

【0021】一方、ラインセンサカメラ4−4から取り
込んだ画像中のマークMの座標(x4,y4)は、座標
(x3,y3)と比べてX座標が大きい。これは、カメ
ラ4−4のX方向の位置が図2の左方向にずれているか
らである。そこで、画像認識装置6は、カメラ4−4か
ら2次元画像12を取り込む場合の水平方向の取り込み
タイミングSH4をカメラ4−3から画像12を取り込
む場合の同タイミングSH3に比べて遅くする。これに
より、座標(x4,y4)を座標(x3,y3)と一致
させることができる。なお、Y座標にはずれが存在しな
いので、カメラ4−4から画像12を取り込む場合の垂
直方向の取り込みタイミングSV4はカメラ4−3から
画像12を取り込む場合の同タイミングSV3と同じに
設定される。
On the other hand, the coordinates (x4, y4) of the mark M in the image captured from the line sensor camera 4-4 have a larger X coordinate than the coordinates (x3, y3). This is because the position of the camera 4-4 in the X direction is shifted to the left in FIG. Therefore, the image recognition device 6 delays the horizontal capture timing SH4 when capturing the two-dimensional image 12 from the camera 4-4 as compared to the same timing SH3 when capturing the image 12 from the camera 4-3. Thereby, the coordinates (x4, y4) can be matched with the coordinates (x3, y3). Since there is no deviation in the Y coordinate, the vertical capture timing SV4 when capturing the image 12 from the camera 4-4 is set to be the same as the same timing SV3 when capturing the image 12 from the camera 4-3.

【0022】そして、ラインセンサカメラ4−5から取
り込んだ画像中のマークMの座標(x5,y5)は、座
標(x3,y3)と比べてY座標が大きい。これは、カ
メラ4−5のY方向の位置が図2の上方向にずれている
からである。そこで、画像認識装置6は、カメラ4−5
から2次元画像12を取り込む場合の垂直方向の取り込
みタイミングSV5をカメラ4−3から画像12を取り
込む場合の同タイミングSV3に比べて遅くする。これ
により、座標(x5,y5)を座標(x3,y3)と一
致させることができる。なお、X座標にはずれが存在し
ないので、カメラ4−5から画像12を取り込む場合の
水平方向の取り込みタイミングSH5はカメラ4−3か
ら画像12を取り込む場合の同タイミングSH3と同じ
に設定される。
The coordinates (x5, y5) of the mark M in the image fetched from the line sensor camera 4-5 have a larger Y coordinate than the coordinates (x3, y3). This is because the position of the camera 4-5 in the Y direction is shifted upward in FIG. Therefore, the image recognition device 6 uses the camera 4-5.
The capture timing SV5 in the vertical direction when capturing the two-dimensional image 12 from the camera 4-3 is delayed as compared with the same timing SV3 when capturing the image 12 from the camera 4-3. Thereby, the coordinates (x5, y5) can be matched with the coordinates (x3, y3). Since there is no deviation in the X coordinate, the horizontal capture timing SH5 when capturing the image 12 from the camera 4-5 is set to be the same as the same timing SH3 when capturing the image 12 from the camera 4-3.

【0023】以上のようにして、ラインセンサカメラ4
−1〜4−5の取り付け誤差をシート11の画像を取り
込む際のX−Yテーブル3の移動誤差(数μm)程度に
補正することができる。なお、本実施の形態では、ライ
ンセンサカメラを例にとって説明したが、カメラのX,
Y方向の画像数に対して画像認識装置6が取り込む画素
数が少ない場合(取り込みタイミングの調整に対して画
素数に余裕がある場合)であれば、2次元のエリアセン
サに対しても本発明を適用できることは言うまでもな
い。
As described above, the line sensor camera 4
The mounting error of -1 to 4-5 can be corrected to about the moving error (several μm) of the XY table 3 when the image of the sheet 11 is taken. In the present embodiment, a line sensor camera has been described as an example.
If the number of pixels captured by the image recognition device 6 is smaller than the number of images in the Y direction (if the number of pixels has a margin for adjusting the capturing timing), the present invention is applied to a two-dimensional area sensor. Needless to say, it can be applied.

【0024】また、本実施の形態では、X−Yテーブル
3をX方向に順次移動させて、シート11を順次撮像し
たが、複数のマークをピース2の間隔で配置したシート
を撮像するようにしてもよい。この場合には、位置微調
のための撮像を1回で済ませることができる。ただし、
ピース2の間隔が変わった場合には、それに応じたシー
トを作り直す必要がある。
Also, in the present embodiment, the XY table 3 is sequentially moved in the X direction, and the sheet 11 is sequentially imaged. However, a sheet in which a plurality of marks are arranged at intervals of the pieces 2 is imaged. You may. In this case, the imaging for the position fine adjustment can be completed only once. However,
When the interval between the pieces 2 changes, it is necessary to recreate a sheet corresponding to the change.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明によれば、水平、垂直方向の取り
込みタイミングをカメラごとに調整することにより、各
カメラに例えば数十〜数百μm程度の取り付け誤差があ
ったとしても、この取り付け誤差を補正することができ
る。その結果、各カメラを取り付ける際に高精度の機械
的調整を行う必要がなくなる。
According to the present invention, by adjusting the horizontal and vertical capturing timings for each camera, even if each camera has an attachment error of, for example, about several tens to several hundreds of micrometers, this attachment error can be prevented. Can be corrected. As a result, there is no need to perform high-precision mechanical adjustment when attaching each camera.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態を示すパターン検査装置
のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a pattern inspection apparatus showing an embodiment of the present invention.

【図2】 取り込み画像の位置微調用のマークとこのマ
ークを各ラインセンサカメラで取り込んだ画像を示す図
である。
FIG. 2 is a diagram showing a mark for fine-tuning the position of a captured image and an image in which the mark is captured by each line sensor camera.

【図3】 画像認識装置による水平、垂直方向の取り込
みタイミングの調整を説明するための図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining adjustment of horizontal and vertical capturing timings by the image recognition device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…グリーンシート、2…ピース、3…X−Yテーブ
ル、4−1〜4−5…ラインセンサカメラ、5…カメラ
テーブル、6…画像認識装置、7…ホストコンピュー
タ、8…表示装置。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Green sheet, 2 ... Piece, 3 ... XY table, 4-1-4-5 ... Line sensor camera, 5 ... Camera table, 6 ... Image recognition device, 7 ... Host computer, 8 ... Display device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数台のカメラによって撮像された複数
の2次元画像を取り込む際に、各画像の水平方向の座標
が一致するように水平方向の取り込みタイミングをカメ
ラごとに調整すると共に、各画像の垂直方向の座標が一
致するように垂直方向の取り込みタイミングをカメラご
とに調整することを特徴とする画像処理装置における取
り込み画像の位置微調方法。
When capturing a plurality of two-dimensional images captured by a plurality of cameras, the capturing timing in the horizontal direction is adjusted for each camera so that the horizontal coordinates of each image coincide with each other. Wherein the vertical capturing timing is adjusted for each camera such that the vertical coordinates of the captured image coincide with each other.
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