JPH1131779A - Memory system - Google Patents

Memory system

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JPH1131779A
JPH1131779A JP9199377A JP19937797A JPH1131779A JP H1131779 A JPH1131779 A JP H1131779A JP 9199377 A JP9199377 A JP 9199377A JP 19937797 A JP19937797 A JP 19937797A JP H1131779 A JPH1131779 A JP H1131779A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a memory system, wherein a memory chip is mounted in high density, and a mounting operation and repair work are easily performed. SOLUTION: This system comprises a small outline dual inline memory module (SO-DIMM) substrate 111, a memory module 10, and a controller 13. On both surfaces of the SO-DIMM substrate 11, two memory modules 10 are mounted, respectively. Each memory module 10 is mounted on the SO-DIMM substrate 11 by LCC(leadless chip carrier) method. Further, for the memory module 10, four memory bare chips cut out from a semiconductor wafer are COB-mounted on a module substrate without being packaged.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、マザーボードやメ
モリ基板などのように、複数のメモリチップを実装する
メモリシステムに関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a memory system in which a plurality of memory chips such as a motherboard and a memory board are mounted.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近のコンピュータ機器は、メモリを容
易に増設できるように、メモリ基板を装着するためのス
ロットを機器内部に備えている。このスロットには、S
IMM(Single Inline Memory Module) やDIMM
(Dual Inline Memory Module)などの規格化されたメ
モリ基板を装着するのが一般的である。
2. Description of the Related Art Recent computer equipment has a slot for mounting a memory board inside the equipment so that a memory can be easily added. This slot has S
IMM (Single Inline Memory Module) and DIMM
It is common to mount a standardized memory board such as (Dual Inline Memory Module).

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが、SIMMや
DIMMなどのメモリ基板は、互換性を確保するために
外形寸法が予め規格によって定められており、この規格
の範囲内でメモリICを実装する必要がある。また、メ
モリICのサイズはパッケージの種類によって大体決ま
っており、メモリ基板に実装可能なメモリICの数を無
制限に増やすことはできない。このため、メモリICを
両面実装したり、二段重ねに実装するなどしてメモリ容
量を増やすのが一般的である。
However, the external dimensions of memory boards such as SIMMs and DIMMs are predetermined by standards in order to ensure compatibility, and it is necessary to mount memory ICs within the range of these standards. There is. Further, the size of the memory IC is generally determined depending on the type of the package, and the number of memory ICs that can be mounted on the memory board cannot be increased without limit. For this reason, it is common to increase the memory capacity by mounting the memory IC on both sides or mounting the memory IC in two layers.

【0004】例えば、図22は、メモリ基板上にメモリ
ICを二段重ねに実装した例を示す図である。同図に示
すようにメモリIC101を二段重ねに実装すれば、二
段重ねにしない場合に比べて二倍のメモリ容量が得られ
るが、構造が複雑になるため、製造に手間がかかり、不
良の発生率も高くなる。
For example, FIG. 22 is a diagram showing an example in which memory ICs are mounted in a two-tiered manner on a memory substrate. As shown in the figure, if the memory ICs 101 are mounted in two layers, a memory capacity twice as large as that obtained when the memory ICs 101 are not stacked can be obtained. However, since the structure is complicated, manufacturing takes time and trouble. Also increases.

【0005】一方、最近では、CPUなどの各種LSI
をパッケージングせずにベアの状態で実装する例が増え
つつあり、この場合の実装方法としては、COB実装や
フリップチップ実装などがよく用いられる。ベアチップ
は、パッケージングされたチップに比べてはるかに外形
寸法が小さいため、高密度実装が可能となる。
On the other hand, recently, various LSIs such as CPU
Are mounted in a bare state without packaging, and as a mounting method in this case, COB mounting, flip chip mounting, or the like is often used. Since the bare chip has a much smaller outer dimension than the packaged chip, high-density mounting is possible.

【0006】ところが、COB実装は、チップ実装面の
裏側にヒータを当てて暖めながら実装作業を行う必要が
あるため、両面実装を行うのが技術的に難しく、期待さ
れるほどのメモリ容量は得られない。一方、各チップを
ベアの状態で実装するため、メモリ基板の不良率が高く
なり、不良が発生した場合の交換作業(リペア作業)も
チップが小さいだけに手間がかかってしまう。
However, in COB mounting, since it is necessary to perform the mounting operation while heating by applying a heater to the back side of the chip mounting surface, it is technically difficult to perform double-sided mounting, and the expected memory capacity is obtained. I can't. On the other hand, since each chip is mounted in a bare state, the failure rate of the memory substrate increases, and replacement work (repair work) when a failure occurs is troublesome because the chip is small.

【0007】本発明は、このような点に鑑みて創作され
たものであり、その目的は、メモリチップを高密度実装
でき、かつ実装作業およびリペア作業を簡単に行うこと
ができるメモリシステムを提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a memory system which can mount a memory chip at a high density and can easily perform a mounting operation and a repair operation. Is to do.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明のメモリシステムは、半導体ウエハから
切り出された複数のメモリチップがパッケージングされ
ることなくベアチップの状態で実装された複数のメモリ
モジュールがプリント配線板に実装されている。このた
め、各メモリモジュールに複数のメモリチップを無理な
く実装でき、メモリシステムのメモリ容量を増やすこと
ができる。また、メモリチップを直接プリント配線板に
実装する場合に比べて、接続端子数を大幅に減らすこと
ができ、実装作業が楽になる。また、一部のメモリチッ
プが不良になった場合には、メモリモジュールを単位と
してリペア作業を行えるため、メモリシステム全体を不
良として扱わなくて済み、製品の歩留まりが向上する。
In order to solve the above-mentioned problems, a memory system according to the present invention comprises a plurality of memory chips cut from a semiconductor wafer mounted in a bare chip state without being packaged. Are mounted on a printed wiring board. Therefore, a plurality of memory chips can be easily mounted on each memory module, and the memory capacity of the memory system can be increased. Also, the number of connection terminals can be greatly reduced as compared with the case where the memory chip is directly mounted on a printed wiring board, and the mounting work becomes easier. Further, when a part of the memory chips becomes defective, the repair work can be performed in units of memory modules, so that the entire memory system does not have to be treated as defective, and the yield of products is improved.

【0009】特に、プリント配線板の両面に2個ずつメ
モリモジュールを実装することにより、合計4個のメモ
リモジュールを実装することができ、例えば各メモリモ
ジュールに4個のメモリチップを実装する場合にはメモ
リシステム全体で16個のメモリチップを実装すること
ができるため、全体のメモリ容量を大容量化することが
できる。
In particular, by mounting two memory modules on each side of the printed wiring board, a total of four memory modules can be mounted. For example, when four memory chips are mounted on each memory module, Since 16 memory chips can be mounted in the entire memory system, the overall memory capacity can be increased.

【0010】また、上述したメモリモジュールを、プリ
ント配線板を挟んで対向する位置ににそれぞれ実装する
ことにより、両面実装が難しいCOB実装よりも、高密
度実装が可能となる。
[0010] Further, by mounting the above-described memory modules at positions facing each other with a printed wiring board therebetween, high-density mounting becomes possible as compared with COB mounting, which is difficult to mount on both sides.

【0011】また、本発明のメモリシステムは、プリン
ト配線板に実装されたメモリモジュールに対応させてノ
イズ除去用のコンデンサが実装されており、メモリモジ
ュール内部のメモリチップに対するノイズ対策が可能と
なる。特に、メモリチップ2個に対して1個の割合でコ
ンデンサを設けることにより、コンデンサの数を低減で
きる。
Further, in the memory system of the present invention, a noise removing capacitor is mounted in correspondence with the memory module mounted on the printed wiring board, so that a noise countermeasure for a memory chip inside the memory module can be performed. In particular, by providing one capacitor for every two memory chips, the number of capacitors can be reduced.

【0012】また、本発明のメモリシステムはメモリチ
ップの動作チェックを行うためのコントローラをプリン
ト配線板上に実装しており、メモリシステム全体の容量
が増えた場合であっても動作チェックによってプロセッ
サ等の負担の増加がない。
In the memory system of the present invention, a controller for checking the operation of the memory chip is mounted on a printed wiring board, and even if the capacity of the entire memory system is increased, the controller checks the operation of the processor. There is no increase in burden.

【0013】また、本発明のメモリシステムは、メモリ
チップのそれぞれと信号のやり取りをするための外部接
続端子を備えており、マザーボードやメモリ基板などに
容易に装着することができる。
Further, the memory system of the present invention has external connection terminals for exchanging signals with each of the memory chips, and can be easily mounted on a motherboard, a memory board, or the like.

【0014】また、本発明のメモリシステムは、プリン
ト配線板としてSO−DIMMの規格に沿った形状を有
するものを考えた場合には、大容量のSO−DIMMを
実現することができる。また、プリント配線板としてコ
ンピュータ機器のマザーボードを考えた場合にはメモリ
モジュールをマザーボードに直接実装することができる
ため、専用のメモリ基板が不要となり、コストダウンが
図れる。
The memory system of the present invention can realize a large-capacity SO-DIMM when a printed wiring board having a shape conforming to the SO-DIMM standard is considered. In addition, when a motherboard of a computer device is considered as a printed wiring board, a memory module can be directly mounted on the motherboard, so that a dedicated memory board is not required and cost can be reduced.

【0015】また、上述したモジュール基板上に縦横2
個ずつメモリチップを実装することによりメモリチップ
の4倍のメモリ容量を有するモジュール基板が得られ、
上述したモジュール基板上に長方形形状のメモリチップ
2個を長辺を隣接させてモジュール基板に実装すること
によりモジュール基板の外形寸法を小さくできる。この
ような状態でメモリチップをモジュール基板上に規則正
しく配置することにより、各メモリモジュールの実装ス
ペースの無駄を減らして実装密度を上げることができ、
メモリシステム全体のメモリ容量を増加させることがで
きる。
Further, the vertical and horizontal 2
By mounting the memory chips one by one, a module substrate having a memory capacity four times the memory chip can be obtained.
By mounting two rectangular memory chips on the module substrate with the long sides adjacent to each other on the module substrate, the external dimensions of the module substrate can be reduced. By regularly arranging the memory chips on the module substrate in such a state, it is possible to reduce the waste of the mounting space of each memory module and increase the mounting density,
The memory capacity of the entire memory system can be increased.

【0016】また、本発明のメモリシステムは、各メモ
リモジュールのモジュール基板上に少なくとも一列に複
数の基板用パッドからなるパッド列を形成し、パッド列
の両側にメモリチップを実装しており、メモリチップ間
にモジュール基板上の基板用パッドを集中させることに
より、メモリチップの両側に別々に基板用パッドを形成
する場合に比べて、基板用パッドの全体が占める面積を
小さくすることができる。
In the memory system of the present invention, a pad row including a plurality of board pads is formed in at least one row on a module board of each memory module, and memory chips are mounted on both sides of the pad row. By concentrating the substrate pads on the module substrate between the chips, the area occupied by the entire substrate pads can be reduced as compared with the case where the substrate pads are separately formed on both sides of the memory chip.

【0017】特に、メモリチップの長辺に沿って複数の
チップ用パッドからなるパッド列を形成し、このパッド
列がモジュール基板上の複数の基板用パッドからなるパ
ッド列と平行になるように各メモリチップを配置するこ
とにより、接続するチップ用パッドと基板用パッドとの
距離がほぼ一定になるため、ボンディングワイヤを用い
た接続に適している。
In particular, a pad row consisting of a plurality of chip pads is formed along the long side of the memory chip, and each pad row is parallel to the pad row consisting of a plurality of substrate pads on the module substrate. By arranging the memory chip, the distance between the chip pad and the substrate pad to be connected becomes substantially constant, so that it is suitable for connection using a bonding wire.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明を適用したメモリシ
ステムについて、図面を参照しながら具体的に説明す
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a memory system to which the present invention is applied will be specifically described with reference to the drawings.

【0019】図1は本実施形態のメモリシステムの概略
を示す図であり、図1(a)は基板の一方の面を、図1
(b)は他方の面をそれぞれ示している。図1のメモリ
システムは、SO−DIMM(Small Outline Dual Inl
ine Memory Module )の規格に沿った外形寸法を有して
おり、SO−DIMM基板11の両面に長方形形状のメ
モリモジュール10が2個ずつ実装されている。上述し
たSO−DIMM基板11がプリント配線板に対応す
る。
FIG. 1 is a view schematically showing a memory system according to the present embodiment. FIG. 1A shows one surface of a substrate and FIG.
(B) has shown the other surface, respectively. 1 is a SO-DIMM (Small Outline Dual Inl).
ine Memory Module), and two rectangular memory modules 10 are mounted on both sides of the SO-DIMM board 11. The above-described SO-DIMM board 11 corresponds to a printed wiring board.

【0020】図2はメモリモジュール10を拡大して示
した平面図、図3は図2のA−A′線断面図、図4はメ
モリモジュール10の斜視図である。図2に示すよう
に、メモリモジュール10は、半導体ウエハから個別に
切り出された4個のメモリ用ベアチップ1をモジュール
基板2上にワイヤボンディングによってCOB(Chip O
n Board )実装したものである。各メモリ用ベアチップ
1は、例えば4M×4ビット構成であって16Mビット
のメモリ容量を有するDRAMであり、いずれのメモリ
用ベアチップ1も長方形形状をしており、その長辺に平
行に中央一列に複数のパッド3が形成されている。
FIG. 2 is an enlarged plan view showing the memory module 10, FIG. 3 is a sectional view taken along line AA 'of FIG. 2, and FIG. 4 is a perspective view of the memory module 10. As shown in FIG. 2, the memory module 10 includes four memory bare chips 1 individually cut out from a semiconductor wafer on a module substrate 2 by COB (Chip O.C.).
n Board) Implemented. Each memory bare chip 1 is, for example, a DRAM having a 4M × 4 bit configuration and a memory capacity of 16M bits. Each of the memory bare chips 1 has a rectangular shape, and is arranged in a central row in parallel with its long side. A plurality of pads 3 are formed.

【0021】また、モジュール基板2は、SO−DIM
M基板に実装可能な外形寸法を有しており、モジュール
基板2の中央付近には長手方向に平行に一列に複数のパ
ッド4が形成されている。これらのパッド4を挟んで両
側に2個ずつメモリ用ベアチップ1が実装され、モジュ
ール基板2のパッド4の並ぶ方向と各メモリ用ベアチッ
プ1のパッド3の並ぶ方向はほぼ平行になっている。換
言すれば、互いの長辺が隣接するように配置された2つ
のメモリ用ベアチップ1の間に、それぞれのパッド3と
並行するように、モジュール基板2上に複数のパッド4
が形成されている。上述したパッド3がチップ用パッド
に、パッド4が基板用パッドにそれぞれ対応する。
The module substrate 2 is made of SO-DIM
It has an external dimension that can be mounted on an M substrate, and a plurality of pads 4 are formed in a row near the center of the module substrate 2 in parallel with the longitudinal direction. Two memory bare chips 1 are mounted on both sides of these pads 4, and the direction in which the pads 4 of the module substrate 2 are arranged and the direction in which the pads 3 of each memory bare chip 1 are arranged are almost parallel. In other words, a plurality of pads 4 are placed on the module substrate 2 between two memory bare chips 1 arranged such that their long sides are adjacent to each other so as to be in parallel with each pad 3.
Are formed. The pad 3 corresponds to a chip pad, and the pad 4 corresponds to a substrate pad.

【0022】モジュール基板2のパッド4とメモリ用ベ
アチップ1のパッド3は、それぞれボンディングワイヤ
5により接続されている。ボンディングワイヤ5は、図
2に示すように、パッド4の両側に位置するメモリ用ベ
アチップ1から交互に引き出され、各ボンディングワイ
ヤ5の形状や長さはほぼ同じになっている。このよう
に、互いの長辺が隣接するように配置された2個のメモ
リ用ベアチップ1の間にモジュール基板2上のパッド4
が集中しているため、それぞれのメモリ用ベアチップ1
の外側に別々にパッド4を形成する場合に比べて、パッ
ド4の全体が占める面積を小さくでき、メモリモジュー
ル10の小型化および高密度実装化が可能となる。
The pads 4 of the module substrate 2 and the pads 3 of the bare memory chip 1 are connected by bonding wires 5. As shown in FIG. 2, the bonding wires 5 are alternately pulled out from the memory bare chips 1 located on both sides of the pad 4, and each bonding wire 5 has substantially the same shape and length. As described above, the pad 4 on the module substrate 2 is located between the two memory bare chips 1 arranged so that their long sides are adjacent to each other.
Is concentrated, each memory bare chip 1
The area occupied by the entire pad 4 can be reduced as compared with the case where the pads 4 are separately formed outside the memory module 10, and the memory module 10 can be reduced in size and mounted with high density.

【0023】また、モジュール基板2のパッド4を挟ん
で隣り合うように配置された2個のメモリ用ベアチップ
1の向きをそろえた場合には、隣接する2個のメモリ用
ベアチップ1の同一種類のパッド3に対応するモジュー
ル基板2上の2個のパッド4を隣接位置に形成すること
ができる。したがって、これら2個のパッド4同士を接
続する場合には、モジュール基板2表面に配線パターン
を追加するだけでよく、モジュール基板2内部の異なる
配線層を用いて接続を行う必要がなく、モジュール基板
2の配線を簡略化できる。
When the two memory bare chips 1 arranged adjacent to each other with the pad 4 of the module substrate 2 interposed therebetween are aligned, the same type of two adjacent memory bare chips 1 is used. Two pads 4 on the module substrate 2 corresponding to the pads 3 can be formed at adjacent positions. Therefore, when these two pads 4 are connected to each other, it is only necessary to add a wiring pattern on the surface of the module substrate 2, and it is not necessary to perform connection using different wiring layers inside the module substrate 2, 2 can be simplified.

【0024】ボンディングワイヤ5を接続する際、ボン
ディングワイヤ5の高さが低すぎてその一部がメモリ用
ベアチップ1の端部に接触すると、短絡や熱による断線
等の原因となり、逆にボンディングワイヤ5とメモリ用
ベアチップ1との距離を離しすぎるとメモリモジュール
10の高さが高くなりすぎるため、ボンディングワイヤ
5がメモリ用ベアチップ1に接触しないぎりぎりの高さ
でワイヤボンディングを行うことが望ましい。
When the bonding wire 5 is connected, if the height of the bonding wire 5 is too low and a part of the bonding wire 5 comes into contact with the end of the memory bare chip 1, short-circuiting or disconnection due to heat may be caused. If the distance between the memory chip 5 and the bare memory chip 1 is too large, the height of the memory module 10 becomes too high. Therefore, it is desirable to perform wire bonding at a height as short as possible without the bonding wire 5 coming into contact with the bare memory chip 1.

【0025】ところで、本実施形態のメモリモジュール
10は、図3に示すようにワイヤボンディングされたメ
モリ用ベアチップ1の上面を樹脂6で覆って断線等の防
止を図っている。樹脂6を厚く形成すると、メモリモジ
ュール10の高さが高くなりすぎるため、モジュール基
板2の外周近傍に所定高さの封止枠7を取り付け、この
封止枠7の内部に樹脂6を流し込み、樹脂厚が封止枠7
の高さに一致するようにしている。これにより、メモリ
モジュール10の高さのばらつきを確実に抑えることが
できる。
In the memory module 10 of the present embodiment, as shown in FIG. 3, the upper surface of the wire-bonded memory bare chip 1 is covered with a resin 6 to prevent disconnection or the like. If the resin 6 is formed thick, the height of the memory module 10 becomes too high. Therefore, a sealing frame 7 having a predetermined height is attached near the outer periphery of the module substrate 2, and the resin 6 is poured into the sealing frame 7. Resin thickness is sealing frame 7
To match the height. Thereby, variation in the height of the memory module 10 can be reliably suppressed.

【0026】また、上述したメモリモジュール10は、
いわゆるLCC(Leadless Chip Carrier )方式によっ
てSO−DIMM基板11に実装される。図4に示すよ
うに、モジュール基板2の外側面には、凹部形状に形成
された外部接続端子8が設けられ、これらの外部接続端
子8はモジュール基板2表面あるいは内側に形成された
配線パターン9を介してモジュール基板2の表面のパッ
ド4と電気的に接続されている。また、これらの外部接
続端子8の凹部に半田を流し込むことにより、SO−D
IMM基板等との間の電気的な接続と同時に、機械的な
固定も行っている。
The above-mentioned memory module 10
It is mounted on the SO-DIMM board 11 by a so-called LCC (Leadless Chip Carrier) method. As shown in FIG. 4, external connection terminals 8 formed in a concave shape are provided on the outer surface of the module substrate 2, and these external connection terminals 8 are connected to wiring patterns 9 formed on the surface of or inside the module substrate 2. Is electrically connected to the pads 4 on the surface of the module substrate 2 via Also, by pouring solder into the recesses of these external connection terminals 8, SO-D
At the same time as the electrical connection with the IMM substrate and the like, the mechanical fixing is performed.

【0027】このように、メモリモジュール10は、外
側面の外部接続端子8に半田を流し込むことでSO−D
IMM基板11への実装が行えるため、実装面積がほぼ
モジュールサイズに一致しており、しかも各モジュール
基板2にはパッケージングされていないメモリ用ベアチ
ップ1が4個実装されている。したがって、メモリモジ
ュール10を実装するSO−DIMM基板11からみる
と、最新のメモリ実装技術の一つであるCSP(Chip S
ize Package) 方式よりも一歩進んだCSM(Chip Siz
e Module)方式による実装が可能となる。
As described above, the memory module 10 has a SO-D by flowing the solder into the external connection terminals 8 on the outer surface.
Since mounting on the IMM board 11 can be performed, the mounting area is substantially equal to the module size, and four unpackaged memory bare chips 1 are mounted on each module board 2. Therefore, from the viewpoint of the SO-DIMM board 11 on which the memory module 10 is mounted, the CSP (Chip S
ize Package) CSM (Chip Siz)
e Module) mounting is possible.

【0028】また、メモリモジュール10は、半導体ウ
エハ上に形成されたメモリ用ベアチップ1を切り出し
て、パッケージングすることなくモジュール基板2に実
装するため、小さな面積のモジュール基板2に複数個
(例えば4個)のメモリ用ベアチップ1を無理なく実装
できる。
The memory module 10 has a small area (for example, 4 chips) on the module substrate 2 in order to cut out the memory bare chip 1 formed on the semiconductor wafer and mount it on the module substrate 2 without packaging. ) Memory bare chips 1 can be mounted without difficulty.

【0029】また、外部接続端子8の数は、従来のメモ
リICの端子数とそれほど変わらないため、通常のメモ
リICを個別にSO−DIMM基板11に実装する場合
に比べて、はるかに配線数を少なくでき、製造工数と製
造コストを大幅に低減できる。例えば、図2のようにモ
ジュール基板2上に4M×4ビット構成の16Mビット
のメモリ用ベアチップ1を4個実装して4M×16ビッ
ト構成のメモリモジュール10を実現する場合を考える
と、アドレス端子は4個のメモリ用ベアチップ1で共通
に使用でき、ライトイネーブル端子やチップイネーブル
端子などの制御端子も大半は共通に使用できる。一例と
して、CAS端子を除いたライトイネーブル端子、アウ
トプットイネーブル端子およびRAS端子をすべてのメ
モリ用ベアチップ1で共用することが可能なため、メモ
リモジュール10の外部接続端子8の数は各メモリ用ベ
アチップ1のパッド3の総数とあまり変わらなくなる。
Further, since the number of external connection terminals 8 is not so different from the number of terminals of the conventional memory IC, the number of wirings is far greater than when a normal memory IC is individually mounted on the SO-DIMM board 11. And the number of manufacturing steps and manufacturing costs can be greatly reduced. For example, assuming that a memory module 10 having a 4M × 16 bit configuration is realized by mounting four 4M × 4 bit 16M bit memory bare chips 1 on a module substrate 2 as shown in FIG. Can be commonly used by the four memory bare chips 1, and most of the control terminals such as the write enable terminal and the chip enable terminal can be commonly used. As an example, since the write enable terminal, output enable terminal, and RAS terminal except for the CAS terminal can be shared by all the memory bare chips 1, the number of external connection terminals 8 of the memory module 10 is It does not differ much from the total number of pads 3 of one.

【0030】図1(a)に示すように、SO−DIMM
基板11の一方の面には、メモリモジュール10が2個
実装されており、これらのメモリモジュール10の間に
は、ノイズ除去用のコンデンサ(一般にはバイパスコン
デンサと呼ばれ、以下パスコンと称する)12とコント
ローラ13が実装されている。パスコン12は2個のメ
モリ用ベアチップ1に対して1個の割合で設けられ、コ
ントローラ13は各メモリ用ベアチップの動作チェック
を行う。これらのパスコン12とコントローラ13はS
MT(Surface Mount Technology)方式により実装され
る。
As shown in FIG. 1A, the SO-DIMM
On one surface of the substrate 11, two memory modules 10 are mounted. Between these memory modules 10, a capacitor (generally called a bypass capacitor, hereinafter referred to as a bypass capacitor) 12 for removing noise is provided. And the controller 13 are mounted. One bypass capacitor 12 is provided for two memory bare chips 1, and the controller 13 checks the operation of each memory bare chip. These decaps 12 and controller 13 are S
It is mounted by MT (Surface Mount Technology) method.

【0031】また、図1(b)に示すように、SO−D
IMM基板11の他方の面には、メモリモジュール10
が2個実装されており、これらのメモリモジュール10
の間には2個のメモリ用ベアチップ1に対して1個の割
合でパスコン12が実装されている。
As shown in FIG. 1B, the SO-D
On the other surface of the IMM substrate 11, the memory module 10
Are mounted, and these memory modules 10
Between them, a bypass capacitor 12 is mounted at a ratio of one to two memory bare chips 1.

【0032】図5は、図1に示したメモリシステムの回
路図である。この回路図では、簡略化のためにパスコン
12とコントローラ13が省略されている。同図におい
て、一点鎖線で囲まれた部分がそれぞれメモリモジュー
ル10に対応しており、各メモリモジュール10の内部
に含まれるメモリ用ベアチップ1はそれぞれ、アドレス
端子A0〜10、データ入出力端子I/O0〜3、ライ
トイネーブル端子WE、アウトプットイネーブル端子O
E、CAS端子およびRAS端子を備えている。
FIG. 5 is a circuit diagram of the memory system shown in FIG. In this circuit diagram, the bypass capacitor 12 and the controller 13 are omitted for simplification. In the figure, portions surrounded by alternate long and short dash lines respectively correspond to the memory modules 10, and the memory bare chips 1 included in the respective memory modules 10 have address terminals A0 to A10 and data input / output terminals I / O, respectively. O0-3, write enable terminal WE, output enable terminal O
E, a CAS terminal and a RAS terminal are provided.

【0033】また、このメモリシステムには、外部接続
端子8として、アドレス端子AD0〜10、データ入出
力端子D0〜63、ライトイネーブル端子WTE、アウ
トプットイネーブル端子OTE、リードイネーブル端子
RE、チップイネーブル端子CE0〜7が設けられてい
る。
In this memory system, as external connection terminals 8, address terminals AD0 to AD10, data input / output terminals D0 to 63, a write enable terminal WTE, an output enable terminal OTE, a read enable terminal RE, and a chip enable terminal CE0 to CE7 are provided.

【0034】各メモリ用ベアチップ1のアドレス端子A
0〜10は、外部接続端子8のアドレス端子AD0〜1
0とそれぞれ接続されている。同様に、各メモリ用ベア
チップ1のライトイネーブル端子WE、アウトプットイ
ネーブル端子OEおよびRAS端子は、外部接続端子8
のライトイネーブル端子WTE、アウトプットイネーブ
ル端子OTEおよびリードイネーブル端子REとそれぞ
れ接続されている。一方、外部接続端子8のデータ入出
力端子D0〜63はメモリ用ベアチップ1の対応するデ
ータ入出力端子I/O0〜3とそれぞれ接続されてい
る。また、外部接続端子8のチップイネーブル端子CE
0〜7は、2個のメモリ用ベアチップ1に対して1個の
割合で設けられ、それぞれ各メモリ用ベアチップ1のC
AS端子と接続されている。
Address terminal A of each memory bare chip 1
0 to 10 are address terminals AD0 to AD1 of the external connection terminal 8.
0. Similarly, the write enable terminal WE, the output enable terminal OE, and the RAS terminal of each memory bare chip 1 are connected to the external connection terminal 8.
, A write enable terminal WTE, an output enable terminal OTE, and a read enable terminal RE. On the other hand, the data input / output terminals D0 to D63 of the external connection terminal 8 are connected to the corresponding data input / output terminals I / O0 to I / O3 of the memory bare chip 1, respectively. Also, the chip enable terminal CE of the external connection terminal 8
0 to 7 are provided at a ratio of one to two memory bare chips 1, and each memory bare chip 1 has a C
Connected to AS terminal.

【0035】このように、各メモリ用ベアチップ1が有
する各種の制御端子のうちCAS端子を除いたライトイ
ネーブル端子WE、アウトプットイネーブル端子OE、
RAS端子やアドレス端子A0〜10は、すべてのメモ
リ用ベアチップ1で共通に接続されている。したがっ
て、これらの端子については、メモリモジュール10内
で各メモリ用ベアチップ1同士を接続するとともに1つ
の外部接続端子8を対応させるだけでよいため、メモリ
モジュール10の外部接続端子数を極力減らすことがで
きる。このため、メモリ用ベアチップ1を個別にSO−
DIMM基板11に実装する場合に比べて、接続すべき
端子数を大幅に減らすことができ、製造工数の低減が図
れる。また、SO−DIMM基板11上のパターン数も
少なくなり、高価な多層基板を用いる必要もなくなるた
め、部品コストを低減することができる。
As described above, the write enable terminal WE, the output enable terminal OE, excluding the CAS terminal among the various control terminals of each memory bare chip 1
The RAS terminal and the address terminals A0 to A10 are commonly connected to all the memory bare chips 1. Therefore, as for these terminals, it is only necessary to connect each bare chip for memory 1 in the memory module 10 and make one external connection terminal 8 correspond, so that the number of external connection terminals of the memory module 10 can be reduced as much as possible. it can. Therefore, the memory bare chips 1 are individually
The number of terminals to be connected can be greatly reduced as compared with the case where the terminal is mounted on the DIMM board 11, and the number of manufacturing steps can be reduced. Also, the number of patterns on the SO-DIMM substrate 11 is reduced, and it is not necessary to use an expensive multilayer substrate, so that the cost of parts can be reduced.

【0036】また、SO−DIMM基板11に実装され
たメモリ用ベアチップ1の一部が不良の場合には、メモ
リモジュール10を単位としてリペア作業を行えばよ
く、従来のようにメモリシステム全体を不良として扱わ
なくて済むため、製品の歩留まりが向上する。さらに、
チップ単位で交換するよりもモジュール単位で交換した
方が作業効率がよく、かつ故障発生率も低くなる。
If a part of the memory bare chip 1 mounted on the SO-DIMM board 11 is defective, the repair operation may be performed for each memory module 10 and the entire memory system may be defective as in the prior art. Since it is not necessary to treat the product, the yield of the product is improved. further,
Replacement in units of modules has higher work efficiency and lower failure rate than replacement in units of chips.

【0037】図1および図5に示したSO−DIMM基
板11は、片側8個、両面で計16個のメモリICを実
装したことと同じとなり、例えば、メモリモジュール1
0に含まれる各メモリ用ベアチップ1を4M×4ビット
構成とすると、各メモリモジュール10のメモリ容量は
8Mバイトであって、SO−DIMM全体のメモリ容量
は32Mバイトになる。
The SO-DIMM board 11 shown in FIGS. 1 and 5 is the same as mounting 16 memory ICs on one side and 16 on both sides.
Assuming that each memory bare chip 1 included in 0 has a 4M × 4 bit configuration, the memory capacity of each memory module 10 is 8 Mbytes, and the memory capacity of the entire SO-DIMM is 32 Mbytes.

【0038】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施
が可能である。例えば、上述した実施形態では、半導体
ウエハ上に形成されたメモリ用ベアチップ1を1個単位
で切り出す例を説明したが、切り出す単位は2個以上で
あってもよい。パッド3が2列以上に並ぶように複数個
単位で切り出してメモリモジュール10のモジュール基
板2に実装すれば、さらに実装面積を小さくでき、メモ
リモジュール10の外形寸法をさらに小さくできる。ま
た、複数個組にして切り出すと、モジュール基板2に実
装する際の位置決めが楽になり、半導体ウエハの切り出
しの手間も省ける。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made within the scope of the present invention. For example, in the above-described embodiment, an example has been described in which the memory bare chip 1 formed on the semiconductor wafer is cut out one by one; however, the cutout unit may be two or more. If a plurality of pads 3 are cut out in units of two or more rows and mounted on the module substrate 2 of the memory module 10, the mounting area can be further reduced, and the outer dimensions of the memory module 10 can be further reduced. Also, if a plurality of sets are cut out, positioning when mounting the module substrate 2 becomes easy, and the trouble of cutting out the semiconductor wafer can be saved.

【0039】図6(a)、図6(b)はいずれも2個の
メモリ用ベアチップ1を単位として半導体ウエハから切
り出す例を示しており、図6(a)は長方形形状のメモ
リ用ベアチップ1の長辺を介して隣接するように配置さ
れている2個のメモリ用ベアチップ1を切り出しの単位
とする例を、図6(b)はメモリ用ベアチップ1の短辺
を介して隣接するように配置されている2個のメモリ用
ベアチップ1を切り出しの単位とする例を示している。
図6(b)のような切り出しを行った場合は図2と同様
にモジュール基板2の中央付近にパッド4を形成すれば
よいが、図6(a)のような切り出しを行った場合はモ
ジュール基板2の外側にパッド4を形成する必要があ
る。
FIGS. 6 (a) and 6 (b) show an example in which two memory bare chips 1 are cut out from a semiconductor wafer as a unit, and FIG. 6 (a) shows a rectangular memory bare chip 1. FIG. 6B shows an example in which two memory bare chips 1 arranged so as to be adjacent to each other via the long side are used as cutout units, and FIG. An example is shown in which two arranged memory bare chips 1 are used as cutout units.
When the cutout as shown in FIG. 6B is performed, the pad 4 may be formed near the center of the module substrate 2 as in FIG. 2, but when the cutout as shown in FIG. The pads 4 need to be formed outside the substrate 2.

【0040】また、図2では、一列に並んだ複数のパッ
ド3を有するメモリ用ベアチップ1を実装する例を説明
したが、複数列に並んだ複数のパッド3を有するメモリ
用ベアチップを用いてメモリモジュールを構成してもよ
い。
FIG. 2 shows an example in which the memory bare chip 1 having a plurality of pads 3 arranged in a row is mounted. However, a memory using a memory bare chip having a plurality of pads 3 arranged in a plurality of rows is used. A module may be configured.

【0041】図7は、中央近傍に二列に並んだ複数のパ
ッド3を有するメモリ用ベアチップ1aを用いて構成さ
れたメモリモジュール10aの平面図である。同図に示
すように、この場合には、図2に示したメモリモジュー
ル10とは異なり、モジュール基板2aの外周側にもパ
ッド4を形成することが望ましい。また、モジュール基
板2aの中央付近に形成されたパッド4に対しては、図
2と同様に両側のメモリ用ベアチップから交互にボンデ
ィングワイヤ5を引き出すことにより高密度実装が可能
となる。また、各メモリ用ベアチップ1aの中央近傍に
二列に複数のパッド3を形成するのではなく、図8に示
すように、各メモリ用ベアチップの外縁付近に二列にパ
ッド3を形成するようにしてもよい。
FIG. 7 is a plan view of a memory module 10a formed by using a memory bare chip 1a having a plurality of pads 3 arranged in two rows near the center. As shown in the figure, in this case, unlike the memory module 10 shown in FIG. 2, it is desirable to form the pads 4 also on the outer peripheral side of the module substrate 2a. As for the pads 4 formed near the center of the module substrate 2a, the bonding wires 5 are alternately pulled out from the memory bare chips on both sides as in FIG. Instead of forming a plurality of pads 3 in two rows near the center of each memory bare chip 1a, as shown in FIG. 8, pads 3 are formed in two rows near the outer edge of each memory bare chip. You may.

【0042】また、図7および図8では、長方形形状を
有するメモリ用ベアチップの長辺に平行に二列に複数の
パッド3を形成したが、図9に示すように、短辺に沿っ
た外縁近傍に二列に複数のパッド3を形成するようにし
てもよい。また、図10に示すように、各メモリ用ベア
チップの短辺に平行となるように中央近傍の二列に複数
のパッド3を形成するようにしてもよい。この場合に
は、複数のパッド3が並ぶ方向と垂直方向にボンディン
グワイヤ5を引き出さずに、図10に示すようにパッド
3の近傍に向けてボンディングワイヤ5を引き出すこと
が望ましい。あるいは、メモリ用ベアチップの長辺の長
さによっては、図11に示すように、複数のパッド3が
並ぶ方向と垂直方向にボンディングワイヤ5を引き出す
ようにしてもよい。
In FIGS. 7 and 8, a plurality of pads 3 are formed in two rows in parallel with the long side of the memory bare chip having a rectangular shape. However, as shown in FIG. A plurality of pads 3 may be formed in two rows in the vicinity. Further, as shown in FIG. 10, a plurality of pads 3 may be formed in two rows near the center so as to be parallel to the short side of each memory bare chip. In this case, it is desirable that the bonding wire 5 is drawn out toward the vicinity of the pad 3 as shown in FIG. Alternatively, depending on the length of the long side of the memory bare chip, as shown in FIG. 11, the bonding wire 5 may be drawn out in a direction perpendicular to the direction in which the plurality of pads 3 are arranged.

【0043】また、図2では、モジュール基板2のパッ
ド4の両側に実装されたメモリ用ベアチップ1から交互
にボンディングワイヤ5を引き出しているが、図12に
示すメモリモジュール10bのように、複数本を単位と
して交互にボンディングワイヤ5を引き出してもよい。
このようなワイヤボンディングを行えば、不良になった
メモリ用ベアチップ1の交換作業が容易になる。
In FIG. 2, the bonding wires 5 are alternately drawn from the memory bare chips 1 mounted on both sides of the pads 4 of the module substrate 2. However, as shown in FIG. The bonding wire 5 may be drawn out alternately in units of.
By performing such wire bonding, the replacement operation of the defective memory bare chip 1 becomes easy.

【0044】また、図2では、モジュール基板2上にパ
ッド4を一列に形成した例を説明したが、パッド4を二
列以上に形成してもよい。図13はモジュール基板2上
に二列にパッド4を形成し(以下、パッド列と呼ぶ)、
これらのパッド列を挟んで両側にメモリ用ベアチップ1
を実装した例を示している。各メモリ用ベアチップ1の
各パッド3は、近接した距離にある列のパッド4を飛び
越えて、距離的に離れた列のパッド4とそれぞれボンデ
ィングワイヤ5で接続されている。このようなワイヤボ
ンディングにより、ボンディングワイヤ5の高さをより
低く抑えることができ、ボンディング作業もやりやすく
なる。また、ボンディングワイヤ5が交差している分だ
け隣接するメモリ用ベアチップ1同士を接近させて配置
することができるため、メモリ用ベアチップ1の高密度
実装が可能となる。
FIG. 2 shows an example in which the pads 4 are formed in one line on the module substrate 2, but the pads 4 may be formed in two or more lines. FIG. 13 shows two rows of pads 4 formed on the module substrate 2 (hereinafter referred to as pad rows).
The memory bare chips 1 are placed on both sides of these pad rows.
The example which implemented is shown. Each pad 3 of each memory bare chip 1 jumps over a pad 4 in a row at a close distance and is connected to a pad 4 in a row distant from each other by a bonding wire 5. By such wire bonding, the height of the bonding wire 5 can be suppressed lower, and the bonding operation becomes easier. In addition, since the memory bare chips 1 adjacent to each other can be arranged close to each other by the amount of the intersection of the bonding wires 5, high density mounting of the memory bare chips 1 is possible.

【0045】また、図14はモジュール基板上のパッド
4を部分的に二列に形成するとともにそれ以外のパッド
4を両側のメモリ用ベアチップで共用したメモリモジュ
ールの構成を示す図である。同図に示すように、2個の
メモリ用ベアチップ1で挟まれた領域に一列あるいは二
列に並ぶように複数のパッド4が形成されており、一列
に並んだパッド4には両側のメモリ用ベアチップ1から
延びたボンディングワイヤ5が共通に接続されている。
アドレス端子や各種の制御端子のように各メモリ用ベア
チップ1で共通に接続される端子については、モジュー
ル基板上のパッド4に2本のボンディングワイヤ5を接
続することでパッド4の共用化を図っており、パッド4
の総数を全メモリ用ベアチップ1のパッド3の総数より
も少なくすることができる。また、一部のパッド4に2
本のボンディングワイヤ5を接続することにより、この
共通のパッド4を介して2本のボンディングワイヤ5同
士の接続も同時に行うことができるため、モジュール基
板内の配線量を少なくすることができる。例えば、多層
基板を用いてモジュール基板を構成する場合に比べて、
モジュール基板の層数を少なくでき、メモリモジュール
のコストを低減することができる。
FIG. 14 is a diagram showing a configuration of a memory module in which the pads 4 on the module substrate are partially formed in two rows and the other pads 4 are shared by the memory bare chips on both sides. As shown in the figure, a plurality of pads 4 are formed in a row or two rows in a region sandwiched between two memory bare chips 1, and the pads 4 arranged in a row have memory pads on both sides. Bonding wires 5 extending from the bare chip 1 are commonly connected.
For terminals commonly connected to each memory bare chip 1 such as address terminals and various control terminals, two bonding wires 5 are connected to the pads 4 on the module substrate to share the pads 4. And pad 4
Can be made smaller than the total number of pads 3 of all memory bare chips 1. Also, some pads 4 have 2
By connecting the two bonding wires 5, the connection between the two bonding wires 5 can be performed at the same time through the common pad 4, so that the wiring amount in the module substrate can be reduced. For example, compared to the case where a module substrate is configured using a multilayer substrate,
The number of layers of the module substrate can be reduced, and the cost of the memory module can be reduced.

【0046】また、図2では、SO−DIMM基板11
の両面にそれぞれ2個のメモリモジュール10を実装す
る例を説明したが、SO−DIMM基板11の片面に実
装されるメモリモジュール10の数は2個に限定されな
い。
In FIG. 2, the SO-DIMM substrate 11
Although two memory modules 10 are mounted on both sides of the SO-DIMM board 11, the number of memory modules 10 mounted on one side of the SO-DIMM board 11 is not limited to two.

【0047】また、図2では、4個のメモリ用ベアチッ
プ1を含んでメモリモジュール10を構成する例を説明
したが、メモリモジュール10に実装されるメモリ用ベ
アチップ1の数は4個に限定されるものではなく、2個
以上であれば特に制限はない。ただし、あまりに多くの
メモリ用ベアチップ1を実装すると、メモリモジュール
10の不良率が高くなるおそれがある。したがって、実
装するメモリ用ベアチップ1のビット数やメモリ容量を
考慮に入れ、また何ビット構成のメモリモジュール10
を製造するかによって実装するメモリ用ベアチップ1の
数を決定するのが望ましい。通常のコンピュータ機器
は、メモリ容量を4の倍数で管理することが多いため、
モジュール基板に実装するメモリ用ベアチップ1の数も
偶数個が望ましい。
FIG. 2 illustrates an example in which the memory module 10 is configured to include the four memory bare chips 1. However, the number of the memory bare chips 1 mounted on the memory module 10 is limited to four. There is no particular limitation as long as it is two or more. However, if too many memory bare chips 1 are mounted, the failure rate of the memory module 10 may increase. Therefore, taking into consideration the number of bits and the memory capacity of the memory bare chip 1 to be mounted, the memory module
It is desirable to determine the number of memory bare chips 1 to be mounted depending on whether or not the chip is manufactured. Normal computer equipment often manages memory capacity in multiples of four,
It is desirable that the number of memory bare chips 1 mounted on the module substrate be an even number.

【0048】図15は、2個のメモリ用ベアチップを用
いて構成したメモリモジュールの構成を示す図である。
例えば、図2に示すモジュール基板2に64Mビットの
容量を有するメモリ用ベアチップを実装しようとした場
合には4個を実装することは不可能であるため、あるい
はメモリモジュール全体の容量がそれ程大きくなくても
よい場合には、図15に示すように2個のメモリ用ベア
チップ1を用いてメモリモジュールを構成すればよい。
また、図16に示すように、4個のメモリ用ベアチップ
を同一方向に一列に並べて配置してメモリモジュールを
構成してもよい。
FIG. 15 is a diagram showing a configuration of a memory module configured by using two memory bare chips.
For example, if a memory bare chip having a capacity of 64 Mbits is to be mounted on the module substrate 2 shown in FIG. 2, it is impossible to mount four chips, or the capacity of the entire memory module is not so large. In this case, a memory module may be configured using two bare chips 1 for a memory as shown in FIG.
As shown in FIG. 16, a memory module may be configured by arranging four memory bare chips in a line in the same direction.

【0049】また、上述した実施形態では、完成したメ
モリモジュール10をLCC方式によってSO−DIM
M等の他の基板に実装する例を説明したが、BGA(Ba
ll Grid Array )方式による実装を行ってもよい。図1
7は、BGA方式の概略を説明する図である。同図に示
すように、BGA方式の場合、メモリモジュール10c
のチップ実装面に外部接続用の複数個のパッド21を形
成し、これらパッド21にバンプ(突起)22を取り付
ける。そして、メモリモジュール10cを裏返しにして
メモリモジュール10cのパッド21をバンプ22を介
してSO−DIMM基板等23のパッド24と接合す
る。このように、BGA方式の場合、バンプ22を挟ん
で接合するため、メモリモジュール10cの高さがLC
C方式よりも高くなるという欠点はあるが、メモリモジ
ュール10cの外側面に外部接続端子8を形成する必要
がないという長所を有し、またボンディングワイヤ5が
不要で高密度実装が可能な点ではLCC方式と共通す
る。
In the above-described embodiment, the completed memory module 10 is connected to the SO-DIM by the LCC method.
Although the example of mounting on another substrate such as M has been described, the BGA (Ba
ll Grid Array) method. FIG.
FIG. 7 is a diagram for explaining the outline of the BGA method. As shown in the figure, in the case of the BGA system, the memory module 10c
A plurality of pads 21 for external connection are formed on the chip mounting surface, and bumps (projections) 22 are attached to these pads 21. Then, the memory module 10c is turned upside down, and the pad 21 of the memory module 10c is bonded to the pad 24 of the SO-DIMM substrate or the like 23 via the bump 22. As described above, in the case of the BGA method, the height of the memory module 10c is set to LC
Although it has the disadvantage of being higher than the C method, it has the advantage that there is no need to form the external connection terminals 8 on the outer surface of the memory module 10c, and the point that bonding wires 5 are unnecessary and high density mounting is possible. Common to the LCC method.

【0050】また、上述した実施形態では、モジュール
基板2に各種容量(16Mビットや64Mビット)のD
RAMを実装する例を説明したが、シンクロナスDRA
MやSRAMあるいはフラッシュROM等の他の種類の
メモリ用ベアチップ1を実装することも可能である。
Further, in the above-described embodiment, the D-substrate having various capacities (16 Mbits or 64 Mbits)
Although the example of mounting the RAM has been described, the synchronous DRA
It is also possible to mount another type of memory bare chip 1 such as M, SRAM or flash ROM.

【0051】また、図2ではモジュール基板2の外周近
傍に封止枠7を設けて樹脂6を流し込む例を説明した
が、モジュール基板2のチップ実装面を樹脂6で固める
方法は図2の例に限定されず、例えば図18(a)に示
すように射出成形によってトランスファーモールドを形
成する方法や、図18(b)に示すように封止枠7や金
型等を用いずに単に樹脂6をチップ実装箇所に流し込む
方法などがある。図18(a)の方法は金型が必要とな
るが成形時間を短縮できることから大量生産に向き、図
18(b)の方法は樹脂6の高さを一定に維持するのが
難しいもののコスト的に有利である。
FIG. 2 shows an example in which the sealing frame 7 is provided in the vicinity of the outer periphery of the module substrate 2 and the resin 6 is poured. However, the method of fixing the chip mounting surface of the module substrate 2 with the resin 6 is described in FIG. For example, as shown in FIG. 18A, a method of forming a transfer mold by injection molding, or as shown in FIG. 18B, simply using a resin 6 without using a sealing frame 7, a mold, or the like. Into the chip mounting location. The method of FIG. 18 (a) requires a mold, but is suitable for mass production because the molding time can be shortened. The method of FIG. 18 (b) is difficult to keep the height of the resin 6 constant, but is cost effective. Is advantageous.

【0052】また、本実施形態のメモリモジュール10
は、図19に示すように、メモリ用ベアチップ1の端部
であってボンディングワイヤ5を引き出す側の辺に沿っ
て、絶縁性突起30を形成するようにしてもよい。この
絶縁性突起30を形成した後に、ボンディングワイヤ5
の引き出しを行うことにより、確実にボンディングワイ
ヤ5とメモリ用ベアチップ1との絶縁状態を確保するこ
とができる。
The memory module 10 of the present embodiment
As shown in FIG. 19, an insulating projection 30 may be formed along the side of the end of the memory bare chip 1 on the side from which the bonding wire 5 is drawn. After forming the insulating protrusions 30, the bonding wire 5
By pulling out, the insulating state between the bonding wire 5 and the bare chip for memory 1 can be reliably ensured.

【0053】また、上述した実施形態では、メモリ用ベ
アチップをモジュール基板にワイヤボンディングによっ
てCOB実装する例を説明したが、フリップチップ実装
を行ってもよい。この場合には、さらに高密度実装が可
能となるため、メモリモジュール10の外形寸法をさら
に小さくすることができる。図20は、メモリ用ベアチ
ップをフリップチップ実装する場合のモジュール基板を
示す図であり、図2に示したメモリ用ベアチップ1をフ
リップチップ実装する場合のモジュール基板が示されて
いる。同図に示すように、図2に示したメモリ用ベアチ
ップ1のパッド3と同間隔でモジュール基板上にパッド
4′を形成し、これらのパッド4′とメモリ用ベアチッ
プ1のパッド3とが向かい合うように配置することによ
り、フリップチップ実装を行うことができる。
Further, in the above-described embodiment, an example has been described in which the memory bare chip is COB-mounted on the module substrate by wire bonding, but flip-chip mounting may be performed. In this case, higher-density mounting becomes possible, so that the outer dimensions of the memory module 10 can be further reduced. FIG. 20 is a diagram showing a module substrate when the memory bare chip 1 is flip-chip mounted, and shows a module substrate when the memory bare chip 1 shown in FIG. 2 is flip-chip mounted. As shown in FIG. 2, pads 4 'are formed on the module substrate at the same intervals as the pads 3 of the bare memory chip 1 shown in FIG. 2, and these pads 4' and the pads 3 of the bare memory chip 1 face each other. With this arrangement, flip-chip mounting can be performed.

【0054】また、図7、図8、図9に示すメモリ用ベ
アチップは、隔たった位置に二列にパッド3が形成され
ているためフリップチップ実装に適している。一方、図
10に示すメモリチップは、中央の二列にパッド3が集
中しているため、フリップチップ実装した場合にはその
取り付け状態が不安定になるおそれがある。したがっ
て、図21(a)あるいは(b)に示すように、メモリ
用ベアチップの短辺に近い端部に数個のパッドを形成す
ることが望ましい。
Also, the memory bare chips shown in FIGS. 7, 8 and 9 are suitable for flip chip mounting because pads 3 are formed in two rows at separated positions. On the other hand, in the memory chip shown in FIG. 10, since the pads 3 are concentrated in two rows at the center, the mounting state may be unstable when flip-chip mounted. Therefore, as shown in FIG. 21 (a) or (b), it is desirable to form several pads at the end near the short side of the memory bare chip.

【0055】また、COB実装の代わりに、ガラス基板
上にチップを実装するいわゆるCOG(Chip On Glass
)実装やCOF(Chip On Film)実装を行ってもよ
く、モジュール基板2の材質は適宜変更することができ
る。
Instead of COB mounting, a so-called COG (Chip On Glass) for mounting a chip on a glass substrate is used.
3.) Mounting or COF (Chip On Film) mounting may be performed, and the material of the module substrate 2 can be changed as appropriate.

【0056】上述した実施形態では、メモリモジュール
10をSO−DIMM基板11に実装する例を説明した
が、メモリモジュール10を実装する基板はSO−DI
MM基板11に限定されず、SIMM基板などの他のメ
モリ基板、あるいはマザーボードやドーターボードなど
でもよい。
In the above-described embodiment, an example in which the memory module 10 is mounted on the SO-DIMM board 11 has been described.
The present invention is not limited to the MM board 11, but may be another memory board such as a SIMM board, or a motherboard or a daughter board.

【0057】[0057]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、複数のメモリ用ベアチップ1が実装されたモジュ
ール基板2をSO−DIMM基板1上に複数実装してお
り、メモリ用ベアチップ1を直接SO−DIMM基板1
に実装する場合に比べて、接続端子数を大幅に減らすこ
とができ、実装作業が容易となる。また、各モジュール
基板2上には、半導体ウエハから切り出された複数のメ
モリ用ベアチップ1がベアの状態で実装されるため、高
密度実装が可能であり、メモリシステムのメモリ容量を
大幅に増やすことができる。また、一部のメモリ用ベア
チップ1が不良になった場合には、モジュール基板2を
単位としてリペア作業を行えるため、メモリシステム全
体を不良として扱わなくて済み、製品の歩留まりが向上
する。
As described above in detail, according to the present invention, a plurality of module boards 2 on which a plurality of memory bare chips 1 are mounted are mounted on the SO-DIMM board 1, and the memory bare chips 1 Directly to SO-DIMM board 1
The number of connection terminals can be greatly reduced as compared with the case of mounting on a semiconductor device, and the mounting operation becomes easier. Further, since a plurality of memory bare chips 1 cut from a semiconductor wafer are mounted on each module substrate 2 in a bare state, high-density mounting is possible, and the memory capacity of the memory system can be greatly increased. Can be. Further, when a part of the memory bare chip 1 becomes defective, the repair work can be performed in units of the module substrate 2, so that the entire memory system does not have to be treated as defective, and the yield of products is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施形態のメモリシステムの概略を示す平面
図であり、同図(a)は一方の面の平面図、同図(b)
は他方の面の平面図である。
FIG. 1 is a plan view schematically showing a memory system according to an embodiment; FIG. 1A is a plan view of one surface, and FIG.
Is a plan view of the other surface.

【図2】メモリモジュールを拡大して示した平面図であ
る。
FIG. 2 is an enlarged plan view showing a memory module.

【図3】図2のA−A′線断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along line AA ′ of FIG. 2;

【図4】図2に示したメモリモジュールの一部を示す斜
視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a part of the memory module shown in FIG. 2;

【図5】図1に示したメモリシステムの回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram of the memory system shown in FIG. 1;

【図6】2個以上を単位として半導体ウエハからメモリ
用ベアチップを切り出す例を示す図であり、同図(a)
は長辺を境に隣接配置された2個のメモリ用ベアチップ
を切り出しの単位とする例を示す図、同図(b)は短辺
を境に隣接配置された2個のメモリ用ベアチップを切り
出しの単位とする例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example in which a memory bare chip is cut out from a semiconductor wafer in units of two or more, and FIG.
FIG. 3B is a diagram showing an example in which two memory bare chips arranged adjacent to each other on the long side are used as a cutout unit, and FIG. 8B shows two memory bare chips arranged adjacently on the short side. FIG. 6 is a diagram showing an example in which a unit is used.

【図7】長辺に平行に二列に並んだパッドを有するメモ
リ用ベアチップを用いて構成したメモリモジュールの平
面図である。
FIG. 7 is a plan view of a memory module configured using a memory bare chip having pads arranged in two rows parallel to a long side.

【図8】長辺に平行に二列に並んだパッドを有する他の
メモリ用ベアチップを用いて構成したメモリモジュール
の平面図である。
FIG. 8 is a plan view of a memory module formed by using another memory bare chip having pads arranged in two rows parallel to a long side.

【図9】短辺に平行に二列に並んだパッドを有するメモ
リ用ベアチップを用いて構成したメモリモジュールの平
面図である。
FIG. 9 is a plan view of a memory module configured using a memory bare chip having pads arranged in two rows parallel to a short side.

【図10】短辺に平行に二列に並んだパッドを有する他
のメモリ用ベアチップを用いて構成したメモリモジュー
ルの平面図である。
FIG. 10 is a plan view of a memory module formed by using another memory bare chip having pads arranged in two rows in parallel with a short side.

【図11】短辺に平行に二列に並んだパッドを有する他
のメモリ用ベアチップを用いて構成したメモリモジュー
ルの平面図である。
FIG. 11 is a plan view of a memory module formed by using another memory bare chip having pads arranged in two rows in parallel with a short side.

【図12】複数本を単位として交互にボンディングワイ
ヤの引き出しを行う例を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing an example in which a plurality of wires are alternately drawn out.

【図13】モジュール基板にパッドが二列に形成されて
いる例を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing an example in which pads are formed in two rows on a module substrate.

【図14】部分的に二列に並んだパッドを有するメモリ
用ベアチップを用いて構成したメモリモジュールの平面
図である。
FIG. 14 is a plan view of a memory module configured using a memory bare chip having pads arranged in two rows in part;

【図15】2個のメモリ用ベアチップを用いて構成した
メモリモジュールの平面図である。
FIG. 15 is a plan view of a memory module configured using two memory bare chips.

【図16】4個のメモリ用ベアチップを同一方向に一列
に並べて配置して構成したメモリモジュールの平面図で
ある。
FIG. 16 is a plan view of a memory module configured by arranging four memory bare chips in a line in the same direction.

【図17】BGA方式の概略を説明する図である。FIG. 17 is a diagram schematically illustrating a BGA method.

【図18】メモリモジュール上のメモリ用ベアチップを
覆う樹脂の変形例を示す図であり、同図(a)はトラン
スファーモールド法による樹脂形成を説明する図、同図
(b)は金型等を用いない場合の樹脂形成を説明する図
である。
FIGS. 18A and 18B are diagrams showing a modified example of a resin covering a memory bare chip on a memory module. FIG. 18A is a diagram for explaining resin formation by a transfer molding method, and FIG. It is a figure explaining resin formation at the time of not using.

【図19】メモリ用ベアチップの端部に絶縁性突起が形
成された例を示す図である。
FIG. 19 is a diagram illustrating an example in which an insulating protrusion is formed at an end of a memory bare chip.

【図20】メモリ用ベアチップをフリップチップ実装す
る場合のモジュール基板を示す図である。
FIG. 20 is a diagram showing a module substrate when a memory bare chip is flip-chip mounted.

【図21】メモリ用ベアチップの短辺に平行にパッドを
形成する場合の変形例を示す図であり、同図(a)、
(b)はフリップチップ実装に適したメモリ用ベアチッ
プのパッド形成面を示す図である。
FIG. 21 is a view showing a modification in which a pad is formed in parallel with a short side of a memory bare chip, and FIGS.
(B) is a diagram showing a pad formation surface of a memory bare chip suitable for flip-chip mounting.

【図22】メモリICを複数個重ねて実装した例を示す
図である。
FIG. 22 is a diagram showing an example in which a plurality of memory ICs are stacked and mounted.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 メモリ用ベアチップ 2 モジュール基板 3、4 パッド 5 ボンディングワイヤ 6 樹脂 7 封止枠 8 外部接続端子 10 メモリモジュール REFERENCE SIGNS LIST 1 bare chip for memory 2 module substrate 3, 4 pad 5 bonding wire 6 resin 7 sealing frame 8 external connection terminal 10 memory module

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体ウエハから切り出された複数のメ
モリチップが実装されたメモリモジュールをプリント配
線板上に複数実装したことを特徴とするメモリシステ
ム。
1. A memory system wherein a plurality of memory modules on which a plurality of memory chips cut out from a semiconductor wafer are mounted are mounted on a printed wiring board.
【請求項2】 請求項1において、 前記プリント配線板の両面にそれぞれ2個ずつ前記メモ
リモジュールを実装したことを特徴とするメモリシステ
ム。
2. The memory system according to claim 1, wherein two memory modules are mounted on both sides of the printed wiring board.
【請求項3】 請求項2において、 前記メモリモジュールの実装位置を前記プリント配線板
の各面で同じにしたことを特徴とするメモリシステム。
3. The memory system according to claim 2, wherein the mounting position of the memory module is the same on each surface of the printed wiring board.
【請求項4】 請求項2または3において、 前記プリント配線板の両面のそれぞれに、前記メモリモ
ジュールに対応したノイズ除去用のコンデンサを実装し
たことを特徴とするメモリシステム。
4. The memory system according to claim 2, wherein a noise removing capacitor corresponding to the memory module is mounted on each of both surfaces of the printed wiring board.
【請求項5】 請求項4において、 前記コンデンサは、前記メモリチップ2個に対して1個
の割合で設けられることを特徴とするメモリシステム。
5. The memory system according to claim 4, wherein one capacitor is provided for every two memory chips.
【請求項6】 請求項2〜5のいずれかにおいて、 前記プリント配線板の一方の面に、前記メモリチップの
動作チェックを行うコントローラを実装したことを特徴
とするメモリシステム。
6. The memory system according to claim 2, wherein a controller for checking an operation of the memory chip is mounted on one surface of the printed wiring board.
【請求項7】 請求項1〜6のいずれかにおいて、 前記プリント配線板は、前記メモリチップのそれぞれと
信号のやり取りをするための外部接続端子を備えること
を特徴とするメモリシステム。
7. The memory system according to claim 1, wherein the printed wiring board includes an external connection terminal for exchanging signals with each of the memory chips.
【請求項8】 請求項1〜7のいずれかにおいて、 前記プリント配線板は、スモール・アウトライン・デュ
アル・インライン・メモリシステム用の基板であること
を特徴とするメモリシステム。
8. The memory system according to claim 1, wherein the printed wiring board is a board for a small outline dual in-line memory system.
【請求項9】 請求項1〜7のいずれかにおいて、 前記プリント配線板は、コンピュータ機器のマザーボー
ドであることを特徴とするメモリシステム。
9. The memory system according to claim 1, wherein the printed wiring board is a motherboard of a computer device.
【請求項10】 請求項1〜9のいずれかにおいて、 前記メモリモジュールは、長方形形状の前記メモリチッ
プが縦横方向に2個ずつ実装されたモジュール基板を有
することを特徴とするメモリシステム。
10. The memory system according to claim 1, wherein the memory module has a module substrate on which two rectangular memory chips are mounted in the vertical and horizontal directions.
【請求項11】 請求項1〜10のいずれかにおいて、 前記メモリモジュールは、長方形形状の2個の前記メモ
リチップをそれぞれの長辺を隣接させて実装したモジュ
ール基板を有することを特徴とするメモリシステム。
11. The memory according to claim 1, wherein the memory module has a module substrate on which two rectangular memory chips are mounted with their long sides adjacent to each other. system.
【請求項12】 請求項1〜11のいずれかにおいて、 前記メモリモジュールは、少なくとも一列に形成された
複数の基板用パッドからなるパッド列を有するモジュー
ル基板を備え、前記モジュール基板上の前記パッド列を
挟んで両側に前記メモリチップを同数ずつ実装したこと
を特徴とするメモリシステム。
12. The memory according to claim 1, wherein the memory module includes a module substrate having a pad row including a plurality of substrate pads formed in at least one row, and the pad row on the module board. Wherein the same number of the memory chips are mounted on both sides of the memory system.
【請求項13】 請求項1〜12のいずれかにおいて、 前記メモリチップのそれぞれは、前記メモリチップの長
辺に沿って少なくとも一列に形成された複数のチップ用
パッドからなるパッド列を有し、 前記メモリチップ上のパッド列と前記モジュール基板上
のパッド列とがほぼ平行になるように前記メモリチップ
を前記モジュール基板上に実装したことを特徴とするメ
モリシステム。
13. The memory chip according to claim 1, wherein each of the memory chips has a pad row including a plurality of chip pads formed in at least one row along a long side of the memory chip. A memory system, wherein the memory chip is mounted on the module substrate such that a pad row on the memory chip and a pad row on the module substrate are substantially parallel to each other.
【請求項14】 請求項1〜13のいずれかにおいて、 前記メモリチップ上に形成された前記チップ用パッドと
前記モジュール基板上に形成された前記基板用パッドと
をそれぞれボンディングワイヤで接続したことを特徴と
するメモリシステム。
14. The semiconductor device according to claim 1, wherein the chip pads formed on the memory chip and the substrate pads formed on the module substrate are connected by bonding wires. Characteristic memory system.
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JP2007525769A (en) * 2004-03-02 2007-09-06 インテル コーポレイション Interchangeable connection array for double-sided DIMM placement

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