JPH1129866A - スパッタ装置 - Google Patents

スパッタ装置

Info

Publication number
JPH1129866A
JPH1129866A JP18649097A JP18649097A JPH1129866A JP H1129866 A JPH1129866 A JP H1129866A JP 18649097 A JP18649097 A JP 18649097A JP 18649097 A JP18649097 A JP 18649097A JP H1129866 A JPH1129866 A JP H1129866A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
magnetic force
force source
silicon wafer
sputtering apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18649097A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Obara
朗 小原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP18649097A priority Critical patent/JPH1129866A/ja
Publication of JPH1129866A publication Critical patent/JPH1129866A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 スパッタ装置に関し、ターゲットを有効に使
用することができるようにすることを目的とする。 【解決手段】 被加工物14を支持する支持手段16
と、回転可能な中空円筒形のターゲット18と、該ター
ゲットの内側に設けられ、プラズマを該ターゲットの表
面近傍に閉じ込めるための磁力源36とを備えた構成と
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はスパッタ装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】スパッタ装置は、真空チャンバ内でプラ
ズマを発生させ、半導体ウエハ等の被加工物と、金属の
ターゲットとを対向させることによって、ターゲットの
金属成分が半導体ウエハに向かって飛び出して付着する
ようにしたものである。また、スパッタリングを促進す
るために、プラズマをターゲットの表面近傍に閉じ込め
るための磁力源が設けられる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ターゲットは一般的に
矩形状の板、あるいは円板状の板として形成されてい
る。使用においては、ターゲットの中央部からはその金
属成分が半導体ウエハに向かって活発に飛ぶが、ターゲ
ットの周辺部からはその金属成分が半導体ウエハに向か
ってあまり活発に飛ばない傾向がある。そのために、タ
ーゲットの周辺部がスパッタリングによって減少せず、
有効に利用されないままでターゲットの寿命がくること
になる。
【0004】本発明の目的は、ターゲットを有効に使用
することができるようにしたスパッタ装置を提供するこ
とである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明によるスパッタ装
置は、被加工物を支持する支持手段と、回転可能な中空
円筒形のターゲットと、該ターゲットの内側に設けら
れ、プラズマを該ターゲットの表面近傍に閉じ込めるた
めの磁力源とを備えたことを特徴とするものである。
【0006】この構成によれば、中空円筒形のターゲッ
トが回転しながら、被加工物に向かって金属成分を付着
させることができる。中空円筒形のターゲットが回転す
ることによって、ターゲットの全ての部分が被加工物に
対して正対し、ターゲットの全周が均一に利用されるこ
とになり、ターゲットの未利用部分が減少する。上記構
成とともに、下記の特徴を採用することができる。
【0007】該磁力源は該ターゲットの内側で該支持手
段に近い側の領域において移動可能である。こうするこ
とによって、ターゲットの各部分がさらに均等に使用さ
れるとともに、金属成分をより多くの方向から被加工物
に向かって付着させることができる。該磁力源は該ター
ゲットの軸線又は該ターゲットの軸線と平行な線のまわ
りで所定の角度範囲だけ周方向に往復揺動可能である。
この場合、好ましくは、該磁力源の移動速度は、ターゲ
ットの回転方向と同じ方向に移動するときに大きくし、
ターゲットの回転方向と逆の方向に移動するときに小さ
くする。それによって、ターゲットの各部分がさらに均
等に使用されるとともに、磁力源の移動方向にかかわら
ず、金属成分の付着作用を均等化する。
【0008】該ターゲット及び該磁力源の一方は該ター
ゲットの軸線方向に移動可能である。こうすることによ
って、ターゲットの上下端部も広く有効利用できるよう
になる。
【0009】
【発明の実施の形態】図1及び図2は本発明の実施例の
スパッタ装置を示す略図であり、図1はスパッタ装置の
横断面図、図2はスパッタ装置の縦断面図である。スパ
ッタ装置10は、真空チャンバ12を有する。真空チャ
ンバ12には図示しないガス導入口及び排出口が設けら
れる。
【0010】被加工物であるシリコンウエハ14がウエ
ハホルダ16に支持されるようになっており、ターゲッ
ト18がターゲットホルダ20に支持されるようになっ
ている。ウエハホルダ16及びターゲットホルダ20は
真空チャンバ12内に配置される。ウエハホルダ16及
びターゲットホルダ20はそれぞれ電源22に接続さ
れ、シリコンウエハ14とターゲット18との間で電界
を印加してプラズマを生じさせるようになっている。
【0011】ターゲット18は中空円筒形に形成されて
おり、それを支持するターゲットホルダ20も中空円筒
形に形成されている。ターゲットホルダ20は軸受24
により回転可能に支承され、モータ26によって歯車2
8、30を介して回転駆動されるようになっている。タ
ーゲット18は例えば図1の矢印Aの方向に回転され
る。さらに、ターゲットホルダ20には冷却水通路32
が設けられる。
【0012】複数の磁石34からなる磁力源36がター
ゲット18及びターゲットホルダ20内に配置される。
磁力源36はターゲット18の内側でウエハホルダ16
に近い側の領域に配置され、ターゲット18の全長とほ
ぼ等しい長さを有する。磁力源36は磁界38を発生
し、プラズマをターゲット18の表面近傍に閉じ込める
作用を有する。それによって、ターゲット18の金属成
分がシリコンウエハ14に向かって飛び出し、シリコン
ウエハ14に付着する。
【0013】磁力源36はクランク形の支持部材40に
取り付けられる。支持部材40の軸部40aは軸受42
によって回転可能に支承され、モータ44によって回転
駆動される。モータ44と支持部材40の軸部40aと
の間に適当な減速機構を挿入することもできる。従っ
て、磁力源36はターゲット18との軸線と同じ軸線の
まわりで回転可能であり、モータ44は、ターゲット1
8を図1に示すシリコンウエハ14に正対する位置から
矢印Bの方向に4分の1円周だけ回転させ、次にその逆
の矢印Cの方向に2分の1円周だけ回転させ、さらに次
にその逆の矢印Bの方向に2分の1円周だけ回転させる
ように制御される。つまり、磁力源36はターゲット1
8の内側でウエハホルダ16に近い側の領域において2
分の1円周ずつ揺動する。
【0014】さらに、磁力源36の揺動速度は、ターゲ
ット18の回転方向Aと同じ方向Bに揺動するときと、
ターゲット18の回転方向Aとは逆の方向Cに揺動する
ときとで変えられる。ターゲット18の回転方向Aと同
じ方向Bに揺動するときの磁力源36の揺動速度は、タ
ーゲット18の回転方向Aとは逆の方向Cに揺動すると
きの磁力源36の揺動速度よりも大きく、それによっ
て、磁力源36がいずれの方向に移動するときでもター
ゲット18の周速度と磁力源36の周速度との差がほぼ
一定になるようにする。例えば、ターゲット18が1周
するのに要する時間が10秒であり、磁力源36が2分
の1周ずつ往復するのに要する時間が5秒であり、その
間に、磁力源36の揺動速度は変えられる。
【0015】以上の構成によれば、真空プラズマの中
で、中空円筒形のターゲット18が回転しながら、被加
工物であるシリコンウエハ14に向かって金属成分を飛
び出させ、それをシリコンウエハ14に付着させること
ができる。中空円筒形のターゲット18が回転すること
によって、ターゲット18の全周が均一に利用されるこ
とになり、ターゲット18が局部的にエロージョン部と
してやせていくことがなくなり、ターゲット18の未利
用部分が減少する。
【0016】磁力源36はターゲット18の内側でウエ
ハホルダ16に近い側の領域において揺動することによ
って、ターゲット18の各部分がさらに均等に使用され
るとともに、金属成分をより多くの方向からシリコンウ
エハ14に向かって付着させることができる。よって被
加工物14に形成される膜はかたよりのない均一な膜に
なる。磁力源36の移動速度は、ターゲット18の回転
方向と同じ方向に移動するときに大きくし、ターゲット
18の回転方向と逆の方向に移動するときに小さくする
ことによって、ターゲット18の各部分がさらに均等に
使用されるとともに、磁力源36の移動方向にかかわら
ず、金属成分の付着作用を均等化する。
【0017】さらに、図の矢印Dで示されるように、タ
ーゲット18及び磁力源36の一方をターゲット18の
軸線方向に移動可能にするのが有効である。こうするこ
とによって、ターゲット18の上下端部も有効利用でき
るようになる。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ターゲットを有効に使用することができるようにしたス
パッタ装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第実施例を示すのスパッタ装置の横断
面図である。
【図2】図2のスパッタ装置の縦断面図である。
【符号の説明】
10…スパッタ装置 12…真空チャンバ 14…シリコンウエハ 16…ウエハホルダ 18…ターゲット 20…ターゲットホルダ 34…磁石 36…磁力源 38…磁界 40…支持部材

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工物を支持する支持手段と、回転可
    能な中空円筒形のターゲットと、該ターゲットの内側に
    設けられ、プラズマを該ターゲットの表面近傍に閉じ込
    めるための磁力源とを備えたことを特徴とするスパッタ
    装置。
  2. 【請求項2】 該磁力源は該ターゲットの内側で該支持
    手段に近い側の領域において移動可能であることを特徴
    とする請求項1に記載のスパッタ装置。
  3. 【請求項3】 該磁力源は該ターゲットの軸線又は該タ
    ーゲットの軸線と平行な線のまわりで所定の角度範囲だ
    け周方向に往復揺動可能であることを特徴とする請求項
    2に記載のスパッタ装置。
  4. 【請求項4】 該ターゲット及び該磁力源の一方は該タ
    ーゲットの軸線方向に移動可能であることを特徴とする
    請求項1に記載のスパッタ装置。
JP18649097A 1997-07-11 1997-07-11 スパッタ装置 Pending JPH1129866A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18649097A JPH1129866A (ja) 1997-07-11 1997-07-11 スパッタ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18649097A JPH1129866A (ja) 1997-07-11 1997-07-11 スパッタ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1129866A true JPH1129866A (ja) 1999-02-02

Family

ID=16189409

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18649097A Pending JPH1129866A (ja) 1997-07-11 1997-07-11 スパッタ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1129866A (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006038407A3 (ja) * 2004-09-14 2006-06-22 Shinmaywa Ind Ltd 真空成膜装置
JP2008505250A (ja) * 2004-07-01 2008-02-21 カーディナル・シージー・カンパニー マグネトロンスパッタリング用の振動磁石を有する円筒形のターゲット
EP1941071A2 (en) * 2005-10-24 2008-07-09 Soleras Ltd. Cathode incorporating fixed or rotating target in combination with a moving magnet assembly and applications thereof
KR100855654B1 (ko) 2005-09-15 2008-09-03 어플라이드 매터리얼스 게엠베하 운트 컴퍼니 카게 도포기 및 도포기를 작동시키는 방법
US7575662B2 (en) 2005-05-13 2009-08-18 Applied Materials Gmbh & Co. Kg Method for operating a sputter cathode with a target
JP2010059544A (ja) * 2008-09-02 2010-03-18 Sulzer Metaplas Gmbh 基体を被覆するための被覆装置及び基体を被覆する方法
WO2010078565A3 (en) * 2009-01-05 2010-09-30 Applied Materials, Inc. Magnet bar support system
KR101097696B1 (ko) * 2004-03-09 2011-12-22 엘지디스플레이 주식회사 스퍼터링 장치
KR20120092619A (ko) * 2009-10-02 2012-08-21 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 기판 코팅 방법 및 코팅 장치
WO2013179544A1 (ja) * 2012-05-31 2013-12-05 東京エレクトロン株式会社 マグネトロンスパッタ装置
US20140238852A1 (en) * 2013-02-26 2014-08-28 Sulzer Metaplas Gmbh Cylindrical evaporation source
JP2019515135A (ja) * 2016-05-02 2019-06-06 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 基板のコーティング方法および基板のコーティング装置

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101097696B1 (ko) * 2004-03-09 2011-12-22 엘지디스플레이 주식회사 스퍼터링 장치
JP2008505250A (ja) * 2004-07-01 2008-02-21 カーディナル・シージー・カンパニー マグネトロンスパッタリング用の振動磁石を有する円筒形のターゲット
WO2006038407A3 (ja) * 2004-09-14 2006-06-22 Shinmaywa Ind Ltd 真空成膜装置
US7575662B2 (en) 2005-05-13 2009-08-18 Applied Materials Gmbh & Co. Kg Method for operating a sputter cathode with a target
KR100855654B1 (ko) 2005-09-15 2008-09-03 어플라이드 매터리얼스 게엠베하 운트 컴퍼니 카게 도포기 및 도포기를 작동시키는 방법
EP1941071A2 (en) * 2005-10-24 2008-07-09 Soleras Ltd. Cathode incorporating fixed or rotating target in combination with a moving magnet assembly and applications thereof
EP1941071A4 (en) * 2005-10-24 2010-04-07 Soleras Ltd CATHODE INCORPORATING A FIXED OR ROTATING TARGET IN COMBINATION WITH A MOBILE MAGNET ASSEMBLY AND USE THEREOF
JP2014231644A (ja) * 2008-09-02 2014-12-11 スルザー メタプラス ゲーエムベーハー 基体を被覆するための被覆装置及び基体を被覆する方法
JP2010059544A (ja) * 2008-09-02 2010-03-18 Sulzer Metaplas Gmbh 基体を被覆するための被覆装置及び基体を被覆する方法
EP2159821B1 (de) * 2008-09-02 2020-01-15 Oerlikon Surface Solutions AG, Pfäffikon Beschichtungsvorrichtung zum Beschichten eines Substrats, sowie ein Verfahren zum Beschichten eines Substrats
WO2010078565A3 (en) * 2009-01-05 2010-09-30 Applied Materials, Inc. Magnet bar support system
US8647486B2 (en) 2009-01-05 2014-02-11 Applied Materials, Inc. Magnet bar support system
JP2015148014A (ja) * 2009-10-02 2015-08-20 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 基板をコーティングするための方法およびコータ
KR20150052359A (ko) * 2009-10-02 2015-05-13 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 기판 코팅 방법 및 코팅 장치
CN104766779A (zh) * 2009-10-02 2015-07-08 应用材料公司 用于涂覆衬底的方法和涂覆器
JP2017128813A (ja) * 2009-10-02 2017-07-27 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 基板をコーティングするための方法およびコータ
KR20120092619A (ko) * 2009-10-02 2012-08-21 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 기판 코팅 방법 및 코팅 장치
CN104364417A (zh) * 2012-05-31 2015-02-18 东京毅力科创株式会社 磁控溅射装置
WO2013179544A1 (ja) * 2012-05-31 2013-12-05 東京エレクトロン株式会社 マグネトロンスパッタ装置
JP2014162992A (ja) * 2013-02-26 2014-09-08 Sulzer Metaplas Gmbh 円筒形の蒸着源
US20140238852A1 (en) * 2013-02-26 2014-08-28 Sulzer Metaplas Gmbh Cylindrical evaporation source
US10811239B2 (en) * 2013-02-26 2020-10-20 Oerlikon Surface Solutions Ag, Pfäffikon Cylindrical evaporation source
JP2019515135A (ja) * 2016-05-02 2019-06-06 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 基板のコーティング方法および基板のコーティング装置
US11118261B2 (en) 2016-05-02 2021-09-14 Applied Materials, Inc. Method of coating a substrate and coating apparatus for coating a substrate
US11624110B2 (en) 2016-05-02 2023-04-11 Applied Materials, Inc. Method of coating a substrate and coating apparatus for coating a substrate

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH1129866A (ja) スパッタ装置
JP4750619B2 (ja) マグネトロンカソードとそれを搭載したスパッタ装置
JP4066044B2 (ja) 成膜方法及びスパッタ装置
JP2005187830A (ja) スパッタ装置
JPH07166346A (ja) マグネトロンスパッタリング装置
JP2000073167A (ja) 真空チャンバ内で基板をコ―ティングするための装置
JP2000282234A (ja) スパッタリング装置
JP2000144410A (ja) マグネトロンスパッタコ―ティング法と回転磁石陰極を備えた装置
JPS61147873A (ja) マグネトロンスパツタリング装置
JP3056222B2 (ja) スパッタ装置およびスパッタ方法
JPH1046334A (ja) スパッタ成膜装置
JP2019194354A (ja) 成膜装置及び成膜方法
JPH11340165A (ja) スパッタリング装置及びマグネトロンユニット
JP2746695B2 (ja) スパッタ装置及びスパッタ方法
JPH08134668A (ja) イオンビームミリング方法および装置
JPH0688229A (ja) 二重円筒マグネトロンに於けるスパッタリングターゲットの磁場ゾーン回転の電気制御
JPS6365069A (ja) スパツタ装置
KR970072164A (ko) 유성 마그넷 소스 어셈블리를 가진 플라즈마 처리 챔버
JP4137198B2 (ja) スパッタリング装置
JP2005320601A (ja) スパッタ装置
JPS5918638A (ja) ドライエツチング装置
WO2002079536A1 (en) Sputter device
JPH04371575A (ja) スパッタ装置
JP3237000B2 (ja) マグネトロンスパッタ装置
JP3993388B2 (ja) 真空アーク蒸発源