JPH11297672A - Shower plate, shower plate peripheral structure, and processor - Google Patents

Shower plate, shower plate peripheral structure, and processor

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JPH11297672A
JPH11297672A JP10097978A JP9797898A JPH11297672A JP H11297672 A JPH11297672 A JP H11297672A JP 10097978 A JP10097978 A JP 10097978A JP 9797898 A JP9797898 A JP 9797898A JP H11297672 A JPH11297672 A JP H11297672A
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plate
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shower
outlet
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忠弘 大見
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昌樹 平山
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a shower plate, in which an outlet can be readily formed regardless of a material and it is possible to prevent plasma from being ignited at a gap between the shower plate and a gap plate placed thereon, when the shower plate is used for a microwave excitation plasma device. SOLUTION: A blow outlet port 207 is constituted by holes formed on a plate 202, and spaces formed between the holes and circular cylinders 204, which have smaller diameters than the holes. Furthermore, the outlet 207 has a tapered shape, the shower plate 202 is made of a dielectric material, and the shower plate 202 is disposed for a microwave excitation plasma device.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、シャワープレート、シ
ャワープレートの周辺構造及びプロセス装置に係る。よ
り詳細には、大型基板上への均一なプロセスガス供給が
可能なシャワープレート、シャワープレート周辺構造及
びそれを用いたプロセス装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a shower plate, a peripheral structure of the shower plate, and a process apparatus. More specifically, the present invention relates to a shower plate capable of uniformly supplying a process gas onto a large-sized substrate, a shower plate peripheral structure, and a process apparatus using the same.

【0002】[0002]

【関連する技術】従来、シャワープレート、その周辺構
造については以下のような技術が知られている。 (1)直径0.1μm程度の多数の小さな孔(吹出口)
104を垂直または斜めにあけたシャワープレート(図
1)をウェーハ直上に設けて、そのシャワープレート1
02からガスをプロセス空間に供給する技術。 (2)シャワープレート102にあけた孔(吹出口)1
04にガスを送るのに、シャワープレート102の上に
1mm程度のギャップ103を空けて隙間板101を置
き、シャワープレート102と隙間板101との間のギ
ャップ103に側面からガスを流し込む技術。 (3)マイクロ波プラズマプロセス装置の場合、マイク
ロ波の吸収の少ないセラミックス等の材料を用いた直径
0.5mm程度の多数の孔をあけ、(2)の技術を用い
たシャワープレートをマイクロ波導入部に設ける技術。
2. Related Art Conventionally, the following techniques are known for a shower plate and its peripheral structure. (1) Many small holes of about 0.1 μm in diameter (outlet)
A shower plate (FIG. 1) having a vertical or oblique opening 104 is provided directly above the wafer, and the shower plate 1
Technology for supplying gas from 02 to the process space. (2) Hole (outlet) 1 made in shower plate 102
In order to send the gas to 04, a gap plate 101 is placed with a gap 103 of about 1 mm above the shower plate 102, and gas is poured from the side into the gap 103 between the shower plate 102 and the gap plate 101. (3) In the case of a microwave plasma process apparatus, a large number of holes having a diameter of about 0.5 mm made of a material such as ceramics having a low absorption of microwaves are formed, and a shower plate using the technique of (2) is introduced into the microwave. Technology provided in the department.

【0003】しかし、上記従来技術には、次のような問
題がある。 1.(1)の技術では、小さい穴加工が可能なSiやA
lなどに材料が限定され、マイクロ波を透過するセラミ
ックスなどには加工ができなかった。例えばアルミナの
板に0.1μmの孔104をあける場合、その深さの限
界は0.2μm程度である。また小さな孔の場合、真っ
直ぐにかつ孔104の内面を鏡面仕上げしてあけること
が技術的に困難であった。
[0003] However, the above prior art has the following problems. 1. In the technology of (1), Si or A capable of processing a small hole is used.
The material was limited to 1 and the like, and processing could not be performed on ceramics that transmit microwaves. For example, when a hole 104 of 0.1 μm is made in an alumina plate, the depth limit is about 0.2 μm. In the case of a small hole, it is technically difficult to make the hole 104 straight and mirror-finish the inner surface of the hole 104.

【0004】2.(1)の技術では、各孔104から等
しくガスが吹き出すように各孔104にガスを送るギャ
ップ103とプロセス室との間の圧力差を大きくする必
要があるが、そのために孔104から勢いよくガスが噴
き出して孔104の配列パターンの不均一を生じること
があった。
[0004] 2. In the technique (1), it is necessary to increase the pressure difference between the process chamber and the gap 103 that sends the gas to each hole 104 so that the gas is blown out from each hole 104 equally. In some cases, gas was blown out, resulting in an uneven arrangement pattern of the holes 104.

【0005】3.(2)の技術では、プロセスガス流量
を減らした場合等に、側面のガスを流し込む場所に近い
孔104からより多くのガスが吹き出すために、プロセ
ス空間にガスの不均一が生じていた。この傾向は処理す
るウェーハが200mm、300mmと大口径化するに
従い顕著になっている。
[0005] 3. In the technique (2), when the flow rate of the process gas is reduced, more gas is blown out from the hole 104 near the side where the gas flows, so that the gas is uneven in the process space. This tendency becomes remarkable as the diameter of the wafer to be processed is increased to 200 mm and 300 mm.

【0006】4.(3)の技術では、マイクロ波励起の
プラズマがプロセス空間ではなく、シャワープレート1
02とその上に載せる隙間板101との間のガスを広げ
る空間に着火することがあった。
[0006] 4. According to the technique (3), the microwave-excited plasma is generated in the shower plate 1 instead of in the process space.
There was a case where the space between the gas spreader 02 and the gap plate 101 placed thereon was ignited.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、材料に関わ
りなく吹出口の形成が容易なシャワープレートを提供す
ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a shower plate in which the outlet can be easily formed regardless of the material.

【0008】マイクロ波励起プラズマ装置に用いた場
合、シャワープレートとその上に載せる隙間板とのギャ
ップにおいてプラズマが着火するのを防ぐことが可能な
シャワープレートを提供することを目的とする。
[0008] It is an object of the present invention to provide a shower plate which can prevent ignition of plasma in a gap between a shower plate and a gap plate placed thereon when used in a microwave-excited plasma apparatus.

【0009】また、吹出口の配列パターンの不均一のな
いシャワープレートの周辺構造を提供することを目的と
する。
Another object of the present invention is to provide a shower plate peripheral structure in which the arrangement pattern of the air outlets is not uneven.

【0010】また、ガス流量を減らした場合にもガスの
吹き出し量のチャンバーの中心軸に対し軸対称性が保つ
ことができるシャワープレート周辺構造を提供すること
を目的とする。
It is another object of the present invention to provide a shower plate peripheral structure capable of maintaining axial symmetry with respect to the central axis of the chamber even when the gas flow rate is reduced.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明のシャワープレー
トは、プレートに複数の吹出口を有するシャワープレー
トにおいて、該吹出口は、該プレートに開けられた孔
と、該孔に挿入された該孔よりも小さな径を有する円柱
との間に形成される空間により形成されていることを特
徴とする。
According to the present invention, there is provided a shower plate having a plurality of air outlets in a plate, wherein the air outlet comprises a hole formed in the plate, and a hole inserted into the hole. It is characterized by being formed by a space formed between the column and a column having a smaller diameter.

【0012】本発明では、吹出口は、プレートに開けた
孔自体により構成されるのではなく、孔と孔に挿入され
た円柱との間に形成される空間により構成される。従来
は孔の径は0.1μm程度であったが、本発明では、m
mのオーダーで孔を開ければよいため、孔開け加工の困
難なセラミックス(誘電体材料)などであっても容易に
加工することが可能である。従って、誘電体材料により
シャワープレートを製造することが可能となり、誘電体
材料からなるシャワープレートをマイクロ波励起プラズ
マ装置に用いれば、シャワープレートとその上に載せる
隙間板とのギャップにおいてプラズマが着火するのを防
ぐことが可能となる。
In the present invention, the outlet is not constituted by the hole itself formed in the plate, but is constituted by a space formed between the hole and the cylinder inserted into the hole. Conventionally, the diameter of the hole was about 0.1 μm.
Since holes need only be formed in the order of m, even ceramics (dielectric material) or the like that is difficult to form holes can be easily processed. Therefore, it is possible to manufacture a shower plate with a dielectric material, and when a shower plate made of a dielectric material is used in a microwave-excited plasma device, plasma is ignited in a gap between the shower plate and a gap plate placed thereon. Can be prevented.

【0013】なお、吹出口をテーパー状にすればガスの
吹出をより均一にすることができる。
If the outlet is tapered, the gas can be blown out more uniformly.

【0014】本発明のシャワープレートは、プレートに
複数の吹出口を有するシャワープレートと、該シャワー
プレートの上方に、シャワープレートとの間でギャップ
を形成して配置された隙間板と、該ギャップ内にプロセ
スガスを導入するためのガス導入路と、を有するシャワ
ープレート周辺構造において、該シャワープレートの側
面に開口する入口と、シャワープレート中央部において
該ギャップ側に開口する出口と、該入口と該出口とに連
通し、該シャワープレート内部に形成された通路とによ
り該ガス導入路が構成されていることを特徴とする。
A shower plate according to the present invention comprises: a shower plate having a plurality of outlets in a plate; a gap plate disposed above the shower plate with a gap formed between the shower plate and the shower plate; A gas introducing passage for introducing a process gas into the shower plate peripheral structure, an inlet opening on a side surface of the shower plate, an outlet opening on the gap side at a central portion of the shower plate, the inlet and the inlet, The gas introduction passage is constituted by a passage communicating with the outlet and formed inside the shower plate.

【0015】本発明のシャワープレート周辺構造は、プ
レートに複数の吹出口を有するシャワープレートと、該
シャワープレートの上方に、シャワープレートとの間で
ギャップを形成して配置された隙間板と、該ギャップ内
にプロセスガスを導入するためのガス導入路と、を有す
るシャワープレート周辺構造において、該隙間板と該シ
ャワープレートとの間にスペーサーを複数個設けたこと
を特徴とする。
The peripheral structure of the shower plate according to the present invention comprises: a shower plate having a plurality of outlets in the plate; a gap plate disposed above the shower plate with a gap formed between the shower plate and the shower plate; In a peripheral structure of a shower plate having a gas introduction path for introducing a process gas into a gap, a plurality of spacers are provided between the gap plate and the shower plate.

【0016】[0016]

【実施例】以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。なお、本発明範囲は以下の実施例に限定されるも
のではない。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The scope of the present invention is not limited to the following examples.

【0017】(実施例1)図2に本実施例を示す。本実
施例のシャワープレートは、吹出口207は、プレート
202に開けられた孔と、孔に挿入された孔よりも小さ
な径を有する円柱204との間に形成される空間により
形成されている。
(Embodiment 1) FIG. 2 shows this embodiment. In the shower plate of this embodiment, the outlet 207 is formed by a space formed between a hole formed in the plate 202 and a column 204 having a smaller diameter than the hole inserted into the hole.

【0018】以下本実施例をより詳細に説明する。図2
に示す200mmウェーハプロセス用のシャワープレー
トを作製した。直径350mm、厚さ20mmのシャワ
ープレート202の中央直径200mmの範囲に、20
mm間隔で孔加工した。直径2.1mmの孔をあけ、孔
の上部は雌ネジ206を挿入するため2mmの深さで直
径6mmに広げた。
Hereinafter, this embodiment will be described in more detail. FIG.
Was manufactured for 200 mm wafer process. 20 mm in the center diameter of the shower plate 202 having a diameter of 350 mm and a thickness of 20 mm.
Holes were drilled at mm intervals. A hole having a diameter of 2.1 mm was formed, and the upper portion of the hole was expanded to a diameter of 6 mm at a depth of 2 mm to insert the female screw 206.

【0019】一方、円柱204は直径2.0mmとし、
その先端には雄ネジ205を形成した。
On the other hand, the cylinder 204 has a diameter of 2.0 mm,
A male screw 205 was formed at the tip.

【0020】円柱204を孔に挿入し、雌ネジ206で
固定した。なお、雌ネジ206には切り欠き208が入
れてあり、この切欠208をガスの通り道とした。
The column 204 was inserted into the hole and fixed with the female screw 206. A notch 208 is formed in the female screw 206, and the notch 208 is used as a gas passage.

【0021】このシャワープレート202の上に1mm
のギャップ203を空けて板201を置き、シャワープ
レート側面から導入したガスがこの1mmのギャップ2
03を広がり各吹出口207にガスが供給されるように
した。
On the shower plate 202, 1 mm
The plate 201 is placed with a gap 203 in between and the gas introduced from the side surface of the shower plate is
03 was expanded so that gas was supplied to each outlet 207.

【0022】シャワープレート202、円柱204、雌
ネジ206、および上に載せる隙間板201にはアルミ
ニウムを用いた。
Aluminum was used for the shower plate 202, the column 204, the female screw 206, and the gap plate 201 to be placed thereon.

【0023】図5に示す測定系を用いてシャワープレー
トの各吹出口のコンダクタンスを測定した。各吹出口の
入口及び出口にガスラインを固定し、流量コントローラ
ー504で一定量の空気を流し、真空ポンプ507で排
気した。排気速度はコンダクタンスバルブ506で調整
した。
The conductance of each outlet of the shower plate was measured using the measuring system shown in FIG. Gas lines were fixed to the inlet and outlet of each outlet, a fixed amount of air was flowed by the flow controller 504, and the air was exhausted by the vacuum pump 507. The pumping speed was adjusted by the conductance valve 506.

【0024】2つの圧力計505の指示する圧力の平均
値を横軸に、そのときの流量及び排気速度から計算され
る孔のコンダクタンスを横軸にとったデータを図6に示
す。図には比較のため、直径0.5mmの孔のデータも
載せた。設計寸法から計算されるコンダクタンスにほぼ
等しいコンダクタンスが得られていることが確認され
た。エッチングプロセスでの典型的なチャンバー圧力2
0mTorrでのコンダクタンスの吹出口間のばらつき
は、従来の孔で10%あるのに対し、本発明の構造では
5%とばらつきが小さくなっていることが確認された。
FIG. 6 shows data in which the average value of the pressure indicated by the two pressure gauges 505 is plotted on the horizontal axis, and the conductance of the hole calculated from the flow rate and the pumping speed at that time is plotted on the horizontal axis. In the figure, data of a hole having a diameter of 0.5 mm are also shown for comparison. It was confirmed that a conductance approximately equal to the conductance calculated from the design dimensions was obtained. Typical chamber pressure in etching process 2
It was confirmed that the variation of the conductance between the outlets at 0 mTorr was 10% in the conventional hole, but was reduced to 5% in the structure of the present invention.

【0025】上記実施例では、孔にそれより小さな円柱
を挿入したが、ほぼ同じ直径の円筒の一部分を削るか、
溝を作ってギャップを設けても良い。また孔側の一部分
に溝を設けても良い。ギャップを0.1mmとしたが、
これはプロセス圧力、流量等のプロセス条件に応じて必
要なコンダクタンスになるよう設計すれば良い。材料は
アルミニウムを用いたがこれに限る必要は無く、銅、ス
テンレス鋼、Siやアルミナ、窒化アルミニウム等のセ
ラミックスを用いても良い。
In the above embodiment, a smaller cylinder was inserted into the hole.
A gap may be provided by forming a groove. Further, a groove may be provided on a part of the hole side. Although the gap was 0.1 mm,
This may be designed so that the required conductance is obtained according to process conditions such as process pressure and flow rate. Aluminum was used as the material, but the material is not limited to aluminum, and ceramics such as copper, stainless steel, Si, alumina, and aluminum nitride may be used.

【0026】(実施例2)本例では、実施例1の加工に
加えて、図3に示すように、吹出口のガス吹き出し口側
に45度のテーパー構造を持たせた。すなわちシャワー
プレート側はガス吹き出し口側5mmを円錐状に広げ、
挿入する円柱は下側5mmに円錐を付けた形にした。テ
ーパー部の隙間は0.5mmと大き目にし、吹出口30
7のコンダクタンスは円柱304部の隙間0.5mmで
絞るようにした。
(Embodiment 2) In this embodiment, in addition to the processing of the embodiment 1, as shown in FIG. 3, the gas outlet side of the air outlet has a taper structure of 45 degrees. That is, the shower plate side expands the gas outlet side 5 mm in a conical shape,
The inserted cylinder had a shape with a cone attached to the lower 5 mm. The gap between the tapered portions is set as large as 0.5 mm.
The conductance of No. 7 was narrowed with a gap of 0.5 mm between the 304 columns.

【0027】このシャワープレートを図7に示す、20
0mmウェーハ対応のダイポールリングマグネットを用
いた高周波励起平行平板型マグネトロンエッチング装置
に取り付けて、5000sccmのアルゴン、四塩化フ
ッ素混合ガスを流し、13.56MHz、1000Wの
高周波電力をウェーハステージに投入して、200mm
口径のシリコン酸化膜付きのウェーハ704のエッチン
グを行った。ガスは配管702を通してシャワープレー
ト側面から導入した。
This shower plate is shown in FIG.
Attached to a high frequency excitation parallel plate type magnetron etching apparatus using a dipole ring magnet corresponding to a 0 mm wafer, an argon / fluorine tetrachloride mixed gas of 5000 sccm was flown, and 13.56 MHz, 1000 W high frequency power was supplied to the wafer stage. 200mm
The wafer 704 having a silicon oxide film having a diameter was etched. Gas was introduced from the side of the shower plate through the pipe 702.

【0028】高周波電源709はブロッキングコンデン
サー708を介してウェーハステージに接続した。チャ
ンバー壁706の外側にはチャンバーを取り囲むように
ダイポールリングマグネット705を設置した。シャワ
ープレートとウェーハの距離が20mmの場合、図1に
示す従来のシャワープレートでは、孔の配列パターンに
エッチング速度分布が生じたが、本発明の図3に示すシ
ャワープレートを用いた場合はこうした分布は観察され
なかった。
The high frequency power supply 709 was connected to the wafer stage via a blocking capacitor 708. A dipole ring magnet 705 was provided outside the chamber wall 706 so as to surround the chamber. When the distance between the shower plate and the wafer is 20 mm, the conventional shower plate shown in FIG. 1 has an etching rate distribution in the arrangement pattern of holes, but when the shower plate of the present invention shown in FIG. Was not observed.

【0029】(実施例3)図4に本実施例を示す。本実
施例のシャワープレート周辺構造は、プレートに複数の
吹出口(図示せず)を有するシャワープレート402
と、シャワープレート402の上方に、シャワープレー
ト402との間でギャップ403を形成して配置された
隙間板401と、ギャップ403内にプロセスガスを導
入するためのガス導入路と、を有するシャワープレート
周辺構造において、シャワープレート402の側面に開
口する入口405と、シャワープレート中央部において
ギャップ403側に開口する出口406と、入口405
と出口406とに連通し、シャワープレート402内部
に形成された通路404とによりガス導入路が構成され
ている。
(Embodiment 3) FIG. 4 shows this embodiment. The peripheral structure of the shower plate according to the present embodiment includes a shower plate 402 having a plurality of outlets (not shown) in the plate.
Plate having a gap 403 formed between shower plate 402 and shower plate 402, and a gas introduction path for introducing a process gas into gap 403. In the peripheral structure, an inlet 405 opening on the side surface of the shower plate 402, an outlet 406 opening on the gap 403 side in the center of the shower plate, and an inlet 405
A gas introduction passage is formed by the passage 404 formed inside the shower plate 402 and communicating with the outlet 406.

【0030】以下本実施例をより詳細に説明する。本例
では、実施例2の加工に加えて、シャワープレート40
2の各吹出口(図示せず)にガスを送るシャワープレー
ト402とその上の隙間板401板とのギャップ403
へのガス供給において、図4に示すようにシャワープレ
ート402の側面から中央部に通じる直径3mmの通路
404をあけて、シャワープレート402の中央からギ
ャップ403にガスが供給されるようにした。
Hereinafter, this embodiment will be described in more detail. In this example, in addition to the processing of the second embodiment, the shower plate 40
2, a gap 403 between a shower plate 402 for sending gas to each outlet (not shown) and a gap plate 401 thereon.
As shown in FIG. 4, a gas passage 404 having a diameter of 3 mm is provided from the side surface of the shower plate 402 to the central portion thereof to supply gas to the gap 403 from the center of the shower plate 402.

【0031】このシャワープレートを図7の200mm
ウェーハ対応のダイポールリングマグネットを用いた高
周波励起平行平板型マグネトロンエッチング装置に取り
付けて、実施例2に示したのと同じエッチングプロセス
を行った。プロセスガス流量を100sccmに減らし
た場合、実施例2のシャワープレーとではガス供給口側
からガスが多く吹き出し、その部分のエッチング速度が
高くなった。本例のシャワープレートでは、出口406
のある中央部がエッチング速度が高くなったが、分布は
点対称であり、中央部と周囲部とのエッチング速度の差
は、実施例2のシャワープレート402での出口406
側とその反対側との差と比べて小さくなっていることが
確認された。
This shower plate was set to 200 mm in FIG.
The same etching process as that shown in Example 2 was performed by attaching to a high frequency excitation parallel plate type magnetron etching apparatus using a dipole ring magnet corresponding to a wafer. When the flow rate of the process gas was reduced to 100 sccm, a large amount of gas was blown out from the gas supply port side in the shower play of Example 2, and the etching rate in that portion was increased. In the shower plate of this example, the outlet 406
Although the etching rate was higher in the central part with the mark, the distribution was point-symmetric, and the difference in the etching rate between the central part and the peripheral part was due to the outlet 406 in the shower plate 402 of Example 2.
It was confirmed that the difference was smaller than the difference between the side and the opposite side.

【0032】(実施例4)本例では、実施例3に加え、
さらに図8に示すようにシャワープレートの上部に突起
801を吹出口803のない部分に設けて、シャワープ
レートの上に板804を載せた時にこの突起が隙間板8
04に当たるためギャップの高さが面内で均一になるよ
うにした。
(Embodiment 4) In this embodiment, in addition to Embodiment 3,
Further, as shown in FIG. 8, a projection 801 is provided on the upper part of the shower plate without the outlet 803, and when the plate 804 is placed on the shower plate, the projection is
In order to hit 04, the height of the gap was made uniform in the plane.

【0033】さらにこのシャワープレートをマイクロ波
プラズマに用いる場合に、そのスペーサーの表面でプラ
ズマが損失するためギャップでのプラズマ着火が起こり
にくいようにした。シャワープレートとその吹出口、お
よびシャワープレートの上に載せる隙間板804は、マ
イクロ波をよく透過するアルミナを用いた。シャワープ
レート上部の突起は1mm角、高さ1mmとした。
Further, when this shower plate is used for microwave plasma, plasma is lost at the surface of the spacer, so that plasma ignition in the gap is hardly caused. The shower plate, its outlet, and the gap plate 804 placed on the shower plate were made of alumina that transmits microwaves well. The projection on the upper part of the shower plate was 1 mm square and 1 mm high.

【0034】このシャワープレートを図9に示すラジア
ルラインスロットアンテナを用いた2.45GHzマイ
クロ波励起プラズマ装置のマイクロ波導入部に設置し、
マイクロ波を投入した時にシャワープレートのギャップ
にプラズマが着火するかどうか調べた。マイクロ波は同
軸同波管906を通ってラジアルラインスロットアンテ
ナ905に供給され、マイクロ波はこのアンテナ905
から平面波としてチャンバーに供給される。プラズマ9
03はシャワープレート901とウェーハ904の間の
プロセス空間に発生する。
This shower plate was placed in the microwave introduction part of a 2.45 GHz microwave excited plasma apparatus using the radial line slot antenna shown in FIG.
It was investigated whether plasma was ignited in the gap of the shower plate when microwaves were applied. The microwave is supplied to the radial line slot antenna 905 through the coaxial waveguide tube 906, and the microwave is supplied to the antenna 905.
Is supplied to the chamber as a plane wave. Plasma 9
03 occurs in a process space between the shower plate 901 and the wafer 904.

【0035】図10に、ギャップ内でプラズマが着火す
る最小マイクロ波電力のギャップ圧力依存性を示す。本
例のシャワープレート上部に突起を設けて、上に載せる
隙間板804とのスぺーサーとした場合、スペーサーが
無い時と比べてギャップ内でプラズマが着火する電力が
大きくなっていることから、本例の構造がギャップ内で
プラズマを着火しにくくする効果が確認された。
FIG. 10 shows the gap pressure dependence of the minimum microwave power at which the plasma is ignited in the gap. In the case where the projection is provided on the upper part of the shower plate of the present example and the spacer is used as a spacer with the gap plate 804 placed thereon, since the power for plasma ignition in the gap is larger than when there is no spacer, It was confirmed that the structure of the present example made it difficult to ignite plasma in the gap.

【0036】上記実施例ではアルミナを用いたが必ずし
もアルミナを用いる必要はなく、例えば窒化アルミニウ
ムや窒化シリコンを用いても良い。また突起はシャワー
プレートに載せる板に付けてもよいし、スぺーサーを置
いてもよい。また形状は正方形を碁盤の目状に並べたも
のに限らず、螺旋状や同心円と放射線の組み合わせなど
の形状で溝を掘っても構わない。
Although alumina is used in the above embodiment, it is not always necessary to use alumina. For example, aluminum nitride or silicon nitride may be used. The projection may be attached to a plate placed on the shower plate, or a spacer may be placed. Further, the shape is not limited to the squares arranged in a grid pattern, and a groove may be dug in a spiral shape or a combination of concentric circles and radiation.

【0037】[0037]

【発明の効果】本発明によれば次の諸々の効果が達成さ
れる。材料に関わりなく吹出口の形成が容易である。
According to the present invention, the following effects can be achieved. The outlet can be easily formed regardless of the material.

【0038】マイクロ波励起プラズマ装置に用いた場
合、シャワープレートとその上に載せる隙間板とのギャ
ップにおいてプラズマが着火するのを防ぐことが可能で
ある。吹出口の配列パターンの不均一を無くすことがで
きる。
When used in a microwave-excited plasma apparatus, it is possible to prevent plasma from igniting in the gap between the shower plate and the gap plate placed thereon. Non-uniformity in the arrangement pattern of the outlets can be eliminated.

【0039】ガス流量を減らした場合にもガスの吹き出
し量のチャンバーの中心軸に対し軸対称性が保つことが
できる。
Even when the gas flow rate is reduced, axial symmetry of the amount of gas blown out with respect to the central axis of the chamber can be maintained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来の真っ直ぐな孔のガス吹き出し口を有する
シャワープレートの断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a conventional shower plate having a straight hole gas outlet.

【図2】実施例1に係る、大き目の孔に円柱を挿入した
ガス吹き出し部を有するシャワープレートの断面図であ
る。
FIG. 2 is a cross-sectional view of the shower plate according to the first embodiment, which has a gas blowing portion in which a cylinder is inserted into a large hole.

【図3】実施例2に係る、大き目の孔に円柱を挿入した
ガス吹き出し部で吹き出し先端がテーパー状に広がった
構造を有するシャワープレートの断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of a shower plate according to a second embodiment, having a structure in which a blow-out tip expands in a tapered shape at a gas blow-out portion in which a cylinder is inserted into a large hole.

【図4】実施例3に係る、シャワープレート側面から中
央上部に通じる孔をあけることにより、シャワープレー
トの各孔にガスを送るギャップへガスを導入する部分を
シャワープレートの中央に有するシャワープレートの断
面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a shower plate according to a third embodiment, which has a portion for introducing gas into a gap for sending gas to each hole of the shower plate by making a hole from the side surface of the shower plate to the upper center. It is sectional drawing.

【図5】実施例1に係る、シャワープレートの各孔のコ
ンダクタンスの測定系の概念図である。
FIG. 5 is a conceptual diagram of a measurement system of conductance of each hole of the shower plate according to the first embodiment.

【図6】実施例1に係る、シャワープレートの孔のコン
ダクタンスの設計値と実測値の一例を示すグラフであ
る。
FIG. 6 is a graph showing an example of a design value and a measured value of the conductance of the hole of the shower plate according to the first embodiment.

【図7】実施例1から3に係る、図1から3を取り付け
ることが可能な、ダイポールリングマグネットを用いた
高周波励起平行平板型マグネトロンエッチング装置の概
念図である。
FIG. 7 is a conceptual diagram of a high-frequency excited parallel plate type magnetron etching apparatus using a dipole ring magnet and capable of attaching FIGS. 1 to 3 according to the first to third embodiments.

【図8】実施例4に係る、シャワープレートの各孔にガ
スを送るギャップ部分を、シャワープレートの上部に縦
横の溝を設けて、その上に別の板を載せることによって
形成したシャワープレートである。
FIG. 8 shows a shower plate according to Example 4, which is formed by providing vertical and horizontal grooves in the upper portion of the shower plate and placing another plate on the gap portion for sending gas to each hole of the shower plate. is there.

【図9】実施例4に係る、図8の構造を有するシャワー
プレートを取り付けたラジアルラインスロットアンテナ
を用いたマイクロ波励起プラズマ装置の概念図である。
FIG. 9 is a conceptual diagram of a microwave-excited plasma apparatus using a radial line slot antenna to which a shower plate having the structure of FIG.

【図10】実施例4に係る、図9のプラズマ装置を用い
て測定した、ギャップ内でのプラズマ着火が起こる最小
マイクロ波電力の圧力依存性を示すデータである。
10 is data showing the pressure dependence of the minimum microwave power at which plasma ignition occurs in the gap, measured using the plasma apparatus of FIG. 9 according to Example 4. FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101、201、401 隙間板、 102、202、402 シャワープレート、 103、203、403 ギャップ、 104、207、307 吹出口、 204、304 円柱、 205 雄ネジ、 206 雌ネジ、 208 切欠、 404 通路、 405 入口、 406 出口、 504 流量コントローラー、 505 圧力計、 506 コンダクタンスバルブ、 507 真空ポンプ、 704 ウェーハ、 702 配管、 705 ダイポールリングマグネット、 706 チャンバー壁、 708 ブロッキングコンデンサー、 709 高周波電源、 801 突起、 803 吹出口、 804 隙間板、 901 シャワープレート、 903 プラズマ、 904 ウェーハ、 905 ラジアルラインスロットアンテナ、 906 同軸同波管。 101, 201, 401 gap plate, 102, 202, 402 shower plate, 103, 203, 403 gap, 104, 207, 307 outlet, 204, 304 cylinder, 205 male screw, 206 female screw, 208 cutout, 404 passage, 405 inlet, 406 outlet, 504 flow controller, 505 pressure gauge, 506 conductance valve, 507 vacuum pump, 704 wafer, 702 piping, 705 dipole ring magnet, 706 chamber wall, 708 blocking condenser, 709 high frequency power supply, 801 protrusion, 803 blowing Exit, 804 gap plate, 901 shower plate, 903 plasma, 904 wafer, 905 radial line slot antenna, 906 coaxial waveguide.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 新田 雄久 東京都文京区本郷4丁目1−7 株式会社 ウルトラクリーンテクノロジー開発研究所 内 (72)発明者 平山 昌樹 宮城県仙台市青葉区荒巻字青葉(無番地) 東北大学内 (72)発明者 森井 明雄 宮城県仙台市青葉区荒巻字青葉(無番地) 東北大学内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Yuhisa Nitta 4- 1-7 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo Inside Ultra Clean Technology Development Laboratory Co., Ltd. (72) Inventor Masaki Hirayama Aoba Aramaki Aoba-ku, Sendai, Miyagi Prefecture (No address) Inside Tohoku University (72) Inventor Akio Morii Aoba, Aoba-ku, Aoba-ku, Sendai, Miyagi (No address) Inside Tohoku University

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プレートに複数の吹出口を有するシャワ
ープレートにおいて、該吹出口は、該プレートに開けら
れた孔と、該孔に挿入された該孔よりも小さな径を有す
る円柱との間に形成される空間により形成されているこ
とを特徴とするシャワープレート。
1. A shower plate having a plurality of outlets in a plate, wherein the outlet is provided between a hole formed in the plate and a cylinder having a smaller diameter than the hole inserted into the hole. A shower plate characterized by being formed by a space formed.
【請求項2】 該吹出口をテーパー状にしたことを特徴
とする請求項1記載のシャワープレート。
2. The shower plate according to claim 1, wherein said outlet is tapered.
【請求項3】 該シャワープレートは誘電体材料からな
ることを特徴とする請求項1または2記載のシャワープ
レート。
3. The shower plate according to claim 1, wherein the shower plate is made of a dielectric material.
【請求項4】 該シャワープレートはマイクロ波励起プ
ラズマ装置用であることを特徴とする請求項1乃至3の
いずれか1項記載のシャワープレート。
4. The shower plate according to claim 1, wherein the shower plate is for a microwave-excited plasma device.
【請求項5】 側面に開口する入口と、中央部において
上面側に開口する出口と、該入口と該出口とを連通し、
内部に形成された通路とからなるガス導入路が形成され
ていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項
記載のシャワープレート。
5. An inlet opening on the side surface, an outlet opening on the upper surface side at the center, communicating the inlet with the outlet,
The shower plate according to any one of claims 1 to 4, wherein a gas introduction passage including a passage formed inside is formed.
【請求項6】 プレートに複数の吹出口を有するシャワ
ープレートと、 該シャワープレートの上方に、シャワープレートとの間
でギャップを形成して配置された隙間板と、 該ギャップ内にプロセスガスを導入するためのガス導入
路と、を有するシャワープレート周辺構造において、 該シャワープレートの側面に開口する入口と、シャワー
プレート中央部において該ギャップ側に開口する出口
と、該入口と該出口とに連通し、該シャワープレート内
部に形成された通路とにより該ガス導入路が構成されて
いることを特徴とするシャワープレート周辺構造。
6. A shower plate having a plurality of outlets in a plate, a gap plate formed above the shower plate with a gap formed between the shower plate, and a process gas introduced into the gap. A gas inlet channel for the shower plate, an inlet opening on the side surface of the shower plate, an outlet opening on the gap side at the center of the shower plate, and communicating with the inlet and the outlet. A shower plate peripheral structure, wherein the gas introduction passage is constituted by a passage formed inside the shower plate.
【請求項7】 該シャワープレートは誘電体材料からな
ることを特徴とする請求項6記載のシャワープレート周
辺構造。
7. The shower plate peripheral structure according to claim 6, wherein said shower plate is made of a dielectric material.
【請求項8】 プレートに複数の吹出口を有するシャワ
ープレートと、 該シャワープレートの上方に、シャワープレートとの間
でギャップを形成して配置された隙間板と、 該ギャップ内にプロセスガスを導入するためのガス導入
路と、を有するシャワープレート周辺構造において、 該隙間板と該シャワープレートとの間にスペーサーを複
数個設けたことを特徴とするシャワープレート周辺構
造。
8. A shower plate having a plurality of outlets in a plate, a gap plate formed above the shower plate with a gap formed between the shower plate, and a process gas introduced into the gap. And a gas introduction path for performing the above operation, wherein a plurality of spacers are provided between the gap plate and the shower plate.
【請求項9】 該シャワープレートの上面に複数の突起
を高さが同一となるように形成し、該突起をスペーサー
としたことを特徴とする請求項8記載のシャワープレー
ト周辺構造。
9. The shower plate peripheral structure according to claim 8, wherein a plurality of protrusions are formed on the upper surface of the shower plate so as to have the same height, and the protrusions are spacers.
【請求項10】 請求項1乃至5のいずれか1項記載の
シャワープレートを用いたプロセス装置。
10. A process apparatus using the shower plate according to claim 1.
【請求項11】 請求項6乃至9いずれか1項記載のシ
ャワープレートを用いたプロセス装置。
11. A process apparatus using the shower plate according to claim 6. Description:
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Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6286454B1 (en) 1999-05-31 2001-09-11 Tadahiro Ohmi Plasma process device
US6358324B1 (en) * 1999-04-27 2002-03-19 Tokyo Electron Limited Microwave plasma processing apparatus having a vacuum pump located under a susceptor
WO2002023609A1 (en) * 2000-09-14 2002-03-21 Tokyo Electron Limited High speed silicon etching method
WO2003069021A1 (en) * 2002-02-12 2003-08-21 Hitachi Zosen Corporation Induction heating coil
JP2005033167A (en) * 2003-06-19 2005-02-03 Tadahiro Omi Shower plate, plasma processing device and method of producing products
WO2005064998A1 (en) * 2003-12-26 2005-07-14 Tadahiro Ohmi Plasma processing apparatus
KR100680867B1 (en) 2005-05-31 2007-02-09 주식회사 유진테크 The structure of nozzle pin-inserted-shower head
JP2007273913A (en) * 2006-03-31 2007-10-18 Shimadzu Corp Surface wave excitation plasma treatment device
JP2007335510A (en) * 2006-06-13 2007-12-27 Hokuriku Seikei Kogyo Kk Shower plate, plasma processing device using the same, plasma processing method and manufacturing method of electronic apparatus
WO2008010520A1 (en) * 2006-07-20 2008-01-24 Tokyo Electron Limited Shower plate, method for producing the same, plasma processing apparatus using the shower plate, plasma processing method, and method for manufacturing electronic device
JP2008538256A (en) * 2005-04-01 2008-10-16 ラム リサーチ コーポレイション High speed peeling downstream chamber
JP2009228054A (en) * 2008-03-21 2009-10-08 Shimadzu Corp Plasma electrode and plasma chemical vapor deposition system
DE112008001130T5 (en) 2007-06-11 2010-04-29 Tokyo Electron Ltd. A plasma processing apparatus, a power supply apparatus, and a method of operating the plasma processing apparatus
US7879182B2 (en) 2003-12-26 2011-02-01 Foundation For Advancement Of International Science Shower plate, plasma processing apparatus, and product manufacturing method
JP2011071498A (en) * 2009-08-25 2011-04-07 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method of forming microcrystal semiconductor film, and method of manufacturing semiconductor device
JP2012060101A (en) * 2010-08-12 2012-03-22 Toshiba Corp Gas supply member, plasma processing device, and yttria containing film formation method
JP2012057251A (en) * 2010-08-13 2012-03-22 Toshiba Corp Protective film, method for forming the same, apparatus for manufacturing semiconductor, and plasma treatment apparatus
JP2012256895A (en) * 2007-03-16 2012-12-27 Sosul Co Ltd Plasma processing apparatus and plasma processing method
JP2013076685A (en) * 2011-09-30 2013-04-25 Ulvac Japan Ltd Flow rate measurement apparatus
JP2013084997A (en) * 2010-08-12 2013-05-09 Toshiba Corp Gas supply member, plasma processing apparatus, and formation method of yttria containing film
JP2019207912A (en) * 2018-05-28 2019-12-05 東京エレクトロン株式会社 Upper electrode assembly, processing apparatus, and manufacturing method of upper electrode assembly
KR20210047375A (en) * 2018-09-26 2021-04-29 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Thermally conductive spacer for plasma processing chamber

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5651828A (en) * 1979-09-28 1981-05-09 Ibm Method and device for forming field for uniform gaseous molecule
JPS63263725A (en) * 1987-04-22 1988-10-31 Hitachi Ltd Plasma treatment apparatus
JPH0745584A (en) * 1993-07-27 1995-02-14 Kokusai Electric Co Ltd Dry etching device and method
JPH07272897A (en) * 1994-03-31 1995-10-20 Sumitomo Metal Ind Ltd Microwave plasma device
JPH0817748A (en) * 1994-06-27 1996-01-19 Tokyo Electron Ltd Plasma processing device
JPH08288266A (en) * 1994-09-16 1996-11-01 Applied Materials Inc Gas injection slit nozzle for plasma process reactor
JPH09181046A (en) * 1995-12-21 1997-07-11 Hitachi Ltd Semiconductor manufacturing method and apparatus
JPH09283499A (en) * 1996-04-12 1997-10-31 Tokyo Electron Ltd Plasma processing device
JPH1064881A (en) * 1996-08-20 1998-03-06 Hitachi Ltd Plasma etching device, and plasma etching method

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5651828A (en) * 1979-09-28 1981-05-09 Ibm Method and device for forming field for uniform gaseous molecule
JPS63263725A (en) * 1987-04-22 1988-10-31 Hitachi Ltd Plasma treatment apparatus
JPH0745584A (en) * 1993-07-27 1995-02-14 Kokusai Electric Co Ltd Dry etching device and method
JPH07272897A (en) * 1994-03-31 1995-10-20 Sumitomo Metal Ind Ltd Microwave plasma device
JPH0817748A (en) * 1994-06-27 1996-01-19 Tokyo Electron Ltd Plasma processing device
JPH08288266A (en) * 1994-09-16 1996-11-01 Applied Materials Inc Gas injection slit nozzle for plasma process reactor
JPH09181046A (en) * 1995-12-21 1997-07-11 Hitachi Ltd Semiconductor manufacturing method and apparatus
JPH09283499A (en) * 1996-04-12 1997-10-31 Tokyo Electron Ltd Plasma processing device
JPH1064881A (en) * 1996-08-20 1998-03-06 Hitachi Ltd Plasma etching device, and plasma etching method

Cited By (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6358324B1 (en) * 1999-04-27 2002-03-19 Tokyo Electron Limited Microwave plasma processing apparatus having a vacuum pump located under a susceptor
US6286454B1 (en) 1999-05-31 2001-09-11 Tadahiro Ohmi Plasma process device
US6446573B2 (en) 1999-05-31 2002-09-10 Tadahiro Ohmi Plasma process device
WO2002023609A1 (en) * 2000-09-14 2002-03-21 Tokyo Electron Limited High speed silicon etching method
US7022616B2 (en) 2000-09-14 2006-04-04 Tokyo Electron Limited High speed silicon etching method
WO2003069021A1 (en) * 2002-02-12 2003-08-21 Hitachi Zosen Corporation Induction heating coil
JP2005033167A (en) * 2003-06-19 2005-02-03 Tadahiro Omi Shower plate, plasma processing device and method of producing products
WO2005064998A1 (en) * 2003-12-26 2005-07-14 Tadahiro Ohmi Plasma processing apparatus
JP2005196994A (en) * 2003-12-26 2005-07-21 Tadahiro Omi Plasma processing device, plasma processing method, and manufacturing method of product
US7879182B2 (en) 2003-12-26 2011-02-01 Foundation For Advancement Of International Science Shower plate, plasma processing apparatus, and product manufacturing method
JP2008538256A (en) * 2005-04-01 2008-10-16 ラム リサーチ コーポレイション High speed peeling downstream chamber
US8298336B2 (en) 2005-04-01 2012-10-30 Lam Research Corporation High strip rate downstream chamber
KR100680867B1 (en) 2005-05-31 2007-02-09 주식회사 유진테크 The structure of nozzle pin-inserted-shower head
JP2007273913A (en) * 2006-03-31 2007-10-18 Shimadzu Corp Surface wave excitation plasma treatment device
JP2007335510A (en) * 2006-06-13 2007-12-27 Hokuriku Seikei Kogyo Kk Shower plate, plasma processing device using the same, plasma processing method and manufacturing method of electronic apparatus
KR101094979B1 (en) * 2006-07-20 2011-12-20 고쿠리츠 다이가쿠 호진 도호쿠 다이가쿠 Shower plate and manufacturing method thereof, and plasma processing apparatus, plasma processing method and electronic device manufacturing method using the shower plate
US20090311869A1 (en) * 2006-07-20 2009-12-17 Tokyo Electron Limited Shower plate and manufacturing method thereof, and plasma processing apparatus, plasma processing method and electronic device manufacturing method using the shower plate
TWI411360B (en) * 2006-07-20 2013-10-01 Tokyo Electron Ltd A shower plate and a method of manufacturing the same, and a plasma processing apparatus using the shower plate, a plasma processing method, and a manufacturing method of the electronic device
JP2008047883A (en) * 2006-07-20 2008-02-28 Hokuriku Seikei Kogyo Kk Shower plate and its fabrication process, plasma processing equipment employing it, plasma processing method and process for fabricating electronic device
WO2008010520A1 (en) * 2006-07-20 2008-01-24 Tokyo Electron Limited Shower plate, method for producing the same, plasma processing apparatus using the shower plate, plasma processing method, and method for manufacturing electronic device
US8888950B2 (en) 2007-03-16 2014-11-18 Charm Engineering Co., Ltd. Apparatus for plasma processing and method for plasma processing
JP2012256895A (en) * 2007-03-16 2012-12-27 Sosul Co Ltd Plasma processing apparatus and plasma processing method
DE112008001130T5 (en) 2007-06-11 2010-04-29 Tokyo Electron Ltd. A plasma processing apparatus, a power supply apparatus, and a method of operating the plasma processing apparatus
JP2009228054A (en) * 2008-03-21 2009-10-08 Shimadzu Corp Plasma electrode and plasma chemical vapor deposition system
JP2011071498A (en) * 2009-08-25 2011-04-07 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method of forming microcrystal semiconductor film, and method of manufacturing semiconductor device
JP2012060101A (en) * 2010-08-12 2012-03-22 Toshiba Corp Gas supply member, plasma processing device, and yttria containing film formation method
JP2013084997A (en) * 2010-08-12 2013-05-09 Toshiba Corp Gas supply member, plasma processing apparatus, and formation method of yttria containing film
JP2012057251A (en) * 2010-08-13 2012-03-22 Toshiba Corp Protective film, method for forming the same, apparatus for manufacturing semiconductor, and plasma treatment apparatus
JP2013076685A (en) * 2011-09-30 2013-04-25 Ulvac Japan Ltd Flow rate measurement apparatus
JP2019207912A (en) * 2018-05-28 2019-12-05 東京エレクトロン株式会社 Upper electrode assembly, processing apparatus, and manufacturing method of upper electrode assembly
KR20210047375A (en) * 2018-09-26 2021-04-29 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Thermally conductive spacer for plasma processing chamber

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