JPH11295819A - レーザー露光装置の光軸調整装置 - Google Patents

レーザー露光装置の光軸調整装置

Info

Publication number
JPH11295819A
JPH11295819A JP10096417A JP9641798A JPH11295819A JP H11295819 A JPH11295819 A JP H11295819A JP 10096417 A JP10096417 A JP 10096417A JP 9641798 A JP9641798 A JP 9641798A JP H11295819 A JPH11295819 A JP H11295819A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
laser
beam splitter
optical axis
monitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10096417A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuichi Shimizu
修一 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd filed Critical Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP10096417A priority Critical patent/JPH11295819A/ja
Publication of JPH11295819A publication Critical patent/JPH11295819A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Projection-Type Copiers In General (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 1箇所における検出によりレーザー光のズレ
を正確に把握でき、調整段階で利用される光学部材を実
際の描画段階でも取り外す必要がない光軸調整装置の提
供を課題(目的)とする。 【解決手段】 レーザー光源1から発するレーザー光を
偏光ビームスプリッター2により二分し、反射光を露光
面に向け、透過光を第1のモニター光LM1とする。第
1のミラー3は、露光面に向かうレーザー光の一部を第
2のモニター光LM2として反射させ、他の一部を描画
光LDとして露光面側に透過させる。第2のモニター光
LM2は、偏光ビームスプリッター2を透過した後、第
2のミラー4で反射されて再び偏光ビームスプリッター
2に入射する。第1のミラー3はレーザー光の基準光軸
に対し所定角度傾いて配置されており、第1、第2のモ
ニター光LM1,LM2は、重複せずに並列して受光手段
10に入射する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、レーザー光を利
用した露光装置における光軸調整装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の露光装置としては、例えばレー
ザー光源から発したレーザー光を走査光学系により走査
することにより露光面上にパターンを描画するレーザー
フォトプロッター等の装置が知られている。この種の露
光装置においては、描画精度を保つために走査光学系へ
のレーザー光の入射方向を設計値に一致させて厳密に保
つ必要がある。このため、レーザー光源やミラー等の光
学部材の位置も高精度で調整される必要がある。そして
調整の前提として、あるいは調整結果の確認のために
は、実際にレーザー光源を起動してレーザー光の位置・
方向を検出し、これが設計値からズレていないか否かを
判定すればよい。
【0003】従来の検出方法としては、レーザー光の光
路中にピンホール板を配置する方法、あるいは、光路中
にスクリーン(拡散板)を配置する方法等が知られてい
る。前者の方法を利用する場合には、ピンホール板を、
ピンホールの位置が設計上の光軸と一致するよう配置
し、作業員が眼で観察しながらレーザー光がピンホール
板を通過するよう光学部材の位置を調整する。後者の方
法を利用する場合には、スクリーン上に投影されるレー
ザー光の位置を眼で確認し、あるいはCCDカメラ等を
用いて撮影し、これが目的とする正確な位置に一致する
ように光学部材の位置を調整する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の検出方法では、所定の1箇所でレーザー光の通
過位置を検出できるのみであるため、例えばレーザー光
の通過位置が正規の位置からずれている場合にも、その
ズレがレーザー光の平行なシフトなのか、傾きなのかを
区別することができない。
【0005】したがって、設置誤差が実際は平行なシフ
トであるにもかかわらず、傾きを補正してレーザー光の
通過位置を正規の位置に一致させた場合や、逆に実際に
は設置誤差が傾きであるにもかかわらず、レーザー光源
を平行にシフトさせて一致させた場合には、検出位置で
の通過位置は一致するものの、描画面に近い側での通過
位置がずれることになり、描画精度に悪影響を与える。
調整の精度を高めるためには、2箇所以上でレーザー光
の通過位置を検出して両者のバランスをみながら調整す
る必要があるが、このような調整は著しく手間がかか
る。
【0006】また、従来の検出方法では、ピンホール
板、あるいはスクリーンを光路中に設けた状態ではレー
ザー光の大部分がこれらによって遮られることになるた
め、描画に利用する際にはピンホール板、あるいはスク
リーンを取り外し、調整の度に配置し直す必要があり、
部品交換による再調整作業等において作業者の負担が大
きいという問題がある。
【0007】この発明は、上述した従来技術の問題点に
鑑みてなされたものであり、1箇所における検出により
レーザー光のズレを正確に把握して正確な調整が可能で
あり、かつ、調整段階で利用される光学部材を実際の描
画に利用される段階でも取り外す必要がなく、調整の際
の作業者の負担を軽くすることができるレーザー露光装
置の光軸調整装置の提供を課題(目的)とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明にかかるレーザ
ー露光装置の光軸調整装置は、上記の目的を達成させる
ため、レーザー光源から発するレーザー光を反射光と透
過光とに二分し、いずれか一方のレーザー光を露光面に
向け、他方を第1のモニター光とするビームスプリッタ
ーと、ビームスプリッターと露光面との間に配置されて
露光面に向かうレーザー光の一部を第2のモニター光と
して反射させてビームスプリッターに入射させ、他の一
部を描画光として露光面側に透過させる第1のミラー
と、ビームスプリッターから射出した第2のモニター光
を再びビームスプリッターに入射させる第2のミラー
と、第1のモニター光と第2のミラーで反射された後に
ビームスプリッターから射出した第2のモニター光とが
入射する受光手段とを備え、この受光手段の位置で第
1、第2のモニター光が重複せずに並列するように、第
1、第2のミラーの少なくとも一方がレーザー光の基準
光軸に対し傾いて配置されていることを特徴とする。
【0009】上記の構成によれば、第1のモニター光は
相対的に短い光路で受光手段に入射し、第2のモニター
光は相対的に長い光路を経て受光手段に入射する。例え
ばレーザー光源の平行なシフトによるレーザー光のズレ
は光路長が変化しても変化しないが、傾きによるズレは
光路長が長くなるほど拡大する。そこで、1箇所に設け
た受光手段上での各モニター光の基準位置からのずれを
検出することにより、両者のズレ量が同一である場合に
は平行なシフト、第2のモニター光のズレ量が第1のモ
ニター光のズレ量より大きい場合には、傾きが原因であ
ることがわかり、かつ、それぞれのズレ量から誤差の量
も判断できる。したがって、検出されたズレ量に基づい
て光学部材の位置を調整することにより、レーザー光の
位置、方向を正確に調整することができる。
【0010】また、描画面に向かうレーザー光が遮断さ
れないため、調整時のみならず描画時においてもビーム
スプリッターやミラー等の調整のために用いられる光学
部材を配置したままでよく、再調整の際等における作業
者の負担を軽減することができる。
【0011】受光手段としては、第1、第2のモニター
光の入射位置を視認可能なスクリーン、あるいは第1、
第2のモニター光の入射位置を検出するセンサを用いる
ことができる。センサを用いる場合には、このセンサの
出力に基づいてレーザー光源の姿勢を調整する駆動機構
を設けることにより、レーザー光源の位置を自動的に調
整して正確な位置に設定することもできる。
【0012】ビームスプリッターは、望ましくは偏光ビ
ームスプリッターであり、ビームスプリッターと第1の
ミラーとの間に第1の1/4波長板を配置し、ビームス
プリッターと第2のミラーとの間に第2の1/4波長板
を配置することが望ましい。レーザー光源から発するレ
ーザー光が直線偏光である場合、偏光ビームスプリッタ
ーと1/4波長板とを用いることにより、レーザー光を
有効に利用することができる。
【0013】具体的には、レーザー光がビームスプリッ
ターに対してS偏光として入射するようレーザー光源が
配置されている場合には、受光手段は、ビームスプリッ
ターを透過したレーザー光が第1モニター光として入射
する位置に配置される。一方、レーザー光がビームスプ
リッターに対してP偏光として入射するようレーザー光
源が配置される場合には、受光手段は、ビームスプリッ
ターで反射されたレーザー光が第1モニター光として入
射する位置に配置される。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、この発明にかかるレーザー
露光装置の光軸調整装置の実施形態を2例説明する。図
1は、第1の実施形態を示し、レーザー露光装置の一
部、光軸調整装置を含む部分の光学系および制御系の構
成を示す説明図である。
【0015】図1の光学系は、レーザー光源1、このレ
ーザー光源1から発するレーザー光を反射光と透過光と
に二分して反射光を露光面に向け、透過光を第1のモニ
ター光LM1とする偏光ビームスプリッター2、露光面
に向かうレーザー光の一部(5%)を第2のモニター光L
M2として反射させ、他の一部を描画光LDとして露光
面側に透過させる第1のミラー3、偏光ビームスプリッ
ター2を透過した第2のモニター光LM2を再び偏光ビ
ームスプリッター2に入射させる第2のミラー4、第1
のモニター光LM1と偏光ビームスプリッター2で反射
された第2のモニター光LM2とが入射する受光手段1
0を備えている。
【0016】なお、受光手段10の位置で第1、第2の
モニター光LM1,LM2が重複せずに並列するように、
第1のミラー3はレーザー光の基準光軸に対し所定角度
傾いて配置されている。基準光軸は、レーザー光源1を
含む各光学部材が設計値通り正確に位置決めされた際の
光軸である。なお、ミラーの傾きは第2のモニター光L
M2を基準光軸からずらすことを目的としているため、
傾けるミラーは第1ミラー3に限られず、第2ミラー4
を傾けてもよいし、これら2枚のミラーを共に傾けても
よい。
【0017】偏光ビームスプリッター2と第1のミラー
3との間には、光路を直角に曲げる光路屈折ミラー5が
配置され、この光路屈折ミラー5とビームスプリッター
との間には第1の1/4波長板6が設けられている。ま
た、偏光ビームスプリッター2と第2のミラー4との間
には、第2の1/4波長板7が設けられている。
【0018】受光手段10は、第1、第2のモニター光
LM1,LM2の入射位置を視認可能なスクリーン(拡散
板)11と、このスクリーン11上でのモニター光の入
射位置を検出するセンサとしてのCCDカメラ12とを
備えている。CCDカメラ12からの画像信号は、画像
処理装置13により処理されてレーザー光源1の姿勢に
関する補正信号に変換され、レーザー駆動部駆動回路1
4へ伝達される。レーザー駆動部駆動回路14は、入力
された補正信号に対応してレーザー駆動部15を制御す
る。レーザー駆動部15は、レーザー光を平行にシフト
させ、あるいは任意の方向に傾けるようレーザー光源1
の姿勢を調整することができる。
【0019】この例では、レーザー光源1から発するレ
ーザー光が直線偏光であり、その電解ベクトルの振動方
向が紙面と垂直になるよう設定されている。したがっ
て、レーザー光源1からのレーザー光は、偏光ビームス
プリッター2に対してS偏光として入射する。偏光ビー
ムスプリッター2は、S偏光として入射する光について
は1〜2%を透過させて残りを反射させ、P偏光として
入射する光については1〜2%を反射させて残りを透過
させる。
【0020】偏光ビームスプリッター2で反射されたレ
ーザー光は、第1の1/4波長板6を通って円偏光とな
り、第1のミラー3で反射されて第2のモニター光LM
2となる。第2のモニター光LM2は、第1のミラー3で
反射されて再び第1の1/4波長板6を透過することに
より、往路とは振動方向が直交する直線偏光となり、偏
光ビームスプリッター2に対してはP偏光として入射す
る。そこで、第2のモニター光LM2の大部分は、偏光
ビームスプリッター2を透過し、第2の1/4波長板7
で円偏光とされた後、第2のミラー4で反射され、再び
第2の1/4波長板7を通って往路とは直交する直線偏
光となり、S偏光として偏光ビームスプリッター2に入
射し、ここで大部分が反射されて受光手段10に入射す
る。
【0021】上記の構成によれば、第1のモニター光L
M1はレーザー光源1とスクリーン11との直線距離で
表される相対的に短い光路長でスクリーン11に入射す
るのに対し、第2のモニター光LM2は上記の光路長
に、第1のミラー3と第2のミラー4との間の光路長の
2倍を加えた相対的に長い光路を経てスクリーン11に
入射する。例えばレーザー光源1の平行なシフトによる
レーザー光のズレは光路長が変化しても変化しないが、
傾きによるズレは光路長が長くなるほど拡大する。そこ
で、スクリーン11上での各モニター光の基準位置から
のずれを検出することにより、両者のズレ量が同一であ
る場合には平行なシフト、第2のモニター光LM2のズ
レ量が第1のモニター光LM1のズレ量より大きい場合
には、傾きが原因であることがわかり、かつ、それぞれ
のズレ量から誤差の量も判断できる。
【0022】また、描画面に向かうレーザー光が遮断さ
れないため、調整時のみならず描画時においても偏光ビ
ームスプリッター2やミラー3,4等の調整のために用
いられる光学部材を配置したままでよく、再調整の際等
における作業者の負担を軽減することができる。
【0023】なお、第1の実施形態の装置は、スクリー
ン11に入射したモニター光の位置をCCDカメラ12
により電気信号に変換し、これに基づいてレーザー光源
1の姿勢を自動的に補正するようにしているが、受光手
段としてスクリーン11のみを設け、投影されるモニタ
ー光の位置を眼で確認しながら手動で調整するようにし
てもよい。
【0024】図2は、スクリーン11上での第1、第2
のモニター光LM1,LM2の配列例を示す。各図中の円
C1,C2は、調整の許容範囲を示し、図2(a)に示した
ように各モニター光が共にそれぞれの円内に収まる場合
には、レーザー光源1の設置位置誤差が許容範囲にある
ことを意味する。この円は、自動調整の場合には少なく
とも画像処理回路13のメモリ上に設定されればよい
が、手動調整の場合にはスクリーン11上に実際に描か
れている必要がある。
【0025】例えば、レーザー光源1が図1に記号Δで
示したように設計値通りの正確な位置に対して図中下側
に平行にシフトした場合、スクリーン11上では、図2
(b)に示すように、第1、第2のモニター光LM1,L
M2が共にΔだけ下方にシフトする。一方、レーザー光
源1が図1に記号θで示したように設計値通りの正確な
位置に対して図中反時計回りに傾いた場合、スクリーン
11上では、図2(c)に示すように、第1のモニター光
LM1が僅かに下方にシフトするのに対して、第2のモ
ニター光LM2は大きく下方にシフトする。
【0026】次に、上述した第1の実施形態の光軸調整
装置を用いた処理を、図3に示すフローチャートにした
がって説明する。処理は、図3(a)に示す初期設定段階
と、図3(b)に示す光軸調整段階とに分かれる。
【0027】初期設定段階では、ステップS1で例えば
上記の手動設定の手法を用いて露光装置の光軸を正確に
調整する。調整後、CCDカメラ12を設置し(ステッ
プS2)、第1、第2のモニター光LM1,LM2の位置を
検出する(ステップS3)。検出されたモニター光の位置
が、CCDカメラ12の設置位置情報を反映した形での
当該装置におけるモニター光の基準位置データとなる。
ステップS4でこのデータを保存し、初期設定段階は終
了する。
【0028】初期設定の後、レーザー光源が交換された
場合には、再度光軸を調整する必要がある。図3(b)に
示す光軸調整段階では、自動設定が利用される。レーザ
ー光源1を交換、設置した後、CCDカメラ12により
第1、第2のモニター光LM1,LM2の位置を検出し
(ステップS11)、検出結果に基づいて画像処理回路13
により各モニター光の初期設定で求めた基準位置からの
ズレ量を求める(ステップS12)。
【0029】そして、レーザー駆動部駆動回路14は、
画像処理回路13により求められたモニター光のズレ量
から光軸の平行なシフト量と傾き量とを演算により求め
(ステップS13)、求められたシフト量、傾き量に応じて
これらを補正するようレーザー駆動部15を制御する
(ステップS14,S15)。
【0030】ステップS16,17では、ステップS11,12と
同一の処理によりモニター光の位置を検出してズレ量を
求め、ステップS18においてズレ量が許容範囲内にある
か否かを判定する。判定の結果、許容範囲内と判断され
た場合には、調整処理は終了する。許容範囲内にないと
判断された場合には、ステップS13からの処理が再度実
行される。
【0031】図4は、第2の実施形態を示し、レーザー
露光装置の一部、光軸調整装置を含む部分の光学系およ
び制御系を示す説明図である。第2の実施形態は、レー
ザー光源1から発するレーザー光が偏光ビームスプリッ
ター2aに対してP偏光として入射するようレーザー光
源1が配置されている点が第1の実施形態とは異なり、
この相違により各光学部材の配置が異なっている。ただ
し、利用される光学部材は偏光ビームスプリッターを除
いて共通であるため、共通の符合を付して重複説明を省
略する。
【0032】偏光ビームスプリッター2aは、第1の実
施形態と同様に、S偏光として入射する光については1
〜2%を透過させて残りを反射させ、P偏光として入射
する光については1〜2%を反射させて残りを透過させ
る。受光手段10は、スクリーン11とCCDカメラ1
2とを備え、偏光ビームスプリッター2aで反射された
レーザー光が第1モニター光LM1として入射する位置
に配置されている。
【0033】第2の実施形態では、偏光ビームスプリッ
ター2aを透過したレーザー光は、第1の1/4波長板
6を通って円偏光となり、第1のミラー3で反射されて
第2のモニター光LM2となる。第2のモニター光LM2
は、第1のミラー3での反射された後、再び第1の1/
4波長板6を透過することにより、往路とは振動方向が
直交する直線偏光となり、偏光ビームスプリッター2a
に対してはS偏光として入射する。そこで、第2のモニ
ター光の大部分は、偏光ビームスプリッター2aで反射
され、第2の1/4波長板で円偏光とされた後、第2の
ミラーで反射され、再び第2の1/4波長板を通って往
路とは直交する直線偏光となり、P偏光として偏光ビー
ムスプリッター2aに入射し、大部分はこれを透過して
受光手段10に入射する。
【0034】スクリーン11上での各モニター光の配置
は第1の実施形態と同様であり、各モニター光の基準位
置からのズレ量を求めることにより、レーザー光源1の
平行なシフト量と傾き量とを求めることができる。第2
の実施形態においても、CCDカメラ12から出力され
る画像信号に基づいて画像処理回路13が各モニター光
のズレ量を求め、レーザー駆動部駆動回路14がズレ量
から駆動量を求めてレーザー駆動部15を制御し、レー
ザー光源1の姿勢を補正する。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、受光手段に入射するまでの光路長が互いに異なる第
1、第2のモニター光の基準位置からのずれをそれぞれ
検出することにより、光軸のズレと傾きとを分別して検
出することができ、検出されたズレ量に基づいて光学部
材の位置を調整することにより、レーザー光の位置、方
向を正確に調整することができる。
【0036】また、描画面に向かうレーザー光が遮断さ
れないため、調整時のみならず描画時においてもビーム
スプリッターやミラー等の調整のために用いられる光学
部材を配置したままでよく、再調整の際等における作業
者の負担を軽減することができる。
【0037】受光手段としてモニター光の入射位置を視
認可能なスクリーンを用いた場合には、簡便な構成で調
整のための正確な検出が可能となる。一方、受光手段と
してモニター光の入射位置を検出するセンサを用いる場
合には、このセンサの出力に基づいてレーザー光源の姿
勢を調整する駆動機構を設けることにより、レーザー光
源の位置を自動的に調整して正確な位置に設定すること
もできる。
【0038】さらに、ビームスプリッターを偏光ビーム
スプリッターとし、ビームスプリッターと第1のミラー
との間に第1の1/4波長板を配置し、ビームスプリッ
ターと第2のミラーとの間に第2の1/4波長板を配置
した場合には、レーザー光を有効に利用することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1の実施形態にかかるレーザー露光装置の
光軸調整装置を示す光学系と制御系の説明図。
【図2】 図1の装置におけるスクリーン上でのモニタ
ー光の配置例を示す説明図。
【図3】 図1の装置の処理手順を示すフローチャー
ト。
【図4】 第1の実施形態にかかるレーザー露光装置の
光軸調整装置を示す光学系と制御系の説明図。
【符号の説明】
1 レーザー光源 2 偏光ビームスプリッター 3 第1のミラー 4 第2のミラー 6 第1の1/4波長板 7 第2の1/4波長板 10 受光手段 11 スクリーン 12 CCDカメラ 13 画像処理回路 14 レーザー駆動部駆動回路

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザー光源から発するレーザー光を露
    光面に導くレーザー露光装置の光軸調整装置において、 前記レーザー光源から発するレーザー光を反射光と透過
    光とに二分し、いずれか一方のレーザー光を前記露光面
    に向け、他方を第1のモニター光とするビームスプリッ
    ターと、 前記ビームスプリッターと前記露光面との間に配置され
    て前記露光面に向かうレーザー光の一部を第2のモニタ
    ー光として反射させて前記ビームスプリッターに入射さ
    せ、他の一部を描画光として前記露光面側に透過させる
    第1のミラーと 、前記ビームスプリッターから射出した前記第2のモニ
    ター光を再び前記ビームスプリッターに入射させる第2
    のミラーと、 前記第1のモニター光と前記第2のミラーで反射された
    後に前記ビームスプリッターから射出した前記第2のモ
    ニター光とが入射する受光手段とを備え、前記受光手段
    の位置で前記第1、第2のモニター光が重複せずに並列
    するように、前記第1、第2のミラーの少なくとも一方
    がレーザー光の基準光軸に対し傾いて配置されているこ
    とを特徴とするレーザー露光装置の光軸調整装置。
  2. 【請求項2】 前記受光手段は、前記第1、第2のモニ
    ター光の入射位置が視認可能なスクリーンであることを
    特徴とする請求項1に記載のレーザー露光装置の光軸調
    整装置。
  3. 【請求項3】 前記受光手段は、前記第1、第2のモニ
    ター光の入射位置を検出するセンサであり、前記センサ
    の出力に基づいて前記レーザー光源の姿勢を調整する駆
    動機構をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載
    のレーザー露光装置の光軸調整装置。
  4. 【請求項4】 前記ビームスプリッターは、偏光ビーム
    スプリッターであり、前記ビームスプリッターと前記第
    1のミラーとの間に第1の1/4波長板が配置され、前
    記ビームスプリッターと前記第2のミラーとの間に第2
    の1/4波長板が配置されていることを特徴とする請求
    項1〜3のいずれかに記載のレーザー露光装置の光軸調
    整装置。
  5. 【請求項5】 前記レーザー光源は、レーザー光が前記
    ビームスプリッターに対してS偏光として入射するよう
    配置され、前記受光手段は、前記ビームスプリッターを
    透過したレーザー光が前記第1モニター光として入射す
    る位置に配置されていることを特徴とする請求項4に記
    載のレーザー露光装置の光軸調整装置。
  6. 【請求項6】 前記レーザー光源は、レーザー光が前記
    ビームスプリッターに対してP偏光として入射するよう
    配置され、前記受光手段は、前記ビームスプリッターで
    反射されたレーザー光が前記第1モニター光として入射
    する位置に配置されていることを特徴とする請求項4に
    記載のレーザー露光装置の光軸調整装置。
  7. 【請求項7】 前記第1のミラーが、前記レーザー光の
    基準光軸に対し傾いて配置されていることを特徴とする
    請求項1〜6のいずれかに記載のレーザー露光装置の光
    軸調整装置。
JP10096417A 1998-04-08 1998-04-08 レーザー露光装置の光軸調整装置 Pending JPH11295819A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10096417A JPH11295819A (ja) 1998-04-08 1998-04-08 レーザー露光装置の光軸調整装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10096417A JPH11295819A (ja) 1998-04-08 1998-04-08 レーザー露光装置の光軸調整装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11295819A true JPH11295819A (ja) 1999-10-29

Family

ID=14164409

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10096417A Pending JPH11295819A (ja) 1998-04-08 1998-04-08 レーザー露光装置の光軸調整装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11295819A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007087134A3 (en) * 2006-01-20 2008-06-05 Bookham Technology Plc Optical beam steering and sampling apparatus and method
JP2011247924A (ja) * 2010-05-24 2011-12-08 Hitachi High-Technologies Corp 光源ユニット、光源ユニットの光軸調整方法、プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の露光光照射方法、及び表示用パネル基板の製造方法
WO2012127966A1 (ja) * 2011-03-23 2012-09-27 岩崎電気株式会社 ランプ位置調整方法、ランプ位置調整用具、及び照射装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007087134A3 (en) * 2006-01-20 2008-06-05 Bookham Technology Plc Optical beam steering and sampling apparatus and method
US7528364B2 (en) 2006-01-20 2009-05-05 Bookham Technology Plc Optical beam steering and sampling apparatus and method
JP2011247924A (ja) * 2010-05-24 2011-12-08 Hitachi High-Technologies Corp 光源ユニット、光源ユニットの光軸調整方法、プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の露光光照射方法、及び表示用パネル基板の製造方法
WO2012127966A1 (ja) * 2011-03-23 2012-09-27 岩崎電気株式会社 ランプ位置調整方法、ランプ位置調整用具、及び照射装置
JP2012199488A (ja) * 2011-03-23 2012-10-18 Iwasaki Electric Co Ltd ランプ位置調整方法、ランプ位置調整用具、及び照射装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW555612B (en) Laser machining apparatus
US5045679A (en) Optical path adjusting system with dual-axis wedge prisms
US5847974A (en) Measuring method and apparatus for measuring system having measurement error changeable with time
JP3931605B2 (ja) 光学素子の検査装置および光学素子の検査方法
US5742397A (en) Control device of the position and slope of a target
JPH11295819A (ja) レーザー露光装置の光軸調整装置
US7092076B2 (en) Surveying instrument
JPH05228672A (ja) 自動アライメント調整装置
JP4621725B2 (ja) 光伝送装置およびその調整方法
US20030147150A1 (en) Method for correcting oscillation-induced imaging errors in an objective
JPH09271971A (ja) レーザ加工装置
JP4079531B2 (ja) 光伝送装置およびその調整方法
JPH10239037A (ja) 観察装置
JP2001334376A (ja) レーザ加工装置及びレーザ光スポット位置補正方法
JP2625330B2 (ja) 共焦点光学系のピンホール位置制御方法及びその制御装置
JPH05115992A (ja) レーザ加工装置
JP2005351959A (ja) 画像投射装置、および、そのフォーカス調整方法
JPH09199403A (ja) 投影露光装置
US20030007153A1 (en) Alignment system of semiconductor exposure apparatus and diaphragm unit of the alignment system
JPH0847791A (ja) レーザ加工装置
JP2002222751A (ja) アライメント装置および組立て装置
US7242476B2 (en) Alignment measuring system and method of determining alignment in a photolithography process
JPH11281319A (ja) 光学素子の位置設定装置、及び光学素子の位置設定方法
JPH02133186A (ja) 炭酸ガスレーザ加工装置
JP3604801B2 (ja) 露光装置および露光方法