JPH11295586A

JPH11295586A - 測距装置及び該測距装置の調整機

Info

Publication number: JPH11295586A
Application number: JP9600998A
Authority: JP
Inventors: Osamu Nonaka; 修野中
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1998-04-08
Filing date: 1998-04-08
Publication date: 1999-10-29

Abstract

(57)【要約】【課題】低コスト、省スペースを実現しながら、電池の
状態に関わらず、高精度で測距可能にすること。【解決手段】ＩＲＥＤ１によって被写体に投光用光が投
射され、上記被写体からの反射信号光が受光素子４で受
光される。そして、電源電池９の電圧がＣＰＵ１１でモ
ニタされ、受光素子４の出力とモニタの出力に基いて、
ＣＰＵ１１によって上記被写体までの距離が決定され
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明はカメラ等に搭載さ
れる測距装置に関し、より詳細には、電池によってエネ
ルギーを供給されるタイプの測距装置及び該測距装置の
調整機に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】カメラ等に搭載される測距装置は、大電
流を駆動したり、微小な光電変換信号を扱うために、電
源電圧の影響を受けやすいものが多い。特に、乾電池を
利用するタイプの測距装置では、温度や使用回数や頻度
によって、多大な影響を受けることがある。

【０００３】特に、赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）や
発光ダイオード（ＬＥＤ）を投光光源や補助光として利
用するタイプの測距装置は、その順電圧の関係で、低い
電圧で装置の駆動ができず、種々の対応が必要であっ
た。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】例えば、本件出願人に
よる特開昭６３−１７１３１３号公報に記載されている
測距装置では、電圧確保のために特別な昇圧を行ってい
る。また、特開平９−５０７２号公報には、この方式に
よる測距を放棄して異なる方式に切換えるようにした測
距装置が開示されている。

【０００５】しかしながら、上述した何れの方式も、昇
圧回路や別方式の装置を必要としており、コストやスペ
ース上のデメリットを伴っていた。この発明は上記課題
に鑑みてなされたものであり、低コスト、省スペースを
実現しながら、電池の状態に関わらず、高精度で測距可
能な測距装置及び該測距装置の調整機を提供することを
目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】すなわちこの発明は、被
写体に投光用光を投射する投光手段と、上記被写体から
の反射信号光を受光する受光手段とを有する測距装置に
於いて、電源電圧をモニタするモニタ手段と、上記受光
手段の出力と上記モニタ手段の出力に基いて上記被写体
までの距離を決定する演算制御手段とを有することを特
徴とする。

【０００７】また、この発明は、被写体に投光用光を投
射する投光手段と、上記被写体からの反射信号光を受光
する受光手段と、測距演算のための調整値を記憶する記
憶手段とを有する測距装置のための調整機であって、上
記測距装置を駆動するための電源電圧を変化させる電源
制御手段と、この電源制御手段によって制御された電源
電圧と上記受光手段の出力に基いて上記調整値を演算す
る演算手段と、この演算手段により演算された調整値を
上記記憶手段に書込む書込み手段とを有することを特徴
とする。

【０００８】この発明は、被写体に投光用光を投射する
投光手段と、上記被写体からの反射信号光を受光する受
光手段とを有する測距装置に於いて、電源電圧がモニタ
手段でモニタされ、上記受光手段の出力と上記モニタ手
段の出力に基いて、演算制御手段によって上記被写体ま
での距離が決定される。

【０００９】またこの発明は、被写体に投光用光を投射
する投光手段と、上記被写体からの反射信号光を受光す
る受光手段と、測距演算のための調整値を記憶する記憶
手段とを有する測距装置のための調整機であって、電源
制御手段によって上記測距装置を駆動するための電源電
圧が変化させられる。そして、この電源制御手段によっ
て制御された電源電圧と上記受光手段の出力に基いて、
演算手段によって上記調整値が演算される。この演算手
段により演算された調整値は、書込み手段によって上記
記憶手段に書込まれる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施の形態を説明する。図１は、この発明の第１の実施
の形態に係る測距装置の構成を示した図である。

【００１１】図１に於いて、投光素子としての赤外発光
ダイオード（ＩＲＥＤ）１から投射された光は、投光レ
ンズ２で集光されて図示されない被写体に投射される。
そして、該被写体により反射された光は、反射光を集光
する受光レンズ３を介して受光素子４に入射される。

【００１２】上記ＩＲＥＤ１は、直列に接続されたトラ
ンジスタ５によって発光制御される。このトランジスタ
５及びＩＲＥＤ１の両端には、抵抗６及び７とトランジ
スタ８の直列回路と、電源電池９が接続される。この電
源電池９には、ＤＣ／ＤＣコンバータ１０を介してワン
チップマイクロコンピュータ等で構成される演算制御回
路（ＣＰＵ）１１が接続される。

【００１３】このＣＰＵ１１は、ＡＦＩＣ１２及びＥＥ
ＰＲＯＭ１３が外部に接続される一方、アナログ電圧信
号をデジタル情報に変換するＡ／Ｄコンバータ１５、計
算機能を有する演算部１６、所定のプログラムのシーケ
ンスで装置全体を制御する制御部１７を内部に有してい
る。更に、この制御部１７は、ピント合わせ部１８を介
してピント合わせレンズ１９を制御するようになってい
る。

【００１４】上記ＩＲＥＤ１から被写体に投射される電
気エネルギーは、電源電池９から供給される。この電源
電池９の電圧は、ＤＣ／ＤＣコンバータ１０によって昇
圧され、ＣＰＵ１１やＡＦＩＣ１２、ＥＥＰＲＯＭ１３
にエネルギー供給を行う。上記ＤＣ／ＤＣコンバータ１
０は、これらＩＣ回路には電源を供給できても、１Ａオ
ーダの電流を供給する必要のあるＩＲＥＤには対応でき
ない。そこで、ＩＲＥＤ１には、電源電池９から直接電
流が供給される。

【００１５】しかし、この電源電池９は、使用するにつ
れて電圧の減少があり、ＩＲＥＤ１はそれについて光出
力を減少させてしまう。この光量の変化は、測距の特性
を変えてしまうものである。そのため、この発明ではこ
の特性を改善している。

【００１６】上記ＣＰＵ１１は、電池電圧をチェックす
るために、トランジスタ８のベースを制御してこれをオ
ンし、電池電圧を抵抗６、７で分割して、分割された電
圧を内蔵のＡ／Ｄコンバータ１５で読取る。この電圧
は、電源電池９の両端の電圧に比例して変動するので、
ＣＰＵ１１はこのＡ／Ｄ変換の結果によって電池電圧、
つまり、投光光量の変化を検出することができる。これ
は、カメラの電池の消費をチェックする、いわゆるバッ
テリチェックの機能と同じでよい。

【００１７】上記ＡＦＩＣ１２は、上記測距用光が図示
されない被写体で反射された信号光を受光素子４で受光
して出力した微小電気信号を増幅、演算する機能を有す
るアナログ集積回路で構成される。また、受光素子４
は、フォトダイオードを想定しており、光位置検出機能
を持つ半導体位置検出素子（ＰＳＤ）でもよい。

【００１８】カメラのオートフォーカス（ＡＦ）にこの
測距装置が応用された場合、ＣＰＵ１１は、ＡＦＩＣ１
２の出力に従って所定の判断、演算を行い、ピント合わ
せ部１８を介してピント合わせレンズ１９を制御する。

【００１９】ところで、上述したように、ＩＲＥＤ１
は、電池電圧が減少すると必要な順電圧がとれずに光量
を減少させる。図２（ａ）は、ＣＰＵ１１によりＡ／Ｄ
変換して得られた電圧Ｖ_BCと、ＩＲＥＤ１の光出力Ｐ
_OUT の関係を示した図である。

【００２０】ここで、単純な光量ＡＦについて説明す
る。受光素子４が受光する光量Ｐｏは、被写体が遠距離
になるに従って減少する。図２（ｂ）は、距離Ｌの逆数
１／Ｌと上記光量Ｐｏの関係を示した特性図である。こ
の受光光量に従って、撮影レンズのピント位置を切り替
えるＡＦカメラは周知である。

【００２１】しかしながら、この方式は、発光光量が一
定であることを前提としているので、発光光量が減少す
るとカメラは遠距離と誤判断し、増加すると近距離と誤
判断してしまう。つまり、図２（ａ）に示されるような
特性がある場合、電池の消耗によって、測距性能が変化
してしまうことになる。

【００２２】図３は、このことを対策したこの発明の第
１の実施の形態の測距装置の測距動作を説明するフロー
チャートである。先ず、ステップＳ１では、上述したバ
ッテリチェックが行われて、電圧Ｖ_BCが測定される。次
に、ステップＳ２では、ＩＲＥＤ１が投射されて、図示
されない被写体から反射信号光が受光されて、その光量
ＰｏがＡＦＩＣ１２を介してＣＰＵ１１より入力され
る。ＣＰＵ１１では、図２（ｂ）に示される特性の関係
を演算することができ、光量Ｐｏから距離Ｌを求めるこ
とができる。しかし、光量Ｐｏが電池の消耗によって減
少すると、これを加味してＬを求める必要がある。

【００２３】ここでは、図２（ａ）の関係より、電圧Ｖ
_BCから出力の減少が判断される。すなわち、ステップＳ
３及び４では、上記電圧Ｖ_BCが所定値Ｖ₁ 、Ｖ₂ （Ｖ₁
＞Ｖ₂ ）と比較される。ここで、電圧Ｖ_BCが所定値Ｖ₂
よりも小さければステップＳ５へ、電圧Ｖ_BCが所定値Ｖ
₁ とＶ₂ の間であればステップＳ６へ、更に電圧Ｖ_BCが
所定値Ｖ₁ よりも大きければステップＳ７へ移行する。

【００２４】ステップＳ５では、下がった分２／３が考
慮されて光量Ｐｏが３／２倍されて補正される。また、
ステップＳ６では、下がった分１／２が考慮されて、２
倍されて補正される。

【００２５】そして、ステップＳ７では、上記ステップ
Ｓ２、Ｓ５及びＳ６で求められた光量Ｐｏより、距離Ｌ
が求められる。次に、この発明の第２の実施の形態を説
明する。

【００２６】この第２の実施の形態では、ＩＲＥＤ発光
の度に受光信号を積分する方式のＡＦを想定している。
この方式では、発光の度にランダムノイズが相殺され
て、平均化の効果によってノイズを減らして精度を向上
させることが可能になる。具体的には、図４に示される
ような、受光信号を電流信号にして積分コンデンサに流
し込む方式や、１回の発光毎に光量ＰｏをＣＰＵが求
め、発光の度に加算していく方式が考えられる。この方
式でも、近距離になると光量が増加し、積分量が増加す
る。

【００２７】この方式では、発光回数に測距のデータ
（図４のＶ_po）が比例するので、電池電圧が減少して光
量が減少しても、回数を増加させれば補正が可能であ
る。ここで、図５のフローチャートを参照して、この第
２の実施の形態に係る測距装置の測距動作について説明
する。

【００２８】先ず、ステップＳ１１にてＩＲＥＤ１の発
光回数が初期化された後、ステップＳ１２にて上述した
バッテリチェックが行われて電圧Ｖ_BCが測定される。次
に、ステップＳ１３及びＳ１４に於いて、上記電圧Ｖ_BC
が所定値Ｖ₁ 、Ｖ₂ （Ｖ₁ ＞Ｖ₂ ）と比較される。ここ
で、電圧Ｖ_BCが所定値Ｖ₁ よりも大きければステップＳ
１５へ、電圧Ｖ_BCが所定値Ｖ₁ とＶ₂ の間であればステ
ップＳ１６へ、更に電圧Ｖ_BCが所定値Ｖ₂ よりも小さけ
ればステップＳ１７へ移行する。

【００２９】ステップＳ１５では、基本の発光回数であ
る４回がｎ₁ に設定される。同様に、ステップＳ１６で
は６回が、ステップＳ１７では８回が、それぞれｎ₁ に
設定される。これは、基本の発光回数を４回とし、電圧
が下がって光量が半分になれば、回数を倍（８回投光）
にして、電圧が下がる前のレベルに上記Ｖ_poを合わせ込
むようにするためである。

【００３０】ステップＳ１８では、例えば図４に示され
るような発光及び積分が実行される。次いで、ステップ
Ｓ１９で発光回数ｎがインクリメントされた後、ステッ
プＳ２０にて、上述した設定回数が発光回数に達したか
否かがチェックされる。ここで、達していない場合は上
記ステップＳ１８へ戻る。

【００３１】上記ステップＳ１４、Ｓ１６、Ｓ１７で設
定された回数だけＩＲＥＤ１が発光された場合には、ス
テップＳ２１に移行して積分電圧Ｖ_poが読込まれる。そ
して、この積分電圧Ｖ_poに従って、ピント合わせ距離が
決定される。

【００３２】次に、この発明の第３の実施の形態を説明
する。この第３の実施の形態は、光量ＡＦではなく、三
角測距の方式によるピント合わせを行うものである。こ
の方式は、基本的に反射信号の大きさではなく、入射位
置によって測距するので、被写体の反射率の影響を受け
ずに、より高精度の測距が可能となる。

【００３３】図６は、この第３の実施の形態による測距
装置の構成を示した図である。図６に於いて、ＣＰＵ１
１からドライバ２１を介して駆動されたＩＲＥＤ１から
の測距用光は、投光レンズ２を介して距離Ｌだけ離れた
被写体２２により反射され、反射光として受光レンズ３
を介して受光素子（ＰＳＤ）４に入射される。この場
合、投光レンズ２と受光レンズ３の位置の差により、三
角測距の原理に基いて、反射信号光の受光素子４への入
射位置が、被写体２２までの距離Ｌの逆数（１／Ｌ）と
なる。

【００３４】受光素子４からは、光入射位置に従って２
つの信号電流ｉ₁ 、ｉ₂ が出力される。この信号は、ｉ
₁ ／（ｉ₁ ＋ｉ₂ ）の計算で、上述した入射位置に比例
した信号となる。したがって、ＡＦＩＣ１２では、受光
素子４の出力が算されて、図７に示されるように、上記
入射位置、つまり被写体距離の逆数１／Ｌに従った信号
が出力される。

【００３５】この第３の実施の形態による方式でも、Ａ
ＦＩＣ１２内に光量を判定する機能を有した光量判定部
２３を必要とする。例えば、非常に遠距離に存在する被
写体２２から光が反射される場合、その光量は非常に微
弱となる。このような場合、上記ＡＦＩＣ１２から出力
される信号電流ｉ₁ 、ｉ₂ の演算結果は信頼できなくな
ってしまう。したがって、光量が減少すると上記演算を
禁止、または無効化する回路が必要となる。尚、２４は
バッテリチェック回路である。

【００３６】つまり、図８に示されるように、受光素子
４の両端の出力を電圧信号として増幅するアンプ２６ａ
及び２６ｂの後段に、上記ｉ₁ ／（ｉ₁ ＋ｉ₂ ）を演算
する演算回路２７が設けられている。そして、上記アン
プ２６ｂの出力に従って、比較器２８が禁止信号を出力
する。光量が減少するとアンプ出力が小さくなるので、
これを所定のレベルと比較して演算回路２７が無効化さ
れる。

【００３７】図８に於いては、この時、アンプ２６ｂの
出力を比較に使っているが、この出力は同じ距離でも、
電源電池の消耗時、ＩＲＥＤ１の光量が減少すると変動
する。つまり、電源電池の消耗によって、図７に示され
る特性図のように、遠距離側の距離特性が変動する。

【００３８】具体例で説明すると、新品の電池（Ｖ_BCが
高い）の場合は遠距離まで特性が出るが、消耗電池（Ｖ
_BCが低い）の場合は、比較的近距離で特性が出なくな
る。図７に示されるように、同じＡＤ２の出力で判定し
ても、新品の電池では１０ｍまで測距できても、消耗電
池では５ｍまでしか測距できないということが起こり得
る。このような領域の被写体のピント合わせは、従っ
て、電池の電圧によって変更する方が好ましい。さもな
ければ、電圧が低くなった電池では、例えば風景の写真
が撮れなくなってしまうことになる。

【００３９】ところが、実際には、５ｍから１０ｍの距
離に存在する被写体よりも、風景の写真の方が写される
頻度が高く、風景写真で失敗がない設計にする方が好ま
しい。

【００４０】第３の実施の形態では、こうした前提を基
に測距を行おうとするものである。以下、図９のフロー
チャートを参照して、第３の実施の形態による測距装置
の測距動作を説明する。

【００４１】先ず、ステップＳ３１にて、ＣＰＵ１１に
より、測距結果ＡＤがＡＦＩＣ１２から取込まれる。次
いで、ステップＳ３２にて、バッテリチェック回路２４
によって、バッテリチェック（ＢＣ）が行われて電池電
圧Ｖ_BCが入力される。この電池電圧Ｖ_BCが小さいと、反
射信号が小さくなって、近距離であるにも関わらず遠距
離の判定がなされてしまう。したがって、この誤判定を
防ぐために、ステップＳ３３に於いて、電池電圧Ｖ_BCが
所定電圧Ｖ₂ と比較される。

【００４２】ここで、電池電圧が所定電圧Ｖ₂ よりも低
い場合には、ステップＳ３４に移行して、測距結果のＡ
Ｄに応じた距離判定が行われる。この判定値ＡＤ１は、
上記ステップＳ３３からステップＳ４１へ移行した、電
池電圧Ｖ_BCが高い場合の判定値ＡＤ２と切換えている。
つまり、新品の電池に比べて、同じＡＤでも光量が減っ
た分を考慮して近距離の結果を出すように補正してい
る。但し、実際には２０ｍまで測定できなくても、風景
写真をとるために、ステップＳ３６の判定では、２０ｍ
にピント合わせして被写界深度で風景をカバーするよう
にしている。

【００４３】上記ステップＳ３４及びステップＳ３５、
Ｓ３６では、上記データＡＤが図７に示されるＡＤ１、
ＡＤ２、ＡＤ３と比較される。この比較結果に応じて、
ステップＳ３７、Ｓ３８、Ｓ３９にて距離Ｌｐにそれぞ
れの値が設定される。また、電池電圧が高い時にはＡＤ
１のレベルでは、まだ上述した無効化判定がかかってい
ないので、ステップＳ４０に於いて、図７の特性に合わ
せて、測距値ＡＤより距離Ｌｐが逆関数の計算によって
求められる。上述したように、三角距離では光量の影響
は原理的にないので、近距離では電池電圧に関わらず、
図７のグラフをなす一次関数からピント合わせ距離を求
めればよい。

【００４４】また、上記ステップＳ３２にて、新品の電
池、或いは光量が大きな時には、ステップＳ４１及びＳ
４２に於いて、図７の特性に従って距離Ｌｐが設定され
る。すなわち、ステップＳ４３では１０ｍに、ステップ
Ｓ４４では２０ｍに設定される。

【００４５】そして、ステップＳ４５に於いて、設定さ
れた距離Ｌｐにピントが合わせられる。この第３の実施
の形態では、ステップＳ３６の判定で、５ｍか２０ｍか
にピント位置が分岐するので、電池電圧が消耗してくる
と、１０ｍ付近の被写体にピントが合わなくなるが、電
池をぎりぎり低い電圧まで使用してその寿命を長くする
ことができ、上述したように風景の写真を誤測距なしに
撮影することができる。

【００４６】次に、この発明の第４の実施の形態を説明
する。ＩＲＥＤは、個々の出来映えばらつきによって、
図１０（ａ）に示されるように、電流Ｉ_FPと電圧Ｖ_FPの
関係が異なる。また、光量は電流Ｉ_FPに依存するので、
電圧Ｖ_FPの高いものでは、電池が消耗すると電流Ｉ_FPが
流れにくくなって、光量低下を招きやすい。つまり、Ｉ
ＲＥＤのばらつきによって、電池電圧と期待できる光量
の関係は、図１０（ｂ）に示されるように変化する。

【００４７】そこで、この第４の実施の形態では、カメ
ラに搭載されたＩＲＥＤの個々のばらつきを考慮して、
製品組み立て工程でこのばらつきを補償する例について
説明する。加えて、ＩＲＥＤも電池も温度の影響を受け
やすいので、この点も考慮して説明する。

【００４８】図１１は、この発明の第４の実施の形態に
係る測距装置の調整機の概念を示した構成図である。組
立て途中のカメラ３０から、測距対象としてのチャート
３１に向けて測距用光が投射できるようになっている。
上記カメラ３０には電圧を可変制御可能な電源３２が接
続されるようになっており、調整機３３によってカメラ
３０のＣＰＵと通信して測距結果をモニタできるように
なっている。また、作業の環境温度も調整機３３に接続
された温度計３４によってモニタ可能になっている。
尚、３５は作業者である。

【００４９】上記調整機３３は、電気的に書き込み可能
なメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）を内蔵しており、ここに、図
１２に示されるようなデータをテーブルとして有してい
る。図１２に於いて、表の横は電圧を表し、縦は温度を
表している。これにより、電圧、温度が変動した時の光
量変化が予測できるようになっている。

【００５０】製造工程途中で温度を変化させることは困
難なので、温度による変化は代表値とし、電圧の変化の
み、実際に電源電圧を変化させて影響を実測する。つま
り、調整機３３がカメラ３０と通信して測距を行わせ、
チャート３１からの反射光量が判定されて、カメラ内部
のＥＥＰＲＯＭ（図示せず）に、図１２に示される表の
変化の程度が書込まれる。

【００５１】この調整機３３による調整の動作を、図１
３のフローチャートを参照して説明する。ステップＳ５
１で温度が測定されると、ステップＳ５２にて、電圧
が、先ず電池が新品相当の３．２Ｖに設定されて、ステ
ップＳ５３で光量データＰ₀₁が入力される。そして、ス
テップＳ５４にて電圧が２．８Ｖに設定されて、ステッ
プＳ５５で光量データＰ₀₂が入力される。ステップＳ５
６では、電圧が２．４Ｖに設定されて、ステップＳ５７
で光量データＰ₀₃が入力されるこのように、電池の新品
時相当の３．２から測定が開始され、電池消耗が模擬的
に行われて電圧を下げながら反射信号光量がモニタされ
る。そして、ステップＳ５８、Ｓ５９で変化率Ｋ₁ 、Ｋ
₂ が検出される。その後、ステップＳ６０で、上記ステ
ップＳ５８、Ｓ５９で求められた変化率Ｋ₁ 、Ｋ₂ が、
上記ステップＳ５１で測定された温度に従ってカメラ３
０内のＥＥＰＲＯＭ（図示せず）に記憶される。

【００５２】これによって、ＩＲＥＤにばらつきが多く
ても、個々のカメラの特性を補正することができる。作
業温度をモニタしておけば、その時の温度を加味して、
メモリに書込むことができる。

【００５３】カメラは、撮影の度に、この記憶されたデ
ータを基に、上述した、図３のフローチャートの係数、
図５フローチャートの発光回数、図９のフローチャート
の判定値ＡＤ１〜３等を変更して、ピント合わせ距離を
決定する。

【００５４】このように、第４の実施の形態によれば、
ＩＲＥＤのばらつきまで考慮して、正確な測距をするこ
とができる。尚、この発明の上記実施態様によれば、以
下の如き構成を得ることができる。

【００５５】すなわち、（１）被写体に投光用光を投射する投光手段と、上記
被写体からの反射信号光を受光する受光手段とを有する
測距装置に於いて、装置を駆動するための電源電圧をモ
ニタするモニタ手段と、上記受光手段の出力と上記モニ
タ手段の出力に基いて上記被写体までの距離を決定する
演算制御手段とを具備することを特徴とする測距装置。

【００５６】（２）上記演算制御手段はＡ／Ｄ変換手
段を内蔵したＣＰＵで構成し、上記モニタ手段は、上記
Ａ／Ｄ変換手段を介して上記演算制御手段にモニタ結果
を出力することを特徴とする上記（１）に記載の測距装
置。

【００５７】（３）上記モニタ手段によりモニタされ
た電源電圧に応じて、上記投光手段の投射回数を変更す
ることを特徴とする上記（１）に記載の測距装置。（４）被写体に対し測距用光を投射する投光手段と、
上記被写体からの反射信号光を受光する受光手段とを有
する測距装置に於いて、上記受光手段は、上記反射信号
光の入射位置と、入射した上記反射信号光の強度に基く
信号に従った受光信号を出力し、更に、この測距装置
は、装置を駆動するための電源電圧をモニタするモニタ
手段と、上記受光信号と上記モニタ手段の出力に基いて
上記被写体までの距離を決定する演算制御手段とを有す
ることを特徴とする測距装置。

【００５８】（５）被写体に投光用光を投射する投光
手段と、上記被写体からの反射信号光を受光する受光手
段とを有する測距装置に於いて、装置を駆動するための
電源電圧と装置の作動環境の温度をモニタするモニタ手
段と、上記受光手段の出力と上記モニタ手段の出力に基
いて上記被写体までの距離を決定する演算制御手段とを
有することを特徴とする測距装置。

【００５９】（６）被写体に投光用光を投射する投光
手段と、上記被写体からの反射信号光を受光する受光手
段と、データ記憶手段とを有する測距装置を調整する調
整機に於いて、装置を駆動するための電源電圧を変化さ
せる電源制御手段を具備し、この電源制御手段によって
制御された電圧と上記受光手段の出力に基いて上記記憶
手段に補正データを記憶させることを特徴とする測距装
置の調整機。

【００６０】（７）被写体に投光用光を投射する投光
手段と、上記被写体からの反射信号光を受光する受光手
段とを有する測距装置に於いて、電源電圧をモニタする
モニタ手段と、上記受光手段の出力と上記モニタ手段の
出力に基いて上記被写体までの距離を決定する演算制御
手段とを有することを特徴とする測距装置。

【００６１】（８）電源電圧が低下した場合には、上
記投光手段の投射回数を増加することを特徴とする上記
（７）に記載の測距装置。（９）電源電圧が低下した場合には、上記演算制御手
段による比較演算ステップを切換えることを特徴とする
上記（７）に記載の測距装置。

【００６２】（１０）電源電圧が低下した場合には、
上記受光手段の出力を所定倍し、その結果に基いて被写
体までの距離を演算することを特徴とする上記（７）に
記載の測距装置。

【００６３】（１１）測距演算のための調整値を記憶
する記憶手段を有する上記（７）に記載の測距装置。（１２）被写体に投光用光を投射する赤外発光ダイオ
ードと、上記被写体からの反射信号光を受光する受光手
段とを有する測距装置に於いて、電池電圧をモニタする
モニタ手段と、上記受光手段の出力と上記モニタ手段の
出力に基いて上記被写体までの距離を決定するワンチッ
プマイクロコンピュータから成る演算制御回路とを有す
ることを特徴とする測距装置。

【００６４】

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、低コス
ト、省スペースを実現しながら、電池の状態に関わら
ず、高精度で測距可能な測距装置及び該測距装置の調整
機を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１の実施の形態に係る測距装置の
構成を示した図である。

【図２】（ａ）はＣＰＵ１１によりＡ／Ｄ変換して得ら
れた電圧Ｖ_BCと、ＩＲＥＤ１の光出力Ｐ_OUT の関係を示
した図、（ｂ）は距離Ｌの逆数１／Ｌと上記光量Ｐｏの
関係を示した特性図である。

【図３】この発明の第１の実施の形態の測距装置の測距
動作を説明するフローチャートである。

【図４】この発明の第２の実施の形態を説明するもの
で、発光及び積分回数と測距のデータを示した図であ
る。

【図５】この発明の第２の実施の形態に係る測距装置の
測距動作について説明するフローチャートである。

【図６】この発明の第３の実施の形態による測距装置の
構成を示した図である。

【図７】ＡＦデータと距離の逆数との関係を表した特性
図である。

【図８】図６のＡＦＩＣ１２内の光量判定部２３の概略
構成を示した図である。

【図９】この発明の第３の実施の形態による測距装置の
測距動作を説明するフローチャートである。

【図１０】この発明の第４の実施の形態を説明するもの
で、（ａ）はＩＲＥＤの電流Ｉ_FPと電圧Ｖ_FPの関係がを
説明する図、（ｂ）は光量Ｐｏと電池電圧Ｖ_BCとの関係
を表した特性図である。

【図１１】この発明の第４の実施の形態に係る測距装置
の調整機の概念を示した構成図である。

【図１２】電圧Ｖ_BCと温度Ｔの関係を表すデータテーブ
ルである。

【図１３】第４の実施の形態による調整機３３による調
整の動作を説明するフローチャートである。

【符号の説明】

１赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）、２投光レンズ、３受光レンズ、４受光素子（フォトダイオード、半導体位置検出素子
（ＰＳＤ））、５、８トランジスタ、６、７抵抗、９電源電池、１０ＤＣ／ＤＣコンバータ、１１演算制御回路（ＣＰＵ）、１２ＡＦＩＣ、１３ＥＥＰＲＯＭ、１５Ａ／Ｄコンバータ、１６演算部、１７制御部、１８ピント合わせ部、１９ピント合わせレンズ、２２被写体、２３光量判定部、２４バッテリチェック回路。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被写体に投光用光を投射する投光手段
と、上記被写体からの反射信号光を受光する受光手段と
を有する測距装置に於いて、電源電圧をモニタするモニタ手段と、上記受光手段の出力と上記モニタ手段の出力に基いて上
記被写体までの距離を決定する演算制御手段とを有する
ことを特徴とする測距装置。
【請求項２】電源電圧が低下した場合には、上記投光
手段の投射回数を増加することを特徴とする請求項１に
記載の測距装置。
【請求項３】被写体に投光用光を投射する投光手段
と、上記被写体からの反射信号光を受光する受光手段
と、測距演算のための調整値を記憶する記憶手段とを有
する測距装置のための調整機であって、上記測距装置を駆動するための電源電圧を変化させる電
源制御手段と、この電源制御手段によって制御された電源電圧と上記受
光手段の出力に基いて上記調整値を演算する演算手段
と、この演算手段により演算された調整値を上記記憶手段に
書込む書込み手段とを有することを特徴とする測距装置
の調整機。