JPH11285493A - 画像読取装置 - Google Patents

画像読取装置

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JPH11285493A
JPH11285493A JP37598398A JP37598398A JPH11285493A JP H11285493 A JPH11285493 A JP H11285493A JP 37598398 A JP37598398 A JP 37598398A JP 37598398 A JP37598398 A JP 37598398A JP H11285493 A JPH11285493 A JP H11285493A
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radiation
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    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
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    • AHUMAN NECESSITIES
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    • A61B6/4291Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B42/00Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means
    • G03B42/02Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means using X-rays

Abstract

(57)【要約】 【課題】 グリッドの方向と固体撮像素子の画素の並び
方向とのずれ、特に回転方角のずれの影響を抑制した撮
影を行う。 【解決手段】 画像読取装置はゲイン補正取得用画像を
収集した後に、グリッド方向算出工程において、ゲイン
補正取得用画像からグリット方向と固体撮像素子の画素
並び方向に対する回転方向のずれを算出し、グリッドの
位置補正手段により、ゲイン補正取得用画像におけるグ
リッド方向を画素並び方向に対して一定の関係で精度良
く揃える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、X線放射分布を画
像化して読み取る画像読取装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の放射線機影装置は、放射線源から
被検査媒体である被写体に向けて放射線を出射し、放射
線と被写体の相互作用によって、被写体の内部構造に応
じて放射線が強度変調され、かつ散乱されて、固体撮像
素子に放射像画像が形成される。このとき、散乱放射線
を除去して放射線画像のコントラストを向上するため
に、固体操像素子の前面にグリッドを配置して撮影を行
っている。
【0003】また、予め幾つかの撮影条件で補正撮影を
行い、実際に撮影したときに最も近い条件の補正撮影像
を用いて補正を行う装置が、特開平5−237277号
公報に開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の従
来例においては、固体撮像素子と被写体との問に配置し
たグリッドの方向性は考慮されていない。二次元ローパ
スフィルタを用いた方法によりグリッドを通して画像撮
影を行う場合に、グリッドの方向を考慮しないと、グリ
ッドと固体撮像素子の相対的位置関係がずれた場合に問
題が生ずる。即ち、グリッドが存在するときに、二次元
ローパスフィルタを用いて変換効率のばらつき分布であ
るゲイン補正係数データを計算すると、この中にグリッ
ドによる出力データも含まれてしまう。
【0005】図9において、ゲイン補正係数データを得
るために、被写体を入れずに撮影を実行して得た補正デ
ータ取得用画像に対して、センサSの断面Aにおけるセ
ンサ出力Sijとローパスフィルタ出力Lijをグラフ化し
ている。センサ出力Sijをローパスフィルタ通過後の出
力Lijで除算したものを、固体撮像素子1の変換効率を
示すゲイン補正係数データ(Cij)とすると、ゲイン補
正係数Cijにはグリッド2の影響も含まれてしまう。
【0006】即ち、ローパスフィルタ出力Lijはローパ
スフィルタによるX線放射量を少な目に算出するため
に、センサ出力Sijのプラスのピークに対応した点Pは
実際の点Pにおける固体撮像素子1の変換効率以上に見
掛け上の変換効率が良くなり、センサ出力Sijのマイナ
スのピークに対応した点Qは実際の点Qにおける固体撮
像素子1の変換効率以上に見掛け上の変換効率が悪くな
る。このように、実際の被写体撮影時においてグリッド
2とセンサSの相対位置関係がずれると、ゲイン補正係
数Cijとの対応がつかなくなり、一方、グリッド2とセ
ンサSの相対位置関係はゲイン補正係数データと1対1
の関係であるとして計算を行っているために、このゲイ
ン補正係数データを用いて補正した画像は、正しくゲイ
ンを補正した画像ではなくなる。
【0007】固体撮像素子1の画素毎にゲイン補正を行
う場合は、そのためのゲイン補正係数データが撮影時に
必要となるが、画像取得時に収集する時の回体撮像素子
1とグリッド2の相対位置関係と、実際に被写体を撮影
するときの固体撮像素子lとグリッド2の相対位置関係
がずれていると、正しい補正を行うことができない。
【0008】通常、X線技師は固体撮像素子1とグリッ
ド2との相関関係が常に平行であることを前提としてお
り、ゲイン補正係数データを得る前段階又はゲイン補正
係数データを得る段階において、固体撮像素子1とグリ
ッド2の相対位置関係を常に所望の方向に自動的に揃え
る必要がある。このとき、より汎用的に装置を利用でき
るようにするためには、固体撮像素子1とグリッド2の
画素並び方向との相関関係を平行にするだけでなく、直
角方向やその他の方向にも微調整した後に、正確なゲイ
ン補正係数データを得ることが必要となる。
【0009】また、前述の特開平5−237277号公
報においては、複数の撮影条件で補正のための撮影を行
う必要があるので、記憶メモリが非常に多くなるという
問題がある。
【0010】本発明の目的は、上述の問題点を解消し、
グリッドの方向と固体撮像素子の画素の並び方向とのず
れ、特に回転方角のずれの影響を抑制した撮影を行うこ
とを可能とする画像読取装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係る画像読取装置は、複数の画素を有する撮
像素子を用いて、被検体及び散乱線除去用グリッドを透
過した放射線の強度分布を画像情報として読み取る放射
線画像読取装置において、前記撮像素子を用いて前記被
検体を介さずにかつ散乱線除去用グリッドを介して放射
線強度分布を得るグリッド画像取得手段と、該画像取得
手段により得られた放射線強度分布の情報から前記散乱
線除去用グリッドに起因するパターンに関する情報を検
出するパターン検出手段とを有することを特徴とする。
【0012】また、本発明に係る画像読取装置は、複数
の画素を有する撮像素子を用いて、被検体及び散乱線除
去用グリッドを透過した放射線の強度分布を画像情報と
して読み取る放射線画像読取装置において、前記撮像素
子を用いて前記被検体を介さずにかつ前記散乱線除去用
グリッドを介する放射線強度分布を初期化用画像情報と
して得るための初期化用画像読取手段と、該初期化用画
像情報から前記散乱線除去グリッドに起因するパターン
を検出するパターン検出手段と、該パターン検出手段の
検出結果に基づいてローパスフィルタを作成するローパ
スフィルタ作成手段と、該ローパスフィルタ作成手段に
より作成したローパスフィルタにより前記初期化用画像
情報をフィルタリングして得た画像情報及び前記初期化
用画像情報に基づいて前記撮像素子の変換効率のばらつ
きを補正するための補正係数を算出する補正係数算出手
段とを有することを特徴とする。
【0013】更に、本発明に係る画像読取装置は、グリ
ッドと撮像素子を用いて被検体を介さずに得られた放射
線強度分布を初期化用画像情報として記憶する記憶手段
と、該記憶手段に記憶された初期化用画像情報より前記
グリッドに起因するパターンに基づいたローパスフィル
タを作成し、該ローパスフィルタを用いて前記初期化用
画像情報を処理することにより前記撮像素子の各画像毎
のゲイン補正用情報を得る信号処理手段とを有すること
を特徴とする。
【0014】本発明に係る画像読取装置は、複数の画素
を有する撮像素子を用いて、被検体及び散乱線除去用グ
リッドを透過した放射線の強度分布を画像情報として読
み取る放射線画像読取装置において、前記撮像素子を用
いて前記被検体を介さずにかつ散乱線除去用グリッドを
介する放射線強度分布を初期化用画像情報として得るた
めの初期化用画像読取手段と、該初期化用画像情報から
前記散乱線除去グリッドに起因するパターンを検出する
パターン検出手段と、該パターン検出手段の出力結果に
基づいて前記散乱線除去用グリットを変位する散乱線除
去用グリット変位手段とを有することを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明を図1〜図8に図示の実施
例に基づいて詳細に説明する。図1は実施形態における
画像読取装置のブロック回路の構成図である。X線発生
手段10とグリッド11及びシンチレータ12aを有す
る固体撮像素子12との間に、被写体Tが配置されるよ
うになっており、固体撮像素子12の出力は、A/D変
換器13、ルックアップテーブル14、加算器15、ル
ックアップテーブル16に順次に接続されている。ま
た、クロック発生器17の出力が制御回路18に接続さ
れ、制御回路18の出力は位置補正手段19を介してグ
リッド11に接続され、また、制御回路18の出力はA
/D変換器13、ルックアップテーブル14、及び補正
メモリ手段20を介して加算器15、ルックアップテー
ブル16にそれぞれ接続されている。
【0016】そして、ルックアップテーブル16、制御
回路18、補正メモリ手段20の出力はバス21に接続
され、バス21にはCPU22、ROM23、RAM2
4、ハードディスク25、ネットワークデバイス26の
出力がそれぞれ接続され、ネットワークデバイス26の
出力は外部装置27に接続されている。
【0017】図2は位置補正手段19の斜視図を示し、
設置台30の側面に平行移動用アクチュエータ31を介
して平行移動台32が設けられている。平行移動台32
上には支持部材33と回転用アクチュエータ34が載置
されており、グリッド11は一方の側面下方で支持部材
33に設けられた支点33aに回転自在に支持され、他
方の側面上方で回転用アクチュエータ34に取り付けら
れている。アクチュエータ31、34には例えばソレノ
イドやモータ又はピエゾ素子等が用いられ、CPU22
により制御される制御回路18からの信号により、グリ
ッド11を矢印B方向に平行移動し、また矢印θ方向に
回転移動するようになっている。そして、グリッド11
の背後には固体撮影素子12が配置されている。
【0018】画像読取装置はゲイン補正取得用画像を収
集した後に、グリッド方向算出工程において、ゲイン補
正取得用画像からグリッド方向と固体撮像素子12の画
素の並び方向との回転方向のずれを算出し、位置補正手
段19によりゲイン補正取得用画像におけるグリッド方
向を揃える機能を有する。CPU22、ROM23、R
AM24、ハードディスク25によってシステム全体が
制御され、撮影はCPU22から与えられる命令が制御
回路18に出力されることにより行われ、制御回路18
はクロック発生器17に同期して作動するようになって
いる。
【0019】先ず、補正データ取得用画像の撮影は通常
撮影の前に行われる。補正データ取得用画像のデータを
得るための撮影手順は、CPU22によりルックアップ
テーブル14、16に線形テーブルをロードしておき、
補正メモリ手段20に全て0の値を与える。この方法で
得られるデータは、A/D変換器13から出力された補
正データ取得用画像をデジタルデータとしてそのまま収
集可能である。補正取得用画像のデータは、以下に述べ
る方法を用いてゲイン補正係数の算出に利用され、算出
されたゲイン補正係数はハードディスク等の不揮発性媒
体に記憶されている。
【0020】図3は収集された補正データ取得用画像か
らゲイン補正データを生成する工程を示しており、グリ
ッド方向算出工程、ローパスフィルタマトリックス生成
工程、ゲイン補正係数算出工程から構成されている。
【0021】図4はグリッド方向算出工程の処理を説明
する図である。半径ベクトルVrとこの半径ベクトルV
rに直交するベクトルVwからベクトルVを求める。次
式により、ベクトルVは半径ベクトルVrを回転角度θ
の関数として変化させながら演算する。 V=Vr+Vw
【0022】ただし、Vwは収集幅ベクトルであり、ベ
クトルVrとVwは直交している。従って、半径ベクト
ルVrが回転角度θに従い変化すると、収集幅ベクトル
Vwは直交関係を保つために、半径ベクトルVrの変化
に合わせて従属的に変化する。
【0023】回転角度θを例えば0ラジアン〜1ラジア
ンまで、0.1ラジアン単位で増加してゆき、それぞれ
増加単位毎に半径ベクトルの絶対値|Vr|を例えば0
〜32に1画素単位ずつ変化させ、それぞれの場合にお
いて収集幅ベクトルの絶対値|Vw|を例えば0〜64
に1画素単位ずつ変化させ、それに伴ってベクトルVが
示す位置を近似する画素の画素値を算出し、その画素値
をVr方向に積算してゆくと、|Vw|の大きさ65点
の積算画素情報を収集することができる。
【0024】図5は回転角度θ=0ラジアン(rad)
の場合において、|Vr|に関する0〜32の画素(i
方向)と、|Vw|に関する0〜64の画素(j方向)
から成る平面を示す説明図である。画素の位置を特定す
るための位置ベクトルは前述の半径ベクトルと、収集幅
ベクトルとの関係を用いて次のように示すことができ
る。 V(i、j)=Vr(i)+Vw(j)
【0025】ベクトルV(i,J)が示す位置に対応す
る画素の画素値をAijとすると、j=1とした場合に、
i=0〜32の画素に対応した画素値Aij(i=0〜3
2)は、図3の補正用画像入力工程で収集された画像に
基づいて求めることができる。同様に、全てのj、即ち
j=0〜64までについても各画素に対応した画素値A
ij(i=0〜32,i=0〜64)を求めることができ
る。
【0026】グリッド方向の角度は画素値の積算を求
め、その最大の標準偏差値を与える角度となる。積算は
jを一定とし、可変パラメータを1とした列の要素を考
える。j=1の場合を例とすると、列方向の画素値はA
0 、A1 、A2 、A3 、・・・ 、A32となり、その積算値
はM(1,θ)=A0 +A1 +A2 +A3 ・・・ +A32
なる。
【0027】J=1以外の場合も同様に積算値M(j,
θ)(j=0〜64)を算出することができる。回転角
度θを変化させ、各回転角度θにおいて積算値M(j,
θ)をjが0〜64まで65点求め、かつこれらの標準
偏差値D(θ)を求める。このD(θ)が最大となるラ
ジアン値θ0 が固体撮像素子12の画素の並び方向に対
するグリッド方向のずれ角度となる。
【0028】また、ラジアン値θ0 のときの得られた6
5点の画素情報を基にフーリエ変換することにより、グ
リッド11の周波数成分を算出することができる。即
ち、予めグリッド11として可能性のある波長範囲を指
定しておき、この範囲からフーリエ変換時のデータの振
幅の最大となる波長W0 を求めると、固体撮像素子12
の画素を1単位としたグリッド11の波長W0 を算出す
ることができる。
【0029】図6はずれ角度のラジアン値θ0 とグリッ
ド1lの波長W0 を用いて、ローパスフィルタマトリッ
クスを生成する工程を示している。本実施例では、前工
程で得られたラジアン値θ0 に対して、ベクトルVx、
Vyを可変としてローパスフィルタマトリックスを生成
する。グリッド11の波長W0 の例えば1/16から半
分の大きさW0 /16〜W0 /2で、ベクトルVxが最
大絶対値となるようにベクトルVxを変化させて、ベク
トル和(Vy+Vx)の指すポジションに対して、マト
リックス内に1を記録すると共に、ベクトルVyをマト
リックス全てを1で埋め尽すように変化させることによ
り、グリッド方向に沿ったグリッド幅の1/16から半
分の領域のみを平均化するローパスフィルタマトリック
スを生成することができる。このローパスフィルタマト
リックスで平均化したデータはマトリックス内の1の合
計量で除算する。
【0030】図7は前工程で得られたローパスフィルタ
マトリックスを、次に示すゲイン補正用係数算出式で演
算しながら、補正データ取得用画像Sにカーネル移動す
る工程の説明図である。Sijをセンサ出力、Lijをロー
パス出力、Cijを求めるゲイン補正係数とすると次式が
得られる。 Sij/Lij=Cij
【0031】本実施例においては、対数変換を利用して
次のように減算によりlog(Cij)を算出する。 log(Cij)=log(Sij/Lij)=log(Si
j)−log(Lij)
【0032】図7に示すように、ゲイン補正係数Cijは
ローパスフィルタ出力がグリッドの存在による出力の増
減成分と同期しているので、グリッド11の影響は現れ
ないので、ゲイン補正係数データlog(Cij)をハー
ドディスク25又はRAM24に保存しておき、後段の
通常撮影時に利用する。通常撮影の場合には、被写体T
をX線発生手段10と固体撮像素子12の間に配置し、
ルックアツプテーブル14には線形から対数へ変換する
線形−対数変換テーブルをロードしておき、ルックアッ
プテーブル16には対数から線形へ変換する対数−線形
変換テーブルをロードしておく。次に、補正メモリ手段
20には本実施例で算出したlog(Cij)のゲイン補
正係数データを与え、次式の演算を行う。なお、Oijは
ゲイン補正後の画素値、Iijは入力画素値である。 Oij=Iij/(Sij/Lij)
【0033】これらをハードウエアで実現し易いよう
に、本実施例では対数計算によりハードウエア処理され
て、各ピクセルのゲインのばらつきを次の計算式で補正
したデータが出力される。
【0034】log(Oij)=log(Iij/Sij/L
ij)=log(Iij)−log(Sij/Lij)=log
(Iij)−log(Cij)
【0035】グリッド11と固体撮像素子12との相対
位置関係をより正しく調整する目的で、この結果を撮影
時に利用する。本実施例においては、グリッド11の影
響を最終出力画像として打ち消すものではないので、技
師又は医師にはグリッド11の存在が画像の上で明瞭に
見ることができる。このとき、グリッド11の方向が固
体操像素子12のピクセル並び方向とずれていない方が
好ましいので、本実施例ではグリッド11と固体撮像素
子12との相対位置関係を、ユーザが設定する方向と常
に同じになるように制御することにより、ユーザが希望
するグリッド方向を正しく微調整することができる。
【0036】図8は同様な方法で、ゲイン補正時におけ
るグリッド11と固体撮像素子12との角度値θxを算
出する工程を示している。この値θxとユーザが指定す
るグリッド方向θuとの差Δを、Δ=θx−θuで算出
して位置補正手段19に与える。CPU22は与えられ
た回転角Δを、適切な変換閲数θa=f(Δ)によって
回転用アクチュエータ34の移動により回転角に変換し
て、回転用アクチュエータ34を制御する。一方、平行
移動用アクチュエータ31はグリッド11全体を左右方
向に微調整するために利用される。これによって、グリ
ッド方向をユーザの措定する方向に正しく微調整するこ
とができる。
【0037】グリッド11と固体撮像素子12の相対位
置関係の変動がないような場合でも、X線発生手段l0
と固体撮像素子l2及びグリッド11との相対位置関係
に変動があれば同様の問題が発生するが、本実施例によ
ってこの問題を解決することができる。X線発生手段1
0と固体撮像素子12及びグリッド11との相対位置関
係に変動があっても正しい補正を行えるので、常に固体
撮像素子の画素毎のゲイン補正を行って画像を撮影する
ことができ、画像を観察する医師や技師はモアレ画像に
悩まされることがなくなり、また記憶メモリもゲイン補
正用の係数データのみを記憶する容量の小さいもので済
む。
【0038】更に、その相対位置関係は積極的に変動さ
せてもよく、ユーザがグリッド方向を固体撮像素子の画
素の並び方向に対して一定の関係で揃えることができる
ので、技師や医師がより精度良く揃ったグリッド方向で
画像を参照することができる。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る画像読
取装置は、グリッドの方向と固体撮像素子の画素の並び
方向とのずれ、特に回転方角のずれの影響を抑制した撮
影を行うことを可能とする。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例のブロック回路図である。
【図2】位置補正手段の斜視図である。
【図3】ゲイン補正係数生成工程の説明図である。
【図4】グリッド方向算出工程の説明図である。
【図5】半径ベクトルの絶対値と、収集ベクトルの絶対
値とに基づく位置と画素の関係の説明図である。
【図6】ローパスフィルタマトリックス算出工程の説明
図である。
【図7】グリッドに影響しないゲイン補正係数生成の説
明図である。
【図8】グリッド方向算出工程の説明図である。
【図9】従来例のゲイン補正係数生成工程の説明図であ
る。
【符号の説明】
10 X線発生手段 11 グリット 12 固体撮像素子 14、16 ルックアップテーブル 18 制御手段 19 位置補正手段 20 補正メモリ手段 22 CPU 23 ROM 24 RAM
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H04N 5/32 A61B 6/00 303F

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の画素を有する撮像素子を用いて、
    被検体及び散乱線除去用グリッドを透過した放射線の強
    度分布を画像情報として読み取る放射線画像読取装置に
    おいて、前記撮像素子を用いて前記被検体を介さずにか
    つ散乱線除去用グリッドを介して放射線強度分布を得る
    グリッド画像取得手段と、該画像取得手段により得られ
    た放射線強度分布の情報から前記散乱線除去用グリッド
    に起因するパターンに関する情報を検出するパターン検
    出手段とを有することを特徴とする画像読取装置。
  2. 【請求項2】 前記パターン検出手段は前記グリッド画
    像取得手段で得られた放射線強度分布に基づいて前記散
    乱線除去用グリッドの方向に関する情報を得る請求項1
    に記載の画像読取装置。
  3. 【請求項3】 複数の画素を有する撮像素子を用いて、
    被検体及び散乱線除去用グリッドを透過した放射線の強
    度分布を画像情報として読み取る放射線画像読取装置に
    おいて、前記撮像素子を用いて前記被検体を介さずにか
    つ前記散乱線除去用グリッドを介する放射線強度分布を
    初期化用画像情報として得るための初期化用画像読取手
    段と、該初期化用画像情報から前記散乱線除去グリッド
    に起因するパターンを検出するパターン検出手段と、該
    パターン検出手段の検出結果に基づいてローパスフィル
    タを作成するローパスフィルタ作成手段と、該ローパス
    フィルタ作成手段により作成したローパスフィルタによ
    り前記初期化用画像情報をフィルタリングして得た画像
    情報及び前記初期化用画像情報に基づいて前記撮像素子
    の変換効率のばらつきを補正するための補正係数を算出
    する補正係数算出手段とを有することを特徴とする画像
    読取装置。
  4. 【請求項4】 前記補正係数算出手段は、前記初期化用
    画像情報の各ピクセル値を、前記ローパスフィルタによ
    り前記初期化用画像情報をフィルタリングして得た前記
    画像情報の各ピクセル値によって除算することにより前
    記補正係数を算出するようにした請求項3に記載の放射
    線画像読取装置。
  5. 【請求項5】 前記パターン検出手段は、前記散乱線除
    去グリッドに起因するパターンを検出する際に、画像領
    域内において所定方向への積算画素情報を求め、該積算
    画素情報を求める方向を変化させて該積算画素情報の標
    準偏差を最大とする方向を算出するグリッド方向算出手
    段と、前記方向における前記積算画素情報をフーリエ変
    換することによりグリッドの周波数を算出するグリッド
    周波数算出手段とを有する請求項3に記載の放射線画像
    読取装置。
  6. 【請求項6】 グリッドと撮像素子を用いて被検体を介
    さずに得られた放射線強度分布を初期化用画像情報とし
    て記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された初期化
    用画像情報より前記グリッドに起因するパターンに基づ
    いたローパスフィルタを作成し、該ローパスフィルタを
    用いて前記初期化用画像情報を処理することにより前記
    撮像素子の各画像毎のゲイン補正用情報を得る信号処理
    手段とを有することを特徴とする画像読取装置。
  7. 【請求項7】 前記グリッドと前記撮像素子を用いて被
    写体を介して得られた前記放射線強度分布を前記ゲイン
    補正用情報を用いて補正処理するようにした請求項6に
    記載の放射線画像読取装置。
  8. 【請求項8】 複数の画素を有する撮像素子を用いて、
    被検体及び散乱線除去用グリッドを透過した放射線の強
    度分布を画像情報として読み取る放射線画像読取装置に
    おいて、前記撮像素子を用いて前記被検体を介さずにか
    つ散乱線除去用グリッドを介する放射線強度分布を初期
    化用画像情報として得るための初期化用画像読取手段
    と、該初期化用画像情報から前記散乱線除去グリッドに
    起因するパターンを検出するパターン検出手段と、該パ
    ターン検出手段の出力結果に基づいて前記散乱線除去用
    グリットを変位する散乱線除去用グリット変位手段とを
    有することを特徴とする画像読取装置。
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