JPH11284401A - 高周波回路装置 - Google Patents
高周波回路装置Info
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- JPH11284401A JPH11284401A JP10102196A JP10219698A JPH11284401A JP H11284401 A JPH11284401 A JP H11284401A JP 10102196 A JP10102196 A JP 10102196A JP 10219698 A JP10219698 A JP 10219698A JP H11284401 A JPH11284401 A JP H11284401A
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- Japan
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- frequency circuit
- metal
- metal carrier
- protrusion
- frequency
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高周波回路ユニット間の接続部のグラン
ドプレーンの不連続を解消し、伝送特性の劣化を回避す
ること。 【解決手段】 高周波トランジスタTR1,TR2を搭
載する回路基板112,122は金属キャリア113,
123上に載置される。マイクロストリップライン11
4および124は金属リボン104により接続される。
金属キャリア123は良電導性の突起126を有し、こ
の突起126を介して金属キャリア113,123は電
気的に接続される。各金属キャリア113,123は互
いに押圧して配置される。突起126は金属リボン10
4の下に位置し、この突起126はグランドプレーンの
一部として機能する。
ドプレーンの不連続を解消し、伝送特性の劣化を回避す
ること。 【解決手段】 高周波トランジスタTR1,TR2を搭
載する回路基板112,122は金属キャリア113,
123上に載置される。マイクロストリップライン11
4および124は金属リボン104により接続される。
金属キャリア123は良電導性の突起126を有し、こ
の突起126を介して金属キャリア113,123は電
気的に接続される。各金属キャリア113,123は互
いに押圧して配置される。突起126は金属リボン10
4の下に位置し、この突起126はグランドプレーンの
一部として機能する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はマイクロストリップ
線路を用いた高周波回路装置に関し、特に波長の短い準
ミリ波〜ミリ波帯域で使用する高周波回路装置に関す
る。
線路を用いた高周波回路装置に関し、特に波長の短い準
ミリ波〜ミリ波帯域で使用する高周波回路装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年、情報通信分野における技術の進展
は著しく,通信機器が扱う周波数帯も、マイクロ波帯か
ら準ミリ波、ミリ波帯へと、より高い周波数への展開が
図られている。これに伴い、通信機器に用いられるトラ
ンジスタの高速化も著しく、最近ではヘテロ接合化合物
半導体トランジスタなどで100GHzを越えるカット
オフ周波数を持つデバイス(超高周波トランジスタ)が
実現されている。
は著しく,通信機器が扱う周波数帯も、マイクロ波帯か
ら準ミリ波、ミリ波帯へと、より高い周波数への展開が
図られている。これに伴い、通信機器に用いられるトラ
ンジスタの高速化も著しく、最近ではヘテロ接合化合物
半導体トランジスタなどで100GHzを越えるカット
オフ周波数を持つデバイス(超高周波トランジスタ)が
実現されている。
【0003】準ミリ波〜ミリ波帯における高周波回路装
置は、上述の超高周波トランジスタやフィルタ,スイッ
チなどを具備する複数の回路基板を相互に電気的に接続
して構成される。高周波回路基板としてはアルミナ基板
等の低損失のセラミック基板がよく用いられるが、セラ
ミック基板は固いがもろく、割れやすい。したがって、
補強のために金属キャリアを用意し、この金属キャリア
上にセラミック基板を搭載するのが一般的である。
置は、上述の超高周波トランジスタやフィルタ,スイッ
チなどを具備する複数の回路基板を相互に電気的に接続
して構成される。高周波回路基板としてはアルミナ基板
等の低損失のセラミック基板がよく用いられるが、セラ
ミック基板は固いがもろく、割れやすい。したがって、
補強のために金属キャリアを用意し、この金属キャリア
上にセラミック基板を搭載するのが一般的である。
【0004】また、金属キャリアは各基板に対応して個
別に用意されるのが一般的である。これは主に、一つの
回路基板が故障した場合等において、金属キャリアごと
その回路基板を交換できるようにするという、メンテナ
ンス上の理由によるものである。したがって、超高周波
信号を取り扱う装置では、金属キャリア上に回路基板を
搭載して構成される各高周波ユニット間を、電気的に接
続するという作業が必要となる。各回路ユニットの高周
波信号線間は、例えば、金属リボンや金属ワイヤにより
接続され、グランドプレーンは、例えば、裏面導体膜か
ら金属キャリア,金属筐体を介して接続される。
別に用意されるのが一般的である。これは主に、一つの
回路基板が故障した場合等において、金属キャリアごと
その回路基板を交換できるようにするという、メンテナ
ンス上の理由によるものである。したがって、超高周波
信号を取り扱う装置では、金属キャリア上に回路基板を
搭載して構成される各高周波ユニット間を、電気的に接
続するという作業が必要となる。各回路ユニットの高周
波信号線間は、例えば、金属リボンや金属ワイヤにより
接続され、グランドプレーンは、例えば、裏面導体膜か
ら金属キャリア,金属筐体を介して接続される。
【0005】準ミリ波〜ミリ波帯の周波数を取り扱う通
信機器等においては,トランジスタ自体の特性もさるこ
とながら、上述した、トランジスタを搭載した各回路ユ
ニット間の接続(接続方法)が重要となる。例えば、グ
ランドプレーンに不連続があると、高利得のアンプを構
成した場合、出力の一部が入力側不連続部に誘起し、発
振や利得低下の原因となる。
信機器等においては,トランジスタ自体の特性もさるこ
とながら、上述した、トランジスタを搭載した各回路ユ
ニット間の接続(接続方法)が重要となる。例えば、グ
ランドプレーンに不連続があると、高利得のアンプを構
成した場合、出力の一部が入力側不連続部に誘起し、発
振や利得低下の原因となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述のとおり、各回路
ユニットを接続する場合、接続部において不連続部が生
じないようにして、伝送特性の劣化を防止する必要があ
る。
ユニットを接続する場合、接続部において不連続部が生
じないようにして、伝送特性の劣化を防止する必要があ
る。
【0007】しかし、セラミック基板の損傷(例えば、
信号線間を接続するためのワイヤボンディング時のセラ
ミック基板の損傷)を回避し、また、部品点数の増大を
回避し、かつ作業工程を複雑化しないという条件をすべ
て満たした上で、各ユニット間の良好な接続を確保する
のは、実際は困難である。
信号線間を接続するためのワイヤボンディング時のセラ
ミック基板の損傷)を回避し、また、部品点数の増大を
回避し、かつ作業工程を複雑化しないという条件をすべ
て満たした上で、各ユニット間の良好な接続を確保する
のは、実際は困難である。
【0008】本発明は、このような問題を解決するため
になされたものであり、高周波回路装置における基板の
損傷,部品点数の増加及び作業工程の複雑化を回避しつ
つ、回路ユニット間の接続部(特に、グランドの接続
部)の不連続(不整合)を防止し、良好な伝送特性を実
現することを目的とする。
になされたものであり、高周波回路装置における基板の
損傷,部品点数の増加及び作業工程の複雑化を回避しつ
つ、回路ユニット間の接続部(特に、グランドの接続
部)の不連続(不整合)を防止し、良好な伝送特性を実
現することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の高周波回
路装置の発明は、第1の金属キャリア上に搭載された第
1の高周波回路基板と、第2の金属キャリア上に搭載さ
れた第2の高周波回路基板とを具備し、前記第1の高周
波回路基板の信号線と前記第2の高周波回路基板の信号
線は導電体によって結線され、前記第1の金属キャリア
または前記第2の金属キャリアの側面には突起部が設け
られ、前記導電体の少なくとも直下には前記突起部が位
置し、かつ前記第1の金属キャリアと前記第2の金属キ
ャリアとは前記突起部により接続されている構成とし
た。
路装置の発明は、第1の金属キャリア上に搭載された第
1の高周波回路基板と、第2の金属キャリア上に搭載さ
れた第2の高周波回路基板とを具備し、前記第1の高周
波回路基板の信号線と前記第2の高周波回路基板の信号
線は導電体によって結線され、前記第1の金属キャリア
または前記第2の金属キャリアの側面には突起部が設け
られ、前記導電体の少なくとも直下には前記突起部が位
置し、かつ前記第1の金属キャリアと前記第2の金属キ
ャリアとは前記突起部により接続されている構成とし
た。
【0010】この構成によれば、金属キャリアと一体化
した突起部を他方の金属キャリアに押しあてて接続をと
るので、良好な接続を確保しやすく、部品点数も増大せ
ず、作業も簡単である。また、通常の金属キャリアに突
起を付加する構成であるので、基本的な回路ユニットの
構造は何ら変化しない。すなわち、回路基板の下には必
ず金属キャリアが存在し、したがって、高周波結線(高
周波信号線間を結ぶリボンやワイヤ等の導体)の形成時
に応力が生じても、下地の金属キャリアによってしっか
りと支持された回路基板には損傷が生じない。
した突起部を他方の金属キャリアに押しあてて接続をと
るので、良好な接続を確保しやすく、部品点数も増大せ
ず、作業も簡単である。また、通常の金属キャリアに突
起を付加する構成であるので、基本的な回路ユニットの
構造は何ら変化しない。すなわち、回路基板の下には必
ず金属キャリアが存在し、したがって、高周波結線(高
周波信号線間を結ぶリボンやワイヤ等の導体)の形成時
に応力が生じても、下地の金属キャリアによってしっか
りと支持された回路基板には損傷が生じない。
【0011】請求項2記載の高周波回路装置の発明は、
請求項1記載の発明において、前記突起部の表面は、前
記第1及び第2の金属キャリアの表面に連接しており、
かつ、前記第1及び第2の金属キャリアどうしが互いに
押し合い、これによって前記突起部の先端面が他方の金
属キャリアの側面に接触して前記第1及び第2の金属キ
ャリアが接続される構成とした。
請求項1記載の発明において、前記突起部の表面は、前
記第1及び第2の金属キャリアの表面に連接しており、
かつ、前記第1及び第2の金属キャリアどうしが互いに
押し合い、これによって前記突起部の先端面が他方の金
属キャリアの側面に接触して前記第1及び第2の金属キ
ャリアが接続される構成とした。
【0012】この構成により、高周波回路基板の裏面と
金属キャリアとの界面、およびその界面に連接する突起
部の表面部分を経由して、高周波電流は曲折することな
く流れるので、グランドプレーンの不整合が生じない。
また、互いに押圧することにより、突起部の先端面は他
方の金属キャリアの側面に密着し、良好な接続が確保さ
れる。
金属キャリアとの界面、およびその界面に連接する突起
部の表面部分を経由して、高周波電流は曲折することな
く流れるので、グランドプレーンの不整合が生じない。
また、互いに押圧することにより、突起部の先端面は他
方の金属キャリアの側面に密着し、良好な接続が確保さ
れる。
【0013】請求項3記載の高周波回路の発明では、請
求項1又は請求項2記載の発明において、前記第1又は
第2の金属キャリアの少なくとも一部は、前記第1及び
第2の高周波回路基板のグランドとして機能する。
求項1又は請求項2記載の発明において、前記第1又は
第2の金属キャリアの少なくとも一部は、前記第1及び
第2の高周波回路基板のグランドとして機能する。
【0014】これにより、グランドプレーンの不整合が
解消される。
解消される。
【0015】請求項4記載の高周波回路の発明は、請求
項1〜請求項3のいずれかに記載の発明において、前記
突起部を前記第1及び第2の金属キャリアよりも軟質の
材料で構成した。
項1〜請求項3のいずれかに記載の発明において、前記
突起部を前記第1及び第2の金属キャリアよりも軟質の
材料で構成した。
【0016】ハンダ等の軟質の良好な導電性材料を金属
キャリアの側面に一体的に付加して突起とすることによ
り、この突起は押圧によりつぶれて変形する。ゆえに、
金属キャリアとの接続の密着性が向上し、良好なグラン
ドプレーンの接続を実現できる。
キャリアの側面に一体的に付加して突起とすることによ
り、この突起は押圧によりつぶれて変形する。ゆえに、
金属キャリアとの接続の密着性が向上し、良好なグラン
ドプレーンの接続を実現できる。
【0017】請求項5記載の高周波回路の発明は、請求
項1〜請求項4のいずれかに記載の発明において、前記
突起部の存在によって前記第1の金属キャリアと第2の
金属キャリアとの間に生じる間隙に、電波吸収材を設け
た構成とした。
項1〜請求項4のいずれかに記載の発明において、前記
突起部の存在によって前記第1の金属キャリアと第2の
金属キャリアとの間に生じる間隙に、電波吸収材を設け
た構成とした。
【0018】金属キャリアのエッジ部には高周波電流が
誘起し、アンテナとして作用しやすい。したがって、電
波吸収材(カーボン等の抵抗性を示す材料からなる)で
高周波電流を減衰させることで、不要輻射に起因する発
振やトランジスタの利得低下といった特性劣化を回避で
きる。
誘起し、アンテナとして作用しやすい。したがって、電
波吸収材(カーボン等の抵抗性を示す材料からなる)で
高周波電流を減衰させることで、不要輻射に起因する発
振やトランジスタの利得低下といった特性劣化を回避で
きる。
【0019】請求項6記載の高周波回路装置の発明は、
第1の金属キャリア上に搭載された第1の高周波回路基
板と、第2の金属キャリア上に搭載された第2の高周波
回路基板とを具備し、前記第1の高周波回路基板の信号
線と前記第2の高周波回路基板の信号線は導電体によっ
て結線され、前記第1の金属キャリアまたは前記第2の
金属キャリアの側面には複数の突起部が設けられ、前記
導電体の下には、その導電体と重なりを有する形態で前
記複数の突起部のうちの一つが位置し、その他の突起部
は前記一つの突起部とは異なる位置に設けられており、
前記第1の金属キャリアと前記第2の金属キャリアとは
互いに押し合って前記複数の突起部により接続されてい
る構成とした。
第1の金属キャリア上に搭載された第1の高周波回路基
板と、第2の金属キャリア上に搭載された第2の高周波
回路基板とを具備し、前記第1の高周波回路基板の信号
線と前記第2の高周波回路基板の信号線は導電体によっ
て結線され、前記第1の金属キャリアまたは前記第2の
金属キャリアの側面には複数の突起部が設けられ、前記
導電体の下には、その導電体と重なりを有する形態で前
記複数の突起部のうちの一つが位置し、その他の突起部
は前記一つの突起部とは異なる位置に設けられており、
前記第1の金属キャリアと前記第2の金属キャリアとは
互いに押し合って前記複数の突起部により接続されてい
る構成とした。
【0020】突起部は、少なくとも高周波信号を伝達す
るための信号線と重なりを有する形態で配置されるが、
信号線は必ず回路基板の中央に配置されるとは限らず、
信号線が回路基板の中央からずれた位置に設けられる
と、これに伴って突起の位置も金属キャリアの中央から
ずれることになる。このような場合でも、複数の突起を
設けることで、金属キャリアのそりや歪みによる影響を
軽減して、金属キャリア間の良好な接続を確保できる。
るための信号線と重なりを有する形態で配置されるが、
信号線は必ず回路基板の中央に配置されるとは限らず、
信号線が回路基板の中央からずれた位置に設けられる
と、これに伴って突起の位置も金属キャリアの中央から
ずれることになる。このような場合でも、複数の突起を
設けることで、金属キャリアのそりや歪みによる影響を
軽減して、金属キャリア間の良好な接続を確保できる。
【0021】請求項7記載の発明は、請求項6記載の発
明において、前記その他の突起部は少なくとも二つ存在
し、その二つの突起部は、前記一つの突起部を挟む形態
で配置されている構成とした。
明において、前記その他の突起部は少なくとも二つ存在
し、その二つの突起部は、前記一つの突起部を挟む形態
で配置されている構成とした。
【0022】これにより、少なくとも二つの突起部の長
さを調整して、これらの突起部によって挟まれる突起部
の変形量を制御できるといった利点も得ることができ
る。
さを調整して、これらの突起部によって挟まれる突起部
の変形量を制御できるといった利点も得ることができ
る。
【0023】請求項8記載の高周波回路装置の発明は、
請求項6又は請求項7記載の発明において、前記複数の
突起部の存在によって前記第1及び第2の金属キャリア
間に生じる間隙に、電波吸収材を設けた構成とした。
請求項6又は請求項7記載の発明において、前記複数の
突起部の存在によって前記第1及び第2の金属キャリア
間に生じる間隙に、電波吸収材を設けた構成とした。
【0024】電波吸収材により不要輻射の原因となる高
周波電流を減衰させることで、発振やトランジスタの利
得低下といった特性劣化を回避できる。
周波電流を減衰させることで、発振やトランジスタの利
得低下といった特性劣化を回避できる。
【0025】
【発明の実施の形態】(実施の形態1)以下,本発明の
実施の形態1について図面を参照して説明する。
実施の形態1について図面を参照して説明する。
【0026】図1は本発明の実施の形態1にかかる高周
波回路装置の要部の平面図である。また、図2(a)は
図1の高周波回路装置におけるA−A線に沿う断面図で
あり、図2(b)は高周波回路の回路構成を示し、図3
は図1の高周波回路装置におけるB−B線に沿う断面図
である。
波回路装置の要部の平面図である。また、図2(a)は
図1の高周波回路装置におけるA−A線に沿う断面図で
あり、図2(b)は高周波回路の回路構成を示し、図3
は図1の高周波回路装置におけるB−B線に沿う断面図
である。
【0027】本実施の形態の高周波回路装置の特徴は、
金属キャリア123の側面の中央に突起126を設け、
この突起126を金属キャリア113の対向する側面に
押圧し、これによって、グランドプレーンの電気的接続
をとり、高周波回路ユニット間の不整合を防止する点で
ある。
金属キャリア123の側面の中央に突起126を設け、
この突起126を金属キャリア113の対向する側面に
押圧し、これによって、グランドプレーンの電気的接続
をとり、高周波回路ユニット間の不整合を防止する点で
ある。
【0028】図1〜図3に示されるように、共通の金属
筐体103上に、金属キャリア113及び123が載置
され、これらの金属キャリアはそれぞれ、固定ビス11
1a,111b及び121a,121bにより金属筐体
103に固定されている。この金属キャリアは、メンテ
ナンスの便宜を考慮して一つの回路ユニット毎に分離し
て設けられている。各金属キャリアは互いに押し合い、
突起126の先端面が相手側の金属キャリア113の側
面に密着するようにして、良好な接続を実現できるよう
にしている(この点については後述する)。
筐体103上に、金属キャリア113及び123が載置
され、これらの金属キャリアはそれぞれ、固定ビス11
1a,111b及び121a,121bにより金属筐体
103に固定されている。この金属キャリアは、メンテ
ナンスの便宜を考慮して一つの回路ユニット毎に分離し
て設けられている。各金属キャリアは互いに押し合い、
突起126の先端面が相手側の金属キャリア113の側
面に密着するようにして、良好な接続を実現できるよう
にしている(この点については後述する)。
【0029】各金属キャリア113及び123上には、
セラミックからなる高周波回路基板112,122がそ
れぞれ搭載されている。高周波回路基板112,122
はそれぞれ、HBTあるいはMESFETなどの超高周
波トランジスタ(TR1,TR2)を具備し、各トラン
ジスタは、高周波信号ラインを構成するマイクロストリ
ップライン114,124及び金属リボン(あるいは金
属ワイヤ)104を介して電気的に接続されている。
セラミックからなる高周波回路基板112,122がそ
れぞれ搭載されている。高周波回路基板112,122
はそれぞれ、HBTあるいはMESFETなどの超高周
波トランジスタ(TR1,TR2)を具備し、各トラン
ジスタは、高周波信号ラインを構成するマイクロストリ
ップライン114,124及び金属リボン(あるいは金
属ワイヤ)104を介して電気的に接続されている。
【0030】図2に明確に示されるように、高周波回路
基板112および122は,高周波信号が引き出される
マイクロストリップライン114および124と、金属
キャリア113および123に電気的に接続され、グラ
ンドプレーンを形成している裏面導体膜115および1
25とを有し、マイクロストリップライン114および
124は、金属リボン104により接続されている。
基板112および122は,高周波信号が引き出される
マイクロストリップライン114および124と、金属
キャリア113および123に電気的に接続され、グラ
ンドプレーンを形成している裏面導体膜115および1
25とを有し、マイクロストリップライン114および
124は、金属リボン104により接続されている。
【0031】図2(b)に示されるように、トランジス
タTR1,TR2はソース接地されたFET(電界効果
トランジスタ)であり、トランジスタTR1のドレイン
を整合回路を介してトランジスタTR2のゲートに接続
した回路構成となる。なお、図中、「S」はソースを表
し、「G」はゲートを表し、「D」はドレインを表し、
「MN」は整合回路を表す。
タTR1,TR2はソース接地されたFET(電界効果
トランジスタ)であり、トランジスタTR1のドレイン
を整合回路を介してトランジスタTR2のゲートに接続
した回路構成となる。なお、図中、「S」はソースを表
し、「G」はゲートを表し、「D」はドレインを表し、
「MN」は整合回路を表す。
【0032】図1に示されるように、突起126は、金
属リボン(金属ワイヤ)104の直下において、この金
属リボン(金属ワイヤ)104と重なりを有する形態で
設けられる。
属リボン(金属ワイヤ)104の直下において、この金
属リボン(金属ワイヤ)104と重なりを有する形態で
設けられる。
【0033】グランドプレーンを流れる高周波電流は、
マイクロストリップラインの直下の部分に集中するの
で、仮に金属リボン(金属ワイヤ)104の直下にグラ
ンドプレーンを構成する導体層を設けないとグランドプ
レーンを流れる高周波電流が屈曲し、寄生回路を構成し
て不整合の原因となるので、これを回避するために金属
突起を「金属リボン(金属ワイヤ)の直下」に設けるも
のである。
マイクロストリップラインの直下の部分に集中するの
で、仮に金属リボン(金属ワイヤ)104の直下にグラ
ンドプレーンを構成する導体層を設けないとグランドプ
レーンを流れる高周波電流が屈曲し、寄生回路を構成し
て不整合の原因となるので、これを回避するために金属
突起を「金属リボン(金属ワイヤ)の直下」に設けるも
のである。
【0034】突起126は良導電性の材料からなり、金
属キャリア123と一体となっている。ここで、「一
体」とは、一体的に切り出される場合のみならず、別部
材を金属キャリアの側面の所定箇所に固着して、一体化
させた場合も含む意味である。突起が金属キャリアと一
体化されていることにより、部品点数の増加を防止でき
る。
属キャリア123と一体となっている。ここで、「一
体」とは、一体的に切り出される場合のみならず、別部
材を金属キャリアの側面の所定箇所に固着して、一体化
させた場合も含む意味である。突起が金属キャリアと一
体化されていることにより、部品点数の増加を防止でき
る。
【0035】また、突起126は金属キャリア113と
密着するように,先端が平坦であることが望ましく、先
端面を研磨する等、加工を施しておく方がより好まし
い。
密着するように,先端が平坦であることが望ましく、先
端面を研磨する等、加工を施しておく方がより好まし
い。
【0036】また、図2および図3からわかるように、
突起126はの上側の表面は、金属キャリア113,1
23の表面と同一の位置にあり、各表面は実質的に連接
(連続)している。
突起126はの上側の表面は、金属キャリア113,1
23の表面と同一の位置にあり、各表面は実質的に連接
(連続)している。
【0037】このような高周波回路装置において、たと
えば回路基板112から回路基板122に向かってグラ
ンドプレーンを流れる高周波電流について考察する。図
2において、太い矢印で示される「J1」は、この高周
波電流を示している。図示されるとおり、高周波電流
は、表皮効果によって、マイクロストリップライン11
4と金属リボン104の接続点の直下までは裏面導体膜
115を流れ、そこから突起126を介して連続的に裏
面導体膜125に流れることができる。したがって高周
波回路ユニット間での不整合損は小さく、良好な伝送特
性を得ることができる。
えば回路基板112から回路基板122に向かってグラ
ンドプレーンを流れる高周波電流について考察する。図
2において、太い矢印で示される「J1」は、この高周
波電流を示している。図示されるとおり、高周波電流
は、表皮効果によって、マイクロストリップライン11
4と金属リボン104の接続点の直下までは裏面導体膜
115を流れ、そこから突起126を介して連続的に裏
面導体膜125に流れることができる。したがって高周
波回路ユニット間での不整合損は小さく、良好な伝送特
性を得ることができる。
【0038】図19に比較例の構造を示す。図19の場
合、金属キャリア123aと123bとは、金属筐体1
03を介して電気的に接続されているにすぎない。した
がって、高周波電流は、太い矢印「J2」で示すように
曲折して流れ、このためにグランドプレーンに不連続が
生じて伝送特性に悪影響を与える。これに対し、図2の
場合、電流経路が直線的であり、ゆえに、不整合損が大
幅に減少していることは明らかである。
合、金属キャリア123aと123bとは、金属筐体1
03を介して電気的に接続されているにすぎない。した
がって、高周波電流は、太い矢印「J2」で示すように
曲折して流れ、このためにグランドプレーンに不連続が
生じて伝送特性に悪影響を与える。これに対し、図2の
場合、電流経路が直線的であり、ゆえに、不整合損が大
幅に減少していることは明らかである。
【0039】なお、本発明では突起を設けて、この突起
を介して金属キャリア間を接続するのであり、金属キャ
リアどうしを全面的に接触させるものではない。金属キ
ャリアの側面の全面を直接接触させた場合の問題点が図
20に示される。図20において、符号123a,12
3bは金属キャリアである。各キャリアの接触領域
「S」における接触の状態を、図20の右側に一点鎖線
で囲んで示してある(平面図)。
を介して金属キャリア間を接続するのであり、金属キャ
リアどうしを全面的に接触させるものではない。金属キ
ャリアの側面の全面を直接接触させた場合の問題点が図
20に示される。図20において、符号123a,12
3bは金属キャリアである。各キャリアの接触領域
「S」における接触の状態を、図20の右側に一点鎖線
で囲んで示してある(平面図)。
【0040】図示されるように、金属キャリアはバルク
が大きいので、全体的に歪みやそりが大きく、その影響
により電気的接続に不連続が生じやすい。図20の場
合、太い矢印「J3」で示すように、平面的にみて高周
波電流が迂回して流れている。これは、図19の比較例
において、高周波電流が縦方向に迂回して流れるのと同
等であり、伝送特性に悪影響を与える。したがって、本
発明では、先端面がフラットな突起を設け、高周波電流
が集中する部分が確実に接続されるような構成をとった
のである。
が大きいので、全体的に歪みやそりが大きく、その影響
により電気的接続に不連続が生じやすい。図20の場
合、太い矢印「J3」で示すように、平面的にみて高周
波電流が迂回して流れている。これは、図19の比較例
において、高周波電流が縦方向に迂回して流れるのと同
等であり、伝送特性に悪影響を与える。したがって、本
発明では、先端面がフラットな突起を設け、高周波電流
が集中する部分が確実に接続されるような構成をとった
のである。
【0041】なお、図1において、金属リボン104と
突起126で構成する伝送線路の特性インピーダンス
が、マイクロストリップライン114および124の特
性インピーダンスと等しい値を持つように、金属リボン
104の幅を設定すれば、さらに不整合を小さくし、伝
送特性を改善できる。このとき、突起126は分布定数
線路のグランドプレーンとして扱えるように、金属リボ
ン104の3倍以上の幅を有することが望ましい。
突起126で構成する伝送線路の特性インピーダンス
が、マイクロストリップライン114および124の特
性インピーダンスと等しい値を持つように、金属リボン
104の幅を設定すれば、さらに不整合を小さくし、伝
送特性を改善できる。このとき、突起126は分布定数
線路のグランドプレーンとして扱えるように、金属リボ
ン104の3倍以上の幅を有することが望ましい。
【0042】また、本実施の形態の高周波回路装置で
は、回路基板112および122は、金属キャリア11
3および123上に搭載されており,実装時、回路基板
単体にストレスがかかることがないので、回路基板の破
損の恐れが小さい。
は、回路基板112および122は、金属キャリア11
3および123上に搭載されており,実装時、回路基板
単体にストレスがかかることがないので、回路基板の破
損の恐れが小さい。
【0043】次に、図4(a),(b)を用いて、金属
キャリアどうしを互いに押圧させる仕組みについて説明
する。
キャリアどうしを互いに押圧させる仕組みについて説明
する。
【0044】図4(a)は図1〜図3に示した構成を含
む高周波回路装置全体の断面図、図4(b)はその平面
図である。なお、図1〜図3と同じ部分には同一符号を
付してある。
む高周波回路装置全体の断面図、図4(b)はその平面
図である。なお、図1〜図3と同じ部分には同一符号を
付してある。
【0045】また、図4(a),(b)では、高周波回
路基板112,122の表面に配置されるマイクロスト
リップライン114,124や金属リボン(金属ワイ
ヤ)104,214,224等を太い実線で示して記載
を簡略化している。伝送路を示す太い実線については、
符号を付与するための引き出し線の起点に丸印をつけて
ある。また、回路基板112,122の裏面の導体膜は
省略している。また、図4(a)では、理解の容易のた
めに、図2および図3を一体化させたような記載をして
ある。すなわち、図4(a)は、図1の矢印Cの方向か
らみた断面構造や外観を併せて記載した図となってい
る。
路基板112,122の表面に配置されるマイクロスト
リップライン114,124や金属リボン(金属ワイ
ヤ)104,214,224等を太い実線で示して記載
を簡略化している。伝送路を示す太い実線については、
符号を付与するための引き出し線の起点に丸印をつけて
ある。また、回路基板112,122の裏面の導体膜は
省略している。また、図4(a)では、理解の容易のた
めに、図2および図3を一体化させたような記載をして
ある。すなわち、図4(a)は、図1の矢印Cの方向か
らみた断面構造や外観を併せて記載した図となってい
る。
【0046】図4(a),(b)に示すように、コネク
タブロック201および202は、2つの高周波回路ユ
ニットと外部回路とを接続する機能を有し、固定ビス2
11および221によって金属筐体103に固定されて
いる。
タブロック201および202は、2つの高周波回路ユ
ニットと外部回路とを接続する機能を有し、固定ビス2
11および221によって金属筐体103に固定されて
いる。
【0047】コネクタブロック201および202は、
コネクタ212および222,グランドブロック213
および223からなり、コネクタ212および222の
芯線は,金属リボン214および224によって高周波
回路ユニットに接続されている。
コネクタ212および222,グランドブロック213
および223からなり、コネクタ212および222の
芯線は,金属リボン214および224によって高周波
回路ユニットに接続されている。
【0048】なお,コネクタブロック201および20
2もまた高周波回路ユニットであるとみなし、上述した
高周波回路装置の実装構造を適用しても良い。図4で
は,コネクタブロック202に突起を設け、金属リボン
224の直下に配置した構成としている。
2もまた高周波回路ユニットであるとみなし、上述した
高周波回路装置の実装構造を適用しても良い。図4で
は,コネクタブロック202に突起を設け、金属リボン
224の直下に配置した構成としている。
【0049】ここで,たとえば金属筐体103の長さを
短くし,コネクタブロック201および202が2つの
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア113および123が互いに押圧される構成を
実現でき、これにより、高周波回路ユニットのグランド
の接続を確実にすることができる。
短くし,コネクタブロック201および202が2つの
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア113および123が互いに押圧される構成を
実現でき、これにより、高周波回路ユニットのグランド
の接続を確実にすることができる。
【0050】このような構成を取ることによって、回路
基板の破損および部品点数の増加を回避することができ
る。また、高周波回路ユニット間の接続部のグランドプ
レーンの不連続部を解消し、不整合を減少させること
で、伝送特性の劣化を回避することができる. (実施の形態2)以下,本発明の実施の形態2につい
て、図5(a),(b)および図6(a),(b)を用
いて説明する。図5(a)は高周波回路装置の要部の断
面図,(b)はその平面図である。また、図6(a)は
高周波回路装置の全体の断面図,(b)は平面図であ
る。これらの図においては、高周波回路基板の表面に配
置されるマイクロストリップラインや金属リボン(金属
ワイヤ)あるいは回路基板の裏面の導体層等を太い実線
で示して記載を簡略化している。伝送路を示す太い実線
については、符号を付与するための引き出し線の起点に
丸印をつけてある。
基板の破損および部品点数の増加を回避することができ
る。また、高周波回路ユニット間の接続部のグランドプ
レーンの不連続部を解消し、不整合を減少させること
で、伝送特性の劣化を回避することができる. (実施の形態2)以下,本発明の実施の形態2につい
て、図5(a),(b)および図6(a),(b)を用
いて説明する。図5(a)は高周波回路装置の要部の断
面図,(b)はその平面図である。また、図6(a)は
高周波回路装置の全体の断面図,(b)は平面図であ
る。これらの図においては、高周波回路基板の表面に配
置されるマイクロストリップラインや金属リボン(金属
ワイヤ)あるいは回路基板の裏面の導体層等を太い実線
で示して記載を簡略化している。伝送路を示す太い実線
については、符号を付与するための引き出し線の起点に
丸印をつけてある。
【0051】本実施の形態の特徴は、信号線路が回路基
板の中央からはずれた位置に配置されており、このこと
に起因して電気的接続が不完全になるのを回避するべ
く、2つの突起で金属キャリアを接続することである。
板の中央からはずれた位置に配置されており、このこと
に起因して電気的接続が不完全になるのを回避するべ
く、2つの突起で金属キャリアを接続することである。
【0052】図5(a),(b)に示すように、2つの
高周波回路ユニットは、固定ビス611および621に
より金属筐体603に固定され、図6に示される構成に
より、互いに押圧して配置される。
高周波回路ユニットは、固定ビス611および621に
より金属筐体603に固定され、図6に示される構成に
より、互いに押圧して配置される。
【0053】2つの高周波回路ユニットは、高周波回路
が形成されている回路基板612および622と、回路
基板612および622を搭載した金属キャリア613
および623からなる。
が形成されている回路基板612および622と、回路
基板612および622を搭載した金属キャリア613
および623からなる。
【0054】回路基板612および622は、高周波信
号が引き出されるマイクロストリップライン614およ
び624と、金属キャリア613および623に電気的
に接続され、グランドプレーンを形成している裏面導体
膜615および625を有し、マイクロストリップライ
ン614および624は、金属リボン604により接続
されている。
号が引き出されるマイクロストリップライン614およ
び624と、金属キャリア613および623に電気的
に接続され、グランドプレーンを形成している裏面導体
膜615および625を有し、マイクロストリップライ
ン614および624は、金属リボン604により接続
されている。
【0055】なお、マイクロストリップライン614お
よび624は、回路基板612および622の中心から
オフセットを持った構造としている。
よび624は、回路基板612および622の中心から
オフセットを持った構造としている。
【0056】金属キャリア623は、金属リボン604
の直下に、良電導性の材料からなる第1の突起626を
持ち、また、前記第1の突起626に接触しない位置に
第2の突起627を持つ構成を有する。
の直下に、良電導性の材料からなる第1の突起626を
持ち、また、前記第1の突起626に接触しない位置に
第2の突起627を持つ構成を有する。
【0057】また、第1の突起626は金属キャリア6
13と密着するように、先端が平坦であることが望まし
い。
13と密着するように、先端が平坦であることが望まし
い。
【0058】なお、第1の突起626および第2の突起
627は、あらかじめ金属キャリア623の一部として
形成しておく構成としても良く、これにより部品点数の
増加を回避することができる。
627は、あらかじめ金属キャリア623の一部として
形成しておく構成としても良く、これにより部品点数の
増加を回避することができる。
【0059】上記の実装構造において、たとえば回路基
板612から回路基板622に向かってグランドプレー
ンを流れる高周波電流は、表皮効果によってマイクロス
トリップライン614と金属リボン604の接続点の直
下までは裏面導体膜615を流れ、そこから第1の突起
626を介して連続的に裏面導体膜625に流れること
ができ、したがって高周波回路ユニット間での不整合損
が減少し、伝送特性を改善することができる。
板612から回路基板622に向かってグランドプレー
ンを流れる高周波電流は、表皮効果によってマイクロス
トリップライン614と金属リボン604の接続点の直
下までは裏面導体膜615を流れ、そこから第1の突起
626を介して連続的に裏面導体膜625に流れること
ができ、したがって高周波回路ユニット間での不整合損
が減少し、伝送特性を改善することができる。
【0060】なお、金属リボン604と第1の突起62
6で構成する伝送線路の特性インピーダンスがマイクロ
ストリップライン614および624の特性インピーダ
ンスと等しい値を持つように,金属リボン604の幅を
設定すれば、さらに不整合を小さくして伝送特性を改善
できる。ここで、第1の突起626は分布定数線路のグ
ランドプレーンとして扱えるように、金属リボン604
の3倍以上の幅を有することが望ましい。
6で構成する伝送線路の特性インピーダンスがマイクロ
ストリップライン614および624の特性インピーダ
ンスと等しい値を持つように,金属リボン604の幅を
設定すれば、さらに不整合を小さくして伝送特性を改善
できる。ここで、第1の突起626は分布定数線路のグ
ランドプレーンとして扱えるように、金属リボン604
の3倍以上の幅を有することが望ましい。
【0061】また、回路基板612および622は、金
属キャリア613および623上に搭載されており、実
装時、回路基板単体にストレスがかかることがないので
回路基板の破損の恐れが小さい。
属キャリア613および623上に搭載されており、実
装時、回路基板単体にストレスがかかることがないので
回路基板の破損の恐れが小さい。
【0062】次に、金属キャリアを互いに押圧する仕組
みについて図6(a),(b)を用いて説明する。
みについて図6(a),(b)を用いて説明する。
【0063】ここで,コネクタブロック701および7
02は、2つの高周波回路ユニットと外部回路とを接続
する機能を有し、固定ビス711および721によって
金属筐体603に固定されている。
02は、2つの高周波回路ユニットと外部回路とを接続
する機能を有し、固定ビス711および721によって
金属筐体603に固定されている。
【0064】コネクタブロック701および702は、
コネクタ712および722、グランドブロック713
および723からなり、コネクタ712および722の
芯線は金属リボン714および724によって、高周波
回路ユニットに接続されている。
コネクタ712および722、グランドブロック713
および723からなり、コネクタ712および722の
芯線は金属リボン714および724によって、高周波
回路ユニットに接続されている。
【0065】なお、コネクタブロック701および70
2もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起を用
いた実装を行うことができる。図6では、コネクタブロ
ック702が、金属リボン724の直下に良電導性の材
料からなる第1の突起および第1の突起に接触しない位
置に第2の突起を有した構成となっている。
2もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起を用
いた実装を行うことができる。図6では、コネクタブロ
ック702が、金属リボン724の直下に良電導性の材
料からなる第1の突起および第1の突起に接触しない位
置に第2の突起を有した構成となっている。
【0066】ここで、たとえば金属筐体603の長さを
短くし、コネクタブロック701および702が2つの
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア613および623が互いに押圧される構成を
実現でき、高周波回路ユニットのグランドの接続を確実
にすることができる。
短くし、コネクタブロック701および702が2つの
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア613および623が互いに押圧される構成を
実現でき、高周波回路ユニットのグランドの接続を確実
にすることができる。
【0067】また、前掲の実施の形態の実装構造を採用
した場合、固定ビス211あるいは221の締結力のア
ンバランスが生じると、金属キャリアが傾いて突起部で
の電気的接続が不完全になりやすい。この傾向は、マイ
クロストリップラインが回路基板に対してオフセットを
持った構成である高周波回路ユニットで特に顕著とな
る。しかし、本実施の形態の実装構造を適用した場合、
各ユニットは第1の突起626および第2の突起627
の2点で接触しているので、安定した電気的接続を得る
ことができる。
した場合、固定ビス211あるいは221の締結力のア
ンバランスが生じると、金属キャリアが傾いて突起部で
の電気的接続が不完全になりやすい。この傾向は、マイ
クロストリップラインが回路基板に対してオフセットを
持った構成である高周波回路ユニットで特に顕著とな
る。しかし、本実施の形態の実装構造を適用した場合、
各ユニットは第1の突起626および第2の突起627
の2点で接触しているので、安定した電気的接続を得る
ことができる。
【0068】このような構成を取ることによって、前掲
の実施の形態の高周波回路装置の実装構造の効果に加
え、マイクロストリップラインが回路基板に対してオフ
セットを持った構成である高周波回路ユニットにおいて
も安定なグランドプレーンの接触を実現することがで
き、不整合を減少させて伝送特性の劣化を回避すること
ができる。
の実施の形態の高周波回路装置の実装構造の効果に加
え、マイクロストリップラインが回路基板に対してオフ
セットを持った構成である高周波回路ユニットにおいて
も安定なグランドプレーンの接触を実現することがで
き、不整合を減少させて伝送特性の劣化を回避すること
ができる。
【0069】(実施の形態3)以下、本発明の実施の形
態3について図7(a),(b)及び図8(a),
(b)を用いて説明する。図7(a)は高周波回路装置
の要部の断面図であり、(b)はその平面図である。
態3について図7(a),(b)及び図8(a),
(b)を用いて説明する。図7(a)は高周波回路装置
の要部の断面図であり、(b)はその平面図である。
【0070】図7(a),(b)に示すように、2つの
高周波回路ユニットは、固定ビス811および821に
より金属筐体803に固定され、図8の構成により互い
に押圧して配置される。
高周波回路ユニットは、固定ビス811および821に
より金属筐体803に固定され、図8の構成により互い
に押圧して配置される。
【0071】2つの高周波回路ユニットは、高周波回路
が形成されている回路基板812および822と、回路
基板812および822を搭載した金属キャリア813
および823からなる。
が形成されている回路基板812および822と、回路
基板812および822を搭載した金属キャリア813
および823からなる。
【0072】回路基板812および822は、高周波信
号が引き出されるマイクロストリップライン814およ
び824と、金属キャリア813および823に電気的
に接続され、グランドプレーンを形成している裏面導体
膜815および825を有し、マイクロストリップライ
ン814および824は金属リボン804により接続さ
れている。
号が引き出されるマイクロストリップライン814およ
び824と、金属キャリア813および823に電気的
に接続され、グランドプレーンを形成している裏面導体
膜815および825を有し、マイクロストリップライ
ン814および824は金属リボン804により接続さ
れている。
【0073】金属キャリア823は、高周波回路ユニッ
ト間の接続部,金属リボン804の直下に、たとえば金
やインジウムなど軟質かつ良電導性の材料からなる突起
826を持つ構成を有する。
ト間の接続部,金属リボン804の直下に、たとえば金
やインジウムなど軟質かつ良電導性の材料からなる突起
826を持つ構成を有する。
【0074】このとき、二つの高周波回路ユニットは互
いに押圧して配置されているので、金属キャリア813
および823に挟まれた突起826は変形し、金属キャ
リア間の間隙を充填する。
いに押圧して配置されているので、金属キャリア813
および823に挟まれた突起826は変形し、金属キャ
リア間の間隙を充填する。
【0075】上記の実装構造において、グランドプレー
ンを流れる高周波電流は、表皮効果によってマイクロス
トリップライン814と金属リボン804の接続点の直
下までは裏面導体膜815を流れ、そこから突起826
を介して連続的に裏面導体膜825に流れることがで
き、したがって高周波回路ユニット間での不整合損が減
少し、伝送特性を改善することができる。
ンを流れる高周波電流は、表皮効果によってマイクロス
トリップライン814と金属リボン804の接続点の直
下までは裏面導体膜815を流れ、そこから突起826
を介して連続的に裏面導体膜825に流れることがで
き、したがって高周波回路ユニット間での不整合損が減
少し、伝送特性を改善することができる。
【0076】なお、金属リボン804と突起826で構
成する伝送線路の特性インピーダンスがマイクロストリ
ップライン814および824の特性インピーダンスと
等しい値を持つように、金属リボン804の幅を設定す
れば,さらに不整合を小さくし、伝送特性を改善でき
る。突起826は分布定数線路のグランドプレーンとし
て扱えるように、金属キャリア間の間隙を充填した状態
で、金属リボン804の3倍以上の幅を有することが望
ましい。
成する伝送線路の特性インピーダンスがマイクロストリ
ップライン814および824の特性インピーダンスと
等しい値を持つように、金属リボン804の幅を設定す
れば,さらに不整合を小さくし、伝送特性を改善でき
る。突起826は分布定数線路のグランドプレーンとし
て扱えるように、金属キャリア間の間隙を充填した状態
で、金属リボン804の3倍以上の幅を有することが望
ましい。
【0077】また、回路基板812および822は、金
属キャリア813および823上に搭載されており、実
装時、回路基板単体にストレスがかかることがないので
回路基板の破損の恐れが小さい。
属キャリア813および823上に搭載されており、実
装時、回路基板単体にストレスがかかることがないので
回路基板の破損の恐れが小さい。
【0078】図8は高周波回路装置の全体の実装構造を
説明するための図である。
説明するための図である。
【0079】ここで、コネクタブロック901および9
02は、2つの高周波回路ユニットと外部回路とを接続
する機能を有し、固定ビス911および921によって
金属筐体803に固定されている。
02は、2つの高周波回路ユニットと外部回路とを接続
する機能を有し、固定ビス911および921によって
金属筐体803に固定されている。
【0080】コネクタブロック901および902は、
コネクタ912および922,グランドブロック913
および923からなり、コネクタ912および922の
芯線は金属リボン914および924によって高周波回
路ユニットに接続されている。
コネクタ912および922,グランドブロック913
および923からなり、コネクタ912および922の
芯線は金属リボン914および924によって高周波回
路ユニットに接続されている。
【0081】なお、コネクタブロック901および90
2もまた高周波回路ユニットであるとみなして突起を用
いた接続構造を採用することもできる。図8では、コネ
クタブロック902が金属リボン924の直下におい
て、軟質かつ良電導性の材料からなる突起を有してい
る。
2もまた高周波回路ユニットであるとみなして突起を用
いた接続構造を採用することもできる。図8では、コネ
クタブロック902が金属リボン924の直下におい
て、軟質かつ良電導性の材料からなる突起を有してい
る。
【0082】ここで、たとえば金属筐体803の長さを
短くし、コネクタブロック901および902が2つの
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア813および823が互いに押圧される構成を
実現できる。この結果、高周波回路ユニット間および高
周波回路ユニット・コネクタブロック間の突起が変形
し、それぞれの間隙を充填することで、各高周波回路ユ
ニット間のグランドプレーンの接続を確実にすることが
できる。
短くし、コネクタブロック901および902が2つの
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア813および823が互いに押圧される構成を
実現できる。この結果、高周波回路ユニット間および高
周波回路ユニット・コネクタブロック間の突起が変形
し、それぞれの間隙を充填することで、各高周波回路ユ
ニット間のグランドプレーンの接続を確実にすることが
できる。
【0083】このような構成を取ることによって、回路
基板の破損を回避することができる。また、軟質の材料
を高周波回路ユニット間に充填する構造を採ることで、
高周波回路ユニット間の接続部のグランドプレーンの不
連続部をより確実に解消し、不整合損を減少させること
で、伝送特性の劣化を回避することができる。
基板の破損を回避することができる。また、軟質の材料
を高周波回路ユニット間に充填する構造を採ることで、
高周波回路ユニット間の接続部のグランドプレーンの不
連続部をより確実に解消し、不整合損を減少させること
で、伝送特性の劣化を回避することができる。
【0084】(実施の形態4)以下、本発明の実施の形
態4について、図9(a),(b)および図10
(a),(b)を用いて説明する。
態4について、図9(a),(b)および図10
(a),(b)を用いて説明する。
【0085】図9(a)は高周波回路装置の要部の断面
図であり、(b)はその平面図である。また、図10
(a)は高周波回路装置全体の断面図であり、(b)は
その平面図である。
図であり、(b)はその平面図である。また、図10
(a)は高周波回路装置全体の断面図であり、(b)は
その平面図である。
【0086】図9(a),(b)において、2つの高周
波回路ユニットは、固定ビス1011および1021に
より金属筐体1003に固定され、図10の構成によっ
て互いに押圧して配置される。
波回路ユニットは、固定ビス1011および1021に
より金属筐体1003に固定され、図10の構成によっ
て互いに押圧して配置される。
【0087】2つの高周波回路ユニットは、高周波回路
が形成されている回路基板1012および1022と、
回路基板1012および1022を搭載した金属キャリ
ア1013および1023からなる。
が形成されている回路基板1012および1022と、
回路基板1012および1022を搭載した金属キャリ
ア1013および1023からなる。
【0088】回路基板1012および1022は、高周
波信号が引き出されるマイクロストリップライン101
4および1024と、金属キャリア1013および10
23に電気的に接続され、グランドプレーンを形成して
いる裏面導体膜を有し、マイクロストリップライン10
14および1024は、金属リボン1004により接続
されている。
波信号が引き出されるマイクロストリップライン101
4および1024と、金属キャリア1013および10
23に電気的に接続され、グランドプレーンを形成して
いる裏面導体膜を有し、マイクロストリップライン10
14および1024は、金属リボン1004により接続
されている。
【0089】金属キャリア1023は、金属リボン10
04の直下に、たとえば金やインジウムなど軟質かつ良
電導性の材料からなる第1の突起1026を持ち,ま
た、第1の突起と接触しない位置に第2の突起1027
および第3の突起1028を持つ構成を有する。
04の直下に、たとえば金やインジウムなど軟質かつ良
電導性の材料からなる第1の突起1026を持ち,ま
た、第1の突起と接触しない位置に第2の突起1027
および第3の突起1028を持つ構成を有する。
【0090】このとき、高周波回路ユニット1001お
よび1002は互いに押圧して配置されているので,高
周波回路ユニット1001および1002に挟まれた第
1の突起1026は変形し、金属キャリア間の間隙を充
填する。
よび1002は互いに押圧して配置されているので,高
周波回路ユニット1001および1002に挟まれた第
1の突起1026は変形し、金属キャリア間の間隙を充
填する。
【0091】ここで、第1の突起1026の変形の度合
いは、第2の突起1027および第3の突起1028の
寸法により制御できるので、第1の突起1026の不十
分な変形によるインダクタンス成分の増加、あるいは過
度の変形による金属リボン1004との短絡を避けるこ
とができ、良好な接続を得ることができる。
いは、第2の突起1027および第3の突起1028の
寸法により制御できるので、第1の突起1026の不十
分な変形によるインダクタンス成分の増加、あるいは過
度の変形による金属リボン1004との短絡を避けるこ
とができ、良好な接続を得ることができる。
【0092】上述の実装構造において、たとえば回路基
板1012から回路基板1022に向かってグランドプ
レーンを流れる高周波電流は、表皮効果によってマイク
ロストリップライン1014と金属リボン1004の接
続点の直下までは裏面導体膜1015を流れ,そこから
第1の突起1026を介して連続的に裏面導体膜102
5に流れることができ、したがって高周波回路ユニット
間での不整合損が減少し、伝送特性を改善することがで
きる。
板1012から回路基板1022に向かってグランドプ
レーンを流れる高周波電流は、表皮効果によってマイク
ロストリップライン1014と金属リボン1004の接
続点の直下までは裏面導体膜1015を流れ,そこから
第1の突起1026を介して連続的に裏面導体膜102
5に流れることができ、したがって高周波回路ユニット
間での不整合損が減少し、伝送特性を改善することがで
きる。
【0093】なお、金属リボン1004と第1の突起1
026で構成する伝送線路の特性インピーダンスが、マ
イクロストリップライン1014および1024の特性
インピーダンスと等しい値を持つように金属リボン10
04の幅を設定すれば、さらに不整合を小さくして伝送
特性を改善できる。第1の突起1026は分布定数線路
のグランドプレーンとして扱えるように、金属キャリア
間の間隙を充填した状態で、金属リボン1004の3倍
以上の幅を有することが望ましい。
026で構成する伝送線路の特性インピーダンスが、マ
イクロストリップライン1014および1024の特性
インピーダンスと等しい値を持つように金属リボン10
04の幅を設定すれば、さらに不整合を小さくして伝送
特性を改善できる。第1の突起1026は分布定数線路
のグランドプレーンとして扱えるように、金属キャリア
間の間隙を充填した状態で、金属リボン1004の3倍
以上の幅を有することが望ましい。
【0094】また、回路基板1012および1022
は、金属キャリア1013および1023上に搭載され
ており、実装時、回路基板単体にストレスがかかること
がないので回路基板の破損の恐れが小さい。
は、金属キャリア1013および1023上に搭載され
ており、実装時、回路基板単体にストレスがかかること
がないので回路基板の破損の恐れが小さい。
【0095】次に、図10(a),(b)を用いて金属
キャリアを互いに押圧する構造について説明する。
キャリアを互いに押圧する構造について説明する。
【0096】ここで、コネクタブロック1101および
1102は,2つの高周波回路ユニットと外部回路とを
接続する機能を有し、固定ビス1111および1121
によって金属筐体1003に固定されている。
1102は,2つの高周波回路ユニットと外部回路とを
接続する機能を有し、固定ビス1111および1121
によって金属筐体1003に固定されている。
【0097】コネクタブロック1101および1102
は、コネクタ1112および1122,グランドブロッ
ク1113および1123からなり、コネクタ1112
および1122の芯線は、金属リボン1114および1
115によって高周波回路ユニットに接続されている。
は、コネクタ1112および1122,グランドブロッ
ク1113および1123からなり、コネクタ1112
および1122の芯線は、金属リボン1114および1
115によって高周波回路ユニットに接続されている。
【0098】なお、コネクタブロック1101および1
102もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起
を用いた実装構造を適用しても良い。図10では、コネ
クタブロック1102が、金属リボン1124の直下
に、軟質かつ良電導性の材料からなる第1の突起および
第1の突起と接触しない部分に第2および第3の突起を
有した構成となっている。
102もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起
を用いた実装構造を適用しても良い。図10では、コネ
クタブロック1102が、金属リボン1124の直下
に、軟質かつ良電導性の材料からなる第1の突起および
第1の突起と接触しない部分に第2および第3の突起を
有した構成となっている。
【0099】ここで、たとえば金属筐体1003の長さ
を短くし、コネクタブロック1101および1102が
2つの高周波回路ユニットを押圧する構成とすること
で、金属キャリア1013および1023が互いに押圧
される構成を実現でき、その結果、高周波回路ユニット
間および高周波回路ユニット・コネクタブロック間の第
1の突起が変形し、それぞれの間隙を充填することで、
各高周波回路ユニット間のグランドプレーンの接続を確
実にすることができる。
を短くし、コネクタブロック1101および1102が
2つの高周波回路ユニットを押圧する構成とすること
で、金属キャリア1013および1023が互いに押圧
される構成を実現でき、その結果、高周波回路ユニット
間および高周波回路ユニット・コネクタブロック間の第
1の突起が変形し、それぞれの間隙を充填することで、
各高周波回路ユニット間のグランドプレーンの接続を確
実にすることができる。
【0100】このような構成を取ることによって、前掲
の実施の形態における効果に加え、第1の突起の変形を
適切な範囲に保ち、高周波回路ユニット間の接続部のグ
ランドプレーンの不連続部をより確実に解消し、不整合
損を減少させて伝送特性の劣化を回避することができる
という効果が得られる。
の実施の形態における効果に加え、第1の突起の変形を
適切な範囲に保ち、高周波回路ユニット間の接続部のグ
ランドプレーンの不連続部をより確実に解消し、不整合
損を減少させて伝送特性の劣化を回避することができる
という効果が得られる。
【0101】(実施の形態5)以下、本発明の実施の形
態5について、図11(a),(b)および図12
(a),(b)を用いて説明する。図11(a)は高周
波回路装置の要部の断面図であり、(b)はその平面図
である。図12(a)は高周波回路装置の全体の断面図
であり、(b)はその平面図である。
態5について、図11(a),(b)および図12
(a),(b)を用いて説明する。図11(a)は高周
波回路装置の要部の断面図であり、(b)はその平面図
である。図12(a)は高周波回路装置の全体の断面図
であり、(b)はその平面図である。
【0102】図11(a),(b)において、2つの高
周波回路ユニットは、固定ビス111および121によ
り金属筐体103に固定され、図12に示す構成によ
り、互いに押圧して配置される。
周波回路ユニットは、固定ビス111および121によ
り金属筐体103に固定され、図12に示す構成によ
り、互いに押圧して配置される。
【0103】2つの高周波回路ユニットは、高周波回路
が形成されている回路基板112および122と、回路
基板112および122を搭載した金属キャリア113
および123からなる。
が形成されている回路基板112および122と、回路
基板112および122を搭載した金属キャリア113
および123からなる。
【0104】回路基板112および122は、高周波信
号が引き出されるマイクロストリップライン114およ
び124と、金属キャリア113および123に電気的
に接続され、グランドプレーンを形成している裏面導体
膜115および125を有し、マイクロストリップライ
ン114および124は、金属リボン104により接続
されている。
号が引き出されるマイクロストリップライン114およ
び124と、金属キャリア113および123に電気的
に接続され、グランドプレーンを形成している裏面導体
膜115および125を有し、マイクロストリップライ
ン114および124は、金属リボン104により接続
されている。
【0105】金属キャリア123は、金属リボン104
の直下において、良電導性の材料からなる突起126を
持つ。
の直下において、良電導性の材料からなる突起126を
持つ。
【0106】また、突起126は、金属キャリア113
と密着するように、先端が平坦であることが望ましい。
と密着するように、先端が平坦であることが望ましい。
【0107】なお、突起126は、あらかじめ金属キャ
リア123の一部として形成しておく構成としても良
く、これにより、部品点数の増加を回避することができ
る。
リア123の一部として形成しておく構成としても良
く、これにより、部品点数の増加を回避することができ
る。
【0108】また、金属キャリア113および123の
間隙には、電波吸収材105a,105bが挿入されて
いる。
間隙には、電波吸収材105a,105bが挿入されて
いる。
【0109】本実施の形態において、グランドプレーン
を流れる高周波電流は、表皮効果によって、マイクロス
トリップライン114と金属リボン104の接続点の直
下までは裏面導体膜115を流れ、そこから突起126
を介して連続的に裏面導体膜125に流れることがで
き、したがって高周波回路ユニット間での不整合損が減
少し、伝送特性を改善することができる。
を流れる高周波電流は、表皮効果によって、マイクロス
トリップライン114と金属リボン104の接続点の直
下までは裏面導体膜115を流れ、そこから突起126
を介して連続的に裏面導体膜125に流れることがで
き、したがって高周波回路ユニット間での不整合損が減
少し、伝送特性を改善することができる。
【0110】なお、金属リボン104と突起126で構
成する伝送線路の特性インピーダンスが、マイクロスト
リップライン114および124の特性インピーダンス
と等しい値を持つように、金属リボン104の幅を設定
すれば、さらに不整合を小さくして、伝送特性を改善で
きる。ここで、突起126は分布定数線路のグランドプ
レーンとして扱えるように、金属リボン104の3倍以
上の幅を有することが望ましい。
成する伝送線路の特性インピーダンスが、マイクロスト
リップライン114および124の特性インピーダンス
と等しい値を持つように、金属リボン104の幅を設定
すれば、さらに不整合を小さくして、伝送特性を改善で
きる。ここで、突起126は分布定数線路のグランドプ
レーンとして扱えるように、金属リボン104の3倍以
上の幅を有することが望ましい。
【0111】また、回路基板112および122は、金
属キャリア113および123上に搭載されており,実
装時,回路基板単体にストレスがかかることがないの
で、回路基板の破損の恐れが小さい。
属キャリア113および123上に搭載されており,実
装時,回路基板単体にストレスがかかることがないの
で、回路基板の破損の恐れが小さい。
【0112】さらに、金属キャリア113および123
の間隙には、電波吸収材105が挿入されているので、
例えば高周波回路ユニットが高利得の増幅器であった場
合、出力の一部が入力側の金属キャリア間隙に誘起して
も、そのエネルギーは電波吸収材105により減衰させ
られるため、発振や利得低下などの特性劣化を回避する
ことができる。
の間隙には、電波吸収材105が挿入されているので、
例えば高周波回路ユニットが高利得の増幅器であった場
合、出力の一部が入力側の金属キャリア間隙に誘起して
も、そのエネルギーは電波吸収材105により減衰させ
られるため、発振や利得低下などの特性劣化を回避する
ことができる。
【0113】電波吸収材105a,105bは、電流を
吸収できる抵抗性の導電体で構成され、具体的には、カ
ーボンやフェライトを使用できる。
吸収できる抵抗性の導電体で構成され、具体的には、カ
ーボンやフェライトを使用できる。
【0114】次に、図12(a),(b)を用いて、金
属キャリアを互いに押圧するためお構造について説明す
る。
属キャリアを互いに押圧するためお構造について説明す
る。
【0115】ここで、コネクタブロック201および2
02は、2つの高周波回路ユニットと外部回路とを接続
する機能を有し、固定ビス211および221によって
金属筐体103に固定されている。
02は、2つの高周波回路ユニットと外部回路とを接続
する機能を有し、固定ビス211および221によって
金属筐体103に固定されている。
【0116】コネクタブロック201および202は、
コネクタ212および222,グランドブロック213
および223からなり、コネクタ212および222の
芯線は、,金属リボン214および224によって高周
波回路ユニットに接続されている。
コネクタ212および222,グランドブロック213
および223からなり、コネクタ212および222の
芯線は、,金属リボン214および224によって高周
波回路ユニットに接続されている。
【0117】なお、コネクタブロック201および20
2もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起を用
いた実装構造を適用しても良い。図12(a),(b)
では、コネクタブロック202が、金属リボン224の
直下に、良電導性の突起を有している。
2もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起を用
いた実装構造を適用しても良い。図12(a),(b)
では、コネクタブロック202が、金属リボン224の
直下に、良電導性の突起を有している。
【0118】また、コネクタブロック201と金属キャ
リア113,およびコネクタブロック202と金属キャ
リア123の間隙には、電波吸収材が挿入されている構
成としている。
リア113,およびコネクタブロック202と金属キャ
リア123の間隙には、電波吸収材が挿入されている構
成としている。
【0119】ここで、たとえば金属筐体103の長さを
短くし、コネクタブロック201および202が2つの
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア113および123が互いに押圧される構成を
実現でき、高周波回路ユニットのグランドの接続を確実
にすることができる。
短くし、コネクタブロック201および202が2つの
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア113および123が互いに押圧される構成を
実現でき、高周波回路ユニットのグランドの接続を確実
にすることができる。
【0120】このような構成を取ることによって、前掲
の実施の形態1における効果に加えて、グランドプレー
ンの間隙に誘起する不要信号成分を抑圧し、特性劣化を
回避することができるという効果も得ることができる。
の実施の形態1における効果に加えて、グランドプレー
ンの間隙に誘起する不要信号成分を抑圧し、特性劣化を
回避することができるという効果も得ることができる。
【0121】(実施の形態6)以下、本発明の実施の形
態6について、図13(a),(b)及び図14
(a),(b)を用いて説明する。図13(a)は高周
波回路装置の要部の断面図であり、(b)はその平面図
である。図14(a)は高周波回路装置の全体の断面図
であり、(b)はその平面図である。
態6について、図13(a),(b)及び図14
(a),(b)を用いて説明する。図13(a)は高周
波回路装置の要部の断面図であり、(b)はその平面図
である。図14(a)は高周波回路装置の全体の断面図
であり、(b)はその平面図である。
【0122】2つの高周波回路ユニットは、固定ビス6
11および621により金属筐体603に固定され、図
14に示す構成により、互いに押圧して配置される。
11および621により金属筐体603に固定され、図
14に示す構成により、互いに押圧して配置される。
【0123】高周波回路ユニットは、高周波回路が形成
されている回路基板612および622と、回路基板6
12および622を搭載した金属キャリア613および
623からなる。
されている回路基板612および622と、回路基板6
12および622を搭載した金属キャリア613および
623からなる。
【0124】回路基板612および622は、高周波信
号が引き出されるマイクロストリップライン614およ
び624と、金属キャリア613および623に電気的
に接続され、グランドプレーンを形成している裏面導体
膜615および625を有し、マイクロストリップライ
ン614および624は、金属リボン604により接続
されている。
号が引き出されるマイクロストリップライン614およ
び624と、金属キャリア613および623に電気的
に接続され、グランドプレーンを形成している裏面導体
膜615および625を有し、マイクロストリップライ
ン614および624は、金属リボン604により接続
されている。
【0125】なお、マイクロストリップライン614お
よび624は、回路基板612および622の中心から
オフセットを持った構造となっている。
よび624は、回路基板612および622の中心から
オフセットを持った構造となっている。
【0126】金属キャリア623は、金属リボン604
の直下において、良電導性の材料からなる第1の突起6
26を持ち、また、第1の突起626に接触しない位置
に、第2の突起627を持つ構成を有する。
の直下において、良電導性の材料からなる第1の突起6
26を持ち、また、第1の突起626に接触しない位置
に、第2の突起627を持つ構成を有する。
【0127】また、第1の突起626は、金属キャリア
613と密着するように、先端が平坦であることが望ま
しい。
613と密着するように、先端が平坦であることが望ま
しい。
【0128】なお、第1の突起626および第2の突起
627は、あらかじめ金属キャリア623の一部として
形成しておく構成としても良く、これにより、部品点数
の増加を回避することができる。
627は、あらかじめ金属キャリア623の一部として
形成しておく構成としても良く、これにより、部品点数
の増加を回避することができる。
【0129】また、金属キャリア613および623の
間隙には電波吸収材605が挿入されている。
間隙には電波吸収材605が挿入されている。
【0130】上述の実装構造において、グランドプレー
ンを流れる高周波電流は、表皮効果によって、例えばマ
イクロストリップライン614と金属リボン604の接
続点の直下までは裏面導体膜615を流れ、そこから第
1の突起626を介して連続的に裏面導体膜625に流
れることができ、したがって高周波回路ユニット間での
不整合損が減少し、伝送特性を改善することができる。
ンを流れる高周波電流は、表皮効果によって、例えばマ
イクロストリップライン614と金属リボン604の接
続点の直下までは裏面導体膜615を流れ、そこから第
1の突起626を介して連続的に裏面導体膜625に流
れることができ、したがって高周波回路ユニット間での
不整合損が減少し、伝送特性を改善することができる。
【0131】なお、金属リボン604と第1の突起62
6で構成する伝送線路の特性インピーダンスが、マイク
ロストリップライン614および624の特性インピー
ダンスと等しい値を持つように、金属リボン604の幅
を設定すれば、さらに不整合を小さくして伝送特性を改
善できる。第1の突起626は分布定数線路のグランド
プレーンとして扱えるように、金属リボン604の3倍
以上の幅を有することが望ましい。
6で構成する伝送線路の特性インピーダンスが、マイク
ロストリップライン614および624の特性インピー
ダンスと等しい値を持つように、金属リボン604の幅
を設定すれば、さらに不整合を小さくして伝送特性を改
善できる。第1の突起626は分布定数線路のグランド
プレーンとして扱えるように、金属リボン604の3倍
以上の幅を有することが望ましい。
【0132】また、回路基板612および622は、金
属キャリア613および623上に搭載されており,実
装時、回路基板単体にストレスがかかることがないの
で、回路基板の破損の恐れが小さい。
属キャリア613および623上に搭載されており,実
装時、回路基板単体にストレスがかかることがないの
で、回路基板の破損の恐れが小さい。
【0133】また、金属キャリア613および623の
間隙には、電波吸収材605が挿入されているので、例
えば高周波回路ユニットが高利得の増幅器であった場合
に、出力の一部が入力側の金属キャリア間隙に誘起して
も、そのエネルギーは電波吸収材605により減衰させ
られるため、発振や利得低下などの特性劣化を回避する
ことができる。
間隙には、電波吸収材605が挿入されているので、例
えば高周波回路ユニットが高利得の増幅器であった場合
に、出力の一部が入力側の金属キャリア間隙に誘起して
も、そのエネルギーは電波吸収材605により減衰させ
られるため、発振や利得低下などの特性劣化を回避する
ことができる。
【0134】次に、金属キャリアを互いに押圧するため
の構造について、図14(a),(b)を用いて説明す
る。
の構造について、図14(a),(b)を用いて説明す
る。
【0135】コネクタブロック701および702は、
高周波回路ユニットと外部回路とを接続する機能を有
し、固定ビス711および721によって金属筐体60
3に固定されている。
高周波回路ユニットと外部回路とを接続する機能を有
し、固定ビス711および721によって金属筐体60
3に固定されている。
【0136】コネクタブロック701および702は、
コネクタ712および722、グランドブロック713
および723からなり、コネクタ712および722の
芯線は、金属リボン714および724によって高周波
回路ユニットに接続されている。
コネクタ712および722、グランドブロック713
および723からなり、コネクタ712および722の
芯線は、金属リボン714および724によって高周波
回路ユニットに接続されている。
【0137】なお、コネクタブロック701および70
2もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起を用
いた実装構造を適用しても良い。図14(a),(b)
では、コネクタブロック702が、金属リボン724の
直下に、良電導性の材料からなる第1の突起および第1
の突起に接触しない位置に第2の突起を有し、また、コ
ネクタブロック701と金属キャリア613,およびコ
ネクタブロック702と金属キャリア623の間隙に
は,電波吸収材605a,605bが挿入されている構
成となっている。
2もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起を用
いた実装構造を適用しても良い。図14(a),(b)
では、コネクタブロック702が、金属リボン724の
直下に、良電導性の材料からなる第1の突起および第1
の突起に接触しない位置に第2の突起を有し、また、コ
ネクタブロック701と金属キャリア613,およびコ
ネクタブロック702と金属キャリア623の間隙に
は,電波吸収材605a,605bが挿入されている構
成となっている。
【0138】ここで、たとえば金属筐体603の長さを
短くし、コネクタブロック701および702が2つの
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア613および623が互いに押圧される構成を
実現でき、高周波回路ユニットのグランドの接続を確実
にすることができる。
短くし、コネクタブロック701および702が2つの
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア613および623が互いに押圧される構成を
実現でき、高周波回路ユニットのグランドの接続を確実
にすることができる。
【0139】また、マイクロストリップラインが回路基
板に対してオフセットを持った構成である高周波回路ユ
ニットに、前掲の実施の形態5の実装構造を適用した場
合、固定ビス211あるいは221の締結力のアンバラ
ンスにより、金属キャリアが傾いて突起部での電気的接
続が不完全になりやすいが、本実施の形態の高周波回路
装置の実装構造を適用した場合、2つの高周波回路ユニ
ットは、第1の突起626および第2の突起627の2
点で接触しているので、より安定した電気的接続を得る
ことができる。
板に対してオフセットを持った構成である高周波回路ユ
ニットに、前掲の実施の形態5の実装構造を適用した場
合、固定ビス211あるいは221の締結力のアンバラ
ンスにより、金属キャリアが傾いて突起部での電気的接
続が不完全になりやすいが、本実施の形態の高周波回路
装置の実装構造を適用した場合、2つの高周波回路ユニ
ットは、第1の突起626および第2の突起627の2
点で接触しているので、より安定した電気的接続を得る
ことができる。
【0140】このような構成を取ることによって、前掲
の実施の形態2の高周波回路装置の実装構造の効果に加
え、グランドプレーンの間隙に誘起する不要信号成分を
抑圧し、特性劣化を回避することができるという効果が
得られる。
の実施の形態2の高周波回路装置の実装構造の効果に加
え、グランドプレーンの間隙に誘起する不要信号成分を
抑圧し、特性劣化を回避することができるという効果が
得られる。
【0141】(実施の形態7)以下、本発明の実施の形
態7について、図15(a),(b)及び図16
(a),(b)を用いて説明する。図15(a)は高周
波回路装置の要部の断面図であり、(b)はその平面図
である。図16(a)は高周波回路装置の全体の断面図
であり、(b)はその平面図である。
態7について、図15(a),(b)及び図16
(a),(b)を用いて説明する。図15(a)は高周
波回路装置の要部の断面図であり、(b)はその平面図
である。図16(a)は高周波回路装置の全体の断面図
であり、(b)はその平面図である。
【0142】図15(a),(b)において、2つの高
周波回路ユニットは、固定ビス811および821によ
り金属筐体803に固定され,図16に記載される構成
により、互いに押圧して配置される。
周波回路ユニットは、固定ビス811および821によ
り金属筐体803に固定され,図16に記載される構成
により、互いに押圧して配置される。
【0143】2つの高周波回路ユニットは、高周波回路
が形成されている回路基板812および822と、回路
基板812および822を搭載した金属キャリア813
および823からなる。
が形成されている回路基板812および822と、回路
基板812および822を搭載した金属キャリア813
および823からなる。
【0144】回路基板812および822は、高周波信
号が引き出されるマイクロストリップライン814およ
び824と、金属キャリア813および823に電気的
に接続され、グランドプレーンを形成している裏面導体
膜815および825を有し、マイクロストリップライ
ン814および824は、金属リボン804により接続
されている。
号が引き出されるマイクロストリップライン814およ
び824と、金属キャリア813および823に電気的
に接続され、グランドプレーンを形成している裏面導体
膜815および825を有し、マイクロストリップライ
ン814および824は、金属リボン804により接続
されている。
【0145】金属キャリア823は、金属リボン804
の直下に、たとえば金やインジウムなど軟質かつ良電導
性の材料からなる突起826を持つ構成を有する。
の直下に、たとえば金やインジウムなど軟質かつ良電導
性の材料からなる突起826を持つ構成を有する。
【0146】このとき、2つの高周波回路ユニットは互
いに押圧して配置されているので、これらの高周波回路
ユニットに挟まれた突起826は変形し、金属キャリア
間の間隙を充填する。
いに押圧して配置されているので、これらの高周波回路
ユニットに挟まれた突起826は変形し、金属キャリア
間の間隙を充填する。
【0147】また、金属キャリア813および823の
間隙には、電波吸収材805a,805bが挿入されて
いる。
間隙には、電波吸収材805a,805bが挿入されて
いる。
【0148】このような実装構造において、グランドプ
レーンを流れる高周波電流は、例えば、表皮効果によっ
て、マイクロストリップライン814と金属リボン80
4の接続点の直下までは裏面導体膜815を流れ、そこ
から突起826を介して連続的に裏面導体膜825に流
れることができ、したがって高周波回路ユニット間での
不整合損が減少し、伝送特性を改善することができる。
レーンを流れる高周波電流は、例えば、表皮効果によっ
て、マイクロストリップライン814と金属リボン80
4の接続点の直下までは裏面導体膜815を流れ、そこ
から突起826を介して連続的に裏面導体膜825に流
れることができ、したがって高周波回路ユニット間での
不整合損が減少し、伝送特性を改善することができる。
【0149】なお、金属リボン804と突起826で構
成する伝送線路の特性インピーダンスが、マイクロスト
リップライン814および824の特性インピーダンス
と等しい値を持つように、金属リボン804の幅を設定
すれば、さらに不整合を小さくし、伝送特性を改善でき
る。突起826は分布定数線路のグランドプレーンとし
て扱えるように、金属キャリア間の間隙を充填した状態
で、金属リボン804の3倍以上の幅を有することが望
ましい。
成する伝送線路の特性インピーダンスが、マイクロスト
リップライン814および824の特性インピーダンス
と等しい値を持つように、金属リボン804の幅を設定
すれば、さらに不整合を小さくし、伝送特性を改善でき
る。突起826は分布定数線路のグランドプレーンとし
て扱えるように、金属キャリア間の間隙を充填した状態
で、金属リボン804の3倍以上の幅を有することが望
ましい。
【0150】また、回路基板812および822は、金
属キャリア813および823上に搭載されており、実
装時に、回路基板単体にストレスがかかることがないの
で、回路基板の破損の恐れが小さい。
属キャリア813および823上に搭載されており、実
装時に、回路基板単体にストレスがかかることがないの
で、回路基板の破損の恐れが小さい。
【0151】また、金属キャリア813および823の
間隙には、電波吸収材805a,805bが挿入されて
いるので、例えば高周波回路ユニットが高利得の増幅器
であった場合、出力の一部が入力側の金属キャリア間隙
に誘起しても、そのエネルギーは電波吸収材805a,
805bにより減衰させられるため、発振や利得低下な
どの特性劣化を回避することができる。
間隙には、電波吸収材805a,805bが挿入されて
いるので、例えば高周波回路ユニットが高利得の増幅器
であった場合、出力の一部が入力側の金属キャリア間隙
に誘起しても、そのエネルギーは電波吸収材805a,
805bにより減衰させられるため、発振や利得低下な
どの特性劣化を回避することができる。
【0152】次に、金属キャリアどうしを互いに押圧す
る構成について、図16(a),(b)を用いて説明す
る。
る構成について、図16(a),(b)を用いて説明す
る。
【0153】ここで、コネクタブロック901および9
02は、高周波回路ユニットと外部回路とを接続する機
能を有し、固定ビス911および921によって金属筐
体803に固定されている。
02は、高周波回路ユニットと外部回路とを接続する機
能を有し、固定ビス911および921によって金属筐
体803に固定されている。
【0154】コネクタブロック901および902は、
コネクタ912および922,グランドブロック913
および923からなり、コネクタ912および922の
芯線は、金属リボン914および924によって高周波
回路ユニットに接続されている。
コネクタ912および922,グランドブロック913
および923からなり、コネクタ912および922の
芯線は、金属リボン914および924によって高周波
回路ユニットに接続されている。
【0155】なお、コネクタブロック901および90
2もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起を用
いた実装構造を適用しても良い。図16(a),(b)
では、コネクタブロック902が、金属リボン924の
直下において、軟質かつ良電導性の材料からなる突起を
有し、また、コネクタブロック901と金属キャリア8
13,およびコネクタブロック902と金属キャリア8
23の間隙には、電波吸収材805c,805d,80
5e,805fが挿入されている構成としている。
2もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起を用
いた実装構造を適用しても良い。図16(a),(b)
では、コネクタブロック902が、金属リボン924の
直下において、軟質かつ良電導性の材料からなる突起を
有し、また、コネクタブロック901と金属キャリア8
13,およびコネクタブロック902と金属キャリア8
23の間隙には、電波吸収材805c,805d,80
5e,805fが挿入されている構成としている。
【0156】ここで、たとえば金属筐体803の長さを
短くし、コネクタブロック901および902が高周波
回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属キャリ
ア813および823が互いに押圧される構成を実現で
き、その結果,高周波回路ユニット間および高周波回路
ユニット・コネクタブロック間の突起が変形し、それぞ
れの間隙を充填することで、高周波回路ユニットのグラ
ンドプレーンの接続を確実にすることができる。
短くし、コネクタブロック901および902が高周波
回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属キャリ
ア813および823が互いに押圧される構成を実現で
き、その結果,高周波回路ユニット間および高周波回路
ユニット・コネクタブロック間の突起が変形し、それぞ
れの間隙を充填することで、高周波回路ユニットのグラ
ンドプレーンの接続を確実にすることができる。
【0157】このような構成を取ることによって、前掲
の実施の形態3の高周波回路装置の実装構造の効果に加
え、グランドプレーンの間隙に誘起する不要信号成分を
抑圧し、特性劣化を回避することができるという効果を
得ることができる。
の実施の形態3の高周波回路装置の実装構造の効果に加
え、グランドプレーンの間隙に誘起する不要信号成分を
抑圧し、特性劣化を回避することができるという効果を
得ることができる。
【0158】(実施の形態8)以下、本発明の実施の形
態8について、図17(a),(b)及び図18
(a),(b)を用いて説明する。図17(a)は高周
波回路装置の要部の断面図であり、(b)はその平面図
である。図18(a)は高周波回路装置の全体の断面図
であり、(b)はその平面図である。
態8について、図17(a),(b)及び図18
(a),(b)を用いて説明する。図17(a)は高周
波回路装置の要部の断面図であり、(b)はその平面図
である。図18(a)は高周波回路装置の全体の断面図
であり、(b)はその平面図である。
【0159】図17(a),(b)において、2つの高
周波回路ユニットは、固定ビス1011および1021
により金属筐体1003に固定され、図18(a),
(b)に示す構成により、互いに押圧して配置される。
周波回路ユニットは、固定ビス1011および1021
により金属筐体1003に固定され、図18(a),
(b)に示す構成により、互いに押圧して配置される。
【0160】2つの高周波回路ユニットは、高周波回路
が形成されている回路基板1012および1022と、
回路基板1012および1022を搭載した金属キャリ
ア1013および1023からなる。
が形成されている回路基板1012および1022と、
回路基板1012および1022を搭載した金属キャリ
ア1013および1023からなる。
【0161】回路基板1012および1022は、高周
波信号が引き出されるマイクロストリップライン101
4および1024と,金属キャリア1013および10
23に電気的に接続され、グランドプレーンを形成して
いる裏面導体膜1015および1025を有し、マイク
ロストリップライン1014および1024は、金属リ
ボン1004により接続されている。
波信号が引き出されるマイクロストリップライン101
4および1024と,金属キャリア1013および10
23に電気的に接続され、グランドプレーンを形成して
いる裏面導体膜1015および1025を有し、マイク
ロストリップライン1014および1024は、金属リ
ボン1004により接続されている。
【0162】金属キャリア1023は、金属リボン10
04の直下に、たとえば金やインジウムなど軟質かつ良
電導性の材料からなる第1の突起1026を持ち、ま
た、第1の突起と接触しない位置に第2の突起1027
および第3の突起1028を持つ構成を有する。
04の直下に、たとえば金やインジウムなど軟質かつ良
電導性の材料からなる第1の突起1026を持ち、ま
た、第1の突起と接触しない位置に第2の突起1027
および第3の突起1028を持つ構成を有する。
【0163】このとき、2つの高周波回路ユニットは互
いに押圧して配置されているので、これらの高周波回路
ユニットに挟まれた第1の突起1026は変形し、金属
キャリア間の間隙を充填する。ここで、第1の突起10
26は分布定数線路のグランドプレーンとして扱えるよ
うに、金属キャリア間の間隙を充填した状態で、金属リ
ボン1004の3倍以上の幅を有することが望ましい。
いに押圧して配置されているので、これらの高周波回路
ユニットに挟まれた第1の突起1026は変形し、金属
キャリア間の間隙を充填する。ここで、第1の突起10
26は分布定数線路のグランドプレーンとして扱えるよ
うに、金属キャリア間の間隙を充填した状態で、金属リ
ボン1004の3倍以上の幅を有することが望ましい。
【0164】また、金属キャリア1013および102
3の間隙には、電波吸収材1005a,1005bが挿
入されている。
3の間隙には、電波吸収材1005a,1005bが挿
入されている。
【0165】ここで、第1の突起1026の変形の度合
いは、第2の突起1027および第3の突起1028の
寸法により制御できるので、第1の突起1026の不十
分な変形によるインダクタンス成分の増加、あるいは過
度の変形による金属リボン1004との短絡を避けるこ
とができ、前述の金属リボン1004の3倍以上の幅を
精度よく実現することができる。
いは、第2の突起1027および第3の突起1028の
寸法により制御できるので、第1の突起1026の不十
分な変形によるインダクタンス成分の増加、あるいは過
度の変形による金属リボン1004との短絡を避けるこ
とができ、前述の金属リボン1004の3倍以上の幅を
精度よく実現することができる。
【0166】このような実装構造において、グランドプ
レーンを流れる高周波電流は、例えば、表皮効果によっ
て、マイクロストリップライン1014と金属リボン1
004の接続点の直下までは裏面導体膜1015を流
れ、そこから第1の突起1026を介して連続的に裏面
導体膜1025に流れることができ、したがって高周波
回路ユニット間での不整合損が減少し、伝送特性を改善
することができる。
レーンを流れる高周波電流は、例えば、表皮効果によっ
て、マイクロストリップライン1014と金属リボン1
004の接続点の直下までは裏面導体膜1015を流
れ、そこから第1の突起1026を介して連続的に裏面
導体膜1025に流れることができ、したがって高周波
回路ユニット間での不整合損が減少し、伝送特性を改善
することができる。
【0167】なお、金属リボン1004と第1の突起1
026で構成する伝送線路の特性インピーダンスが、マ
イクロストリップライン1014および1024の特性
インピーダンスと等しい値を持つように金属リボン10
04の幅を設定すれば、さらに不整合を小さくして伝送
特性を改善できる。前述のとおり、第1の突起1026
は、金属キャリア間の間隙を充填した状態で、金属リボ
ン1004の3倍以上の幅を有することが望ましい。
026で構成する伝送線路の特性インピーダンスが、マ
イクロストリップライン1014および1024の特性
インピーダンスと等しい値を持つように金属リボン10
04の幅を設定すれば、さらに不整合を小さくして伝送
特性を改善できる。前述のとおり、第1の突起1026
は、金属キャリア間の間隙を充填した状態で、金属リボ
ン1004の3倍以上の幅を有することが望ましい。
【0168】また、回路基板1012および1022
は、金属キャリア1013および1023上に搭載され
ており、実装時において回路基板単体にストレスがかか
ることがないので、回路基板の破損の恐れが小さい。
は、金属キャリア1013および1023上に搭載され
ており、実装時において回路基板単体にストレスがかか
ることがないので、回路基板の破損の恐れが小さい。
【0169】また、金属キャリア1013および102
3の間隙には、電波吸収材1005が挿入されているの
で、例えば高周波回路ユニットが高利得の増幅器であっ
た場合、出力の一部が入力側の金属キャリア間隙に誘起
しても、そのエネルギーは電波吸収材1005a,10
05bにより減衰させられるため、発振や利得低下など
の特性劣化を回避することができる.次に、金属キャリ
アどうしが互いに押し合う構造を実現するための構成に
ついて、図18(a),(b)を用いて説明する。
3の間隙には、電波吸収材1005が挿入されているの
で、例えば高周波回路ユニットが高利得の増幅器であっ
た場合、出力の一部が入力側の金属キャリア間隙に誘起
しても、そのエネルギーは電波吸収材1005a,10
05bにより減衰させられるため、発振や利得低下など
の特性劣化を回避することができる.次に、金属キャリ
アどうしが互いに押し合う構造を実現するための構成に
ついて、図18(a),(b)を用いて説明する。
【0170】ここで、コネクタブロック1101および
1102は、2つの高周波回路ユニットと外部回路とを
接続する機能を有し、固定ビス1111および1121
によって金属筐体1003に固定されている。
1102は、2つの高周波回路ユニットと外部回路とを
接続する機能を有し、固定ビス1111および1121
によって金属筐体1003に固定されている。
【0171】コネクタブロック1101および1102
は、コネクタ1112および1122,グランドブロッ
ク1113および1123からなり、コネクタ1112
および1122の芯線は、金属リボン1114および1
124によって高周波回路ユニットに接続されている。
は、コネクタ1112および1122,グランドブロッ
ク1113および1123からなり、コネクタ1112
および1122の芯線は、金属リボン1114および1
124によって高周波回路ユニットに接続されている。
【0172】なお、コネクタブロック1101および1
102もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起
を用いた実装構造を適用しても良い。図18(a),
(b)では、コネクタブロック1102が、金属リボン
1124の直下において、軟質かつ良電導性の材料から
なる第1の突起および第1の突起と接触しない部分に第
2および第3の突起を有し、また,コネクタブロック1
101と金属キャリア1013,コネクタブロック11
02および金属キャリア1023の間隙には、電波吸収
材1005c,1005d,1005e,1005fが
挿入されている構成としている。
102もまた高周波回路ユニットであるとみなし、突起
を用いた実装構造を適用しても良い。図18(a),
(b)では、コネクタブロック1102が、金属リボン
1124の直下において、軟質かつ良電導性の材料から
なる第1の突起および第1の突起と接触しない部分に第
2および第3の突起を有し、また,コネクタブロック1
101と金属キャリア1013,コネクタブロック11
02および金属キャリア1023の間隙には、電波吸収
材1005c,1005d,1005e,1005fが
挿入されている構成としている。
【0173】ここで、たとえば金属筐体1003の長さ
を短くし、コネクタブロック1101および1102が
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア1013および1023が互いに押圧される構
成を実現できる。これにより、高周波回路ユニット間お
よび高周波回路ユニット−コネクタブロック間の第1の
突起が変形してそれぞれの間隙を充填し、これによって
高周波回路ユニットのグランドプレーンの接続を確実に
することができる。
を短くし、コネクタブロック1101および1102が
高周波回路ユニットを押圧する構成とすることで、金属
キャリア1013および1023が互いに押圧される構
成を実現できる。これにより、高周波回路ユニット間お
よび高周波回路ユニット−コネクタブロック間の第1の
突起が変形してそれぞれの間隙を充填し、これによって
高周波回路ユニットのグランドプレーンの接続を確実に
することができる。
【0174】このような構成を取ることによって,前掲
の実施の形態4の高周波回路装置の実装構造の効果に加
え、グランドプレーンの間隙に誘起する不要信号成分を
抑圧し、特性劣化を回避することができるという効果を
得ることができる。
の実施の形態4の高周波回路装置の実装構造の効果に加
え、グランドプレーンの間隙に誘起する不要信号成分を
抑圧し、特性劣化を回避することができるという効果を
得ることができる。
【0175】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、グ
ランドプレーンの不連続を解消することで、高周波回路
装置の伝送特性の劣化を回避することができる。
ランドプレーンの不連続を解消することで、高周波回路
装置の伝送特性の劣化を回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1にかかる高周波回路装置
の要部構成を示す平面図
の要部構成を示す平面図
【図2】実施の形態1にかかる高周波回路装置のA−A
線に沿う断面図
線に沿う断面図
【図3】実施の形態1にかかる高周波回路装置のB−B
線に沿う断面図
線に沿う断面図
【図4】(a) 実施の形態1にかかる高周波回路装置
の全体の断面図 (b) 実施の形態1にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
の全体の断面図 (b) 実施の形態1にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
【図5】(a) 本発明の実施の形態2にかかる高周波
回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態2にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態2にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
【図6】(a) 実施の形態2にかかる高周波回路装置
の全体の断面図 (b) 実施の形態2にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
の全体の断面図 (b) 実施の形態2にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
【図7】(a) 本発明の実施の形態3にかかる高周波
回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態3にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態3にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
【図8】(a) 実施の形態3にかかる高周波回路装置
の全体の断面図 (b) 実施の形態3にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
の全体の断面図 (b) 実施の形態3にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
【図9】(a) 本発明の実施の形態4にかかる高周波
回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態4にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態4にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
【図10】(a) 実施の形態4にかかる高周波回路装
置の全体の断面図 (b) 実施の形態4にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
置の全体の断面図 (b) 実施の形態4にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
【図11】(a) 本発明の実施の形態5にかかる高周
波回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態5にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
波回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態5にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
【図12】(a) 実施の形態5にかかる高周波回路装
置の全体の断面図 (b) 実施の形態5にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
置の全体の断面図 (b) 実施の形態5にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
【図13】(a) 本発明の実施の形態6にかかる高周
波回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態6にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
波回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態6にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
【図14】(a) 実施の形態6にかかる高周波回路装
置の全体の断面図 (b) 実施の形態6にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
置の全体の断面図 (b) 実施の形態6にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
【図15】(a) 本発明の実施の形態7にかかる高周
波回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態7にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
波回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態7にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
【図16】(a) 実施の形態7にかかる高周波回路装
置の全体の断面図 (b) 実施の形態7にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
置の全体の断面図 (b) 実施の形態7にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
【図17】(a) 本発明の実施の形態8にかかる高周
波回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態8にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
波回路装置の要部の断面図 (b) 本発明の実施の形態8にかかる高周波回路装置
の要部の平面図
【図18】(a) 実施の形態8にかかる高周波回路装
置の全体の断面図 (b) 実施の形態8にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
置の全体の断面図 (b) 実施の形態8にかかる高周波回路装置の全体の
平面図
【図19】比較例の高周波回路装置におけるグランドプ
レーンを流れる電流経路を示す図
レーンを流れる電流経路を示す図
【図20】金属キャリアどうしを全面接触させた場合の
問題点を示す図
問題点を示す図
101,102,114,124 マイクロストリップ
ライン 103 金属筐体 104 金属リボン(又は金属ワイヤ) 112,122 高周波回路基板 113,123 金属キャリア 111a,111b,121a,121b 固定ビス 115,125 裏面導体膜 126 突起 TR1,TR2 超高周波トランジスタ
ライン 103 金属筐体 104 金属リボン(又は金属ワイヤ) 112,122 高周波回路基板 113,123 金属キャリア 111a,111b,121a,121b 固定ビス 115,125 裏面導体膜 126 突起 TR1,TR2 超高周波トランジスタ
Claims (8)
- 【請求項1】 第1の金属キャリア上に搭載された第1
の高周波回路基板と、第2の金属キャリア上に搭載され
た第2の高周波回路基板とを具備し、前記第1の高周波
回路基板の信号線と前記第2の高周波回路基板の信号線
は導電体によって結線され、前記第1の金属キャリアま
たは前記第2の金属キャリアの側面には突起部が設けら
れ、前記導電体の少なくとも直下には前記突起部が位置
し、かつ前記第1の金属キャリアと前記第2の金属キャ
リアとは前記突起部により接続されていることを特徴と
する高周波回路装置。 - 【請求項2】 前記突起部の表面は、前記第1及び第2
の金属キャリアの表面に連接しており、かつ、前記第1
及び第2の金属キャリアどうしが互いに押し合い、これ
によって前記突起部の先端面が他方の金属キャリアの側
面に接触して前記第1及び第2の金属キャリアが接続さ
れることを特徴とする請求項1記載の高周波回路装置。 - 【請求項3】 前記第1又は第2の金属キャリアの少な
くとも一部は、前記第1及び第2の高周波回路基板のグ
ランドとして機能することを特徴とする請求項1又は請
求項2記載の高周波回路装置。 - 【請求項4】 前記突起部は前記第1及び第2の金属キ
ャリアよりも軟質の材料からなることを特徴とする請求
項1〜請求項3のいずれかに記載の高周波回路装置。 - 【請求項5】 前記突起部の存在によって前記第1の金
属キャリアと第2の金属キャリアとの間に生じる間隙
に、電波吸収材を設けたことを特徴とする請求項1〜請
求項4のいずれかに記載の高周波回路装置。 - 【請求項6】 第1の金属キャリア上に搭載された第1
の高周波回路基板と、第2の金属キャリア上に搭載され
た第2の高周波回路基板とを具備し、前記第1の高周波
回路基板の信号線と前記第2の高周波回路基板の信号線
は導電体によって結線され、前記第1の金属キャリアま
たは前記第2の金属キャリアの側面には複数の突起部が
設けられ、前記導電体の下には、その導電体と重なりを
有する形態で前記複数の突起部のうちの一つが位置し、
その他の突起部は前記一つの突起部とは異なる位置に設
けられており、前記第1の金属キャリアと前記第2の金
属キャリアとは互いに押し合って前記複数の突起部によ
り接続されていることを特徴とする高周波回路装置。 - 【請求項7】 前記その他の突起部は少なくとも二つ存
在し、その二つの突起部は、前記一つの突起部を挟む形
態で配置されていることを特徴とする請求項6記載の高
周波回路装置。 - 【請求項8】 前記複数の突起部の存在によって前記第
1及び第2の金属キャリア間に生じる間隙に、電波吸収
材を設けたことを特徴とする請求項6又は請求項7記載
の高周波回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10102196A JPH11284401A (ja) | 1998-03-30 | 1998-03-30 | 高周波回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10102196A JPH11284401A (ja) | 1998-03-30 | 1998-03-30 | 高周波回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11284401A true JPH11284401A (ja) | 1999-10-15 |
Family
ID=14320918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10102196A Pending JPH11284401A (ja) | 1998-03-30 | 1998-03-30 | 高周波回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11284401A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017195510A (ja) * | 2016-04-20 | 2017-10-26 | 三菱電機株式会社 | 集積回路 |
-
1998
- 1998-03-30 JP JP10102196A patent/JPH11284401A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017195510A (ja) * | 2016-04-20 | 2017-10-26 | 三菱電機株式会社 | 集積回路 |
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