JPH11281493A - 光サンプリング波形観測装置および方法 - Google Patents
光サンプリング波形観測装置および方法Info
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- JPH11281493A JPH11281493A JP7984298A JP7984298A JPH11281493A JP H11281493 A JPH11281493 A JP H11281493A JP 7984298 A JP7984298 A JP 7984298A JP 7984298 A JP7984298 A JP 7984298A JP H11281493 A JPH11281493 A JP H11281493A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 超短時間領域の光波形を観測する光サンプリ
ング波形観測装置および方法において、効率よく波長変
換光だけを光電変換できるようにすること。 【解決手段】 非線形光学結晶２の複屈折によるウォー
クオフを利用して、被測定光信号ａおよびサンプリング
光パルスｂを、非線形光学結晶２内での伝搬がスネルの
法則にのみ従う直線偏光、あるいは、前記偏光状態と直
交する直線偏光のいずれかにし、非線形光学結晶２に入
射する。これによって、サンプリング光パルスｂと波長
変換光（ＳＦ光ｃ）とは空間的に分離される。その後、
サンプリング光パルスｂを遮断し、かつ、受光器４とし
て、被測定光信号ａの波長に対する感度が低いものを使
用することによって、ＳＦ光ｃだけを受光器４に受光さ
せることができる。
ング波形観測装置および方法において、効率よく波長変
換光だけを光電変換できるようにすること。 【解決手段】 非線形光学結晶２の複屈折によるウォー
クオフを利用して、被測定光信号ａおよびサンプリング
光パルスｂを、非線形光学結晶２内での伝搬がスネルの
法則にのみ従う直線偏光、あるいは、前記偏光状態と直
交する直線偏光のいずれかにし、非線形光学結晶２に入
射する。これによって、サンプリング光パルスｂと波長
変換光（ＳＦ光ｃ）とは空間的に分離される。その後、
サンプリング光パルスｂを遮断し、かつ、受光器４とし
て、被測定光信号ａの波長に対する感度が低いものを使
用することによって、ＳＦ光ｃだけを受光器４に受光さ
せることができる。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光電変換素子を用
いた手法では観測できない超短時間領域の光波形を観測
する光サンプリング波形観測装置および方法に関するも
のである。特に、本発明は、所定の被測定光信号とサン
プリング光パルスとの相互相関により発生した波長変換
光を上記被測定光信号および上記サンプリング光パルス
と空間的に分離することによって、波長変換光だけを光
電変換できるようにした光サンプリング波形観測装置お
よび方法に関するものである。
いた手法では観測できない超短時間領域の光波形を観測
する光サンプリング波形観測装置および方法に関するも
のである。特に、本発明は、所定の被測定光信号とサン
プリング光パルスとの相互相関により発生した波長変換
光を上記被測定光信号および上記サンプリング光パルス
と空間的に分離することによって、波長変換光だけを光
電変換できるようにした光サンプリング波形観測装置お
よび方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の光サンプリング波形観測装置の構
成例を図７に示す。従来より、光サンプリング波形観測
装置では、非線形光学結晶２の２次の非線形光学効果で
ある和周波光発生（Sum-Frequency Generation）（以
下、「ＳＦＧ」という）、あるいは、差周波光発生（Di
fference-Frequency Generation ）（以下、「ＤＦＧ」
という）が利用されている。
成例を図７に示す。従来より、光サンプリング波形観測
装置では、非線形光学結晶２の２次の非線形光学効果で
ある和周波光発生（Sum-Frequency Generation）（以
下、「ＳＦＧ」という）、あるいは、差周波光発生（Di
fference-Frequency Generation ）（以下、「ＤＦＧ」
という）が利用されている。
【０００３】この場合、被測定光信号ａ（光角周波数ω
1 ）と、これよりパルス幅の狭いサンプリング光パルス
ｂ（光角周波数ω2 ）とが、非線形光学結晶２内で相互
相関を行うことによって、ＳＦＧでは、光角周波数が
（ω1 ＋ω2 ）となる和周波光（以下、「ＳＦ光」とい
う）ｃが取り出され（特公平06−063869号参照）、ＤＦ
Ｇでは、光角周波数が（ω2 −ω1 ）となる差周波光
（以下、「ＤＦ光」という）ｄが取り出される（特願平
08−291783号参照）。
1 ）と、これよりパルス幅の狭いサンプリング光パルス
ｂ（光角周波数ω2 ）とが、非線形光学結晶２内で相互
相関を行うことによって、ＳＦＧでは、光角周波数が
（ω1 ＋ω2 ）となる和周波光（以下、「ＳＦ光」とい
う）ｃが取り出され（特公平06−063869号参照）、ＤＦ
Ｇでは、光角周波数が（ω2 −ω1 ）となる差周波光
（以下、「ＤＦ光」という）ｄが取り出される（特願平
08−291783号参照）。
【０００４】そして、受光器４がこのＳＦ光ｃあるいは
ＤＦ光ｄを光電変換し、電気信号処理器５および表示器
６が、この電気信号に基づいて、被測定光信号ａの波形
を表示する。このとき、光フィルタ８は、非線形光学結
晶２で発生したＳＦ光ｃあるいはＤＦ光ｄを、同じく非
線形光学結晶２より出射する被測定光信号ａおよびサン
プリング光パルスｂから分離する。これによって、受光
器４は、ＳＦ光ｃあるいはＤＦ光ｄだけを受光できる。
ＤＦ光ｄを光電変換し、電気信号処理器５および表示器
６が、この電気信号に基づいて、被測定光信号ａの波形
を表示する。このとき、光フィルタ８は、非線形光学結
晶２で発生したＳＦ光ｃあるいはＤＦ光ｄを、同じく非
線形光学結晶２より出射する被測定光信号ａおよびサン
プリング光パルスｂから分離する。これによって、受光
器４は、ＳＦ光ｃあるいはＤＦ光ｄだけを受光できる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ＳＦＧを用いた光サン
プリング波形観測装置において、例えば、被測定光信号
の波長を1550nm、サンプリング光パルスの波長を1570nm
にすると、ＳＦ光の波長は780 nmとなる。この場合、被
測定光信号およびサンプリング光パルスの波長とＳＦ光
の波長とが離れているため、理想的な光サンプリング波
形観測装置においては、ＳＦ光を受光するための受光器
として、被測定光信号およびサンプリング光パルスの波
長において感度がないものを使用することによって、Ｓ
Ｆ光だけが光電変換される。よって、ＳＦ光だけを受光
できる。
プリング波形観測装置において、例えば、被測定光信号
の波長を1550nm、サンプリング光パルスの波長を1570nm
にすると、ＳＦ光の波長は780 nmとなる。この場合、被
測定光信号およびサンプリング光パルスの波長とＳＦ光
の波長とが離れているため、理想的な光サンプリング波
形観測装置においては、ＳＦ光を受光するための受光器
として、被測定光信号およびサンプリング光パルスの波
長において感度がないものを使用することによって、Ｓ
Ｆ光だけが光電変換される。よって、ＳＦ光だけを受光
できる。
【０００６】しかし、実際の受光器４は、微小ながら被
測定光信号およびサンプリング光パルスの波長における
感度を有するので、被測定光信号およびサンプリング光
パルスが光電変換されてしまう。特に、サンプリング光
パルスは（一般的に）ハイパワーなので、受光強度が大
きく、ノイズの原因となる。よって、実際の光サンプリ
ング波形観測装置においては、ＳＦ光のみを透過させる
ために、光フィルタ８が必要不可欠となる。しかし、こ
の光フィルタ８の挿入損により、受光器４におけるＳＦ
光の受光強度が低下し、そのことが光サンプリング波形
観測装置のＳＮ比に影響を与えていた。
測定光信号およびサンプリング光パルスの波長における
感度を有するので、被測定光信号およびサンプリング光
パルスが光電変換されてしまう。特に、サンプリング光
パルスは（一般的に）ハイパワーなので、受光強度が大
きく、ノイズの原因となる。よって、実際の光サンプリ
ング波形観測装置においては、ＳＦ光のみを透過させる
ために、光フィルタ８が必要不可欠となる。しかし、こ
の光フィルタ８の挿入損により、受光器４におけるＳＦ
光の受光強度が低下し、そのことが光サンプリング波形
観測装置のＳＮ比に影響を与えていた。
【０００７】また、ＤＦＧを用いた光サンプリング波形
観測装置において、例えば、被測定光信号の波長を1550
nm、サンプリング光パルスの波長を780nm にすると、Ｄ
Ｆ光の波長は1570nmとなる。この場合、被測定光信号の
波長とＤＦ光の波長とが非常に近いので、光フィルタ８
として、透過波長帯域が非常に狭く、帯域外の透過阻止
能力が高いものが必要となり、ＤＦ光のみを取り出すこ
とは困難である。また、サンプリング光パルスの波長を
775nm にすると、ＤＦ光の波長は1550nmとなる。この場
合、被測定光信号の波長とＤＦ光の波長とが同一である
ので、被測定光信号とＤＦ光とを光学的に分離し、ＤＦ
光のみを取り出すことは困難である。
観測装置において、例えば、被測定光信号の波長を1550
nm、サンプリング光パルスの波長を780nm にすると、Ｄ
Ｆ光の波長は1570nmとなる。この場合、被測定光信号の
波長とＤＦ光の波長とが非常に近いので、光フィルタ８
として、透過波長帯域が非常に狭く、帯域外の透過阻止
能力が高いものが必要となり、ＤＦ光のみを取り出すこ
とは困難である。また、サンプリング光パルスの波長を
775nm にすると、ＤＦ光の波長は1550nmとなる。この場
合、被測定光信号の波長とＤＦ光の波長とが同一である
ので、被測定光信号とＤＦ光とを光学的に分離し、ＤＦ
光のみを取り出すことは困難である。
【０００８】本発明の目的は、前記の問題点を解決する
ために、波長変換光（ＳＦ光あるいはＤＦ光）と被測定
光信号とサンプリング光パルスとを空間的に分離するこ
とによって、該波長変換光（ＳＦ光あるいはＤＦ光）だ
けを受光器で受光できるようにした光サンプリング波形
観測装置および方法を提供することである。
ために、波長変換光（ＳＦ光あるいはＤＦ光）と被測定
光信号とサンプリング光パルスとを空間的に分離するこ
とによって、該波長変換光（ＳＦ光あるいはＤＦ光）だ
けを受光器で受光できるようにした光サンプリング波形
観測装置および方法を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１および請求項８
記載の発明は、被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、前記非線形光学結晶において２次の非線形光
学効果により発生した波長変換光を電気信号に変換し、
前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測装置または方法において、前記被
測定光信号の偏光状態は、前記非線形光学結晶内での伝
搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、前記被測
定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パルスの偏光
状態とは直交しており、前記被測定光信号と前記サンプ
リング光パルスとは、前記非線形光学結晶の入射面に対
して、同じ位置に同一方向で入射することを特徴とす
る。請求項２および請求項９記載の発明は、被測定光信
号と、前記被測定光信号と異なる波長のサンプリング光
パルスとを、非線形光学結晶に入射し、前記非線形光学
結晶において２次の非線形光学効果により発生した波長
変換光を電気信号に変換し、前記電気信号を処理して前
記被測定光信号を観測する光サンプリング波形観測装置
または方法において、前記被測定光信号の偏光状態は、
前記非線形光学結晶内での伝搬がスネルの法則にのみ従
う直線偏光であり、前記被測定光信号の偏光状態と前記
サンプリング光パルスの偏光状態とは直交しており、前
記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、それ
ら２つの光信号が前記非線形光学結晶内で互いに交差す
るように入射することを特徴とする。請求項３および請
求項１０記載の発明は、被測定光信号と、前記被測定光
信号と異なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形
光学結晶に入射し、前記非線形光学結晶において２次の
非線形光学効果により発生した波長変換光を電気信号に
変換し、前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観
測する光サンプリング波形観測装置または方法におい
て、前記被測定光信号の偏光状態は、前記非線形光学結
晶内での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であ
り、前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光
パルスの偏光状態とは直交しており、前記被測定光信号
と前記サンプリング光パルスとは、それら２つの光信号
が前記非線形光学結晶内で同一直線上を伝搬するように
入射することを特徴とする。請求項４および請求項１１
記載の発明は、被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、前記非線形光学結晶において２次の非線形光
学効果により発生した波長変換光を電気信号に変換し、
前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測装置または方法において、前記被
測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パルスの偏
光状態とは、共に、前記非線形光学結晶内での伝搬がス
ネルの法則にのみ従う直線偏光であり、前記被測定光信
号と前記サンプリング光パルスとは、前記非線形光学結
晶の入射面に対して、同じ位置に同一方向で入射するこ
とを特徴とする。請求項５および請求項１２記載の発明
は、被測定光信号と、前記被測定光信号と異なる波長の
サンプリング光パルスとを、非線形光学結晶に入射し、
前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、前記電気信
号を処理して前記被測定光信号を観測する光サンプリン
グ波形観測装置または方法において、前記サンプリング
光パルスの偏光状態は、前記非線形光学結晶内での伝搬
がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、前記被測定
光信号の偏光状態と前記サンプリング光パルスの偏光状
態とは直交しており、前記被測定光信号と前記サンプリ
ング光パルスとは、前記非線形光学結晶の入射面に対し
て、同じ位置に同一方向で入射することを特徴とする。
請求項６および請求項１３記載の発明は、被測定光信号
と、前記被測定光信号と異なる波長のサンプリング光パ
ルスとを、非線形光学結晶に入射し、前記非線形光学結
晶において２次の非線形光学効果により発生した波長変
換光を電気信号に変換し、前記電気信号を処理して前記
被測定光信号を観測する光サンプリング波形観測装置ま
たは方法において、前記サンプリング光パルスの偏光状
態は、前記非線形光学結晶内での伝搬がスネルの法則に
のみ従う直線偏光であり、前記被測定光信号の偏光状態
と前記サンプリング光パルスの偏光状態とは直交してお
り、前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスと
は、それら２つの光信号が前記非線形光学結晶内で同一
直線上を伝搬するように入射することを特徴とする。請
求項７および請求項１４記載の発明は、請求項１から請
求項６または請求項８から請求項１３のいずれかに記載
の光サンプリング波形観測装置または方法において、前
記非線形光学結晶から出射した被測定光信号あるいはサ
ンプリング光パルスを遮断し、前記被測定光信号あるい
は前記サンプリング光パルスと空間的に分離された前記
波長変換光のみを検出して電気信号に変換することを特
徴とする。
記載の発明は、被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、前記非線形光学結晶において２次の非線形光
学効果により発生した波長変換光を電気信号に変換し、
前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測装置または方法において、前記被
測定光信号の偏光状態は、前記非線形光学結晶内での伝
搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、前記被測
定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パルスの偏光
状態とは直交しており、前記被測定光信号と前記サンプ
リング光パルスとは、前記非線形光学結晶の入射面に対
して、同じ位置に同一方向で入射することを特徴とす
る。請求項２および請求項９記載の発明は、被測定光信
号と、前記被測定光信号と異なる波長のサンプリング光
パルスとを、非線形光学結晶に入射し、前記非線形光学
結晶において２次の非線形光学効果により発生した波長
変換光を電気信号に変換し、前記電気信号を処理して前
記被測定光信号を観測する光サンプリング波形観測装置
または方法において、前記被測定光信号の偏光状態は、
前記非線形光学結晶内での伝搬がスネルの法則にのみ従
う直線偏光であり、前記被測定光信号の偏光状態と前記
サンプリング光パルスの偏光状態とは直交しており、前
記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、それ
ら２つの光信号が前記非線形光学結晶内で互いに交差す
るように入射することを特徴とする。請求項３および請
求項１０記載の発明は、被測定光信号と、前記被測定光
信号と異なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形
光学結晶に入射し、前記非線形光学結晶において２次の
非線形光学効果により発生した波長変換光を電気信号に
変換し、前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観
測する光サンプリング波形観測装置または方法におい
て、前記被測定光信号の偏光状態は、前記非線形光学結
晶内での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であ
り、前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光
パルスの偏光状態とは直交しており、前記被測定光信号
と前記サンプリング光パルスとは、それら２つの光信号
が前記非線形光学結晶内で同一直線上を伝搬するように
入射することを特徴とする。請求項４および請求項１１
記載の発明は、被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、前記非線形光学結晶において２次の非線形光
学効果により発生した波長変換光を電気信号に変換し、
前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測装置または方法において、前記被
測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パルスの偏
光状態とは、共に、前記非線形光学結晶内での伝搬がス
ネルの法則にのみ従う直線偏光であり、前記被測定光信
号と前記サンプリング光パルスとは、前記非線形光学結
晶の入射面に対して、同じ位置に同一方向で入射するこ
とを特徴とする。請求項５および請求項１２記載の発明
は、被測定光信号と、前記被測定光信号と異なる波長の
サンプリング光パルスとを、非線形光学結晶に入射し、
前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、前記電気信
号を処理して前記被測定光信号を観測する光サンプリン
グ波形観測装置または方法において、前記サンプリング
光パルスの偏光状態は、前記非線形光学結晶内での伝搬
がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、前記被測定
光信号の偏光状態と前記サンプリング光パルスの偏光状
態とは直交しており、前記被測定光信号と前記サンプリ
ング光パルスとは、前記非線形光学結晶の入射面に対し
て、同じ位置に同一方向で入射することを特徴とする。
請求項６および請求項１３記載の発明は、被測定光信号
と、前記被測定光信号と異なる波長のサンプリング光パ
ルスとを、非線形光学結晶に入射し、前記非線形光学結
晶において２次の非線形光学効果により発生した波長変
換光を電気信号に変換し、前記電気信号を処理して前記
被測定光信号を観測する光サンプリング波形観測装置ま
たは方法において、前記サンプリング光パルスの偏光状
態は、前記非線形光学結晶内での伝搬がスネルの法則に
のみ従う直線偏光であり、前記被測定光信号の偏光状態
と前記サンプリング光パルスの偏光状態とは直交してお
り、前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスと
は、それら２つの光信号が前記非線形光学結晶内で同一
直線上を伝搬するように入射することを特徴とする。請
求項７および請求項１４記載の発明は、請求項１から請
求項６または請求項８から請求項１３のいずれかに記載
の光サンプリング波形観測装置または方法において、前
記非線形光学結晶から出射した被測定光信号あるいはサ
ンプリング光パルスを遮断し、前記被測定光信号あるい
は前記サンプリング光パルスと空間的に分離された前記
波長変換光のみを検出して電気信号に変換することを特
徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、図面を用いて説明する。 §１．第１実施形態 この発明の第１実施形態による光サンプリング波形観測
装置の構成例を図１に示す。本実施形態は、ＳＦＧを用
いた例である。本実施形態では、被測定光信号ａの偏光
状態を非線形光学結晶２内での伝搬がスネルの法則にの
み従う直線偏光にし、サンプリング光パルスｂの偏光状
態を被測定光信号ａと直交する直線偏光にし、非線形光
学結晶２の光学軸をタイプ２位相整合角にする。
て、図面を用いて説明する。 §１．第１実施形態 この発明の第１実施形態による光サンプリング波形観測
装置の構成例を図１に示す。本実施形態は、ＳＦＧを用
いた例である。本実施形態では、被測定光信号ａの偏光
状態を非線形光学結晶２内での伝搬がスネルの法則にの
み従う直線偏光にし、サンプリング光パルスｂの偏光状
態を被測定光信号ａと直交する直線偏光にし、非線形光
学結晶２の光学軸をタイプ２位相整合角にする。
【００１１】また、本実施形態では、被測定光信号ａと
サンプリング光パルスｂとを光合波器７で合波して、非
線形光学結晶２の入射面に対して、同じ位置に垂直に入
射する。ここで、サンプリング光パルスｂはウォークオ
フがあるので、被測定光信号ａとサンプリング光パルス
ｂとは非線形光学結晶２の出射面における出射位置が異
なり、空間的に分離される。また、ＳＦ光ｃの偏光状態
が被測定光信号ａと同じ偏光状態となる場合、ＳＦ光ｃ
は被測定光信号ａと同じ方向に出射されるので、サンプ
リング光パルスｂとＳＦ光ｃとを空間的に分離すること
ができる。
サンプリング光パルスｂとを光合波器７で合波して、非
線形光学結晶２の入射面に対して、同じ位置に垂直に入
射する。ここで、サンプリング光パルスｂはウォークオ
フがあるので、被測定光信号ａとサンプリング光パルス
ｂとは非線形光学結晶２の出射面における出射位置が異
なり、空間的に分離される。また、ＳＦ光ｃの偏光状態
が被測定光信号ａと同じ偏光状態となる場合、ＳＦ光ｃ
は被測定光信号ａと同じ方向に出射されるので、サンプ
リング光パルスｂとＳＦ光ｃとを空間的に分離すること
ができる。
【００１２】よって、受光器４として、被測定光信号ａ
の波長における感度が極めて低い受光器を使用すれば、
サンプリング光パルスｂは空間的に分離されているの
で、サンプリング光パルスｂを光遮断器３により遮断す
ることによって、（図７に示す）光フィルタ８なしでＳ
Ｆ光ｃのみを受光することができる。その後、電気信号
処理器５および表示器６は、受光器４によって光電変換
された信号に基づいて、被測定光信号ａの波形を表示す
る。
の波長における感度が極めて低い受光器を使用すれば、
サンプリング光パルスｂは空間的に分離されているの
で、サンプリング光パルスｂを光遮断器３により遮断す
ることによって、（図７に示す）光フィルタ８なしでＳ
Ｆ光ｃのみを受光することができる。その後、電気信号
処理器５および表示器６は、受光器４によって光電変換
された信号に基づいて、被測定光信号ａの波形を表示す
る。
【００１３】§２．第２実施形態 この発明の第２実施形態による光サンプリング波形観測
装置の構成例を図２に示す。本実施形態において、被測
定光信号ａおよびサンプリング光パルスｂの偏光状態
は、第１実施形態と同じものである。また、本実施形態
では、サンプリング光パルスｂのウォークオフを考慮し
て、サンプリング光パルスｂの入射角および入射位置を
ずらすことにより、非線形光学結晶２内で被測定光信号
ａとサンプリング光パルスｂとを交差させる。
装置の構成例を図２に示す。本実施形態において、被測
定光信号ａおよびサンプリング光パルスｂの偏光状態
は、第１実施形態と同じものである。また、本実施形態
では、サンプリング光パルスｂのウォークオフを考慮し
て、サンプリング光パルスｂの入射角および入射位置を
ずらすことにより、非線形光学結晶２内で被測定光信号
ａとサンプリング光パルスｂとを交差させる。
【００１４】これによって、サンプリング光パルスｂと
被測定光信号ａとＳＦ光ｃとをそれぞれ異なる方向に出
射させることができる。３つの光が完全に分離されてい
るので、被測定光信号ａおよびサンプリング光パルスｂ
を光遮断器３により遮断することによって、ＳＦ光ｃの
みを受光することができる。よって、（図７に示す）光
フィルタ８を完全に除去することができる。
被測定光信号ａとＳＦ光ｃとをそれぞれ異なる方向に出
射させることができる。３つの光が完全に分離されてい
るので、被測定光信号ａおよびサンプリング光パルスｂ
を光遮断器３により遮断することによって、ＳＦ光ｃの
みを受光することができる。よって、（図７に示す）光
フィルタ８を完全に除去することができる。
【００１５】§３．第３実施形態 この発明の第３実施形態による光サンプリング波形観測
装置の構成例を図３に示す。本実施形態において、被測
定光信号ａおよびサンプリング光パルスｂの偏光状態
は、第１実施形態と同じものである。また、本実施形態
では、サンプリング光パルスｂのウォークオフを考慮し
て、非線形光学結晶２内で被測定光信号ａとサンプリン
グ光パルスｂとが同一直線上を伝搬するように、サンプ
リング光パルスｂに角度を持たして入射する。これによ
って、相互相関の作用長が長くなるために、ＳＦ光ｃの
発生効率が向上する。
装置の構成例を図３に示す。本実施形態において、被測
定光信号ａおよびサンプリング光パルスｂの偏光状態
は、第１実施形態と同じものである。また、本実施形態
では、サンプリング光パルスｂのウォークオフを考慮し
て、非線形光学結晶２内で被測定光信号ａとサンプリン
グ光パルスｂとが同一直線上を伝搬するように、サンプ
リング光パルスｂに角度を持たして入射する。これによ
って、相互相関の作用長が長くなるために、ＳＦ光ｃの
発生効率が向上する。
【００１６】さらに、被測定光信号ａおよびＳＦ光ｃは
同じ方向に出射されるが、サンプリング光パルスｂは異
なる方向に出射される。よって、受光器４として、被測
定光信号ａの波長における感度が極めて低い受光器を使
用すれば、サンプリング光パルスｂは空間的に分離され
ているので、サンプリング光パルスｂを光遮断器３によ
り遮断することによって、（図７に示す）光フィルタ８
なしでＳＦ光ｃのみを受光することができる。
同じ方向に出射されるが、サンプリング光パルスｂは異
なる方向に出射される。よって、受光器４として、被測
定光信号ａの波長における感度が極めて低い受光器を使
用すれば、サンプリング光パルスｂは空間的に分離され
ているので、サンプリング光パルスｂを光遮断器３によ
り遮断することによって、（図７に示す）光フィルタ８
なしでＳＦ光ｃのみを受光することができる。
【００１７】§４．第４実施形態 この発明の第４実施形態による光サンプリング波形観測
装置の構成例を図４に示す。本実施形態では、被測定光
信号ａおよびサンプリング光パルスｂの偏光状態を非線
形光学結晶２内での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線
偏光にし、非線形光学結晶２の光学軸をタイプ１（被測
定光信号ａとサンプリング光パルスｂの偏光状態を同じ
にした状態）位相整合角にする。また、本実施形態で
は、被測定光信号ａとサンプリング光パルスｂとを非線
形光学結晶２の入射面に対して、同じ位置に垂直に入射
する。
装置の構成例を図４に示す。本実施形態では、被測定光
信号ａおよびサンプリング光パルスｂの偏光状態を非線
形光学結晶２内での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線
偏光にし、非線形光学結晶２の光学軸をタイプ１（被測
定光信号ａとサンプリング光パルスｂの偏光状態を同じ
にした状態）位相整合角にする。また、本実施形態で
は、被測定光信号ａとサンプリング光パルスｂとを非線
形光学結晶２の入射面に対して、同じ位置に垂直に入射
する。
【００１８】これによって、ＳＦ光ｃの偏光状態が被測
定光信号ａおよびサンプリング光パルスｂと直交する偏
光状態となる場合は、被測定光信号ａおよびサンプリン
グ光パルスｂとＳＦ光ｃとは、非線形光学結晶２の出射
面における出射位置が異なる。よって、被測定光信号ａ
およびサンプリング光パルスｂとＳＦ光ｃとは空間的に
分離されされているので、被測定光信号ａおよびサンプ
リング光パルスｂを光遮断器３により遮断することによ
って、（図７に示す）光フィルタ８なしでＳＦ光ｃのみ
を受光することができる。
定光信号ａおよびサンプリング光パルスｂと直交する偏
光状態となる場合は、被測定光信号ａおよびサンプリン
グ光パルスｂとＳＦ光ｃとは、非線形光学結晶２の出射
面における出射位置が異なる。よって、被測定光信号ａ
およびサンプリング光パルスｂとＳＦ光ｃとは空間的に
分離されされているので、被測定光信号ａおよびサンプ
リング光パルスｂを光遮断器３により遮断することによ
って、（図７に示す）光フィルタ８なしでＳＦ光ｃのみ
を受光することができる。
【００１９】§５．第５実施形態 この発明の第５実施形態による光サンプリング波形観測
装置の構成例を図５に示す。本実施形態は、ＤＦＧを用
いた例である。本実施形態では、サンプリング光パルス
ｂを非線形光学結晶２内での伝搬がスネルの法則にのみ
従う直線偏光にし、被測定光信号ａをサンプリング光パ
ルスｂと直交する直線偏光にし、非線形光学結晶２の光
学軸をタイプ２位相整合角にする。また、本実施形態で
は、被測定光信号ａとサンプリング光パルスｂとを非線
形光学結晶２の入射面に対して、同じ位置に垂直に入射
する。
装置の構成例を図５に示す。本実施形態は、ＤＦＧを用
いた例である。本実施形態では、サンプリング光パルス
ｂを非線形光学結晶２内での伝搬がスネルの法則にのみ
従う直線偏光にし、被測定光信号ａをサンプリング光パ
ルスｂと直交する直線偏光にし、非線形光学結晶２の光
学軸をタイプ２位相整合角にする。また、本実施形態で
は、被測定光信号ａとサンプリング光パルスｂとを非線
形光学結晶２の入射面に対して、同じ位置に垂直に入射
する。
【００２０】ここで、被測定光信号ａはウォークオフが
あるので、被測定光信号ａとサンプリング光パルスｂと
は非線形光学結晶２の出射面における出射位置が異な
り、空間的に分離される。これによって、ＤＦ光ｄがサ
ンプリング光パルスｂと同じ偏光状態となる場合、ＤＦ
光ｄはサンプリング光パルスｂと同じ方向に出射される
ので、被測定光信号ａとＤＦ光ｄとを空間的に分離する
ことができる。
あるので、被測定光信号ａとサンプリング光パルスｂと
は非線形光学結晶２の出射面における出射位置が異な
り、空間的に分離される。これによって、ＤＦ光ｄがサ
ンプリング光パルスｂと同じ偏光状態となる場合、ＤＦ
光ｄはサンプリング光パルスｂと同じ方向に出射される
ので、被測定光信号ａとＤＦ光ｄとを空間的に分離する
ことができる。
【００２１】よって、被測定光信号ａを光遮断器３によ
り遮断し、サンプリング光パルスｂを光フィルタ８によ
り除去すれば、被測定光信号ａおよびサンプリング光パ
ルスｂを受光することなく、ＤＦ光ｄを受光することが
できる。その後、電気信号処理器５および表示器６は、
受光器４によって光電変換された信号に基づいて、被測
定光信号ａの波形を表示する。
り遮断し、サンプリング光パルスｂを光フィルタ８によ
り除去すれば、被測定光信号ａおよびサンプリング光パ
ルスｂを受光することなく、ＤＦ光ｄを受光することが
できる。その後、電気信号処理器５および表示器６は、
受光器４によって光電変換された信号に基づいて、被測
定光信号ａの波形を表示する。
【００２２】§６．第６実施形態 この発明の第６実施形態による光サンプリング波形観測
装置の構成例を図６に示す。本実施形態において、被測
定光信号ａおよびサンプリング光パルスｂの偏光状態
は、第５実施形態と同じものである。また、本実施形態
では、サンプリング光パルスｂのウォークオフを考慮し
て、非線形光学結晶２内で被測定光信号ａとサンプリン
グ光パルスｂとが同一直線上を伝搬するように、サンプ
リング光パルスｂに角度を持たして入射する。これによ
って、相互相関の作用長が長くなるために、ＤＦ光ｄの
発生効率が向上する。
装置の構成例を図６に示す。本実施形態において、被測
定光信号ａおよびサンプリング光パルスｂの偏光状態
は、第５実施形態と同じものである。また、本実施形態
では、サンプリング光パルスｂのウォークオフを考慮し
て、非線形光学結晶２内で被測定光信号ａとサンプリン
グ光パルスｂとが同一直線上を伝搬するように、サンプ
リング光パルスｂに角度を持たして入射する。これによ
って、相互相関の作用長が長くなるために、ＤＦ光ｄの
発生効率が向上する。
【００２３】さらに、サンプリング光パルスｂおよびＤ
Ｆ光ｄは、同じ方向に出射されるが、被測定光信号ａは
異なる方向に出射されるので、被測定光信号ａとＤＦ光
ｄとを空間的に分離することができる。よって、被測定
光信号ａを光遮断器３により遮断し、サンプリング光パ
ルスｂを光フィルタ８により除去すれば、被測定光信号
ａおよびサンプリング光パルスｂを受光することなく、
ＤＦ光ｄのみを受光することができる。
Ｆ光ｄは、同じ方向に出射されるが、被測定光信号ａは
異なる方向に出射されるので、被測定光信号ａとＤＦ光
ｄとを空間的に分離することができる。よって、被測定
光信号ａを光遮断器３により遮断し、サンプリング光パ
ルスｂを光フィルタ８により除去すれば、被測定光信号
ａおよびサンプリング光パルスｂを受光することなく、
ＤＦ光ｄのみを受光することができる。
【００２４】§７．補足 以上、この発明の実施形態を図面を参照して詳述してき
たが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものでは
なく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等
があってもこの発明に含まれる。例えば、上述した第
１，４，５実施形態では、被測定光信号ａとサンプリン
グ光パルスｂとを非線形光学結晶２の入射面に対して垂
直に入射するとしたが、必ずしも垂直でなくとも、被測
定光信号ａとサンプリング光パルスｂとが同じ位置に同
一方向で入射すればよい。また、第１実施形態〜第５実
施形態における非線形光学結晶２としては、KTP、BBO、
LBO、LiNbO3、KNbO3などの無機結晶および有機結晶など
が用いられる。
たが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものでは
なく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等
があってもこの発明に含まれる。例えば、上述した第
１，４，５実施形態では、被測定光信号ａとサンプリン
グ光パルスｂとを非線形光学結晶２の入射面に対して垂
直に入射するとしたが、必ずしも垂直でなくとも、被測
定光信号ａとサンプリング光パルスｂとが同じ位置に同
一方向で入射すればよい。また、第１実施形態〜第５実
施形態における非線形光学結晶２としては、KTP、BBO、
LBO、LiNbO3、KNbO3などの無機結晶および有機結晶など
が用いられる。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
非線形光学結晶の複屈折によるウォークオフを利用する
ので、ＳＦＧにおいては、被測定光信号とサンプリング
光パルスとＳＦ光とを空間的に分離・遮断することによ
って、ＳＦ光を取り出すための光学部品を削除すること
ができ、さらに、光サンプリング波形観測装置のＳＮ比
を向上させることができる。また、ＤＦＧにおいては、
光学的に取り出すことが困難であるＤＦ光を被測定光信
号と空間的に分離・遮断することによって、簡単にＤＦ
光のみを取り出すことができる。
非線形光学結晶の複屈折によるウォークオフを利用する
ので、ＳＦＧにおいては、被測定光信号とサンプリング
光パルスとＳＦ光とを空間的に分離・遮断することによ
って、ＳＦ光を取り出すための光学部品を削除すること
ができ、さらに、光サンプリング波形観測装置のＳＮ比
を向上させることができる。また、ＤＦＧにおいては、
光学的に取り出すことが困難であるＤＦ光を被測定光信
号と空間的に分離・遮断することによって、簡単にＤＦ
光のみを取り出すことができる。
【図１】 この発明の第１実施形態による光サンプリン
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】 この発明の第２実施形態による光サンプリン
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
【図３】 この発明の第３実施形態による光サンプリン
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
【図４】 この発明の第４実施形態による光サンプリン
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
【図５】 この発明の第５実施形態による光サンプリン
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
【図６】 この発明の第６実施形態による光サンプリン
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
グ波形観測装置の構成例を示すブロック図である。
【図７】 従来の光サンプリング波形観測装置の構成例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
ａ……被測定光信号、 ｂ……サンプリング光パルス、
ｃ……ＳＦ光、ｄ……ＤＦ光、 １……サンプリング
光パルス光源、２……非線形光学結晶、 ３……光遮断
器、 ４……受光器、５……電気信号処理器、 ６……
表示器、 ７……光合波器、８……光フィルタ
ｃ……ＳＦ光、ｄ……ＤＦ光、 １……サンプリング
光パルス光源、２……非線形光学結晶、 ３……光遮断
器、 ４……受光器、５……電気信号処理器、 ６……
表示器、 ７……光合波器、８……光フィルタ
Claims (14)
- 【請求項１】 被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測装置において、 前記被測定光信号の偏光状態は、前記非線形光学結晶内
での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは直交しており、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、前
記非線形光学結晶の入射面に対して、同じ位置に同一方
向で入射することを特徴とする光サンプリング波形観測
装置。 - 【請求項２】 被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測装置において、 前記被測定光信号の偏光状態は、前記非線形光学結晶内
での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは直交しており、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、そ
れら２つの光信号が前記非線形光学結晶内で互いに交差
するように入射することを特徴とする光サンプリング波
形観測装置。 - 【請求項３】 被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測装置において、 前記被測定光信号の偏光状態は、前記非線形光学結晶内
での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは直交しており、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、そ
れら２つの光信号が前記非線形光学結晶内で同一直線上
を伝搬するように入射することを特徴とする光サンプリ
ング波形観測装置。 - 【請求項４】 被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測装置において、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは、共に、前記非線形光学結晶内での伝
搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、前
記非線形光学結晶の入射面に対して、同じ位置に同一方
向で入射することを特徴とする光サンプリング波形観測
装置。 - 【請求項５】 被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測装置において、 前記サンプリング光パルスの偏光状態は、前記非線形光
学結晶内での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光で
あり、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは直交しており、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、前
記非線形光学結晶の入射面に対して、同じ位置に同一方
向で入射することを特徴とする光サンプリング波形観測
装置。 - 【請求項６】 被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測装置において、 前記サンプリング光パルスの偏光状態は、前記非線形光
学結晶内での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光で
あり、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは直交しており、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、そ
れら２つの光信号が前記非線形光学結晶内で同一直線上
を伝搬するように入射することを特徴とする光サンプリ
ング波形観測装置。 - 【請求項７】 請求項１から請求項６のいずれかに記載
の光サンプリング波形観測装置において、 前記非線形光学結晶から出射した被測定光信号あるいは
サンプリング光パルスを遮断し、 前記被測定光信号あるいは前記サンプリング光パルスと
空間的に分離された前記波長変換光のみを検出して電気
信号に変換することを特徴とする光サンプリング波形観
測装置。 - 【請求項８】 被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測方法において、 前記被測定光信号の偏光状態は、前記非線形光学結晶内
での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは直交しており、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、前
記非線形光学結晶の入射面に対して、同じ位置に同一方
向で入射することを特徴とする光サンプリング波形観測
方法。 - 【請求項９】 被測定光信号と、前記被測定光信号と異
なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結晶
に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測方法において、 前記被測定光信号の偏光状態は、前記非線形光学結晶内
での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは直交しており、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、そ
れら２つの光信号が前記非線形光学結晶内で互いに交差
するように入射することを特徴とする光サンプリング波
形観測方法。 - 【請求項１０】 被測定光信号と、前記被測定光信号と
異なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結
晶に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測方法において、 前記被測定光信号の偏光状態は、前記非線形光学結晶内
での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは直交しており、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、そ
れら２つの光信号が前記非線形光学結晶内で同一直線上
を伝搬するように入射することを特徴とする光サンプリ
ング波形観測方法。 - 【請求項１１】 被測定光信号と、前記被測定光信号と
異なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結
晶に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測方法において、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは、共に、前記非線形光学結晶内での伝
搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光であり、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、前
記非線形光学結晶の入射面に対して、同じ位置に同一方
向で入射することを特徴とする光サンプリング波形観測
方法。 - 【請求項１２】 被測定光信号と、前記被測定光信号と
異なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結
晶に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測方法において、 前記サンプリング光パルスの偏光状態は、前記非線形光
学結晶内での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光で
あり、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは直交しており、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、前
記非線形光学結晶の入射面に対して、同じ位置に同一方
向で入射することを特徴とする光サンプリング波形観測
方法。 - 【請求項１３】 被測定光信号と、前記被測定光信号と
異なる波長のサンプリング光パルスとを、非線形光学結
晶に入射し、 前記非線形光学結晶において２次の非線形光学効果によ
り発生した波長変換光を電気信号に変換し、 前記電気信号を処理して前記被測定光信号を観測する光
サンプリング波形観測方法において、 前記サンプリング光パルスの偏光状態は、前記非線形光
学結晶内での伝搬がスネルの法則にのみ従う直線偏光で
あり、 前記被測定光信号の偏光状態と前記サンプリング光パル
スの偏光状態とは直交しており、 前記被測定光信号と前記サンプリング光パルスとは、そ
れら２つの光信号が前記非線形光学結晶内で同一直線上
を伝搬するように入射することを特徴とする光サンプリ
ング波形観測方法。 - 【請求項１４】 請求項８から請求項１３のいずれかに
記載の光サンプリング波形観測方法において、 前記非線形光学結晶から出射した被測定光信号あるいは
サンプリング光パルスを遮断し、 前記被測定光信号あるいは前記サンプリング光パルスと
空間的に分離された前記波長変換光のみを検出して電気
信号に変換することを特徴とする光サンプリング波形観
測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7984298A JPH11281493A (ja) | 1998-03-26 | 1998-03-26 | 光サンプリング波形観測装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7984298A JPH11281493A (ja) | 1998-03-26 | 1998-03-26 | 光サンプリング波形観測装置および方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11281493A true JPH11281493A (ja) | 1999-10-15 |
Family
ID=13701466
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7984298A Pending JPH11281493A (ja) | 1998-03-26 | 1998-03-26 | 光サンプリング波形観測装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11281493A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002099007A (ja) * | 2000-09-21 | 2002-04-05 | Sony Corp | レーザ光発生装置およびそれを用いた光学装置 |
-
1998
- 1998-03-26 JP JP7984298A patent/JPH11281493A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002099007A (ja) * | 2000-09-21 | 2002-04-05 | Sony Corp | レーザ光発生装置およびそれを用いた光学装置 |
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