JPH11277424A - ウェーハ研磨装置 - Google Patents

ウェーハ研磨装置

Info

Publication number
JPH11277424A
JPH11277424A JP8411698A JP8411698A JPH11277424A JP H11277424 A JPH11277424 A JP H11277424A JP 8411698 A JP8411698 A JP 8411698A JP 8411698 A JP8411698 A JP 8411698A JP H11277424 A JPH11277424 A JP H11277424A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
polishing
support member
chuck
wafers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8411698A
Other languages
English (en)
Inventor
Takao Inaba
高男 稲葉
Minoru Numamoto
実 沼本
Kenji Sakai
謙児 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority to JP8411698A priority Critical patent/JPH11277424A/ja
Publication of JPH11277424A publication Critical patent/JPH11277424A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】チャックが取り付けられた支持部材の反りを防
止して正規の加工圧をウェーハにかけることにより、ウ
ェーハの研磨精度を向上させることができるウェーハ研
磨装置を提供する。 【解決手段】本発明は、チャック50が取り付けられた
支持部材66を軸72周りに回転自在に支持すると共
に、軸72を中心に配設された環状のガイドレール11
0にガイドブロック112を介して係合させて摺動自在
に支持する。ガイドレール110に対してガイドブロッ
ク112は、上下移動が規制された状態で係合されてい
るので、支持部材66がウェーハ加工圧の反力で反ろう
としても反ることはない。これにより、本発明は、加工
圧の低下を防止できるのでウェーハの研磨精度が向上す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はウェーハ研磨装置に
係り、特に半導体ウェーハを化学的機械研磨法(CM
P:Chemical Mechanical Polishing )によって研磨す
るウェーハ研磨装置に関する。
【0002】
【従来の技術】特開平9−168968号公報に開示さ
れた半導体ウェーハ研磨装置は、ウェーハを保持するチ
ャックを支持部材を介して回転軸に片持ち支持し、この
回転軸を水平方向に回転させて前記チャックを、研磨定
盤と研磨後のウェーハを排出する排出ステージとの間で
回転移動するように構成されている。
【0003】前記研磨装置によれば、まず、チャックを
研磨定盤に位置させて、チャックでウェーハを研磨定盤
に押し付けて研磨する。そして、研磨終了したウェーハ
をチャックで保持した後、チャックを排出ステージに回
転移動させて前記ウェーハを排出する。これにより、1
枚のウェーハの処理が終了する。前記排出ステージに排
出されたウェーハは、排出ステージから次工程の洗浄装
置に搬送され、ここで洗浄される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のウェーハ研磨装置は、チャックを回転軸に片持ち支
持した構造なので、ウェーハの研磨時にウェーハからチ
ャックにかかる加工圧の反力によって支持部材が上方に
反る場合がある。このように、支持部材が反ると加工圧
が低下するので、ウェーハの研磨精度が低下するという
欠点がある。
【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、チャックを支持する支持部材の反りを防止し
て正規の加工圧をウェーハにかけることにより、ウェー
ハの研磨精度を向上させることができるウェーハ研磨装
置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決する為の手段】本発明は、前記目的を達成
するために、ウェーハを保持して研磨定盤に押し付ける
チャックと、該チャックを支持する支持部材と、該支持
部材を水平面内で移動させる駆動部とを備えたウェーハ
研磨装置において、前記支持部材の水平面内での移動軌
跡に沿ってガイド部材を配設し、該支持部材を前記ガイ
ド部材で案内することを特徴としている。
【0007】本発明によれば、チャックが取り付けられ
た支持部材の水平面内での移動をガイド部材に案内させ
ることにより、支持部材の反りを防止したので、正規の
加工圧をウェーハにかけることができる。よって、本発
明は、ウェーハの研磨精度が向上する。
【0008】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るウェーハ研磨装置の好ましい実施の形態について詳説
する。図1は、本発明の実施の形態のウェーハ研磨装置
の平面図である。同図に示すウェーハ研磨装置10の装
置本体12には、ウェーハ搬送部14、ウェーハ研磨部
16、及びウェーハ洗浄乾燥部18が設置されている。
【0009】前記ウェーハ搬送部14には、2台のカセ
ット20A、20Bが着脱自在にセットされ、これらの
カセット20A、20Bには図1上二点鎖線で示す加工
前のウェーハ22が多数枚収納されている。このウェー
ハ22は、カセット20A、20Bの近傍に設置された
搬送用ロボット24によって1枚ずつ取り出されて、ウ
ェーハの厚み測定部26A、26Bに交互に搬送され
る。そして、厚み測定部26A、26Bで厚み測定終了
したウェーハ22は、前記ロボット24によってアライ
ナー部28に搬送され、ここで中心出しされる。そし
て、中心出しされたウェーハ22は、ロボット25に吸
着保持されて前記ウェーハ研磨部16の受取ステージ5
8に順次搬送される。
【0010】前記ロボット24はテーブル30上に設置
されている。前記テーブル30は、一対のレール32、
32上に移動自在に設けられると共に、図示しない駆動
部からの駆動力によってレール32、32に沿って往復
移動される。これにより、前記ロボット28は、レール
32、32に沿って図1中上方向に移動した時には、カ
セット20Aに収納されたウェーハ22を取り出すこと
ができ、図1中下方向に移動した時にはカセット20B
に収納されたウェーハ22を取り出すことができる。ま
た、ロボット24は、レール32、32に沿って移動す
ることにより、前記取り出したウェーハ22を厚み測定
部26A、26Bのうち空いている厚み測定部にウェー
ハ22を搬送することができる。
【0011】前記ロボット24は、汎用のロボットであ
り、その構成はウェーハ22を吸着保持する馬蹄形のア
ーム34、及び3本のリンク36、38、40等から成
っている。前記アーム34は、リンク36に回転自在に
支持され、図示しないモータからの駆動力で回転するこ
とができる。前記リンク36は、リンク38に軸42を
介して回動自在に連結され、図示しないモータからの駆
動力で軸42を中心に回転することができる。また、リ
ンク38は、軸44を介してリンク40に回動自在に連
結され、図示しないモータからの駆動力で軸44を中心
に回転することができる。さらに、リンク40は、軸4
6を介してモータ48の図示しない出力軸に連結されて
いるので、モータ48を駆動することにより軸46を中
心に回転することができる。したがって、前記ロボット
24によれば、アーム34及び3本のリンク36、3
8、40の各動作を各々のモータで制御することによ
り、前記カセット20A、20Bに収納されたウェーハ
22を取り出して厚み測定部26A、26Bに搬送する
ことができる。なお、前記ロボット25は、ロボット2
4と同一構成なので、ここではその説明を省略する。
【0012】前記カセット20A、20Bは、図示しな
いエレベータ装置の昇降台上に載置されている。このエ
レベータ装置を駆動してカセット20A、20Bの高さ
位置を調整することにより、ロボット24を昇降させる
ことなく、カセット20A、20Bの所定の棚に収納さ
れたウェーハ22をロボット24で取り出すことができ
る。なお、ロボット24側に昇降機構をもたせれば、前
記エレベータ装置が不要になる。
【0013】前記ウェーハ研磨部16は、4台のチャッ
ク50、52、54、56と、これらのチャック50〜
56が位置する受取ステージ58、研磨ステージ60、
62、及び排出ステージ64から構成される。前記チャ
ック50、52は支持部材66に所定の間隔をもって並
設され、また、前記チャック54、56は支持部材68
に所定の間隔をもって並設されている。このチャック5
4、56の支持構造は、前記チャック50、52の支持
構造と同一なので、ここでは、チャック50、52の支
持構造を説明し、チャック54、56の支持構造につい
てはその説明を省略する。
【0014】前記支持部材66は扇形状に形成され、そ
の基部66Aが図2に示すように軸受70を介して軸7
2に回転自在に支持されている。また、図1に示すよう
に前記軸72を中心とする同心円上に、前記受取ステー
ジ58、研磨ステージ60、62、及び排出ステージ6
4が所定の間隔で配置されている。したがって、前記支
持部材66を前記軸72周りに回転することにより、前
記チャック50、52を受取ステージ58、研磨ステー
ジ60、62、及び排出ステージ64に位置させること
ができる。
【0015】前記軸72にはギア74が設けられ、この
ギア74は軸72と同軸上に固定されている。前記ギア
74にはギア76が噛合されており、このギア76は支
持部材66に固定されたモータ78の出力軸に取り付け
られている。したがって、前記モータ78でギヤ76を
回転させると、ギア76がギア74の周りを回転しなが
ら公転することにより、その公転力が支持部材66に伝
達して前記支持部材66が軸72を中心に水平面内で回
動する。
【0016】図2に示すように前記チャック50は、モ
ータ80の出力軸に取り付けられ、モータ80からの駆
動力によって回転される。前記モータ80は、支持部材
66に設けられたケーシング82内に複数の直動ガイド
84、84…を介して上下移動自在に支持されている。
また、前記モータ80の上部には、ねじ棒86が上下方
向に取り付けられ、このねじ棒86にはナット部材88
が螺合されている。前記ナット部材88は、ケーシング
82の上部開口部に軸受90を介して回転自在に設けら
れると共に、その外周面に無端状ベルト92が巻き掛け
られている。前記ベルト92は図示しないプーリに巻き
掛けられ、このプーリは、ケーシング82上に設置され
たモータ94の出力軸96に取り付けられている。した
がって、前記モータ94からの駆動力をベルト92を介
してナット部材88に伝達し、ナット部材88を回転さ
せると、ナット部材88とねじ棒86とによる送り作
用、及び直動ガイド84による直動作用によって、チャ
ック50がモータ80と一緒に上下移動する。これによ
り、チャック50を下降移動すれば、チャック50で保
持したウェーハ22を研磨定盤98に押し付けて研磨す
ることができる。
【0017】前記研磨定盤98は、回転板100と、こ
の回転板100上に設けられた研磨布102とから構成
される。また、前記回転板100の下面中央部には、軸
104が突設され、この軸104にモータ106の出力
軸108が連結されている。したがって、前記研磨定盤
98は前記モータ106の駆動力によって回転される。
これにより、ウェーハ22は、研磨定盤98の回転運動
とチャック50の回転運動とが合成された回転運動によ
って研磨される。なお、ウェーハ22の研磨中には、図
示しないノズルからスラリが研磨布102に供給され
る。
【0018】前記チャック50の下面には、多孔質材で
形成されたウェーハ吸着部材51が設けられており、ウ
ェーハ22は前記吸着部材51で吸着されて受取ステー
ジ58から研磨ステージ60に搬送され、また、研磨ス
テージ60から排出ステージ64に搬送される。なお、
前記ウェーハ22の研磨方法は、ウェーハ22をチャッ
ク50で吸着した状態で研磨する方法でも良く、また、
チャック50の下面からウェーハ22に向けてエアを吹
き出して、チャック50とウェーハ22との間に圧力流
体層を形成し、圧力流体層を介してウェーハ22を研磨
定盤98に押し付けて研磨する方法でも良い。後者の研
磨方法による加工圧の設定は、圧力流体層の圧力で設定
するものではなく、前者の研磨方法と同様にチャック5
0の下降移動量で設定する。なお、本実施の形態では、
一つの支持部材66に2台のチャック50、52を取り
付けたが、3枚以上のウェーハ22を同時に研磨するこ
とができれば、3台以上のチャックを支持部材66に取
り付けても良い。また、研磨定盤98や支持部材66、
68も3台以上設置しても良い。
【0019】図3は、前記排出ステージ64の断面図で
ある。この排出ステージ64は、チャック50〜56か
ら排出された研磨後のウェーハ22をウェーハ洗浄乾燥
部18に向けて水中搬送するものであり、底の浅い水槽
114に水116を貯水し、この水116を水槽114
の上流側から下流側にポンプ118で循環させることに
より、水中搬送するための水流を形成している。また、
前記排出ステージ64には、2枚のウェーハ22、22
が同時に排出されるため、その2枚のウェーハ22、2
2を別々に水中搬送するためのストッパ120、122
が設けられている。
【0020】前記ストッパ120は、シリンダ124の
ピストン126に接続され、シリンダ124でピストン
126を収縮させると水槽114に対して突没される。
また、前記ストッパ122も同様にシリンダ128のピ
ストン130に接続され、ピストン130の収縮動作に
よって水槽114に対して突没される。前記ストッパ1
20、122は、予め水槽114に対して突出した位置
に待機され、チャックからウェーハ22、22が排出さ
れた時に、その2枚のウェーハ22、22をストッパ1
20で隔離し、図3上右側のウェーハ22と反転装置1
32とを前記ストッパ122で隔離する。その後、前記
ストッパ122が水槽114に対して没入する。これに
より、図3上右側のウェーハ22は、前記ストッパ12
2による水中搬送規制が解除されるので、反転装置13
2に向けて水中搬送された後、反転装置132で反転さ
れてウェーハ洗浄乾燥部18に搬送される。そして、反
転装置132が元の位置に復帰した後、前記ストッパ1
20が水槽114に対して没入する。これにより、図3
上左側のウェーハ22が反転装置132に向けて水中搬
送され、反転装置132で反転された後、ウェーハ洗浄
乾燥部18に搬送される。このように2枚のウェーハ2
2、22がウェーハ洗浄乾燥部18に搬送されると、前
記ストッパ120、122は水槽114に対して突出さ
れて、次のウェーハ22、22が排出されるまでその位
置で待機する。なお、前記ストッパ120、122は図
1に示すように、それぞれ一対設けられ、ウェーハ22
が誤って流れないように設けられている。
【0021】前記反転装置132は、ウェーハ22を挟
み込む2枚のプレート134、136を有している。こ
れらのプレート134、136は、プーリ138を介し
て連結されると共に、プーリ138の回転軸140を中
心に回動自在に設けられている。前記プーリ138には
無端状のベルト142が巻き掛けられ、このベルト14
2はモータ144の出力軸に設けられたプーリ146に
巻き掛けられている。したがって、前記モータ144の
駆動力をベルト142を介してプーリ138に伝達する
と、2枚のプレート134、136がプーリ138の回
転軸140を中心に回転する。これによって、2枚のプ
レート134、136を180度回転させると、2枚の
プレート134、136に挟まれたウェーハ22が反転
する。なお、前記プレート134にはストッパ148が
取り付けられ、このストッパ148にウェーハ22が当
接することにより、ウェーハ22が2枚のプレート13
4、136間に位置決めされる。
【0022】ところで、図1に示すようにウェーハ研磨
部16には、環状のガイドレール110が軸72を中心
に水平方向に配設されている。このガイドレール110
は、各ステージ58〜64を囲むように各ステージ58
〜64の外側に配設されている。前記ガイドレール11
0には、支持部材66の先端部に設けられた一対の摺動
用ガイドブロック112、112が摺動自在に係合され
ている。これにより、支持部材66は、軸72とガイド
レール110とによって両持ち支持された状態で軸72
を中心に回転することができる。
【0023】また、図4に示すように、前記ガイドレー
ル110の両側面には凹条部111、111がガイドレ
ール110に沿って形成されており、この凹条部11
1、111に前記ガイドブロック112の凸部113が
噛み合った状態で係合されている。この係合によって、
支持部材66の上下移動が規制され、支持部材66の反
りが防止されている。
【0024】次に、前記の如く構成されたウェーハ研磨
装置10の作用について説明する。まず、カセット20
A、20Bに収納された加工前のウェーハ22を、ロボ
ット24によって1枚ずつ取り出して、ウェーハの厚み
測定部26A、26Bに交互に搬送する。次に、厚み測
定終了したウェーハ22をロボット24によってアライ
ナー部28に搬送し、ここで中心出しする。そして、中
心出しされたウェーハ22を、ロボット25で吸着保持
してウェーハ研磨部16の受取ステージ58に搬送し、
受取ステージ58に設置された2枚のトレイ59、59
に順番に載置する。
【0025】2枚のウェーハ22、22が前記トレイ5
9、59に載置されると、チャック50、52を受取ス
テージ58に向けて移動させる。そして、チャック5
0、52を下降移動させて、1枚目のウェーハ22をチ
ャック50で吸着保持し、2枚目のウェーハ22をチャ
ック52で吸着保持する。このように2枚のウェーハ2
2を吸着すると、モータ78が駆動して支持部材66を
受取ステージ58の位置から反時計周り方向に回動さ
せ、前記チャック50、52を研磨ステージ60の位置
に位置させる。ここで、1枚目、2枚目のウェーハ2
2、22の研磨を開始する。
【0026】また、支持部材66の反時計周り方向の移
動に連動して、もう一方の支持部材68を図1上実線で
示す位置から反時計周り方向に回動させて、チャック5
4、56を受取ステージ58の位置に位置させる。そし
て、トレイ59、59に載置された3枚目、4枚目のウ
ェーハ22、22をチャック54、56で保持した後、
支持部材66を受取ステージ58の位置から時計周り方
向に回動させて、前記チャック54、56を研磨ステー
ジ62の位置に位置させる。ここで、3枚目、4枚目の
ウェーハ22、22の研磨を開始する。これにより、4
台のチャック50〜56によって4枚のウェーハ22が
同時に研磨される。
【0027】前記ウェーハ22の研磨中において、前記
チャック50〜56には、ウェーハ22から加工圧の反
力がかかる。このため、支持部材66、68は、前記反
力によって軸72を支点として上方に反ろうとするが、
支持部材66、68は、ガイドレール110とガイド部
材112との係合によって上下方向の移動が規制されて
いるので反ることはない。したがって、ウェーハ22の
加工圧は低下することなく、正規の加工圧に維持され
る。よって、本実施の形態では、ウェーハの加工圧が低
下する従来のウェーハ研磨装置と比較して、ウェーハの
研磨精度が大幅に向上する。
【0028】また、本実施の形態のチャックの支持構造
は、チャック50〜56を軸72とガイドレール110
とで両持ち支持する構造なので、チャック50〜56を
安定して移動することができる。また、軸72で片持ち
支持する構造よりも、支持部の剛性を上げる必要がない
ので、支持部の構造を簡素化することができる。次に、
研磨ステージ60で研磨が終了すると、チャック50、
52を研磨ステージ60から排出ステージ64に位置さ
せた後、チャック50、52によるウェーハ22の吸着
を解除して、研磨終了のウェーハ22を排出ステージ6
4に排出する。排出されたウェーハ22は、排出ステー
ジ64において、1枚ずつ反転装置132に搬送された
後、ここで反転されてウェーハ洗浄乾燥部18に1枚ず
つ搬送される。そして、ウェーハ22は、ウェーハ洗浄
乾燥部18において、ブラシ洗浄装置150によって洗
浄された後、スピン乾燥装置152によって乾燥され
る。なお、乾燥終了したウェーハ22は、図示しないア
ンロード手段によって、カセット20A、20Bに搬送
されて収納される。
【0029】次いで、ウェーハ22を排出したチャック
50、52を、受取ステージ58の位置に移動し、次の
加工前のウェーハ22を保持する。そして、チャック5
0、52を研磨ステージ60の位置に戻し、ここで前記
ウェーハ22の研磨を開始する。一方、この時に研磨ス
テージ62でも研磨が終了するので、前記チャック5
0、52の戻り移動に連動して、もう一方側のチャック
54、56を研磨ステージ60から排出ステージ64に
移動する。そして、研磨終了のウェーハ22を排出ステ
ージ64に排出した後、前記チャック54、56を受取
ステージ58の位置に移動する。そして、チャック5
4、56で次の加工前のウェーハ22を保持した後、チ
ャック54、56を研磨ステージ62の位置に戻し、こ
こで前記ウェーハ22の研磨を開始する。
【0030】このような動作を繰り返し行う。これによ
り、本実施の形態のウェーハ研磨装置10は、多数枚の
ウェーハ22を一度に連続して研磨することができる。
なお、本実施の形態では、支持部材66、68を回転移
動させる研磨装置について説明したが、これに限定され
るものではなく、支持部材66、68を直線移動させて
ウェーハ22を各ステージに搬送する装置にも適用する
ことができる。この場合、ガイド部材110は、円弧状
ではなく直線状のものが適用される。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るウェー
ハ研磨装置によれば、チャックが取り付けられた支持部
材の移動をガイド部材で案内させることにより、支持部
材の反りを防止したので、正規の加工圧をウェーハにか
けることができ、ウェーハの研磨精度を向上させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態が適用されたウェーハ研磨
装置の平面図
【図2】図1のウェーハ研磨装置の要部断面図
【図3】図1のウェーハ研磨装置に適用された排出ステ
ージの断面図
【図4】図1のウェーハ研磨装置に適用されたガイドレ
ールの拡大断面図
【符号の説明】
10…ウェーハ研磨装置 16…ウェーハ研磨部 22…ウェーハ 50、52、54、56…チャック 58…受取ステージ 60、62…研磨ステージ 64…排出ステージ 66、68…支持部材 98…研磨定盤 110…ガイドレール 112…ガイドブロック

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ウェーハを保持して研磨定盤に押し付ける
    チャックと、該チャックを支持する支持部材と、該支持
    部材を水平面内で移動させる駆動部とを備えたウェーハ
    研磨装置において、 前記支持部材の水平面内での移動軌跡に沿ってガイド部
    材を配設し、該支持部材を前記ガイド部材で案内するこ
    とを特徴とするウェーハ研磨装置。
  2. 【請求項2】ウェーハを保持して研磨定盤に押し付ける
    チャックと、該チャックを支持する支持部材と、該支持
    部材を円弧状の軌跡に沿って水平面内で移動させる駆動
    部とを備え、該駆動部で支持部材を回動させることによ
    り、前記チャックを前記研磨定盤に向けて移動するウェ
    ーハ研磨装置において、 前記支持部材の水平面内での移動軌跡に沿って円弧状の
    ガイド部材を配設し、該支持部材を前記ガイド部材で案
    内することを特徴とするウェーハ研磨装置。
  3. 【請求項3】前記支持部材は、研磨前のウェーハを受け
    取る受取ステージと、前記研磨定盤と、研磨後のウェー
    ハを排出する排出ステージとの間で移動されることを特
    徴とする請求項2記載のウェーハ研磨装置。
  4. 【請求項4】前記ガイド部材は、前記支持部材の先端側
    を案内することを特徴とする請求項2記載のウェーハ研
    磨装置。
  5. 【請求項5】前記支持部材と前記研磨定盤とを複数設
    け、前記複数の支持部材によって複数枚のウェーハを別
    々の研磨定盤に搬送して研磨することを特徴とする請求
    項2記載のウェーハ研磨装置。
  6. 【請求項6】前記支持部材に複数の前記チャックを設
    け、複数のチャックに保持された複数のウェーハを前記
    研磨定盤で同時に研磨することを特徴とする請求項2記
    載のウェーハ研磨装置。
JP8411698A 1998-03-30 1998-03-30 ウェーハ研磨装置 Pending JPH11277424A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8411698A JPH11277424A (ja) 1998-03-30 1998-03-30 ウェーハ研磨装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8411698A JPH11277424A (ja) 1998-03-30 1998-03-30 ウェーハ研磨装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11277424A true JPH11277424A (ja) 1999-10-12

Family

ID=13821560

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8411698A Pending JPH11277424A (ja) 1998-03-30 1998-03-30 ウェーハ研磨装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11277424A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011519166A (ja) * 2008-04-25 2011-06-30 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 高スループット化学機械研磨システム
CN114043239A (zh) * 2021-10-21 2022-02-15 福建屹鑫钢业有限公司 无柱大跨度钢结构弯弧箱梁制作工艺

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011519166A (ja) * 2008-04-25 2011-06-30 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 高スループット化学機械研磨システム
CN114043239A (zh) * 2021-10-21 2022-02-15 福建屹鑫钢业有限公司 无柱大跨度钢结构弯弧箱梁制作工艺
CN114043239B (zh) * 2021-10-21 2023-10-24 福建屹鑫钢业有限公司 无柱大跨度钢结构弯弧箱梁制作工艺

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6878044B2 (en) Polishing apparatus
US9144881B2 (en) Polishing apparatus and polishing method
JP2655975B2 (ja) ウェーハ研磨装置
US6354922B1 (en) Polishing apparatus
KR100524054B1 (ko) 폴리싱 장치와 이에 사용되는 대상물 홀더 및 폴리싱 방법 및 웨이퍼제조방법
US5893795A (en) Apparatus for moving a cassette
US6929529B2 (en) Polishing apparatus
KR101442334B1 (ko) 기판 처리 장치
EP1034887A2 (en) Polishing apparatus
JP3048142B2 (ja) ウェーハ加工装置
KR102659790B1 (ko) 가공 장치
JPH11277424A (ja) ウェーハ研磨装置
JP3891641B2 (ja) ポリッシング装置
JP2002509812A (ja) 基板の研磨平削りモジューラ機
JP3320048B2 (ja) ワーク加工システム
JP2000124172A (ja) ウェーハ加工方法及びその装置
KR100437850B1 (ko) 반도체장치 제조용 현상 장치 및 그의 제어방법
JP2000127027A (ja) ウェーハ加工装置
JPH11277423A (ja) ウェーハの研磨装置及びそのシステム
KR20000071409A (ko) 폴리싱장치
JP2003077872A (ja) 半導体ウェハ研磨装置及び研磨方法
JP2002151450A (ja) インライン化ウエハ搬送装置
JP2006073573A (ja) ストッカ付ウエーハ洗浄装置
JPH08250457A (ja) 縦型ウエハ研磨装置
JPH11354475A (ja) ウェーハ研磨装置