JPH11275042A - Pulse pattern monitoring circuit - Google Patents

Pulse pattern monitoring circuit

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JPH11275042A
JPH11275042A JP10092221A JP9222198A JPH11275042A JP H11275042 A JPH11275042 A JP H11275042A JP 10092221 A JP10092221 A JP 10092221A JP 9222198 A JP9222198 A JP 9222198A JP H11275042 A JPH11275042 A JP H11275042A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pulse pattern monitoring circuit in which the increase in a circuit scale is suppressed, even if the number of signal lines is increased in monitoring a device based on a path pattern. SOLUTION: A path pattern is inserted in an idle time slot in an input data signal based on a path pattern insertion instruction signal 33 to monitor a memory 32 that outputs N output data signals 31l -31n in response to N input data signals 30l -30n . The path pattern consists of a path pattern pair, with predetermined two input data signals among the N input data signals as a pair where one path pattern is the inversion of the other path pattern. A path pattern detection section 37 extracts an output path pattern, corresponding to each input path pattern pair, based on a path pattern detection instruction signal 35 from the memory 32 which receives an input data signal to which the path pattern pair is inserted, and exclusive OR is operated to the path pattern pairs respectively to collate each path pattern.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、パスパタン監視回
路に係わり、詳細にはパスパタンを挿入するようにした
パスパタン監視回路に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a path pattern monitoring circuit, and more particularly to a path pattern monitoring circuit in which a path pattern is inserted.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、例えば網切替装置などの伝送装置
では、装置内の故障を監視するためにパスパタンが用い
られている。このパスパタンは、例えばフレーム構成さ
れた入力データ信号中に予め決められた位置にパスパタ
ンとして特定のパタンを挿入して監視対象となる伝送パ
スに入力させる。そして、監視対象となる伝送パスを介
して出力されたパタンと予め設定されたパスパタンとを
比較して、不一致のときにアラーム信号を出力して故障
監視を行う。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a transmission device such as a network switching device, a path pattern is used to monitor a failure in the device. For example, this path pattern is inserted into a transmission path to be monitored by inserting a specific pattern as a path pattern at a predetermined position in an input data signal composed of frames. Then, the pattern output via the transmission path to be monitored is compared with a preset path pattern, and when they do not match, an alarm signal is output to perform failure monitoring.

【0003】図6は、このような従来提案されたパスパ
タン監視回路の構成の概要を表わしたものである。この
パスパタン監視回路は、フレーム構成をもつ入力データ
信号10中のタイムスロットを指定するアドレス発生回
路11と、入力信号データ10に対してアドレス発生回
路11によって指定されたタイムスロットのデータ以降
を遅延させて空きタイムスロットを生成するデータ遅延
回路12と、データ遅延回路12によって生成された空
きタイムスロットに所定のパスパタンを挿入するパスパ
タン挿入回路13と、パスパタン挿入回路13によって
挿入されたパスパタンによる装置監視対象となる被監視
対象部14とを備えている。さらに、被監視対象部14
から出力されたパタンからパスパタンを分離するパスパ
タン分離回路15と、パスパタン分離回路15によって
パスパタンが分離された出力パタンから入力前にデータ
遅延回路12によって生成された空きタイムスロットを
詰めて出力データ信号16を再生するデータ調整回路1
7と、パスパタン分離回路15によって分離されたパス
パタンと予め設定しておいたパスパタンとを比較して監
視出力信号18を出力するパスパタンチェック回路19
とを有している。
FIG. 6 shows an outline of the configuration of such a conventionally proposed path pattern monitoring circuit. This path pattern monitoring circuit includes an address generation circuit 11 for designating a time slot in an input data signal 10 having a frame configuration, and delaying the input signal data 10 after the data of the time slot specified by the address generation circuit 11. A data delay circuit 12 for generating a free time slot, a path pattern insertion circuit 13 for inserting a predetermined path pattern into the free time slot generated by the data delay circuit 12, and a device monitoring target based on the path pattern inserted by the path pattern insertion circuit 13. And a monitoring target unit 14 to be monitored. Further, the monitored unit 14
A path pattern separating circuit 15 for separating a path pattern from a pattern output from the output pattern, and an output data signal 16 by packing empty time slots generated by the data delay circuit 12 before input from the output pattern from which the path pattern is separated by the path pattern separating circuit 15. Adjustment circuit 1 for reproducing data
7, a path pattern check circuit 19 that compares the path pattern separated by the path pattern separation circuit 15 with a preset path pattern and outputs a monitoring output signal 18
And

【0004】このようなパスパタン監視回路では、上述
したようにアドレス発生回路11によって指定されたタ
イムスロットに空きタイムスロットを生成するとともに
所定のパスパタンを挿入する。パスパタンが挿入された
入力データ信号を装置監視対象となる被監視対象部14
に入力する。そして、被監視対象部14から出力された
出力パタンをパスパタン挿入時に付加されたアドレス発
生回路11によって指定されたタイムスロットからパス
パタン部分を抽出している。抽出したパスパタンは、パ
スパタンチェック回路19において予め設定されている
パスパタンと比較することで、監視出力信号18を生成
している。一方、パスパタンが抽出された出力パタン
は、データ遅延回路12によって生成された空きタイム
スロットを詰めて元のフレーム構成に再生するように出
力データ信号16を生成している。
In such a path pattern monitoring circuit, an empty time slot is generated in the time slot designated by the address generation circuit 11 and a predetermined path pattern is inserted as described above. The input data signal into which the path pattern is inserted is monitored by the monitored unit 14 to be monitored by the apparatus.
To enter. The path pattern portion is extracted from the time slot specified by the address generation circuit 11 added when the path pattern is inserted into the output pattern output from the monitored unit 14. The extracted path pattern is compared with a preset path pattern in a path pattern check circuit 19 to generate a monitoring output signal 18. On the other hand, the output pattern from which the path pattern has been extracted generates the output data signal 16 so as to fill the empty time slots generated by the data delay circuit 12 and reproduce the original frame configuration.

【0005】図7は、図6に示す従来のパスパタン監視
回路の動作の概要を表わすタイミングチャートである。
ここでは、アドレス発生回路11によって、予めタイム
スロット“4”が指定されているものとする。すなわ
ち、入力データ信号10の時間t2〜t8における各フレ
ームには“ABCDEFG”が入力され(図7
(a))、その間アドレス発生回路11によりタイムス
ロット“4”が指定されている(図7(b)、図7の2
0)。データ遅延回路12は、入力データ信号10の各
フレーム構成においてタイムスロット“4”に対応する
時間t4以降のデータを遅延させて、空きタイムスロッ
ト21を生成する。さらに、同時に時間t1に対応する
タイムスロット22にはアドレス発生回路11によって
指定されたタイムスロット“4”を付加する(図7の
(c))。データ遅延回路12によって生成された空き
タイムスロットには、パスパタン挿入回路13によって
予め決められているパスパタン“P”23が挿入されて
(図7の(d))、被監視対象部14に入力される。
FIG. 7 is a timing chart showing an outline of the operation of the conventional path pattern monitoring circuit shown in FIG.
Here, it is assumed that the time slot “4” is specified in advance by the address generation circuit 11. In other words, in each frame at time t 2 ~t 8 of the input data signal 10 "ABCDEFG" is inputted (Fig. 7
(A)) During that time, the time slot "4" is designated by the address generation circuit 11 (FIG. 7 (b), 2 in FIG. 7).
0). The data delay circuit 12 generates a vacant time slot 21 by delaying data after time t 4 corresponding to time slot “4” in each frame configuration of the input data signal 10. Further, at the same time, the time slot “4” specified by the address generation circuit 11 is added to the time slot 22 corresponding to the time t 1 ((c) in FIG. 7). A path pattern “P” 23 predetermined by the path pattern insertion circuit 13 is inserted into the empty time slot generated by the data delay circuit 12 ((d) in FIG. 7) and input to the monitored unit 14. You.

【0006】被監視対象部14から出力された出力パタ
ンは、パスパタン分離回路15においてデータ遅延回路
12によって付加された指定タイムスロット“4”に基
づいて、パスパタン部分が抽出されるとともに分離され
る。そして、分離されたパスパタンは、パスパタンチェ
ック回路19において予め設定されている比較用のパス
パタンと比較され、その比較結果が監視出力信号18と
して出力される(図7の(e)、図7の24)。一方、
パスパタンが抽出された出力パタンは、データ調整回路
17において、データ遅延回路12によって生成された
空きタイムスロットを詰めるようにして出力データ信号
16が生成される(図7の(f))。
In the output pattern output from the monitored unit 14, the path pattern portion is extracted and separated based on the designated time slot "4" added by the data delay circuit 12 in the path pattern separation circuit 15. Then, the separated path pattern is compared with a preset comparison pass pattern in a path pattern check circuit 19, and the comparison result is output as a monitor output signal 18 (FIG. 7E, FIG. 7). 24). on the other hand,
An output data signal 16 is generated from the output pattern from which the path pattern has been extracted by filling the empty time slot generated by the data delay circuit 12 in the data adjustment circuit 17 (FIG. 7 (f)).

【0007】このように空きタイムスロットを生成し
て、そのタイムスロットにパスパタンを挿入することに
よって装置監視を行うパスパタン監視回路に関する技術
としては、例えば特開平6−77924号「装置内監視
方法」に開示されている。
As a technique relating to a path pattern monitoring circuit for monitoring a device by generating an empty time slot and inserting a path pattern into the time slot as described above, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-77924, entitled "Monitoring Method in Device" It has been disclosed.

【0008】さらに、特開平5−284134号公報
「回線監視回路」には、フレーム中の全てのタイムスロ
ットにパスパタンを設定できるようにすることで、オン
ライン監視を実現することができるパスパタン監視回路
に関する技術が開示されている。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-284134 discloses a "line monitoring circuit" which relates to a path pattern monitoring circuit capable of realizing online monitoring by setting path patterns in all time slots in a frame. Techniques are disclosed.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】このような従来の特開
平6−77924号公報「装置内監視方法」あるいは特
開平5−284134号公報「回線装置回路」に開示さ
れているパスパタン監視回路の技術では、監視対象とな
る被監視対象部14からの出力パタンから抽出したパス
パタンは、予め設定されたパスパタンとの比較が行われ
ている。すなわち抽出されたパスパタンは、予め設定さ
れたパスパタンの期待値との照合により行われている。
ところが、近年の装置では信号処理能力の向上および処
理能力向上の要望により、多ビット構造のバス幅が増加
する傾向にある。しかし、メモリ回路やセレクタ回路な
ど入力信号線および出力信号線が増加してしまうと、上
述したようなパスパタンによる装置監視回路では、信号
線の本数だけパスパタンの期待値照合を行う必要があ
り、パスパタン期待値格納用のメモリ容量の増大化とパ
スパタン検出部の構成の複雑化と回路規模の増大化を招
いていた。
The technique of the pass pattern monitoring circuit disclosed in such a conventional "method of monitoring in a device" disclosed in JP-A-6-77924 or "line device circuit" disclosed in JP-A-5-284134. In the example, the path pattern extracted from the output pattern from the monitored target unit 14 to be monitored is compared with a preset path pattern. That is, the extracted path pattern is compared with a preset expected value of the path pattern.
However, in recent devices, there is a tendency that the bus width of a multi-bit structure increases due to a demand for improvement in signal processing capability and processing capability. However, when the number of input signal lines and output signal lines such as memory circuits and selector circuits increases, the device monitoring circuit using the above-described path patterns needs to perform the expected value comparison of the path patterns by the number of signal lines. This has led to an increase in the memory capacity for storing the expected value, a complicated configuration of the path pattern detection unit, and an increase in the circuit scale.

【0010】そこで本発明の目的は、パスパタンによる
装置監視において信号線が増加しても回路規模の増大を
抑えるパスパタン監視回路を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a path pattern monitoring circuit which suppresses an increase in the circuit scale even when the number of signal lines increases in device monitoring using a path pattern.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明で
は、(イ)複数本の入力データ信号に応じてこれらと同
数本の出力データ信号を出力する監視対象回路と、
(ロ)この監視対象回路に入力される複数本の入力デー
タ信号それぞれに、これら入力データ信号を2本1組の
対として各対にはそれぞれ一方が他方の反転されたビッ
トパタンを入力パタンとして挿入するパタン挿入手段
と、(ハ)このパタン挿入手段によって挿入された入力
パタンに対応して監視対象回路から出力された出力パタ
ンを検出するパタン検出手段と、(ニ)このパタン検出
手段によって検出された所定の出力パタンに基づいて監
視対象回路を監視する監視手段とをパスパタン監視回路
に具備させる。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a monitoring target circuit which outputs the same number of output data signals in response to a plurality of input data signals.
(B) For each of a plurality of input data signals input to the circuit to be monitored, these input data signals are paired as a pair, and each pair has an inverted bit pattern, one of which is the other, as an input pattern. A pattern insertion unit to be inserted, (c) a pattern detection unit for detecting an output pattern output from the monitoring target circuit in response to the input pattern inserted by the pattern insertion unit, and (d) detection by the pattern detection unit. The path pattern monitoring circuit includes monitoring means for monitoring the monitoring target circuit based on the specified output pattern.

【0012】すなわち請求項1記載の発明では、複数本
の入力データ信号に応じてこれと同数本の出力データ信
号を出力する監視対象回路に対して、複数本の入力デー
タ信号それぞれにこれら入力データ信号を2本1組を対
として各対には一方が他方の反転されたパタンを入力パ
タンとして挿入された入力データ信号を入力するように
している。そして、この監視対象回路から出力された出
力パタンに基づいて、監視対象回路の監視を行うように
している。
That is, according to the first aspect of the present invention, a plurality of input data signals are output to the monitoring target circuit in response to the plurality of input data signals. One pair of signals is paired, and each pair receives an input data signal inserted with one inverted pattern of the other as an input pattern. The monitoring target circuit is monitored based on the output pattern output from the monitoring target circuit.

【0013】請求項2記載の発明では、請求項1記載の
パスパタン監視回路で、パタン挿入手段は、監視対象回
路に入力される複数本の入力データ信号それぞれに、こ
れら入力データ信号を2本1組の対として各対にはそれ
ぞれ一方が他方の補数となるビットパタンを入力パタン
として挿入することを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, in the path pattern monitoring circuit according to the first aspect, the pattern inserting means includes two input data signals for each of the plurality of input data signals input to the monitored circuit. As a pair of pairs, a bit pattern in which one is the complement of the other is inserted into each pair as an input pattern.

【0014】すなわち請求項2記載の発明では、監視対
象回路に入力する入力データ信号に挿入するパタンを、
入力データ信号それぞれにこれら入力データ信号を2本
1組の対として各対には一方が他方の補数となるパタン
を入力パタンとして挿入するようにしている。
That is, according to the second aspect of the present invention, the pattern to be inserted into the input data signal input to the circuit to be monitored is
These input data signals are paired in pairs for each input data signal, and in each pair, a pattern in which one is the complement of the other is inserted as an input pattern.

【0015】請求項3記載の発明では、請求項1または
2記載のパスパタン監視回路で、入力パタンを空きタイ
ムスロットに挿入することを特徴としている。
According to a third aspect of the present invention, in the path pattern monitoring circuit according to the first or second aspect, an input pattern is inserted into an empty time slot.

【0016】すなわち請求項3記載の発明では、監視対
象回路を監視するためのパタンを空きタイムスロットに
挿入するようにしている。
That is, according to the third aspect of the present invention, a pattern for monitoring a circuit to be monitored is inserted into an empty time slot.

【0017】請求項4記載の発明では、(イ)複数本の
入力データ信号に応じてこれらと同数本の出力データ信
号を出力するメモリ回路と、(ロ)このメモリ回路に入
力される複数本の入力データ信号それぞれに、これら入
力データ信号を2本1組の対として各対には一方が他方
の反転されたビットパタンを入力パタンとして空きタイ
ムスロットに挿入するパタン挿入手段と、(ハ)このパ
タン挿入手段によって挿入された入力パタンに対応して
メモリ回路から出力された出力パタンを抽出するパタン
抽出手段と、(ニ)パタン挿入手段によって挿入された
入力パタンの対に対応してこのパタン抽出手段によって
抽出された出力パタンの互いのビットの排他的論理和を
全ての対についてそれぞれ演算する演算手段と、(ホ)
演算手段によって演算された各対の演算結果のうち少な
くとも1つが「0」であるときメモリ回路の異常を検出
する異常検出手段とをパスパタン監視回路に具備させ
る。
According to a fourth aspect of the present invention, (a) a memory circuit for outputting the same number of output data signals in response to a plurality of input data signals, and (b) a plurality of input data signals to the memory circuit (C) inserting each of these input data signals into a pair of two pairs of input data signals, and inserting each of the pairs of input data signals into an empty time slot as an input pattern with the other inverted bit pattern; A pattern extraction unit for extracting an output pattern output from the memory circuit in accordance with the input pattern inserted by the pattern insertion unit; and (d) a pattern extraction unit corresponding to the input pattern inserted by the pattern insertion unit. (E) computing means for computing the exclusive OR of each bit of the output pattern extracted by the extracting means for all pairs;
An abnormality detecting means for detecting an abnormality in the memory circuit when at least one of the operation results of each pair calculated by the arithmetic means is "0" is provided in the path pattern monitoring circuit.

【0018】すなわち請求項4記載の発明では、複数本
の入力データ信号に応じてこれらと同数本の出力データ
信号を出力するメモリ回路に入力される入力データ信号
それぞれに、これら入力データ信号を2本1組の対とし
て各対には一方が他方の反転されたビットパタンを入力
パタンとして空きタイムスロットに挿入するようにして
いる。そして、この入力パタンに対応してメモリ回路か
ら出力された出力パタンの互いのビットの排他的論理和
を全ての対についてそれぞれ演算し、各対の演算結果の
うち少なくとも1つが「0」であるときメモリ回路の異
常を検出するようにしている。
That is, according to the present invention, two input data signals are input to a memory circuit which outputs the same number of output data signals in response to a plurality of input data signals. As one set of this pair, one of the pairs inserts the inverted bit pattern of the other as an input pattern into an empty time slot. The exclusive OR of the bits of the output pattern output from the memory circuit corresponding to the input pattern is calculated for all pairs, and at least one of the calculation results of each pair is “0”. At this time, an abnormality of the memory circuit is detected.

【0019】請求項5記載の発明では、(イ)複数本の
入力データ信号に応じてこれらと同数本の出力データ信
号を出力するセレクタ回路と、(ロ)このセレクタ回路
に入力される複数本の入力データ信号それぞれに、これ
ら入力データ信号を2本1組の対として各対には一方が
他方の補数であるビットパタンを入力パタンとして空き
タイムスロットに挿入するパタン挿入手段と、(ハ)こ
のパタン挿入手段によって挿入された入力パタンに対応
してセレクタ回路から出力された出力パタンを抽出する
パタン抽出手段と、(ニ)パタン挿入手段によって挿入
された入力パタンの対に対応してこのパタン抽出手段に
よって抽出された出力パタンの互いのビットの和を全て
の対についてそれぞれ演算する演算手段と、(ホ)演算
手段によって演算された各対の演算結果のうち少なくと
も1つが「1」であるときメモリ回路の異常を検出する
異常検出手段とをパスパタン監視回路に具備させる。
According to the fifth aspect of the present invention, (a) a selector circuit for outputting the same number of output data signals in response to a plurality of input data signals, and (b) a plurality of input data signals inputted to the selector circuit (C) inserting each input data signal into a vacant time slot as an input pattern, wherein each of the input data signals is a pair of two input data signals; A pattern extraction unit for extracting an output pattern output from the selector circuit in accordance with the input pattern inserted by the pattern insertion unit; and (d) a pattern extraction unit corresponding to the pair of the input pattern inserted by the pattern insertion unit. Calculating means for calculating the sum of each bit of the output pattern extracted by the extracting means for all pairs, and (e) calculating by the calculating means At least one of the operation results of respective pairs but is provided in Pasupatan monitoring circuit and an abnormality detecting means for detecting an abnormality of the memory circuit when "1".

【0020】すなわち請求項5記載の発明では、複数本
の入力データ信号に応じてこれらと同数本の出力データ
信号を出力するセレクタ回路に入力される入力データ信
号それぞれに、これら入力データ信号を2本1組の対と
して各対には一方が他方の補数となるビットパタンを入
力パタンとして空きタイムスロットに挿入するようにし
ている。そして、この入力パタンに対応してセレクタ回
路から出力された出力パタンの互いのビットの加算演算
を全ての対についてそれぞれ演算し、各対の演算結果の
うち少なくとも1つが「1」であるときセレクタ回路の
異常を検出するようにしている。
That is, according to the fifth aspect of the present invention, two input data signals are input to a selector circuit which outputs the same number of output data signals in response to a plurality of input data signals. As one set of pairs, a bit pattern in which one of the pairs is the complement of the other is inserted into an empty time slot as an input pattern. Then, the addition operation of the bits of the output pattern output from the selector circuit corresponding to this input pattern is performed for all pairs, and when at least one of the operation results of each pair is “1”, the selector It detects the abnormality of the circuit.

【0021】請求項6記載の発明では、請求項1〜5記
載のパスパタン監視回路で、入力データ信号が奇数本の
ときには、ダミー信号線を加えて偶数本とすることを特
徴としている。
According to a sixth aspect of the present invention, in the path pattern monitoring circuit of the first to fifth aspects, when the number of input data signals is odd, the number of dummy data lines is added to make the number even.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

【0023】[0023]

【実施例】以下実施例につき本発明を詳細に説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail below with reference to embodiments.

【0024】第1の実施例 First Embodiment

【0025】図1は、本発明の第1の実施例におけるパ
スパタン監視回路の構成の概要を表わしたものである。
このパスパタン監視回路は、同一クロックに同期した入
力データ信号301、302、・・・、30Nに応じて出
力データ信号311、312、・・・、31Nを出力する
メモリ32と、入力データ信号301〜30Nのそれぞれ
にパスパタン挿入指示信号33基づいてパスパタンを挿
入するパスパタン挿入部34と、パスパタン検出指示信
号35に基づいて出力データ信号311〜31Nからパス
パタンを検出して検出結果信号36を出力するパスパタ
ン検出部37とを備えている。
FIG. 1 shows an outline of the configuration of a path pattern monitoring circuit according to a first embodiment of the present invention.
The Pasupatan monitoring circuit, the input data signal synchronized with the same clock 30 1, 30 2, ..., output data signal 31 1 in response to the 30 N, 31 2, ..., a memory 32 for outputting a 31 N , a Pasupatan insertion portion 34 for inserting the Pasupatan based Pasupatan insert instruction signal 33 to each of the input data signal 30 1 to 30 N, detects Pasupatan from the output data signal 31 1 to 31 N on the basis of the Pasupatan detection indication signal 35 And a pass pattern detection unit 37 that outputs a detection result signal 36.

【0026】このパスパタン監視回路は、同一クロック
に同期して入力されるN本のフレーム構成の入力データ
信号に対して出力先へ固定的にN本のフレーム構成の出
力データ信号を出力するメモリ32を監視することがで
きるようになっている。パスパタン挿入指示信号33
は、図示しない空きタイムスロット検出部によって入力
データ信号301〜30Nそれぞれからフレーム構成の入
力データ信号中の空きタイムスロットが検出されるとと
もに、この空きタイムスロットの位置を指定するタイミ
ング信号が生成されるようになっている。したがって、
パスパタン挿入部34は、このパスパタン挿入指示信号
33に基づいて入力データ信号301〜30Nの空きタイ
ムスロットにパスパタンを挿入することができる。な
お、上述した空きタイムスロットの検出については、入
力データ信号および出力データ信号が所定のフレーム構
成になっているため、フレーム化された信号の所定位置
を検出することで容易に空きタイムスロットであるか否
かを判断することができる。
This path pattern monitoring circuit is a memory 32 for outputting an N-frame output data signal to an output destination in a fixed manner to an N-frame input data signal inputted in synchronization with the same clock. Can be monitored. Pass pattern insertion instruction signal 33
, Together with the idle time slots in the input data signal of a frame structure from the input data signal 30 1 to 30 N, respectively, by idle time slots detector is detected, not shown, a timing signal specifying the position of the idle time slots are generated It is supposed to be. Therefore,
Pasupatan insertion portion 34 can be inserted Pasupatan the idle time slots of the input data signal 30 1 to 30 N on the basis of the Pasupatan insertion instruction signal 33. In the detection of the empty time slot described above, since the input data signal and the output data signal have a predetermined frame configuration, the empty time slot can be easily detected by detecting a predetermined position of the framed signal. Can be determined.

【0027】ところで、このパスパタン挿入部34によ
って挿入されるパスパタンは、N本の入力データ信号の
うち予め任意の2本を1組の対として決めておき、一方
のパスパタンを他方のパスパタンの反転としたパスパタ
ン対を挿入するようになっている。例えば、入力データ
信号301と入力データ信号30N-2とを上述した信号対
として予め決められているものとした場合、入力データ
信号301のパスパタン“0”に対して入力データ信号
30N-2のパスパタンは“1”が挿入されることにな
る。信号数Nが奇数のときは、ダミー信号線を1本追加
して偶数本としてそのパスパタン部分だけを利用するこ
とで、同様のパスパタンを挿入することができる。
By the way, the path pattern inserted by the path pattern insertion section 34 is such that arbitrary two of N input data signals are determined in advance as one set of pairs, and one of the path patterns is used for inversion of the other path pattern. The inserted pass pattern pair is inserted. For example, when assumed to be predetermined input data signal 30 1 and the input data signal 30 N-2 as a signal-to-above, the input data signal 30 N against Pasupatan "0" of the input data signal 30 1 "1" is inserted into the path pattern of -2 . When the number N of signals is an odd number, the same pass pattern can be inserted by adding one dummy signal line and using only the pass pattern portion as an even number.

【0028】このようにして、2本1組のパスパタン対
が各信号対に挿入されて入力されたメモリ32から出力
された出力データ信号311〜31Nから、パスパタン検
出指示信号35に基づいたパスパタン検出部37によっ
て、パスパタン挿入部34によって挿入された各パスパ
タン対に対応してメモリ32から出力された出力パスパ
タンが抽出される。メモリ32から出力される出力パス
パタンは、パスパタン挿入指示信号33によって指定さ
れた空きタイムスロットに含まれているため、実際には
パスパタン検出指示信号35はパスパタン挿入指示信号
33よりメモリ32通過分の遅延時間だけ遅延させたタ
イミングでパスパタン検出部37に入力されることにな
る。
In this manner, a pair of two pass pattern pairs is inserted into each signal pair, and based on the pass pattern detection instruction signal 35 from the output data signals 31 1 to 31 N output from the memory 32 input. The path pattern detection unit 37 extracts an output path pattern output from the memory 32 corresponding to each path pattern pair inserted by the path pattern insertion unit 34. Since the output path pattern output from the memory 32 is included in the empty time slot specified by the path pattern insertion instruction signal 33, the path pattern detection instruction signal 35 is actually delayed from the path pattern insertion instruction signal 33 by the delay of the memory 32. The signal is input to the path pattern detection unit 37 at a timing delayed by the time.

【0029】パスパタン検出部37によって検出された
出力パスパタンは、パスパタン挿入時に予め決められて
いる信号対のビット同士の排他的論理和(Exclusive O
R:以下、EXORと略す。)を演算して、さらに各演
算結果の積をとることによって、メモリ32を伝送して
きた信号対に不一致が生じたか否かを判断することがで
きる。
The output path pattern detected by the path pattern detection section 37 is an exclusive OR (Exclusive OR) of bits of a signal pair determined in advance when the path pattern is inserted.
R: Hereinafter, abbreviated as EXOR. ), And by taking the product of the results of each operation, it can be determined whether or not a mismatch has occurred in the signal pair transmitted through the memory 32.

【0030】図2は、このようなパスパタン検出部の構
成の概要を表わしたものである。このパスパタン検出部
37は、検出されたパスパタン381、382、・・・、
38Mと、パスパタン391、392、・・・、39Mとが
入力されており、パスパタン38X、39X(X=1,
2,・・・,M)とが互いにパスパタン対であるものと
する。信号数Nと2Mが等しい場合、図1に示したパス
パタン監視回路においてこのパスパタン検出部を適用す
ることができる。このようなパスパタン対が入力される
パスパタン検出部37は、パスパタン対381、391
排他的論理和を演算するEXOR回路401と、パスパ
タン対382、392の排他的論理和を演算するEXOR
回路402と、・・・、パスパタン対38M、39Mの排
他的論理和を演算するEXOR回路40Mと、これらE
XOR回路401〜40Mの積を演算するAND回路41
とを備えている。
FIG. 2 shows an outline of the configuration of such a path pattern detecting section. The path pattern detection unit 37 detects the detected path patterns 38 1 , 38 2 ,.
, 39 M, and the pass patterns 39 1 , 39 2 ,..., 39 M are input, and the pass patterns 38 X , 39 X (X = 1,
,..., M) are path pattern pairs. When the number of signals N is equal to 2M, this path pattern detection unit can be applied to the path pattern monitoring circuit shown in FIG. Pasupatan detector 37 such Pasupatan pair is input, computing an EXOR circuit 40 1 for calculating an exclusive OR of Pasupatan pair 38 1, 39 1, the exclusive OR of Pasupatan pairs 38 2, 39 2 EXOR
A circuit 40 2, ..., an EXOR circuit 40 M for calculating the exclusive OR of Pasupatan pairs 38 M, 39 M, these E
AND circuit 41 for calculating a product of the XOR circuit 40 1 to 40 M
And

【0031】このようなパスパタン検出部37において
は、メモリ32に入力される前のパスパタン対の排他的
論理和が各対とも“1”であるので、メモリ32から出
力後に検出されたパスパタン対が全ての対のうち少なく
とも1つの対の排他的論理和が“0”であるときに、メ
モリ32の出力結果が異常であることを検出することが
できる。
In such a path pattern detecting section 37, since the exclusive OR of each pair of path patterns before being input to the memory 32 is "1", the pair of path patterns detected after output from the memory 32 is determined. When the exclusive OR of at least one of all pairs is “0”, it is possible to detect that the output result of the memory 32 is abnormal.

【0032】例えば、1組のパスパタンが“0110”
と“1001”であった場合、ビット単位に排他的論理
和を演算すると4つのEXORの出力は全て“1”とな
り、これらの積は“1”となってメモリ32の正常動作
を確認することができる。一方、検出したパスパタンが
“0110”と“1000”であった場合、3つ目まで
のEXORでは“1”が出力されるが、4つ目のEXO
Rでは“0”が出力されるため、これらの積は“0”と
なってメモリ32の異常動作を検出することができる。
このように、出力パスパタンの全ての対ごとに排他的論
理和を演算することにより、パスパタン照合を行うこと
ができる。
For example, if one set of pass patterns is "0110"
If the exclusive OR is calculated in bit units, the outputs of all four EXORs become "1", and the product of these becomes "1" to confirm the normal operation of the memory 32. Can be. On the other hand, when the detected path patterns are “0110” and “1000”, “1” is output in the third EXOR, but the fourth EXO is output.
Since “0” is output in R, the product of these is “0”, and an abnormal operation of the memory 32 can be detected.
As described above, the path pattern matching can be performed by calculating the exclusive OR for every pair of the output path patterns.

【0033】図3は、上述したパスパタン監視回路の動
作を説明するためのタイミングチャートを表わしたもの
である。入力データ信号301〜30Nは、フレームパル
ス(Frame Pulse:FP)42により所定のタイムスロ
ットごとに伝送信号がフレーム化される(図3の(a)
と(b))。こうしてフレーム化された入力データ信号
301〜30Nから、図示しない空きタイムスロット検出
部によってフレーム化信号の所定位置を検出することに
よって空きタイムスロット43が検出され(図3の
(c))、パスパタン挿入指示信号33が生成される
(図3の44)。このパスパタン挿入指示信号33によ
って指定された空きタイムスロットに上述したようなパ
スパタン対を挿入してメモリ32に入力することによっ
て、出力データ信号が得られる(図3の(d))。出力
データ信号に含まれる空きタイムスロットの出力パスパ
タン45は、パスパタン挿入指示信号33よりメモリ3
2通過分に相当する時間46だけ遅延されたパスパタン
検出指示信号35に基づいて出力パスパタンを検出する
(図3の47)。このようにして検出された出力パスパ
タンは、図2に示したパスパタン検出回路37において
パスパタン照合されることでメモリ32が監視される。
FIG. 3 is a timing chart for explaining the operation of the above-described path pattern monitoring circuit. Input data signal 30 1 to 30 N, the frame pulse (Frame Pulse: FP) transmits signals for each predetermined time slot by 42 is framed (in FIGS. 3 (a)
And (b)). From the input data signal 30 1 to 30 N thus framed, idle time slots 43 is detected by detecting a predetermined position of the frame signal by idle time slots detecting section not shown (in FIG. 3 (c)), A pass pattern insertion instruction signal 33 is generated (44 in FIG. 3). An output data signal is obtained by inserting the above-described pair of path patterns into the empty time slot designated by the path pattern insertion instruction signal 33 and inputting the pair to the memory 32 ((d) in FIG. 3). The output path pattern 45 of the empty time slot included in the output data signal is obtained from the path pattern insertion instruction signal 33 by the memory 3.
An output path pattern is detected based on the path pattern detection instruction signal 35 delayed by a time 46 corresponding to two passes (47 in FIG. 3). The output path pattern detected in this way is compared with the path pattern in the path pattern detection circuit 37 shown in FIG. 2 to monitor the memory 32.

【0034】以上説明したように第1の実施例における
パスパタン監視回路では、N本の入力データ信号301
〜30Nに応じてN本の出力データ信号311〜31N
固定的に出力するメモリ32を監視するために、パスパ
タン挿入指示信号33に基づいて入力データ信号中の空
きタイムスロットにパスパタンを挿入するようにした。
この挿入するパスパタンは、N本の入力データ信号のう
ち予め任意の2本を1組の対として決めておき、一方の
パスパタンを他方のパスパタンの反転としたパスパタン
対を挿入するようにしている。このようなパスパタンが
挿入された入力データ信号が入力されたメモリ32から
出力された出力データ信号から、パスパタン検出指示信
号35に基づいてパスパタン検出部37によってパスパ
タン挿入部34によって挿入された各パスパタン対に対
応してメモリ32より出力された出力パスパタンが抽出
される。そして、パスパタン検出部37によって抽出し
たパスパタン対それぞれに排他的論理和を演算すること
により、パスパタン照合を行うことができる。これによ
り、パスパタン期待値を比較するための大容量のメモリ
回路や期待値比較回路を不要としてパスパタン検出部の
簡素化を図ることができるという効果がある。
As described above, in the path pattern monitoring circuit in the first embodiment, N input data signals 30 1
To monitor the memory 32 the output data signal 31 1 to 31 N of the N outputs fixedly according to to 30 N, the Pasupatan the idle time slots in the input data signal based on Pasupatan insert instruction signal 33 Insert it.
The path pattern to be inserted is such that any two of the N input data signals are determined in advance as one set of pairs, and a path pattern pair in which one path pattern is the inverse of the other path pattern is inserted. From the output data signal output from the memory 32 to which the input data signal into which such a path pattern has been inserted is input, each path pattern pair inserted by the path pattern insertion unit 34 by the path pattern detection unit 37 based on the path pattern detection instruction signal 35. , An output path pattern output from the memory 32 is extracted. Then, path pattern matching can be performed by calculating exclusive OR of each path pattern pair extracted by the path pattern detection unit 37. Thus, there is an effect that the path pattern detection unit can be simplified by eliminating the need for a large-capacity memory circuit and an expected value comparison circuit for comparing expected path pattern values.

【0035】第2の実施例 Second Embodiment

【0036】図4は、本発明の第2の実施例におけるパ
スパタン監視回路の構成の概要を表わしたものである。
このパスパタン監視回路は、同一クロックに同期した入
力データ信号501、502、・・・、50Nに応じて出
力データ信号511、512、・・・、51Nを出力する
セレクタ52と、入力データ信号501〜50Nのそれぞ
れにパスパタン挿入指示信号53基づいてパスパタンを
挿入するパスパタン挿入部54と、出力でデータパスパ
タン検出指示信号55に基づいて出力データ信号511
〜51Nからパスパタンを検出して検出結果信号56を
出力するパスパタン検出部57とを備えている。
FIG. 4 shows an outline of the configuration of a path pattern monitoring circuit according to a second embodiment of the present invention.
The Pasupatan monitoring circuit, the input data signal 50 1 in synchronization with the same clock, 50 2, ..., output data signal 51 1 in response to the 50 N, 51 2, ..., a selector 52 for outputting a 51 N , the input data signal 50 1-50 and Pasupatan insertion portion 54 for inserting the Pasupatan based Pasupatan insert instruction signal 53 to each of the N, the output based on the data path pattern detection indication signal 55 at the output data signal 51 1
And a Pasupatan detector 57 for outputting a detection result signal 56 to detect Pasupatan from to 51 N.

【0037】このパスパタン監視回路は、入力されるN
本の入力データ信号に対して予め選択制御された方路へ
N本の出力データ信号を出力するセレクタ52を監視す
ることができるようになっている。パスパタン挿入指示
信号53は、図示しない空きタイムスロット検出部によ
って入力データ信号501〜50Nそれぞれからフレーム
構成の入力データ信号中の空きタイムスロットが検出さ
れるとともに、この空きタイムスロットの位置を指定す
るタイミング信号が生成されるようになっている。した
がって、このパスパタン挿入指示信号53に基づいてパ
スパタン挿入部54は、入力データ信号501〜50N
空きタイムスロットにパスパタンを挿入することができ
る。
This path pattern monitoring circuit receives the input N
It is possible to monitor a selector 52 that outputs N output data signals to a route that is selected and controlled in advance for the input data signals. Pasupatan insert instruction signal 53, along with the idle time slots in the input data signal of a frame structure is detected from the input data signal 50 1 to 50 N, respectively, by idle time slots detecting unit (not shown), specifying the position of the idle time slots Is generated. Therefore, Pasupatan insertion portion 54 based on the Pasupatan insertion instruction signal 53 can be inserted Pasupatan the idle time slots of the input data signal 50 1 to 50 N.

【0038】ところで、このパスパタン挿入部54によ
って挿入されるパスパタンは、N本の入力データ信号の
うち予め任意の2本を1組の対として決めておき、一方
のパスパタンを他方のパスパタンの補数としたパスパタ
ン対を挿入するようになっている。信号数Nが奇数のと
きは、ダミー信号線を1本追加して偶数本としてそのパ
スパタン部分だけを利用することで、同様のパスパタン
を挿入することができる。
By the way, the path pattern inserted by the path pattern inserting section 54 is such that any two of N input data signals are determined in advance as one set of pairs, and one of the path patterns is complemented by the complement of the other. The inserted pass pattern pair is inserted. When the number N of signals is an odd number, the same pass pattern can be inserted by adding one dummy signal line and using only the pass pattern portion as an even number.

【0039】このようにして、2本1組のパスパタン対
が各信号対に挿入されて入力されたセレクタ52から出
力された出力データ信号511〜51Nから、パスパタン
検出指示信号55に基づいたパスパタン検出部57によ
って、パスパタン挿入部34によって挿入された各パス
パタン対に対応してセレクタ52より出力された出力パ
スパタンが抽出される。セレクタ52から出力される出
力パスパタンは、パスパタン挿入指示信号53によって
指定された空きタイムスロットに含まれているため、実
際にはパスパタン検出指示信号55はパスパタン挿入指
示信号53よりセレクタ52通過分の遅延時間だけ遅延
させたタイミングでパスパタン検出部57に入力され
る。パスパタン検出部57によって検出された出力パス
パタンは、パスパタン挿入時に予め決められていた信号
対のビット同士が加算され、さらに全ての対の加算結果
が“0”であるか否かでパタン照合が行われる。
In this manner, a pair of two pass pattern pairs is inserted into each signal pair, and the output data signals 51 1 to 51 N output from the selector 52 are inputted based on the pass pattern detection instruction signal 55. The path pattern detection unit 57 extracts an output path pattern output from the selector 52 corresponding to each path pattern pair inserted by the path pattern insertion unit 34. Since the output path pattern output from the selector 52 is included in the vacant time slot specified by the path pattern insertion instruction signal 53, the path pattern detection instruction signal 55 is actually delayed from the path pattern insertion instruction signal 53 by a delay corresponding to the passage through the selector 52. The signal is input to the path pattern detection unit 57 at the timing delayed by the time. The output path pattern detected by the path pattern detection unit 57 is obtained by adding bits of a predetermined signal pair at the time of inserting the path pattern, and further performing pattern matching based on whether or not the addition result of all pairs is “0”. Will be

【0040】図5は、このようなパスパタン検出部の構
成の概要を表わしたものである。このパスパタン検出部
57は、検出されたパスパタン581、582、・・・、
58Mと、パスパタン591、592、・・・、59Mとが
入力されており、パスパタン58X、59X(X=1,
2,・・・,M)とが互いにパスパタン対であるものと
する。、信号数Nと2Mが等しい場合、図4に示したパ
スパタン監視回路においてこのパスパタン検出部を適用
することができる。このようなパスパタン対が入力され
るパスパタン検出部57は、各パスパタン対581、5
1について加算する演算回路60と、各パスパタン対
の加算結果の否定論理和を演算するNOR回路61とを
備えている。
FIG. 5 shows an outline of the configuration of such a path pattern detecting section. This path pattern detection unit 57 detects the detected path patterns 58 1 , 58 2 ,.
And 58 M, Pasupatan 59 1, 59 2,..., And the 59 M is input, Pasupatan 58 X, 59 X (X = 1,
,..., M) are path pattern pairs. When the number of signals N is equal to 2M, this path pattern detection unit can be applied to the path pattern monitoring circuit shown in FIG. The path pattern detecting unit 57 to which such a pair of path patterns is input is used for each of the pair of path patterns 58 1 , 5.
9 includes an arithmetic circuit 60 that performs addition on 1 and a NOR circuit 61 that performs a NOR operation on an addition result of each path pattern pair.

【0041】このようなパスパタン検出部57におい
て、セレクタ52に入力される前のパスパタン対の加算
結果が各対とも“0”であるので、セレクタ52から出
力後に検出されたパスパタン対が全ての対のうち少なく
とも1つの対の加算結果が“1”であるときに、セレク
タ52の出力結果が異常であることを検出することがで
きる。
In such a path pattern detector 57, since the addition result of each pair of path patterns before being input to the selector 52 is "0", the path pattern pairs detected after output from the selector 52 are all pairs. When the addition result of at least one of the pairs is “1”, it can be detected that the output result of the selector 52 is abnormal.

【0042】以上説明したように第2の実施例における
パスパタン監視回路では、所定の選択制御によりN本の
入力データ信号301〜30Nに応じてN本の出力データ
信号311〜31Nを出力するセレクタ52を監視するた
めに、パスパタン挿入指示信号53に基づいて入力デー
タ信号中の空きタイムスロットにパスパタンを挿入する
ようにした。この挿入するパスパタンは、N本の入力デ
ータ信号のうち予め任意の2本を1組の対として決めて
おき、一方のパスパタンを他方のパスパタンの補数とな
るパスパタン対を挿入するようにしている。このような
パスパタンが挿入された入力データ信号が入力されるセ
レクタ52から出力された出力データ信号から、パスパ
タン検出指示信号55に基づいてパスパタン検出部57
によってパスパタン挿入部54によって挿入された各パ
スパタン対に対応してセレクタ52より出力された出力
パスパタンが抽出される。そして、パスパタン検出部5
7によって抽出したパスパタン対それぞれを加算演算す
ることにより、パスパタン照合を行うことができる。こ
れにより、パスパタン期待値を比較するための大容量の
メモリ回路や期待値比較回路を不要としてパスパタン検
出部の簡素化を図ることができるという効果がある。
As described above, in the path pattern monitoring circuit according to the second embodiment, the N output data signals 31 1 to 31 N are generated according to the N input data signals 30 1 to 30 N by predetermined selection control. In order to monitor the selector 52 to be output, a path pattern is inserted into an empty time slot in the input data signal based on the path pattern insertion instruction signal 53. As the path pattern to be inserted, arbitrary two of the N input data signals are determined in advance as one set of pairs, and one path pattern is inserted as a complement of the other path pattern. From the output data signal output from the selector 52 to which the input data signal into which such a path pattern is inserted is input, based on a path pattern detection instruction signal 55, a path pattern detection unit 57
Thus, the output path pattern output from the selector 52 is extracted corresponding to each path pattern pair inserted by the path pattern insertion unit 54. Then, the path pattern detection unit 5
By performing an addition operation on each of the path pattern pairs extracted in step 7, the path pattern matching can be performed. Thus, there is an effect that the path pattern detection unit can be simplified by eliminating the need for a large-capacity memory circuit and an expected value comparison circuit for comparing expected path pattern values.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上説明したように請求項1記載の発明
によれば、複数本の入力データ信号のうち2本1組の対
にパスパタンとして一方が他方の反転されたビットパタ
ンであるパスパタン対に対する、監視対象回路からの出
力パスパタンに基づいて監視を行うようにすることで、
入力パスパタンを参照する必要がなくなるためパスパタ
ンの照合回路を簡素化することができるようになる。さ
らに、各データ信号に対してパスパタン照合を行う必要
がなくなるので、大幅に回路規模を削減するだけでな
く、信号線が増加しても回路規模の増大を抑えることが
できる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, a pair of a plurality of input data signals is used as a pair of a pair of pass data patterns, one of which is an inverted bit pattern of the other. By monitoring based on the output path pattern from the monitoring target circuit for
Since it is not necessary to refer to the input path pattern, the path pattern matching circuit can be simplified. Furthermore, since it is not necessary to perform pass pattern matching for each data signal, not only can the circuit scale be significantly reduced, but also the increase in circuit scale can be suppressed even if the number of signal lines increases.

【0044】さらに請求項2記載の発明によれば、入力
データ信号の2本1組の対にパスパタンとして一方が他
方の補数となるパスパタン対に対する監視対象回路から
の出力パスパタンに基づいて監視を行うようにすること
で、入力パスパタンを参照する必要がなくなりパスパタ
ンの照合回路を簡素化することができる。
According to the second aspect of the present invention, a pair of input data signals is monitored as a path pattern based on an output path pattern from a monitored circuit for a path pattern pair in which one is the complement of the other. By doing so, it is not necessary to refer to the input path pattern, and the circuit for matching the path pattern can be simplified.

【0045】さらに請求項3記載の発明によれば、空き
タイムスロットと用いてパスパタン対を挿入するように
しているので、監視対象回路が運用中であっても効率的
に監視を行うことができる。
Further, according to the third aspect of the present invention, since the path pattern pair is inserted using the vacant time slot, monitoring can be efficiently performed even when the monitored circuit is in operation. .

【0046】また請求項4記載の発明によれば、メモリ
回路に対するパスパタン対として一方が他方の反転され
たビットパタンを挿入するようにしているので、出力パ
スパタン対に対しては排他的論理和回路という単純な回
路構成でメモリ回路の監視を行うことができるようにな
る。そして、従来のパスパタン期待値を比較するための
大容量のメモリ回路や期待値比較回路を不要とし、各デ
ータ信号に対してパスパタン照合を行う必要がなくなる
ので、大幅に回路規模を削減することができるととも
に、信号線が増加しても回路規模の増大を抑えることが
できる。
According to the fourth aspect of the present invention, one of the paired path patterns for the memory circuit inserts an inverted bit pattern of the other, so that an exclusive OR circuit is provided for the output path pattern pair. With this simple circuit configuration, the monitoring of the memory circuit can be performed. In addition, since a large-capacity memory circuit and an expected value comparing circuit for comparing the expected value of the conventional pass pattern are not required, and it is not necessary to perform the pass pattern matching for each data signal, the circuit scale can be significantly reduced. In addition to this, even if the number of signal lines increases, an increase in circuit scale can be suppressed.

【0047】また請求項5記載の発明によれば、セレク
タ回路に対するパスパタン対として一方が他方の補数と
なるビットパタンを挿入するようにしているので、出力
パスパタン対に対しては加算回路という単純な回路構成
でセレクタ回路の監視を行うことができるようにな
る。、従来のパスパタン期待値を比較するための大容量
のメモリ回路や期待値比較回路を不要とし、各データ信
号に対してパスパタン照合を行う必要がなくなるので、
大幅に回路規模を削減することができるとともに、信号
線が増加しても回路規模の増大を抑えることができる。
According to the fifth aspect of the present invention, since a bit pattern, one of which is the complement of the other, is inserted as a pair of path patterns for the selector circuit, a simple addition circuit such as an adder circuit is provided for the pair of output path patterns. Monitoring of the selector circuit can be performed with a circuit configuration. This eliminates the need for conventional large-capacity memory circuits and expected value comparison circuits for comparing expected pass pattern values, and eliminates the need to perform pass pattern matching on each data signal.
The circuit scale can be greatly reduced, and the increase in the circuit scale can be suppressed even when the number of signal lines increases.

【0048】さらに請求項6記載の発明によれば、入力
データ信号数が奇数本のときにはダミー信号線を加える
ことによって偶数本として扱うことで、種々の監視対象
回路に対しても、効率的で低コストで実現できるパスパ
タン監視回路を提供することができるようになる。
Further, according to the present invention, when the number of input data signals is an odd number, the number of input data signals is treated as an even number by adding a dummy signal line. A path pattern monitoring circuit that can be realized at low cost can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例におけるパスパタン監視
回路の構成の概要を示す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram illustrating an outline of a configuration of a path pattern monitoring circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施例におけるパタン検出回路
の構成の概要を示す構成図である。
FIG. 2 is a configuration diagram illustrating an outline of a configuration of a pattern detection circuit according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1の実施例における動作を説明する
ためのタイミングチャートである。
FIG. 3 is a timing chart for explaining an operation in the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第2の実施例におけるパスパタン監視
回路の構成の概要を示す構成図である。
FIG. 4 is a configuration diagram illustrating an outline of a configuration of a path pattern monitoring circuit according to a second embodiment of the present invention;

【図5】本発明の第2の実施例におけるパタン検出回路
の構成の概要を示す構成図である。
FIG. 5 is a configuration diagram illustrating an outline of a configuration of a pattern detection circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図6】従来提案されたパスパタン監視回路の構成の概
要を示す構成図である。
FIG. 6 is a configuration diagram showing an outline of a configuration of a conventionally proposed path pattern monitoring circuit.

【図7】従来のパスパタン監視回路の動作を説明するた
めのタイミングチャートである。
FIG. 7 is a timing chart for explaining an operation of a conventional path pattern monitoring circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

301〜30N、501〜50N 入力データ信号 311〜31N、511〜51N 出力データ信号 32 メモリ 33、44、53 パスパタン挿入指示信号 34、54 パスパタン挿入部 35、47、55 パスパタン検出指示信号 36、56 検出結果出力信号 37、57 パスパタン検出部 381〜38M、391〜39M、581〜58M、591
59M パスパタン 401〜40M EXOR回路 41 AND回路 42 フレームパルス 43 空きタイムスロット 45 出力パスパタン 46 遅延時間 52 セレクタ 60 演算回路 61 NOR回路
30 1 to 30 N , 50 1 to 50 N input data signals 31 1 to 31 N , 51 1 to 51 N output data signals 32 memories 33, 44, 53 pass pattern insertion instruction signals 34, 54 pass pattern insertion units 35, 47, 55 Pass pattern detection instruction signal 36, 56 Detection result output signal 37, 57 Pass pattern detection section 38 1 to 38 M , 39 1 to 39 M , 58 1 to 58 M , 59 1 to
59 M path pattern 40 1 to 40 M EXOR circuit 41 AND circuit 42 Frame pulse 43 Empty time slot 45 Output path pattern 46 Delay time 52 Selector 60 Arithmetic circuit 61 NOR circuit

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数本の入力データ信号に応じてこれら
と同数本の出力データ信号を出力する監視対象回路と、 この監視対象回路に入力される複数本の入力データ信号
それぞれに、これら入力データ信号を2本1組の対とし
て各対にはそれぞれ一方が他方の反転されたビットパタ
ンを入力パタンとして挿入するパタン挿入手段と、 このパタン挿入手段によって挿入された入力パタンに対
応して前記監視対象回路から出力された出力パタンを検
出するパタン検出手段と、 このパタン検出手段によって検出された所定の出力パタ
ンに基づいて前記監視対象回路を監視する監視手段とを
具備することを特徴とするパスパタン監視回路。
1. A monitored circuit that outputs the same number of output data signals in response to a plurality of input data signals, and a plurality of input data signals input to the monitored circuit. Pattern insertion means for inserting a signal as an input pattern, one of each being a pair of signals as one pair, and the monitoring means corresponding to the input pattern inserted by the pattern insertion means. A path pattern comprising: pattern detection means for detecting an output pattern output from a target circuit; and monitoring means for monitoring the monitoring target circuit based on a predetermined output pattern detected by the pattern detection means. Monitoring circuit.
【請求項2】 前記パタン挿入手段は、前記監視対象回
路に入力される複数本の入力データ信号それぞれに、こ
れら入力データ信号を2本1組の対として各対にはそれ
ぞれ一方が他方の補数となるビットパタンを入力パタン
として挿入することを特徴とする請求項1記載のパスパ
タン監視回路。
2. The pattern insertion means, for each of a plurality of input data signals inputted to the circuit to be monitored, sets these input data signals as a pair of two, one of each pair being the complement of the other. 2. The path pattern monitoring circuit according to claim 1, wherein a bit pattern to be inserted is inserted as an input pattern.
【請求項3】 前記パスパタン挿入手段は、入力パタン
を空きタイムスロットに挿入することを特徴とする請求
項1または2記載のパスパタン監視回路。
3. The path pattern monitoring circuit according to claim 1, wherein said path pattern insertion means inserts an input pattern into an empty time slot.
【請求項4】 複数本の入力データ信号に応じてこれら
と同数本の出力データ信号を出力するメモリ回路と、 このメモリ回路に入力される複数本の入力データ信号そ
れぞれに、これら入力データ信号を2本1組の対として
各対には一方が他方の反転されたビットパタンを入力パ
タンとして空きタイムスロットに挿入するパタン挿入手
段と、 このパタン挿入手段によって挿入された入力パタンに対
応して前記メモリ回路から出力された出力パタンを抽出
するパタン抽出手段と、 前記パタン挿入手段によって挿入された入力パタンの対
に対応してこのパタン抽出手段によって抽出された出力
パタンの互いのビットの排他的論理和を全ての対につい
てそれぞれ演算する演算手段と、 演算手段によって演算された各対の演算結果のうち少な
くとも1つが「0」であるとき前記メモリ回路の異常を
検出する異常検出手段とを具備することを特徴とするパ
スパタン監視回路。
4. A memory circuit for outputting the same number of output data signals in response to a plurality of input data signals, and applying the input data signals to the plurality of input data signals input to the memory circuit. Pattern insertion means for inserting the inverted bit pattern of each pair as an input pattern into a vacant time slot as a pair of two, and corresponding to the input pattern inserted by the pattern insertion means. A pattern extraction unit for extracting an output pattern output from the memory circuit; and an exclusive logic of mutual bits of an output pattern extracted by the pattern extraction unit corresponding to a pair of input patterns inserted by the pattern insertion unit. Calculating means for calculating the sum of all pairs, at least one of the calculation results of each pair calculated by the calculating means Pasupatan monitoring circuit but which is characterized by comprising an abnormality detector for detecting an abnormality of the memory circuit when "0".
【請求項5】 複数本の入力データ信号に応じてこれら
と同数本の出力データ信号を出力するセレクタ回路と、 このセレクタ回路に入力される複数本の入力データ信号
それぞれに、これら入力データ信号を2本1組の対とし
て各対には一方が他方の補数であるビットパタンを入力
パタンとして空きタイムスロットに挿入するパタン挿入
手段と、 このパタン挿入手段によって挿入された入力パタンに対
応して前記セレクタ回路から出力された出力パタンを抽
出するパタン抽出手段と、 前記パタン挿入手段によって挿入された入力パタンの対
に対応してこのパタン抽出手段によって抽出された出力
パタンの互いのビットの和を全ての対についてそれぞれ
演算する演算手段と、 演算手段によって演算された各対の演算結果のうち少な
くとも1つが「1」であるとき前記メモリ回路の異常を
検出する異常検出手段とを具備することを特徴とするパ
スパタン監視回路。
5. A selector circuit for outputting the same number of output data signals in response to a plurality of input data signals, and a plurality of input data signals input to the selector circuit. A pattern insertion unit for inserting a bit pattern, one of which is the complement of the other, as an input pattern into an empty time slot as a pair of two pairs, and corresponding to the input pattern inserted by the pattern insertion unit; A pattern extraction unit for extracting an output pattern output from the selector circuit; and a sum of bits of the output pattern extracted by the pattern extraction unit corresponding to a pair of the input pattern inserted by the pattern insertion unit. And at least one of the calculation results of each pair calculated by the calculation means is Pasupatan monitoring circuit, characterized by comprising abnormality detecting means for detecting an abnormality of the memory circuit when a 1 ".
【請求項6】 前記入力データ信号が奇数本のときに
は、ダミー信号線を加えて偶数本とすることを特徴とす
る請求項1〜5記載のパスパタン監視回路。
6. The path pattern monitoring circuit according to claim 1, wherein when the number of input data signals is odd, an even number is added by adding a dummy signal line.
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