JPH11242935A - プラズマ情報表示素子 - Google Patents
プラズマ情報表示素子Info
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- JPH11242935A JPH11242935A JP34291298A JP34291298A JPH11242935A JP H11242935 A JPH11242935 A JP H11242935A JP 34291298 A JP34291298 A JP 34291298A JP 34291298 A JP34291298 A JP 34291298A JP H11242935 A JPH11242935 A JP H11242935A
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- Japan
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- plasma
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- electrode
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 プラズマ室13に形成されるアノード9A及
びカソード9Cを、プラズマ放電に対して腐食されにく
い構造とし、かつプラズマ室13内に有毒なHgガスを
導入する必要の無いプラズマアドレス情報表示素子を提
供する。 【解決手段】 プラズマ室13に形成されるアノード9
A及びカソード9CとしてAl合金を用いることによっ
て、プラズマ放電に対して腐食されにくい構造とする。
前記Al合金としては、AlにNi、Co、Cu、C
r、Ag、Au等の高融点金属のうちの一つ又は複数を
添加したものを用いることができる。
びカソード9Cを、プラズマ放電に対して腐食されにく
い構造とし、かつプラズマ室13内に有毒なHgガスを
導入する必要の無いプラズマアドレス情報表示素子を提
供する。 【解決手段】 プラズマ室13に形成されるアノード9
A及びカソード9CとしてAl合金を用いることによっ
て、プラズマ放電に対して腐食されにくい構造とする。
前記Al合金としては、AlにNi、Co、Cu、C
r、Ag、Au等の高融点金属のうちの一つ又は複数を
添加したものを用いることができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、大型平面ディスプ
レイとして好適に用いられるプラズマ情報表示素子に関
するものである。
レイとして好適に用いられるプラズマ情報表示素子に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】平面ディスプレイに代表される情報表示
素子の開発は、小型化、単色化、2値表示化の初期段階
を既に脱し、大型化、カラー化、中間調表示や動画表示
などに進展して年毎に性能の向上が図られている。
素子の開発は、小型化、単色化、2値表示化の初期段階
を既に脱し、大型化、カラー化、中間調表示や動画表示
などに進展して年毎に性能の向上が図られている。
【0003】ここで、プラズマアドレス情報表示素子の
一つとしてプラズマアドレス液晶素子の構造、製造方法
及びその動作原理について、図11乃至図14を用いて
簡単に説明すると以下の通りである。
一つとしてプラズマアドレス液晶素子の構造、製造方法
及びその動作原理について、図11乃至図14を用いて
簡単に説明すると以下の通りである。
【0004】プラズマアドレス液晶素子は、図11に示
すようにカラーフィルタ基板31とプラズマアドレス基
板32との間に液晶材料26が注入され、さらにプラズ
マアドレス基板32の背面にバックライト30が組み合
わされた構造となっている。
すようにカラーフィルタ基板31とプラズマアドレス基
板32との間に液晶材料26が注入され、さらにプラズ
マアドレス基板32の背面にバックライト30が組み合
わされた構造となっている。
【0005】カラーフィルタ基板31は、透光性基板2
2aの一方表面に、カラーフィルタ23、ストライプ状
の透明電極24、配向膜25aが順次積層され、他方表
面には偏光板21aが設けられた構成となっている。ま
た、プラズマアドレス基板32は、透光性基板22bの
一方表面に、ストライプ状の電極29(アノード29A
とカソード29C)及び隔壁28が形成され、隔壁28
を介して透明薄板基板27が貼合わされていると共に、
この透明薄板基板27の表面に配向膜25bが形成さ
れ、さらに透光性基板22bの他方表面には偏光板21
bが設けられた構成となっている。
2aの一方表面に、カラーフィルタ23、ストライプ状
の透明電極24、配向膜25aが順次積層され、他方表
面には偏光板21aが設けられた構成となっている。ま
た、プラズマアドレス基板32は、透光性基板22bの
一方表面に、ストライプ状の電極29(アノード29A
とカソード29C)及び隔壁28が形成され、隔壁28
を介して透明薄板基板27が貼合わされていると共に、
この透明薄板基板27の表面に配向膜25bが形成さ
れ、さらに透光性基板22bの他方表面には偏光板21
bが設けられた構成となっている。
【0006】プラズマアドレス基板32における透光性
基板22b、隔壁28及び透明薄板基板27で囲まれた
空間がプラズマ室33であり、ここにはHe、Ne、A
r、Xe等の単体或は混合物の不活性ガスが10〜10
4Pa、好ましくは102〜5×103Paのガス圧で封
入されている。また、各プラズマ室33には、それぞれ
アノード29A及びカソード29Cが1本ずつ配置され
ている。
基板22b、隔壁28及び透明薄板基板27で囲まれた
空間がプラズマ室33であり、ここにはHe、Ne、A
r、Xe等の単体或は混合物の不活性ガスが10〜10
4Pa、好ましくは102〜5×103Paのガス圧で封
入されている。また、各プラズマ室33には、それぞれ
アノード29A及びカソード29Cが1本ずつ配置され
ている。
【0007】なお、カラーフィルタ基板31とプラズマ
アドレス基板32とは、ストライプ状の透明電極24と
ストライプ状のプラズマ室33とが直交するように貼合
わされ、前記透明電極24とプラズマ室33との交差部
によって画素が規定されている。
アドレス基板32とは、ストライプ状の透明電極24と
ストライプ状のプラズマ室33とが直交するように貼合
わされ、前記透明電極24とプラズマ室33との交差部
によって画素が規定されている。
【0008】このように構成されるプラズマアドレス液
晶素子において、情報の書き込み及び保持を行う様子を
図12、図13を用いて説明する。なお、図12、図1
3においては透光性基板22b、透明電極24、透明薄
板基板27、隔壁28、アノード29A、カソード29
C、及びプラズマ室33のみを示しており、その他の部
材は省略している。
晶素子において、情報の書き込み及び保持を行う様子を
図12、図13を用いて説明する。なお、図12、図1
3においては透光性基板22b、透明電極24、透明薄
板基板27、隔壁28、アノード29A、カソード29
C、及びプラズマ室33のみを示しており、その他の部
材は省略している。
【0009】まず、図12(a)に示すように、アノー
ド29Aとカソード29Cとの間に100V〜500V
の電圧を印加、すなわちカソード29Cに電圧Ecを印
加して放電を起こす。図12においては、マイナス帯電
している粒子を黒丸(●)、プラス帯電している粒子を
白丸(○)で示している。
ド29Aとカソード29Cとの間に100V〜500V
の電圧を印加、すなわちカソード29Cに電圧Ecを印
加して放電を起こす。図12においては、マイナス帯電
している粒子を黒丸(●)、プラス帯電している粒子を
白丸(○)で示している。
【0010】次に、図12(b)に示すように、透明電
極24に+50V〜+100Vの電圧Edを印加するこ
とにより情報を書き込み、続いて図12(c)に示すよ
うに放電を止めて透明薄板基板27界面をマイナスに帯
電させることにより情報の保持を行う。
極24に+50V〜+100Vの電圧Edを印加するこ
とにより情報を書き込み、続いて図12(c)に示すよ
うに放電を止めて透明薄板基板27界面をマイナスに帯
電させることにより情報の保持を行う。
【0011】逆に、プラスに帯電させたい場合には、図
13(d)、(e)及び(f)に示すように行う。つま
り、図13(d)に示すようにアノード29Aとカソー
ド29Cとの間に100V〜500Vの電圧を印加、す
なわちカソード29Cに電圧Ecを印加して放電を起こ
す。次に、図13(e)に示すように透明電極24に、
−50V〜−100Vの電圧Edを印加することにより
情報を書き込み、続いて図13(f)に示すように放電
を止めて透明薄板基板27界面をプラスに帯電させるこ
とにより情報の保持を行う。
13(d)、(e)及び(f)に示すように行う。つま
り、図13(d)に示すようにアノード29Aとカソー
ド29Cとの間に100V〜500Vの電圧を印加、す
なわちカソード29Cに電圧Ecを印加して放電を起こ
す。次に、図13(e)に示すように透明電極24に、
−50V〜−100Vの電圧Edを印加することにより
情報を書き込み、続いて図13(f)に示すように放電
を止めて透明薄板基板27界面をプラスに帯電させるこ
とにより情報の保持を行う。
【0012】図14(a)は上記電圧Ecの時間的変化
を、図14(b)は上記電圧Edの時間的変化を示して
いる。図14中の期間を示すa、b、cはそれぞれ図1
2(a)、(b)、(c)に対応し、同じくd、e、f
はそれぞれ図13の(d)、(e)、(f)に対応した
ものである。
を、図14(b)は上記電圧Edの時間的変化を示して
いる。図14中の期間を示すa、b、cはそれぞれ図1
2(a)、(b)、(c)に対応し、同じくd、e、f
はそれぞれ図13の(d)、(e)、(f)に対応した
ものである。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来はアノ
ード29Aやカソード29Cとして主にNiが用いられ
てきた。これは、電極としてNiを用いれば高い放電効
率が得られるためである。
ード29Aやカソード29Cとして主にNiが用いられ
てきた。これは、電極としてNiを用いれば高い放電効
率が得られるためである。
【0014】しかしながら、電極線としてNiを用いた
場合には、プラズマ放電によって電極線が腐食してしま
い、電極線自体が透明薄板基板7上にスパッタされてし
まうので、これを防ぐためにプラズマ室内に不活性ガス
と共にHgガスを導入する必要があった。このため、前
記プラズマ室内へのHgガスの導入工程が必要となり、
プロセスの複雑化、コストの上昇を招くばかりでなく、
毒性の強いHgに対する環境対策を講じる必要が有ると
いう問題点が有った。
場合には、プラズマ放電によって電極線が腐食してしま
い、電極線自体が透明薄板基板7上にスパッタされてし
まうので、これを防ぐためにプラズマ室内に不活性ガス
と共にHgガスを導入する必要があった。このため、前
記プラズマ室内へのHgガスの導入工程が必要となり、
プロセスの複雑化、コストの上昇を招くばかりでなく、
毒性の強いHgに対する環境対策を講じる必要が有ると
いう問題点が有った。
【0015】本発明はこのような問題点に鑑みてなされ
たものであり、放電効率を落とすこと無く、かつHgの
導入を不要とするプラズマアドレス情報表示素子を提供
するものである。
たものであり、放電効率を落とすこと無く、かつHgの
導入を不要とするプラズマアドレス情報表示素子を提供
するものである。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
プラズマ情報表示素子は、1対の基板間に電極及び絶縁
体からなる隔壁とが多数形成され、前記基板間の隔壁で
囲まれた領域に不活性ガスが封入されたプラズマ室を有
するプラズマ情報表示素子において、前記電極としてA
l合金を用いることを特徴とする。
プラズマ情報表示素子は、1対の基板間に電極及び絶縁
体からなる隔壁とが多数形成され、前記基板間の隔壁で
囲まれた領域に不活性ガスが封入されたプラズマ室を有
するプラズマ情報表示素子において、前記電極としてA
l合金を用いることを特徴とする。
【0017】本発明の請求項2記載のプラズマ情報表示
素子は、前記電極として用いるAl合金は、Alに少な
くともNi、Co、Cu、Cr、Ag、Auのうちの一
つ又は複数が含まれていることを特徴とする。
素子は、前記電極として用いるAl合金は、Alに少な
くともNi、Co、Cu、Cr、Ag、Auのうちの一
つ又は複数が含まれていることを特徴とする。
【0018】本発明の請求項3記載のプラズマ情報表示
素子は、基板上に電極線及び絶縁体からなる隔壁が形成
され、隔壁上に基板が形成され、基板間に不活性ガスが
封入されたプラズマ部を有し、前記電極線が金属材料表
面に透明電極が形成された構成であることを特徴とす
る。
素子は、基板上に電極線及び絶縁体からなる隔壁が形成
され、隔壁上に基板が形成され、基板間に不活性ガスが
封入されたプラズマ部を有し、前記電極線が金属材料表
面に透明電極が形成された構成であることを特徴とす
る。
【0019】本発明の請求項4記載のプラズマ情報表示
素子は、前記透明電極は、前記電極線の金属材料の露出
部全てをカバーするように形成されていることを特徴と
する。
素子は、前記透明電極は、前記電極線の金属材料の露出
部全てをカバーするように形成されていることを特徴と
する。
【0020】本発明の請求項5記載のプラズマ情報表示
素子は、上記透明電極がIn2O3、SnO2、MgO等
の少なくとも一つからなることを特徴とする。
素子は、上記透明電極がIn2O3、SnO2、MgO等
の少なくとも一つからなることを特徴とする。
【0021】以下、上記構成による作用について説明す
る。本発明のプラズマ情報表示素子においては、前記電
極としてプラズマ放電によって腐食されにくく、且つ電
気抵抗の低いAlを含んだAl合金を用いることによっ
て、従来のようにプラズマ室内にHgガスを導入する必
要が無くなり、プロセスの複雑化、コストの上昇を招く
ことが無く、かつHgに対する環境対策を講じる必要も
無くなる。
る。本発明のプラズマ情報表示素子においては、前記電
極としてプラズマ放電によって腐食されにくく、且つ電
気抵抗の低いAlを含んだAl合金を用いることによっ
て、従来のようにプラズマ室内にHgガスを導入する必
要が無くなり、プロセスの複雑化、コストの上昇を招く
ことが無く、かつHgに対する環境対策を講じる必要も
無くなる。
【0022】前記電極として用いるAl合金としては、
AlにNi、Co、Cu、Cr、Ag、Auのうちの一
つ又は複数が添加されたものを用いることができる。
AlにNi、Co、Cu、Cr、Ag、Auのうちの一
つ又は複数が添加されたものを用いることができる。
【0023】請求項3に記載のプラズマ情報表示素子に
おいては、電極線の金属材料の表面に透明電極が形成さ
れているため、プラズマによって電極線がエッチングさ
れても表示素子の透過率の低下を抑えることができる。
おいては、電極線の金属材料の表面に透明電極が形成さ
れているため、プラズマによって電極線がエッチングさ
れても表示素子の透過率の低下を抑えることができる。
【0024】請求項4に記載のプラズマ情報表示素子に
おいては、電極線の金属材料の露出面の全面に透明電極
が形成されているため、金属材料がプラズマ室に接する
ことがないので、プラズマによる金属材料のエッチング
が発生しないので、表示素子の透過率の低下を抑えるこ
とができる。
おいては、電極線の金属材料の露出面の全面に透明電極
が形成されているため、金属材料がプラズマ室に接する
ことがないので、プラズマによる金属材料のエッチング
が発生しないので、表示素子の透過率の低下を抑えるこ
とができる。
【0025】請求項5に記載のプラズマ情報表示素子に
おいては、表示素子の透過率の低下を抑えることができ
る。
おいては、表示素子の透過率の低下を抑えることができ
る。
【0026】
【発明の実施の形態】(実施の形態1)以下、本発明の
プラズマアドレス情報表示素子について、図1乃至図1
2に基づいて説明する。図1は本発明のプラズマアドレ
ス情報表示素子を示す断面図である。本発明のプラズマ
アドレス情報表示素子は、図1に示されるように、カラ
ーフィルタ基板11と、プラズマアドレス基板12との
間に液晶材料6が注入され、更にプラズマアドレス基板
12側にバックライト10が組み合わされた構造となっ
ている。
プラズマアドレス情報表示素子について、図1乃至図1
2に基づいて説明する。図1は本発明のプラズマアドレ
ス情報表示素子を示す断面図である。本発明のプラズマ
アドレス情報表示素子は、図1に示されるように、カラ
ーフィルタ基板11と、プラズマアドレス基板12との
間に液晶材料6が注入され、更にプラズマアドレス基板
12側にバックライト10が組み合わされた構造となっ
ている。
【0027】カラーフィルタ基板11は、板厚0.5m
m〜2.0mmのガラスからなる透光性基板2aの一方
表面に、カラーフィルタ3、ITO、SnO2等からな
るストライプ状の透明電極4、配向膜5aが順次積層さ
れ、他方表面には偏光板1aが設けられた構成となって
いる。
m〜2.0mmのガラスからなる透光性基板2aの一方
表面に、カラーフィルタ3、ITO、SnO2等からな
るストライプ状の透明電極4、配向膜5aが順次積層さ
れ、他方表面には偏光板1aが設けられた構成となって
いる。
【0028】一方、プラズマアドレス基板12は、板厚
0.5mm〜3.0mmのガラスからなる透光性基板2
bの一方表面にAl合金からなるストライプ状の電極9
(アノード9Aとカソード9C)及びSiO2等からな
るストライプ状の隔壁8が形成され、隔壁8を介して板
厚10μm〜100μmのガラスからなる透明薄板基板
7が貼合わされていると共に、この透明薄板基板7の表
面に高分子膜からなる配向膜5bが形成され、さらに透
光性基板2bの他方表面には偏光板1bが設けられた構
成となっている。
0.5mm〜3.0mmのガラスからなる透光性基板2
bの一方表面にAl合金からなるストライプ状の電極9
(アノード9Aとカソード9C)及びSiO2等からな
るストライプ状の隔壁8が形成され、隔壁8を介して板
厚10μm〜100μmのガラスからなる透明薄板基板
7が貼合わされていると共に、この透明薄板基板7の表
面に高分子膜からなる配向膜5bが形成され、さらに透
光性基板2bの他方表面には偏光板1bが設けられた構
成となっている。
【0029】本実施形態では、隔壁8の幅及びピッチは
それぞれ100μm、800μmとし、電極9(アノー
ド9A及びカソード9C)の幅は150μmとして形成
した。また、電極9としてAlにNiを添加させたAl
合金を用いた。なお、透光性基板2bと電極9との密着
性を向上させるために、電極9の形成前に透光性基板2
b上にSiO2等からなる下地膜を形成しても良い。
それぞれ100μm、800μmとし、電極9(アノー
ド9A及びカソード9C)の幅は150μmとして形成
した。また、電極9としてAlにNiを添加させたAl
合金を用いた。なお、透光性基板2bと電極9との密着
性を向上させるために、電極9の形成前に透光性基板2
b上にSiO2等からなる下地膜を形成しても良い。
【0030】プラズマアドレス基板12における透光性
基板2b、隔壁8及び透明薄板基板7で囲まれた空間が
プラズマ室13であり、ここにはHe、Ne、Ar、X
e等の単体或は混合物の不活性ガスが10〜104P
a、好ましくは102〜5×103Paのガス圧で封入さ
れており、各プラズマ室13には、それぞれAl合金か
らなるアノード9A及びカソード9Cが1本ずつ配置さ
れている。
基板2b、隔壁8及び透明薄板基板7で囲まれた空間が
プラズマ室13であり、ここにはHe、Ne、Ar、X
e等の単体或は混合物の不活性ガスが10〜104P
a、好ましくは102〜5×103Paのガス圧で封入さ
れており、各プラズマ室13には、それぞれAl合金か
らなるアノード9A及びカソード9Cが1本ずつ配置さ
れている。
【0031】なお、カラーフィルタ基板11とプラズマ
アドレス基板12とは、ストライプ状の透明電極4とス
トライプ状のプラズマ室13とが直交するように貼合わ
され、前記透明電極4とプラズマ室13との交差部によ
って画素が規定されている。
アドレス基板12とは、ストライプ状の透明電極4とス
トライプ状のプラズマ室13とが直交するように貼合わ
され、前記透明電極4とプラズマ室13との交差部によ
って画素が規定されている。
【0032】本実施形態では、プラズマ室13内に不活
性ガスとしてXeガスを3×103Paのガス圧で封入
した。また、アノード9A及びカソード9CとしてNi
を添加したAl合金を用いた。このように、アノード9
A及びカソード9CとしてAl合金を用いているので、
プラズマ放電によってこれらの電極が腐食してしまうこ
とが無いので、プラズマ室13内にHgガスは導入され
ていない。
性ガスとしてXeガスを3×103Paのガス圧で封入
した。また、アノード9A及びカソード9CとしてNi
を添加したAl合金を用いた。このように、アノード9
A及びカソード9CとしてAl合金を用いているので、
プラズマ放電によってこれらの電極が腐食してしまうこ
とが無いので、プラズマ室13内にHgガスは導入され
ていない。
【0033】このように構成される本実施形態のプラズ
マアドレス情報表示素子において、情報の書き込み及び
保持を行う様子を図2、図3を用いて説明する。なお、
図2、図3においては透光性基板2b、透明電極4、透
明薄板基板7、隔壁8、アノード9A、カソード9C、
及びプラズマ室13のみを示しており、その他の部材は
省略している。
マアドレス情報表示素子において、情報の書き込み及び
保持を行う様子を図2、図3を用いて説明する。なお、
図2、図3においては透光性基板2b、透明電極4、透
明薄板基板7、隔壁8、アノード9A、カソード9C、
及びプラズマ室13のみを示しており、その他の部材は
省略している。
【0034】まず、図2(a)に示すように、アノード
9Aとカソード9Cとの間に、300V〜450Vの電
圧を印加、すなわちカソード9Cに−300V〜−45
0Vの電圧Ecを印加し放電を起こす。図3において
は、マイナス帯電している粒子を黒丸(●)、プラス帯
電している粒子を白丸(○)で示している。
9Aとカソード9Cとの間に、300V〜450Vの電
圧を印加、すなわちカソード9Cに−300V〜−45
0Vの電圧Ecを印加し放電を起こす。図3において
は、マイナス帯電している粒子を黒丸(●)、プラス帯
電している粒子を白丸(○)で示している。
【0035】次に、図2(b)に示すように、透明電極
4に+50V〜+100Vの電圧Edを印加することに
より情報を書き込み、続いて、図2(c)に示すように
放電を止める。これにより、透明薄板基板7界面をマイ
ナスに帯電させて情報の保持を行う。
4に+50V〜+100Vの電圧Edを印加することに
より情報を書き込み、続いて、図2(c)に示すように
放電を止める。これにより、透明薄板基板7界面をマイ
ナスに帯電させて情報の保持を行う。
【0036】逆に、プラスに帯電させたい場合には、図
3(d)、(e)、(f)に示すように行う。すなわ
ち、図3(d)に示すように、アノード9Aとカソード
9Cとの間に、300V〜450Vの電圧を印加、すな
わちカソード9Cに−300V〜−450Vの電圧Ec
を印加し放電を起こす。次に、図3(e)に示すよう
に、透明電極4に−50V〜−100Vの電圧Edを印
加することにより情報を書き込み、続いて、図3(f)
に示すように放電を止める。これにより、透明薄板基板
7界面をプラスに帯電させて情報の保持を行う。
3(d)、(e)、(f)に示すように行う。すなわ
ち、図3(d)に示すように、アノード9Aとカソード
9Cとの間に、300V〜450Vの電圧を印加、すな
わちカソード9Cに−300V〜−450Vの電圧Ec
を印加し放電を起こす。次に、図3(e)に示すよう
に、透明電極4に−50V〜−100Vの電圧Edを印
加することにより情報を書き込み、続いて、図3(f)
に示すように放電を止める。これにより、透明薄板基板
7界面をプラスに帯電させて情報の保持を行う。
【0037】ここで、本発明のプラズマアドレス情報表
示素子においては、電極9(アノード9A及びカソード
9C)がAl合金からなっているので、図2(a)及び
図3(d)においてプラズマ放電による電極9の腐食を
抑えることができ、プラズマ室13内にHgガスを導入
する必要が無くなる。また、電極9としてAl合金を用
いた場合は、従来のようにNiを用いた場合に比べて放
電が不安定となり、放電効率が低下することが考えられ
る。このため、Al合金としてAlにNiを添加させた
ものを用いれば、図4に示すAl−Niの状態図から分
かるように、Al合金の融点が高くなるので放電を安定
化させることが可能となり、放電効率の低下を抑えるこ
とができる。
示素子においては、電極9(アノード9A及びカソード
9C)がAl合金からなっているので、図2(a)及び
図3(d)においてプラズマ放電による電極9の腐食を
抑えることができ、プラズマ室13内にHgガスを導入
する必要が無くなる。また、電極9としてAl合金を用
いた場合は、従来のようにNiを用いた場合に比べて放
電が不安定となり、放電効率が低下することが考えられ
る。このため、Al合金としてAlにNiを添加させた
ものを用いれば、図4に示すAl−Niの状態図から分
かるように、Al合金の融点が高くなるので放電を安定
化させることが可能となり、放電効率の低下を抑えるこ
とができる。
【0038】また、本発明のプラズマアドレス情報表示
素子において、電極9に含まれるAlとNiとの混合比
を変化させたときの、操作時間と透過率との関係を図5
に示す。また、比較としてプラズマ室13にHgガスを
導入し、電極9としてNi単体を用いた従来の構成の場
合も示す。図5から明らかなように、10000時間経
過しても、従来とほぼ同等の透過率特性が得られること
が分かる。
素子において、電極9に含まれるAlとNiとの混合比
を変化させたときの、操作時間と透過率との関係を図5
に示す。また、比較としてプラズマ室13にHgガスを
導入し、電極9としてNi単体を用いた従来の構成の場
合も示す。図5から明らかなように、10000時間経
過しても、従来とほぼ同等の透過率特性が得られること
が分かる。
【0039】なお、上述した実施形態においては、Al
合金としてAlにNiを添加したものを用いたが、Ni
以外にもCo、Cu、Cr、Ag、Au等の高融点金属
を添加したものであっても良い。図6乃至図10にAl
−Co、Al−Cu、Al−Cr、Al−Ag、Al−
Auの状態図を示す。また、Niを含むこれらの高融点
金属を複数Alに添加したものを用いても良い。
合金としてAlにNiを添加したものを用いたが、Ni
以外にもCo、Cu、Cr、Ag、Au等の高融点金属
を添加したものであっても良い。図6乃至図10にAl
−Co、Al−Cu、Al−Cr、Al−Ag、Al−
Auの状態図を示す。また、Niを含むこれらの高融点
金属を複数Alに添加したものを用いても良い。
【0040】(実施の形態2)実施の形態2のプラズマ
アドレス情報表示素子について、図15に基づいて説明
する。図1と同様の構成には同一符号を付している。実
施の形態2では、アノード9Aとカソード9Cは、Ni
電極上に透明電極材料であるITO14が形成されてい
る点が図1の構成と相違している。
アドレス情報表示素子について、図15に基づいて説明
する。図1と同様の構成には同一符号を付している。実
施の形態2では、アノード9Aとカソード9Cは、Ni
電極上に透明電極材料であるITO14が形成されてい
る点が図1の構成と相違している。
【0041】次に、図16を用いて、Ni上にITOが
形成されたアノード9Aとカソード9Cの形成方法を説
明する。図16(a)に示すように、透光性基板2b上
にNi9を印刷法、スパッタリング法等により形成し、
さらにITO14をスパッタリング法、イオンプレーテ
ィング法等により形成する。その後、フォトレジスト1
5をスピンコート法、ロールコーティング法等により均
一な厚さになるよう塗布する。
形成されたアノード9Aとカソード9Cの形成方法を説
明する。図16(a)に示すように、透光性基板2b上
にNi9を印刷法、スパッタリング法等により形成し、
さらにITO14をスパッタリング法、イオンプレーテ
ィング法等により形成する。その後、フォトレジスト1
5をスピンコート法、ロールコーティング法等により均
一な厚さになるよう塗布する。
【0042】次に、図16(b)示すように、部分的に
光を遮蔽するマスク16を用い、フォトレジスト15が
感光する波長のUV光17を照射する。図16(c)に
示すように、フォトレジスト15の現像及び剥離を行
い、アノード9a及びカソード9cが形成される場所の
フォトレジスト15を残し、図16(d)に示すよう
に、フォトレジスト15をマスクとしてエッチングによ
りアノード9a及びカソード9cを形成し、残ったフォ
トレジスト15をアッシングし除去する。
光を遮蔽するマスク16を用い、フォトレジスト15が
感光する波長のUV光17を照射する。図16(c)に
示すように、フォトレジスト15の現像及び剥離を行
い、アノード9a及びカソード9cが形成される場所の
フォトレジスト15を残し、図16(d)に示すよう
に、フォトレジスト15をマスクとしてエッチングによ
りアノード9a及びカソード9cを形成し、残ったフォ
トレジスト15をアッシングし除去する。
【0043】このようにして作成したITO14がNi
上に形成されたアノード9a及びカソード9cを用いた
プラズマアドレス情報表示素子の操作時間と透過率の関
係を図19に示す。図19には、比較例としてITOを
形成していないNiからなるアノード9a及びカソード
9cを用いたプラズマアドレス情報表示素子の場合も示
している。図19に示す例では、プラズマ室に電極のス
パッタを防ぐためのHgガスは使用していない。
上に形成されたアノード9a及びカソード9cを用いた
プラズマアドレス情報表示素子の操作時間と透過率の関
係を図19に示す。図19には、比較例としてITOを
形成していないNiからなるアノード9a及びカソード
9cを用いたプラズマアドレス情報表示素子の場合も示
している。図19に示す例では、プラズマ室に電極のス
パッタを防ぐためのHgガスは使用していない。
【0044】実施の形態2のITO14の透明電極材料
に代えて、MgOとした場合にもほぼ同じ結果となっ
た。更に、実施の形態2のITO14の透明電極材料に
代えて、In2O3又はSnO2とした場合にもほぼ同じ
結果となった。図19から明らかなように、実施の形態
2と比較例とでは、2000時間経過での透過率の変化
に差がないが、それ以上に操作時間が経過すると比較例
の透過率は低下するが、実施の形態2では透過率の低下
が、比較例に比べて抑えられている。これは、アノード
9a及びカソード9cが放電ガスによりスパッタされる
が、スパッタされたものが透明であるため透過率が減少
しないことが原因と考えられる。アノード9a及びカソ
ード9cの表面に透明電極材料を形成することにより、
不活性ガス中にHgを導入する必要がなくなり、プロセ
スの複雑化によるコストの上昇を抑え、環境対策も不要
となる。
に代えて、MgOとした場合にもほぼ同じ結果となっ
た。更に、実施の形態2のITO14の透明電極材料に
代えて、In2O3又はSnO2とした場合にもほぼ同じ
結果となった。図19から明らかなように、実施の形態
2と比較例とでは、2000時間経過での透過率の変化
に差がないが、それ以上に操作時間が経過すると比較例
の透過率は低下するが、実施の形態2では透過率の低下
が、比較例に比べて抑えられている。これは、アノード
9a及びカソード9cが放電ガスによりスパッタされる
が、スパッタされたものが透明であるため透過率が減少
しないことが原因と考えられる。アノード9a及びカソ
ード9cの表面に透明電極材料を形成することにより、
不活性ガス中にHgを導入する必要がなくなり、プロセ
スの複雑化によるコストの上昇を抑え、環境対策も不要
となる。
【0045】この技術は、プラズマアドレス情報表示素
子のみに適用されるものではなく、電極による放電ガス
により蛍光体を発光させるPDPのようなプラズマ情報
表示素子全てに適用可能である。
子のみに適用されるものではなく、電極による放電ガス
により蛍光体を発光させるPDPのようなプラズマ情報
表示素子全てに適用可能である。
【0046】(実施の形態3)実施の形態3のプラズマ
アドレス情報表示素子について、図17に基づいて説明
する。図1と同様の構成には同一符号を付している。実
施の形態3では、アノード9Aとカソード9Cは、Ni
電極全体をカバーするように透明電極材料であるITO
14が形成されている点が図1の構成と相違している。
アドレス情報表示素子について、図17に基づいて説明
する。図1と同様の構成には同一符号を付している。実
施の形態3では、アノード9Aとカソード9Cは、Ni
電極全体をカバーするように透明電極材料であるITO
14が形成されている点が図1の構成と相違している。
【0047】次に、アノード9Aとカソード9Cである
Ni上にITOが形成された電極線の形成方法を、図1
8を用いて説明する。図18(a)に示すように、透光
性基板2b上にNi9を印刷法、スパッタリング法等に
より形成し、フォトレジスト15をスピンコート法、ロ
ールコーティング法等により均一な厚さになるよう塗布
する。次に部分的に光を遮蔽するマスク16を用い、フ
ォトレジスト15が感光する波長のUV光17を照射す
る。図18(b)に示すようにフォトレジスト15の現
像及び剥離を行い、フォトレジスト15をマスクとして
エッチングを行いNi電極を形成する。図18(c)に
示すように、ITO14をスパッタリング法、イオンプ
レーティング法等により形成し、フォトレジスト18を
スピンコート法、ロールコーティング法等により均一な
厚さになるよう塗布する。Ni電極よりも幅広く光を遮
蔽するマスク19を用いてフォトレジスト18が感光す
る波長のUV光17を照射する。図18(d)に示すよ
うに、フォトレジスト18の現像及び剥離を行い、フォ
トレジスト18をマスクとしてエッチングによりITO
14の電極部分を形成し、残ったフォトレジスト18を
アッシングし除去する。
Ni上にITOが形成された電極線の形成方法を、図1
8を用いて説明する。図18(a)に示すように、透光
性基板2b上にNi9を印刷法、スパッタリング法等に
より形成し、フォトレジスト15をスピンコート法、ロ
ールコーティング法等により均一な厚さになるよう塗布
する。次に部分的に光を遮蔽するマスク16を用い、フ
ォトレジスト15が感光する波長のUV光17を照射す
る。図18(b)に示すようにフォトレジスト15の現
像及び剥離を行い、フォトレジスト15をマスクとして
エッチングを行いNi電極を形成する。図18(c)に
示すように、ITO14をスパッタリング法、イオンプ
レーティング法等により形成し、フォトレジスト18を
スピンコート法、ロールコーティング法等により均一な
厚さになるよう塗布する。Ni電極よりも幅広く光を遮
蔽するマスク19を用いてフォトレジスト18が感光す
る波長のUV光17を照射する。図18(d)に示すよ
うに、フォトレジスト18の現像及び剥離を行い、フォ
トレジスト18をマスクとしてエッチングによりITO
14の電極部分を形成し、残ったフォトレジスト18を
アッシングし除去する。
【0048】アノード9Aとカソード9CにNi電極の
全体をカバーするように形成されたITO14を有する
実施の形態3のプラズマアドレス情報表示素子の操作時
間と透過率の関係を図19に示す。透明電極材料をIT
Oに変えて、MgOとした場合にもほぼ同じ結果となっ
た。更に、実施の形態3のITO14の透明電極材料に
代えて、In2O3又はSnO2とした場合にもほぼ同じ
結果となった。図19から明らかなように、実施の形態
3のプラズマアドレス情報表示素子と比較例とでは、2
000時間経過での透過率の変化に差がないが、更に操
作時間を経過すると、比較例及び、実施の形態2のプラ
ズマアドレス情報表示素子よりも、透過率の低下が抑え
られた。これは、実施の形態3のプラズマアドレス情報
表示素子では、透明電極材料によりNi電極の全体をカ
バーしているためであり、製造プロセスとしては1工程
増えることになるが、性能が向上したことを示す。
全体をカバーするように形成されたITO14を有する
実施の形態3のプラズマアドレス情報表示素子の操作時
間と透過率の関係を図19に示す。透明電極材料をIT
Oに変えて、MgOとした場合にもほぼ同じ結果となっ
た。更に、実施の形態3のITO14の透明電極材料に
代えて、In2O3又はSnO2とした場合にもほぼ同じ
結果となった。図19から明らかなように、実施の形態
3のプラズマアドレス情報表示素子と比較例とでは、2
000時間経過での透過率の変化に差がないが、更に操
作時間を経過すると、比較例及び、実施の形態2のプラ
ズマアドレス情報表示素子よりも、透過率の低下が抑え
られた。これは、実施の形態3のプラズマアドレス情報
表示素子では、透明電極材料によりNi電極の全体をカ
バーしているためであり、製造プロセスとしては1工程
増えることになるが、性能が向上したことを示す。
【0049】(実施の形態4)実施の形態4のプラズマ
情報表示素子について、図20に基づいて説明する。ガ
ラス基板41上に表示電極42を形成する。表示電極4
2は、透明電極と抵抗を下げるための細い金属のバス電
極とで形成される。表示電極42の上には低融点ガラス
からなる誘電体層43が印刷、焼成され、さらにMgO
からなる保護膜44が形成される。一方のガラス基板4
8上にはアドレス電極47と、放電を保ちRGBの混色
を防ぐための隔壁45が印刷、焼成により形成される。
隔壁45は幅約50μm、高さ約100μmで、隔壁間
に蛍光体46が印刷される。2枚のガラス基板の間には
放電により紫外線を発生するXeと主放電ガスのNeを
混合したガスを封入する。
情報表示素子について、図20に基づいて説明する。ガ
ラス基板41上に表示電極42を形成する。表示電極4
2は、透明電極と抵抗を下げるための細い金属のバス電
極とで形成される。表示電極42の上には低融点ガラス
からなる誘電体層43が印刷、焼成され、さらにMgO
からなる保護膜44が形成される。一方のガラス基板4
8上にはアドレス電極47と、放電を保ちRGBの混色
を防ぐための隔壁45が印刷、焼成により形成される。
隔壁45は幅約50μm、高さ約100μmで、隔壁間
に蛍光体46が印刷される。2枚のガラス基板の間には
放電により紫外線を発生するXeと主放電ガスのNeを
混合したガスを封入する。
【0050】蛍光体の発光を利用したプラズマ情報表示
素子では、RGBで1画素を構成するため、隔壁間の距
離は、基本的に実施の形態1に示すプラズマアドレス情
報表示素子の約1/3となる。
素子では、RGBで1画素を構成するため、隔壁間の距
離は、基本的に実施の形態1に示すプラズマアドレス情
報表示素子の約1/3となる。
【0051】プラズマ情報表示素子の作成プロセスのう
ち特に表示電極及びアドレス電極の電極線として、実施
の形態1乃至実施の形態3に用いた電極構造を適用する
ことができる。その場合にも、電極のエッチングによっ
て操作時間が経過するほど表示が暗くなるという問題点
を抑えることができる。
ち特に表示電極及びアドレス電極の電極線として、実施
の形態1乃至実施の形態3に用いた電極構造を適用する
ことができる。その場合にも、電極のエッチングによっ
て操作時間が経過するほど表示が暗くなるという問題点
を抑えることができる。
【0052】実施の形態2及び実施の形態3では、プラ
ズマ室でエッチングが発生する電極材料としてNiを用
いて説明したが、プラズマ室でエッチングが発生して透
過率が低下する材料であれば、他の材料を用いてもよ
い。実施の形態2、3、4では、透明電極の形成方法に
スパッタリング法、イオンプレーティング法を用いてい
るが、これらの微粒子を含む導電性のコーティング材料
をロールコーティングやスピンコーティングにより塗布
してもよい。
ズマ室でエッチングが発生する電極材料としてNiを用
いて説明したが、プラズマ室でエッチングが発生して透
過率が低下する材料であれば、他の材料を用いてもよ
い。実施の形態2、3、4では、透明電極の形成方法に
スパッタリング法、イオンプレーティング法を用いてい
るが、これらの微粒子を含む導電性のコーティング材料
をロールコーティングやスピンコーティングにより塗布
してもよい。
【0053】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のプラズマ
情報表示素子は、プラズマ室の電極としてAl合金を用
いているので、この電極がプラズマ放電によって腐食さ
れることを防止することができる。
情報表示素子は、プラズマ室の電極としてAl合金を用
いているので、この電極がプラズマ放電によって腐食さ
れることを防止することができる。
【0054】したがって、従来のようにプラズマ室内に
不活性ガスと共にHgガスを導入する必要が無くなるた
め、Hgガス導入によるプロセスの複雑化、コストの上
昇を招くことが無く、かつHgに対する環境対策を講じ
る必要をなくすことができるという効果を奏する。
不活性ガスと共にHgガスを導入する必要が無くなるた
め、Hgガス導入によるプロセスの複雑化、コストの上
昇を招くことが無く、かつHgに対する環境対策を講じ
る必要をなくすことができるという効果を奏する。
【0055】また、前記電極として用いるAl合金は、
AlにNi、Co、Cu、Cr、Ag、Au等の高融点
金属のうちの一つ又は複数が添加されたものとすること
によって、Al合金の融点を高くし、放電を安定させる
ことができるという効果を奏する。
AlにNi、Co、Cu、Cr、Ag、Au等の高融点
金属のうちの一つ又は複数が添加されたものとすること
によって、Al合金の融点を高くし、放電を安定させる
ことができるという効果を奏する。
【0056】請求項3に記載のプラズマ情報表示素子に
おいては、電極線の金属材料の表面に透明電極が形成さ
れているため、プラズマによって電極線がエッチングさ
れても表示素子の透過率の低下を抑えることができる。
おいては、電極線の金属材料の表面に透明電極が形成さ
れているため、プラズマによって電極線がエッチングさ
れても表示素子の透過率の低下を抑えることができる。
【0057】請求項4に記載のプラズマ情報表示素子に
おいては、電極線の金属材料の露出面の全面に透明電極
が形成されているため、金属材料がプラズマ室に接する
ことがないので、プラズマによる金属材料のエッチング
が発生しないので、表示素子の透過率の低下を抑えるこ
とができる。
おいては、電極線の金属材料の露出面の全面に透明電極
が形成されているため、金属材料がプラズマ室に接する
ことがないので、プラズマによる金属材料のエッチング
が発生しないので、表示素子の透過率の低下を抑えるこ
とができる。
【0058】請求項5に記載のプラズマ情報表示素子に
おいては、表示素子の透過率の低下を抑えることができ
る。
おいては、表示素子の透過率の低下を抑えることができ
る。
【図1】実施の形態1のプラズマアドレス情報表示素子
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図2】実施の形態1のプラズマアドレス情報表示素子
のプラズマ基板部の動作原理を示す説明図(断面図)で
ある。
のプラズマ基板部の動作原理を示す説明図(断面図)で
ある。
【図3】実施の形態1のプラズマアドレス情報表示素子
のプラズマ基板部の動作原理を示す説明図(断面図)で
ある。
のプラズマ基板部の動作原理を示す説明図(断面図)で
ある。
【図4】Al−Niの状態図である。
【図5】実施の形態1のプラズマアドレス情報表示素子
において、電極に含まれるAlとNiとの混合比を変化
させたときの、操作時間と透過率との関係を示す図であ
る。
において、電極に含まれるAlとNiとの混合比を変化
させたときの、操作時間と透過率との関係を示す図であ
る。
【図6】Al−Coの状態図である。
【図7】Al−Cuの状態図である。
【図8】Al−Crの状態図である。
【図9】Al−Agの状態図である。
【図10】Al−Auの状態図である。
【図11】従来のプラズマアドレス情報表示素子を示す
断面図である。
断面図である。
【図12】従来のプラズマアドレス情報表示素子のプラ
ズマ基板部の動作原理を示す説明図(断面図)である。
ズマ基板部の動作原理を示す説明図(断面図)である。
【図13】従来のプラズマアドレス情報表示素子のプラ
ズマ基板部の動作原理を示す説明図(断面図)である。
ズマ基板部の動作原理を示す説明図(断面図)である。
【図14】プラズマアドレス情報表示素子のプラズマ室
の印加電圧を示す説明図である。
の印加電圧を示す説明図である。
【図15】実施の形態2のプラズマアドレス情報表示素
子を示す断面図である。
子を示す断面図である。
【図16】実施の形態2のプラズマ室の電極の製造方法
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図17】実施の形態3のプラズマアドレス情報表示素
子を示す断面図である。
子を示す断面図である。
【図18】実施の形態3のプラズマ室の電極の製造方法
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図19】実施の形態2及び実施の形態3のプラズマア
ドレス情報表示素子の操作時間と透過率の関係を示す図
である。
ドレス情報表示素子の操作時間と透過率の関係を示す図
である。
【図20】実施の形態4に示すプラズマ情報表示素子を
示す断面図である。
示す断面図である。
1a、1b 偏光板 2a、2b 透光性基板 3 カラーフィルタ 4 透明電極 5a、5b 配向膜 6 液晶材料 7 透明薄板基板 8 隔壁 9 電極 9A アノード 9C カソード 10 バックライト 11 カラーフイルタ基板 12 プラズマアドレス基板 13 プラズマ室 14 ITO 15、18 フォトレジスト 16、19 マスク 17 UV光
Claims (5)
- 【請求項1】 1対の基板間に電極及び絶縁体からなる
隔壁とが多数形成され、前記基板間の隔壁で囲まれた領
域に不活性ガスが封入されたプラズマ室を有するプラズ
マ情報表示素子において、 前記電極としてAl合金を用いることを特徴とするプラ
ズマ情報表示素子。 - 【請求項2】 前記電極として用いるAl合金は、Al
に少なくともNi、Co、Cu、Cr、Ag、Auのう
ちの一つ又は複数が含まれていることを特徴とする請求
項1に記載のプラズマ情報表示素子。 - 【請求項3】 基板上に電極線及び絶縁体からなる隔壁
が形成され、隔壁上に基板が形成され、基板間に不活性
ガスが封入されたプラズマ部を有し、前記電極線が金属
材料表面に透明電極が形成された構成であることを特徴
とするプラズマ情報表示素子。 - 【請求項4】 前記透明電極は、前記電極線の金属材料
の露出部全てをカバーするように形成されていることを
特徴とする請求項3に記載のプラズマ情報表示素子。 - 【請求項5】 上記透明電極がIn2O3、SnO2、M
gO等の少なくとも一つからなることを特徴とする請求
項3又は請求項4に記載のプラズマ情報表示素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34291298A JPH11242935A (ja) | 1997-12-03 | 1998-12-02 | プラズマ情報表示素子 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9-332662 | 1997-12-03 | ||
JP33266297 | 1997-12-03 | ||
JP34291298A JPH11242935A (ja) | 1997-12-03 | 1998-12-02 | プラズマ情報表示素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11242935A true JPH11242935A (ja) | 1999-09-07 |
Family
ID=26574256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34291298A Pending JPH11242935A (ja) | 1997-12-03 | 1998-12-02 | プラズマ情報表示素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11242935A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2812125A1 (fr) * | 2000-07-21 | 2002-01-25 | Thomson Plasma | Dalle en verre munie d'electrodes en un materiau conducteur |
WO2003019601A1 (en) * | 2001-08-23 | 2003-03-06 | Grand Display Inc. | Lower plate structure of display panel for discharge, method for manufacturing the same and structure of display panel for discharge |
US7471042B2 (en) | 2001-02-06 | 2008-12-30 | Panasonic Corporation | Plasma display panel with an improved electrode |
-
1998
- 1998-12-02 JP JP34291298A patent/JPH11242935A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2812125A1 (fr) * | 2000-07-21 | 2002-01-25 | Thomson Plasma | Dalle en verre munie d'electrodes en un materiau conducteur |
WO2002009137A1 (fr) * | 2000-07-21 | 2002-01-31 | Thomson Plasma | Dalle en verre munie d'electrodes en un materiau conducteur |
US6784618B2 (en) | 2000-07-21 | 2004-08-31 | Syngenta Participations Ag | Glass plate provided with electrodes made of a conducting material |
JP4915890B2 (ja) * | 2000-07-21 | 2012-04-11 | トムソン プラズマ エス アー エス | 導電性材料で作られた電極を設けたガラスプレート |
US7471042B2 (en) | 2001-02-06 | 2008-12-30 | Panasonic Corporation | Plasma display panel with an improved electrode |
WO2003019601A1 (en) * | 2001-08-23 | 2003-03-06 | Grand Display Inc. | Lower plate structure of display panel for discharge, method for manufacturing the same and structure of display panel for discharge |
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