JPH11229141A - 基板搬送方法 - Google Patents

基板搬送方法

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JPH11229141A
JPH11229141A JP3136098A JP3136098A JPH11229141A JP H11229141 A JPH11229141 A JP H11229141A JP 3136098 A JP3136098 A JP 3136098A JP 3136098 A JP3136098 A JP 3136098A JP H11229141 A JPH11229141 A JP H11229141A
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JP
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container
pressure
transfer
substrate processing
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JP3136098A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Takadera
浩之 高寺
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Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 2つの連接する真空容器間で基板を搬送する
場合に、パーティクルの発生による基板の品質低下を低
減することができるようにする。 【解決手段】 連接する基板処理容器11と基板搬送容
器13との間で、基板Wを搬送する場合、これら2つの
真空容器11,13の内部の圧力がそれぞれ真空計2
3,28により検出される。そして、この検出出力に基
づいて、両者の圧力差が0となるように、APCコント
ローラ24とAPCバルブ22とにより基板処理容器1
1の内部の圧力が制御される。この制御により、圧力差
がほぼ0になると、基板搬送ロボット19により基板W
が搬送される。このとき、圧力制御は、そのまま続行さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板処理装置にお
いて、連接する2つの真空容器の間で基板を搬送する基
板搬送方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体デバイスのウェーハや液
晶表示デバイスのガラス基板等の固体デバイスの基板に
所定の処理を施す基板処理装置においては、複数の真空
容器を有する。
【0003】例えば、基板を1枚ずつ処理する枚葉式の
基板処理装置においては、基板に所定の処理を施すため
の基板処理容器と、カセットを収容するためのカセット
収容容器と、基板を搬送するための基板搬送容器等を有
する。
【0004】このように複数の真空容器を有する基板処
理装置においては、連接する2つの真空容器の間で基板
を搬送する必要がある。例えば、上述した枚葉式の基板
処理装置においては、連接するカセット収容容器と基板
搬送容器との間や連接する基板搬送容器と基板処理容器
との間で基板を搬送する必要がある。
【0005】連接する2つの真空容器の間で基板を搬送
する場合、従来は、各真空容器の内部の圧力は制御せ
ず、その排気量を予め定めた値に保持するようになって
いた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成では、2つの真空容器の内部の圧力の差が大き
い場合、両者の間で気流が発生する。これにより、この
ような場合は、パーティクルが発生し、基板の品質を低
下させるという問題があった。
【0007】そこで、本発明は、基板の搬送時、パーテ
ィクルの発生による基板の品質低下を低減可能な基板搬
送方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1記載の基板搬送方法は、連接する2つの真空
容器の間で基板を搬送する場合、2つの真空容器の内部
の圧力を検出し、この検出出力に基づいて、両者の差が
予め定めた値となるように、2つの真空容器のうちの一
方の内部の圧力を制御するようにしたものである。
【0009】このような構成においては、基板搬送時、
2つの真空容器の内部の圧力が検出される。そして、こ
の検出出力に基づいて、両者の差が予め定めた値となる
ように、一方の真空容器の内部の圧力が制御される。こ
れにより、基板搬送時、2つの真空容器の内部の圧力差
を小さくすることができるので、気流の発生を抑制する
ことができる。その結果、パーティクルの発生を抑制す
ることができるので、パーティクルの発生による基板の
品質低下を低減することができる。
【0010】なお、基板の搬送と圧力の制御とは、並行
して行ってもよいし、時分割で行ってもよい。すなわ
ち、まず、圧力制御を行い、2つの真空容器の内部の圧
力差が予め定めた値になったら、制御を停止して、搬送
を行うようにしてもよい。また、並行して行う場合は、
最初から並行して行ってもよいし、まず、制御を行い、
2つの真空容器の内部の圧力差がほぼ予め定めた値にな
ったら、制御と搬送とを並行して行うようにしてもよ
い。
【0011】上述した基板搬送方法は、例えば、2つの
真空容器のうちの一方の内部の圧力を検出する第1の圧
力検出手段と、2つの真空容器のうちの他方の内部の圧
力を検出する第2の圧力検出手段と、第1,第2の圧力
検出手段の検出出力に基づいて、2つの真空容器の内部
の圧力の差が予め定めた値となるように、2つの真空容
器のうちの一方の内部の圧力を制御する圧力制御手段
と、この圧力制御手段による制御と並行してまたはこの
制御が終了した後に、基板の搬送を実行する基板搬送手
段とを備えた基板搬送装置により実行される。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発
明の実施の形態を詳細に説明する。
【0013】図1は、本発明の一実施の形態の基板搬送
方法を実行する基板搬送装置を備えた基板処理装置の一
例の構成を示す側面図である。なお、図には、複数の基
板を1枚ずつ処理する枚葉式の基板処理装置を代表とし
て示す。
【0014】図示の基板処理装置は、基板Wに所定の処
理を施すための基板処理容器11と、カセットCを収容
するためのカセット収容容器12と、基板Wを搬送する
ための基板搬送容器13とを有する。基板搬送容器13
は、基板処理容器11とカセット収容容器12との間に
設けられ、ゲートバルブ14を介してカセット収容容器
12に連接されるとともに、ゲートバルブ15を介して
基板処理容器11に連接されている。
【0015】また、図示の基板処理装置は、基板Wの処
理時に、処理すべき基板Wが載置される基板載置台16
と、基板処理容器11の内部を加熱するためのヒータ1
7,18と、基板Wを搬送するための基板搬送ロボット
19とを有する。基板載置台16は、基板処理容器11
の内部(処理室)に設けられ、ヒータ17,18は、例
えば、基板処理容器11の外部において、その上下に設
けられている。基板搬送ロボット19は、基板搬送容器
13の内部(搬送室)に設けられている。
【0016】また、図示の基板処理装置は、基板処理容
器11の内部に処理用の反応ガスやこの反応ガスを搬送
するためのキャリアガス(例えば、H2ガス)を導入す
るためのガス導入管20と、基板処理容器11の内部の
雰囲気を排出するためのガス排出管21と、このガス排
出管21を開閉するためのAPC(Automatic Pressure
Controller;自動圧力制御)バルブ22と、基板処理
容器11の内部の圧力を検出するための真空計23と、
APCバルブ22の開閉を制御するためのAPCコント
ローラ24とを有する。
【0017】また、図示の基板処理装置は、基板搬送容
器13の内部に置換用の不活性ガス(例えば、N2ガ
ス)を導入するためのガス導入管25と、この基板搬送
容器13の内部の雰囲気を排出するためのガス排出管2
6と、このガス排出管26を開閉するためのAPCバル
ブ27と、基板処理容器11の内部の圧力を検出するた
めの真空計28と、APCバルブ27の開閉を制御する
ためのAPCコントローラ29とを有する。
【0018】また、この基板処理装置は、基板処理動作
や基板搬送動作等を制御するための制御部30を有す
る。すなわち、反応ガス、キャリアガス、不活性ガス等
の各種ガスの導入動作、ゲートバルブ14,15の開閉
動作、基板搬送ロボット19の基板搬送動作等を制御す
るための制御部30を有する。
【0019】基板処理容器11側のAPCコントローラ
24は、基板処理時は、真空計23の検出出力に基づい
て、APCバルブ22の開閉量を制御し、基板搬送時
は、真空計23,28の検出出力に基づいて、APCバ
ルブ22の開閉量を制御する。
【0020】基板搬送容器13側のAPCコントローラ
29は、基板搬送容器13の内部の圧力を、例えば、大
気圧に設定する場合は、真空計23の検出出力に基づい
て、APCバルブ27の開閉量を制御し、基板搬送時
は、APCバルブ22の開閉量を予め定めた値に保持す
る(固定する)。
【0021】上記構成においては、APCバルブ22
と、真空計23,28と、APCコントローラ24とに
より、基板処理容器11と基板搬送容器13との内部の
圧力差が0となるように、基板処理容器11の内部の圧
力を制御する圧力制御装置が構成される。また、この圧
力制御装置に基板搬送ロボット19や制御部30等を加
えることにより、連接する基板処理容器11と基板搬送
容器13との間で基板Wを搬送する基板搬送装置が構成
される。
【0022】なお、基板処理容器11やカセット収容容
器12は、通常、複数存在する。しかしながら、以下の
説明では、説明を簡単にするために、これらがそれぞれ
1つだけ存在するものとして説明する。また、以下の説
明では、処理容器11が基板Wの表面に所定の薄膜を形
成する成膜容器であるものとして説明する。
【0023】以上が、本実施の形態の基板搬送方法を実
行する基板搬送装置を備えた基板処理装置の構成の一例
である。
【0024】上記構成において、基板Wの表面に所定の
薄膜を形成する場合の動作を説明する。なお、この動作
としては、種々考えられるが、以下の説明では、その一
例を詳細に説明する。
【0025】この動作においては、まず、複数の基板W
が収容されたカセットCがカセット収容容器12の内部
(収容室)に搬入される。この搬入処理が終了すると、
基板Wをカセット収容容器12から基板搬送容器13に
搬送する処理が実行される。
【0026】この基板搬送処理においては、まず、ゲー
トバルブ14が開かれる。これにより、カセット収容容
器12の内部と基板搬送容器13の内部とが連通させら
れる。この連通処理が終了すると、カセットCに収容さ
れている複数の基板Wのうちの1枚が基板搬送ロボット
19によりカセットCから取り出され、基板搬送容器1
3の内部に搬入される。この搬入処理が終了すると、ゲ
ートバルブ14が閉じられる。これにより、カセット収
容容器12の内部と基板搬送容器13の内部とが遮断さ
れる。
【0027】以上により、カセット収容容器12から基
板搬送容器13への基板Wの搬送処理が終了する。この
基板搬送処理が終了すると、基板Wの搬入に伴って基板
搬送容器13の内部に侵入した大気を不活性ガスにより
置換する処理が実行される。
【0028】この処理においては、ガス導入管25を介
して基板搬送容器13の内部に不活性ガスが導入され
る。また、基板搬送容器13の内部の雰囲気がガス排出
管26を介して排出される。これにより、基板搬送容器
11の内部の大気が不活性ガスにより置換される。
【0029】この場合、基板搬送容器13の内部の圧力
は、大気圧になるように制御される。この制御は、真空
計28の検出出力に基づいて、APCコントローラ29
によりAPCバルブ27の開閉量を制御することにより
行われる。基板搬送容器13の内部の圧力がほぼ大気圧
になると、APCコントローラ29によりAPCバルブ
27の開閉量がそのときの値に保持される。
【0030】なお、基板搬送容器13における不活性ガ
スの導入処理と雰囲気の排出処理とは、カセット収容容
器12から基板搬送容器13への基板搬送処理が終了し
た後に開始してもよいし、終了する前に開始してもよ
い。
【0031】この雰囲気置換処理が終了すると、基板搬
送容器13から基板処理容器11に基板Wを搬送する処
理が実行される。この基板搬送処理においては、まず、
基板処理容器11と基板搬送容器13との内部の圧力差
が0となるように、基板処理容器11の内部の圧力を制
御する処理が実行される。
【0032】この制御においては、ガス導入管20を介
して基板処理容器11の内部にキャリアガスが供給され
る。また、基板処理容器11の内部の雰囲気がガス排出
管21を介して排出される。なお、キャリアガスの導入
処理は、基板搬送容器13における雰囲気置換処理が終
了した後に開始するようにしてもよいし、終了する前に
開始するようにしてもよい。また、基板処理容器11に
おける雰囲気の排出処理は、通常、常時行われている。
したがって、この圧力制御時、この雰囲気排出処理を実
行するための処理を特に行う必要はない。
【0033】このような状態において、APCコントロ
ーラ24は、真空計23,28の検出出力に基づいて、
2つの真空容器11,13の内部の圧力差が0になるよ
うに、APCバルブ22の開閉量を制御する。これによ
り、これら2つの真空容器11,13の内部の圧力差が
0となるように、基板処理容器11の内部の圧力が制御
される。
【0034】なお、この場合、基板搬送容器13では、
上記のごとく、圧力制御は行われず、排気量のみが予め
定めた値に保持されている。すなわち、基板搬送容器1
3の内部の圧力が大気圧に設定された時の値に保持され
ている。
【0035】2つの真空容器13,11の内部の圧力差
がほぼ0になると、ゲートバルブ15が開かれる。これ
により、基板搬送容器13の内部と基板処理容器11の
内部とが連通させられる。この場合、基板処理容器11
の圧力制御は、そのまま続行される。
【0036】この連通処理が終了すると、基板搬送ロボ
ット19に保持されている基板Wが基板処理容器11の
内部に搬入され、基板載置台16の上面に載置される。
この載置処理が終了すると、ゲートバルブ15が閉じら
れる。これにより、処理容器11の内部と基板搬送容器
13の内部とが遮断される。
【0037】この遮断処理が終了すると、基板処理容器
11の圧力制御が停止させられる。この場合、基板搬送
容器13における不活性ガスの導入処理と雰囲気の排気
処理とは続行するようにしてもよいし、停止させるよう
にしてもい。以下の説明では、停止させるものとして説
明する。
【0038】以上により、基板搬送容器13から基板処
理容器11への基板搬送処理が終了する。この基板搬送
処理が終了すると、基板載置台16に載置された基板W
の表面に所定の薄膜を形成する処理が実行される。
【0039】この成膜処理においては、ガス導入管20
を介して基板処理容器11の内部に反応ガスとキャリア
ガスとが供給される。これにより、基板載置台16に載
置された基板Wの表面に所定の薄膜が形成される。この
場合、基板処理容器11の内部の圧力は、予め定めた値
に保持される。この保持は、真空計23の検出出力に基
づいて、APCコンとローラ24により、APCバルブ
27の開閉量を制御することにより行われる。
【0040】基板Wの表面に所定の薄膜が形成される
と、反応ガスの導入処理が停止される。但し、キャリア
ガスの導入処理と雰囲気の排出処理とはそのまま続行さ
れる。このあと、基板Wを基板処理容器11から基板搬
送容器13に搬送する処理が実行される。
【0041】この基板搬送処理においても、基板Wを基
板搬送容器13から基板処理容器11に搬送する場合と
同様の処理が行われる。
【0042】すなわち、この処理においては、まず、基
板搬送容器13の内部に不活性ガスが供給されるととも
に、この基板搬送容器13の内部の雰囲気が排出され
る。これは、本例では、上記のごとく、基板Wを基板搬
送容器13から基板処理容器11に搬送し終わった時点
で、基板搬送容器13における不活性ガスの導入処理と
雰囲気の排出処理とを停止させるようになっているから
である。
【0043】この場合、基板搬送容器13の内部の圧力
が予め定めた値、例えば、大気圧になるように、APC
コントローラ29によりAPCバルブ27の開閉量が制
御される。そして、基板搬送容器13の内部の圧力がほ
ぼ大気圧になると、APCバルブ27の開閉量がそのと
きの値に保持される。
【0044】次に、基板処理容器11と基板搬送容器1
3との内部の圧力差を0となるように、基板処理容器1
1の内部の圧力が制御される。この圧力差がほぼ0にな
ると、ゲートバルブ15が開かれる。これにより、基板
処理容器11の内部と基板搬送容器13の内部とが連通
させられる。この場合、基板処理容器11の圧力制御
は、そのまま続行される。
【0045】この連通処理が終了すると、基板載置台1
6に載置されている基板Wが基板搬送ロボット19によ
り基板処理容器11の内部から搬出される。この搬出処
理が終了すると、ゲートバルブ15が閉じられる。これ
により、基板処理容器11の内部と基板搬送容器13の
内部とが遮断される。
【0046】この遮断処理が終了すると、基板処理容器
11の内部の圧力制御が停止させられる。この場合、基
板処理容器11におけるキャリアガスの導入処理は続行
するようにしてもよいし、停止させるようにしてもい。
【0047】以上により、基板処理容器11から基板搬
送容器13への基板搬送処理が終了する。この基板搬送
処理が終了すると、基板搬送容器13からカセット収容
容器12に基板Wを搬送する処理が実行される。
【0048】この処理においては、まず、ゲートバルブ
14が開かれる。これにより、基板搬送容器13の内部
とカセット収容容器12の内部とが連通される。この連
通処理が終了すると、基板搬送ロボット19に保持され
ている基板Wは、この基板搬送ロボット19によりカセ
ットCに戻される。
【0049】これにより、基板搬送容器13からカセッ
ト収容容器12への基板Wの搬送が終了する。この基板
搬送処理が終了すると、次の基板Wをカセット収容容器
12から基板搬送容器13に搬送する処理が実行され
る。これにより、次の、基板Wに対して再び上述した処
理が実行される。以下、同様に、カセット12に収容さ
れているすべての基板Wに対して上述した処理が実行さ
れる。
【0050】以上詳述した本実施の形態によれば、次の
ような効果を得ることができる。
【0051】(1)まず、本実施の形態によれば、基板
処理容器11と基板搬送容器13との間で基板Wを搬送
する場合、これら2つの真空容器11,13の内部の圧
力差がほぼ0となるように圧力制御を行うようにしたの
で、この圧力差が大きい場合であってもこれを小さくす
ることができる。これにより、基板Wの搬送時、気流の
発生を抑制することができるので、パーティクルの発生
も抑制することができる。その結果、パーティクルの発
生による基板Wの品質低下を低減することができる。
【0052】(2)また、本実施の形態によれば、基板
処理容器11と基板搬送容器13との内部の圧力差が0
となるように圧力制御を行う場合、基板処理容器11の
内部の圧力だけを制御するようにしたので、2つの真空
容器11,13の内部の圧力を個別に制御する場合より
圧力の制御性をよくすることができる。
【0053】すなわち、2つの真空容器11,14の内
部の圧力差が0となるように圧力制御を行う構成として
は、2つの真空容器11,12の内部の圧力を個別に制
御する構成が考えられる。しかしながら、このような構
成では、基板処理容器11の内部の圧力だけを制御する
構成より制御性がよくないことが実験により確かめられ
ている。したがって、本実施の形態のように、基板処理
容器11の内部の圧力のみを制御する構成によれば、2
つの真空容器11,12の内部の圧力を個別に制御する
構成より、圧力の制御性をよくすることができる。
【0054】(3)また、本実施の形態によれば、基板
Wを搬送する場合、まず、圧力制御を行い、基板処理容
器11と基板搬送容器13との内部の圧力差がほぼ0と
なったら基板Wを搬送するようにしたので、圧力の制御
と基板の搬送とを同時に開始する場合より、基板搬送時
の気流を小さくすることができる。
【0055】(4)また、本実施の形態によれば、基板
Wを搬送する場合、圧力制御を続行するようにしたの
で、圧力制御と基板Wの搬送とを時分割で行う場合よ
り、基板搬送時の気流を小さくすることができる。
【0056】(5)また、本実施の形態によれば、2つ
の真空容器11,12の内部の圧力を検出し、この検出
出力に基づいて基板処理容器11の内部の圧力を制御す
ることにより、基板搬送時の気流の発生を抑制するよう
にしたので、通常の基板処理装置に簡単な改良を加える
だけで本実施の形態の基板搬送方法を実行することがで
きる。
【0057】すなわち、通常の基板処理装置には、AP
Cバルブ22と、2つの真空計23,28と、APCコ
ントローラ24とが設けられている。また、APCコン
トローラ24は、通常、コンピュータによって構成され
ている。したがって、本実施の形態の基板搬送方法は、
真空計28の検出出力をAPCコントローラ24に導く
ライン31を設けるとともに、APCコントローラ24
の処理プログラムを若干変更するだけで実行することが
できる。これにより、本実施の形態の基板搬送方法は、
通常の基板処理装置に簡単な改良を加えるだけで実行す
ることができる。
【0058】以上、本発明の一実施の形態を詳細に説明
したが、本発明は、上述したような実施の形態に限定さ
れるものではない。
【0059】(1)例えば、先の実施の形態では、基板
処理容器11の圧力制御と基板Wの搬送とを並行して行
う場合、まず、圧力制御を行い、2つの真空容器11,
12の圧力差がほぼ0になったら、両者を並行して行う
場合を説明した。しかしながら、本発明では、両者を最
初から並行して行うようにしてもよい。
【0060】(2)また、先の実施の形態では、基板処
理容器11の圧力制御と基板Wの搬送とを並行して行う
場合を説明した。しかしながら、本発明は、まず、圧力
制御を行い、2つの真空容器11,12の内部の圧力差
がほぼ0になったら、圧力制御を停止して、基板搬送を
行うようにしてもよい。
【0061】(3)また、先の実施の形態では、基板処
理容器11の内部の圧力を制御する場合、基板処理容器
11と基板搬送容器13との内部の圧力差が0となるよ
うに制御する場合を説明した。しかしながら、本発明
は、0以外の値となるように制御してもよい。
【0062】(4)また、先の実施の形態では、基板処
理容器11と基板搬送容器13との内部の圧力差を予め
定めた値に設定する場合、基板処理容器11の内部の圧
力を制御する場合を説明した。しかしながら、本発明で
は、基板搬送容器13の内部の圧力を制御するようにし
てもよい。
【0063】(5)また、先の実施の形態では、本発明
を、連接する基板処理容器11と基板搬送容器13との
間の基板Wの搬送に適用する場合を説明した。しかしな
がら、本発明は、連接するカセット収容容器12と基板
搬送容器13との間の基板Wの搬送にも適用することが
できる。この場合も、2つの真空容器12,13のどち
らの圧力を制御するようにすればよい。
【0064】(6)この他にも、本発明は、その要旨を
逸脱しない範囲で種々様々変形実施可能なことは勿論で
ある。
【0065】
【発明の効果】以上詳述したように請求項1記載の基板
搬送方法によれば、2つの真空容器の間で基板を搬送す
る場合、これら2つの真空容器の内部の圧力を検出し、
両者の差が予め定めた値となるように2つの真空容器の
うちの一方の内部の圧力を制御するようにしたので、気
流の発生を抑制することができる。これにより、パーテ
ィクルの発生を抑制することができるので、パーティク
ルの付着による基板の品質低下を低減することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の基板搬送方法を実行す
る基板搬送装置を備えた基板処理装置の一例の構成を示
す側面図である。
【符号の説明】
11…基板処理容器、12…カセット収容容器、13…
基板搬送容器、14,15…ゲートバルブ、16…基板
載置台、17,18…ヒータ、19…基板搬送ロボッ
ト、20,25…ガス導入管、21,26…ガス排出
管、22,27…APCバルブ、23,28…真空計、
24,29…APCコントローラ、30…制御部、31
…ライン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 連接する2つの真空容器の間で基板を搬
    送する場合、前記2つの真空容器の内部の圧力を検出
    し、この検出出力に基づいて、両者の差が予め定めた値
    となるように、前記2つの真空容器のうちの一方の内部
    の圧力を制御することを特徴とする基板搬送方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015146349A (ja) * 2014-01-31 2015-08-13 シンフォニアテクノロジー株式会社 Efem

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