JPH11208022A - 光強度調整方法 - Google Patents
光強度調整方法Info
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- JPH11208022A JPH11208022A JP1431998A JP1431998A JPH11208022A JP H11208022 A JPH11208022 A JP H11208022A JP 1431998 A JP1431998 A JP 1431998A JP 1431998 A JP1431998 A JP 1431998A JP H11208022 A JPH11208022 A JP H11208022A
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Abstract
光強度調整方法を提供する。 【解決手段】 画像露光装置により走査露光された感光
フィルムにおける隣接する走査線では、一方を露光する
光ビームによる他方への副露光と本露光との前後関係に
よって感光フィルムの感度が変化する。これを考慮し
て、各チャンネルの走査線幅が均一になるように目標光
ビーム幅を予め求めておく。つぎに、画像露光装置のマ
ルチビームヘッド30を取り外して、光ビーム幅測定装
置3に取付け、そこでLEDアレイ31の全チャンネル
により2次元CCDカメラ45に向けて光ビームを照射
し、各チャンネルによる光ビーム幅を計測する。それに
基づいて、各チャンネルの光ビーム幅が目標光ビーム幅
と一致するように各チャンネルに対して各解像度に応じ
た最適電流値を、各種の感光フィルムごとに設定する。
Description
によって感光材料を走査露光する画像露光装置におい
て、前記複数の光ビームの強度を調整する光強度調整方
法に関する。
光装置は、LED等の発光素子(チャンネル)を複数備
え、それぞれによって同時に光ビームを感光材料に照射
することによって、同時に複数本の走査を行いつつ感光
材料に画像を露光するものであるが、各チャンネルによ
る走査線幅にばらつきがあると線幅の太い走査線毎に画
像にムラが生じ画像品質の低下を招くという問題があっ
た。
9086号公報の装置では、各チャンネルによる光強度
を測定する光強度分布測定手段により各チャンネルの光
強度を個別に測定し、各チャンネルの光強度を一定のも
のとするように調整している。
装置では感光材料において直接ビーム照射による露光
(以下「本露光」という)が行われていない部分でも、
他の部分でのビーム照射による露光(以下「副露光」と
いう)が生じ、各チャンネルの光強度を同一に調整して
も、感光材料特有の副露光の影響で各走査線の太さにバ
ラツキが生じるという問題があった。
の順序によって感度が異なるという特性がある。すなわ
ち、本露光の前に副露光を受けるか、本露光の後に副露
光を受けるかで感光材料の感度が異なり、露光結果も異
なる。そして、上記のような画像露光装置に用いられる
感光材料においては、相対的に先に本露光される走査線
ほど後の露光の副露光の影響が強く働き、露光過多とな
り走査線幅が太くなる傾向があり、結果的に各走査線の
太さにバラツキが生じるという問題もあった。
の克服を意図しており、画像露光装置による画像露光の
ムラを抑える光強度調整方法を提供することを目的とす
る。
め、この発明の請求項1に記載の方法は、複数の光ビー
ムによって感光材料を走査露光する画像露光装置におい
て、複数の光ビームの強度を調整する光強度調整方法で
あって、複数の光ビームを露光面に向けて照射する照射
工程と、露光面ににおける複数の光ビームの光強度分布
を測定する測定工程と、測定された光強度分布に基づい
て複数の光ビームのそれぞれの強度を調整する調整工程
と、を備える。
は、請求項1に記載の光強度調整方法であって、前記調
整工程は、光強度分布に基づいて複数の光ビームのそれ
ぞれの光ビーム幅を算出する工程と、複数の光ビームを
照射して感光材料を露光する際の露光順序に応じて設定
された目標光ビーム幅と、複数の光ビームのそれぞれの
光ビーム幅とが等しくなるように複数の光ビームのそれ
ぞれの強度を調整する工程と、を備えることを特徴とす
る。
は、請求項2に記載の光強度調整方法であって、目標光
ビーム幅が、複数の光ビームを照射して感光材料を露光
する際に、時間的に後に露光されるものほど太いもので
あることを特徴とする。
の実施の形態における画像露光装置の概略構成を示す図
である。以下、図1を用いてこの画像露光装置1につい
て説明していく。
に出荷される画像露光装置1(以下「画像露光装置1」
または「製品としての画像露光装置1」という。)と、
それと以下で説明する要部について構造が同じであり、
後述する補正係数算出処理においてのみ使用される試験
用画像露光装置2を包含するものである。
より感光フィルムFを巻き付けた回転ドラム20が回転
しつつ、マルチビームヘッド30によって照射された複
数の露光ビームによって感光フィルムF上にスパイラル
走査(またはステップ走査)により画像露光を行う。
ームヘッド30はLED(発光ダイオード)アレイ31
と変倍可能な結像レンズ系32を備えている。図2は画
像露光装置のLEDアレイ31の概略構成を示す図であ
る。図示のようにLEDアレイ31は4個周期で互いに
位置をずらして配列した合計120個のLED素子から
なり、各素子には走査線の並び順にチャンネルC1〜C
120が対応付けされたものとなっている。そして、こ
れら各チャンネルC1〜C120はそれぞれが露光ビー
ムとして、同時に120本の走査線を感光フィルムFに
露光することができるものとなっている。
すように、回転ドラム20の回転軸と平行に設けられた
副走査軸40に刻まれている送りネジTSに螺合されて
おり、その送りネジTSが回転軸に取り付けられた副走
査モータ50によって副走査軸40が回転し、それによ
ってマルチビームヘッド30が回転ドラム20の回転軸
に平行(副走査方向)に送られることによって副走査が
行われる。なお、マルチビームヘッド30は画像露光装
置に着脱自在となっている。
CPUを備えるとともに、指示入力を行うタッチパネル
61が電気的に接続されている。さらに、制御部60
は、それに電気的に接続された主走査モータ10および
副走査モータ50内に設けられたエンコーダからの信号
をもとに主走査位置および副走査位置を捉えつつ、電気
的に接続されたLEDアレイ31を所定のタイミングで
各チャンネルのON/OFF制御を行い、回転ドラム2
0の外周面に取り付けられた感光フィルムFに画像を露
光していく。
ーム幅測定装置3の概略構成を示す図である。
15上には画像露光装置1または試験用画像露光装置2
のマルチビームヘッド30を取り付けるヘッド取付部H
Aが設けられており、これに取り付けられたマルチビー
ムヘッド30はマウス65やキーボード75といった指
示入力手段およびグラフィックディスプレイ85を備え
るとともに、内部にメモリおよびCPUを備えたコンピ
ュータ95に電気的に接続される。そして、コンピュー
タ95の制御により、マルチビームヘッド30のLED
アレイ31が点灯されると、そこから発せられた光ビー
ムは結像レンズ系32および基台15上に設けられたレ
ンズ25により2次元CCDカメラ45に結像される。
2次元CCDカメラ45は、画像露光装置1における露
光面と等価な位置に配置される。そして、後述するよう
に2次元CCDカメラ45に結像された光ビーム画像
は、そこで電気信号に変換され、画像メモリ55に蓄え
られる。
データはコンピュータ95に必要に応じて読み出され、
後述するような処理および演算が行われる。
図6はそれぞれ、この実施の形態における発光強度調整
処理全体、補正係数算出処理および最適電流値設定処理
の手順を示すフローチャートである。以下、図4〜図6
に従って発光強度調整処理について説明していく。
出処理が行われる(図4:ステップS1)。補正係数と
は、初期電流による光ビーム幅から目標ビーム幅になる
ように、電流値を補正するために用いる値であり、電流
変化量とビーム幅変化量との関係から求める。この場
合、LED駆動の基本電流とそれとわずかに値の異なる
電流とのそれぞれにより全チャンネルC1〜C120を
点灯し、補正係数は、露光に用いられる最大及び最小の
基本電流値に対して求める。従って、補正係数の算出
は、基本電流値とそれとわずかに値の異なる電流値、す
なわち4種類の電流値によって以下のように行われる。
試験用画像露光装置2のマルチビームヘッド30を取り
外し、光ビーム幅測定装置3のヘッド取付部HAにセッ
トする。
光に用いられる最大及び最小の基本電流値を作業者がタ
ッチパネル61により設定する(図5:ステップS1
0)。これにより、上記の2種類の基本電流値は制御部
60内のメモリに記憶される。
上記2種類の基本電流値のうちの一方(最初は最小)の
基本電流値により全チャンネルC1〜C120を点灯す
る(図5:ステップS11)。
C1〜C120による露光順序を説明するための図であ
る。図中では、数字を記入した円は各チャンネルC1〜
C120による光ビームの副走査方向の位置をイメージ
している。
120による光ビーム間の副露光の影響を補正しようと
するものである。すなわち、隣接する光ビームにより感
光フィルムF等に走査露光を行う場合、隣接するチャン
ネルからの光ビームにより、微弱な露光を受け、これが
副露光効果によって走査線幅に影響を及ぼす。
の上に示した数字は、各走査線が露光される順序を表わ
している。ただし、ここで同じ数字は同じタイミングで
並列的な発光によって行われることを示している。すな
わち、図2に示したように、LED素子は4個を1周期
として互いに位置を主走査方向にずらして配列されてい
るため、露光する際には、1列目のチャンネルC1、C
5、C9、・・・、C117の露光が行われた後に、走
査方向にずれ分だけ遅れて2列目のチャンネルC2、C
6、C10、・・・、C118の露光、さらにずれ分ず
つ遅れて3列目のチャンネルC3、C7、C11、・・
・、C119の露光、4列目のチャンネルC4、C8、
C12、・・・、C120の露光が開始される。
による露光には各列のチャンネル間で露光のタイミング
にずれがある。そして、露光に時間差がある場合には、
前述のように副露光と本露光との前後関係により感光フ
ィルムFの感度に差が生じる。
を考慮して各チャンネル個別に目標光ビーム線幅を設定
することにより、このような感度の変化を補正してい
る。
る光ビームの光強度分布を2次元CCDカメラ45によ
り測定する(図5:ステップS12)。
れた光ビーム像の一例を示す図(図8(a))および、
それを基に得られた1つのチャンネルの走査方向におけ
る積算光強度分布の例を示す図(図8(b))である。
光ビーム幅測定装置3は2次元CCDカメラ45の各C
CD素子により図8(a)のような光ビーム像を多数の
画素に分割したデジタル信号として捉え、画像メモリ5
5に保存する。
ャンネルC1〜C120の積算光強度分布を算出する
(図5:ステップS13)。
1〜C120により照射される光ビームによる画像は副
走査方向に幅を有したものとなっており、同じ電流値に
よる発光でも、チャンネルごとにそのLED素子の特性
から、それぞれの光ビーム幅が微妙に異なるものとなっ
ている。このような光ビーム幅を数値的に捉えるため、
光ビーム幅測定装置3では図8(a)のように得られた
光ビーム像の各画素における光強度をチャンネル毎に走
査方向(走査線の長さ方向)に加算して求めている。こ
こで、光強度を走査線の長さ方向に加算するのは、感光
フィルムFに露光した場合の露光量分布に感光量分布に
相当するからである。
た積算光強度分布を基に各チャンネルC1〜C120の
光ビーム幅を自動的に算出する(図5:ステップS1
4)。
に光ビーム幅を数値的に検出するために、得られた各チ
ャンネルC1〜C120の加算された光強度が所定のし
きい値となる画素位置の間の距離(すなわち、しきい値
が各チャンネルC1〜C120の光強度分布のグラフと
交わる画素位置の間隔)を各光ビーム幅(図中には特定
の光ビームに対応する光ビーム幅Wを表示)として求め
ている。そして、このような光ビーム幅を全チャンネル
C1〜C120の光強度分布について求める。
S11〜S14の処理が終了していれば、次のステップ
S16に進み、終了していなければ、残りの電流値によ
り上記ステップS11〜S14の処理を繰り返す(図
5:ステップS15)。
ていた場合には、作業者が、計測された各チャンネルC
1〜C120による光ビーム幅を基に最大または最小の
基本電流値に対する補正係数をチャンネル毎に算出し、
任意の記憶手段により記憶する(図5:ステップS1
6)。
正係数Aの算出方法を具体的に説明する。
とわずかに異なる電流値3.5mAにより露光されたチ
ャンネルCn,Cn+1,Cn+2,Cn+3(nは
1,5,9…117のうちの任意の整数。以下同様。)
の光ビーム幅を示す図である。ここで、補正係数Aは次
式で定義される。
小の基本電流値のそれぞれに対して異なるものとして以
下のようにして求められる。
異なる電流値による光ビーム幅の差である光ビーム幅変
化量を求める。図9のチャンネルCnの例では電流値
3.5mAおよび2.5mAでの測定光ビーム幅はそれ
ぞれ7.0μmおよび4.0μmであるので、光ビーム
幅変化量は3.0μmである。
mAとの差であるので、1.0mAである。
予め設定されている光ビーム幅であって、試験用画像露
光装置2および各製品としての画像露光装置1のそれぞ
れの全てのチャンネルC1〜C120の光ビームにより
感光フィルムFに露光された走査線の露光順よる感光フ
ィルムFの感度の変化を考慮し、実際に走査露光を行っ
た際に全ての走査線の線幅が等しくなるように、予め実
験等で求められた値となっている。
走査露光においては、先に本露光された走査線位置の方
が後で本露光された走査線位置より感度がよくなる傾向
にある。そのため、以下のような露光の前後関係による
走査線のばらつきが生じる。
ルムFの露光においては、各チャンネルC1〜C120
のLED素子のずれ配置に応じた露光の遅延時間によ
る、隣接する走査線の露光の前後関係による感光フィル
ムFの感度の相違の影響が現れる。すなわち、各チャン
ネルC1〜C120のLED素子は図2を用いて既に述
べたように、それぞれが4個を1周期として主走査方向
に互いにずれた配置となっている。この様な配置で各チ
ャンネルC1〜C120が発光しつつ、回転ドラム20
が回転すると、例えば図2における2列目のチャンネル
は隣接する1列目のチャンネルによる走査に対して主走
査方向に遅れて、それに隣接した位置を走査することに
なる。このように、隣接する走査線を露光した光ビーム
が互いに副露光を行うが、各チャンネルの光ビーム幅が
同一であるとすると、上記のような理由でそれらによる
走査線に太さの相違が生じ、先に露光が行われる走査線
ほど、すなわち、4列目より3列目、3列目より2列
目、2列目より1列目の方が、それらのチャンネルの光
ビームによる走査線ほど太くなる。
ャンネル、すなわち、チャンネルC1,C2…および…
チャンネルC119,C120の光ビームによる走査線
は近隣または隣接する走査線との間で露光順序の前後関
係、すなわち、回転ドラム20の一回転分の時間差も生
ずるので、走査線幅に相違が生じる。
の走査線幅を共通にするため、この実施の形態では、感
光フィルムFを先に露光する光ビームほどその幅が細く
なるように各チャンネルC1〜C120の目標光ビーム
幅を設定している。
ルCn〜Cn+3の補正前の光強度分布および目標とす
る光強度分布を表わす図である。ここで、nは1,5,
9…117を表わしている。また、表1は補正前の測定
光ビーム幅および目標光ビーム幅を画素を単位として表
わした例である。
は各チャンネルCn〜Cn+3による光ビーム幅はほぼ
均一になっており、そのため光強度分布のグラフとしき
い値との2交点間の距離である測定光ビーム幅も、表1
に示すようにほぼ均一になっている。これに対し、目標
とする光強度分布を表わす図10(b)では、各チャン
ネルCn〜Cn+3の光強度はLEDアレイの4個を1
周期とするずれ配置にともなって、先に露光を行うもの
ほど、光強度を弱くして、それにより表4に示すように
目標光ビーム幅を先に露光を行うものほど細いものとし
ている。これは、前述のように先に本露光される走査線
ほど、走査線幅が太くなるという傾向を補正するための
ものである。
ム幅を上記4個周期のLEDのずれ配置を考慮して、 (1列目のチャンネルの目標光ビーム幅)<(2列目の
チャンネルの目標光ビーム幅)<(3列目のチャンネル
の目標光ビーム幅)<(4列目のチャンネルの目標光ビ
ーム幅) とし、さらに、LEDアレイ31の端のチャンネルC
1,C2…および…チャンネルC119,C120に対
する目標光ビーム幅を、前者を太くするものとしてい
る。
光を行う感光フィルムFによっても異なるものとなって
いる。そのためこういった目標光ビーム幅を各感光フィ
ルムFの種類の数だけ、全チャンネルC1〜C120に
対して、予め実験等により求めている。
幅変化量、電流変化量、さらに試験用画像露光装置2の
各チャンネルC1〜C120の所定の目標光ビーム幅
(図9のチャンネルCnの例では5.0μmとしてい
る)とから、式1を用いて補正係数Aを求める。図9の
チャンネルCnの例では補正係数A=1.65となる。
についても同様にして求められる。
流値のそれぞれに対して上記図5のステップS10〜S
16の処理が終了していれば、補正係数算出処理(図
4:ステップS1)を終了し、図4のステップS2に進
み、終了していなければ、残りの電流値により上記ステ
ップS10〜S16の処理を繰り返す(図5:ステップ
S17)。
画像露光装置2ではなく、製品としての画像露光装置1
に対して最適電流値設定処理を行う。以下、図6を用い
て、最適電流値設定処理について説明していく。
め画像露光装置1のマルチビームヘッド30を取り外
し、光ビーム幅測定装置3のヘッド取付部HAにセット
する。
大または最小の初期電流値により全チャンネルC1〜C
120を点灯する(図6:ステップS21)。ここで、
最大および最小の初期電流値とは、前述の補正係数設定
処理における最大および最小の基本電流値とほぼ等しい
所定の電流値であって、各チャンネルC1〜C120お
よび各画像露光装置1に共通の値を用いている。また、
ここでの画像露光装置1のマルチビームヘッド30によ
る2次元CCDカメラ45への光ビームの照射は、前述
の補正係数設定処理において試験用画像露光装置2によ
り行ったものと全く同様である。したがって、この最適
電流値設定処理では最大および最小の初期電流値のそれ
ぞれにより光ビームの照射を行う。なお、以下ステップ
S22〜S24の処理も図5の補正係数設定処理におけ
るステップS12〜14と全く同様である。
灯した光ビーム像を光ビーム幅測定装置3の2次元CC
Dカメラ45により測定する(図6:ステップS2
2)。
ャンネルC1〜C120の走査方向の積算光強度分布を
チャンネル毎に算出する(図6:ステップS23)。
られた積算光強度分布を基に全チャンネルC1〜C12
0の光ビーム幅を自動的に算出する(図6:ステップS
24)。
電流値に対応する補正係数A、目標光ビーム幅、計測さ
れた光ビーム幅に基づいて電流値の補正量をチャンネル
毎に求め、初期電流値を補正して最大または最小の最適
電流値をチャンネル毎に任意の記憶手段により記憶する
(図6:ステップS25)。
えられる。
ム幅との差として求められる。たとえば、任意のチャン
ネルCnにおいて初期電流値が2.5mA、目標光ビー
ム幅が5.0μm、測定光ビーム幅が4.0μmおよび
補正係数Aが1.65の場合について求めると、上記の
定義より補正光ビーム幅は1.0μmとなり、電流値の
補正量は0.33mAとなる。
を初期電流値に加えることにより、それらを補正した最
適電流値が求まる。上記の例では初期電流値が2.5m
Aで、電流値の補正量が0.33mAであるので、その
チャンネルCnにおける最適電流値は2.83mAとな
る。
各チャンネルC1〜C120について行い、それにより
得られた全チャンネルC1〜C120の最大または最小
の最適電流値を任意の記憶手段により記憶する。
流値のそれぞれに対して上記図6のステップS21〜S
25の処理が終了していなければ、他方の最適電流値に
対して上記ステップS21〜S25の処理を繰り返して
最大および最小の最適電流値の両方について行い、逆に
終了していれば、ステップS27に進む。
大および最小の最適電流値の設定の様子を示す概念図で
ある。上記のようにして、各チャンネルC1〜C120
の最大および最小の初期電流値のそれぞれに対して電流
値の補正量を加算することによって、最大および最小の
最適電流値が求まり、それにより対象となる画像露光装
置1により露光される光ビーム幅は図示のように目標光
ビーム幅に近づく。
適電流値を、その解像度に相当する光ビーム幅に基づい
て、最大および最小の最適電流値の補間によりチャンネ
ル毎に求め、画像露光装置1に記憶させる(図6:ステ
ップS27)。
装置1は図1に示すように、変倍可能なものとなってい
る。そのため、以上のような最適電流値を各解像度に対
して求め、それらを各画像露光装置1に設定しなければ
ならない。ところが、以上で求めた最大および最小の最
適電流値は2種類の解像度のみに対応するものとなって
いるため、その他の解像度に対しては最適電流値が求ま
っていない。
最大および最小の最適電流値を線形補間し、他の解像度
に対しては、それに相当する光ビーム幅が得られるよう
な電流値を全チャンネルC1〜C120に対して算出し
ている。
の各解像度における最適電流値算出の様子を示す図であ
る。図示のように、この方法は最大の最適電流値とそれ
により得られる光ビーム幅(図11における目標光ビー
ム幅に相当)により決定される点と、最小の最適電流値
とそれにより得られる光ビーム幅(図11における目標
光ビーム幅に相当)により決定される点との間を直線で
結び、その直線上において求める解像度に相当する光ビ
ーム幅での電流値をその解像度における最適電流値とす
るものである。このような最適電流値を各チャンネルC
1〜C120に対して、変倍可能な全ての解像度に対し
て求め、作業者はそれを対象となる画像露光装置1に対
し、タッチパネル61により設定する。
種類の感光フィルムFに対する最適電流値設定処理が終
了したかどうかを判定し、終了するまで、ステップS2
の処理を繰り返し行う。これは、図4のステップS2に
おいて特定種類の感光フィルムFについて最適電流値を
算出したのであるが、この画像露光装置1は前述のよう
に各種感光フィルムFに対して画像露光可能な装置とな
っているためであり、前述のように予め実験等により求
められていた各種感光フィルムFに対して異なる目標光
ビーム幅を用いて、各解像度に対する最適電流値を設定
する。
して最適電流値設定処理が終了すれば、作業者は光強度
測定装置3にセットされていたマルチビームヘッド30
を取り外し、画像露光装置1に取り付ける。そして、ス
テップS4に進む。
全画像露光装置1の設定が終了したかどうかを判定し、
終了するまで上記ステップS2およびS3の処理を繰り
返し行う。これは、製品としての画像露光装置1(通
常、複数台)の全てに対して上記のような最適電流値の
設定を行うものである。
設定が終了すると発光強度調整処理を終了する。
態によれば、LEDアレイ31の各チャンネルC1〜C
120による光ビームを2次元CCDカメラ45に向け
て照射し、その光ビーム幅を測定し、その測定された光
ビーム幅に基づいて各チャンネルC1〜C120の最適
電流値を求めて、それを設定することにより各光ビーム
の強度を調整するため、各チャンネルC1〜C120相
互の副露光の影響を補正し、画像露光装置1を画像露光
のムラを抑え、良質な画像露光を行うものとすることが
できる。
走査線幅が互いに等しくなるように、すなわち、時間的
に後に走査を行うチャンネルの光ビームほど太いものと
なるように設定された目標光ビーム幅と、測定された各
チャンネルC1〜C120による光ビーム幅とが等しく
なるように、複数の光ビームのそれぞれの発光強度を調
整するため、感光フィルムFにおける本露光と副露光の
順序によって感度が異なることの影響を補正した露光を
行うことができるので、画像露光装置を画像露光のムラ
をさらに抑え、より良質な画像露光を行うものとするこ
とができる。
電流値設定処理を行うので、感光フィルムF(感光材
料)の特性に応じた発光強度の調整を行うことができ
る。
像露光装置はマルチビームにより副走査方向に順に走査
していくものとしたが、この発明はこれに限られず、イ
ンターレース露光を行う画像露光装置に対しても適用す
ることができる。
ャンネルC1〜C120による露光順序を説明するため
の図である。各記号の意味は各チャンネルC1〜C12
0による光ビームの上に示した数字以外は図7と同様で
ある。
光による最終的な画像では、図13に示すように、副走
査方向にチャンネルC120からチャンネルC1にかけ
ての光ビームがチャンネル番号の降順に並ぶ。そして、
それらが露光される順序は図13の各チャンネルC1〜
C120の上に示した走査順t1〜t120の数字の順
である。
ターレース露光ではチャンネルC120による光ビーム
から、チャンネル番号の降順にチャンネルC1による光
ビームまでを1走査単位SUとして、その内部で副走査
方向の順(副走査方向の正側ほど時間的に後)に露光さ
れており、このような走査単位SUが副走査方向に繰り
返されている。
適電流値の設定においては、これらの露光順による副露
光の前後関係による影響を考慮した目標光ビーム幅に基
づいて上記実施の形態と同様にして、各画像露光装置1
に対して各解像度に対する最適電流値を設定していけば
よい。
ターレース露光を行う画像露光装置に対しても、実施の
形態と同様の効果を有することができる。
置1は回転ドラム20を用いるものとしたが、この発明
はこれに限らず、平面型のスキャナとするなど他の走査
方法によるものでもよく、また、画像露光を行う感光材
料を印刷板等の感光フィルムF以外のものを対象とする
ものとしてもよい。
像露光装置1における光ビーム照射の際に、各チャンネ
ルC1〜C120に供給する最大および最小の初期電流
値を各画像露光装置1間で同一のものとしたが、この発
明はこれに限られず、1台目の製品としての画像露光装
置1において求められた最大および最小の最適電流値を
2台目以降の画像露光装置1における最大および最小の
初期電流値として用いてもよい。
定処理において、所定の最大および最小の初期電流値に
対して求められた各最適電流値をそのまま画像露光装置
1に記憶させているが、この発明はこれに限られず、1
度、最適電流値設定処理を行って得られた各最適電流値
を初期電流値として再度、光ビームの照射を行い、式2
により電流値の補正量を求めて各最適電流値を求めると
いった処理を繰り返すことにより、一層適切な最適電流
値を求める等としてもよい。また、繰り返し処理を行う
場合は、補正係数Aが厳密な値でなくても最適電流値を
求めることができるので、試験用画像露光装置2による
処理を行わなくても良い。
1〜C120の最大および最小の最適電流値を用いて線
形補間により所望の最適電流値を求めるものとしたが、
この発明はこれに限られず、線形補間以外にも3つ以上
の解像度に対する最適電流値、最適補正係数Aを求め、
それぞれの間を直線で結んでそれをもとに所望の解像度
に対する最適電流値を求めたり、多項式補間を用いる等
のその他の補間方法により求めるものとしたり、さらに
は外挿法等により得られた解像度より大きいまたは小さ
い解像度に対して求める等としてもよい。
数を120個と、偶数備えるものとしたが、この発明は
これに限られず、チャンネル数を奇数とするなどその他
の数としてもよい。
求項3の発明によれば、複数の光ビームを露光面に向け
て照射し、その光強度分布を測定し、その測定された光
強度分布に基づいて複数の光ビームのそれぞれの強度を
調整するため、複数の光ビームによる相互の副露光の影
響を補正し、画像露光装置を画像露光のムラを抑え、良
質な画像露光を行うものとすることができる。
れば、光強度分布に基づいて各光ビームの光ビーム幅を
算出し、感光材料を露光する際の露光順序に応じて設定
された目標光ビーム幅と、算出された光ビーム幅とが等
しくなるように複数の光ビームのそれぞれの強度を調整
するため、感光材料における本露光と副露光の順序によ
って感度が異なることの影響を補正した露光を行うこと
ができるので、画像露光装置による露光画像のムラをさ
らに抑え、より良質な画像露光を行うものとすることが
できる。
ビーム幅が、複数の光ビームを照射して感光材料を露光
する際に、時間的に後に露光されるものほど太いものと
するため、露光順による感光材料の感度の相違の影響を
も補正でき、画像露光装置を画像露光のムラを一層、抑
え、さらに良質な画像露光を行うものとすることができ
る。
略構成を示す図である。
である。
置の概略構成を示す図である。
である。
である。
トである。
図である。
び積算光強度分布を示す図である。
る光ビーム幅の測定結果を示す図である。
分布を表わす図である。
示す概念図である。
の算出の様子を示す図である。
光順序を説明するための図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 複数の光ビームによって感光材料を走査
露光する画像露光装置において、前記複数の光ビームの
強度を調整する光強度調整方法であって、 前記複数の光ビームを露光面に向けて照射する照射工程
と、 前記露光面における前記複数の光ビームの光強度分布を
測定する測定工程と、 測定された前記光強度分布に基づいて前記複数の光ビー
ムのそれぞれの強度を調整する調整工程と、を備えるこ
とを特徴とする光強度調整方法。 - 【請求項2】 請求項1に記載の光強度調整方法であっ
て、前記調整工程は、 前記光強度分布に基づいて前記複数の光ビームのそれぞ
れの光ビーム幅を算出する工程と、 前記複数の光ビームを照射して感光材料を露光する際の
露光順序に応じて設定された目標光ビーム幅と、前記複
数の光ビームのそれぞれの光ビーム幅とが等しくなるよ
うに前記複数の光ビームのそれぞれの強度を調整する工
程と、を備えることを特徴とする光強度調整方法。 - 【請求項3】 請求項2に記載の光強度調整方法であっ
て、 前記目標光ビーム幅が、前記複数の光ビームを照射して
感光材料を露光する際に、時間的に後に露光されるもの
ほど太いものであることを特徴とする光強度調整方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1431998A JP3892564B2 (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | 光強度調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP1431998A JP3892564B2 (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | 光強度調整方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11208022A true JPH11208022A (ja) | 1999-08-03 |
JP3892564B2 JP3892564B2 (ja) | 2007-03-14 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP3892564B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005251841A (ja) * | 2004-03-02 | 2005-09-15 | Opcell Co Ltd | 光描画装置 |
-
1998
- 1998-01-27 JP JP1431998A patent/JP3892564B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2005251841A (ja) * | 2004-03-02 | 2005-09-15 | Opcell Co Ltd | 光描画装置 |
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