JPH11205096A - ダブル・エッジトリガ・フリップフロップ - Google Patents

ダブル・エッジトリガ・フリップフロップ

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JPH11205096A
JPH11205096A JP10001279A JP127998A JPH11205096A JP H11205096 A JPH11205096 A JP H11205096A JP 10001279 A JP10001279 A JP 10001279A JP 127998 A JP127998 A JP 127998A JP H11205096 A JPH11205096 A JP H11205096A
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JP
Japan
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gate
channel mos
mos transistor
circuit
channel
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JP10001279A
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English (en)
Inventor
Shinji Ozaki
伸治 尾▲崎▼
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ダブル・エッジトリガ・フリップフロップに
おいて、クロック信号の電位が一定の期間にデータ信号
の電位が複数回変化した場合に消費する電力を削減して
低消費電力化を実現する。 【解決手段】 ゲート回路21,22,23を備えてお
り、ゲート回路21(22)は、データ信号10および
クロック信号11(クロック反転信号12)が同レベル
のときにそれを反転したレベルを出力し、それ以外のと
きにはハイインピーダンス状態をとる。また、ゲート回
路21,22は、クロック信号11および反転クロック
信号12の電位が一定の期間にデータ信号10の電位が
変化しても、ただ一度出力電位を変化するだけでそれ以
上の電位の遷移は起こさない。ゲート回路23は、接続
されたゲート回路21,22の出力電位が共に同レベル
のときにはそれを反転したレベルを出力し、それ以外の
ときにはそれ以前の出力電位を維持出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロプロセッ
サ等のLSIに用いられるダブル・エッジトリガ・フリ
ップフロップに関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、マイクロプロセッサ等のデジタル
LSIは、大規模化の一途をたどっているが、そこで使
用される回路の大部分は、フリップフロップとフリップ
フロップの間に組合せ回路をはさむことで構成される同
期型の順序回路よりなっている。この様なLSIにおい
ては、それに含まれる全てのフリップフロップにクロッ
ク信号を供給するために要する消費電力がLSI全体で
消費する電力の数10%に達すると言われている。
【0003】通常、上記の様な順序回路にはエッジトリ
ガ型のフリップフロップが用いられており、それはクロ
ックの立ち上がりエッジに同期してその出力を更新す
る。最近のデジタルLSIに多いCMOS型の回路の場
合、信号の立ち上がり/立ち下がりの両方で電力を消費
するのに対して、上記のエッジトリガ型フリップフロッ
プでは見かけ上、クロックの立ち上がりエッジのみを使
用するため、クロック信号の立ち下がりの際に消費され
る電力(すなわち、クロックの消費する電力の半分)は
有効に利用されているとは言えない。
【0004】そこで、クロックの立ち上がり/立ち下が
りの両方に同期して出力を更新するダブル・エッジトリ
ガ・フリップフロップが提案されている(例えば、特開
平6−152336号公報,特開平2−27811号公
報)。以下、図面を用いて上記の従来例について説明す
る。まず、特開平6−152336号公報に示されたも
のを第1の従来例として説明する。
【0005】図5は第1の従来例のダブル・エッジトリ
ガ・フリップフロップの回路図である。図5において、
31,32,33,34はCMOSトランジスタからな
るダイナミックタイプのゲート回路(以下、単に「ゲー
ト」という)、35はNANDゲートである。この第1
の従来例では、データ信号10を入力し、Pチャンネル
側にクロック信号11/反転クロック信号12入力のあ
るゲート31/33と、プリチャージ電位がハイレベル
となるダイナミックインバータであるゲート32/34
とが各々直列に接続されて、それらの出力がスタティッ
クタイプのNANDゲート35に接続され、出力信号1
3を出力する構成となっている。
【0006】すなわち、ゲート31,32は、クロック
信号11の立ち上がりエッジに同期したDタイプのエッ
ジトリガ・フリップフロップ(ただし、クロック信号1
1がロウレベルの期間はハイレベルを出力)を構成し、
また、ゲート33,34は、反転クロック信号12の立
ち上がりエッジに同期したDタイプのエッジトリガ・フ
リップフロップ(ただし、反転クロック信号12がロウ
レベルの期間はハイレベルを出力)を構成して、NAN
Dゲート35において双方の出力が合成される構成とな
っている。
【0007】以上の様に構成された第1の従来例のダブ
ル・エッジトリガ・フリップフロップについて、以下そ
の動作を図6に示すタイミングチャートを用いて説明す
る。クロック信号11がロウレベルのときには、ゲート
31はインバータとして動作し、データ信号10の入力
を反転した電位を出力する。ゲート32はクロック信号
11のロウレベルによりハイレベルにプリチャージさ
れ、ハイレベルを出力する。
【0008】クロック信号11が立ち上がってハイレベ
ルに遷移した(同時に反転クロック信号12は立ち下が
ってロウレベルに遷移した)ときの状況を考察する。こ
のとき、データ信号10がロウレベルであった場合、ゲ
ート31はハイ・インピーダンス状態(HiZ)とな
り、その出力は以前の値すなわちハイレベルを保持す
る。したがって、ゲート32はディスチャージしてロウ
レベルを出力し、NANDゲート35はハイレベルの出
力信号13を出力する。
【0009】また、データ信号10がハイレベルであっ
た場合は、ゲート31はロウレベルを出力する。したが
って、ゲート32はハイ・インピーダンス状態(Hi
Z)となり、その出力は以前の値すなわちハイレベルを
保持する。この時、ゲート34は、反転クロック信号1
2のロウレベルによりハイレベルを出力するため、NA
NDゲート35は両入力がハイレベルとなり、ロウレベ
ルの出力信号13を出力する。
【0010】次に、クロック信号11が立ち下がってロ
ウレベルに遷移した(同時に反転クロック信号12は立
ち上がってハイレベルに遷移した)ときの状況を考察す
る。このとき、データ信号10がロウレベルであった場
合、ゲート33はハイ・インピーダンス状態(HiZ)
となり、その出力は以前の値すなわちハイレベルを保持
する。したがって、ゲート34はディスチャージしてロ
ウレベルを出力し、NANDゲート35はハイレベルの
出力信号13を出力する。
【0011】また、データ信号10がハイレベルであっ
た場合は、ゲート33はロウレベルを出力する。したが
って、ゲート34はハイ・インピーダンス状態(Hi
Z)となり、その出力は以前の値すなわちハイレベルを
保持する。この時、ゲート32は、クロック信号11の
ロウレベルによりハイレベルを出力するため、NAND
ゲート35は両入力がハイレベルとなり、ロウレベルの
出力信号13を出力する。
【0012】上記のように、第1の従来例の回路は、ク
ロック信号11の立ち上がり(反転クロック12の立ち
下がり)および立ち下がり(反転クロック12の立ち上
がり)の両エッジに同期してデータ信号10をサンプリ
ングし、その反転を出力信号13に出力するダブル・エ
ッジトリガ・フリップフロップとして動作する。次に、
特開平2−27811号公報に示されたものを第2の従
来例として説明する。
【0013】図7は第2の従来例のダブル・エッジトリ
ガ・フリップフロップの回路図である。図7において、
41,42はデータ信号10を入力するラッチ回路、4
3はマルチプレクサ回路である。ラッチ41,42はそ
れぞれデータ信号10を入力し、ラッチ41はクロック
信号11をイネーブル信号(E)とし、ラッチ42は反
転クロック信号12をイネーブル信号(E)として接続
する。マルチプレクサ回路43は、ラッチ41およびラ
ッチ42の出力を入力して、クロック信号11の電位に
より入力のいずれかを選択して出力信号13として出力
する構成となっている。
【0014】以上の様に構成された第2の従来例のダブ
ル・エッジトリガ・フリップフロップについて、以下そ
の動作を図8に示すタイミングチャートを用いて説明す
る。クロック信号11がロウレベル(すなわち、反転ク
ロック信号12がハイレベル)の時には、ラッチ42は
イネーブルの状態となりデータ信号10の入力の電位を
出力に伝達する。そして、クロック信号11が立ち上が
ってハイレベルに遷移した時(同時に反転クロック信号
12は立ち下がってロウレベルに遷移する)には、ラッ
チ42は保持状態となり、この時のデータ信号10がロ
ウレベルであった場合にはロウレベルを、ハイレベルで
あった場合にはハイレベルを保持出力する。この時(ク
ロック信号11がハイレベルの期間)、マルチプレクサ
回路43はラッチ42に保持された出力を選択して出力
信号13として出力する。また、このとき、ラツチ41
はイネーブルの状態となりデータ信号10の入力の電位
を出力に伝達している。
【0015】次に、クロック信号11が立ち下がってロ
ウレベルに遷移した時(同時に反転クロック信号12は
立ち上がってハイレベルに遷移する)には、ラッチ41
は保持状態となり、この時のデータ信号10の電位をク
ロック信号11がロウレベルである期間保持出力する。
この期間、マルチプレクサ回路43はラッチ41に保持
された出力を選択して出力信号13として出力する。
【0016】上記のように、第2の従来例の回路におい
ても、クロック信号11および反転クロック信号12の
立ち上がり/立ち下がり両エッジに同期してデータ信号
10をサンプリングし、出力信号13に出力するダブル
・エッジトリガ・フリップフロップとして動作する。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】上記第1および第2の
従来例のダブル・エッジトリガ・フリップフロップにお
いては、クロック信号の立ち上がり/立ち下がり両エッ
ジに同期して出力を更新することにより、クロック信号
の供給に消費する電力を有効に利用できる様になってい
る。しかしながら、これらのフリップフロップはデータ
信号10の入力の電位が変化した時に消費する電力に関
して必ずしも有効とはいえない。
【0018】すなわち、一般的に組合せ回路の出力をフ
リップフロップのデータ信号へ入力する場合、組合せ回
路の出力は必ずしも一度の電位の変化では確定せず、何
度かの変化を経た後で最終的な電位に確定する場合が多
い。この場合、上記の第1の従来例のダブル・エッジ・
フリップフロップにおいては、データ信号10の電位の
変化に応じて、クロック信号11がロウレベルの場合で
あればゲート31が、また反転クロック信号12がロウ
レベルの場合であればゲート33がその出力する電位を
何度も変化し(図6)、その度にそこで電力を消費する
ことになる。第2の従来例の場合も同様に、ラッチ41
もしくはラッチ42の出力がデータ信号10の電位の変
化に応じて変化し(図8)、電力を消費する。
【0019】図9に一般的なクロック信号の立ち上がり
に同期してデータを更新するエッジトリガ型のフリップ
フロップの回路図を示し、図10にそのタイミングチャ
ートを示す。この回路は、データ信号10と反転クロッ
ク信号12を接続するマスターラッチ51に、クロック
信号11を接続するスレーブラッチ52が接続された構
成であり、図10に示すように、クロック信号11の立
ち上がり(反転クロック信号12の立ち下がり)に同期
して、データ信号10をサンプリングし出力信号13に
出力する。このエッジトリガ型のフリップフロップにお
いては、クロック信号11がハイレベルの期間には、デ
ータ信号10に入力する電位が変化してもマスターラッ
チ51の出力する電位が変化することはなく、フリップ
フロップ内部で消費する電力は上記のダブル・エッジト
リガ・フリップフロップに比較して少ないと言える。
【0020】したがって、上記のダブル・エッジトリガ
・フリップフロップを使用して順序回路を構成した場
合、エッジトリガ・フリップフロップを使用した場合に
比較してフリップフロップ内部での電力消費が大きくな
るという問題が発生する。さらに、第1の従来例におい
ては、ダイナミックタイプのゲート回路31,32,3
3,34が用いられており、これらがハイインピーダン
ス状態(HiZ)となった期間は、それ以前の出力電位
を保持している必要がある。したがって、クロック信号
11および反転クロック信号12に入力するクロック周
波数が低い場合には、CMOS回路のリーク電流の影響
により電位の保持が困難となり、動作不能になるという
問題点がある。
【0021】本発明の第1の目的は、クロック信号の電
位が一定の期間にデータ信号の電位が変化しても、ゲー
ト内部で消費する電力の少ないダブル・エッジトリガ・
フリップフロップを提供することである。また、本発明
の第2の目的は、第1の目的に加え、ハイインピーダン
ス状態による電位の保持が困難となる様な低いクロック
周波数で動作が可能なダブル・エッジトリガ・フリップ
フロップを提供することである。
【0022】
【課題を解決するための手段】請求項1記載のダブル・
エッジトリガ・フリップフロップは、データ信号とクロ
ック信号を入力する第1のゲート回路と、データ信号と
反転クロック信号を入力する第2のゲート回路と、第1
のゲート回路の出力信号と第2のゲート回路の出力信号
とを入力して出力信号を出力する第3のゲート回路とを
備えている。
【0023】第1のゲート回路は、電源電位と接地電位
との間に、第1および第2のPチャンネル型MOSトラ
ンジスタの直列回路と第1および第2のNチャンネル型
MOSトランジスタの直列回路とを直列に接続してい
る。第2のゲート回路は、電源電位と接地電位との間
に、第3および第4のPチャンネル型MOSトランジス
タの直列回路と第3および第4のNチャンネル型MOS
トランジスタの直列回路とを直列に接続している。
【0024】第3のゲート回路は、電源電位と接地電位
との間に、第5および第6のPチャンネル型MOSトラ
ンジスタの直列回路と第5および第6のNチャンネル型
MOSトランジスタの直列回路とを直列に接続し、電源
電位と接地電位との間に、第7および第8のPチャンネ
ル型MOSトランジスタの並列回路と第9のPチャンネ
ル型MOSトランジスタと第7のNチャンネル型MOS
トランジスタと第8および第9のNチャンネル型MOS
トランジスタの並列回路とを直列に接続し、第5および
第6のPチャンネル型MOSトランジスタの直列回路と
第5および第6のNチャンネル型MOSトランジスタの
直列回路との接続点と、第9のPチャンネル型MOSト
ランジスタと第7のNチャンネル型MOSトランジスタ
との接続点とを出力信号線に接続し、この出力信号線を
インバータ回路の入力端に接続し、インバータ回路の出
力端を第9のPチャンネル型MOSトランジスタのゲー
トおよび第7のNチャンネル型MOSトランジスタのゲ
ートに接続している。
【0025】さらに、第1のゲート回路の第1および第
2のPチャンネル型MOSトランジスタの直列回路と第
1および第2のNチャンネル型MOSトランジスタの直
列回路との接続点を、第3のゲート回路の第5および第
7のPチャンネル型MOSトランジスタのゲートおよび
第5および第9のNチャンネル型MOSトランジスタの
ゲートに接続し、第2のゲート回路の第3および第4の
Pチャンネル型MOSトランジスタの直列回路と第3お
よび第4のNチャンネル型MOSトランジスタの直列回
路との接続点を、第3のゲート回路の第6および第8の
Pチャンネル型MOSトランジスタのゲートおよび第6
および第8のNチャンネル型MOSトランジスタのゲー
トに接続している。
【0026】そして、クロック信号を、第1のゲート回
路の第1のPチャンネル型MOSトランジスタのゲート
および第2のNチャンネル型MOSトランジスタのゲー
トに入力し、反転クロック信号を、第2のゲート回路の
第3のPチャンネル型MOSトランジスタのゲートおよ
び第4のNチャンネル型MOSトランジスタのゲートに
入力し、データ信号を、第1のゲート回路の第2のPチ
ャンネル型MOSトランジスタのゲートおよび第1のN
チャンネル型MOSトランジスタのゲートと、第2のゲ
ート回路の第4のPチャンネル型MOSトランジスタの
ゲートおよび第3のNチャンネル型MOSトランジスタ
のゲートとに入力するようにしている。
【0027】この構成により、クロック信号および反転
クロック信号の電位がハイレベルまたはロウレベルで一
定の期間にデータ信号の電位が複数回変化しても、第1
のゲート回路もしくは第2のゲート回路の出力電位はた
だ一度ハイレベルもしくはロウレベルに変化するだけで
それ以上の出力電位の遷移を起こさない。このように、
クロック信号および反転クロック信号の電位が一定の期
間にデータ信号の電位が変化した場合の内部ゲートの出
力電位の変化による電力の消費を削減して、低消費電力
化を実現できる。
【0028】請求項2記載のダブル・エッジトリガ・フ
リップフロップは、請求項1記載のダブル・エッジトリ
ガ・フリップフロップにおいて、第1のゲート回路は、
第2のPチャンネル型MOSトランジスタと第1のNチ
ャンネル型MOSトランジスタとを隣接して接続し、第
2のPチャンネル型MOSトランジスタに第10のPチ
ャンネル型MOSトランジスタを並列接続し、第1のN
チャンネル型MOSトランジスタに第10のNチャンネ
ル型MOSトランジスタを並列接続し、第2のPチャン
ネル型MOSトランジスタおよび第1のNチャンネル型
MOSトランジスタの接続回路と並列に、第11のPチ
ャンネル型MOSトランジスタおよび第11のNチャン
ネル型MOSトランジスタの直列回路を接続している。
【0029】また、第2のゲート回路は、第4のPチャ
ンネル型MOSトランジスタと第3のNチャンネル型M
OSトランジスタとを隣接して接続し、第4のPチャン
ネル型MOSトランジスタに第12のPチャンネル型M
OSトランジスタを並列接続し、第3のNチャンネル型
MOSトランジスタに第12のNチャンネル型MOSト
ランジスタを並列接続し、第4のPチャンネル型MOS
トランジスタおよび第3のNチャンネル型MOSトラン
ジスタの接続回路と並列に、第13のPチャンネル型M
OSトランジスタおよび第13のNチャンネル型MOS
トランジスタの直列回路を接続している。
【0030】そして、第1のゲート回路の第3のゲート
回路に接続する第2のPチャンネル型MOSトランジス
タと第1のNチャンネル型MOSトランジスタとの接続
点を、第2のゲート回路の第13のPチャンネル型MO
Sトランジスタのゲートおよび第13のNチャンネル型
MOSトランジスタのゲートにも接続している。また、
第2のゲート回路の第3のゲート回路に接続する第4の
Pチャンネル型MOSトランジスタと第3のNチャンネ
ル型MOSトランジスタとの接続点を、第1のゲート回
路の第11のPチャンネル型MOSトランジスタのゲー
トおよび第11のNチャンネル型MOSトランジスタの
ゲートにも接続している。さらに、第1のゲート回路の
第11のPチャンネル型MOSトランジスタと第11の
Nチャンネル型MOSトランジスタとの接続点を、第2
のゲート回路の第12のPチャンネル型MOSトランジ
スタのゲートおよび第12のNチャンネル型MOSトラ
ンジスタのゲートに接続している。また、第2のゲート
回路の第13のPチャンネル型MOSトランジスタと第
13のNチャンネル型MOSトランジスタとの接続点
を、第1のゲート回路の第10のPチャンネル型MOS
トランジスタのゲートおよび第10のNチャンネル型M
OSトランジスタのゲートに接続している。
【0031】この構成により、請求項1記載の構成によ
る作用効果に加え、第1のゲート回路および第2のゲー
ト回路は、クロック信号および反転クロック信号の電位
が一定の期間にデータ信号の電位が変化しても、その出
力がハイインピーダンス状態とならず、ハイインピーダ
ンス状態による電位の保持が困難となる低いクロック周
波数でも動作可能となる。
【0032】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。 〔第1の実施の形態〕図1は本発明の第1の実施の形態
のダブル・エッジトリガ・フリップフロップの回路図で
ある。図1において、21,22はCMOSトランジス
タからなるダイナミックタイプのゲート回路(第1,第
2のゲート回路)、23はCMOSトランジスタからな
るゲート回路(第3のゲート回路)である。
【0033】ゲート回路21(以下「ゲート21」とい
う)は、データ信号10とクロック信号11を入力し、
ゲート回路22(以下「ゲート22」という)は、デー
タ信号10と反転クロック信号12を入力する。ゲート
回路23(以下「ゲート23」という)は、ゲート2
1,22の出力を入力して出力信号13を出力する。ゲ
ート21,22はそれぞれ、電源電位と接地電位の間に
Pチャンネル型MOSトランジスタ(PMOSトランジ
スタ)P1,P2と、Nチャンネル型MOSトランジス
タ(NMOSトランジスタ)N1,N2とを直列に接続
した構成となっており、PMOSトランジスタP2とN
MOSトランジスタN1との接続部をゲート21,22
の出力としている。
【0034】そして、ゲート21は、PMOSトランジ
スタP2とNMOSトランジスタN1のゲート入力にデ
ータ信号10を接続し、PMOSトランジスタP1とN
MOSトランジスタN2のゲート入力にはクロック信号
11を接続する。また、ゲート22は、PMOSトラン
ジスタP2とNMOSトランジスタN1のゲート入力に
データ信号10を接続し、PMOSトランジスタP1と
NMOSトランジスタN2のゲート入力には反転クロッ
ク信号12を接続する。
【0035】また、ゲート23は、電源電位と接地電位
の間にPMOSトランジスタP11,P12と、NMO
SトランジスタN11,N12とを直列に接続し、ま
た、これと並列に電源電位と接地電位間にPMOSトラ
ンジスタP13,P15とNMOSトランジスタN1
5,N13とを直列に接続し、PMOSトランジスタP
12とNMOSトランジスタN11の接続部とPMOS
トランジスタP15とNMOSトランジスタN15の接
続部とが同電位になるように接続し、これを出力信号線
に接続して出力信号13としている。さらに、PMOS
トランジスタ13と並列にPMOSトランジスタP14
を接続し、またNMOSトランジスタN13と並列にN
MOSトランジスタN14を接続している。そして、P
MOSトランジスタP11,P13およびNMOSトラ
ンジスタN11,N14のゲート入力にはゲート21の
出力を接続し、PMOSトランジスタP12,P14お
よびNMOSトランジスタN12,N13のゲート入力
にはゲート22の出力を接続する。さらに、PMOSト
ランジスタP15およびNMOSトランジスタN15の
ゲート入力には、ゲート23の出力信号13をインバー
タ回路INVによって反転した信号が接続される。
【0036】ここで、ゲート21は、データ信号10お
よびクロック信号11が共にハイレベルのときにはロウ
レベルを、共にロウレベルのときにはハイレベルを出力
し、それ以外の入力電位の組合せのときにはハイインピ
ーダンス状態をとる。ゲート22も同様に、データ信号
10および反転クロック信号12が共にハイレベルのと
きにはロウレベルを、共にロウレベルのときにはハイレ
ベルを出力し、それ以外の入力電位の組合せのときには
ハイインピーダンス状態をとる。
【0037】ゲート21,22をこの様な構成とするこ
とにより、クロック信号11および反転クロック信号1
2の電位が一定の期間にデータ信号10の電位が変化し
ても、ただ一度ハイレベルもしくはロウレベルに出力電
位を変化するだけでそれ以上の電位の遷移は起こらな
い。ゲート23は、接続されたゲート21,22の出力
の電位が共にハイレベルのときにはロウレベルを、共に
ロウレベルのときにはハイレベルを出力し、それ以外の
電位の組合せのときにはそれ以前の出力電位を維持出力
する構成となっている。
【0038】以上の様に構成された第1の実施の形態の
ダブル・エッジトリガ・フリップフロップについて、以
下その動作を図2に示すタイミングチャートを用いて説
明する。クロック信号11がロウレベルの時、データ信
号10がロウレベルであればゲート21はハイレベルを
出力する。この状態で、クロック信号11が立ち上がっ
てハイレベルに遷移した場合(同時に反転クロック信号
12は立ち下がってロウレベルに遷移する)、ゲート2
1はハイインピーダンス状態(HiZ)となりその出力
はハイレベルを保持する。同時にゲート22では、デー
タ信号10と反転クロック信号12がともにロウレベル
となるためハイレベルを出力する。したがって、ゲート
23に接続されるゲート21,22の両出力がハイレベ
ルになることからゲート23はロウレベルを出力する。
【0039】また、クロック信号11がロウレベル(反
転クロック信号12がハイレベル)の時に、データ信号
10がハイレベルであった場合には、ゲート22はロウ
レベルを出力する。この状態で、クロック信号11が立
ち上がってハイレベルに遷移した場合(同時に反転クロ
ック信号12は立ち下がってロウレベルに遷移する)、
ゲート22はハイインピーダンス状態(HiZ)となり
その出力はロウレベルを保持する。同時にゲート21で
は、データ信号10とクロック信号11がともにハイレ
ベルとなるためロウレベルを出力する。したがって、ゲ
ート23に接続されるゲート21,22の両出力がロウ
レベルになることからゲート23はハイレベルを出力す
る。
【0040】また、クロック信号が11がハイレベルか
らロウレベルへ遷移する場合についても同様に、データ
信号10がロウレベルであった場合には、ゲート22が
ハイレベルを出力する状態から、ゲート22がハイイン
ピーダンス状態(HiZ)でゲート21がハイレベルを
出力する状態へ遷移し、ゲート23はロウレベルを出力
する。また、データ信号10がハイレベルであった場合
には、ゲート21がロウレベルを出力する状態から、ゲ
ート21がハイインピーダンス状態(HiZ)でゲート
22がロウレベルを出力する状態へ遷移し、ゲート23
はハイレベルを出力する。
【0041】このように、クロック信号11および反転
クロック信号12の立ち上がり/立ち下がり両エッジに
同期してデータ信号10をサンプリングし、出力信号1
3に出力するダブル・エッジトリガ・フリップフロップ
として動作する。次に、本実施の形態において特徴的
な、クロック信号11および反転クロック信号12がハ
イレベルまたはロウレベルで一定の期間に、データ信号
10の電位が変化した場合の動作を説明する。
【0042】データ信号10がロウレベルの時にクロッ
ク信号11がロウレベル(反転クロック信号12がハイ
レベル)に遷移すると、上記のようにゲート22はハイ
インピーダンス状態(HiZ)でハイレベルを保持し、
ゲート21はハイレベルを出力し、したがって、ゲート
23はロウレベルを出力している。この状態からデータ
信号10がハイレベルに遷移すると、ゲート22はロウ
レベル出力となり、また、ゲート21はハイインピーダ
ンス状態(HiZ)となりハイレベルを保持する。した
がって、ゲート23の入力はハイレベルとロウレベルの
組合せとなるため、その出力は以前の値すなわちロウレ
ベルを維持する。次に、この状態からデータ信号10が
ロウレベルに遷移した場合、ゲート22はハイインピー
ダンス状態(HiZ)となってロウレベルを保持し、ゲ
ート21はハイレベルを出力する状態となるが、ゲート
21,22の出力電位はともに変化しない。したがっ
て、ゲート23はロウレベル出力を維持する。さらに、
この後、データ信号10の電位が変化してもクロック信
号11および反転クロック信号12の電位が変化しない
間はゲート21,22の出力電位はともに変化しない。
【0043】上記の動作は、クロック信号11が立ち下
がる際にデータ信号10がローレベルであった場合であ
るが、クロック信号11が立ち下がる際にデータ信号1
0がハイレベルであった場合、およびクロック信号11
が立ち上がってハイレベルになった場合でも同様で、ク
ロック信号11および反転クロック信号12がハイレベ
ルまたはロウレベルで一定の期間にデータ信号10の電
位が変化すると、ゲート21もしくはゲート22の出力
電位が一度だけ変化して、ゲート23は出力電位を維持
する状態になる。そして、それ以降、データ信号10の
電位が変化しても、ゲート21,22の出力は変化しな
い。
【0044】以上のように第1の実施の形態によれば、
クロック信号11および反転クロック信号12がハイレ
ベルまたはロウレベルで電位が一定の期間に、データ信
号10の電位が複数回変化した場合でも、内部のゲート
21もしくは22の出力電位の変化が一度に限られてお
り、従来例に比較してその際に消費する電力を低減する
ことができる。
【0045】また、図5に示す第1の従来例の回路で
は、クロック信号11および反転クロック信号12は、
各々2個のPMOSトランジスタと1個のNMOSトラ
ンジスタのゲートに接続されるのに対して、本実施の形
態においては、各々1個のPMOSトランジスタ(P
1)と1個のNMOSトランジスタ(N2)のゲートに
接続され、クロック信号11と反転クロック信号12の
かかる負荷の低減が図られており、クロック信号11
(反転クロック信号12)を供給するのに必要な電力が
少なくなっている。
【0046】さらに、ゲート21/22を構成する直列
接続された4個のトランジスタのゲート入力には、PM
OSトランジスタ,NMOSトランジスタの各々にデー
タ信号10とクロック信号11/反転クロック信号12
が接続されている。したがって、データ信号10かクロ
ック信号11/反転クロック信号12のいずれかの電位
が確定している限り、少なくとも1個のトランジスタが
電流を遮断するため、データ信号10もしくはクロック
信号11/反転クロック信号12の電位が遷移する際
に、ゲート内部で電源電位から接地電位まで貫通電流が
流れることはない。したがって、データ信号10および
クロック信号11の電位が遷移した時にゲート内で消費
する電力は少ない構成となっている。
【0047】なお、ゲート21において、データ信号1
0をPMOSトランジスタP2とNMOSトランジスタ
N1のゲートに、クロック信号11をPMOSトランジ
スタP1とNMOSトランジスタN2のゲートに接続し
ているが、データ信号10を、PMOSトランジスタP
1とP2のうちのいずれか一つのゲートと、NMOSト
ランジスタN1とN2のうちのいずれか一つのゲートと
に接続し、残りのPMOSトランジスタとNMOSトラ
ンジスタのゲートにクロック信号11(反転クロック信
号12)を接続してあればよい。
【0048】また、ゲート22において、データ信号1
0をPMOSトランジスタP2とNMOSトランジスタ
N1のゲートに、反転クロック信号12をPMOSトラ
ンジスタP1とNMOSトランジスタN2のゲートに接
続しているが、データ信号10を、PMOSトランジス
タP1とP2のうちのいずれか一つのゲートと、NMO
SトランジスタN1とN2のうちのいずれか一つのゲー
トとに接続し、残りのPMOSトランジスタとNMOS
トランジスタのゲートに反転クロック信号12を接続し
てあればよい。
【0049】また、ゲート23のPMOSトランジスタ
P11,P12およびNMOSトランジスタN11,N
12の回路において、ゲート21の出力をPMOSトラ
ンジスタP11とNMOSトランジスタN11のゲート
に、ゲート22の出力をPMOSトランジスタP12と
NMOSトランジスタN12のゲートに接続している
が、ゲート21の出力を、PMOSトランジスタP11
とP12のうちのいずれか一つのゲートと、NMOSト
ランジスタN11とN12のうちのいずれか一つのゲー
トとに接続し、残りのPMOSトランジスタとNMOS
トランジスタのゲートにゲート22の出力を接続してあ
ればよい。
【0050】〔第2の実施の形態〕以下、本発明の実施
の形態について、図面を参照しながら説明する。図3は
本発明の第2の実施の形態のダブル・エッジトリガ・フ
リップフロップの回路図である。図3において、24,
25はCMOSトランジスタからなるダイナミックタイ
プのゲート回路(第1,第2のゲート回路)である。
【0051】本実施の形態において、第1の実施の形態
と異なるのは、ゲート回路24,25(以下「ゲート2
4,25」という)の構成であり、ゲート24,25
は、それぞれ第1の実施の形態のゲート21,22にP
MOSトランジスタP3,P4およびNMOSトランジ
スタN3,N4が追加接続されている。ゲート23は第
1の実施の形態と同様の構成である。
【0052】すなわち、ゲート24は、第1の実施の形
態のゲート21の回路構成に加えて、ゲート25の第2
の出力15bをゲート入力に接続したPMOSトランジ
スタP3,NMOSトランジスタN3をそれぞれPMO
SトランジスタP2,NMOSトランジスタN1と並列
に接続している。さらに、PMOSトランジスタP2と
NMOSトランジスタN1の接続回路と並列に、ゲート
25の第1の出力15aをゲート入力に接続したPMO
SトランジスタP4およびNMOSトランジスタN4の
直列回路を接続し、PMOSトランジスタP4とNMO
SトランジスタN4の接続部を第2の出力14bとする
構成となっている。
【0053】また、ゲート25も同様に、第1の実施の
形態のゲート22の回路構成に、PMOSトランジスタ
P3,P4およびNMOSトランジスタN3,N4を追
加接続し、ゲート24の第2の出力14bをPMOSト
ランジスタP3およびNMOSトランジスタN3のゲー
ト入力に接続し、ゲートの第1の出力14aをPMOS
トランジスタP4およびNMOSトランジスタN4のゲ
ート入力に接続し、PMOSトランジスタP4とNMO
SトランジスタN4の接続部を第2の出力15bとする
構成となっている。
【0054】このように、ゲート24は、データ信号1
0とクロック信号11に加えてゲート25の第1および
第2の出力15a,15bを入力し、ゲート25は、デ
ータ信号10と反転クロック信号12に加えてゲート2
4の第1および第2の出力14a,14bを入力する。
また、ゲート23は、ゲート24および25の第1の出
力14a,15aを入力し、第1の実施の形態と同様の
構成である。
【0055】ここで、ゲート24は、第1の実施の形態
のゲート21と同様に、データ信号10およびクロック
信号11が共にハイレベルの場合にはロウレベルを、共
にロウレベルの場合にはハイレベルを第1の出力14a
に出力する。さらに、クロック信号11がハイレベル
で、かつゲート25の第2の出力15bがハイレベルの
場合にはロウレベルを、クロック信号11がロウレベル
で、かつゲート25の第2の出力15bがロウレベルの
場合にはハイレベルを第1の出力14aに出力する。ま
た、クロック信号11がハイレベルでゲート25の第1
の出力15aがハイレベルの場合にはロウレベルを、ク
ロック信号11がロウレベルでゲート25の第1の出力
15aがロウレベルの場合にはハイレベルを第2の出力
14bに出力する。ゲート25も同様に、反転クロック
信号12とデータ信号10もしくはゲート24の第2の
出力14bが共にハイレベルの場合にはロウレベルを、
共にロウレベルの場合にはハイレベルを第1の出力15
aに出力する。また、反転クロック信号12がハイレベ
ルで、かつゲート24の第1の出力14aがハイレベル
の場合にはロウレベルを、反転クロック信号12がロウ
レベルで、かつゲート24の第1の出力14aがロウレ
ベルの場合にはハイレベルを第2の出力15bに出力す
る。
【0056】ゲート24,25をこの様な構成とするこ
とにより、クロック信号11とデータ信号10が一旦共
にハイレベル(反転クロック信号12はロウレベル)と
なり(この時、ゲート24は第1の出力14aにロウレ
ベルを出力し、ゲート25は第2の出力15bにハイレ
ベルを出力する)、その後データ信号10がロウレベル
に遷移した場合に、ゲート24の第1の出力14aはハ
イインピーダンス状態に変化することがなくロウレベル
を出力し続ける。また、クロック信号11とデータ信号
10が共にロウレベルになった場合、および反転クロッ
ク信号12とデータ信号10が同電位になった場合も同
様に、一旦出力したゲート24の第1の出力14aまた
はゲート25の第1の出力15aは、データ信号10の
電位が変化してもハイインピーダンスとはならず維持出
力される構成となっている。
【0057】以上の様に構成された第2の実施の形態の
ダブル・エッジトリガ・フリップフロップについて、以
下その動作を図4に示すタイミングチャートを用いて説
明する。図4において、クロック信号11および反転ク
ロック信号12の立ち上がり/立ち下がり両エッジに同
期してデータ信号10をサンプリングし、出力信号13
に出力するダブル・エッジトリガ・フリップフロップと
して動作するのは第1の実施の形態と同様である。
【0058】第1の実施の形態と異なっているのは、ク
ロック信号11および反転クロック信号12の電位がハ
イレベルまたはロウレベルで一定の期間にデータ信号1
0の電位が変化した場合のゲート24とゲート25の出
力の状態である。例えば、データ信号10がハイレベル
のときにクロック信号11が立ち下がってゲート24
(ゲート21)がロウレベル保持状態かつゲート25
(ゲート22)がロウレベル出力状態にあり、さらに、
その後、データ信号10がロウレベルに変化した場合の
状況を考察する。
【0059】このとき、第1の実施の形態においては、
ゲート21の出力がハイレベル出力に遷移すると同時に
ゲート22はハイインピーダンス状態となる。ゲート2
2はハイインピーダンス状態であるため、その出力電位
は短期的にはロウレベルを保持することが可能である
が、MOSトランジスタのリーク電流などの影響により
時間と共に電位が変化しハイレベルに達することが起こ
り得る。その場合、ゲート23の両入力がハイレベルと
なり、出力信号13の電位がロウレベルに遷移してフリ
ップフロップとしては誤動作を発生することになる。こ
れに対して、第2の実施の形態においては、上記の状況
で、データ信号10がロウレベルに変化しても、ゲート
25の第1の出力15aはハイインピーダンス状態には
ならず、ロウレベル出力を継続する。したがって、時間
の経過によってもゲート23はハイレベルを維持し続
け、誤動作を招くことはない。
【0060】以上のように第2の実施の形態において
は、第1の実施の形態の効果に加えて、クロック信号1
1および反転クロック信号12の電位が一定の期間にデ
ータ信号10の電位が変化した場合に、ゲート24およ
びゲート25のいずれの出力(14a,15a)もハイ
インピーダンス状態にならず、互いに相反する電位を出
力する構成となっており、したがって、その状態で時間
が経過しても誤動作を招くことがなく、クロック信号1
1および反転クロック信号12に入力するクロック周波
数が低くハイインピーダンス状態による電位の保持が困
難な場合においても、正しい動作が可能である。
【0061】なお、ゲート23のPMOSトランジスタ
P11,P12およびNMOSトランジスタN11,N
12の回路において、ゲート24の第1の出力14aを
PMOSトランジスタP11とNMOSトランジスタN
11のゲートに、ゲート25の第1の出力15aをPM
OSトランジスタP12とNMOSトランジスタN12
のゲートに接続しているが、ゲート24の第1の出力1
4aを、PMOSトランジスタP11とP12のうちの
いずれか一つのゲートと、NMOSトランジスタN11
とN12のうちのいずれか一つのゲートとに接続し、残
りのPMOSトランジスタとNMOSトランジスタのゲ
ートにゲート25の第1の出力15aを接続してあれば
よい。
【0062】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、クロック
信号および反転クロック信号の電位がハイレベルまたは
ロウレベルで一定の期間にデータ信号の電位が複数回変
化しても、第1のゲート回路もしくは第2のゲート回路
の出力電位はただ一度ハイレベルもしくはロウレベルに
変化するだけでそれ以上の出力電位の遷移を起こさな
い。このように、クロック信号および反転クロック信号
の電位が一定の期間にデータ信号の電位が変化した場合
の内部ゲートの出力電位の変化による電力の消費を削減
して、低消費電力化を実現できる。
【0063】さらに、第1のゲート回路および第2のゲ
ート回路を、クロック信号および反転クロック信号の電
位が一定の期間にデータ信号の電位が変化しても、その
出力がハイインピーダンス状態とならないように構成す
ることにより、ハイインピーダンス状態による電位の保
持が困難な低いクロック周波数でも動作することが可能
となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態のダブル・エッジト
リガ・フリップフロップの回路図である。
【図2】同実施の形態における動作説明のためのタイミ
ングチャートである。
【図3】本発明の第2の実施の形態のダブル・エッジト
リガ・フリップフロップの回路図である。
【図4】同実施の形態における動作説明のためのタイミ
ングチャートである。
【図5】第1の従来例のダブル・エッジトリガ・フリッ
プフロップの回路図である。
【図6】同従来例における動作説明のためのタイミング
チャートである。
【図7】第2の従来例のダブル・エッジトリガ・フリッ
プフロップの回路図である。
【図8】同従来例における動作説明のためのタイミング
チャートである。
【図9】従来のエッジトリガ・フリップフロップの回路
図である。
【図10】同従来例における動作説明のためのタイミン
グチャートである。
【符号の説明】
10 データ信号 11 クロック信号 12 反転クロック信号 13 出力信号 21 (第1の)ゲート回路 22 (第2の)ゲート回路 23 (第3の)ゲート回路 24 (第1の)ゲート回路 25 (第2の)ゲート回路 P1〜P4,P11〜P15 Pチャンネル型MOS
トランジスタ N1〜N4,N11〜N15 Nチャンネル型MOS
トランジスタ INV インバータ回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源電位と接地電位との間に、第1およ
    び第2のPチャンネル型MOSトランジスタの直列回路
    と第1および第2のNチャンネル型MOSトランジスタ
    の直列回路とを直列に接続した第1のゲート回路と、 電源電位と接地電位との間に、第3および第4のPチャ
    ンネル型MOSトランジスタの直列回路と第3および第
    4のNチャンネル型MOSトランジスタの直列回路とを
    直列に接続した第2のゲート回路と、 電源電位と接地電位との間に、第5および第6のPチャ
    ンネル型MOSトランジスタの直列回路と第5および第
    6のNチャンネル型MOSトランジスタの直列回路とを
    直列に接続し、電源電位と接地電位との間に、第7およ
    び第8のPチャンネル型MOSトランジスタの並列回路
    と第9のPチャンネル型MOSトランジスタと第7のN
    チャンネル型MOSトランジスタと第8および第9のN
    チャンネル型MOSトランジスタの並列回路とを直列に
    接続し、前記第5および第6のPチャンネル型MOSト
    ランジスタの直列回路と前記第5および第6のNチャン
    ネル型MOSトランジスタの直列回路との接続点と、前
    記第9のPチャンネル型MOSトランジスタと前記第7
    のNチャンネル型MOSトランジスタとの接続点とを出
    力信号線に接続し、この出力信号線をインバータ回路の
    入力端に接続し、前記インバータ回路の出力端を前記第
    9のPチャンネル型MOSトランジスタのゲートおよび
    前記第7のNチャンネル型MOSトランジスタのゲート
    に接続した第3のゲート回路とを備え、 前記第1のゲート回路の前記第1および第2のPチャン
    ネル型MOSトランジスタの直列回路と前記第1および
    第2のNチャンネル型MOSトランジスタの直列回路と
    の接続点を、前記第3のゲート回路の前記第5および第
    7のPチャンネル型MOSトランジスタのゲートおよび
    前記第5および第9のNチャンネル型MOSトランジス
    タのゲートに接続し、 前記第2のゲート回路の前記第3および第4のPチャン
    ネル型MOSトランジスタの直列回路と前記第3および
    第4のNチャンネル型MOSトランジスタの直列回路と
    の接続点を、前記第3のゲート回路の前記第6および第
    8のPチャンネル型MOSトランジスタのゲートおよび
    前記第6および第8のNチャンネル型MOSトランジス
    タのゲートに接続し、 クロック信号を、前記第1のゲート回路の前記第1のP
    チャンネル型MOSトランジスタのゲートおよび前記第
    2のNチャンネル型MOSトランジスタのゲートに入力
    し、 反転クロック信号を、前記第2のゲート回路の前記第3
    のPチャンネル型MOSトランジスタのゲートおよび前
    記第4のNチャンネル型MOSトランジスタのゲートに
    入力し、 データ信号を、前記第1のゲート回路の前記第2のPチ
    ャンネル型MOSトランジスタのゲートおよび前記第1
    のNチャンネル型MOSトランジスタのゲートと、前記
    第2のゲート回路の前記第4のPチャンネル型MOSト
    ランジスタのゲートおよび前記第3のNチャンネル型M
    OSトランジスタのゲートとに入力するようにしたダブ
    ル・エッジトリガ・フリップフロップ。
  2. 【請求項2】 第1のゲート回路は、第2のPチャンネ
    ル型MOSトランジスタと第1のNチャンネル型MOS
    トランジスタとを隣接して接続し、前記第2のPチャン
    ネル型MOSトランジスタに第10のPチャンネル型M
    OSトランジスタを並列接続し、前記第1のNチャンネ
    ル型MOSトランジスタに第10のNチャンネル型MO
    Sトランジスタを並列接続し、前記第2のPチャンネル
    型MOSトランジスタおよび前記第1のNチャンネル型
    MOSトランジスタの接続回路と並列に、第11のPチ
    ャンネル型MOSトランジスタおよび第11のNチャン
    ネル型MOSトランジスタの直列回路を接続し、 第2のゲート回路は、第4のPチャンネル型MOSトラ
    ンジスタと第3のNチャンネル型MOSトランジスタと
    を隣接して接続し、前記第4のPチャンネル型MOSト
    ランジスタに第12のPチャンネル型MOSトランジス
    タを並列接続し、前記第3のNチャンネル型MOSトラ
    ンジスタに第12のNチャンネル型MOSトランジスタ
    を並列接続し、前記第4のPチャンネル型MOSトラン
    ジスタおよび前記第3のNチャンネル型MOSトランジ
    スタの接続回路と並列に、第13のPチャンネル型MO
    Sトランジスタおよび第13のNチャンネル型MOSト
    ランジスタの直列回路を接続し、 前記第1のゲート回路の第3のゲート回路に接続する前
    記第2のPチャンネル型MOSトランジスタと前記第1
    のNチャンネル型MOSトランジスタとの接続点を、前
    記第2のゲート回路の前記第13のPチャンネル型MO
    Sトランジスタのゲートおよび前記第13のNチャンネ
    ル型MOSトランジスタのゲートにも接続し、 前記第2のゲート回路の前記第3のゲート回路に接続す
    る前記第4のPチャンネル型MOSトランジスタと前記
    第3のNチャンネル型MOSトランジスタとの接続点
    を、前記第1のゲート回路の前記第11のPチャンネル
    型MOSトランジスタのゲートおよび前記第11のNチ
    ャンネル型MOSトランジスタのゲートにも接続し、 前記第1のゲート回路の前記第11のPチャンネル型M
    OSトランジスタと第11のNチャンネル型MOSトラ
    ンジスタとの接続点を、前記第2のゲート回路の前記第
    12のPチャンネル型MOSトランジスタのゲートおよ
    び前記第12のNチャンネル型MOSトランジスタのゲ
    ートに接続し、 前記第2のゲート回路の前記第13のPチャンネル型M
    OSトランジスタと第13のNチャンネル型MOSトラ
    ンジスタとの接続点を、前記第1のゲート回路の前記第
    10のPチャンネル型MOSトランジスタのゲートおよ
    び前記第10のNチャンネル型MOSトランジスタのゲ
    ートに接続したことを特徴とする請求項1記載のダブル
    ・エッジトリガ・フリップフロップ。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN111884626A (zh) * 2020-07-03 2020-11-03 上海华虹宏力半导体制造有限公司 双边沿d触发器

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