JPH11186670A - 面型光デバイスおよびその製造方法 - Google Patents
面型光デバイスおよびその製造方法Info
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- JPH11186670A JPH11186670A JP36588797A JP36588797A JPH11186670A JP H11186670 A JPH11186670 A JP H11186670A JP 36588797 A JP36588797 A JP 36588797A JP 36588797 A JP36588797 A JP 36588797A JP H11186670 A JPH11186670 A JP H11186670A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】高密度集積可能な構成を有するVCSELなど
の面型光デバイス、その製造方法である。 【解決手段】面型光デバイスは、突起部と突起周辺部を
有する光デバイス104が形成された第1基板102
と、光デバイス104の突起部をほぼ完全に覆うことの
できるトレンチを設けた第2基板101とが、突起部が
トレンチ内に嵌入された状態で、結合されて成る。
の面型光デバイス、その製造方法である。 【解決手段】面型光デバイスは、突起部と突起周辺部を
有する光デバイス104が形成された第1基板102
と、光デバイス104の突起部をほぼ完全に覆うことの
できるトレンチを設けた第2基板101とが、突起部が
トレンチ内に嵌入された状態で、結合されて成る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光情報処理、光演
算および光インタコネクションなどに光源等として用い
られる面型光デバイス、その製造方法等に関する。
算および光インタコネクションなどに光源等として用い
られる面型光デバイス、その製造方法等に関する。
【0002】
【従来の技術】面型発光デバイス、特に面発光半導体レ
ーザ(Vertical Cavity Surface Emitting Laser、以下
VCSELと略記する)は、光通信、光情報処理あるい
は光演算など、その適用範囲が広いことから、近年活発
に研究されているデバイスである。VCSELは通常の
端面発光レーザに比べ、(1)構造が簡単、(2)動作
電流が低い、(3)ウエハ単位で素子チェックができる
など多くの長所がある。VCSELは、高密度配列する
ことで本来のポテンシャルが発揮されるデバイスである
が、現在実用化されつつあるデバイスは、いずれも1×
10や2×10程度の小規模にアレイ化したものに留ま
っている。これは、高密度配列する上での大きな問題点
が解決されていないことによる。
ーザ(Vertical Cavity Surface Emitting Laser、以下
VCSELと略記する)は、光通信、光情報処理あるい
は光演算など、その適用範囲が広いことから、近年活発
に研究されているデバイスである。VCSELは通常の
端面発光レーザに比べ、(1)構造が簡単、(2)動作
電流が低い、(3)ウエハ単位で素子チェックができる
など多くの長所がある。VCSELは、高密度配列する
ことで本来のポテンシャルが発揮されるデバイスである
が、現在実用化されつつあるデバイスは、いずれも1×
10や2×10程度の小規模にアレイ化したものに留ま
っている。これは、高密度配列する上での大きな問題点
が解決されていないことによる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】以下に、高密度配列す
る上での問題点を列記する。 (従来の問題点1)位置合わせ 高密度集積化に伴い、素子サイズが小さくなる。そのた
め、従来では、VCSELアレイが形成された基板(以
下VCSEL基板と略記する)と配線パターンが形成さ
れた基板(以下配線基板と略記する)との位置合わせ
に、高い精度が要求され、デバイスコストに占める実装
コストの割合が上昇するという問題点があった(たとえ
ば、電子情報通信学会技術研究報告LQE96−144
参照)。
る上での問題点を列記する。 (従来の問題点1)位置合わせ 高密度集積化に伴い、素子サイズが小さくなる。そのた
め、従来では、VCSELアレイが形成された基板(以
下VCSEL基板と略記する)と配線パターンが形成さ
れた基板(以下配線基板と略記する)との位置合わせ
に、高い精度が要求され、デバイスコストに占める実装
コストの割合が上昇するという問題点があった(たとえ
ば、電子情報通信学会技術研究報告LQE96−144
参照)。
【0004】(従来の問題点2)電気配線 従来は、2次元アレイ化されたVCSELに対し、ワイ
ヤボンディングやプリント基板等で配線している。その
ために、集積度が大きくなればなるほど、また、素子間
隔が狭くなればなるほど、電気配線の困難さは増大する
という問題点があった(たとえば、電子情報通信学会技
術研究報告LQE96−149参照)。
ヤボンディングやプリント基板等で配線している。その
ために、集積度が大きくなればなるほど、また、素子間
隔が狭くなればなるほど、電気配線の困難さは増大する
という問題点があった(たとえば、電子情報通信学会技
術研究報告LQE96−149参照)。
【0005】(従来の問題点3)熱 従来、VCSELの駆動電流および駆動電圧は、それぞ
れ1mAおよび5V程度であり、半導体レーザとしては
比較的小さいが、通常の電子デバイスに比べると桁違い
にその消費電力は大きい。また、VCSELは、しきい
電流密度が高く、かつ、周囲温度に敏感なため、―度デ
バイス温度が上昇すると加速度的に駆動電力が上昇す
る。したがって、集積度が大きくなればなるほど、ま
た、素子間隔が狭くなればなるほど、自己放熱およびデ
バイス間の熱干渉の影響は増大するため、素子集積数は
16×16程度、素子間隔は250μm程度が限界であ
るという問題点があった(たとえば、電子情報通信学会
技術研究報告LQE95−109参照)。
れ1mAおよび5V程度であり、半導体レーザとしては
比較的小さいが、通常の電子デバイスに比べると桁違い
にその消費電力は大きい。また、VCSELは、しきい
電流密度が高く、かつ、周囲温度に敏感なため、―度デ
バイス温度が上昇すると加速度的に駆動電力が上昇す
る。したがって、集積度が大きくなればなるほど、ま
た、素子間隔が狭くなればなるほど、自己放熱およびデ
バイス間の熱干渉の影響は増大するため、素子集積数は
16×16程度、素子間隔は250μm程度が限界であ
るという問題点があった(たとえば、電子情報通信学会
技術研究報告LQE95−109参照)。
【0006】従って、本発明の目的は、上記の課題に鑑
み、高密度集積可能な構成を有するVCSELなどの面
型光デバイス、その製造方法等を提供することにある。
み、高密度集積可能な構成を有するVCSELなどの面
型光デバイス、その製造方法等を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の面型光デバイスは、柱状等の突起部と平坦部などで
ある突起周辺部を有する光デバイス(典型的には、熱を
発生しやすい面発光レーザ等の発光デバイスであるが、
受光デバイスなどであってもよい)が形成された第1基
板と、該光デバイスの突起部をほぼ完全に覆うことので
きるトレンチを設けた第2基板とが、該突起部が該トレ
ンチ内に嵌入された状態で、結合されて成ることを特徴
とする。
明の面型光デバイスは、柱状等の突起部と平坦部などで
ある突起周辺部を有する光デバイス(典型的には、熱を
発生しやすい面発光レーザ等の発光デバイスであるが、
受光デバイスなどであってもよい)が形成された第1基
板と、該光デバイスの突起部をほぼ完全に覆うことので
きるトレンチを設けた第2基板とが、該突起部が該トレ
ンチ内に嵌入された状態で、結合されて成ることを特徴
とする。
【0008】より具体的には以下のような形態を採り得
る。前記第2基板に、前記光デバイスの少なくとも一方
の電極(より好適には正負両電極)と導通する配線を設
けて、第1基板の第2基板と結合していない面側を、自
由に他の機能デバイスと結合する為に用いられる様にで
きる。
る。前記第2基板に、前記光デバイスの少なくとも一方
の電極(より好適には正負両電極)と導通する配線を設
けて、第1基板の第2基板と結合していない面側を、自
由に他の機能デバイスと結合する為に用いられる様にで
きる。
【0009】また、基板には光デバイスを1つのみ形成
してもよいが、本発明の面型光デバイスの構成の特徴
(高密度集積を可能とする構成を持つこと)をより有効
に生かすには、前記第1基板には、光デバイスが1次元
或は2次元等に複数配列され、前記第2基板には、該光
デバイスに対応してトレンチが複数配列されている様に
するとよい。この場合、前記光デバイスの突起部と突起
周辺部ないし平坦部上に正負電極を分離して形成し(基
板に光デバイスを単独で形成している場合でも、この様
にしてよい)、前記第2基板に、各光デバイスの突起部
上の一方の電極に通じるトレンチ底部のコンタクト金属
を含む配線パターンと各光デバイスの突起周辺部ないし
平坦部上の他方の電極に通じる配線パターンから成る独
立駆動のための配線パターンを形成したり、各光デバイ
スの突起部上の一方の電極に通じるトレンチ底部のコン
タクト金属を列状に接続する配線パターンと各光デバイ
スの突起周辺部ないし平坦部上の他方の電極を行状に接
続する配線パターンから成るマトリクス駆動のための配
線パターンを形成して、本発明の面型光デバイスを種々
の装置に適用できる。
してもよいが、本発明の面型光デバイスの構成の特徴
(高密度集積を可能とする構成を持つこと)をより有効
に生かすには、前記第1基板には、光デバイスが1次元
或は2次元等に複数配列され、前記第2基板には、該光
デバイスに対応してトレンチが複数配列されている様に
するとよい。この場合、前記光デバイスの突起部と突起
周辺部ないし平坦部上に正負電極を分離して形成し(基
板に光デバイスを単独で形成している場合でも、この様
にしてよい)、前記第2基板に、各光デバイスの突起部
上の一方の電極に通じるトレンチ底部のコンタクト金属
を含む配線パターンと各光デバイスの突起周辺部ないし
平坦部上の他方の電極に通じる配線パターンから成る独
立駆動のための配線パターンを形成したり、各光デバイ
スの突起部上の一方の電極に通じるトレンチ底部のコン
タクト金属を列状に接続する配線パターンと各光デバイ
スの突起周辺部ないし平坦部上の他方の電極を行状に接
続する配線パターンから成るマトリクス駆動のための配
線パターンを形成して、本発明の面型光デバイスを種々
の装置に適用できる。
【0010】また、前記第1基板には、光デバイスが1
次元或は2次元等に複数配列され、前記第2基板には、
該光デバイスに対応してトレンチが1次元或は2次元等
に複数配列されると共に複数のトレンチを少なくとも1
つの方向に関して繋ぐアイルが形成されている様にもで
きる。こうすれば、絶縁性の基板を用いた場合でも、ト
レンチ底部のコンタクト金属をアイル底部の金属を用い
て容易に電気的に接続できるし、第1基板と第2基板と
を導電性樹脂などを用いて結合する場合に、この樹脂な
どの逃げの空間をアイルで提供することができる。
次元或は2次元等に複数配列され、前記第2基板には、
該光デバイスに対応してトレンチが1次元或は2次元等
に複数配列されると共に複数のトレンチを少なくとも1
つの方向に関して繋ぐアイルが形成されている様にもで
きる。こうすれば、絶縁性の基板を用いた場合でも、ト
レンチ底部のコンタクト金属をアイル底部の金属を用い
て容易に電気的に接続できるし、第1基板と第2基板と
を導電性樹脂などを用いて結合する場合に、この樹脂な
どの逃げの空間をアイルで提供することができる。
【0011】また、前記第2基板をSiやAlN等の熱
抵抗の小さい材料から形成すれば、光デバイスが発生す
る熱を放散しやすくなって本発明の面型光デバイスの特
徴を更に生かせる。また、前記第2基板を、基板上にポ
リイミドなどの樹脂の層を少なくと1層重ねた層構造か
ら成る様にし、各層上に配線パターンを形成すれば、複
雑な配線でも各層に分けて行なえるので配線が簡便とな
る。
抵抗の小さい材料から形成すれば、光デバイスが発生す
る熱を放散しやすくなって本発明の面型光デバイスの特
徴を更に生かせる。また、前記第2基板を、基板上にポ
リイミドなどの樹脂の層を少なくと1層重ねた層構造か
ら成る様にし、各層上に配線パターンを形成すれば、複
雑な配線でも各層に分けて行なえるので配線が簡便とな
る。
【0012】更に、上記目的を達成する本発明の面型光
デバイスの製造方法は、前記トレンチを、ドライエッチ
ング等の異方性エッチングで断面がほぼ垂直或は逆メサ
状に形成する過程と、その後、電子ビーム等の指向性の
強いビームでAu等の金属を、該トレンチ側面に付着さ
せることなく、該トレンチの底部および非トレンチ領域
ないし平坦部に同時形成する過程を有することを特徴と
する。この製造方法によれば、トレンチの底部および非
トレンチ領域に金属を確実に分離して容易に形成でき、
複雑な配線構造でも安定的に製造できる。
デバイスの製造方法は、前記トレンチを、ドライエッチ
ング等の異方性エッチングで断面がほぼ垂直或は逆メサ
状に形成する過程と、その後、電子ビーム等の指向性の
強いビームでAu等の金属を、該トレンチ側面に付着さ
せることなく、該トレンチの底部および非トレンチ領域
ないし平坦部に同時形成する過程を有することを特徴と
する。この製造方法によれば、トレンチの底部および非
トレンチ領域に金属を確実に分離して容易に形成でき、
複雑な配線構造でも安定的に製造できる。
【0013】また、上記目的を達成する本発明の面型光
デバイスの製造方法は、光デバイスが形成された第1基
板と、該光デバイスの突起部をほぼ完全に覆うことので
きるトレンチおよび配線を設けた第2基板とを結合する
為に、異方性導電性樹脂を該両基板の少なくと―方に塗
布し、両基板を圧着かつ加熱することで、該トレンチの
側面に導通させることなく、該トレンチの底部および非
トレンチ部のみに導通を可能にする過程を有することを
特徴とする。
デバイスの製造方法は、光デバイスが形成された第1基
板と、該光デバイスの突起部をほぼ完全に覆うことので
きるトレンチおよび配線を設けた第2基板とを結合する
為に、異方性導電性樹脂を該両基板の少なくと―方に塗
布し、両基板を圧着かつ加熱することで、該トレンチの
側面に導通させることなく、該トレンチの底部および非
トレンチ部のみに導通を可能にする過程を有することを
特徴とする。
【0014】
【作用】以上の構成による作用の代表例を述べると、次
の様になる。(1)配線基板などとなる上記第2基板に
トレンチを形成することで、2つの基板の位置合わせ精
度を緩和することができる。(2)配線基板などとなる
上記第2基板に熱伝導性の高い材料を用いて、第1基板
側の光デバイスの発熱部をトレンチで埋め込むことで、
熱飽和や熱干渉の影響を緩和できる。(3)配線基板を
多層構造とすることで、高密度な配線を可能にできる。
(4)VCSEL等の光デバイスの正負電極を同―面側
に設けることで、反対側の面を自由に使用できるため、
他デバイスとの集積が容易となる。(5)異方性導電性
樹脂を用いることで、簡便に第1基板側の正負電極と第
2基板側の配線パターンの導通をとることができる。
の様になる。(1)配線基板などとなる上記第2基板に
トレンチを形成することで、2つの基板の位置合わせ精
度を緩和することができる。(2)配線基板などとなる
上記第2基板に熱伝導性の高い材料を用いて、第1基板
側の光デバイスの発熱部をトレンチで埋め込むことで、
熱飽和や熱干渉の影響を緩和できる。(3)配線基板を
多層構造とすることで、高密度な配線を可能にできる。
(4)VCSEL等の光デバイスの正負電極を同―面側
に設けることで、反対側の面を自由に使用できるため、
他デバイスとの集積が容易となる。(5)異方性導電性
樹脂を用いることで、簡便に第1基板側の正負電極と第
2基板側の配線パターンの導通をとることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】(第1実施例)第1実施例は、ト
レンチを形成する基板にSi基板を用い、各デバイスへ
の電気配線を独立配線とした例に関する。図1は、第1
の実施例を説明する斜視模式図であり、図2はその製作
工程図であり、図3はVCSELの断面図であり、図4
はVCSEL基板の斜視模式図であり、図5は配線基板
の斜視模式図であり、図6は配線基板の配線の模様を示
す平面図である。
レンチを形成する基板にSi基板を用い、各デバイスへ
の電気配線を独立配線とした例に関する。図1は、第1
の実施例を説明する斜視模式図であり、図2はその製作
工程図であり、図3はVCSELの断面図であり、図4
はVCSEL基板の斜視模式図であり、図5は配線基板
の斜視模式図であり、図6は配線基板の配線の模様を示
す平面図である。
【0016】(VCSEL基板作製)まず、VCSEL
基板を作製する工程(図2には描かれていない)から説
明する。VCSEL単体の断面を示す図3、VCSEL
が2次元配置されたVCSEL基板を示す図4におい
て、102は半絶縁性GaAs基板、104はVCSE
Lである。本実施例では、VCSEL104が4×4個
集積されている。また、図3において、302はn型A
lGaAs/GaAs多層膜ミラー、303は共振器長
を調整しキャリアを活性層に閉じ込める為のn型AlG
aAsスペーサ層、304はInGaAs/GaAs量
子井戸活性層、305はp型AlGaAsスペーサ層、
306はp型AlGaAs/GaAs多層膜ミラー、3
07はリング型の正電極、308は同じくリング型の負
電極である。本実施例では、GaAs基板102上に、
開口部直径(リング型の正電極307の開口部の直径)
15μm、突起部長さ(円筒部高さ)4μm、発振波長
980nmのVCSEL104を素子間隔(中心間距
離)50μmで均等配置した。
基板を作製する工程(図2には描かれていない)から説
明する。VCSEL単体の断面を示す図3、VCSEL
が2次元配置されたVCSEL基板を示す図4におい
て、102は半絶縁性GaAs基板、104はVCSE
Lである。本実施例では、VCSEL104が4×4個
集積されている。また、図3において、302はn型A
lGaAs/GaAs多層膜ミラー、303は共振器長
を調整しキャリアを活性層に閉じ込める為のn型AlG
aAsスペーサ層、304はInGaAs/GaAs量
子井戸活性層、305はp型AlGaAsスペーサ層、
306はp型AlGaAs/GaAs多層膜ミラー、3
07はリング型の正電極、308は同じくリング型の負
電極である。本実施例では、GaAs基板102上に、
開口部直径(リング型の正電極307の開口部の直径)
15μm、突起部長さ(円筒部高さ)4μm、発振波長
980nmのVCSEL104を素子間隔(中心間距
離)50μmで均等配置した。
【0017】(配線基板作製)次に配線基板を作製す
る。図2に示す様に、p型Si基板101表面に熱酸化
等で絶縁層(厚さ300nm)202を形成した(図2
(2)参照)後、VCSEL104の数に見合うトレン
チ203を作製する(図2(3)参照)。穴203の大
きさ(直径)、深さおよびピッチ(中心間距離)はそれ
ぞれ25μm、5μmおよび50μmとし(よって、ト
レンチ203は絶縁層202を貫いており、その底部は
導電性p型Si基板101に達している)、前記VCS
EL基板102上のVCSEL円筒部の配列とマッチす
るように設定する。このトレンチ203の作製方法は、
ドライエッチング等の異方性エッチングを用いて基板表
面に垂直ないしは逆テーパ状に形成することが望まし
い。ここまでの配線基板101の模式図を図5に示し
た。
る。図2に示す様に、p型Si基板101表面に熱酸化
等で絶縁層(厚さ300nm)202を形成した(図2
(2)参照)後、VCSEL104の数に見合うトレン
チ203を作製する(図2(3)参照)。穴203の大
きさ(直径)、深さおよびピッチ(中心間距離)はそれ
ぞれ25μm、5μmおよび50μmとし(よって、ト
レンチ203は絶縁層202を貫いており、その底部は
導電性p型Si基板101に達している)、前記VCS
EL基板102上のVCSEL円筒部の配列とマッチす
るように設定する。このトレンチ203の作製方法は、
ドライエッチング等の異方性エッチングを用いて基板表
面に垂直ないしは逆テーパ状に形成することが望まし
い。ここまでの配線基板101の模式図を図5に示し
た。
【0018】この後、電子ビーム蒸着等の指向性の強い
蒸着方法を用いて、AuやAl等の配線材を、前記トレ
ンチ203の側面に蒸着されないよう、トレンチ203
の底部(ここのAuやAl等の配線材を204bで示
す)および上面の平坦部(ここのAuやAl等の配線材
を204aで示す)に形成する(図2(4)参照)。こ
うしてできた電極パターンを図6に示す。図6中、50
3はVCSEL基板102との結合領域(ここには位置
合わせ用のマーク503aが形成されている)を示し、
103は個々のVCSEL独立駆動用配線(図1も参
照)であり、配線基板平坦部に形成されている。また、
502はp型Si基板トレンチ203の底部の配線材2
04b及びp型Si基板101自体を介して外部に引き
出された共通配線であり、その引き出し部502aは配
線材が絶縁層202を貫いた穴内に延びてp型Si基板
101自体と導通している。
蒸着方法を用いて、AuやAl等の配線材を、前記トレ
ンチ203の側面に蒸着されないよう、トレンチ203
の底部(ここのAuやAl等の配線材を204bで示
す)および上面の平坦部(ここのAuやAl等の配線材
を204aで示す)に形成する(図2(4)参照)。こ
うしてできた電極パターンを図6に示す。図6中、50
3はVCSEL基板102との結合領域(ここには位置
合わせ用のマーク503aが形成されている)を示し、
103は個々のVCSEL独立駆動用配線(図1も参
照)であり、配線基板平坦部に形成されている。また、
502はp型Si基板トレンチ203の底部の配線材2
04b及びp型Si基板101自体を介して外部に引き
出された共通配線であり、その引き出し部502aは配
線材が絶縁層202を貫いた穴内に延びてp型Si基板
101自体と導通している。
【0019】(結合)次に、VCSEL基板102と配
線基板101の結合工程について述べる。図2(5)に
示すように、VCSEL基板102と配線基板101
を、VCSEL104の突起部が配線基板101のトレ
ンチ203内に収まるように位置合わせする。このトレ
ンチ203がガイドとなって容易に位置合わせが可能に
なっている。
線基板101の結合工程について述べる。図2(5)に
示すように、VCSEL基板102と配線基板101
を、VCSEL104の突起部が配線基板101のトレ
ンチ203内に収まるように位置合わせする。このトレ
ンチ203がガイドとなって容易に位置合わせが可能に
なっている。
【0020】両者の接着方法は導電性バンプを使っても
よいし、導電性樹脂205を使ってもよい。特に異方性
を有する導電性樹脂を用いた場合には、圧着面だけに導
通がとれ、トレンチ203の側面の導通を容易に防ぐこ
とができるので効果的である。異方性導電性樹脂は、導
電粒子入りのポリイミド系接着剤で実現している。この
導電性樹脂は、電極とAuやAl等の配線材間のみ導通
が取れ、横方向は導通がとれないような性能を持つ。導
電粒子は2つの金属材料間に挟まって導通が取れ、これ
がない領域では粒子同志がつながらないために導通しな
い。
よいし、導電性樹脂205を使ってもよい。特に異方性
を有する導電性樹脂を用いた場合には、圧着面だけに導
通がとれ、トレンチ203の側面の導通を容易に防ぐこ
とができるので効果的である。異方性導電性樹脂は、導
電粒子入りのポリイミド系接着剤で実現している。この
導電性樹脂は、電極とAuやAl等の配線材間のみ導通
が取れ、横方向は導通がとれないような性能を持つ。導
電粒子は2つの金属材料間に挟まって導通が取れ、これ
がない領域では粒子同志がつながらないために導通しな
い。
【0021】図7は異方性導電性樹脂205を用いて結
合した両基板101、102界面の断面図である。異方
性導電性樹脂を配線基板101に塗布し、VCSEL基
板102と加熱しながら圧力をかけることで、樹脂に含
まれる導電性微粒子が両基板の金属面307と204
b、308と204aに圧着された部分のみに導通がと
れる。VCSELの突起部の正電極307は、配線基板
トレンチ底部に形成されたコンタクト金属204bによ
りコンタクトがとれ、VCSELの平坦部の負電極30
8は、配線基板平坦部に形成された配線金属204aに
よりコンタクトがとれる。一方、側面の導電性樹脂20
5bは、接する金属面もなく、また圧着も弱いため、導
通には寄与しない。
合した両基板101、102界面の断面図である。異方
性導電性樹脂を配線基板101に塗布し、VCSEL基
板102と加熱しながら圧力をかけることで、樹脂に含
まれる導電性微粒子が両基板の金属面307と204
b、308と204aに圧着された部分のみに導通がと
れる。VCSELの突起部の正電極307は、配線基板
トレンチ底部に形成されたコンタクト金属204bによ
りコンタクトがとれ、VCSELの平坦部の負電極30
8は、配線基板平坦部に形成された配線金属204aに
よりコンタクトがとれる。一方、側面の導電性樹脂20
5bは、接する金属面もなく、また圧着も弱いため、導
通には寄与しない。
【0022】以上で本実施例のデバイスは完成する。こ
の実施例の効果は以下の通りである。 (1)位置あわせが容易である。 (2)2次元配線が容易である。 (3)VCSEL活性層部で発熱しても、熱伝導性に優
れたSiで覆われているために熱放散に優れ、自分自身
の温度上昇および近接する他VCSELへの熱干渉を防
いでいる。 (4)異方性導電性樹脂を用いることで、さらにプロセ
スが簡単になる。
の実施例の効果は以下の通りである。 (1)位置あわせが容易である。 (2)2次元配線が容易である。 (3)VCSEL活性層部で発熱しても、熱伝導性に優
れたSiで覆われているために熱放散に優れ、自分自身
の温度上昇および近接する他VCSELへの熱干渉を防
いでいる。 (4)異方性導電性樹脂を用いることで、さらにプロセ
スが簡単になる。
【0023】この結果すべての素子を同時CW動作で駆
動したが、それぞれの素子の特性(しきい値、波長、微
分量子効率等)は単独で駆動したときと殆ど変化はなか
った。本実施例では図示の都合上4×4の場合について
示したが、これ以上の集積化、たとえば、64×64の
集積化も容易である。また、本実施例ではGaAsベー
スのVCSELについて述べたが、他の材料系、たとえ
ばInGaAsP/InPベースのVCSELなどでも
効果があることは言うまでもない。
動したが、それぞれの素子の特性(しきい値、波長、微
分量子効率等)は単独で駆動したときと殆ど変化はなか
った。本実施例では図示の都合上4×4の場合について
示したが、これ以上の集積化、たとえば、64×64の
集積化も容易である。また、本実施例ではGaAsベー
スのVCSELについて述べたが、他の材料系、たとえ
ばInGaAsP/InPベースのVCSELなどでも
効果があることは言うまでもない。
【0024】(第2実施例)次に、AlN基板を用い、
正電極と負電極をマトリクス状に配した電極マトリクス
配線を持つ第2実施例について述べる。図8はその模式
斜視図である。図9は、これに用いた配線基板の模式平
面図である。簡単に作製方法を説明する。
正電極と負電極をマトリクス状に配した電極マトリクス
配線を持つ第2実施例について述べる。図8はその模式
斜視図である。図9は、これに用いた配線基板の模式平
面図である。簡単に作製方法を説明する。
【0025】半絶縁性基板1101たとえばAlN上に
図10のようなトレンチパターンを形成する。第1実施
例における各トレンチ1203がアイル(小径)123
3で列状に繋がった構成となっている。本実施例の場
合、アイル1233の幅を10μmとした。深さはVC
SEL部のトレンチ1203と同じとした。本実施例で
は、基板1101は半絶縁性であるのでトレンチ120
3の底部の金属配線材1204a間の導通はアイル12
33の底部の金属配線材により行なっている。
図10のようなトレンチパターンを形成する。第1実施
例における各トレンチ1203がアイル(小径)123
3で列状に繋がった構成となっている。本実施例の場
合、アイル1233の幅を10μmとした。深さはVC
SEL部のトレンチ1203と同じとした。本実施例で
は、基板1101は半絶縁性であるのでトレンチ120
3の底部の金属配線材1204a間の導通はアイル12
33の底部の金属配線材により行なっている。
【0026】また、配線基板1101の平坦部には、図
9に示す様に、行状に配線パターン1103を形成し
た。これらの作製方法は、第1の実施例に準じた方法で
1回の蒸着で形成可能である。VCSEL基板102と
の結合方法も第1の実施例に準じた方法で作製可能であ
る。本実施例の場合、トレンチ(穴)1203に小径1
233がついている為、VCSELの電極と配線基板1
101側の金属配線材1204a(平坦部上の電極パッ
ド)、1204b(トレンチ底部上の金属配線材)との
間の導通をとる為に導電性樹脂を充填したとき、「逃
げ」ができるので、物理的にも電気的にも従来例1より
簡便に結合できるという利点がある。
9に示す様に、行状に配線パターン1103を形成し
た。これらの作製方法は、第1の実施例に準じた方法で
1回の蒸着で形成可能である。VCSEL基板102と
の結合方法も第1の実施例に準じた方法で作製可能であ
る。本実施例の場合、トレンチ(穴)1203に小径1
233がついている為、VCSELの電極と配線基板1
101側の金属配線材1204a(平坦部上の電極パッ
ド)、1204b(トレンチ底部上の金属配線材)との
間の導通をとる為に導電性樹脂を充填したとき、「逃
げ」ができるので、物理的にも電気的にも従来例1より
簡便に結合できるという利点がある。
【0027】本実施例の如きマトリクス配線では各VC
SEL104を独立に同時に駆動することはできない
が、高速走査することが可能である。また、素子数がn
×nの時、配線数は独立駆動の場合、n×n(正確には
n×n+1)が必要なのに対し、マトリクス配線では2
×nで済むため、第1実施例の場合より高密度に配置す
ることができる。その時の熱放散の問題点も、第1実施
例同様に解決している。特に、本実施例ではSiよりも
熱伝導係数の大きなAlNを使用しているので放熱効果
は大きい。また、本実施例でも、各VCSEL104の
電極は同じ側から取っているため、VCSEL基板10
2の他方の面は自由に他の機能デバイスと結合できる。
さらに、VCSEL基板102にRGB3色用のVCS
ELを集積することで(VCSELからの紫外光でRG
Bの塗料を照射して蛍光を発するものなど)、極めて高
輝度のディスプレイを作製することもできる。
SEL104を独立に同時に駆動することはできない
が、高速走査することが可能である。また、素子数がn
×nの時、配線数は独立駆動の場合、n×n(正確には
n×n+1)が必要なのに対し、マトリクス配線では2
×nで済むため、第1実施例の場合より高密度に配置す
ることができる。その時の熱放散の問題点も、第1実施
例同様に解決している。特に、本実施例ではSiよりも
熱伝導係数の大きなAlNを使用しているので放熱効果
は大きい。また、本実施例でも、各VCSEL104の
電極は同じ側から取っているため、VCSEL基板10
2の他方の面は自由に他の機能デバイスと結合できる。
さらに、VCSEL基板102にRGB3色用のVCS
ELを集積することで(VCSELからの紫外光でRG
Bの塗料を照射して蛍光を発するものなど)、極めて高
輝度のディスプレイを作製することもできる。
【0028】本実施例の効果をまとめると次の様にな
る。 (1)マトリクス配線であるので配線が単純にできる。 (2)配線が単純化できるので素子を高密度に集積でき
る。 (3)高密度に集積した素子を用いて高輝度ディスプレ
イが作製できる。
る。 (1)マトリクス配線であるので配線が単純にできる。 (2)配線が単純化できるので素子を高密度に集積でき
る。 (3)高密度に集積した素子を用いて高輝度ディスプレ
イが作製できる。
【0029】(第3実施例)第3実施例はポリイミドで
多層配線を可能にした構造を有する。図11は、第3の
実施例の模式図である。本実施例の骨子は、基板210
1をエッチングせずに、ポリイミド2111等の樹脂を
用いた構造で多層配線することにある。簡単に作製方法
を説明する。
多層配線を可能にした構造を有する。図11は、第3の
実施例の模式図である。本実施例の骨子は、基板210
1をエッチングせずに、ポリイミド2111等の樹脂を
用いた構造で多層配線することにある。簡単に作製方法
を説明する。
【0030】Si基板2101上に1層目の配線パター
ン(たとえば図6の黒の部分の配線ようなパターン)を
形成した後(トレンチ底部に形成されることになるコン
タクト金属2204b間はp型のSi基板2101で電
気的に接続されている)、ポリイミド2111を厚さ3
μm程度塗布し、固化したのち、所望のVCSELパタ
ーン(たとえば図5のトレンチのようなパターン)をド
ライエッチ等で選択的に取り除いたあと、その上に他の
配線2204a(たとえば図6の灰色の部分の配線のよ
うなパターン)を行う。必要であれば、さらにポリイミ
ドを重ねることで多層配線する。他の点は図7と同じで
ある。この方法は、ポリイミド等の樹脂を使うため、熱
放散は第1および第2の実施例には及ばないが、2層以
上の多層配線を簡便に行うことができる点が大きな特徴
である。この構造を用いれば、図6のような配線を行な
う場合でも、各同一面内の配線が簡単となり、素子を高
密度で集積できる様になる。
ン(たとえば図6の黒の部分の配線ようなパターン)を
形成した後(トレンチ底部に形成されることになるコン
タクト金属2204b間はp型のSi基板2101で電
気的に接続されている)、ポリイミド2111を厚さ3
μm程度塗布し、固化したのち、所望のVCSELパタ
ーン(たとえば図5のトレンチのようなパターン)をド
ライエッチ等で選択的に取り除いたあと、その上に他の
配線2204a(たとえば図6の灰色の部分の配線のよ
うなパターン)を行う。必要であれば、さらにポリイミ
ドを重ねることで多層配線する。他の点は図7と同じで
ある。この方法は、ポリイミド等の樹脂を使うため、熱
放散は第1および第2の実施例には及ばないが、2層以
上の多層配線を簡便に行うことができる点が大きな特徴
である。この構造を用いれば、図6のような配線を行な
う場合でも、各同一面内の配線が簡単となり、素子を高
密度で集積できる様になる。
【0031】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明の構成によれ
ば以下の如き効果が奏される。 (1)1次元或は2次元的に素子を集積するときに、位
置あわせが容易である。 (2)2次元配線および多層配線が容易にできる。 (3)素子を高密度で配線できる。 (4)VCSELなどの発光素子で発熱しても、熱伝導
性に優れたSiなどで覆えるために熱放散に優れた構造
にできる。 (5)電極と配線材との導通の為に異方性導電性樹脂を
用いればプロセスがより簡便になる。 (6)素子基板の片面に正負両電極をとる構成にすれ
ば、他方側の面を他の機能デバイスとの結合に自由に使
えて種々の装置に適用できる。
ば以下の如き効果が奏される。 (1)1次元或は2次元的に素子を集積するときに、位
置あわせが容易である。 (2)2次元配線および多層配線が容易にできる。 (3)素子を高密度で配線できる。 (4)VCSELなどの発光素子で発熱しても、熱伝導
性に優れたSiなどで覆えるために熱放散に優れた構造
にできる。 (5)電極と配線材との導通の為に異方性導電性樹脂を
用いればプロセスがより簡便になる。 (6)素子基板の片面に正負両電極をとる構成にすれ
ば、他方側の面を他の機能デバイスとの結合に自由に使
えて種々の装置に適用できる。
【図1】図1は第1の実施例の模式斜視図である。
【図2】図2は第1実施例の作製工程図である。
【図3】図3は第1実施例の各VCSELの断面構造図
である。
である。
【図4】図4は第1実施例のVCSEL基板の模式斜視
図である。
図である。
【図5】図5は第1実施例の配線基板の模式斜視図であ
る。
る。
【図6】図6は第1実施例の配線基板の模式平面図であ
る。
る。
【図7】図7は第1実施例の基板結合界面部の断面図で
ある。
ある。
【図8】図8は第2の実施例の模式斜視図である。
【図9】図9は第2実施例の配線基板の模式平面図であ
る。
る。
【図10】図10は第2実施例の配線基板の模式斜視図
である。
である。
【図11】図11は第3実施例の各VCSELの断面構
造図である。
造図である。
101、1101、2101 配線基板 102 VCSEL基板 103 独立駆動用配線パターン 104 VCSEL 202 絶縁膜 203、1203 トレンチ 204a、1204a、2204a 基板平坦部上
の配線電極 204b、1204b、2204b トレンチ底部
のコンタクト電極 205 導電性樹脂 205a、205b 異方性導電性樹脂 302、306 多層膜ミラー 303、305 スペーサ層 304 活性層 307 リング型正電極 308 リング型負電極 502 共通配線パターン 502a 共通配線パターンの引き出し部 503 VCSEL基板結合領域 503a 位置合わせ用マーク 602 マトリクス配線の正電極配線パターン 1103 マトリクス配線の負電極配線パターン 1233 アイル(小径) 2111 ポリイミド
の配線電極 204b、1204b、2204b トレンチ底部
のコンタクト電極 205 導電性樹脂 205a、205b 異方性導電性樹脂 302、306 多層膜ミラー 303、305 スペーサ層 304 活性層 307 リング型正電極 308 リング型負電極 502 共通配線パターン 502a 共通配線パターンの引き出し部 503 VCSEL基板結合領域 503a 位置合わせ用マーク 602 マトリクス配線の正電極配線パターン 1103 マトリクス配線の負電極配線パターン 1233 アイル(小径) 2111 ポリイミド
Claims (14)
- 【請求項1】突起部と突起周辺部を有する光デバイスが
形成された第1基板と、該光デバイスの突起部をほぼ完
全に覆うことのできるトレンチを設けた第2基板とが、
該突起部が該トレンチ内に嵌入された状態で、結合され
て成ることを特徴とする面型光デバイス。 - 【請求項2】前記第2基板には、前記光デバイスの少な
くとも一方の電極と導通する配線が設けられていること
を特徴とする請求項1記載の面型光デバイス。 - 【請求項3】前記光デバイスは面発光レーザ等の発光デ
バイスであることを特徴とする請求項1または2記載の
面型光デバイス。 - 【請求項4】前記第1基板には、光デバイスが1次元或
は2次元等に複数配列され、前記第2基板には、該光デ
バイスに対応してトレンチが複数配列されていることを
特徴とする請求項1、2または3記載の面型光デバイ
ス。 - 【請求項5】面発光レーザ等のように柱状の突起部と平
坦部を有する発光デバイスが1次元或は2次元等に複数
配列された第1基板と、該発光デバイスの突起部を夫々
完全に覆うことのできるトレンチおよび配線を設けた第
2基板とが結合されて成ることを特徴とする請求項1乃
至4の何れかに記載の面型光デバイス。 - 【請求項6】前記光デバイスの突起部と突起周辺部ない
し平坦部上に正負電極が分離して形成されていることを
特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の面型光デバ
イス。 - 【請求項7】前記第1基板には、光デバイスが1次元或
は2次元等に複数配列され、前記第2基板には、該光デ
バイスに対応してトレンチが1次元或は2次元等に複数
配列され、更に前記第2基板には、各光デバイスの突起
部上の一方の電極に通じるトレンチ底部のコンタクト金
属を含む配線パターンと各光デバイスの突起周辺部ない
し平坦部上の他方の電極に通じる配線パターンから成る
独立駆動のための配線パターンが形成されていることを
特徴とする請求項6記載の面型光デバイス。 - 【請求項8】前記第1基板には、光デバイスが1次元或
は2次元等に複数配列され、前記第2基板には、該光デ
バイスに対応してトレンチが1次元或は2次元等に複数
配列され、更に前記第2基板には、各光デバイスの突起
部上の一方の電極に通じるトレンチ底部のコンタクト金
属を列状に接続する配線パターンと各光デバイスの突起
周辺部ないし平坦部上の他方の電極を行状に接続する配
線パターンから成るマトリクス駆動のための配線パター
ンが形成されていることを特徴とする請求項6記載の面
型光デバイス。 - 【請求項9】前記第1基板には、光デバイスが1次元或
は2次元等に複数配列され、前記第2基板には、該光デ
バイスに対応してトレンチが1次元或は2次元等に複数
配列されると共に複数のトレンチを少なくとも1つの方
向に関して繋ぐアイルが形成されていることを特徴とす
る請求項1乃至8の何れかに記載の面型光デバイス。 - 【請求項10】前記第2基板がSiやAlN等の熱抵抗
の小さい材料からなり、光デバイスが発生する熱を放散
しやすくなっていることを特徴とする請求項1乃至9の
何れかに記載の面型光デバイス。 - 【請求項11】前記第2基板が基板上にポリイミドなど
の樹脂の層を少なくと1層重ねた層構造からなり、各層
上に配線パターンが形成されていること特徴とする請求
項1乃至10の何れかに記載の面型光デバイス。 - 【請求項12】前記第1基板と第2基板とが導電性樹脂
を用いて結合されていることを特徴とする請求項1乃至
11の何れかに記載の面型光デバイス。 - 【請求項13】請求項1乃至12の何れかに記載の面型
光デバイスの製造方法であって、前記トレンチを、ドラ
イエッチング等の異方性エッチングで断面がほぼ垂直或
は逆メサ状に形成する過程と、その後、電子ビーム等の
指向性の強いビームでAu等の金属を、該トレンチ側面
に付着させることなく、該トレンチの底部および非トレ
ンチ領域ないし平坦部に同時形成する過程を有すること
を特徴とする面型光デバイスの製造方法。 - 【請求項14】請求項1乃至12の何れかに記載の面型
光デバイスの製造方法であって、光デバイスが形成され
た第1基板と、該光デバイスの突起部をほぼ完全に覆う
ことのできるトレンチおよび配線を設けた第2基板とを
結合する為に、異方性導電性樹脂を該両基板の少なくと
―方に塗布し、両基板を圧着かつ加熱することで、該ト
レンチの側面に導通させることなく、該トレンチの底部
および非トレンチ部のみに導通を可能にする過程を有す
ることを特徴とする面型光デバイスの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36588797A JPH11186670A (ja) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | 面型光デバイスおよびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36588797A JPH11186670A (ja) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | 面型光デバイスおよびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11186670A true JPH11186670A (ja) | 1999-07-09 |
Family
ID=18485369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP36588797A Pending JPH11186670A (ja) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | 面型光デバイスおよびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11186670A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005044967A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-17 | Hitachi Cable Ltd | 光素子付き電気回路素子 |
JP2007027362A (ja) * | 2005-07-15 | 2007-02-01 | Ricoh Co Ltd | 面発光型半導体レーザアレイ |
JP2007027752A (ja) * | 2005-07-20 | 2007-02-01 | Samsung Electro Mech Co Ltd | Ledパッケージ及びその製造方法 |
JP2008130708A (ja) * | 2006-11-20 | 2008-06-05 | Ricoh Co Ltd | 半導体レーザアレイ製造方法、面発光型半導体レーザアレイ、光走査装置、画像形成装置、光伝送モジュール及び光伝送システム |
JP2008192780A (ja) * | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Ricoh Co Ltd | 面発光レーザモジュール、光走査装置、画像形成装置、光伝送モジュール及び光伝送システム |
JP2009009991A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-01-15 | Seiko Epson Corp | 光源装置、プロジェクタ、モニタ装置 |
US20130049016A1 (en) * | 2011-08-29 | 2013-02-28 | Micron Technology, Inc. | Discontinuous patterned bonds for semiconductor devices and associated systems and methods |
JP2016049755A (ja) * | 2014-09-02 | 2016-04-11 | 富士ゼロックス株式会社 | 乾燥装置、及び画像形成装置 |
WO2022130825A1 (ja) * | 2020-12-15 | 2022-06-23 | ソニーグループ株式会社 | 面発光レーザ装置 |
-
1997
- 1997-12-22 JP JP36588797A patent/JPH11186670A/ja active Pending
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005044967A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-17 | Hitachi Cable Ltd | 光素子付き電気回路素子 |
JP2007027362A (ja) * | 2005-07-15 | 2007-02-01 | Ricoh Co Ltd | 面発光型半導体レーザアレイ |
JP2007027752A (ja) * | 2005-07-20 | 2007-02-01 | Samsung Electro Mech Co Ltd | Ledパッケージ及びその製造方法 |
US8012778B2 (en) | 2005-07-20 | 2011-09-06 | Samsung Led Co., Ltd. | LED package and fabricating method thereof |
JP2008130708A (ja) * | 2006-11-20 | 2008-06-05 | Ricoh Co Ltd | 半導体レーザアレイ製造方法、面発光型半導体レーザアレイ、光走査装置、画像形成装置、光伝送モジュール及び光伝送システム |
JP2008192780A (ja) * | 2007-02-05 | 2008-08-21 | Ricoh Co Ltd | 面発光レーザモジュール、光走査装置、画像形成装置、光伝送モジュール及び光伝送システム |
JP2009009991A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-01-15 | Seiko Epson Corp | 光源装置、プロジェクタ、モニタ装置 |
CN103765556A (zh) * | 2011-08-29 | 2014-04-30 | 美光科技公司 | 用于半导体装置的不连续经图案化接合及相关联系统与方法 |
US20130049016A1 (en) * | 2011-08-29 | 2013-02-28 | Micron Technology, Inc. | Discontinuous patterned bonds for semiconductor devices and associated systems and methods |
US8754424B2 (en) * | 2011-08-29 | 2014-06-17 | Micron Technology, Inc. | Discontinuous patterned bonds for semiconductor devices and associated systems and methods |
JP2014529908A (ja) * | 2011-08-29 | 2014-11-13 | マイクロン テクノロジー,インク. | 半導体デバイス用不連続パターン化接合ならびに関連システムおよび方法 |
US9059380B2 (en) | 2011-08-29 | 2015-06-16 | Micron Technology, Inc. | Discontinuous patterned bonds for semiconductor devices and associated systems and methods |
TWI497612B (zh) * | 2011-08-29 | 2015-08-21 | 美光科技公司 | 用於半導體裝置之不連續圖案結合及相關系統及方法 |
US9362259B2 (en) | 2011-08-29 | 2016-06-07 | Micron Technology, Inc. | Discontinuous patterned bonds for semiconductor devices and associated systems and methods |
US10242970B2 (en) | 2011-08-29 | 2019-03-26 | Micron Technology, Inc. | Discontinuous patterned bonds for semiconductor devices and associated systems and methods |
US11222874B2 (en) | 2011-08-29 | 2022-01-11 | Micron Technology, Inc. | Discontinuous patterned bonds for semiconductor devices and associated systems and methods |
US11901342B2 (en) | 2011-08-29 | 2024-02-13 | Micron Technology, Inc. | Discontinuous patterned bonds for semiconductor devices and associated systems and methods |
JP2016049755A (ja) * | 2014-09-02 | 2016-04-11 | 富士ゼロックス株式会社 | 乾燥装置、及び画像形成装置 |
WO2022130825A1 (ja) * | 2020-12-15 | 2022-06-23 | ソニーグループ株式会社 | 面発光レーザ装置 |
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