JPH11185002A - Ic module and manufacture of the ic module - Google Patents

Ic module and manufacture of the ic module

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JPH11185002A
JPH11185002A JP35351397A JP35351397A JPH11185002A JP H11185002 A JPH11185002 A JP H11185002A JP 35351397 A JP35351397 A JP 35351397A JP 35351397 A JP35351397 A JP 35351397A JP H11185002 A JPH11185002 A JP H11185002A
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JP
Japan
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substrate
hole
integrated circuit
module
contact
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JP35351397A
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Japanese (ja)
Inventor
Hidetaka Ikeda
英貴 池田
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an IC module capable of stably bonding a bonding wire without generating edge touch by the bonding wire and a manufacture of the IC module. SOLUTION: This IC module 1 is provided with a substrate 2 for which plural contact patterns 4 are formed on one surface. On the other surface of the substrate 1, an LSI 10 is loaded. Oblong holes 6 corresponding to the contact patterns 4 are formed on the substrate 2 and the bonding wire 8 is bonded between the pad of the LSI 10 and the contact pattern 4 through the oblong hole 6. The oblong hole 6 is extended almost parallelly to the end side of the LSI 10, that is along a direction orthogonal to a bonding direction.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、パターンを有す
る基板上にLSIを搭載したICモジュール、およびこ
のICモジュールの製造方法に関する。
The present invention relates to an IC module having an LSI mounted on a substrate having a pattern, and a method of manufacturing the IC module.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ICモジュールとして、ICカー
ドに組込まれたものが知られている。一般に、ICモジ
ュールは、外部装置との間の接点として機能するコンタ
クトパタンを形成した基板上にLSIを搭載して形成さ
れる。
2. Description of the Related Art Conventionally, an IC module incorporated in an IC card is known. Generally, an IC module is formed by mounting an LSI on a substrate on which a contact pattern that functions as a contact point with an external device is formed.

【0003】図5に示すように、従来のICモジュール
20は、一方の面にコンタクトパターン24を形成した
基板22、この基板22の他方の面上に搭載されたLS
I21、およびこのLSI21を覆うモールド29を有
している。
As shown in FIG. 5, a conventional IC module 20 includes a substrate 22 having a contact pattern 24 formed on one surface, and an LS mounted on the other surface of the substrate 22.
I21, and a mold 29 that covers the LSI 21.

【0004】基板22には、一方の面に形成された各コ
ンタクトパタン24に連通した複数の円形の孔27が貫
通して開けられており、これらの孔27を通して、LS
I21の対応するパッド(図示せず)から延びたボンデ
ィングワイヤ28がコンタクトパタン24にボンディン
グされる。
A plurality of circular holes 27 communicating with the respective contact patterns 24 formed on one surface of the substrate 22 are formed through the substrate 22.
A bonding wire 28 extending from a corresponding pad (not shown) of I21 is bonded to contact pattern 24.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】この種の従来のICモ
ジュール20では、搭載するLSIチップ21の大きさ
が変わったり、LSI21のパッドの位置が変わったり
すると、図5に示したように、ボンディングワイヤ28
をLSI21の端辺に対して斜めに引き出さなければな
らない場合があり、LSI21の端辺の角とボンディン
グワイヤ28のループが接触するエッジタッチを生じて
しまう場合がある。
In the conventional IC module 20 of this kind, when the size of the LSI chip 21 to be mounted changes or the position of the pad of the LSI 21 changes, as shown in FIG. Wire 28
May need to be drawn obliquely to the edge of the LSI 21, and an edge touch may occur in which the corner of the edge of the LSI 21 and the loop of the bonding wire 28 contact.

【0006】この発明は、以上の点に鑑みなされたもの
で、その目的は、ボンディングワイヤによるエッジタッ
チを生じることなく、ボンディングワイヤを安定してボ
ンディングできるICモジュール、およびこのICモジ
ュールの製造方法を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above points, and has as its object to provide an IC module capable of stably bonding a bonding wire without causing edge touch by the bonding wire, and a method of manufacturing the IC module. To provide.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明のうち請求項1記載のICモジュールは、
一方の面にコンタクトパタンを形成した基板と、上記基
板の他方の面上に搭載され、該他方の面から離れる方向
に所定の厚さを有するとともに、上記他方の面に沿って
延びた端部を有する集積回路と、上記集積回路が上記基
板から離間した面上であって上記端部から所定距離離間
した位置に設けられた接点と、上記集積回路の端部より
外側で、上記基板を貫通するとともに上記コンタクトパ
タンに連通して形成され、上記端部に沿って延設された
孔と、上記集積回路の接点から、該集積回路の端部を超
えて該端部と略直交する方向に引き出され、上記基板に
形成された孔を通って、該孔に露出したコンタクトパタ
ンにボンディングされたボンディングワイヤと、を備え
ている。
To achieve the above object, an IC module according to claim 1 of the present invention comprises:
A substrate having a contact pattern formed on one surface, and an end mounted on the other surface of the substrate and having a predetermined thickness in a direction away from the other surface and extending along the other surface An integrated circuit having: a contact provided on a surface of the integrated circuit separated from the substrate and at a predetermined distance from the end; and a contact penetrating the substrate outside the end of the integrated circuit. And a hole formed in communication with the contact pattern and extending along the end portion, and from a contact point of the integrated circuit in a direction substantially perpendicular to the end portion beyond the end portion of the integrated circuit. A bonding wire that is drawn out, passes through a hole formed in the substrate, and is bonded to a contact pattern exposed in the hole.

【0008】また、この発明のうち請求項2記載のIC
モジュールによると、上記基板に形成された孔は、上記
集積回路の端部に沿って延びた長円形状の長孔であるこ
とを特徴とする。
An IC according to claim 2 of the present invention.
According to the module, the hole formed in the substrate is an oblong hole extending along an end of the integrated circuit.

【0009】また、この発明のうち請求項3記載のIC
モジュールによると、上記基板に形成された孔は、上記
集積回路の端部に沿って延びた長方形の矩形孔であるこ
とを特徴とする。
An IC according to claim 3 of the present invention.
According to the module, the hole formed in the substrate is a rectangular hole extending along an end of the integrated circuit.

【0010】また、この発明のうち請求項4記載のIC
モジュールの製造方法は、基板に孔を開ける工程と、上
記孔を開けられた基板の一方の面に該孔に部分的に露出
したコンタクトパタンを形成する工程と、上記コンタク
トパタンが形成された基板の他方の面上に、該他方の面
から離れる方向に所定の厚さを有し、上記他方の面に沿
って上記孔に隣接して延びた端部を有し、上記他方の面
から離間した面上であって上記端部から所定距離離間し
た位置に上記コンタクトパタンと接続される接点を有す
る集積回路を搭載する工程と、上記基板に搭載された集
積回路の接点から、該集積回路の端部を超えて該端部と
略直交する方向にボンディングワイヤを引き出し、該ボ
ンディングワイヤを上記基板に形成された孔を通して上
記コンタクトパタンにボンディングする工程と、を備
え、上記孔を開ける工程では、上記基板に搭載される集
積回路の端部に沿って延びた孔を形成することを特徴と
する。
An IC according to claim 4 of the present invention.
A method for manufacturing a module includes a step of forming a hole in a substrate, a step of forming a contact pattern partially exposed in the hole on one surface of the holed substrate, and a step of forming a substrate in which the contact pattern is formed. Has a predetermined thickness in a direction away from the other surface, has an end extending along the other surface adjacent to the hole, and is separated from the other surface. Mounting an integrated circuit having a contact connected to the contact pattern at a position separated from the end by a predetermined distance on the surface that has been formed, and from the contact of the integrated circuit mounted on the substrate, Drawing out a bonding wire in a direction substantially perpendicular to the end beyond the end, and bonding the bonding wire to the contact pattern through a hole formed in the substrate. Degree, the and forming a hole extending along the edge of the integrated circuit mounted on said substrate.

【0011】また、この発明のうち請求項5記載のIC
モジュールの製造方法によると、上記孔を開ける工程で
は、上記基板に搭載される集積回路の端部に沿って延び
た長円形状の長孔を形成することを特徴とする。
An IC according to claim 5 of the present invention.
According to the module manufacturing method, in the step of forming the hole, an oval long hole extending along an end of the integrated circuit mounted on the substrate is formed.

【0012】更に、この発明のうち請求項6記載のIC
モジュールの製造方法によると、上記孔を開ける工程で
は、上記基板に搭載される集積回路の端部に沿って延び
た長方形の矩形孔を形成することを特徴とする。
Further, an IC according to claim 6 of the present invention.
According to the module manufacturing method, in the step of forming the hole, a rectangular hole extending along an end of the integrated circuit mounted on the substrate is formed.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながらこの発
明の実施の形態について詳細に説明する。図1には、I
Cカードに組込まれたこの発明のICモジュール1の平
面図を示し、図2には、図1の線分II−IIに沿ってIC
モジュール 1を切断した断面を部分的に拡大した拡
大断面図を示してある。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG.
FIG. 2 shows a plan view of the IC module 1 of the present invention incorporated in a C card, and FIG. 2 shows the IC module 1 taken along line II-II in FIG.
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view in which a cross section obtained by cutting the module 1 is partially enlarged.

【0014】図1および図2に示すように、この発明の
第1の実施の形態に係るICモジュール1は、一方の面
2aに並設された複数のコンタクトパタン4(図示しな
い外部装置との間の接点として機能する)を形成した略
矩形板状の基板2を有している。この基板2の他方の面
2b上であって基板2の略中央位置には、所定の厚さを
有するとともに、互いに平行に延びた一対の端辺10
a、10b(コンタクトパタン4に沿って延びた端辺)
を含む4つの端辺を有する矩形ブロック状のLSI10
が搭載されている。尚、LSI10は、基板2の他面2
b上にダイボンドされている。
As shown in FIG. 1 and FIG. 2, an IC module 1 according to a first embodiment of the present invention has a plurality of contact patterns 4 (in contact with an external device (not shown)) arranged in parallel on one surface 2a. (Which functions as a contact point between them). On the other surface 2b of the substrate 2 and substantially at the center of the substrate 2, a pair of edges 10 having a predetermined thickness and extending in parallel to each other is provided.
a, 10b (edges extending along contact pattern 4)
Block-shaped LSI 10 having four edges including
Is installed. The LSI 10 is provided on the other surface 2 of the substrate 2.
b is die-bonded.

【0015】基板2には、各コンタクトパタン4に対応
してLSI10の一対の端辺10a、10bに沿ってそ
れぞれ設けられた長孔6(後述する)、および丸孔7
が、基板2を貫通して形成されている。つまり、各コン
タクトパタン4は、長孔6或いは丸孔7が形成された部
位で基板2の他面側に露出されている。尚、特許請求の
範囲に記載した「長孔」は、両端部を半円弧状とした図
1に示した長円形状の孔を指し、以下の説明でもこの長
円形状の孔を「長孔」と称する。
The substrate 2 has a long hole 6 (described later) and a round hole 7 provided along a pair of edges 10a and 10b of the LSI 10 corresponding to the respective contact patterns 4.
Are formed through the substrate 2. That is, each contact pattern 4 is exposed on the other surface side of the substrate 2 at the portion where the long hole 6 or the round hole 7 is formed. The term "elongated hole" described in the claims refers to the oblong hole shown in FIG. 1 in which both ends are formed in a semicircular arc shape. ".

【0016】そして、LSI10の基板2から離れた上
面に一対の端辺10a、10bに沿って形成された複数
のパッド11と、それぞれ対応したコンタクトパタン4
と、の間に金ワイヤ8(以下、ボンディングワイヤ8と
称する)がボンディングされ、LSI10の各パッド1
1とコンタクトパタン4とが電気的に接続される。さら
に、LSI10およびボンディングワイヤ8を覆うよう
に、基板2の他面上にモールド9が形成され、ICモジ
ュール1が形成される。尚、図2においては、図示簡略
化のため、モールド9を省略してある。
A plurality of pads 11 formed along a pair of edges 10a and 10b on the upper surface of the LSI 10 remote from the substrate 2,
, A gold wire 8 (hereinafter, referred to as a bonding wire 8) is bonded to each pad 1 of the LSI 10.
1 and the contact pattern 4 are electrically connected. Further, a mold 9 is formed on the other surface of the substrate 2 so as to cover the LSI 10 and the bonding wires 8, and the IC module 1 is formed. In FIG. 2, the mold 9 is omitted for simplification of the drawing.

【0017】ところで、基板2を貫通して形成した上記
長孔6は、ボンディングワイヤ8のボンディング方向を
横切る方向に長くなるように形成されている。より具体
的には、長孔6は、基板2上に搭載したLSI10の端
辺10a、10bと平行に延設されている。尚、ここで
いうボンディング方向とは、理想的にはLSI10の端
辺10a、10bと直交する方向をいう。
The long hole 6 formed through the substrate 2 is formed to be long in a direction crossing the bonding direction of the bonding wires 8. More specifically, the long hole 6 extends in parallel with the end sides 10 a and 10 b of the LSI 10 mounted on the substrate 2. Here, the bonding direction ideally refers to a direction orthogonal to the end sides 10a and 10b of the LSI 10.

【0018】このように、ボンディングワイヤ8を通す
孔を、ボンディング方向を横切る方向に延びた長孔とす
ることにより、ボンディングワイヤ8を従来のようにボ
ンディング方向に対して斜めに形成することなく、ボン
ディングワイヤ8がLSI10の角に接触する不所望な
エッジタッチを低減できる。つまり、長孔6を形成する
ことにより、LSIチップ10の大きさが変わったり、
パッド11の位置が変わったりした場合であっても、ボ
ンディングワイヤ8を理想的なボンディング方向に沿っ
て形成でき、ボンディングワイヤ8を安定してボンディ
ングできる。
As described above, the holes through which the bonding wires 8 pass are elongated holes extending in the direction crossing the bonding direction, so that the bonding wires 8 are not formed obliquely with respect to the bonding direction as in the related art. Unwanted edge touch in which the bonding wire 8 contacts a corner of the LSI 10 can be reduced. That is, by forming the long hole 6, the size of the LSI chip 10 changes,
Even when the position of the pad 11 is changed, the bonding wire 8 can be formed along the ideal bonding direction, and the bonding wire 8 can be stably bonded.

【0019】図3には、この発明の第2の実施の形態に
係るICモジュール1’を示してある。このICモジュ
ール1’は、長孔6を長方形の矩形孔6’とした以外の
基本的な構成は上記第1の実施の形態のICモジュール
1と同じである。よって、第1の実施の形態と同一の部
分については同一符号を用いて説明を省略する。
FIG. 3 shows an IC module 1 'according to a second embodiment of the present invention. The basic configuration of the IC module 1 'is the same as that of the IC module 1 of the first embodiment except that the long hole 6 is a rectangular hole 6'. Therefore, the same portions as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

【0020】図3に示すように、ボンディングワイヤ8
を通す孔を矩形孔6’とした場合であっても、上述した
第1の実施の形態と同様の効果を奏することができる。
次に、上述した第1および第2の実施の形態に係るIC
モジュール1、1’を製造する工程を、図4のフローチ
ャートを参照して説明する。
As shown in FIG. 3, the bonding wire 8
Even when the holes through which the holes pass are rectangular holes 6 ', the same effects as those of the first embodiment can be obtained.
Next, the IC according to the first and second embodiments described above.
The steps of manufacturing the modules 1 and 1 'will be described with reference to the flowchart of FIG.

【0021】まず、基板2が用意され、基板2の所定位
置に長孔6(矩形孔6’)および丸孔7が開けられる
(ステップ1)。このとき、長孔6は、搭載されるLS
I10の一対の端辺10a、10bに設けられたパッド
11から引き出されるボンディングワイヤ8のボンディ
ング方向と直交する方向に延びて形成される。
First, the substrate 2 is prepared, and a long hole 6 (rectangular hole 6 ') and a round hole 7 are formed at predetermined positions of the substrate 2 (step 1). At this time, the long hole 6 is provided with the LS to be mounted.
It is formed so as to extend in a direction orthogonal to the bonding direction of the bonding wire 8 drawn from the pad 11 provided on the pair of end sides 10a and 10b of I10.

【0022】次に、基板2の一方の面2aに銅箔が所定
の厚さで接着され、この銅箔がコンタクトパタン4に合
せてエッチングされる。そして、エッチングされた銅箔
上に金めっきが施されて基板2の一方の面2a上にコン
タクトパタン4が形成される(ステップ2)。
Next, a copper foil is adhered to one surface 2a of the substrate 2 with a predetermined thickness, and the copper foil is etched in accordance with the contact pattern 4. Then, gold plating is performed on the etched copper foil to form a contact pattern 4 on one surface 2a of the substrate 2 (step 2).

【0023】さらに、上記のようにコンタクトパタン4
が形成された基板2の他方の面2b上にLSI10がダ
イボンドされ(ステップ3)、LSI10の各パッド1
1と、対応するコンタクトパタン4と、がボンディング
ワイヤ8によってボンディングされる(ステップ4)。
このとき、ボンディングワイヤ8は、理想的なボンディ
ング方向、すなわちLSI10の端辺10a、10bと
直交する方向に延びてボンディングされる。
Further, as described above, the contact pattern 4
The LSI 10 is die-bonded on the other surface 2b of the substrate 2 on which is formed (step 3), and each pad 1 of the LSI 10
1 and the corresponding contact pattern 4 are bonded by bonding wires 8 (step 4).
At this time, the bonding wire 8 extends in an ideal bonding direction, that is, a direction orthogonal to the end sides 10a and 10b of the LSI 10, and is bonded.

【0024】最後に、ボンディングワイヤ8がボンディ
ングされたLSI10を覆うようにモールド9が形成さ
れ(ステップ5)、ICモジュール1が形成される。
尚、この発明は、上述した実施の形態に限定されるもの
ではなく、この発明の範囲内で種々変形可能である。例
えば、基板2を貫通して形成されるボンディング用の孔
は、LSI10の端辺10a、10bと略平行に延びて
形成されれば良く、その形状はいかなるものであっても
良い。
Finally, a mold 9 is formed so as to cover the LSI 10 to which the bonding wires 8 are bonded (step 5), and the IC module 1 is formed.
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be variously modified within the scope of the present invention. For example, the bonding holes formed through the substrate 2 may be formed so as to extend substantially parallel to the edges 10a and 10b of the LSI 10, and may have any shape.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように、この発明のICモ
ジュールは、上記のような構成および作用を有している
ので、ボンディングワイヤによるエッジタッチを生じる
ことなく、ボンディングワイヤを安定してボンディング
できる。
As described above, since the IC module of the present invention has the above-described configuration and operation, the bonding wire can be stably bonded without causing edge touch by the bonding wire. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の第1の実施の形態に係るICモジュ
ールを示す平面図。
FIG. 1 is a plan view showing an IC module according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の線分II−IIに沿ってICモジュールを切
断した拡大断面図。
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of the IC module taken along a line II-II in FIG.

【図3】この発明の第2の実施の形態に係るICモジュ
ールを示す平面図。
FIG. 3 is a plan view showing an IC module according to a second embodiment of the present invention.

【図4】図1および図2に示したICモジュールを製造
する方法を説明するためのフローチャート。
FIG. 4 is a flowchart for explaining a method of manufacturing the IC module shown in FIGS. 1 and 2;

【図5】従来のICモジュールを示す平面図。FIG. 5 is a plan view showing a conventional IC module.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、1’…ICモジュール、 2…基板、 4…コンタクトパタン、 6…長孔、 6’…矩形孔、 7…丸孔、 8…ボンディングワイヤ、 9…モールド、 10…LSI、 11…パッド。 1, 1 ': IC module, 2: substrate, 4: contact pattern, 6: long hole, 6': rectangular hole, 7: round hole, 8: bonding wire, 9: mold, 10: LSI, 11: pad.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一方の面にコンタクトパタンを形成した
基板と、 上記基板の他方の面上に搭載され、該他方の面から離れ
る方向に所定の厚さを有するとともに、上記他方の面に
沿って延びた端部を有する集積回路と、 上記集積回路が上記基板から離間した面上であって上記
端部から所定距離離間した位置に設けられた接点と、 上記集積回路の端部より外側で、上記基板を貫通すると
ともに上記コンタクトパタンに連通して形成され、上記
端部に沿って延設された孔と、 上記集積回路の接点から、該集積回路の端部を超えて該
端部と略直交する方向に引き出され、上記基板に形成さ
れた孔を通って、該孔に露出したコンタクトパタンにボ
ンディングされたボンディングワイヤと、 を有することを特徴とするICモジュール。
1. A substrate having a contact pattern formed on one surface thereof, mounted on the other surface of the substrate, having a predetermined thickness in a direction away from the other surface, and extending along the other surface. An integrated circuit having an extended end; a contact provided on a surface of the integrated circuit separated from the substrate and at a predetermined distance from the end; A hole that penetrates the substrate and communicates with the contact pattern and extends along the end, and from the contact point of the integrated circuit, beyond the end of the integrated circuit, And a bonding wire drawn out in a direction substantially perpendicular to the contact pattern exposed through the hole formed in the substrate through the hole formed in the substrate.
【請求項2】 上記基板に形成された孔は、上記集積回
路の端部に沿って延びた長円形状の長孔であることを特
徴とする請求項1記載のICモジュール。
2. The IC module according to claim 1, wherein the hole formed in the substrate is an oblong hole extending along an end of the integrated circuit.
【請求項3】 上記基板に形成された孔は、上記集積回
路の端部に沿って延びた長方形の矩形孔であることを特
徴とする請求項1記載のICモジュール。
3. The IC module according to claim 1, wherein the hole formed in the substrate is a rectangular hole extending along an end of the integrated circuit.
【請求項4】 基板に孔を開ける工程と、 上記孔を開けられた基板の一方の面に該孔に部分的に露
出したコンタクトパタンを形成する工程と、 上記コンタクトパタンが形成された基板の他方の面上
に、該他方の面から離れる方向に所定の厚さを有し、上
記他方の面に沿って上記孔に隣接して延びた端部を有
し、上記他方の面から離間した面上であって上記端部か
ら所定距離離間した位置に上記コンタクトパタンと接続
される接点を有する集積回路を搭載する工程と、 上記基板に搭載された集積回路の接点から、該集積回路
の端部を超えて該端部と略直交する方向にボンディング
ワイヤを引き出し、該ボンディングワイヤを上記基板に
形成された孔を通して上記コンタクトパタンにボンディ
ングする工程と、を備え、 上記孔を開ける工程では、上記基板に搭載される集積回
路の端部に沿って延びた孔を形成することを特徴とする
ICモジュールの製造方法。
4. A step of forming a hole in the substrate; a step of forming a contact pattern partially exposed in the hole on one surface of the substrate having the hole formed therein; On the other surface, having an end having a predetermined thickness in a direction away from the other surface, extending along the other surface and adjacent to the hole, being separated from the other surface Mounting an integrated circuit having a contact connected to the contact pattern at a position on the surface and separated from the end by a predetermined distance; and determining the end of the integrated circuit from the contact of the integrated circuit mounted on the substrate. Drawing out a bonding wire in a direction substantially perpendicular to the end beyond the portion, and bonding the bonding wire to the contact pattern through a hole formed in the substrate. Method of manufacturing IC module and forming a hole extending along the edge of the integrated circuit mounted on said substrate.
【請求項5】 上記孔を開ける工程では、上記基板に搭
載される集積回路の端部に沿って延びた長円形状の長孔
を形成することを特徴とする請求項4記載のICモジュ
ールの製造方法。
5. The IC module according to claim 4, wherein, in the step of forming the hole, an elongated hole extending along an end of the integrated circuit mounted on the substrate is formed. Production method.
【請求項6】 上記孔を開ける工程では、上記基板に搭
載される集積回路の端部に沿って延びた長方形の矩形孔
を形成することを特徴とする請求項4記載のICモジュ
ールの製造方法。
6. The method for manufacturing an IC module according to claim 4, wherein in the step of forming the hole, a rectangular hole extending along an end of the integrated circuit mounted on the substrate is formed. .
JP35351397A 1997-12-22 1997-12-22 Ic module and manufacture of the ic module Abandoned JPH11185002A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100723491B1 (en) 2005-07-14 2007-05-30 삼성전자주식회사 Universal PCB and smart card using the same

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