JPH11169772A - Apparatus and method for applying coating solution - Google Patents

Apparatus and method for applying coating solution

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JPH11169772A
JPH11169772A JP9346290A JP34629097A JPH11169772A JP H11169772 A JPH11169772 A JP H11169772A JP 9346290 A JP9346290 A JP 9346290A JP 34629097 A JP34629097 A JP 34629097A JP H11169772 A JPH11169772 A JP H11169772A
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JP
Japan
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substrate
coating liquid
holding
coating
posture
Prior art date
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Application number
JP9346290A
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Japanese (ja)
Inventor
Koji Kizaki
幸治 木▲崎▼
Eiji Okuno
英治 奥野
Kazuto Ozaki
一人 尾崎
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To properly and economically remove the unnecessary coating films in the vicinity of the upper and lower sides of a substrate in an apparatus holding the substrate in a vertical or inclined posture to apply a coating soln. to the substrate. SOLUTION: A resist coating apparatus 1 is equipped with a substrate holding mechanism 2, a resist coating mechanism 3, a posture converting mechanism 4 and an edge/back rinse mechanism 5. The substrate holding mechanism 2 holds a substrate W in a vertical or inclined posture and the resist coating mechanism 3 applies a resist soln. to the substrate W held to the substrate holding mechanism 2. The posture converting mechanism 4 converts the posture of the substrate W coated with the resist soln. so that the upper and lower sides thereof are positioned laterally. The edge/back rinse mechanism 5 is moved along the side of the lateral position of the substrate W after posture conversion to remove the unnecessary resist film from the surface of the substrate W.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示デバイス
(LCD)、プラズマ表示デバイス(PDP)、半導体
デバイス、各種電子部品等の製造プロセスにおいて、L
CDまたはPDP用ガラス基板、半導体基板、プリント
基板等の基板の表面にフォトレジスト膜、絶縁膜、導電
膜等を形成するために基板表面へ塗布膜を塗布する塗布
液塗布装置、及び塗布液塗布方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a process for manufacturing a liquid crystal display device (LCD), a plasma display device (PDP), a semiconductor device, various electronic parts and the like.
A coating liquid coating apparatus and a coating liquid coating apparatus for coating a coating film on a surface of a substrate such as a glass substrate for CD or PDP, a semiconductor substrate, a printed substrate, and the like to form a photoresist film, an insulating film, a conductive film, and the like. About the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】被塗布基板の大型化や角形基板の増加に
対応するために基板を鉛直に立てた姿勢にして塗布液の
塗布を行う装置が、例えば特開平8−24740号公報
に示されている。ここでは、鉛直姿勢あるいは傾斜した
姿勢の基板に対して、基板の幅方向に延びる塗布液槽を
上下に移動させることによって基板の表面に塗布液を塗
布している。
2. Description of the Related Art Japanese Patent Application Laid-Open No. HEI 8-24740 discloses an apparatus for applying a coating liquid in a posture in which the substrate is set upright to cope with an increase in the size of a substrate to be coated and an increase in the number of square substrates. ing. Here, the coating liquid is applied to the surface of the substrate by vertically moving a coating liquid tank extending in the width direction of the substrate with respect to the substrate in a vertical posture or an inclined posture.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、スリッ
ト状の吐出部を移動させて塗布を行う上記のような塗布
装置では、塗布開始側の端の部分及び/又は塗布終了側
の端の部分、すなわち基板の上辺と下辺の近傍部分の膜
厚が厚くなってしまう傾向にある。このように膜厚が厚
くなると、後工程において露光機を汚染したり、現像後
にも膜が残ったりするという不具合が起こりやすい。
However, in the above-described coating apparatus in which the coating is performed by moving the slit-shaped discharge portion, the coating start end portion and / or the coating end side end portion, that is, The film thickness in the vicinity of the upper side and the lower side of the substrate tends to increase. When the film thickness is large in this way, problems such as contamination of the exposure machine in a later step and the film remaining after development are likely to occur.

【0004】このような不具合を抑えるために、専用の
不要膜除去装置を別途設けて塗布液の塗布後の基板を該
装置へ搬送し、そこで上辺及び/又は下辺に生じた塗布
液の厚膜部に対してリンス液を供給して、不要膜を溶解
除去することが考えられる。しかしながら、かかる構成
によれば、専用の不要膜除去装置を設けるためのスペー
スが必要となり、装置が大型化してしまうとともに、基
板の高精度な位置合わせを要する部位が増加して装置コ
ストの増大や単位時間当たりの基板処理量の減少につな
がり、また吸着と解除の繰り返しにより剥離帯電が生じ
やすくなるなどの問題点があった。
In order to suppress such a problem, a dedicated unnecessary film removing device is separately provided, and the substrate after the application of the coating solution is transported to the device, where the thick film of the coating solution generated on the upper side and / or the lower side is provided. It is conceivable to supply a rinsing liquid to the portion to dissolve and remove the unnecessary film. However, according to such a configuration, a space for providing a dedicated unnecessary film removing device is required, and the device is increased in size. In addition, the number of parts requiring high-precision alignment of the substrate is increased, and the cost of the device is increased. There have been problems such as a reduction in the amount of substrate processed per unit time, and the occurrence of peeling charging due to repeated adsorption and release.

【0005】また、塗布液の塗布後の基板を鉛直あるい
は傾斜姿勢に保持したままで基板の上辺に対してリンス
液の吹き付け及びそのリンス液の吸引除去を行う場合、
重力によってリンス液が基板上を垂れる恐れがある。こ
れを防止するためにはリンス液の吸引力を大きくする必
要があるが、これでは装置のランニングコストが高くな
るとともに、塗布面に吸引の影響が発生し、膜圧の分布
を悪化させてしまう。
Further, when spraying a rinsing liquid onto the upper side of the substrate and suctioning and removing the rinsing liquid while holding the substrate after application of the coating liquid in a vertical or inclined posture,
The rinsing liquid may drip on the substrate due to gravity. In order to prevent this, it is necessary to increase the suction force of the rinsing liquid. However, this increases the running cost of the apparatus, and also causes an influence of suction on the application surface, thereby deteriorating the distribution of film pressure. .

【0006】本発明の課題は、鉛直あるいは傾斜姿勢で
基板を保持して基板に塗布液を塗布する装置において、
基板の上辺及び/又は下辺付近の不要な塗布膜を、装置
の大型化を招くことなく適切かつ経済的に除去すること
にある。
An object of the present invention is to provide an apparatus for applying a coating liquid to a substrate while holding the substrate in a vertical or inclined posture.
An object of the present invention is to appropriately and economically remove unnecessary coating films near the upper side and / or lower side of the substrate without increasing the size of the apparatus.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の塗布液
塗布装置は、保持手段と、塗布手段と、姿勢変換手段
と、不要膜除去手段とを備えている。保持手段は、基板
を鉛直あるいは傾斜姿勢で保持する。塗布手段は、保持
手段に保持された基板に対して、塗布液を塗布する。姿
勢変換手段は、塗布液が塗布された基板を、その上辺及
び下辺が側方に位置するように姿勢変換させる。不要膜
除去手段は、姿勢変換後の基板の側方位置の辺に沿った
不要な塗布膜を除去する。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a coating liquid applying apparatus including a holding unit, an applying unit, a posture changing unit, and an unnecessary film removing unit. The holding means holds the substrate in a vertical or inclined posture. The application unit applies the application liquid to the substrate held by the holding unit. The posture changing means changes the posture of the substrate on which the coating liquid has been applied such that the upper side and the lower side thereof are located sideways. The unnecessary film removing unit removes an unnecessary coating film along the side at the side position of the substrate after the posture change.

【0008】本装置では、保持手段により鉛直あるいは
傾斜姿勢で保持された基板に対して塗布手段によって塗
布液を塗布する。次に、基板の上辺及び下辺近傍の不要
な塗布膜を除去するために、姿勢変換手段により上辺及
び下辺が側方位置にくるように基板の姿勢を変換させ
る。そして、側方位置にきた基板の上辺及び下辺に沿っ
た上辺及び下辺近傍の不要膜を除去する。具体的には、
例えば、塗布膜塗布後の基板を姿勢変換手段により90
度回転させ、基板の側辺となった元上辺及び下辺に沿っ
て不要膜除去手段を上下に移動させながら基板から不要
膜を除去する。
In this apparatus, a coating liquid is applied by a coating means to a substrate held in a vertical or inclined posture by the holding means. Next, in order to remove an unnecessary coating film near the upper side and the lower side of the substrate, the posture of the substrate is changed by the posture changing means so that the upper side and the lower side come to the side positions. Then, unnecessary films near the upper side and the lower side along the upper side and the lower side of the substrate located at the side position are removed. In particular,
For example, the substrate after the application of the coating film is 90
The unnecessary film is removed from the substrate by rotating the unnecessary film removing means up and down along the original upper side and lower side, which are the side sides of the substrate.

【0009】基板の上辺に沿って単に不要膜除去手段を
移動させて不要膜の除去を行うときには不要膜を除去す
る際に使用する洗浄液の垂れにより不具合が発生し易い
のに対し、ここでは不要膜の除去を行いたい基板の上辺
及び下辺を側方に位置するように姿勢変換した後に不要
膜の除去を行っているため、洗浄液の垂れにより不具合
が発生し難い。言い換えれば、本装置を用いることによ
り、基板の上辺及び下辺付近の不要な塗布膜をより適切
に除去できるようになり、また、洗浄液の垂れによる不
具合を抑えるための手段を省力化あるいは省略すること
ができるので経済的に有利となる。
When the unnecessary film removing means is simply moved by moving the unnecessary film removing means along the upper side of the substrate, a problem is likely to occur due to the dripping of the cleaning liquid used for removing the unnecessary film. Since the unnecessary film is removed after the posture is changed so that the upper side and the lower side of the substrate from which the film is to be removed are located on the sides, problems are unlikely to occur due to the dripping of the cleaning liquid. In other words, by using the present apparatus, it becomes possible to more appropriately remove unnecessary coating films near the upper side and the lower side of the substrate, and to save or omit means for suppressing a problem caused by dripping of the cleaning liquid. Can be economically advantageous.

【0010】請求項2に記載の塗布液塗布装置は、請求
項1の塗布液塗布装置において、塗布手段は、塗布液供
給機構と、移動機構とを有している。塗布液供給機構
は、姿勢変換前の基板の上辺あるいは下辺に沿って延び
ている。移動機構は、基板と塗布液供給機構とを上下方
向に相対移動させる。本装置では、基板の上辺あるいは
下辺に沿って延びる、すなわち基板の横方向に延びる塗
布液供給機構からの塗布液の基板への吐出により塗布液
の塗布が行われる。具体的には、基板に塗布液を吐出し
ている塗布液供給機構を移動機構により上下に移動させ
ることで、基板の表面に塗布液を塗布する。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the application means has a coating liquid supply mechanism and a moving mechanism. The coating liquid supply mechanism extends along the upper side or the lower side of the substrate before the posture change. The moving mechanism relatively moves the substrate and the coating liquid supply mechanism in the vertical direction. In this apparatus, the application liquid is applied to the substrate by discharging the application liquid from the application liquid supply mechanism extending along the upper side or the lower side of the substrate, that is, extending in the lateral direction of the substrate. Specifically, the application liquid is applied to the surface of the substrate by moving the application liquid supply mechanism that discharges the application liquid onto the substrate up and down by a moving mechanism.

【0011】ここでは、基板の上辺及び下辺について
は、基板と塗布液供給機構との相対移動の開始あるいは
終了のときに塗布液が吐出されており、膜厚が厚くなり
がちとなる。しかし、上記のように基板の上辺及び下辺
付近の不要な塗布膜を適切に除去することができるた
め、部分的に膜厚が厚くなって後工程において露光機を
汚染したり現像後にも膜が残ったりするという不具合が
抑えられる。
Here, the coating liquid is discharged from the upper side and the lower side of the substrate when the relative movement between the substrate and the coating liquid supply mechanism starts or ends, and the film thickness tends to be large. However, since unnecessary coating films near the upper side and the lower side of the substrate can be appropriately removed as described above, the film thickness is partially increased, thereby contaminating an exposure machine in a later process or forming a film even after development. The problem of remaining is suppressed.

【0012】請求項3に記載の塗布液塗布装置は、請求
項2の塗布液塗布装置において、塗布液供給機構は、ス
リット状の開口を有するノズルである。このノズルは、
姿勢変換前の基板の上辺あるいは下辺に沿って延びるも
のである。請求項4に記載の塗布液塗布装置は、請求項
1の塗布液塗布装置において、保持手段は、保持プレー
トと、吸着機構とを有している。保持プレートは平坦面
を有している。吸着機構は、保持プレートの平坦面側に
基板を吸着させる機構である。
According to a third aspect of the present invention, in the second aspect, the application liquid supply mechanism is a nozzle having a slit-shaped opening. This nozzle is
It extends along the upper side or the lower side of the substrate before the posture change. According to a fourth aspect of the present invention, in the first aspect, the holding means includes a holding plate and a suction mechanism. The holding plate has a flat surface. The suction mechanism is a mechanism for sucking the substrate on the flat surface side of the holding plate.

【0013】ここでは、吸着機構により、基板が保持プ
レートの平坦面に接するように、あるいは基板と保持プ
レートの平坦面との間に一定の隙間をおいた状態で、保
持プレートの平坦面側に基板を吸着させて基板を保持す
る。したがって、基板の姿勢を変換させる際には、保持
プレート及び吸着機構、あるいは吸着機構のみを姿勢変
換することで基板の姿勢を変換させることができる。
In this case, the suction mechanism allows the substrate to be brought into contact with the flat surface of the holding plate, or with a certain gap between the substrate and the flat surface of the holding plate. The substrate is sucked and held. Therefore, when changing the posture of the substrate, the posture of the substrate can be changed by changing the posture of only the holding plate and the suction mechanism or the suction mechanism.

【0014】請求項5に記載の塗布液塗布装置は、請求
項4の塗布液塗布装置において、吸着機構は、基板と接
触し得る接触吸着部を有している。接触吸着部は、保持
プレートに対して、保持プレートの平坦面と交差する方
向に移動可能である。ここでは、接触吸着部を保持プレ
ートの平坦面と交差する方向に移動させることにより、
基板の姿勢を変換するときに基板と保持プレートとが干
渉することを回避することができる。すなわち、保持プ
レートを動かさずに接触吸着部だけを動かして基板の姿
勢変換を行うことができる。
According to a fifth aspect of the present invention, in the coating solution applying apparatus of the fourth aspect, the suction mechanism has a contact suction portion capable of contacting the substrate. The contact suction unit is movable with respect to the holding plate in a direction intersecting the flat surface of the holding plate. Here, by moving the contact suction part in a direction crossing the flat surface of the holding plate,
Interference between the substrate and the holding plate when changing the posture of the substrate can be avoided. In other words, the posture of the substrate can be changed by moving only the contact suction portion without moving the holding plate.

【0015】具体的には、例えば、接触吸着部により基
板を保持しながら吸着機構を移動させて、基板と保持プ
レートとの間に所定の隙間をあける。そして、接触吸着
部を回転させることにより、基板の上辺及び下辺が側方
に位置するように基板の姿勢変換を行う。請求項6に記
載の塗布液塗布装置は、請求項5の塗布液塗布装置にお
いて、姿勢変換手段は、吸着機構と、接触吸着部を回転
させる回転機構とを有している。
More specifically, for example, a predetermined gap is provided between the substrate and the holding plate by moving the suction mechanism while holding the substrate by the contact suction unit. Then, by rotating the contact suction unit, the posture of the substrate is changed so that the upper side and the lower side of the substrate are located on the side. According to a sixth aspect of the present invention, in the coating solution applying apparatus of the fifth aspect, the posture changing means has a suction mechanism and a rotation mechanism for rotating the contact suction unit.

【0016】ここでは、吸着機構全体を回転させるので
はなく、接触吸着部を回転させることによって基板の姿
勢変換を行わせる。例えば、吸着機構の本体と接触吸着
部とをロータリージョイントやフレキシブルホース等で
連結して、接触吸着部のみを回転させる。これにより、
基板の姿勢変換に必要なパワーが小さくなり、装置のラ
ンニングコストが削減される。
Here, instead of rotating the entire suction mechanism, the posture of the substrate is changed by rotating the contact suction unit. For example, the main body of the suction mechanism and the contact suction unit are connected by a rotary joint, a flexible hose, or the like, and only the contact suction unit is rotated. This allows
The power required for changing the posture of the substrate is reduced, and the running cost of the apparatus is reduced.

【0017】請求項7に記載の塗布液塗布装置は、請求
項1の塗布液塗布装置において、姿勢変換手段は、保持
手段を回転させる回転機構を有している。ここでは、保
持手段を回転させることで保持手段に保持された基板を
回転させて、基板の姿勢変換を行う。請求項8に記載の
塗布液塗布装置は、請求項4の塗布液塗布装置におい
て、姿勢変換手段は、保持プレートを回転させる回転機
構を有している。
According to a seventh aspect of the present invention, in the coating liquid applying apparatus of the first aspect, the posture changing means has a rotation mechanism for rotating the holding means. Here, the posture of the substrate is changed by rotating the substrate held by the holding unit by rotating the holding unit. According to an eighth aspect of the present invention, in the coating liquid applying apparatus of the fourth aspect, the posture changing means has a rotation mechanism for rotating the holding plate.

【0018】ここでは、保持手段全体を回転させるので
はなく、保持プレートを回転させることによって基板の
姿勢変換を行わせる。これにより、吸着機構を回転させ
る必要がなくなり、基板の姿勢変換に必要なパワーが小
さくなり、装置のランニングコストが削減される。請求
項9に記載の塗布液塗布方法は、保持工程と、塗布工程
と、姿勢変換工程と、不要膜除去工程とを備えている。
保持工程では、基板を鉛直あるいは傾斜姿勢で保持す
る。塗布工程では、保持された基板に対して塗布液を塗
布する。姿勢変換工程では、塗布液が塗布された基板を
その上辺及び下辺が側方に位置するように姿勢変換させ
る。不要膜除去工程では、姿勢変換後の基板の側方位置
の辺に沿って不要塗布膜を除去する。
Here, the posture of the substrate is changed by rotating the holding plate instead of rotating the entire holding means. Accordingly, it is not necessary to rotate the suction mechanism, the power required for changing the posture of the substrate is reduced, and the running cost of the apparatus is reduced. The application liquid application method according to the ninth aspect includes a holding step, an application step, a posture changing step, and an unnecessary film removing step.
In the holding step, the substrate is held in a vertical or inclined posture. In the application step, an application liquid is applied to the held substrate. In the posture changing step, the posture of the substrate on which the coating liquid is applied is changed such that the upper side and the lower side are located sideways. In the unnecessary film removing step, the unnecessary coating film is removed along the side at the lateral position of the substrate after the posture change.

【0019】本方法では、まず、保持工程で基板を鉛直
あるいは傾斜姿勢で保持させた後、塗布工程で基板に対
して塗布手段により塗布液を塗布する。次に、姿勢変換
工程で、基板の上辺及び下辺近傍の不要な塗布膜を除去
するために、姿勢変換手段により上辺及び下辺が側方位
置にくるように基板の姿勢を変換させる。そして、不要
膜除去工程で、側方位置にきた基板の上辺及び下辺に沿
って不要膜を除去する。具体的には、例えば、塗布膜塗
布後の基板を姿勢変換手段により90度回転させ、基板
の側辺となった元上辺及び下辺に沿って不要膜除去手段
を上下に移動させながら基板から不要膜を除去する。
In this method, first, in a holding step, the substrate is held in a vertical or inclined posture, and then, in a coating step, a coating liquid is applied to the substrate by a coating means. Next, in the posture changing step, in order to remove unnecessary coating films near the upper side and the lower side of the substrate, the posture of the substrate is changed by the posture changing means so that the upper side and the lower side come to the side positions. Then, in the unnecessary film removing step, the unnecessary film is removed along the upper side and the lower side of the substrate located at the side position. Specifically, for example, the substrate after the application of the coating film is rotated by 90 degrees by the posture changing means, and the unnecessary film removing means is moved up and down along the original upper side and lower side, which are the side sides of the substrate, and is unnecessary from the substrate. Remove the film.

【0020】基板の上辺に沿って単に不要膜除去手段を
移動させて不要膜の除去を行う方法をとる場合には不要
膜を除去する際に使用する洗浄液の垂れにより不具合が
発生し易いのに対し、ここでは不要膜の除去を行いたい
基板の上辺及び下辺を側方に位置するように姿勢変換し
た後に不要膜の除去を行う方法を採っているため、洗浄
液の垂れにより不具合が発生し難い。言い換えれば、本
方法を用いることにより、基板の上辺及び下辺付近の不
要な塗布膜をより適切に除去できるようになり、また、
洗浄液の垂れによる不具合を抑えるための手段を省力化
あるいは省略することができるので経済的に有利とな
る。
In the case where the unnecessary film is simply removed by moving the unnecessary film removing means along the upper side of the substrate, a problem is likely to occur due to the dripping of the cleaning liquid used for removing the unnecessary film. On the other hand, here, the method of removing the unnecessary film after changing the posture so that the upper side and the lower side of the substrate on which the unnecessary film is to be removed is located on the side is employed, so that the problem is less likely to occur due to the dripping of the cleaning liquid. . In other words, by using this method, it becomes possible to more appropriately remove unnecessary coating films near the upper side and lower side of the substrate, and
Since the means for suppressing the problem caused by the dripping of the cleaning liquid can be labor-saving or omitted, it is economically advantageous.

【0021】請求項10に記載の塗布液塗布装置は、保
持手段と、塗布手段と、不要膜除去手段とを備えてい
る。保持手段は基板を鉛直あるいは傾斜姿勢で保持す
る。塗布手段は、保持手段に保持された基板に対して塗
布液を塗布する。不要膜除去手段は、保持手段に保持さ
れた状態の塗布液塗布後の基板に対してその下辺部の不
要な塗布膜を除去する。
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided an application liquid applying apparatus including a holding unit, an applying unit, and an unnecessary film removing unit. The holding means holds the substrate in a vertical or inclined posture. The application unit applies the application liquid to the substrate held by the holding unit. The unnecessary film removing unit removes an unnecessary coating film on the lower side of the substrate after the application of the coating liquid held in the holding unit.

【0022】本装置では、塗布液塗布装置とは別に不要
膜除去装置を設けることなく基板の下辺部に生じる不要
な厚膜部等の不要膜を適切に除去できる。請求項11に
記載の塗布液塗布装置は、請求項10の塗布液塗布装置
において、塗布手段は、保持手段に保持された基板に対
して略水平方向に延びる塗布液供給機構と、基板に対し
て塗布液供給機構を上方から下方へ相対移動させる移動
機構とを有している。
In the present apparatus, unnecessary films such as unnecessary thick film portions generated on the lower side of the substrate can be appropriately removed without providing an unnecessary film removing device separately from the coating liquid coating device. The coating liquid application device according to claim 11 is the coating liquid application device according to claim 10, wherein the application unit includes a coating liquid supply mechanism that extends in a substantially horizontal direction with respect to the substrate held by the holding unit; And a moving mechanism for relatively moving the application liquid supply mechanism from above to below.

【0023】本装置では、基板に対する塗り終わり時点
である基板の下辺部近傍に生じがちとなる基板の厚膜部
を、装置の大型化を招くことなく適切に除去できる。請
求項12に記載の塗布液塗布装置は、請求項10または
11の塗布液塗布装置において、保持手段に保持された
基板に対して送風して塗布された塗布液を乾燥させる乾
燥機構をさらに備えている。
In the present apparatus, the thick film portion of the substrate, which tends to occur near the lower side of the substrate at the time when the coating is completed on the substrate, can be appropriately removed without increasing the size of the apparatus. According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided the coating liquid application apparatus according to the tenth or eleventh aspect, further comprising a drying mechanism for blowing the coating liquid applied by blowing air to the substrate held by the holding means. ing.

【0024】本発明の装置では、基板に塗布された塗布
液を乾燥機構によって乾燥させるとともに、不要膜を除
去することができ、より適切に塗布液の塗布及び乾燥を
行うことができる。請求項13に記載の塗布液塗布方法
は、保持工程と、塗布工程と、不要膜除去工程とを備え
ている。保持工程では、基板を鉛直あるいは傾斜姿勢で
保持する。塗布工程では、保持された基板に対して塗布
液を塗布する。不要膜除去工程では、基板を鉛直あるい
は傾斜姿勢に保持したままで基板の周辺部の不要膜を除
去する。
In the apparatus according to the present invention, the coating liquid applied to the substrate is dried by the drying mechanism, and the unnecessary film can be removed, so that the coating liquid can be more appropriately applied and dried. A coating liquid applying method according to a thirteenth aspect includes a holding step, an applying step, and an unnecessary film removing step. In the holding step, the substrate is held in a vertical or inclined posture. In the application step, an application liquid is applied to the held substrate. In the unnecessary film removing step, the unnecessary film in the peripheral portion of the substrate is removed while the substrate is held in a vertical or inclined posture.

【0025】本方法では、基板に塗布液を塗布する姿勢
に保持したままで、基板の周辺部の不要膜を除去するこ
とができるので、専用の不要膜除去装置を設ける必要が
なく、装置の大型化を抑制できる。請求項14に記載の
塗布液塗布方法は、保持工程と、塗布工程と、乾燥工程
と、不要膜除去工程とを備えている。保持工程では、基
板を鉛直あるいは傾斜姿勢で保持する。塗布工程では、
保持された基板に対して塗布液を塗布する。乾燥工程で
は、基板に塗布された塗布液を乾燥させる。不要膜除去
工程では、乾燥工程と同時に実行され、基板の周辺部の
不要膜を除去する。
According to the present method, the unnecessary film on the peripheral portion of the substrate can be removed while maintaining the posture in which the coating liquid is applied to the substrate. Therefore, it is not necessary to provide a dedicated unnecessary film removing device. Increase in size can be suppressed. The coating liquid applying method according to claim 14 includes a holding step, an applying step, a drying step, and an unnecessary film removing step. In the holding step, the substrate is held in a vertical or inclined posture. In the coating process,
The coating liquid is applied to the held substrate. In the drying step, the coating liquid applied to the substrate is dried. The unnecessary film removing step is performed at the same time as the drying step to remove the unnecessary film in the peripheral portion of the substrate.

【0026】本方法では、基板に塗布された塗布液を乾
燥すると同時に、基板の周辺部の不要膜を除去すること
ができるので、装置の単位時間当たりの処理能力を低下
させることが無く、不要な塗布膜の除去を適切かつ経済
的に行うことができる。請求項15に記載の塗布液塗布
方法は、請求項13の塗布液塗布方法において、乾燥工
程は基板に対して送風して行われる。
According to the present method, the coating liquid applied to the substrate is dried, and at the same time, the unnecessary film on the peripheral portion of the substrate can be removed. It is possible to appropriately and economically remove a proper coating film. According to a fifteenth aspect of the present invention, in the method of the thirteenth aspect, the drying step is performed by blowing air to the substrate.

【0027】本方法では、基板の乾燥と基板の周辺部の
不要膜の除去をより適切に行うことができる。
According to the present method, the drying of the substrate and the removal of the unnecessary film on the peripheral portion of the substrate can be performed more appropriately.

【0028】[0028]

【発明の実施の形態】[第1実施形態]本発明のレジス
ト塗布装置(塗布液塗布装置)の一実施形態(第1実施
形態)を図1〜図4に示す。レジスト塗布装置1は、基
板Wにレジスト液を塗布する装置であって、主として、
基板保持機構(保持手段)2と、レジスト塗布機構(塗
布手段)3と、姿勢変換機構(姿勢変換手段)4と、エ
ッジリンス機構(不要膜除去手段)5とから構成されて
いる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [First Embodiment] FIGS. 1 to 4 show one embodiment (first embodiment) of a resist coating apparatus (coating liquid coating apparatus) of the present invention. The resist coating device 1 is a device that applies a resist liquid to the substrate W, and mainly includes:
It comprises a substrate holding mechanism (holding means) 2, a resist coating mechanism (coating means) 3, a posture changing mechanism (posture changing means) 4, and an edge rinsing mechanism (unnecessary film removing means) 5.

【0029】基板保持機構2は、真空吸着によって基板
を保持する機構であり、図1に示すように、主として、
プレート(保持プレート)21と、第1吸着装置22
と、第1窒素供給装置23とから構成される。プレート
21は、矩形で、その短辺が上下位置となる位置に垂直
に設置されており、基板W側(図1の右側)が平坦面2
1aとなっている。また、プレート21には、図2に示
すように、厚さ方向(図1の左右方向)にプレート21
を貫通する3つの弧状開口21cと、互いに連通する複
数の吸着孔21dが形成されている。3つの弧状開口2
1cは、それぞれ等間隔に同一円周上に配置されてい
る。吸着孔21dは全て、配管及び自動切替弁22a,
23aを介して、第1吸着装置22及び第1窒素供給装
置23に接続されている。
The substrate holding mechanism 2 is a mechanism for holding a substrate by vacuum suction, and as shown in FIG.
Plate (holding plate) 21 and first suction device 22
And a first nitrogen supply device 23. The plate 21 has a rectangular shape, and is installed vertically at a position where the short side is the vertical position.
1a. Further, as shown in FIG. 2, the plate 21 is provided in the thickness direction (the left-right direction in FIG. 1).
Are formed, and a plurality of suction holes 21d communicating with each other are formed. 3 arc openings 2
1c are arranged on the same circumference at equal intervals. The suction holes 21d are all pipes and automatic switching valves 22a,
The first adsorption device 22 and the first nitrogen supply device 23 are connected via 23a.

【0030】この基板保持機構2は、平坦面21aに基
板Wが接しているときに吸着孔21d内の圧力を第1吸
着装置22及び第1供給装置23によって制御すること
により、基板Wの保持及び保持解除を行うことができ
る。レジスト塗布機構3は、矩形の基板Wがその短辺が
上下位置となるようプレート21に保持されたとき、そ
の基板Wの幅方向(図2の左右方向)に延在する筒状を
なすレジスト液槽(塗布液供給機構)31を備えてい
る。レジスト液槽31の前面壁部には、それを貫通しか
つその前端側へ上向きに傾斜するように、流出路32が
幅方向にわたって形成されている。この流出路32はス
リット状の開口を有するノズルである。また、レジスト
液槽31は、基板Wの幅方向と直交する下方向(図1の
下方向)へ直線的に移動させることができるように、図
示しない直線駆動機構(移動機構)に支持されている。
レジスト液槽31には、図示しない圧力設定系及びレジ
スト液供給系が接続されている。圧力設定系はレジスト
液槽31内の加圧、減圧、及び大気開放を行う系であ
り、レジスト液供給系はレジスト液槽31内へレジスト
液を供給する系である。
The substrate holding mechanism 2 holds the substrate W by controlling the pressure in the suction hole 21d by the first suction device 22 and the first supply device 23 when the substrate W is in contact with the flat surface 21a. And release of holding can be performed. When the rectangular substrate W is held on the plate 21 such that the short side of the rectangular substrate W is positioned vertically, the resist coating mechanism 3 forms a cylindrical resist extending in the width direction of the substrate W (the left-right direction in FIG. 2). A liquid tank (coating liquid supply mechanism) 31 is provided. An outflow passage 32 is formed in the front wall portion of the resist liquid tank 31 so as to penetrate therethrough and incline upward toward the front end thereof in the width direction. The outflow passage 32 is a nozzle having a slit-shaped opening. The resist liquid tank 31 is supported by a linear drive mechanism (moving mechanism) (not shown) so that the resist liquid tank 31 can be linearly moved in a downward direction (downward in FIG. 1) orthogonal to the width direction of the substrate W. I have.
A pressure setting system and a resist liquid supply system (not shown) are connected to the resist liquid tank 31. The pressure setting system is a system for pressurizing, depressurizing, and opening to the atmosphere in the resist liquid tank 31, and the resist liquid supply system is a system for supplying the resist liquid into the resist liquid tank 31.

【0031】レジスト液槽31内の圧力を制御して基板
Wの被塗布面(図1の右側の面)とレジスト液槽31の
前面壁との間の隙間にレジスト液を供給しながらレジス
ト液槽31を下方向に移動させていくと、基板Wの被塗
布面に上側から順にレジスト膜が形成されていく。姿勢
変換機構4は、3つの接触吸着部41a〜41cと、各
接触吸着部41a〜41cからの配管を束ねた基板Wの
回転軸O上にある集合管42と、ロータリーアクチュエ
ーター(回転機構)43と、ロータリージョイント44
と、第2吸着装置(吸着機構)45及び第2窒素供給装
置46とを有している。接触吸着部41a〜41cは、
基板W側(図1の右側)の端面が基板Wと接触し得る部
分であって、集合管42、及びロータリージョイント4
4とともに、エアシリンダ等よりなる駆動機構60によ
りプレート21に対して基板Wの回転軸0に沿って移動
する(図1及び図3参照)。接触吸着部41a〜41c
は、集合管42,ロータリージョイント44、及び自動
切替弁45a,46aを介して、床面に設置された第2
吸着装置45及び第2窒素供給装置46に接続されてい
る。ロータリーアクチュエーター43は、モーターを備
えており、集合管42や接触吸着部41a〜41cを回
転させる。ロータリージョイント44は、集合管42と
第2吸着装置45及び第2窒素供給装置46からの配管
とを相対回転可能に連結している。なお、第2吸着装置
45及び第2窒素供給装置46に対するロータリージョ
イント44、集合管42,及び接触吸着部41a〜41
cの回転軸0に沿った移動が可能なように、第2吸着装
置45及び第2窒素供給装置46とロータリージョイン
ト44とを結ぶ配管上には伸縮管61が挿入されてい
る。
The resist solution is supplied to the gap between the coated surface of the substrate W (the right surface in FIG. 1) and the front wall of the resist solution bath 31 by controlling the pressure in the resist solution bath 31. As the bath 31 is moved downward, a resist film is formed on the surface to be coated of the substrate W in order from the upper side. The attitude conversion mechanism 4 includes three contact suction sections 41a to 41c, a collecting pipe 42 on a rotation axis O of a substrate W in which pipes from the contact suction sections 41a to 41c are bundled, and a rotary actuator (rotation mechanism) 43. And the rotary joint 44
And a second adsorption device (adsorption mechanism) 45 and a second nitrogen supply device 46. The contact suction portions 41a to 41c are
The end surface on the substrate W side (the right side in FIG. 1) is a portion that can come into contact with the substrate W, and includes a collecting pipe 42 and a rotary joint 4.
Along with the plate 4, the substrate W is moved along the rotation axis 0 of the substrate W with respect to the plate 21 by a driving mechanism 60 such as an air cylinder (see FIGS. 1 and 3). Contact suction parts 41a to 41c
Is a second pipe installed on the floor via a collecting pipe 42, a rotary joint 44, and automatic switching valves 45a and 46a.
It is connected to the adsorption device 45 and the second nitrogen supply device 46. The rotary actuator 43 includes a motor, and rotates the collecting pipe 42 and the contact suction sections 41a to 41c. The rotary joint 44 connects the collecting pipe 42 and a pipe from the second adsorption device 45 and the second nitrogen supply device 46 so as to be relatively rotatable. It should be noted that the rotary joint 44, the collecting pipe 42, and the contact adsorption sections 41a to 41 for the second adsorption apparatus 45 and the second nitrogen supply apparatus 46.
A telescopic tube 61 is inserted in the pipe connecting the second adsorption device 45 and the second nitrogen supply device 46 to the rotary joint 44 so that c can move along the rotation axis 0.

【0032】エッジリンス機構5は、レジスト液塗布後
に基板Wが90度回転させられて、その短辺が左右位置
とされた状態(図4の状態)において、基板Wの元上辺
及び下辺であった短辺付近(図4の左右両辺付近)をリ
ンス液によって洗浄する機構であって、図5に示すよう
に、基板Wを挟んで対向するノズル51a,51bを備
えた移動噴射部51を有している。ノズル51a,51
bからは、基板W側に複数の細管が延びており、この細
管から基板Wへとリンス液が噴射される。また、移動噴
射部51は、下方向(図3及び図4の下方向)へ直線的
に移動させることができるように、リニアモータ等から
なる直線駆動機構62に支持されている。移動噴射部5
1には、リンス液供給系63が接続されている。
The edge rinsing mechanism 5 is configured such that the substrate W is rotated 90 degrees after the application of the resist solution, and the short sides thereof are set to the left and right positions (the state shown in FIG. 4). This is a mechanism for cleaning the vicinity of the short side (near the left and right sides in FIG. 4) with a rinsing liquid, and includes a moving jet unit 51 having nozzles 51a and 51b opposed to each other across the substrate W as shown in FIG. doing. Nozzles 51a, 51
A plurality of thin tubes extend from b to the substrate W side, and a rinsing liquid is jetted from the thin tubes to the substrate W. The moving ejection unit 51 is supported by a linear drive mechanism 62 composed of a linear motor or the like so as to be able to linearly move downward (downward in FIGS. 3 and 4). Moving injection unit 5
A rinse liquid supply system 63 is connected to 1.

【0033】次に、レジスト塗布装置1による基板Wへ
のレジスト液塗布について説明する。まず、基板保持機
構2により鉛直姿勢で且つ短辺が上下位置となるように
基板Wを保持する。ここでは、プレート21の平坦面2
1aに基板Wを接触させた状態で、吸着孔21d内の圧
力を第1吸着装置22によって下げる。これにより、基
板Wがプレート21に吸着する。
Next, the application of a resist liquid to the substrate W by the resist coating apparatus 1 will be described. First, the substrate W is held by the substrate holding mechanism 2 so that the substrate W is in a vertical posture and the short side is in the vertical position. Here, the flat surface 2 of the plate 21
With the substrate W in contact with 1a, the pressure in the suction hole 21d is reduced by the first suction device 22. Thereby, the substrate W is attracted to the plate 21.

【0034】次に、レジスト塗布機構3により、基板W
に対してレジスト液を塗布する。ここでは、レジスト液
槽31内の圧力を制御して基板Wの被塗布面とレジスト
液槽31の前面壁との間の隙間にレジスト液を供給しな
がらレジスト液槽31を基板Wの上辺側から下辺側へと
移動させる。これにより、基板Wの被塗布面にレジスト
膜が形成される。
Next, the substrate W
Is applied with a resist solution. Here, the pressure in the resist solution tank 31 is controlled so that the resist solution is supplied to the gap between the coated surface of the substrate W and the front wall of the resist solution tank 31 while the resist solution tank 31 is placed on the upper side of the substrate W. To the lower side. As a result, a resist film is formed on the surface of the substrate W to be coated.

【0035】次に、基板Wの上辺及び下辺近傍の不要な
レジスト膜の厚膜部を除去するために、姿勢変換機構4
により基板Wの上辺及び下辺が側方位置にくるように基
板Wの姿勢を変換させる。ここでは、まず、接触吸着部
41a〜41c、集合管42、及びロータリージョイン
ト44を駆動機構60により基板W側に移動させ、接触
吸着部41a〜41cと基板Wとを密着させる。次に、
第2吸着装置45により配管及び接触吸着部41a〜4
1c内の圧力を低下させて、基板Wを3つの接触吸着部
41a〜41cにより保持させる。次に、吸着孔21d
内の圧力を第1吸着装置22及び第1窒素供給装置23
を制御することにより上げ、プレート21による基板W
の保持を解除する。次に、接触吸着部41a〜41c、
集合管42、及びロータリージョイント44を駆動機構
60によりさらに基板W側に移動させ、図3に示すよう
に基板Wとプレート21との間に隙間ができる状態とす
る。次に、ロータリーアクチュエーター43を駆動し
て、集合管42及び基板Wを保持した接触吸着部41a
〜41cを90度回転させる。すると、図4に示すよう
に、基板Wの短辺(元上辺及び下辺)が基板Wの側方に
位置する。
Next, in order to remove unnecessary thick portions of the resist film near the upper side and the lower side of the substrate W, the posture changing mechanism 4 is used.
The posture of the substrate W is changed such that the upper side and the lower side of the substrate W come to the side positions. Here, first, the contact suction portions 41a to 41c, the collecting pipe 42, and the rotary joint 44 are moved to the substrate W side by the drive mechanism 60, and the contact suction portions 41a to 41c and the substrate W are brought into close contact with each other. next,
The second adsorber 45 uses a pipe and contact adsorbers 41a-4
The pressure in 1c is reduced, and the substrate W is held by the three contact suction portions 41a to 41c. Next, the suction hole 21d
Pressure in the first adsorption device 22 and the first nitrogen supply device 23
Is controlled to raise the substrate W by the plate 21.
Release the hold. Next, the contact suction portions 41a to 41c,
The collecting pipe 42 and the rotary joint 44 are further moved to the substrate W side by the driving mechanism 60 so that a gap is formed between the substrate W and the plate 21 as shown in FIG. Next, by driving the rotary actuator 43, the contact suction unit 41a holding the collecting pipe 42 and the substrate W
Rotate ~ 41c by 90 degrees. Then, as shown in FIG. 4, the short sides (the original upper side and the lower side) of the substrate W are located on the sides of the substrate W.

【0036】最後に、側辺となった基板Wの短辺に沿っ
て、エッジリンス機構5により基板Wの短辺近傍の不要
なレジスト膜を除去する。ここでは、ノズル51a,5
1bの細管から基板Wに向けてリンス液を噴射させなが
ら、移動噴射部51を上から下へと移動させる(図4の
矢印A1を参照)。本レジスト塗布装置1では、基板W
を回転させずに基板Wの上辺に沿って単にエッジリンス
処理を行う場合にはリンス液の垂れにより他のレジスト
膜に悪影響が発生し易いのに対し、不要なレジスト膜の
除去を行いたい基板Wの上辺及び下辺を側方に位置する
ように姿勢変換した後に移動噴射部51を上から下へと
移動させることにより不要なレジスト膜の除去を行って
いるため、リンス液の垂れによる不具合が減少する。言
い換えれば、本レジスト塗布装置1を用いることによ
り、基板Wの上辺及び下辺付近の不要なレジスト膜がよ
り適切に除去できるようになり、また、リンス液の垂れ
による不具合を抑えるための手段を別個に設ける必要が
なくなり経済的に有利となっている。
Finally, an unnecessary resist film near the short side of the substrate W is removed by the edge rinsing mechanism 5 along the short side of the substrate W serving as the side. Here, the nozzles 51a, 5a
While ejecting the rinsing liquid from the narrow tube 1b toward the substrate W, the movable ejection unit 51 is moved from top to bottom (see the arrow A1 in FIG. 4). In the present resist coating apparatus 1, the substrate W
When the edge rinsing process is simply performed along the upper side of the substrate W without rotating the substrate W, the dripping of the rinsing liquid is likely to cause adverse effects on other resist films. Since the unnecessary resist film is removed by moving the moving jetting unit 51 from the top to the bottom after the posture is changed so that the upper side and the lower side of W are located sideways, a problem due to dripping of the rinsing liquid may occur. Decrease. In other words, by using the present resist coating apparatus 1, unnecessary resist films near the upper side and the lower side of the substrate W can be more appropriately removed, and means for suppressing a problem caused by dripping of the rinsing liquid is separately provided. And it is economically advantageous.

【0037】また、本レジスト塗布装置1では、基板保
持機構2を動かさずに、姿勢変換機構4の一部、具体的
には、接触吸着部41a〜41c、集合管42、及びロ
ータリージョイント44だけを動かすことで基板Wの姿
勢変換を行っている。このため、基板保持機構2につい
ては移動や回転を考慮しない構造としている。また、第
2吸着装置45や第2窒素供給装置46についても移動
や回転を考慮しなくて済んでいる。このように、レジス
ト塗布装置1は、基板Wの姿勢変換に必要なパワー及び
ランニングコストが小さい装置となっている。
In the resist coating apparatus 1, the substrate holding mechanism 2 is not moved, and only a part of the posture changing mechanism 4, specifically, the contact suction portions 41a to 41c, the collecting pipe 42, and the rotary joint 44 are used. Is moved to change the posture of the substrate W. For this reason, the substrate holding mechanism 2 has a structure in which movement and rotation are not considered. Also, the movement and rotation of the second adsorption device 45 and the second nitrogen supply device 46 need not be considered. As described above, the resist coating apparatus 1 is an apparatus in which power and running cost required for changing the posture of the substrate W are small.

【0038】[第2実施形態]本発明のレジスト塗布装
置(塗布液塗布装置)の一実施形態(第2実施形態)を
図6及び図7に示す。レジスト塗布装置101は、基板
Wにレジスト液を塗布する装置であって、主として、基
板保持機構(保持手段)102と、レジスト塗布機構
(塗布手段)103と、姿勢変換機構(姿勢変換手段)
141と、エッジリンス機構(不要膜除去手段)105
とから構成されている。なお、以降の説明において、第
1実施形態と同一又は同様なものについては同一符号を
付すものとする。
[Second Embodiment] FIGS. 6 and 7 show one embodiment (second embodiment) of a resist coating apparatus (coating liquid coating apparatus) of the present invention. The resist coating device 101 is a device for coating a resist liquid on the substrate W, and mainly includes a substrate holding mechanism (holding unit) 102, a resist coating mechanism (coating unit) 103, and a posture changing mechanism (posture changing unit).
141, edge rinse mechanism (unnecessary film removing means) 105
It is composed of In the following description, the same or similar components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals.

【0039】基板保持機構102は、真空吸着によって
基板を保持する機構であり、図6に示すように、主とし
て、プレート(保持プレート)121と、吸着装置12
2と、窒素供給装置123とから構成される。プレート
121は、垂直に設置されており、吸着孔(図示せず)
を有し、内部に吸着孔と連通する空間を有する。この空
間からつながる鋼管124は、プレート121の中央部
分から基板W側と反対側に延び、基板Wの回転軸O上に
位置している。鋼管124は、ロータリージョイント1
25を介して、吸着装置122及び窒素供給装置123
に接続されている。
The substrate holding mechanism 102 is a mechanism for holding a substrate by vacuum suction. As shown in FIG. 6, the substrate holding mechanism 102 mainly includes a plate (holding plate) 121 and a suction device 12.
2 and a nitrogen supply device 123. The plate 121 is installed vertically, and has a suction hole (not shown).
, And has a space inside which communicates with the suction hole. The steel pipe 124 connected from this space extends from the central portion of the plate 121 to the side opposite to the substrate W side, and is located on the rotation axis O of the substrate W. The steel pipe 124 is the rotary joint 1
25, the adsorption device 122 and the nitrogen supply device 123
It is connected to the.

【0040】基板保持機構102は、基板Wが接してい
るときにプレート121内の空間の圧力を吸着装置12
2及び窒素供給装置123によって制御することによ
り、基板Wの保持及び保持解除を行うことができる。レ
ジスト塗布機構103の構成については、第1実施形態
のレジスト塗布機構3と同様である。
The substrate holding mechanism 102 detects the pressure in the space in the plate 121 when the substrate W is in contact with the suction device 12.
2 and the nitrogen supply device 123, the substrate W can be held and released. The configuration of the resist coating mechanism 103 is the same as that of the resist coating mechanism 3 of the first embodiment.

【0041】姿勢変換機構141は、主としてモーター
を備えたロータリーアクチュエーター(回転機構)から
成り、鋼管124及びプレート121を回転させる。エ
ッジリンス機構105は、基板Wがレジスト液塗布後に
回転させられた状態(図7の状態)において、基板Wの
元上辺及び下辺付近(図7の左右両辺付近)をリンス液
によって洗浄する機構であり、移動噴射部151と、移
動噴射部151を上下に移動させる図示しない直線駆動
機構とを有している。移動噴射部151の構成について
は、第1実施形態の移動噴射部51と同様である。
The attitude conversion mechanism 141 mainly comprises a rotary actuator (rotation mechanism) provided with a motor, and rotates the steel pipe 124 and the plate 121. The edge rinsing mechanism 105 is a mechanism for cleaning the vicinity of the original upper side and the lower side (near the left and right sides in FIG. 7) of the substrate W with a rinsing liquid when the substrate W is rotated after the application of the resist liquid (the state of FIG. 7). In addition, it has a moving ejection unit 151 and a linear drive mechanism (not shown) that moves the moving ejection unit 151 up and down. The configuration of the mobile injection unit 151 is the same as that of the mobile injection unit 51 of the first embodiment.

【0042】次に、レジスト塗布装置101による基板
Wへのレジスト液塗布について説明する。なお、第1実
施形態と同様の作用効果については説明を省略する。ま
ず、基板保持機構102により短辺が上下位置となるよ
うに鉛直姿勢で基板Wを保持する。ここでは、プレート
121に基板Wを接触させた状態で、プレート121内
の空間の圧力を吸着装置122によって下げる。
Next, the application of a resist liquid to the substrate W by the resist coating apparatus 101 will be described. The description of the same operation and effect as in the first embodiment will be omitted. First, the substrate W is held by the substrate holding mechanism 102 in a vertical posture such that the short side is at the vertical position. Here, with the substrate W in contact with the plate 121, the pressure in the space inside the plate 121 is reduced by the suction device 122.

【0043】次に、レジスト塗布機構103により、基
板Wに対してレジスト液を塗布する。次に、基板Wの上
辺及び下辺近傍の不要なレジスト膜を除去するために、
姿勢変換機構141により基板Wの短辺が側方位置にく
るように基板Wの姿勢を変換させる。ここでは、ロータ
リーアクチュエーターのモーターを作動させて鋼管12
4及び基板Wを保持したプレート121を90度回転さ
せる(図7の矢印A2を参照)。すると、図7に示すよ
うに、基板Wの短辺(元上辺及び下辺)が基板Wの側辺
となる。
Next, a resist liquid is applied to the substrate W by the resist coating mechanism 103. Next, in order to remove unnecessary resist films near the upper side and the lower side of the substrate W,
The attitude of the substrate W is changed by the attitude conversion mechanism 141 so that the short side of the substrate W is located at the side position. In this case, the motor of the rotary actuator is operated to drive the steel pipe 12.
The plate 121 holding the substrate 4 and the substrate W is rotated by 90 degrees (see the arrow A2 in FIG. 7). Then, as shown in FIG. 7, the short sides (the original upper side and the lower side) of the substrate W become the side sides of the substrate W.

【0044】最後に、側辺となった基板Wの短辺に沿っ
て、エッジリンス機構105により基板Wの短辺近傍の
不要なレジスト膜を除去する。ここでは、移動噴射部1
51を上から下へと移動させる(図7の矢印A3を参
照)。本レジスト塗布装置101では、上記第1実施形
態と違って、基板保持機構102(第1実施形態の基板
保持機構2に相当)のプレート121を回転させること
によって基板Wの姿勢変換を行っている。このため、第
1実施形態の姿勢変換機構4に較べて、姿勢変換機構1
41の構成が簡易かつ低コストとなっている。
Finally, an unnecessary resist film in the vicinity of the short side of the substrate W is removed by the edge rinsing mechanism 105 along the short side of the substrate W serving as the side. Here, the mobile injection unit 1
51 is moved from top to bottom (see arrow A3 in FIG. 7). In the resist coating apparatus 101, unlike the first embodiment, the posture of the substrate W is changed by rotating the plate 121 of the substrate holding mechanism 102 (corresponding to the substrate holding mechanism 2 of the first embodiment). . For this reason, the posture changing mechanism 1 is compared with the posture changing mechanism 4 of the first embodiment.
41 is simple and low cost.

【0045】また、本レジスト塗布装置101では、基
板保持機構102全体を回転させるのではなく、プレー
ト121を回転させることによって基板Wの姿勢変換を
行わせている。これにより、吸着装置122や窒素供給
装置123等を回転させる必要がなくなっており、基板
Wの姿勢変換に必要なパワー及び装置のランニングコス
トが小さくなっている。
In the resist coating apparatus 101, the posture of the substrate W is changed by rotating the plate 121 instead of rotating the entire substrate holding mechanism 102. This eliminates the need to rotate the adsorption device 122, the nitrogen supply device 123, and the like, and reduces the power required for changing the attitude of the substrate W and the running cost of the device.

【0046】なお、これら第1及び第2の実施形態は、
塗布時の基板の上辺(塗りはじめ側)と下辺(塗り終わ
り側)との両方に厚膜部が形成される場合に有効なもの
であったが、例えばレジスト塗布機構の構造等によって
は塗布時の上辺側、あるいは下辺側のいずれか一方のみ
に厚膜部が形成される場合も起こりえるが、その場合に
はリンス液の移動噴射部51,151は必要な側のみに
設ける構成とすればよい。
Note that the first and second embodiments are
This is effective when a thick film is formed on both the upper side (coating start side) and the lower side (coating end side) of the substrate at the time of coating. It is possible that a thick film portion is formed only on one of the upper side and the lower side. In such a case, the rinsing liquid moving injection portions 51 and 151 may be provided only on the necessary side. Good.

【0047】[第3実施形態]本発明のレジスト塗布装
置(塗布液塗布装置)の一実施形態(第3実施形態)を
図8に示す。レジス卜塗布装置201は、基板Wにレジ
スト液を塗布する装置であって、主として、基板保持機
構(保持手段)202と、レジスト塗布機構(塗布手
段)203と、エッジリンス機構(不要膜除去手段)2
05とから構成されている。この第3実施形態は、第2
実施形態を変形したものであって、第2実施形態と異な
る点について以下に説明する。
Third Embodiment FIG. 8 shows one embodiment (third embodiment) of the resist coating apparatus (coating liquid coating apparatus) of the present invention. The resist coating device 201 is a device for coating the substrate W with a resist solution, and mainly includes a substrate holding mechanism (holding means) 202, a resist coating mechanism (coating means) 203, and an edge rinsing mechanism (unnecessary film removing means). ) 2
05. This third embodiment is similar to the second embodiment.
A modification of the embodiment will be described below, focusing on differences from the second embodiment.

【0048】第1に、この実施形態においては、第2実
施形態におけるロータリージョイント125、姿勢変換
機構141に相当する構成を備えておらず、先の実施例
のような基板Wの姿勢変換は行わない。第2に、この実
施形態においては、エッジリンス機構205はプレート
221に保持された基板Wの下辺に沿って往復移動可能
に設けられている。
First, this embodiment does not have a configuration corresponding to the rotary joint 125 and the posture changing mechanism 141 in the second embodiment, and performs the posture change of the substrate W as in the previous embodiment. Absent. Second, in this embodiment, the edge rinse mechanism 205 is provided so as to be able to reciprocate along the lower side of the substrate W held on the plate 221.

【0049】第3に、この実施形態においては、塗布後
の基板Wに対して送風して乾燥させる乾燥機構306が
設けられていることである。基板保持機構202は、図
示しない吸着孔(図示せず)を備えたプレート221に
より基板を鉛直姿勢に保持するように、フレーム209
に取り付けられている。
Third, in this embodiment, a drying mechanism 306 for blowing and drying the coated substrate W is provided. The substrate holding mechanism 202 is provided with a frame 209 such that the substrate is held in a vertical position by a plate 221 having suction holes (not shown) not shown.
Attached to.

【0050】レジスト塗布機構203は、基板面と平行
に水平方向に延びたレジスト液槽231と、このレジス
ト液槽231を基板面と平行に保持する支持部材233
と、プレート221の左右に配置されて支持部材233
を案内して基板面に沿ってレジスト液槽231を移動さ
せるリニアモータ(往復移動機構)235とからなって
いる。
The resist coating mechanism 203 includes a resist liquid tank 231 extending in the horizontal direction parallel to the substrate surface, and a supporting member 233 for holding the resist liquid tank 231 parallel to the substrate surface.
And support members 233 arranged on the left and right of the plate 221.
And a linear motor (reciprocating mechanism) 235 for moving the resist solution tank 231 along the substrate surface.

【0051】エッジリンス機構205は、基板を挟んで
対向するノズルを備えた移動噴射部251と、この移動
噴射部251をプレート221に保持された基板Wの下
辺に沿って往復移動させるプーリ、ベルト、ガイド等よ
りなる直線駆動機構262より構成されている。乾燥機
構306は、プレート221に保持された基板Wに対し
て平行に配置され、基板Wに対して送風する機構を備え
ており、レジスト液が塗布された基板に送風して乾燥さ
せる。
The edge rinsing mechanism 205 includes a moving ejection unit 251 having nozzles opposed to each other with the substrate interposed therebetween, and a pulley and a belt for reciprocating the moving ejection unit 251 along the lower side of the substrate W held on the plate 221. , And a linear drive mechanism 262 composed of a guide and the like. The drying mechanism 306 is provided in parallel with the substrate W held on the plate 221 and has a mechanism for blowing air to the substrate W, and blows and dries the substrate coated with the resist liquid.

【0052】本実施形態の装置は、レジスト液槽231
が基板Wの上部から下部に向かって移動してレジスト液
を塗布する際に、塗り終わりの部分、即ち基板Wの下辺
に沿って厚膜部が発生するが、塗りはじめの部分、即ち
基板Wの上辺側には問題となるような厚膜部は生じない
場合に好適である。かかる装置の動作を説明すると、ま
ずレジスト液槽231が基板Wの上部から下部に向かっ
て移動して基板Wにレジスト液を塗布する。次にレジス
ト液槽231は下方の待機位置(図8に示す位置)まで
退避する。続いて、エッジリンス機構205による基板
Wの厚膜部の除去と、乾燥機構306による基板Wに対
する送風乾燥とが同時に行われる。すなわち、エッジリ
ンス機構205においては、移動噴射部251がプレー
ト221に保持された基板の下辺に沿って移動しつつ、
そのノズルからリンス液を吐出して、基板Wの下辺に沿
って形成された厚膜部を溶解除去する。この厚膜部の除
去における移動噴射部251の移動は、1回でも数回で
もよく、またリンス液の吐出も往復で行っても片道のみ
で行ってもよい。それと同時に、乾燥機構306は、プ
レート221に保持されている塗布後の基板Wに対して
送風を行い、塗布されたレジスト液を乾燥させる。この
乾燥する間に、塗布されたレジスト液のレベリングも行
われる。この実施形態のように厚膜部の除去と乾燥とを
同時に行うことで、装置の単位時間当たりの処理能力を
向上でき、また厚膜部の除去をプレート221に保持さ
れたままの基板Wに対して行うことで、専用の不要膜除
去装置を設ける必要が無くなり、装置の小型化が可能で
ある。なお、この実施形態では乾燥機構306を設けて
送風による乾燥を行っているが、これに限らず、例えば
所定時間放置することによる自然乾燥を行ってもよい。
The apparatus of the present embodiment comprises a resist solution tank 231
Moves from the upper part to the lower part of the substrate W to apply the resist solution, a thick film portion is generated along the end of the coating, that is, along the lower side of the substrate W, but the part at the beginning of the coating, that is, the substrate W This is suitable when a problematic thick film portion does not occur on the upper side. The operation of such an apparatus will be described. First, the resist liquid tank 231 moves from the upper part to the lower part of the substrate W to apply the resist liquid to the substrate W. Next, the resist liquid tank 231 is retracted to the lower standby position (the position shown in FIG. 8). Subsequently, the removal of the thick film portion of the substrate W by the edge rinse mechanism 205 and the blast drying of the substrate W by the drying mechanism 306 are simultaneously performed. That is, in the edge rinsing mechanism 205, while the moving ejection unit 251 moves along the lower side of the substrate held by the plate 221,
The rinsing liquid is discharged from the nozzle to dissolve and remove the thick film portion formed along the lower side of the substrate W. The movement of the movable jetting unit 251 in the removal of the thick film portion may be performed once or several times, and the discharge of the rinsing liquid may be performed in a reciprocating manner or only in one way. At the same time, the drying mechanism 306 blows air on the coated substrate W held on the plate 221 to dry the applied resist liquid. During this drying, leveling of the applied resist liquid is also performed. By simultaneously performing the removal and drying of the thick film portion as in this embodiment, the processing capability per unit time of the apparatus can be improved, and the removal of the thick film portion can be performed on the substrate W held on the plate 221. By doing so, it is not necessary to provide a dedicated unnecessary film removing device, and the device can be downsized. In this embodiment, the drying mechanism 306 is provided to perform drying by blowing air. However, the present invention is not limited to this. For example, natural drying may be performed by leaving the apparatus to stand for a predetermined time.

【0053】[0053]

【発明の効果】本発明では、不要膜の除去を行いたい基
板の上辺及び下辺を側方に位置するように姿勢変換した
後に不要膜の除去を行うため、洗浄液の垂れにより不具
合が発生し難くなり、基板の上辺及び/又は下辺付近の
不要な塗布膜がより適切に除去できるようになる。ま
た、洗浄液の垂れによる不具合を抑えるための手段を省
力化することができるため、経済的に有利な装置を提供
できる。
According to the present invention, since the unnecessary film is removed after the posture is changed so that the upper side and the lower side of the substrate from which the unnecessary film is to be removed are located on the sides, problems due to the dripping of the cleaning liquid are less likely to occur. Thus, unnecessary coating films near the upper side and / or lower side of the substrate can be more appropriately removed. Further, since the means for suppressing the trouble caused by the dripping of the cleaning liquid can be saved, an economically advantageous apparatus can be provided.

【0054】また本発明では、専用の不要膜除去装置を
別途設けることなく上辺及び/又は下辺に生じた塗布液
の厚膜部に対してリンス液を供給して、不要膜を適切か
つ経済的に溶解除去することができ、装置の大型化、装
置コストの増大、単位時間当たりの基板処理量の減少、
剥離帯電量の増大などの不都合の発生を低減できる。
Further, in the present invention, the rinsing liquid is supplied to the thick film portion of the coating liquid formed on the upper side and / or the lower side without separately providing a dedicated unnecessary film removing device, so that the unnecessary film can be appropriately and economically removed. Can be dissolved and removed, increasing the size of the device, increasing the cost of the device, reducing the amount of substrate processed per unit time,
The occurrence of inconveniences such as an increase in the amount of peeling charge can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態によるレジスト塗布装
置の縦断面図。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view of a resist coating apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】プレートの平面図。FIG. 2 is a plan view of a plate.

【図3】レジスト塗布装置の縦断面図。FIG. 3 is a longitudinal sectional view of a resist coating apparatus.

【図4】レジスト塗布装置の状態図。FIG. 4 is a state diagram of a resist coating apparatus.

【図5】移動噴射部の側面図。FIG. 5 is a side view of the moving injection unit.

【図6】本発明の第2の実施形態によるレジスト塗布装
置の縦断面図。
FIG. 6 is a longitudinal sectional view of a resist coating device according to a second embodiment of the present invention.

【図7】第2実施形態のレジスト塗布装置の状態図。FIG. 7 is a state diagram of a resist coating apparatus according to a second embodiment.

【図8】第3実施形態のレジスト塗布装置の斜視図。FIG. 8 is a perspective view of a resist coating apparatus according to a third embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,101,201 レジスト塗布装置 2,102,202 基板保持機構 3,103,203 レジスト塗布機構 4,141 姿勢変換機構 5,105,205 エッジリンス機構 21,121,221 プレート 21a 平坦面 22,122 吸着装置 51a,51b ノズル 41a 接触吸着部 43 ロータリーアクチュエーター 51,251 移動噴射部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 101, 201 Resist coating device 2, 102, 202 Substrate holding mechanism 3, 103, 203 Resist coating mechanism 4, 141 Attitude conversion mechanism 5, 105, 205 Edge rinse mechanism 21, 121, 221 Plate 21a Flat surface 22, 122 Suction device 51a, 51b Nozzle 41a Contact suction unit 43 Rotary actuator 51,251 Moving injection unit

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板を鉛直あるいは傾斜姿勢で保持する保
持手段と、 前記保持手段に保持された基板に対して塗布液を塗布す
る塗布手段と、 塗布液が塗布された基板を、その上辺及び下辺が側方に
位置するように姿勢変換させる姿勢変換手段と、 姿勢変換後の基板の側方位置の辺に沿った不要な塗布膜
を除去する不要膜除去手段と、を備えた塗布液塗布装
置。
1. A holding means for holding a substrate in a vertical or inclined posture, an application means for applying a coating liquid to the substrate held by the holding means, and a substrate coated with the coating liquid, A coating liquid application comprising: posture changing means for changing the posture so that the lower side is located on the side; and unnecessary film removing means for removing unnecessary coating films along the side of the side position of the substrate after the posture change. apparatus.
【請求項2】前記塗布手段は、姿勢変換前の基板の上辺
あるいは下辺に沿って延びる塗布液供給機構と、基板と
前記塗布液供給機構とを上下方向に相対移動させる移動
機構とを有している、請求項1に記載の塗布液塗布装
置。
2. The coating means has a coating liquid supply mechanism extending along an upper side or a lower side of the substrate before the posture change, and a moving mechanism for relatively moving the substrate and the coating liquid supply mechanism in the vertical direction. The coating liquid application device according to claim 1, wherein
【請求項3】前記塗布液供給機構は、姿勢変換前の基板
の上辺あるいは下辺に沿って延びるスリット状の開口を
有するノズルである、請求項2に記載の塗布液塗布機
構。
3. The coating liquid application mechanism according to claim 2, wherein the coating liquid supply mechanism is a nozzle having a slit-shaped opening extending along an upper side or a lower side of the substrate before the posture change.
【請求項4】前記保持手段は、平坦面を有する保持プレ
ートと、前記保持プレートの平坦面側に前記基板を吸着
させる吸着機構とを有している、請求項1に記載の塗布
液塗布装置。
4. The coating liquid applying apparatus according to claim 1, wherein said holding means has a holding plate having a flat surface, and a suction mechanism for sucking said substrate on said flat surface side of said holding plate. .
【請求項5】前記吸着機構は、前記基板と接触し得る接
触吸着部を有しており、 前記接触吸着部は、前記保持プレートに対して、前記保
持プレートの平坦面と交差する方向に移動可能である、
請求項4に記載の塗布液塗布装置。
5. The suction mechanism has a contact suction unit capable of contacting the substrate, and the contact suction unit moves relative to the holding plate in a direction intersecting a flat surface of the holding plate. Is possible,
The coating liquid application device according to claim 4.
【請求項6】前記姿勢変換手段は、前記吸着機構と、前
記接触吸着部を回転させる回転機構とを有している、請
求項5に記載の塗布液塗布装置。
6. The coating liquid applying apparatus according to claim 5, wherein said attitude changing means has said suction mechanism and a rotation mechanism for rotating said contact suction section.
【請求項7】前記姿勢変換手段は、前記保持手段を回転
させる回転機構を有している、請求項1に記載の塗布液
塗布装置。
7. The coating liquid applying apparatus according to claim 1, wherein said attitude changing means has a rotation mechanism for rotating said holding means.
【請求項8】前記姿勢変換手段は、前記保持プレートを
回転させる回転機構を有している、請求項4に記載の塗
布液塗布装置。
8. The coating liquid application device according to claim 4, wherein said attitude changing means has a rotation mechanism for rotating said holding plate.
【請求項9】基板を鉛直あるいは傾斜姿勢で保持する保
持工程と、 保持された基板に対して塗布液を塗布する塗布工程と、 塗布液が塗布された基板をその上辺及び下辺が側方に位
置するように姿勢変換させる姿勢変換工程と、 姿勢変換後の基板の側方位置の辺に沿って不要塗布膜を
除去する不要膜除去工程と、を備えた塗布液塗布方法。
9. A holding step of holding a substrate in a vertical or inclined posture, a coating step of applying a coating liquid to the held substrate, and a step of moving the substrate coated with the coating liquid so that its upper side and lower side are lateral. A coating liquid applying method, comprising: a posture changing step of changing a posture so as to be positioned; and an unnecessary film removing step of removing an unnecessary coating film along a side at a lateral position of the substrate after the posture change.
【請求項10】基板を鉛直あるいは傾斜姿勢で保持する
保持手段と、 前記保持手段に保持された基板に対して塗布液を塗布す
る塗布手段と、 前記保持手段に保持された状態の塗布液塗布後の基板に
対して、その下辺部の不要な塗布膜を除去する不要膜除
去手段と、を備えた塗布液塗布装置。
10. A holding means for holding a substrate in a vertical or inclined posture, an application means for applying a coating liquid to the substrate held by the holding means, and a coating liquid applied in a state held by the holding means. An application liquid applying apparatus, comprising: an unnecessary film removing unit that removes an unnecessary application film on a lower side of a subsequent substrate.
【請求項11】前記塗布手段は、前記保持手段に保持さ
れた基板に対して略水平方向に延びる塗布液供給機構
と、前記基板に対して前記塗布液供袷機構を上方から下
方へ相対移動させる移動機構とを有している、請求項1
0に記載の塗布液塗布装置。
11. The coating means includes: a coating liquid supply mechanism extending substantially horizontally with respect to a substrate held by the holding means; and a coating liquid supply mechanism for moving the coating liquid relative to the substrate from above to below. 2. A moving mechanism for moving
0. The coating liquid application device according to 0.
【請求項12】前記保持手段に保持された基板に対して
送風して塗布された塗布液を乾燥させる乾燥機構をさら
に備えた、請求項10または11に記載の塗布液塗布装
置。
12. The coating liquid application apparatus according to claim 10, further comprising a drying mechanism for blowing the coating liquid applied by blowing air to the substrate held by the holding means.
【請求項13】基板を鉛直あるいは傾斜姿勢で保持する
保持工程と、 保持された基板に対して塗布液を塗布する塗布工程と、 前記基板を鉛直あるいは傾斜姿勢に保持したままで、当
該基板の周辺部の不要膜を除去する不要膜除去工程と、
を備えた塗布液塗布方法。
13. A holding step of holding a substrate in a vertical or inclined position; a coating step of applying a coating liquid to the held substrate; and a holding step of holding the substrate in a vertical or inclined position. An unnecessary film removing step of removing unnecessary films in the peripheral portion;
A coating liquid application method comprising:
【請求項14】基板を鉛直あるいは傾斜姿勢で保持する
保持工程と、 保持された基板に対して塗布液を塗布する塗布工程と、 基板に塗布された塗布液を乾燥させる乾燥工程と、 前記乾燥工程と同時に実行され、前記基板の周辺部の不
要膜を除去する不要膜除去工程と、を備えた塗布液塗布
方法。
14. A holding step of holding the substrate in a vertical or inclined posture, a coating step of applying a coating liquid to the held substrate, a drying step of drying the coating liquid applied to the substrate, and the drying step. An unnecessary film removing step, which is performed simultaneously with the step, and removes an unnecessary film in a peripheral portion of the substrate.
【請求項15】前記乾燥工程は前記基板に対して送風し
て行われる、請求項13に記載の塗布液塗布方法。
15. The method according to claim 13, wherein the drying step is performed by blowing air to the substrate.
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