JPH11147581A - 金属製保管運搬容器 - Google Patents

金属製保管運搬容器

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JPH11147581A
JPH11147581A JP31057897A JP31057897A JPH11147581A JP H11147581 A JPH11147581 A JP H11147581A JP 31057897 A JP31057897 A JP 31057897A JP 31057897 A JP31057897 A JP 31057897A JP H11147581 A JPH11147581 A JP H11147581A
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JP
Japan
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metal
container
wafers
storage
door
Prior art date
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Pending
Application number
JP31057897A
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English (en)
Inventor
Kikuo Takeda
菊男 竹田
Tatsuo Nonaka
辰夫 野中
Katsumasa Abe
勝正 阿部
Yoshio Inoue
芳夫 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumika Chemical Analysis Service Ltd
Original Assignee
Sumika Chemical Analysis Service Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 評価・分析を目的とした試料としての電子工
業用原材料及び電子工業用製造装置材料若しくは部品の
保管及び運搬に使用する保管運搬容器で、その保管や運
搬する際にその間の汚染状態の変化を最小限に防止し
て、有機物汚染の正確な評価・分析を可能とする。 【解決手段】 保管運搬容器を、その内部の空気にさら
される表面部分を全て金属製とし、その内部に保管・運
搬中の試料間の接触及び破損を防止する為の金属製保持
具又は金属製スペーサーを装備した構成を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、成分分析を目的と
した電子工業用原材料及び電子工業用製造装置材料若し
くはそれらの部品の保管及び運搬に使用する金属製の保
管運搬容器に関し、特に、有機成分の分析を目的とした
金属製保管運搬容器で、その容器内部に保管・運搬中の
試料間の接触及び破損を防止する為の金属製保持具又は
金属製スペーサーを装備した金属製保管運搬容器に関す
る。
【0002】
【従来の技術】電子工業分野においてはその発達と共
に、原材料及び製造装置材料若しくはそれらの部品に、
汚染を可能な限り低減した清浄なものが必要とされてき
ている。特に半導体等の集積度が増加するに従い、有機
物汚染が半導体や液晶表示デバイス及びハードディスク
等の製造に重大な障害を与えることが明らかになってき
て、そのため最近では上記の材料や部品の有機物汚染の
レベルを正確に評価・測定することが重要視されてきて
いる。この有機物汚染の評価方法としては、ガスクロマ
トグラフィ、ガスクロマトグラフ質量分析法又は二次イ
オン質量分析法等の機器分析法が知られている。一方、
評価・分析に供される試料としての原材料及び製造装置
材料またはそれらの部品の保管や運搬には、その間の有
機物からの汚染を最小限に抑える運搬保管容器が必要と
される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来から使用
されている保管や運搬用の容器は少なくとも部分的に樹
脂等の有機材料が使用されており、有機物汚染の評価・
分析ではその容器自体が試料に対する汚染源となるた
め、これら容器を試料の保管や運搬に用いることは、有
機物汚染の評価・分析において重大な問題となってい
た。すなわち、有機物の評価・分析を目的とした試料と
して電子工業用原材料及び電子工業用製造装置材料若し
くはそれらの部品の保管及び運搬に使用する容器におい
て、その保管運搬時に容器自体から発生する汚染物質に
より汚染状態が変化するため、その試料の有機物汚染を
正確に評価・分析することができないという問題があっ
た。また、特開平05−160242号のように、試料
を内部にセットした後、容器を完全に密閉して内部の空
気を抜いて真空とし、汚染を防止するものも考慮された
が、構成が複雑で操作性も悪く、また容器も高価とな
り、有機分析においてより簡便に使用できる容器が求め
られていた。
【0004】そのため本発明は、上記の材料若しくは部
品の有機物汚染を評価・分析するに際し、有機物汚染測
定に供するまでの間にその保管又は運搬時になされる容
器及び外気等による有機物の汚染状態の変化という重大
な問題を解消し、よって、上記材料若しくは部品の有機
物汚染の変化を最小にして、正確に評価・分析し得る簡
便な金属製保管運搬容器を提供することを目的とするも
のである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の課題・目的を解決
するため、本発明の保管運搬容器は、この容器内部の空
気にさらされている表面部分が全て金属であり、またそ
の容器内部に保管・運搬中の試料間の接触及び破損を防
止する為の金属製保持具又は金属製スペーサーを装備し
た構成を有するものである。
【0006】すなわち、本発明の最大の特徴は、容器の
内面の空気にさらされる表面部分に金属を用いることで
あり、特にその密閉化のために、容器を構成する本体と
扉または蓋の間のパッキン部品に軟らかい金属、好まし
くはブリネル硬さ20以下の金属を使用する点にある。
【0007】この本発明の金属製容器の構成において、
容器内部の空気にさらされている表面部分が全て金属で
あり、容器を構成する本体及び開閉部からは勿論、その
間に使用されるパッキン材や試料の保持具からさえも有
機物の汚染物質は発生されないため、容器内部に保管さ
れている試料はこの容器に収容された時の汚染状態から
の変化を最小とされ、その後の有機物汚染測定における
より正確な評価・分析を可能とするものである。
【0008】本発明における金属製保管運搬容器の材料
としては、特に制限は設けられないが、アルミニウム、
銅、鉛、ニッケル若しくは白金、又はそれらの合金を挙
げることができる。特に本発明の優れた効果を十分に享
有し得るものとして、アルミニウム又はアルミニウム合
金が好ましい。しかしながら容器全体が金属であること
は必ずしも必要ではなく、容器内部の空気にさらされる
表面が金属であれば良く、そのため容器の内面に金属板
若しくは金属箔による内貼り、又は金属コーテイングが
施されたものであってもよい。
【0009】更に、本発明の金属製保管運搬容器内部に
装備される試料保持具は試料を内部に収容しかつ個々に
保持する金属製保持具か、又は各試料間に挿入され試料
と組み合わされて容器内部に保持固定される金属製スペ
ーサーであり、その材料としては、上記と同様に特に制
限はないが、アルミニウム、ニッケル若しくは白金又は
その合金を挙げることができる。
【0010】本発明は、特に容器を密閉する為に本体と
開閉部の間のパッキンに軟らかい高純度アルミニウム製
のガスケットを使用することによって本発明の優れた効
果を発揮することができる。
【0011】本発明の対象とする電子工業用原材料及び
電子工業用製造装置材料若しくは部品は、本発明の優れ
た効果を十分に享有し得るものとして、特にシリコンウ
エハを適用されるのが好ましい。
【0012】
【実施例】以下に本発明による実施例に基づいてより詳
細に説明する。
【0013】図1に本発明による第1実施例の金属製保
管運搬容器の斜視図を示す。図2は図1のA−A線によ
る断面図で、図3は図2のパッキン部分の拡大図であ
る。この実施例においては、本体部分1は箱形のアルミ
ニウム製ケースで開閉部の扉2もアルミニウム製であ
る。図2で示される、内部に縦置きで設置されるウエハ
3の金属製保持具4はステンレス鋼で製造され、ウエハ
設置用の複数の縦方向溝とウエハのストッパーを向かい
合った面に備える二枚の板部材を、丸棒で複数箇所接続
して構成され、ウエハを上方から収容して載置した後、
頂部のウエハ押えでウエハを固定し容器内に収容され
る。開閉式の扉2と本体1の間を密閉化するためパッキ
ン5は軟らかい高純度アルミニウムのガスケットが使用
される。扉2と本体1は図1で示される尾錠6により締
付け固定され、扉2の内側には容器内に保持具4を保持
する押えピン7が設けられる。
【0014】以下にこの第1実施例を使用した実験例
と、清浄な状態のウエハを測定して標準とした比較例
と、従来の樹脂製の容器を使用した場合の比較例とを示
す。
【0015】[比較例1]予め400℃で30分保持し
て有機物を除去したシリコンウエハの表面を、加熱脱離
−ガスクロマトグラフ−質量分析法により評価した。得
られたクロマトグラムから有機物汚染量を定量すると、
0.005ng/cm2 であった。図4にこのクロマト
グラムを示し、その横軸は保持時間、縦軸はアバンダン
スを表す。
【0016】[実験例1]第1実施例の容器及び保持具
をアセトンで洗浄し、次いで80℃で2時間加熱乾燥
し、容器を作成した時の有機物の汚染をクリーニングし
た。このクリーニングした金属製保管運搬容器に、前述
の比較例1で使用した有機物を除去したシリコンウエハ
を収納し、80℃の恒温槽中で12時間保持し、その後
3時間室温で放冷した後、容器に収納していたシリコン
ウェハの表面に付着した有機物を加熱脱離−ガスクロマ
トグラフ−質量分析法により測定した。得られたクロマ
トグラムから有機物汚染量を定量すると、0.007n
g/cm2 であった。この時のクロマトグラムを図5に
示す。縦軸、横軸は図4と同じである。これらから、本
発明を用いることにより保管時の有機物汚染はほとんど
無いことがわかる。
【0017】[実験例2]予め400℃で30分保持し
有機物を除去したシリコンウエハを第1実施例の金属製
保管運搬容器に収納し、室温で1週間保持した以外は実
験例1と同様に試験を行った。1週間保持した後のシリ
コンウエハの有機物汚染量は0.006ng/cm2
あった。
【0018】[実験例3]予め400℃で30分保持し
有機物を除去したシリコンウエハを第1実施例の金属製
保管運搬容器に収納し、室温で1週間保持した後、該容
器を自動車で千葉−大分間を往復運搬した以外は、実験
例1と同様に試験を行った。運搬後のシリコンウエハの
有機物汚染量は0.007ng/cm2 であった。
【0019】[比較例2]予め400℃で30分保持し
有機物を除去したシリコンウエハをポリプロピレン製の
ウエハキャリアケースに収納し、室温で1週間保持した
以外は実験例1と同様に試験した。1週間保持した後の
シリコンウエハの有機物汚染量は2.52ng/cm2
であった。図6にこのクロマトグラムを示す。縦軸、横
軸は図4と同じである。この結果より従来のポリプロピ
レン製のウエハキャリアケースに収納して保存した場
合、シリコンウエハ表面への有機物汚染は著しいことが
わかった。
【0020】これらの実験結果から、本発明による金属
容器での保管・運搬では、従来使用されていた容器と比
較すると、その有機物汚染はほとんど影響されないこと
がはっきりと理解される。
【0021】図7、図8に本発明による第2実施例の概
略図を示す。図7は第2実施例の斜視図であり、図8は
その断面図である。第2実施例では、第1実施例におい
て縦置きしたウエハ3を、図7、図8に示すように、水
平に重ねて置いて保管運搬可能としている。その容器は
アルミニウム製の開閉部である蓋10と鍋型の本体11
からなり、第1実施例でパッキンに使用した軟らかい金
属の高純度アルミニウムを環状クッション材12として
各ウエハ3の間にセットしてスペーサーとなし、蓋10
の内部にはセットされたウエハ3を蓋をした状態で固定
するアルミニウム製のウエハ押え13が複数個設けら
れ、これらにより内部の試料間の接触及び破損を防止す
る。もちろん蓋10と本体11のシール材14としては
実施例1と同様の軟らかい金属、好ましくは高純度アル
ミニウムのガスケットが使用されており、これら内部の
空気にさらされる部分に金属を適用することによって、
保存・運搬時の試料への有機物汚染を減少することが可
能となる。
【0022】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明では、有
機物の評価・分析に供される試料である電子工業用原材
料及び電子工業用製造装置材料若しくは部品の保管及び
運搬に、金属製保管運搬容器を使用することにより、試
料の保管又は運搬の間の容器自身による有機物汚染とい
う重大な問題を解消して、有機物汚染を評価・分析する
為の汚染状態の変化を最小限に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による第1実施例の金属製保管運搬容器
の斜視図。
【図2】図1の第1実施例のA−A線による縦断面図。
【図3】図2のパッキン部分の拡大図。
【図4】予め有機物を除去したシリコンウエハの表面を
加熱脱離−ガスクロマトグラフ−質量分析法により分析
した比較例1の結果のクロマトグラム。
【図5】第1実施例を使用した実験例1で加熱脱離−ガ
スクロマトグラフ−質量分析法により分析した結果のク
ロマトグラム。
【図6】従来の樹脂製容器を使用した比較例2で加熱脱
離−ガスクロマトグラフ−質量分析法により分析した結
果のクロマトグラム。
【図7】本発明による第2実施例の金属製保管運搬容器
の斜視図。
【図8】図7の第2実施例のB−B線における縦断面
図。
【符号の説明】
1 本体 2 扉 3 ウエハ 4 金属製保護具 5 パッキン 6 尾錠 7 押えピン 10 蓋 11 本体 12 クッション材 13 ウエハ押え 14 シール材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 阿部 勝正 東京都千代田区神田須田町2丁目7番 タ ームスビル3階 株式会社住化分析センタ ー内 (72)発明者 井上 芳夫 東京都千代田区神田須田町2丁目7番 タ ームスビル3階 株式会社住化分析センタ ー内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 有機物の評価・分析を目的とした電子工
    業用原材料及び電子工業用製造装置材料若しくは部品の
    保管及び運搬に使用する金属製保管運搬容器において、
    該容器内部の空気にさらされている表面部分が全て金属
    であり、またその内部に保管・運搬中の試料間の接触及
    び破損を防止する為の金属製保持具又は金属製スぺ一サ
    ーを装備した金属製保管運搬容器。
  2. 【請求項2】 前記金属製保管運搬容器を構成する開閉
    部と本体の間に配置される、密閉化のためのパッキン部
    分に、ブリネル硬度20以下の柔らかい金属を適用する
    ことを特徴とする請求項1に記載の金属製保管運搬容
    器。
  3. 【請求項3】 容器密閉の為の前記パッキンに高純度ア
    ルミニウム製のガスケットを使用することを特徴とする
    請求項2に記載の金属製保管運搬容器。
JP31057897A 1997-11-12 1997-11-12 金属製保管運搬容器 Pending JPH11147581A (ja)

Priority Applications (1)

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JP31057897A JPH11147581A (ja) 1997-11-12 1997-11-12 金属製保管運搬容器

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JP31057897A JPH11147581A (ja) 1997-11-12 1997-11-12 金属製保管運搬容器

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JPH11147581A true JPH11147581A (ja) 1999-06-02

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JP31057897A Pending JPH11147581A (ja) 1997-11-12 1997-11-12 金属製保管運搬容器

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JP (1) JPH11147581A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010265004A (ja) * 2009-05-14 2010-11-25 Sumco Corp ウェーハケース
TWI396653B (zh) * 2010-12-10 2013-05-21 Au Optronics Corp 儲存盒

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2010265004A (ja) * 2009-05-14 2010-11-25 Sumco Corp ウェーハケース
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