JPH11136503A

JPH11136503A - 画像入力装置

Info

Publication number: JPH11136503A
Application number: JP9293913A
Authority: JP
Inventors: Keiichi Nitta; 啓一新田
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1997-10-27
Filing date: 1997-10-27
Publication date: 1999-05-21

Abstract

(57)【要約】【課題】微小ミラーアレイを光学系に備え、微小ミラ
ーの傾き切替により光学的に領域別に露光時間を制御す
る装置において、微小ミラーの傾きを切り替える際に、
各画素位置の光が、光軸の移動によって、隣接する別の
画素位置に入射し、偽信号の成分が生じるので、入力画
像の品質が低くなる。【解決手段】微小可動ミラーの光軸の傾きが中間的な
位置にある時に、光電変換素子の各々に入射する光の露
光量を、偽信号Ｄａとして求め、この偽信号の成分を低
減するように、前記光電変換素子が出力する信号を処理
する、偽信号成分除去処理１０９を実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光学系に微小ミラ
ーアレイを用いた画像入力装置に関し、例えばビデオカ
メラのような画像入力装置に適用しうる。

【０００２】

【従来の技術】例えばビデオカメラにおいては、一般
に、レンズ，ミラーなどで構成される光学系を介して、
ＣＣＤイメージセンサなどの撮像装置の撮像面に、被写
体からの光を結像し、撮像装置で、光学像を電気信号に
変換して読み取る。この種の画像入力装置において、入
力画像の各フレームの露光時間を決定するシャッター機
能，シェーディング補正などの画像処理は、一般的に、
電気的な処理によって実現される。

【０００３】しかし、光学系に微小ミラーアレイを配置
すれば、例えば画素単位で、露光／遮光の切替ができる
ので、微小ミラーアレイを制御して、光学的に、シャッ
ター機能などを実現することができる。微小ミラーアレ
イは、微小ミラーの各々の面の傾きが、２値的にあるい
は複数種類に切り替え制御可能な、多数の微小ミラー
を、例えば２次元配置して構成したものである。この微
小ミラーアレイは、静電吸引力を利用して微小ミラーの
面の傾きを切り替えるものであり、電気的に制御でき
る。

【０００４】光学系に微小ミラーアレイを備えた装置で
は、被写体からの光は、画素毎、あるいは領域毎に、光
学系の各微小ミラーで反射して、撮像装置に入射する。
各微小ミラーの傾きを変えると、それの光軸の向きが、
撮像装置の撮像面からずれるので、非露光（遮光）状態
になる。微小ミラーアレイに関する技術は、例えば、
「DIGITAL LIGHT PROCESSING ANDMEMS: TIMELY CONVERG
ENCE FOR A BRIGHT FUTURE (MICROMACHINING AND MICRO
FABRICATION '95 Part of SPIE's Thematic Applied Sc
ience and Engineering Series, 23-24, Oct., 1995)」
に示されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】光学系に微小ミラーア
レイを配置して、シャッター機能などを実現する場合、
微小ミラー面の傾き制御は、２値的に実施される。しか
し、例えば微小ミラーの光軸の向きを、ある安定位置Ａ
と別の安定位置Ｚのいずれかに２値的に切替制御する場
合でも、実際の光軸の向きは、前記安定位置ＡとＺの間
の中間位置Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，・・・をその並び順に
通過して、Ｚ又はＡの位置に到達する。

【０００６】例えば、多数の光電変換素子が２次元配置
された撮像装置を用いる場合、各微小ミラーの光軸の、
Ａ−Ｚ間での移動軌跡は、多数の光電変換素子の検出面
を順番に通過して、撮像装置の撮像面を外れた位置に到
達する。撮像装置の各光電変換素子で検出される各画素
と、微小ミラーアレイの各微小ミラーとが、１対１に対
応している場合、例えば１番の微小ミラーの光軸が安定
位置Ａにあるときには、１番の微小ミラーを通った光が
１番の画素として撮像装置で検出される。

【０００７】そして、例えば１番の微小ミラーの光軸
が、中間位置Ｂ，Ｃ，Ｄ及びＥにあるときには、１番の
微小ミラーを通った光が、それぞれ、１番の画素と隣接
する２番，３番，４番及び５番の画素として撮像装置で
検出される。つまり、微小ミラーの光軸が中間位置Ｂ，
Ｃ，Ｄ，Ｅ，・・・にあるときは、撮像装置における画
素位置と、被写体上の各位置との間に位置ずれが生じ
る。換言すれば、微小ミラーの光軸が中間位置Ｂ，Ｃ，
Ｄ，Ｅ，・・・にあるときは、本来の被写体各部からの
光とは異なる光の成分が撮像装置に入射し、撮像装置で
は偽信号の成分が検出される。

【０００８】実際には、微小ミラーの光軸が中間位置
Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，・・・にあるときに、撮像装置の各光
電変換素子に入射する光の光量の大小に応じて、撮像装
置で検出される画像信号のレベルが変動するので、露光
時間に比例した正確な画像信号が得られない。また、撮
像装置で検出される偽光成分の大きさは、画素位置に応
じて変化する。例えば、２番の画素位置では、１番の微
小ミラー移動時に入射する偽光成分のみが検出され、３
番の画素位置では、１番と２番の微小ミラー移動時に入
射する偽光成分が検出され、４番の画素位置では、１
番，２番及び３番の微小ミラー移動時に入射する偽光成
分が検出される。

【０００９】本発明は、微小ミラーアレイを用いる画像
入力装置において、微小ミラー移動時に生じる偽光成分
の悪影響を軽減し、被写体からの光の強度と露光時間に
応じた正確な画像信号を検出することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１では、複数の光
電変換素子で構成される撮像手段と該撮像手段の撮像面
に光像を導く光学手段を含む画像入力装置において、前
記光学手段に配置され、互いに独立して光軸を制御可能
な複数の微小可動ミラーと、前記複数の微小可動ミラー
の光軸の向きを切り替えるタイミングを調整して前記光
電変換素子の露光時間を制御する露光制御手段と、前記
微小可動ミラーの光軸の傾きが中間的な位置にある時に
前記光電変換素子の各々に入射する、光の露光量を偽信
号として求め、この偽信号の成分を低減するように、前
記光電変換素子が出力する信号を処理する信号補正手段
を設けたことを特徴とする。

【００１１】請求項２では、請求項１記載の画像入力装
置において、前記信号補正手段が、撮像手段の出力する
信号の値を、少なくとも１行もしくは１列の画素の全て
について記憶する記憶手段を備え、該記憶手段に記憶さ
れた信号の値に基づいて、各々の画素の信号の値から、
その画素に対して一方向に隣接するかもしくは影響を及
ぼす画素の信号の値と前記微小可動ミラーの動作速度に
応じて算出される偽信号の値を減算して、補正された信
号を各々の画素について出力することを特徴とする。

【００１２】請求項３では、請求項２記載の画像入力装
置において、前記信号補正手段が、補正対象画素に対し
て影響を及ぼす各画素の、前記偽信号の補正後の値に基
づいて、前記補正対象画素の偽信号の値を求めることを
特徴とする。

【００１３】請求項４では、請求項３記載の画像入力装
置において、前記信号補正手段が、補正対象画素を、前
記微小可動ミラーの光軸の移動軌跡に沿って配列され
る、複数の画素の中から、前記光軸の移動方向に向かっ
て、順番に割り当てることを特徴とする。

【００１４】（作用）（請求項１）被写体からの光は、微小可動ミラーを含む
光学手段を介して、撮像手段の撮像面に導かれる。従っ
て、微小可動ミラーの光軸の向きを切り替えることによ
り、撮像手段の各領域に対する露光／遮光（非露光）状
態が切り替わる。

【００１５】露光制御手段は、前記複数の微小可動ミラ
ーの光軸の向きを切り替えるタイミングを調整して、前
記光電変換素子の露光時間を制御する。前記微小可動ミ
ラーの光軸の傾きは、制御上は２値的に切り替わるが、
実際の光軸位置は、一方の安定位置から、中間的な位置
を通って、他方の安定位置に移動する。

【００１６】光軸が前記中間的な位置にある時に、前記
光電変換素子の各々に入射する光は、その位置に対応付
けられた像の領域と隣接する領域の偽光成分であり、こ
のときに前記光電変換素子の各々に入射する光の露光量
が偽信号になる。信号補正手段は、前記偽信号の成分を
低減するように、前記光電変換素子が出力する信号を処
理する。

【００１７】従って、偽信号の成分が低減され、被写体
からの光の強度と露光時間に応じた正確な画像信号を検
出できる。（請求項２）信号補正手段に設けられた記憶手段は、撮
像手段の出力する信号の値を、少なくとも１行もしくは
１列の画素の全てについて記憶する。信号補正手段は、
前記記憶手段に記憶された１行もしくは１列の各画素の
値に基づいて、各画素の補正結果を求める。

【００１８】この補正においては、各々の画素の信号の
値から、偽信号の値を減算する。偽信号の値は、各々の
画素について、その画素に対して一方向に隣接するか、
もしくは影響を及ぼす画素の信号の値（入射光の強さ）
と、前記微小可動ミラーの動作速度（偽光信号の露光時
間）に応じて算出される。各々の画素に隣接する画素及
び影響を及ぼす画素の信号の値は、前記記憶手段に１行
もしくは１列の画素として記憶されるので、補正に必要
な多数の画素の値を同時に参照でき、正確な補正結果が
得られる。

【００１９】（請求項３）撮像手段の出力する信号につ
いては、補正対象画素に対して影響を及ぼす各画素のほ
とんどが、他の画素の影響による偽信号を含んでいる。
そこで、信号補正手段は、偽信号の補正が完了した各画
素の値に基づいて、前記補正対象画素の偽信号の値を求
める。これにより、より正確に偽信号の成分を除去でき
る。

【００２０】（請求項４）補正対象画素は、信号補正手
段によって、前記微小可動ミラーの光軸の移動軌跡に沿
って配列される、複数の画素の中から、前記光軸の移動
方向に向かって、順番に割り当てられる。通常、光軸の
移動軌跡の最上流位置にある画素については、偽信号成
分は含まれない。また、画素位置が光軸の移動軌跡の上
流から下流に向かうにしたがって、画素の偽信号成分が
増大する。

【００２１】光軸の移動方向に向かって、上流側から下
流側に順番に補正対象画素を割り当て、補正対象画素を
割り当てる度に、補正対象画素の補正処理をすることに
より、常に、偽信号の補正が完了した各画素の値を利用
して、補正対象画素の偽信号の値を求めることができ
る。これにより、より正確に偽信号の成分を除去でき
る。

【００２２】

【発明の実施の形態】

（第１の実施の形態）この形態における装置の構成と動
作を、図１，図２，図３，図４，図５，図６及び図７に
示す。この形態は、請求項１，請求項２，請求項３及び
請求項４に対応する。

【００２３】図１はビデオカメラの主要部を示すブロッ
ク図、図２は図１のビデオカメラにおける走査とミラー
制御を示すタイミングチャート、図３は図１のミラーア
レイドライバ１２の詳細を示すブロック図、図４は図１
のマイクロミラーアレイ３と撮像面と被写体からの光の
進行方向を示す模式図、図５は図１のマイクロミラーア
レイ３の各部からの反射光の光軸の向きの変化を示すタ
イムチャート、図６は図１の中央制御回路９のメインル
ーチンを示すフローチャート、図７は図６のステップ１
１１のサブルーチンの詳細を示すフローチャートであ
る。

【００２４】図１に示すビデオカメラについて、以下に
説明する。このビデオカメラの光学系には、レンズ１，
固定ミラー２，マイクロミラーアレイ３及びイメージセ
ンサ４が備わっている。被写体からの反射光は、図１に
示すように、レンズ１で集光され、固定ミラー２で反射
され、更にマイクロミラーアレイ３で反射されて、イメ
ージセンサ４の撮像面４ａに入射する。

【００２５】尚、マイクロミラーアレイ３と撮像面４ａ
との間には、リレーレンズを設置してもよい。この場合
には、マイクロミラーアレイ３で反射された光を、撮像
面４ａに効率よく入射させることができる。マイクロミ
ラーアレイ３は、微小な多数の可動ミラー３ａを、等間
隔で２次元に配置して構成したものである。可動ミラー
３ａの各々は、所定の電極に印加するバイアス電圧のオ
ン／オフにより、面の傾きが２値的に変わる。傾きの変
化量は約１０度である。

【００２６】可動ミラー３ａを動かすために、静電吸引
力を利用している。各々の可動ミラー３ａは、例えば矩
形の平板状に形成され、１７μｍのピッチで等間隔に配
列される。実際には、マイクロミラーアレイ３として、
例えば、テキサスインスツルメンツ社が開発したＤＭＤ
（登録商標）が利用できる。

【００２７】イメージセンサ４は、ＣＣＤ素子を内蔵し
た２次元の撮像装置であり、横方向及び縦方向に、それ
ぞれ数百画素程度の分解能を有している。この例では、
マイクロミラーアレイ３の可動ミラー３ａの数と、イメ
ージセンサ４の画素数とが同一であり、各々の可動ミラ
ー３ａとイメージセンサ４の画素は、図４に示すように
１対１に対応付けられている。

【００２８】つまり、マイクロミラーアレイ３の可動ミ
ラー３ａの各々の傾きを切り替えることにより、可動ミ
ラー３ａの各々で反射された光の光軸の向きが切り替わ
り、イメージセンサ４の各画素に対する露光のオン／オ
フが変化する。イメージセンサ４は、撮像制御回路５に
よって制御され、露光期間に検出された２次元平面（撮
像面４ａ）の入射光量分布を、時系列のアナログ画像信
号Ｓ１として順次に撮像制御回路５に出力する。

【００２９】撮像制御回路５は、イメージセンサ４の露
光制御や、イメージセンサ４からの画像信号読みだし制
御のための、様々なタイミング信号を生成するととも
に、イメージセンサ４からのアナログ画像信号Ｓ１に対
して、増幅，ノイズ除去などの適当な処理を施してアナ
ログ画像信号Ｓ２を生成する。撮像制御回路５が出力す
るアナログ画像信号Ｓ２は、Ａ／Ｄ変換器６によって、
画素単位でデジタル画像データに変換される。このデジ
タル画像データは、各画素位置で検出された光量レベル
を示す。

【００３０】この例では、Ａ／Ｄ変換器６における量子
化ビット数が８ビットになっている。つまり、Ａ／Ｄ変
換器６が出力する各画素のデジタル画像データは、各々
８ビットである。Ａ／Ｄ変換器６が出力するデジタル画
像データは、切替回路１０を介してメモリ１１に印加さ
れ、メモリ１１に一時的に記憶される。メモリ１１は、
データの読み書きが可能で、画像の２フレーム以上のデ
ータを記憶可能な容量を有している。メモリ１１の内部
は、それぞれ１フレームの記憶領域を有する２つの領域
に区分されている。

【００３１】メモリ１１上の一方の領域にＡ／Ｄ変換器
６が出力するデジタル画像データを書き込む際には、メ
モリ１１上の他方の領域に対して、中央制御回路９がア
クセスすることができ、メモリ１１上の一方の領域に中
央制御回路９がアクセスする際には、メモリ１１上の他
方の領域に、Ａ／Ｄ変換器６が出力するデジタル画像デ
ータを書き込むことができる。

【００３２】メモリ１１の２つの領域に対して、交互
に、Ａ／Ｄ変換器６からのデジタル画像データの書き込
みと、中央制御回路９のアクセスとを実施することによ
り、多数フレームの画像データを、メモリ１１を介し
て、連続的に処理することができる。メモリ１１に記憶
されたデジタル画像データは、通常、中央制御回路９に
よって周期的に読み出され、所定の処理を受けて、画像
処理回路１３に印加される。画像処理回路１３は、入力
されるデジタル画像データに対して、例えばコントラス
ト調整などの適当なデジタル画像処理を実施する。

【００３３】画像処理回路１３で処理されたデジタル画
像データは、Ｄ／Ａ変換器８に印加され、アナログ画像
信号、すなわち映像信号に変換されて、Ｄ／Ａ変換器８
から出力される。ミラーアレイドライバ１２は、これに
予めセットされたデータと、走査位置を示す信号等に基
づいて、マイクロミラーアレイ３の可動ミラー３ａの各
々の面の傾きを２値的に制御する。

【００３４】アドレスカウンタ７は、撮像制御回路５が
出力する各種タイミング信号に基づいて、現在の走査位
置、つまり現在処理中の画素の水平方向位置と垂直方向
位置を示すアドレス信号を生成する。アドレスカウンタ
７に入力されるタイミング信号には、画像の１フレーム
につき１回出力される垂直同期信号Ｓ３と、１走査ライ
ンにつき１回出力される水平同期信号Ｓ４と、１画素に
つき１回出力される画素同期信号Ｓ５が含まれる。

【００３５】アドレスカウンタ７が出力するアドレス信
号は、切替回路１０を介してメモリ１１のアドレス端子
に印加され、同時にミラーアレイドライバ１２にも印加
される。中央制御回路９は、マイクロコンピュータを内
蔵した制御要素であり、図１に示すビデオカメラの全体
の動作を制御する。中央制御回路９のアドレスバスとデ
ータバスは、切替回路１０及びミラーアレイドライバ１
２に接続されている。中央制御回路９は、切替回路１０
を介して、メモリ１１にアクセスできる。

【００３６】切替回路１０は、中央制御回路９とそれ以
外の回路の、何れがメモリ１１の各領域をアクセスする
かを切り替えるために設けてある。切替回路１０の状態
は、中央制御回路９により制御される。ミラーアレイド
ライバ１２について、図３を参照して説明する。ミラー
アレイドライバ１２は、アドレスデコーダ２２と、多数
のミラー制御回路２３を備えている。ミラー制御回路２
３の数は、マイクロミラーアレイ３の可動ミラー３ａの
数と同一である。

【００３７】ミラー制御回路２３の各々は、ラッチ３
１，比較器３２及びフリップフロップ３３を備えてい
る。ラッチ３１は、８ビットのデータを一時的に保持す
るものであり、８ビットのデータ入力端子と、データ書
き込みの許可／禁止を制御する制御端子を備えている。
ラッチ３１のデータ入力端子には、外部からの信号Ｓ２
１が印加される。信号Ｓ２１は、中央制御回路９から、
そのデータバスを介して印加される８ビットデータであ
る。

【００３８】比較器３２は、２つの９ビット入力端子を
備えるデジタル比較器であり、２つの入力端子の値が一
致するときに一致信号を出力する。比較器３２の一方の
入力端子には、ラッチ３１の出力するデータが印加さ
れ、他方の入力端子には、信号Ｓ２２が印加される。比
較器３２が扱うデータは９ビットなので、この例では、
ラッチ３１の出力する８ビットデータを上位ビットに向
かって１ビットシフトし、９ビットデータに変換してい
る。実際には、ラッチ３１の出力と比較器３２の入力と
の結線において、各ビット位置を１ビットずらすだけで
ある。

【００３９】ミラーアレイドライバ１２の比較器３２に
印加される信号Ｓ２２は、アドレスカウンタ７が出力す
るアドレス信号のうち、現在処理中の画素の垂直方向位
置（走査行番号）を示す信号である。フリップフロップ
３３は、セット端子とリセット端子を有するＲＳフリッ
プフロップである。フリップフロップ３３のセット端子
には、撮像制御回路５が出力する信号Ｓ２３が印加され
る。フリップフロップ３３のリセット端子には、比較器
３２の出力が印加される。

【００４０】フリップフロップ３３の出力信号Ｓ２６
は、マイクロミラーアレイ３の可動ミラー３ａの１つ
に、バイアス電圧として印加される。従って、フリップ
フロップ３３の状態（Ｓ２６）の変化に応じて、マイク
ロミラーアレイ３の可動ミラー３ａの各々の傾きが、２
値的に変化し、これと対応する位置の画素について、イ
メージセンサ４の露光のオン／オフが切り替わる。

【００４１】アドレスデコーダ２２の一方の入力端子に
は、中央制御回路９のアドレスバスからの信号Ｓ２４が
印加され、他方の入力端子には、中央制御回路９からの
書き込みのためのタイミング信号Ｓ２５が印加される。

【００４２】アドレスデコーダ２２は、信号Ｓ２４に応
じて、多数のミラー制御回路２３の１つを選択し、選択
したミラー制御回路２３のラッチ３１に、データ書き込
みの許可を与える。選択されないミラー制御回路２３の
ラッチ３１は、データ書き込みが禁止される。従って、
中央制御回路９は、信号Ｓ２１，Ｓ２４，Ｓ２５を使用
して、ミラー制御回路２３の各々のラッチ３１に、個別
に８ビットデータを書き込むことができる。

【００４３】フリップフロップ３３の出力信号Ｓ２６
は、信号Ｓ２３によりセットされ、比較器３２が出力す
る一致信号によりリセットされる。信号Ｓ２３がセット
状態の期間、つまり特定の画素に関する露光期間は、比
較器３２が一致信号を出力するタイミングに応じて変化
する。比較器３２が一致信号を出力するのは、走査位置
の行番号が、ラッチ３１の保持する８ビットデータの２
倍（１ビットシフトしているので）と一致するときであ
る。

【００４４】図２に示すように、画像走査の各フレーム
において、走査行番号は、１，２，３，４，・・・・と
順に変化するので、信号Ｓ２３が有効レベル（高レベ
ル）になってから、比較器３２が一致信号を出力するま
での時間は、ラッチ３１の保持する８ビットデータに応
じて変化する。つまり、ラッチ３１に保持するデータを
変えることにより、各フレームの露光期間を、画素単位
で調整できる。実際には、ラッチ３１に保持するデータ
を調整して、シャッター動作，シェーディング補正及び
γ補正を光学的に実施する。

【００４５】図２の例では、１フレームを構成する有効
な画素の配列が、水平方向に８００画素、垂直方向に５
１２画素の場合を想定している。走査方式は、ノンイン
ターレースである。また、標準の有効露光期間を、１フ
レーム期間の半分に定めてある。

【００４６】露光期間の補正をしないｎ番目の画素につ
いては、ラッチ３１に保持するデータの値を１２８にセ
ットする。これにより、図２に示すように、１番目から
２５６番目の走査行までが有効露光期間になる。また、
露光期間を補正するために、ｍ番目の画素について、ラ
ッチ３１に保持するデータの値を１２９にセットする
と、図２に示すように、１番目から２５８番目の走査行
までが有効露光期間になる。

【００４７】この場合、ｍ番目の画素については、標準
の画素に比べて２／２５６だけ、露光期間が長くなり、
イメージセンサ４が出力する信号Ｓ１のレベルが増大す
る方向に補正される。イメージセンサ４が出力する信号
Ｓ１のレベルを、標準画素に比べて減少する方向に補正
するときには、対応する画素位置のラッチ３１のデータ
の値を１２８より小さくすればよい。

【００４８】この例では、走査タイミングの垂直ブラン
キング期間中に、信号Ｓ２６をセットし、水平ブランキ
ング期間中に、信号Ｓ２６をリセットするように制御し
ている。垂直ブランキング期間は、互いに隣接する２つ
の有効フレームの間の、無効な信号が現れる期間であ
り、水平ブランキング期間は、互いに隣接する２つの走
査線の間の、無効な信号が現れる期間である。

【００４９】ミラーアレイドライバ１２のラッチ３１の
各々にデータをセットするための処理を含む、中央制御
回路９の動作の一部分を、図６に示す。中央制御回路９
の動作について、図６を参照して説明する。特に指摘し
ない限り、処理を実行するのは、中央制御回路９のマイ
クロコンピュータである。電源が投入されると、最初に
ステップ１０１を実行する。ステップ１０１では、装置
全体の初期化を実行する。ここで、メモリ１１の内容は
クリアされる。また、ミラーアレイドライバ１２のラッ
チ３１の全てに、標準値である１２８を初期値としてセ
ットする。

【００５０】ステップ１０２では、図示しない開始スイ
ッチがオンするまで待機する。ここで、シェーディング
補正の基準画像を得るために、明るさが均一な白色の基
準板（図示せず）を、被写体としてレンズ１の前面に配
置する必要がある。操作者が、この基準板を所定位置に
配置して、前記開始スイッチをオンにすると、中央制御
回路９の処理は、ステップ１０２から１０３に進む。

【００５１】ステップ１０３では、撮像制御回路５に、
撮影をするための所定の制御信号を出力する。これによ
り、被写体である基準板からの反射光による光像が、レ
ンズ１，固定ミラー２及びマイクロミラーアレイ３を通
って、イメージセンサ４で撮影される。そして、イメー
ジセンサ４から得られる画像データを、１フレーム分、
メモリ１１に記憶する。

【００５２】仮に、光学系等の入力特性が全ての位置で
同じであれば、ステップ１０３でメモリ１１に記憶され
る画像データは、全ての画素について同じ値になる。し
かし、実際には、光学系等の入力特性が位置によって変
わるので、メモリ１１に記憶される画像データの値は、
光学系等の入力特性に応じた分布になる。つまり、メモ
リ１１に記憶された画像データを参照することで、光学
系等の入力特性が識別できる。

【００５３】ステップ１０４では、１つの画素の露光時
間に関する８ビットデータを生成する。露光時間の基準
値Ｔ０は１２８に定めてある。しかし、シェーディング
補正やγ補正により、補正の必要がある場合には、基準
値Ｔ０からずれた値が、露光時間としてセットされる。
ステップ１０４では、最初にシェーディング補正を実施
し、その後でγ補正を実施する。

【００５４】シェーディング補正においては、メモリ１
１に記憶された画像データの１つの画素の値Ｖｘと白レ
ベル基準値Ｖｗとに応じて、次の第１式から補正結果Ｔ
１が算出される。Ｔ１＝Ｔ０（Ｖｗ／Ｖｘ）・・・（１）例えば、画面の周辺部等で光量が不足している場合に
は、画素の値Ｖｘが白レベル基準値Ｖｗよりも小さくな
るので、第１式から、基準値Ｔ０よりも大きな値が、シ
ェーディング補正後の露光時間Ｔ１としてセットされ
る。

【００５５】また、画面の中央部等で光量が過大な場合
には、画素の値Ｖｘが白レベル基準値Ｖｗよりも大きく
なるので、第１式から、基準値Ｔ０よりも小さな値が、
シェーディング補正後の露光時間Ｔ１としてセットされ
る。シェーディング補正により露光時間Ｔ１を調整する
と、光学系等の入力特性の歪みを補正するように、出力
画像の光量分布が修正され、出力画像の光量分布が入射
光の光量分布に近づく。

【００５６】γ補正においては、予め定めた変換曲線に
従って、露光時間Ｔ１を修正する。この例では、γ補正
のための入力値と出力値との相関を予め記憶したテーブ
ルを、中央制御回路９が内部ＲＯＭに保持しているの
で、このテーブルを参照して、露光時間Ｔ１の値に対応
するγ補正後の露光時間Ｔ２を生成する。図６のステッ
プ１０５では、ステップ１０４で生成した露光時間Ｔ２
の８ビットデータを、ミラーアレイドライバ１２上の対
応画素位置のラッチ３１にセットする。つまり、露光時
間Ｔ２を信号Ｓ２１として出力し、現在処理中の画素位
置に対応するアドレス情報を、信号Ｓ２４として出力
し、書き込み動作のために制御信号Ｓ２５を出力する。

【００５７】ステップ１０６では、全ての画素に対する
処理が終了したか否かを識別する。終了してなけれぱ、
ステップ１０４に戻り、処理対象の画素位置を変更し
て、ステップ１０４及び１０５の処理を繰り返す。全て
の画素について、ラッチ３１への補正後のデータ書き込
みが完了すると、ステップ１０６から１０７に進む。

【００５８】ステップ１０７では、図示しない撮影ボタ
ンが押されているか否かを識別する。撮影ボタンが押さ
れている時には、ステップ１０７から１０８に進む。ス
テップ１０８では、内部メモリ上に割り当てた所定のフ
ラグの状態を調べて、撮影動作が開始されているか否か
を識別する。撮影動作を停止している場合には、ステッ
プ１０８から１０９に進む。

【００５９】ステップ１０９では、中央制御回路９は、
撮影を開始するための所定の制御信号を、撮像制御回路
５に出力する。また、ステップ１０８で参照されるフラ
グをセットする。これにより、被写体からの反射光によ
る光像が、レンズ１，固定ミラー２及びマイクロミラー
アレイ３を通って、イメージセンサ４で撮影される。そ
して、イメージセンサ４から得られる画像データの各フ
レームが、メモリ１１に順次記憶される。

【００６０】ステップ１１０では、撮像制御回路５が出
力する所定のタイミング信号を監視して、画像のフレー
ム単位の取り込みによって生じる、同期のタイミングか
否かを調べる。Ａ／Ｄ変換器６からの画像データが、メ
モリ１１に１フレーム分書き込まれる度に、ステップ１
１０から１１１に進む。ステップ１１１は、画像データ
の１ラインについて、それに含まれる各画素データの偽
信号成分を除去するための処理である。ステップ１１１
の処理の詳細は、サブルーチンとして、図７に示されて
いる。これについては後述する。

【００６１】ステップ１１２では、ステップ１１１で補
正処理の終了した１ラインの画像データを、画像処理回
路１３に出力する。ステップ１１３では、１フレームの
画像データの処理が全て終了したか否かを調べる。未処
理の画像データが存在する場合には、ステップ１１３か
ら１１１に戻り、１フレームの画像データの処理が全て
終了した時には、ステップ１１３から１０７に戻る。

【００６２】画像の各フレームにおいて、ステップ１１
１と１１２が繰り返し実行されるので、画像処理回路１
３には、補正の終了した画像データが、１ラインずつ順
次に入力される。次に、画像データ中の偽信号の除去に
ついて説明する。この例では、制御上は、マイクロミラ
ーアレイ３の可動ミラー３ａの各々の傾きを、２値的に
切り替える。しかし、実際に可動ミラー３ａの各々で反
射された光の光軸の向きは、図４に示すような露光状態
の位置と非露光状態の位置の２種類だけでなく、それら
の中間の位置を通過する。

【００６３】実際の可動ミラー３ａの光軸の向きは、図
４に示す矢印Ｘの方向、つまり１つの画像フレームを構
成する各行の、画素の並び方向（ここでは水平方向）に
変化する。可動ミラー３ａの傾きが、露光状態から非露
光状態に移行する時の、各光軸の移動軌跡を図５に示
す。なお、図５では、全ての可動ミラー３ａについて、
同じタイミングで傾きを切り替える場合を示した。

【００６４】図５において、露光期間中は、光軸Ａ(ｎ
＋３)，Ａ(ｎ＋２)，Ａ(ｎ＋１)，Ａ(ｎ)，Ａ(ｎ−
１)，Ａ(ｎ−２)及びＡ(ｎ−３)が、それぞれ画素Ｐ(ｎ
＋３)，Ｐ(ｎ＋２)，Ｐ(ｎ＋１)，Ｐ(ｎ)，Ｐ(ｎ−
１)，Ｐ(ｎ−２)及びＰ(ｎ−３)の感光範囲に位置決め
される。可動ミラー３ａの傾きを切り替えるときには、
例えば、光軸Ａ(ｎ)の位置は、画素Ｐ(ｎ)，Ｐ(ｎ＋
１)，Ｐ(ｎ＋２)，Ｐ(ｎ＋３)，・・・の感光範囲に、
時間の経過と共に順次に移動する。

【００６５】また、例えば画素Ｐ(ｎ)の感光範囲につい
ては、可動ミラー３ａの傾きを切り替えるときに、光軸
Ａ(ｎ)，Ａ(ｎ−１)，Ａ(ｎ−２)及びＡ(ｎ−３)が、時
間の経過と共に順次に位置決めされる。光軸Ａ(ｎ−
１)，Ａ(ｎ−２)及びＡ(ｎ−３)の光は、それぞれ画素
Ｐ(ｎ＋１)，Ｐ(ｎ＋２)及びＰ(ｎ＋３)に対応する位置
の被写体からの光であるので、光軸Ａ(ｎ−１)，Ａ(ｎ
−２)及びＡ(ｎ−３)が画素Ｐ(ｎ)の感光範囲に位置決
めされることは、画素Ｐ(ｎ)の位置に、本来のＰ(ｎ)と
は異なる信号成分、つまり偽信号が現れることを意味す
る。

【００６６】なお、各光軸の移動方向Ｘの始端に位置す
る画素Ｐ(ｎ−３)については、光軸Ａ(ｎ−３)より前
に、他の光軸が存在しないので、他の光軸の影響を受け
ることはなく、偽信号は発生しない。また、偽信号の影
響の大きさは、画素の位置に応じて異なる。つまり、画
素の位置が矢印Ｘの方向に進むにつれて、より多くの光
軸がその位置を通過するため、偽信号の成分が大きくな
る。

【００６７】このような偽信号を除去する処理が、図６
のステップ１１１で実行される。ステップ１１１の詳細
について、図７を参照して説明する。図７において、特
に指摘しない限り、処理を実行するのは、中央制御回路
９のマイクロコンピュータである。なお、図７におい
て、各ステップ中の矢印は、データを転送する場合の転
送の方向を示す。

【００６８】ステップ２０１では、画像データの１ライ
ンをメモリ１１から中央制御回路９の内部メモリに読み
込む。読み込み対象の１ラインの行は、ステップ２０１
を実行する毎に更新される。また、ステップ２０１で読
み込む画像データの１ラインは、図４，図５に示す矢印
Ｘの方向に並ぶ、多数の画素の１行である。ステップ２
０２では、内部メモリ上に割り当てたレジスタｎの値
を、０にクリアする。なお、レジスタｎの値は、補正対
象画素の位置（画素番号）及び影響を受ける他の画素の
数を示す。

【００６９】ステップ２０３では、内部メモリ上に割り
当てたレジスタｘに、レジスタｎの値を転送（ストア）
する。レジスタｘの値は、補正対象画素に対する注目画
素位置のオフセット量を画素数で示す値である。ステッ
プ２０４では、１ラインの画像データのうち、レジスタ
ｎの値で特定される１つの画素Ｐ(ｎ)の８ビットデータ
（画素の明るさを示す）を入力する。最初は、レジスタ
ｎの値が０なので、Ｘ方向の始端の画素（図５のＰ(ｎ
−３)に相当）のデータを入力する。

【００７０】ステップ２０５では、内部メモリ上に割り
当てたレジスタＤａの値を、０にクリアする。なお、レ
ジスタＤａの値は、補正対象画素の偽信号成分の値、あ
るいはそれの計算途中の値を示す。ステップ２０６で
は、レジスタｘの値と０とを比較する。補正対象画素に
影響を及ぼす他の画素が、１つ又は複数存在する場合、
全ての画素の影響量の計算が終了してなければ、ステッ
プ２０６から２０７に進む。全ての画素の影響量の計算
が終了すると、ステップ２０６から２０９に進む。

【００７１】最初の画素を処理する場合には、補正対象
画素P(ｎ)が図５のP(ｎ−３)であり、これに対して影響
を及ぼす他の画素が存在しない（補正の必要がない）。
従って、レジスタｘの値が最初から０になり、この場合
には、ステップ２０６から２０９に進む。ステップ２０
７では、注目画素に影響を及ぼす各画素の偽信号の大き
さを計算し、その結果をレジスタＤａに加算する。この
例では、レジスタｎ，ｘの値で特定される影響画素Ｐ
(ｎ−ｘ)の値に定数ｋをかけた結果を、偽信号の大きさ
に定めてある。

【００７２】ここで、定数ｋは、補正対象画素に対する
有効な露光期間の大きさと、影響画素Ｐ(ｎ−ｘ)に相当
する光軸の移動によって補正対象画素が受ける露光の時
間との比率に相当する。定数ｋは、例えば０．１に定め
られる。例えば、３番目の画素を補正する場合、レジス
タｎの値が３になり、ステップ２０７の１回目の処理で
は、レジスタｘの値が３になる。この場合、補正対象画
素及び影響画素は、それぞれ、図５のＰ(ｎ)及びＰ(ｎ
−３)になる。つまり、図５の光軸Ａ(ｎ−３)の影響量
を、ステップ２０７で計算する。

【００７３】なお、この例では、ステップ２０７で、定
数ｋを用いて偽信号の大きさを単純に計算している。し
かし、実際の装置においては、撮像装置の各画素位置に
配置されるオンチップマイクロレンズの影響，各画素位
置の光電変換特性の影響，各光軸の移動速度の変化の影
響，γ補正の影響などを考慮して計算することにより、
より精度の高い偽信号の除去が可能である。

【００７４】ステップ２０８では、レジスタｘの値を１
つ小さくする。これによって、ステップ２０７で参照さ
れる影響画素の位置（補正対象画素に対する影響画素の
位置のオフセット量）が更新される。ステップ２０８を
実行した後、ステップ２０６に進む。従って、レジスタ
ｘの値が０になるまで、ステップ２０７の処理が繰り返
される。例えば、３番目の画素（図５のＰ(ｎ)）を補正
する場合、ステップ２０７の１回目，２回目及び３回目
の処理で、それぞれ、図５の画素Ｐ(ｎ−３)，Ｐ(ｎ−
２)及びＰ(ｎ−１)が影響画素として参照され、これら
の影響量の総和が、レジスタＤａに保持される。

【００７５】ステップ２０９では、補正対象画素Ｐ(ｎ)
の値から、レジスタＤａの内容を減算する。つまり、各
光軸が中間的な位置にある光軸の移動中に受けた、露光
量に相当する偽信号の成分（Ｄａ）を、補正対象画素Ｐ
(ｎ)の値から除去する。ステップ２１０では、ステップ
２０９の計算の結果Ｄｎによって、画像データを更新す
る。更新する画像データは、ステップ２０１で読み込ん
だ、内部メモリ上の１ラインの画像データである。

【００７６】ステップ２１１では、レジスタｎの内容を
１つ大きくする。つまり、補正対象画素位置を、それま
での補正対象画素に隣接する画素位置に移動する。ステ
ップ２１２では、レジスタｎの内容と定数Ｎmaxとを比
較する。定数Ｎmaxは、１ラインの画像データに含まれ
る画素数である。つまり、１ラインに含まれる全ての画
素の補正が終了したか否かを、ステップ２１２で識別す
る。終了してなければ、ステップ２１２から２０３に戻
り、終了した場合には、図６に示すメインルーチンの処
理に戻る。

【００７７】ところで、ステップ２０７では、偽信号の
成分を、影響画素の値Ｐ(ｎ−ｘ)に基づいて計算してい
るが、仮に、影響画素の値Ｐ(ｎ−ｘ)が偽信号成分を含
んでいると、正しい結果は得られない。しかし、この例
では、次に説明するように、正しい結果が得られる。図
７の処理では、補正対象画素位置を、図５に示すＸ方向
に移動しながら、各補正対象画素に対する偽信号の除去
を、順番に実行する。つまり、補正対象画素は、図５に
示すＰ(ｎ−３)，Ｐ(ｎ−２)，Ｐ(ｎ−１)，Ｐ(ｎ)，Ｐ
(ｎ＋１)，Ｐ(ｎ＋２)，Ｐ(ｎ＋３)，・・・の順に変化
する。

【００７８】図５に示す画素Ｐ(ｎ−３)を処理する場合
には、それに影響を及ぼす画素（光軸）が存在しないの
で、偽信号成分はなく、補正の必要はない。図５に示す
画素Ｐ(ｎ−２)を処理する場合には、それに影響を及ぼ
す画素Ｐ(ｎ−３)が既に補正処理済みなので、図７のス
テップ２０７で、正しい計算が実行される。

【００７９】図５に示す画素Ｐ(ｎ−１)を処理する場合
には、それに影響を及ぼす画素Ｐ(ｎ−３)及びＰ(ｎ−
２)が既に補正処理済みなので、図７のステップ２０７
で、正しい計算が実行される。上記以外の画素、つま
り、図５に示すＰ(ｎ)，Ｐ(ｎ＋１)，Ｐ(ｎ＋２)，Ｐ
(ｎ＋３)，・・・を補正対象画素とする場合にも、上記
と同様に、図７のステップ２０７で、正しい計算が実行
される。

【００８０】なお、この例では、可動ミラー３ａの各々
とイメージセンサ４の各画素とが、１対１に対応付けら
れた場合を説明したが、可動ミラー３ａの数を減らし
て、１つの可動ミラー３ａで、複数画素の露光／遮光を
切り替えるようにしても良い。その場合にも、補正対象
画素に対して影響を及ぼす画素の影響量を、画素単位で
計算すれば、正しい偽信号成分が求められる。

【００８１】（第２の実施の形態）上記形態では、可動
ミラー３ａの各々の光軸の移動方向Ｘが、イメージセン
サ４の行方向の画素の配列方向と一致する場合を想定し
たが、これらが一致しない場合でも、偽信号の補正を実
施できる。この形態では、図８に示すように、光軸Ａ
(ｚ−３)，Ａ(ｚ−２)，Ａ(ｚ−１)，Ａ(ｚ)，Ａ(ｚ＋
１)，Ａ(ｚ＋２)，Ａ(ｚ＋３)の移動方向が、行の画素
の並び方向に対して３０度傾いている場合を想定してい
る。

【００８２】この形態の装置のハードウェア構成は、光
軸の移動方向の違いを除き、第１の実施の形態と同一で
ある。中央制御回路９の実行する図７の処理が、図９に
示すように変更されているが、それ以外の動作は、第１
の実施の形態と同一である。この実施の形態は、請求項
１及び請求項２に対応する。図９に示すフローチャート
を参照して、各ステップの内容を説明する。図９におい
て、特に指摘しない限り、処理を実行するのは、中央制
御回路９のマイクロコンピュータである。

【００８３】ステップ３０１では、画像データの１ライ
ンをメモリ１１から中央制御回路９の内部メモリに読み
込む。読み込み対象の１ラインの行は、ステップ３０１
を実行する毎に更新される。また、ステップ３０１で読
み込む画像データの１ラインは、同じ行番号が割り当て
られた多数の画素で構成される１行の画素データであ
り、図８に示すＸ方向の１行である。

【００８４】ステップ３０２では、内部メモリ上に割り
当てたレジスタｎ及びｍに、それぞれ、０及び現在処理
中の画像データ１ラインの行番号をプリセットする。な
お、レジスタｎの値は、補正対象画素の位置（画素番
号）を示す。ステップ３０３では、１ラインの画像デー
タのうち、レジスタｎの値で特定される１つの画素Ｐ
(ｎ)の８ビットデータ（画素の明るさを示す）を入力す
る。最初は、レジスタｎの値が０なので、Ｘ方向の始端
の画素のデータを入力する。

【００８５】ステップ３０４では、内部メモリ上に割り
当てたレジスタＤａ及びＤｂの値を、０にクリアする。
なお、レジスタＤａ，Ｄｂの値は、補正対象画素の偽信
号成分の値、あるいはそれの計算途中の値を示す。ステ
ップ３０５では、補正対象画素Ｐ(ｎ)に対して影響を及
ぼす、他の画素の全てについて、それの影響量の計算が
終了したか否かを識別する。終了してなければ、ステッ
プ３０５から３０６に進み、終了したら、ステップ３０
５から３１１に進む。

【００８６】ステップ３０６では、補正対象画素Ｐ(ｎ)
が、可動ミラー３ａからの反射光の光軸の移動軌跡上に
あるか否かを識別する。例えば、図８において、行番号
がｍ、列番号がｎの画素Ｐ(ｍ：ｎ)は、光軸移動軌跡Ａ
(ｚ)上にあるので、これが補正対象画素の場合には、ス
テップ３０６から３０９に進む。また、図８において、
行番号がｍ、列番号がｎ−１の画素Ｐ(ｍ：ｎ−１)は、
光軸移動軌跡Ａ(ｚ)と、光軸移動軌跡Ａ(ｚ＋１)との中
間に位置するので、これが補正対象画素の場合には、ス
テップ３０６から３０７に進む。

【００８７】ステップ３０７では、補正対象画素Ｐ(ｎ)
を通る光軸が存在しないので、補正対象画素Ｐ(ｎ)の一
方に隣接する光軸移動軌跡について、各々の影響画素に
関する偽信号の大きさを計算し、その結果をレジスタＤ
ａに加算する。例えば、図８に示す画素Ｐ(ｍ：ｎ−１)
が補正対象画素の場合、これの一方に隣接する位置を通
る、光軸移動軌跡Ａ(ｚ)について、計算を実施する。計
算の内容については、例えば、図７のステップ２０７と
同様で良い。

【００８８】ステップ３０８では、補正対象画素Ｐ(ｎ)
を通る光軸が存在しないので、補正対象画素Ｐ(ｎ)の他
方に隣接する光軸移動軌跡について、各々の影響画素に
関する偽信号の大きさを計算し、その結果をレジスタＤ
ｂに加算する。例えば、図８に示す画素Ｐ(ｍ：ｎ−１)
が補正対象画素の場合、これの他方に隣接する位置を通
る、光軸移動軌跡Ａ(ｚ＋１)について、計算を実施す
る。計算の内容については、レジスタＤａがレジスタＤ
ｂに変わる他は、図７のステップ２０７と同様で良い。

【００８９】ステップ３０９では、補正対象画素Ｐ(ｎ)
を通る光軸移動軌跡について、各々の影響画素に関する
偽信号の大きさを計算し、その結果をレジスタＤａに加
算する。例えば、図８に示す画素Ｐ(ｍ：ｎ)が補正対象
画素の場合、この位置を通る光軸移動軌跡Ａ(ｚ)につい
て、計算を実施する。計算の内容については、例えば、
図７のステップ２０７と同様で良い。

【００９０】ステップ３１０では、前記ステップ３０
７，３０８及び３０９で参照される影響画素の位置（補
正対象画素に対する影響画素の位置のオフセット量）が
更新される。ステップ３１０を実行した後、ステップ３
０５に進む。従って、全ての影響画素の処理が完了する
まで、ステップ３０７及び３０８、あるいは３０９の処
理が繰り返される。

【００９１】例えば、補正対象画素が図８のＰ(ｍ：ｎ
−１)の場合、ステップ３０７では、光軸移動軌跡Ａ
(ｚ)に対応する、画素Ｐ(ｍ−１：ｎ−２)，Ｐ(ｍ−
２：ｎ−４)，・・・が、影響画素として順次に参照さ
れ、これらの影響量の総和が、レジスタＤａに保持され
る。そして、ステップ３０８では、光軸移動軌跡Ａ(ｚ
＋１)に対応する、画素Ｐ(ｍ：ｎ−２)，Ｐ(ｍ−１：ｎ
−４)，・・・が、影響画素として順次に参照され、こ
れらの影響量の総和が、レジスタＤｂに保持される。

【００９２】例えば、補正対象画素が図８のＰ(ｍ：ｎ)
の場合、ステップ３０９では、光軸移動軌跡Ａ(ｚ)に対
応する、画素Ｐ(ｍ−１：ｎ−２)，Ｐ(ｍ−２：ｎ−
４)，・・・が、影響画素として順次に参照され、これ
らの影響量の総和が、レジスタＤａに保持される。ステ
ップ３１１では、レジスタＤｂの内容と０を比較する。
補正対象画素Ｐ(ｎ)を通る光軸移動軌跡が存在するとき
には、レジスタＤｂはステップ３０４でクリアされたま
まである。しかし、補正対象画素Ｐ(ｎ)を通る光軸移動
軌跡が存在しないと、ステップ３０８を実行するので、
レジスタＤｂの内容は、０より大きい値になる。

【００９３】つまり、補正対象画素Ｐ(ｎ)を通る光軸移
動軌跡が存在しない場合には、ステップ３１１から３１
２に進み、存在する場合には、ステップ３１１から３１
３に進む。ステップ３１２では、レジスタＤａの値とレ
ジスタＤｂの値の平均値を求め、その結果をレジスタＤ
ａに保存する。つまり、補正対象画素Ｐ(ｎ)を通る光軸
移動軌跡が存在しない場合には、それに隣接する位置を
通る、２つの光軸移動軌跡に関する偽信号の影響量の平
均値を、補正対象画素Ｐ(ｎ)に対する偽信号の影響量と
して求める。

【００９４】ステップ３１３では、補正対象画素Ｐ(ｎ)
の値から、レジスタＤａの内容を減算する。つまり、各
光軸が中間的な位置にある、光軸の移動中に受けた、露
光量に相当する偽信号の成分（Ｄａ）を、補正対象画素
Ｐ(ｎ)の値から除去する。ステップ３１４では、ステッ
プ３１３の計算の結果Ｄｎによって、画像データを更新
する。更新する画像データは、ステップ３０１で読み込
んだ、内部メモリ上の１ラインの画像データである。

【００９５】ステップ３１５では、レジスタｎの内容を
１つ大きくする。つまり、補正対象画素位置を、それま
での補正対象画素に隣接する画素位置に移動する。ステ
ップ３１６では、レジスタｎの内容と定数Ｎmaxとを比
較する。定数Ｎmaxは、１ラインの画像データに含まれ
る画素数である。つまり、１ラインに含まれる全ての画
素の補正が終了したか否かを、ステップ３１６で識別す
る。終了してなければ、ステップ３１６から３０３に戻
り、終了した場合には、図６に示すメインルーチンの処
理に戻る。

【００９６】なお、この例では光軸の移動軌跡の方向
が、画素の行方向に対して３０度傾いている場合を説明
したが、傾きが違う場合でも同様に実施できる。また、
この例では、ビデオカメラの場合について説明したが、
例えば電子カメラなど他の画像入力装置であっても、同
様に本発明を実施しうる。

【００９７】

【発明の効果】

（請求項１）偽信号の成分が低減され、被写体からの光
の強度と露光時間に応じた画像信号を検出できる。

【００９８】（請求項２）各々の画素に隣接する画素及
び影響を及ぼす画素の信号の値は、記憶手段に１行もし
くは１列の画素として記憶されるので、補正に必要な多
数の画素の値を同時に参照できる。（請求項３）偽信号の補正が完了した各画素の値に基づ
いて、前記補正対象画素の偽信号の値を求めるので、偽
信号の低減効果が高まる。

【００９９】（請求項４）常に、偽信号の補正が完了し
た各画素の値を利用して、補正対象画素の偽信号の値を
求めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】ビデオカメラの主要部を示すブロック図であ
る。

【図２】図１のビデオカメラにおける走査とミラー制御
を示すタイミングチャートである。

【図３】図１のミラーアレイドライバ１２の詳細を示す
ブロック図である。

【図４】図１のマイクロミラーアレイ３と撮像面と被写
体からの光の進行方向を示す模式図である。

【図５】図１のマイクロミラーアレイ３の各部からの反
射光の光軸の向きの変化を示すタイムチャートである。

【図６】図１の中央制御回路９のメインルーチンを示す
フローチャートである。

【図７】図６のステップ１１１のサブルーチンの詳細を
示すフローチャートである。

【図８】第２の形態における画素の配列と微小ミラーア
レイからの反射光の光軸の移動軌跡との位置関係を示す
模式図である。

【図９】第２の形態における偽信号成分除去のサブルー
チンを示すフローチャートである。

【符号の説明】

１レンズ２固定ミラー３マイクロミラーアレイ３ａ可動ミラー４イメージセンサ４ａ撮像面５撮像制御回路６Ａ／Ｄ変換器７アドレスカウンタ８Ｄ／Ａ変換器９中央制御回路１０切替回路１１メモリ１２ミラーアレイドライバ１３画像処理回路２２アドレスデコーダ２３ミラー制御回路３１ラッチ３２比較器３３フリップフロップ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の光電変換素子で構成される撮像手
段と該撮像手段の撮像面に光像を導く光学手段を含む画
像入力装置において、前記光学手段に配置され、互いに独立して光軸を制御可
能な複数の微小可動ミラーと、前記複数の微小可動ミラーの光軸の向きを切り替えるタ
イミングを調整して前記光電変換素子の露光時間を制御
する露光制御手段と、前記微小可動ミラーの光軸の傾きが中間的な位置にある
時に前記光電変換素子の各々に入射する、光の露光量を
偽信号として求め、この偽信号の成分を低減するよう
に、前記光電変換素子が出力する信号を処理する信号補
正手段を設けたことを特徴とする画像入力装置。
【請求項２】請求項１記載の画像入力装置において、
前記信号補正手段が、撮像手段の出力する信号の値を、
少なくとも１行もしくは１列の画素の全てについて記憶
する記憶手段を備え、該記憶手段に記憶された信号の値
に基づいて、各々の画素の信号の値から、その画素に対
して一方向に隣接するかもしくは影響を及ぼす画素の信
号の値と前記微小可動ミラーの動作速度に応じて算出さ
れる偽信号の値を減算して、補正された信号を各々の画
素について出力することを特徴とする画像入力装置。
【請求項３】請求項２記載の画像入力装置において、
前記信号補正手段が、補正対象画素に対して影響を及ぼ
す各画素の、前記偽信号の補正後の値に基づいて、前記
補正対象画素の偽信号の値を求めることを特徴とする画
像入力装置。
【請求項４】請求項３記載の画像入力装置において、
前記信号補正手段が、補正対象画素を、前記微小可動ミ
ラーの光軸の移動軌跡に沿って配列される、複数の画素
の中から、前記光軸の移動方向に向かって、順番に割り
当てることを特徴とする画像入力装置。