JPH11121803A - Light emitting diode and its manufacture - Google Patents

Light emitting diode and its manufacture

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JPH11121803A
JPH11121803A JP28382797A JP28382797A JPH11121803A JP H11121803 A JPH11121803 A JP H11121803A JP 28382797 A JP28382797 A JP 28382797A JP 28382797 A JP28382797 A JP 28382797A JP H11121803 A JPH11121803 A JP H11121803A
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JP
Japan
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electrode
light emitting
emitting diode
layer
adhesion
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JP28382797A
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Japanese (ja)
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Shigeyuki Ishiguro
茂之 石黒
Genta Koizumi
玄太 小泉
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Hitachi Cable Ltd
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Hitachi Cable Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light emitting diode, together with its manufacturing method, comprising an electrode which is excellent in bondability and adhesion. SOLUTION: After a first electrode 11 is formed, a pattern wherein the diameter of an electrode is smaller than the first electrode 11 is formed when a photo- pattern for a second electrode 12 is formed, so that the second electrode 12 does not contact an epitaxial layer 5. Thus, the electrodes 11 and 12 excellent in bondability and adhesion are formed. When considering an adhesion material for the second electrode 12, adhesion to the surface of a glass, etc., as well as a semiconductor surface is not required to be considered, so adhesion only to the first electrode 11 is required to be considered, widening a range for selecting electrode material. Even if a vapor-deposition film of adhesion material for the second electrode 12 is formed on the vapor-deposition film of metal material for the first electrode 11, and the first electrode 11 and the second electrode 12 are formed at the same time by etching, the second electrode 12 does not contact the epitaxial layer 5.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、発光ダイオード及
びその製造方法に関する。
The present invention relates to a light emitting diode and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体素子の品質を左右する要素として
ボンダビリティがある。ボンダビリティとは、例えば発
光ダイオードを基板に実装する際の発光ダイオードの電
極と、基板との間のワイヤボンディングの強度(剥離
性)や位置精度をいう。ボンダビリティは電極上にワイ
ヤボンディングに適した金属からなる密着材料の層を形
成することにより向上する。
2. Description of the Related Art Bondability is a factor that affects the quality of a semiconductor device. The bondability refers to, for example, the strength (separability) and positional accuracy of wire bonding between the electrode of the light emitting diode and the substrate when the light emitting diode is mounted on the substrate. Bondability is improved by forming a layer of an adhesive material made of a metal suitable for wire bonding on the electrode.

【0003】図4はAlGaAs系のダブルヘテロ構造
の発光ダイオードの断面図である。
FIG. 4 is a sectional view of an AlGaAs-based light emitting diode having a double heterostructure.

【0004】同図に示すp型GaAs基板1の上にエピ
タキシャル成長によりp型AlGaAsクラッド層2、
p型AlGaAs活性層3、n型AlGaAsウィンド
層4の三層のエピタキシャル層(以下「エピ層」とい
う)5が形成されている。基板1の裏面全面にはAuZ
n/Ni/Au裏面電極6が形成され、エピ層5の表面
中央には第一電極7が形成され、第一電極7を覆うよう
に第二電極8が形成されている。これら基板1、エピ層
5及び電極6,7,8で発光ダイオード9が構成されて
いる。p型AlGaAs活性層3及びn型AlGaAs
ウィンド層4のpn界面が発光層となっている。
A p-type AlGaAs cladding layer 2 is formed on a p-type GaAs substrate 1 shown in FIG.
Three epitaxial layers (hereinafter referred to as “epi layers”) 5 of a p-type AlGaAs active layer 3 and an n-type AlGaAs window layer 4 are formed. AuZ on the entire back surface of the substrate 1
An n / Ni / Au back electrode 6 is formed, a first electrode 7 is formed at the center of the surface of the epi layer 5, and a second electrode 8 is formed so as to cover the first electrode 7. The substrate 1, the epi layer 5, and the electrodes 6, 7, 8 constitute a light emitting diode 9. p-type AlGaAs active layer 3 and n-type AlGaAs
The pn interface of the window layer 4 is a light emitting layer.

【0005】この発光ダイオード9は、第一電極7によ
りオーミック接触が確保され、第二電極8により良好な
ボンダビリティが得られる。
In this light emitting diode 9, ohmic contact is ensured by the first electrode 7, and good bondability is obtained by the second electrode 8.

【0006】第一電極(円形AuGe/Ni/Au電
極)7は、エピ層5の表面(以下「エピ表面」という)
に熱処理によって形成することができ、第二電極(円形
Ti/Au若しくはCr/Au等の電極)8は、第一電
極7の上に非熱処理によってTi若しくはCr等の第一
電極との密着性のよい金属からなる密着材料を用いて形
成することができる。
The first electrode (circular AuGe / Ni / Au electrode) 7 is provided on the surface of the epi layer 5 (hereinafter referred to as “epi surface”).
The second electrode (circular Ti / Au or Cr / Au or the like) 8 is formed on the first electrode 7 by a non-heat treatment so as to adhere to the first electrode such as Ti or Cr. It can be formed using a close contact material made of a good metal.

【0007】一般に、第二電極は図5(a)〜(d)に
示すようにリフトオフ法を用いた方法で行われる。図5
(a)〜(d)は図4に示した発光ダイオードの製造方
法を示す工程図である。
Generally, the second electrode is formed by a lift-off method as shown in FIGS. 5 (a) to 5 (d). FIG.
(A)-(d) is a process drawing which shows the manufacturing method of the light emitting diode shown in FIG.

【0008】エピ層(n型AlGaAsウィンド層4)
5の上に第一電極7を形成し(図5(a))、第一電極
7の周囲にフォトパターン10を形成する(図5
(b))。エピ層5、第一電極7及びフォトパターン1
0の上から第二電極8用の金属からなる密着材料(Ti
若しくはCr等の密着材料)8a、8を蒸着により密着
させる(図5(c))。剥離剤でフォトパターン10を
剥離することによりフォトパターン10上に蒸着された
余分な密着材料8aが剥離されて第一電極7を覆うよう
に第二電極8が形成される。(図5(d))。
[0008] Epi layer (n-type AlGaAs window layer 4)
5, a first electrode 7 is formed (FIG. 5A), and a photo pattern 10 is formed around the first electrode 7 (FIG. 5A).
(B)). Epi layer 5, first electrode 7, and photo pattern 1
0 from above, an adhesive material (Ti) made of metal for the second electrode 8
Alternatively, adhesion materials such as Cr) 8a and 8 are adhered by vapor deposition (FIG. 5C). By peeling off the photopattern 10 with a peeling agent, the extra adhesive material 8a deposited on the photopattern 10 is peeled off, and the second electrode 8 is formed so as to cover the first electrode 7. (FIG. 5 (d)).

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の方法では第一電極7を覆うように第二電極8が形成
されるので、第一電極7の表面からはみ出した部分は、
エピ層5と第二電極8とが直接接触することになる。
By the way, in the above-mentioned conventional method, the second electrode 8 is formed so as to cover the first electrode 7, so that the portion protruding from the surface of the first electrode 7 is
The epi layer 5 and the second electrode 8 come into direct contact.

【0010】しかし、第二電極8の密着材料は必ずしも
発光ダイオードのエピ表面と密着性が良いとは限らず、
エピ表面との密着性が悪い場合は第一電極上とは良好な
密着性があるものの、電極外周部における第二電極8の
密着材料とエピ表面との界面での剥離が起こり、この剥
離した部分がボンディング用電極上に付着し、ボンディ
ングを阻害するという問題があった。
However, the adhesion material of the second electrode 8 does not always have good adhesion to the epi surface of the light emitting diode.
When the adhesion to the epi surface is poor, although there is good adhesion to the first electrode, the separation occurs at the interface between the adhesion material of the second electrode 8 and the epi surface at the outer peripheral portion of the electrode, and this separation occurs. There is a problem that the portion adheres to the bonding electrode and hinders bonding.

【0011】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、ボンダビリティが良好でしかも密着性に優れた電極
を有する発光ダイオード及びその製造方法を提供するこ
とにある。
It is an object of the present invention to solve the above-mentioned problems and to provide a light emitting diode having an electrode having good bondability and excellent adhesion, and a method of manufacturing the same.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の発光ダイオードは、p型半導体層及びn型半
導体層のpn界面からなる発光層と、いずれかの半導体
層上に形成されオーミック接触を確保するための第一電
極と、第一電極の上に形成されボンダビリティを向上さ
せるための第二電極とを備えた発光ダイオードにおい
て、第二電極が第一電極の表面からはみ出さないように
形成されているものである。
In order to achieve the above object, a light emitting diode according to the present invention is formed on a light emitting layer comprising a pn interface between a p-type semiconductor layer and an n-type semiconductor layer, and on one of the semiconductor layers. In a light-emitting diode including a first electrode for ensuring ohmic contact and a second electrode formed on the first electrode to improve bondability, the second electrode protrudes from the surface of the first electrode. It is formed so as not to exist.

【0013】また本発明の発光ダイオードの製造方法
は、p型半導体層及びn型半導体層のpn界面からなる
発光層を形成し、いずれかの半導体層上にオーミック接
触を確保するための第一電極を形成し、第一電極の上に
ボンダビリティを向上させるための第二電極を形成する
発光ダイオードの製造方法において、p型半導体層上に
第一電極を形成した後、第一電極を該第一電極よりも小
さな開口部を有する第二電極用フォトパターンで取り囲
み、第二電極用の金属からなる密着材料を蒸着させた
後、第二電極用フォトパターンを剥離するリフトオフ法
を用いて第一電極の上に第二電極を形成するものであ
る。
Further, according to the method of manufacturing a light emitting diode of the present invention, a light emitting layer comprising a pn interface between a p-type semiconductor layer and an n-type semiconductor layer is formed, and a first layer for ensuring ohmic contact on one of the semiconductor layers is formed. In a method for manufacturing a light emitting diode, in which an electrode is formed and a second electrode for improving bondability is formed on the first electrode, the first electrode is formed on the p-type semiconductor layer, and then the first electrode is formed. Surrounded by a second electrode photo pattern having an opening smaller than the first electrode, and after depositing an adhesive material made of a metal for the second electrode, the second pattern is lifted off using a lift-off method of peeling off the second electrode photo pattern. A second electrode is formed on one electrode.

【0014】さらに本発明の発光ダイオードの製造方法
は、p型半導体層及びn型半導体層のpn界面からなる
発光層を形成し、いずれかの半導体層上にオーミック接
触を確保するための第一電極を形成し、第一電極の上に
ボンダビリティを向上させるための第二電極を形成する
発光ダイオードの製造方法において、p型半導体層上に
第一電極用の金属からなる密着材料を蒸着し、熱処理を
行い、さらに第二電極用の金属からなる密着材料を全面
蒸着した後、エッチングによって第一電極及び第二電極
を形成するものである。
Further, according to the method for manufacturing a light emitting diode of the present invention, a light emitting layer comprising a pn interface between a p-type semiconductor layer and an n-type semiconductor layer is formed, and a first layer for securing ohmic contact on any one of the semiconductor layers is provided. In a method for manufacturing a light emitting diode, in which an electrode is formed and a second electrode for improving bondability is formed on the first electrode, an adhesion material made of a metal for the first electrode is deposited on the p-type semiconductor layer. After performing heat treatment and further vapor-depositing an adhesive material made of a metal for the second electrode on the entire surface, the first electrode and the second electrode are formed by etching.

【0015】本発明によれば、いずれかの半導体層の上
に第一電極を形成した後、第二電極用フォトパターン形
成時にリフトオフ法により第一電極よりも小さな電極径
のパターンを形成することで、第二電極用の金属からな
る密着材料を蒸着する際に第一電極表面以外の部分へ回
り込むこと、すなわち第二電極が半導体層と接触するこ
とが防止される。このためボンダビリティが良好でしか
も密着性に優れた電極を形成することができる。また、
第二電極用の金属からなる密着材料を検討する場合、半
導体表面だけでなく、ガラス面等他の表面との密着性ま
でを考える必要が無く、第一電極との密着性だけを考え
ればよいので、電極材料の選択の枠が広がる。さらに、
第一電極用の金属からなる密着材料の蒸着膜の上に第二
電極用の金属からなる密着材料の蒸着膜を形成し、エッ
チングによって同時に第一電極及び第二電極を形成して
も第二電極が半導体層と接触することがない。
According to the present invention, after forming the first electrode on any of the semiconductor layers, a pattern having a smaller electrode diameter than the first electrode is formed by a lift-off method when forming a photo pattern for the second electrode. Thus, when the adhesive material made of the metal for the second electrode is deposited, it is prevented from wrapping around to a portion other than the surface of the first electrode, that is, the second electrode is prevented from contacting the semiconductor layer. Therefore, an electrode having good bondability and excellent adhesion can be formed. Also,
When examining the adhesion material made of metal for the second electrode, it is not necessary to consider not only the semiconductor surface, but also the adhesion to other surfaces such as a glass surface, and only the adhesion to the first electrode may be considered. Therefore, the frame for selecting the electrode material is expanded. further,
Forming a deposited film of an adhesive material made of a metal for a second electrode on a deposited film of an adhesive material made of a metal for a first electrode, and forming the first electrode and the second electrode at the same time by etching. The electrode does not come into contact with the semiconductor layer.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳述する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0017】図1(a)は本発明の発光ダイオードの一
実施の形態を示す断面図であり、図1(b)は図1
(a)の平面図である。尚、図4に示した従来例と同様
の部材には共通の符号を用いた。
FIG. 1A is a sectional view showing an embodiment of the light emitting diode of the present invention, and FIG.
It is a top view of (a). The same members as those of the conventional example shown in FIG.

【0018】p型GaAs基板1上に、p型AlGaA
sクラッド層2、p型AlGaAs活性層3及びn型A
lGaAsウィンドウ層4からなる三層のエピ層5が形
成されている。エピ層5の表面中央には円形の第一電極
11が形成され、第一電極11の上には第二電極12が
形成されている。基板1の裏面には裏面電極6が形成さ
れている。これら基板1、エピ層5及び各電極6,1
1,12で発光ダイオード13が構成されている。
On a p-type GaAs substrate 1, a p-type AlGaAs
s cladding layer 2, p-type AlGaAs active layer 3, and n-type A
Three epi layers 5 composed of the lGaAs window layer 4 are formed. A circular first electrode 11 is formed at the center of the surface of the epi layer 5, and a second electrode 12 is formed on the first electrode 11. On the back surface of the substrate 1, a back electrode 6 is formed. The substrate 1, the epi layer 5, and the electrodes 6, 1
The light emitting diode 13 is constituted by 1 and 12.

【0019】次にこの発光ダイオードの製造方法につい
て述べる。
Next, a method for manufacturing this light emitting diode will be described.

【0020】図2(a)〜(d)は図1(a)、(b)
に示した発光ダイオードの製造方法を示す工程図であ
る。
FIGS. 2A to 2D show FIGS. 1A and 1B.
FIG. 7 is a process chart showing a method for manufacturing the light emitting diode shown in FIG.

【0021】まず、p型GaAs基板1上に、p型Al
GaAsクラッド層2、p型AlGaAs活性層3、n
型AlGaAsウィンドウ層4の三層をエピタキシャル
成長させてエピ層5を形成する。p型AlGaAsクラ
ッド層2は、例えば混晶比が0.3、膜厚が40μm、
キャリア濃度が5×1017cm-3である。p型AlGa
As活性層3は、混晶比が0.03、膜厚が1.0μ
m、キャリア濃度が2×1018cm-3である。
First, on a p-type GaAs substrate 1, a p-type Al
GaAs cladding layer 2, p-type AlGaAs active layer 3, n
An epitaxial layer 5 is formed by epitaxially growing three layers of the type AlGaAs window layer 4. The p-type AlGaAs cladding layer 2 has, for example, a mixed crystal ratio of 0.3, a thickness of 40 μm,
The carrier concentration is 5 × 10 17 cm −3 . p-type AlGa
The As active layer 3 has a mixed crystal ratio of 0.03 and a thickness of 1.0 μm.
m, the carrier concentration is 2 × 10 18 cm −3 .

【0022】このエピ層5の表面に電極径約130μ
m、厚さ約2000オングストロームの第一電極(円形
AuGe/Ni/Au電極)11をリフトオフ法若しく
はエッチングにより形成する。基板1の裏面全面には裏
面電極(AuZn/Ni/Au電極)6を形成する(図
1、図2(a))。
The surface of the epi layer 5 has an electrode diameter of about 130 μm.
A first electrode (circular AuGe / Ni / Au electrode) 11 having a thickness of about 2,000 angstroms is formed by a lift-off method or etching. A back electrode (AuZn / Ni / Au electrode) 6 is formed on the entire back surface of the substrate 1 (FIGS. 1 and 2A).

【0023】エピ層5の表面にリフトオフ用第一電極パ
ターン(フォトパターン、図示せず)を形成し、全面に
第一電極11用の密着材料を蒸着し、熱処理を行った後
フォトパターンを除去することによりオーミック接触を
確保した第一電極(円形AuGe/Ni/Au電極)1
1が形成される(図2(a))。
A first electrode pattern for lift-off (photo pattern, not shown) is formed on the surface of the epi layer 5, an adhesion material for the first electrode 11 is deposited on the entire surface, and after heat treatment, the photo pattern is removed. Electrode (circular AuGe / Ni / Au electrode) 1 that secures ohmic contact by performing
1 is formed (FIG. 2A).

【0024】第一電極11の形成後、エピ層5の表面に
電極径が50μmから150μmの間で、かつ、第一電
極11の電極径より小さな大きさのリフトオフ用第二電
極パターン(フォトパターン)14を形成する(図2
(b))。
After the first electrode 11 is formed, a lift-off second electrode pattern (photo pattern) having an electrode diameter between 50 μm and 150 μm and smaller than the electrode diameter of the first electrode 11 is formed on the surface of the epi layer 5. 2) (FIG. 2)
(B)).

【0025】フォトパターン14を形成した後、第二電
極12用の密着材料12aとなるCrを、厚さ約100
0オングストロームになるまで蒸着し、さらにAuを厚
さ約10000オングストロームになるまで蒸着する
(図2(c))。
After the photo pattern 14 is formed, Cr, which serves as an adhesive material 12a for the second electrode 12, is deposited to a thickness of about 100
Vapor deposition is performed until the thickness reaches 0 Å, and Au is further deposited until the thickness becomes approximately 10,000 Å (FIG. 2C).

【0026】第二電極12用の密着材料12aを蒸着し
た後、リフトオフ法を用いて第二電極12となる部分以
外の部分のフォトパターン14を密着材料12aごと剥
離することにより、第一電極11上に電極径が50μm
から150μmの間の大きさの第二電極12が形成され
る。この結果、第二電極12とエピ層5とが接触しない
発光ダイオードが得られる(図2(d))。
After the adhesion material 12a for the second electrode 12 is deposited, the photo-patterns 14 in the portions other than the portion to be the second electrode 12 are peeled off together with the adhesion material 12a by a lift-off method. The electrode diameter is 50 μm on top
The second electrode 12 having a size of between 150 μm and 150 μm is formed. As a result, a light emitting diode in which the second electrode 12 does not contact the epi layer 5 is obtained (FIG. 2D).

【0027】図3は発光ダイオードにおける第二電極の
電極径と、ワイヤーボンディング時のボンディング不良
数と、不良原因との相関関係を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing the correlation between the diameter of the second electrode in the light emitting diode, the number of bonding defects during wire bonding, and the cause of the failure.

【0028】同図において横軸はボンディングパッドの
電極径を示し、縦軸はワイヤーボンディング不良発生率
を示す。図中、丸印はボールシェアテストによる不良を
示し、三角印はボンディング阻害による不良を示す。
In the figure, the horizontal axis indicates the electrode diameter of the bonding pad, and the vertical axis indicates the rate of occurrence of wire bonding failure. In the figure, circles indicate failures due to the ball shear test, and triangles indicate failures due to the inhibition of bonding.

【0029】同図より、第二電極の電極径が50μmの
場合にはボール打ち込み時のボンディングパッド上から
の位置ずれによるボンダビリティ不良が30%発生した
が、第二電極の電極径が80μmの場合には10%に減
少した。第二電極の電極径が100μmの場合にはボン
ダビリティ不良が1〜2%と略無視できる程度になっ
た。因みに、第二電極の電極径が130μm以上の場合
には、第二電極外周部のエピ面との密着不良部分がボン
ディング電極上へ付着し、ボンディングが阻害されると
いったケースが50%もあった。尚、ボンディング不良
は、ボールシェアテストによって70g以下となったも
のをいい、ワイヤーボンディング不良発生率は、ボンデ
ィングシェアテストを行った発光ダイオードのチップ数
に対するボンディング不良となったチップ数のパーセン
テージである。
As shown in FIG. 2, when the electrode diameter of the second electrode is 50 μm, bondability failure due to displacement from the bonding pad at the time of ball hitting occurs 30%, but when the electrode diameter of the second electrode is 80 μm. In that case it was reduced to 10%. When the electrode diameter of the second electrode was 100 μm, the bondability defect was 1-2%, which was almost negligible. Incidentally, when the electrode diameter of the second electrode was 130 μm or more, there were 50% of the cases where the poor adhesion portion between the outer peripheral portion of the second electrode and the epi surface adhered to the bonding electrode and the bonding was hindered. . The bonding failure refers to a bonding failure of 70 g or less in the ball shear test, and the wire bonding failure occurrence ratio is a percentage of the number of bonding failure chips to the number of light emitting diodes subjected to the bonding shear test.

【0030】本実施の形態における最適条件については
第二電極の電極径が100μm以上であり、かつ、第一
電極の電極径よりも小さいことである。
The optimum condition in this embodiment is that the diameter of the second electrode is 100 μm or more and smaller than the diameter of the first electrode.

【0031】尚、本実施の形態ではリフトオフ法を用い
たが、これに限定されることはなく、エピ表面全面に第
一電極用の金属からなる密着材料を蒸着し、熱処理を行
い、さらに第二電極用の金属からなる密着材料を全面蒸
着した後、エッチングによって電極パターンを形成して
も、第二電極が第一電極表面以外の部分へ回り込むこと
がないので同様の効果が得られる。
In this embodiment, the lift-off method is used. However, the present invention is not limited to the lift-off method. An adhesive material made of a metal for a first electrode is deposited on the entire surface of the epi, and heat treatment is performed. Even if the electrode pattern is formed by etching after the entire surface of the adhesive material made of the metal for the two electrodes is deposited, the same effect can be obtained because the second electrode does not go around other than the first electrode surface.

【0032】以上において本発明によれば、第二電極が
第一電極の表面からはみ出さないように形成することに
より、ボンダビリティが良好でしかも第二電極の剥離が
ない発光ダイオード及びその製造方法を提供することが
でき、このような電極構造は、発光ダイオードだけでな
く、レーザダイオードやIC等の電極を必要とするあら
ゆるデバイスにおける電極パッド形成に利用することが
できる。また、発光ダイオードや他のデバイスに対する
電極材料の選択枠が広がる。
As described above, according to the present invention, by forming the second electrode so as not to protrude from the surface of the first electrode, a light emitting diode having good bondability and having no peeling of the second electrode, and a method of manufacturing the same. Such an electrode structure can be used for forming an electrode pad in not only a light emitting diode but also any device that requires an electrode such as a laser diode or an IC. Also, the selection range of electrode materials for light emitting diodes and other devices is expanded.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
In summary, according to the present invention, the following excellent effects are exhibited.

【0034】ボンダビリティが良好でしかも密着性に優
れた電極を有する発光ダイオード及びその製造方法の提
供を実現できる。
It is possible to provide a light emitting diode having electrodes having good bondability and excellent adhesion, and a method for manufacturing the same.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)は本発明の発光ダイオードの一実施の形
態を示す断面図であり、(b)は(a)の平面図であ
る。
FIG. 1A is a cross-sectional view showing one embodiment of a light emitting diode of the present invention, and FIG. 1B is a plan view of FIG.

【図2】(a)〜(d)は、図1(a)、(b)に示し
た発光ダイオードの製造方法を示す工程図である。
FIGS. 2A to 2D are process diagrams showing a method for manufacturing the light emitting diode shown in FIGS. 1A and 1B.

【図3】発光ダイオードにおける第二電極の電極径と、
ワイヤーボンディング時のボンディング不良数と、不良
原因との相関関係を示す図である。
FIG. 3 shows an electrode diameter of a second electrode in a light emitting diode;
FIG. 7 is a diagram showing a correlation between the number of bonding failures during wire bonding and the failure causes.

【図4】AlGaAs系のダブルヘテロ構造の発光ダイ
オードの断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a light-emitting diode having an AlGaAs double heterostructure.

【図5】(a)〜(d)は図4に示した発光ダイオード
の製造方法を示す工程図である。
FIGS. 5A to 5D are process diagrams showing a method for manufacturing the light emitting diode shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板(p型GaAs基板) 5 エピタキシャル層(エピ層) 6 裏面電極 11 第一電極 12 第二電極 12a 密着材料 Reference Signs List 1 substrate (p-type GaAs substrate) 5 epitaxial layer (epi layer) 6 back electrode 11 first electrode 12 second electrode 12a adhesive material

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 p型半導体層及びn型半導体層のpn界
面からなる発光層と、いずれかの半導体層上に形成され
オーミック接触を確保するための第一電極と、該第一電
極の上に形成されボンダビリティを向上させるための第
二電極とを備えた発光ダイオードにおいて、上記第二電
極が上記第一電極の表面からはみ出さないように形成さ
れていることを特徴とする発光ダイオード。
1. A light emitting layer comprising a pn interface between a p-type semiconductor layer and an n-type semiconductor layer, a first electrode formed on one of the semiconductor layers to ensure ohmic contact, and And a second electrode for improving bondability, wherein the second electrode is formed so as not to protrude from the surface of the first electrode.
【請求項2】 p型半導体層及びn型半導体層のpn界
面からなる発光層を形成し、いずれかの半導体層上にオ
ーミック接触を確保するための第一電極を形成し、該第
一電極の上にボンダビリティを向上させるための第二電
極を形成する発光ダイオードの製造方法において、上記
p型半導体層上に第一電極を形成した後、該第一電極を
該第一電極よりも小さな開口部を有する第二電極用フォ
トパターンで取り囲み、第二電極用の金属からなる密着
材料を蒸着させた後、上記第二電極用フォトパターンを
剥離するリフトオフ法を用いて上記第一電極の上に第二
電極を形成することを特徴とする発光ダイオードの製造
方法。
2. A light emitting layer comprising a pn interface between a p-type semiconductor layer and an n-type semiconductor layer, and a first electrode for ensuring ohmic contact is formed on one of the semiconductor layers. In the method for manufacturing a light emitting diode for forming a second electrode for improving the bondability on the first, after forming a first electrode on the p-type semiconductor layer, the first electrode is smaller than the first electrode Surrounded by a second electrode photo pattern having an opening, and after depositing an adhesive material made of a metal for the second electrode, the upper surface of the first electrode is lifted off using a lift-off method of peeling the second electrode photo pattern. Forming a second electrode on the light emitting diode.
【請求項3】 p型半導体層及びn型半導体層のpn界
面からなる発光層を形成し、いずれかの半導体層上にオ
ーミック接触を確保するための第一電極を形成し、該第
一電極の上にボンダビリティを向上させるための第二電
極を形成する発光ダイオードの製造方法において、上記
p型半導体層上に第一電極用の金属からなる密着材料を
蒸着し、熱処理を行い、さらに第二電極用の金属からな
る密着材料を全面蒸着した後、エッチングによって第一
電極及び第二電極を形成することを特徴とする発光ダイ
オードの製造方法。
3. A light-emitting layer comprising a pn interface between a p-type semiconductor layer and an n-type semiconductor layer, and a first electrode for ensuring ohmic contact is formed on one of the semiconductor layers. In a method for manufacturing a light emitting diode, in which a second electrode for improving bondability is formed on a p-type semiconductor layer, an adhesion material made of a metal for a first electrode is deposited, and heat treatment is performed. A method for manufacturing a light-emitting diode, comprising: forming a first electrode and a second electrode by etching after an adhesive material made of a metal for two electrodes is entirely deposited.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004010509A3 (en) * 2002-07-22 2004-09-23 Cree Inc Light emitting diode including barrier layers and manufacturing methods therefor
US7026659B2 (en) 2001-02-01 2006-04-11 Cree, Inc. Light emitting diodes including pedestals
US7037742B2 (en) 2001-07-23 2006-05-02 Cree, Inc. Methods of fabricating light emitting devices using mesa regions and passivation layers
US7211833B2 (en) 2001-07-23 2007-05-01 Cree, Inc. Light emitting diodes including barrier layers/sublayers

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7026659B2 (en) 2001-02-01 2006-04-11 Cree, Inc. Light emitting diodes including pedestals
US7420222B2 (en) 2001-02-01 2008-09-02 Cree, Inc. Light emitting diodes including transparent oxide layers
US8692277B2 (en) 2001-02-01 2014-04-08 Cree, Inc. Light emitting diodes including optically matched substrates
US7037742B2 (en) 2001-07-23 2006-05-02 Cree, Inc. Methods of fabricating light emitting devices using mesa regions and passivation layers
US7211833B2 (en) 2001-07-23 2007-05-01 Cree, Inc. Light emitting diodes including barrier layers/sublayers
US7611915B2 (en) 2001-07-23 2009-11-03 Cree, Inc. Methods of manufacturing light emitting diodes including barrier layers/sublayers
KR101028965B1 (en) * 2001-07-23 2011-04-12 크리 인코포레이티드 Light emitting diode including barrier layers and manufacturing methods therefor
EP2320484A1 (en) * 2001-07-23 2011-05-11 Cree, Inc. Light emitting diode including barrier layers and manufacturing method therefore
US8907366B2 (en) 2001-07-23 2014-12-09 Cree, Inc. Light emitting diodes including current spreading layer and barrier sublayers
WO2004010509A3 (en) * 2002-07-22 2004-09-23 Cree Inc Light emitting diode including barrier layers and manufacturing methods therefor
CN100347866C (en) * 2002-07-22 2007-11-07 克里公司 Light emitting diodes including barrier layers/sublayers and manufacturing methods therefor
EP2287930A1 (en) * 2002-07-22 2011-02-23 Cree, Inc. Light emitting diode including barrier layers and manufacturing method therefore

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