JPH11118708A - 計測情報処理装置 - Google Patents
計測情報処理装置Info
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- JPH11118708A JPH11118708A JP9276798A JP27679897A JPH11118708A JP H11118708 A JPH11118708 A JP H11118708A JP 9276798 A JP9276798 A JP 9276798A JP 27679897 A JP27679897 A JP 27679897A JP H11118708 A JPH11118708 A JP H11118708A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】複数個の計測情報を正確の把握することができ
る計測情報処理装置を提供する。 【解決手段】複数個の試料に基づく複数個の計測情報を
取得し、それぞれ吸光度情報に変換する（Ｓ１〜Ｓ
２）。これら吸光度情報に基づいて分布図を作成し、こ
の分布図をモニタに表示する（Ｓ３〜Ｓ４）。オペレー
タは、分布図を観察しながら希望する吸光度情報をマウ
スカーソルによって選択する（Ｓ５）。選択された吸光
度情報に対して最小自乗処理を施して検量線を設定する
とともに、選択された吸光度情報と検量線とから相関係
数を算出する（Ｓ６〜Ｓ７）。これら検量線および相関
係数をモニタに表示する（Ｓ８）。新たに吸光度情報を
選択する場合には、Ｓ５〜Ｓ８を繰り返し行う（Ｓ
９）。したがって、希望する吸光度情報ごとに観察する
ことができるので、一層正確に計測情報を把握すること
ができる。
る計測情報処理装置を提供する。 【解決手段】複数個の試料に基づく複数個の計測情報を
取得し、それぞれ吸光度情報に変換する（Ｓ１〜Ｓ
２）。これら吸光度情報に基づいて分布図を作成し、こ
の分布図をモニタに表示する（Ｓ３〜Ｓ４）。オペレー
タは、分布図を観察しながら希望する吸光度情報をマウ
スカーソルによって選択する（Ｓ５）。選択された吸光
度情報に対して最小自乗処理を施して検量線を設定する
とともに、選択された吸光度情報と検量線とから相関係
数を算出する（Ｓ６〜Ｓ７）。これら検量線および相関
係数をモニタに表示する（Ｓ８）。新たに吸光度情報を
選択する場合には、Ｓ５〜Ｓ８を繰り返し行う（Ｓ
９）。したがって、希望する吸光度情報ごとに観察する
ことができるので、一層正確に計測情報を把握すること
ができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、工業計測や化学
分析などによって得られる複数個の試料を計測して得ら
れた計測情報に基づく検量線および相関係数によって、
各試料の状態を把握するのに使用される計測情報処理装
置に関する。
分析などによって得られる複数個の試料を計測して得ら
れた計測情報に基づく検量線および相関係数によって、
各試料の状態を把握するのに使用される計測情報処理装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】以下、従来の計測情報処理装置として、
例えば試料で吸収される光の吸光度を計測する分光光度
計装置について説明する。
例えば試料で吸収される光の吸光度を計測する分光光度
計装置について説明する。
【０００３】この装置は、複数個の試料に対して所定の
計測を行う計測部と、計測によって得られた複数個の計
測情報を収集する計測情報収集部と、収集された各計測
情報から試料の濃度ごとの吸光度を求め、これら各吸光
度に基づく検量線を設定するとともに、検量線の相関係
数を算出する情報処理部と、情報処理部での結果を表示
するモニタ等の表示部とから構成されている。
計測を行う計測部と、計測によって得られた複数個の計
測情報を収集する計測情報収集部と、収集された各計測
情報から試料の濃度ごとの吸光度を求め、これら各吸光
度に基づく検量線を設定するとともに、検量線の相関係
数を算出する情報処理部と、情報処理部での結果を表示
するモニタ等の表示部とから構成されている。
【０００４】計測部では、複数個の試料に対して特定の
波長の光を試料ごとに照射し、この各試料を透過した光
を受光して得た計測情報を計測情報収集部に送る。情報
処理部は、計測情報収集部に収集された複数個の計測情
報に基づいて、各試料ごとの吸光度を求める。また、こ
れら吸光度と濃度のグラフ上の点に対して最小自乗処理
を施すことで検量線を設定する。この検量線は、全ての
表示点に対して最も近い位置を通る直線である。さら
に、その検量線の相関係数を算出する。表示部は、相関
係数を所定の表示領域に表示するとともに、各表示点に
基づく分布図に検量線を重ねて表示するものである。
波長の光を試料ごとに照射し、この各試料を透過した光
を受光して得た計測情報を計測情報収集部に送る。情報
処理部は、計測情報収集部に収集された複数個の計測情
報に基づいて、各試料ごとの吸光度を求める。また、こ
れら吸光度と濃度のグラフ上の点に対して最小自乗処理
を施すことで検量線を設定する。この検量線は、全ての
表示点に対して最も近い位置を通る直線である。さら
に、その検量線の相関係数を算出する。表示部は、相関
係数を所定の表示領域に表示するとともに、各表示点に
基づく分布図に検量線を重ねて表示するものである。
【０００５】表示部には、例えば図５に示すように、分
布図、検量線、計測情報および相関係数が表示される。
図中、符号５０は表示部に表示されるモニタ画面を示
す。モニタ画面５０には、各種の命令が表示される命令
表示領域５０ａと、試料番号、試料の濃度等の試料情報
と、各試料に基づく吸光度とが表示される情報表示領域
５１と、試料ごとの吸光度と濃度の関係を示す表示点５
４ａとこれら表示点５４ａに基づく検量線５２とが表示
される分布図表示領域５４と、全ての表示点５４ａと検
量線５２との相関を示す相関係数が表示される相関係数
表示領域５３とがそれぞれ表示されている。オペレータ
は、このモニタ画面５０の表示を観察することで、各試
料の表示点５４ａが直線性を有するか否かを検量線５２
によって、視覚的に把握するとともに、相関係数により
客観的に把握することで、各試料の状態について知るこ
とができる。
布図、検量線、計測情報および相関係数が表示される。
図中、符号５０は表示部に表示されるモニタ画面を示
す。モニタ画面５０には、各種の命令が表示される命令
表示領域５０ａと、試料番号、試料の濃度等の試料情報
と、各試料に基づく吸光度とが表示される情報表示領域
５１と、試料ごとの吸光度と濃度の関係を示す表示点５
４ａとこれら表示点５４ａに基づく検量線５２とが表示
される分布図表示領域５４と、全ての表示点５４ａと検
量線５２との相関を示す相関係数が表示される相関係数
表示領域５３とがそれぞれ表示されている。オペレータ
は、このモニタ画面５０の表示を観察することで、各試
料の表示点５４ａが直線性を有するか否かを検量線５２
によって、視覚的に把握するとともに、相関係数により
客観的に把握することで、各試料の状態について知るこ
とができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。従来の計測情報処理装置では、全ての計測情報に
対して、最小自乗処理を施し、これら全ての計測情報に
基づく検量線を設定しているので、一部の計測情報が、
他の部分の計測情報と連続性が無くなるような場合に問
題がある。例えば、試料の濃度に対する吸光度を計測す
る場合に、試料の濃度が低濃度のときには濃度と吸光度
とは比例関係にあるが、ある一定以上の高濃度となると
この比例関係が崩れ、徐々に飽和状態となってくる。こ
のような飽和状態になった計測情報を含んだ全ての計測
情報について検量線を設定すると、この検量線は、比例
関係にある部分の計測情報に対して大きくずれた結果と
なり、全ての試料の状態について正しい判断をすること
ができないという問題がある。また、このような場合
に、例えば図５における情報表示領域５１で不用と思わ
れる試料の吸光度を消去することで、消去後の吸光度に
基づいて検量線を再び設定することもできる。しかし、
この場合には、全ての試料の吸光度を一度に観察するこ
とができないので、全ての試料の関係を把握することが
できないという問題があるとともに、不用と思われる情
報を一々消去していたのでは、全ての試料について迅速
な把握をすることができず作業効率が悪いという問題も
ある。
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。従来の計測情報処理装置では、全ての計測情報に
対して、最小自乗処理を施し、これら全ての計測情報に
基づく検量線を設定しているので、一部の計測情報が、
他の部分の計測情報と連続性が無くなるような場合に問
題がある。例えば、試料の濃度に対する吸光度を計測す
る場合に、試料の濃度が低濃度のときには濃度と吸光度
とは比例関係にあるが、ある一定以上の高濃度となると
この比例関係が崩れ、徐々に飽和状態となってくる。こ
のような飽和状態になった計測情報を含んだ全ての計測
情報について検量線を設定すると、この検量線は、比例
関係にある部分の計測情報に対して大きくずれた結果と
なり、全ての試料の状態について正しい判断をすること
ができないという問題がある。また、このような場合
に、例えば図５における情報表示領域５１で不用と思わ
れる試料の吸光度を消去することで、消去後の吸光度に
基づいて検量線を再び設定することもできる。しかし、
この場合には、全ての試料の吸光度を一度に観察するこ
とができないので、全ての試料の関係を把握することが
できないという問題があるとともに、不用と思われる情
報を一々消去していたのでは、全ての試料について迅速
な把握をすることができず作業効率が悪いという問題も
ある。
【０００７】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、複数個の計測情報における一部の計
測情報について一層正確に把握することができるととも
に、計測情報全体を効率よく把握することができる計測
情報処理装置を提供することを目的とする。
れたものであって、複数個の計測情報における一部の計
測情報について一層正確に把握することができるととも
に、計測情報全体を効率よく把握することができる計測
情報処理装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項１に記載の発明は、複数個の試料を計測して
得られる複数個の計測情報に対して最小自乗処理を施す
ことで検量線を設定するとともに、この検量線と前記複
数個の計測情報とに基づいて相関係数を算出し、これら
検量線と相関係数と前記複数個の計測情報に基づく分布
図とを所定の表示領域に表示する計測情報処理装置であ
って、（ａ）複数個の試料を計測して得られる複数個の
計測情報を取得する計測情報取得手段と、（ｂ）前記複
数個の計測情報の中から任意の計測情報を選択する選択
指示手段と、（ｃ）前記選択された計測情報に対して最
小自乗処理を施すことで、検量線を設定する検量線設定
手段と、（ｄ）前記検量線と前記選択された計測情報と
から相関係数を算出する相関係数算出手段と、（ｅ）前
記複数個の計測情報に基づく分布図と、前記検量線と、
前記相関係数とを所定の表示領域に表示する表示手段と
を備えたことを特徴とするものである。
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項１に記載の発明は、複数個の試料を計測して
得られる複数個の計測情報に対して最小自乗処理を施す
ことで検量線を設定するとともに、この検量線と前記複
数個の計測情報とに基づいて相関係数を算出し、これら
検量線と相関係数と前記複数個の計測情報に基づく分布
図とを所定の表示領域に表示する計測情報処理装置であ
って、（ａ）複数個の試料を計測して得られる複数個の
計測情報を取得する計測情報取得手段と、（ｂ）前記複
数個の計測情報の中から任意の計測情報を選択する選択
指示手段と、（ｃ）前記選択された計測情報に対して最
小自乗処理を施すことで、検量線を設定する検量線設定
手段と、（ｄ）前記検量線と前記選択された計測情報と
から相関係数を算出する相関係数算出手段と、（ｅ）前
記複数個の計測情報に基づく分布図と、前記検量線と、
前記相関係数とを所定の表示領域に表示する表示手段と
を備えたことを特徴とするものである。
【０００９】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の計測情報処理装置において、前記表示手段は、前記所
定の表示領域に表示する分布図における前記選択された
計測情報が表示されている領域だけを強調して表示する
ことを特徴とするものである。
の計測情報処理装置において、前記表示手段は、前記所
定の表示領域に表示する分布図における前記選択された
計測情報が表示されている領域だけを強調して表示する
ことを特徴とするものである。
【００１０】〔作用〕請求項１に記載の発明の作用は次
のとおりである。計測情報取得手段は、複数個の試料を
計測して得られる複数個の計測情報を取得する。この複
数個の計測情報の中から任意の計測情報を、選択指示手
段によって選択する。検量線設定手段は、選択された計
測情報に対して最小自乗処理を施すことで、この選択さ
れた計測情報に基づく検量線を設定する。相関係数算出
手段は、選択された計測情報と設定された検量線との相
関を示す相関係数を算出する。表示手段は、複数個の計
測情報に基づく分布図と、選択された計測情報に基づく
検量線と、選択された計測情報と検量線とから算出した
相関係数とを所定の表示領域に表示する。
のとおりである。計測情報取得手段は、複数個の試料を
計測して得られる複数個の計測情報を取得する。この複
数個の計測情報の中から任意の計測情報を、選択指示手
段によって選択する。検量線設定手段は、選択された計
測情報に対して最小自乗処理を施すことで、この選択さ
れた計測情報に基づく検量線を設定する。相関係数算出
手段は、選択された計測情報と設定された検量線との相
関を示す相関係数を算出する。表示手段は、複数個の計
測情報に基づく分布図と、選択された計測情報に基づく
検量線と、選択された計測情報と検量線とから算出した
相関係数とを所定の表示領域に表示する。
【００１１】請求項２に記載の発明によれば、前記表示
手段は、前記複数個の計測情報に基づく分布図における
前記選択された計測情報が表示されている領域だけを強
調して表示する。
手段は、前記複数個の計測情報に基づく分布図における
前記選択された計測情報が表示されている領域だけを強
調して表示する。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施例を説明する。図１は実施例に係る計測情報処理装
置の概略構成を示すブロック図である。なお、この実施
例では、計測情報処理装置である例えば溶液状のサンプ
ルの濃度の違いによる光の吸光度を計測する分光光度計
装置について説明する。
実施例を説明する。図１は実施例に係る計測情報処理装
置の概略構成を示すブロック図である。なお、この実施
例では、計測情報処理装置である例えば溶液状のサンプ
ルの濃度の違いによる光の吸光度を計測する分光光度計
装置について説明する。
【００１３】図１に示すように実施例の分光光度計装置
は、ｎ個のサンプルＳ1 〜Ｓn をそれぞれ透過した光を
受光する分光光度計部１と、分光光度計部１で得られた
複数個の計測情報を収集する計測情報収集部２と、収集
された各計測情報を吸光度情報に変換する吸光度変換部
３と、複数個の吸光度情報に基づいて分布図を作成した
り、これら吸光度情報に対して最小自乗処理を施したり
するための演算処理部４と、任意の吸光度情報を選択す
るマウス６と、演算処理部４で求められた分布図等を表
示するモニタ８や印刷出力するプリンタ９などで構成さ
れる。分光光度計部１で得られた計測情報を収集する計
測情報収集部２は、この発明における計測情報取得手段
に相当する。マウス６は、この発明における選択指示手
段に相当する。演算処理部４で行われる後述する処理
は、この発明における検量線設定手段および相関係数算
出手段の機能に相当する。モニタ８は、この発明におけ
る表示手段に相当する。
は、ｎ個のサンプルＳ1 〜Ｓn をそれぞれ透過した光を
受光する分光光度計部１と、分光光度計部１で得られた
複数個の計測情報を収集する計測情報収集部２と、収集
された各計測情報を吸光度情報に変換する吸光度変換部
３と、複数個の吸光度情報に基づいて分布図を作成した
り、これら吸光度情報に対して最小自乗処理を施したり
するための演算処理部４と、任意の吸光度情報を選択す
るマウス６と、演算処理部４で求められた分布図等を表
示するモニタ８や印刷出力するプリンタ９などで構成さ
れる。分光光度計部１で得られた計測情報を収集する計
測情報収集部２は、この発明における計測情報取得手段
に相当する。マウス６は、この発明における選択指示手
段に相当する。演算処理部４で行われる後述する処理
は、この発明における検量線設定手段および相関係数算
出手段の機能に相当する。モニタ８は、この発明におけ
る表示手段に相当する。
【００１４】分光光度計部１は、回折格子１ａに向けて
白色光を発する図示しない光源と、図示しない揺動機構
に取付けられた回折格子１ａと、微細な開口部を備える
スリット１ｂと、サンプルを透過または反射した光を受
光する光電子増倍管１ｃとで構成される。光源から発せ
られた白色光は、回折格子１ａによって、波長ごとの光
に分割される。回折格子１ａは揺動することで、スリッ
ト１ｂを通過する特定の波長の光を任意に選択すること
ができる。スリット１ｂを通過した光は、計測対象であ
るサンプルに照射される。このサンプルで反射または透
過した光は、光電子増倍管１ｃにおいて光電効果によっ
て電気信号に変換され、計測情報収集部２に送られる。
白色光を発する図示しない光源と、図示しない揺動機構
に取付けられた回折格子１ａと、微細な開口部を備える
スリット１ｂと、サンプルを透過または反射した光を受
光する光電子増倍管１ｃとで構成される。光源から発せ
られた白色光は、回折格子１ａによって、波長ごとの光
に分割される。回折格子１ａは揺動することで、スリッ
ト１ｂを通過する特定の波長の光を任意に選択すること
ができる。スリット１ｂを通過した光は、計測対象であ
るサンプルに照射される。このサンプルで反射または透
過した光は、光電子増倍管１ｃにおいて光電効果によっ
て電気信号に変換され、計測情報収集部２に送られる。
【００１５】具体的には、分光光度計部１の所定の位置
にサンプルＳ1 がセットされると、回折格子１ａが所定
の位置にまで揺動して、サンプルＳ1 に所定の波長の光
が照射される。サンプルＳ1 に照射された光は、サンプ
ルＳ1 を透過して、光電子倍増管１ｃで受光される。こ
のとき、サンプルＳ1 を透過した光は、サンプル内で吸
収されるので、サンプルの濃度によって異なる。光電子
増倍管１ｃは、サンプルＳ1 を透過した光を受光する
と、この光を光電効果によって例えば電圧に変換する。
この電圧の値を計測情報として計測情報収集部２に送
る。分光光度計部１は、この計測をｎ個のサンプルＳ1
〜Ｓn について順次行うことで、それぞれのサンプルＳ
1 〜Ｓn の計測情報を測情報収集部２に送る。
にサンプルＳ1 がセットされると、回折格子１ａが所定
の位置にまで揺動して、サンプルＳ1 に所定の波長の光
が照射される。サンプルＳ1 に照射された光は、サンプ
ルＳ1 を透過して、光電子倍増管１ｃで受光される。こ
のとき、サンプルＳ1 を透過した光は、サンプル内で吸
収されるので、サンプルの濃度によって異なる。光電子
増倍管１ｃは、サンプルＳ1 を透過した光を受光する
と、この光を光電効果によって例えば電圧に変換する。
この電圧の値を計測情報として計測情報収集部２に送
る。分光光度計部１は、この計測をｎ個のサンプルＳ1
〜Ｓn について順次行うことで、それぞれのサンプルＳ
1 〜Ｓn の計測情報を測情報収集部２に送る。
【００１６】以下、図２に示すフローチャートを参照し
て説明する。 ステップＳ１（計測情報の取得）計測情報収集部２は、
分光光度計部１から送られてくる電圧値を逐次デジタル
変換しながら、ｎ個のサンプルの計測情報を収集する。
この計測情報収集部２は、この発明における計測情報取
得手段に相当する。
て説明する。 ステップＳ１（計測情報の取得）計測情報収集部２は、
分光光度計部１から送られてくる電圧値を逐次デジタル
変換しながら、ｎ個のサンプルの計測情報を収集する。
この計測情報収集部２は、この発明における計測情報取
得手段に相当する。
【００１７】ステップＳ２（吸光度情報に変換）吸光度
変換部３は、計測情報収集部２の各計測情報を、吸光度
情報に変換する。この吸光度情報への変換は、各計測情
報に基づいてサンプルＳ1 〜Ｓn での透過率を算出し、
この透過率の逆数を常用対数で表した数値である。具体
的には、次式（１）で表すことができる。
変換部３は、計測情報収集部２の各計測情報を、吸光度
情報に変換する。この吸光度情報への変換は、各計測情
報に基づいてサンプルＳ1 〜Ｓn での透過率を算出し、
この透過率の逆数を常用対数で表した数値である。具体
的には、次式（１）で表すことができる。
【００１８】ａi ＝ｌｏｇ（１／ｔi ）‥‥（１） ｉ=1,2,3, …,n ｔi ：ｉ番目のサンプルＳi の透過率 ａi ：ｉ番目のサンプルＳi の吸光度情報
【００１９】サンプルが無い状態で所定の波長の光を光
電子倍増管１ｃに照射して得られる電圧値と、サンプル
Ｓ1 〜Ｓn をそれぞれ透過して得られる電圧値とから透
過率ｔ1 〜ｔn を求める。この透過率ｔ1 〜ｔn を上式
（１）に代入して、サンプルＳ1 〜Ｓn での吸光度情報
ａ1 〜ａn を求める。
電子倍増管１ｃに照射して得られる電圧値と、サンプル
Ｓ1 〜Ｓn をそれぞれ透過して得られる電圧値とから透
過率ｔ1 〜ｔn を求める。この透過率ｔ1 〜ｔn を上式
（１）に代入して、サンプルＳ1 〜Ｓn での吸光度情報
ａ1 〜ａn を求める。
【００２０】ステップＳ３（分布図を作成） 演算処理部４は、吸光度変換部３で変換された吸光度情
報ａ1 〜ａn と、予めメモリ５に記憶されているサンプ
ルＳ1 〜Ｓn の濃度情報ｍ1 〜ｍn とから、横軸を濃
度、縦軸を吸光度とする分布図情報を作成する。この分
布図情報は、例えばサンプルＳi については、（ｍi ，
ａi ）で表すことができる。この分布図情報と、サンプ
ルＳ1 〜Ｓn の吸光度情報ａ1 〜ａn および濃度情報ｍ
1 〜ｍn を出力制御部７に送る。
報ａ1 〜ａn と、予めメモリ５に記憶されているサンプ
ルＳ1 〜Ｓn の濃度情報ｍ1 〜ｍn とから、横軸を濃
度、縦軸を吸光度とする分布図情報を作成する。この分
布図情報は、例えばサンプルＳi については、（ｍi ，
ａi ）で表すことができる。この分布図情報と、サンプ
ルＳ1 〜Ｓn の吸光度情報ａ1 〜ａn および濃度情報ｍ
1 〜ｍn を出力制御部７に送る。
【００２１】ステップＳ４（分布図を表示） 出力制御部７は、演算処理部４から送られてきた分布図
情報等に基づいて、モニタ８の所定の表示領域に分布図
および吸光度情報ａ1 〜ａn 等を出力表示する。このと
きモニタ８に表示されるモニタ画面を図３に示す。以
下、１１個のサンプルＳ1 〜Ｓ11について説明する。図
中、符号１０は、モニタ画面を示す。モニタ画面１０に
は、計測情報ファイルの開閉や、各種の条件設定などの
命令を表示するための第１の命令表示領域１０ａと、分
光光度計部１に対する命令を表示する第２の命令表示領
域１０ｂと、サンプルＳ1 〜Ｓ11についての試料番号
「１」〜「１１」、濃度情報ｍ1 〜ｍ11および吸光度情
報ａ1 〜ａ11を表示する情報表示領域１１と、分布図情
報に基づいて分布図を表示する分布図表示領域１２と、
分布図と後述する検量線との相関の度合いを示す相関係
数を表示する相関係数表示領域１３と、マウスカーソル
１４とが表示されている。マウスカーソル１４は、マウ
ス６を操作に連動して、モニタ画面１０上を自在に移動
することができる。また、各種の命令表示や計測情報表
示上にマウスカーソル１４を持ってきてから、マウス６
に装備されたボタンをクリックすることで、各種の命令
や計測情報などを選択または指示することができる。
情報等に基づいて、モニタ８の所定の表示領域に分布図
および吸光度情報ａ1 〜ａn 等を出力表示する。このと
きモニタ８に表示されるモニタ画面を図３に示す。以
下、１１個のサンプルＳ1 〜Ｓ11について説明する。図
中、符号１０は、モニタ画面を示す。モニタ画面１０に
は、計測情報ファイルの開閉や、各種の条件設定などの
命令を表示するための第１の命令表示領域１０ａと、分
光光度計部１に対する命令を表示する第２の命令表示領
域１０ｂと、サンプルＳ1 〜Ｓ11についての試料番号
「１」〜「１１」、濃度情報ｍ1 〜ｍ11および吸光度情
報ａ1 〜ａ11を表示する情報表示領域１１と、分布図情
報に基づいて分布図を表示する分布図表示領域１２と、
分布図と後述する検量線との相関の度合いを示す相関係
数を表示する相関係数表示領域１３と、マウスカーソル
１４とが表示されている。マウスカーソル１４は、マウ
ス６を操作に連動して、モニタ画面１０上を自在に移動
することができる。また、各種の命令表示や計測情報表
示上にマウスカーソル１４を持ってきてから、マウス６
に装備されたボタンをクリックすることで、各種の命令
や計測情報などを選択または指示することができる。
【００２２】ステップＳ５（吸光度情報を選択） オペレータは、モニタ画面５０を観察しながら分布図表
示領域１２に表示されている分布図の例えば表示点Ｓ8
をマウスカーソル１４によって指示する。この表示点Ｓ
8 が指示されると演算処理部４は、表示点Ｓ1 〜Ｓ8 を
選択する。
示領域１２に表示されている分布図の例えば表示点Ｓ8
をマウスカーソル１４によって指示する。この表示点Ｓ
8 が指示されると演算処理部４は、表示点Ｓ1 〜Ｓ8 を
選択する。
【００２３】ステップＳ６（検量線を設定） 演算処理部４は、選択された表示点Ｓ1 〜Ｓ8 すなわち
サンプルＳ1 〜Ｓ8 の吸光度情報ａ1 〜ａ8 および濃度
情報ｍ1 〜ｍ8 に対して最小自乗処理を施すことで、検
量線を設定する。具体的には、サンプルである溶液の濃
度と吸光度との関係は、ほぼ比例関係にあることが判っ
ているので、設定するべき検量線は、次式（２）で表す
ことができる。
サンプルＳ1 〜Ｓ8 の吸光度情報ａ1 〜ａ8 および濃度
情報ｍ1 〜ｍ8 に対して最小自乗処理を施すことで、検
量線を設定する。具体的には、サンプルである溶液の濃
度と吸光度との関係は、ほぼ比例関係にあることが判っ
ているので、設定するべき検量線は、次式（２）で表す
ことができる。
【００２４】ｙ＝Ａｘ＋Ｂ ‥‥（２） ｘ：濃度情報 ｙ：吸光度情報 Ａ、Ｂ：定数
【００２５】上式（２）に、サンプルＳ1 〜Ｓ8 の濃度
情報を代入すると、検量線における濃度ｘと吸光度ｙと
は、（ｘ、ｙ）＝（ｍ1 ，ｙ1 ＝Ａ×ｍ1 ＋Ｂ）、（ｍ
2 ，ｙ2 ＝Ａ×ｍ2 ＋Ｂ）、・・・、（ｍ8 ，ｙ8 ＝Ａ
×ｍ8 ＋Ｂ）で表すことができる。したがって、サンプ
ルＳ1 〜Ｓ8 の吸光度情報ａ1 〜ａ8 と、検量線におけ
る吸光度情報ｙ1 〜ｙ8 とに対して、次式（３）を用い
て最小自乗値Ｓを指標することで、サンプルＳ1 〜Ｓ8
の全ての吸光度情報に対して最も近い値を通る検量線を
求めることができる。
情報を代入すると、検量線における濃度ｘと吸光度ｙと
は、（ｘ、ｙ）＝（ｍ1 ，ｙ1 ＝Ａ×ｍ1 ＋Ｂ）、（ｍ
2 ，ｙ2 ＝Ａ×ｍ2 ＋Ｂ）、・・・、（ｍ8 ，ｙ8 ＝Ａ
×ｍ8 ＋Ｂ）で表すことができる。したがって、サンプ
ルＳ1 〜Ｓ8 の吸光度情報ａ1 〜ａ8 と、検量線におけ
る吸光度情報ｙ1 〜ｙ8 とに対して、次式（３）を用い
て最小自乗値Ｓを指標することで、サンプルＳ1 〜Ｓ8
の全ての吸光度情報に対して最も近い値を通る検量線を
求めることができる。
【００２６】 Ｓ＝Σ（（ａi −（Ａ×ｍi ＋Ｂ））2 ） ‥‥（３） ｉ=1,2,3, …,n Σ：一収集単位で得られる吸光度情報の加算 上式（３）において、最小自乗値Ｓが、最小となるよう
な定数Ａ、Ｂとを求めることで、サンプルＳ1 〜Ｓ8 に
対する検量線を設定することができる。
な定数Ａ、Ｂとを求めることで、サンプルＳ1 〜Ｓ8 に
対する検量線を設定することができる。
【００２７】ステップＳ７（相関係数を算出） 演算処理部４は、濃度情報ｍ1 〜ｍ8 での検量線ｙ＝Ａ
ｘ＋Ｂから求められる吸光度情報ｙ1 〜ｙ8 と、サンプ
ルＳ1 〜Ｓ8 に基づく吸光度情報ａ1 〜ａ8 との一致の
度合いを示す相関係数γを、次式（４）から算出する。
ｘ＋Ｂから求められる吸光度情報ｙ1 〜ｙ8 と、サンプ
ルＳ1 〜Ｓ8 に基づく吸光度情報ａ1 〜ａ8 との一致の
度合いを示す相関係数γを、次式（４）から算出する。
【００２８】 γ＝Σ（ｙi ・ａi ）／（√（Σｙi 2 ）・√（Σａi 2 ））…（４） ｉ=1,2,3, …,8 ここで、相関係数γの値が１に近いほど、サンプルＳ1
〜Ｓ8 の吸光度情報ａ 1 〜ａ8 と、検量線ｙ＝Ａｘ＋Ｂ
とは相関する度合いが高いことを示す。
〜Ｓ8 の吸光度情報ａ 1 〜ａ8 と、検量線ｙ＝Ａｘ＋Ｂ
とは相関する度合いが高いことを示す。
【００２９】上式（４）に吸光度情報ｙ1 〜ｙ8 と、吸
光度情報ａ1 〜ａ8 とを代入することで、相関係数γを
求める。演算処理部４は、これら検量線ｙ＝Ａｘ＋Ｂ
と、相関係数γの値とを出力制御部７に送る。
光度情報ａ1 〜ａ8 とを代入することで、相関係数γを
求める。演算処理部４は、これら検量線ｙ＝Ａｘ＋Ｂ
と、相関係数γの値とを出力制御部７に送る。
【００３０】ステップＳ８（検量線等を表示） 図４に示すように、出力制御部７は、演算処理部４から
送られきた検量線ｙ＝Ａｘ＋Ｂに基づいて、分布図表示
領域１２に表示されている分布図に重ねて検量線１５を
表示するとともに、相関係数表示領域１３に相関係数γ
の値例えば「０．９１」を表示する。このとき、選択さ
れているサンプルＳ1 〜Ｓ8 の分布図表示領域１２上の
表示点Ｓ1 〜Ｓ8 の表示されている領域は、他の表示点
Ｓ9 〜Ｓ 11が表示されている領域に比べて、強調された
表示にする。また、同様に情報表示領域１１について
も、サンプルＳ1 〜Ｓ8 に関する情報が表示されている
領域は強調された表示にしている。ここでは、選択され
ていないサンプルＳ9 〜Ｓ11が表示された領域を、他の
領域よりも暗く表示することで、選択されているサンプ
ルＳ1 〜Ｓ8 の表示領域を視覚的に強調している。
送られきた検量線ｙ＝Ａｘ＋Ｂに基づいて、分布図表示
領域１２に表示されている分布図に重ねて検量線１５を
表示するとともに、相関係数表示領域１３に相関係数γ
の値例えば「０．９１」を表示する。このとき、選択さ
れているサンプルＳ1 〜Ｓ8 の分布図表示領域１２上の
表示点Ｓ1 〜Ｓ8 の表示されている領域は、他の表示点
Ｓ9 〜Ｓ 11が表示されている領域に比べて、強調された
表示にする。また、同様に情報表示領域１１について
も、サンプルＳ1 〜Ｓ8 に関する情報が表示されている
領域は強調された表示にしている。ここでは、選択され
ていないサンプルＳ9 〜Ｓ11が表示された領域を、他の
領域よりも暗く表示することで、選択されているサンプ
ルＳ1 〜Ｓ8 の表示領域を視覚的に強調している。
【００３１】ステップＳ９（終了？） オペレータは、処理を終了したい場合には、第２の命令
表示領域１０ｂにある「中止」表示をマウスカーソル１
４で指示することで、処理を終了することができる。一
方、オペレータは、他のサンプルの表示点について検量
線および相関係数を知りたい場合には、例えば分布図表
示領域１２の強調された表示領域（斜線のない領域）と
強調されていない表示領域（斜線領域）との境目にある
境界線１６をマウスカーソル１４によって、ドラッグす
ることで、強調表示されている領域にあるサンプルだけ
を選択することができ、即座にその領域内にある表示点
だけの検量線を引き直す。演算処理部４は、これら選択
されたサンプルに基づく吸光度情報等に対して、ステッ
プＳ６からステップＳ８の処理を繰り返し行うことで、
希望するサンプルについての検量線および相関係数を確
認することができる。
表示領域１０ｂにある「中止」表示をマウスカーソル１
４で指示することで、処理を終了することができる。一
方、オペレータは、他のサンプルの表示点について検量
線および相関係数を知りたい場合には、例えば分布図表
示領域１２の強調された表示領域（斜線のない領域）と
強調されていない表示領域（斜線領域）との境目にある
境界線１６をマウスカーソル１４によって、ドラッグす
ることで、強調表示されている領域にあるサンプルだけ
を選択することができ、即座にその領域内にある表示点
だけの検量線を引き直す。演算処理部４は、これら選択
されたサンプルに基づく吸光度情報等に対して、ステッ
プＳ６からステップＳ８の処理を繰り返し行うことで、
希望するサンプルについての検量線および相関係数を確
認することができる。
【００３２】上述した分光光度計装置は、モニタ８に表
示されたサンプルに基づく分布図を視覚的に確認しなが
ら、希望するサンプルを選択することができるととも
に、選択したサンプルに対して直ちに検量線を設定し、
この検量線とサンプルの情報との相関係数を表示する。
したがって、オペレータは、分布図上の全てのサンプル
の情報と、希望するサンプルにだけ対応する検量線とを
容易に比較観察することができるので、全てのサンプル
の状態を正確、かつ、迅速に把握することができる。
示されたサンプルに基づく分布図を視覚的に確認しなが
ら、希望するサンプルを選択することができるととも
に、選択したサンプルに対して直ちに検量線を設定し、
この検量線とサンプルの情報との相関係数を表示する。
したがって、オペレータは、分布図上の全てのサンプル
の情報と、希望するサンプルにだけ対応する検量線とを
容易に比較観察することができるので、全てのサンプル
の状態を正確、かつ、迅速に把握することができる。
【００３３】この発明は以下のように変形実施すること
が可能である。 （１）上述した実施例では、この発明の計測情報取扱手
段として、分光光度計部１で得られた計測情報を収集す
る計測情報収集部２としたが、例えば、計測情報が磁気
ディスク等の記憶媒体に記憶されている場合には、この
磁気ディスクから計測情報等を読みだす磁気ディスクド
ライブ装置を計測情報取得手段としてもよい。
が可能である。 （１）上述した実施例では、この発明の計測情報取扱手
段として、分光光度計部１で得られた計測情報を収集す
る計測情報収集部２としたが、例えば、計測情報が磁気
ディスク等の記憶媒体に記憶されている場合には、この
磁気ディスクから計測情報等を読みだす磁気ディスクド
ライブ装置を計測情報取得手段としてもよい。
【００３４】（２）上述した実施例では、分布図表示領
域１１上の表示点Ｓ1 〜Ｓ8 の表示されている領域を、
他の表示点Ｓ9 〜Ｓ11が表示されている領域に比べて、
強調された表示にしたが、例えば、分布図表示領域１１
の強調させた表示に連動させて、情報表示領域１１のサ
ンプルＳ1 〜Ｓ8 の情報が表示されている領域も強調し
て表示することもできる。また、選択されたサンプルの
表示点および情報の表示を強調表示してもよい。
域１１上の表示点Ｓ1 〜Ｓ8 の表示されている領域を、
他の表示点Ｓ9 〜Ｓ11が表示されている領域に比べて、
強調された表示にしたが、例えば、分布図表示領域１１
の強調させた表示に連動させて、情報表示領域１１のサ
ンプルＳ1 〜Ｓ8 の情報が表示されている領域も強調し
て表示することもできる。また、選択されたサンプルの
表示点および情報の表示を強調表示してもよい。
【００３５】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
１に記載の発明によれば、複数個の計測情報の中から希
望する計測情報を選択することができ、この選択された
計測情報に基づき検量線を設定するとともに、この検量
線と選択された計測情報とから相関係数を算出し、これ
らを表示手段に表示しているので、希望する計測情報と
検量線とを視覚的に確認することができるとともに、相
関係数によって客観的に確認することができる。したが
って、複数個の計測情報を希望する計測情報ごとに分け
て細かく把握することで、複数個の計測情報全体を正確
に確認することができる。また、従来のように計測情報
を一々消去する手間を無くすことができ、作業効率を向
上することができる。
１に記載の発明によれば、複数個の計測情報の中から希
望する計測情報を選択することができ、この選択された
計測情報に基づき検量線を設定するとともに、この検量
線と選択された計測情報とから相関係数を算出し、これ
らを表示手段に表示しているので、希望する計測情報と
検量線とを視覚的に確認することができるとともに、相
関係数によって客観的に確認することができる。したが
って、複数個の計測情報を希望する計測情報ごとに分け
て細かく把握することで、複数個の計測情報全体を正確
に確認することができる。また、従来のように計測情報
を一々消去する手間を無くすことができ、作業効率を向
上することができる。
【００３６】請求項２に記載の発明によれば、選択され
た計測情報だけが強調して表示されるので、選択した計
測情報の範囲を視覚的に容易に確認することができる。
た計測情報だけが強調して表示されるので、選択した計
測情報の範囲を視覚的に容易に確認することができる。
【図１】実施例に係る計測情報処理装置の概略構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図２】実施例に係る計測情報処理装置で行われる処理
手順を示すフローチャートである。
手順を示すフローチャートである。
【図３】実施例においてステップＳ４で表示されるモニ
タ画面を示す模式図である。
タ画面を示す模式図である。
【図４】実施例のモニタ画面上におけるマウスカーソル
での操作を示す図である。
での操作を示す図である。
【図５】従来の計測情報処理装置で表示されるモニタ画
面を示す模式図である。
面を示す模式図である。
１ … 分光光度計部 ２ … 計測情報収集部 ３ … 吸光度変換部 ４ … 演算処理部 ５ … メモリ ６ … マウス ７ … 出力制御部 ８ … モニタ ９ … プリンタ １０ … モニタ画面 １１ … 情報表示領域 １２ … 分布図表示領域 １３ … 相関係数表示領域 １４ … マウスカーソル １５ … 検量線
Claims (2)
- 【請求項１】 複数個の試料を計測して得られる複数個
の計測情報に対して最小自乗処理を施すことで検量線を
設定するとともに、この検量線と前記複数個の計測情報
とに基づいて相関係数を算出し、これら検量線と相関係
数と前記複数個の計測情報に基づく分布図とを所定の表
示領域に表示する計測情報処理装置であって、（ａ）複
数個の試料を計測して得られる複数個の計測情報を取得
する計測情報取得手段と、（ｂ）前記複数個の計測情報
の中から任意の計測情報を選択する選択指示手段と、
（ｃ）前記選択された計測情報に対して最小自乗処理を
施すことで、検量線を設定する検量線設定手段と、
（ｄ）前記検量線と前記選択された計測情報とから相関
係数を算出する相関係数算出手段と、（ｅ）前記複数個
の計測情報に基づく分布図と、前記検量線と、前記相関
係数とを所定の表示領域に表示する表示手段とを備えた
ことを特徴とする計測情報処理装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の計測情報処理装置にお
いて、前記表示手段は、前記所定の表示領域に表示する
分布図における前記選択された計測情報が表示されてい
る領域だけを強調して表示することを特徴とする計測情
報処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9276798A JPH11118708A (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 計測情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9276798A JPH11118708A (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 計測情報処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11118708A true JPH11118708A (ja) | 1999-04-30 |
Family
ID=17574536
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9276798A Pending JPH11118708A (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 計測情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11118708A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007187594A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Yokogawa Electric Corp | 検量線補正方法 |
| JP2008256546A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 多段検量線作成方法、および分析装置 |
| JP2010066032A (ja) * | 2008-09-09 | 2010-03-25 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計 |
| WO2019167224A1 (ja) * | 2018-03-01 | 2019-09-06 | 株式会社島津製作所 | 分光分析制御装置、分光分析装置、分光分析制御方法および分光分析制御プログラム |
-
1997
- 1997-10-09 JP JP9276798A patent/JPH11118708A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007187594A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Yokogawa Electric Corp | 検量線補正方法 |
| JP2008256546A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 多段検量線作成方法、および分析装置 |
| JP2010066032A (ja) * | 2008-09-09 | 2010-03-25 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計 |
| WO2019167224A1 (ja) * | 2018-03-01 | 2019-09-06 | 株式会社島津製作所 | 分光分析制御装置、分光分析装置、分光分析制御方法および分光分析制御プログラム |
| CN111670347A (zh) * | 2018-03-01 | 2020-09-15 | 株式会社岛津制作所 | 分光分析控制装置、分光分析装置、分光分析控制方法以及分光分析控制程序 |
| JPWO2019167224A1 (ja) * | 2018-03-01 | 2021-02-04 | 株式会社島津製作所 | 分光分析制御装置、分光分析装置、分光分析制御方法および分光分析制御プログラム |
| US11009393B2 (en) | 2018-03-01 | 2021-05-18 | Shimadzu Corporation | Spectroscopic analysis control device, spectroscopic analysis device, spectroscopic analysis control method, and spectroscopic analysis control program |
| EP3760988A4 (en) * | 2018-03-01 | 2021-10-20 | Shimadzu Corporation | CONTROL DEVICE FOR SPECTROSCOPIC ANALYSIS, DEVICE FOR SPECTROSCOPIC ANALYSIS, METHOD FOR SPECTROSCOPIC ANALYSIS, CONTROL METHOD FOR SPECTROSCOPIC ANALYSIS AND CONTROL PROGRAM FOR SPECTROSCOPIC ANALYSIS |
| CN111670347B (zh) * | 2018-03-01 | 2023-02-17 | 株式会社岛津制作所 | 分光分析控制装置、分光分析装置、分光分析控制方法以及分光分析控制程序 |
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