JPH11111187A - 陰極線管の製造における補正方法 - Google Patents
陰極線管の製造における補正方法Info
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- JPH11111187A JPH11111187A JP9272845A JP27284597A JPH11111187A JP H11111187 A JPH11111187 A JP H11111187A JP 9272845 A JP9272845 A JP 9272845A JP 27284597 A JP27284597 A JP 27284597A JP H11111187 A JPH11111187 A JP H11111187A
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- H01J2229/075—Beam passing apertures, e.g. geometrical arrangements
- H01J2229/0755—Beam passing apertures, e.g. geometrical arrangements characterised by aperture shape
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- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 陰極線管におけるパネル内面と色選別機構間
の距離の高精度の補正を可能にする。 【解決手段】 陰極線管のパネル内面と色選別機構間の
距離を補正するための補正方法であって、色選別機構を
支持するパネルピン１５と同一形状の雌型加工用電極２
１を用い、上記距離の補正量に応じてパネルピン１５の
中心軸２２と雌型加工用電極２１の中心軸２３を偏芯さ
せ、雌型加工用電極２１による放電加工でパネルピン１
５の片面を削るようにする。
の距離の高精度の補正を可能にする。 【解決手段】 陰極線管のパネル内面と色選別機構間の
距離を補正するための補正方法であって、色選別機構を
支持するパネルピン１５と同一形状の雌型加工用電極２
１を用い、上記距離の補正量に応じてパネルピン１５の
中心軸２２と雌型加工用電極２１の中心軸２３を偏芯さ
せ、雌型加工用電極２１による放電加工でパネルピン１
５の片面を削るようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、陰極線管の製造に
おける補正方法に関する。より詳しくは、パネル内面と
色選別機構との間の距離、即ち、いわゆるグリルハイト
ＧＨを高精度に制御するための補正方法に関する。
おける補正方法に関する。より詳しくは、パネル内面と
色選別機構との間の距離、即ち、いわゆるグリルハイト
ＧＨを高精度に制御するための補正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】テレビジョン受像機やコンピューターデ
ィスプレイ装置等に用いられるカラー陰極線管において
は、パネル内面のカラー蛍光面に対向してアパーチャグ
リル、或いはシャドウマスクと称される色選別機構が配
される。パネル内面と色選別機構との間の距離、いわゆ
るグリルハイトＧＨは、電子ビームの蛍光体層へのラン
ディング、センタービームとサイドビームとのランディ
ング間隔、蛍光体層作成時（いわゆる露光時）の色選別
機構の電子ビーム透過孔における回折現象（フレネル回
折）による光の強度分布、等に大きく影響を及ぼす。こ
のため、カラー陰極線管の高精細化が進むにつれてグリ
ルハイトＧＨの精度はより高いものが要求されることに
なる。
ィスプレイ装置等に用いられるカラー陰極線管において
は、パネル内面のカラー蛍光面に対向してアパーチャグ
リル、或いはシャドウマスクと称される色選別機構が配
される。パネル内面と色選別機構との間の距離、いわゆ
るグリルハイトＧＨは、電子ビームの蛍光体層へのラン
ディング、センタービームとサイドビームとのランディ
ング間隔、蛍光体層作成時（いわゆる露光時）の色選別
機構の電子ビーム透過孔における回折現象（フレネル回
折）による光の強度分布、等に大きく影響を及ぼす。こ
のため、カラー陰極線管の高精細化が進むにつれてグリ
ルハイトＧＨの精度はより高いものが要求されることに
なる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、グリルハイ
トＧＨの精度には、色選別機構を支持するためのパネル
ピン（金属ピン）をパネルに埋め込む際の埋め込み誤
差、色選別機構への支持スプリングの取り付け誤差が最
も影響する。これまで、パネルピン埋め込み誤差につい
ては、支持スプリング溶接時に補正する技術（いわゆる
マリッジスプリング溶接法）が確立されているが、この
方法でも、グリルハイトＧＨの精度を±０．１５ｍｍ以
下に制御することは難しく、カラー蛍光面、色選別機構
等のファインピッチ化にも限界があった。また、従来
は、グリルハイトＧＨの補正に関しても、パネル及び色
選別機構の完成後に、グリルハイトＧＨを修正する手段
を持たなかった。
トＧＨの精度には、色選別機構を支持するためのパネル
ピン（金属ピン）をパネルに埋め込む際の埋め込み誤
差、色選別機構への支持スプリングの取り付け誤差が最
も影響する。これまで、パネルピン埋め込み誤差につい
ては、支持スプリング溶接時に補正する技術（いわゆる
マリッジスプリング溶接法）が確立されているが、この
方法でも、グリルハイトＧＨの精度を±０．１５ｍｍ以
下に制御することは難しく、カラー蛍光面、色選別機構
等のファインピッチ化にも限界があった。また、従来
は、グリルハイトＧＨの補正に関しても、パネル及び色
選別機構の完成後に、グリルハイトＧＨを修正する手段
を持たなかった。
【０００４】本発明は、上述の点に鑑み、パネル及び色
選別機構間の距離（いわゆるグリルハイトＧＨ）の精度
の向上を図り、超ファインピッチ化を可能にした陰極線
管の製造における補正方法を提供するものである。
選別機構間の距離（いわゆるグリルハイトＧＨ）の精度
の向上を図り、超ファインピッチ化を可能にした陰極線
管の製造における補正方法を提供するものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明に係る陰極線管の
製造における補正方法は、色選別機構を支持するパネル
ピンと同一形状の雌型加工用電極を用い、パネル内面と
色選別機構間の距離の補正量に応じて、雌型加工用電極
を偏芯させて放電加工でパネルピンの片面を削るように
する。
製造における補正方法は、色選別機構を支持するパネル
ピンと同一形状の雌型加工用電極を用い、パネル内面と
色選別機構間の距離の補正量に応じて、雌型加工用電極
を偏芯させて放電加工でパネルピンの片面を削るように
する。
【０００６】パネル内面と色選別機構間の距離の補正量
に応じて放電加工でパネルピンの片面を削ることによ
り、パネル内面と色選別機構間の距離を微調整すること
ができ、パネル内面と色選別機構間の距離の精度を上げ
ることができる。
に応じて放電加工でパネルピンの片面を削ることによ
り、パネル内面と色選別機構間の距離を微調整すること
ができ、パネル内面と色選別機構間の距離の精度を上げ
ることができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明に係る陰極線管の製造にお
ける補正方法は、陰極線管のパネル内面と色選別機構間
の距離を補正するための補正方法であって、色選別機構
を支持するパネルピンと同一形状の雌型加工用電極を用
い、前記距離の補正量に応じてパネルピンの中心軸と雌
型加工用電極の中心軸を偏芯させ、雌型加工用電極によ
る放電加工でパネルピンの片面を削るようにする。
ける補正方法は、陰極線管のパネル内面と色選別機構間
の距離を補正するための補正方法であって、色選別機構
を支持するパネルピンと同一形状の雌型加工用電極を用
い、前記距離の補正量に応じてパネルピンの中心軸と雌
型加工用電極の中心軸を偏芯させ、雌型加工用電極によ
る放電加工でパネルピンの片面を削るようにする。
【０００８】以下、図面を参照して本発明の実施の形態
を説明する。
を説明する。
【０００９】図６〜図９は、本発明に適用される陰極線
管を構成する色選別機構、本例ではアパーチャグリルと
称される色選別機構及びこの色選別機構を内側で支持す
るパネルの構成を示す。色選別機構１は、図９に示すよ
うに、１対の相対向する支持部材３及び４と、両支持部
材３及び４の端部間に差し渡された１対の弾性付与部材
５及び６とからなる枠状の金属フレーム７が設けられ、
このフレーム７の支持部材３及び４間に一方向、即ち画
面水平方向に沿って多数のスリット状の電子ビーム透過
孔８を有するマスク部材、即ち色選別用電極薄板１０が
架張されて成る。色選別用電極薄板１０は、金属薄板か
らなり、多数の細い帯状のグリッド素体９を上記一方向
に所定ピッチで配列し、各隣り合うグリッド素体９間に
画面垂直方向に長いスリット状の電子ビーム透過孔８を
形成して構成され、弾性付与部材５及び６によってグリ
ッド素体９が所定張力をもって支持部材３及び４間に架
張される。
管を構成する色選別機構、本例ではアパーチャグリルと
称される色選別機構及びこの色選別機構を内側で支持す
るパネルの構成を示す。色選別機構１は、図９に示すよ
うに、１対の相対向する支持部材３及び４と、両支持部
材３及び４の端部間に差し渡された１対の弾性付与部材
５及び６とからなる枠状の金属フレーム７が設けられ、
このフレーム７の支持部材３及び４間に一方向、即ち画
面水平方向に沿って多数のスリット状の電子ビーム透過
孔８を有するマスク部材、即ち色選別用電極薄板１０が
架張されて成る。色選別用電極薄板１０は、金属薄板か
らなり、多数の細い帯状のグリッド素体９を上記一方向
に所定ピッチで配列し、各隣り合うグリッド素体９間に
画面垂直方向に長いスリット状の電子ビーム透過孔８を
形成して構成され、弾性付与部材５及び６によってグリ
ッド素体９が所定張力をもって支持部材３及び４間に架
張される。
【００１０】フレーム７の外側には、３ヵ所又は４ヵ
所、本例では両支持部材３，４と両弾性付与部材５，６
の４ヵ所にスプリングホルダ１２が溶接され、各スプリ
ングホルダ１２に支持スプリング１３〔１３Ａ，１３
Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄ〕が溶接される。支持スプリング１
３〔１３Ａ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄ〕先端にはパネル
側のパネルピンに係合されるピン孔１４〔１４Ａ，１４
Ｂ，１４Ｃ，１４Ｄ〕が形成されている。ピン孔１４
は、三角形の各頂部をカットしたような形状をなしてい
る。
所、本例では両支持部材３，４と両弾性付与部材５，６
の４ヵ所にスプリングホルダ１２が溶接され、各スプリ
ングホルダ１２に支持スプリング１３〔１３Ａ，１３
Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄ〕が溶接される。支持スプリング１
３〔１３Ａ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄ〕先端にはパネル
側のパネルピンに係合されるピン孔１４〔１４Ａ，１４
Ｂ，１４Ｃ，１４Ｄ〕が形成されている。ピン孔１４
は、三角形の各頂部をカットしたような形状をなしてい
る。
【００１１】パネル２は、図６及び図７に示すように、
スカート部の内側に夫々支持スプリング１３〔１３Ａ，
１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄ〕のピン孔１４〔１４Ａ，１４
Ｂ，１４Ｃ，１４Ｄ〕に係合可能なパネルピン（即ち金
属ピン）１５〔１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃ，１５Ｄ〕が埋
め込まれている。パネルピン１５は、ピン孔１４と嵌合
する部分が截頭円錐形をなしている（図８参照）。
スカート部の内側に夫々支持スプリング１３〔１３Ａ，
１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄ〕のピン孔１４〔１４Ａ，１４
Ｂ，１４Ｃ，１４Ｄ〕に係合可能なパネルピン（即ち金
属ピン）１５〔１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃ，１５Ｄ〕が埋
め込まれている。パネルピン１５は、ピン孔１４と嵌合
する部分が截頭円錐形をなしている（図８参照）。
【００１２】色選別機構１のパネル２への取り付けは、
色選別機構１の表面とパネル２の内面との間のグリルハ
イトＧＨ（図７参照）が全画面で規格内に入るように支
持スプリング１３〔１３Ａ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄ〕
の各基部をスプリングホルダ１２に溶接し、この支持ス
プリング１３〔１３Ａ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄ〕のピ
ン孔１４〔１４Ａ，１４Ｂ，１４Ｃ，１４Ｄ〕をパネル
ピン１５〔１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃ，１５Ｄ〕に嵌合さ
せることで行われ、色選別機構１がパネル２の内側で支
持される。
色選別機構１の表面とパネル２の内面との間のグリルハ
イトＧＨ（図７参照）が全画面で規格内に入るように支
持スプリング１３〔１３Ａ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄ〕
の各基部をスプリングホルダ１２に溶接し、この支持ス
プリング１３〔１３Ａ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄ〕のピ
ン孔１４〔１４Ａ，１４Ｂ，１４Ｃ，１４Ｄ〕をパネル
ピン１５〔１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃ，１５Ｄ〕に嵌合さ
せることで行われ、色選別機構１がパネル２の内側で支
持される。
【００１３】パネルピン１５とピン孔１４とは、図８に
示すように、截頭円錐形のパネルピン１５に対してピン
孔１４の３辺が点Ｐ1 ，Ｐ2 ，Ｐ3 で点接触して嵌合さ
れる。
示すように、截頭円錐形のパネルピン１５に対してピン
孔１４の３辺が点Ｐ1 ，Ｐ2 ，Ｐ3 で点接触して嵌合さ
れる。
【００１４】グリルハイトＧＨの測定点は、本実施の形
態ではパネル２及び色選別機構１に対して図１０に示す
ように、四隅寄りの部分に対応した４点Ｚ1 ，Ｚ2 ，Ｚ
3 及びＺ4 とする。グリルハイトＧＨの測定は、例えば
基準位置からのパネル２内面までの距離ＨP と、基準位
置からの色選別機構１の表面までの距離ＨA を測定し、
その差、ＧＨ＝ＨP −ＨAで求める方法、或いはパネル
２に色選別機構１を組み込んだ状態で、直接グリルハイ
トＧＨを測定する方法等がある。
態ではパネル２及び色選別機構１に対して図１０に示す
ように、四隅寄りの部分に対応した４点Ｚ1 ，Ｚ2 ，Ｚ
3 及びＺ4 とする。グリルハイトＧＨの測定は、例えば
基準位置からのパネル２内面までの距離ＨP と、基準位
置からの色選別機構１の表面までの距離ＨA を測定し、
その差、ＧＨ＝ＨP −ＨAで求める方法、或いはパネル
２に色選別機構１を組み込んだ状態で、直接グリルハイ
トＧＨを測定する方法等がある。
【００１５】そして、本実施の形態のグリルハイトの補
正方法は、パネル２内に色選別機構１を支持して組み立
てた状態でのグリルハイトＧＨを、各測定点Ｚ1 〜Ｚ4
において測定し、その測定データを基にグリルハイトＧ
Ｈの設計値からの誤差のうち、パネル２内面に対する色
選別機構１の平面移動相当分（図４参照）について、パ
ネルピン１５を削り加工して補正（即ち、微調整）する
ようになす。パネルピン１５に対する削り加工は、放電
加工を用いる。
正方法は、パネル２内に色選別機構１を支持して組み立
てた状態でのグリルハイトＧＨを、各測定点Ｚ1 〜Ｚ4
において測定し、その測定データを基にグリルハイトＧ
Ｈの設計値からの誤差のうち、パネル２内面に対する色
選別機構１の平面移動相当分（図４参照）について、パ
ネルピン１５を削り加工して補正（即ち、微調整）する
ようになす。パネルピン１５に対する削り加工は、放電
加工を用いる。
【００１６】即ち、図２Ａ，Ｂに示すようにパネルピン
１５の截頭円錐形と同一形状の凹部２１ａを有する雌型
加工用電極２１を用意する。パネルピン１５の放電加工
に際しては、グリルハイトＧＨの補正量に応じて同図示
のようにパネルピン１５の中心軸２２と雌型加工用電極
２１の中心軸２３をグリルハイトＧＨの補正方向に偏芯
させる。即ち放電加工量ｔだけ偏芯させる。その状態
で、パネルピン１５と雌型加工用電極２１間にパネルピ
ン１５側をアースとする所定電圧を印加しながら、雌型
加工用電極をその電極凹部がパネルピン１５に挿入され
るように移動する。これによって、雌型加工用電極２１
と接触するパネルピン１５の上下いずれかの片面、図２
Ｂでは上側の片面が放電加工により削られる。反対面は
放電加工されない。
１５の截頭円錐形と同一形状の凹部２１ａを有する雌型
加工用電極２１を用意する。パネルピン１５の放電加工
に際しては、グリルハイトＧＨの補正量に応じて同図示
のようにパネルピン１５の中心軸２２と雌型加工用電極
２１の中心軸２３をグリルハイトＧＨの補正方向に偏芯
させる。即ち放電加工量ｔだけ偏芯させる。その状態
で、パネルピン１５と雌型加工用電極２１間にパネルピ
ン１５側をアースとする所定電圧を印加しながら、雌型
加工用電極をその電極凹部がパネルピン１５に挿入され
るように移動する。これによって、雌型加工用電極２１
と接触するパネルピン１５の上下いずれかの片面、図２
Ｂでは上側の片面が放電加工により削られる。反対面は
放電加工されない。
【００１７】最初にパネル２内に色選別機構１を組み込
んだ状態では、図３Ａに示すように、互に嵌合している
截頭円錐形のパネルピン１５の中心とパネルピン１５に
嵌合した支持スプリング１３のピン孔１４の中心とは一
致している。この截頭円錐形のパネルピン１５に対し
て、截頭円錐形の凹部２１ａを有する雌型加工用電極２
１をシフトさせて放電加工を施すと、図３Ｂに示すよう
に、上下で截頭円錐形の中心軸が符号２２から符号２３
へシフトした状態となる。
んだ状態では、図３Ａに示すように、互に嵌合している
截頭円錐形のパネルピン１５の中心とパネルピン１５に
嵌合した支持スプリング１３のピン孔１４の中心とは一
致している。この截頭円錐形のパネルピン１５に対し
て、截頭円錐形の凹部２１ａを有する雌型加工用電極２
１をシフトさせて放電加工を施すと、図３Ｂに示すよう
に、上下で截頭円錐形の中心軸が符号２２から符号２３
へシフトした状態となる。
【００１８】この放電加工を施したパネルピン１５に支
持スプリング１３のピン孔１４を嵌合させると、図３Ｂ
に示すように、截頭円錐形の中心軸のシフト分、即ち放
電加工量ｔの１／２に相当した分、支持スプリング１３
の嵌合中心２４がシフトする。従って、グリルハイトＧ
Ｈの設計値からの誤差のうち、パネル２に対する色選別
機構１の平面移動相当分のいずれについては、４個のパ
ネルピン１５〔１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃ，１５Ｄ〕をそ
の補正量に応じて上側又は下側の片面を放電加工で削る
ことにより、補正できる。
持スプリング１３のピン孔１４を嵌合させると、図３Ｂ
に示すように、截頭円錐形の中心軸のシフト分、即ち放
電加工量ｔの１／２に相当した分、支持スプリング１３
の嵌合中心２４がシフトする。従って、グリルハイトＧ
Ｈの設計値からの誤差のうち、パネル２に対する色選別
機構１の平面移動相当分のいずれについては、４個のパ
ネルピン１５〔１５Ａ，１５Ｂ，１５Ｃ，１５Ｄ〕をそ
の補正量に応じて上側又は下側の片面を放電加工で削る
ことにより、補正できる。
【００１９】例えば図４に示すように、パネルピン１５
Ａ〜１５Ｂの位置が色選別機構１のフレーム７の各辺の
中央に対応しているとし、各測定点Ｚ1 ，Ｚ2 ，Ｚ3 及
びＺ4 におけるグリルハイトＧＨの設計値からのずれ量
をｈ1 ，ｈ2 ，ｈ3 及びｈ4とすると、パネルピン１５
Ａ，１５Ｂ，１５Ｃ，１５Ｄの夫々の補正量ａ，ｂ，
ｃ，ｄは、 ａ＝１／２（ｈ1 ＋ｈ2 ） ｂ＝１／２（ｈ2 ＋ｈ3 ） ｃ＝１／２（ｈ1 ＋ｈ4 ） ｄ＝１／２（ｈ3 ＋ｈ4 ） となる。
Ａ〜１５Ｂの位置が色選別機構１のフレーム７の各辺の
中央に対応しているとし、各測定点Ｚ1 ，Ｚ2 ，Ｚ3 及
びＺ4 におけるグリルハイトＧＨの設計値からのずれ量
をｈ1 ，ｈ2 ，ｈ3 及びｈ4とすると、パネルピン１５
Ａ，１５Ｂ，１５Ｃ，１５Ｄの夫々の補正量ａ，ｂ，
ｃ，ｄは、 ａ＝１／２（ｈ1 ＋ｈ2 ） ｂ＝１／２（ｈ2 ＋ｈ3 ） ｃ＝１／２（ｈ1 ＋ｈ4 ） ｄ＝１／２（ｈ3 ＋ｈ4 ） となる。
【００２０】従ってパネルピン１５Ａ〜１５Ｄの加工量
ｔA ，ｔB ，ｔC 及びｔD は、 ｔA ＝２×ａ＝ｈ1 ＋ｈ2 ｔB ＝２×ｂ＝ｈ2 ＋ｈ3 ｔC ＝２×ｃ＝ｈ1 ＋ｈ4 ｔD ＝２×ｄ＝ｈ3 ＋ｈ4 となる。
ｔA ，ｔB ，ｔC 及びｔD は、 ｔA ＝２×ａ＝ｈ1 ＋ｈ2 ｔB ＝２×ｂ＝ｈ2 ＋ｈ3 ｔC ＝２×ｃ＝ｈ1 ＋ｈ4 ｔD ＝２×ｄ＝ｈ3 ＋ｈ4 となる。
【００２１】この加工量ｔA 〜ｔD にもとづいて各パネ
ルピン１５Ａ〜１５Ｄの片面を放電加工で削ることによ
り、図５に示すように平面移動相当分のずれが補正され
る。
ルピン１５Ａ〜１５Ｄの片面を放電加工で削ることによ
り、図５に示すように平面移動相当分のずれが補正され
る。
【００２２】図１は、本実施の形態の補正方法のフロー
チャートである。パネル２内に色選別機構１を組み込ん
だ状態での各測定点Ｚ1 〜Ｚ4 におけるグリルハイトＧ
Ｈを測定し、設計値からのずれ量ｈ1 ，ｈ2 ，ｈ3 ，ｈ
4 を求める（ステップＳ1 ）。このずれ量ｈ1 〜ｈ4 が
設計値の所定の公差範囲（例えば±５０μ）内にあるか
否かを判定する（ステップＳ2 ）。ずれ量ｈ1 〜ｈ4 が
所定の公差範囲内に入らないときには、色選別機構１を
外して、そのずれ量に応じた放電加工をパネルピン１５
に施し、微調整する（ステップＳ3 ）。微調整後、再び
ステップＳ1 でグリルハイトＧＨを測定し、ずれ量ｈ1
〜ｈ4を求める。ステップＳ2 でそのずれ量ｈ1 〜ｈ4
が所定の公差範囲内に入っていなければ再び放電加工が
施され（ステップＳ3 ）、所定の公差範囲内に入ってい
れば、良品として完成される（ステップＳ4 ）。
チャートである。パネル２内に色選別機構１を組み込ん
だ状態での各測定点Ｚ1 〜Ｚ4 におけるグリルハイトＧ
Ｈを測定し、設計値からのずれ量ｈ1 ，ｈ2 ，ｈ3 ，ｈ
4 を求める（ステップＳ1 ）。このずれ量ｈ1 〜ｈ4 が
設計値の所定の公差範囲（例えば±５０μ）内にあるか
否かを判定する（ステップＳ2 ）。ずれ量ｈ1 〜ｈ4 が
所定の公差範囲内に入らないときには、色選別機構１を
外して、そのずれ量に応じた放電加工をパネルピン１５
に施し、微調整する（ステップＳ3 ）。微調整後、再び
ステップＳ1 でグリルハイトＧＨを測定し、ずれ量ｈ1
〜ｈ4を求める。ステップＳ2 でそのずれ量ｈ1 〜ｈ4
が所定の公差範囲内に入っていなければ再び放電加工が
施され（ステップＳ3 ）、所定の公差範囲内に入ってい
れば、良品として完成される（ステップＳ4 ）。
【００２３】本実施の形態によれば、グリルハイトＧＨ
の精度を従来の公差±０．１５ｍｍ以下、例えば従来の
公差の半分以下に制御することができる。このため陰極
線管の超ファインピッチ化（例えば色選別機構の電子ビ
ーム透過孔８が０．２０ｍｍピッチ以下）の実現を可能
にする。
の精度を従来の公差±０．１５ｍｍ以下、例えば従来の
公差の半分以下に制御することができる。このため陰極
線管の超ファインピッチ化（例えば色選別機構の電子ビ
ーム透過孔８が０．２０ｍｍピッチ以下）の実現を可能
にする。
【００２４】なお、上例では色選別機構としてアパーチ
ャグリルを用いた陰極線管に適用したが、その他、シャ
ドウマスクを用いた陰極線管にも適用できる。
ャグリルを用いた陰極線管に適用したが、その他、シャ
ドウマスクを用いた陰極線管にも適用できる。
【００２５】
【発明の効果】本発明に係る補正方法によれば、パネル
内面と色選別機構間の距離ＧＨを高精度に制御すること
ができ、しかも、パネル及び色選別機構の完成後に、上
記距離ＧＨの修正が可能となる。従って、超高精細化
（いわゆる超ファインピッチ化）したカラー陰極線管の
実現を可能にする。
内面と色選別機構間の距離ＧＨを高精度に制御すること
ができ、しかも、パネル及び色選別機構の完成後に、上
記距離ＧＨの修正が可能となる。従って、超高精細化
（いわゆる超ファインピッチ化）したカラー陰極線管の
実現を可能にする。
【図１】本発明に係る陰極線管の製造における補正方法
のフローチャートである。
のフローチャートである。
【図２】Ａ，Ｂ 本発明の実施の形態に係るパネルピン
に対する放電加工の説明図である。
に対する放電加工の説明図である。
【図３】Ａ 放電加工前のパネルピンと支持スプリング
の嵌合状態を示す説明図である。 Ｂ パネルピンに対する放電加工後のパネルピンと支持
スプリングの嵌合状態を示す説明図である。
の嵌合状態を示す説明図である。 Ｂ パネルピンに対する放電加工後のパネルピンと支持
スプリングの嵌合状態を示す説明図である。
【図４】パネル内面と色選別機構間の距離のずれ量を示
す模式図である。
す模式図である。
【図５】本発明の補正方法でパネル内面と色選別機構間
の距離のずれ量が補正された状態の模式図である。
の距離のずれ量が補正された状態の模式図である。
【図６】パネル内に色選別機構が取り付けられた状態の
背面図である。
背面図である。
【図７】図６の断面図である。
【図８】パネルピンと支持スプリングの嵌合部分の要部
の平面図である。
の平面図である。
【図９】本発明の実施の形態に適用した色選別機構の斜
視図である。
視図である。
【図１０】パネルと色選別機構間の距離の測定点を示す
説明図である。
説明図である。
１…色選別機構、２…パネル、３，４…弾性付与部材、
７…フレーム、８…電子ビーム透過孔、９…グリッド素
体、１０…色選別用電極薄膜、１３〔１３Ａ，１３Ｂ，
１３Ｃ，１３Ｄ〕…支持スプリング、１４〔１４Ａ，１
４Ｂ，１４Ｃ，１４Ｄ〕…ピン孔、１５〔１５Ａ，１５
Ｂ，１５Ｃ，１５Ｄ〕…パネルピン、２１…雌型加工用
電極、２２…パネルピンの中心軸、２３…雌型加工用電
極の中心軸、Ｚ1 〜Ｚ4 …グリルハイトの測定点、ｈ1
〜ｈ4 …グリルハイトの設計値からのずれ量、ｔA 〜ｔ
D …パネルピンに対する加工量
７…フレーム、８…電子ビーム透過孔、９…グリッド素
体、１０…色選別用電極薄膜、１３〔１３Ａ，１３Ｂ，
１３Ｃ，１３Ｄ〕…支持スプリング、１４〔１４Ａ，１
４Ｂ，１４Ｃ，１４Ｄ〕…ピン孔、１５〔１５Ａ，１５
Ｂ，１５Ｃ，１５Ｄ〕…パネルピン、２１…雌型加工用
電極、２２…パネルピンの中心軸、２３…雌型加工用電
極の中心軸、Ｚ1 〜Ｚ4 …グリルハイトの測定点、ｈ1
〜ｈ4 …グリルハイトの設計値からのずれ量、ｔA 〜ｔ
D …パネルピンに対する加工量
Claims (1)
- 【請求項１】 陰極線管におけるパネル内面と色選別機
構間の距離を補正するための補正方法であって、 前記色選別機構を支持するパネルピンと同一形状の雌型
加工用電極を用い、 前記距離の補正量に応じて前記パネルピンの中心軸と前
記雌型加工用電極の中心軸を偏芯させ、 前記雌型加工用電極による放電加工で前記パネルピンの
片面を削ることを特徴とする陰極線管の製造における補
正方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9272845A JPH11111187A (ja) | 1997-10-06 | 1997-10-06 | 陰極線管の製造における補正方法 |
| US09/165,339 US6022257A (en) | 1997-10-06 | 1998-10-02 | Method of correcting grill height spacing of a cathode-ray tube |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9272845A JPH11111187A (ja) | 1997-10-06 | 1997-10-06 | 陰極線管の製造における補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11111187A true JPH11111187A (ja) | 1999-04-23 |
Family
ID=17519584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9272845A Pending JPH11111187A (ja) | 1997-10-06 | 1997-10-06 | 陰極線管の製造における補正方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6022257A (ja) |
| JP (1) | JPH11111187A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10044925C2 (de) * | 2000-09-12 | 2002-12-12 | Schott Glas | Verfahren zur Herstellung von Bildschirmen mit Maskenbefestigungs-Pins |
| CN1254840C (zh) * | 2001-01-18 | 2006-05-03 | 松下电器产业株式会社 | 彩色显像管的组装方法和组装装置 |
| US20050070195A1 (en) * | 2001-12-20 | 2005-03-31 | Theelen Gerardus Wilhelmus Maria | Method for providing a glass panel of a color display tube with suspension pins |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4267624A (en) * | 1979-10-22 | 1981-05-19 | Owens-Illinois, Inc. | Method of placing mask mounting pins in a CRT faceplate |
| US4979920A (en) * | 1989-08-23 | 1990-12-25 | Thomson Consumer Electronics, Inc. | System for measuring Q spacing in a kinescope panel |
-
1997
- 1997-10-06 JP JP9272845A patent/JPH11111187A/ja active Pending
-
1998
- 1998-10-02 US US09/165,339 patent/US6022257A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6022257A (en) | 2000-02-08 |
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