JPH11108898A - 電子捕獲型検出器 - Google Patents
電子捕獲型検出器Info
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- JPH11108898A JPH11108898A JP9287946A JP28794697A JPH11108898A JP H11108898 A JPH11108898 A JP H11108898A JP 9287946 A JP9287946 A JP 9287946A JP 28794697 A JP28794697 A JP 28794697A JP H11108898 A JPH11108898 A JP H11108898A
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- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
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- G01N30/70—Electron capture detectors
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Abstract
に補正し、常に正しい測定結果を出力できるようにす
る。 【解決手段】 検出セル12を洗浄した直後の状態で、
所定の設定電流に対応するパルス周波数の値f00をメモ
リ21に記憶させておく。試料を分析する際は、各試料
を検出セル12に導入する前に、まず、同じ設定電流に
対応する周波数(測定前周波数)f0を同様にメモリ2
1に記憶させておく。試料を検出セル12に導入した後
に測定される同周波数fの値からクロマトグラムを作成
し又は試料の濃度を算出する際、周波数記憶手段に記憶
された上記2種の周波数の値を用いる。
Description
フ装置等の検出器として用いられる電子捕獲形検出器
(以下、ECD(=Electron Capture Detector)と呼
ぶ)に関する。
は種々のものが実用化されているが、その中で、ECD
はハロゲン化合物やニトロ化合物等の親電子性化合物の
測定に有用である。このため、有機水銀、農薬、PCB
等の残留測定、或いは、ステロイドやアミノ酸等を親電
子性の誘導体に変換しての極微量測定等に利用されてい
る。
セル内に63Ni等の放射性同位元素を封入しておき、検
出セルにキャリアガスを導入して、放射線によりキャリ
アガス分子をイオン化して電子(自由電子)を放出させ
る。検出セル内に配置された電極(陽極)に電圧を印加
すると、定常状態では、この自由電子により電極に一定
量の電流が流れる。
するとともに、このパルス電圧により電極に流れるパル
ス電流と所定の設定電流ISとの差を積分器に入力す
る。これにより、積分器の出力には、パルス電流の平均
値(単位時間当たりのパルス電流)と設定電流ISとの
差に応じた電圧が現われる。この積分器の出力を電圧/
周波数(V/F)変換器に入力し、上記両電流の差に応
じた周波数のパルス信号を出力させて、これに基づいて
電極へのパルス電圧を生成する。これにより、定常状態
で電極に印加されるパルス電圧の周波数fは、設定電流
ISに応じた値となる。
ると、その分子はキャリアガスから放出された自由電子
を吸収して自由電子の密度を減少させる。自由電子を吸
収した電子捕獲性物質の負イオンは自由電子よりも遙か
に移動速度が低いため、自由電子の減少により電極に流
れる電流は減少する。すると、積分器の出力電圧が大き
くなり、V/F変換器の出力のパルス信号の周波数fは
上昇する。すなわち、1個のパルス電圧で取り込まれる
電子数の減少を補うべく、単位時間当たりに発生するパ
ルス数が増加する。
とは、次のような関係を有することが知られている(例
えば、R.J.Maggs, et al., "The Electron Capture Det
ector−A New Mode of Operation", ANALYTICAL CHEMIS
TRY, VOL.43, NO.14, DECEMBER 1971, p.1967)。 K・f=(k1・a+KD) (K、k1、KD:定数) (1) 従って、a=0の状態、すなわち検出セルに電子捕獲性
物質を導入しない状態、からのパルス周波数の変化Δf
は、 Δf=f−f0=(k1・a+KD)/K−KD/K =(k1/K)・a (2) と、濃度aに比例する。すなわち、試料の濃度aは周波
数fの変化Δfより、 a=Δf/(k1/K) (3) と算出することができる。なお、(k1/K)の値は予
め実験により求めておく。
は、パルス周波数fの変化に応じたものとなるから、こ
の検出電圧Vを時間経過に従って記録することにより、
目的とする電子捕獲性物質の濃度に関するクロマトグラ
ムが得られる。
電極及び検出セル内部が試料で汚れてくると、電流が流
れにくくなり、周波数fが増加してくる。このため、同
一試料で測定を行なっても測定結果が経時的に変化する
という問題が生ずる。一方、ECDは上記の通り放射性
同位元素を用いるため、検出セル内部の洗浄には専門の
技術が必要であり、容易に洗浄を行なうことができない
という制約がある。
成されたものであり、その目的とするところは、検出セ
ル内部の汚染等による経時変化を適切に補正し、常に正
しい測定結果を出力することのできるECDを提供する
ことにある。
に成された本発明に係る電子捕獲型検出器は、 a)検出セル内に導入されたキャリアガスをイオン化し、
電子を放出させる電子放出手段と、 b)所定の電流値を設定する電流値設定手段と、 c)検出セル内に設けられた電極にパルス電圧を印加する
とともに、上記電子による電流が所定値となるようにパ
ルス電圧の周波数を制御するパルス制御手段と、 d)検出セルの初期状態における上記周波数の値と、試料
分析の際に試料を検出セルに導入する前の上記周波数の
値とを記憶する周波数記憶手段と、を備えることを特徴
としている。
った直後の、検出セルが清浄な状態(これらを初期状態
と呼ぶ)において、まず、所定電流値に対応するパルス
周波数f00を測定し、この値(初期周波数)を周波数記
憶手段に記憶させておく。
のパルス周波数f0を測定し、この値(測定前周波数)
も周波数記憶手段に記憶させる。周波数記憶手段に記憶
させたこれらの値は、いくつかの使用方法がある。
により経時的に変化する検出器の特性を自動的に補正し
て、常に正しい検出値を算出するために用いることがで
きる。すなわち、分析試料を注入した後のパルス周波数
fを用いて試料の濃度aを上記式(3)により算出する
際、この値fの代わりに、周波数記憶手段に記憶されて
いる値f00及びf0を用いて補正した値f1を用いる。具
体的には、 f1=f・(f00/f0) (4) と算出した値f1を用いて、濃度aを a=Δf/k1=(f1−f0)/k1 (5) と算出する。又は、f00、f0、fの値を用いて直接、 a={f・(f00/f0)−f0}/k1 (6) と算出してもよい。
次の通りである。ECD内が汚れると、式(1)の定数
KがK1に変化する。 K1・f=(k1・a+KD) (K1、k1、KD:定数) (1b) a=0のときの周波数は、検出セルが清浄な状態(初期
状態)では式(1)により f00=KD/K であるが、検出セルが汚れている時には式(1b)によ
り f0 =KD/K1 となる。従って、 f00/f0=K1/K (7) となる。検出セルが汚れているとき、式(2)より Δf'=f'−f0=(k1/K1)・a =(f0/f00)・(k1/K)・a =(f0/f00)・Δf (8) となる。従って、式(5)、(6)で示したように、f
の代わりにf1=f・(f0/f00)を用いることにより、
常に同一の式で試料の濃度aを算出することができる。
に応じて検出値を補正するのではなく、逆に感度を一定
とするようにする方法である。すなわち、測定前周波数
f0が常に初期周波数f00に一致するように、設定電流
値の方を変化させる。なお、このように検出値を補正す
る方法と設定電流値を変化させる方法とは、適宜切り替
えられるようにしておくこともできる。
の都度初期周波数f00と比較し、検出器の汚染度合いを
判断することである。例えば、両値の差又は比が所定値
以上になった場合に警報を出し、セルの交換を促すよう
に構成することができる。
染等で検出セルの状態が変化した場合にも、常に正しい
濃度を検出することができる。また、周波数記憶手段に
記憶されている周波数の値の変化により検出セルの汚れ
の程度を知ることができるため、洗浄の必要性を適切に
判断し、警告することができる。
一実施例を図1を参照して説明する。ガスクロマトグラ
フカラム11に接続された検出セル12は、キャリアガ
ス導入口及び排出口が設けられた封止形となっており、
内部には放射性同位元素63Ni等を担持したβ線源及び
陽極13が設けられている。なお、検出セル12本体は
接地されている。陽極13はトランス14の二次側のコ
イルに接続され、そのコイルを介して差分アンプ15に
接続されている。差分アンプ15の出力電圧は電圧/周
波数(V/F)変換器16に与えられ、V/F変換器1
6は入力電圧値に応じた周波数のパルス信号を出力す
る。パルス電圧発生回路17はV/F変換器16からの
パルス信号を受け、その周波数の電圧をトランス14の
一次側コイルに与える。
変換器18によりデジタル信号に変換され、このデジタ
ル信号は電流設定部19及び演算制御部20に送られ
る。演算制御部20には、メモリ21、キー入力部22
及びデータ処理装置23が接続されている。
ル12にキャリヤガスを流すと、キャリヤガスはβ線源
によりイオン化され、運動エネルギの低い電子(自由電
子)を放出する。上記構成により、陽極13にはトラン
ス14の二次側コイルから正のパルス電圧が印加されて
いるため、電圧が印加されている期間だけ、自由電子に
より陽極13には電流が流れる。従って、パルス電圧の
周波数fを上昇すると、パルス周期よりも長い所定期間
内の陽極13の平均電流(陽極電流)IDは増加し、周
波数fを減少すると陽極電流IDは減少する。
の値を入力すると、演算制御部20はそれに対応する設
定電流信号を電流設定部19に送り、電流設定部19は
それに応じた設定電流ISを出力する。しかし、陽極電
流IDの値は上記の通りパルス周波数fにより規定され
るため、それと設定電流ISとの差分i(=ID−IS)
は差分アンプ15から与えられる。差分アンプ15はこ
の差電流iに応じた電圧を出力し、V/F変換器16に
与える。上述の通り、V/F変換器16はその入力電圧
値に応じた周波数のパルス信号を出力し、パルス電圧発
生回路17はその周波数の電圧をトランス14の一次側
コイルに与える。V/F変換器16は、差電流iが所定
値(例えばゼロ)よりも大きいときはパルス周波数fを
増加するように設定されているため、このループ制御に
より差電流iが所定値となるように周波数fが制御され
る。検出セル12内を流れるキャリヤガスが定常状態で
あり、差電流iが所定値に制御されているときのパルス
周波数fをゼロ周波数と呼ぶ。
浄した後、操作者がキー入力部22を操作することによ
り、ゼロ周波数f00をメモリ21に記憶させる。これが
上記初期周波数である。なお、現在日本ではユーザーが
ECDの検出セル12を洗浄することはできないので、
このような操作を行なうのはメーカーの技術者又はサー
ビスマンとなる。
する際、試料を検出セル12に導入する前に、キー入力
部22を操作することによりゼロ周波数f0をメモリ2
1に記憶させる。これが上記測定前周波数である。測定
前周波数の測定は、検出セル12を洗浄した後、既に何
度か検出セル12を使用した後にも、試料分析前には必
ず行なう。この間、検出セル12の内部は試料により徐
々に汚染され、陽極電流IDが流れにくくなっているた
め、測定前周波数f0は一般に徐々に大きくなる。
検出セル12に導入する。導入された試料は検出セル1
2内の自由電子を捕獲し、陽極電流IDを減少させる。
これにともない、差電流iを所定値とするためのパルス
周波数の値が増加し、f1となる。
憶されている初期周波数f00及び測定前周波数f0を用
いて、試料の濃度aを前記式(4)及び(5)、又は
(6)により算出する。
り初期周波数f00や測定前周波数f0を手動でメモリ2
1に記憶させるのではなく、この記憶を所定のタイミン
グで自動的に行なうようにしてもよい。例えば、多くの
場合、分析の際に検出セル12を加熱するが、検出セル
12の温度が所定値に達した時点でのゼロ周波数f00、
f0をメモリ21に記憶させるという方法をとることが
できる。また、検出セル12洗浄後、ゼロ周波数がこう
して自動的に逐次メモリに記憶されてゆく場合、最も古
い時期に記憶されたゼロ周波数を初期周波数f00とし、
最も新しい時期に記憶されたゼロ周波数を測定前周波数
f0とすることができる。
(8)より Δf'=(f0/f00)・Δf であるが、ここでf0/f00=cとして、 Δf'=c・Δf (9) とする。検出セル12を洗浄後、予め検出セル12を実
験的に徐々に汚してゆき、各汚れの段階でf0を求めて
f0/f00によりcを算出し、メモリ21に記憶してお
く。試料分析時に測定前周波数f0を求め、それに対応
するcをメモリ21から読み出して式(9)及び(5)
により濃度aを算出する。
Sと検出セル洗浄後のf0記憶時の設定電流の値ISが等
しくなければならない。設定電流値ISは一般に分析試
料により異なるため、各種試料を分析しようとするとき
は、それぞれの設定電流値ISに対して初期周波数f00
及び測定前周波数f0をメモリ21に記憶しておかなけ
ればならない。それを簡略化する方法を次に示す。
わされる(前記文献)。ここで、 K=k/ID とすると、ゼロ周波数f0(初期周波数f00及び測定前
周波数f0を含む)は、 f0/ID=KD/k となる。或る設定電流値IDにおけるf0/IDの値をメ
モリ21に記憶しておくことにより、任意の設定電流値
ISでのゼロ周波数f0Sは、 f0S=(f0/ID)・IS と算出される。従って、これと式(8)、(9)を用い
て、 Δf'=(IS/ID)・c・Δf によりΔf'を算出し、これに基づいて試料の濃度aを
求めることができる。
は、検出セル12が汚れても常に正しい濃度を検出する
ことができる。また、メモリ21には現在のゼロ周波数
の値f0が記憶されているが、この値は検出セル12の
汚れ具合に応じたものである。従って、この値が所定の
閾値を超えたときに検出セル12の洗浄を促すような警
報又はメッセージをデータ処理装置23等に出力するこ
とができる。更に、メモリ21には洗浄直後のゼロ周波
数が記憶されているので、この値と現在のゼロ周波数と
の値とを比較し、その比又は差について予め閾値を設け
ておくことにより(例えば、f00/f0=0.5)、同
様に検出セル12の汚れの警報又はメッセージを出力す
ることもできる。
し、V/F変換器16の機能を演算制御部20に実行さ
せるようにしてもよい。例えば図2に示すように、差分
アンプ15の出力はA/D変換器18を介して演算制御
部20に入れ、演算制御部20がその値に基づいてパル
ス信号を生成してパルス電圧発生回路17に与えるよう
にする。これにより、あらゆる操作が演算制御部20の
キー入力部22等で行なうことができるようになるた
め、操作性が大幅に向上する。また、上記第2の使用方
法を用いる場合は、検出された測定前周波数f0に基づ
いて対応する設定電流を演算制御部20で算出し、電流
設定信号を電流設定部19へ送るという制御を行なうこ
とができる。
(ECD)の概略構成回路図。
回路図。
Claims (1)
- 【請求項1】 a)検出セル内に導入されたキャリアガス
をイオン化し、電子を放出させる電子放出手段と、 b)所定の電流値を設定する電流値設定手段と、 c)検出セル内に設けられた電極にパルス電圧を印加する
とともに、上記電子による電流が前記所定電流値となる
ようにパルス電圧の周波数を制御するパルス制御手段
と、 d)検出セルの初期状態における上記周波数の値と、試料
分析の際に試料を検出セルに導入する前の上記周波数の
値とを記憶する周波数記憶手段と、 を備えることを特徴とする電子捕獲型検出器。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9287946A JPH11108898A (ja) | 1997-10-03 | 1997-10-03 | 電子捕獲型検出器 |
US09/163,141 US6134943A (en) | 1997-10-03 | 1998-09-29 | Electron capture detector for gas chromatograph |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9287946A JPH11108898A (ja) | 1997-10-03 | 1997-10-03 | 電子捕獲型検出器 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007208892A Division JP4569606B2 (ja) | 2007-08-10 | 2007-08-10 | 電子捕獲型検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11108898A true JPH11108898A (ja) | 1999-04-23 |
Family
ID=17723792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9287946A Pending JPH11108898A (ja) | 1997-10-03 | 1997-10-03 | 電子捕獲型検出器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6134943A (ja) |
JP (1) | JPH11108898A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106610407A (zh) * | 2015-10-26 | 2017-05-03 | 株式会社岛津制作所 | 电子俘获检测器的灵敏度自动检测方法及其装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4301676B2 (ja) * | 2000-02-09 | 2009-07-22 | 日本インスツルメンツ株式会社 | 炭化水素中の水銀測定方法および装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5804828A (en) * | 1996-09-30 | 1998-09-08 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for optimizing the sensitivity and linearity of an electron capture detector |
-
1997
- 1997-10-03 JP JP9287946A patent/JPH11108898A/ja active Pending
-
1998
- 1998-09-29 US US09/163,141 patent/US6134943A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106610407A (zh) * | 2015-10-26 | 2017-05-03 | 株式会社岛津制作所 | 电子俘获检测器的灵敏度自动检测方法及其装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6134943A (en) | 2000-10-24 |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060508 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061010 |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070612 |