JPS6232419B2 - - Google Patents
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- JPS6232419B2 JPS6232419B2 JP6283880A JP6283880A JPS6232419B2 JP S6232419 B2 JPS6232419 B2 JP S6232419B2 JP 6283880 A JP6283880 A JP 6283880A JP 6283880 A JP6283880 A JP 6283880A JP S6232419 B2 JPS6232419 B2 JP S6232419B2
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- constant
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- 230000005264 electron capture Effects 0.000 claims description 13
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 11
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 11
- 238000010893 electron trap Methods 0.000 description 6
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 2
- 210000001124 body fluid Anatomy 0.000 description 1
- 239000010839 body fluid Substances 0.000 description 1
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- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/64—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ガスクロマトグラフの検出器として
好適な定電流形電子捕獲器の改良に関する。
好適な定電流形電子捕獲器の改良に関する。
一般に、ガスクロマトグラフの検出器の１つで
ある電子捕獲器は環境汚染や体液中の微量薬品の
分析に広く利用されている。この電子捕獲器は、
イオン化源としての 63Ni線源を内蔵したイオン
化室内に電圧を印加した電極を置き、このイオン
化室にキラリヤガスを流すことによりイオン電流
を得て、試料によるイオン電流の変化から試料濃
度を測定するものであり、これには、定周波数形
と定電流形の２種類の形式がある。
ある電子捕獲器は環境汚染や体液中の微量薬品の
分析に広く利用されている。この電子捕獲器は、
イオン化源としての 63Ni線源を内蔵したイオン
化室内に電圧を印加した電極を置き、このイオン
化室にキラリヤガスを流すことによりイオン電流
を得て、試料によるイオン電流の変化から試料濃
度を測定するものであり、これには、定周波数形
と定電流形の２種類の形式がある。
定周波数形電子捕獲器は第１図に示すように、
イオン化室２に設けられた電極４と、該電極４に
コイル６を介して接続された比較回路８と、該比
較回路８の出力端に接続された出力回路１０と、
前記コイル６と相互誘導により結合されたコイル
６′と、該コイル６′にパルス整形回路１２を介て
接続された定周波回路１４とから構成されてい
る。
イオン化室２に設けられた電極４と、該電極４に
コイル６を介して接続された比較回路８と、該比
較回路８の出力端に接続された出力回路１０と、
前記コイル６と相互誘導により結合されたコイル
６′と、該コイル６′にパルス整形回路１２を介て
接続された定周波回路１４とから構成されてい
る。
イオン化室２には、キヤリヤガス入口２ａとキ
ヤリヤガス出口２ｂが設けられ、その内部には
63Ni線源１６が設けられている。比較回路８は、
アンプ１８と、このアンプ１８の一方の入力端と
出力端とを接続するコンデンサ２０とで構成さ
れ、アンプ１８の他方の入力端は接続されてい
る。コイル６′の一端は電源に接地され、他端は
パルス整形回路１２を構成するトランジスタ２２
のコレクタに接続されている。パルス整形回路１
２は、トランジスタ２２と、このトランジスタ２
２のベースに抵抗２４を介して接続されたアンプ
２６とから構成されており、トランジスタ２２の
エミツタは接地されている。
ヤリヤガス出口２ｂが設けられ、その内部には
63Ni線源１６が設けられている。比較回路８は、
アンプ１８と、このアンプ１８の一方の入力端と
出力端とを接続するコンデンサ２０とで構成さ
れ、アンプ１８の他方の入力端は接続されてい
る。コイル６′の一端は電源に接地され、他端は
パルス整形回路１２を構成するトランジスタ２２
のコレクタに接続されている。パルス整形回路１
２は、トランジスタ２２と、このトランジスタ２
２のベースに抵抗２４を介して接続されたアンプ
２６とから構成されており、トランジスタ２２の
エミツタは接地されている。
この電子捕獲器は、定周波回路１４から、パル
ス整形回路１２およびコイル６，６′を介して電
極４にパルス電圧を印加して、イオン化室に流れ
るイオン電流の変化を出力回路から直接出力す
る。従つて、キヤリヤガスのみを流したときのイ
オン電流も出力されるので、イオン化室の汚れが
チエツクできるという利点がある。
ス整形回路１２およびコイル６，６′を介して電
極４にパルス電圧を印加して、イオン化室に流れ
るイオン電流の変化を出力回路から直接出力す
る。従つて、キヤリヤガスのみを流したときのイ
オン電流も出力されるので、イオン化室の汚れが
チエツクできるという利点がある。
これに対し、定電流形電子捕獲器は、第２図に
示すように、イオン化室２に設けられた電極４に
一定電流を通電する定電流設定回路２８と、該定
電流設定回路２８と前記電極４との間に接続され
た比較回路８と、該比較回路に接続された出力回
路１０と、前記電極４にパルス電圧を印加する電
圧−周波数変換回路３０およびパルス整形回路１
２を含むパルス電圧発生回路３２とから構成され
ている。但し、第１図と対応する部分には同一符
号を付しその詳細な説明は省略した。
示すように、イオン化室２に設けられた電極４に
一定電流を通電する定電流設定回路２８と、該定
電流設定回路２８と前記電極４との間に接続され
た比較回路８と、該比較回路に接続された出力回
路１０と、前記電極４にパルス電圧を印加する電
圧−周波数変換回路３０およびパルス整形回路１
２を含むパルス電圧発生回路３２とから構成され
ている。但し、第１図と対応する部分には同一符
号を付しその詳細な説明は省略した。
この電子捕獲器は、予め一定電流を定電流設定
回路２８に設定しておき、この一定電流と、パル
ス整形回路１２からコイル６，６′を介して電極
４に印加されるパルス電圧によつて実際に流れる
イオン電流とを比較回路８で比較する。そして、
この両者が等しくなるように電圧−周波数変換回
路３０の周波数が変化して、比較回路８の出力が
一定になるように比較回路８とパルス電圧発生回
路３２とで制御ループが構成されている。従つ
て、試料がイオン化室に入つてくることにより実
際のイオン電流が変化すると、比較回路８の出力
を一定にするように周波数が変化する。この周波
数の変化を出力回路１０でみることにより試料濃
度の測定をすることができる。
回路２８に設定しておき、この一定電流と、パル
ス整形回路１２からコイル６，６′を介して電極
４に印加されるパルス電圧によつて実際に流れる
イオン電流とを比較回路８で比較する。そして、
この両者が等しくなるように電圧−周波数変換回
路３０の周波数が変化して、比較回路８の出力が
一定になるように比較回路８とパルス電圧発生回
路３２とで制御ループが構成されている。従つ
て、試料がイオン化室に入つてくることにより実
際のイオン電流が変化すると、比較回路８の出力
を一定にするように周波数が変化する。この周波
数の変化を出力回路１０でみることにより試料濃
度の測定をすることができる。
この電子捕獲器によれば、試料の直線性におい
て、前記定周波形電子捕獲器の102〜103に対し
104と改善されることが論文（ANALYTICAL
CHEMISTRY VOL.43、No.14）で報告されてい
る。しかし、常に出力が一定（通常は０）となる
制御ループとなつているため、キヤリヤガスのみ
を流した場合においても、出力回路においてイオ
ン化室の汚れ具合の変化をみることができないと
いう欠点があつた。このように、定電流形電子捕
獲器は高感度検出器である反面、汚れに弱い特性
があることから常に汚れの程度をモニタする手段
の出現が要望されていたにもかかわらず長年の間
解決されていなかつた。
て、前記定周波形電子捕獲器の102〜103に対し
104と改善されることが論文（ANALYTICAL
CHEMISTRY VOL.43、No.14）で報告されてい
る。しかし、常に出力が一定（通常は０）となる
制御ループとなつているため、キヤリヤガスのみ
を流した場合においても、出力回路においてイオ
ン化室の汚れ具合の変化をみることができないと
いう欠点があつた。このように、定電流形電子捕
獲器は高感度検出器である反面、汚れに弱い特性
があることから常に汚れの程度をモニタする手段
の出現が要望されていたにもかかわらず長年の間
解決されていなかつた。
本発明は、上記欠点を解消すべく鋭意研究の結
果案出されたもので、汚れチエツク機能を持たせ
た定電流形電子捕獲器を提供することを目的とす
る。
果案出されたもので、汚れチエツク機能を持たせ
た定電流形電子捕獲器を提供することを目的とす
る。
本発明は、イオン化室に設けられた電極に一定
電流を通電する定電流設定回路と、前記イオン化
室に設けられた電極にパルス電圧を印加する電圧
−周波数変換回路およびパルス整形回路を含むパ
ルス電圧発生回路と、前記一定電流と前記パルス
電圧によりイオン化室に流れる電流とを比較する
比較回路とを含み、前記パルス電圧発生回路と前
記比較回路とで制御ループを構成して該比較回路
の出力を一定に制御し、この時のパルス電圧の周
波数変化を出力回路より出力するようにした定電
流形電子捕獲器において、定周波回路と前記定電
流設定回路からの一定電流を遮断すると共に前記
制御ループを開放して該定周波回路に切換える切
換スイツチとを設けたことにより上記目的を達成
したものである。
電流を通電する定電流設定回路と、前記イオン化
室に設けられた電極にパルス電圧を印加する電圧
−周波数変換回路およびパルス整形回路を含むパ
ルス電圧発生回路と、前記一定電流と前記パルス
電圧によりイオン化室に流れる電流とを比較する
比較回路とを含み、前記パルス電圧発生回路と前
記比較回路とで制御ループを構成して該比較回路
の出力を一定に制御し、この時のパルス電圧の周
波数変化を出力回路より出力するようにした定電
流形電子捕獲器において、定周波回路と前記定電
流設定回路からの一定電流を遮断すると共に前記
制御ループを開放して該定周波回路に切換える切
換スイツチとを設けたことにより上記目的を達成
したものである。
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説
明する。但し、第１図および第２図と対応する部
分には、同一符号を付しその詳細な説明は省略し
た。第３図に本発明の第１実施例を示す。図に示
すように定電流設定回路２８と、コイル６と比較
回路８の接続点との間にはスイツチ３４が接続さ
れている。また、パルス整形回路１２と電圧−周
波数変換回路３０との間には、スイツチ３４と連
動するスイツチ３６が設けられている。このスイ
ツチ３６は、電圧−周波数変換回路３０側と定周
波回路１４側に切換可能となつている。
明する。但し、第１図および第２図と対応する部
分には、同一符号を付しその詳細な説明は省略し
た。第３図に本発明の第１実施例を示す。図に示
すように定電流設定回路２８と、コイル６と比較
回路８の接続点との間にはスイツチ３４が接続さ
れている。また、パルス整形回路１２と電圧−周
波数変換回路３０との間には、スイツチ３４と連
動するスイツチ３６が設けられている。このスイ
ツチ３６は、電圧−周波数変換回路３０側と定周
波回路１４側に切換可能となつている。
次に本実施例の動作について説明する。通常
は、スイツチ３４はON、スイツチ３６は電圧−
周波数変換回路３０側に接続されており、定電流
形電子捕獲器として機能している。この状態から
イオン化室２の汚れをチエツクしようとするとき
は、スイツチ３６を定周波回路１４側に切換え
る。すると、これに連動してスイツチ３４が
OFFとなる。すなわち、定電流設定回路２８か
らの一定電流は遮断され、比較回路８およびパル
ス電圧発生回路３２から成る制御ループは開放さ
れることになる。従つて、定周波数電子捕獲器と
して機能し、一定周波数におけるイオン電流を出
力回路１０で得ることができ、このときのイオン
電流のレベルからイオン化室の汚れ程度を判断す
ることができる。
は、スイツチ３４はON、スイツチ３６は電圧−
周波数変換回路３０側に接続されており、定電流
形電子捕獲器として機能している。この状態から
イオン化室２の汚れをチエツクしようとするとき
は、スイツチ３６を定周波回路１４側に切換え
る。すると、これに連動してスイツチ３４が
OFFとなる。すなわち、定電流設定回路２８か
らの一定電流は遮断され、比較回路８およびパル
ス電圧発生回路３２から成る制御ループは開放さ
れることになる。従つて、定周波数電子捕獲器と
して機能し、一定周波数におけるイオン電流を出
力回路１０で得ることができ、このときのイオン
電流のレベルからイオン化室の汚れ程度を判断す
ることができる。
次に本発明の第２実施例を説明する。これは、
前記第１実施例におけるスイツチ３６を、比較回
路８と出力回路１０の接続点と、電圧−周波数変
換回路３０との間に挿入したものである。このよ
うにすると、電圧−周波数変換回路３０のパルス
を利用することにより、定周波回路１４を省略す
ることができる。但し、本実施例では、スイツチ
３６の誘導を受け周波数が不安定になる。
前記第１実施例におけるスイツチ３６を、比較回
路８と出力回路１０の接続点と、電圧−周波数変
換回路３０との間に挿入したものである。このよ
うにすると、電圧−周波数変換回路３０のパルス
を利用することにより、定周波回路１４を省略す
ることができる。但し、本実施例では、スイツチ
３６の誘導を受け周波数が不安定になる。
以上説明したように本発明によれば、定電流形
電子捕獲器に汚れチエツク機能を持たせることが
できる。従つて、常に電子捕獲器の感度が分り再
現性が良くなり、分析時間の短縮ができるという
効果が得られる。
電子捕獲器に汚れチエツク機能を持たせることが
できる。従つて、常に電子捕獲器の感度が分り再
現性が良くなり、分析時間の短縮ができるという
効果が得られる。
第１図は、従来の定周波形電子捕獲器の回路
図、第２図は、従来の定電流形電子捕獲器の回路
図、第３図は、本発明の一実施例の回路図であ
る。 ２……イオン化室、４……電極、８……比較回
路、１０……出力回路、１２……パルス整形回
路、１４……定周波回路、２８……定電流設定回
路、３０……電圧−周波数変換回路、３２……パ
ルス電圧発生回路、３４，３６……スイツチ。
図、第２図は、従来の定電流形電子捕獲器の回路
図、第３図は、本発明の一実施例の回路図であ
る。 ２……イオン化室、４……電極、８……比較回
路、１０……出力回路、１２……パルス整形回
路、１４……定周波回路、２８……定電流設定回
路、３０……電圧−周波数変換回路、３２……パ
ルス電圧発生回路、３４，３６……スイツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ イオン化室に設けられた電極に一定電流を通
電する定電流設定回路と、前記イオン化室に設け
られた電極にパルス電圧を印加する電圧−周波数
変換回路およびパルス整形回路を含むパルス電圧
発生回路と、前記一定電流と前記パルス電圧によ
りイオン化室に流れる電流とを比較する比較回路
とを含み、前記パルス電圧発生回路と前記比較回
路とで制御ループを構成して該比較回路の出力を
一定に制御し、この時のパルス電圧の周波数変化
を出力回路より出力するようにした定電流形電子
捕獲器において、定周波回路と前記定電流設定回
路からの一定電流を遮断すると共に前記制御ルー
プを開放して該定周波回路に切換える切換スイツ
チとを設けたことを特徴とする定電流形電子捕獲
器。 ２ 前記切換スイツチは、前記電圧−周波数変換
回路と前記パルス整形回路との間に設けられた特
許請求の範囲第１項記載の定電流形電子捕獲器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6283880A JPS56158940A (en) | 1980-05-14 | 1980-05-14 | Constant current type electron capturing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6283880A JPS56158940A (en) | 1980-05-14 | 1980-05-14 | Constant current type electron capturing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56158940A JPS56158940A (en) | 1981-12-08 |
| JPS6232419B2 true JPS6232419B2 (ja) | 1987-07-14 |
Family
ID=13211846
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6283880A Granted JPS56158940A (en) | 1980-05-14 | 1980-05-14 | Constant current type electron capturing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56158940A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6191158U (ja) * | 1984-11-19 | 1986-06-13 | ||
| JPH0716373Y2 (ja) * | 1991-06-21 | 1995-04-19 | 鋭郎 高島 | 寝 台 |
| JP4569606B2 (ja) * | 2007-08-10 | 2010-10-27 | 株式会社島津製作所 | 電子捕獲型検出器 |
-
1980
- 1980-05-14 JP JP6283880A patent/JPS56158940A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56158940A (en) | 1981-12-08 |
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