JPH1090200A - 金属缶の印刷欠陥の検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 金属缶の表面印刷のキズ等の印刷欠陥を精度
高く、短時間で検出する。 【解決手段】 表面印刷された測定対象金属缶を回転さ
せながら、表面印刷を画像読込みし、読取られた測定対
象金属缶の印刷画像のＸ軸及びＹ軸分布を算出し、測定
対象金属缶の印刷画像と標準参照用印刷画像とのＸ軸及
びＹ軸分布を比較して、両者のＸ軸及びＹ軸分布のずれ
から、両印刷画像の位置合わせを行い、その後両印刷画
像をそれぞれ複数の小領域のブロックに分割する。更に
少なくとも一方の印刷画像の任意のブロックを固定し、
当該任意のブロックに相当する他方の印刷画像のブロッ
クをその周囲の所定領域内で一部重畳させながら移動さ
せ、ブロックの移動毎に、両印刷画像のブロックを比較
し、両ブロック内の該当画素毎の階調値の差の絶対値を
求め、階調値の差が最も小さい比較ブロックを特定し、
全印刷画像の比較ブロックと固定ブロックとを比較し、
印刷の欠陥を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は金属缶の印刷欠陥の
検出方法、特に金属缶の表面印刷の欠陥を検出する方法
に関する。

【０００２】

【従来の技術】ビールやジュース等の缶には、表面印刷
が施されている。表面印刷の方法は、例えば金属板上に
予め複数の印刷を施してから、それぞれ切り出してロー
ル状にして金属缶を成形する方法、又はＤＩ加工（draw
ing & Ironing ）や薄肉化深絞り加工により金属缶を成
形した後、金属缶の表面に印刷を施す方法等がある。

【０００３】このような方法で得られた金属缶には、表
面印刷の版ズレ等が生じる場合がある。また、表面印刷
された缶は、継続する各工程への移送のために例えばベ
ルトコンベア等により搬送されるが、この搬送時に、缶
同士が接触して印刷にきずが付いたり、汚れが付いたり
する。

【０００４】また、印刷時に色の設定ミス等により又は
インクの出方により色のトーンが異なってしまう場合も
ある。

【０００５】そこで、金属缶の表面に施された印刷に、
キズ、汚れあるいは版ズレ等がないかどうか、また標準
参照用の印刷と色違いがないかどうか等の印刷欠陥の検
査が行われる。通常、表面印刷された金属缶に対して
は、抜き取り検査が行われるが、例えば処理工程中の３
０分に１回３０個の表面印刷された金属缶が抜き取ら
れ、目視により表面印刷の欠陥の有無が検出されてい
た。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
目視による印刷欠陥の検出方法では、検査に要する時間
が長いわりには表面印刷欠陥の検出精度が低いという問
題があった。

【０００７】本発明は上記従来の課題に鑑みたものであ
り、その目的は、金属缶の表面印刷のキズや汚れや版ズ
レ、及び標準参照用の印刷と色違い等の印刷欠陥を精度
高く、短時間で検査する金属缶の印刷欠陥の検出方法を
提供することである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】以上のような課題を解決
するために、本発明に係る金属缶の印刷欠陥の検出方法
は、以下の特徴を有する。

【０００９】（１）表面印刷された測定対象金属缶を回
転させながら、測定光を照射し、表面からの反射光を光
電アレイ検出器により１ラインずつ読取り、又は表面印
刷された製缶前の平板に、測定光を照射し、表面からの
反射光を光電アレイ検出器により１ラインずつ読取り、
表面印刷を画像読込みする画像読込み工程と、読取られ
た前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像のＸ軸分布及
びＹ軸分布を算出するＸ軸及びＹ軸分布算出工程と、前
記印刷画像のＸ軸及びＹ軸分布と標準参照用印刷画像の
Ｘ軸及びＹ軸分布とを比較し、両者の分布のずれから、
前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像と標準参照用印
刷画像とのＸ軸及びＹ軸の位置合わせを行う位置合わせ
工程と、前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像及び標
準参照用印刷画像をそれぞれ複数の小領域のブロックに
分割するブロック化工程と、少なくとも一方の印刷画像
の任意のブロックを固定して、当該任意のブロックに相
当する他方の印刷画像のブロックをその周囲の所定領域
内で一部重畳させながら移動させるブロック移動工程
と、ブロックの移動毎に、前記測定対象金属缶又は平板
の印刷画像のブロックと標準参照用印刷画像のブロック
とを比較し、両ブロック内の該当画素毎の階調値の差の
絶対値を求め、前記階調値の差が最も小さい比較ブロッ
クを特定する比較ブロック特定工程と、全印刷画像の比
較ブロックと固定ブロックとを比較し、印刷の欠陥を検
出する欠陥検出工程と、を有する。

【００１０】すなわち、測定対象金属缶又は平板の印刷
画像と標準参照用印刷画像とのＸ軸及びＹ軸の位置合わ
せを行い、それぞれの印刷画像を小領域にブロック分け
した後、一方の印刷画像の任意の固定ブロックに相当す
る他方の印刷画像のブロックをその周囲の所定領域内で
一部重畳させながら移動させ、固定ブロックに最も近似
する比較ブロックを検索し特定するため、たとえ表面印
刷の延びやずれがあったとしても、比較すべき両ブロッ
クを比較して、キズや汚れや版ズレ等の印刷欠陥を検出
することができる。

【００１１】（２）上記（１）に記載の印刷欠陥の検出
方法において、前記ブロック移動工程は、前記標準参照
用印刷画像の任意のブロックを固定し、当該任意のブロ
ックに相当する位置の前記測定対象金属缶又は平板の印
刷画像のブロックをその周囲の所定領域内で一部重畳さ
せながら移動させる対象測定ブロック移動工程と、前記
対象測定金属缶又は平板の印刷画素の任意のブロックを
固定し、当該任意のブロックに相当する位置の前記標準
参照用印刷画像のブロックをその周囲の所定領域内で一
部重畳させながら移動させる標準参照用ブロック移動工
程と、からなり、前記比較ブロック特定工程は、前記対
象測定缶の印刷画像のブロックの移動毎に、前記測定対
象金属缶又は平板の印刷画像のブロックと標準参照用印
刷画像のブロックとを比較し、両ブロック内の該当画素
毎の階調値の差の絶対値を求め、前記階調値の差が最も
小さい対象測定金属缶又は平板の印刷画像のブロックを
特定する対象測定金属缶又は平板の印刷画像の比較ブロ
ック特定工程と、前記標準参照用印刷画像のブロックの
移動毎に、前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像のブ
ロックと標準参照用印刷画像のブロックとを比較し、両
ブロック内の該当画素毎の階調値の差の絶対値を求め、
前記階調値の差が最も小さい標準参照用印刷画像のブロ
ックを特定する標準用参照印刷画像の比較ブロック特定
工程と、からなり、前記欠陥検出工程は、全印刷画像の
対象測定金属缶又は平板印刷画像の比較ブロックと標準
参照用印刷画像の固定ブロックとを比較し、印刷の欠陥
を検出する第１の欠陥検出工程と、全印刷画像の標準参
照用印刷画像の比較ブロックと対象測定金属缶又は平板
の印刷画像の固定ブロックとを比較し、印刷の欠陥を検
出する第２の欠陥検出工程と、前記第１の印刷欠陥検出
工程と第２の印刷欠陥検出工程の少なくとも一方で、印
刷欠陥が検出されると印刷欠陥ありと判定する判定工程
と、からなる。

【００１２】従って、測定対象金属缶又は平板の印刷画
像と標準参照用印刷画像とのＸ軸及びＹ軸の位置合わせ
を行い、それぞれの印刷画像を小領域にブロック分けし
た後、対象測定金属缶又は平板印刷画像と標準参照用印
刷画像の双方向で、一方の印刷画像の任意の固定ブロッ
クに相当する他方の印刷画像のブロックをその周囲の所
定領域内で一部重畳させながら移動させ、固定ブロック
に最も近似する比較ブロックを検索し特定するようにし
たので、たとえ表面印刷の延びやずれがあったとして
も、比較すべき両ブロックを双方向から比較することが
できる。すなわち、一方向のみの比較ブロックと固定ブ
ロックの比較により印刷欠陥を見落としたとしても、他
方向の比較ブロックと固定ブロックの比較により印刷欠
陥を発見することができる。このため、キズや汚れや版
ズレ等の印刷欠陥を検出することができる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な一実施の形
態を説明する。

【００１４】画像読込み工程 図１を用いて、本実施形態の金属缶の表面印刷の欠陥検
出方法の印刷画像の読取りについて、説明する。

【００１５】すなわち、図１に示すように、モータ１４
（例えば、ステッピングモータ等）によって、表面印刷
された測定対象金属缶２０を回転させながら、測定対象
金属缶２０に、照明１６から測定光を照射する。そし
て、光電アレイ検出器の一種であるライン型カラーＣＣ
Ｄカメラ１２によって、測定対象金属缶２０の表面から
の反射光を１ラインずつ読取り、この読取った画像を画
像処理・制御用コンピュータ１０に出力する。一般に、
２５０ｍｌ缶の場合には、一周１２５０ラインの読取り
作業が行われ、１ラインにつき９７０画素が読取られ
る。そして、画像処理・制御用コンピュータ１０は、入
力された各ライン上の画素の光の強弱の電気信号に基づ
いて、表面印刷の全印刷画像を形成し、記憶する。尚、
上記ライン型カラーＣＣＤカメラ１２は、反射光をＲＧ
Ｂそれぞれの色に分解して、それぞれの光の強度を検出
するので、画像処理・制御用コンピュータ１０によっ
て、測定対象金属缶２０のカラー階調の印刷画像を得る
ことができる。

【００１６】以上、製缶後の印刷についての印刷画像の
読取りについて説明したが、これに限るものではなく、
表面印刷された製缶前の平板の印刷画像を読み取って、
印刷欠陥を検出しても良い。

【００１７】例えば、３ピース缶は、平板の状態で印刷
された後に製缶される。この平板の表面印刷を読み取る
場合には、上述のライン型カラーＣＣＤカメラによって
ライン読取りをしても良く、またエリアセンサを用いて
表面印刷全体を一度に画像読取りしても良い。

【００１８】尚、以下の工程では、製缶後の測定対象金
属缶の印刷画像の欠陥検出について述べるが、製缶前の
平板についても、同様の工程で印刷画像の欠陥検出を行
うことができる。

【００１９】測定対象金属缶の印刷画像と標準参照用印
刷画像との位置合わせ工程 次に、画像処理・制御用コンピュータ１０は、得られた
測定金属缶２０の印刷画像を基に、Ｘ軸分布及びＹ軸分
布を求める。Ｘ軸分布とは、Ｙ軸に沿った全画素をＸ軸
にそれぞれ投影したＸ軸の分布をいい、Ｙ軸分布とは、
Ｘ軸に沿った全画素をＹ軸にそれぞれ投影したＹ軸の分
布をいう。具体的には、全読取りラインに亘ってＹ軸に
沿った全画素の階調値の和を求めることによって、Ｘ軸
分布が求まり、Ｙ軸上の全画素配列に亘ってＸ軸に沿っ
た全画素の階調値の和を求めることによって、Ｙ軸分布
が求まる。これにより、図２に示すように、測定対象金
属缶２０の印刷画像のＸ軸分布とＹ軸分布が得られる。

【００２０】尚、Ｘ軸及びＹ軸分布を求める場合に、Ｙ
軸に沿った全画素の階調値の和及びＸ軸に沿った全画素
の階調値の和を用いる方法について説明したが、これに
限るものではなく、Ｙ軸に沿った全画素の階調値の平均
値及びＸ軸に沿った全画素の階調値の平均値を用いて、
Ｘ軸及びＹ軸分布を求めてもよい。

【００２１】次に、予め画像処理・制御用コンピュータ
１０に記憶されている標準参照用印刷画像のＸ軸分布fr
(x) と、求めた測定対象金属缶２０の印刷画像のＸ軸分
布fs(x) とを比較し、両者の分布のずれから、測定対象
金属缶２０の印刷画像と標準参照用印刷画像とのＸ軸の
位置合わせを行う。

【００２２】通常、測定対象金属缶２０の印刷画像を読
込む際に、画像読込みスタートラインは、必ずしも標準
参照用印刷画像のスタートラインであるとは限らない。
そこで、測定対象金属缶２０の印刷画像のＸ軸分布fs
(x) をＸ軸方向にずれｊ（ｊ＝１〜１２５０）ずつずら
してゆき（すなわち、fs(x+j) ）、図２中の式（１）の
fr(x) ×fs(x+j) の積算値が最大になるようなずれｊを
求める。２枚の印刷画像がきちんと重なった時、上記積
算値が最大になるからである。そして、上記ずれｊに基
づいて、測定対象金属缶２０の印刷画像と標準参照用印
刷画像とのＸ軸の位置合わせを行う。

【００２３】上記同様、測定対象金属缶２０の印刷画像
のＹ軸分布fs(y) をＹ軸方向にずれｋ（ｋ＝１〜９７
０）ずつずらしてゆき（すなわち、fs(y+k) ）、fr(y)
×fs(y+k) の積算値が最大になるようなずれｋを求め、
このずれｋに基づいて、測定対象金属缶２０の印刷画像
標準参照用印刷画像とのＹ軸の位置合わせを行う。

【００２４】これにより、測定対象金属缶２０の印刷画
像と標準参照用印刷画像とのＸ軸及びＹ軸の位置合わせ
が完了する。尚、この位置合わせの工程は、約２〜３秒
で行われる。

【００２５】印刷画像のブロック化工程 次に、図３（ａ），（ｂ）に示すように、測定対象金属
缶２０の印刷画像及び標準参照用印刷画像をそれぞれ複
数の小領域のブロックに分割する。ここで、各ブロック
は互いに重なりがないようにブロック化される。

【００２６】一般に、缶の表面に印刷を施す又は表面印
刷された金属板を金属缶に成形する場合には、表面印刷
が延びたり、ずれたりするため、両印刷画像の画素毎に
比較するのは細か過ぎて、かえって精度に欠けるからで
ある。

【００２７】ブロック移動工程、比較ブロック特定工程
及び欠陥検出工程 本実施形態の印刷欠陥の検出方法は、少なくとも一方の
印刷画像の任意のブロックを固定して、当該任意のブロ
ックに相当する他方の印刷画像のブロックをその周囲の
所定領域内で一部重畳させながら移動させるブロック移
動工程と、ブロックの移動毎に、前記測定対象金属缶の
印刷画像のブロックと標準参照用印刷画像のブロックと
を比較し、両ブロック内の該当画素毎の階調値の差の絶
対値を求め、前記階調値の差が最も小さい比較ブロック
を特定する比較ブロック特定工程と、全印刷画像の比較
ブロックと固定ブロックとを比較し、印刷の欠陥を検出
する欠陥検出工程と、を有する。

【００２８】従って、一方の印刷画像の任意の固定ブロ
ックに相当する他方の印刷画像のブロックをその周囲の
所定領域内で一部重畳させながら移動させ、固定ブロッ
クに最も近似する比較ブロックを特定し、全印刷画像の
比較ブロックと固定ブロックとを比較するので、たとえ
表面印刷の延びやずれがあったとしても、キズや汚れや
版ズレを確実に検出することができる。

【００２９】以下に、上記各工程について図３及び図４
を用いて、具体的に説明する。

【００３０】（１）ブロック移動工程：図３（ａ），
（ｂ）に示すように、まず標準参照用印刷画像の任意の
ブロック（６×６画素）を固定して、この任意のブロッ
クに相当する測定対象金属缶の印刷画像ブロック（６×
６画素）をその周囲の所定領域内で一部重畳させながら
回転移動させる。

【００３１】本実施形態では、図４に示すように、６×
６画素のブロックを中心に、その周囲の例えば１４×１
４画素の領域内で一部重畳させながら回転移動させる。
従って、任意の１ブロックに対して所定領域内で９×９
の８１通りブロックを回転移動させることになる。

【００３２】ブロックの回転移動の方法は、例えば、中
心のブロックから時計回りでＸ軸方向に一ライン又はＹ
軸方向に一画素配列分ずつずらしてブロックを移動させ
てもよいし、反時計回りにＸ軸方向に一ライン又はＹ軸
方向に一画素配列分ずつずらしてブロックを移動させて
もよい。

【００３３】尚、本実施形態では、ブロックを回転移動
させたが、これに限るものではなく、例えば１４×１４
画素の領域内で一部重畳させながらブロックを移動させ
る方法であればいずれの方法でも良い。

【００３４】（２）比較ブロック特定工程：図３に示す
ように、対象測定金属缶の印刷画像のブロックの回転移
動毎に、測定対象金属缶の印刷画像のブロック（６×６
画素）と標準参照用印刷画像のブロック（６×６画素）
とを比較し、両ブロック内の該当画素毎の階調値の差の
絶対値を求め、階調値の差が最も小さい対象測定金属缶
の印刷画像の比較ブロックを特定する。

【００３５】尚、本実施形態では、画素毎の階調値の差
の絶対値を求めたが、これに限るものではなく、画素毎
の階調値の差の自乗和を求めてもよい。

【００３６】（３）印刷欠陥の検出工程：欠陥検出工程
では、全印刷画像の比較ブロックと固定ブロックの階調
値の差の絶対値（又は階調値の差の自乗和）より、全印
刷画像の階調値の差の最大値と平均値とを求め、この全
印刷画像の階調値の差の最大値と平均値と予め設定され
ている最大値閾値と平均値閾値とを比較し、印刷の欠陥
を検出する。ここで、全印刷画像の階調値の差の最大値
が、最大値閾値より大きい場合には、キズや汚れや版ず
れ等の印刷の欠陥が生じており、また全印刷画像の階調
値の差の平均値が、平均値閾値より大きい場合には、色
違いが生じている。

【００３７】従って、本実施形態の印刷欠陥検出方法に
よれば、たとえ表面印刷の延びやずれがあったとして
も、キズや汚れや版ズレを確実に検出することができ
る。

【００３８】次に、本発明の他の実施形態の印刷欠陥の
検出方法におけるブロック移動工程、比較ブロック特定
工程、欠陥検出工程について説明する。

【００３９】上述したように、画像全体として測定対象
金属缶の印刷画像と標準参照用印刷画像との位置合わせ
を行っているため、対応する互いのブロックの位置は合
っている。

【００４０】しかしながら、印刷上のずれや、缶の歪み
等による誤差、又は缶の置き方や画像読取りカメラの解
像度等の測定系の誤差により、部分的に見ると微妙に表
面印刷にずれが生じる場合がある。

【００４１】ここで、単純に、標準参照用印刷画像のブ
ロックを固定し、この標準参照用印刷画像のブロックに
該当する測定対象金属缶の印刷画像のブロックを一義的
に決めるとすると、欠陥のない部分でもずれがあると単
純な比較では差が大きくなってしまう。

【００４２】そこで、上述したように、一方の印刷画像
のブロックを固定して、他方の印刷画像のブロックをそ
の固定ブロックの周囲で移動させ、画像処理で上記誤差
を吸収し、欠陥を発見しやすくしている。

【００４３】しかしながら、上記誤差を吸収し過ぎて問
題になる場合がある。すなわち、図５（ｂ）に示すよう
な場合である。すなわち、測定対象金属缶の印刷画像の
ブロックを固定し、この測定対象金属缶の印刷画像のブ
ロックに該当する標準参照用印刷画像のブロックを移動
させた場合である。ほぼ均一な色の領域において、特異
的な点がある場合、この特異点のある画像の方について
標準参照用印刷画像のブロックを移動させると、特異点
を含まない所で両ブロック間の差が小さくなるため、特
異点の存在を見落としてしまう。かかる場合、両印刷画
像同士の位置はずれていないのにも拘らず、ずれた所で
比較する方が両印刷画像のブロックの差が小さいため
に、ずれた所と比較してしまう。

【００４４】かかる場合、金属缶の印刷において、特に
バーコードに印刷のずれが生じても欠陥を検出すること
ができず、商品管理等に支障を来すからである。

【００４５】これを防ぐために、特異点を含む画像の方
を固定する必要がある。一方、特異点があることが正し
い画像の場合と、欠陥のある画像である場合とがある。

【００４６】そこで、本発明の他の実施形態の印刷欠陥
の検出方法では、対象測定金属缶印刷画像と標準参照用
印刷画像の双方向で、一方の印刷画像の任意の固定ブロ
ックに相当する他方の印刷画像のブロックをその周囲の
所定領域内で一部重畳させながら移動させ、固定ブロッ
クに最も近似する比較ブロックを特定することとした。

【００４７】すなわち、上記ブロック移動工程は、標準
参照用印刷画像の任意のブロックを固定し、当該任意の
ブロックに相当する位置の測定対象金属缶の印刷画像の
ブロックをその周囲の所定領域内で一部重畳させながら
移動させる対象測定ブロック移動工程と、対象測定金属
缶の印刷画素の任意のブロックを固定し、当該任意のブ
ロックに相当する位置の標準参照用印刷画像のブロック
をその周囲の所定領域内で一部重畳させながら移動させ
る標準参照用ブロック移動工程と、からなる。

【００４８】また、上記比較ブロック特定工程は、対象
測定缶の印刷画像のブロックの移動毎に、測定対象金属
缶の印刷画像のブロックと標準参照用印刷画像のブロッ
クとを比較し、両ブロック内の該当画素毎の階調値の差
の絶対値を求め、前記階調値の差が最も小さい対象測定
金属缶の印刷画像のブロックを特定する対象測定金属缶
印刷画像の比較ブロック特定工程と、標準参照用印刷画
像のブロックの移動毎に、測定対象金属缶の印刷画像の
ブロックと標準参照用印刷画像のブロックとを比較し、
両ブロック内の該当画素毎の階調値の差の絶対値を求
め、前記階調値の差が最も小さい標準参照用印刷画像の
ブロックを特定する標準用参照印刷画像の比較ブロック
特定工程と、からなる。

【００４９】更に、上記欠陥検出工程は、全印刷画像の
対象測定金属缶印刷画像の比較ブロックと標準参照用印
刷画像の固定ブロックとを比較し、印刷の欠陥を検出す
る第１の欠陥検出工程と、全印刷画像の標準参照用印刷
画像の比較ブロックと対象測定金属缶印刷画像の固定ブ
ロックとを比較し、印刷の欠陥を検出する第２の欠陥検
出工程と、前記第１の印刷欠陥検出工程と第２の印刷欠
陥検出工程の少なくとも一方で、印刷欠陥が検出される
と印刷欠陥ありと判定する判定工程と、からなる。

【００５０】これにより、たとえ表面印刷の延びやずれ
があっても、更に一方向のみで比較ブロックと固定ブロ
ックとを比較し印刷欠陥を見落としたとしても、他方向
の比較ブロックと固定ブロックとの比較により印刷欠陥
を発見することができる。

【００５１】以下に、上記各工程について図３及び図４
を用いて、具体的に説明する。

【００５２】（１）ブロック移動工程：図３（ａ），
（ｂ）に示すように、まず標準参照用印刷画像の任意の
ブロック（６×６画素）を固定して、この任意のブロッ
クに相当する測定対象金属缶の印刷画像ブロック（６×
６画素）をその周囲の所定領域内で一部重畳させながら
回転移動させる。

【００５３】本実施形態では、図４に示すように、６×
６画素のブロックを中心に、その周囲の例えば１４×１
４画素の領域内で一部重畳させながら回転移動させる。
従って、任意の１ブロックに対して所定領域内で９×９
の８１通りブロックを回転移動させることになる。

【００５４】ブロックの回転移動の方法は、上述したよ
うに、例えば中心のブロックから時計回りでＸ軸方向に
一ライン又はＹ軸方向に一画素配列分ずつづらしてブロ
ックを移動させてもよいし、反時計回りにＸ軸方向に一
ライン又はＹ軸方向に一画素配列分ずつづらしてブロッ
クを移動させてもよい。

【００５５】同様にして、対象測定金属缶の印刷画素の
任意のブロック（６×６画素）を固定し、当該任意のブ
ロックに相当する位置の標準参照用印刷画像のブロック
（６×６画素）をその周囲の所定領域内で一部重畳させ
ながら回転移動させる。

【００５６】従って、対象測定金属缶印刷画像と標準参
照用印刷画像の双方向で、印刷画像の１ブロックを８１
×２通り回転移動させることになる。

【００５７】尚、本実施形態では、ブロックを回転移動
させたが、これに限るものではなく、例えば１４×１４
画素の領域内で一部重畳させながらブロックを移動させ
る方法であればいずれの方法でも良い。

【００５８】（２）比較ブロック特定工程：図３に示す
ように、対象測定金属缶の印刷画像のブロックの回転移
動毎に、測定対象金属缶の印刷画像のブロック（６×６
画素）と標準参照用印刷画像のブロック（６×６画素）
とを比較し、両ブロック内の該当画素毎の階調値の差の
絶対値を求め、階調値の差が最も小さい対象測定金属缶
の印刷画像の比較ブロックを特定する。

【００５９】同様にして、標準参照用印刷画像のブロッ
クの回転移動毎に、測定対象金属缶の印刷画像のブロッ
ク（６×６画素）と標準参照用印刷画像のブロック（６
×６画素）とを比較し、両ブロック内の該当画素毎の階
調値の差の絶対値を求め、階調値の差が最も小さい標準
参照用印刷画像の比較ブロックを特定する。

【００６０】ここで、本実施形態の場合、金属缶の印刷
領域は、Ｙ軸が９７０画素配列でＸ軸が１２５０ライン
であることから、双方向の比較ブロックを特定するため
に、下記の通り分、固定ブロックと回転ブロックとの相
関が計算される。本実施形態では、１７秒〜１８秒で、
双方向の固定ブロックと回転ブロックとの相関が計算さ
れる。

【００６１】

【数１】｛（１２５０×９７０）／６×６｝×８１×２ 尚、本実施形態では、画素毎の階調値の差の絶対値を求
めたが、これに限るものではなく、画素毎の階調値の差
の自乗和を求めてもよい。

【００６２】（３）印刷欠陥の検出工程：欠陥検出工程
は、上述したように、第１の欠陥検出工程と、第２の欠
陥検出工程と、判定工程と、からなる。

【００６３】第１の欠陥検出工程では、全印刷画像の対
象測定金属缶印刷画像の比較ブロックと標準参照用印刷
画像の固定ブロックの階調値の差の絶対値（又は階調値
の差の自乗和）より、全印刷画像の階調値の差の最大値
と平均値とを求め、この全印刷画像の階調値の差の最大
値と平均値と予め設定されている最大値閾値と平均値閾
値とを比較し、印刷の欠陥を検出する。ここで、全印刷
画像の階調値の差の最大値が、最大値閾値より大きい場
合には、キズや汚れや版ずれ等の印刷の欠陥が生じてお
り、また全印刷画像の階調値の差の平均値が、平均値閾
値より大きい場合には、色違いが生じている。

【００６４】また、第２の欠陥検出工程では、全印刷画
像の標準参照用印刷画像の比較ブロックと対象測定金属
缶印刷画像の固定ブロックの階調値の差の絶対値（又は
階調値の差の自乗和）より、全印刷画像の階調値の差の
最大値と平均値とを求め、この全印刷画像の階調値の差
の最大値と平均値と予め設定されている最大値閾値と平
均値閾値とを比較し、印刷の欠陥を検出する。

【００６５】本実施形態の特徴は、上述の第１の印刷欠
陥検出工程と第２の印刷欠陥検出工程の少なくとも一方
で、印刷欠陥が検出されると印刷欠陥ありと判定する判
定工程とを有することである。

【００６６】これにより、表面印刷の延びやずれがあっ
ても、更に一方向のみの比較ブロックと固定ブロックと
の比較により印刷欠陥を見落としたとしても、他方向の
比較ブロックと固定ブロックとの比較により印刷欠陥を
発見することができる。

【００６７】本実施形態の印刷欠陥の検出方法によれ
ば、１缶について１分間で印刷欠陥の有無を検出するこ
とができる。従って、印刷欠陥の検出のスピードが大幅
に増し、また上述したように印刷欠陥の検出精度も著し
く高くなる。

【００６８】

【発明の効果】以上のように、本発明に係る金属缶の印
刷欠陥の検出方法によれば、測定対象金属缶又は平板の
印刷画像と標準参照用印刷画像とのＸ軸及びＹ軸の位置
合わせをした後、一方の印刷画像の任意の固定ブロック
に相当する他方の印刷画像のブロックをその周囲の所定
領域内で一部重畳させながら移動させ、固定ブロックに
最も近似する比較ブロックを特定し、全印刷画像の比較
ブロックと固定ブロックとを比較するため、たとえ表面
印刷の延びやずれがあったとしても、キズや汚れや版ズ
レを確実に検出することができる。

【００６９】更に、測定対象金属缶又は平板の印刷画像
と標準参照用印刷画像とのＸ軸及びＹ軸の位置合わせを
した後、対象測定金属缶又は平板印刷画像と標準参照用
印刷画像の双方向で、一方の印刷画像の任意の固定ブロ
ックに相当する他方の印刷画像のブロックをその周囲の
所定領域内で一部重畳させながら移動させ、固定ブロッ
クに最も近似する比較ブロックを特定し、全印刷画像の
比較ブロックと固定ブロックとを比較するので、たとえ
表面印刷の延びやずれがあっても、更に一方向のみで比
較ブロックと固定ブロックとを比較し印刷欠陥を見落と
したとしても、他方向の比較ブロックと固定ブロックと
の比較により印刷欠陥を発見することができる。

【００７０】特に、バーコードの印刷欠陥を見落とすお
それがなくなる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明に係る金属缶の印刷欠陥の検出方法に
用いる金属缶表面印刷の画像読取装置の構成を示す図で
ある。

【図２】 本発明に係る金属缶の印刷欠陥の検出方法の
測定対象金属缶の印刷画像と標準参照用印刷画像との位
置合わせを説明する図である。

【図３】 本発明に係る金属缶の印刷欠陥の検出方法に
おける印刷画像のブロック化及びブロックの回転移動に
ついて説明する図である。

【図４】 本発明に係る金属缶の印刷欠陥の検出方法に
おけるブロック回転移動工程を説明する図である。

【図５】 標準参照用印刷画像のブロックと測定対象金
属缶の印刷画像のブロックとを一義的に決めて両者を比
較する工程を示す図である。

【符号の説明】

１０ 画像処理・制御用コンピュータ、１２ ライン型
カラーＣＣＤカメラ、１４ ステッピングモータ、１６
照明、２０ 金属缶。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 表面印刷された測定対象金属缶を回転さ
   せながら、測定光を照射し、表面からの反射光を光電ア
   レイ検出器により１ラインずつ読取り、又は表面印刷さ
   れた製缶前の平板に、測定光を照射し、表面からの反射
   光を光電アレイ検出器により１ラインずつ読取り、表面
   印刷を画像読込みする画像読込み工程と、 読取られた前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像のＸ
   軸分布及びＹ軸分布を算出するＸ軸及びＹ軸分布算出工
   程と、 前記印刷画像のＸ軸及びＹ軸分布と標準参照用印刷画像
   のＸ軸及びＹ軸分布とを比較し、両者の分布のずれか
   ら、前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像と標準参照
   用印刷画像とのＸ軸及びＹ軸の位置合わせを行う位置合
   わせ工程と、 前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像及び標準参照用
   印刷画像をそれぞれ複数の小領域のブロックに分割する
   ブロック化工程と、 少なくとも一方の印刷画像の任意のブロックを固定し
   て、当該任意のブロックに相当する他方の印刷画像のブ
   ロックをその周囲の所定領域内で一部重畳させながら移
   動させるブロック移動工程と、 ブロックの移動毎に、前記測定対象金属缶又は平板の印
   刷画像のブロックと標準参照用印刷画像のブロックとを
   比較し、両ブロック内の該当画素毎の階調値の差の絶対
   値を求め、前記階調値の差が最も小さい比較ブロックを
   特定する比較ブロック特定工程と、 全印刷画像の比較ブロックと固定ブロックとを比較し、
   印刷の欠陥を検出する欠陥検出工程と、 を有することを特徴とする金属缶の印刷欠陥の検出方
   法。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の印刷欠陥の検出方法に
   おいて、 前記ブロック移動工程は、前記標準参照用印刷画像の任
   意のブロックを固定し、当該任意のブロックに相当する
   位置の前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像のブロッ
   クをその周囲の所定領域内で一部重畳させながら移動さ
   せる対象測定ブロック移動工程と、 前記対象測定金属缶又は平板の印刷画素の任意のブロッ
   クを固定し、当該任意のブロックに相当する位置の前記
   標準参照用印刷画像のブロックをその周囲の所定領域内
   で一部重畳させながら移動させる標準参照用ブロック移
   動工程と、からなり、 前記比較ブロック特定工程は、前記対象測定缶の印刷画
   像のブロックの移動毎に、前記測定対象金属缶又は平板
   の印刷画像のブロックと標準参照用印刷画像のブロック
   とを比較し、両ブロック内の該当画素毎の階調値の差の
   絶対値を求め、前記階調値の差が最も小さい対象測定金
   属缶又は平板の印刷画像のブロックを特定する対象測定
   金属缶又は平板印刷画像の比較ブロック特定工程と、 前記標準参照用印刷画像のブロックの移動毎に、前記測
   定対象金属缶又は平板の印刷画像のブロックと標準参照
   用印刷画像のブロックとを比較し、両ブロック内の該当
   画素毎の階調値の差の絶対値を求め、前記階調値の差が
   最も小さい標準参照用印刷画像のブロックを特定する標
   準用参照印刷画像の比較ブロック特定工程と、からな
   り、 前記欠陥検出工程は、全印刷画像の対象測定金属缶又は
   平板の印刷画像の比較ブロックと標準参照用印刷画像の
   固定ブロックとを比較し、印刷の欠陥を検出する第１の
   欠陥検出工程と、 全印刷画像の標準参照用印刷画像の比較ブロックと対象
   測定金属缶又は平板の印刷画像の固定ブロックとを比較
   し、印刷の欠陥を検出する第２の欠陥検出工程と、 前記第１の印刷欠陥検出工程と第２の印刷欠陥検出工程
   の少なくとも一方で、印刷欠陥が検出されると印刷欠陥
   ありと判定する判定工程と、 からなることを特徴とする金属缶の印刷欠陥の検出方
   法。