JPH1065701A - セル廃棄制御方式 - Google Patents

セル廃棄制御方式

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JPH1065701A
JPH1065701A JP22297696A JP22297696A JPH1065701A JP H1065701 A JPH1065701 A JP H1065701A JP 22297696 A JP22297696 A JP 22297696A JP 22297696 A JP22297696 A JP 22297696A JP H1065701 A JPH1065701 A JP H1065701A
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cell
atm
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congestion
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JP22297696A
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English (en)
Inventor
Toshibumi Fujimoto
俊文 藤本
Ryuichi Kondo
竜一 近藤
Keiichi Sugano
啓一 菅野
Shinji Ota
眞治 太田
Hiroshi Ota
宏 太田
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Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＡＴＭ交換網におけるセル廃棄制御方式に関
し、ＡＴＭ交換網内に輻輳状態が発生した場合にも、所
定種別のセルが廃棄されること無く転送されることを目
的とする。 【解決手段】 入力端子（２００）から入力されるセル
を、内蔵するバッファ（１０１）を経由して出力端子
（３００）に出力するＡＴＭスイッチ（１００）を具備
するＡＴＭ交換網において、ＡＴＭスイッチ（１００）
に、入力端子（２００）から入力される各セルから、所
定種別のセルを検出するセル種別検出手段（１０２）
と、セル種別検出手段（１０２）が検出した所定種別の
セルを、バッファ（１０１）に輻輳が発生した場合にも
廃棄される可能性を軽減させるセル廃棄保護手段（１０
３）とを設ける様に構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＡＴＭ交換網におけ
るセル廃棄制御方式に関し、特に入力端子から入力され
るセルを、内蔵するバッファを経由して出力端子に出力
するＡＴＭスイッチを具備するＡＴＭ交換網におけるセ
ル廃棄制御方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】図９は本発明の対象となるＡＴＭ交換機
を例示する図であり、図１０は従来あるＡＴＭスイッチ
を例示する図であり、図１１はＡＴＭセル形式を例示す
る図であり、図１２は図１１におけるペイロードタイプ
識別子を例示する図であり、図１３は従来あるＡＩＳセ
ルおよびＲＤＩセルの転送状況を例示する図であり、図
１４は従来ある導通試験用ＯＡＭセルの転送状況を例示
する図であり、図１５は従来あるＲＭセルの転送状況を
例示する図であり、図１６は従来あるＳＰＶセルの転送
状況を例示する図である。
【０００３】ＡＴＭ交換機（１）の構成を説明するに先
立ち、本発明の対象とするＡＴＭセル（Ｃ）の形式を、
図１１を用いて説明する。ＡＴＭスイッチ（１０）によ
り交換されるＡＴＭセル（Ｃ）は、図１１に示される如
き形式を有し、５オクテットから成るヘッダ（Ｈ）と、
４８オクテットから成るペイロード（Ｐ）とから構成さ
れている。
【０００４】ヘッダ（Ｈ）は、仮想パス識別子（ＶＰ
Ｉ）、仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）、ペイロードタイ
プ識別子（ＰＴＩ）、セル損失優先表示（ＣＬＰ）およ
び品質クラス識別子（ＱＯＳ）から構成されている。
【０００５】仮想パス識別子（ＶＰＩ）および仮想チャ
ネル識別子（ＶＣＩ）は、入力通信路（２）の出力側装
置で指定された入力通信路（２）内の、当該ＡＴＭセル
の伝送に使用される仮想パスおよび仮想チャネルを指定
するものである。
【０００６】ペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）は、Ａ
ＴＭセル（Ｃ）にペイロード（Ｐ）として伝送される情
報の種別が、図１２に示される三種類、即ちユーザ情報
（ＵＳＲ）、保守運用管理情報（ＯＡＭ）および資源管
理情報（ＲＭ）の何れに属するかを示すものである。
〔以後、ペイロード（Ｐ）にユーザ情報（ＵＳＲ）を有
するＡＴＭセル（Ｃ）をユーザ情報セル（ＣUSR ）と称
し、またペイロード（Ｐ）に保守運用管理情報（ＯＡ
Ｍ）を有するＡＴＭセル（Ｃ）をＯＡＭセル（ＣOAM ）
と称し、更にペイロード（Ｐ）に資源管理情報（ＲＭ）
を有するＡＴＭセル（Ｃ）をＲＭセル（ＣRM）と称す
る〕 なおユーザ情報（ＵＳＲ）には、ＡＴＭ交換機（１）内
におけるＡＴＭセル（Ｃ）の転送経路に輻輳発生の前兆
が見受けられるとを示す前方輻輳通知（ＥＦＣＩ）が組
合せ表示される。〔ここで、前方輻輳通知（ＥＦＣＩ）
が組合せられない場合を非輻輳（ＮＭＬ）と称する〕 次に、品質クラス識別子（ＱＯＳ）を説明するに当た
り、ペイロード（Ｐ）で転送される情報の品質クラスに
就いて触れる。
【０００７】ＡＴＭ交換機（１）は、収容端末から送出
される情報を、高品質クラスとして優先的に処理する
か、低品質クラスとして非優先的に処理するかを、端末
に割当てた仮想パス（ＶＰ）および仮想チャネル（Ｖ
Ｃ）単位に予め決定しており、ヘッダ変換部（２０）
が、入力通信路（２）から到着するＡＴＭセル（Ｃ）を
受信すると、ヘッダ（Ｈ）内の仮想パス識別子（ＶＰ
Ｉ）および仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）を分析し、ペ
イロード（Ｐ）で伝送される情報を高品質クラスとして
処理するか、低品質クラスとして処理するかを判定し、
判定結果を示す品質クラス識別子（ＱＯＳ）〔高品質ク
ラスと判定した場合には（ＱＯＳ）＝論理“１”、低品
質クラスと判定した場合には（ＱＯＳ）＝論理“０”〕
を、ヘッダ部（Ｈ）に付加する。
【０００８】なお入力通信路（２）から到着するＡＴＭ
セル（Ｃ）を構成するヘッダ部（Ｈ）の、第５オクテッ
トには、公知の如くヘッダ誤り制御（ＨＥＣ）が付加さ
れているが、ヘッダ誤り制御（ＨＥＣ）は、ＡＴＭセル
（Ｃ）がＡＴＭ交換機（１）間の通信路、或いは端末と
ＡＴＭ交換機（１）間の通信路を転送される場合に、誤
りの発生を監視する為に付加されており、ＡＴＭスイッ
チ（１０）内では特に使用されぬ為、ＡＴＭスイッチ
（１０）内では、品質クラス識別子（ＱＯＳ）が、ヘッ
ダ誤り制御（ＨＥＣ）の代わりに、第５オクテットに付
加される。
【０００９】以後品質クラス識別子（ＱＯＳ）が論理
“０”に設定されたＡＴＭセル（Ｃ）を高品質セルと称
し、品質クラス識別子（ＱＯＳ）が論理“１”に設定さ
れたＡＴＭセル（Ｃ）を低品質セルと称する。
【００１０】なおセル損失優先表示（ＣＬＰ）は本発明
には無関係故、説明を省略する。またペイロード（Ｐ）
の先頭オクテットには、ペイロードタイプ識別子（ＰＴ
Ｉ）により区別されたＯＡＭセル（ＣOAM ）およびＲＭ
セル（ＣRM）のペイロード（Ｐ）の、更に詳細な情報種
別を示すＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ／ＲＴ）が設けられ
ている。
【００１１】次に、図９に示されるＡＴＭ交換機（１）
は、複数の入力通信路（２）と、複数の出力通信路
（３）とを収容し、各入力通信路（２）に対応するヘッ
ダ変換部（２０）と、総ての入力通信路（２）および出
力通信路（３）に共通の、図１０に示される構成を有す
るＡＴＭスイッチ（１０）と、ＡＴＭ交換機（１）を中
心とする網の保守運用管理を司る保守運用管理部（３
０）とから構成されている。
【００１２】ヘッダ変換部（２０）は、対応する入力通
信路（２）から到着したＡＴＭセル（Ｃ）に対し、前述
の品質クラス識別子（ＱＯＳ）の付加処理を実行する
他、到着したＡＴＭセル（Ｃ）に付加されているヘッダ
（Ｈ）内の、入力通信路（２）上の仮想パス識別子（Ｖ
ＰＩ）および仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）を、転送先
とする出力通信路（３）上の仮想パス（ＶＰ）および仮
想チャネル（ＶＣ）を示す仮想パス識別子（ＶＰＩ）お
よび仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）に変換すると共に、
ＡＴＭスイッチ（１０）内の転送経路を指定する出力方
路情報（ＴＡＧ）を付加し、ＡＴＭスイッチ（１０）の
入力端子（４０）に入力する。
【００１３】図１０に示されるＡＴＭスイッチ（１０）
は、出力バッファ形式を採用しており、各入力端子（４
０）から入力されたＡＴＭセル（Ｃ）は、多重部（１
１）により多重化された後、各出力端子（５０）に対応
して設けられている各出方路フィルタ（１２）に伝達さ
れる。
【００１４】各出方路フィルタ（１２）は、入力される
各ＡＴＭセル（Ｃ）に付加されている出力方路情報（Ｔ
ＡＧ）を解析し、対応する出力端子（５０）に対応する
出力方路情報（ＴＡＧ）を付加されたＡＴＭセル（Ｃ）
を選出し、セル廃棄部（１３）を介して対応する出力端
子（５０）に対応して設けられている出力バッファ（１
４）に格納する。
【００１５】バッファ容量監視・優先制御部（１５）
は、各出力バッファ（１４）に指示を与え、格納されて
いるＡＴＭセル（Ｃ）をそれぞれ対応する出力端子（５
０）から出力通信路（３）に送出させると共に、出力バ
ッファ（１４）に格納済のＡＴＭセル（Ｃ）の個数を監
視し、ＡＴＭセル（Ｃ）の格納数が、輻輳判定の為に定
められている閾値に達した場合には輻輳発生と判定し、
以後当該出力バッファ（１４）に伝達されるＡＴＭセル
（Ｃ）を廃棄することを、セル廃棄部（１３）に指示す
る。
【００１６】なお、セル廃棄部（１３）は、各ＡＴＭセ
ル（Ｃ）のヘッダ（Ｈ）に設けられている品質クラス識
別子（ＱＯＳ）を参照し、低品質ＡＴＭセル（Ｃ）〔品
質クラス識別子（ＱＯＳ）＝論理“１”〕を優先的に廃
棄し、高品質ＡＴＭセル（Ｃ）〔品質クラス識別子（Ｑ
ＯＳ）＝論理“０”〕を優先的に出力バッファ（１４）
に格納する。
【００１７】またバッファ容量監視・優先制御部（１
５）は、出力バッファ（１４）に格納済のＡＴＭセル
（Ｃ）の各品質クラス識別子（ＱＯＳ）を参照し、高品
質ＡＴＭセル（Ｃ）〔品質クラス識別子（ＱＯＳ）＝論
理“０”〕を、低品質ＡＴＭセル（Ｃ）〔品質クラス識
別子（ＱＯＳ）＝論理“１”〕より優先的に抽出し、出
力端子（５０）から出力通信路（３）に送出する。
【００１８】ＡＴＭ交換機（１）を経由して転送される
ＡＴＭセル（Ｃ）には、 図１１および図１２に示され
る如く、ユーザ情報セル（ＣUSR ）の他に、ＯＡＭセル
（Ｃ OAM ）およびＲＭセル（ＣRM）が存在し、ＡＴＭ交
換機（１）内に輻輳が発生すると、ユーザ情報セル（Ｃ
USR ）のみならず、すＯＡＭセル（ＣOAM ）およびＲＭ
セル（ＣRM）も廃棄の対象となる。
【００１９】次に、各種ＯＡＭセル（ＣOAM ）およびＲ
Ｍセル（ＣRM）が廃棄された場合の影響を、図１３乃至
図１６を用いて説明する。なお対象とするＯＡＭセル
（ＣOAM ）としては、故障通知情報（ＡＩＳ）をペイロ
ード（Ｐ）として転送するＡＩＳセル（ＣAIS ）と、故
障通知認識情報（ＲＤＩ）をペイロード（Ｐ）として転
送するＲＤＩセル（ＣRDI ）と、網内導通試験情報（Ｃ
Ｃ）をペイロード（Ｐ）として転送する導通試験用ＯＡ
Ｍセル（ＣOA M ）と、装置内監視情報（ＳＰＶ）をペイ
ロード（Ｐ）として転送するＳＰＶセル（ＣSPV ）とを
取り上げ、ＲＭセル（ＣRM）としては資源管理情報（Ｒ
Ｍ）をペイロード（Ｐ）として転送するＲＭセル
（ＣRM）のみを取り上げる。
【００２０】最初に、従来あるＡＩＳセルおよびＲＤＩ
セルの転送状況を、図１３を用いて説明する。図１３に
おいて、送信側端末（４）から受信側端末（５）に至る
通信路（ｒS）と、受信側端末（５）から送信側端末
（４）に至る通信路（ｒR ）とが、ＡＴＭ交換機
（１1 ）および（１2 ）を経由して設定され、送信側端
末（４）と受信側端末（５）とが通信状態にあるとす
る。
【００２１】なお設定済の通信路（ｒS ）および通信路
（ｒR ）は、それぞれ仮想パス識別子（ＶＰＩ）および
仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）により指定されている。
かかる状態で、設定済の通信路（ｒS ）の、送信側端末
（４）とＡＴＭ交換機（１1 ）との間の区間に障害が発
生したとする。〔以後通信路（ｒS ）の各区間を
（ｒS1）、（ｒS2）、（ｒS3）と称し、通信路（ｒR ）
の各区間を（ｒR1）、（ｒR2）、（ｒR3）と称する〕。
【００２２】ＡＴＭ交換機（１1 ）内の保守運用管理部
（３０1 ）は、通信路区間（ｒS1）に障害が発生したこ
とを検出すると、以下の手順でＡＩＳセル（ＣAIS ）を
組立て、通信路区間（ｒS2）、ＡＴＭ交換機（１2 ）お
よび通信路区間（ｒS3）を経由して受信側端末（５）に
転送する。
【００２３】保守運用管理部（３０）は、ＡＩＳセル
（ＣAIS ）を示すＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ／ＲＴ）
と、検出した故障の状況を示す故障通知情報（ＡＩＳ）
とでペイロード（Ｐ）を構成し、また通信路区間
（ｒS2）により定まる仮想パス識別子（ＶＰＩ）および
仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）と、保守運用管理情報
（ＯＡＭ）を示すペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）
と、通信路（ｒS ）により定まる品質クラス識別子（Ｑ
ＯＳ）とでヘッダ（Ｈ）を構成し、ＡＩＳセル
（ＣAIS ）を組立てる。
【００２４】なお図１３(a) においては、ＡＴＭ交換機
（１1 ）および（１2 ）は何れも非輻輳状態にあるとす
ると、転送されたＡＩＳセル（ＣAIS ）はＡＴＭ交換機
（１ 1 ）および（１2 ）において廃棄されること無く、
通信路区間（ｒS2）、ＡＴＭ交換機（１2 ）および通信
路区間（ｒS3）を経由して受信側端末（５）に到着す
る。
【００２５】受信側端末（５）は、ＡＩＳセル
（ＣAIS ）を受信すると、通信路区間（ｒS1）に発生し
た故障を認識し、ＡＴＭ交換機（１1 ）における保守運
用管理部（３０）と同様に、以下の手順でＲＤＩセル
（ＣRDI ）を組立て、通信路区間（ｒR3）、ＡＴＭ交換
機（１2 ）、通信路区間（ｒR2）、ＡＴＭ交換機
（１1 ）および通信路区間（ｒR1）を経由して送信側端
末（４）に転送する。
【００２６】受信側端末（５）は、ＲＤＩセル
（ＣRDI ）を示すＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ／ＲＴ）
と、故障通知情報（ＡＩＳ）により認識した故障の状況
を示す故障通知認識情報（ＲＤＩ）とでペイロード
（Ｐ）を構成し、また通信路区間（ｒR3）により定まる
仮想パス識別子（ＶＰＩ）および仮想チャネル識別子
（ＶＣＩ）と、故障通知認識情報（ＲＤＩ）を示すペイ
ロードタイプ識別子（ＰＴＩ）と、通信路（ｒR ）によ
り定まる品質クラス識別子（ＱＯＳ）とでヘッダ（Ｈ）
を構成し、ＲＤＩセル（ＣRDI ）を組立てる。
【００２７】なおＲＤＩセル（ＣRDI ）も、ＡＴＭ交換
機（１2 ）および（１1 ）が非輻輳状態にあるとする
と、ＡＴＭ交換機（１2 ）および（１1 ）において廃棄
されること無く、送信側端末（４）に転送される。
【００２８】送信側端末（４）は、ＲＤＩセル
（ＣRDI ）を受信すると、通信路区間（ｒS1）に発生し
た故障を認識する。一方図１３(b) において、ＡＴＭ交
換機（１2 ）が輻輳状態にあるとすると、前述と同様の
過程で、ＡＴＭ交換機（１1 ）から受信側端末（５）宛
に送出されたＡＩＳセル（ＣAIS ）は、罹障通信路（ｒ
S ）により定まる品質クラス識別子（ＱＯＳ）が高品質
であれば、ＡＴＭ交換機（１2 ）において廃棄されるこ
と無く、受信側端末（５）に転送されるが、罹障通信路
（ｒS ）により定まる品質クラス識別子（ＱＯＳ）が低
品質であれば、ＡＴＭ交換機（１2 ）において廃棄され
る可能性があり、受信側端末（５）に到着しなくなる恐
れがある。
【００２９】ＡＩＳセル（ＣAIS ）を受信出来なかった
受信側端末（５）は、通信路区間（ｒS1）の故障発生を
認識出来ず、またＲＤＩセル（ＣRDI ）を組立て、送信
側端末（４）へ返送することも行わぬ為、送信側端末
（４）も、通信路区間（ｒS1）の故障発生を認識出来な
くなる。
【００３０】また図１３(c) において、ＡＴＭ交換機
（１1 ）が輻輳状態にあるとすると、前述と同様の過程
で、ＡＴＭ交換機（１1 ）から通信路区間（ｒS2）、Ａ
ＴＭ交換機（１2 ）および通信路区間（ｒS3）を経由し
て受信側端末（５）宛に転送されたＡＩＳセル
（ＣAIS ）は受信側端末（５）へ到着し、通信路区間
（ｒS1）の故障発生を認識した受信側端末（５）が、前
述と同様にＲＤＩセル（ＣRDI ）を組立て、通信路区間
（ｒR3）、ＡＴＭ交換機（１2 ）、通信路区間
（ｒR2）、ＡＴＭ交換機（１1 ）および通信路区間（ｒ
R1）を経由して送信側端末（４）宛に転送するが、ＡＴ
Ｍ交換機（１1 ）が輻輳状態にある為、通信路（ｒR ）
により定まる品質クラス識別子（ＱＯＳ）が高品質であ
れば、ＡＴＭ交換機（１1 ）において廃棄されること無
く、送信側端末（４）に転送されるが、通信路（ｒR ）
により定まる品質クラス識別子（ＱＯＳ）が低品質であ
れば、ＡＴＭ交換機（１ 1 ）において廃棄される可能性
があり、送信側端末（４）に到着しなくなる恐れがあ
る。
【００３１】故障通知認識情報（ＲＤＩ）を受信出来な
かった送信側端末（４）は、通信路の故障発生を認識出
来なくなる。次に、従来ある導通試験用ＯＡＭセルの転
送状況を、図１４を用いて説明する。
【００３２】図１４において、送信側端末（４）から受
信側端末（５）に至る通信路（ｒS）が、ＡＴＭ交換機
（１1 ）および（１2 ）を経由して設定されたとする。
かかる状態で、ＡＴＭ交換機（１1 ）からＡＴＭ交換機
（１2 ）に至る通信路区間（ｒS2）の導通状態を試験す
る場合に、ＡＴＭ交換機（１1 ）において、保守運用管
理部（３０1 ）が、以下の手順で導通試験用ＯＡＭセル
（ＣOAM ）を組立て、通信路区間（ｒS2）を経由してＡ
ＴＭ交換機（１2 ）内の保守運用管理部（３０2 ）宛に
に転送する。
【００３３】保守運用管理部（３０1 ）は、ＯＡＭセル
（ＣOAM ）を示すＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ／ＲＴ）
と、導通試験用保守運用管理情報（ＯＡＭ）とでペイロ
ード（Ｐ）を構成し、また通信路区間（ｒS2）により定
まる仮想パス識別子（ＶＰＩ）および仮想チャネル識別
子（ＶＣＩ）と、保守運用管理情報（ＯＡＭ）を示すペ
イロードタイプ識別子（ＰＴＩ）と、通信路（ｒS ）に
より定まる品質クラス識別子（ＱＯＳ）とでヘッダ
（Ｈ）を構成し、ＯＡＭセル（ＣOAM ）を組立てる。
【００３４】なお図１４(a) においては、ＡＴＭ交換機
（１1 ）および（１2 ）は何れも非輻輳状態あるとする
と、ＡＴＭ交換機（１1 ）の保守運用管理部（３０）か
ら送出されたＯＡＭセル（ＣOAM ）は、輻輳の為に廃棄
されること無く、通信路区間（ｒS2）を経由してＡＴＭ
交換機（１2 ）の保守運用管理部（３０2 ）に到着す
る。
【００３５】従って、ＡＴＭ交換機（１1 ）内の保守運
用管理部（３０1 ）が導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）
を送信した後、所定時間以内にＡＴＭ交換機（１2 ）内
の保守運用管理部（３０2 ）がＯＡＭセル（ＣOAM ）を
受信し、且つ送信したＯＡＭセル（ＣOAM ）と受信した
ＯＡＭセル（ＣOAM ）とが一致すれば、試験対象通信路
区間（ｒS2）の導通状態は正常と判定される。
【００３６】一方図１４(b) において、ＡＴＭ交換機
（１2 ）が輻輳状態にあるとすると、前述と同様の過程
で、ＡＴＭ交換機（１1 ）の保守運用管理部（３０1 ）
からＡＴＭ交換機（１2 ）内の保守運用管理部（３０）
宛に転送されたＯＡＭセル（Ｃ OAM ）は、試験対象通信
路区間（ｒS2）により定まる品質クラス識別子（ＱＯ
Ｓ）が高品質であれば、ＡＴＭ交換機（１2 ）において
廃棄されること無く、保守運用管理部（３０2 ）に転送
されるが、試験対象通信路区間（ｒS2）により定まる品
質クラス識別子（ＱＯＳ）が低品質であれば、ＡＴＭ交
換機（１2 ）において廃棄される可能性があり、保守運
用管理部（３０2 ）に到着しなくなる恐れがある。
【００３７】導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）を受信出
来なかった保守運用管理部（３０2）は、試験対象通信
路区間（ｒS2）の導通状態が正常であるにも拘らず、異
常と判定することとなる。
【００３８】次に、従来あるＲＭセルの転送状況を、図
１５を用いて説明する。図１５において、送信側端末
（４）から受信側端末（５）に至る通信路（ｒS）と、
受信側端末（５）から送信側端末（４）に至る通信路
（ｒR ）とが、ＡＴＭ交換機（１1 ）および（１2 ）を
経由して設定され、送信側端末（４）と受信側端末
（５）とが通信状態にあるとする。
【００３９】かかる状態で、ＡＴＭ交換機（１1 ）が非
輻輳状態にあれば、送信側端末（４）から通信路区間
（ｒS1）、ＡＴＭ交換機（１1 ）および通信路区間（ｒ
S2）を経由してＡＴＭ交換機（１2 ）に転送されるユー
ザ情報セル（ＣUSR ）の、ヘッダ（Ｈ）に設けられてい
るペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）〔＝ユーザ情報
（ＵＳＲ）〕は、非輻輳（ＮＭＬ）が組合せられている
〔図１１および図１２参照〕。
【００４０】ここで、ＡＴＭ交換機（１2 ）内において
通信路（ｒS ）に輻輳発生の前兆が見受けられるとする
と、ＡＴＭ交換機（１2 ）内の保守運用管理部（３
０2 ）は、ＡＴＭ交換機（１2 ）から通信路区間
（ｒS3）を経由して受信側端末（５）へ転送されるユー
ザ情報セル（ＣUSR ）の、ヘッダ（Ｈ）に設けられてい
るペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）〔＝ユーザ情報
（ＵＳＲ）〕に、前方輻輳通知（ＥＦＣＩ）を組合せる
〔図１１および図１２参照〕。
【００４１】受信側端末（５）は、ＡＴＭ交換機
（１2 ）から通信路区間（ｒS3）を経由して転送される
ユーザ情報セル（ＣUSR ）を受信・解析し、ヘッダ
（Ｈ）に設けられているペイロードタイプ識別子（ＰＴ
Ｉ）〔＝ユーザ情報（ＵＳＲ）〕に前方輻輳通知（ＥＦ
ＣＩ）が付加されていることを検出すると、送信側端末
（４）から受信側端末（５）に至る通信路（ｒS ）に、
輻輳発生の前兆が身受けられることを認識し、以下の手
順でＲＭセル（ＣRM）を組立て、受信通信路を経由し
て、送信側端末（４）に転送する。
【００４２】受信側端末（５）は、ＲＭセル（ＣRM）を
示すＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ／ＲＴ）と、前方輻輳通
知（ＥＦＣＩ）により認識した輻輳発生の前兆状況を示
す資源管理情報（ＲＭ）とでペイロード（Ｐ）を構成
し、また通信路区間（ｒR3）により定まる仮想パス識別
子（ＶＰＩ）および仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）と、
資源管理情報（ＲＭ）を示すペイロードタイプ識別子
（ＰＴＩ）と、通信路（ｒ R ）により定まる品質クラス
識別子（ＱＯＳ）とでヘッダ（Ｈ）を構成し、ＲＭセル
（ＣRM）を組立てる。
【００４３】なおＲＭセル（ＣRM）も、ＡＴＭ交換機
（１2 ）および（１1 ）が非輻輳状態にあるとすると、
ＡＴＭ交換機（１2 ）および（１1 ）において廃棄され
ること無く、送信側端末（４）に転送される。
【００４４】送信側端末（４）は、ＲＭセル（ＣRM）を
受信すると、送信側端末（４）から受信側端末（５）に
至る通信路（ｒS ）に輻輳発生の前兆を認識し、輻輳発
生を回避する対策として、例えば受信側端末（５）への
ユーザ情報セル（ＣUSR ）の送信レートを低下させる。
【００４５】一方図１５(b) においては、ＡＴＭ交換機
（１1 ）が輻輳状態にあるとすると、前述と同様の過程
で、ＡＴＭ交換機（１2 ）から通信路区間（ｒS3）を経
由して受信側端末（５）宛に転送された、前方輻輳通知
（ＥＦＣＩ）をペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）に組
合せたユーザ情報セル（ＣUSR ）は受信側端末（５）へ
到着し、通信路（ｒS ）の輻輳発生の前兆を認識した受
信側端末（５）が、前述と同様にＲＭセル（ＣRM）を組
立て、通信路区間（ｒR3）、ＡＴＭ交換機（１ 2 ）、通
信路区間（ｒR2）、ＡＴＭ交換機（１1 ）および通信路
区間（ｒR1）を経由して送信側端末（４）宛に転送する
が、ＡＴＭ交換機（１1 ）が輻輳状態にある為、通信路
（ｒR ）により定まる品質クラス識別子（ＱＯＳ）が高
品質であれば、ＡＴＭ交換機（１1 ）において廃棄され
ること無く、送信側端末（４）に転送されるが、通信路
（ｒR ）により定まる品質クラス識別子（ＱＯＳ）が低
品質であれば、ＡＴＭ交換機（１1 ）において廃棄され
る可能性があり、送信側端末（４）に到着しなくなる恐
れがある。
【００４６】ＲＭセル（ＣRM）を受信出来なかった送信
側端末（４）は、通信路（ｒS ）の輻輳発生の前兆も認
識出来ず、従って輻輳発生を回避する対策として、例え
ば受信側端末（５）へのユーザ情報セル（ＣUSR ）の送
信レートを低下させることも行わぬ為、輻輳を回避する
ことも出来なくなる。
【００４７】次に、従来あるＳＰＶセルの転送状況を、
図１６を用いて説明する。図１６において、ＡＴＭスイ
ッチ（１０）の特定の入力端子（４０）と特定の出力端
子（５０）との間のセル転送経路（ｒ）を監視すること
とし、保守運用管理部（３０）が、以下の手順でＳＰＶ
セル（ＣSPV ）を組立て、ＡＴＭスイッチ（１０）の入
力端子（４０）から入力する。
【００４８】保守運用管理部（３０）は、ＳＰＶセル
（ＣSPV ）を示すＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ／ＲＴ）
と、装置内監視情報（ＳＰＶ）とでペイロード（Ｐ）を
構成し、また試験対象セル転送経路（ｒ）により定まる
仮想パス識別子（ＶＰＩ）および仮想チャネル識別子
（ＶＣＩ）と、保守運用管理情報（ＯＡＭ）を示すペイ
ロードタイプ識別子（ＰＴＩ）と、セル転送経路（ｒ）
により定まる品質クラス識別子（ＱＯＳ）とでヘッダ
（Ｈ）を構成し、更に監視の対象とするＡＴＭスイッチ
（１０）内のセル転送経路（ｒ）を指定する出力方路情
報（ＴＡＧ）を付加し、ＳＰＶセル（ＣSPV ）を組立て
る。
【００４９】かかる状態で、ＡＴＭスイッチ（１０）内
の監視対象とする通信路が、図１６(a) に示される如
く、非輻輳状態にあれば、ＳＰＶセル（ＣSPV ）はＡＴ
Ｍスイッチ（１０）内で廃棄されること無く、出力端子
（５０）から出力される筈である。
【００５０】保守運用管理部（３０）は、組立てたＳＰ
Ｖセル（ＣSPV ）を入力端子（４０）から入力した後、
出力端子（５０）から出力されるＡＴＭセル（Ｃ）を監
視し、所定時間内に、出力端子（５０）から装置内監視
情報（ＳＰＶ）が出力され、且つ入力端子（４０）から
入力した装置内監視情報（ＳＰＶ）と一致することを確
認すると、監視対象とするＡＴＭスイッチ（１０）内の
セル転送経路（ｒ）が正常であると判定する。
【００５１】一方図１６(b) においては、ＡＴＭスイッ
チ（１０）内の監視対象とするセル転送経路（ｒ）が輻
輳状態にあるとすると、保守運用管理部（３０）が、前
述と同様の過程で、ＡＴＭスイッチ（１０）の特定の入
力端子（４０）から入力したＳＰＶセル（ＣSPV ）は、
監視対象とするセル転送経路（ｒ）により定まる品質ク
ラス識別子（ＱＯＳ）が高品質であれば、ＡＴＭスイッ
チ（１０）内の監視対象セル転送経路（ｒ）において廃
棄されること無く、出力端子（５０）から出力される
が、監視対象とするセル転送経路（ｒ）により定まる品
質クラス識別子（ＱＯＳ）が低品質であれば、ＡＴＭス
イッチ（１０）内の監視対象セル転送経路（ｒ）におい
て廃棄される可能性があり、出力端子（５０）から出力
されなくなる恐れがある。
【００５２】その結果、保守運用管理部（３０）は、監
視対象とするＡＴＭスイッチ（１０）内の通信路が、本
来正常であるにも拘らず、異常であると判定する可能性
がある。
【００５３】
【発明が解決しようとする課題】以上の説明から明らか
な如く、従来あるＡＴＭ交換網においては、ＡＴＭ交換
網の保守運用管理等の為に、ＡＴＭ交換網内を転送する
ＡＩＳセル（ＣAIS ）、ＲＤＩセル（ＣRDI ）、導通試
験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）、ＲＭセル（ＣRM）、或いは
ＳＰＶセル（ＣSPV ）等〔以後所定種別のセル（ＣSP）
と総称する〕は、ＡＴＭ交換網内に輻輳状態が発生する
と、低品質が指定されている場合には廃棄される可能性
があり、ＡＴＭ交換網の保守運用管理に支障を来す恐れ
があった。
【００５４】本発明は、ＡＴＭ交換網内に輻輳状態が発
生した場合にも、所定種別のセルが廃棄されること無く
転送されることを目的とする。
【００５５】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理図で
ある。図１において、１００は本発明の対象となるＡＴ
Ｍスイッチ、１０１はＡＴＭスイッチ（１００）内に設
けられたバッファ、２００は入力端子、３００は出力端
子である。
【００５６】１０２は、本発明によりＡＴＭスイッチ
（１００）内に設けられたセル種別検出手段である。１
０３は、本発明によりＡＴＭスイッチ（１００）内に設
けられたセル廃棄保護手段である。
【００５７】セル種別検出手段（１０２）は、入力端子
（２００）から入力される各セル（Ｃ）から、所定種別
のセルを検出する。セル廃棄保護手段（１０３）は、セ
ル種別検出手段（１０２）が検出した所定種別のセル
を、バッファ（１０１）に輻輳が発生した場合にも廃棄
される可能性を軽減させる。
【００５８】なおセル種別検出手段（１０２）は、入力
端子（２００）に対するセルの入力通信路に発生した故
障を検出し、出力側の装置に通知する「故障通知セル」
を、所定種別のセルとして検出することが考慮される。
【００５９】またセル種別検出手段（１０２）は、「故
障通知セル」を受信した出力側の装置が、入力側の装置
に対して「故障通知セル」を受信したことを通知する
「故障通知認識セル」を、所定種別のセルとして検出す
ることが考慮される。
【００６０】またセル種別検出手段（１０２）は、ＡＴ
Ｍ交換網内の指定された通信路の導通状態を試験する
「導通試験用保守運用管理セル」を、所定種別のセルと
して検出することが考慮される。
【００６１】またセル種別検出手段（１０２）は、ＡＴ
Ｍスイッチ（１００）内のセル転送経路に輻輳発生の前
兆が見受けられることを、出力側の装置に通知する「前
方輻輳通知」を設定済の「ユーザ情報セル」を受信した
出力側の装置が、「前方輻輳通知」を受信したことを入
力側の装置に対して通知する「資源管理用セル」を、所
定種別のセルとして検出することが考慮される。
【００６２】またセル種別検出手段（１０２）は、自Ａ
ＴＭスイッチ（１００）内の指定されたセル転送経路を
監視・試験する「装置内監視セル」を、所定種別のセル
として検出することが考慮される。
【００６３】またセル廃棄保護手段（１０３）は、セル
種別検出手段（１０２）が検出した所定種別のセルを、
ＡＴＭスイッチ（１００）内に輻輳が発生した場合に
も、廃棄される確率の低い高品質クラスのセルとして処
理することが考慮される。
【００６４】またセル廃棄保護手段（１０３）は、セル
種別検出手段（１０２）が検出した複数種類の所定種別
のセルに対し、ＡＴＭスイッチ（１００）内に輻輳が発
生した場合にも、廃棄される確率の低い高品質クラスの
セルとして処理するか否かを、種類毎に個別に決定する
ことが考慮される。
【００６５】またセル廃棄保護手段（１０３）は、セル
種別検出手段（１０２）が検出した所定種別のセルに対
し、ＡＴＭスイッチ（１００）内のバッファ（１０１）
に輻輳発生を判定する滞留セル数の閾値を、他のセルよ
り高い値に設定することが考慮される。
【００６６】更にセル廃棄保護手段（１０３）は、セル
種別検出手段（１０２）が検出した複数種類の所定種別
のセルに対し、ＡＴＭスイッチ（１００）内のバッファ
（１０１）に輻輳発生を判定する滞留セル数の閾値を、
種類毎に個別に決定することが考慮される。
【００６７】従って、ＡＴＭ交換網内に輻輳が発生した
場合にも、所定種別のセルは廃棄される確率が低減さ
れ、ＡＴＭ交換網の保守運用管理が支障無く実行可能と
なり、当該ＡＴＭ交換網の信頼性が大幅に向上する。
【００６８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
より説明する。図２は本発明の実施形態によるＡＴＭス
イッチを示す図であり、図３は本発明（請求項１、２、
３）の実施形態によるＡＩＳセルおよびＲＤＩセルの転
送状況を示す図であり、図４は本発明（請求項１、４）
の実施形態による導通試験用ＯＡＭセルの転送状況を示
す図であり、図５は本発明（請求項１、５）の実施形態
によるＲＭセルの転送状況を示す図であり、図６は本発
明（請求項１、６）の実施形態によるＳＰＶセルの転送
状況を示す図である。なお、全図を通じて同一符号は同
一対象物を示す。また対象とするＡＴＭ交換機は、図９
に示す通りとし、更に対象とするＡＴＭセル形式は、図
１１および図１２に示す通りとする。
【００６９】図２においては、図１におけるＡＴＭスイ
ッチ（１００）としてＡＴＭスイッチ（１０）が示さ
れ、また図１におけるバッファ（１０１）として出力バ
ッファ（１４）が示され、また図１におけるセル種別検
出手段（１０２）として、ＡＩＳセル検出部（１
６A ）、ＲＤＩセル検出部（１６B ）、ＯＡＭセル検出
部（１６C ）、ＲＭセル検出部（１６D ）およびＳＰＶ
セル検出部（１６E ）〔以後所定種別セル検出部（１
６）と総称する場合がある。〕が設けられ、また図１に
おけるセル廃棄保護手段（１０３）として、擬似高品質
クラス設定部（１５１）および輻輳判定用閾値制御部
（１５２）がバッファ容量監視・優先制御部（１５）内
に設けられている。
【００７０】ＡＩＳセル検出部（１６A ）は、多重部
（１１）から出力され、各出方路フィルタ（１２）に伝
達されるＡＴＭセル（Ｃ）を並行して受信し、受信した
ＡＴＭセル（Ｃ）のヘッダ（Ｈ）内のペイロードタイプ
識別子（ＰＴＩ）と、ペイロード（Ｐ）内のＯＡＭ種別
／ＲＭ種別（Ｏ／ＲＴ）とを解析することにより、ＡＩ
Ｓセル（ＣAIS ）であるか否かを検査し、ＡＩＳセル
（ＣAIS ）であることを検出した場合には、検出信号
（ｄA ）をバッファ容量監視・優先制御部（１５）に伝
達するが、ＡＩＳセル（ＣAIS ）であることを検出しな
かった場合には、検出信号（ｄA ）をバッファ容量監視
・優先制御部（１５）に伝達しない。
【００７１】またＲＤＩセル検出部（１６B ）は、ＡＩ
Ｓセル検出部（１６A ）と同様に、各出方路フィルタ
（１２）に伝達されるＡＴＭセル（Ｃ）を並行して受信
・解析することにより、ＲＤＩセル（ＣRDI ）であるか
否かを検査し、ＲＤＩセル（Ｃ RDI ）であることを検出
した場合に限り、検出信号（ｄB ）をバッファ容量監視
・優先制御部（１５）に伝達する。
【００７２】またＯＡＭセル検出部（１６C ）は、ＡＩ
Ｓセル検出部（１６A ）と同様に、各出方路フィルタ
（１２）に伝達されるＡＴＭセル（Ｃ）を並行して受信
・解析することにより、導通試験用のＯＡＭセル（Ｃ
OAM ）であるか否かを検査し、導通試験用のＯＡＭセル
（ＣOAM ）であることを検出した場合に限り、検出信号
（ｄC ）をバッファ容量監視・優先制御部（１５）に伝
達する。
【００７３】またＲＭセル検出部（１６D ）は、ＡＩＳ
セル検出部（１６A ）と同様に、各出方路フィルタ（１
２）に伝達されるＡＴＭセル（Ｃ）を並行して受信・解
析することにより、ＲＭセル（ＣRM）であるか否かを検
査し、ＲＭセル（ＣRM）であることを検出した場合に限
り、検出信号（ｄD ）をバッファ容量監視・優先制御部
（１５）に伝達する。
【００７４】更にＳＰＶセル検出部（１６E ）は、ＡＩ
Ｓセル検出部（１６A ）と同様に、各出方路フィルタ
（１２）に伝達されるＡＴＭセル（Ｃ）を並行して受信
・解析することにより、ＳＰＶセル（ＣSPV ）であるか
否かを検査し、ＳＰＶセル（Ｃ SPV ）であることを検出
した場合に限り、検出信号（ｄE ）をバッファ容量監視
・優先制御部（１５）に伝達する。〔以後検出信号（ｄ
A ）、（ｄB ）、（ｄC ）、（ｄD ）および（ｄE ）を
検出信号（ｄ）と総称する場合がある。〕 バッファ容量監視・優先制御部（１５）は、所定種別セ
ル検出部（１６）から検出信号（ｄ）を受信した場合に
は、擬似高品質クラス設定部（１５１）および輻輳判定
用閾値制御部（１５２）の何れかを起動するが、検出信
号（ｄ）を受信しなかった場合には、擬似高品質クラス
設定部（１５１）および輻輳判定用閾値制御部（１５
２）の何れも起動せず、従来あるＡＴＭスイッチ（１
０）〔図１０参照〕におけるバッファ容量監視・優先制
御部（１５）と同様に機能する。
【００７５】擬似高品質クラス設定部（１５１）を起動
する場合のバッファ容量監視・優先制御部（１５）は、
出力バッファ（１４）が容量一杯のＡＴＭセル（Ｃ）を
格納している場合を、出力バッファ（１４）が輻輳状態
にあると判定し、また容量未満のＡＴＭセル（Ｃ）を格
納している場合を、出力バッファ（１４）が非輻輳状態
にあると判定する。
【００７６】擬似高品質クラス設定部（１５１）が起動
された場合には、多重部（１１）から出方路フィルタ
（１２）を経由してセル廃棄部（１３）に伝達されたＡ
ＴＭセル（Ｃ）〔即ち所定種別セル検出部（１６）によ
り所定種別のセル（ＣSP）と検出されたＡＴＭセル
（Ｃ）〕の品質クラス識別子（ＱＯＳ）が、高品質〔Ｑ
ＯＳ＝論理“０”〕および低品質〔ＱＯＳ＝論理
“１”〕の何れに設定されている場合にも、常に高品質
〔ＱＯＳ＝論理“０”〕に設定されているものと見做
し、セル廃棄部（１３）には廃棄しない様に指示を与
え、また出力バッファ（１４）には、優先的に出力端子
（５０）から出力させる様に指示する〔本発明（請求項
７）の実施形態〕。
【００７７】従って、出力バッファ（１４）が輻輳状態
にある場合に所定種別のセル（ＣSP）と検出されたＡＴ
Ｍセル（Ｃ）が到着した場合には、所定種別のセル（Ｃ
SP）より先に到着し、出力バッファ（１４）に格納済の
低品質のＡＴＭセル（Ｃ）が廃棄され、代わりに新たに
到着した所定種別のセル（ＣSP）が出力バッファ（１
４）に格納されることとなる。
【００７８】なお、バッファ容量監視・優先制御部（１
５）は、個々のＡＩＳセル検出部（１６A ）乃至ＳＰＶ
セル検出部（１６E ）から伝達される検出信号（ｄA ）
乃至（ｄE ）に対し、擬似高品質クラス設定部（１５
１）を起動するか否かを任意に指定することも可能であ
る〔本発明（請求項８）の実施形態〕。
【００７９】一方、輻輳判定用閾値制御部（１５２）を
起動する場合のバッファ容量監視・優先制御部（１５）
は、出力バッファ（１４）の輻輳状態を判定する輻輳判
定用閾値（ＴＨCG）を、出力バッファ（１４）の格納容
量より下回った値に設定しており、出力バッファ（１
４）に格納されているＡＴＭセル（Ｃ）が輻輳判定用閾
値（ＴＨCG）以上の場合を、出力バッファ（１４）が輻
輳状態にあると判定し、また出力バッファ（１４）に格
納されているＡＴＭセル（Ｃ）が輻輳判定用閾値（ＴＨ
CG）未満の場合を、出力バッファ（１４）が非輻輳状態
にあると判定する。
【００８０】輻輳判定用閾値制御部（１５２）が起動さ
れた場合には、多重部（１１）から出方路フィルタ（１
２）を経由してセル廃棄部（１３）に伝達されたＡＴＭ
セル（Ｃ）〔即ち即ち所定種別セル検出部（１６）によ
り所定種別のセル（ＣSP）と検出されたＡＴＭセル
（Ｃ）〕の品質クラス識別子（ＱＯＳ）が、高品質〔Ｑ
ＯＳ＝論理“０”〕および低品質〔ＱＯＳ＝論理
“１”〕の何れに設定されている場合にも、常に高品質
〔ＱＯＳ＝論理“０”〕に設定されているものと見做
し、出力バッファ（１４）が輻輳判定用閾値（ＴＨCG）
以上のＡＴＭセル（Ｃ）を格納済の場合にも、セル廃棄
部（１３）には廃棄しない様に指示を与え、また出力バ
ッファ（１４）には、優先的に出力端子（５０）から出
力させる様に指示する〔本発明（請求項９）の実施形
態〕。
【００８１】従って、出力バッファ（１４）に格納済の
ＡＴＭセル（Ｃ）が容量に達している状態で所定種別の
セル（ＣSP）と検出されたＡＴＭセル（Ｃ）が到着した
場合には、所定種別のセル（ＣSP）より先に到着し、出
力バッファ（１４）に格納済の低品質のＡＴＭセル
（Ｃ）が廃棄され、代わりに新たに到着した所定種別の
セル（ＣSP）が出力バッファ（１４）に格納されること
となる。
【００８２】なお、バッファ容量監視・優先制御部（１
５）は、個々のＡＩＳセル検出部（１６A ）乃至ＳＰＶ
セル検出部（１６E ）から伝達される検出信号（ｄA ）
乃至（ｄE ）に対し、輻輳判定用閾値制御部（１５２）
を起動するか否かを任意に指定すると共に、輻輳判定用
閾値（ＴＨCG）を、検出信号（ｄA ）乃至（ｄE ）に対
応して個々に設定することも可能である〔本発明（請求
項１０）の実施形態〕。
【００８３】以下に、ＡＴＭ網内に輻輳が発生した場合
の、各所定種別のセルの転送状況を、図３乃至図６を用
いて説明する。図３乃至図６においても、対象とする所
定種別のセル（ＣSP）は、図１３乃至図１６におけると
同様に、ＡＩＳセル（ＣAIS ）、ＲＤＩセル
（ＣRDI ）、導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）、ＲＭセ
ル（ＣRM）およびＳＰＶセル（ＣSPV ）とする。
【００８４】またＡＴＭ網が非輻輳状態にある場合の、
各所定種別のセル（ＣSP）の転送状況は、図１３乃至図
１６により説明済であるから、図３乃至図６において
は、輻輳発生状態のみを説明する。
【００８５】最初に、本発明（請求項１、２、３）の実
施形態によるＡＩＳセルおよびＲＤＩセルの転送状況
を、図２および図３を用いて説明する。図２および図３
において、送信側端末（４）から受信側端末（５）に至
る通信路（ｒS ）と、受信側端末（５）から送信側端末
（４）に至る通信路（ｒR ）とが、ＡＴＭ交換機
（１1 ）および（１2 ）を経由して設定され、送信側端
末（４）と受信側端末（５）とが通信状態にあるとす
る。
【００８６】かかる状態で、設定済の通信路（ｒS ）
の、送信側端末（４）とＡＴＭ交換機（１1 ）との間の
通信路区間（ｒS1）に障害が発生したとする。ＡＴＭ交
換機（１1 ）内の保守運用管理部（３０1 ）は、通信路
区間（ｒS1）に障害が発生したことを検出すると、前述
と同様の手順でＡＩＳセル（ＣAIS ）を組立て、通信路
区間（ｒS2）を経由してＡＴＭ交換機（１2 ）に転送す
る。
【００８７】ＡＴＭ交換機（１2 ）においては、ヘッダ
変換部（２０2 ）が、通信路区間（ｒS2）を経由して到
着するＡＩＳセル（ＣAIS ）を受信すると、所定の品質
クラス識別子（ＱＯＳ）の付加処理と、仮想パス識別子
（ＶＰＩ）および仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）の変換
処理と、出力方路情報（ＴＡＧ）の付加処理とを実行し
た後、ＡＴＭスイッチ（１０2 ）の所定入力端子（４
０）に入力する。
【００８８】ＡＴＭスイッチ（１０2 ）においては、多
重部（１１2 ）が、所定入力端子（４０）から入力され
たＡＩＳセル（ＣAIS ）を、各出方路フィルタ（１
２2 ）および各所定種別セル検出部（１６2 ）に伝達す
る。
【００８９】各出方路フィルタ（１２2 ）は、それぞれ
伝達されたＡＩＳセル（ＣAIS ）に付加されている出力
方路情報（ＴＡＧ）を解析し、自出力端子（５０）に接
続されている出力通信路（３）、即ち通信路区間
（ｒS3）に対応する出方路フィルタ（１２2 ）のみがＡ
ＩＳセル（ＣAIS ）を選出し、セル廃棄部（１３2 ）に
伝達する。
【００９０】また各所定種別セル検出部（１６2 ）は、
伝達されたＡＩＳセル（ＣAIS ）を受信し、ヘッダ
（Ｈ）内のペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）、並びに
ペイロード（Ｐ）内のＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ／Ｒ
Ｔ）を解析することにより、それぞれ固有の所定種別の
セル（ＣSP）であるか否かを分析し、ＡＩＳセル検出部
（１６A2）のみが、入力されたＡＩＳセル（ＣAIS ）を
検出して検出信号（ｄA ）を出力し、バッファ容量監視
・優先制御部（１５2 ）に伝達する。
【００９１】バッファ容量監視・優先制御部（１５2 ）
は、ＡＩＳセル検出部（１６A2）から検出信号（ｄA ）
を受信すると、擬似高品質クラス設定部（１５１2 ）お
よび輻輳判定用閾値制御部（１５２2 ）の何れかを起動
する。
【００９２】最初に、擬似高品質クラス設定部（１５１
2 ）を起動した場合を説明する。起動された擬似高品質
クラス設定部（１５１2 ）は、前述の如く、セル廃棄部
（１３2 ）に対して、何れかの出方路フィルタ（１
２2 ）から伝達されたＡＩＳセル（ＣAIS ）を、品質ク
ラス識別子（ＱＯＳ）が高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕
および低品質〔ＱＯＳ＝論理“１”〕の何れに設定され
ている場合にも、常に高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕に
設定されているものと見做し、通信路区間（ｒ S3）に対
応する出力バッファ（１４2 ）が輻輳状態にある場合に
も、ＡＩＳセル（ＣAIS ）を廃棄すること無く、出力バ
ッファ（１４2 ）に格納することを指示する。
【００９３】また擬似高品質クラス設定部（１５１2 ）
は、セル廃棄部（１３2 ）がＡＩＳセル（ＣAIS ）を格
納する出力バッファ（１４2 ）、即ち通信路区間
（ｒS3）に対応する出力バッファ（１４2 ）を検出し、
検出した出力バッファ（１４2 ）に対し、セル廃棄部
（１３2 ）から格納されるＡＩＳセル（ＣAIS ）を、高
品質セル〔ＱＯＳ＝論理“０”〕として処理し、格納済
の低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕より優先的に抽出
し、対応する出力端子（５０）から通信路区間（ｒS3）
に対応する出力通信路（３）に送出することを指示す
る。
【００９４】かかる状態で、図３(a) に示される如く、
ＡＴＭ交換機（１2 ）に設定済の通信路（ｒS ）、即ち
ＡＴＭスイッチ（１０2 ）内の通信路区間（ｒS3）に対
応する出力バッファ（１４2 ）が輻輳状態にあったとす
ると、該当する出力バッファ（１４2 ）は容量分のＡＴ
Ｍセル（Ｃ）を格納済であり、新たにＡＴＭセル（Ｃ）
を格納する余地は無い筈である。
【００９５】セル廃棄部（１３2 ）は、何れかの出方路
フィルタ（１２2 ）から伝達されたＡＩＳセル
（ＣAIS ）を、擬似高品質クラス設定部（１５１2 ）か
らの指示に基づき、高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕とし
て処理する為に、該当する出力バッファ（１４2 ）に格
納済のＡＴＭセル（Ｃ）の中から、低品質セル〔ＱＯＳ
＝論理“１”〕を抽出して廃棄し、代わりにＡＩＳセル
（ＣAIS ）を格納する。
【００９６】また、ＡＩＳセル（ＣAIS ）を格納された
出力バッファ（１４2 ）は、格納されたＡＩＳセル（Ｃ
AIS ）を、出力バッファ（１４2 ）に格納済のＡＴＭセ
ル（Ｃ）の内、低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕より
も優先的に抽出し、対応する出力端子（５０）から出力
通信路（３）、即ち通信路区間（ｒS3）に送出する。
【００９７】以上により、通信路区間（ｒS2）からＡＴ
Ｍ交換機（１2 ）に到着したＡＩＳセル（ＣAIS ）は、
ＡＴＭ交換機（１2 ）において該当する通信路
（ｒS ）、即ちＡＴＭスイッチ（１０2 ）の通信路区間
（ｒS3）に対応する出力バッファ（１４2 ）に輻輳が発
生している場合にも、廃棄されること無く、通信路区間
（ｒS3）を経由して受信側端末（５）に転送される。
【００９８】次に、輻輳判定用閾値制御部（１５２2 ）
を起動した場合を説明する。起動された輻輳判定用閾値
制御部（１５２2 ）は、前述の如く、セル廃棄部（１３
2 ）に対して、何れかの出方路フィルタ（１２2 ）から
伝達されたＡＩＳセル（ＣAIS ）を、対応する出力バッ
ファ（１４2 ）に格納済のＡＴＭセル（Ｃ）が、予め定
められている輻輳判定用閾値（ＴＨCG）に達していると
否とに拘らず、ＡＩＳセル（ＣAIS ）を廃棄すること無
く、出力バッファ（１４2 ）に格納することを指示す
る。
【００９９】また輻輳判定用閾値制御部（１５２2 ）
は、セル廃棄部（１３2 ）がＡＩＳセル（ＣAIS ）を格
納する出力バッファ（１４2 ）、即ち通信路区間
（ｒS3）に対応する出力バッファ（１４2 ）を検出し、
検出した出力バッファ（１４2 ）に対し、セル廃棄部
（１３2 ）から格納されるＡＩＳセル（ＣAIS ）を、高
品質セル〔ＱＯＳ＝論理“０”〕として処理し、格納済
の低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕より優先的に抽出
し、対応する出力端子（５０）から通信路区間（ｒS3）
に対応する出力通信路（３）に送出することを指示す
る。
【０１００】かかる状態で、図３(a) に示される如く、
ＡＴＭ交換機（１2 ）において、設定済の通信路
（ｒS ）、即ちＡＴＭスイッチ（１０2 ）内の通信路区
間（ｒS3）に対応する出力バッファ（１４2 ）が輻輳状
態にあったとすると、該当する出力バッファ（１４2 ）
は輻輳判定用閾値（ＴＨCG）分のＡＴＭセル（Ｃ）を格
納済であり、所定種別のセル（ＣSP）以外のＡＴＭセル
（Ｃ）が出方路フィルタ（１２2 ）から伝達された場合
には、該当する出力バッファ（１４2 ）に格納されるこ
と無く、廃棄されることとなる。
【０１０１】セル廃棄部（１３2 ）は、何れかの出方路
フィルタ（１２2 ）から伝達されたＡＩＳセル
（ＣAIS ）を、輻輳判定用閾値制御部（１５２2 ）から
の指示に基づき、輻輳判定用閾値（ＴＨCG）分のＡＴＭ
セル（Ｃ）を格納済の該当する出力バッファ（１４2 ）
に格納する。
【０１０２】また、ＡＩＳセル（ＣAIS ）を格納された
出力バッファ（１４2 ）は、格納されたＡＩＳセル（Ｃ
AIS ）を、出力バッファ（１４2 ）に格納済のＡＴＭセ
ル（Ｃ）の内、低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕より
も優先的に抽出し、対応する出力端子（５０）から出力
通信路（３）、即ち通信路区間（ｒS3）に送出する。
【０１０３】以上により、通信路区間（ｒS2）からＡＴ
Ｍ交換機（１2 ）に到着したＡＩＳセル（ＣAIS ）は、
ＡＴＭ交換機（１2 ）において該当する通信路
（ｒS ）、即ちＡＴＭスイッチ（１０2 ）の通信路区間
（ｒS3）に対応する出力バッファ（１４2 ）に輻輳が発
生している場合にも、廃棄されること無く、通信路区間
（ｒS3）を経由して受信側端末（５）に転送される。
【０１０４】受信側端末（５）は、ＡＩＳセル
（ＣAIS ）を受信し、通信路区間（ｒS1）に発生した故
障を認識すると、前述と同様の手順で、ＲＤＩセル（Ｃ
RDI ）を組立て、通信路区間（ｒR3）を経由してＡＴＭ
交換機（１2 ）に転送する。
【０１０５】ここで、ＡＴＭ交換機（１2 ）が、図３
(b) に示される如く、非輻輳状態にあったとすると、通
信路区間（ｒR3）から到着したＲＤＩセル（ＣRDI ）
は、廃棄されること無く、通信路区間（ｒR2）を経由し
てＡＴＭ交換機（１1 ）に転送される。
【０１０６】ＡＴＭ交換機（１1 ）においては、ヘッダ
変換部（２０1 ）が、通信路区間（ｒR2）を経由して到
着するＲＤＩセル（ＣRDI ）を受信すると、所定の品質
クラス識別子（ＱＯＳ）の付加処理と、仮想パス識別子
（ＶＰＩ）および仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）の変換
処理と、出力方路情報（ＴＡＧ）の付加処理とを実行し
た後、ＡＴＭスイッチ（１０1 ）の所定入力端子（４
０）に入力する。
【０１０７】ＡＴＭスイッチ（１０1 ）においては、多
重部（１１1 ）が、所定入力端子（４０）から入力され
たＲＤＩセル（ＣRDI ）を、各出方路フィルタ（１
２1 ）および各所定種別セル検出部（１６1 ）に伝達す
る。
【０１０８】各出方路フィルタ（１２1 ）は、それぞれ
伝達されたＲＤＩセル（ＣRDI ）に付加されている出力
方路情報（ＴＡＧ）を解析し、自出力端子（５０）に接
続されている出力通信路（３）、即ち通信路区間
（ｒR1）に対応する出方路フィルタ（１２1 ）のみがＲ
ＤＩセル（ＣRDI ）を選出し、セル廃棄部（１３1 ）に
伝達する。
【０１０９】また各所定種別セル検出部（１６1 ）は、
伝達されたＲＤＩセル（ＣRDI ）を受信し、ヘッダ
（Ｈ）内のペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）、並びに
ペイロード（Ｐ）内のＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ／Ｒ
Ｔ）を解析することにより、それぞれ固有の所定種別の
セル（ＣSP）であるか否かを分析し、ＲＤＩセル検出部
（１６B1）のみが、入力されたＲＤＩセル（ＣRDI ）を
検出して検出信号（ｄB ）を出力し、バッファ容量監視
・優先制御部（１５1 ）に伝達する。
【０１１０】バッファ容量監視・優先制御部（１５1 ）
は、ＲＤＩセル検出部（１６B1）から検出信号（ｄB ）
を受信すると、擬似高品質クラス設定部（１５１1 ）お
よび輻輳判定用閾値制御部（１５２1 ）の何れかを起動
する。
【０１１１】最初に、擬似高品質クラス設定部（１５１
1 ）を起動した場合を説明する。起動された擬似高品質
クラス設定部（１５１1 ）は、前述と同様に、セル廃棄
部（１３1 ）に対して、何れかの出方路フィルタ（１２
1 ）から伝達されたＲＤＩセル（ＣRDI ）を、品質クラ
ス識別子（ＱＯＳ）が高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕お
よび低品質〔ＱＯＳ＝論理“１”〕の何れに設定されて
いる場合にも、常に高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕に設
定されているものと見做し、通信路区間（ｒR1）に対応
する出力バッファ（１４1 ）が輻輳状態にある場合に
も、ＲＤＩセル（ＣRDI ）を廃棄すること無く、出力バ
ッファ（１４1 ）に格納することを指示する。
【０１１２】また擬似高品質クラス設定部（１５１1 ）
は、セル廃棄部（１３1 ）がＲＤＩセル（ＣRDI ）を格
納する出力バッファ（１４1 ）、即ち通信路区間
（ｒR1）に対応する出力バッファ（１４1 ）を検出し、
検出した出力バッファ（１４1 ）に対し、セル廃棄部
（１３1 ）から格納されるＲＤＩセル（ＣRDI ）を、高
品質セル〔ＱＯＳ＝論理“０”〕として処理し、格納済
の低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕より優先的に抽出
し、対応する出力端子（５０）から通信路区間（ｒR1）
に対応する出力通信路（３）に送出することを指示す
る。
【０１１３】かかる状態で、図３(b) に示される如く、
ＡＴＭ交換機（１1 ）において、設定済の通信路
（ｒR ）、即ちＡＴＭスイッチ（１０1 ）内の通信路区
間（ｒR1）に対応する出力バッファ（１４1 ）が輻輳状
態にあったとすると、該当する出力バッファ（１４1 ）
は容量分のＡＴＭセル（Ｃ）を格納済であり、新たにＡ
ＴＭセル（Ｃ）を格納する余地は無い筈である。
【０１１４】セル廃棄部（１３1 ）は、何れかの出方路
フィルタ（１２1 ）から伝達されたＲＤＩセル
（ＣRDI ）を、擬似高品質クラス設定部（１５１1 ）か
らの指示に基づき、高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕とし
て処理する為に、該当する出力バッファ（１４1 ）に格
納済のＡＴＭセル（Ｃ）の中から、低品質セル〔ＱＯＳ
＝論理“１”〕を抽出して廃棄し、代わりにＲＤＩセル
（ＣRDI ）を格納する。
【０１１５】また、ＲＤＩセル（ＣRDI ）を格納された
出力バッファ（１４1 ）は、格納されたＲＤＩセル（Ｃ
RDI ）を、出力バッファ（１４1 ）に格納済のＡＴＭセ
ル（Ｃ）の内、低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕より
も優先的に抽出し、対応する出力端子（５０）から出力
通信路（３）、即ち通信路区間（ｒR1）に送出する。
【０１１６】以上により、通信路区間（ｒR2）からＡＴ
Ｍ交換機（１1 ）に到着したＲＤＩセル（ＣRDI ）は、
ＡＴＭ交換機（１1 ）において該当する通信路
（ｒR ）、即ちＡＴＭスイッチ（１０1 ）の通信路区間
（ｒR1）に対応する出力バッファ（１４1 ）に輻輳が発
生している場合にも、廃棄されること無く、通信路区間
（ｒR1）を経由して送信側端末（４）に転送される。
【０１１７】次に、輻輳判定用閾値制御部（１５２1 ）
を起動した場合を説明する。起動された輻輳判定用閾値
制御部（１５２1 ）は、前述と同様に、セル廃棄部（１
３1 ）に対して、何れかの出方路フィルタ（１２1 ）か
ら伝達されたＲＤＩセル（ＣRDI ）を、対応する出力バ
ッファ（１４1 ）に格納済のＡＴＭセル（Ｃ）が、予め
定められている輻輳判定用閾値（ＴＨCG）に達している
と否とに拘らず、ＲＤＩセル（ＣRDI ）を廃棄すること
無く、出力バッファ（１４1 ）に格納することを指示す
る。
【０１１８】また輻輳判定用閾値制御部（１５２1 ）
は、セル廃棄部（１３1 ）がＲＤＩセル（ＣRDI ）を格
納する出力バッファ（１４1 ）、即ち通信路区間
（ｒR1）に対応する出力バッファ（１４1 ）を検出し、
検出した出力バッファ（１４1 ）に対し、セル廃棄部
（１３1 ）から格納されるＲＤＩセル（ＣRDI ）を、高
品質セル〔ＱＯＳ＝論理“０”〕として処理し、格納済
の低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕より優先的に抽出
し、対応する出力端子（５０）から通信路区間（ｒR1）
に対応する出力通信路（３）に送出することを指示す
る。
【０１１９】かかる状態で、図３(b) に示される如く、
ＡＴＭ交換機（１1 ）において、設定済の通信路
（ｒR ）、即ちＡＴＭスイッチ（１０1 ）内の通信路区
間（ｒR1）に対応する出力バッファ（１４1 ）が輻輳状
態にあったとすると、該当する出力バッファ（１４1 ）
は輻輳判定用閾値（ＴＨCG）分のＡＴＭセル（Ｃ）を格
納済であり、所定種別のセル（ＣSP）以外のＡＴＭセル
（Ｃ）が出方路フィルタ（１２1 ）から伝達された場合
には、該当する出力バッファ（１４1 ）に格納されるこ
と無く、廃棄されることとなる。
【０１２０】セル廃棄部（１３1 ）は、何れかの出方路
フィルタ（１２1 ）から伝達されたＲＤＩセル
（ＣRDI ）を、輻輳判定用閾値制御部（１５２1 ）から
の指示に基づき、輻輳判定用閾値（ＴＨCG）分のＡＴＭ
セル（Ｃ）を格納済の該当する出力バッファ（１４1 ）
に格納する。
【０１２１】また、ＲＤＩセル（ＣRDI ）を格納された
出力バッファ（１４1 ）は、格納されたＲＤＩセル（Ｃ
RDI ）を、出力バッファ（１４1 ）に格納済のＡＴＭセ
ル（Ｃ）の内、低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕より
も優先的に抽出し、対応する出力端子（５０）から出力
通信路（３）、即ち通信路区間（ｒR1）に送出する。
【０１２２】以上により、通信路区間（ｒR2）からＡＴ
Ｍ交換機（１1 ）に到着したＲＤＩセル（ＣRDI ）は、
ＡＴＭ交換機（１1 ）において該当する通信路
（ｒR ）、即ちＡＴＭスイッチ（１０1 ）の通信路区間
（ｒR1）に対応する出力バッファ（１４1 ）に輻輳が発
生している場合にも、廃棄されること無く、通信路区間
（ｒR1）を経由して送信側端末（４）に転送される。
【０１２３】送信側端末（４）は、ＲＤＩセル
（ＣRDI ）を受信すると、通信路区間（ｒS1）に発生し
た故障を認識する。次に、本発明（請求項１、４）の実
施形態による導通試験用ＯＡＭセルの転送状況を、図２
および図４を用いて説明する。
【０１２４】図４において、送信側端末（４）から受信
側端末（５）に至る通信路（ｒS ）が、ＡＴＭ交換機
（１1 ）および（１2 ）を経由して設定されたとする。
かかる状態で、ＡＴＭ交換機（１1 ）からＡＴＭ交換機
（１2 ）に至る通信路区間（ｒS2）の導通状態を試験す
る場合に、ＡＴＭ交換機（１1 ）において、保守運用管
理部（３０1 ）が、前述と同様の手順で導通試験用ＯＡ
Ｍセル（ＣOAM）を組立て、通信路区間（ｒS2）を経由
してＡＴＭ交換機（１2 ）内の保守運用管理部（３
０2 ）宛にに転送する。
【０１２５】なお図４においては、ＡＴＭ交換機
（１1 ）は非輻輳状態あるとすると、ＡＴＭ交換機（１
1 ）の保守運用管理部（３０）から送出された導通試験
用ＯＡＭセル（ＣOAM ）は、輻輳の為に廃棄されること
無く、通信路区間（ｒS2）を経由してＡＴＭ交換機（１
2 ）に到着する。
【０１２６】ＡＴＭ交換機（１2 ）においては、ヘッダ
変換部（２０2 ）が、通信路区間（ｒS2）を経由して到
着する導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）を受信すると、
所定の品質クラス識別子（ＱＯＳ）の付加処理と、仮想
パス識別子（ＶＰＩ）および仮想チャネル識別子（ＶＣ
Ｉ）の変換処理と、出力方路情報（ＴＡＧ）の付加処理
とを実行した後、ＡＴＭスイッチ（１０2 ）の所定入力
端子（４０）に入力する。
【０１２７】ＡＴＭスイッチ（１０2 ）においては、多
重部（１１2 ）が、所定入力端子（４０）から入力され
た導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）を、各出方路フィル
タ（１２2 ）および各所定種別セル検出部（１６2 ）に
伝達する。
【０１２８】各出方路フィルタ（１２2 ）は、それぞれ
伝達された導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）に付加され
ている出力方路情報（ＴＡＧ）を解析し、自出力端子
（５０）に接続されている出力通信路（３）、即ち保守
運用管理部（３０2 ）に対応する出方路フィルタ（１２
2 ）のみが導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）を選出し、
セル廃棄部（１３2 ）に伝達する。
【０１２９】また各所定種別セル検出部（１６2 ）は、
伝達された導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）を受信し、
ヘッダ（Ｈ）内のペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）、
並びにペイロード（Ｐ）内のＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ
／ＲＴ）を解析することにより、それぞれ固有の所定種
別のセル（ＣSP）であるか否かを分析し、ＯＡＭセル検
出部（１６C2）のみが、入力された導通試験用ＯＡＭセ
ル（ＣOAM ）を検出して検出信号（ｄC ）を出力し、バ
ッファ容量監視・優先制御部（１５2 ）に伝達する。
【０１３０】バッファ容量監視・優先制御部（１５2 ）
は、ＯＡＭセル検出部（１６C2）から検出信号（ｄC ）
を受信すると、擬似高品質クラス設定部（１５１2 ）お
よび輻輳判定用閾値制御部（１５２2 ）の何れかを起動
する。
【０１３１】最初に、擬似高品質クラス設定部（１５１
2 ）を起動した場合を説明する。起動された擬似高品質
クラス設定部（１５１2 ）は、前述と同様に、セル廃棄
部（１３2 ）に対して、何れかの出方路フィルタ（１２
2 ）から伝達された導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）
を、品質クラス識別子（ＱＯＳ）が高品質〔ＱＯＳ＝論
理“０”〕および低品質〔ＱＯＳ＝論理“１”〕の何れ
に設定されている場合にも、常に高品質〔ＱＯＳ＝論理
“０”〕に設定されているものと見做し、保守運用管理
部（３０2 ）に対応する出力バッファ（１４2 ）が輻輳
状態にある場合にも、導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）
を廃棄すること無く、出力バッファ（１４2 ）に格納す
ることを指示する。
【０１３２】また擬似高品質クラス設定部（１５１2 ）
は、セル廃棄部（１３2 ）が導通試験用ＯＡＭセル（Ｃ
OAM ）を格納する出力バッファ（１４2 ）、即ち保守運
用管理部（３０2 ）に対応する出力バッファ（１４2 ）
を検出し、検出した出力バッファ（１４2 ）に対し、セ
ル廃棄部（１３2 ）から格納される導通試験用ＯＡＭセ
ル（ＣOAM ）を、高品質セル〔ＱＯＳ＝論理“０”〕と
して処理し、格納済の低品質セル〔ＱＯＳ＝論理
“１”〕より優先的に抽出し、対応する出力端子（５
０）から保守運用管理部（３０2 ）に送出することを指
示する。
【０１３３】かかる状態で、図４に示される如く、ＡＴ
Ｍ交換機（１2 ）において、ＡＴＭスイッチ（１０2 ）
内の保守運用管理部（３０）に対応する出力バッファ
（１４ 2 ）が輻輳状態にあったとすると、該当する出力
バッファ（１４2 ）は容量分のＡＴＭセル（Ｃ）を格納
済であり、新たにＡＴＭセル（Ｃ）を格納する余地は無
い筈である。
【０１３４】セル廃棄部（１３2 ）は、何れかの出方路
フィルタ（１２2 ）から伝達された導通試験用ＯＡＭセ
ル（ＣOAM ）を、擬似高品質クラス設定部（１５１2 ）
からの指示に基づき、高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕と
して処理する為に、該当する出力バッファ（１４2 ）に
格納済のＡＴＭセル（Ｃ）の中から、低品質セル〔ＱＯ
Ｓ＝論理“１”〕を抽出して廃棄し、代わりに導通試験
用ＯＡＭセル（ＣOAM）を格納する。
【０１３５】また、導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）を
格納された出力バッファ（１４2 ）は、格納された導通
試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）を、出力バッファ（１
４2 ）に格納済のＡＴＭセル（Ｃ）の内、低品質セル
〔ＱＯＳ＝論理“１”〕よりも優先的に抽出し、対応す
る出力端子（５０）から保守運用管理部（３０2 ）に送
出する。
【０１３６】以上により、通信路区間（ｒS2）からＡＴ
Ｍ交換機（１2 ）に到着した導通試験用ＯＡＭセル（Ｃ
OAM ）は、ＡＴＭ交換機（１2 ）において、ＡＴＭスイ
ッチ（１０2 ）の保守運用管理部（３０2 ）に対応する
出力バッファ（１４2 ）に輻輳が発生している場合に
も、廃棄されること無く、保守運用管理部（３０2 ）に
転送される。
【０１３７】次に、輻輳判定用閾値制御部（１５２2 ）
を起動した場合を説明する。起動された輻輳判定用閾値
制御部（１５２2 ）は、前述と同様に、セル廃棄部（１
３2 ）に対して、何れかの出方路フィルタ（１２2 ）か
ら伝達された導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）を、対応
する出力バッファ（１４2 ）に格納済のＡＴＭセル
（Ｃ）が、予め定められている輻輳判定用閾値（Ｔ
ＨCG）に達していると否とに拘らず、導通試験用ＯＡＭ
セル（ＣOAM ）を廃棄すること無く、出力バッファ（１
４2 ）に格納することを指示する。
【０１３８】また輻輳判定用閾値制御部（１５２2 ）
は、セル廃棄部（１３2 ）が導通試験用ＯＡＭセル（Ｃ
OAM ）を格納する出力バッファ（１４2 ）、即ち保守運
用管理部（３０2 ）に対応する出力バッファ（１４2 ）
を検出し、検出した出力バッファ（１４2 ）に対し、セ
ル廃棄部（１３2 ）から格納される導通試験用ＯＡＭセ
ル（ＣOAM ）を、高品質セル〔ＱＯＳ＝論理“０”〕と
して処理し、格納済の低品質セル〔ＱＯＳ＝論理
“１”〕より優先的に抽出し、対応する出力端子（５
０）から保守運用管理部（３０2 ）に送出することを指
示する。
【０１３９】かかる状態で、図４に示される如く、ＡＴ
Ｍ交換機（１2 ）において、ＡＴＭスイッチ（１０2 ）
内の保守運用管理部（３０2 ）に対応する出力バッファ
（１４2 ）が輻輳状態にあったとすると、該当する出力
バッファ（１４2 ）は輻輳判定用閾値（ＴＨCG）分のＡ
ＴＭセル（Ｃ）を格納済であり、所定種別のセル
（Ｃ SP）以外のＡＴＭセル（Ｃ）が出方路フィルタ（１
２2 ）から伝達された場合には、該当する出力バッファ
（１４2 ）に格納されること無く、廃棄されることとな
る。
【０１４０】セル廃棄部（１３2 ）は、何れかの出方路
フィルタ（１２2 ）から伝達された導通試験用ＯＡＭセ
ル（ＣOAM ）を、輻輳判定用閾値制御部（１５２2 ）か
らの指示に基づき、輻輳判定用閾値（ＴＨCG）分のＡＴ
Ｍセル（Ｃ）を格納済の該当する出力バッファ（１
４2 ）に格納する。
【０１４１】また、導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）を
格納された出力バッファ（１４2 ）は、格納された導通
試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）を、出力バッファ（１
４2 ）に格納済のＡＴＭセル（Ｃ）の内、低品質セル
〔ＱＯＳ＝論理“１”〕よりも優先的に抽出し、対応す
る出力端子（５０）から保守運用管理部（３０2 ）に送
出する。
【０１４２】以上により、通信路区間（ｒS2）からＡＴ
Ｍ交換機（１2 ）に到着した導通試験用ＯＡＭセル（Ｃ
OAM ）は、ＡＴＭ交換機（１2 ）において、ＡＴＭスイ
ッチ（１０2 ）の保守運用管理部（３０2 ）に対応する
出力バッファ（１４2 ）に輻輳が発生している場合に
も、廃棄されること無く、保守運用管理部（３０2 ）に
転送される。
【０１４３】従って、ＡＴＭ交換機（１1 ）内の保守運
用管理部（３０1 ）が導通試験用ＯＡＭセル（ＣOAM ）
を送信した後、所定時間以内にＡＴＭ交換機（１2 ）内
の保守運用管理部（３０2 ）が導通試験用ＯＡＭセル
（ＣOAM ）を受信し、且つ送信した導通試験用ＯＡＭセ
ル（ＣOAM ）と受信した導通試験用ＯＡＭセル
（ＣOAM）とが一致すれば、試験対象通信路区間
（ｒS2）の導通状態は正常と判定され、常に通信対象通
信路（ｒS ）の導通試験が実行可能となる。
【０１４４】次に、本発明（請求項１、５）の実施形態
によるＲＭセルの転送状況を、図５を用いて説明する。
図５において、送信側端末（４）から受信側端末（５）
に至る通信路（ｒS ）と、受信側端末（５）から送信側
端末（４）に至る通信路（ｒR ）とが、ＡＴＭ交換機
（１1 ）および（１2 ）を経由して設定され、送信側端
末（４）と受信側端末（５）とが通信状態にあるとす
る。
【０１４５】かかる状態で、ＡＴＭ交換機（１1 ）が非
輻輳状態にあれば、送信側端末（４）から通信路区間
（ｒS1）、ＡＴＭ交換機（１1 ）および通信路区間（ｒ
S2）を経由してＡＴＭ交換機（１2 ）に転送されるユー
ザ情報セル（ＣUSR ）の、ヘッダ（Ｈ）に設けられてい
るペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）〔＝ユーザ情報
（ＵＳＲ）〕は、非輻輳（ＮＭＬ）が組合せられている
〔図１１および図１２参照〕。
【０１４６】かかる状態で、図５に示される如く、ＡＴ
Ｍ交換機（１2 ）内において通信路（ｒS ）に輻輳発生
の前兆が見受けられるとすると、ＡＴＭ交換機（１2 ）
内の保守運用管理部（３０2 ）は、ＡＴＭ交換機
（１2 ）から通信路区間（ｒS3）を経由して受信側端末
（５）へ転送されるユーザ情報セル（ＣUSR ）の、ヘッ
ダ（Ｈ）に設けられているペイロードタイプ識別子（Ｐ
ＴＩ）〔＝ユーザ情報（ＵＳＲ）〕に、前方輻輳通知
（ＥＦＣＩ）を組合せる〔図１１および図１２参照〕。
【０１４７】受信側端末（５）は、ＡＴＭ交換機
（１2 ）から通信路区間（ｒS3）を経由して転送される
ユーザ情報セル（ＣUSR ）を受信・解析し、ヘッダ
（Ｈ）に設けられているペイロードタイプ識別子（ＰＴ
Ｉ）〔＝ユーザ情報（ＵＳＲ）〕に前方輻輳通知（ＥＦ
ＣＩ）が組合されていることを検出すると、送信側端末
（４）から受信側端末（５）に至る通信路（ｒS ）に、
輻輳発生の前兆が見受けられることを認識し、前述と同
様の手順で、ＲＭセル（ＣRM）を組立て、通信路区間
（ｒ R3）を経由してＡＴＭ交換機（１2 ）に転送する。
【０１４８】ここで、ＡＴＭ交換機（１2 ）が、図５に
示される如く、非輻輳状態にあったとすると、通信路区
間（ｒR3）から到着したＲＭセル（ＣRM）は、廃棄され
ること無く、通信路区間（ｒR2）を経由してＡＴＭ交換
機（１1 ）に転送される。
【０１４９】ＡＴＭ交換機（１1 ）においては、ヘッダ
変換部（２０1 ）が、通信路区間（ｒR2）を経由して到
着するＲＭセル（ＣRM）を受信すると、所定の品質クラ
ス識別子（ＱＯＳ）の付加処理と、仮想パス識別子（Ｖ
ＰＩ）および仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）の変換処理
と、出力方路情報（ＴＡＧ）の付加処理とを実行した
後、ＡＴＭスイッチ（１０1 ）の所定入力端子（４０）
に入力する。
【０１５０】ＡＴＭスイッチ（１０1 ）においては、多
重部（１１1 ）が、所定入力端子（４０）から入力され
たＲＭセル（ＣRM）を、各出方路フィルタ（１２1 ）お
よび各所定種別セル検出部（１６1 ）に伝達する。
【０１５１】各出方路フィルタ（１２1 ）は、それぞれ
伝達されたＲＭセル（ＣRM）に付加されている出力方路
情報（ＴＡＧ）を解析し、自出力端子（５０）に接続さ
れている出力通信路（３）、即ち通信路区間（ｒR1）に
対応する出方路フィルタ（１２1 ）のみがＲＭセル（Ｃ
RM）を選出し、セル廃棄部（１３1 ）に伝達する。
【０１５２】また各所定種別セル検出部（１６1 ）は、
伝達されたＲＭセル（ＣRM）を受信し、ヘッダ（Ｈ）内
のペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）、並びにペイロー
ド（Ｐ）内のＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ／ＲＴ）を解析
することにより、それぞれ固有の所定種別のセル
（ＣSP）であるか否かを分析し、ＲＭセル検出部（１６
D1）のみが、入力されたＲＭセル（ＣRM）を検出して検
出信号（ｄD ）を出力し、バッファ容量監視・優先制御
部（１５1 ）に伝達する。
【０１５３】バッファ容量監視・優先制御部（１５1 ）
は、ＲＭセル検出部（１６D1）から検出信号（ｄD ）を
受信すると、擬似高品質クラス設定部（１５１1 ）およ
び輻輳判定用閾値制御部（１５２1 ）の何れかを起動す
る。
【０１５４】最初に、擬似高品質クラス設定部（１５１
1 ）を起動した場合を説明する。起動された擬似高品質
クラス設定部（１５１1 ）は、前述と同様に、セル廃棄
部（１３1 ）に対して、何れかの出方路フィルタ（１２
1 ）から伝達されたＲＭセル（ＣRM）を、品質クラス識
別子（ＱＯＳ）が高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕および
低品質〔ＱＯＳ＝論理“１”〕の何れに設定されている
場合にも、常に高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕に設定さ
れているものと見做し、通信路区間（ｒR1）に対応する
出力バッファ（１４1 ）が輻輳状態にある場合にも、Ｒ
Ｍセル（Ｃ RM）を廃棄すること無く、出力バッファ（１
４1 ）に格納することを指示する。
【０１５５】また擬似高品質クラス設定部（１５１1 ）
は、セル廃棄部（１３1 ）がＲＭセル（ＣRM）を格納す
る出力バッファ（１４1 ）、即ち通信路区間（ｒR1）に
対応する出力バッファ（１４1 ）を検出し、検出した出
力バッファ（１４1 ）に対し、セル廃棄部（１３1 ）か
ら格納されるＲＭセル（ＣRM）を、高品質セル〔ＱＯＳ
＝論理“０”〕として処理し、格納済の低品質セル〔Ｑ
ＯＳ＝論理“１”〕より優先的に抽出し、対応する出力
端子（５０）から通信路区間（ｒR1）に対応する出力通
信路（３）に送出することを指示する。
【０１５６】かかる状態で、図５に示される如く、ＡＴ
Ｍ交換機（１1 ）において、設定済の通信路（ｒR ）、
即ちＡＴＭスイッチ（１０1 ）内の通信路区間（ｒR1）
に対応する出力バッファ（１４1 ）が輻輳状態にあった
とすると、該当する出力バッファ（１４1 ）は容量分の
ＡＴＭセル（Ｃ）を格納済であり、新たにＡＴＭセル
（Ｃ）を格納する余地は無い筈である。
【０１５７】セル廃棄部（１３1 ）は、何れかの出方路
フィルタ（１２1 ）から伝達されたＲＭセル（ＣRM）
を、擬似高品質クラス設定部（１５１1 ）からの指示に
基づき、高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕として処理する
為に、該当する出力バッファ（１４1 ）に格納済のＡＴ
Ｍセル（Ｃ）の中から、低品質セル〔ＱＯＳ＝論理
“１”〕を抽出して廃棄し、代わりにＲＭセル（ＣRM）
を格納する。
【０１５８】また、ＲＭセル（ＣRM）を格納された出力
バッファ（１４1 ）は、格納されたＲＭセル（ＣRM）
を、出力バッファ（１４1 ）に格納済のＡＴＭセル
（Ｃ）の内、低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕よりも
優先的に抽出し、対応する出力端子（５０）から出力通
信路（３）、即ち通信路区間（ｒR1）に送出する。
【０１５９】以上により、通信路区間（ｒR2）からＡＴ
Ｍ交換機（１1 ）に到着したＲＭセル（ＣRM）は、ＡＴ
Ｍ交換機（１1 ）において該当する通信路（ｒR ）、即
ちＡＴＭスイッチ（１０1 ）の通信路区間（ｒR1）に対
応する出力バッファ（１４1）に輻輳が発生している場
合にも、廃棄されること無く、通信路区間（ｒR1）を経
由して送信側端末（４）に転送される。
【０１６０】次に、輻輳判定用閾値制御部（１５２1 ）
を起動した場合を説明する。起動された輻輳判定用閾値
制御部（１５２1 ）は、前述と同様に、セル廃棄部（１
３1 ）に対して、何れかの出方路フィルタ（１２1 ）か
ら伝達されたＲＭセル（ＣRM）を、対応する出力バッフ
ァ（１４1 ）に格納済のＡＴＭセル（Ｃ）が、予め定め
られている輻輳判定用閾値（ＴＨCG）に達していると否
とに拘らず、ＲＭセル（ＣRM）を廃棄すること無く、出
力バッファ（１４1 ）に格納することを指示する。
【０１６１】また輻輳判定用閾値制御部（１５２1 ）
は、セル廃棄部（１３1 ）がＲＭセル（ＣRM）を格納す
る出力バッファ（１４1 ）、即ち通信路区間（ｒR1）に
対応する出力バッファ（１４1 ）を検出し、検出した出
力バッファ（１４1 ）に対し、セル廃棄部（１３1 ）か
ら格納されるＲＭセル（ＣRM）を、高品質セル〔ＱＯＳ
＝論理“０”〕として処理し、格納済の低品質セル〔Ｑ
ＯＳ＝論理“１”〕より優先的に抽出し、対応する出力
端子（５０）から通信路区間（ｒR1）に対応する出力通
信路（３）に送出することを指示する。
【０１６２】かかる状態で、図５に示される如く、ＡＴ
Ｍ交換機（１1 ）において、設定済の通信路（ｒR ）、
即ちＡＴＭスイッチ（１０1 ）内の通信路区間（ｒR1）
に対応する出力バッファ（１４1 ）が輻輳状態にあった
とすると、該当する出力バッファ（１４1 ）は輻輳判定
用閾値（ＴＨCG）分のＡＴＭセル（Ｃ）を格納済であ
り、所定種別のセル（ＣSP）以外のＡＴＭセル（Ｃ）が
出方路フィルタ（１２1）から伝達された場合には、該
当する出力バッファ（１４1 ）に格納されること無く、
廃棄されることとなる。
【０１６３】セル廃棄部（１３1 ）は、何れかの出方路
フィルタ（１２1 ）から伝達されたＲＭセル（ＣRM）
を、輻輳判定用閾値制御部（１５２1 ）からの指示に基
づき、輻輳判定用閾値（ＴＨCG）分のＡＴＭセル（Ｃ）
を格納済の該当する出力バッファ（１４1 ）に格納す
る。
【０１６４】また、ＲＭセル（ＣRM）を格納された出力
バッファ（１４1 ）は、格納されたＲＭセル（ＣRM）
を、出力バッファ（１４1 ）に格納済のＡＴＭセル
（Ｃ）の内、低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕よりも
優先的に抽出し、対応する出力端子（５０）から出力通
信路（３）、即ち通信路区間（ｒR1）に送出する。
【０１６５】以上により、通信路区間（ｒR2）からＡＴ
Ｍ交換機（１1 ）に到着したＲＭセル（ＣRM）は、ＡＴ
Ｍ交換機（１1 ）において該当する通信路（ｒR ）、即
ちＡＴＭスイッチ（１０1 ）の通信路区間（ｒR1）に対
応する出力バッファ（１４1）に輻輳が発生している場
合にも、廃棄されること無く、通信路区間（ｒR1）を経
由して送信側端末（４）に転送される。
【０１６６】送信側端末（４）は、ＲＭセル（ＣRM）を
受信すると、送信側端末（４）から受信側端末（５）に
至る通信路（ｒS ）に輻輳発生の前兆を認識し、輻輳発
生を回避する対策として、例えば受信側端末（５）への
ユーザ情報セル（ＣUSR ）の送信レートを低下させる。
【０１６７】次に、本発明（請求項１、６）の実施形態
によるＳＰＶセルの転送状況を、図６を用いて説明す
る。図６において、ＡＴＭスイッチ（１０）の特定の入
力端子（４０）と特定の出力端子（５０）との間のセル
転送経路（ｒ）を監視することとし、保守運用管理部
（３０）が、前述と同様の手順で、ＳＰＶセル
（ＣSPV ）を組立て、ＡＴＭスイッチ（１０）の特定の
入力端子（４０）から入力する。
【０１６８】ＡＴＭスイッチ（１０）においては、多重
部（１１）が、特定入力端子（４０）から入力されたＳ
ＰＶセル（ＣSPV ）を、各出方路フィルタ（１２）およ
び各所定種別セル検出部（１６）に伝達する。
【０１６９】各出方路フィルタ（１２）は、それぞれ伝
達されたＳＰＶセル（ＣSPV ）に付加されている出力方
路情報（ＴＡＧ）を解析し、自出力端子（５０）に接続
されている出力通信路（３）、即ち保守運用管理部（３
０）に対応する出方路フィルタ（１２）のみがＳＰＶセ
ル（ＣSPV ）を選出し、セル廃棄部（１３）に伝達す
る。
【０１７０】また各所定種別セル検出部（１６）は、伝
達されたＳＰＶセル（ＣSPV ）を受信し、ヘッダ（Ｈ）
内のペイロードタイプ識別子（ＰＴＩ）、並びにペイロ
ード（Ｐ）内のＯＡＭ種別／ＲＭ種別（Ｏ／ＲＴ）を解
析することにより、それぞれ固有の所定種別のセル（Ｃ
SP）であるか否かを分析し、ＳＰＶセル検出部（１
６ E ）のみが、入力されたＳＰＶセル（ＣSPV ）を検出
して検出信号（ｄE ）を出力し、バッファ容量監視・優
先制御部（１５）に伝達する。
【０１７１】バッファ容量監視・優先制御部（１５）
は、ＳＰＶセル検出部（１６E ）から検出信号（ｄE ）
を受信すると、擬似高品質クラス設定部（１５１）およ
び輻輳判定用閾値制御部（１５２）の何れかを起動す
る。
【０１７２】最初に、擬似高品質クラス設定部（１５
１）を起動した場合を説明する。起動された擬似高品質
クラス設定部（１５１）は、前述と同様に、セル廃棄部
（１３）に対して、何れかの出方路フィルタ（１２）か
ら伝達されたＳＰＶセル（ＣSPV ）を、品質クラス識別
子（ＱＯＳ）が高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕および低
品質〔ＱＯＳ＝論理“１”〕の何れに設定されている場
合にも、常に高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕に設定され
ているものと見做し、保守運用管理部（３０）に対応す
る出力バッファ（１４）が輻輳状態にある場合にも、Ｓ
ＰＶセル（ＣSPV ）を廃棄すること無く、出力バッファ
（１４）に格納することを指示する。
【０１７３】また擬似高品質クラス設定部（１５１）
は、セル廃棄部（１３）がＳＰＶセル（ＣSPV ）を格納
する出力バッファ（１４）、即ち保守運用管理部（３
０）に対応する出力バッファ（１４）を検出し、検出し
た出力バッファ（１４）に対し、セル廃棄部（１３）か
ら格納されるＳＰＶセル（ＣSPV ）を、高品質セル〔Ｑ
ＯＳ＝論理“０”〕として処理し、格納済の低品質セル
〔ＱＯＳ＝論理“１”〕より優先的に抽出し、対応する
出力端子（５０）から保守運用管理部（３０）に送出す
ることを指示する。
【０１７４】かかる状態で、図６に示される如く、ＡＴ
Ｍスイッチ（１０）内の保守運用管理部（３０）に対応
する出力バッファ（１４）が輻輳状態にあったとする
と、該当する出力バッファ（１４）は容量分のＡＴＭセ
ル（Ｃ）を格納済であり、新たにＡＴＭセル（Ｃ）を格
納する余地は無い筈である。
【０１７５】セル廃棄部（１３）は、何れかの出方路フ
ィルタ（１２）から伝達されたＳＰＶセル（ＣSPV ）
を、擬似高品質クラス設定部（１５１2 ）からの指示に
基づき、高品質〔ＱＯＳ＝論理“０”〕として処理する
為に、該当する出力バッファ（１４）に格納済のＡＴＭ
セル（Ｃ）の中から、低品質セル〔ＱＯＳ＝論理
“１”〕を抽出して廃棄し、代わりにＳＰＶセル（Ｃ
SPV ）を格納する。
【０１７６】また、ＳＰＶセル（ＣSPV ）を格納された
出力バッファ（１４）は、格納されたＳＰＶセル（Ｃ
SPV ）を、出力バッファ（１４）に格納済のＡＴＭセル
（Ｃ）の内、低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕よりも
優先的に抽出し、対応する出力端子（５０）から保守運
用管理部（３０）に送出する。
【０１７７】以上により、保守運用管理部（３０）から
ＡＴＭスイッチ（１０）の特定入力端子（４０）に入力
されたＳＰＶセル（ＣSPV ）は、ＡＴＭスイッチ（１
０）の保守運用管理部（３０）に対応する出力バッファ
（１４）に輻輳が発生している場合にも、廃棄されるこ
と無く、保守運用管理部（３０）に転送される。
【０１７８】次に、輻輳判定用閾値制御部（１５２）を
起動した場合を説明する。起動された輻輳判定用閾値制
御部（１５２）は、前述と同様に、セル廃棄部（１３）
に対して、何れかの出方路フィルタ（１２）から伝達さ
れたＳＰＶセル（ＣSPV ）を、対応する出力バッファ
（１４）に格納済のＡＴＭセル（Ｃ）が、予め定められ
ている輻輳判定用閾値（ＴＨCG）に達していると否とに
拘らず、ＳＰＶセル（ＣSPV ）を廃棄すること無く、出
力バッファ（１４）に格納することを指示する。
【０１７９】また輻輳判定用閾値制御部（１５２）は、
セル廃棄部（１３）がＳＰＶセル（ＣSPV ）を格納する
出力バッファ（１４）、即ち保守運用管理部（３０）に
対応する出力バッファ（１４）を検出し、検出した出力
バッファ（１４）に対し、セル廃棄部（１３）から格納
されるＳＰＶセル（ＣSPV ）を、高品質セル〔ＱＯＳ＝
論理“０”〕として処理し、格納済の低品質セル〔ＱＯ
Ｓ＝論理“１”〕より優先的に抽出し、対応する出力端
子（５０）から保守運用管理部（３０）に送出すること
を指示する。
【０１８０】かかる状態で、図６に示される如く、ＡＴ
Ｍスイッチ（１０）内の保守運用管理部（３０）に対応
する出力バッファ（１４）が輻輳状態にあったとする
と、該当する出力バッファ（１４）は輻輳判定用閾値
（ＴＨCG）分のＡＴＭセル（Ｃ）を格納済であり、所定
種別のセル（ＣSP）以外のＡＴＭセル（Ｃ）が出方路フ
ィルタ（１２）から伝達された場合には、該当する出力
バッファ（１４）に格納されること無く、廃棄されるこ
ととなる。
【０１８１】セル廃棄部（１３）は、何れかの出方路フ
ィルタ（１２）から伝達されたＳＰＶセル（ＣSPV ）
を、輻輳判定用閾値制御部（１５２）からの指示に基づ
き、輻輳判定用閾値（ＴＨCG）分のＡＴＭセル（Ｃ）を
格納済の該当する出力バッファ（１４）に格納する。
【０１８２】また、ＳＰＶセル（ＣSPV ）を格納された
出力バッファ（１４）は、格納されたＳＰＶセル（Ｃ
SPV ）を、出力バッファ（１４）に格納済のＡＴＭセル
（Ｃ）の内、低品質セル〔ＱＯＳ＝論理“１”〕よりも
優先的に抽出し、対応する出力端子（５０）から保守運
用管理部（３０）に送出する。
【０１８３】以上により、保守運用管理部（３０）から
ＡＴＭスイッチ（１０）の特定入力端子（４０）に入力
されたＳＰＶセル（ＣSPV ）は、ＡＴＭスイッチ（１
０）の保守運用管理部（３０）に対応する出力バッファ
（１４）に輻輳が発生している場合にも、廃棄されるこ
と無く、保守運用管理部（３０）に転送される。
【０１８４】従って、ＡＴＭ交換機（１）内の保守運用
管理部（３０）がＳＰＶセル（ＣSP V ）を送信した後、
所定時間以内に保守運用管理部（３０）がＳＰＶセル
（ＣSP V ）を受信し、且つ送信したＳＰＶセル
（ＣSPV ）と受信したＳＰＶセル（ＣSP V ）とが一致す
れば、監視対象セル転送経路（ｒ）は正常と判定され、
常に監視対象セル転送経路（ｒ）が監視可能となる。
【０１８５】なお、図２乃至図６はあく迄本発明の一実
施形態に過ぎず、例えばバッファ容量監視・優先制御部
（１５）は、所定種別セル検出部（１６）により検出さ
れる各所定種別のセル（ＣSP）に対して輻輳判定用閾値
（ＴＨCG）を一律に決定するものに限定されることは無
く、個々の所定種別のセル（ＣSP）に対応してそれぞれ
異なる輻輳判定用閾値（ＴＨCG）を決定する等、他に幾
多の変形が考慮されるが、何れの場合にも本発明の効果
は変わらない。またＡＴＭスイッチ（１０）は、図示さ
れる総てのＡＩＳセル検出部（１６A ）、ＲＤＩセル検
出部（１６B ）、ＯＡＭセル検出部（１６C ）、ＲＭセ
ル検出部（１６D ）およびＳＰＶセル検出部（１６E ）
を具備するものに限定されることは無く、任意の一乃至
複数の所定種別セル検出部（１６）を具備し、対応する
所定種別のセル（ＣSP）のみを廃棄から救済する等、他
に幾多の変形が考慮されるが、何れの場合にも本発明の
効果は変わらない。また本発明の対象となるＡＴＭスイ
ッチ（１００）は、図９に例示される出力バッファ形式
のＡＴＭスイッチ（１０）のみに限定されることは無
く、入力バッファ形式、クロスポイントバッファ形式、
共通バッファ形式の各種ＡＴＭスイッチ、更には図８に
示される如きセル分離部（６０）等、他に幾多の変形が
考慮されるが、何れの場合にも本発明の効果は変わらな
い。
【０１８６】図７は本発明の対象となるＡＴＭ分離装置
を例示する図であり、図８は図７におけるセル分離部を
例示する図である。図７に示されるＡＴＭ分離装置
（６）は、一本の入力通信路（２）と、複数の出力通信
路（３）とを収容し、入力通信路（２）から到着するＡ
ＴＭセル（Ｃ）を、複数の出力通信路（３）宛に分配す
る機能を有し、入力通信路（２）に対応するヘッダ変換
部（２０）およびセル分離部（６０）と、保守運用管理
部（３０）とから構成されている。
【０１８７】ヘッダ変換部（２０）および保守運用管理
部（３０）は、ＡＴＭ交換機（１）〔図９参照〕におけ
ると同等の機能を具備ており、セル分離部（６０）は、
図８に示される如く、ＡＴＭスイッチ（１０）〔図２参
照〕から多重部（１１）を除去したと同様の構成を有し
ている。
【０１８８】即ち、セル分離部（６０）を構成する各出
方路フィルタ（１２）、セル廃棄部（１３）、各出力バ
ッファ（１４）、バッファ容量監視・優先制御部（１
５）および各種所定種別セル検出部（１６）〔ＡＩＳセ
ル検出部（１６A ）、ＲＤＩセル検出部（１６B ）、Ｏ
ＡＭセル検出部（１６C ）、ＲＭセル検出部（１６D ）
およびＳＰＶセル検出部（１６E ）〕、並びにバッファ
容量監視・優先制御部（１５）内に設けられている擬似
高品質クラス設定部（１５１）および輻輳判定用閾値制
御部（１５２）は、それぞれＡＴＭスイッチ（１０）に
おけると同等の機能を具備している為、ＡＴＭ分離装置
（６）およびセル分離部（６０）における本発明の実施
形態は、ＡＴＭ交換機（１）およびＡＴＭスイッチ（１
０）におけると殆ど変わりは無い為、詳細な説明は省略
する。
【０１８９】更に本発明の対象とするＡＴＭセルは、図
１１に示されるものに限定されることは無く、ヘッダ誤
り制御（ＨＥＣ）以外に品質クラス識別子（ＱＯＳ）を
追加する等、他に幾多の変形が考慮されるが、何れの場
合にも本発明の効果は変わらない。
【０１９０】
【発明の効果】以上、本発明によれば、前記ＡＴＭ交換
網において、ＡＴＭ交換網内に輻輳が発生した場合に
も、所定種別のセルは廃棄される確率が低減され、ＡＴ
Ｍ交換網の保守運用管理が支障無く実行可能となり、当
該ＡＴＭ交換網の信頼性が大幅に向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の原理図
【図２】 本発明の実施形態によるＡＴＭスイッチ
【図３】 本発明（請求項１、２、３）の実施形態によ
るＡＩＳセルおよびＲＤＩセルの転送状況
【図４】 本発明（請求項１、４）の実施形態による導
通試験用ＯＡＭセルの転送状況
【図５】 本発明（請求項１、５）の実施形態によるＲ
Ｍセルの転送状況
【図６】 本発明（請求項１、６）の実施形態によるＳ
ＰＶセルの転送状況
【図７】 本発明の対象となるＡＴＭ分離装置
【図８】 図７におけるセル分離部
【図９】 本発明の対象となるＡＴＭ交換機
【図１０】 従来あるＡＴＭスイッチ
【図１１】 ＡＴＭセル形式
【図１２】 図１１におけるペイロードタイプ識別子
【図１３】 従来あるＡＩＳセルおよびＲＤＩセルの転
送状況
【図１４】 従来ある導通試験用ＯＡＭセルの転送状況
【図１５】 従来あるＲＭセルの転送状況
【図１６】 従来あるＳＰＶセルの転送状況
【符号の説明】
１ ＡＴＭ交換機 ２ 入力通信路 ３ 出力通信路 ４ 送信側端末 ５ 受信側端末 ６ ＡＴＭ分離装置 １０、１００ ＡＴＭスイッチ １１ 多重部 １２ 出方路フィルタ １３ セル廃棄部 １４ 出力バッファ １５ バッファ容量監視・優先制御部 １６A ＡＩＳセル検出部 １６B ＲＤＩセル検出部 １６C ＯＡＭセル検出部 １６D ＲＭセル検出部 １６E ＳＰＶセル検出部 ２０ ヘッダ変換部 ３０ 保守運用管理部 ４０、２００ 入力端子 ５０、３００ 出力端子 ６０ セル分離部 １０１ バッファ １０２ セル種別検出手段 １０３ セル廃棄保護手段 １５１ 擬似高品質クラス設定部 １５２ 輻輳判定用閾値制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 近藤 竜一 宮城県仙台市青葉区一番町１丁目２番25号 富士通東北ディジタル・テクノロジ株式 会社内 (72)発明者 菅野 啓一 宮城県仙台市青葉区一番町１丁目２番25号 富士通東北ディジタル・テクノロジ株式 会社内 (72)発明者 太田 眞治 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 (72)発明者 太田 宏 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 入力端子から入力されるセルを、内蔵す
    るバッファを経由して出力端子に出力するＡＴＭスイッ
    チを具備するＡＴＭ交換網において、 前記ＡＴＭスイッチに、前記入力端子から入力される前
    記各セルから、所定種別のセルを検出するセル種別検出
    手段と、 前記セル種別検出手段が検出した前記所定種別のセル
    を、前記バッファに輻輳が発生した場合にも廃棄される
    可能性を軽減させるセル廃棄保護手段とを設けることを
    特徴とするセル廃棄制御方式。
  2. 【請求項２】 前記セル種別検出手段は、前記入力端子
    に対する前記セルの入力通信路に発生した故障を検出
    し、出力側の装置に通知する故障通知セルを、前記所定
    種別のセルとして検出することを特徴とする請求項１記
    載のセル廃棄制御方式。
  3. 【請求項３】 前記セル種別検出手段は、前記故障通知
    セルを受信した前記出力側の装置が、入力側の装置に対
    して前記故障通知セルを受信したことを通知する故障通
    知認識セルを、前記所定種別のセルとして検出すること
    を特徴とする請求項１記載のセル廃棄制御方式。
  4. 【請求項４】 前記セル種別検出手段は、前記ＡＴＭ交
    換網内の指定された通信路の導通状態を試験する導通試
    験用保守運用管理セルを、前記所定種別のセルとして検
    出することを特徴とする請求項１記載のセル廃棄制御方
    式。
  5. 【請求項５】 前記セル種別検出手段は、前記ＡＴＭス
    イッチ内のセル転送経路に輻輳発生の前兆が見受けられ
    ることを、出力側の装置に通知する前方輻輳通知を設定
    済のユーザ情報セルを受信した前記出力側の装置が、前
    記前方輻輳通知を受信したことを入力側の装置に対して
    通知する資源管理用セルを、前記所定種別のセルとして
    検出することを特徴とする請求項１記載のセル廃棄制御
    方式。
  6. 【請求項６】 前記セル種別検出手段は、自ＡＴＭスイ
    ッチ内の指定されたセル転送経路を監視・試験する装置
    内監視セルを、前記所定種別のセルとして検出すること
    を特徴とする請求項１記載のセル廃棄制御方式。
  7. 【請求項７】 前記セル廃棄保護手段は、前記セル種別
    検出手段が検出した前記所定種別のセルを、前記ＡＴＭ
    スイッチ内に輻輳が発生した場合にも、廃棄される確率
    の低い高品質クラスのセルとして処理することを特徴と
    する請求項１記載のセル廃棄制御方式。
  8. 【請求項８】 前記セル廃棄保護手段は、前記セル種別
    検出手段が検出した複数種類の前記所定種別のセルに対
    し、前記ＡＴＭスイッチ内に輻輳が発生した場合にも、
    廃棄される確率の低い高品質クラスのセルとして処理す
    るか否かを、種類毎に個別に決定することを特徴とする
    請求項７記載のセル廃棄制御方式。
  9. 【請求項９】 前記セル廃棄保護手段は、前記セル種別
    検出手段が検出した前記所定種別のセルに対し、前記Ａ
    ＴＭスイッチ内のバッファに輻輳発生を判定する滞留セ
    ル数の閾値を、他のセルより高い値に設定することを特
    徴とする請求項１記載のセル廃棄制御方式。
  10. 【請求項１０】 前記セル廃棄保護手段は、前記セル種
    別検出手段が検出した複数種類の前記所定種別のセルに
    対し、前記ＡＴＭスイッチ内のバッファに輻輳発生を判
    定する滞留セル数の閾値を、種類毎に個別に決定するこ
    とを特徴とする請求項９記載のセル廃棄制御方式。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002158714A (ja) * 2000-09-21 2002-05-31 Lucent Technol Inc Ｕｔｒａｎネットワークの別のノードとデータを交換するためのｕｍｔｓｕｔｒａｎのノードにおいて使用するための方法および装置
JP2012009974A (ja) * 2010-06-23 2012-01-12 Nec Corp データ処理ユニット、送信装置、受信装置及び伝送システム

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