JPH1065106A - Clock distribution circuit for integrated circuits - Google Patents

Clock distribution circuit for integrated circuits

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JPH1065106A
JPH1065106A JP8218861A JP21886196A JPH1065106A JP H1065106 A JPH1065106 A JP H1065106A JP 8218861 A JP8218861 A JP 8218861A JP 21886196 A JP21886196 A JP 21886196A JP H1065106 A JPH1065106 A JP H1065106A
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clock
wiring
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Akihiro Yoshitake
昭博 吉竹
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 標準セルを使用してレイアウトされる集積回
路において、クロックスキューを抑制し、エレクトロマ
イグレーションの発生を抑制する。 【解決手段】 複数のセル列ROWを縦列配置したブロ
ック1において、複数の電源ブリッジセル3を縦方向に
配置する。電源ブリッジセルに近接してクロック信号が
入力される第1のバッファ5が配置される。第1のバッ
ファは、同一電源ブリッジセルの下に配置された第2の
バッファ6を駆動する。第1のバッファは、ROW数に
応じたセルが選択される。第2のバッファは、接続され
るフリップフロップ4の数に応じたセルが選択される。
間隔L2の短い電源ブリッジセルに第2のバッファのた
めのダミー負荷が配置される。
(57) [PROBLEMS] To suppress clock skew and suppress occurrence of electromigration in an integrated circuit laid out using standard cells. SOLUTION: In a block 1 in which a plurality of cell rows ROW are arranged in cascade, a plurality of power supply bridge cells 3 are arranged in a vertical direction. A first buffer 5 to which a clock signal is input is arranged near the power supply bridge cell. The first buffer drives a second buffer 6 located below the same power bridge cell. As the first buffer, cells according to the number of ROWs are selected. As the second buffer, cells according to the number of flip-flops 4 to be connected are selected.
A dummy load for the second buffer is arranged in the power supply bridge cell having the short interval L2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路における
クロック分配回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clock distribution circuit in an integrated circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の集積回路においては、クロック設
計を行うとき、n個のフリップフロップを1個のクロッ
クバッファで駆動することにより、クロックスキューを
抑えていた。
2. Description of the Related Art In a conventional integrated circuit, when designing a clock, clock skew has been suppressed by driving n flip-flops with one clock buffer.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
プロセッサのクロック周波数は飛躍的に増加しているた
め、クロックスキューを抑えることは困難になってきて
いる。半導体技術の進歩により、ゲート単位におけるク
ロックの遅延は減少しているが、配線における寄生容量
及び寄生抵抗によって引き起こされる伝搬遅延は減少の
割合が少ない。このため、全体の遅延に対して相対的に
配線における伝搬遅延の比重が増えている。
However, in recent years,
Since the clock frequency of a processor has increased dramatically, it has become difficult to suppress clock skew. Advances in semiconductor technology have reduced clock delays on a gate-by-gate basis, but the rate of reduction in propagation delays caused by parasitic capacitance and resistance in interconnects is small. Therefore, the relative weight of the propagation delay in the wiring is relatively increased with respect to the entire delay.

【0004】このような状況において、クロックの設計
を行うとき、従来のように、n個のフリップフロップを
1個のクロックバッファで駆動するだけでは、クロック
スキューを抑え、周波数に対応したクロックスキューを
実現することは困難であった。また、集積回路において
は、電源配線に対するエレクトロマイグレーションとい
った問題も発生している。この問題は電流を絶えず消費
するクロック回路における電源配線で特に問題となる。
In such a situation, when designing a clock, by driving n flip-flops with one clock buffer as in the prior art, the clock skew is suppressed and the clock skew corresponding to the frequency is reduced. It was difficult to realize. Further, in an integrated circuit, a problem such as electromigration of a power supply wiring has occurred. This problem is particularly problematic in power supply wiring in clock circuits that constantly consume current.

【0005】本発明は、標準セルを配置、配線すること
によりレイアウトされる集積回路のブロックにおいて、
ブロック内部のクロックスキューを抑制し、かつ、ブロ
ック間のクロックスキューを抑制することを目的とする
ものである。また、本発明は、標準セルを配置、配線す
ることによりレイアウトされる集積回路のブロックにお
いて、エレクトロマイグレーションの発生を抑制するこ
とを目的とするものである。
[0005] The present invention relates to an integrated circuit block laid out by arranging and wiring standard cells.
An object of the present invention is to suppress clock skew inside a block and to suppress clock skew between blocks. Another object of the present invention is to suppress the occurrence of electromigration in blocks of an integrated circuit laid out by arranging and wiring standard cells.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するためなされたものである。本発明においては、標準
セルを配置及び配線することによってレイアウトされ、
複数のセル列を縦列配置し、このセル列に対して複数の
電源ブリッジセルを縦方向に配置して形成した集積回路
のクロック分配回路において、複数のセル列の最上段又
は最下段において電源ブリッジセルに近接して、クロッ
ク信号が入力される第1のバッファを配置し、各セル列
において電源ブリッジセルの下に第2のバッファを配置
する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to achieve the above object. In the present invention, a standard cell is laid out by arranging and wiring,
In a clock distribution circuit of an integrated circuit formed by arranging a plurality of cell columns in a cascade and arranging a plurality of power bridge cells in a vertical direction with respect to the cell columns, a power supply bridge is provided at an uppermost or lowermost stage of the plurality of cell columns A first buffer to which a clock signal is input is arranged near the cell, and a second buffer is arranged below the power bridge cell in each cell column.

【0007】第1のバッファにより各第2のバッファを
駆動させるため、第1のバッファの出力と、第1のバッ
ファと近接して配置された縦1列の第2のバッファの入
力との間を第1の配線で接続し、各第2のバッファと同
一セル列にあり次の第2のバッファまでに存在する各フ
リップフロップのクロック端子を駆動するため、セル列
ごとに第2のバッファの出力とフリップフロップとの間
を第2の配線で接続する。
In order to drive each second buffer by the first buffer, an output of the first buffer is connected to an input of a second buffer arranged in one column arranged close to the first buffer. Are connected by the first wiring, and the clock terminals of the flip-flops which are in the same cell column as the second buffers and exist up to the next second buffer are driven. A second wiring connects between the output and the flip-flop.

【0008】以上の構成により、クロックスキューを抑
えると共に、エレクトロマイグレーションの発生が抑制
される。また、本発明においては、第1のバッファとし
て、ブロックのセル列の段数に応じたドライブ能力のバ
ッファを使用することにより、各ブロック間のクロック
スキューを抑えることができる。
With the above configuration, the clock skew is suppressed and the occurrence of electromigration is suppressed. Further, in the present invention, the clock skew between the blocks can be suppressed by using, as the first buffer, a buffer having a drive capacity corresponding to the number of stages of the cell row of the block.

【0009】本発明においては、第2のバッファに、駆
動するフリップフロップの数に応じて、負荷調整用のゲ
ートを負荷として接続することにより、各第2のバッフ
ァが駆動するフリップフロップの数に起因するクロック
スキューを抑えることができる。本発明においては、各
電源ブリッジセルは指定された間隔で配置されるが、ブ
ロックのサイズにより指定された間隔より短い間隔で電
源ブリッジセルが配置されることがある。この短い間隔
の電源ブリッジセル間においては、第2のバッファは、
その短い間隔に応じた負荷調整用のゲートを負荷として
接続する。これにより、電源ブリッジセル間隔の違いに
よるクロックスキューの発生を抑えることができる。
In the present invention, by connecting a gate for load adjustment as a load to the second buffers in accordance with the number of flip-flops to be driven, the number of flip-flops driven by each second buffer is reduced. The resulting clock skew can be suppressed. In the present invention, the power supply bridge cells are arranged at specified intervals, but the power supply bridge cells may be arranged at intervals shorter than the interval specified by the block size. Between the shortly spaced power bridge cells, the second buffer
A gate for load adjustment corresponding to the short interval is connected as a load. As a result, it is possible to suppress the occurrence of clock skew due to the difference in the power supply bridge cell interval.

【0010】本発明においては、前記第1の配線及び前
記第2の配線を、電源線によってシールドして配線する
ことにより、電源線との関係により発生するクロックス
キューを抑えることができ、更に、クロストークなどの
ノイズに対して強いものとすることができる。
[0010] In the present invention, the first wiring and the second wiring are shielded by a power supply line and wired, whereby clock skew generated due to the relationship with the power supply line can be suppressed. It can be strong against noise such as crosstalk.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明の実施形態について図を用
いて説明する。図1は、集積回路のブロックの配置図で
ある。図1において、1は、標準セルを配置、配線する
ことによりレイアウトされたブロックである。集積回路
上には、図1のようなブロックが複数配置される。RO
Wは複数のセルを横列配置したセル列である。図示の例
では、セル列ROWは、ROW0〜ROW4の5段設け
られている。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of an integrated circuit. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a block laid out by arranging and wiring standard cells. A plurality of blocks as shown in FIG. 1 are arranged on the integrated circuit. RO
W is a cell row in which a plurality of cells are arranged in a row. In the illustrated example, the cell rows ROW are provided in five stages of ROW0 to ROW4.

【0012】3は、電源ブリッジセルで、各セル列RO
Wに対して縦方向に等間隔L1ごとに配置される。この
間隔L1は例えば400μmである。しかしながら、ブ
ロック1の横方向の寸法によって、右端の電源ブリッジ
セル3とその左側の電源ブリッジセル3との間隔L2が
短くなることがある。間隔L2は例えば200μmとな
る。
Reference numeral 3 denotes a power bridge cell, and each cell row RO
W are arranged at equal intervals L1 in the vertical direction with respect to W. The interval L1 is, for example, 400 μm. However, the space L2 between the power supply bridge cell 3 on the right end and the power supply bridge cell 3 on the left side thereof may be shortened depending on the horizontal dimension of the block 1. The interval L2 is, for example, 200 μm.

【0013】4は、セル列2上に配置されたフリップフ
ロップである。5は、第1のバッファで、最上段のセル
列ROW0上で、各電源ブリッジセル3ごとに電源ブリ
ッジセル3に近接して配置される。なお、この第1のバ
ッファ5は、最下段のセル列ROW4に配置すること
も、又は、最上段及び最下段のセル列ROW0及びRO
W4に配置することもできる。
Reference numeral 4 denotes a flip-flop arranged on the cell column 2. Reference numeral 5 denotes a first buffer, which is arranged in the uppermost cell row ROW0 for each power supply bridge cell 3 in close proximity to the power supply bridge cell 3. The first buffer 5 may be arranged in the lowermost cell row ROW4, or may be arranged in the uppermost and lowermost cell rows ROW0 and ROW4.
It can also be located at W4.

【0014】6は、第2のバッファで、各セル列2にお
いて、各電源ブリッジセル3の下に配置される。7は、
右端の電源ブリッジセル3の下に配置されたダミー負荷
である。図2に、図1のブロック1の回路を示す。外部
より供給されるクロックは、入力端子CKIN1〜nか
ら第1のバッファ5に供給される。第1のバッファ5
は、近接する電源ブリッジセル3の下に配置された、縦
1列の第2のバッファ6を駆動する。8は第1のバッフ
ァ5と第2のバッファ6の間を接続する第1の配線であ
る。第2のバッファ6は、同一セル列ROW上にあり、
次の縦1列の第2のバッファ6までに存在するフリップ
フロップ4のクロック端子CKを駆動する。9は第2の
バッファ6とフリップフロップ4の間を接続する第2の
配線である。
Reference numeral 6 denotes a second buffer, which is arranged below each power supply bridge cell 3 in each cell column 2. 7 is
This is a dummy load disposed below the power supply bridge cell 3 at the right end. FIG. 2 shows a circuit of the block 1 in FIG. A clock supplied from the outside is supplied to the first buffer 5 from the input terminals CKIN1 to CKINn. First buffer 5
Drives the second buffer 6 in one column arranged below the adjacent power supply bridge cell 3. Reference numeral 8 denotes a first wiring connecting between the first buffer 5 and the second buffer 6. The second buffer 6 is on the same cell row ROW,
The clock terminal CK of the flip-flop 4 existing up to the second buffer 6 in the next vertical column is driven. Reference numeral 9 denotes a second wiring connecting between the second buffer 6 and the flip-flop 4.

【0015】ここで、第1のバッファ5は、ROWの段
数に応じたドライブ能力のセルを選択して使用する。こ
れは、他のブロックとの間で発生するクロックスキュー
を抑えるためのものである。セルの選択例を図3に示
す。図3(a)はROW段数が1〜2の場合、(b)は
ROW段数が3〜5の場合、(c)はROW段数が6〜
10の場合、(d)はROW段数が11〜19の場合、
(e)はROW段数が20〜28の場合を示す。(b)
〜(e)はROW段数に応じたドライブ能力のバッファ
が使用されている状態を示す。また、(a)は、最小の
ドライブ能力のバッファを複数直列に接続して、遅延量
を調整している。
Here, the first buffer 5 selects and uses a cell having a drive capacity corresponding to the number of ROW stages. This is to suppress the clock skew generated between other blocks. FIG. 3 shows an example of cell selection. 3A shows the case where the number of ROW stages is 1 to 2, FIG. 3B shows the case where the number of ROW stages is 3 to 5, and FIG.
In the case of 10, (d) is when the number of ROW stages is 11 to 19,
(E) shows the case where the number of ROW stages is 20 to 28. (B)
(E) shows a state in which a buffer having a drive capacity corresponding to the number of ROW stages is used. In (a), the delay amount is adjusted by connecting a plurality of buffers having the minimum drive capability in series.

【0016】また、ROW段数が29以上となった場合
は、縦方向に配置されたセル列の最上段セル列ROW0
及び最下段のセル列ROW4の両方に第1のバッファ5
を配置する。この場合、各第1のバッファ5は、図3に
示した基準によりセルを選択する。このように第1のバ
ッファのセルを選択することにより、同一集積回路上に
配置された各ブロック1における第1のバッファによる
遅延量を揃えることができる。したがって、第1のバッ
ファによるクロックスキューを減少できる。
If the number of rows is 29 or more, the uppermost cell row ROW0 of the vertically arranged cell rows is set.
And the first buffer 5 in both the lowermost cell row ROW4.
Place. In this case, each first buffer 5 selects a cell based on the criteria shown in FIG. By selecting the cells of the first buffer in this way, it is possible to equalize the amount of delay caused by the first buffer in each block 1 arranged on the same integrated circuit. Therefore, the clock skew by the first buffer can be reduced.

【0017】第2のバッファについては、駆動するフリ
ップフロップ4の数に応じて、負荷調整用のゲート(ダ
ミー負荷)を含んだセルを使用する。これは、駆動する
フリップフロップ4の数に応じて発生するクロックスキ
ューを抑える。選択基準の1例を図4に示す。図4
(a)はフリップフロップが8個の場合で、ダミー負荷
を含まない。(b)〜(i)は、駆動するフリップフロ
ップの数の減少に伴って、ダミー負荷の容量を増加させ
ている。(b)はフリップフロップが7個の場合、
(c)はフリップフロップが6個の場合、(d)はフリ
ップフロップが5個の場合、(e)はフリップフロップ
が4個の場合、(f)はフリップフロップが3個の場
合、(g)はフリップフロップが2個の場合、(h)は
フリップフロップが1個の場合、(i)はフリップフロ
ップが0個の場合を示す。
As the second buffer, a cell including a gate (dummy load) for load adjustment according to the number of flip-flops 4 to be driven is used. This suppresses clock skew generated according to the number of flip-flops 4 to be driven. One example of the selection criteria is shown in FIG. FIG.
(A) is a case where there are eight flip-flops and does not include a dummy load. (B) to (i) increase the capacity of the dummy load as the number of flip-flops to be driven decreases. (B) shows a case where there are seven flip-flops.
(C) is a case where there are six flip-flops, (d) is a case where there are five flip-flops, (e) is a case where there are four flip-flops, (f) is a case where there are three flip-flops, and (g) ) Shows the case where there are two flip-flops, (h) shows the case where there is one flip-flop, and (i) shows the case where there is no flip-flop.

【0018】第2のバッファ6の場合、更に、電源ブリ
ッジセル3間の距離により、負荷調整用のセルを使用す
る必要がある。電源ブリッジセル3の間隔L1は等間隔
に指定されるが、ブロック1の横方向の寸法によって
は、右端の電源ブリッジセル3とその左側の電源ブリッ
ジセル3との間隔(図1のL2)は、他の間隔よりも短
くなることがある。このため、短い間隔L2内にあるフ
リップフロップ4のクロック端子7へのクロックスキュ
ーが大きくなる。
In the case of the second buffer 6, it is necessary to use a load adjusting cell depending on the distance between the power supply bridge cells 3. Although the interval L1 between the power supply bridge cells 3 is specified to be equal, depending on the horizontal dimension of the block 1, the interval between the power supply bridge cell 3 on the right end and the power supply bridge cell 3 on the left side thereof (L2 in FIG. 1). , May be shorter than other intervals. Therefore, the clock skew to the clock terminal 7 of the flip-flop 4 within the short interval L2 increases.

【0019】これを回避するため、最右端の電源ブリッ
ジセル3とその左側の電源ブリッジセル3との間隔に応
じたダミー負荷7を右端の電源ブリッジセル3の下に配
置して、第2のバッファの負荷とする。このダミー負荷
の選択基準の1例を図5に示す。図5(a)は間隔が2
00〜300μmの場合で、(b)は間隔が100〜2
00μmの場合で、(c)は間隔が〜100μmの場合
で、間隔が短いほど、容量の大きいダミー負荷を使用す
る。図4及び図5のダミー負荷は、MOSトランジスタ
を容量Cとして使用している。
In order to avoid this, a dummy load 7 corresponding to the distance between the rightmost power supply bridge cell 3 and the leftmost power supply bridge cell 3 is arranged below the rightmost power supply bridge cell 3 to provide a second load. Buffer load. FIG. 5 shows an example of the criteria for selecting the dummy load. FIG. 5A shows that the interval is 2
In the case of 00 to 300 μm, (b) shows an interval of 100 to 2
In the case of 00 μm, (c) shows a case where the interval is up to 100 μm, and a dummy load having a larger capacity is used as the interval becomes shorter. 4 and 5 use a MOS transistor as a capacitor C.

【0020】本例は、更に、クロック配線によるクロッ
クスキューを抑える手段を有している。本例では、クロ
ック配線は電源線によりシールドされて配線される。図
6は、図2のA−A線の断面図で、第1のバッファ5と
第2のバッファを接続する第1の配線8のシールド構成
を示すものである。なお、図6では、理解を容易にする
ため、絶縁層等の図示は省略している。図6において、
11はMOSトランジスタ、12は1層目の配線、13
は2層目の配線、14は3層目の配線である。2層目の
配線には、電源線15と16の間に、第1のバッファ5
と第2のバッファ6との間のクロック配線8が配置され
る。
This embodiment further has means for suppressing clock skew due to clock wiring. In this example, the clock wiring is shielded and wired by the power supply line. FIG. 6 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 2 and shows a shield configuration of the first wiring 8 connecting the first buffer 5 and the second buffer. In FIG. 6, illustration of an insulating layer and the like is omitted for easy understanding. In FIG.
11 is a MOS transistor, 12 is a first layer wiring, 13
Is a second layer wiring, and 14 is a third layer wiring. The first buffer 5 is provided between the power supply lines 15 and 16 in the second layer wiring.
A clock wiring 8 is arranged between the first buffer 6 and the second buffer 6.

【0021】図7は、図2のB−B線の断面を示したも
ので、第2のバッファ6とフリップフロップ4を接続す
る第2の配線9のシールド構成を示すものである。図7
において、21はMOSトランジスタ、22は1層目の
配線、23は2層目の配線、24は3層目の配線であ
る。3層目の配線には、電源線25と26の間に、第2
のバッファ5とフリップフロップ4との間のクロック配
線9が配置される。
FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG. 2, and shows the shield configuration of the second wiring 9 connecting the second buffer 6 and the flip-flop 4. FIG.
In the figure, 21 is a MOS transistor, 22 is a first-layer wiring, 23 is a second-layer wiring, and 24 is a third-layer wiring. The wiring of the third layer includes the second wiring between the power supply lines 25 and 26.
The clock wiring 9 between the buffer 5 and the flip-flop 4 is arranged.

【0022】クロック配線8,9は、同一層13,23
で電源線15,16,25,26に平行で走ることによ
り、電源線15,16,25,26との間の容量が一定
になる。これにより配線によるクロックスキューが低減
される。また、クロック配線8,9は、電源線15,1
6,25,26によりシールドされるため、クロストー
クなどのノイズに対して強いものとなる。
The clock wirings 8 and 9 are connected to the same layers 13 and 23
And runs parallel to the power supply lines 15, 16, 25, 26, so that the capacitance between the power supply lines 15, 16, 25, 26 becomes constant. This reduces clock skew due to wiring. The clock wires 8 and 9 are connected to the power supply lines 15 and 1
6, 25, 26, it is strong against noise such as crosstalk.

【0023】次に、第2のバッファ6のクロックセル
は、電源ブリッジセル3と共用して使用されている。こ
のため、ブロックにおける標準セル中で最も電流を消費
するクロックセルを電源ブリッジセルの直下に置くこと
となる。したがって、エレクトロマイグレーションの発
生を抑えることが可能となる。図8を用いて、本クロッ
ク分配回路を実現するための自動配置配線システムにつ
いて説明する。
Next, the clock cell of the second buffer 6 is used in common with the power bridge cell 3. Therefore, the clock cell that consumes the most current among the standard cells in the block is placed immediately below the power bridge cell. Therefore, the occurrence of electromigration can be suppressed. An automatic placement and routing system for realizing the present clock distribution circuit will be described with reference to FIG.

【0024】ステップS1で、設計のための論理情報を
格納したネットリストを用意する。ステップS2で、フ
リップフロップなどのゲートの配置を行う。ステップS
3で、電源ブリッジセルの本数を決定する。ステップS
4で、電源ブリッジセルの配置に応じて第1及び第2の
バッファを追加していくことにより、ネットリストを更
新していく。このとき、第1のバッファのドライブ能力
は、前に図3を用いて説明したように、ROW段数によ
り決定される。
In step S1, a net list storing logic information for design is prepared. In step S2, gates such as flip-flops are arranged. Step S
At 3, the number of power supply bridge cells is determined. Step S
At 4, the netlist is updated by adding the first and second buffers according to the arrangement of the power bridge cells. At this time, the drive capability of the first buffer is determined by the number of ROW stages as described above with reference to FIG.

【0025】ステップS5〜8で、通常の設計と同様
に、配置、配置改善、配線を決定して行く。ステップS
9で、前に図4,図5を用いて説明したように、ダミー
負荷の追加を行い、ステップS10でレイアウトデータ
を得る。この自動配置配線システムにより均一なクロッ
クスキューが実現できるので、設計者はクロックスキュ
ーを意識せずにレイアウトを設計することができる。
In steps S5 to S8, placement, layout improvement, and wiring are determined in the same manner as in a normal design. Step S
At 9, a dummy load is added as described above with reference to FIGS. 4 and 5, and layout data is obtained at step S10. Since a uniform clock skew can be realized by the automatic placement and routing system, a designer can design a layout without being conscious of clock skew.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明によれば、標準セルを配置、配線
することによりレイアウトされる集積回路のブロックに
おいて、ブロック内部のクロックスキューを抑制し、か
つ、ブロック間のクロックスキューを抑制することが可
能となる。また、本発明によれば、標準セルを配置、配
線することによりレイアウトされる集積回路のブロック
において、エレクトロマイグレーションの発生を抑制す
ることが可能となる。
According to the present invention, in a block of an integrated circuit laid out by arranging and wiring standard cells, it is possible to suppress a clock skew inside a block and a clock skew between blocks. It becomes possible. Further, according to the present invention, it is possible to suppress the occurrence of electromigration in blocks of an integrated circuit laid out by arranging and wiring standard cells.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態のクロック分配回路の配置
図。
FIG. 1 is a layout diagram of a clock distribution circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のクロック分配回路の回路図。FIG. 2 is a circuit diagram of the clock distribution circuit of FIG. 1;

【図3】図1,2の第1のバッファのセルの選択基準例
を示す図。
FIG. 3 is a diagram showing an example of criteria for selecting a cell of a first buffer in FIGS. 1 and 2;

【図4】図1,2の第2のバッファのセルの選択基準例
を示す図。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a criterion for selecting a cell of a second buffer in FIGS. 1 and 2;

【図5】図1,2の右端の第2のバッファのセルの選択
基準例示す図。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a criterion for selecting a cell of a second buffer at the right end in FIGS.

【図6】図2のA−A線における断面図。FIG. 6 is a sectional view taken along line AA of FIG. 2;

【図7】図2のB−B線における断面図。FIG. 7 is a sectional view taken along line BB of FIG. 2;

【図8】図1,2のクロック分配回路の自動設計システ
ムを示すフローチャート。
FIG. 8 is a flowchart showing an automatic design system of the clock distribution circuit of FIGS.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ブロック 3…電源ブリッジセル 4…フリップフロップ 5…第1のバッファ 6…第2のバッファ 7…ダミー負荷 8…第1の配線 9…第2の配線 11,21…MOSトランジスタ 12,22…1層目の配線 13,23…2層目の配線 14,24…3層目の配線 15,16,25,26…電源線 CKIN…クロック端子 ROW…セル列 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Block 3 ... Power bridge cell 4 ... Flip-flop 5 ... First buffer 6 ... Second buffer 7 ... Dummy load 8 ... First wiring 9 ... Second wiring 11 and 21 ... MOS transistors 12,22 ... 1st layer wiring 13,23 ... 2nd layer wiring 14,24 ... 3rd layer wiring 15,16,25,26 ... power line CKIN ... clock terminal ROW ... cell column

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 標準セルを配置及び配線することによっ
てレイアウトされ、複数のセル列を縦列配置し、このセ
ル列に対して複数の電源ブリッジセルを縦方向に配置し
て形成した集積回路のクロック分配回路において、前記
複数のセル列の最上段又は最下段において前記電源ブリ
ッジセルに近接して配置され、クロック信号が入力され
る第1のバッファと、前記各セル列において前記電源ブ
リッジセルの下に配置された第2のバッファと、前記第
1のバッファにより前記各第2のバッファを駆動させる
ため、前記第1のバッファの出力と、該第1のバッファ
と近接して配置された縦1列の第2のバッファの入力と
の間を接続する第1の配線と、前記各第2のバッファと
同一セル列にあり次の第2のバッファまでに存在する各
フリップフロップのクロック端子を駆動するため、前記
セル列ごとに第2のバッファの出力と前記フリップフロ
ップとの間を接続する第2の配線とを具備することを特
徴とするクロック分配回路。
1. A clock of an integrated circuit formed by arranging and arranging standard cells, arranging a plurality of cell columns in a column, and arranging a plurality of power supply bridge cells in a vertical direction with respect to the cell columns. In the distribution circuit, a first buffer, which is arranged in close proximity to the power supply bridge cell at an uppermost stage or a lowermost stage of the plurality of cell columns and receives a clock signal, is disposed below the power supply bridge cell in each of the cell columns. The second buffer arranged in the first buffer and the second buffer are driven by the first buffer, the output of the first buffer and the first buffer arranged in close proximity to the first buffer. A first wiring connecting between the inputs of the second buffers of the column, and a first wiring of each flip-flop in the same cell column as the second buffers and existing up to the next second buffer; A clock distribution circuit, comprising: a second wiring connecting between an output of a second buffer and the flip-flop for each cell column to drive a clock terminal.
【請求項2】 前記第1のバッファは、前記セル列の段
数に応じたドライブ能力のものを使用することを特徴と
する請求項1記載のクロック分配回路。
2. The clock distribution circuit according to claim 1, wherein the first buffer has a drive capacity corresponding to the number of stages of the cell row.
【請求項3】 前記第2のバッファは、駆動するフリッ
プフロップの数に応じた負荷調整用のゲートを負荷とし
て接続することを特徴とする請求項1記載のクロック分
配回路。
3. The clock distribution circuit according to claim 1, wherein the second buffer is connected as a load with a gate for load adjustment according to the number of flip-flops to be driven.
【請求項4】 前記各電源ブリッジセルは指定された間
隔で配置され、この指定された間隔より短い間隔で配置
された電源ブリッジセル間における第2のバッファは、
その短い間隔に応じた負荷調整用のゲートを負荷として
接続することを特徴とする請求項1記載のクロック分配
回路。
4. The power supply bridge cells are arranged at a specified interval, and a second buffer between the power supply bridge cells arranged at a shorter interval than the specified interval is:
2. The clock distribution circuit according to claim 1, wherein a gate for load adjustment according to the short interval is connected as a load.
【請求項5】 前記第1の配線は、電源線によってシー
ルドされて配線されることを特徴とする請求項1記載の
クロック分配回路。
5. The clock distribution circuit according to claim 1, wherein said first wiring is wired by being shielded by a power supply line.
【請求項6】 前記第2の配線は、電源線によってシー
ルドされて配線されることを特徴とする請求項1記載の
クロック分配回路。
6. The clock distribution circuit according to claim 1, wherein said second wiring is wired by being shielded by a power supply line.
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