JPH106262A - Instructing method and its device for robot - Google Patents

Instructing method and its device for robot

Info

Publication number
JPH106262A
JPH106262A JP15968896A JP15968896A JPH106262A JP H106262 A JPH106262 A JP H106262A JP 15968896 A JP15968896 A JP 15968896A JP 15968896 A JP15968896 A JP 15968896A JP H106262 A JPH106262 A JP H106262A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
robot
hand
teaching
base
proximity sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15968896A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Ezaki
朗 江崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP15968896A priority Critical patent/JPH106262A/en
Publication of JPH106262A publication Critical patent/JPH106262A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manipulator (AREA)
  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To give robot instruction through a very simple procedures irrespective of the shape of a hand accurately without requiring skillfulness of the operator and with no risk of generation of dispersion. SOLUTION: A model of object to be conveyed 15 equipped with a proximity sensor 14 is placed on a hand 10a of a conveying robot 10, and the hand 10a is put in movement. A transparent glass board 13 is accommodated for example in a cassette 11, and the positions of the hand 10a relative to the glass board 13 are sensed from the outputs of the proximity sensor 14 when the hand 10a is moved in the vertical direction, the revolving direction, and the longitudinal direction with respect to the glass board 13, and on the basis of the obtained positions, the reference position is determined.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体ウエ
ハ搬送用ロボットの基準位置の自動教示方法に係わり、
半導体ウエハを収納するカセット又は加工装置の半導体
ウエハの置かれるべき位置と搬送用ロボットとの相互位
置関係を簡単かつ正確に教示するロボットの教示方法及
びその装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for automatically teaching a reference position of, for example, a semiconductor wafer transfer robot.
The present invention relates to a teaching method of a robot and a device for easily and accurately teaching a mutual positional relationship between a position where a semiconductor wafer is to be placed in a cassette or a processing apparatus for storing a semiconductor wafer and a transfer robot.

【0002】[0002]

【従来の技術】搬送用ロボットによって半導体ウエハを
一方の装置から取り出して他方の装置に移送するもので
は、双方の装置に置かれるべき半導体ウエハの位置を搬
送用ロボットに対して正確に教示することが必要であ
る。
2. Description of the Related Art In a method in which a semiconductor wafer is taken out from one device by a transfer robot and transferred to the other device, the position of the semiconductor wafer to be placed in both devices is accurately taught to the transfer robot. is required.

【0003】通常の搬送システムにおいては、一旦、双
方の装置に置かれるべき半導体ウエハの位置と搬送用ロ
ボットとの相互位置を教示すれば、それ以降半導体ウエ
ハを搬入・搬出するに際して毎回教示しなくてもよいよ
うに構成されている。
In a normal transfer system, once the position of a semiconductor wafer to be placed in both devices and the mutual position of a transfer robot are instructed, the teaching is not performed every time a semiconductor wafer is loaded and unloaded thereafter. It is configured so that it may be.

【0004】ところが、装置の新設時、装置の改造や定
期点検等によって装置又は搬送用ロボットを組み付け状
態から外したとき、或いは位置を変更したときには、実
働に先立って両者の相互位置を搬送用ロボットに教示し
て正しい位置関係にて搬送を行わせることが必要であ
る。
However, when a device is newly installed, when the device or the transfer robot is removed from the assembled state by remodeling or periodic inspection of the device, or when the position is changed, the mutual position of the transfer robot and the transfer robot is determined before the actual operation. It is necessary to carry out conveyance in the correct positional relationship by teaching to.

【0005】図10はかかる半導体ウエハの搬送装置に
対する位置決め教示方法を説明するための図である。搬
送用ロボット1は、アーム先端に搬送物としての半導体
ウエハ2を受けて取り出すためのハンド1aを備えてい
る。
FIG. 10 is a view for explaining a method of teaching the positioning of the semiconductor wafer with respect to the transfer device. The transfer robot 1 has a hand 1a for receiving and taking out a semiconductor wafer 2 as a transfer object at the end of an arm.

【0006】又、この搬送用ロボット1は、ハンド1a
を水平面内で前後方向に移動させる軸(R軸)と、ハン
ド1aを水平面内で旋回方向に移動させる軸(θ軸)
と、ハンド1aを上下方向に移動させる軸(Z軸)とを
備えている。
The transfer robot 1 has a hand 1a
Axis (R axis) that moves the hand 1a in the front-rear direction in the horizontal plane, and axis (θ axis) that moves the hand 1a in the turning direction in the horizontal plane
And an axis (Z axis) for moving the hand 1a in the vertical direction.

【0007】なお、ハンド1aは、単なる平板状のもの
や半導体ウエハ2を落し込むための溝が掘られたものな
どが用いられる。半導体ウエハ2の搬送は、半導体ウエ
ハ2を収納するカセット又は角度や位置合わせ装置3
と、搬送用ロボット1によってカセット又は角度や位置
合わせ装置3から搬出された半導体ウエハ2を受け入れ
るための装置4との間で行われる。この装置4は、例え
ば別のカセット、加工装置等である。
As the hand 1a, a simple plate-shaped hand or a hand having a groove for dropping the semiconductor wafer 2 is used. The transfer of the semiconductor wafer 2 is performed by using a cassette for accommodating the semiconductor wafer 2 or an angle or positioning device
And a device 4 for receiving the semiconductor wafer 2 carried out from the cassette or the angle or alignment device 3 by the transfer robot 1. The device 4 is, for example, another cassette, a processing device, or the like.

【0008】ロボット制御装置5は、搬送用ロボット1
の動作を制御するもので、搬送用ロボット1の動作を教
示するためのティーチングボックス5a、又は搬送用ロ
ボット1を数値制御するためのキーボード5b、及び外
部コンピュータ5cからなっている。
[0008] The robot control device 5 includes the transfer robot 1
And comprises a teaching box 5a for teaching the operation of the transfer robot 1, a keyboard 5b for numerically controlling the transfer robot 1, and an external computer 5c.

【0009】このような装置において基準位置の教示は
次の通り行われる。搬送用ロボット1とカセット又は角
度や位置合わせ装置3の半導体ウエハ2の置かれるべき
位置との相互関係、及び搬送用ロボット1と別のカセッ
ト、加工装置4の半導体ウエハ2の置かれる位置との相
互関係が装置の調整時にティーチングボックス5aによ
って搬送用ロボット1を寸動動作し、或いはキーボード
5bから動作命令を入力して外部コンピュータ5cの助
けを借りてNC制御で搬送用ロボット1を動作し、その
結果を目視によって確認し、最適位置になるまで繰り返
すことによって搬送用ロボット1に対して各々の装置
3、4の基準位置を教示する。
The teaching of the reference position in such an apparatus is performed as follows. Correlation between the transfer robot 1 and the cassette or the position where the semiconductor wafer 2 of the alignment or alignment device 3 is to be placed, and the relationship between the transfer robot 1 and another cassette or the position where the semiconductor wafer 2 of the processing device 4 is placed. When the interrelationship is adjusted, the transfer robot 1 is jogged by the teaching box 5a, or an operation command is input from the keyboard 5b and the transfer robot 1 is operated by NC control with the help of the external computer 5c. The result is visually checked, and the process is repeated till the optimum position is reached, thereby teaching the transfer robot 1 the reference position of each of the devices 3 and 4.

【0010】一方、搬送用ロボットの別の基準位置自動
教示方法として、例えば特開平6−56228号公報に
記載されている技術がある。図11はかかる教示方法を
適用した半導体ウエハの搬送装置の構成図である。な
お、図10と同一部分には同一符号を付してその詳しい
説明は省略する。
On the other hand, as another method of automatically teaching a reference position of a transfer robot, there is a technique described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-56228. FIG. 11 is a configuration diagram of a semiconductor wafer transfer device to which the teaching method is applied. The same parts as those in FIG. 10 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0011】カセット3には、搬送用ロボット1のハン
ド1aとの距離に応じて出力信号の大きさが変化するセ
ンサ6が固定されたモデル搬送物7が収納されている。
このモデル搬送物7は、半導体ウエハ2と類似形状に形
成されている。
The cassette 3 contains a model article 7 to which a sensor 6 whose output signal varies in accordance with the distance from the hand 1a of the transport robot 1 is fixed.
The model transported object 7 is formed in a shape similar to the semiconductor wafer 2.

【0012】このセンサ6の出力信号は、センサ制御回
路8に導かれて所定の処理を施された後、ロボット制御
装置5に入力される。このような装置において基準位置
の教示について図12を参照して説明する。なお、同図
(a) はカセット3を正面(ロボット側)から見た斜視
図、同図(b) はA−A断面図、同図(c) はB−B断面図
である。
The output signal of the sensor 6 is guided to a sensor control circuit 8 and subjected to predetermined processing, and then input to the robot controller 5. The teaching of the reference position in such an apparatus will be described with reference to FIG. The same figure
(a) is a perspective view of the cassette 3 as viewed from the front (robot side), (b) is a sectional view taken along the line AA, and (c) is a sectional view taken along the line BB.

【0013】教示に先立ってティーチングボックス5a
を操作して手動指令又は予め定められた概略位置に自動
操作により搬送用ロボット1を動作させて、ハンド1a
の先端を概略カセット3の所定位置に収納されているモ
デル搬送物6の近傍でセンサ6の作動範囲まで移動させ
る。
Prior to teaching, the teaching box 5a
To operate the transfer robot 1 by a manual command or automatically by a manual operation at a predetermined approximate position.
Is moved to the operating range of the sensor 6 in the vicinity of the model transported article 6 stored in a predetermined position of the general cassette 3.

【0014】この後、自動シーケンスにより搬送用ロボ
ット1のハンド1aを上下(Z方向)、左右(θ方
向)、前後方向(R方向)に動かして、それぞれの動作
中においてセンサ6の出力が最大値(Z方向、θ方向の
各動作時)又は所定値(R方向動作時)となる位置デー
タを得、この位置データに基づいて搬送用ロボット1と
カセット3との相対位置関係を調整、記憶させるものと
なる。
Thereafter, the hand 1a of the transfer robot 1 is moved up and down (Z direction), left and right (θ direction), and back and forth (R direction) by an automatic sequence, and the output of the sensor 6 is maximized during each operation. Position data having a value (during each operation in the Z and θ directions) or a predetermined value (during the R direction operation), and adjusting and storing the relative positional relationship between the transport robot 1 and the cassette 3 based on the position data. It will be.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図10
に示す教示方法では、教示作業が極めて難しく、精度を
高めるためには長時間を要し、しかも作業者の目視によ
って確認するので、教示の結果に個人差が生じるばかり
でなく、同一作業者による教示結果にもばらつきが生じ
る。
However, FIG.
In the teaching method shown in (1), the teaching work is extremely difficult, it takes a long time to increase the accuracy, and since the confirmation is made visually by the worker, not only the result of the teaching differs from person to person, but also the result of the same worker The teaching results also vary.

【0016】一方、図11に示す教示方法では、高精度
でしかも作業者によるばらつきを生じないで何ら熟練を
要しない教示ができるが、しかし、θ方向の動作時にセ
ンサ6の出力が最大となる位置データを必要とするの
で、例えばハンド1aは、図3(b) に示すような先端形
状が円形又は放物線のように曲線で、しかも中央部が凸
形状である必要がある。
On the other hand, the teaching method shown in FIG. 11 can provide teaching with high accuracy and without any skill without causing variation among operators. However, the output of the sensor 6 is maximized during operation in the θ direction. Since position data is required, for example, the hand 1a needs to have a tip shape such as a circle or a parabola as shown in FIG. 3B, and a convex shape at the center.

【0017】このため、ハンド1aの形状が、例えば図
13に示すようにハンド先端部から中央部にかけて切り
欠きが形成されたものでは、θ方向の動作時にセンサ6
の出力から最大を得ることができず、θ方向の正確な位
置データを得ることができない。
For this reason, if the hand 1a has a notch formed from the tip of the hand to the center as shown in FIG.
Cannot obtain the maximum value from the output, and accurate position data in the θ direction cannot be obtained.

【0018】従って、図13に示すような切り欠きが形
成されたハンドに対しては、かかる教示方法を適用する
ことは困難である。しかるに、半導体製造装置、特に真
空装置に適用する半導体ウエハ搬送用ロボットにおいて
は、搬送用ロボットと角度或いは位置合わせ装置や加工
装置との間での半導体ウエハ2の受け渡しを行うため
に、図13に示す切り欠きの形成されたハンドを用いる
場合が多く、このハンドに対する教示が困難であること
は問題である。
Therefore, it is difficult to apply such a teaching method to a hand having a notch as shown in FIG. However, in a semiconductor manufacturing apparatus, particularly a semiconductor wafer transfer robot applied to a vacuum apparatus, in order to transfer the semiconductor wafer 2 between the transfer robot and an angle or alignment apparatus or a processing apparatus, FIG. In many cases, a hand having the notch shown is used, and it is problematic that teaching of the hand is difficult.

【0019】そこで本発明は、ハンド形状に拘らず極め
て簡単な作業で教示ができ、しかも高精度で作業者によ
るばらつきを生ぜず熟練を要しないで教示ができるロボ
ットの教示方法及びその装置を提供することを目的とす
る。
Therefore, the present invention provides a robot teaching method and apparatus capable of teaching with extremely simple work irrespective of the shape of the hand and capable of teaching with high accuracy and without requiring skill and without skill. The purpose is to do.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】請求項1によれば、ロボ
ットを動作して少なくとも2つの装置間で搬送物を搬出
・搬入するに際し、ロボットに対して各装置の基準位置
を教示するロボットの教示方法において、内周部とその
周囲に形成された外周部とから形成される基盤を各装置
に配置するとともに、ロボットのハンドの移動に追従し
て移動し、基盤及びこの基盤の中央部と周辺部とを検出
するセンサを備え、ハンドを基盤に対して接離する方向
にそれぞれ移動させ、これらの方向への移動に基づくセ
ンサの各出力からハンドの各位置を検知し、これらハン
ドの各位置に基づいてロボットに対する教示を行うロボ
ットの教示方法である。
According to the first aspect of the present invention, when a robot is operated to carry out and carry in a conveyed object between at least two devices, the robot teaches a reference position of each device to the robot. In the teaching method, a base formed from an inner peripheral portion and an outer peripheral portion formed around the inner peripheral portion is arranged in each device, and moves following the movement of the robot hand, and moves along with the base and the central portion of the base. A sensor for detecting the peripheral part is provided, the hand is moved in a direction of coming and going with respect to the base, and the position of the hand is detected from each output of the sensor based on the movement in these directions. This is a robot teaching method for teaching a robot based on a position.

【0021】このようなロボットの教示方法であれば、
ハンドの形状が例えば切り欠きが形成されたものであっ
ても、ハンドの移動に追従するセンサによって、ハンド
を基盤に対して接離する方向にそれぞれ移動させたとき
のセンサの各出力からハンドの各位置を検出でき、これ
らハンドの各位置に基づいてロボットを高精度に教示で
きる。
With such a robot teaching method,
Even if the shape of the hand is, for example, a notch formed, the sensor that follows the movement of the hand can detect the hand from the outputs of the sensors when the hand is moved in the direction of moving toward and away from the base. Each position can be detected, and the robot can be taught with high accuracy based on each position of these hands.

【0022】請求項2によれば、ロボットを動作して少
なくとも2つの装置間で搬送物を搬出・搬入するに際
し、ロボットに対して各装置の基準位置を教示するロボ
ットの教示装置において、各装置に配置され、内周部と
その周囲に形成された外周部とから形成される基盤と、
ハンドの移動に追従して移動し、基盤及びこの基盤の中
央部と周辺部とを検出するセンサと、ハンドを基盤に対
して接離する方向にそれぞれ移動させる第1の手段と、
この第1の手段によりハンドを基盤に対して接離する方
向への移動に基づくセンサの各出力からハンドの各位置
を検知し、これらハンドの各位置に基づいてロボットに
対する教示を行う第2の手段と、を備えたロボットの教
示装置である。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a teaching device for a robot for teaching a reference position of each device to the robot when operating the robot to carry out and carry in a conveyed article between at least two devices. And a base formed from an inner peripheral portion and an outer peripheral portion formed around the inner peripheral portion,
A sensor that moves following the movement of the hand and detects the base and the central part and the peripheral part of the base, and first means for moving the hand in a direction of moving toward and away from the base,
The first means detects each position of the hand from each output of the sensor based on the movement of the hand toward and away from the base, and teaches the robot based on each position of the hand. Means for teaching a robot.

【0023】このようなロボットの教示装置であれば、
各装置に配置された基盤に対してハンドを接離する方向
にそれぞれ移動させると、この移動に追従してセンサが
移動し、このセンサによって例えば基盤及びこの基盤の
内周部と外周部と境界を検出する。そして、このセンサ
により検出された基盤及びこの基盤の内周部と外周部と
境界、つまりハンドの各位置に基づいてロボットに対す
る教示を行う。
With such a robot teaching device,
When the hand is moved toward and away from the base placed on each device, the sensor moves following the movement, and the sensor moves, for example, by the base and the inner and outer peripheral portions of the base. Is detected. Then, teaching to the robot is performed based on the base detected by this sensor and the boundary between the inner peripheral part and the outer peripheral part of the base, that is, each position of the hand.

【0024】請求項3によれば、請求項2記載のロボッ
トの教示装置において、ハンドは、ハンド先端部から中
央部にかけて基盤逃げ用の切り欠きが形成されている。
請求項4によれば、請求項2記載のロボットの教示装置
において、搬送物と同形状のモデル搬送物上にセンサを
設け、このモデル搬送物をハンドに載置してこのハンド
を基盤に対して接離する方向にそれぞれ移動させるもの
である。
According to a third aspect of the present invention, in the robot teaching device according to the second aspect, the hand is provided with a notch for escape of the base from the tip of the hand to the center.
According to a fourth aspect of the present invention, in the robot teaching device according to the second aspect, a sensor is provided on a model article having the same shape as the article, the model article is placed on a hand, and the hand is placed on a base. And move them in the direction of contact and separation.

【0025】請求項5によれば、請求項2記載のロボッ
トの教示装置において、基盤は、光透過性の異なる部材
で形成される内周部とその周囲に形成された外周部とを
有するものである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the robot teaching device according to the second aspect, the base has an inner peripheral portion formed of members having different light transmittances and an outer peripheral portion formed therearound. It is.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。図1はロボットの教示方
法を適用した半導体ウエハの搬送装置の構成図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram of a semiconductor wafer transfer device to which a robot teaching method is applied.

【0027】本発明のロボットの教示方法は、搬送用ロ
ボット10を動作して少なくとも2つの装置11、12
間、例えば半導体ウエハを収納するカセット11と枚葉
式CVD装置等の半導体ウエハの加工装置12との間で
半導体ウエハを搬出・搬入するに際し、搬送用ロボット
10に対して各装置11、12の基準位置を教示するロ
ボットの教示方法において、内周部とその周囲に形成さ
れた外周部とから形成される透明ガラス基盤13をカセ
ット11と加工装置12とに配置するとともに、搬送用
ロボット10のハンド10aの移動に追従してこのハン
ド10aと同一位置に移動し、透明ガラス基盤13及び
この透明ガラス基盤13の中央部と周辺部とを検出する
近接センサ14を備え、ハンド10aを透明ガラス基盤
13に対して接離する方向、すなわち上下方向、左右の
旋回方向及び前後方向にそれぞれ移動させ、これらの方
向に移動させたときの近接センサ14の各出力からハン
ド10aの各位置を検知し、これらハンド10aの各位
置に基づいて搬送用ロボット10に対する教示を行うも
のである。
According to the robot teaching method of the present invention, at least two devices 11 and 12 are operated by operating the transfer robot 10.
For example, when a semiconductor wafer is unloaded and loaded between a cassette 11 for storing semiconductor wafers and a semiconductor wafer processing apparatus 12 such as a single-wafer CVD apparatus, In the teaching method of a robot for teaching a reference position, a transparent glass substrate 13 formed from an inner peripheral portion and an outer peripheral portion formed around the inner peripheral portion is arranged in a cassette 11 and a processing device 12, and the transfer robot 10 Following the movement of the hand 10a, the hand 10a is moved to the same position as the hand 10a, and is provided with a transparent glass substrate 13 and a proximity sensor 14 for detecting a central portion and a peripheral portion of the transparent glass substrate 13. 13, that is, in the up-down direction, the left-right turning direction, and the front-rear direction, and moved in these directions. Detecting the respective positions of the hand 10a from the output of the proximity sensor 14, and performs teaching for transporting robot 10 based on the respective positions of these hands 10a.

【0028】次に装置構成について説明する。搬送用ロ
ボット10は、アーム先端に半導体ウエハを受けて取り
出すためのハンド10aを備えている。
Next, the configuration of the apparatus will be described. The transfer robot 10 has a hand 10a at the end of the arm for receiving and taking out a semiconductor wafer.

【0029】又、この搬送用ロボット10は、ハンド1
0aを水平面内で前後方向に移動させる軸(R軸)と、
ハンド10aを水平面内で旋回方向に移動させる軸(θ
軸)と、ハンド10aを上下方向に移動させる軸(Z
軸)とを備えている。
The transfer robot 10 has a hand 1
Axis (R axis) for moving Oa in the front-rear direction in the horizontal plane;
An axis (θ) for moving the hand 10a in the turning direction in the horizontal plane
Axis) and an axis (Z) for moving the hand 10a in the vertical direction.
Shaft).

【0030】このハンド10aは、図2に示すように枚
葉式CVD装置である加工装置12のプッシャ12aと
の干渉を防止するための切り欠き10bが先端部から中
央部にかけて形成されている。又、ハンド10aには、
半導体ウエハの滑りを防止するための溝10cが形成さ
れている。
As shown in FIG. 2, the hand 10a has a notch 10b formed from the front end to the center to prevent interference with the pusher 12a of the processing apparatus 12 which is a single-wafer CVD apparatus. Also, the hand 10a
A groove 10c for preventing the semiconductor wafer from slipping is formed.

【0031】このハンド10aには、教示を行う際にモ
デル搬送物15が載置される。このモデル搬送物15
は、図3に示すように半導体ウエハと同一形状の基盤
を、その左右がハンド10aの幅と等しくなるようにそ
れぞれカット15a、15bした形状となっている。
A model transported object 15 is placed on the hand 10a when teaching is performed. This model cargo 15
As shown in FIG. 3, the base has the same shape as the semiconductor wafer, and cuts 15a and 15b, respectively, so that the left and right sides thereof are equal to the width of the hand 10a.

【0032】このモデル搬送物15の面上には、上記近
接センサ14が取り付けられている。この近接センサ1
4は、光学式のもので、その光軸がモデル搬送物15の
基盤の外周円の中心と一致するところに取り付けられて
いる。
The proximity sensor 14 is mounted on the surface of the model article 15. This proximity sensor 1
Reference numeral 4 denotes an optical type, which is mounted at a position where the optical axis coincides with the center of the outer circumference circle of the base of the model transported object 15.

【0033】しかるに、ハンド10aにモデル搬送物1
5を載置する場合、モデル搬送物15は、教示を行う際
にハンド10aの溝10cによりハンド10aの基準位
置に置かれる、すなわち溝10cと同心円になるように
載置される。
However, the model transported object 1 is placed on the hand 10a.
5 is placed, the model transported object 15 is placed at the reference position of the hand 10a by the groove 10c of the hand 10a when teaching, that is, placed so as to be concentric with the groove 10c.

【0034】又、カセット3は、通常半導体ウエハが収
納されるもので、教示の際には上記透明ガラス基盤13
が収納される。この透明ガラス基盤13は、図4に示す
ように光透過性の材料により半導体ウエハと同一形状に
形成され、かつ外周円と同心円上に光不透過性の円盤1
3aが形成されている。従って、円盤13aの外周部は
光透過性のリング部13bに形成されている。この例で
は、2つの異なる光透過性を有する部分で形成したが、
2種類以上であればよい。
The cassette 3 normally stores semiconductor wafers, and is used for teaching when the transparent glass substrate 13 is used.
Is stored. As shown in FIG. 4, the transparent glass substrate 13 is formed of a light-transmitting material in the same shape as the semiconductor wafer, and has a light-opaque disk 1 concentric with the outer circumference circle.
3a are formed. Therefore, the outer peripheral portion of the disk 13a is formed on the light-transmitting ring portion 13b. In this example, it is formed by two different light-transmitting portions,
Two or more types may be used.

【0035】この光不透過性の円盤13aは、透明ガラ
ス基盤13の外周円と同心円上に不透明な円盤を張り付
けるか、又は不要部分をマスキングし不透明体を塗布す
るか、或いはガラス基盤上に蒸着等の手段によって不透
明膜を形成し不要な部分をエッチング等の手段によって
除去して形成される。
The light-impermeable disk 13a is formed by attaching an opaque disk on a circle concentric with the outer circumference of the transparent glass substrate 13, or by masking unnecessary portions and applying an opaque body, or by placing an opaque body on the glass substrate. An opaque film is formed by means such as vapor deposition, and unnecessary portions are removed by means such as etching.

【0036】枚葉式CVD装置である加工装置12は、
半導体ウエハの滑りを防止するためのホルダ12bと、
搬送用ロボット10と枚葉式CVD装置の加工装置12
との間で半導体ウエハの受け渡しを行うためのプッシャ
12aとを備えている。
The processing apparatus 12, which is a single-wafer CVD apparatus,
A holder 12b for preventing the semiconductor wafer from slipping;
Transfer robot 10 and processing apparatus 12 for single-wafer CVD apparatus
And a pusher 12a for transferring the semiconductor wafer between the two.

【0037】このうちホルダ12bは、自動教示を行う
際に、透明ガラス基盤13を加工装置12の基準位置に
載置するために用いられる。なお、この加工装置12
は、教示を行う際、先ずプッシャ12aを下げた状態で
透明ガラス基盤13をホルダ12bと同心円になるよう
に置き、次にプッシャ12aを上昇させて透明ガラス基
盤13を所定の高さ位置に配置し、待機するものとな
る。
The holder 12b is used for placing the transparent glass substrate 13 at the reference position of the processing device 12 when performing automatic teaching. The processing device 12
When teaching, first, the transparent glass substrate 13 is placed so as to be concentric with the holder 12b with the pusher 12a lowered, and then the pusher 12a is raised to place the transparent glass substrate 13 at a predetermined height position. And wait.

【0038】一方、上記近接センサ14の出力端子は、
外部コンピュータ20に接続されている。この外部コン
ピュータ20は、近接センサ14のオン(ON)、オフ
(OFF)の出力信号を入力し、この出力信号により必
要に応じてロボット制御装置21から位置データを取得
し、記憶、演算を行い、教示位置データをロボット制御
装置21に送る機能を有している。
On the other hand, the output terminal of the proximity sensor 14
It is connected to an external computer 20. The external computer 20 receives an output signal of ON (ON) and OFF (OFF) of the proximity sensor 14, acquires position data from the robot controller 21 as needed based on the output signal, performs storage and calculation. And a function of transmitting teaching position data to the robot controller 21.

【0039】具体的に外部コンピュータ20は、ハンド
10aを透明ガラス基盤13に対して接離する方向、す
なわち上下方向(Z方向)、左右の旋回方向(θ方向)
及び前後方向(R方向)の順序でそれぞれ移動させる位
置データをロボット制御装置21に送出する第1の手段
を備えている。
Specifically, the external computer 20 directs the hand 10a toward and away from the transparent glass substrate 13, ie, the vertical direction (Z direction), the left and right turning direction (θ direction).
And a first unit for sending position data to be moved in the order of the front-rear direction (R direction) to the robot controller 21.

【0040】又、外部コンピュータ20は、第1の手段
によりハンド10aを上下方向、左右の旋回方向及び前
後方向に移動させたときの近接センサ14の各出力信号
からハンド10aの各位置を検知し、これらハンド10
aの各位置に基づいて搬送用ロボット10に対する教示
位置データを送出する第2の手段を備えている。
Further, the external computer 20 detects each position of the hand 10a from each output signal of the proximity sensor 14 when the hand 10a is moved in the vertical direction, the left and right turning direction and the front and rear direction by the first means. , These hands 10
There is provided second means for transmitting teaching position data to the transfer robot 10 based on each position of a.

【0041】ここで、外部コンピュータ20の第2の手
段は、ハンド10aを上下方向に移動させたときの近接
センサ14の出力信号から上下方向基準位置を求め、ハ
ンド10aを左右に旋回させたときの近接センサ14の
出力信号から旋回方向基準位置を求め、かつハンド10
aを前後方向に移動させたときの近接センサ14の出力
信号から前後方向基準位置を求める機能を有している。
Here, the second means of the external computer 20 calculates the reference position in the vertical direction from the output signal of the proximity sensor 14 when the hand 10a is moved in the vertical direction, and turns the hand 10a left and right. The turning direction reference position is obtained from the output signal of the proximity sensor 14 of the
It has a function of obtaining a reference position in the front-rear direction from an output signal of the proximity sensor 14 when a is moved in the front-rear direction.

【0042】ロボット制御装置21は、搬送用ロボット
10の動作を制御するもので、搬送用ロボット10の動
作を教示するためのティーチングボックス21a、及び
外部コンピュータ20が接続されている。
The robot controller 21 controls the operation of the transfer robot 10, and is connected to a teaching box 21a for teaching the operation of the transfer robot 10 and an external computer 20.

【0043】次に上記の如く構成された装置に対する教
示について図5〜図7に示す自動教示フローチャートに
従って説明する。搬送用ロボット10のハンド10aに
は、図3に示す近接センサ14の取り付けられたモデル
搬送物15が載置される。このモデル搬送物15は、ハ
ンド10aの溝10cと同心円になるように載置され、
ハンド10aの基準位置に置かれる。
Next, the teaching of the apparatus constructed as described above will be described with reference to the automatic teaching flowcharts shown in FIGS. On the hand 10a of the transfer robot 10, a model transfer object 15 to which the proximity sensor 14 shown in FIG. 3 is attached is placed. The model transported object 15 is placed so as to be concentric with the groove 10c of the hand 10a.
It is placed at the reference position of the hand 10a.

【0044】一方、カセット11には、図4に示す透明
ガラス基盤13が収納される。なお、この透明ガラス基
盤13は、カセット11の半導体ウエハを収納すべき全
ての位置に収納される。
On the other hand, the cassette 11 houses the transparent glass substrate 13 shown in FIG. The transparent glass substrate 13 is stored in all positions of the cassette 11 where semiconductor wafers are to be stored.

【0045】又、加工装置12には、プッシャ12aを
下げた状態で透明ガラス基盤13をホルダ12bと同心
円になるように載置し、プッシャ12aを上昇させて透
明ガラス基盤13を所定の高さ位置に配置して待機とす
る。
In the processing device 12, the transparent glass substrate 13 is placed so as to be concentric with the holder 12b with the pusher 12a lowered, and the pusher 12a is raised to raise the transparent glass substrate 13 to a predetermined height. Place it in the position and wait.

【0046】自動教示に先立って、ティーチングボック
ス21aを操作し、手動により搬送用ロボット10を動
作させ、透明ガラス基盤13を載置したハンド10aを
例えばカセット11に収納されている透明ガラス基盤1
3の光不透過性の円盤13aの近接に配置する。
Prior to the automatic teaching, the teaching box 21a is operated, the transfer robot 10 is manually operated, and the hand 10a on which the transparent glass substrate 13 is placed is moved to, for example, the transparent glass substrate 1 stored in the cassette 11.
3 is disposed in the vicinity of the light-impermeable disk 13a.

【0047】そして、近接センサ14が透明ガラス基盤
13の円盤13aの近傍でON信号が出力されたところ
で搬送用ロボット10の動作を停止する。このような状
態において、外部コンピュータ20の上記自動教示フロ
ーチャートのシーケンスを起動させる。
When the proximity sensor 14 outputs an ON signal near the disk 13a of the transparent glass substrate 13, the operation of the transfer robot 10 is stopped. In such a state, the sequence of the automatic teaching flowchart of the external computer 20 is started.

【0048】先ず、外部コンピュータ20は、自動教示
シーケンスに従って位置データをロボット制御装置21
に送出し、ステップ#1〜#5において、ロボット10
と透明ガラス基盤13との相対位置のうち上下方向(Z
方向)の位置をセンシングする。
First, the external computer 20 sends position data to the robot controller 21 according to the automatic teaching sequence.
To the robot 10 in steps # 1 to # 5.
In the vertical direction (Z
Direction).

【0049】すなわち、ステップ#1において、搬送用
ロボット10のロボットアームをZ方向にΔZだけ下降
させ、このロボットアームを下降させながらステップ#
2において近接センサ14からOFF信号が出力された
かを検出する。
That is, in step # 1, the robot arm of the transfer robot 10 is lowered by ΔZ in the Z direction, and
In step 2, it is detected whether an OFF signal has been output from the proximity sensor 14.

【0050】そして、近接センサ14の検出範囲から透
明ガラス基盤13の円盤13aが外れ、近接センサ14
からOFF信号が出力されると、ロボットアームの下降
を停止する。
Then, the disk 13a of the transparent glass substrate 13 comes out of the detection range of the proximity sensor 14, and the proximity sensor 14
When the OFF signal is output from the controller, the lowering of the robot arm is stopped.

【0051】次にステップ#3に移り、上記とは逆に、
搬送用ロボット10のロボットアームをZ方向に上昇さ
せて元の位置方向に戻し、このロボットアームを上昇さ
せながらステップ#4において近接センサ14から再度
ON信号が出力されたかを検出する。
Next, the process proceeds to step # 3.
The robot arm of the transfer robot 10 is raised in the Z direction and returned to the original position, and while the robot arm is being raised, it is detected in step # 4 whether the ON signal has been output again from the proximity sensor 14.

【0052】そして、近接センサ14の検出範囲内に透
明ガラス基盤13の円盤13aが入り、近接センサ14
からON信号が出力されると、ロボットアームの上昇を
停止する。
Then, the disk 13a of the transparent glass substrate 13 enters the detection range of the proximity sensor 14, and the proximity sensor 14
When the ON signal is output from, the ascent of the robot arm is stopped.

【0053】次にステップ#5に移り、ロボットアーム
の上昇を停止したところの現在位置、すなわちハンド1
0aの上下方向の現在位置をZ1 として記憶し、この現
在位置Z1 に対して予め求めておいた補正値を加算し、
その値をロボットに対する上下方向基準位置ZO として
記憶する。
Next, the process proceeds to step # 5, where the current position where the raising of the robot arm is stopped, that is, the hand 1
Stores the current position in the vertical direction 0a as Z 1, adds the correction value obtained in advance with respect to the current position Z 1,
And stores the value as a vertical reference position Z O relative to the robot.

【0054】次に外部コンピュータ20は、自動教示シ
ーケンスに従って位置データをロボット制御装置21に
送出し、ステップ#6〜#18において、ロボット10
と透明ガラス基盤13との相対位置のうち旋回方向(θ
方向)の位置をセンシングする。
Next, the external computer 20 sends the position data to the robot controller 21 according to the automatic teaching sequence, and in steps # 6 to # 18,
Of the turning position (θ
Direction).

【0055】すなわち、ステップ#6において、搬送用
ロボット10のロボットアームを図8に示すように右旋
回(右へΔθ回転)させ、このロボットアームを右旋回
させながらステップ#7において近接センサ14からO
FF信号が出力されたかを検出する。
That is, in step # 6, the robot arm of the transfer robot 10 is turned right (rotated by Δθ to the right) as shown in FIG. 8, and while the robot arm is turned right, the proximity sensor is turned in step # 7. 14 to O
It is detected whether the FF signal has been output.

【0056】そして、近接センサ14の検出範囲から透
明ガラス基盤13の円盤13aが外れ、近接センサ14
からOFF信号が出力されると、ロボットアームの右旋
回を停止する。
Then, the disk 13a of the transparent glass substrate 13 comes off the detection range of the proximity sensor 14, and the proximity sensor 14
When the OFF signal is output from the controller, the robot arm stops turning right.

【0057】次にステップ#8に移り、搬送用ロボット
10のロボットアームを左旋回(左へ回転)させて元の
位置方向へ戻し、このロボットアームを左旋回させなが
らステップ#9において近接センサ14からON信号が
出力されたかを検出する。
Next, the process proceeds to step # 8, in which the robot arm of the transfer robot 10 is turned left (turned to the left) to return to the original position, and while the robot arm is turned left, the proximity sensor 14 is turned in step # 9. To detect whether or not an ON signal has been output.

【0058】そして、近接センサ14の検出範囲内に透
明ガラス基盤13の円盤13aが入り、近接センサ14
からON信号が出力されると、ロボットアームの左旋回
を停止する。
The disk 13a of the transparent glass substrate 13 enters the detection range of the proximity sensor 14, and the proximity sensor 14
When the ON signal is output from, the left turning of the robot arm is stopped.

【0059】次にステップ#10に移り、ロボットアー
ムを左旋回させて戻し、停止したところをロボット旋回
方向の第1の現在位置θ1 として記憶する。続いて、ス
テップ#11において、搬送用ロボット10のロボット
アームを図8に示すように左旋回(左へΔθ回転)さ
せ、このロボットアームを左旋回させながらステップ#
12において近接センサ14からOFF信号が出力され
たかを検出する。
[0059] Turning now to step # 10, back to the robot arm is turning left, stores was stopped as the current position theta 1 of the first robot turning direction. Subsequently, in step # 11, the robot arm of the transfer robot 10 is turned to the left (Δθ rotation to the left) as shown in FIG.
At 12, it is detected whether an OFF signal has been output from the proximity sensor 14.

【0060】そして、近接センサ14の検出範囲から透
明ガラス基盤13の円盤13aが外れ、近接センサ14
からOFF信号が出力されると、ロボットアームの左旋
回を停止する。
Then, the disk 13a of the transparent glass substrate 13 comes out of the detection range of the proximity sensor 14, and the proximity sensor 14
, The robot arm stops turning left.

【0061】次にステップ#13に移り、搬送用ロボッ
ト10のロボットアームを右旋回(右へ回転)させて元
の位置方向へ戻し、このロボットアームを右旋回させな
がらステップ#14において近接センサ14からON信
号が出力されたかを検出する。
Next, the process proceeds to step # 13, in which the robot arm of the transfer robot 10 is turned right (rotated to the right) to return to the original position. It is detected whether an ON signal has been output from the sensor 14.

【0062】そして、近接センサ14の検出範囲内に透
明ガラス基盤13の円盤13aが入り、近接センサ14
からON信号が出力されると、ロボットアームの右旋回
を停止する。
Then, the disk 13a of the transparent glass substrate 13 enters the detection range of the proximity sensor 14, and the proximity sensor 14
When the ON signal is output from, the robot arm stops turning right.

【0063】次にステップ#15において、ロボットア
ームを右旋回させて戻し、停止したところをロボット旋
回方向の第2の現在位置θ2 として記憶する。次に外部
コンピュータ20は、ステップ#16において、ロボッ
ト10を左旋回、右旋回させたときの第1及び第2の現
在位置θ1 、θ2 を読み出し、これら位置θ1 、θ2
中間位置θO 、 θO =(θ1 +θ2 )/2 …(1) を計算し求める。
[0063] Next, in step # 15, back to the right pivoting the robot arm, for storing was stopped as the current position theta 2 of the second robot turning direction. Next, in step # 16, the external computer 20 reads the first and second current positions θ 1 and θ 2 when the robot 10 turns left and right, and reads the intermediate position between these positions θ 1 and θ 2 . Positions θ O , θ O = (θ 1 + θ 2 ) / 2 (1)

【0064】このようにして求めた中間位置θO は、図
8に示すようにロボット10の旋回中心10bと透明ガ
ラス基盤13の中心13cとを結ぶラインL上に位置す
る。外部コンピュータ20は、ステップ#17において
計算により求めた中間位置θO を旋回方向基準位置とし
て記憶し、次のステップ#18においてロボット10を
旋回方向基準位置θO まで旋回する。
The intermediate position θ O thus obtained is located on the line L connecting the turning center 10b of the robot 10 and the center 13c of the transparent glass substrate 13, as shown in FIG. The external computer 20 stores the intermediate position θ O obtained by calculation in step # 17 as the turning direction reference position, and turns the robot 10 to the turning direction reference position θ O in the next step # 18.

【0065】次に外部コンピュータ20は、自動教示シ
ーケンスに従って位置データをロボット制御装置21に
送出し、ステップ#19〜#31において、ロボット1
0と透明ガラス基盤13との相対位置のうち前後方向
(R方向)の位置をセンシングする。
Next, the external computer 20 sends the position data to the robot controller 21 in accordance with the automatic teaching sequence, and in steps # 19 to # 31,
The position in the front-rear direction (R direction) of the relative position between 0 and the transparent glass substrate 13 is sensed.

【0066】すなわち、ステップ#19において、搬送
用ロボット10のロボットアームを図9に示すようにR
方向に前進させ、このロボットアームを前進させながら
ステップ#20において近接センサ14からOFF信号
が出力したかを検出する。
That is, in step # 19, the robot arm of the transfer robot 10 is moved to the R position as shown in FIG.
In step # 20, it is detected whether the OFF signal has been output from the proximity sensor 14 while the robot arm is moving forward.

【0067】そして、近接センサ14の検出範囲から透
明ガラス基盤13の円盤13aが外れ、近接センサ14
からOFF信号が出力されると、ロボットアームの前進
を停止する。
Then, the disk 13a of the transparent glass substrate 13 comes out of the detection range of the proximity sensor 14, and the proximity sensor 14
When the OFF signal is output from, the advance of the robot arm is stopped.

【0068】次にステップ#21に移り、今度は逆に搬
送用ロボット10のロボットアームを後退させて元の位
置方向へ戻し、このロボットアームを後退させながらス
テップ#22において近接センサ14からON信号が出
力されたかを検出する。
Next, the operation proceeds to step # 21, and then the robot arm of the transfer robot 10 is retracted and returned to the original position, and the ON signal is outputted from the proximity sensor 14 in step # 22 while the robot arm is retracted. Is output.

【0069】そして、近接センサ14の検出範囲内に透
明ガラス基盤13の円盤13aが入り、近接センサ14
からON信号が出力されると、ロボットアームの後退を
停止する。
The disk 13a of the transparent glass substrate 13 enters the detection range of the proximity sensor 14, and the proximity sensor 14
When the ON signal is output from the controller, the robot arm stops retreating.

【0070】次にステップ#23に移り、ロボットアー
ムを後退させて戻し、停止したところをロボット前後方
向の第1の現在位置R1 として記憶する。続いて、ステ
ップ#24において、搬送用ロボット10のロボットア
ームを後退させ、このロボットアームを後退させながら
ステップ#25において近接センサ14からOFF信号
が出力されたかを検出する。
[0070] Turning now to step # 23, back to retract the robot arm, for storing was stopped as the current position R 1 of the first robot longitudinal direction. Subsequently, in step # 24, the robot arm of the transfer robot 10 is retracted, and it is detected whether the OFF signal is output from the proximity sensor 14 in step # 25 while retracting the robot arm.

【0071】そして、近接センサ14の検出範囲から透
明ガラス基盤13の円盤13aが外れ、近接センサ14
からOFF信号が出力されると、ロボットアームの後退
を停止する。
Then, the disk 13a of the transparent glass substrate 13 comes out of the detection range of the proximity sensor 14, and the proximity sensor 14
Outputs an OFF signal from the controller, the robot arm stops retreating.

【0072】次にステップ#26に移り、搬送用ロボッ
ト10のロボットアームを前進させて元の位置方向へ戻
し、このロボットアームを前進させながらステップ#2
7において近接センサ14からON信号が出力されたか
を検出する。
Next, the operation proceeds to step # 26, in which the robot arm of the transfer robot 10 is moved forward to return to the original position, and the robot arm is moved forward in step # 2.
At 7, it is detected whether an ON signal has been output from the proximity sensor 14.

【0073】そして、近接センサ14の検出範囲内に透
明ガラス基盤13の円盤13aが入り、近接センサ14
からON信号が出力されると、ロボットアームの前進を
停止する。
Then, the disk 13a of the transparent glass substrate 13 enters the detection range of the proximity sensor 14, and the proximity sensor 14
When the ON signal is output from, the advance of the robot arm is stopped.

【0074】次にステップ#28において、ロボットア
ームを前進させて戻し、停止したところをロボット旋回
方向の第2の現在位置R2 として記憶する。次に外部コ
ンピュータ20は、ステップ#29において、ロボット
10を前進・後退させたときの第1及び第2の現在位置
1 、R2 を読み出し、これら位置R1 、R2 の中間位
置RO 、 RO =(R1 +R2 )/2 …(2) を計算し求める。
[0074] Next, in step # 28, back to advance the robot arm, for storing was stopped as a second current position R 2 of the robot turning direction. Next, in step # 29, the external computer 20 reads the first and second current positions R 1 and R 2 when the robot 10 is moved forward and backward, and reads the intermediate position R O between these positions R 1 and R 2. , R O = (R 1 + R 2 ) / 2 (2).

【0075】このようにして求めた中間位置RO は、図
9に示すように透明ガラス基盤13の中心13c上に位
置する。外部コンピュータ20は、ステップ#30にお
いて、計算により求めた中間位置RO を前後方向基準位
置として記憶する。
The intermediate position R O thus obtained is located on the center 13c of the transparent glass substrate 13 as shown in FIG. In step # 30, the external computer 20 stores the calculated intermediate position R O as the longitudinal reference position.

【0076】以上の自動教示シーケンスの実行により、
ロボット10のカセット11に対する上下方向基準位置
O 、旋回方向基準位置θO 、前後方向基準位置RO
求められることになり、外部コンピュータ20は、ステ
ップ#31において、基準位置(ZO 、θO 、RO )を
ロボット10の教示位置としてロボット制御装置21に
記憶させ、ロボット10のカセット11に対する自動教
示シーケンスを終了する。
By executing the above automatic teaching sequence,
The vertical reference position Z O , the turning direction reference position θ O , and the front-rear reference position R O of the robot 10 with respect to the cassette 11 are obtained, and the external computer 20 determines in step # 31 that the reference positions (Z O , θ O 2 , R O ) are stored in the robot controller 21 as the teaching position of the robot 10, and the automatic teaching sequence for the cassette 11 of the robot 10 ends.

【0077】一方、ティーチングボックス21aを操作
し、手動により搬送用ロボット10を動作させ、ハンド
10aを枚葉式CVD装置12の基準位置に載置された
透明ガラス基盤13の円盤13aの近接に配置する。
On the other hand, the teaching box 21a is operated, the transfer robot 10 is manually operated, and the hand 10a is placed near the disk 13a of the transparent glass substrate 13 placed at the reference position of the single-wafer CVD apparatus 12. I do.

【0078】以下、上記自動教示シーケンスを起動し、
上記同様のステップ#1〜#5において、枚葉式CVD
装置12に載置された透明ガラス基盤13とロボット1
0との相対位置のうち上下方向(Z方向)の位置をセン
シングし、ハンド10aの上下方向の現在位置Z10を検
出し、この現在位置Z10に対して予め求めておいた補正
値を加算し、その値を搬送用ロボット10に対する上下
方向基準位置Zf として記憶する。
Hereinafter, the above automatic teaching sequence is started, and
In steps # 1 to # 5 similar to the above, single wafer CVD
The transparent glass substrate 13 and the robot 1 placed on the device 12
Sensing the position of 0 and in the vertical direction of the relative position (Z direction), and detects the current position Z 10 in the vertical direction of the hand 10a, adds the correction value obtained in advance with respect to the current position Z 10 and stores the value as a vertical reference position Z f with respect to the transport robot 10.

【0079】次に外部コンピュータ20は、自動教示シ
ーケンスに従って位置データをロボット制御装置21に
送出し、上記同様にステップ#6〜#18において、ロ
ボット10と透明ガラス基盤13との相対位置のうち旋
回方向(θ方向)の位置をセンシングし、旋回方向基準
位置θg を記憶する。
Next, the external computer 20 sends the position data to the robot controller 21 in accordance with the automatic teaching sequence, and in steps # 6 to # 18, the turning of the relative position between the robot 10 and the transparent glass substrate 13 is performed. sensing the position of the direction (theta direction), and stores the turning direction reference position theta g.

【0080】次に外部コンピュータ20は、自動教示シ
ーケンスに従って位置データをロボット制御装置21に
送出し、上記同様にステップ#19〜#31において、
ロボット10と透明ガラス基盤13との相対位置のうち
前後方向(R方向)の位置をセンシングし、旋回方向基
準位置Rh を記憶する。
Next, the external computer 20 sends the position data to the robot controller 21 in accordance with the automatic teaching sequence, and in steps # 19 to # 31, as described above.
Among the relative positions of the robot 10 and the transparent glass substrate 13, the position in the front-rear direction (R direction) is sensed, and the turning direction reference position Rh is stored.

【0081】以上の自動教示シーケンスの実行により、
ロボット10の枚葉式CVD装置12に対する上下方向
基準位置Zf 、旋回方向基準位置θg 、前後方向基準位
置Rh が求められることになり、外部コンピュータ20
は、ステップ#31において、基準位置(Zf 、θg
h )をロボット10の教示位置としてロボット制御装
置21に記憶させ、ロボット10の枚葉式CVD装置1
2に対する自動教示シーケンスを終了する。
By executing the above automatic teaching sequence,
The vertical reference position Z f , the turning direction reference position θ g , and the front-back direction reference position R h of the robot 10 with respect to the single-wafer CVD apparatus 12 are obtained.
Is the reference position (Z f , θ g ,
R h ) is stored in the robot controller 21 as the teaching position of the robot 10, and the single-wafer CVD apparatus 1 of the robot 10 is stored.
The automatic teaching sequence for No. 2 ends.

【0082】このように上記一実施の形態においては、
ハンド10aの形状が例えば切り欠き10bの形成され
たものであっても、ハンド10aの移動に追従する近接
センサ14によって、ハンド10aを透明ガラス基盤1
3に対して上下方向、旋回方向及び前後方向にそれぞれ
移動させたときの近接センサ14の各出力からハンド1
0aの透明ガラス基盤13に対する各位置を検出し、こ
れら位置に基づいて基準位置を求めるようにしたので、
搬送用ロボット10のカセット11及び加工装置12に
対する教示を、ハンド10aに切り欠き10bが形成さ
れたものであっても、教示結果にばらつきが生ぜず、自
動的にかつ高精度に教示できる。
As described above, in one embodiment,
Even if the shape of the hand 10a is formed, for example, with the notch 10b, the hand 10a is moved by the proximity sensor 14 following the movement of the hand 10a.
3 from the outputs of the proximity sensor 14 when the hand 1 is moved in the vertical direction, the turning direction, and the front-back direction with respect to
0a is detected with respect to the transparent glass substrate 13, and the reference position is obtained based on these positions.
Even when the notch 10b is formed in the hand 10a, the teaching of the transfer robot 10 to the cassette 11 and the processing device 12 can be automatically and accurately performed without variation in the teaching result.

【0083】従って、半導体製造装置、特に真空装置に
適用する半導体ウエハ搬送用ロボットにおいては、搬送
用ロボット10と角度或いは位置合わせ装置や加工装置
12との間での半導体ウエハ2の受け渡しを行うために
切り欠き10bの形成されたハンド10aが適用される
ので、このような搬送用ロボット10、カセット11の
取付け台、角度或いは位置合わせ装置、加工装置12を
新設、補修、配置替え等のために一旦組み付け状態から
外して、この後に再教示するに際し、ハンド10aの形
状に拘らず、自動的に教示ができ、教示作業が極めて簡
単になるだけでなく、高精度であり、しかも作業者によ
るばらつきが生ぜず、何等熟練を要しないで教示ができ
る。
Therefore, in a semiconductor wafer transfer robot applied to a semiconductor manufacturing apparatus, particularly a vacuum apparatus, the transfer of the semiconductor wafer 2 between the transfer robot 10 and the angle or positioning device or the processing device 12 is performed. Since the hand 10a having the notch 10b formed therein is applied, the transfer robot 10, the mounting table for the cassette 11, the angle or positioning device, and the processing device 12 are newly installed, repaired, rearranged, and the like. When the hand 10a is once removed from the assembled state and then re-taught, regardless of the shape of the hand 10a, the teaching can be automatically performed. Can be taught without any skill.

【0084】なお、本発明は、上記一実施の形態に限定
されるものでなく次の通り変形してもよい。例えば、基
準位置の検出順序は、上下方向、旋回方向、前後方向の
順序としたが、これらは逆の順序としてもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment, but may be modified as follows. For example, the reference position is detected in the order of the vertical direction, the turning direction, and the front-back direction, but these may be reversed.

【0085】又、近接センサ14は、透明ガラス基盤1
3の円盤13aに近接したときにON信号を出力するよ
うにしたが、外部コンピュータ20での処理を変更して
円盤13aに近接したときにOFF信号を出力し、その
周囲のリング部13bに近接したときにON信号を出力
するようにしてもよい。
The proximity sensor 14 is provided on the transparent glass substrate 1.
The third embodiment outputs an ON signal when approaching the disk 13a. However, the processing in the external computer 20 is changed to output an OFF signal when approaching the disk 13a. An ON signal may be output when the signal is turned on.

【0086】さらに、近接センサ14は、モデル搬送物
15に取付けられているが、このモデル搬送物15を用
いずにハンド10aと近接センサ14とを一体化した教
示用のハンドを作製してもよく、又、ハンド10aの基
準位置に取付けられる構成であればよい。
Further, although the proximity sensor 14 is attached to the model transported object 15, a teaching hand in which the hand 10a and the proximity sensor 14 are integrated without using the model transported object 15 may be manufactured. Any configuration may be used as long as it can be attached to the reference position of the hand 10a.

【0087】[0087]

【発明の効果】以上詳記したように本発明の請求項1に
よれば、ハンド形状に拘らず極めて簡単な作業で教示が
でき、しかも高精度で作業者によるばらつきを生ぜず熟
練を要しないで教示ができるロボットの教示方法を提供
できる。
As described in detail above, according to the first aspect of the present invention, teaching can be performed with extremely simple work regardless of the shape of the hand, and it is highly accurate, does not cause variations among operators, and does not require skill. Can provide a teaching method of a robot that can be taught by a robot.

【0088】又、本発明の請求項2〜5によれば、ハン
ド形状に拘らず極めて簡単な作業で教示ができ、しかも
高精度で作業者によるばらつきを生ぜず熟練を要しない
で教示ができるロボットの教示装置を提供できる。
Further, according to the second to fifth aspects of the present invention, teaching can be performed by extremely simple work regardless of the shape of the hand, and teaching can be performed with high accuracy without variation by an operator and without skill. A teaching device for a robot can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係わるロボットの教示方法を適用した
半導体ウエハの搬送装置の第1の実施の形態を示す構成
図。
FIG. 1 is a configuration diagram showing a first embodiment of a semiconductor wafer transfer apparatus to which a robot teaching method according to the present invention is applied.

【図2】同装置に用いられるハンドの構成図。FIG. 2 is a configuration diagram of a hand used in the apparatus.

【図3】同装置に用いられるモデル搬送物の構成図。FIG. 3 is a configuration diagram of a model transport object used in the apparatus.

【図4】同装置に用いられる透明ガラス基盤の構成図。FIG. 4 is a configuration diagram of a transparent glass substrate used in the apparatus.

【図5】同装置の上下方向基準位置の教示部分を示す自
動教示フローチャート。
FIG. 5 is an automatic teaching flowchart showing a teaching portion of a vertical reference position of the apparatus.

【図6】同装置の旋回方向基準位置の教示部分を示す自
動教示フローチャート。
FIG. 6 is an automatic teaching flowchart showing a teaching portion of a turning direction reference position of the apparatus.

【図7】同装置の前後方向基準位置の教示部分を示す自
動教示フローチャート。
FIG. 7 is an automatic teaching flowchart showing a teaching portion of a reference position in the front-rear direction of the apparatus.

【図8】ロボットアームの旋回方向基準位置を求める作
用を示す図。
FIG. 8 is a diagram showing an operation for obtaining a turning direction reference position of the robot arm.

【図9】ロボットアームの前後方向基準位置を求める作
用を示す図。
FIG. 9 is a diagram illustrating an operation of obtaining a reference position in the front-rear direction of the robot arm.

【図10】従来の位置決め教示方法を適用した半導体ウ
エハの搬送装置の構成図。
FIG. 10 is a configuration diagram of a semiconductor wafer transfer device to which a conventional positioning teaching method is applied.

【図11】従来の他の位置決め教示方法を適用した半導
体ウエハの搬送装置の構成図。
FIG. 11 is a configuration diagram of a semiconductor wafer transfer device to which another conventional positioning teaching method is applied.

【図12】カセットの構成図。FIG. 12 is a configuration diagram of a cassette.

【図13】切り欠きの形成されたハンドの外観図。FIG. 13 is an external view of a hand in which a notch is formed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…搬送用ロボット、 10a…ハンド、 11…カセット、 12…枚葉式CVD装置等の加工装置、 13…透明ガラス基盤、 14…近接センサ、 15…モデル搬送物、 20…外部コンピュータ、 21…ロボット制御装置。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Transfer robot, 10a ... Hand, 11 ... Cassette, 12 ... Processing equipment, such as a single wafer CVD device, 13 ... Transparent glass substrate, 14 ... Proximity sensor, 15 ... Model conveyed object, 20 ... External computer, 21 ... Robot controller.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ロボットを動作して少なくとも2つの装
置間で搬送物を搬出・搬入するに際し、前記ロボットに
対して前記各装置の基準位置を教示するロボットの教示
方法において、 内周部とその周囲に形成された外周部とから形成される
基盤を前記各装置に配置するとともに、前記ロボットの
ハンドの移動に追従して移動し、前記基盤及びこの基盤
の中央部と周辺部とを検出するセンサを備え、 前記ハンドを前記基盤に対して接離する方向にそれぞれ
移動させ、これらの方向への移動に基づく前記センサの
各出力から前記ハンドの各位置を検知し、これらハンド
の各位置に基づいて前記ロボットに対する教示を行うこ
とを特徴とするロボットの教示方法。
1. A method of teaching a reference position of each device to a robot when operating a robot to carry and unload a conveyed product between at least two devices, wherein the inner peripheral portion and the inner peripheral portion thereof are provided. A base formed from an outer peripheral part formed around the base is arranged in each of the devices, and the base moves along with the movement of the hand of the robot to detect the base and a central part and a peripheral part of the base. A sensor is provided, each of which moves the hand in a direction of coming and going with respect to the base, detecting each position of the hand from each output of the sensor based on the movement in these directions, and A teaching method for a robot, wherein teaching to the robot is performed based on the teaching.
【請求項2】 ロボットを動作して少なくとも2つの装
置間で搬送物を搬出・搬入するに際し、前記ロボットに
対して前記各装置の基準位置を教示するロボットの教示
装置において、 前記各装置に配置され、内周部とその周囲に形成された
外周部とから形成される基盤と、 前記ハンドの移動に追従して移動し、前記基盤及びこの
基盤の中央部と周辺部とを検出するセンサと、 前記ハンドを前記基盤に対して接離する方向にそれぞれ
移動させる第1の手段と、 この第1の手段により前記ハンドを前記基盤に対して接
離する方向への移動に基づく前記センサの各出力から前
記ハンドの各位置を検知し、これらハンドの各位置に基
づいて前記ロボットに対する教示を行う第2の手段と、
を具備したことを特徴とするロボットの教示装置。
2. A teaching device of a robot for teaching a reference position of each device to the robot when operating a robot to carry and unload a conveyed product between at least two devices, wherein the teaching device is arranged in each device. A base formed from an inner peripheral part and an outer peripheral part formed around the base, and a sensor that moves following the movement of the hand and detects the base and the central part and the peripheral part of the base. A first means for moving the hand in a direction of moving toward and away from the base; and a first means for moving the hand in a direction of moving the hand toward and away from the base by the first means. Second means for detecting each position of the hand from the output and teaching the robot based on each position of the hand;
A teaching device for a robot, comprising:
【請求項3】 前記ハンドは、ハンド先端部から中央部
にかけて前記基盤逃げ用の切り欠きが形成されたことを
特徴とする請求項2記載のロボットの教示装置。
3. The robot teaching device according to claim 2, wherein the hand has the notch for escape of the base formed from a tip portion of the hand to a center portion.
【請求項4】 前記搬送物と同形状のモデル搬送物上に
前記センサを設け、このモデル搬送物を前記ハンドに載
置してこのハンドを前記基盤に対して接離する方向にそ
れぞれ移動させることを特徴とする請求項2記載のロボ
ットの教示装置。
4. The sensor is provided on a model conveyed object having the same shape as the conveyed object, the model conveyed object is placed on the hand, and the hand is moved toward and away from the base. The robot teaching device according to claim 2, wherein:
【請求項5】 前記基盤は、光透過性の異なる部材で形
成される内周部とその周囲に形成された外周部とを有す
ることを特徴とする請求項2記載のロボットの教示装
置。
5. The robot teaching device according to claim 2, wherein the base has an inner peripheral portion formed of members having different light transmittances and an outer peripheral portion formed therearound.
JP15968896A 1996-06-20 1996-06-20 Instructing method and its device for robot Pending JPH106262A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15968896A JPH106262A (en) 1996-06-20 1996-06-20 Instructing method and its device for robot

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15968896A JPH106262A (en) 1996-06-20 1996-06-20 Instructing method and its device for robot

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH106262A true JPH106262A (en) 1998-01-13

Family

ID=15699156

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15968896A Pending JPH106262A (en) 1996-06-20 1996-06-20 Instructing method and its device for robot

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH106262A (en)

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000024551A1 (en) * 1998-10-27 2000-05-04 Tokyo Electron Limited Carrier system positioning method
WO2001083171A1 (en) 2000-05-03 2001-11-08 Berkeley Process Control, Inc. Self teaching robotic wafer handling system
JP2002367888A (en) * 2001-06-06 2002-12-20 Nikon Corp Aligner, substrate housing apparatus, and device production system
WO2003054932A1 (en) * 2001-12-19 2003-07-03 Applied Materials,Inc. Automatic calibration method for substrate carrier handling robot and jig for performing the method
KR100486706B1 (en) * 1998-02-04 2005-09-07 삼성전자주식회사 Self-Adjusting Blade Transfer Device of Semiconductor Equipment
JP2006522476A (en) * 2003-03-11 2006-09-28 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド Vision system and method for calibrating a wafer carrying robot
US7319920B2 (en) 2003-11-10 2008-01-15 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for self-calibration of a substrate handling robot
JP2013110444A (en) * 2013-03-13 2013-06-06 Tokyo Electron Ltd Position adjustment method for substrate transfer device
CN103552083A (en) * 2013-10-30 2014-02-05 上海华力微电子有限公司 Method for adjusting position of mechanical arm
US8755935B2 (en) 2011-03-02 2014-06-17 Tokyo Electron Limited Substrate holder positioning method and substrate processing system
JP2014239251A (en) * 1999-04-19 2014-12-18 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated Method and apparatus for aligning cassette
JP2015212501A (en) * 2014-05-07 2015-11-26 システム計測株式会社 Excavation bucket
JP2019123073A (en) * 2018-01-15 2019-07-25 キヤノン株式会社 Robot system, control method of robot arm, program, recording medium, and manufacturing method of article
JP2019214107A (en) * 2018-06-14 2019-12-19 日本電産サンキョー株式会社 Teaching data creating system and teaching data creating method

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100486706B1 (en) * 1998-02-04 2005-09-07 삼성전자주식회사 Self-Adjusting Blade Transfer Device of Semiconductor Equipment
US6510365B1 (en) 1998-10-27 2003-01-21 Tokyo Electron Limited Carrier system positioning method
WO2000024551A1 (en) * 1998-10-27 2000-05-04 Tokyo Electron Limited Carrier system positioning method
JP2014239251A (en) * 1999-04-19 2014-12-18 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated Method and apparatus for aligning cassette
WO2001083171A1 (en) 2000-05-03 2001-11-08 Berkeley Process Control, Inc. Self teaching robotic wafer handling system
EP1282486A1 (en) * 2000-05-03 2003-02-12 Berkeley Process Control, Inc. Self teaching robotic wafer handling system
EP1282486A4 (en) * 2000-05-03 2007-06-06 Berkeley Process Control Inc Self teaching robotic wafer handling system
JP4724954B2 (en) * 2001-06-06 2011-07-13 株式会社ニコン Exposure apparatus, device manufacturing system
JP2002367888A (en) * 2001-06-06 2002-12-20 Nikon Corp Aligner, substrate housing apparatus, and device production system
WO2003054932A1 (en) * 2001-12-19 2003-07-03 Applied Materials,Inc. Automatic calibration method for substrate carrier handling robot and jig for performing the method
KR101163237B1 (en) * 2003-03-11 2012-07-06 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Vision system and method for calibrating a wafer carrying robot
KR101227934B1 (en) * 2003-03-11 2013-01-31 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Vision system and method for calibrating a wafer carrying robot
JP2006522476A (en) * 2003-03-11 2006-09-28 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド Vision system and method for calibrating a wafer carrying robot
US7319920B2 (en) 2003-11-10 2008-01-15 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for self-calibration of a substrate handling robot
US8755935B2 (en) 2011-03-02 2014-06-17 Tokyo Electron Limited Substrate holder positioning method and substrate processing system
US9299599B2 (en) 2011-03-02 2016-03-29 Tokyo Electron Limited Thermal processing apparatus for thermal processing substrate and positioning method of positioning substrate transfer position
JP2013110444A (en) * 2013-03-13 2013-06-06 Tokyo Electron Ltd Position adjustment method for substrate transfer device
CN103552083A (en) * 2013-10-30 2014-02-05 上海华力微电子有限公司 Method for adjusting position of mechanical arm
JP2015212501A (en) * 2014-05-07 2015-11-26 システム計測株式会社 Excavation bucket
JP2019123073A (en) * 2018-01-15 2019-07-25 キヤノン株式会社 Robot system, control method of robot arm, program, recording medium, and manufacturing method of article
JP2019214107A (en) * 2018-06-14 2019-12-19 日本電産サンキョー株式会社 Teaching data creating system and teaching data creating method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1137052B1 (en) Automatic calibration system for wafer transfer robot
CN107530877B (en) Robot teaching method and robot
JP4163950B2 (en) Self teaching robot
KR100649388B1 (en) Substrate transport apparatus
EP0931623B1 (en) Automatic workpiece transport apparatus for double-side polishing machine
JPH106262A (en) Instructing method and its device for robot
JP4296914B2 (en) Position teaching device and transport system including the same
KR100832925B1 (en) Method for detecting transfer shift of transfer mechanism and semiconductor processing equipment
US7353076B2 (en) Vacuum processing method and vacuum processing apparatus
WO2017150551A1 (en) Substrate conveyance device, and method for teaching substrate conveyance robot
JPH08335622A (en) Substrate conveyer
JP2009012948A (en) Conveyance system, conveyance method, and conveyance vehicle
JPWO2016129102A1 (en) Substrate transfer robot and operation method thereof
JP2018121007A (en) Substrate transport device, detection position calibration method and substrate processing apparatus
US7596425B2 (en) Substrate detecting apparatus and method, substrate transporting apparatus and method, and substrate processing apparatus and method
JP2012038922A (en) Substrate transferring apparatus, substrate transferring method, and record medium for recording program for executing substrate transferring method of the same
CN115552583A (en) Wafer conveying device and wafer conveying method
JP2011108958A (en) Semiconductor wafer carrying device and carrying method using the same
JP3938247B2 (en) Substrate processing equipment
JPH09252039A (en) Teaching position setting method and device of transfer device
WO2022137917A1 (en) Control device for substrate conveyance robot and method for controlling joint motor
KR20220133107A (en) Substrate processing apparatus, teaching information generation method, teaching set and substrate jig
JPH0714908A (en) Substrate transfer device
JPH11150172A (en) Transfer equipment
WO2022259948A1 (en) Conveyance system and assessment method