JPH1062300A - 光学系のフレア光検出装置 - Google Patents
光学系のフレア光検出装置Info
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- JPH1062300A JPH1062300A JP24144396A JP24144396A JPH1062300A JP H1062300 A JPH1062300 A JP H1062300A JP 24144396 A JP24144396 A JP 24144396A JP 24144396 A JP24144396 A JP 24144396A JP H1062300 A JPH1062300 A JP H1062300A
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Abstract
り、特に、レンズ面の多重反射、鏡筒等の反射により生
じるフレア光を検出するための光学系のフレア光検出装
置を提供することを目的とする。 [構成] 本発明は、光源部がショートコヒーレントな
光を出射し、光束分離手段が、光源部からの光束を基準
光と参照光との2光束に分離し、参照光の光路内に配置
された光路長変換手段が、参照光路の光路長を変化さ
せ、基準光と参照光を被測定光学系に向けて投影し、受
光手段は、被測定光学系を通過した基準光と参照光とを
受光する様になっており、光路長変換手段による光路長
の変換により生じた干渉縞に対応する受光手段からの受
光信号に基づき、被測定光学系により生じたフレア光を
検出することができる。
Description
出装置に係わり、特に、レンズ面の多重反射、鏡筒等の
反射により生じるフレア光を検出するための光学系のフ
レア光検出装置に関するものである。
反射によりフレア(FLARE)光の発生を避けること
ができない。このフレア(FLARE)は、ベイリング
・グレア(VEILING GRARE)とも呼ばれ、
レンズ系を構成する各レンズのレンズ面での多重反射等
の反射散乱により生じるものであり、結像のための本来
の光束に重畳して結像面に到達し、光学系の結像性能に
悪影響を及ぼすものである。
光の生じる原因を発見し、最適な光学系の設計を実現す
るために、フレア光を検出するためのフレア検出装置の
出現が強く望まれている。例えば、内面が一様な球面光
源となる積分球を用いたフレア検出装置が存在してい
る。
のフレア検出装置は、フレア光が、本来の結像のための
光束に対して非常に微弱であるため、検出が極めて困難
である上、単にフレア率等を測定するのみであり、検出
されたフレア光が、レンズ系のどのレンズ面で発生して
いるかを特定することができないという深刻な問題点が
あった。
出すると共に、フレア光の発生するレンズ面を容易に特
定することのできる光学系のフレア光検出装置を提供す
ることを目的とする。
案出されたもので、ショートコヒーレントな光を出射す
るための光源部と、この光源部からの光束を基準光と参
照光との2光束に分離するための光束分離手段と、この
参照光の光路内に配置され、参照光路の光路長を変化さ
せるための光路長変換手段と、前記基準光と前記参照光
を被測定光学系に向けて投影し、該被測定光学系を通過
した前記基準光と前記参照光とを受光するための受光手
段と、前記光路長変換手段による光路長の変換により生
じた干渉縞に対応する該受光手段からの受光信号に基づ
き、被測定光学系により生じたフレア光を検出すること
を特徴としている。
を出射するための光源部と、この光源部からの光束を被
測定光学系に向けて投影し、被測定光学系を通過した基
準光と参照光との2光束に分離するための光束分離手段
と、この参照光の光路内に配置され、参照光路の光路長
を変化させるための光路長変換手段と、前記基準光と前
記参照光とを受光するための受光手段と、前記光路長変
換手段による光路長の変換により生じた干渉縞に対応す
る該受光手段からの受光信号に基づき、被測定光学系に
より生じたフレア光を検出することを特徴としている。
結像光の参照光と、レンズ面反射によるフレア光の基準
光との干渉により形成することもできる。
の光軸に沿って移動可能に構成された反射鏡とすること
もできる。
光源部がショートコヒーレントな光を出射し、光束分離
手段が、光源部からの光束を基準光と参照光との2光束
に分離し、参照光の光路内に配置された光路長変換手段
が、参照光路の光路長を変化させ、基準光と参照光を被
測定光学系に向けて投影し、受光手段は、被測定光学系
を通過した基準光と参照光とを受光する様になってお
り、光路長変換手段による光路長の変換により生じた干
渉縞に対応する受光手段からの受光信号に基づき、被測
定光学系により生じたフレア光を検出することができ
る。
ントな光を出射し、光束分離手段が、光源部からの光束
を被測定光学系に向けて投影し、被測定光学系を通過し
た基準光と参照光との2光束に分離し、参照光の光路内
に配置された光路長変換手段が、参照光路の光路長を変
化させ、受光手段が基準光と参照光とを受光する様にな
っており、光路長変換手段による光路長の変換により生
じた干渉縞に対応する受光手段からの受光信号に基づ
き、被測定光学系により生じたフレア光を検出すること
ができる。
結像光の参照光と、レンズ面反射によるフレア光の基準
光との干渉により形成することもできる。
の光軸に沿って移動可能な反射鏡とすることもできる。
渉測定ユニット1000は、光源部900と、第1の投
影レンズ910と、ハーフミラー920と、第1の反射
鏡930と、第2の反射鏡940と、第2の投影レンズ
950とから構成されている。
投影レンズ950と、像面3000の間には、被測定光
学系2000のレンズ群が配置される。
光を出射させるためのものであり、出射された光は第1
の投影レンズ910により集光され、ハーフミラー92
0に入射される。光源部900には、コヒーレンス長が
短かく(例えば、20nm以下)、波長としては、例え
ば840nmの光源が利用される。なお光源900に
は、スーパールミネセンス・ダイオード(SLD)を使
用することもできる。
するものであり、光源900からの光束を基準光と参照
光との2光束に分離させることができる。即ち、光源部
900から入射されたショートコヒーレント光の一部
は、ハーフミラー920で反射され、第1の反射鏡93
0に向かう様になっており、第1の反射鏡930で反射
された光は、ハーフミラー920を透過した後、第2の
投影レンズ950を介して被測定光学系2000のレン
ズ群に入射される基準光K1となる。
トコヒーレント光の内、ハーフミラー920を透過した
光は、第2の反射鏡940に向かう様になっており、第
2の反射鏡940で反射された光は、ハーフミラー92
0で反射され、第2の投影レンズ950を介して被測定
光学系2000のレンズ群に入射される参照光K2とな
る。
系2000により、像面3000に像を形成するが、被
測定光学系2000ではフレア光を生じさせ、フレア光
は像面3000に達する。ここで、基準光K1で生じた
フレア光をF1とし、参照光K2により生じたフレア光
をF2とする。更に、フレア光F1及びフレア光F2に
対して、像面3000に正常な像を形成させる光を結像
光と呼ぶこととする。
の反射鏡940は、参照光路の光軸方向に移動可能に構
成されており、光路長を変化させることができる。即
ち、第2の反射鏡940が(△/2)の距離を移動する
と、光路長は△の距離変化することになる。従って、基
本となる光路長をLとすれば、第2の反射鏡940を
(△/2)だけ移動させると、光路長はL+△となる。
レンズ面の多重反射に生じるので、光路長は、結像光よ
り長くなる。このフレアにより増加する光路長を△Fと
定義する。
いて整理すると、
させると、アンダーラインに示した様に、結像光の参照
光K2の光路長と、フレア光の参照光によるF2の光路
長とが変化する。
参照光路の増加光路長△と、レンズ面の多重反射(フレ
ア)により増加する光路長△Fとが、等しくなった場合
には、像面3000には干渉縞が形成される。
の機能により、基準の位置(第2の反射鏡940が基準
位置にあり、基準光路と参照光路との光路差が0の場
合)では、結像光の基準光K1と結像光の基準光K2同
士で干渉縞が生じ、更に、基準位置では、フレア光の基
準光F1とフレア光の基準光F2同士で干渉縞が生じ
る。即ち、「$」印同士、及び「*」印同士で干渉縞が
生じることになる。
の位置から、次の干渉縞が発生するまでの第2の反射鏡
940の移動距離(△/2)を計測すれば、レンズ面の
多重反射(フレア)により増加する光路長△Fを求める
ことができる。この△Fに基づいて、フレアが生じてい
るレンズ面、或いは、フレアを生じさせるレンズ鏡筒の
箇所を特定することができる。
する。
検出装置10000は、光干渉測定ユニット1000a
と、この光干渉測定ユニット1000aにより生じた干
渉縞を検出するための干渉縞検出装置とから構成されて
いる。
100と、第1の投影レンズ110と、ハーフミラー1
20と、第1の反射鏡130と、第2の反射鏡140
と、第2の投影レンズ150とから構成されている。
200と、検波手段300と、A/D変換器400と、
演算処理手段500と、入力手段600と、出力手段7
00と、反射鏡駆動手段800とから構成されている。
の投影レンズ150と、像面に相当する位置に配置され
ている受光手段200の間には、被測定光学系2000
のレンズ群が配置される。
0aは、上述の「原理」で説明した光干渉測定ユニット
1000と同様であるので、説明を省略する。
000aの像面の位置に配置され、形成された干渉縞を
光電検知するためのものである。干渉縞を検知可能な光
電素子でれば、何れのセンサを使用することができる。
干渉信号をヘテロダイン検波するためのものである。な
お、第2の反射鏡140を高速に走査すれば、ドップラ
ー効果による干渉縞を受光することができる。この受光
した干渉信号をヘテロダイン検波することにより、バイ
アス光の10の15乗分の1という微弱光を検知するこ
とができ、微弱なフレア光を検出することができる。
検波されたアナログ信号をディジタル信号に変換し、演
算処理手段500で演算処理するためのものである。
らの干渉信号に基づき、干渉縞を検出すると共に、反射
鏡駆動手段800を駆動して第2の反射鏡140を移動
させるものである。そして演算処理手段500は、CP
Uを含み、本第1実施例のフレア光検出装置10000
全体の制御を司っている。
500に対して、各種の命令等を入力するためのもので
ある。特に、反射鏡駆動手段800を駆動して第2の反
射鏡140を移動させる命令を入力することができる。
した干渉縞をモニタするためのディスプレイ装置や、反
射鏡駆動手段800により移動された第2の反射鏡14
0の移動距離(△/2)を表示する手段を備えている。
40を直線的に移動させるためのものである。第2の反
射鏡140を移動させることのできる機構であれば、何
れのものを採用することができる。
手段800とが、光路長変換手段に該当するものであ
る。
ア光検出装置10000は、反射鏡駆動手段800によ
り第2の反射鏡140を移動させ、基準光K1と参照光
K2との光路長が一致した時には、比較的強い干渉縞が
発生する。即ち、図2に示す様に、受光手段200の出
力振幅が大きくなる。なお、この位置が基準位置とな
る。
反射鏡140を基準位置から移動させ、第2の反射鏡1
40の移動による参照光路の増加光路長△と、レンズ面
の多重反射(フレア)により増加する光路長△Fとが、
等しくなった場合には、やや弱い次の干渉縞が発生す
る。図2に示す様に、受光手段200からやや小さい振
幅の出力信号が検出される。従って、第2の反射鏡14
0の基準位置から、干渉縞発生までの移動量を計測すれ
ば、レンズ面の多重反射(フレア)により増加する光路
長△Fを求めることができる。このフレア光路差△Fが
得られれば、光線追跡によるシミュレーション等の手段
により、被測定光学系2000のレンズ群の中から、フ
レアが生じているレンズ面を特定することができる。
鏡140の移動により生じる次の干渉縞との強度の比か
ら、フレア光の強度も測定することができる。
説明する。
0は、光干渉測定ユニット1000bと、この光干渉測
定ユニット1000bにより生じた干渉縞を検出するた
めの干渉縞検出装置とから構成されている。
00と、参照ミラー160と、集光レンズ165と、分
波器170と、光ファイバー180と、ファイバー反射
端190とから構成されている。
を導くための第1のファイバー181と、被測定光学系
2000まで導くための射出光用光ファイバー182
と、参照ミラー160まで導くための参照用光ファイバ
ー183と、反射端190に導くための反射端用光ファ
イバー184とから構成されている。
からの光を参照用光ファイバー183と反射端用光ファ
イバー184とに分岐するためのものである。なお、分
波器170は、光束分離手段に該当するものである。
射され反射端用光ファイバー184により導かれた基準
光K1と、参照ミラー160から反射され参照用光ファ
イバー183に導かれた参照光K2とを、射出光用光フ
ァイバー182に導く機能も有している。
1000bは、参照ミラー160を移動させることによ
り、参照光K2の光路長を変化させることができる。参
照ミラー160の移動は、前述の第1実施例の光干渉測
定ユニット1000aの第2の反射鏡140の移動に等
価となっている。
2aから射出された基準光K1と参照光K2とは、回転
台4000に載置された被測定光学系2000に入射さ
れる様に構成されている。
準光K1及び参照光K2の像面には、受光用光ファイバ
ー210が形成されている。受光用光ファイバー210
は、第1の受光用光ファイバー211と、第2の受光用
光ファイバー212とから構成されており、第1の受光
用光ファイバー211の受光端は、基準光K1と参照光
K2による結像光を受光する様に配置されており、第2
の受光用光ファイバー212の受光端は、主光線近傍で
のフレア光のみを受光する様に配置されている。
受光用光ファイバー212の出力端は、受光用分波器2
20で合成され、受光素子用光ファイバー230を介し
て受光素子に導く様に構成されている。
0の干渉縞検出装置の電気的構成は、受光手段200
と、検波手段300と、A/D変換器400と、演算処
理手段500と、入力手段600と、出力手段700
と、参照ミラー駆動手段850とから構成されている。
光用光ファイバー182の射出端182aと、像面に相
当する位置に配置されている受光用光ファイバー210
の間には、被測定光学系2000のレンズ群が配置され
る。
0bのその他の構成、作用は、上述の「原理」で説明し
た光干渉測定ユニット1000や、本第1実施例の光干
渉測定ユニット1000aと同様であるから説明を省略
する。
ユニット1000bの参照ミラー160を直線的に移動
させるためのものである。本第2実施例のフレア光検出
装置20000の参照ミラー駆動手段850は、第1実
施例のフレア光検出装置10000の反射鏡駆動手段8
00と対応するものである。
0の参照ミラー駆動手段850以外のその他の構成は、
第1実施例のフレア光検出装置10000と同様である
から説明を省略する。
ア光検出装置20000は、参照ミラー駆動手段850
により参照ミラー160を移動させ、基準光K1と参照
光K2との光路長が一致した時には、比較的強い干渉縞
が発生する。更に、参照ミラー駆動手段850により参
照ミラー160を基準位置から移動させ、参照ミラー1
60の移動による参照光路の増加光路長△と、レンズ面
の多重反射(フレア)により増加する光路長△Fとが、
等しくなった場合には、やや弱い干渉縞が発生する。従
って、参照ミラー160の基準位置から、干渉縞発生ま
での移動量を計測すれば、レンズ面の多重反射(フレ
ア)により増加する光路長△Fを求めることができる。
この△Fに基づいて、被測定光学系2000のレンズ群
の中から、フレアが生じているレンズ面を特定すること
ができる。
る回転台4000を回転させることにより、斜めに入射
する光に対するフレア光を検出することができる。
2000の回転に代えて、光干渉測定ユニット1000
bの射出光用光ファイバー182の射出端182aを走
査させることも可能である。
説明する。
検出装置30000は、光干渉測定ユニット1000c
と、この光干渉測定ユニット1000cにより生じた干
渉縞を検出するための干渉縞検出装置とから構成されて
いる。
0は、本第1実施例のフレア光検出装置10000の光
源部100と受光手段200の位置を入れ換えたものに
相当する。
投影レンズ110と、ハーフミラー120と、第1の反
射鏡130と、第2の反射鏡140と、第2の投影レン
ズ150とから構成されている。
200と、検波手段300と、A/D変換器400と、
演算処理手段500と、入力手段600と、出力手段7
00と、反射鏡駆動手段800とから構成されている。
は、回転台4000に載置された被測定光学系2000
に入射される。そして被測定光学系2000からの結像
光は、光干渉測定ユニット1000cに入射する様に構
成されている。
た結像光の一部は、ハーフミラー120で透過され、第
1の反射鏡130に向かう様になっており、第1の反射
鏡130で反射された光は、ハーフミラー120で反射
した後、第1の投影レンズ110を介して受光素子20
0に入射される基準光K1となる。
120を反射した光は、第2の反射鏡140に向かう様
になっており、第2の反射鏡140で反射された光は、
ハーフミラー120で透過し、第1の投影レンズ110
を介して受光素子200に入射される参照光K2とな
る。
0cのその他の構成、作用は、上述の「原理」で説明し
た光干渉測定ユニット1000や、本第1実施例の光干
渉測定ユニット1000aと同様であるから説明を省略
する。
0の干渉縞検出装置の電気的構成は、第1実施例のフレ
ア光検出装置10000と同様であるから説明を省略す
る。
ア光検出装置30000は、反射鏡駆動手段800によ
り第2の反射鏡140を移動させ、基準光K1と参照光
K2との光路長が一致した時には、比較的強い干渉縞が
発生する。更に、反射鏡駆動手段800により第2の反
射鏡140を基準位置から移動させ、第2の反射鏡14
0の移動による参照光路の増加光路長△と、レンズ面の
多重反射(フレア)により増加する光路長△Fとが、等
しくなった場合には、やや弱い干渉縞が発生する。従っ
て、第2の反射鏡140の基準位置から、干渉縞発生ま
での移動量を計測すれば、レンズ面の多重反射(フレ
ア)により増加する光路長△Fを求めることができる。
この△Fに基づいて、被測定光学系2000のレンズ群
の中から、フレアが生じているレンズ面を特定すること
ができる。
る回転台4000を回転させることにより、斜めに入射
する光に対するフレア光を検出することができる。
ーレントな光を出射するための光源部と、この光源部か
らの光束を基準光と参照光との2光束に分離するための
光束分離手段と、この参照光の光路内に配置され、参照
光路の光路長を変化させるための光路長変換手段と、前
記基準光と前記参照光を被測定光学系に向けて投影し、
該被測定光学系を通過した前記基準光と前記参照光とを
受光するための受光手段と、前記光路長変換手段による
光路長の変換により生じた干渉縞に対応する該受光手段
からの受光信号に基づき、被測定光学系により生じたフ
レア光を検出する構成となっており、微弱であるフレア
光を検出すると共に、フレア光の発生するレンズ面を容
易に特定することのできると共に、フレア光の強度も検
出できるという卓越した効果がある。
を出射するための光源部と、この光源部からの光束を被
測定光学系に向けて投影し、被測定光学系を通過した基
準光と参照光との2光束に分離するための光束分離手段
と、この参照光の光路内に配置され、参照光路の光路長
を変化させるための光路長変換手段と、前記基準光と前
記参照光とを受光するための受光手段と、前記光路長変
換手段による光路長の変換により生じた干渉縞に対応す
る該受光手段からの受光信号に基づき、被測定光学系に
より生じたフレア光を検出する構成となっているので、
被測定光学系を通過した光の光路長を変化させることが
でき、斜め方向から入射した光により生じるフレア光を
検出することができるという効果がある。
Claims (4)
- 【請求項1】 ショートコヒーレントな光を出射するた
めの光源部と、この光源部からの光束を基準光と参照光
との2光束に分離するための光束分離手段と、この参照
光の光路内に配置され、参照光路の光路長を変化させる
ための光路長変換手段と、前記基準光と前記参照光を被
測定光学系に向けて投影し、該被測定光学系を通過した
前記基準光と前記参照光とを受光するための受光手段
と、前記光路長変換手段による光路長の変換により生じ
た干渉縞に対応する該受光手段からの受光信号に基づ
き、被測定光学系により生じたフレア光を検出すること
を特徴とする光学系のフレア光検出装置。 - 【請求項2】 ショートコヒーレントな光を出射するた
めの光源部と、この光源部からの光束を被測定光学系に
向けて投影し、被測定光学系を通過した基準光と参照光
との2光束に分離するための光束分離手段と、この参照
光の光路内に配置され、参照光路の光路長を変化させる
ための光路長変換手段と、前記基準光と前記参照光とを
受光するための受光手段と、前記光路長変換手段による
光路長の変換により生じた干渉縞に対応する該受光手段
からの受光信号に基づき、被測定光学系により生じたフ
レア光を検出することを特徴とする光学系のフレア光検
出装置。 - 【請求項3】 前記干渉縞は、結像に寄与する結像光の
参照光と、レンズ面反射によるフレア光の基準光との干
渉により形成される請求項1又は2記載の光学系のフレ
ア光検出装置。 - 【請求項4】 光路長変換手段は、参照光路の光軸に沿
って移動可能に構成された反射鏡である請求項1又は2
記載の光学系のフレア光検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24144396A JP3738362B2 (ja) | 1996-08-22 | 1996-08-22 | 光学系のフレア光検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24144396A JP3738362B2 (ja) | 1996-08-22 | 1996-08-22 | 光学系のフレア光検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1062300A true JPH1062300A (ja) | 1998-03-06 |
JP3738362B2 JP3738362B2 (ja) | 2006-01-25 |
Family
ID=17074392
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24144396A Expired - Fee Related JP3738362B2 (ja) | 1996-08-22 | 1996-08-22 | 光学系のフレア光検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3738362B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101465658B1 (ko) * | 2013-09-10 | 2014-11-28 | 성균관대학교산학협력단 | 선형 근축 근사를 사용한 렌즈 플레어 렌더링 방법 및 장치 |
-
1996
- 1996-08-22 JP JP24144396A patent/JP3738362B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101465658B1 (ko) * | 2013-09-10 | 2014-11-28 | 성균관대학교산학협력단 | 선형 근축 근사를 사용한 렌즈 플레어 렌더링 방법 및 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3738362B2 (ja) | 2006-01-25 |
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