JPH10501890A - 反射性目標マークの位置を決定する光学装置 - Google Patents
反射性目標マークの位置を決定する光学装置Info
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.目標マーク(2)を照明する投光器(1;30)と、位置解像検知装置(7 )上に目標マーク(2)を結像する結像系(5)と、目標マーク像(8)の位置 座標を決定する評価装置(9)とを有し、反射性目標マーク(2)の位置を決定 するための光学装置において、 目標マークとして、√2〜2の屈折率nを有し投光器の照明に関して透明な球 が設けてあり、検知装置(7)上の目標マーク像(8)が、円環面の少なくとも 一部をなし、像評価によって求めた上記円環面の中心点が、目標マーク(2)の 位置を表わすことを特徴とする位置決定用光学装置。 2.球(2)を全ての側(方向)から視準するため、ロッド状ホルダ(4)が球 受けとして設けてあることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。 3.球(2)が、1.83の屈折率nを有するガラスからなることを特徴とする 請求項1または2に記載の光学装置。 4.球(2)が、表面研磨されていることを特徴とする請求項1〜3の1つに記 載の光学装置。 5.球(2)が、反射を増大する被覆層を有することを特徴とする請求項1〜4 の1つに記載の光学装置。 6.球(2)が、屈折率の異なる材料を有することを 特徴とする請求項1,2,4または5に記載の光学装置。 7.球(2)が、部分的に鏡化(鍍銀)されていることを特徴とする請求項1〜 6の1つに記載の光学装置。 8.目標マーク(2)への照明光路が、結像系(5)の光軸(15)に関して軸 線対称に延びることを特徴とする請求項1〜7の1つに記載の光学装置。 9.結像系(5)が、フォーカシング装置(6)を有することを特徴とする請求 項1〜8の1つに記載の光学装置。 10.結像系(5)が、セオドライトの望遠鏡であることを特徴とする請求項1 〜9の1つに記載の光学装置。 11.検知装置(7)が、CCDアレイまたはビデオカメラであることを特徴と する請求項1〜10の1つに記載の光学装置。 12.評価装置(9)が、画像処理コンピュータ(10)を含むことを特徴とす る請求項1〜11の1つに記載の光学装置。 13.投光器(1;30)と結像系(5)と検知装置(7)と評価装置(9)と が、コンパクトな構造の装置として構成されていることを特徴とする請求項1〜 12の1つに記載の光学装置。 14.距離測定装置が、補足して設けてあることを特徴とする請求項1〜13の 1つに記載の光学装置。 15.環中心点を求める画像評価のために、目標マーク像(8)に環を最善には め合わせるための円適合アルゴリズムが定めてあることを特徴とする請求項1〜 14の1つに記載の光学装置。 16.目標マーク(2)を照明する投光器(1;30)と、位置解像検知装置( 7)上に目標マーク(2)を結像する結像系(5)と、目標マーク像(8)の位 置座標を決定する評価装置(9)とを使用して反射性目標マーク(2)の位置を 決定する方法において、 光学式結像系(5)をデフォーカシングし、かくして現れる多重円環面を検知 装置(7)で撮像ないし受光し、目標マーク中心点を決定するため数学的手段に よって評価することを特徴とする方法。
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
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JP2007132744A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Toshiba Tec Corp | 位置検出システム |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19602327C2 (de) * | 1996-01-24 | 1999-08-12 | Leica Geosystems Ag | Meßkugel-Reflektor |
US5861956A (en) * | 1997-05-27 | 1999-01-19 | Spatialmetrix Corporation | Retroreflector for use with tooling ball |
DE19923116A1 (de) | 1998-05-20 | 1999-12-30 | Busch Dieter & Co Prueftech | Verfahren und Vorrichtung zum Feststellen, ob zwei hintereinander angeordnete Wellen fluchten |
FR2795827B1 (fr) * | 1999-06-30 | 2001-10-12 | Regie Autonome Transports | Dispositif repere-cible metrologique retroreflechissant |
US6299122B1 (en) * | 1999-09-28 | 2001-10-09 | Northrup Grumman Corporation | Spherically mounted retroreflector edge adapter |
WO2001050145A2 (de) | 1999-12-30 | 2001-07-12 | Astrium Gmbh | Mobile anordnung und verfahren zur grossflächigen und genauen charakterisierung von strahlungsfeldern im aussenbereich |
DE19963794B4 (de) * | 1999-12-30 | 2004-07-08 | Astrium Gmbh | Anordnung und Verfahren zur hochgenauen Winkelmessung |
US6473980B2 (en) * | 2000-11-30 | 2002-11-05 | Cubic Defense Systems, Inc. | Infrared laser transmitter alignment verifier and targeting system |
US7193209B2 (en) * | 2003-04-17 | 2007-03-20 | Eaton Corporation | Method for distinguishing objects in a video image by using infrared reflective material |
US20060279745A1 (en) * | 2005-06-13 | 2006-12-14 | Wenstrand John S | Color imaging system for locating retroreflectors |
US8360051B2 (en) * | 2007-11-12 | 2013-01-29 | Brightsource Industries (Israel) Ltd. | Solar receiver with energy flux measurement and control |
JP5054643B2 (ja) * | 2008-09-12 | 2012-10-24 | 俊男 和気 | レーザ位置決め反射装置 |
CN101738161B (zh) * | 2008-11-14 | 2012-11-07 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 一种测量运动物体六维位姿的设备和方法 |
CN102022979A (zh) | 2009-09-21 | 2011-04-20 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 三维光学感测系统 |
CN102713514B (zh) * | 2010-01-18 | 2015-04-22 | 法罗技术股份有限公司 | 用于跟踪隐藏点的回射器探头适配器 |
JP2011191175A (ja) * | 2010-03-15 | 2011-09-29 | Mitsutoyo Corp | レーザ反射体 |
DE102010019656B4 (de) * | 2010-05-03 | 2016-09-01 | Etalon Ag | Messgerät |
US9443311B2 (en) | 2014-06-12 | 2016-09-13 | Topcon Positioning Systems, Inc. | Method and system to identify a position of a measurement pole |
US10962363B2 (en) | 2016-01-25 | 2021-03-30 | Topcon Positioning Systems, Inc. | Method and apparatus for single camera optical measurements |
GB2565029A (en) * | 2017-01-10 | 2019-02-06 | Jt Networks Ltd | Surveying target assembly |
CN107395929B (zh) * | 2017-08-15 | 2020-02-18 | 宜科(天津)电子有限公司 | 基于面阵ccd/cmos的360°检测传感器及检测方法 |
DE102019116280B3 (de) * | 2019-06-14 | 2020-12-17 | Etalon Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Länge |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3188739A (en) * | 1962-10-05 | 1965-06-15 | Lockheed Aircraft Corp | Multi-directional optical target |
US4964218A (en) * | 1989-07-10 | 1990-10-23 | General Dynamics Corporation, Convair Division | Optical or laser ball target assemblies for precision location measurements |
JP2564963B2 (ja) * | 1990-03-29 | 1996-12-18 | 三菱電機株式会社 | ターゲット及びこれを用いた三次元位置姿勢計測システム |
DE4013576A1 (de) * | 1990-04-27 | 1992-01-16 | Leica Aarau Ag | Zielmarke zur bestimmung von messpunkten mit optischen zielgeraeten |
-
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-
1996
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007017180A (ja) * | 2005-07-05 | 2007-01-25 | National Institute Of Information & Communication Technology | 光学式モーションキャプチャにおけるマーカー認識方法及び装置 |
JP4682326B2 (ja) * | 2005-07-05 | 2011-05-11 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 光学式モーションキャプチャにおけるマーカー認識方法及び装置 |
JP2007132744A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Toshiba Tec Corp | 位置検出システム |
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