JPH1048294A - Ｉｃテスト装置のｄ／ａコンバータ制御方式 - Google Patents
Ｉｃテスト装置のｄ／ａコンバータ制御方式Info
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- JPH1048294A JPH1048294A JP8217736A JP21773696A JPH1048294A JP H1048294 A JPH1048294 A JP H1048294A JP 8217736 A JP8217736 A JP 8217736A JP 21773696 A JP21773696 A JP 21773696A JP H1048294 A JPH1048294 A JP H1048294A
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- gain adjustment
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- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M7/00—Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
- H02M7/42—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal
- H02M7/44—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters
- H02M7/48—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode
- H02M7/505—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a thyratron or thyristor type requiring extinguishing means
- H02M7/515—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a thyratron or thyristor type requiring extinguishing means using semiconductor devices only
- H02M7/525—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a thyratron or thyristor type requiring extinguishing means using semiconductor devices only with automatic control of output waveform or frequency
- H02M7/527—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a thyratron or thyristor type requiring extinguishing means using semiconductor devices only with automatic control of output waveform or frequency by pulse width modulation
- H02M7/529—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a thyratron or thyristor type requiring extinguishing means using semiconductor devices only with automatic control of output waveform or frequency by pulse width modulation using digital control
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
- H03M1/1009—Calibration
- H03M1/1014—Calibration at one point of the transfer characteristic, i.e. by adjusting a single reference value, e.g. bias or gain error
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M7/00—Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
- H02M7/42—Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31908—Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
- G01R31/3191—Calibration
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ゲイン調整の回転軸が異なるＤ／Ａコンバー
タを混在してＩＣテスト装置に使用できるＩＣテスト装
置のＤ／Ａコンバータ制御方式を提供すること。 【解決手段】 Ｄ／Ａコンバータのゲイン、オフセット
調整の開始前に、ステップＡ１でＤ／Ａコンバータに０
Ｖを設定して出力電圧を測定し、ステップＡ２で最大出
力電圧を測定し、ステップＡ３でゲイン調整を行い、ゲ
イン調整の可変範囲の最大値をＤ／Ａコンバータに送
り、ステップＡ４でＤ／Ａコンバータに０Ｖを設定して
出力電圧を測定する。ステップＡ１での測定値とステッ
プＡ４での測定値とをステップＡ５で比較した誤差が所
定のＤ／Ａコンバータの仕様の誤差内にある場合には、
このＤ／Ａコンバータは所定のＤ／Ａコンバータである
とステップＡ６で判定し、誤差が電気的仕様以上の場合
には、ステップＡ７で別のＤ／Ａコンバータであると判
定する。
タを混在してＩＣテスト装置に使用できるＩＣテスト装
置のＤ／Ａコンバータ制御方式を提供すること。 【解決手段】 Ｄ／Ａコンバータのゲイン、オフセット
調整の開始前に、ステップＡ１でＤ／Ａコンバータに０
Ｖを設定して出力電圧を測定し、ステップＡ２で最大出
力電圧を測定し、ステップＡ３でゲイン調整を行い、ゲ
イン調整の可変範囲の最大値をＤ／Ａコンバータに送
り、ステップＡ４でＤ／Ａコンバータに０Ｖを設定して
出力電圧を測定する。ステップＡ１での測定値とステッ
プＡ４での測定値とをステップＡ５で比較した誤差が所
定のＤ／Ａコンバータの仕様の誤差内にある場合には、
このＤ／Ａコンバータは所定のＤ／Ａコンバータである
とステップＡ６で判定し、誤差が電気的仕様以上の場合
には、ステップＡ７で別のＤ／Ａコンバータであると判
定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、ＩＣテスト装置
においてデバイス測定に必要なレベル電圧を供給するた
めに用いられるＤ／Ａコンバータ制御方式に関するもの
であり、より詳細には、ゲイン調整の回転軸が異なる複
種類のＤ／Ａコンバータを有するＩＣテスト装置に対し
てＤ／Ａコンバータを認識し、その認識したＤ／Ａコン
バータに合ったゲイン調整ができるようにしたＩＣテス
ト装置のＤ／Ａコンバータ制御方式に関する。
においてデバイス測定に必要なレベル電圧を供給するた
めに用いられるＤ／Ａコンバータ制御方式に関するもの
であり、より詳細には、ゲイン調整の回転軸が異なる複
種類のＤ／Ａコンバータを有するＩＣテスト装置に対し
てＤ／Ａコンバータを認識し、その認識したＤ／Ａコン
バータに合ったゲイン調整ができるようにしたＩＣテス
ト装置のＤ／Ａコンバータ制御方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のＩＣテスト装置のＤ／Ａ
コンバータ制御方式は、１種類のＤ／Ａコンバータに対
して、オート・キャリブレーションのオフセット調整、
ゲイン調整を行うようにしている。しかし、そのＤ／Ａ
コンバータが製造中止等により使うことができなくなっ
たとき、その実装されているプリント基板を作り直さな
ければならない。
コンバータ制御方式は、１種類のＤ／Ａコンバータに対
して、オート・キャリブレーションのオフセット調整、
ゲイン調整を行うようにしている。しかし、そのＤ／Ａ
コンバータが製造中止等により使うことができなくなっ
たとき、その実装されているプリント基板を作り直さな
ければならない。
【０００３】また、別種類のＤ／Ａコンバータに変更し
たとき、ゲイン調整の回転軸が異なると、旧製品の互換
がなくなってしまう。そのため、新しいプリント基板
が、旧プリント基板の実装されているＩＣテスト装置に
実装できないように、また、旧プリント基板が、新しい
プリント基板の実装されているＩＣテスト装置に実装で
きないように、機構部品等を変更して対応しなければな
らない。
たとき、ゲイン調整の回転軸が異なると、旧製品の互換
がなくなってしまう。そのため、新しいプリント基板
が、旧プリント基板の実装されているＩＣテスト装置に
実装できないように、また、旧プリント基板が、新しい
プリント基板の実装されているＩＣテスト装置に実装で
きないように、機構部品等を変更して対応しなければな
らない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来、オート・キャリ
ブレーションのオフセット調整、ゲイン調整を行ってい
るため、特定のＤ／Ａコンバータを、ゲイン調整の回転
軸が異なるＤ／Ａコンバータに変更すると、出荷されて
いるＩＣテスト装置と互換がなくなってしまい、メンテ
ナンスが困難になるという課題がある。
ブレーションのオフセット調整、ゲイン調整を行ってい
るため、特定のＤ／Ａコンバータを、ゲイン調整の回転
軸が異なるＤ／Ａコンバータに変更すると、出荷されて
いるＩＣテスト装置と互換がなくなってしまい、メンテ
ナンスが困難になるという課題がある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するた
め、本発明のＩＣテスト装置のＤ／Ａコンバータ制御方
式は、ゲイン調整の回転軸が異なる複数のＤ／Ａコンバ
ータをもつＩＣテスト装置に対し、Ｄ／Ａコンバータを
認識して、その認識したＤ／Ａコンバータに合ったゲイ
ン調整を行うようにする。
め、本発明のＩＣテスト装置のＤ／Ａコンバータ制御方
式は、ゲイン調整の回転軸が異なる複数のＤ／Ａコンバ
ータをもつＩＣテスト装置に対し、Ｄ／Ａコンバータを
認識して、その認識したＤ／Ａコンバータに合ったゲイ
ン調整を行うようにする。
【０００６】
【発明の実施の形態】この発明のＩＣテスト装置のＤ／
Ａコンバータ制御方式によれば、Ｄ／Ａコンバータのゲ
イン、オフセット調整を開始する前にＤ／Ａコンバータ
の出力を０に設定して、出力させた電圧を測定し、次に
Ｄ／Ａコンバータの最大値を設定し、ゲイン調整の可変
範囲の最大値をＤ／Ａコンバータに送り、再度Ｄ／Ａコ
ンバータの出力を０に設定し、出力させた電圧を測定
し、前回の測定電圧と今回の測定電圧との差を求める。
Ａコンバータ制御方式によれば、Ｄ／Ａコンバータのゲ
イン、オフセット調整を開始する前にＤ／Ａコンバータ
の出力を０に設定して、出力させた電圧を測定し、次に
Ｄ／Ａコンバータの最大値を設定し、ゲイン調整の可変
範囲の最大値をＤ／Ａコンバータに送り、再度Ｄ／Ａコ
ンバータの出力を０に設定し、出力させた電圧を測定
し、前回の測定電圧と今回の測定電圧との差を求める。
【０００７】この差があるＤ／Ａコンバータの電気的仕
様のゲイン誤差内の場合には、このＤ／Ａコンバータは
あるＤ／Ａコンバータであるとし、前記差がゲイン誤差
以上の場合には、別のＤ／Ａコンバータであるとして、
それぞれのＤ／Ａコンバータに合ったゲイン調整を行
う。
様のゲイン誤差内の場合には、このＤ／Ａコンバータは
あるＤ／Ａコンバータであるとし、前記差がゲイン誤差
以上の場合には、別のＤ／Ａコンバータであるとして、
それぞれのＤ／Ａコンバータに合ったゲイン調整を行
う。
【０００８】次に、この発明のＩＣテスト装置のＤ／Ａ
コンバータ制御方式の一実施の形態について、図１〜図
３を参照して説明する。この一実施の形態に適用される
Ｄ／Ａコンバータは、例えば、ゲイン調整の回転軸が異
なる第１Ｄ／Ａコンバータと第２Ｄ／Ａコンバータであ
るとする。
コンバータ制御方式の一実施の形態について、図１〜図
３を参照して説明する。この一実施の形態に適用される
Ｄ／Ａコンバータは、例えば、ゲイン調整の回転軸が異
なる第１Ｄ／Ａコンバータと第２Ｄ／Ａコンバータであ
るとする。
【０００９】図２は第１Ｄ／Ａコンバータのゲイン、オ
フセット調整の関係を示し、図３は第２Ｄ／Ａコンバー
タのゲイン、オフセット調整の関係を示しており、この
図２・図３はともに縦軸にデジタル入力を取り、横軸に
アナログ出力を取っている。
フセット調整の関係を示し、図３は第２Ｄ／Ａコンバー
タのゲイン、オフセット調整の関係を示しており、この
図２・図３はともに縦軸にデジタル入力を取り、横軸に
アナログ出力を取っている。
【００１０】この第１Ｄ／Ａコンバータと第２Ｄ／Ａコ
ンバータのうち、第１Ｄ／Ａコンバータは図２に示すよ
うに、ゲイン調整の回転軸が０Ｖを中心にライン回転す
る。オフセット調整は、０Ｖを中心にラインが上下す
る。
ンバータのうち、第１Ｄ／Ａコンバータは図２に示すよ
うに、ゲイン調整の回転軸が０Ｖを中心にライン回転す
る。オフセット調整は、０Ｖを中心にラインが上下す
る。
【００１１】また、第２Ｄ／Ａコンバータは図３に示す
ように、ゲイン調整の回転軸が、−１０Ｖを中心にライ
ン回転する。オフセット調整は、−１０Ｖを中心にライ
ンが上下する。
ように、ゲイン調整の回転軸が、−１０Ｖを中心にライ
ン回転する。オフセット調整は、−１０Ｖを中心にライ
ンが上下する。
【００１２】次に、図１のフローチャートを参照してＩ
Ｃテスト装置のＤ／Ａコンバータ制御方式の一実施の形
態を説明する。図１のフローチャートのステップＡ１に
おいて、まず、Ｄ／Ａコンバータのゲイン、オフセット
調整を開始する前にＤ／Ａコンバータに０Ｖを設定して
出力させ、その出力電圧を測定する。次に、ステップＡ
２で、Ｄ／Ａコンバータの出力最大電圧を設定する。
Ｃテスト装置のＤ／Ａコンバータ制御方式の一実施の形
態を説明する。図１のフローチャートのステップＡ１に
おいて、まず、Ｄ／Ａコンバータのゲイン、オフセット
調整を開始する前にＤ／Ａコンバータに０Ｖを設定して
出力させ、その出力電圧を測定する。次に、ステップＡ
２で、Ｄ／Ａコンバータの出力最大電圧を設定する。
【００１３】次いで、ステップＡ３で、Ｄ／Ａコンバー
タのゲイン調整を行い、ゲイン調整の可変範囲の最大値
をこのＤ／Ａコンバータに送る。ステップＡ４で、Ｄ／
Ａコンバータに０Ｖを設定して出力させ、このときの出
力電圧を測定する。
タのゲイン調整を行い、ゲイン調整の可変範囲の最大値
をこのＤ／Ａコンバータに送る。ステップＡ４で、Ｄ／
Ａコンバータに０Ｖを設定して出力させ、このときの出
力電圧を測定する。
【００１４】次に、ステップＡ５において、前記ステッ
プＡ１で測定した出力電圧の測定値とステップＡ４で測
定した出力電圧の測定値とを比較し、その両測定値の差
を求める。この差が第１Ｄ／Ａコンバータの電気的仕様
のゲイン誤差内の場合、このＤ／Ａコンバータは、ステ
ップＡ６で第１Ｄ／Ａコンバータであると判定する。
プＡ１で測定した出力電圧の測定値とステップＡ４で測
定した出力電圧の測定値とを比較し、その両測定値の差
を求める。この差が第１Ｄ／Ａコンバータの電気的仕様
のゲイン誤差内の場合、このＤ／Ａコンバータは、ステ
ップＡ６で第１Ｄ／Ａコンバータであると判定する。
【００１５】また、ステップＡ５での比較の結果の差
が、両測定値の差がゲイン誤差以上の場合は、ステップ
Ａ７でこのＤ／Ａコンバータは第２Ｄ／Ａコンバータで
あると判定する。
が、両測定値の差がゲイン誤差以上の場合は、ステップ
Ａ７でこのＤ／Ａコンバータは第２Ｄ／Ａコンバータで
あると判定する。
【００１６】図２の場合、Ｄ／Ａコンバータの最大電圧
でゲイン調整しても０Ｖの点は、ほとんど動かない。そ
れに対し、図３の場合、Ｄ／Ａコンバータの最大電圧で
ゲイン調整すると０Ｖの点は、ずれてしまう。これによ
り、それぞれのＤ／Ａコンバータに合ったゲイン調整が
行われる。
でゲイン調整しても０Ｖの点は、ほとんど動かない。そ
れに対し、図３の場合、Ｄ／Ａコンバータの最大電圧で
ゲイン調整すると０Ｖの点は、ずれてしまう。これによ
り、それぞれのＤ／Ａコンバータに合ったゲイン調整が
行われる。
【００１７】すなわち、ステップＡ６で第１Ｄ／Ａコン
バータであると判定した場合には、ステップＡ８でこの
第１Ｄ／Ａコンバータのオート・キャリブレーションを
実行する。同様にして、ステップＡ７で第２Ｄ／Ａコン
バータであると判定した場合には、ステップＡ９で第２
Ｄ／Ａコンバータのオート・キャリブレーションを実行
する。
バータであると判定した場合には、ステップＡ８でこの
第１Ｄ／Ａコンバータのオート・キャリブレーションを
実行する。同様にして、ステップＡ７で第２Ｄ／Ａコン
バータであると判定した場合には、ステップＡ９で第２
Ｄ／Ａコンバータのオート・キャリブレーションを実行
する。
【００１８】
【発明の効果】この発明によるＩＣテスト装置のＤ／Ａ
コンバータ制御方式によれば、ゲイン調整の回転軸が異
なるＤ／Ａコンバータのゲイン調整をＤ／Ａコンバータ
ごとに認識して、その認識したＤ／Ａコンバータごとに
適合したゲイン調整を可能とするようにしたので、ゲイ
ン調整の回転軸が異なるＤ／ＡコンバータをＩＣテスト
装置に混在して使用できるという効果がある。
コンバータ制御方式によれば、ゲイン調整の回転軸が異
なるＤ／Ａコンバータのゲイン調整をＤ／Ａコンバータ
ごとに認識して、その認識したＤ／Ａコンバータごとに
適合したゲイン調整を可能とするようにしたので、ゲイ
ン調整の回転軸が異なるＤ／ＡコンバータをＩＣテスト
装置に混在して使用できるという効果がある。
【図１】この発明のＩＣテスト装置のＤ／Ａコンバータ
制御方式の一実施の形態の処理実行手順を示すフローチ
ャートである。
制御方式の一実施の形態の処理実行手順を示すフローチ
ャートである。
【図２】あるＤ／Ａコンバータのゲイン、オフセット調
整の関係を説明するための説明図である。
整の関係を説明するための説明図である。
【図３】別のＤ／Ａコンバータのゲイン、オフセット調
整の関係を説明するための説明図である。
整の関係を説明するための説明図である。
Ａ１〜Ａ９ ステップ
Claims (1)
- 【請求項１】 ゲイン調整の回転軸が異なる複数のＤ／
ＡコンバータをもつＩＣテスト装置に対し、Ｄ／Ａコン
バータを認識し、認識したＤ／Ａコンバータに合ったゲ
イン調整を行うＩＣテスト装置のＤ／Ａコンバータ制御
方式。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8217736A JPH1048294A (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | Ｉｃテスト装置のｄ／ａコンバータ制御方式 |
| US08/895,197 US5929797A (en) | 1996-07-31 | 1997-07-16 | D/A converter control method for IC test apparatus |
| KR1019970040700A KR100272396B1 (ko) | 1996-07-31 | 1997-08-25 | Ic테스트장치의 d／a컨버터 제어방식 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8217736A JPH1048294A (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | Ｉｃテスト装置のｄ／ａコンバータ制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1048294A true JPH1048294A (ja) | 1998-02-20 |
Family
ID=16708953
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8217736A Pending JPH1048294A (ja) | 1996-07-31 | 1996-07-31 | Ｉｃテスト装置のｄ／ａコンバータ制御方式 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5929797A (ja) |
| JP (1) | JPH1048294A (ja) |
| KR (1) | KR100272396B1 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4829236A (en) * | 1987-10-30 | 1989-05-09 | Teradyne, Inc. | Digital-to-analog calibration system |
-
1996
- 1996-07-31 JP JP8217736A patent/JPH1048294A/ja active Pending
-
1997
- 1997-07-16 US US08/895,197 patent/US5929797A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-08-25 KR KR1019970040700A patent/KR100272396B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5929797A (en) | 1999-07-27 |
| KR100272396B1 (ko) | 2000-12-01 |
| KR980012816A (ko) | 1998-04-30 |
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