JPH1041636A - Manufacture of multilayer printed wiring board - Google Patents

Manufacture of multilayer printed wiring board

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JPH1041636A
JPH1041636A JP21535396A JP21535396A JPH1041636A JP H1041636 A JPH1041636 A JP H1041636A JP 21535396 A JP21535396 A JP 21535396A JP 21535396 A JP21535396 A JP 21535396A JP H1041636 A JPH1041636 A JP H1041636A
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JP
Japan
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reference mark
mark
forming
insulating material
material layer
Prior art date
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Application number
JP21535396A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuji Hiramatsu
靖二 平松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH1041636A publication Critical patent/JPH1041636A/en
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4644Manufacturing multilayer circuits by building the multilayer layer by layer, i.e. build-up multilayer circuits

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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the positioning accuracy of a photomask by laying a photomask film having a reference mark pattern and conductor pattern on a photosensitive resin insulation film and setting positioning marks on reference marks of a lower layer recognizable through the photosensitive resin layer and inter-layer insulation layer. SOLUTION: A substrate 1 has a reference mark 2 formed by cutting a circular hole through a part of a conductor surface. An interlayer insulation film is formed on the substrate 1 and dried, a photomask film 4 having circular positioning marks 51 and circular pattern 52a drawn for forming via holes is laid thereon to set the mark 51 to a reference mark 2 which is recognizable through the interlayer insulation layer and provides via-forming holes after positioning. A photosensitive resin layer is the formed. The mark 2 is recognizable through the interlayer insulation layer and photosensitive resin layer, thereby improving the photomask positioning accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板の製造方法に関し、特には、めっきレジスト形成のた
めに使用されるフォトマスクの位置合わせ精度に優れる
基準マークを用いた多層プリント配線板の製造方法に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board, and more particularly, to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board using fiducial marks excellent in the positioning accuracy of a photomask used for forming a plating resist. It relates to a manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】いわゆるビルドアップ多層プリント配線
板の製造方法は、未硬化の層間樹脂絶縁材(無電解めっ
き用接着剤)をロールコータにより塗布し、これを乾
燥、硬化させ、ついでバイアホールを形成して、無電解
めっきを施して導体回路を形成していた。このような製
法においては、バイアホールの位置やパターンの形成位
置がずれると、接続不良を生じてしまう。バイアホール
の形成やめっきレジストにおけるパターン形成は、一般
に基板に形成した基準マークを利用してこの基準マーク
にパターンが描画されたフォトマスクを位置合わせする
か、あるいはこの基準マークを画像的に認識してバイア
ホール形成位置を演算し、レーザーで孔を開けている。
2. Description of the Related Art In a method of manufacturing a so-called build-up multilayer printed wiring board, an uncured interlayer resin insulating material (adhesive for electroless plating) is applied by a roll coater, dried and cured, and then a via hole is formed. Formed and subjected to electroless plating to form a conductor circuit. In such a manufacturing method, if the position of the via hole or the position where the pattern is formed shifts, a connection failure occurs. In the formation of via holes and pattern formation in plating resist, generally, a reference mark formed on a substrate is used to align a photomask on which a pattern is drawn with the reference mark, or the reference mark is visually recognized. The via hole formation position is calculated by using the laser, and the hole is opened by the laser.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ビルド
アップ多層プリント配線板においては、層間絶縁材を常
に積層するため、基準マークの上に複数の層間絶縁材が
形成されることになり、基準マークを隠してしまう。こ
のため、数層積層すると基準マークを認識できず、位置
合わせできなかった。本願発明では、ビルドアップ多層
プリント配線板において使用される、複数層形成した場
合でも常に基準マークを認識でき、精度の高いバイアホ
ールやパターンを形成するための製造方法を提供するこ
とを目的とする。
However, in the build-up multilayer printed wiring board, since the interlayer insulating material is always laminated, a plurality of interlayer insulating materials are formed on the reference mark. I will hide it. For this reason, when several layers were laminated, the fiducial marks could not be recognized and the positioning could not be performed. An object of the present invention is to provide a manufacturing method for forming via holes and patterns with high precision, which can be used for build-up multilayer printed wiring boards and can always recognize reference marks even when a plurality of layers are formed. .

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本願発明は、「以下の
(a)〜(e)の工程を含むことを特徴とする多層プリ
ント配線板の製造方法。 (a)導体面の一部が円形にくり抜かれて形成されてな
る基準マークが設けられた基板に層間樹脂絶縁材層を形
成する工程。 (b)前記基準マークを利用して層間樹脂絶縁材層にバ
イアホール形成用の孔を設ける工程。 (c)感光性樹脂層を形成する工程。 (d)基準マークであるくり抜かれた円形部分と同径も
しくはそれよりも小さい径を持つ円からなる位置決めマ
ーク、面の一部が円形にくり抜かれて形成されてなる基
準マークのパターンおよび導体パターンが描画されたフ
ォトマスクフィルムを前記感光性樹脂層上に載置し、位
置決めマークを感光性樹脂層および層間樹脂絶縁材層を
介して認識できる下層の基準マークに合わせた後、感光
性樹脂層を露光、現像処理して、導体パターンと下層の
基準マークと重ならない位置に新たな基準マークを形成
するためのめっきレジストを形成する工程。 (e)無電解めっきにより、導体パターンおよび基準マ
ークを形成する工程」、である。
According to the present invention, there is provided a method for manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising the following steps (a) to (e). (A) A part of the conductor surface is circular A step of forming an interlayer resin insulating material layer on a substrate provided with a reference mark formed by hollowing out (b) providing a hole for forming a via hole in the interlayer resin insulating material layer using the reference mark; (C) a step of forming a photosensitive resin layer (d) a positioning mark composed of a circle having the same diameter as or smaller than the hollowed-out circular portion serving as a reference mark, and a part of the surface formed into a circle A photomask film on which a reference mark pattern and a conductor pattern formed by hollowing are drawn is placed on the photosensitive resin layer, and the positioning mark is recognized through the photosensitive resin layer and the interlayer resin insulating material layer. Can Forming a plating resist for forming a new reference mark at a position that does not overlap the conductive pattern and the lower reference mark after exposing and developing the photosensitive resin layer after the alignment with the lower reference mark. (E) Step of forming conductive pattern and reference mark by electroless plating ”.

【0005】なお、本願発明において、「導体面の一部
が円形にくり抜かれて形成されてなる」とは、「導体面
をエッチングにより円形に除去して形成した形態」と
「円形にめっきレジストを設けておき、円形のめっきレ
ジストの周囲にめっきを析出させて導体面を形成して結
果的に導体面の一部を円形にくり抜いた形態」を包含す
る。
[0005] In the present invention, "a part of a conductor surface is formed by hollowing out a circle" means "a form in which a conductor surface is removed by etching in a circle" and "a form in which a plating resist is formed in a circle". Is provided, plating is deposited around a circular plating resist to form a conductor surface, and as a result, a part of the conductor surface is hollowed out in a circular shape ”.

【0006】本願発明においては、基準マークは、1層
の層間絶縁材層あるいは、1層の層間絶縁材層とめっき
レジスト形成用の感光性樹脂層を介して認識されるた
め、2層以上の層間樹脂絶縁材層により基準マークが隠
蔽されることがなく、常に基準マークを認識でき、バイ
アホール形成用のフォトマスクやパターン形成用のフォ
トマスクの位置合わせを正確にかつ容易に行うことがで
きる。
In the present invention, since the reference mark is recognized through one interlayer insulating material layer or one interlayer insulating material layer and a photosensitive resin layer for forming a plating resist, two or more reference marks are formed. The reference mark is not always hidden by the interlayer resin insulating material layer, the reference mark can be always recognized, and the positioning of the photomask for forming a via hole and the photomask for forming a pattern can be performed accurately and easily. .

【0007】また、レーザーでバイアホールを形成する
場合でも、導体面の一部が円形にくり抜かれて形成され
た基準マークであるため、導体面の反射光あるいは、透
過光によるシルエットにより、円形の基準マークを認識
しやすく、画像処理により位置決めが可能になる。
Further, even when a via hole is formed by a laser, the reference mark is formed by cutting a part of the conductor surface into a circular shape. The reference mark can be easily recognized, and positioning can be performed by image processing.

【0008】本願発明は、層間樹脂絶縁材層に「酸ある
いは酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱性樹脂中に酸あるい
は酸化剤に可溶性の硬化処理された耐熱性樹脂粒子が分
散されてなるもの」を使用する場合に特に有利である。
このような層間樹脂絶縁材は、粒子を含むため2層以上
重なる場合、基準マークを認識できなくなるからであ
り、本願発明はこれを解決するからである。
According to the present invention, an interlayer resin insulation layer is formed by dispersing cured heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent in an uncured heat-resistant resin that is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. It is particularly advantageous when "things" are used.
This is because such an interlayer resin insulating material cannot recognize a reference mark when two or more layers overlap because it contains particles, and the present invention solves this problem.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下に、本願発明の多層プリント
配線板の製造方法について詳細に説明する。 (a)本願発明で使用される基板(コア材)1は、銅張
積層板をエッチングして銅パターンとするか、ガラスエ
ポキシ基板、ポリイミド基板、セラミック基板、金属基
板などに無電解めっき用接着剤層を形成し、これを粗化
して粗化面を形成し、ここに無電解めっきを施して銅パ
ターンとすることもできる。いずれも場合も基板1に
は、導体面(銅製が最も一般的)の一部が円形にくり抜
かれた形態からなる基準マーク2を設ける(図1)。図
9は基板上方から見た図である。図1および図9では正
方形の導体面の中央がくり抜かれて真円の基準マークが
設けられている。円は、必ずしも正方形の導体面に設け
る必要はなく、広い面を持った導体に形成しておけばよ
く、三角形や電源層やグランド層に使用されるようなプ
レーン面に形成しておいてもよい。真円は、中心点から
の距離が均等であり、2次元的な位置合わせがしやす
い。このコア基板には、スルーホールが形成されてな
り、表面と裏面の配線層を電気的に接続している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention will be described in detail. (A) The substrate (core material) 1 used in the present invention is formed by etching a copper-clad laminate to form a copper pattern or bonding to a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, a metal substrate, or the like for electroless plating. A copper layer can be formed by forming an agent layer, roughening the layer, forming a roughened surface, and performing electroless plating on the roughened surface. In any case, the substrate 1 is provided with a reference mark 2 having a form in which a part of a conductor surface (most commonly made of copper) is hollowed out in a circle (FIG. 1). FIG. 9 is a diagram viewed from above the substrate. In FIGS. 1 and 9, the center of the square conductor surface is hollowed out to provide a perfect circle reference mark. The circle does not necessarily have to be provided on a square conductor surface, but may be formed on a conductor having a wide surface, and may be formed on a triangular surface or a plane surface used for power supply layers and ground layers. Good. A perfect circle has a uniform distance from the center point and is easy to perform two-dimensional positioning. Through holes are formed in the core substrate to electrically connect the wiring layers on the front surface and the back surface.

【0010】(b)ついで、この基板1の上に、層間樹
脂絶縁材層3を形成する(図2)。図10では、基板上
方から見た図を記載する。層間絶縁材層は、エポキシ樹
脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、
フェノール樹脂など熱硬化性樹脂やこれらを感光化した
感光性樹脂、あるいはポリエーテルスルフォンなどの熱
可塑性樹脂、熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂の複合体、感
光性樹脂と熱可塑性樹脂の複合体を使用できる。また、
層間絶縁剤は、無電解めっき用接着剤が望ましい。無電
解めっき用接着剤としては、酸あるいは酸化剤に難溶性
の未硬化の耐熱性樹脂中に酸あるいは酸化剤に可溶性の
硬化処理された耐熱性樹脂粒子が分散されてなるものが
最適である。これは、酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱
性樹脂粒子を粗化して除去することにより、表面に蛸壺
状のアンカーを形成でき、導体回路との密着性を改善で
きるからである。
(B) Next, an interlayer resin insulating material layer 3 is formed on the substrate 1 (FIG. 2). FIG. 10 illustrates a diagram viewed from above the substrate. Interlayer insulating material layer, epoxy resin, polyimide resin, bismaleimide triazine resin,
Thermosetting resins such as phenolic resins, photosensitive resins obtained by sensitizing them, thermoplastic resins such as polyethersulfone, composites of thermoplastic resin and thermosetting resin, and composites of photosensitive resin and thermoplastic resin Can be used. Also,
The interlayer insulating agent is preferably an adhesive for electroless plating. As the adhesive for electroless plating, an adhesive obtained by dispersing cured heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent is most suitable. . This is because by roughening and removing the heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent, an octopus-shaped anchor can be formed on the surface and the adhesion to the conductor circuit can be improved.

【0011】酸あるいは酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂と
しては、感光化した熱硬化性樹脂や感光化した熱硬化性
樹脂と熱可塑性樹脂の複合体が望ましい。感光化するこ
とにより、露光、現像により、バイアホールを容易に形
成できるからである。また、熱可塑性樹脂と複合化する
ことにより靱性を向上させることができ、導体回路のピ
ール強度の向上、ヒートサイクルによるバイアホール部
分のクラック発生を防止できる。
As the heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent, a photosensitive thermosetting resin or a composite of a photosensitive thermosetting resin and a thermoplastic resin is desirable. By sensitizing, via holes can be easily formed by exposure and development. Further, by forming a composite with a thermoplastic resin, the toughness can be improved, the peel strength of the conductor circuit can be improved, and the occurrence of cracks in the via holes due to the heat cycle can be prevented.

【0012】具体的には、エポキシ樹脂をアクリル酸や
メタクリル酸などと反応させたエポキシアクリレートや
エポキシアクリレートとポリエーテルスルホンとの複合
体がよい。エポキシアクリレートは、全エポキシ基の2
0〜80%がアクリル酸やメタクリル酸などと反応した
ものが望ましい。
Specifically, epoxy acrylate obtained by reacting an epoxy resin with acrylic acid or methacrylic acid, or a composite of epoxy acrylate and polyether sulfone is preferred. Epoxy acrylate has two of all epoxy groups.
It is desirable that 0 to 80% react with acrylic acid or methacrylic acid.

【0013】さらに、前記耐熱性樹脂粒子としては、
平均粒径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、平均粒径
が2μm以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、
平均粒径が10μm以下の耐熱性粉末樹脂粉末と、平
均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、平
均粒径が2μm〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に、
平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末
のいずれか少なくとも1種を付着させてなる疑似粒子か
ら選ばれることが望ましい。これらは、複雑なアンカー
を形成できるからである。
Further, the heat-resistant resin particles include:
Heat-resistant resin powder having an average particle size of 10 μm or less, aggregated particles obtained by aggregating a heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less,
A mixture of a heat-resistant powder resin powder having an average particle size of 10 μm or less and a heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less, on the surface of the heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm to 10 μm,
It is desirable to select from pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder and an inorganic powder having an average particle diameter of 2 μm or less. These are because they can form complex anchors.

【0014】また耐熱性樹脂粒子としては、エポキシ樹
脂、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン
樹脂)などがよい。なお、エポキシ樹脂は、そのオリゴ
マーの種類、硬化剤の種類、架橋密度を変えることによ
り任意に酸や酸化剤に対する溶解度を変えることができ
る。例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂オリゴマ
ーをアミン系硬化剤で硬化処理したものは、酸化剤に溶
解しやすい。しかし、ノボラックエポキシ樹脂オリゴマ
ーをイミダゾール系硬化剤で硬化させたものは、酸化剤
に溶解しにくい。
As the heat-resistant resin particles, epoxy resin, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin) and the like are preferable. The solubility of the epoxy resin in an acid or an oxidizing agent can be arbitrarily changed by changing the type of the oligomer, the type of the curing agent, and the crosslink density. For example, a bisphenol A-type epoxy resin oligomer cured with an amine-based curing agent is easily dissolved in an oxidizing agent. However, the novolak epoxy resin oligomer cured with an imidazole-based curing agent is hardly dissolved in the oxidizing agent.

【0015】本願発明で使用される酸は、リン酸、塩
酸、硫酸、又は蟻酸、酢酸などの有機酸があるが、特に
有機酸が望ましい。粗化処理した場合に、バイアホール
から露出する金属導体層を腐食させにくいからである。
また、酸化剤は、クロム酸、過マンガン酸塩(過マンガ
ン酸カリウムなど)、が望ましい。特に、アミノ樹脂を
溶解除去する場合は、酸と酸化剤で交互に粗化処理する
ことが望ましい。なお、層間絶縁材層は、1回の塗布で
形成される必要はなく、複数回塗布することにより形成
してもよい。
The acid used in the present invention includes phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid, and organic acids are particularly preferable. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded.
The oxidizing agent is preferably chromic acid or permanganate (such as potassium permanganate). In particular, in the case of dissolving and removing the amino resin, it is preferable to perform a roughening treatment alternately with an acid and an oxidizing agent. Note that the interlayer insulating material layer does not need to be formed by one application, but may be formed by applying a plurality of times.

【0016】(c)層間樹脂絶縁材層3を乾燥する。円
形の位置決めマーク51とバイアホール形成用の円パタ
ーン52が描画されたフォトマスクフィルム4を載置し
て、位置決めマーク51と層間樹脂絶縁材層を介して認
識される基準マーク2を合わせる(図3)。具体的に
は、基準マーク2である円内に位置決めマーク51の円
が入るように調製するのである。基板上方から見た図を
図11に記載する。基準マーク2は、層間樹脂絶縁材層
3を1層のみ介して認識できる。
(C) The interlayer resin insulating material layer 3 is dried. The photomask film 4 on which the circular positioning mark 51 and the via-hole forming circular pattern 52 are drawn is placed, and the positioning mark 51 is aligned with the reference mark 2 recognized through the interlayer resin insulating material layer (FIG. 3). Specifically, the positioning mark 51 is prepared so that the circle of the positioning mark 51 falls within the circle that is the reference mark 2. FIG. 11 shows a view from above the substrate. The reference mark 2 can be recognized through only one interlayer resin insulating material layer 3.

【0017】基準マーク2の円の直径と位置決めマーク
51の円の直径の差がずれの許容幅となる。位置決めマ
ーク51の円の直径は、基準マーク2の直径と同一か、
もしくは小さい。逆の場合は位置合わせできないからで
ある。次に露光、現像処理してバイアホール形成用の孔
6を設ける(図4)。基板上方から見た図を図12に記
載する。このとき層間樹脂絶縁材層3には、位置決めマ
ーク51により孔61が形成される。この孔61と基準
マーク2の円の中心点と孔61の中心点との差がバイア
ホールのずれ量を指標する。
The difference between the diameter of the circle of the reference mark 2 and the diameter of the circle of the positioning mark 51 is an allowable deviation width. Whether the diameter of the circle of the positioning mark 51 is the same as the diameter of the reference mark 2,
Or small. In the opposite case, the positioning cannot be performed. Next, exposure and development are performed to provide holes 6 for forming via holes (FIG. 4). FIG. 12 shows a view from above the substrate. At this time, a hole 61 is formed in the interlayer resin insulating material layer 3 by the positioning mark 51. The difference between the center point of the circle of the hole 61 and the reference mark 2 and the center point of the hole 61 indicates the amount of deviation of the via hole.

【0018】図3では感光性樹脂を用い、露光、現像処
理を行う例を記載したが、レーザーを照射して層間樹脂
絶縁材層3を焼いてバイアホール形成用の孔6を形成し
てもよい。この場合は、孔61は形成されない。
FIG. 3 shows an example in which the photosensitive resin is used to carry out the exposure and development processing. However, even if laser irradiation is performed to burn the interlayer resin insulating material layer 3 to form the holes 6 for forming via holes. Good. In this case, no hole 61 is formed.

【0019】レーザーの場合は、層間樹脂絶縁材層を介
して認識される導体面の反射光あるいは透過光により得
られるシルエットによって、基準マーク2を認識して、
くり抜かれた円の中心点から、基板位置を認識し、その
位置からバイアホールの形成位置座標のデータを演算し
て、その位置にレーザーを照射し、バイアホール形成用
の孔6を設ける。
In the case of a laser, the reference mark 2 is recognized by a silhouette obtained by reflected light or transmitted light of the conductor surface recognized through the interlayer resin insulating material layer.
The position of the substrate is recognized from the center point of the hollow, the data of the coordinates of the formation position of the via hole is calculated from the position, and the position is irradiated with a laser to provide a hole 6 for forming a via hole.

【0020】ついでこの表面を粗化した後(図では簡単
化のため省略する)、触媒核を付与する。触媒核は、貴
金属イオンやコロイドなどが望ましく、一般的には、塩
化パラジウムやパラジウムコロイドを使用する。触媒核
を固定するために加熱処理を行うことが望ましい。触媒
核はパラジウムがよい。
Next, after the surface is roughened (omitted for simplicity in the figure), a catalyst nucleus is provided. The catalyst nucleus is preferably a noble metal ion or a colloid, and generally uses palladium chloride or a palladium colloid. It is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. The catalyst core is preferably palladium.

【0021】(d)触媒核を付与した後、めっきレジス
トを形成するための感光性樹脂層7を形成する(図
5)。基板上方から見た図を図13に記載する。なお感
光性樹脂は、孔61にも充填される。めっきレジスト形
成のための感光性樹脂としては、市販品を使用してもよ
く、あるいは、エポキシ樹脂をアクリル酸やメタクリル
酸などと反応させたエポキシアクリレートとイミダゾー
ル硬化剤からなる組成物やエポキシアクリレート、ポリ
エーテルスルホンおよびイミダゾール硬化剤からなる組
成物がよい。
(D) After providing the catalyst nuclei, a photosensitive resin layer 7 for forming a plating resist is formed (FIG. 5). FIG. 13 shows a view from above the substrate. The hole 61 is filled with the photosensitive resin. As the photosensitive resin for forming the plating resist, commercially available products may be used, or a composition or epoxy acrylate comprising an epoxy acrylate and an imidazole curing agent obtained by reacting an epoxy resin with acrylic acid or methacrylic acid, A composition comprising a polyether sulfone and an imidazole curing agent is preferred.

【0022】エポキシアクリレートは、全エポキシ基の
20〜80%がアクリル酸やメタクリル酸などと反応し
たものが望ましい。アクリル化率が高過ぎるとOH基に
よる親水性が高くなり吸湿性が上がり、アクリル化率が
低過ぎると解像度が低下する。また、基本骨格樹脂であ
るエポキシ樹脂としては、ノボラック型エポキシ樹脂が
望ましい。架橋密度が高く、硬化物の吸水率が0.1%
以下に調整でき、耐塩基性に優れるからである。ノボラ
ック型エポキシ樹脂としては、クレゾールノボラック
型、フェノールノボラック型がある。
The epoxy acrylate is preferably one in which 20 to 80% of all epoxy groups have reacted with acrylic acid or methacrylic acid. If the acrylate ratio is too high, the hydrophilicity due to the OH group increases, and the hygroscopicity increases. If the acrylate ratio is too low, the resolution decreases. As the epoxy resin as the basic skeleton resin, a novolak type epoxy resin is desirable. High crosslinking density, 0.1% water absorption of cured product
This is because it can be adjusted to the following, and has excellent base resistance. Novolak type epoxy resins include cresol novolak type and phenol novolak type.

【0023】感光性樹脂層7形成後、導体パターン8
3、正方形の面の一部が円形にくり抜かれた基準マーク
のパターン82、位置決めマーク81が描画されたフォ
トマスクフィルム8を載置する。次にめっきレジスト形
成用の感光性樹脂層および層間樹脂絶縁材層を介して認
識できる下層の基準マーク2の円を位置決めマーク81
の円に合わせるのである(図6)。この場合、基準マー
クの円の直径と位置決めマーク81の円の直径の差がず
れ許容量である。位置決めマーク81の直径は、基準マ
ーク2の円よりも同一か、もしくは小さい。逆の場合は
位置合わせできないからである。
After the formation of the photosensitive resin layer 7, the conductor pattern 8
3. A photomask film 8 on which a reference mark pattern 82 in which a part of a square surface is hollowed out and a positioning mark 81 is drawn is placed. Next, the circle of the lower reference mark 2 that can be recognized through the photosensitive resin layer for forming the plating resist and the interlayer resin insulating material layer is positioned as the positioning mark 81.
(Fig. 6). In this case, the difference between the diameter of the reference mark circle and the diameter of the positioning mark 81 is the deviation allowable amount. The diameter of the positioning mark 81 is the same as or smaller than the circle of the reference mark 2. In the opposite case, the positioning cannot be performed.

【0024】基板上方から見た図を図14に記載する。
基準マーク2は、層間樹脂絶縁材層3の1層のみと透光
性の感光性樹脂層7を介して認識できる。位置合わせ
後、紫外線露光する。ついでDMTG(トリエチレング
チコールジメチルエーテル)などの有機溶媒等で現像処
理し、めっきレジスト71を形成する(図7)。基板上
方から見た図を図15に記載する。
FIG. 14 shows a view from above the substrate.
The reference mark 2 can be recognized through only one of the interlayer resin insulating material layers 3 and the light-transmitting photosensitive resin layer 7. After alignment, the substrate is exposed to ultraviolet light. Then, development treatment is performed with an organic solvent such as DMTG (triethylene glycol dimethyl ether) or the like to form a plating resist 71 (FIG. 7). FIG. 15 shows a view from above the substrate.

【0025】(e)めっきレジスト71が、形成されて
いない部分(導体パターン形成部73、基準マーク形成
部72、および位置決めマークにより形成された孔74
に一次めっきを施す。一次めっきとしては、銅、ニッケ
ル、コバルトおよびリンから選ばれる少なくとも2種以
上の金属イオンを使用することが必要であるが、この理
由は、これらの合金は強度が高く、ピール強度を向上さ
せることができるからである。一次の無電解めっき液で
は、銅、ニッケルおよびコバルトから選ばれる少なくと
も2種以上の金属イオンを使用することが必要である
が、この理由は、これらの合金は強度が高く、ピール強
度を向上させることができるからである。また、ヒドロ
キシカルボン酸が必要であるが、これは錯化剤として作
用して、銅、ニッケル、コバルトイオンと塩基性条件下
で安定した錯体を形成するからである。
(E) Portion where plating resist 71 is not formed (conductor pattern forming portion 73, reference mark forming portion 72, and hole 74 formed by positioning mark)
Is subjected to primary plating. As the primary plating, it is necessary to use at least two kinds of metal ions selected from copper, nickel, cobalt, and phosphorus. This is because these alloys have high strength and improve peel strength. Because it can be. In the primary electroless plating solution, it is necessary to use at least two or more types of metal ions selected from copper, nickel and cobalt. This is because these alloys have high strength and improve peel strength. Because you can do it. Also, a hydroxycarboxylic acid is required because it acts as a complexing agent and forms a stable complex with copper, nickel and cobalt ions under basic conditions.

【0026】この無電解めっき液では、還元剤が必要で
あるが、金属イオンを還元して金属元素にするためであ
る。還元剤は、次亜リン酸塩がよい。ニッケルを析出さ
せることができるからである。
This electroless plating solution requires a reducing agent, but this is for reducing metal ions to metal elements. The reducing agent is preferably hypophosphite. This is because nickel can be precipitated.

【0027】本願発明で使用されるpH調整剤は、水酸
化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化カルシウムから
選ばれる少なくとも1種であり、塩基性化合物である。
ヒドロキシカルボン酸は、塩基性条件下でニッケルイオ
ンなどと錯体を形成するからである。
The pH adjuster used in the present invention is at least one selected from sodium hydroxide, potassium hydroxide and calcium hydroxide, and is a basic compound.
This is because hydroxycarboxylic acid forms a complex with nickel ions and the like under basic conditions.

【0028】また、還元剤は、アルデヒド、次亜リン酸
塩(ホスフィン酸塩と呼ばれる)、水素化ホウ素塩、ヒ
ドラジンから選ばれる少なくとも1種であることが望ま
しい。これらの還元剤は、水溶性であり、還元力に優れ
るからである。前記ヒドロキシカルボン酸としては、ク
エン酸、リンゴ酸、酒石酸などが望ましい。これらは、
ニッケル、コバルト、銅と錯体を形成しやすいからであ
る。
The reducing agent is desirably at least one selected from aldehydes, hypophosphites (called phosphinates), borohydrides, and hydrazines. This is because these reducing agents are water-soluble and have excellent reducing power. As the hydroxycarboxylic acid, citric acid, malic acid, tartaric acid and the like are desirable. They are,
This is because it is easy to form a complex with nickel, cobalt, and copper.

【0029】このような本願発明のめっき液により形成
された一次めっき膜は、無電解めっき用接着剤層の粗化
面に対する追従性に優れ、粗化面の形態をそのままトレ
ースする。そのため、一次めっき膜は、粗化面と同様に
アンカーを持つ。従って、この一次めっき膜上に形成さ
れる二次めっき膜は、このアンカーにより、密着が確保
されるのである。一次めっき膜はピール強度を支配する
ため、強度が高い本願発明のめっき液により析出するめ
っき膜が望ましく、二次めっき膜は電気導電性が高く、
析出速度が早いことが望ましいので、複合めっきよりも
単純な銅めっきが望ましい。
The primary plating film formed by using the plating solution of the present invention has excellent followability to the roughened surface of the adhesive layer for electroless plating, and traces the form of the roughened surface as it is. Therefore, the primary plating film has an anchor like the roughened surface. Therefore, the anchor of the secondary plating film formed on the primary plating film is secured by the anchor. Since the primary plating film controls the peel strength, a plating film deposited by the plating solution of the present invention having high strength is desirable, and the secondary plating film has high electric conductivity,
Since a high deposition rate is desirable, simple copper plating is more desirable than composite plating.

【0030】二次めっき膜は、銅めっき膜である。二次
めっき膜は、次の無電解めっき液に浸漬することにより
形成されることが望ましい。銅イオン、トリアルカノー
ルアミン、還元剤、pH調整剤からなる無電解めっき液
である。前記トリアルカノールアミンは、トリエタノー
ルアミン、トリイソパノールアミン、トリメタノールア
ミン、トリプロパノールアミンから選ばれる少なくとも
1種であることが望ましい。水溶性だからである。
The secondary plating film is a copper plating film. The secondary plating film is desirably formed by dipping in the next electroless plating solution. An electroless plating solution comprising copper ions, trialkanolamine, a reducing agent, and a pH adjuster. The trialkanolamine is desirably at least one selected from triethanolamine, triisopanolamine, trimethanolamine, and tripropanolamine. Because it is water-soluble.

【0031】二次無電解めっき液に用いられる還元剤
は、アルデヒド、次亜リン酸塩、水素化ホウ素塩、ヒド
ラジンから選ばれる少なくとも1種であることが望まし
い。水溶性であり、塩基性条件下で還元力を持つからで
ある。また、pH調整剤は、水酸化ナトリウム、水酸化
カリウム、水酸化カルシウムから選ばれる少なくとも1
種であることが望ましい。
The reducing agent used in the secondary electroless plating solution is desirably at least one selected from aldehyde, hypophosphite, borohydride, and hydrazine. This is because it is water-soluble and has a reducing power under basic conditions. Further, the pH adjuster is at least one selected from sodium hydroxide, potassium hydroxide and calcium hydroxide.
Desirably a seed.

【0032】このようにして、一次めっき膜と二次めっ
き膜からなる導体パターン91、バイアホール93、新
たな基準マーク92(基準マーク92の周りにめっきを
析出させ、非析出部分つまり円形のめっきレジストの部
分を基準マーク92とする)を形成する。また、位置決
めマークにより形成された孔74にもめっきが充填され
て、指標マーク94が形成される。
In this manner, the conductor pattern 91 composed of the primary plating film and the secondary plating film, the via hole 93, the new reference mark 92 (the plating is deposited around the reference mark 92, and the non-deposited portion, ie, the circular plating The resist portion is used as a reference mark 92). The plating is also filled in the hole 74 formed by the positioning mark, and the index mark 94 is formed.

【0033】新たな基準マーク92は、基板上方から見
た場合に、最初の基準マーク2と重ならない位置であっ
て、基準マーク2に隣接する位置に設けられる(図1
6)。重なると基準マークを認識しにくく、また離れた
位置にあると基準マークを探さなければならず、作業効
率が低下するからである。指標マーク94の中心点と最
初の基準マーク2の円の中心点とのずれが、パターン9
1やバイアホール93のずれ量になる。
The new reference mark 92 is provided at a position not overlapping with the first reference mark 2 when viewed from above the substrate and adjacent to the reference mark 2 (FIG. 1).
6). This is because if they overlap, it is difficult to recognize the fiducial marks, and if they are far apart, the fiducial marks must be searched for, which lowers the work efficiency. The deviation between the center point of the index mark 94 and the center point of the circle of the first reference mark 2 is the pattern 9
1 or the amount of deviation of the via hole 93.

【0033】さらに多層化する場合は、新たな基準マー
ク92について(a)〜(e)の工程を繰り返す。
In the case of further multilayering, the steps (a) to (e) are repeated for a new reference mark 92.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上詳述したように、本願発明によれ
ば、基準マークは、どの層を形成する場合でも常に感光
性樹脂層および層間樹脂絶縁材層1層のみを介して認識
できるため、多層化しても基準マークが認識できなくな
ることはなく、フォトマスクの位置合わせ精度に優れる
ため、ビルドアップ多層プリント配線板を精度よく製造
できる。
As described above in detail, according to the present invention, the reference mark can always be recognized only through the photosensitive resin layer and the interlayer resin insulating material layer, regardless of which layer is formed. The reference mark is not unrecognizable even when the layers are multilayered, and the alignment accuracy of the photomask is excellent, so that a build-up multilayer printed wiring board can be manufactured with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】〜FIG. 1

【図8】 本願製造方法の概念図(斜視図)FIG. 8 is a conceptual diagram (perspective view) of the manufacturing method of the present invention.

【図9】〜FIG. 9

【図16】 本願製造方法の概念図(基板上方からみた
平面図)
FIG. 16 is a conceptual diagram of the manufacturing method of the present application (a plan view as viewed from above the substrate).

【符号の簡単な説明】[Brief description of reference numerals]

1 基板 2 基準マーク(最初のもの) 3 層間樹脂絶縁材層 4 フォトマスクフィルム 51 位置決めマーク 52 バイアホールの円パターン 6 バイアホール形成用の孔 71 感光性樹脂層 72 新たな基準マークの形成部 73 導体パターンの形成部 74 位置決めマークにより形成された孔 8 フォトマスクフィルム 81 位置決めマーク 82 基準マークのパターン 83 導体パターン 91 導体回路 93 バイアホール 92 新たな基準マーク 94 指標マーク REFERENCE SIGNS LIST 1 substrate 2 fiducial mark (first) 3 interlayer resin insulating material layer 4 photomask film 51 positioning mark 52 circular pattern of via hole 6 hole for forming via hole 71 photosensitive resin layer 72 new fiducial mark forming part 73 Forming part of conductor pattern 74 Hole formed by positioning mark 8 Photomask film 81 Positioning mark 82 Pattern of reference mark 83 Conductor pattern 91 Conductor circuit 93 Via hole 92 New reference mark 94 Index mark

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 以下の(a)〜(e)の工程を含むこと
を特徴とする多層プリント配線板の製造方法。 (a)導体面の一部が円形にくり抜かれて形成されてな
る基準マークが設けられた基板に層間樹脂絶縁材層を形
成する工程。 (b)前記基準マークを利用して層間樹脂絶縁材層にバ
イアホール形成用の孔を設ける工程。 (c)感光性樹脂層を形成する工程。 (d)基準マークであるくり抜かれた円形部分と同径も
しくはそれよりも小さい径を持つ円からなる位置決めマ
ーク、面の一部が円形にくり抜かれて形成されてなる基
準マークのパターンおよび導体パターンが描画されたフ
ォトマスクフィルムを前記感光性樹脂層上に載置し、位
置決めマークを感光性樹脂層および層間樹脂絶縁材層を
介して認識できる下層の基準マークに合わせた後、感光
性樹脂層を露光、現像処理して、導体パターンと下層の
基準マークと重ならない位置に新たな基準マークを形成
するためのめっきレジストを形成する工程。 (e)無電解めっきにより、導体パターンおよび基準マ
ークを形成する工程。
1. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising the following steps (a) to (e). (A) A step of forming an interlayer resin insulating material layer on a substrate provided with a reference mark formed by cutting a part of a conductor surface into a circular shape. (B) forming a hole for forming a via hole in the interlayer resin insulating material layer using the reference mark; (C) forming a photosensitive resin layer; (D) A positioning mark composed of a circle having the same diameter as or smaller than the hollow part which is the fiducial mark, a reference mark pattern and a conductor pattern formed by cutting a part of the surface into a circular shape. Is placed on the photosensitive resin layer, and the positioning mark is aligned with the lower reference mark that can be recognized through the photosensitive resin layer and the interlayer resin insulating material layer. Exposing and developing to form a plating resist for forming a new reference mark at a position that does not overlap the conductor pattern and the lower reference mark. (E) forming a conductor pattern and a reference mark by electroless plating;
【請求項2】 前記工程(b)において、導体面の金属
光沢による反射あるいは、透過光によるシルエットによ
り、基準マークを画像認識して、基板の位置を認識する
とともに、バイアホールの形成位置座標を演算し、レー
ザーにより層間樹脂絶縁材層に孔明けを行う請求項1に
記載の多層プリント配線板の製造方法。
2. In the step (b), the reference mark is image-recognized based on the silhouette of the conductor surface reflected by metallic luster or transmitted light, and the position of the substrate is recognized. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the calculation is performed, and a hole is formed in the interlayer resin insulating material layer by a laser.
【請求項3】 前記工程(b)において、バイアホール
形成のための孔に相当する円パターンおよび基準マーク
であるくり抜かれた円形部分と同径もしくはそれよりも
小さい径を持つ円からなる位置決めマークが描画された
フォトマスクフィルムを載置し、位置決めマークを層間
樹脂絶縁材層を介して認識できる下層の基準マークに合
わせた後、露光、現像処理して層間樹脂絶縁材層に孔明
けを行う請求項1に記載の多層プリント配線板の製造方
法。
3. In the step (b), a positioning mark comprising a circle pattern corresponding to a hole for forming a via hole and a circle having a diameter equal to or smaller than that of a hollowed-out circular portion serving as a reference mark. A photomask film on which is drawn is placed, and the positioning mark is aligned with a lower reference mark that can be recognized through the interlayer resin insulating material layer, and then exposed and developed to make a hole in the interlayer resin insulating material layer. A method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1.
【請求項4】 前記(a)〜(e)の工程を2回以上繰
り返す請求項1に記載の多層プリント配線板の製造方
法。
4. The method according to claim 1, wherein the steps (a) to (e) are repeated two or more times.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2016146230A (en) * 2016-03-14 2016-08-12 大日本印刷株式会社 Suspension flexure substrate, suspension, suspension with head, hard disk drive, method for manufacturing the suspension flexure substrate, and method for inspecting the suspension flexure substrate
JP2017199849A (en) * 2016-04-28 2017-11-02 日亜化学工業株式会社 Method for manufacturing light-emitting device, method for manufacturing laser module, and light-emitting device

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