JPH1038692A - 構造物の亀裂検査方法 - Google Patents
構造物の亀裂検査方法Info
- Publication number
- JPH1038692A JPH1038692A JP19469096A JP19469096A JPH1038692A JP H1038692 A JPH1038692 A JP H1038692A JP 19469096 A JP19469096 A JP 19469096A JP 19469096 A JP19469096 A JP 19469096A JP H1038692 A JPH1038692 A JP H1038692A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating film
- film layer
- crack
- coating layer
- cracks
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、定期検査または不定期検査時に、
計測器を使用することなく、目視により簡単に亀裂を検
査できる方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 構造物１の溶接ビード部２上に、所定の
色調を有した合成樹脂による第１の塗膜層４を形成し、
その上に前記第１の塗膜層と異なる色調を有するととも
に前記第１の塗膜層を隠蔽する第２の塗膜層５を形成す
る。そして、溶接ビード部２に亀裂６が発生すると、第
１の塗膜層４および第２の塗膜層５にも亀裂が伝播して
隙間７、８が発生する。その結果、矢印の方向から目視
することによって、前記第２の塗膜層５に生じた亀裂の
隙間８を通して前記第１の塗膜層４の色を感知すること
となり、容易に前記構造物の亀裂発生が検知される。
計測器を使用することなく、目視により簡単に亀裂を検
査できる方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 構造物１の溶接ビード部２上に、所定の
色調を有した合成樹脂による第１の塗膜層４を形成し、
その上に前記第１の塗膜層と異なる色調を有するととも
に前記第１の塗膜層を隠蔽する第２の塗膜層５を形成す
る。そして、溶接ビード部２に亀裂６が発生すると、第
１の塗膜層４および第２の塗膜層５にも亀裂が伝播して
隙間７、８が発生する。その結果、矢印の方向から目視
することによって、前記第２の塗膜層５に生じた亀裂の
隙間８を通して前記第１の塗膜層４の色を感知すること
となり、容易に前記構造物の亀裂発生が検知される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は構造物の亀裂検査方
法に係り、特に溶接構造物の疲労亀裂の検査方法に関す
るものである。
法に係り、特に溶接構造物の疲労亀裂の検査方法に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】溶接構造物は溶接後亀裂による欠陥を皆
無にするために、一般に磁粉探傷や、蛍光探傷等の機器
による厳重な検査を行なっている。上記検査にパスした
溶接構造物等は塗装を行ない、各用途に応じて使用され
る。
無にするために、一般に磁粉探傷や、蛍光探傷等の機器
による厳重な検査を行なっている。上記検査にパスした
溶接構造物等は塗装を行ない、各用途に応じて使用され
る。
【０００３】しかしながら、溶接構造物は経時によっ
て、局所に疲労亀裂を発生する場合がある。疲労亀裂は
徐々に進展するものであり、定期的、又は不定期的に溶
接構造物の亀裂検査を行なうことによって大事に至らな
いようにしている。
て、局所に疲労亀裂を発生する場合がある。疲労亀裂は
徐々に進展するものであり、定期的、又は不定期的に溶
接構造物の亀裂検査を行なうことによって大事に至らな
いようにしている。
【０００４】上記のような定期的、又は不定期的に溶接
構造物の亀裂検査を行なう検査方法としては、磁粉探傷
や、蛍光探傷等の機器による検査方法が採用されてい
る。
構造物の亀裂検査を行なう検査方法としては、磁粉探傷
や、蛍光探傷等の機器による検査方法が採用されてい
る。
【０００５】しかし、上記のような検査方法では検査機
器及びその付属品の運搬、取扱い等が煩雑であり、ま
た、時間を要していた。
器及びその付属品の運搬、取扱い等が煩雑であり、ま
た、時間を要していた。
【０００６】そこで、そのような欠点を改善するものと
して、これまでに種々の検査方法が検討されてきた。
して、これまでに種々の検査方法が検討されてきた。
【０００７】特開平４−５０６３４号公報には、構造物
より疲労寿命が短いゲージの亀裂状態をクラックゲージ
の抵抗値変化として検出し、ゲージの破断時間を求める
ことにより、構造物の寿命を高精度に推定する方法が開
示されている（先行技術１）。
より疲労寿命が短いゲージの亀裂状態をクラックゲージ
の抵抗値変化として検出し、ゲージの破断時間を求める
ことにより、構造物の寿命を高精度に推定する方法が開
示されている（先行技術１）。
【０００８】特開平４−１６９８３６公報には、細線の
破断時期から対象構造物の歪変動幅を求めることによ
り、精度良く疲労損傷発生時期を予知する方法が開示さ
れている（先行技術２）。
破断時期から対象構造物の歪変動幅を求めることによ
り、精度良く疲労損傷発生時期を予知する方法が開示さ
れている（先行技術２）。
【０００９】また、実開平１−１８０７５７号公報に
は、構造物の亀裂検出個所にリボン状導電膜を形成し、
その両端に導通検出器を接続して、リボン状導電膜が亀
裂の発生とともに破断されるのを導通検出器により検出
することで、早期に疲労亀裂の発生を検知する方法が開
示されている（先行技術３）。
は、構造物の亀裂検出個所にリボン状導電膜を形成し、
その両端に導通検出器を接続して、リボン状導電膜が亀
裂の発生とともに破断されるのを導通検出器により検出
することで、早期に疲労亀裂の発生を検知する方法が開
示されている（先行技術３）。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た先行技術１、先行技術２、先行技術３に示される技術
には以下のような問題がある。
た先行技術１、先行技術２、先行技術３に示される技術
には以下のような問題がある。
【００１１】先行技術１では、構造物に固着したゲージ
の抵抗をテスターで測定する必要がある。
の抵抗をテスターで測定する必要がある。
【００１２】先行技術２では、構造物に貼付した細線の
導通状態を計測器で測定する必要がある。
導通状態を計測器で測定する必要がある。
【００１３】先行技術３では、構造物の亀裂検出個所に
形成したリボン状導電膜の導通状態を導通検出器で測定
する必要がある。
形成したリボン状導電膜の導通状態を導通検出器で測定
する必要がある。
【００１４】つまり、いづれの先行技術も、高精度の検
査方法ではあるが、計測機器を必要として、取扱等が煩
雑で手間を要するという問題がある。また、狭隘な場所
とか部材が入り組んだ個所等を検査する場合には、計測
機器を使用することが難しく適用できないということも
ありえる。
査方法ではあるが、計測機器を必要として、取扱等が煩
雑で手間を要するという問題がある。また、狭隘な場所
とか部材が入り組んだ個所等を検査する場合には、計測
機器を使用することが難しく適用できないということも
ありえる。
【００１５】本発明は、上記のような問題を解決するた
めになされたものであり、必要とされる亀裂検査精度
は、次の検査時までに事故につながる危険性のある寸法
の亀裂を見落とさない程度の検査精度でよいという立場
にたって、前記先行技術のような計測器を使用しなくと
も、簡単に亀裂を検査できる方法を提供することを目的
とするものである。
めになされたものであり、必要とされる亀裂検査精度
は、次の検査時までに事故につながる危険性のある寸法
の亀裂を見落とさない程度の検査精度でよいという立場
にたって、前記先行技術のような計測器を使用しなくと
も、簡単に亀裂を検査できる方法を提供することを目的
とするものである。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る亀裂検査方
法は、構造物上の亀裂発生の生じ易い個所に、所定の色
調を有する第１の塗膜層と、前記第１の塗膜層と異なる
色調を有するとともに前記第１の塗膜層を隠蔽する第２
の塗膜層とを形成しておき、前記構造物に亀裂が生じた
際に、それにともなって生じる前記第２の塗膜層の亀裂
の隙間から前記第１の塗膜層の色を感知することで前記
構造物の亀裂発生を検知できるようにしたことを特徴と
する構造物の亀裂検査方法である。
法は、構造物上の亀裂発生の生じ易い個所に、所定の色
調を有する第１の塗膜層と、前記第１の塗膜層と異なる
色調を有するとともに前記第１の塗膜層を隠蔽する第２
の塗膜層とを形成しておき、前記構造物に亀裂が生じた
際に、それにともなって生じる前記第２の塗膜層の亀裂
の隙間から前記第１の塗膜層の色を感知することで前記
構造物の亀裂発生を検知できるようにしたことを特徴と
する構造物の亀裂検査方法である。
【００１７】
【発明の実施の形態】図１は本発明の実施の形態の概略
を示す図である。
を示す図である。
【００１８】構造物１の疲労亀裂発生の危険性がある個
所、例えば、溶接ビード部２上に、所定の色調を有した
合成樹脂による第１の塗膜層４を形成し、その上に前記
第１の塗膜層と異なる色調を有するとともに前記第１の
塗膜層を隠蔽する第２の塗膜層５を形成する。
所、例えば、溶接ビード部２上に、所定の色調を有した
合成樹脂による第１の塗膜層４を形成し、その上に前記
第１の塗膜層と異なる色調を有するとともに前記第１の
塗膜層を隠蔽する第２の塗膜層５を形成する。
【００１９】上記の合成樹脂としては、エポキシ樹脂、
フェノール樹脂、アルキド樹脂等を適宜選択して使用す
ればよい。そして、通常の塗料で使用される無機顔料及
び有機顔料を含有させることで必要な色調が得られる。
フェノール樹脂、アルキド樹脂等を適宜選択して使用す
ればよい。そして、通常の塗料で使用される無機顔料及
び有機顔料を含有させることで必要な色調が得られる。
【００２０】無機顔料では、白色には酸化チタン（Ｔｉ
Ｏ2 ）、亜鉛華（ＺｎＯ2 ）等、黒色の場合にはカーボ
ンブラック（Ｃ）、黒鉛（Ｃ）、鉄黒（Ｆｅ2 Ｏ3 ）等
茶色の場合にはべんから（Ｆｅ2 Ｏ3 ）、橙色にはクロ
ムバーミリオン（ＰｂＣｒＯ 4 ・ＰｂＯ）、モリブデー
トオレンジ（ＰｂＣｒＯ4 ・ＰｂＭｏＯ4 ・ＰｂＳ
Ｏ 4 ）等、黄色には黄鉛（ＰｂＣｒＯ4 ・ＰｂＳ
Ｏ4 ）、チタンエロー（ＴｉＯ2・ＮｉＯ・Ｓｂ
2 Ｏ2 ）等、青色には紺青［〔Ｆｅ4 （ＣＮ）6 〕3 ・
ｎＨ2 Ｏ］等を用いればよい。
Ｏ2 ）、亜鉛華（ＺｎＯ2 ）等、黒色の場合にはカーボ
ンブラック（Ｃ）、黒鉛（Ｃ）、鉄黒（Ｆｅ2 Ｏ3 ）等
茶色の場合にはべんから（Ｆｅ2 Ｏ3 ）、橙色にはクロ
ムバーミリオン（ＰｂＣｒＯ 4 ・ＰｂＯ）、モリブデー
トオレンジ（ＰｂＣｒＯ4 ・ＰｂＭｏＯ4 ・ＰｂＳ
Ｏ 4 ）等、黄色には黄鉛（ＰｂＣｒＯ4 ・ＰｂＳ
Ｏ4 ）、チタンエロー（ＴｉＯ2・ＮｉＯ・Ｓｂ
2 Ｏ2 ）等、青色には紺青［〔Ｆｅ4 （ＣＮ）6 〕3 ・
ｎＨ2 Ｏ］等を用いればよい。
【００２１】有機顔料では、黄色〜赤色にはアゾレーキ
顔料、不溶性アゾレーキ顔料等、青色〜緑色にはフタロ
シアニン、インダンスレーンブルー等を用いればよい。
顔料、不溶性アゾレーキ顔料等、青色〜緑色にはフタロ
シアニン、インダンスレーンブルー等を用いればよい。
【００２２】なお、第１の塗膜層４の色調と第２の塗膜
層５の色調とはできるだけコントラストがある方が好ま
しい。例えば、第１の塗膜層４を赤色、第２の塗膜層５
を白色にするといった具合である。
層５の色調とはできるだけコントラストがある方が好ま
しい。例えば、第１の塗膜層４を赤色、第２の塗膜層５
を白色にするといった具合である。
【００２３】そして、溶接ビード部２に亀裂６が発生す
ると、第１の塗膜層４および第２の塗膜層５にも亀裂が
伝播して隙間７、８が発生する。その結果、定期検査ま
たは不定期検査時に、監視者が矢印の方向から目視する
ことによって、前記第２の塗膜層５に生じた亀裂の隙間
８を通して前記第１の塗膜層４の色を感知することとな
り、容易に前記構造物の亀裂発生が検知される。これに
より、監視者は適切な対応処置をとることができる。
ると、第１の塗膜層４および第２の塗膜層５にも亀裂が
伝播して隙間７、８が発生する。その結果、定期検査ま
たは不定期検査時に、監視者が矢印の方向から目視する
ことによって、前記第２の塗膜層５に生じた亀裂の隙間
８を通して前記第１の塗膜層４の色を感知することとな
り、容易に前記構造物の亀裂発生が検知される。これに
より、監視者は適切な対応処置をとることができる。
【００２４】なお、前記第２の塗膜層４にガラスを分散
させておけば、ガラス特有の反射等によって、より容易
に感知できる。
させておけば、ガラス特有の反射等によって、より容易
に感知できる。
【００２５】また、前記第２の塗膜層４として、蛍光塗
料による塗膜層を形成すれば、比較的暗い場所でも感知
が容易になる。
料による塗膜層を形成すれば、比較的暗い場所でも感知
が容易になる。
【００２６】そして、疲労亀裂の進展速度を考慮して、
次の検査時までに事故につながる寸法の亀裂を見落とさ
ないように、例えば、溶接構造物では経験的な目安とし
て、長さ３０ｍｍ深さ１〜２ｍｍ程度の亀裂を検知でき
るように、塗膜層の条件等を設定すればよい。
次の検査時までに事故につながる寸法の亀裂を見落とさ
ないように、例えば、溶接構造物では経験的な目安とし
て、長さ３０ｍｍ深さ１〜２ｍｍ程度の亀裂を検知でき
るように、塗膜層の条件等を設定すればよい。
【００２７】
【発明の効果】本発明によれば、定期的、又は不定期的
に溶接構造物の亀裂検査を行なう際に、計測器を使用す
ることなく、次の検査時までに事故につながる危険性の
ある亀裂を容易に検知することができる。
に溶接構造物の亀裂検査を行なう際に、計測器を使用す
ることなく、次の検査時までに事故につながる危険性の
ある亀裂を容易に検知することができる。
【図１】本発明の一実施の形態の概略を示す図である。
１ 構造物 ２ 溶接ビード部 ４ 第１の塗膜層 ５ 第２の塗膜層 ６ 構造物の亀裂 ７ 第１の塗膜層の隙間 ８ 第２の塗膜層の隙間
Claims (1)
- 【請求項１】 構造物上の亀裂発生の生じ易い個所に、
所定の色調を有する第１の塗膜層と、前記第１の塗膜層
と異なる色調を有するとともに前記第１の塗膜層を隠蔽
する第２の塗膜層とを形成しておき、前記構造物に亀裂
が生じた際に、それにともなって生じる前記第２の塗膜
層の亀裂の隙間から前記第１の塗膜層の色を感知するこ
とで前記構造物の亀裂発生を検知できるようにしたこと
を特徴とする構造物の亀裂検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19469096A JPH1038692A (ja) | 1996-07-24 | 1996-07-24 | 構造物の亀裂検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19469096A JPH1038692A (ja) | 1996-07-24 | 1996-07-24 | 構造物の亀裂検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1038692A true JPH1038692A (ja) | 1998-02-13 |
Family
ID=16328669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19469096A Pending JPH1038692A (ja) | 1996-07-24 | 1996-07-24 | 構造物の亀裂検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1038692A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| USRE41481E1 (en) | 2000-12-04 | 2010-08-10 | Lg Electronics, Inc. | Method and apparatus of composing menu for users |
| JP2011214988A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Kett Electric Laboratory | 穀粒鑑定具 |
| JP2013083493A (ja) * | 2011-10-07 | 2013-05-09 | Koichi Takahashi | 構造物の劣化検査方法、構造物及び塗料 |
| JP2013088405A (ja) * | 2011-10-21 | 2013-05-13 | Toagosei Co Ltd | コンクリート構造物及びその製造方法 |
| WO2015137768A1 (ko) * | 2014-03-13 | 2015-09-17 | 삼성중공업 주식회사 | 해상구조물의 표면결함 식별장치 |
| WO2021182461A1 (ja) * | 2020-03-13 | 2021-09-16 | マクセルホールディングス株式会社 | 積層体 |
-
1996
- 1996-07-24 JP JP19469096A patent/JPH1038692A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| USRE41481E1 (en) | 2000-12-04 | 2010-08-10 | Lg Electronics, Inc. | Method and apparatus of composing menu for users |
| JP2011214988A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Kett Electric Laboratory | 穀粒鑑定具 |
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| CN106104648A (zh) * | 2014-03-13 | 2016-11-09 | 三星重工业有限公司 | 海上构筑物的表面缺陷识别装置 |
| JP2017518479A (ja) * | 2014-03-13 | 2017-07-06 | サムスン ヘビー インダストリーズ カンパニー リミテッド | 海上構造物の表面欠陥識別装置 |
| CN106104648B (zh) * | 2014-03-13 | 2019-07-12 | 三星重工业有限公司 | 海上构筑物的表面缺陷识别装置 |
| WO2021182461A1 (ja) * | 2020-03-13 | 2021-09-16 | マクセルホールディングス株式会社 | 積層体 |
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