JPH10332754A - Proximity electromagnetic field probe, electromagnetic field measuring device using it, and method thereof - Google Patents

Proximity electromagnetic field probe, electromagnetic field measuring device using it, and method thereof

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JPH10332754A
JPH10332754A JP13808697A JP13808697A JPH10332754A JP H10332754 A JPH10332754 A JP H10332754A JP 13808697 A JP13808697 A JP 13808697A JP 13808697 A JP13808697 A JP 13808697A JP H10332754 A JPH10332754 A JP H10332754A
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JP
Japan
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antenna
electromagnetic field
field probe
angle
proximity
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Withdrawn
Application number
JP13808697A
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Japanese (ja)
Inventor
Takayoshi Kosone
卓義 小曽根
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Sega Corp
Original Assignee
Sega Enterprises Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent emitted noise from being transmitted to a measuring cable and a handle part by supporting an antenna receiving emitted electromagnetic wave from an object to be measured with the handle part connected to the measuring cable at an optional angle. SOLUTION: A connector 12 connected to the end part of a coaxial (measuring) cable 10 is formed with posts 14a, 14b on the end part, and their end parts are respectively formed with ring-like supporting parts 16a, 16b. An antenna 18 receiving emitted electromagnetic wave of an object to be measured is formed so that the circumference of a copper wire except both end parts is coated with insulating material 22, terminals 20a, 20b for connecting to the supporting parts 16a, 16b are formed on both end parts, and conductive grease is spread on the contact faces so as to prevent contact from being defective. The antenna 8 is rotated against the supporting parts 16a, 16b, and the shapes of the supporting parts 16a, 16b and the terminals 20a, 20b are set so as to obtain fixed frictional force to be fixed at an optional angle. Hereby, because the angle of the antenna 8 can be optionally set, emitted noise can be prevented from being transmitted to the coaxial cable 10 and the connector 12.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物から放射
される電磁波を測定する近接電磁界プローブ及びそれを
用いた電磁界測定装置及び電磁界測定方法に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a proximity electromagnetic field probe for measuring electromagnetic waves radiated from an object to be measured, an electromagnetic field measurement apparatus and an electromagnetic field measurement method using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器から発生する放射ノイズ
の問題が、EMC(ElectroMagneticCompatibility、電
磁環境両立性)の観点より重要視されている。国際的に
はCISPR(Comite International Special des Per
turbations Radioelectriques)により放射ノイズの規
制規格が提案され、各国において独自の規制規格なども
制定されながら、放射ノイズの規制がすすめられてい
る。日本国内においては、自主規制として、VCCI
(Voluntary Control Council forInterference by inf
ormation technology equipment、情報処理装置等電波
障害自主規制協議会)による放射ノイズの規制規格が提
案されている。
2. Description of the Related Art In recent years, the problem of radiation noise generated from electronic equipment has been emphasized from the viewpoint of EMC (ElectroMagnetic Compatibility). Internationally, CISPR (Comite International Special des Per
Regulations for radiation noise have been proposed by turbations (radio-electriques), and regulations on radiation noise are being promoted while individual regulations are being established in each country. In Japan, voluntary regulations include VCCI
(Voluntary Control Council for Interference by inf
Regulations on radiation noise have been proposed by the Voluntary Control Council for Radio Interference such as ormation technology equipment and information processing equipment.

【0003】メーカでの電子機器の製品開発において
は、一般に、放射ノイズの発生源を突き止める場合には
近接電磁界評価用のプローブを用いて測定し、電子機器
が放射ノイズの規制規格に適合しているか否かを評価す
る場合には定められた正式な測定装置及び測定方法を用
いて測定している。従来の近接電磁界評価用のプローブ
を図14乃至図16を用いて説明する。図14は、従来
のプローブを示す上面図及び側面図である。図15及び
図16は、従来のプローブを用いた測定方法を示す断面
図である。
[0003] In the development of electronic equipment products by manufacturers, when locating the source of radiated noise, measurement is generally performed using a probe for proximity electromagnetic field evaluation, and the electronic equipment conforms to the radiated noise regulation standard. When evaluating whether or not the measurement is performed, the measurement is performed using the prescribed formal measuring device and measuring method. A conventional probe for evaluating a near electromagnetic field will be described with reference to FIGS. FIG. 14 is a top view and a side view showing a conventional probe. 15 and 16 are cross-sectional views showing a measurement method using a conventional probe.

【0004】図14に示すように、従来のプローブ11
9では、柄部112の端部にループアンテナ118が形
成され、ループアンテナ118は柄部112とほぼ平行
に形成されていた。プローブ119を用いて供試体12
8上の電子部品132aの放射ノイズを測定する場合
は、図15(a)に示すように、アンテナ118を電子
部品132aに近接し、測定ケーブルを介して接続され
たスペクトラムアナライザ等によりノイズレベルを測定
することができる。
[0004] As shown in FIG.
In No. 9, the loop antenna 118 was formed at the end of the handle 112, and the loop antenna 118 was formed substantially parallel to the handle 112. Specimen 12 using probe 119
When measuring the radiation noise of the electronic component 132a on the antenna 8, as shown in FIG. 15A, the antenna 118 is brought close to the electronic component 132a, and the noise level is reduced by a spectrum analyzer or the like connected via a measurement cable. Can be measured.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
プローブ119では、図15(b)のように供試体12
8に凹部130が形成されている場合には、凹部130
内の電子部品132bにアンテナ118を近接すること
ができなかった。このため、電子部品132aと電子部
品132bとを同じ条件で測定することができなかっ
た。
However, in the conventional probe 119, as shown in FIG.
8 is formed with the concave portion 130,
The antenna 118 could not be brought close to the electronic component 132b. For this reason, the electronic component 132a and the electronic component 132b could not be measured under the same conditions.

【0006】また、図16のように柄部112又は測定
ケーブルの下方に強い放射ノイズを発生する電子部品1
32cがある場合は、電子部品132cからの放射ノイ
ズが柄部112又は測定ケーブルに伝わってしまうこと
があった。これにより、放射ノイズの発生源を特定する
のが困難なことがあった。本発明の目的は、放射ノイズ
が柄部及び測定ケーブルに伝わりにくい近接電磁界プロ
ーブ、及びその近接電磁界プローブを用いた電磁界測定
装置及び電磁界測定方法を提供することにある。
Further, as shown in FIG. 16, an electronic component 1 that generates strong radiation noise below the handle 112 or the measurement cable.
When there is 32c, the radiation noise from the electronic component 132c may be transmitted to the handle 112 or the measurement cable. This sometimes makes it difficult to identify the source of the radiation noise. An object of the present invention is to provide a proximity electromagnetic field probe in which radiation noise is hardly transmitted to a handle portion and a measurement cable, and an electromagnetic field measurement device and an electromagnetic field measurement method using the proximity electromagnetic field probe.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的は、測定ケーブ
ルに接続される柄部と、前記柄部に対して任意の角度で
支持され、被測定物から放射される電磁波を受信するア
ンテナとを有することを特徴とする近接電磁界プローブ
により達成される。これにより、近接電磁界プローブの
アンテナの角度を任意に設定することができるので、測
定対象でない電子部品から放射される電磁波の影響を受
けることなく、被測定物から放射される電磁波を選択的
に測定することができる。
The object of the present invention is to provide a handle connected to a measuring cable and an antenna supported at an arbitrary angle with respect to the handle and receiving an electromagnetic wave radiated from an object to be measured. This is achieved by a proximity electromagnetic field probe characterized by having: As a result, the angle of the antenna of the proximity electromagnetic field probe can be set arbitrarily, so that the electromagnetic wave radiated from the object to be measured can be selectively selected without being affected by the electromagnetic wave radiated from the electronic component that is not the measurement target. Can be measured.

【0008】また、上記の近接電磁界プローブにおい
て、前記アンテナが支持されている角度が目視可能なよ
うに、前記柄部又は前記アンテナに目盛りが付されてい
ることが望ましい。また、上記の近接電磁界プローブに
おいて、前記アンテナは、ループアンテナであることが
望ましい。
In the above-mentioned proximity electromagnetic field probe, it is preferable that a scale is attached to the handle or the antenna so that the angle at which the antenna is supported can be visually checked. In the above-mentioned proximity electromagnetic field probe, it is desirable that the antenna is a loop antenna.

【0009】また、上記の近接電磁界プローブにおい
て、前記柄部の端部には、2つの支持部が対向して形成
され、前記アンテナは、巻き数が複数であり、重心を通
る直線上に2つの端子が形成され、前記2つの端子は前
記2つの支持部にそれぞれ結合されていることが望まし
い。また、上記の近接電磁界プローブにおいて、前記ア
ンテナは、棒状アンテナであることが望ましい。
In the above-described proximity electromagnetic field probe, two support portions are formed opposite to each other at the end of the handle portion, and the antenna has a plurality of turns and is formed on a straight line passing through the center of gravity. Preferably, two terminals are formed, and the two terminals are respectively coupled to the two supports. In the above-described proximity electromagnetic field probe, it is preferable that the antenna is a rod-shaped antenna.

【0010】また、上記の近接電磁界プローブにおい
て、前記アンテナと前記柄部との接続部には導電性グリ
ースが塗られていることが望ましい。また、上記目的
は、被測定物から放射される電磁波を、上記の近接電磁
界プローブを用いて測定することを特徴とする電磁界測
定装置により達成される。これにより、近接電磁界プロ
ーブのアンテナの角度を任意に設定することができるの
で、測定対象でない電子部品から放射される電磁波の影
響を受けることなく、被測定物から放射される電磁波を
選択的に測定することができる。
In the above-mentioned proximity electromagnetic field probe, it is preferable that a conductive grease is applied to a connection portion between the antenna and the handle. Further, the above object is achieved by an electromagnetic field measuring apparatus characterized in that an electromagnetic wave radiated from an object to be measured is measured using the above-mentioned proximity electromagnetic field probe. As a result, the angle of the antenna of the proximity electromagnetic field probe can be set arbitrarily, so that the electromagnetic wave radiated from the object to be measured can be selectively selected without being affected by the electromagnetic wave radiated from the electronic component that is not the measurement target. Can be measured.

【0011】また、上記目的は、上記の近接電磁界プロ
ーブを用い、前記柄部に対する前記アンテナの角度を供
試体の形状にあわせて所望の角度に設定し、前記被測定
物から放射される電磁波を測定することを特徴とする電
磁界測定方法により達成される。これにより、近接電磁
界プローブのアンテナの角度を任意に設定することがで
きるので、測定対象でない電子部品から放射される電磁
波の影響を受けることなく、被測定物から放射される電
磁波を選択的に測定することができる。
Further, the object is to set the angle of the antenna with respect to the handle to a desired angle in accordance with the shape of the specimen by using the above-mentioned proximity electromagnetic field probe, and to set the electromagnetic wave radiated from the object to be measured. Is measured by an electromagnetic field measurement method characterized by measuring As a result, the angle of the antenna of the proximity electromagnetic field probe can be set arbitrarily, so that the electromagnetic wave radiated from the object to be measured can be selectively selected without being affected by the electromagnetic wave radiated from the electronic component that is not the measurement target. Can be measured.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

[第1実施形態]本発明の第1実施形態による近接電磁
界プローブを図1乃至図3を用いて説明する。図1乃至
図3は、本実施形態による近接電磁界プローブの斜視図
である。図1に示すように、同軸ケーブル10の端部に
は、コネクタ12が接続されている。
[First Embodiment] A proximity electromagnetic field probe according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3 are perspective views of the proximity electromagnetic field probe according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, a connector 12 is connected to an end of the coaxial cable 10.

【0013】コネクタ12の端部には、支柱14a、1
4bが形成されている。支柱14a、14bはアンテナ
18を支えることができるように、強度の強い材料を用
いることが望ましい。支柱14a、14bの端部には、
リング状の支持部16a、16bがそれぞれ形成されて
いる。なお、支柱14a、14bと支持部16a、16
bとのそれぞれの接続方法は、半田付けによる接続でも
よいし、溶接による接続でもよい。また、支持部16
a、16bの形状は、図1に示すようなリング状に限定
されるものではなく、一部に切れ目の入ったリング状な
どでもよいが、アンテナ18の端子20a、20bとの
良好な電気的接続が得られると共に、アンテナ18がス
ムーズに回転できるような形状であることが望ましい。
At the end of the connector 12, support columns 14a, 1
4b is formed. It is desirable to use a strong material for the columns 14a and 14b so as to support the antenna 18. At the ends of the columns 14a and 14b,
Ring-shaped support portions 16a and 16b are formed respectively. The columns 14a, 14b and the supporting portions 16a, 16
Each connection method with b may be a connection by soldering or a connection by welding. The support 16
The shapes of the a and 16b are not limited to the ring shape as shown in FIG. 1, but may be a ring shape with a cut in a part, but a good electrical connection with the terminals 20a and 20b of the antenna 18 is possible. It is desirable that the antenna 18 be shaped so that connection can be obtained and the antenna 18 can rotate smoothly.

【0014】支持部16a、16bには、リング状に曲
げられたアンテナ18が結合されている。アンテナ18
は、銅線の周りに絶縁物である被覆22が被せられて構
成されている。なお、アンテナ18の両端部には被覆2
2は形成されていず、支持部16a、16bと接続する
ための端子20a、20bが形成されている。端子20
a、20bと支持部16a、16bとの接触面には、接
触不良を防ぐための導電性グリースが塗られていること
が望ましい。
An antenna 18 bent in a ring shape is connected to the support portions 16a and 16b. Antenna 18
Is formed by covering a copper wire with a coating 22 which is an insulator. The two ends of the antenna 18 are covered with a coating 2.
2 are not formed, and terminals 20a and 20b for connecting to the support portions 16a and 16b are formed. Terminal 20
It is desirable that conductive grease for preventing poor contact be applied to contact surfaces between the support members 16a and 16b and the support portions 16a and 16b.

【0015】アンテナ18は支持部16a、16bに対
して回転すると共に、任意の角度で固定できるように、
支持部16a、16b及び端子20a、20bの形状は
所望の摩擦力を得られるように適宜設定することが望ま
しい。このようにして、コネクタ12、支柱14a、1
4b、支持部16a、16b、及びアンテナ18より成
る本実施形態による近接電磁界プローブ19が構成され
ている。
The antenna 18 rotates with respect to the supporting portions 16a and 16b, and can be fixed at an arbitrary angle.
It is desirable that the shapes of the support portions 16a and 16b and the terminals 20a and 20b are appropriately set so as to obtain a desired frictional force. In this manner, the connector 12, the columns 14a, 1
The proximity electromagnetic field probe 19 according to the present embodiment, which includes the antenna 4 and the support portions 16a and 16b, and the antenna 18, is configured.

【0016】また、図2に示すように、同軸ケーブル1
0の端部にカバー24が形成されていてもよい。同軸ケ
ーブル10の導線10a、10bには、半田付け等によ
りそれぞれ支持部16a、16bが接続されている。支
持部16a、16bには、アンテナ18が結合されてい
る。同軸ケーブル10の端部、支持部16a、16b、
及びアンテナ18の両端部は、カバー24a、24bに
より挟み込まれるようにして固定されている。
Further, as shown in FIG.
The cover 24 may be formed at the end of the zero. Support portions 16a and 16b are connected to the conductors 10a and 10b of the coaxial cable 10 by soldering or the like, respectively. An antenna 18 is coupled to the support portions 16a and 16b. The ends of the coaxial cable 10, the support portions 16a, 16b,
Further, both ends of the antenna 18 are fixed so as to be sandwiched between the covers 24a and 24b.

【0017】また、図3に示すように、カバー24に対
するアンテナ18の角度を示す目盛りが、カバー24に
付されていてもよい。アンテナ18の端子20a近傍に
は円形部材21が設けられている。円形部材21にはア
ンテナ18の位置の基準を示す印26aが付されてい
る。一方、カバー24には、円形部材21との結合部の
周囲に、カバー24に対するアンテナ18の角度を示す
目盛り26bが付されている。これにより、カバー24
に対するアンテナ18の角度を目視することができる。
As shown in FIG. 3, a scale indicating the angle of the antenna 18 with respect to the cover 24 may be provided on the cover 24. A circular member 21 is provided near the terminal 20 a of the antenna 18. The circular member 21 is provided with a mark 26a indicating the reference of the position of the antenna 18. On the other hand, the cover 24 is provided with a scale 26b around the joint with the circular member 21 to indicate the angle of the antenna 18 with respect to the cover 24. Thereby, the cover 24
, The angle of the antenna 18 with respect to.

【0018】次に、本実施形態による近接電磁界プロー
ブを用いた測定方法について説明する。まず、供試体の
平面領域上と凹部内とに、測定対象である電子部品がそ
れぞれ形成されている場合の測定方法について、図4を
用いて説明する。図4は、本実施形態による近接電磁界
プローブを用いた測定方法を示す断面図である。
Next, a measuring method using the proximity electromagnetic field probe according to the present embodiment will be described. First, a measurement method in the case where electronic components to be measured are formed on the planar region of the specimen and in the recess, respectively, will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating a measuring method using the proximity electromagnetic field probe according to the present embodiment.

【0019】供試体28には、図4(a)に示すような
平面の領域と、図4(b)に示すような凹部30が形成
された領域がある。供試体28の平面の領域上には、例
えば電子部品32aが設けられており、供試体28の凹
部30内には、例えば電子部品32bが設けられてい
る。測定においては、電子部品32aとアンテナ18と
の距離、及び電子部品32bとアンテナ18との距離
を、それぞれ同じにして測定することが望ましい。従っ
て、凹部30内の電子部品32bを測定するときに、近
接電磁界プローブ19又は測定ケーブル10が供試体2
8にぶつかることがないように、コネクタ12に対する
アンテナ18の角度を適宜設定することが望ましい。こ
こでは、凹部30の形状にあわせて、例えば45度に設
定している。
The specimen 28 has a plane area as shown in FIG. 4A and an area in which a recess 30 is formed as shown in FIG. 4B. For example, an electronic component 32a is provided on a plane area of the test piece 28, and an electronic component 32b is provided in the concave portion 30 of the test piece 28, for example. In the measurement, it is desirable that the distance between the electronic component 32a and the antenna 18 and the distance between the electronic component 32b and the antenna 18 be the same. Therefore, when measuring the electronic component 32b in the concave portion 30, the proximity electromagnetic field probe 19 or the measurement cable 10
It is desirable to appropriately set the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 so as not to hit the connector 8. Here, the angle is set to, for example, 45 degrees according to the shape of the concave portion 30.

【0020】このように本実施形態による近接電磁界プ
ローブ19では、コネクタ12に対してアンテナ18の
角度を任意に設定することができるので、電子部品32
bが凹部30内に形成されている場合でも問題なく測定
することができる。次に、電子部品が隣接して形成され
ている場合を例として、本実施形態による近接電磁界プ
ローブを用いた測定方法及び測定結果を図5乃至図10
を用いて説明する。図5乃至図10は、本実施形態によ
る近接電磁界プローブを用いた測定方法を示す上面図及
び側面図、及びその測定結果を示すグラフである。
As described above, in the proximity electromagnetic field probe 19 according to the present embodiment, the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 can be set arbitrarily.
Even when b is formed in the concave portion 30, the measurement can be performed without any problem. Next, taking a case where the electronic components are formed adjacent to each other as an example, a measurement method and a measurement result using the proximity electromagnetic field probe according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.
This will be described with reference to FIG. 5 to 10 are a top view and a side view showing the measurement method using the proximity electromagnetic field probe according to the present embodiment, and a graph showing the measurement results.

【0021】図5乃至図10に示すように、供試体28
上には、電子部品34aと電子部品34bとが隣接して
形成されている。測定対象は電子部品34aである。コ
ネクタ12に対するアンテナ18の角度を0度、45
度、90度と設定し、それぞれの設定に対して、電子部
品34aと電子部品34bとを結ぶ直線上にコネクタ1
2が位置する場合と、電子部品34aと電子部品34b
とを結ぶ直線に対してほぼ垂直な直線上にコネクタ12
が位置する場合の測定を行い、合計で6種類の測定結果
を得た。
As shown in FIG. 5 to FIG.
An electronic component 34a and an electronic component 34b are formed adjacent to each other. The measurement object is the electronic component 34a. The angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 is 0 degree, 45 degrees.
And 90 degrees, and for each setting, the connector 1 is placed on a straight line connecting the electronic component 34a and the electronic component 34b.
2, the electronic component 34a and the electronic component 34b
Connector 12 on a straight line substantially perpendicular to the straight line
Was measured, and a total of six types of measurement results were obtained.

【0022】まず、図5に示すように、コネクタ12に
対するアンテナ18の角度を0度とし、電子部品34a
と電子部品34bとを結ぶ直線上にコネクタ12が位置
するようにして測定した。次に、図6に示すように、コ
ネクタ12に対するアンテナ18の角度を0度とし、電
子部品34aと電子部品34bとを結ぶ直線に対してほ
ぼ垂直な直線上にコネクタ12が位置するようにして測
定した。
First, as shown in FIG. 5, the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 is set to 0 degree, and the electronic components 34a
The measurement was performed such that the connector 12 was positioned on a straight line connecting the electronic component 34b and the electronic component 34b. Next, as shown in FIG. 6, the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 is set to 0 degree, and the connector 12 is positioned on a straight line substantially perpendicular to a straight line connecting the electronic components 34a and 34b. It was measured.

【0023】次に、図7に示すように、コネクタ12に
対するアンテナ18の角度を45度とし、電子部品34
aと電子部品34bとを結ぶ直線上にコネクタ12が位
置するようにして測定した。次に、図8に示すように、
コネクタ12に対するアンテナ18の角度を45度と
し、電子部品34aと電子部品34bとを結ぶ直線に対
してほぼ垂直な直線上にコネクタ12が位置するように
して測定した。
Next, as shown in FIG. 7, the angle of the antenna 18 with respect to the
The measurement was performed such that the connector 12 was positioned on a straight line connecting the electronic component 34a and the electronic component 34b. Next, as shown in FIG.
The measurement was performed such that the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 was 45 degrees, and the connector 12 was positioned on a straight line substantially perpendicular to a straight line connecting the electronic components 34a and 34b.

【0024】次に、図9に示すように、コネクタ12に
対するアンテナ18の角度を90度とし、電子部品34
aと電子部品34bとを結ぶ直線上にコネクタ12が位
置するようにして測定した。次に、図10に示すよう
に、コネクタ12に対するアンテナ18の角度を90度
とし、電子部品34aと電子部品34bとを結ぶ直線に
対してほぼ垂直な直線上にコネクタ12が位置するよう
にして測定した。
Next, as shown in FIG. 9, the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 is set to 90 degrees,
The measurement was performed such that the connector 12 was positioned on a straight line connecting the electronic component 34a and the electronic component 34b. Next, as shown in FIG. 10, the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 is set to 90 degrees, and the connector 12 is positioned on a straight line substantially perpendicular to a straight line connecting the electronic components 34a and 34b. It was measured.

【0025】これらの条件で測定した結果、スペクトラ
ムアナライザが示すピーク値は、それぞれ43.171
dBμV、35.296dBμV、40.671dBμ
V、37.062dBμV、37.234dBμV、3
7.359dBμVであった。図5と図6とに示す測定
結果を比較すると、7.875dBの差がある。図5に
示す測定方法では、コネクタ12及び同軸ケーブル10
が電子部品34bに近接しているため、電子部品34b
から放射される電磁波がコネクタ12又は同軸ケーブル
10に伝わったため測定値が高くなっている。一方、図
6に示す測定方法では、コネクタ12及び同軸ケーブル
10が供試体28上のグランドパターンに近接している
ため、測定値が低くなっている。従って、コネクタ12
に対するアンテナ18の角度を0度に設定する測定方法
は、供試体28上に形成された電子部品34bやグラン
ドパターンの影響を受けやすいので望ましくないと考え
られる。
As a result of measurement under these conditions, the peak values indicated by the spectrum analyzer are 43.171, respectively.
dBμV, 35.296 dBμV, 40.671 dBμ
V, 37.062 dBμV, 37.234 dBμV, 3
7.359 dBμV. Comparing the measurement results shown in FIGS. 5 and 6, there is a difference of 7.875 dB. In the measurement method shown in FIG.
Is close to the electronic component 34b, the electronic component 34b
The measurement value is high because the electromagnetic wave radiated from is transmitted to the connector 12 or the coaxial cable 10. On the other hand, in the measurement method shown in FIG. 6, the measured value is low because the connector 12 and the coaxial cable 10 are close to the ground pattern on the specimen 28. Therefore, the connector 12
The measurement method of setting the angle of the antenna 18 to 0 degree with respect to the electronic component 34b formed on the specimen 28 is likely to be affected by the ground pattern and is considered to be undesirable.

【0026】図7と図8とに示す測定結果を比較する
と、3.609dBの差がある。コネクタ12に対する
アンテナ18の角度が0度の場合では測定結果の差が
7.875dBであったが、45度の場合では測定結果
の差が3.609dBと減少している。これは、コネク
タ12及び同軸ケーブル10と供試体28との離間距離
が長くなったため、電子部品34bやグランドパターン
の影響を受けにくくなったためと考えられる。従って、
コネクタ12に対するアンテナ18の角度を45度に設
定する測定方法は、0度に設定する測定方法より望まし
い測定方法であると考えられる。
When comparing the measurement results shown in FIGS. 7 and 8, there is a difference of 3.609 dB. When the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 is 0 degree, the difference between the measurement results is 7.875 dB, but when the angle is 45 degrees, the difference between the measurement results is reduced to 3.609 dB. It is considered that this is because the distance between the connector 12 and the coaxial cable 10 and the test piece 28 was increased, and the influence of the electronic component 34b and the ground pattern was reduced. Therefore,
A measurement method in which the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 is set to 45 degrees is considered to be a more preferable measurement method than a measurement method in which the angle is set to 0 degrees.

【0027】図9と図10とに示す測定結果を比較する
と、わずか0.125dBの差しかない。コネクタ12
に対するアンテナ18の角度が45度の場合では測定結
果の差が3.609dBであったが、90度の場合では
測定結果の差が0.125dBにまで減少している。こ
れは、コネクタ12及び同軸ケーブル10と供試体28
との離間距離が、図7及び図8に示す測定方法の場合よ
り更に長くなったため、電子部品34bやグランドパタ
ーンの影響をほとんど受けなくなったためと考えられ
る。従って、コネクタ12に対するアンテナ18の角度
を90度に設定する測定方法は、45度に設定する測定
方法より望ましい測定方法であると考えられる。
When the measurement results shown in FIGS. 9 and 10 are compared, the difference is only 0.125 dB. Connector 12
When the angle of the antenna 18 with respect to the angle was 45 degrees, the difference in the measurement results was 3.609 dB, but when the angle was 90 degrees, the difference in the measurement results decreased to 0.125 dB. This is because the connector 12 and the coaxial cable 10 and the specimen 28
It is probable that the distance between them was longer than in the case of the measuring methods shown in FIGS. 7 and 8, and was hardly affected by the electronic component 34b and the ground pattern. Therefore, the measurement method in which the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 is set to 90 degrees is considered to be a more preferable measurement method than the measurement method in which the angle is set to 45 degrees.

【0028】なお、供試体の形状は図5乃至図10に示
した形状に限られるものではなく、コネクタ12に対す
るアンテナ18の角度を90度に設定することが最も望
ましいとは限らない。従って、コネクタ12に対するア
ンテナ18の角度は、供試体の形状にあわせて、適宜設
定することが望ましい。また、コネクタ12に対するア
ンテナ18の角度については、常に一定に設定すること
に限定されるものではなく、供試体の形状によっては測
定する電子部品毎に適宜設定してもよい。
The shape of the specimen is not limited to the shapes shown in FIGS. 5 to 10, and it is not always desirable to set the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 to 90 degrees. Therefore, it is desirable that the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 be appropriately set in accordance with the shape of the specimen. In addition, the angle of the antenna 18 with respect to the connector 12 is not limited to being always set to be constant, and may be appropriately set for each electronic component to be measured depending on the shape of the specimen.

【0029】このように、本実施形態によれば、近接電
磁界プローブのアンテナの角度を任意に設定することが
できるので、測定対象でない電子部品から放射される電
磁波の影響を受けることなく、被測定物から放射される
電磁波を選択的に測定することができる。 [第2実施形態]本発明の第2実施形態による近接電磁
界プローブを図11を用いて説明する。図11は、本実
施形態による近接電磁界プローブを示す斜視図である。
図1乃至図10に示す第1実施形態による近接電磁界プ
ローブと同一の構成要素には、同一の符号を付して説明
を省略または簡潔にする。
As described above, according to the present embodiment, the angle of the antenna of the proximity electromagnetic field probe can be set arbitrarily, so that the antenna is not affected by electromagnetic waves radiated from electronic components that are not the object of measurement. Electromagnetic waves emitted from the measurement object can be selectively measured. [Second Embodiment] A proximity electromagnetic field probe according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 11 is a perspective view showing the proximity electromagnetic field probe according to the present embodiment.
The same components as those of the proximity electromagnetic field probe according to the first embodiment shown in FIGS. 1 to 10 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted or simplified.

【0030】本実施形態による近接電磁界プローブ19
は、アンテナ18の感度を向上させるために、アンテナ
18の巻き数を複数にしたことに主な特徴がある。巻き
数が複数であるためアンテナ18が重いので、支持部1
6a、16bと端子20a、20bとのそれぞれの摩擦
力によりアンテナ18の角度を一定に保つのは困難であ
る。このため、端子20a、20bをアンテナ18の重
心を通る直線上に位置するように形成して、アンテナ1
8がコネクタ12に対して回転してしまうのを防いでい
る。
The proximity electromagnetic field probe 19 according to the present embodiment
The main feature of the first embodiment is that the number of turns of the antenna 18 is increased in order to improve the sensitivity of the antenna 18. Since the number of windings is plural and the antenna 18 is heavy, the supporting portion 1
It is difficult to keep the angle of the antenna 18 constant by the respective frictional forces between the terminals 6a and 16b and the terminals 20a and 20b. For this reason, the terminals 20a and 20b are formed so as to be located on a straight line passing through the center of gravity of the antenna 18, so that the antenna 1
8 is prevented from rotating with respect to the connector 12.

【0031】また、図12に示すように、アンテナ18
にカバー36を設け、カバー24を設けてもよい。カバ
ー24を設けることにより、カバー36が被せられた重
いアンテナ18を支えることができる。また、図13に
示すように、カバー24に対するアンテナ18の角度を
示す目盛りが、カバー24に付されていてもよい。カバ
ー24に設けられた円形の凹部25には、端子20aに
接着された円形部材21がはめ込まれている。円形部材
21がはめ込まれた周囲のカバー24には、カバー24
に対するアンテナ18の角度を示す目盛り26bが付さ
れている。これにより、カバー24に対するアンテナ1
8の角度を目視することができる。
Further, as shown in FIG.
May be provided with the cover 36 and the cover 24. By providing the cover 24, the heavy antenna 18 covered with the cover 36 can be supported. As shown in FIG. 13, a scale indicating the angle of the antenna 18 with respect to the cover 24 may be provided on the cover 24. The circular member 21 bonded to the terminal 20a is fitted in a circular concave portion 25 provided in the cover 24. The cover 24 around the circular member 21 is fitted with the cover 24.
Is provided with a scale 26b indicating the angle of the antenna 18 with respect to. Thereby, the antenna 1 with respect to the cover 24
An angle of 8 can be seen.

【0032】このように、本実施形態によれば、巻き数
が多いアンテナであってもアンテナの角度を任意に設定
することができるので、測定対象でない電子部品から放
射される電磁波の影響を受けることなく、被測定物から
放射される電磁波を選択的に測定することができる。ま
た、アンテナの巻き数が多いので、感度の高い近接電磁
界プローブを提供することができる。
As described above, according to the present embodiment, even if the antenna has a large number of turns, the angle of the antenna can be set arbitrarily, so that the antenna is affected by electromagnetic waves radiated from electronic components that are not the object of measurement. Without this, it is possible to selectively measure the electromagnetic waves radiated from the device under test. Further, since the number of windings of the antenna is large, it is possible to provide a proximity electromagnetic field probe with high sensitivity.

【0033】[変形実施形態]本発明は上記実施形態に
限らず種々の変形が可能である。例えば、第1及び第2
実施形態において、アンテナは電磁波を受信することが
できればよいため、形状はループ状に限定されるもので
はなく、例えば棒状などでもよい。
[Modified Embodiment] The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications are possible. For example, the first and second
In the embodiment, since the antenna only needs to be able to receive the electromagnetic wave, the shape is not limited to the loop shape, and may be, for example, a rod shape.

【0034】また、第1及び第2実施形態において、ア
ンテナを静電遮蔽することにより、磁界成分だけを検出
するようにしてもよい。また、第1及び第2実施形態に
おいて、目盛りを付す位置はカバーに限定されるもので
はなく、例えば円形部材に付してもよい。
In the first and second embodiments, only the magnetic field component may be detected by electrostatically shielding the antenna. In addition, in the first and second embodiments, the position at which the scale is provided is not limited to the cover, and may be, for example, a circular member.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、アンテナ
の角度を任意に設定することができるので、放射ノイズ
が柄部及び測定ケーブルに伝わりにくい近接電磁界プロ
ーブ、及びその近接電磁界プローブを用いた電磁界測定
装置及び電磁界測定方法を提供することができる。
As described above, according to the present invention, since the angle of the antenna can be set arbitrarily, the proximity electromagnetic field probe, which makes it difficult for the radiation noise to be transmitted to the handle and the measuring cable, and the proximity electromagnetic field probe An electromagnetic field measuring apparatus and an electromagnetic field measuring method using the same can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態による近接電磁界プロー
ブを示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a proximity electromagnetic field probe according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施形態による近接電磁界プロー
ブの一変形例を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a modification of the proximity electromagnetic field probe according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1実施形態による近接電磁界プロー
ブの他の変形例を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing another modification of the proximity electromagnetic field probe according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1実施形態による近接電磁界プロー
ブを用いた測定方法を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a measuring method using the proximity electromagnetic field probe according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第1実施形態による近接電磁界プロー
ブを用いた測定方法を示す上面図及び側面図、及びその
測定結果を示すグラフ(その1)である。
5A and 5B are a top view and a side view showing a measurement method using the proximity electromagnetic field probe according to the first embodiment of the present invention, and a graph (part 1) showing the measurement results.

【図6】本発明の第1実施形態による近接電磁界プロー
ブを用いた測定方法を示す上面図及び側面図、及びその
測定結果を示すグラフ(その2)である。
6A and 6B are a top view and a side view showing a measurement method using the proximity electromagnetic field probe according to the first embodiment of the present invention, and a graph (part 2) showing the measurement result.

【図7】本発明の第1実施形態による近接電磁界プロー
ブを用いた測定方法を示す上面図及び側面図、及びその
測定結果を示すグラフ(その3)である。
FIGS. 7A and 7B are a top view and a side view showing a measurement method using the proximity electromagnetic field probe according to the first embodiment of the present invention, and a graph (part 3) showing the measurement results.

【図8】本発明の第1実施形態による近接電磁界プロー
ブを用いた測定方法を示す上面図及び側面図、及びその
測定結果を示すグラフ(その4)である。
8A and 8B are a top view and a side view showing a measurement method using the proximity electromagnetic field probe according to the first embodiment of the present invention, and a graph (part 4) showing the measurement results.

【図9】本発明の第1実施形態による近接電磁界プロー
ブを用いた測定方法を示す上面図及び側面図、及びその
測定結果を示すグラフ(その5)である。
FIGS. 9A and 9B are a top view and a side view showing a measurement method using the proximity electromagnetic field probe according to the first embodiment of the present invention, and a graph (part 5) showing the measurement results.

【図10】本発明の第1実施形態による近接電磁界プロ
ーブを用いた測定方法を示す上面図及び側面図、及びそ
の測定結果を示すグラフ(その6)である。
10A and 10B are a top view and a side view showing a measurement method using the proximity electromagnetic field probe according to the first embodiment of the present invention, and a graph (part 6) showing the measurement result.

【図11】本発明の第2実施形態による近接電磁界プロ
ーブを示す斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view showing a proximity electromagnetic field probe according to a second embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第2実施形態による近接電磁界プロ
ーブの一変形例を示す斜視図である。
FIG. 12 is a perspective view showing a modification of the proximity electromagnetic field probe according to the second embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第2実施形態による近接電磁界プロ
ーブの他の変形例を示す斜視図である。
FIG. 13 is a perspective view showing another modification of the proximity electromagnetic field probe according to the second embodiment of the present invention.

【図14】従来のプローブを示す上面図及び側面図であ
る。
FIG. 14 is a top view and a side view showing a conventional probe.

【図15】従来のプローブを用いた測定方法を示す断面
図である。
FIG. 15 is a cross-sectional view showing a measurement method using a conventional probe.

【図16】従来のプローブを用いた測定方法を示す断面
図である。
FIG. 16 is a cross-sectional view showing a measurement method using a conventional probe.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…同軸ケーブル 10a、10b…導線 12…コネクタ 14a、14b…支柱 16a、16b…支持部 18…アンテナ 19…近接電磁界プローブ 20a、20b…端子 21…円形部材 22…被覆 24、24a、24b…カバー 25…凹部 26a…印 26b…目盛り 28…供試体 30…凹部 32a、32b…電子部品 34a、34b…電子部品 36…カバー 112…柄部 128…供試体 132a、132b、132c…電子部品 134a、134b…電子部品 130…凹部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Coaxial cable 10a, 10b ... Lead wire 12 ... Connector 14a, 14b ... Post 16a, 16b ... Support part 18 ... Antenna 19 ... Proximity electromagnetic field probe 20a, 20b ... Terminal 21 ... Circular member 22 ... Coating 24, 24a, 24b ... Cover 25 ... concave portion 26a ... mark 26b ... scale 28 ... sample 30 ... concave portion 32a, 32b ... electronic component 34a, 34b ... electronic component 36 ... cover 112 ... pattern portion 128 ... sample 132a, 132b, 132c ... electronic component 134a, 134b: electronic component 130: recess

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 測定ケーブルに接続される柄部と、 前記柄部に対して任意の角度で支持され、被測定物から
放射される電磁波を受信するアンテナとを有することを
特徴とする近接電磁界プローブ。
1. A proximity electromagnetic device comprising: a handle connected to a measurement cable; and an antenna supported at an arbitrary angle with respect to the handle and receiving an electromagnetic wave radiated from an object to be measured. Field probe.
【請求項2】 請求項1記載の近接電磁界プローブにお
いて、 前記アンテナが支持されている角度が目視可能なよう
に、前記柄部又は前記アンテナに目盛りが付されている
ことを特徴とする近接電磁界プローブ。
2. The proximity electromagnetic field probe according to claim 1, wherein a scale is attached to the handle or the antenna so that an angle at which the antenna is supported can be visually checked. Electromagnetic field probe.
【請求項3】 請求項1又は2記載の近接電磁界プロー
ブにおいて、 前記アンテナは、ループアンテナであることを特徴とす
る近接電磁界プローブ。
3. The proximity electromagnetic field probe according to claim 1, wherein the antenna is a loop antenna.
【請求項4】 請求項3記載の近接電磁界プローブにお
いて、 前記柄部の端部には、2つの支持部が対向して形成さ
れ、 前記アンテナは、巻き数が複数であり、重心を通る直線
上に2つの端子が形成され、 前記2つの端子は前記2つの支持部にそれぞれ結合され
ていることを特徴とする近接電磁界プローブ。
4. The proximity electromagnetic field probe according to claim 3, wherein two support portions are formed opposite to each other at an end of the handle portion, and the antenna has a plurality of turns and passes through a center of gravity. A proximity electromagnetic field probe, wherein two terminals are formed on a straight line, and the two terminals are respectively coupled to the two support portions.
【請求項5】 請求項1又は2記載の近接電磁界プロー
ブにおいて、 前記アンテナは、棒状アンテナであることを特徴とする
近接電磁界プローブ。
5. The proximity electromagnetic field probe according to claim 1, wherein the antenna is a rod-shaped antenna.
【請求項6】 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の
近接電磁界プローブにおいて、 前記アンテナと前記柄部との接続部には導電性グリース
が塗られていることを特徴とする近接電磁界プローブ。
6. The proximity electromagnetic field probe according to claim 1, wherein a conductive grease is applied to a connection between the antenna and the handle. Electromagnetic field probe.
【請求項7】 被測定物から放射される電磁波を、請求
項1乃至6のいずれか1項に記載の近接電磁界プローブ
を用いて測定することを特徴とする電磁界測定装置。
7. An electromagnetic field measuring apparatus for measuring an electromagnetic wave radiated from an object to be measured using the proximity electromagnetic field probe according to any one of claims 1 to 6.
【請求項8】 請求項1乃至6のいずれか1項に記載の
近接電磁界プローブを用い、前記柄部に対する前記アン
テナの角度を供試体の形状にあわせて所望の角度に設定
し、前記被測定物から放射される電磁波を測定すること
を特徴とする電磁界測定方法。
8. The antenna according to claim 1, wherein an angle of the antenna with respect to the handle is set to a desired angle in accordance with a shape of a specimen. An electromagnetic field measurement method characterized by measuring an electromagnetic wave radiated from an object.
JP13808697A 1997-05-28 1997-05-28 Proximity electromagnetic field probe, electromagnetic field measuring device using it, and method thereof Withdrawn JPH10332754A (en)

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