JPH10332587A - 発光分光分析装置 - Google Patents

発光分光分析装置

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JPH10332587A
JPH10332587A JP14386497A JP14386497A JPH10332587A JP H10332587 A JPH10332587 A JP H10332587A JP 14386497 A JP14386497 A JP 14386497A JP 14386497 A JP14386497 A JP 14386497A JP H10332587 A JPH10332587 A JP H10332587A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
mounting plate
hole
light
electrode rod
Prior art date
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Pending
Application number
JP14386497A
Other languages
English (en)
Inventor
Kanji Kobayashi
寛治 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型の試料でも、支障なく分析を行えるよう
にする。 【解決手段】 発光スタンドでは、その本体であるベー
ス1の上面側で放電室2の天面となる個所に、載置板1
3を介して試料Sを設置し、この試料Sを電極棒5との
間で放電発光させるが、載置板13を絶縁材料で構成し
て、載置板13の孔13hを小径にしても、載置板13
と電極棒5との間に不要な放電が発生しないようにし
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、発光分光分析装置
に係り、詳しくは、試料を電極棒との間で放電発光させ
る発光スタンドの試料載置部分の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】発光分光分析装置には、試料の発光スタ
ンドを備えたものがある。
【0003】その発光スタンドでは、本体であるスタン
ドベースに放電室が形成されており、この放電室内に電
極棒が上向きに突出した形で設けられ、試料は、放電室
の天面となる個所に載置板を介して設置される。載置板
は、中央に孔のある板体で、その孔を通じて試料の下面
が電極棒の上端と直接対向する。
【0004】このように、発光スタンドでは、試料が電
極棒と対向して保持され、電極棒との間で放電発光す
る。通常、この放電発光は高純度のArガスの気流中で
行われる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の発光
スタンドでは、載置板の孔は、試料の分析面である下面
で密閉するようになっているが、このような構造では、
試料の形状が制限されるという問題がある。
【0006】例えば、試料がワッシャのように小型の薄
板状である場合、試料の分析面が小さくて、載置板の孔
を気密に遮蔽できないことがある。その場合は、Arガ
スが外部に漏れたり、あるいは外部から空気が放電室内
に流入して試料の分析面に吸着したりする。空気に含ま
れる酸素等のガスが試料の分析面に吸着すると、その吸
着ガスは放電の際には発光することになるから、これ
が、酸素や窒素等、空気にも含まれる元素についての分
析精度を低下させる。
【0007】これに対しては、載置板の孔を小径にすれ
ばよいのであるが、孔を小径とした場合、従来の載置板
は金属製であるから、この載置板の孔縁と電極棒との間
に不要な放電が起こるおそれがあり、そのため、載置板
の孔を小さくするには限度がある。
【0008】本発明は、上記従来の問題点に鑑み、小型
の試料でも、支障なく分析を行えるようにすることをこ
とを課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を達成
するために、試料を電極棒との間で放電発光させる発光
スタンドを備えた発光分光分析装置において、発光スタ
ンドのベースの上面側で放電室の天面となる個所に、試
料を載置するための載置板が載置され、この載置板が絶
縁材料からなる構成とした。
【0010】
【発明の実施の形態】図示例に基づいて、本発明の実施
の形態を説明すると、図1および図2は本発明の一実施
形態に係り、図1は発光スタンドの縦断面図、図2は、
その試料載置部分の分解斜視図である。
【0011】本実施の形態に係る発光スタンドは、本体
としてスタンドベース1を備えている。スタンドベース
1は、その一端(図示例では左端)に図示しない分光器
が接続されるもので、内部には放電室2と、この放電室
2から分光器に通じる導光空間3とが形成されている。
【0012】スタンドベース1の下面側には、上下の貫
通孔がある取り付けブロック4が固着されており、この
取り付けブロック4の貫通孔内に、電極棒5が電極棒ホ
ルダ6を介して出し入れ自在に挿入されている。電極棒
ホルダ6は、中心部にガス流通孔を有する円筒体で、そ
の流通孔内に前記の電極棒5が保持されている。なお、
符号7はArガスの流入管、8はArガスの流出口であ
る。
【0013】さらに、前記の取り付けブロック4の下部
にはレバーホルダ9が固着されており、このレバーホル
ダ9にフック10とレバーハンドル11とが枢着されて
いる。フック10は、電極棒ホルダ6の中途部外周にあ
るフランジ6fの下側に係合し、レバーハンドル11
は、前記フック10の遊端の下側に係合するもので、こ
のようなレバーハンドル11とフック10とにより、電
極棒ホルダ6が取り付けブロック4の貫通孔内に挿入さ
れた状態に固定される。
【0014】一方、スタンドベース1の上面側で放電室
2の天面となる個所には、図2に拡大して示すように、
凹所12が形成され、この凹所12内に試料Sを載置す
るための載置板13が嵌置されている。この載置板13
は、セラミックスのような絶縁材料で一体成形された板
体で、表裏両面が平滑に仕上げられ、ほぼ中央に小径の
孔13hを有する。そして、載置板13を介して設置さ
れた試料Sは、支柱14に設けた押さえ部材15によ
り、スタンドベース1の上面部に押し付けられるように
なっている。
【0015】上記の構成において、試料Sを載置板13
上に載置した後、その試料Sを押さえ部材15により載
置板13の側に押さえ付ける。
【0016】このように試料Sをセットした後、放電室
2の内部をArガスで置換し、電極棒5と試料Sとの間
で放電を起こし、試料Sを励起発光させる。
【0017】その場合、載置板13の孔13hは小径で
あるから、試料Sがワッシヤのような小型で薄板状のも
のでも、その試料Sで載置板13の孔13hが気密に遮
蔽されることになり、Arガスが外部に漏れたり、ある
いは外部の空気が試料Sの下面側に流入し吸着されるよ
うなことがない。
【0018】また、載置板13の孔13hの孔縁は、電
極棒5の先端に近接することになるが、載置板13の材
質が絶縁性であるから、載置板13と電極棒5との間に
は放電は起こらず、試料Sの下面との間に所期の放電が
発生する。
【0019】上記のように、載置板13と電極棒5との
間には放電のおそれがないので、その孔13hは、図3
に示すように、スリット状にしてもよい。このような形
状の孔13hでは、試料Sによる密閉度がより高くな
り、Arガスの漏れや外部空気の流入を確実に防止しう
る。
【0020】
【発明の効果】本発明によれば、試料を載置するための
載置板の孔を小径にすることができ、その小径の孔は、
分析面の狭い試料によっても気密に遮蔽されるから、ワ
ッシヤのような小型の試料でも、Arガスの漏れや、外
部空気の流入がない状態で放電発光させることができ、
支障なく分析を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係る発光スタンドの縦
断面図である。
【図2】上記実施の形態の発光スタンドの試料載置部分
の分解斜視図である。
【図3】他の実施の形態の載置板の斜視図である。
【符号の説明】
1…スタンドベース、 2…放電室、 5…電極棒、
13…載置板、 13h…載置板の孔、 S…試料、

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料を電極棒との間で放電発光させる発
    光スタンドを備えた発光分光分析装置において、 発光スタンドのベースの上面側で放電室の天面となる個
    所に、試料を載置するための載置板が載置され、この載
    置板が絶縁材料からなることを特徴とする発光分光分析
    装置。
JP14386497A 1997-06-02 1997-06-02 発光分光分析装置 Pending JPH10332587A (ja)

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JP14386497A JPH10332587A (ja) 1997-06-02 1997-06-02 発光分光分析装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012018099A (ja) * 2010-07-08 2012-01-26 Aisin Aw Co Ltd 発光分光分析装置、試料保持ステージおよび発光分光分析方法
CN105675584A (zh) * 2016-01-26 2016-06-15 张继勇 一种电弧原子发射元素光谱仪及其控制方法
CN107941786A (zh) * 2017-11-13 2018-04-20 鞍钢股份有限公司 利用火花源直读光谱仪测定钢中夹杂物分布的装置及方法

Cited By (4)

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CN107941786A (zh) * 2017-11-13 2018-04-20 鞍钢股份有限公司 利用火花源直读光谱仪测定钢中夹杂物分布的装置及方法
CN107941786B (zh) * 2017-11-13 2020-04-24 鞍钢股份有限公司 利用火花源直读光谱仪测定钢中夹杂物分布的装置及方法

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