JPH10301075A - 液晶パネルの位置検出装置 - Google Patents

液晶パネルの位置検出装置

Info

Publication number
JPH10301075A
JPH10301075A JP12476797A JP12476797A JPH10301075A JP H10301075 A JPH10301075 A JP H10301075A JP 12476797 A JP12476797 A JP 12476797A JP 12476797 A JP12476797 A JP 12476797A JP H10301075 A JPH10301075 A JP H10301075A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
crystal panel
alignment mark
transparent substrate
imaging unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12476797A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Koshio
義宏 小塩
Noriyuki Iwasaki
則之 岩崎
Hiroshi Inoue
宏 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP12476797A priority Critical patent/JPH10301075A/ja
Publication of JPH10301075A publication Critical patent/JPH10301075A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 上下の透明基板のそれぞれに形成した複数の
アライメントマークを単一の撮像ユニットを用いて鮮明
に撮像して、液晶パネルを構成する両透明基板の位置を
正確に検出できるようにする。 【構成】 位置決めテーブル15に載置された液晶パネ
ル1の上下の透明基板2,3の相対向する面に形成した
アライメントマーク6,7を検出する位置検出手段22
は、照明ユニット30及び撮像ユニット31を有し、撮
像ユニット31は液晶パネル1の上方からアライメント
マーク6,7を行うが、撮像ユニット31の対物レンズ
35は下側の透明基板3に設けたアライメントマーク7
にピントが合っており上側の透明基板2のアライメント
マーク6を撮像する際に、透明基板2の屈折率分による
ピントのずれを補正するために、ハウジング34の対物
レンズ35の物体側の位置には透明ガラス38が光路に
挿脱可能に設けられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばSTN(Sup
er Twisted Nematic) パネルや、MIM(Matal Insulat
or Metal) パネル等のように、相互に重ね合わせた上下
の透明基板の各々対向面に電極を形成した液晶パネルを
位置決めテーブルの上に配置して搬送する際に、この液
晶パネルの位置調整を行うために、液晶パネルの位置決
めテーブル上での位置を検出する液晶パネルの位置検出
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】液晶ディスプレイを構成する液晶パネル
は2枚の透明基板の間に液晶を封入したものであり、少
なくとも一方の透明基板を他方の透明基板から張り出さ
せて、この張り出し部分に微小ピッチ間隔をもって電極
が引き出されており、これら各電極にはドライブ回路の
一方の電極と接続し、さらにこのドライブ回路の他方の
電極を入力制御回路に接続することにより液晶ディスプ
レイが構成される。
【0003】液晶ディスプレイの製品としての品質維持
を図るために、その液晶表示領域の全ての画素を点灯さ
せる点灯試験が行われる。この点灯試験は、ドライブ回
路等が搭載される前の段階での液晶パネルを全面点灯さ
せることによって、画素欠陥の有無等を検査するための
ものである。液晶パネルの点灯試験装置としては、試験
ステーションに液晶パネルの電極に接離されるコンタク
トプローブを備えたコンタクト機構と、位置決めテーブ
ルを有する搬送手段とを備え、液晶パネルを位置決めテ
ーブルに載置して、試験ステーションに搬入して点灯試
験が行われる。液晶パネルを点灯させるには、液晶パネ
ルの背面側にバックライトを配置して、このバックライ
トを点灯させると共に、コンタクトプローブを液晶パネ
ルに当接させて、このコンタクトプローブの接点を液晶
パネルの電極と電気的に接続した状態で、コンタクトプ
ローブから駆動電圧を液晶パネルの全画素に印加する。
そして、例えば目視等で全ての画素が点灯しているか否
かの判定を行うことにより、画素欠陥の有無その他の検
査を行う。
【0004】前述した点灯試験を行うに当っては、液晶
パネルの電極に対してコンタクトプローブを接続させる
が、液晶パネルの各電極とコンタクトプローブの各接点
との間を電気的に接続するために、液晶パネルとコンタ
クト機構との間の位置を厳格に合わせる必要がある。こ
の位置合わせは、液晶パネル側をコンタクト機構に倣う
ように位置調整するが、このために搬送手段に設けられ
る位置決めテーブルを水平方向(X,Y方向)及び回転
方向(θ方向)に位置調整可能となすと共に、位置検出
手段を設けて、位置決めテーブルに載置した液晶パネル
の位置を検出する。そして、この位置検出手段により液
晶パネルが所定の基準位置からずれていることが検出さ
れると、そのずれ方向及びずれ量に基づいて、位置決め
テーブルを直線方向に移動させることにより液晶パネル
の位置補正を行う。
【0005】一般に、液晶パネルは2枚の透明基板を接
合してなるものであって、ドライブ回路をTAB(Tape
Automated Bonding)方式やCOG(Chip On Glass) 方式
等で搭載するようになっており、液晶ディスプレイとし
て組み立てる種々の段階で、液晶パネルを構成する2枚
の透明基板の位置認識を可能にするために、上下の透明
基板には、電極形成面の角隅位置等にアライメントマー
クが設けられている。そこで、前述した位置検出手段
は、このアライメントマークを検出して、その位置検出
を行うようになし、この位置検出手段としては、テレビ
カメラを用いた画像認識に基づいて行うのが一般的であ
る。従って、アライメントマークを撮影する必要がある
が、搬送手段による搬送経路の所定の位置に照明ユニッ
トと、対物レンズ及びCCD等からなる撮像手段とから
なる撮像ユニットとを設けておき、照明ユニットの照明
ランプで透明基板のアライメントマークを照明した状態
で、撮像手段で撮像することができ、そして画像信号を
画像認識手段に伝送して、このアライメントマークの所
定の基準位置とのずれを認識することができる。
【0006】液晶パネルを水平方向及び回転方向に正確
に位置決めするには、アライメントマークを最低でも2
箇所検出しなければならない。このように、複数箇所の
アライメントマークを撮像するためには、位置決めステ
ーションを設けて、この位置決めステーションに搬送手
段の位置決めテーブルが所定の位置に配置された時に、
液晶パネルのアライメントマークが視野内に入る位置に
2組の撮像ユニットを装着しておき、これら2組の撮像
ユニットから得られるアライメントマークの画像を画像
認識手段に取り込んで、2つのアライメントマークが基
準位置からずれているか否かの検出を行い、位置ずれが
ある場合には、どの方向にどの程度ずれているかを検出
する。
【0007】ここで、液晶パネルを構成する透明基板と
しては、例えばTFT(Thin-Film Transistor)パネルが
あるが、このTFTパネルは一方側の透明基板(通常は
下側の透明基板)にのみ電極が形成されており、従って
コンタクト機構におけるコンタクトプローブはこの電極
が形成されている側の透明基板に対して接離を行うこと
になるから、この透明基板に設けたアライメントマーク
を2箇所撮像すれば、その位置を正確に検出できる。一
方、SNTパネルやMIMパネル等の場合には、接合さ
れている2枚の透明基板の一方には一方向、例えば縦方
向に所定のピッチ間隔で多数の電極が設けられ、また他
方の透明基板には他の方向、例えば横方向に所定のピッ
チ間隔で多数の電極が設けられて、両透明基板によりマ
トリックスを形成する。これら両透明基板に形成される
電極は相対向する面に形成されており、従って両透明基
板のうちの一方の電極には上方から、また他方について
は下方からコンタクトプローブが接続されることにな
る。そして、STNパネル,MIMパネル等のように両
透明基板に設けられる電極は微小ピッチ間隔であり、し
かも縦(垂直方向)及び横(水平方向)の電極のピッチ
間隔は異なり、水平方向のピッチ間隔の方がより微小と
なっている。
【0008】而して、2枚の透明基板は、正確に位置合
わせした状態で貼り合わせられるが、それでもなお許容
誤差があり、この許容誤差の範囲で両透明基板間には相
対的に僅かな位置がずれている場合がある。そして、コ
ンタクトプローブを液晶パネルに接続するために行われ
る液晶パネルの位置決め時にもある程度の誤差が生じる
等のことから、従って液晶パネルの一方の透明基板だけ
の位置を検出していたのでは、誤差の累積等によりコン
タクト不良が生じるおそれがある。以上のことから、両
透明基板に電極が設けられている液晶パネルの点灯試験
を行う際には、上側及び下側の透明基板のそれぞれ2箇
所のアライメントマークの検出を行う必要がある。これ
ら4箇所のアライメントマークをそれぞれ個別的に検出
するように構成した場合には、撮像ユニットを4組設け
なければならないから、位置検出機構の構成が極めて複
雑になると共に、各撮像ユニット間の組み付け誤差の発
生等により正確な位置検出を行えなくなる等の問題点が
生じる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】以上のことから、位置
検出機構の簡略化や組み付けの容易性を確保するために
は、撮像ユニットを1箇所にのみ配置して、搬送手段の
作動により、位置決めテーブルに載置した液晶パネルを
移動させて、それに設けた4箇所のアライメントマーク
を順次撮像ユニットにより撮像するように構成しなけれ
ばならない。
【0010】ところで、上下に重ね合わせた透明基板
は、相互に対面する側にアライメントマークが形成され
ているから、一方の透明基板におけるアライメントマー
クは直接撮像できるが、他方の透明基板に対しては裏面
側からアライメントマークを撮像することになり、従っ
て透明基板を介してアライメントマークを見ることにな
る。このように、直接アライメントマークを撮像する場
合と、透明基板を介してアライメントマークを撮像する
場合とでは、透明基板の屈折率分だけ焦点距離が異なっ
てくる。このために、撮像ユニットを構成する対物レン
ズとしては固定焦点レンズを用いることができず、焦点
調節機構を持たせるために、その構成が複雑になる等の
問題点がある。
【0011】また、アライメントマークは電極と同じ材
質のもので形成されるのが一般的であり、下側の透明基
板における電極はアルミニウムやチタン等の金属パター
ンで形成されることから、アライメントマークも同様の
金属パターンで形成されることになり、このアライメン
トマークは極めて高い反射率を有する。これに対して、
上側に位置する透明基板は高い透明性が要求されるの
で、透明電極、例えばITO膜によるパターンで形成さ
れており、従ってアライメントマークもITOパターン
で形成される。このITOは光の反射率は極めて低い。
従って、上側の透明基板と下側の透明基板とでは、アラ
イメントマークの反射率に著しい差異があることから、
同じ照明ユニットと撮像ユニットとを用いたのでは、こ
れら透明基板のアライメントマークの一方を撮像できな
い場合もある。
【0012】以上の事情等から、従来においては、単一
の撮像ユニットを用いて上側の透明基板におけるアライ
メントマークと、下側の透明基板に設けたアライメント
マークとを検出することができなかった。このために、
アライメントマークを撮像するのに少なくとも4組の撮
像ユニットを用いることになり、従って構成が極めて複
雑になると共に、位置検出機構の構成が大型化し、かつ
各撮像ユニット間の組み付けを相互に厳格に位置合わせ
した状態に組み込むようにするために、組み付けも極め
て面倒になる等といった課題があった。
【0013】本発明は以上の点に鑑みてなされたもので
あって、その目的とするところは、上下の透明基板のそ
れぞれに形成した複数のアライメントマークを単一の撮
像ユニットを用いて鮮明に撮像できて、液晶パネルを構
成する両透明基板の位置を正確に検出できるようにする
ことにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、相対向する側面に電極を形成すると
共に、電極形成面にアライメントマークを設けた上下一
対の透明基板からなる液晶パネルの位置を検出するため
の装置であって、上下の透明基板にそれぞれ形成したア
ライメントマークを撮像するために、照明ユニット及び
撮像ユニットと、液晶パネルの各アライメントマークを
順次撮像ユニットによる視野に入れるために、前記撮像
ユニットと透明基板とを相対移動させる位置調整手段
と、前記上側の透明基板のアライメントマークを撮像す
る際に、下側の透明基板を撮像時との間で焦点距離を補
正するために、撮像ユニットと液晶パネルとの間に挿脱
可能に配置した透明板とを備える構成としたことをその
特徴とするものである。
【0015】以上によって、透明基板の裏面側からアラ
イメントマークを撮像する場合に、透明基板の屈折率に
よる焦点距離と、直接アライメントマークを撮像する際
との焦点距離との差を透明板により補正できる。また、
上下の透明基板に形成されるアライメントマークの材質
が異なっている場合に対処するには、さらに照明ユニッ
トからの照明光路に波長選択手段を挿脱可能に設ける。
例えば、ITO膜のように透明に近いアライメントマー
クをより明確に撮像するには、このITOの反射率の最
も高い波長の光を選択的に照射する。これによって、ア
ライメントマークの部位とそれ以外の部位との間のコン
トラストが良好になるから、アライメントマークをより
明確に撮像できる。また、光の反射率の高いアライメン
トマークと反射率の低いアライメントマークとを撮像す
る場合には、照明ユニットから照射される照明光の光量
を反射率の低いアライメントマークに適した光量とな
し、反射率の高いアライメントマークの撮像時には、フ
ィルタを光路に臨ませて、反射光を弱めるようにすれ
ば、撮像手段におけるハレーション等の発生を防止で
き、両アライメントマークを鮮明に撮像できる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。まず、図1において、1は
液晶パネルを示す。この液晶パネル1は上下の透明基板
2,3から構成され、上側の透明基板2は短辺が下側の
透明基板3より長く、長辺は下側の透明基板3の方が長
くなっている。従って、透明基板2の長辺部には透明基
板3からの張り出し部の下面には電極4が引き出された
電極引き出し部2aとなっており、また透明基板3の短
辺部の透明基板2から張り出した部分の上面には電極5
が引き出された電極引き出し部3aとなっている。従っ
て、液晶ディスプレイとして構成した時には、上側の透
明基板2の電極4は水平方向の電極であり、また下側の
透明基板3における電極5は垂直方向の電極であり、こ
れら両電極4,5によりマトリックスが形成される。こ
こで、電極4のピッチ間隔は電極5のピッチ間隔より短
くなっている。
【0017】上側に位置する透明基板2における電極4
は透明電極であり、通常はITOパターンで構成され、
また透明基板3の電極5は金属パターンで形成される。
そして、両透明基板2,3の電極引き出し部2a,3a
には、その両端の位置にそれぞれ一対からなるアライメ
ントマーク6,7が形成されており、これら各アライメ
ントマークは、いずれも電極4,5が形成されている面
において、その材質は電極4,5と同じものである。
【0018】以上の構成を有する液晶パネル1の点灯試
験を行う点灯試験装置は、例えば図2に示したように構
成される。この点灯試験装置においては、、位置決めス
テーションS1 と試験ステーションS2 とを有し、液晶
パネル1は位置決めステーションS1 において、搬送手
段10に載置されてその位置決めを行って、試験ステー
ションS2 に搬入して点灯試験が行われる。このため
に、搬送手段10は液晶パネル1をこれら両ステーショ
ン間を往復搬送するようになっている。搬送手段10
は、図3に示したように、送りねじ11により直線方向
に往復移動する搬送基台12を有し、この搬送基台12
上には、送りねじ11による搬送方向をX方向とした時
に、この方向と直交する方向に移動可能なY軸ステージ
13が装着されており、さらにこのY軸ステージ13上
には水平方向に回転可能なθステージ14が装着されて
いる。液晶パネル1が載置される位置決めテーブル15
は、このθステージ14上に設けられている。これによ
って、位置決めテーブル15はX,Y方向及びθ方向に
位置調整が可能となっている。また、この位置決めテー
ブル15はコ字状に形成したパネルホルダ16を有し、
液晶パネル1は位置決めテーブル15において、上側の
透明基板2における電極4の形成面を除いた3辺がパネ
ルホルダ16に当接するように載置される。また、パネ
ルホルダ16にはバックライトが挿脱される開口16a
が形成されている。
【0019】液晶パネル1は、位置決めテーブル15の
パネルホルダ16に載置された状態で、位置決めステー
ションS1 においてその位置調整が行われて、送りねじ
11により試験ステーションS2 に搬入されて、この試
験ステーションS2 に設けたコンタクト機構20により
点灯試験が行われる。ここで、コンタクト機構20は昇
降枠体21に取り付けられており、この昇降枠体21を
昇降させることによって、コンタクト機構20のコンタ
クトプローブ(図示せず)を液晶パネル1の上下の透明
基板2,3における電極4,5と接離される。
【0020】位置決めステーションS1 には位置決めテ
ーブル15のパネルホルダ16に載置されている液晶パ
ネル1の位置を検出する。ここで、位置決めテーブル1
5においては、液晶パネル1は粗位置決めされた状態に
なっているが、この位置決めテーブル15での位置決め
は、液晶パネル1の外形を規制するものであり、液晶パ
ネル1の外形については厳格な寸法出しが行われていな
いこと等から、外形基準だけでは液晶パネル1の位置は
多少ずれていることがある。しかも、両透明基板2,3
相互の位置も僅かではあるが、位置ずれしている場合も
ある。そこで、液晶パネル1の厳格な位置決めを行うた
めに、液晶パネル1の位置検出を行う。しかも、この位
置検出は単に液晶パネル1の位置を検出するのではな
く、両透明基板2,3の位置を検出する。このために、
位置決めステーションS1 には図4に示した位置検出手
段22を備えている。
【0021】位置検出手段22は、照明ユニット30及
び撮像ユニット31を有し、撮像ユニット31は位置決
めテーブル15の上部位置に配置されて、液晶パネル1
の上方からアライメントマーク6,7の撮像が行われ
る。照明ユニット30は、照明ランプ32と、この照明
ランプ32からの照明光を伝送するためのライトガイド
33とを備えている。これによって、照明ランプ32は
任意の場所に設置できるようになる。
【0022】撮像ユニット31は、固定的に保持された
ハウジング34を有し、このハウジング34内には、対
物レンズ35が設けられており、この対物レンズ35は
液晶パネル1における下側の透明基板3に設けたアライ
メントマーク7が焦点位置となるように配置されてい
る。また、対物レンズ35の結像位置には撮像手段とし
てのCCD36が設けられている。そして、ハウジング
34における対物レンズ35とCCD36との間の位置
にはハーフミラー37が設けられており、照明ユニット
30における照明ランプ32からライトガイド33を介
して伝送された照明光は、水平方向からハウジング34
の光導入部34aから導かれて、ハーフミラー37に反
射して光路を下方に向けて、液晶パネル1に対して落射
方向に照明できるようになっている。この照明下で得ら
れる液晶パネル1のアライメントマーク6,7の画像
は、ハーフミラー37を透過して、CCD36に結像さ
れるようになっている。
【0023】ここで、対物レンズ35は固定焦点レンズ
であって、前述したように、下側の透明基板3に設けた
アライメントマーク7にピントが合うようになってい
る。これに対して、上側の透明基板2におけるアライメ
ントマーク6を撮像する際には、この透明基板2の裏側
に位置しているから、この透明基板2の屈折率分だけピ
ントがずれることになる。そこで、この透明基板2での
屈折によるピントのずれを補正するために、ハウジング
34の対物レンズ35の物体側の位置には透明ガラス3
8が光路に挿脱可能に設けられている。この透明ガラス
38は、例えばターレット39に装着して、下側の透明
基板3のアライメントマーク7を撮像する際には、光路
から外れた位置に変位させ、上側の透明基板2のアライ
メントマーク6を撮像する際には、ターレット39を変
位させて、透明ガラス38を光路に臨ませるようにす
る。ここで、ターレット39に装着される透明ガラス3
8は、透明基板2と同じ材質のものとするか、または少
なくとも同じ屈折率を有する部材で構成する。また、タ
ーレット39の他方は開口40とする。
【0024】ところで、上側の透明基板2及び下側の透
明基板3に設けたアライメントマーク6,7は、同じ材
質のもので、光の反射率の高いもので形成されておれば
良いが、通常は電極4,5を形成する時に、同時にアラ
イメントマーク6,7も形成される。従って、上側の透
明基板2には電極4と同じ部材からなるアライメントマ
ーク6が形成され、下側の透明基板3には電極5と同じ
部材からなるアライメントマーク7が形成される。上側
の透明基板2は下側の透明基板3より高い透明性が要求
されるから、透明電極、通常はITO膜からなるパター
ンで形成される。一方、下側の透明基板3はバックライ
トを透過させれば良いことから、上側の透明基板2と比
較して透明性の要請が低く、このために電極5は金属パ
ターンで形成される。従って、上側の透明基板2のアラ
イメントマーク6は光の反射率が低いITOで形成さ
れ、下側の透明基板3におけるアライメントマーク7は
光の反射率の高い金属膜で形成される。このために、照
明光の光量が小さいと、上側の透明基板2に設けたアラ
イメントマーク6はCCD36により鮮明に撮像できな
いことになる。一方、照明光量を増大させると、反射率
の高い下側の透明基板3のアライメントマーク7を撮像
すると、CCD36が飽和状態になり、アライメントマ
ーク7は全く撮像不能となるか、またはハレーションが
生じる等により鮮明な画像が得られなくなる。
【0025】ところで、ITOは、約390nmの波長
で最も高い反射が得られる。従って、アライメントマー
ク7を撮像する際には、この波長の光を選択的に透過さ
せる波長選択フィルタ41をライトガイド33の出射端
とハウジング34の光導入部34aの入射口との間の位
置に臨ませる。これによって、アライメントマーク7と
それ以外の部位との間のコントラストが高くなる。ま
た、アライメントマーク6を撮像する際には、照明光量
を低下させるために、NDフィルタ42を光路に臨ませ
る。これら波長選択フィルタ41とNDフィルタ42と
は、例えばターレット43に設けることができる。な
お、このNDフィルタに代えて、照明ランプ32を制御
して、アライメントマーク6を撮像する際には、照明光
量を大きくし、またアライメントマーク7を撮像する際
には、照明光量を小さくするように構成しても良い。ま
た、ターレット39,43を変位させるには、例えばソ
レノイド等を用いることができる。
【0026】以上のようにしてCCD36で得た画像信
号は画像認識装置に取り込まれて、この画像認識装置で
所定の信号処理を行うことによって、アライメントマー
ク6,7の基準位置からのずれが検出される。そして、
この画像認識装置により認識されたアライメントマーク
6,7の検出位置に基づいて、適正な位置を演算により
割り出して、位置決めテーブル15をXY方向及びθ方
向に変位させる駆動手段に駆動信号を入力し、この駆動
信号に基づいて位置決めテーブル15を駆動することに
よって、液晶パネル1の位置調整を行うことができる。
【0027】本実施の形態は以上のように構成されるも
のであって、次に図5に基づいて液晶パネル1の位置検
出を行う方法について説明する。
【0028】ここで、図5にFで示したのが撮像ユニッ
ト31の視野であり、液晶パネル1は搬送手段10によ
り図5の矢印A方向に搬送されて、この図の実線で示し
た位置で停止する。搬送手段10による液晶パネル1の
この位置が原点位置となる。この状態から、4個設けら
れているアライメントマークを順次撮像ユニット31の
視野Fに入れることによって、位置決めテーブル15上
での液晶パネル1の位置検出を行う。
【0029】まず、θステージ14を作動させて、液晶
パネル1を略90°水平方向に回転させて、同図に破線
で示した位置に変位させる。これによって、搬送された
時における下側の透明基板3における右側のアライメン
トマーク7が撮像ユニット31の視野F内に入ることに
なる。そして、この時には、ターレット39は開口部分
が撮像ユニット31の光路に臨み、またターレット43
はNDフィルタ42が照明光路に臨む状態にする。これ
によって、照明ランプ32からの照明光は、NDフィル
タ42を介することにより、光量を低下させた状態で、
ハウジング34内に導かれて、ハーフミラー37で反射
することにより光路を下方に向けて、このアライメント
マーク7を照明する。アライメントマーク7は対物レン
ズ35の焦点位置に配置されているから、CCD36に
は所定の倍率でアライメントマーク7が鮮明に結像され
る。これによって、液晶パネル1を構成する下側の透明
基板3の一方のアライメントマーク7が撮像されて、こ
の画像信号が画像認識装置43に取り込まれ、所定の画
像処理が行われる。ここで、照明ランプ32からの照明
光を直接アライメントマーク7に照射するのではなく、
NDフィルタ42を介して照明しているから、金属膜等
というように、反射率の高いアライメントマーク7を撮
像する際に、適正な光量となるように低下することにな
って、ハレーション等のおそれがなく、鮮明な画像が得
られる。
【0030】次に、送りねじ11を作動させて、液晶パ
ネル1を、その下側の透明基板3に設けた一対のアライ
メントマーク7の間隔に相当する距離だけ前進させる
と、図5の点線で示した位置に変位して、実線状態での
液晶パネル1の透明基板3における左側のアライメント
マーク7が撮像ユニット31の視野F内に位置すること
になる。そこで、前述と同様にして、このアライメント
マーク7を撮像ユニット31におけるCCD36で撮像
し、その画像信号を画像認識装置に取り込まれて、所定
の画像処理が行われる。
【0031】以上により下側の透明基板3における両ア
ライメントマーク7,7の位置が検出されたことにな
る。この後に、上側の透明基板2における一対のアライ
メントマーク6,6の撮像を行う。上側の透明基板2に
は撮像ユニット31から見れば、裏面側にアライメント
マーク6が設けられているから、透明基板2の屈折率に
基づくピント調整を行う必要があるから、ターレット3
9を作動させて、透明ガラス38を対物レンズ35の光
路に臨ませる。また、アライメントマーク6は光の反射
率が低く、しかも波長選択性があるから、ターレット4
3を波長選択フィルタ41が照明光路に臨む位置に変位
させる。
【0032】この状態で、θステージ14と、送りねじ
11及びY軸ステージ13を作動させて、まず図5の一
点鎖線で示した位置に液晶パネル1を移動させて、上側
の透明基板2の前方に位置するアライメントマーク6を
撮像ユニット31の視野F内に入るようにする。この状
態で、照明ユニット30による照明下で、撮像ユニット
31におけるCCD36によりアライメントマーク6を
撮像する。ここで、照明ユニット30からの照明光は、
波長選択フィルタ41によりITOから最も高い反射率
となる波長光で照射されることから、アライメントマー
ク6からの反射光が十分得られ、しかも透明ガラス38
の介在により対物レンズ35のピントが正確に合った状
態になるから、CCD36によりアライメントマーク6
とそれ以外の部位とのコントラストが明確で、極めて鮮
明な画像が得られる。そして、このアライメントマーク
6の画像信号も画像認識装置に伝送されて、所定の画像
処理が行われる。
【0033】さらに、この状態から送りねじ11を作動
させて、図5に二点鎖線で示したように、液晶パネル1
をアライメントマーク6,6間の間隔に相当する距離だ
け前進させる。これによって、上側の透明基板2におけ
る後方位置のアライメントマーク6が撮像ユニット31
の視野F内に入ることになって、このアライメントマー
ク6がCCD36で撮像され、その画像信号は画像認識
装置に伝送されて、同様の信号処理が行われる。
【0034】液晶パネル1は以上の動作を行いながら、
順次アライメントマークの撮像が行われるが、この液晶
パネル1の動きは、実際には位置決めテーブル15の動
きであり、この位置決めテーブル15の動きとしては、
図5の実線位置が基準位置となり、この位置から90°
左方向に回転させ、次いで距離D1 前進させ、さらに9
0°右方に回転させた上で、距離D2 前進させると共に
距離D3 だけ左方に変位させ、然る後に距離D4 前進さ
せることにより、4つのアライメントマークの撮像を行
う。これによって、位置決めテーブル15上における液
晶パネル1の位置ずれの有無及びずれ方向とずれ量を検
出できる。ただし、この動きの手順は、いずれのアライ
メントマークから順に撮像するかにより変化するもので
あり、その順序は前述したものに限定される訳ではな
い。また、撮像ユニット31は液晶パネル1の上方に配
置するのではなく、下方に設けるようにすることもでき
る。このように下方に撮像ユニット31を設けた場合に
は、上側の透明基板2のアライメントマーク6は直接撮
像され、また下側の透明基板3のアライメントマーク7
は透明基板3を介して撮像されることになる。
【0035】而して、画像認識装置では、前述した4つ
の画像信号を順次基準位置と比較して、各々のずれ方向
及びずれ量を検出して、所定の演算を行うことによっ
て、液晶パネル1全体の基準位置からのずれの検出がな
される。そして、再び図5の実線の原点位置に復帰させ
る際に、送りねじ11,Y軸ステージ13及びθステー
ジ14を適宜動かすことによって、この実線位置に復帰
する際に、液晶パネル1の位置調整を行う。この状態
で、搬送基台12を所定量前進させると、コンタクト機
構26におけるコンタクトプローブの接点が正確に液晶
パネル1の両透明基板2,3に設けた電極4,5と確実
に接続されることになる。ここで、透明基板2と透明基
板3とでは、電極4,5のピッチ間隔が異なっており、
従って前述した位置調整を行う際において、上下の透明
基板2,3間でずれがある場合には、ピッチ間隔の細か
い上側の透明基板2の方をより微細に位置調整する。
【0036】以上のように、単一の撮像ユニット31を
設け、しかもこの撮像ユニット31の対物レンズとして
は、構成が簡単な固定焦点レンズを用いることによっ
て、液晶パネル1に形成され、一方の透明基板には撮像
ユニットに対面する側に、また他方の透明基板には裏面
に設けたアライメントマークを、しかも異なる材質で形
成されたアライメントマークを正確かつ鮮明に撮像でき
る。従って、液晶パネル1の位置を検出するための機構
が著しく簡略化されると共に、複数箇所設ける場合と比
較して、撮像ユニット相互の位置合わせを必要としない
分だけ組み付け性も良好になる。
【0037】
【発明の効果】本発明は以上のように構成したので、上
下の透明基板のそれぞれに形成した複数のアライメント
マークを単一の撮像ユニットを用いて鮮明に撮像できる
ようになって、液晶パネルを構成する両透明基板の位置
を正確に検出でき、かつ位置検出機構の構成が極めて簡
略化されると共に、その組み付け性が良好になる等の効
果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】液晶パネルの平面図である。
【図2】点灯試験装置の概略構成図である。
【図3】液晶パネルの搬送手段の構成説明図である。
【図4】本発明の実施の一形態を示す位置検出手段の構
成説明図である。
【図5】液晶パネルの4個のアライメントマークを撮像
する順序の一例を示す作用説明図である。
【符号の説明】
1 液晶パネル 2,3 透明基板 6,7 アライメントマーク 10 搬送手段 13 Y軸ステージ 14 θステージ 15 位置決めテーブル 30 照明ユニット 31 撮像ユニット 32 照明ランプ 35 対物レンズ 36 CCD 37 ハーフミラー 38 透明ガラス 39,43 ターレット 40 開口 41 波長選択フィルタ 42 NDフィルタ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 相対向する側面に電極を形成すると共
    に、電極形成面にアライメントマークを設けた上下一対
    の透明基板からなる液晶パネルの位置を検出するための
    装置において、上下の透明基板にそれぞれ形成したアラ
    イメントマークを撮影するために、照明ユニット及び撮
    像ユニットと、液晶パネルの各アライメントマークを順
    次撮像ユニットによる視野に入れるために、前記撮像ユ
    ニットと透明基板とを相対移動させる位置調整手段と、
    前記上側の透明基板のアライメントマークを撮影する際
    に、下側の透明基板を撮影時との間で焦点距離を補正す
    るために、撮像ユニットと液晶パネルとの間に挿脱可能
    に配置した透明板とを備える構成としたことを特徴とす
    る液晶パネルの位置検出装置。
  2. 【請求項2】 前記照明ユニットからの照明光路には、
    前記アライメントマークの材質により、最も高い反射率
    の波長光を選択的に透過させる波長選択手段を挿脱可能
    に設ける構成としたことを特徴とする請求項1記載の液
    晶パネルの位置検出装置。
  3. 【請求項3】 前記照明ユニットからの照明光路には、
    前記アライメントマークの反射率に応じて適正な照明光
    量となるように光量を調整する光量調整手段を挿脱可能
    に設ける構成としたことを特徴とする請求項1記載の液
    晶パネルの位置検出装置。
JP12476797A 1997-04-30 1997-04-30 液晶パネルの位置検出装置 Pending JPH10301075A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12476797A JPH10301075A (ja) 1997-04-30 1997-04-30 液晶パネルの位置検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12476797A JPH10301075A (ja) 1997-04-30 1997-04-30 液晶パネルの位置検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10301075A true JPH10301075A (ja) 1998-11-13

Family

ID=14893623

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12476797A Pending JPH10301075A (ja) 1997-04-30 1997-04-30 液晶パネルの位置検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10301075A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010091990A (ja) * 2008-10-10 2010-04-22 Nikon Corp 表示素子の製造方法、及び表示素子の製造装置
WO2016190459A1 (ko) * 2015-05-26 2016-12-01 솔브레인이엔지 주식회사 디스플레이 패널 검사 카메라

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010091990A (ja) * 2008-10-10 2010-04-22 Nikon Corp 表示素子の製造方法、及び表示素子の製造装置
WO2016190459A1 (ko) * 2015-05-26 2016-12-01 솔브레인이엔지 주식회사 디스플레이 패널 검사 카메라

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI490477B (zh) 電子零件檢查方法及用於該方法中之裝置
JP3199481B2 (ja) 液晶ディスプレイ基板の検査装置
JPH05160230A (ja) ボンデイングワイヤ検査装置及び方法
TW200427980A (en) Inspection device for transparent substrate end surface and inspection method therefor
JP3378795B2 (ja) 表示装置の検査装置および検査方法
US20070182954A1 (en) Defective pixel correction apparatus for liquid crystal panel
JP2009150835A (ja) 光学的検査方法および光学的検査装置
JP2789387B2 (ja) ボンディング装置
CN212207144U (zh) 用于检测玻璃片上的表面缺陷的设备
JPH10301075A (ja) 液晶パネルの位置検出装置
JP3639828B2 (ja) Lcd検査プローブの位置合わせ方法及び装置
JP2008091843A (ja) 基板の圧着状態検査装置
JPH0627034A (ja) パターン検出方法とその装置
KR100778138B1 (ko) 평판디스플레이 패널의 검사 장치
JP3388174B2 (ja) 表示装置の欠陥修正装置
JP2001091222A (ja) 膜厚測定装置の校正方法および膜厚測定装置および校正用部材
KR20110117371A (ko) 패턴 검사 장치
JP2000046747A (ja) 液晶基板の外観検査方法および装置
JP2003177371A (ja) 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法
JPH022947A (ja) 検査・リペア装置
KR20190097768A (ko) 평판디스플레이 패널 검사 방법 및 장비
JP2000333047A (ja) 光学的撮像装置および光学的撮像方法
JPH10301076A (ja) 液晶パネルの点灯試験装置
JPH11287937A (ja) 光学素子の貼り合わせ装置
CN110609439B (zh) 检查装置