JPH10284447A - Wafer adhesive removing apparatus - Google Patents

Wafer adhesive removing apparatus

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JPH10284447A
JPH10284447A JP8681397A JP8681397A JPH10284447A JP H10284447 A JPH10284447 A JP H10284447A JP 8681397 A JP8681397 A JP 8681397A JP 8681397 A JP8681397 A JP 8681397A JP H10284447 A JPH10284447 A JP H10284447A
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wafer
slice base
adhesive
brush
cassette
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Kenichi Nakaura
健一 中浦
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wafer adhesive removing apparatus capable of automatically removing the adhesive remaining on a wafer after stripping the slice base. SOLUTION: Many wafers W are housed in a cassette 14 with their slice base stripping parts oriented in one direction, and a brush 36 contacted to the stripping parts of the wafers in the cassette is rotated and slid along the stripping parts, thereby removing an adhesive B remaining on the wafers from the wafers.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はウェーハ接着剤除去
装置に係り、特にスライスベースが剥離されたウェーハ
に残存する接着剤を除去するウェーハ接着剤除去装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wafer adhesive removing apparatus, and more particularly to a wafer adhesive removing apparatus for removing an adhesive remaining on a wafer from which a slice base has been peeled off.

【0002】[0002]

【従来の技術】インゴットの切断を行う場合、その切り
終わり部分の欠損を防止するために、インゴットにスラ
イスベースを接着して切断する。このスライスベース
は、切断後に、ウェーハから剥離されるが、その剥離方
法には、熱水式、加熱式、乾式等様々な方式のものがあ
る。
2. Description of the Related Art When cutting an ingot, a slice base is adhered to the ingot and cut in order to prevent a defect at a cut end portion. The slice base is peeled from the wafer after cutting, and there are various types of peeling methods such as a hot water type, a heating type, and a dry type.

【0003】しかし、いずれの方式を採用する場合であ
っても、剥離後のウェーハに、スライスベースを接着す
る際に用いた接着剤が残存するという問題があった。こ
のため、従来は、ウェーハからスライスベースを剥離し
た後、作業者が、ウェーハのスライスベースが接着され
ていた部分をブラシで擦ることによって、接着剤を除去
していた。
However, in either case, there is a problem that the adhesive used for bonding the slice base remains on the peeled wafer. For this reason, conventionally, after peeling the slice base from the wafer, an operator has rubbed the portion of the wafer to which the slice base was bonded with a brush to remove the adhesive.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ごとく作業者が1枚1枚手作業で接着剤を除去する方法
では、処理に時間がかかり、生産効率がきわめて悪いと
いう問題があった。本発明は、このような事情を鑑みて
なされたもので、スライスベース剥離後にウェーハに残
存した接着剤を自動で除去することができるウェーハ接
着剤除去装置を提供することを目的とする。
However, the method in which the worker removes the adhesive manually one by one as described above has a problem that processing takes a long time and production efficiency is extremely poor. The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a wafer adhesive removing apparatus that can automatically remove an adhesive remaining on a wafer after a slice base is peeled off.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、スライスベースが剥離されたウェーハの
スライスベース剥離部に残存する接着剤を除去するウェ
ーハ接着剤除去装置において、複数枚のウェーハを、そ
のスライスベース剥離部の方向を一定にして格納するカ
セットと、前記カセットに格納されたウェーハのスライ
スベース剥離部と対向する位置に配置されたブラシと、
前記ブラシを回転させる回転駆動手段と、前記ブラシを
前記カセットに格納されたウェーハのスライスベース剥
離部に対して進退移動させる進退移動手段と、前記ブラ
シを前記カセットに格納されたウェーハのスライスベー
ス剥離部に沿って移動させる移動手段と、からなり、前
記ブラシを前記ウェーハのスライスベース剥離部に当接
し、該ブラシを回転させながら前記ウェーハのスライス
ベース剥離部に沿って摺動させることにより、前記ウェ
ーハのスライスベース剥離部に残存する接着剤を除去す
ることを特徴とする。
According to the present invention, there is provided a wafer adhesive removing apparatus for removing an adhesive remaining at a slice base peeling portion of a wafer from which a slice base has been peeled. The wafer, a cassette that stores the direction of the slice base peeling unit is fixed, and a brush arranged at a position facing the slice base peeling unit of the wafer stored in the cassette,
Rotation driving means for rotating the brush, forward and backward moving means for moving the brush forward and backward with respect to a slice base peeling portion of a wafer stored in the cassette, and slice base peeling of the wafer stored in the cassette. A moving means for moving the brush along the slice base peeling portion of the wafer, and sliding the brush along the slice base peeling portion of the wafer while rotating the brush. It is characterized in that the adhesive remaining on the slice base peeling portion of the wafer is removed.

【0006】本発明によれば、ウェーハのスライスベー
ス剥離部に残存する接着剤は、回転しながら、そのスラ
イスベース剥離部に沿って摺動するブラシに擦り取られ
て、ウェーハから除去される。
According to the present invention, the adhesive remaining on the slice base peeling portion of the wafer is removed from the wafer while rotating, by being rubbed by a brush sliding along the slice base peeling portion.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るウェーハ接着剤除去装置の好ましい実施の形態につい
て詳説する。図1は、本発明に係るウェーハ接着剤除去
装置の実施の形態の構成を示す正面図であり、図2はそ
の側面図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of a wafer adhesive removing apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a front view showing a configuration of an embodiment of a wafer adhesive removing apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a side view thereof.

【0008】図1及び図2に示すように、熱水が貯留さ
れた熱水槽10内には、カセット設置台12が設けられ
ている。このカセット設置台12上には、ウェーハWを
格納するカセット14が着脱自在に設置されている。四
角形状をしたウェーハWは、このカセット14内に、そ
のスライスベース剥離部(スライスベースが接着されて
いた部分)の方向を上側にして格納されている(図3参
照)。
As shown in FIGS. 1 and 2, a cassette mounting table 12 is provided in a hot water tank 10 in which hot water is stored. On this cassette mounting table 12, a cassette 14 for storing wafers W is removably installed. The wafer W having a rectangular shape is stored in the cassette 14 with the direction of the slice base peeling portion (the portion to which the slice base is adhered) facing upward (see FIG. 3).

【0009】前記熱水槽10の近傍には、支柱16が垂
直に立設されている。この支柱16には、一対のガイド
レール18、18が配設されており、該ガイドレール1
8、18には、スライダ20、20を介して昇降テーブ
ル22が昇降自在に支持されている。前記支柱16の上
端部近傍には、前記ガイドレール18、18の配設方向
に沿って昇降用油圧シリンダ24が設置されている。こ
の昇降用油圧シリンダ24のロッドは、前記昇降テーブ
ル22に連結されている。前記昇降テーブル22は、こ
の昇降用油圧シリンダ24を駆動することにより、前記
ガイドレール18、18に沿って昇降移動する。
In the vicinity of the hot water tank 10, a column 16 is erected vertically. A pair of guide rails 18, 18 are provided on the support 16, and the guide rails 1
A lifting table 22 is supported by the sliders 8 and 18 via sliders 20 and 20 so as to be able to move up and down. A hydraulic cylinder 24 for elevating and lowering is installed near the upper end of the support 16 along the direction in which the guide rails 18 and 18 are arranged. The rod of the lifting hydraulic cylinder 24 is connected to the lifting table 22. The lifting table 22 is moved up and down along the guide rails 18 by driving the lifting hydraulic cylinder 24.

【0010】前記昇降テーブル22の下面には、図中Y
方向に沿って一対のガイドレール26、26が配設され
ている。このガイドレール26、26には、スライダ2
8、28を介してスライドフレーム30がスライド自在
に支持されている。一方、前記昇降テーブル22の上面
には、前記ガイドレール26、26に沿って、スライド
用油圧シリンダ32が配設されている。このスライド用
油圧シリンダ32のロッドは、連結部材34を介して前
記スライドフレーム30に連結されている。前記スライ
ドフレーム30は、このスライド用油圧シリンダ32を
駆動することにより、前記ガイドレール26、26に沿
って図中Y方向にスライド移動する。
The lower surface of the elevating table 22 has a Y
A pair of guide rails 26, 26 are provided along the direction. The guide rails 26 have a slider 2
A slide frame 30 is slidably supported via 8, 28. On the other hand, a slide hydraulic cylinder 32 is disposed on the upper surface of the elevating table 22 along the guide rails 26, 26. The rod of the sliding hydraulic cylinder 32 is connected to the slide frame 30 via a connecting member 34. By driving the slide hydraulic cylinder 32, the slide frame 30 slides in the Y direction in the drawing along the guide rails 26, 26.

【0011】前記スライドフレーム30は門型状に形成
されており、その下部にはブラシ36が回動自在に支持
されている。このブラシ36の軸心36aには、前記ス
ライドフレーム30に設けられたギアボックス38の出
力軸が連結されており、該ギアボックス38の入力軸に
はモータ40が連結されている。前記ブラシ36は、こ
のモータ40を駆動することにより回転する。
The slide frame 30 is formed in a gate shape, and a brush 36 is rotatably supported below the slide frame 30. An output shaft of a gear box 38 provided on the slide frame 30 is connected to an axis 36 a of the brush 36, and a motor 40 is connected to an input shaft of the gear box 38. The brush 36 is rotated by driving the motor 40.

【0012】なお、ここで使用するブラシ36は、従来
よりブラシの素材として用いられている不織布表面処理
材を使用する。この不織布表面処理材は、繊維の1本1
本に接着剤で研磨砥粒が付着されたナイロン繊維を多数
絡み合わせて布状に形成したものであり、前記ブラシ3
6は、この不織布表面処理材をローラ状に形成したもの
を用いる。この不織布表面処理材は、弾性力があり非研
磨物の形状によく馴染むという特質を有している。
The brush 36 used here is a nonwoven fabric surface treatment material conventionally used as a brush material. This non-woven fabric surface treatment material is one fiber one
Nylon fibers to which abrasive grains are adhered with an adhesive are entangled in a book to form a cloth.
For No. 6, a non-woven fabric surface treatment material formed in a roller shape is used. This nonwoven fabric surface treatment material has the characteristic that it has elasticity and fits well into the shape of a non-abraded material.

【0013】前記のごとく構成された本発明に係るウェ
ーハ接着剤除去装置の実施の形態の作用は次の通りであ
る。まず、所定枚数のウェーハWを、そのスライスベー
ス剥離部の方向を上側にしてカセット14内に格納す
る。そして、そのウェーハWが格納されたカセット14
を熱水槽10内のカセット設置台12上に設置する。
The operation of the embodiment of the wafer adhesive removing apparatus according to the present invention configured as described above is as follows. First, a predetermined number of wafers W are stored in the cassette 14 with the direction of the slice base peeling part facing upward. Then, the cassette 14 in which the wafer W is stored
Is set on the cassette setting table 12 in the hot water tank 10.

【0014】なお、この際、昇降テーブル22は、カセ
ット14の設置作業の邪魔にならないように、熱水槽1
0の上方に設定された待機位置に待機させておく。以上
のように、熱水槽10内にカセット14が設置される
と、そのカセット14内に格納されたウェーハWは、熱
水中に浸漬されるとともに、そのスライスベース剥離部
が図中Y方向に沿って配置される。そして、この後、ウ
ェーハ接着剤除去装置が稼働される。
At this time, the elevating table 22 is mounted on the hot water tank 1 so as not to hinder the installation of the cassette 14.
It is made to stand by at the stand-by position set above 0. As described above, when the cassette 14 is installed in the hot water tank 10, the wafer W stored in the cassette 14 is immersed in the hot water, and the slice base peeling portion is moved in the Y direction in the drawing. Are arranged along. After that, the wafer adhesive removing device is operated.

【0015】まず、昇降用油圧シリンダ24が駆動さ
れ、昇降テーブル22が熱水槽10に向かって下降す
る。前記昇降用油圧シリンダ24の駆動は、そのロッド
が所定量伸張すると停止され、この結果、前記昇降テー
ブル22の下部に支持されたブラシ36が、熱水槽10
内に設置されたウェーハWの上部、すなわちスライスベ
ース剥離部に当接する。
First, the lifting hydraulic cylinder 24 is driven, and the lifting table 22 is lowered toward the hot water tank 10. The drive of the lifting hydraulic cylinder 24 is stopped when the rod is extended by a predetermined amount. As a result, the brush 36 supported at the lower portion of the lifting table 22 is moved by the hot water tank 10.
Abuts on the upper portion of the wafer W installed therein, that is, the slice base peeling portion.

【0016】なお、このウェーハWに当接するブラシ3
6は、前述したように、弾性力を有しているため、適度
な押圧力を持ってウェーハWに当接する。前記昇降用油
圧シリンダ24の駆動が停止されると、次いで、ブラシ
36に連結されたモータ40が駆動され、この結果、ブ
ラシ36が回転を開始する。また、前記モータ40の駆
動開始とともに、スライドフレーム30に連結されたス
ライド用油圧シリンダ32が駆動され、この結果、前記
ブラシ36が図中Y方向に沿ってスライド移動を開始す
る。
The brush 3 which comes into contact with the wafer W
As described above, 6 has an elastic force, and thus contacts the wafer W with an appropriate pressing force. When the driving of the lifting hydraulic cylinder 24 is stopped, the motor 40 connected to the brush 36 is driven, and as a result, the brush 36 starts rotating. At the same time as the drive of the motor 40 is started, the slide hydraulic cylinder 32 connected to the slide frame 30 is driven. As a result, the brush 36 starts to slide along the Y direction in the drawing.

【0017】以上の結果、前記ブラシ36は、図3に示
すように、回転しながらウェーハWのスライスベース剥
離部に沿って摺動する。そして、前記ウェーハWのスラ
イスベース剥離部に残存した接着剤Bは、この回転しな
がら摺動するブラシ36に擦り取られてウェーハWから
除去される。なお、前記ウェーハWに付着した接着剤B
は、前記ウェーハWが熱水中に浸漬されることにより熱
軟化するため、前記のごとく回転しながら摺動するブラ
シ36が接触すると容易にウェーハWから剥がれ落ち
る。したがって、前記ブラシ36を一度通過させること
により、大部分の接着剤Bは除去することができるが、
より完全を期するために、ブラシ36は2〜4回程度往
復させる。
As a result, the brush 36 slides along the slice base peeling portion of the wafer W while rotating, as shown in FIG. The adhesive B remaining on the slice base peeling portion of the wafer W is scraped off by the rotating brush 36 and removed from the wafer W. The adhesive B attached to the wafer W
Since the wafer W is thermally softened by being immersed in hot water, the brush W is easily peeled off from the wafer W when the brush 36 that slides while rotating as described above comes into contact. Therefore, by passing the brush 36 once, most of the adhesive B can be removed.
The brush 36 is reciprocated about two to four times for more completeness.

【0018】前記ブラシ36の往復操作は、前記スライ
ド用油圧シリンダ32のロッドを伸縮させることにより
行うことができ、このブラシ36が所定回往復した後、
除去作業を終了する。すなわち、モータ40とスライド
用油圧シリンダ32の駆動を停止したのち、昇降用油圧
シリンダ24を駆動して昇降テーブル22を待機位置ま
で上昇させる。そして、熱水槽10からカセット14を
取り出す。
The reciprocating operation of the brush 36 can be performed by extending and retracting a rod of the slide hydraulic cylinder 32. After the brush 36 reciprocates a predetermined number of times,
The removal operation ends. That is, after the drive of the motor 40 and the slide hydraulic cylinder 32 is stopped, the lift hydraulic cylinder 24 is driven to raise the lift table 22 to the standby position. Then, the cassette 14 is taken out from the hot water tank 10.

【0019】このように、本実施の形態のウェーハ接着
剤除去装置によれば、自動で接着剤の除去を行うことが
できるとともに、一度に多数のウェーハWを処理するこ
とができる。したがって、インゴットから切断された後
の一連の処理作業をきわめて効率的に行うことができ
る。この結果、ウェーハの生産効率が向上する。なお、
本実施の形態の接着剤除去装置では、スライスベースの
剥離作業と組み合わせて行うと、より効率的なウェーハ
の処理が可能になる。すなわち、次の手順に従ってスラ
イスベースの剥離と接着剤の除去を、前述した接着剤除
去装置を用いて行う。
As described above, according to the wafer adhesive removing apparatus of the present embodiment, the adhesive can be automatically removed and a large number of wafers W can be processed at one time. Therefore, a series of processing operations after cutting from the ingot can be performed extremely efficiently. As a result, wafer production efficiency is improved. In addition,
In the adhesive removing apparatus according to the present embodiment, more efficient wafer processing becomes possible when performed in combination with a slice-based peeling operation. That is, the slice-based peeling and the removal of the adhesive are performed by using the above-described adhesive removing device according to the following procedure.

【0020】図4及び図5に示すように、まず、ウェー
ハWを格納するカセット14を予め熱水槽10内のカセ
ット設置台12上にセットしておく。次に、ワイヤソー
等によって櫛刃状に切断されたウェーハWを、熱水槽1
0の上方に位置したアーム42で支持し(アーム42に
ついては後述)、前記熱水槽10内に浸漬させる。この
とき、ウェーハWは、前記熱水槽10内にセットしたカ
セット14内に収容されるようにして熱水中に浸漬させ
る。
As shown in FIGS. 4 and 5, first, the cassette 14 for storing the wafer W is set on the cassette mounting table 12 in the hot water tank 10 in advance. Next, the wafer W cut into a comb blade shape by a wire saw or the like is placed in a hot water tank 1.
It is supported by the arm 42 located above the zero (the arm 42 will be described later), and is immersed in the hot water tank 10. At this time, the wafer W is immersed in hot water so as to be accommodated in the cassette 14 set in the hot water tank 10.

【0021】スライスベースに接着されているウェーハ
Wは、熱水中に浸漬させておくことにより、その接着剤
が熱軟化して自然にウェーハWから剥離する。剥離した
ウェーハWは、熱水中を落下してカセット14内に収容
される。このカセット14内に収容されたウェーハW
は、全てそのスライスベース剥離部の方向が上側を向く
ので、全てのウェーハWが自然剥離した後は、上述した
手順で接着剤の除去作業を行えばよい。
When the wafer W bonded to the slice base is immersed in hot water, the adhesive is thermally softened and spontaneously peels off from the wafer W. The peeled wafer W falls in hot water and is stored in the cassette 14. The wafer W accommodated in the cassette 14
Since the direction of the slice base peeling portion is all directed upward, after all the wafers W are naturally peeled, the operation of removing the adhesive may be performed by the above-described procedure.

【0022】これにより、スライスベースSの剥離と同
時に接着剤除去作業を行うことができるので、きわめて
効率的である。なお、前記ウェーハWを支持するアーム
42は、図示しない昇降手段により前記熱水槽10に対
して昇降自在に設けられており、また、前記昇降テーブ
ル22と接触しないように熱水槽10上から進退自在に
設けられている。したがって、スライスベースSの剥離
作業が終了したあとは、熱水槽10の上方から退避すれ
ば、接着剤除去作業時に昇降テーブル22等の移動に障
害となることはない。
Thus, the adhesive removing operation can be performed simultaneously with the peeling of the slice base S, which is extremely efficient. The arm 42 for supporting the wafer W is provided so as to be able to move up and down with respect to the hot water tank 10 by means of elevating means (not shown). It is provided in. Therefore, after the peeling operation of the slice base S is completed, if the evacuation is performed from above the hot water tank 10, the movement of the elevating table 22 and the like during the adhesive removing operation will not be an obstacle.

【0023】また、ウェーハWに接着されスライスベー
スSは、さらにマウンティングブロックMに接着されて
いるので、前記アーム42でウェーハWを支持するとき
は、このマウンティングブロックMの両端部を保持す
る。次に、本発明に係るウェーハ接着剤除去装置の第2
の実施の形態について説明する。
Further, since the slice base S adhered to the wafer W is further adhered to the mounting block M, when the wafer W is supported by the arm 42, both ends of the mounting block M are held. Next, a second embodiment of the wafer adhesive removing apparatus according to the present invention is described.
An embodiment will be described.

【0024】図6は、本発明に係るウェーハ接着剤除去
装置の第2の実施の形態の構成を示す正面図であり、図
7は、その側面図である。図6及び図7に示すように、
熱水が貯留された熱水槽50内には、カセット設置台5
2が設けられている。このカセット設置台52上には、
ウェーハWを格納するカセット54が、縦置きの状態で
設置されている。四角形状をしたウェーハWは、このカ
セット54内に多数積層された状態で格納され、そのス
ライスベース剥離部の方向をすべて一方向(図7におい
て左方向)に向けられている。
FIG. 6 is a front view showing the configuration of a second embodiment of the wafer adhesive removing apparatus according to the present invention, and FIG. 7 is a side view thereof. As shown in FIGS. 6 and 7,
In the hot water tank 50 in which the hot water is stored, a cassette mounting table 5 is provided.
2 are provided. On this cassette mounting table 52,
A cassette 54 for storing wafers W is installed in a vertically placed state. A large number of square wafers W are stored in a stacked state in the cassette 54, and the direction of the slice base peeling portion is all directed to one direction (left direction in FIG. 7).

【0025】前記熱水槽50の近傍には、支柱56が垂
直に立設されている。この支柱56には、一対のガイド
レール58、58が配設されており、該ガイドレール5
8、58には、スライダ60、60を介して昇降テーブ
ル62が昇降自在に支持されている。前記支柱56の上
端部近傍には、前記ガイドレール58、58の配設方向
に沿って昇降用油圧シリンダ64が設置されている。こ
の昇降用油圧シリンダ64のロッドは、前記昇降テーブ
ル62に連結されている。前記昇降テーブル62は、こ
の昇降用油圧シリンダ64を駆動することにより、前記
ガイドレール58、58に沿って昇降移動する。
In the vicinity of the hot water tank 50, a column 56 is vertically provided. A pair of guide rails 58, 58 are provided on the support 56, and the guide rails 5
Elevating tables 62 are supported by the sliders 8 and 58 so as to be able to move up and down. In the vicinity of the upper end of the column 56, a hydraulic cylinder 64 for elevation is installed along the direction in which the guide rails 58, 58 are arranged. The rod of the lifting hydraulic cylinder 64 is connected to the lifting table 62. The elevation table 62 is moved up and down along the guide rails 58 by driving the elevation hydraulic cylinder 64.

【0026】前記昇降テーブル62の下面には、図中Y
方向に沿って一対のガイドレール66、66が配設され
ている。このガイドレール66、66には、スライダ6
8、68を介して進退スライドフレーム70がスライド
自在に支持されている。一方、前記昇降テーブル62の
上面には、前記ガイドレール66、66に沿って、進退
スライド用油圧シリンダ72が配設されている。この進
退スライド用油圧シリンダ72のロッドは、L字状に形
成された連結部材74を介して前記進退スライドフレー
ム70に連結されている。前記進退スライドフレーム7
0は、この進退スライド用油圧シリンダ72を駆動する
ことにより、前記ガイドレール66、66に沿って図中
Y方向にスライド移動する。
The lower surface of the elevating table 62 has a Y
A pair of guide rails 66, 66 are provided along the direction. The guide rails 66 are provided with a slider 6.
An advance / retreat slide frame 70 is slidably supported via 8, 68. On the other hand, on the upper surface of the elevating table 62, an advancing / retracting slide hydraulic cylinder 72 is disposed along the guide rails 66,66. The rod of the hydraulic cylinder 72 for reciprocating slide is connected to the reciprocating slide frame 70 via a connecting member 74 formed in an L-shape. The forward / backward slide frame 7
By driving the forward / backward slide hydraulic cylinder 72, the slider 0 slides along the guide rails 66 in the Y direction in the figure.

【0027】前記進退スライドフレーム70は、逆L字
状に形成されており、その正面部70Aには、図中X方
向に沿ってガイドレール76が配設されている。このガ
イドレール76には、スライダ78を介してスライドベ
ース80がスライド移動自在に支持されている。また、
前記進退スライドフレーム70の正面70Aには、前記
ガイドレール76に沿って、スライド用油圧シリンダ8
2が配設されている。このスライド用油圧シリンダ82
のロッドは、前記スライドベース80に連結されてい
る。前記スライドベース80は、このスライド用油圧シ
リンダ82を駆動することにより、前記ガイドレール7
6に沿って図中X方向にスライド移動する。
The forward / backward slide frame 70 is formed in an inverted L-shape, and a guide rail 76 is disposed on the front portion 70A along the X direction in the figure. A slide base 80 is slidably supported by the guide rail 76 via a slider 78. Also,
On the front surface 70A of the advance / retreat slide frame 70, along with the guide rail 76, the slide hydraulic cylinder 8 is provided.
2 are provided. This slide hydraulic cylinder 82
Are connected to the slide base 80. The slide base 80 drives the slide hydraulic cylinder 82 to move the guide rail 7.
6 along the X direction in the figure.

【0028】前記スライドベース80には、モータ84
が、そのスピンドル84aの方向を鉛直下向きにして設
置されている。このモータ84のスピンドル84aに
は、ブラシ86の軸心86aが連結されており、該ブラ
シ86は、前記モータ84を駆動することにより回転す
る。なお、このブラシ86の構成については、前記第1
の実施の形態のブラシ36の構成と同一である。
A motor 84 is provided on the slide base 80.
Are installed with the direction of the spindle 84a directed vertically downward. A shaft 84a of a brush 86 is connected to a spindle 84a of the motor 84. The brush 86 rotates by driving the motor 84. The structure of the brush 86 is the same as that of the first brush.
The configuration is the same as that of the brush 36 of the embodiment.

【0029】前記のごとく構成された本発明に係るウェ
ーハ接着剤除去装置の第2の実施の形態の作用は次の通
りである。まず、所定枚数のウェーハWを、そのスライ
スベース剥離部の方向が一定になるように積層してカセ
ット54内に格納する。そして、そのウェーハWが格納
されたカセット54を熱水槽50内のカセット設置台5
2上に設置する。
The operation of the second embodiment of the wafer adhesive removing apparatus according to the present invention constructed as described above is as follows. First, a predetermined number of wafers W are stacked and stored in the cassette 54 such that the direction of the slice base peeling portion is constant. Then, the cassette 54 in which the wafer W is stored is placed in the cassette mounting table 5 in the hot water tank 50.
Place it on 2

【0030】なお、この際、昇降テーブル62は、カセ
ット54の設置作業の邪魔にならないように、熱水槽5
0の上方に設定された待機位置に待機させておく。以上
のように、熱水槽50内にカセット54が設置される
と、そのカセット54内に格納されたウェーハWは、熱
水中に浸漬されるとともに、そのスライスベース剥離部
が、図中X方向に沿って配置される。そして、この後、
ウェーハ接着剤除去装置が稼働される。
At this time, the elevating table 62 is placed in the hot water tank 5 so as not to hinder the work of installing the cassette 54.
It is made to stand by at the stand-by position set above 0. As described above, when the cassette 54 is installed in the hot water tank 50, the wafer W stored in the cassette 54 is immersed in the hot water, and the slice base peeling portion is moved in the X direction in the drawing. It is arranged along. And after this,
The wafer adhesive removing device is operated.

【0031】まず、昇降用油圧シリンダ64が駆動さ
れ、昇降テーブル62が熱水槽50に向かって下降す
る。前記昇降用油圧シリンダ64の駆動は、そのロッド
が所定量伸張すると停止され、この結果、ブラシ86
が、前記熱水槽50内に設置されたウェーハWの正面、
すなわちスライスベース剥離部の正面に所定の間隔をも
って位置する。
First, the lifting hydraulic cylinder 64 is driven, and the lifting table 62 is lowered toward the hot water tank 50. The drive of the lifting hydraulic cylinder 64 is stopped when the rod is extended by a predetermined amount, and as a result, the brush 86
The front of the wafer W installed in the hot water tank 50,
That is, they are located at a predetermined interval in front of the slice base peeling section.

【0032】前記昇降用油圧シリンダ64の駆動が停止
されると、次いで、進退スライド用油圧シリンダ72が
駆動され、進退スライドフレーム70が図中Y方向(図
7において右方向)にスライドする。前記進退スライド
用油圧シリンダ72の駆動は、そのロッドが所定量伸張
すると停止され、この結果、前記ブラシ86が前記スラ
イスベース剥離部に当接する。
When the drive of the hydraulic cylinder 64 for lifting is stopped, the hydraulic cylinder 72 for forward / backward slide is driven, and the forward / backward slide frame 70 slides in the Y direction in the figure (to the right in FIG. 7). The drive of the hydraulic cylinder 72 for advancing and retreating is stopped when the rod is extended by a predetermined amount, and as a result, the brush 86 comes into contact with the slice base peeling portion.

【0033】前記進退スライド用油圧シリンダ72の駆
動が停止されると、次いで、ブラシ86に連結されたモ
ータ84が駆動され、この結果、ブラシ86が回転を開
始する。また、前記モータ84の駆動開始とともに、ス
ライドベース80に連結されたスライド用油圧シリンダ
82が駆動され、この結果、前記ブラシ86が図中X方
向に沿ってスライド移動を開始する。
When the drive of the hydraulic cylinder 72 is stopped, the motor 84 connected to the brush 86 is driven. As a result, the brush 86 starts rotating. At the same time as the drive of the motor 84 is started, the slide hydraulic cylinder 82 connected to the slide base 80 is driven. As a result, the brush 86 starts to slide along the X direction in the drawing.

【0034】以上の結果、前記ブラシ86は、回転しな
がらウェーハWのスライスベース剥離部に沿って摺動す
る。そして、前記ウェーハWのスライスベース剥離部に
残存した接着剤は、この回転しながら摺動するブラシ8
6に擦り取られてウェーハWから除去される。前記ブラ
シ86が2〜4回程度往復したところで除去作業は終了
する。除去作業の終了は、まず、モータ84とスライド
用油圧シリンダ82の駆動が停止されついで、進退スラ
イド用油圧シリンダ72が駆動されてブラシ86がウェ
ーハWから退避する。そして、昇降用油圧シリンダ64
を駆動されて昇降テーブル62が待機位置まで上昇す
る。
As a result, the brush 86 slides along the slice base separation portion of the wafer W while rotating. Then, the adhesive remaining on the slice base peeling portion of the wafer W is transferred to the brush 8 which slides while rotating.
6 and is removed from the wafer W. The removal operation is completed when the brush 86 reciprocates about 2 to 4 times. At the end of the removing operation, first, the driving of the motor 84 and the slide hydraulic cylinder 82 is stopped, and then the advance / retreat slide hydraulic cylinder 72 is driven to retract the brush 86 from the wafer W. The lifting hydraulic cylinder 64
Is driven to move the elevating table 62 up to the standby position.

【0035】以上一連操作により接着剤除去作業は終了
し、除去の終えたウェーハWを熱水槽50からカセット
54ごと取り出す。このように、本実施の形態のウェー
ハ接着剤除去装置によれば、前記第1の実施の形態と同
様に、自動で接着剤の除去を行うことができるととも
に、一度に多数のウェーハWを処理することができるた
め、ウェーハの処理作業を効率的に進めることができ
る。この結果、ウェーハの生産効率が向上する。
The adhesive removal operation is completed by a series of operations as described above, and the wafer W from which the removal has been completed is taken out of the hot water tank 50 together with the cassette 54. As described above, according to the wafer adhesive removing apparatus of the present embodiment, as in the first embodiment, the adhesive can be automatically removed and a large number of wafers W can be processed at once. Therefore, the wafer processing operation can proceed efficiently. As a result, wafer production efficiency is improved.

【0036】なお、本実施の形態では、ブラシ36、8
6に不織布表面処理材をローラ状に形成したものを用い
ているが、これに限定されるものではなく、ワイヤブラ
シや円筒状に形成された研磨砥石等を用いてもよい。ま
た、本実施の形態では、ウェーハWを熱水中に浸漬させ
た状態で接着剤の除去作業を行っているが、これは、熱
水中に浸漬させることにより、接着剤が熱軟化して除去
し易くなるからである。したがって、ブラシ36、86
の往復回数を増加させれば、空気中で行っても同様に接
着剤の除去を行うことができる。
In this embodiment, the brushes 36, 8
Although a roller formed of a nonwoven fabric surface treatment material is used for 6, the present invention is not limited to this, and a wire brush, a cylindrical grinding wheel, or the like may be used. Further, in the present embodiment, the adhesive is removed while the wafer W is immersed in hot water, but this is because the adhesive is thermally softened by immersing it in hot water. This is because removal becomes easy. Therefore, the brushes 36, 86
If the number of reciprocations is increased, the adhesive can be similarly removed even in the air.

【0037】また、本実施の形態では、角形のウェーハ
Wに付着した接着剤を除去する場合について説明した
が、本発明は、丸形のウェーハWについても適用するこ
とができる。この場合、ブラシ36で接着剤を除去する
際にウェーハWが回転するのでこれを防止する必要があ
る。前記第1の実施の形態で説明したウェーハWを横置
きにするタイプの接着剤除去装置では、図8に示すよう
に、カセット14内に収容されたウェーハW、W、…の
一方端をゴム等の弾性体で形成されたパッド90で押圧
し、ウェーハW、W、…をカセット14の内壁とで挟持
する。これにより、カセット14内に収容されたウェー
ハW、W、…は固定され回転が防止される。
In this embodiment, the case where the adhesive adhered to the square wafer W is removed has been described. However, the present invention can be applied to a round wafer W. In this case, it is necessary to prevent the rotation of the wafer W when removing the adhesive with the brush 36. In the adhesive removing apparatus of the type in which the wafer W is placed horizontally as described in the first embodiment, one end of the wafers W, W,. The wafers W, W,... Are sandwiched between the inner walls of the cassette 14 by pressing with a pad 90 formed of an elastic body such as. Thus, the wafers W, W,... Accommodated in the cassette 14 are fixed and prevented from rotating.

【0038】なお、同図に示すように、パッド90の駆
動は、パッド90に連結された油圧シリンダ92で行
い、該油圧シリンダ92を駆動することにより、前記パ
ッド90はウェーハWの端面に向かって進退移動する。
前記第1の実施の形態で説明したウェーハWを横置きに
するタイプの接着剤除去装置では、図8に示すように、
カセット14内に収容されたウェーハW、W、…の一方
端をゴム等の弾性体で形成されたパッド90で押圧し、
ウェーハW、W、…をカセット14の内壁とで挟持す
る。これにより、カセット14内に収容されたウェーハ
W、W、…は固定され回転が防止される。
As shown in the drawing, the pad 90 is driven by a hydraulic cylinder 92 connected to the pad 90. By driving the hydraulic cylinder 92, the pad 90 is moved toward the end face of the wafer W. Move forward and backward.
In the adhesive removing apparatus of the type in which the wafer W is placed horizontally as described in the first embodiment, as shown in FIG.
One end of the wafers W, W,... Stored in the cassette 14 is pressed by a pad 90 formed of an elastic body such as rubber,
The wafers W, W,... Are sandwiched between the inner walls of the cassette 14. Thus, the wafers W, W,... Accommodated in the cassette 14 are fixed and prevented from rotating.

【0039】なお、同図に示すように、パッド90の駆
動は、パッド90に連結された油圧シリンダ92で行
い、該油圧シリンダ92を駆動することにより、前記パ
ッド90はウェーハWの端面に向かって進退移動する。
また、前記第2の実施の形態で説明したウェーハWを縦
置きにするタイプの接着剤除去装置では、図9に示すよ
うに、カセット14内に収容されたウェーハW、W、…
の両側部をゴム等の弾性体で形成された一対のパッド9
4、94で挟持する。これにより、カセット54内に収
容されたウェーハW、W、…は固定され回転が防止され
る。
As shown in the drawing, the pad 90 is driven by a hydraulic cylinder 92 connected to the pad 90. By driving the hydraulic cylinder 92, the pad 90 is moved toward the end face of the wafer W. Move forward and backward.
Further, in the adhesive removing apparatus of the type in which the wafer W is placed vertically as described in the second embodiment, the wafers W, W,.
A pair of pads 9 each formed of an elastic body such as rubber on both sides thereof
4. Hold at 94. Thus, the wafers W, W,... Accommodated in the cassette 54 are fixed and prevented from rotating.

【0040】なお、パッド94、94の駆動は、次のよ
うに行われる。図9に示すように、前記パッド94、9
4には、それぞれアーム96、96が連結されており、
該アーム96、96は、ガイドレール98、98上をス
ライド移動自在に支持されたラック部材100、100
に連結されている。このラック部材100、100に
は、ピニオンギア102が噛合されており、該ピニオン
ギア102には、モータ104が連結されている。前記
一対のパッド94、94は、前記モータ104を駆動す
ることにより、互いに近づく方向に移動して、前記ウェ
ーハW、W、…を挟持する。これにより、ウェーハW、
W、…の回転が防止される。
The driving of the pads 94, 94 is performed as follows. As shown in FIG.
4 are connected to arms 96, 96, respectively.
The arms 96, 96 are rack members 100, 100 slidably supported on guide rails 98, 98.
It is connected to. A pinion gear 102 is engaged with the rack members 100, 100, and a motor 104 is connected to the pinion gear 102. By driving the motor 104, the pair of pads 94, 94 move toward each other and hold the wafers W, W,. Thereby, the wafer W,
The rotation of W,... Is prevented.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
自動で接着剤の除去を行うことができるとともに、一度
に多数のウェーハWを処理することができるため、きわ
めて効率的にウェーハの処理作業を進めることができ
る。この結果、ウェーハの生産効率が向上する。
As described above, according to the present invention,
Since the adhesive can be automatically removed and a large number of wafers W can be processed at one time, the processing of the wafer can be proceeded very efficiently. As a result, wafer production efficiency is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るウェーハ接着剤除去装置の第1の
実施の形態の正面図
FIG. 1 is a front view of a first embodiment of a wafer adhesive removing apparatus according to the present invention.

【図2】図2の側面図FIG. 2 is a side view of FIG. 2;

【図3】本発明に係るウェーハ接着剤除去装置の作用を
説明する説明図
FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating the operation of the wafer adhesive removing device according to the present invention.

【図4】本発明に係るウェーハ接着剤除去装置の他の実
施の形態の正面図
FIG. 4 is a front view of another embodiment of the wafer adhesive removing apparatus according to the present invention.

【図5】図5の側面図FIG. 5 is a side view of FIG. 5;

【図6】本発明に係るウェーハ接着剤除去装置の第2の
実施の形態の正面図
FIG. 6 is a front view of a second embodiment of the wafer adhesive removing apparatus according to the present invention.

【図7】図6の側面図FIG. 7 is a side view of FIG. 6;

【図8】本発明に係るウェーハ接着剤除去装置の他の実
施の形態の側面図
FIG. 8 is a side view of another embodiment of the wafer adhesive removing apparatus according to the present invention.

【図9】本発明に係るウェーハ接着剤除去装置の他の実
施の形態の平面図
FIG. 9 is a plan view of another embodiment of the wafer adhesive removing apparatus according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、50…熱水槽 14、54…カセット 16、56…支柱 22、62…昇降テーブル 24、64…昇降用油圧シリンダ 30…スライドフレーム 32…スライド用油圧シリンダ 36、86…ブラシ 40、84…モータ 70…進退スライドフレーム 72…進退スライド用油圧シリンダ 80…スライドベース 82…スライド用油圧シリンダ B…接着剤 S…スライスベース W…ウェーハ 10, 50: Hot water tank 14, 54: Cassette 16, 56: Support column 22, 62: Elevating table 24, 64 ... Hydraulic cylinder for elevating 30: Slide frame 32: Hydraulic cylinder for sliding 36, 86 ... Brush 40, 84 ... Motor Reference numeral 70: forward / backward slide frame 72 ... forward / backward slide hydraulic cylinder 80 ... slide base 82 ... slide hydraulic cylinder B ... adhesive S ... slice base W ... wafer

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 スライスベースが剥離されたウェーハの
スライスベース剥離部に残存する接着剤を除去するウェ
ーハ接着剤除去装置において、 複数枚のウェーハを、そのスライスベース剥離部の方向
を一定にして格納するカセットと、 前記カセットに格納されたウェーハのスライスベース剥
離部と対向する位置に配置されたブラシと、 前記ブラシを回転させる回転駆動手段と、 前記ブラシを前記カセットに格納されたウェーハのスラ
イスベース剥離部に対して進退移動させる進退移動手段
と、 前記ブラシを前記カセットに格納されたウェーハのスラ
イスベース剥離部に沿って移動させる移動手段と、から
なり、前記ブラシを前記ウェーハのスライスベース剥離
部に当接し、該ブラシを回転させながら前記ウェーハの
スライスベース剥離部に沿って摺動させることにより、
前記ウェーハのスライスベース剥離部に残存する接着剤
を除去することを特徴とするウェーハ接着剤除去装置。
1. A wafer adhesive removing apparatus for removing an adhesive remaining on a slice base peeling portion of a wafer from which a slice base has been peeled off, wherein a plurality of wafers are stored with the direction of the slice base peeling portion kept constant. A cassette, a brush disposed at a position facing a slice base peeling portion of a wafer stored in the cassette, a rotation drive unit for rotating the brush, and a slice base for the wafer stored in the cassette. Reciprocating moving means for moving the brush forward and backward with respect to the peeling part; moving means for moving the brush along a slice base peeling part of a wafer stored in the cassette; and Abut on the slice base peeling part of the wafer while rotating the brush. By sliding me,
An apparatus for removing an adhesive from a wafer, which removes an adhesive remaining on a slice base peeling portion of the wafer.
【請求項2】 前記ウェーハ接着剤除去装置は、熱水が
貯留された熱水槽を有しており、該熱水中にスライスベ
ースに接着されたウェーハを浸漬させ、そのスライスベ
ースから自然剥離して落下するウェーハを前記カセット
内に格納することを特徴とする請求項1記載のウェーハ
接着剤除去装置。
2. The wafer adhesive removing device has a hot water tank in which hot water is stored, and immerses a wafer bonded to a slice base in the hot water and spontaneously peels off the wafer from the slice base. 2. The wafer adhesive removing device according to claim 1, wherein the wafer that falls by falling is stored in the cassette.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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