JPH10284381A - Coater - Google Patents

Coater

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JPH10284381A
JPH10284381A JP8813597A JP8813597A JPH10284381A JP H10284381 A JPH10284381 A JP H10284381A JP 8813597 A JP8813597 A JP 8813597A JP 8813597 A JP8813597 A JP 8813597A JP H10284381 A JPH10284381 A JP H10284381A
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substrate
coating
coating liquid
area
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JP8813597A
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Koji Kizaki
幸治 木▲崎▼
Yoshio Taniguchi
由雄 谷口
Kazuo Kise
一夫 木瀬
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To further suppress consumption of a coating liquid while supplying the coating liquid uniformly onto the surface of a substrate. SOLUTION: The coater for coating the surface of a substrate with coating liquid while spinning the substrate comprises a nozzle section 7, a moving means, an intermittent region coating means, and a motor mechanism 26. The nozzle section 7 can deliver coating liquid to a region a substrate elongated in one direction at a predetermined interval or continuously. The moving means moves the nozzle section 7 relatively to the surface of the substrate in second direction intersecting the first direction. The intermittent region coating means coats the intermittent region of the substrate including the center of rotation thereof with the coating liquid while moving the nozzle section 7 relatively to the surface of the substrate. The motor mechanism 26 spreads the coating liquid from the intermittent region over the entire surface of the substrate by spinning the substrate.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、塗布装置、特に、
基板の表面にフォトレジスト等の塗布液を塗布する塗布
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a coating apparatus,
The present invention relates to a coating apparatus for coating a coating liquid such as a photoresist on a surface of a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】基板表面に塗布液を塗布する装置とし
て、特開平4−61955号公報や特開平1−1355
65号公報に示されたスピンコータが知られている。こ
のスピンコータでは、回転可能なスピンチャック上に基
板が保持され、基板の中央部にノズルから処理液が滴下
される。その後、基板をスピンチャックとともに回転さ
せて基板表面中央部の塗布液を遠心力によって基板表面
全体に拡散させるとともに、基板上の塗布液の膜が所望
の厚みとなるように余剰の塗布液を基板外へ振り切る。
これにより、基板表面全体に塗布液が塗布される。な
お、遠心力によって基板中央から振り切られた塗布液は
周囲に飛散し、塗布処理終了後に回収される。
2. Description of the Related Art As an apparatus for applying a coating liquid onto a substrate surface, Japanese Patent Application Laid-Open Nos.
A spin coater disclosed in Japanese Patent Publication No. 65-65 is known. In this spin coater, a substrate is held on a rotatable spin chuck, and a processing liquid is dropped from a nozzle onto a central portion of the substrate. Then, the substrate is rotated with a spin chuck to diffuse the coating liquid at the center of the substrate surface over the entire substrate surface by centrifugal force, and apply excess coating liquid to the substrate so that the film of the coating liquid on the substrate has a desired thickness. Shake it out.
Thus, the coating liquid is applied to the entire surface of the substrate. The coating solution shaken off from the center of the substrate by the centrifugal force scatters around and is collected after the completion of the coating process.

【0003】このような従来のスピンコータでは、基板
周囲に塗布液が飛散するので、基板表面に膜を形成する
のに必要な塗布液の量よりも多めに塗布液を供給しなけ
ればならない。その結果、塗布液の消費量が多くなる。
そこで特開平7−284715号公報に示されるよう
に、スリットノズル等で基板表面を走査することによっ
て基板表面の全域よりもやや小さい所定の範囲に比較的
薄く塗布液を供給しておき、その後、この基板を回転さ
せ、前記塗布液を基板表面全体に拡散させる技術も提供
されている。
In such a conventional spin coater, since the coating liquid scatters around the substrate, the coating liquid must be supplied in a larger amount than the coating liquid required to form a film on the substrate surface. As a result, the consumption of the coating liquid increases.
Therefore, as shown in JP-A-7-284715, a coating liquid is supplied relatively thinly in a predetermined range slightly smaller than the whole area of the substrate surface by scanning the substrate surface with a slit nozzle or the like, and thereafter, There is also provided a technique in which the substrate is rotated to diffuse the coating liquid over the entire surface of the substrate.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】前記のような技術によ
れば、予め比較的広い領域に塗布液を供給しているの
で、基板の回転で塗布液を基板面に塗り広げる必要がな
く、そのため塗布液の供給を薄く少なくすることがで
き、塗布液の消費を抑えることができる。しかし、この
ような技術によっても、遠心力によって基板周囲に飛散
する塗布液の量は少なくなく、さらなる消費量の低減が
求められている。
According to the above technique, since the coating liquid is supplied to a relatively large area in advance, it is not necessary to spread the coating liquid on the substrate surface by rotating the substrate. The supply of the coating liquid can be reduced thinly and consumption of the coating liquid can be suppressed. However, even with such a technique, the amount of the coating liquid scattered around the substrate due to the centrifugal force is not small, and a further reduction in consumption is required.

【0005】本発明の課題は、基板表面に均一に塗布液
を供給しつつ、塗布液の消費量を従来の装置に比較して
さらに抑えることにある。
[0005] It is an object of the present invention to provide a coating solution evenly on a substrate surface while further reducing the consumption of the coating solution as compared with a conventional apparatus.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の塗布装
置は、基板を回転させて基板表面に塗布液を塗布するた
めの塗布装置であって、塗布液供給手段と、移動手段
と、間欠領域塗布手段と、回転手段とを備えている。塗
布液供給手段は第1の方向に長い領域に所定の間隔をあ
けて又は連続的に塗布液を吐出可能な手段である。移動
手段は塗布液供給手段を基板表面に対して第1の方向と
交差する第2の方向に相対移動させる手段である。間欠
領域塗布手段は塗布液供給手段を基板表面に対して相対
移動させながら基板の回転中心を含む間欠領域に塗布液
を塗布する手段である。回転手段は間欠領域に塗布液が
塗布された基板を回転させて間欠領域に塗布された塗布
液を基板の表面全体に拡散させる手段である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a coating apparatus for rotating a substrate to apply a coating liquid to a surface of the substrate. An intermittent area application unit and a rotation unit are provided. The application liquid supply means is a means capable of continuously discharging the application liquid at predetermined intervals or in a long region in the first direction. The moving means is means for relatively moving the coating liquid supply means in a second direction intersecting the first direction with respect to the substrate surface. The intermittent area applying means is means for applying the application liquid to the intermittent area including the center of rotation of the substrate while moving the application liquid supply means relative to the substrate surface. The rotating means is means for rotating the substrate on which the coating liquid has been applied to the intermittent area and diffusing the coating liquid applied to the intermittent area over the entire surface of the substrate.

【0007】この装置では、塗布液供給手段によって、
基板表面における第1の方向に長い領域に所定の間隔を
あけて又は連続的に塗布液が供給される。そして、この
塗布液供給手段を第1の方向と交差する第2の方向に基
板に対して相対移動させる。このとき、第1の方向に間
隔をあけて塗布液が供給される場合は、相対移動の際に
連続的に塗布液を供給することにより、第2の方向に長
い塗布領域が第1の方向に間欠的に形成される。また、
第1の方向に連続的に塗布液が供給される場合は、相対
移動の際に間欠的に塗布液を供給することにより、第1
の方向に長い塗布領域が第2の方向に間欠的に形成され
る。なお、いずれの場合も、回転手段で基板を回転させ
る際における基板の回転中心には塗布液が供給されるよ
うにする。
In this apparatus, the application liquid supply means
The coating liquid is supplied at predetermined intervals or continuously to a region long in the first direction on the substrate surface. Then, the application liquid supply unit is moved relative to the substrate in a second direction intersecting the first direction. At this time, when the application liquid is supplied at intervals in the first direction, the application liquid is supplied continuously during the relative movement, so that the application area long in the second direction is in the first direction. Formed intermittently. Also,
When the application liquid is continuously supplied in the first direction, the first supply is performed by intermittently supplying the application liquid during relative movement.
Is formed intermittently in the second direction. In any case, the application liquid is supplied to the center of rotation of the substrate when the substrate is rotated by the rotating means.

【0008】このようにして間欠領域に塗布液が塗布さ
れた基板を回転させ、基板表面全体に均一に塗布液を拡
散させる。ここでは、間欠領域に塗布液を供給するの
で、基板表面の全域よりもやや小さい範囲全部に塗布液
を供給する前記公報に記載の場合に比較して、塗布液の
消費量をさらに少なくすることが可能である。また、基
板上に供給された塗布液は、基板の回転により基板上の
未供給の領域へも塗り広げられ、むらなく塗布される。
[0008] The substrate on which the coating liquid has been applied to the intermittent region in this manner is rotated to uniformly spread the coating liquid on the entire surface of the substrate. Here, since the application liquid is supplied to the intermittent region, the consumption of the application liquid is further reduced as compared with the case described in the above-mentioned publication in which the application liquid is supplied to the whole area slightly smaller than the entire area of the substrate surface. Is possible. In addition, the application liquid supplied onto the substrate is spread over an unsupplied region on the substrate by the rotation of the substrate, and is applied evenly.

【0009】請求項2に記載の塗布装置は、請求項1の
装置において、塗布液供給手段は第1の方向に長い連続
する領域に塗布液を供給するものである。また、間欠領
域塗布手段は、塗布液供給手段の移動中に塗布液の吐出
及び停止を繰り返して、第1の方向に長い塗布領域を第
2の方向に間欠的に形成するものである。この場合も前
記同様に、基板表面の全域よりも小さい範囲全部に塗布
液を供給する場合に比較して、塗布液を消費量をさらに
少なくすることが可能である。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the application liquid supply means supplies the application liquid to a continuous area that is long in the first direction. In addition, the intermittent area application means repeats the discharge and stop of the application liquid during the movement of the application liquid supply means to intermittently form the application area long in the first direction in the second direction. In this case as well, the consumption of the coating liquid can be further reduced as compared with the case where the coating liquid is supplied to the entire area smaller than the entire area of the substrate surface.

【0010】請求項3に記載の塗布装置は、請求項2の
装置において、塗布液供給手段は、第1の方向に長い連
続するスリット状開口を有するノズルを有している。こ
の場合は、連続するスリット状開口を有するノズルによ
り塗布液を供給するので、第1の方向における塗布液の
供給量のバラツキを少なくでき、基板表面により均一に
塗布液を供給できる。
According to a third aspect of the present invention, in the second aspect, the application liquid supply means includes a nozzle having a continuous slit-shaped opening long in the first direction. In this case, since the coating liquid is supplied by the nozzle having the continuous slit-shaped opening, the variation in the supply amount of the coating liquid in the first direction can be reduced, and the coating liquid can be more uniformly supplied to the substrate surface.

【0011】請求項4に記載の塗布装置は、請求項2の
装置において、塗布液供給手段は、第1の方向に沿って
近接して配置された多数の小孔を有するノズルを有して
いる。この場合は、連続するスリット状開口に比較して
塗布液の消費量をより抑えることができる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the application liquid supply means includes a nozzle having a plurality of small holes arranged close to each other along the first direction. I have. In this case, the consumption of the coating liquid can be further reduced as compared with the continuous slit-shaped opening.

【0012】請求項5に記載の塗布装置は、請求項1の
装置において、塗布液供給手段は、第1の方向に沿った
長い領域に所定の間隔をあけて塗布液を供給するもので
ある。また、間欠領域塗布手段は、塗布液供給手段の移
動中に塗布液を連続的に供給して第2の方向に長い塗布
領域を第1の方向に間欠的に形成するものである。この
場合は、請求項2の場合と逆方向の間欠領域に塗布液が
塗布されることになるが、同様に、塗布液の消費量を抑
えることができる。
According to a fifth aspect of the present invention, in the first aspect, the application liquid supply means supplies the application liquid at a predetermined interval in a long region along the first direction. . Further, the intermittent area applying means is for intermittently forming an application area long in the second direction in the first direction by continuously supplying the application liquid during the movement of the application liquid supply means. In this case, the application liquid is applied to the intermittent region in the opposite direction to that of the second aspect, but similarly, the consumption of the application liquid can be suppressed.

【0013】請求項6に記載の塗布装置は、請求項1の
装置において、塗布液供給手段は、第1の方向に沿った
長い領域に所定の間隔をあけて塗布液を供給するもので
あり、間欠領域塗布手段は、塗布液供給手段の移動中に
塗布液の吐出及び停止を繰り返して、第1及び第2の両
方向に間欠的な塗布領域を形成する。この場合は、第1
及び第2の両方向に間欠的に塗布領域が形成されるの
で、基板の表面により均一に塗布できるとともに、塗布
液の消費量をより抑えることができる。
According to a sixth aspect of the present invention, in the apparatus of the first aspect, the application liquid supply means supplies the application liquid at a predetermined interval in a long area along the first direction. The intermittent area application unit repeatedly ejects and stops the application liquid during the movement of the application liquid supply unit to form an intermittent application area in both the first and second directions. In this case, the first
In addition, since the application region is formed intermittently in both the second direction, the application can be performed more uniformly on the surface of the substrate, and the consumption of the application liquid can be further reduced.

【0014】請求項7に記載の塗布装置は、請求項5又
は6の装置において、塗布液供給手段は、第1の方向に
間欠的に形成された複数のスリット状開口を有するノズ
ルを有している。この場合は、1つのノズルに複数のス
リット状開口が設けられているので、容易に間隔をあけ
て塗布液を供給できるとともに、各開口からの供給量を
容易に均一にできる。
According to a seventh aspect of the present invention, in the apparatus of the fifth or sixth aspect, the application liquid supply means has a nozzle having a plurality of slit-shaped openings formed intermittently in a first direction. ing. In this case, since a plurality of slit-shaped openings are provided in one nozzle, the coating liquid can be easily supplied at intervals, and the supply amount from each opening can be easily made uniform.

【0015】請求項8に記載の塗布装置は、請求項5又
は6の装置において、塗布液供給手段は、第1の方向に
並べて配置されそれぞれ所定の長さのスリット状開口を
有する複数のノズルを有している。この場合は、各ノズ
ルの開口の形状等を調整することにより、例えば中心付
近の供給量を周辺部分に比較して多くする等の、第1の
方向の塗布液の供給量を容易に制御できる。
According to an eighth aspect of the present invention, in the apparatus of the fifth or sixth aspect, the coating liquid supply means is provided with a plurality of nozzles arranged side by side in the first direction and each having a slit-shaped opening having a predetermined length. have. In this case, the supply amount of the coating liquid in the first direction can be easily controlled, for example, by adjusting the shape of the opening of each nozzle, for example, to increase the supply amount near the center as compared to the peripheral portion. .

【0016】請求項9に記載の塗布装置は、請求項8の
装置において、塗布液供給手段は、複数のノズルからの
塗布液吐出量をそれぞれ制御するための吐出量制御手段
をさらに有している。この場合は、各ノズルの開口の形
状等が同じであっても、供給量を制御できる。
According to a ninth aspect of the present invention, in the apparatus of the eighth aspect, the application liquid supply means further includes a discharge amount control means for controlling a discharge amount of the application liquid from the plurality of nozzles. I have. In this case, the supply amount can be controlled even if the shape of the opening of each nozzle is the same.

【0017】請求項10に記載の塗布装置は、請求項1
の装置において、間欠領域塗布手段は、基板表面の同心
の複数の環状間欠領域に塗布液を塗布するものである。
この場合は、後行程で基板を回転させて塗布液を拡散さ
せる場合に、より容易に塗布液を均一に拡散させること
ができる。請求項11に記載の塗布装置は、請求項1の
装置において、移動手段は塗布液供給手段を基板表面に
対して第1の方向及び第2の方向に相対移動させるもの
である。
[0017] The coating apparatus according to the tenth aspect is the first aspect.
In the above device, the intermittent area applying means applies the application liquid to a plurality of concentric annular intermittent areas on the substrate surface.
In this case, when the substrate is rotated in a later step to diffuse the coating liquid, the coating liquid can be more easily and uniformly diffused. According to an eleventh aspect of the present invention, in the apparatus of the first aspect, the moving means relatively moves the application liquid supply means in the first direction and the second direction with respect to the substrate surface.

【0018】この場合は、塗布液供給手段を基板に対し
て相対移動させ、描画するように塗布領域を形成でき
る。したがって、同心の複数の環状間欠領域に塗布液を
塗布すること等が自在に行える。請求項12に記載の塗
布装置は、請求項1の装置において、塗布液供給手段
は、それぞれ第1の方向に間欠的に形成された複数のス
リット状開口を有し第2の方向に並べて配置された第1
ノズル及び第2ノズルを有している。そして、間欠領域
塗布手段は、第1ノズルによって基板の第2の方向に長
い塗布領域を基板の第1の方向に間欠的に形成した後、
基板を90゜回転させて第2ノズルによって基板の第1
の方向に長い塗布領域を基板の第2の方向に間欠的に形
成する。
In this case, the application area can be formed so as to draw by moving the application liquid supply means relative to the substrate. Therefore, the application liquid can be freely applied to the plurality of concentric annular intermittent regions. According to a twelfth aspect of the present invention, in the apparatus of the first aspect, the application liquid supply means has a plurality of slit-shaped openings formed intermittently in the first direction, and is arranged in the second direction. The first
It has a nozzle and a second nozzle. Then, the intermittent area applying means intermittently forms an application area long in the second direction of the substrate in the first direction of the substrate by the first nozzle,
The substrate is rotated 90 ° and the first nozzle of the substrate is rotated by the second nozzle.
Is formed intermittently in the second direction of the substrate.

【0019】ここでは、第1ノズルの開口の長さと第2
ノズルの開口の長さを調節でき、基板の塗布領域の幅
を、縦と横とで変えることができる。請求項13に記載
の塗布装置は、請求項1から12のいずれかの装置にお
いて、塗布液供給手段は回転手段に対向可能なように配
置されている。この場合は、回転手段に基板を保持させ
て間欠領域に塗布液を塗布することができ、1ステージ
で間欠領域の塗布及び回転による拡散が行えるので、装
置全体のスペースが小さくなる。
Here, the length of the opening of the first nozzle and the second
The length of the nozzle opening can be adjusted, and the width of the application area of the substrate can be changed vertically and horizontally. According to a thirteenth aspect of the present invention, in the apparatus according to any one of the first to twelfth aspects, the application liquid supply unit is disposed so as to be able to face the rotation unit. In this case, the application liquid can be applied to the intermittent area by holding the substrate by the rotating means, and the intermittent area can be applied and diffused by rotation in one stage, so that the space of the entire apparatus is reduced.

【0020】請求項14に記載の塗布装置は、請求項1
から12のいずれかの装置において、塗布液供給手段に
対向可能で基板を保持する第1基板保持部と、間欠領域
塗布手段によって塗布液が塗布された基板を保持して回
転させる第2基板保持部とを備えている。この場合は、
間欠領域の塗布と回転による拡散とがそれぞれ別の場所
で行われる。すなわち、2ステージによって基板への塗
布が行われることとなる。このため、1ステージにおけ
る処理時間が短くなり、全体のスループットが向上す
る。
[0020] The coating apparatus according to the fourteenth aspect is the first aspect.
In any one of the devices from 1 to 12, a first substrate holding portion capable of holding the substrate and capable of facing the coating liquid supply means, and a second substrate holding means for holding and rotating the substrate coated with the coating liquid by the intermittent area coating means Section. in this case,
The application of the intermittent region and the diffusion by rotation are performed at different places. That is, the application to the substrate is performed by the two stages. Therefore, the processing time in one stage is shortened, and the overall throughput is improved.

【0021】[0021]

【実施の形態】Embodiment

[第1実施形態]図1において、本発明の第1実施形態
が採用された塗布装置は、処理部1と、レジスト液圧送
部2と、モータ機構26とを主に備えている。この塗布
装置では、図2に示すような矩形のガラス基板Pに対し
てフォトレジスト(以下、単にレジスト液と記す)が塗
布され、コーティング処理が行われる。
[First Embodiment] In FIG. 1, a coating apparatus employing a first embodiment of the present invention mainly includes a processing unit 1, a resist liquid pressure feeding unit 2, and a motor mechanism 26. In this coating apparatus, a photoresist (hereinafter, simply referred to as a resist liquid) is applied to a rectangular glass substrate P as shown in FIG. 2, and a coating process is performed.

【0022】処理部1は、基板Pを真空吸着し水平に保
持し得る基板保持部4と、基板保持部4に保持された基
板Pに対してレジスト液を供給するレジスト液供給部5
とを備えている。基板保持部4は、回転自在であり、モ
ータ機構26によって水平回転させられるようになって
いる。基板保持部4の周囲には、回転時のレジスト液の
飛散を防止するためのカップ6が配置されている。
The processing unit 1 includes a substrate holding unit 4 capable of holding the substrate P by vacuum suction and holding the substrate P horizontally, and a resist liquid supply unit 5 for supplying a resist liquid to the substrate P held by the substrate holding unit 4.
And The substrate holding unit 4 is rotatable, and is horizontally rotated by a motor mechanism 26. A cup 6 for preventing the resist solution from scattering during rotation is arranged around the substrate holding unit 4.

【0023】レジスト液供給部5は、図2及び図3に示
すように、基板Pの上面に沿って基板Pの短辺方向(図
1の奥行き方向;第1の方向)に延びるノズル部7を有
している。ノズル部7は、図4に示すように断面が倒立
家型の部材である。ノズル部7の底面は、基板Pの長手
方向両端から中央に向かって低くなるように傾斜してい
る。また、ノズル部7は基板Pの短辺長さよりも短い長
さのスリット(開口)20を有しており、ノズル支持ア
ーム8の下端に固定されている。ノズル支持アーム8の
上端部は、移動フレーム9に上下移動可能に支持されて
いる。移動フレーム9は、移動ガイド10に移動可能に
支持されている。移動ガイド10は、基板Pの長手方向
(図1の左右方向;第2の方向)に沿って延びている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the resist solution supply section 5 is provided with a nozzle section 7 extending along the short side direction of the substrate P (the depth direction in FIG. 1; the first direction) along the upper surface of the substrate P. have. The nozzle section 7 is an inverted house-shaped member as shown in FIG. The bottom surface of the nozzle portion 7 is inclined so as to become lower toward the center from both ends in the longitudinal direction of the substrate P. The nozzle section 7 has a slit (opening) 20 having a length shorter than the short side of the substrate P, and is fixed to the lower end of the nozzle support arm 8. The upper end of the nozzle support arm 8 is supported by the moving frame 9 so as to be vertically movable. The moving frame 9 is movably supported by a moving guide 10. The movement guide 10 extends along the longitudinal direction of the substrate P (the left-right direction in FIG. 1; the second direction).

【0024】図4に示すように、ノズル部7内部におい
て、スリット20の途中にはスリット20よりも幅の広
い液溜め31が形成されている。この液溜め31は、レ
ジスト液供給配管16(後述)から供給されたレジスト
液をノズル部7の長手方向(図4の奥行き方向)に均一
に拡散させるためのものである。レジスト液圧送部2
は、図1に示すように、レジスト液を貯溜したガラス瓶
12を収納し、かつ内部が気密に封止された加圧タンク
11を有している。加圧タンク11の上部には、図示し
ない窒素ガス源から加圧された窒素ガスが供給される加
圧配管13が開口している。加圧配管13の途中には、
給排用三方弁14及びレギュレータ15が加圧タンク1
1側からこの順に配置されている。なお、三方弁14
は、窒素ガスを加圧タンク11に供給するかまたは他に
排気するかを選択できる。レジスト液供給配管16は、
その一端がガラス瓶12の底面近傍に達しており、他端
がノズル部7に接続されている。レジスト液供給配管1
6の途中には、レジスト液供給弁18及びサックバック
バルブ17がガラス瓶12側からこの順で配置されてい
る。
As shown in FIG. 4, a liquid reservoir 31 wider than the slit 20 is formed in the middle of the slit 20 inside the nozzle portion 7. The liquid reservoir 31 is for uniformly diffusing the resist liquid supplied from the resist liquid supply pipe 16 (described later) in the longitudinal direction of the nozzle portion 7 (the depth direction in FIG. 4). Resist liquid pressure feeding unit 2
As shown in FIG. 1, a pressure tank 11 accommodates a glass bottle 12 storing a resist solution and has an airtightly sealed inside. In the upper part of the pressurized tank 11, a pressurized pipe 13 to which a pressurized nitrogen gas is supplied from a nitrogen gas source (not shown) is opened. In the middle of the pressure pipe 13,
The supply / discharge three-way valve 14 and the regulator 15
They are arranged in this order from one side. The three-way valve 14
Can select whether to supply the nitrogen gas to the pressurized tank 11 or to exhaust the gas separately. The resist liquid supply pipe 16 is
One end thereof reaches near the bottom surface of the glass bottle 12, and the other end is connected to the nozzle unit 7. Resist liquid supply piping 1
In the middle of 6, a resist solution supply valve 18 and a suck back valve 17 are arranged in this order from the glass bottle 12 side.

【0025】さらに、この塗布装置は、図5に示すよう
に、マイクロコンピュータからなる制御部23を備えて
いる。制御部23には、基板保持部4、ノズル支持アー
ム8及び移動フレーム9の駆動部、給排用三方弁14、
レジスト液供給弁18、サックバックバルブ17及びモ
ータ機構26が接続されている。さらに、制御部23に
は、ノズル支持アーム8や移動フレーム9の位置の検出
を行うセンサ等の各種センサ(図示せず)、及びその他
の入出力装置が接続されている。
Further, as shown in FIG. 5, the coating apparatus has a control unit 23 composed of a microcomputer. The control unit 23 includes a substrate holding unit 4, a driving unit for the nozzle support arm 8 and the moving frame 9, a supply / discharge three-way valve 14,
The resist liquid supply valve 18, the suck back valve 17, and the motor mechanism 26 are connected. Furthermore, various sensors (not shown) such as a sensor for detecting the positions of the nozzle support arm 8 and the moving frame 9 and other input / output devices are connected to the control unit 23.

【0026】塗布装置の動作を、図6及び図7に示す制
御フローチャートにしたがって説明する。ステップS1
では、塗布装置全体の初期設定を行う。次に、ステップ
S2に移行し、図示しない搬送機構が基板Pを塗布装置
に搬入するのを待つ。基板Pが搬入されると、ステップ
S3に移行し、基板保持部4により基板Pを真空吸着す
る。
The operation of the coating apparatus will be described with reference to the control flowcharts shown in FIGS. Step S1
Then, initial settings of the entire coating apparatus are performed. Next, the process proceeds to step S2, and waits for a transport mechanism (not shown) to carry the substrate P into the coating apparatus. When the substrate P is loaded, the process proceeds to step S3, where the substrate P is vacuum-adsorbed by the substrate holding unit 4.

【0027】続いて、ステップS4でコーティング処理
を行う。コーティング処理では、図7に示すように、始
めにステップS10でノズル部7をスタート位置に移動
させる。ここでは、ノズル部7が図8に示す点線位置
(すなわち基板Pの左端から基板P側に所定距離進入し
た位置)に配置される。このとき、ノズル部7の底面が
基板Pから所定の隙間をあけて配置される。ステップS
11では、ノズル部7を基板Pの長手方向に水平移動さ
せる。そして、ステップS12において、ノズル部7を
移動させながら、スリット20からのレジスト液の吐出
及び停止を所定の周期で繰り返す。これにより、レジス
ト液は基板Pに対して間欠的に供給されることになる。
レジスト液の吐出動作は、三方弁14を供給側に切り換
えさらにレジスト液供給弁18を開いて、ガラス瓶12
からレジスト液をノズル部7に供給することで行う。ま
た、このステップS12におけるレジスト液の吐出の停
止は、レジスト液供給弁18を閉じることによって行
う。なお、このステップS12においてレジスト液の供
給を行う場合に、基板Pの長手方向の寸法、ノズル部7
の移動速度、吐出・停止の繰り返し周期、及び吐出時間
を考慮して、基板Pの回転中心(図8のO)には必ずレ
ジスト液が供給されるように制御する。
Subsequently, a coating process is performed in step S4. In the coating process, as shown in FIG. 7, first, in step S10, the nozzle unit 7 is moved to the start position. Here, the nozzle unit 7 is arranged at a dotted line position shown in FIG. 8 (that is, a position where the nozzle unit 7 has entered a predetermined distance from the left end of the substrate P toward the substrate P). At this time, the bottom surface of the nozzle portion 7 is arranged with a predetermined gap from the substrate P. Step S
At 11, the nozzle unit 7 is moved horizontally in the longitudinal direction of the substrate P. In step S12, the discharge and stop of the resist liquid from the slit 20 are repeated at a predetermined cycle while moving the nozzle unit 7. Thereby, the resist liquid is intermittently supplied to the substrate P.
The discharge operation of the resist solution is performed by switching the three-way valve 14 to the supply side, further opening the resist solution supply valve 18, and opening the glass bottle 12.
To supply the resist solution to the nozzle unit 7 from the above. Further, the stopping of the discharge of the resist liquid in step S12 is performed by closing the resist liquid supply valve 18. When the resist solution is supplied in step S12, the length of the substrate P in the longitudinal direction
In consideration of the moving speed, the discharge / stop repetition cycle, and the discharge time, control is performed so that the resist liquid is always supplied to the rotation center (O in FIG. 8) of the substrate P.

【0028】このような処理を実行することによって、
図8に示すように、基板Pの短辺方向に長い塗布領域C
が基板Pの長手方向に間欠的に形成される。すなわち、
基板Pの回転中心Oを含む間欠領域にレジスト液が供給
される。ステップS13では、ノズル部7が図8に矢印
で示すように移動して基板Pの予め設定された塗布領域
の右端に到達するのを待つ。ノズル部7が基板Pの右端
に到達するとステップS14に移行し、三方弁14を排
気側に切り換えるとともにレジスト液供給弁18を閉じ
てレジスト液の供給を完全に停止する。ステップS15
では、ノズル部7の移動を停止させる。そしてステップ
S16で、図3に示すように、ノズル部7を基板Pの右
端斜め上方の退避位置に退避させる。
By performing such processing,
As shown in FIG. 8, a coating area C that is long in the short side direction of the substrate P
Are formed intermittently in the longitudinal direction of the substrate P. That is,
The resist liquid is supplied to the intermittent region including the rotation center O of the substrate P. In step S13, it waits for the nozzle unit 7 to move as indicated by the arrow in FIG. 8 and reach the right end of the preset application area of the substrate P. When the nozzle unit 7 reaches the right end of the substrate P, the process proceeds to step S14, where the three-way valve 14 is switched to the exhaust side, and the resist liquid supply valve 18 is closed to completely stop the supply of the resist liquid. Step S15
Then, the movement of the nozzle unit 7 is stopped. Then, in step S16, as shown in FIG. 3, the nozzle portion 7 is retracted to a retract position diagonally above the right end of the substrate P.

【0029】次に、ステップS17においてモータ機構
26を駆動し、図3に示す状態で基板保持部4を所定の
回転速度で回転させる。ステップS18では所定の回転
処理時間が経過するのを待つ。この間、基板Pの間欠領
域に供給されたレジスト液は遠心力によって外周方向に
移動し、その結果基板Pの表面全域にレジスト液が行き
渡り、間欠領域以外の領域にもレジスト液が拡散され
る。次にステップS18からステップS19に移行し、
モータ機構26の回転を停止して図6のメインルーチン
に戻る。
Next, in step S17, the motor mechanism 26 is driven to rotate the substrate holder 4 at a predetermined rotation speed in the state shown in FIG. In step S18, it waits for a predetermined rotation processing time to elapse. During this time, the resist liquid supplied to the intermittent region of the substrate P moves in the outer peripheral direction due to the centrifugal force. As a result, the resist liquid spreads over the entire surface of the substrate P, and the resist liquid is diffused to regions other than the intermittent region. Next, the process proceeds from step S18 to step S19,
The rotation of the motor mechanism 26 is stopped, and the process returns to the main routine of FIG.

【0030】図6のステップS5では、基板保持部4に
よる基板Pの吸着を解除する。ステップS6では、図示
しない搬送機構が基板Pを次の処理のために排出するの
を待つ。基板Pが搬出されれば、ステップS2に戻り、
次の基板Pが搬入されるのを待つ。なお、本実施形態に
おいて、サックバックバルブ17によるレジスト液の引
き戻し動作は、ステップS12における周期的な吐出の
停止毎に行ってもよいし、ステップS12では行わずに
ステップS14での吐出停止時にのみ行うようにしても
よい。
In step S5 in FIG. 6, the suction of the substrate P by the substrate holding unit 4 is released. In step S6, the process waits until the transport mechanism (not shown) discharges the substrate P for the next process. If the substrate P is unloaded, the process returns to step S2,
Wait for the next substrate P to be carried in. In the present embodiment, the pull-back operation of the resist solution by the suck back valve 17 may be performed every time the periodic discharge is stopped in step S12, or not when the discharge is stopped in step S14 but not in step S12. It may be performed.

【0031】〔変形例〕 (a)図7のステップS12におけるレジスト液の吐出
・停止の繰り返し周期を、基板Pの位置によって変えて
もよい。図9に示す例では、基板Pの中央部における塗
布領域C0の幅を、周辺部に比較して大きくしている。
すなわち、中央部分に比較的多量のレジスト液を供給し
ても、遠心力によって基板外部に飛散する量が少ない。
しかし、周辺部分に供給されたレジスト液は基板の外部
に飛散しやすい。そこで、この図9に示す例では、レジ
スト液の供給量を、中央部は多く、周辺部に行くほど少
なくしている。したがって、各塗布領域の幅は、 塗布領域C0>塗布領域C1>塗布領域C2>塗布領域
C3 となっている。
[Modifications] (a) The repetition cycle of discharging and stopping the resist solution in step S12 in FIG. 7 may be changed depending on the position of the substrate P. In the example shown in FIG. 9, the width of the application area C0 at the center of the substrate P is larger than that at the periphery.
That is, even if a relatively large amount of the resist solution is supplied to the central portion, the amount of the resist solution scattered outside the substrate by the centrifugal force is small.
However, the resist liquid supplied to the peripheral portion is easily scattered outside the substrate. Therefore, in the example shown in FIG. 9, the supply amount of the resist solution is large in the central portion and is reduced toward the peripheral portion. Therefore, the width of each application region is as follows: application region C0> application region C1> application region C2> application region C3.

【0032】このような例では、レジスト液をより効率
的に基板P全体に塗布することができ、レジスト液の消
費量をより抑えることができる。 (b)前記例では、ノズル部7に、基板の短辺方向に延
びるスリット20を形成したが、図10(a)に示すよ
うに、スリットに代えて、基板の短辺方向に沿って近接
して配置された複数の小孔41を有するノズル部40を
用いてもよい。また、図10(b)に示すように、基板
の短辺方向中央部にスリット20を、その両側に複数の
小孔41を有するノズル部40としてもよい。なお、図
10(a)(b)は、ノズル部40を底面から見た図で
あり、矢印Mはノズル部41の移動方向を示している。
In such an example, the resist solution can be more efficiently applied to the entire substrate P, and the consumption of the resist solution can be further reduced. (B) In the above-described example, the slit 20 extending in the short side direction of the substrate is formed in the nozzle portion 7, but as shown in FIG. A nozzle unit 40 having a plurality of small holes 41 arranged in a row may be used. Further, as shown in FIG. 10B, the slit 20 may be formed at the center in the short side direction of the substrate, and the nozzle portion 40 may have a plurality of small holes 41 on both sides thereof. FIGS. 10A and 10B are views of the nozzle section 40 as viewed from the bottom, and an arrow M indicates the direction in which the nozzle section 41 moves.

【0033】[第2実施形態]図11に本発明の第2実
施形態による塗布装置に適用されるノズル部50を示
す。この例では、ノズル部50はその延びる方向(基板
の短辺方向)に沿って複数のスリット51を有してい
る。ここでは、各スリット51の長さはいずれも同じで
ある。
[Second Embodiment] FIG. 11 shows a nozzle section 50 applied to a coating apparatus according to a second embodiment of the present invention. In this example, the nozzle portion 50 has a plurality of slits 51 along the extending direction (the short side direction of the substrate). Here, each slit 51 has the same length.

【0034】このようなノズル部50を用いてレジスト
液を供給することにより、図12に示すように、基板P
の長手方向に長い塗布領域Cを短辺方向に間欠的に形成
することができる。図11及び12における矢印Mはノ
ズル部50の移動方向を示している。なお、このような
ノズル部50を用いる場合は、先の例における図7のス
テップS12において、レジスト液を連続して吐出す
る。他の処理は先の例と同じである。もちろん、この例
においても、基板Pの回転中心Oにはレジスト液が必ず
供給されるようにスリット51を配置する。
By supplying the resist liquid using such a nozzle section 50, as shown in FIG.
Can be formed intermittently in the short side direction. The arrow M in FIGS. 11 and 12 indicates the moving direction of the nozzle unit 50. When such a nozzle unit 50 is used, the resist liquid is continuously discharged in step S12 of FIG. 7 in the above example. Other processes are the same as the previous example. Of course, also in this example, the slit 51 is arranged so that the resist liquid is always supplied to the rotation center O of the substrate P.

【0035】〔変形例〕 (a)この第2実施形態の変形例として、ノズル部50
の各スリットの長さを変えて、前述のように、中央部の
塗布領域の幅が周辺部の塗布領域の幅に比較して大きく
なるようにしてもよい。 (b)図12に示すような間欠領域にレジスト液を塗布
する場合、図13(a)に示すように、それぞれが前述
のようなスリット51を有する複数のノズル部60a,
60b,60c,60d,60eを、基板の短辺方向に
並べて配置してもよい。この場合、中央部のノズル部6
0cにレジスト液供給弁61を連結し、中間部の1対の
ノズル部60b,60dにレジスト液供給弁62を連結
し、最も外側の1対のノズル部60a,60eにレジス
ト液供給弁63を連結して、各ノズル部60a〜60e
に供給するレジスト液の量を個別に制御できるようにす
るのが望ましい。
[Modification] (a) As a modification of the second embodiment, the nozzle 50
The length of each slit may be changed so that the width of the application region at the center is larger than the width of the application region at the periphery, as described above. (B) When a resist solution is applied to an intermittent region as shown in FIG. 12, as shown in FIG. 13 (a), a plurality of nozzle portions 60a each having a slit 51 as described above,
The 60b, 60c, 60d, and 60e may be arranged side by side in the short side direction of the substrate. In this case, the central nozzle portion 6
0c, a resist liquid supply valve 62 is connected to a pair of intermediate nozzles 60b, 60d, and a resist liquid supply valve 63 is connected to the outermost pair of nozzles 60a, 60e. By connecting, each nozzle part 60a-60e
It is desirable to be able to individually control the amount of resist solution supplied to the substrate.

【0036】もちろん、各ノズル部のそれぞれにレジス
ト液供給弁を連結して、すべてのノズル部に対するレジ
スト液供給量を個別に制御できるようにしてもよい。 (c)図13(b)に示すように、中央部にスリット5
1を有するノズル部60fと、両端側に複数の小孔41
を有するノズル部60gとを組み合わせて用いてもよ
い。
Of course, a resist liquid supply valve may be connected to each of the nozzles so that the amount of resist liquid supplied to all of the nozzles can be individually controlled. (C) As shown in FIG.
1 and a plurality of small holes 41 at both ends.
May be used in combination with the nozzle portion 60g having

【0037】(d)この第2実施形態のノズル部50,
60を用いて、第1実施形態と同様にレジスト液の吐出
及び停止を周期的に繰り返すことによって、第1の方向
と第2の方向の両方向に間欠的な塗布領域を形成するこ
とができる。また、ノズル部60f,60gを用いて、
その両方又はいずれか一方を、吐出及び停止を周期的に
繰り返すようにしてもよい。
(D) The nozzle 50 of the second embodiment,
By periodically repeating the discharge and stop of the resist liquid using the nozzle 60 as in the first embodiment, it is possible to form intermittent application regions in both the first direction and the second direction. Also, using the nozzle portions 60f and 60g,
Either or either of them may be periodically repeated to discharge and stop.

【0038】[第3実施形態]前記第1及び第2実施形
態では、一方向の長い塗布領域を他方向に間欠的に形成
したが、この実施形態では、同心の環状領域を間欠的に
形成している。この場合のノズル部の構成を図14に示
す。この図に示されたノズル部70は、基板Pの回転中
心Oを中心に回転自在となっており、半径方向に長く延
びている。そして、その底部には複数のスリット71
a,71b,71c,71dがノズル部70の延びる方
向に沿って配置されている。スリット71aは回転中心
Oを含むように配置されており、また、各スリットの長
さは、周辺部にいくに従って短くなっている。すなわ
ち、スリットの長さは、スリット71a>スリット71
b>スリット71c>スリット71dとなっている。な
お、ノズル部70は、基板Pの搬送等に妨げとならない
ように、基板Pの上方から退避した位置と、図14に示
す位置とを取り得るように移動自在である。
Third Embodiment In the first and second embodiments, a long coating area in one direction is formed intermittently in the other direction. In this embodiment, a concentric annular area is formed intermittently. doing. FIG. 14 shows the configuration of the nozzle section in this case. The nozzle unit 70 shown in this figure is rotatable around the rotation center O of the substrate P, and extends long in the radial direction. And the bottom has a plurality of slits 71
a, 71b, 71c, 71d are arranged along the direction in which the nozzle unit 70 extends. The slits 71a are arranged so as to include the rotation center O, and the lengths of the slits become shorter as going to the peripheral portion. That is, the length of the slit is determined as follows: slit 71a> slit 71
b> slit 71c> slit 71d. The nozzle unit 70 is movable so that it can take a position retracted from above the substrate P and a position shown in FIG. 14 so as not to hinder the transfer of the substrate P and the like.

【0039】このようなノズル部70を回転させて得ら
れる間欠塗布領域を図15に示す。塗布領域C0はスリ
ット71aによって、塗布領域C1はスリット71bに
よって、塗布領域C2はスリット71cによって、塗布
領域C3はスリット71dによってレジスト液が供給さ
れて形成されたものである。なお、領域C3を形成する
スリット71dは基板の長辺部分で基板の表面上から外
れてしまうが、その間はスリット71dからのレジスト
液の供給のみ停止できるように弁等を設けることが望ま
しい。
FIG. 15 shows an intermittent coating area obtained by rotating such a nozzle section 70. The coating area C0 is formed by supplying the resist liquid by the slit 71a, the coating area C1 is formed by the slit 71b, the coating area C2 is formed by the slit 71c, and the coating area C3 is formed by supplying the resist liquid by the slit 71d. Note that the slit 71d forming the region C3 deviates from the surface of the substrate at the long side of the substrate. During that time, it is desirable to provide a valve or the like so that only the supply of the resist liquid from the slit 71d can be stopped.

【0040】このような実施形態では、複数の環状の塗
布領域が同心に形成されるので、回転によって各塗布領
域のレジスト液が拡散しやすく、少ないレジスト液でよ
り均一に塗布を行うことができる。 〔変形例〕 (a)図16に示すように、2つのノズル部75,76
を用いて複数の環状の塗布領域を同心に形成することも
できる。この例では、第1ノズル部75は、基板Pの短
辺方向に延びるように形成されており、基板P上方で基
板Pの長手方向に移動可能である。また、第2ノズル部
76は、基板Pの長手方向に延びるように形成されてお
り、基板P上方で基板Pの短辺方向に移動可能である。
そして、第1ノズル部75は基板Pの短辺方向に沿って
配置された複数のスリット75a〜75cを有してい
る。中央部のスリット75aは最も長さが長く、それに
隣接する中間部の1対のスリット75bはこれに次いで
長く、最も周辺部の1対のスリット75cは最も短くな
っている。すなわち、各スリットの長さは、 スリット75a>1対のスリット75b>1対のスリッ
ト75c となっている。また、第2ノズル部76は基板Pの長手
方向に沿って配置されたそれぞれ1対のスリット76
b,76cを有しており、中央側のスリット76bの長
さは第1ノズル部75のスリット75bの長さと同じ
で、外側のスリット76cの長さは第1ノズル部75の
スリット75cの長さと同じになっている。
In such an embodiment, since the plurality of annular coating regions are formed concentrically, the resist liquid in each coating region is easily diffused by rotation, and the coating can be performed more uniformly with a small amount of the resist liquid. . [Modifications] (a) As shown in FIG. 16, two nozzle portions 75 and 76
A plurality of annular application regions can be formed concentrically by using. In this example, the first nozzle portion 75 is formed so as to extend in the short side direction of the substrate P, and is movable above the substrate P in the longitudinal direction of the substrate P. The second nozzle portion 76 is formed so as to extend in the longitudinal direction of the substrate P, and is movable above the substrate P in the short side direction of the substrate P.
The first nozzle section 75 has a plurality of slits 75a to 75c arranged along the short side direction of the substrate P. The central slit 75a is the longest, the middle pair of slits 75b adjacent thereto is the second longest, and the peripheral pair of slits 75c is the shortest. That is, the length of each slit is such that slit 75a> a pair of slits 75b> a pair of slits 75c. The second nozzle portion 76 is provided with a pair of slits 76 arranged along the longitudinal direction of the substrate P, respectively.
b, 76c, the length of the central slit 76b is the same as the length of the slit 75b of the first nozzle portion 75, and the length of the outer slit 76c is the same as the length of the slit 75c of the first nozzle portion 75. It is the same as

【0041】そして、各スリットには、個別にレジスト
液供給弁(図示せず)が連結されており、それぞれのス
リットからのレジスト液の供給タイミングを制御できる
ようになっている。このようなノズル部によって環状の
塗布領域を形成する場合は、まず図17(a)に示すよ
うに、第1ノズル部75を基板Pの長手方向に移動させ
ながら各スリットからのレジスト液の供給タイミングを
制御して、基板の長手方向に長い塗布領域を短辺方向に
間欠的に形成する。この場合、最も外側の塗布領域を最
も長く、中間部の塗布領域をその次に長く、中央部の塗
布領域を最も短くする。次に、図17(b)に示すよう
に、第2ノズル部76を基板Pの短辺方向に移動させな
がら各スリットからのレジスト液の供給タイミングを制
御して、基板Pの短辺方向に長い塗布領域を基板Pの長
手方向に間欠的に形成する。これらの塗布領域によっ
て、中央部の塗布領域C0と、中間部の環状の塗布領域
C1と、外周部の環状の塗布領域C2とが同心に形成さ
れる。そして、各塗布領域は、外側にいくに従ってその
幅が狭くなっている。
A resist liquid supply valve (not shown) is individually connected to each slit, so that the timing of supplying the resist liquid from each slit can be controlled. When an annular coating region is formed by such a nozzle portion, first, the resist solution is supplied from each slit while moving the first nozzle portion 75 in the longitudinal direction of the substrate P as shown in FIG. By controlling the timing, a long coating area in the longitudinal direction of the substrate is formed intermittently in the short side direction. In this case, the outermost coating region is the longest, the middle coating region is the next longest, and the central coating region is the shortest. Next, as shown in FIG. 17B, while moving the second nozzle portion 76 in the short side direction of the substrate P, the supply timing of the resist solution from each slit is controlled, and the second nozzle portion 76 is moved in the short side direction of the substrate P. A long coating region is formed intermittently in the longitudinal direction of the substrate P. With these application regions, a central application region C0, an intermediate annular application region C1, and an outer peripheral annular application region C2 are formed concentrically. The width of each application area is reduced toward the outside.

【0042】(b)図17(b)に示すような環状の間
欠塗布領域は、1つのノズル部によっても形成できる。
すなわち、まず、図18(a)に示すように、ノズル部
75を基板Pの長手方向に移動させながら各スリット7
5a〜75cからのレジスト液の供給タイミングを制御
して、基板Pの長手方向に長い塗布領域を基板Pの短辺
方向に間欠的に形成する。次に、基板Pを90゜回転す
る。この状態を図18(b)に示している。次に、先と
は逆方向にノズル部75を移動させながらレジスト液の
供給タイミングを制御して、先に形成された塗布領域を
連結するように塗布領域を形成する。
(B) The annular intermittent application area as shown in FIG. 17 (b) can also be formed by one nozzle.
That is, first, as shown in FIG. 18A, each slit 7 is moved while moving the nozzle portion 75 in the longitudinal direction of the substrate P.
By controlling the supply timing of the resist liquid from 5a to 75c, a long coating area in the longitudinal direction of the substrate P is formed intermittently in the short side direction of the substrate P. Next, the substrate P is rotated by 90 °. This state is shown in FIG. Next, the supply timing of the resist solution is controlled while moving the nozzle portion 75 in the direction opposite to the previous direction, and the application region is formed so as to connect the application region formed earlier.

【0043】これにより、図17の例とほぼ同様の複数
の環状の塗布領域を同心に形成できる。 (c)また、図19に示すように、基板上方でX,Y方
向に移動可能でかつ所定の幅のスリット81を有するノ
ズル部80を用いて、複数の環状の塗布領域を同心に形
成することもできる。すなわち、ノズル部80を図の矢
印に沿って描画するように移動させることにより、基板
の回転中心Oを含む塗布領域C0と、その周囲の塗布領
域C1と、外周部の塗布領域C2とを、同心に形成する
ことができる。
As a result, a plurality of annular coating regions substantially similar to the example of FIG. 17 can be formed concentrically. (C) Further, as shown in FIG. 19, a plurality of annular application regions are formed concentrically by using a nozzle portion 80 which is movable in the X and Y directions above the substrate and has a slit 81 of a predetermined width. You can also. That is, by moving the nozzle portion 80 so as to draw along the arrow in the drawing, the application region C0 including the rotation center O of the substrate, the peripheral application region C1, and the peripheral application region C2 are moved. It can be formed concentrically.

【0044】(d)また、第2実施形態における図11
に示したノズル部50を、基板Pの回転中心Oの上方を
通る位置に停止させて設け、ノズル部50から液を吐出
しつつ基板Pを180゜回転させることによっても、塗
布領域を同心に形成することができる。さらに、図11
に示したノズル部50を半分の長さのものとし、基板P
の回転中心Oの上方を通る位置に停止させ、基板Pを3
60゜回転させることによっても塗布領域を同心に形成
できる。
(D) FIG. 11 in the second embodiment
The nozzle area 50 is stopped at a position passing above the center of rotation O of the substrate P, and the substrate P is rotated by 180 ° while discharging the liquid from the nozzle section 50. Can be formed. Further, FIG.
The nozzle part 50 shown in FIG.
Is stopped at a position passing above the rotation center O of the
The application area can also be formed concentrically by rotating by 60 °.

【0045】[第4実施形態]図20に第4実施形態を
示す。この例では、基板Pの長手方向に並ぶ2つのノズ
ル部83,84を有している。第1ノズル部83は基板
Pの短辺方向に沿って2つのスリット83a,83bを
有しており、第2ノズル部84は基板Pの短辺方向に沿
って3つのスリット84a,84b,84cを有してい
る。スリット83aとスリット84aとは基板の長手方
向において一部が重なるがずれて配置されている。ま
た、スリット83bとスリット84cとの関係も同様で
ある。また、スリット84bは基板Pの短辺方向の中央
部に形成されている。そして、各スリットの幅(長さ)
寸法は、以下のようになっている。
[Fourth Embodiment] FIG. 20 shows a fourth embodiment. In this example, two nozzle portions 83 and 84 are arranged in the longitudinal direction of the substrate P. The first nozzle portion 83 has two slits 83a and 83b along the short side direction of the substrate P, and the second nozzle portion 84 has three slits 84a, 84b and 84c along the short side direction of the substrate P. have. The slits 83a and the slits 84a are arranged so as to partially overlap with each other in the longitudinal direction of the substrate, but are shifted from each other. The same applies to the relationship between the slit 83b and the slit 84c. The slit 84b is formed at the center of the substrate P in the short side direction. And the width (length) of each slit
The dimensions are as follows.

【0046】スリット84b>スリット84a=84c
>スリット83a=83b このような実施形態では、まず第1及び第2ノズル部8
3,84を基板の長手方向(図20の矢印M方向)に移
動させながら、第1ノズル部83のみを用いて基板Pの
長手方向に長い塗布領域を基板Pの短辺方向に間欠的に
形成する。次に、基板Pを90゜回転させ、前記両ノズ
ル部83,84を先とは逆方向(図21の矢印方向)に
移動させながら第2ノズル部84のみを用いて基板の短
辺方向に長い塗布領域を基板Pの長手方向に間欠的に形
成する。
Slit 84b> Slit 84a = 84c
> Slit 83a = 83b In such an embodiment, the first and second nozzle portions 8
While moving 3,84 in the longitudinal direction of the substrate (the direction of arrow M in FIG. 20), the coating region long in the longitudinal direction of the substrate P is intermittently moved in the short side direction of the substrate P using only the first nozzle portion 83. Form. Next, the substrate P is rotated by 90 ° and the two nozzle portions 83 and 84 are moved in the opposite direction (the direction of the arrow in FIG. 21) while using only the second nozzle portion 84 in the short side direction of the substrate. A long coating region is formed intermittently in the longitudinal direction of the substrate P.

【0047】このようにして形成される間欠塗布領域を
図21に示す。図において、実線で示す領域は第1ノズ
ル部83によって形成された塗布領域であり、一点鎖線
で示す領域は第2ノズル部84によって形成されるべき
塗布領域である。この場合は、基板Pにおける長手方向
の塗布領域と短辺方向の塗布領域の幅や位置をノズル部
のスリットを変えることによって個別に制御することが
できる。
FIG. 21 shows the intermittent coating area formed in this manner. In the drawing, a region indicated by a solid line is a coating region formed by the first nozzle unit 83, and a region indicated by a dashed line is a coating region to be formed by the second nozzle unit 84. In this case, the width and the position of the application region in the longitudinal direction and the application region in the short side direction on the substrate P can be individually controlled by changing the slit of the nozzle portion.

【0048】[第5実施形態]前記各実施形態では、基
板Pにレジスト液を塗布する工程と基板Pを回転させて
レジスト液を拡散させる工程とを1つのステージで行う
ようにしたが、これらを別々のステージで行うようにし
てもよい。この例を図22に示す。図に示す装置は、塗
布処理ステージ85と、回転拡散ステージ86とを有し
ている。そして、これらの各ステージ間で基板を搬送す
るための搬送ロボット(図示せず)が設けられている。
[Fifth Embodiment] In each of the above embodiments, the step of applying the resist liquid to the substrate P and the step of rotating the substrate P to diffuse the resist liquid are performed in one stage. May be performed on different stages. This example is shown in FIG. The apparatus shown in the figure has a coating stage 85 and a rotary diffusion stage 86. A transfer robot (not shown) for transferring a substrate between these stages is provided.

【0049】塗布処理ステージ85は、例えば前記第1
実施形態で示したようなノズル部7と、基板保持装置9
0とを有している。ここでの基板保持装置90は回転し
ない。ノズル部7は、基板保持装置90の表面に沿って
図の矢印方向に移動可能である。またこのノズル部7に
は、前述したような、レジスト液をノズル部7に供給す
るための各装置が連結されている。
The coating stage 85 is, for example,
The nozzle unit 7 as shown in the embodiment and the substrate holding device 9
0. The substrate holding device 90 here does not rotate. The nozzle unit 7 is movable along the surface of the substrate holding device 90 in the direction of the arrow in the figure. Each device for supplying a resist solution to the nozzle unit 7 as described above is connected to the nozzle unit 7.

【0050】また、回転拡散ステージ86は、基板を保
持して回転可能な基板回転装置91を有している。この
基板回転装置91は、図示しないモータ等の回転機構に
よって回転させられるようになっている。このような装
置では、塗布処理ステージ85において、前述したよう
な間欠領域にレジスト液が塗布される。そして、この間
欠領域にレジスト液が塗布された基板が回転拡散ステー
ジ86に搬送され、このステージにおいて基板が回転さ
れて、間欠領域に塗布されたレジスト液が基板表面の全
体に拡散される。
Further, the rotary diffusion stage 86 has a substrate rotating device 91 which can rotate while holding the substrate. The substrate rotating device 91 is configured to be rotated by a rotating mechanism such as a motor (not shown). In such an apparatus, the resist liquid is applied to the above-described intermittent area in the application processing stage 85. Then, the substrate having the intermittent region coated with the resist liquid is conveyed to the rotary diffusion stage 86, where the substrate is rotated, and the resist liquid applied to the intermittent region is diffused over the entire substrate surface.

【0051】ここでは、1つのステージで塗布及び回転
を行う場合に比較して、各ステージでの処理時間が短く
なる。したがって、装置のスループットが向上し、全体
の処理時間が短縮される。
Here, the processing time in each stage is shorter than in the case where coating and rotation are performed in one stage. Therefore, the throughput of the apparatus is improved, and the overall processing time is reduced.

【0052】[0052]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、従来の
装置に比較して塗布液の消費量を抑えることができる。
As described above, according to the present invention, the consumption of the coating liquid can be suppressed as compared with the conventional apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態による塗布装置のブロ
ック模式図。
FIG. 1 is a schematic block diagram of a coating apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】塗布処理時のノズル部の部分斜視図。FIG. 2 is a partial perspective view of a nozzle portion during a coating process.

【図3】塗布処理時の一状態を示す概略正面図。FIG. 3 is a schematic front view showing one state during a coating process.

【図4】図2のIV−IV断面図。FIG. 4 is a sectional view taken along line IV-IV of FIG. 2;

【図5】塗布装置の制御構成を示すブロック模式図。FIG. 5 is a schematic block diagram showing a control configuration of a coating apparatus.

【図6】塗布装置の制御フローチャート。FIG. 6 is a control flowchart of the coating apparatus.

【図7】塗布装置の制御フローチャート。FIG. 7 is a control flowchart of the coating apparatus.

【図8】塗布処理時の一状態を示す平面図。FIG. 8 is a plan view showing one state during a coating process.

【図9】第1実施形態の変形例による塗布状態を示す基
板の平面図。
FIG. 9 is a plan view of a substrate showing a coating state according to a modified example of the first embodiment.

【図10】本発明の第1実施形態の他の変形例によるノ
ズル部の底面図。
FIG. 10 is a bottom view of a nozzle section according to another modification of the first embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第2実施形態によるノズル部の底面
図。
FIG. 11 is a bottom view of a nozzle according to a second embodiment of the present invention.

【図12】前記第2実施形態による塗布状態を示す基板
の平面図。
FIG. 12 is a plan view of a substrate showing a coating state according to the second embodiment.

【図13】前記第2実施形態の変形例によるノズル部の
模式図。
FIG. 13 is a schematic view of a nozzle portion according to a modification of the second embodiment.

【図14】本発明の第3実施形態によるノズル部の平面
図。
FIG. 14 is a plan view of a nozzle according to a third embodiment of the present invention.

【図15】前記第3実施形態による塗布状態を示す基板
の平面図。
FIG. 15 is a plan view of a substrate showing a coating state according to the third embodiment.

【図16】前記第3実施形態の変形例によるノズル部の
平面図。
FIG. 16 is a plan view of a nozzle section according to a modification of the third embodiment.

【図17】前記第3実施形態の変形例による塗布状態を
示す基板の平面図。
FIG. 17 is a plan view of a substrate showing a coating state according to a modification of the third embodiment.

【図18】前記第3実施形態の別の変形例によるノズル
部及び塗布状態を示す平面図。
FIG. 18 is a plan view showing a nozzle portion and a coating state according to another modification of the third embodiment.

【図19】前記第3実施形態のさらに別の変形例による
ノズル部及び塗布状態を示す平面図。
FIG. 19 is a plan view showing a nozzle portion and a coating state according to still another modification of the third embodiment.

【図20】本発明の第4実施形態によるノズル部及び基
板の平面図。
FIG. 20 is a plan view of a nozzle unit and a substrate according to a fourth embodiment of the present invention.

【図21】前記第4実施形態による塗布状態の平面図。FIG. 21 is a plan view of a coating state according to the fourth embodiment.

【図22】本発明の第5実施形態による塗布装置の正面
模式図。
FIG. 22 is a schematic front view of a coating apparatus according to a fifth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 処理部 4 基板保持部 5 レジスト液供給部 7,40,50,60a〜60e,70,75,76,
80,83,84ノズル部 18,61,62,63 レジスト液供給弁 20,51,71a〜71d,75a〜75c,76
b,76c,80a,83a,83b,84a〜84c
スリット 23 制御部 90 基板保持装置 91 基板回転装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Processing part 4 Substrate holding part 5 Resist liquid supply part 7, 40, 50, 60a-60e, 70, 75, 76,
80, 83, 84 nozzle unit 18, 61, 62, 63 Resist liquid supply valve 20, 51, 71a to 71d, 75a to 75c, 76
b, 76c, 80a, 83a, 83b, 84a to 84c
Slit 23 Control unit 90 Substrate holding device 91 Substrate rotating device

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板を回転させて基板表面に塗布液を塗布
するための塗布装置であって、 第1の方向に長い領域に所定の間隔をあけて又は連続的
に塗布液を吐出可能な塗布液供給手段と、 前記塗布液供給手段を前記基板表面に対して前記第1の
方向と交差する第2の方向に相対移動させる移動手段
と、 前記塗布液供給手段を前記基板表面に対して相対移動さ
せながら前記基板の回転中心を含む間欠領域に塗布液を
塗布する間欠領域塗布手段と、 間欠領域に塗布液が塗布された前記基板を回転させて前
記間欠領域に塗布された塗布液を前記基板の表面全体に
拡散させる回転手段と、を備えた塗布装置。
A coating apparatus for applying a coating liquid to a substrate surface by rotating a substrate, wherein the coating liquid can be continuously or continuously discharged in a long region in a first direction. Coating liquid supply means; moving means for moving the coating liquid supply means relative to the substrate surface in a second direction intersecting the first direction; and moving the coating liquid supply means relative to the substrate surface. An intermittent area applying means for applying the application liquid to the intermittent area including the center of rotation of the substrate while relatively moving, and applying the application liquid applied to the intermittent area by rotating the substrate having the application liquid applied to the intermittent area. A rotation unit for diffusing the entire surface of the substrate.
【請求項2】前記塗布液供給手段は、前記第1の方向に
長い連続する領域に塗布液を供給するものであり、 前記間欠領域塗布手段は、前記塗布液供給手段の移動中
に前記塗布液の吐出及び停止を繰り返して、前記第1の
方向に長い塗布領域を前記第2の方向に間欠的に形成す
る、請求項1に記載の塗布装置。
2. The coating liquid supply means supplies a coating liquid to a long continuous area in the first direction. The intermittent area coating means supplies the coating liquid while the coating liquid supply means is moving. The coating apparatus according to claim 1, wherein the application and the stop of the liquid are repeated to form a coating area long in the first direction intermittently in the second direction.
【請求項3】前記塗布液供給手段は、前記第1の方向に
長い連続するスリット状開口を有するノズルを有してい
る、請求項2に記載の塗布装置。
3. The coating apparatus according to claim 2, wherein said coating liquid supply means has a nozzle having a continuous slit-shaped opening long in said first direction.
【請求項4】前記塗布液供給手段は、前記第1の方向に
沿って近接して配置された多数の小孔を有するノズルを
有している、請求項2に記載の塗布装置。
4. The coating apparatus according to claim 2, wherein said coating liquid supply means has a nozzle having a number of small holes arranged close to each other along said first direction.
【請求項5】前記塗布液供給手段は、前記第1の方向に
沿った長い領域に所定の間隔をあけて塗布液を供給する
ものであり、 前記間欠領域塗布手段は、前記塗布液供給手段の移動中
に前記塗布液を連続的に供給して前記第2の方向に長い
塗布領域を前記第1の方向に間欠的に形成する、請求項
1に記載の塗布装置。
5. The application liquid supply means supplies the application liquid at a predetermined interval to a long area along the first direction, and the intermittent area application means comprises a coating liquid supply means. The coating apparatus according to claim 1, wherein the coating liquid is continuously supplied during the movement of the liquid to form a coating area long in the second direction intermittently in the first direction.
【請求項6】前記塗布液供給手段は、前記第1の方向に
沿った長い領域に所定の間隔をあけて塗布液を供給する
ものであり、 前記間欠領域塗布手段は、前記塗布液供給手段の移動中
に前記塗布液の吐出及び停止を繰り返して、前記第1及
び第2の両方向に間欠的な塗布領域を形成する、請求項
1に記載の塗布装置。
6. The application liquid supply means supplies the application liquid at a predetermined interval to a long area along the first direction, and the intermittent area application means comprises a coating liquid supply means. The coating apparatus according to claim 1, wherein the application liquid is repeatedly ejected and stopped during the movement of the coating liquid to form an intermittent coating area in both the first and second directions.
【請求項7】前記塗布液供給手段は、前記第1の方向に
間欠的に形成された複数のスリット状開口を有するノズ
ルを有している、請求項5又は6に記載の塗布装置。
7. The coating apparatus according to claim 5, wherein said coating liquid supply means has a nozzle having a plurality of slit-shaped openings formed intermittently in said first direction.
【請求項8】前記塗布液供給手段は、前記第1の方向に
並べて配置されそれぞれ所定の長さのスリット状開口を
有する複数のノズルを有している、請求項5又は6に記
載の塗布装置。
8. The coating according to claim 5, wherein said coating liquid supply means has a plurality of nozzles arranged side by side in said first direction and each having a slit-shaped opening of a predetermined length. apparatus.
【請求項9】前記塗布液供給手段は、前記複数のノズル
からの塗布液吐出量をそれぞれ制御するための吐出量制
御手段をさらに有している、請求項8に記載の塗布装
置。
9. The coating apparatus according to claim 8, wherein said coating liquid supply means further includes a discharge amount control means for controlling a discharge amount of the coating liquid from said plurality of nozzles.
【請求項10】前記間欠領域塗布手段は、前記基板表面
の同心の複数の環状間欠領域に塗布液を塗布する、請求
項1に記載の塗布装置。
10. The coating apparatus according to claim 1, wherein said intermittent region applying means applies a coating liquid to a plurality of concentric annular intermittent regions on said substrate surface.
【請求項11】前記移動手段は前記塗布液供給手段を前
記基板表面に対して前記第1の方向及び前記第2の方向
に相対移動させるものである、請求項1に記載の塗布装
置。
11. The coating apparatus according to claim 1, wherein said moving means moves said coating liquid supply means relative to said substrate surface in said first direction and said second direction.
【請求項12】前記塗布液供給手段は、それぞれ前記第
1の方向に間欠的に形成された複数のスリット状開口を
有し前記第2の方向に並べて配置された第1ノズル及び
第2ノズルを有し、 前記間欠領域塗布手段は、前記第1ノズルによって前記
基板の第2の方向に長い塗布領域を前記基板の第1の方
向に間欠的に形成した後、前記基板を90゜回転させて
前記第2ノズルによって前記基板の第1の方向に長い塗
布領域を前記基板の第2の方向に間欠的に形成する、請
求項1に記載の塗布装置。
12. The first and second nozzles each having a plurality of slit-shaped openings formed intermittently in the first direction and arranged in the second direction. The intermittent area applying means intermittently forms a long application area in the second direction of the substrate in the first direction of the substrate by the first nozzle, and then rotates the substrate by 90 ° 2. The coating apparatus according to claim 1, wherein the second nozzle intermittently forms a coating area long in the first direction on the substrate in the second direction on the substrate. 3.
【請求項13】前記塗布液供給手段は前記回転手段に対
向可能なように配置されている、請求項1から12のい
ずれかに記載の塗布装置。
13. The coating apparatus according to claim 1, wherein said coating liquid supply means is arranged so as to be able to face said rotating means.
【請求項14】前記塗布液供給手段に対向可能で前記基
板を保持する第1基板保持部と、前記間欠領域塗布手段
によって塗布液が塗布された基板を保持して回転させる
第2基板保持部と、を備えている請求項1から12のい
ずれかに記載の塗布装置。
14. A first substrate holding part capable of facing the coating liquid supply means and holding the substrate, and a second substrate holding part for holding and rotating the substrate coated with the coating liquid by the intermittent area coating means. The coating device according to any one of claims 1 to 12, comprising:
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