JPH10283729A

JPH10283729A - 波形等化器及び光ディスク記録再生装置

Info

Publication number: JPH10283729A
Application number: JP9089188A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Maekawa; 博史前川; Kenya Yokoi; 研哉横井
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1997-04-08
Filing date: 1997-04-08
Publication date: 1998-10-23

Abstract

(57)【要約】【課題】実際にドライブで発生するタンジェンシャル
チルトにおいて一方のサイドローブの強度が大きくなれ
ば他方のサイドローブの強度が小さいなる特性を加味し
た電気的処理によるサイドローブの悪影響の除去によっ
て、タンジェンシャルチルトによる悪影響を抑制できる
ようにする。【解決手段】例えば、３タップの波形等化回路１５に
おける等化係数ｋ１１，ｋ１２の積（又は和）が一定と
なる組合せでこれらの等化係数ｋ１１，ｋ１２の変更設
定を等化係数設定回路２２により行うことで、等化係数
ｋ１１，ｋ１２を最適化する。これにより、タンジェン
シャルチルトによりメインスポットの光ディスク面強度
分布の偏り又はサイドローブの強度分布の偏りが発生し
た場合にも、最適化された等化係数ｋ１１，ｋ１２の組
合せによりタンジェンシャルチルトの悪影響が除去され
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、信号の波形を所定
の形状に等化することで光ディスク等の再生情報の補正
処理に利用される波形等化器及びこの波形等化器を用い
た光ディスク記録再生装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、光ディスク記録再生装置では、
光ピックアップ装置を用いて光ディスク面にレーザ光を
集光照射させ、光ディスク面からの反射光を受光素子で
受光して電気信号に変換することで再生信号を得るよう
にしているが、様々な要因により、再生信号が劣化する
ので、その再生情報に誤りが発生する。そこで、通常は
誤り訂正回路を用いて訂正することで問題のない信号状
態にした後で最終的な再生情報を出力させるようにして
いる。

【０００３】ここに、高密度化が進むにつれて光ディス
クのトラック方向（タンジェンシャル方向）に詰った情
報マークを正確に読み取るために、トラック方向のレー
ザ光の集光スポットを極力小さくすることが望まれてい
る。よって、通常の光ピックアップ光学系においても、
トラック方向に光を大きく絞り込むため、メインスポッ
トの近傍であってトラック方向に一対のサイドローブが
発生する。このようなサイドローブの強度はメインスポ
ットの強度に比べると弱いが、光ディスク面と照射光の
光軸との間のトラック方向の傾き（これを「タンジェン
シャルチルト」という）の発生により、片側のサイドロ
ーブ強度が無視できない程に大きくなるので、再生信号
に悪影響を及ぼす。ちなみに、このようなタンジェンシ
ャルチルトは、光ピックアップ光学系や光ディスクを回
転させるモータの組付け精度による装置固有のチルト
や、装置全体の経時変化や、挿入された光ディスク自体
の形状等に起因して発生する。

【０００４】また、最近では、レーザ光源のレーザ光の
波長λと対物レンズの開口率ＮＡとによって決定される
スポット径ｄ＝ｋ×λ／ＮＡよりも小さなスポット径が
得られる超解像手段が注目されている。この超解像手段
は出射光路上の真中に遮光板を挿入することにより光の
回折現象を起こさせ、光ディスク上の集光点では通常の
光学系のメインスポットに比べると小径化されたメイン
スポットと必然的に発生する一対のサイドローブを形成
させるものである。しかし、この超解像手段を用いた場
合の大きな欠点は、メインスポットを小径化する程、サ
イドローブの強度も強くなって悪影響を及ぼす点であ
る。

【０００５】このようなサイドローブによる悪影響を除
去する手法として、例えば、特開平７−１９２２９７号
公報に示されるように、記録媒体からの反射光の結像位
置に反射型ピンホール（必ずしも、反射型である必要は
ないが）を配置することで、メインビームとサイドロー
ブとを分離してサイドローブが除去され良好な再生信号
を得るようにしたものがある。

【０００６】また、特開平８−６３８８９号公報に示さ
れるように、超解像光学系を用いた場合のサイドローブ
成分の低減を単一の素子上に集積させた５タップ又は７
タップの波形等化器を用いた電気的な処理で行うように
したものもある。

【０００７】さらに、特開平８−１５３３３０号公報に
示されるように電気的処理を最適化したものもある。即
ち、超解像光学系を用いた場合のサイドローブの影響を
除去する等化器及びこの等化器の等化係数を調整する誤
差判定回路を通すことにより、サイドローブの影響を抑
圧しパーシャルレスポンス波形への等化を実現するよう
にしている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところが、特開平７−
１９２２９７号公報に示されるようにピンホールを利用
する場合、ピンホールはその配置精度が難しい上に光量
が少ない、光軸ずれに弱い等の不具合が大きい。よっ
て、特開平８−６３８８９号公報や特開平８−１５３３
３０号公報等に示される電気的処理による方が実用的で
ある。

【０００９】しかし、特開平８−６３８８９号公報に示
される方式の場合、等化器における等化係数が固定され
ているため、タンジェンシャルチルトのない環境でしか
使用できず、実際に適用できるケースは限られてしま
う。

【００１０】また、特開平８−１５３３３０号公報によ
れば、等化器の等化係数を調整し得る旨記載されている
ものの、この等化係数を調整する詳細に関しては言及さ
れておらず、必ずしも適正な調整が行えず、かつ、パー
シャルレスポンス向きに限られたものである。特に、タ
ンジェンシャルチルトが発生した場合については考慮さ
れていない。

【００１１】そこで、本発明は、実際にドライブで発生
するタンジェンシャルチルトにおいて一方のサイドロー
ブの強度が大きくなれば他方のサイドローブの強度が小
さいなる特性を加味した電気的処理によるサイドローブ
の悪影響の除去によって、タンジェンシャルチルトによ
る悪影響を抑制することができる波形等化器及び光ディ
スク記録再生装置を提供することを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
１つの主信号とこの主信号を中心とする複数の前方遅延
時間信号及び後方遅延時間信号とを生成してこれらの信
号を各々所定の比率で加算する多タップの波形等化回路
と、前記複数の前方遅延時間信号及び後方遅延時間信号
の各々と前記主信号との加算に関する比率を規定する等
化係数の変更をそれらの全て又は一部の等化係数の積が
一定となるように設定する等化係数設定回路とを備えて
いる。従って、多タップの波形等化回路における各タッ
プの等化係数の全て又は一部の積が一定となる組合せで
等化係数の変更設定を行うので、タンジェンシャルチル
トによりメインスポットの光ディスク面強度分布の偏り
又はサイドローブの強度分布の偏りが発生した場合に
も、適正な等化係数の組合せによりタンジェンシャルチ
ルトの悪影響が除去される。

【００１３】請求項２記載の発明は、１つの主信号とこ
の主信号を中心とする複数の前方遅延時間信号及び後方
遅延時間信号とを生成してこれらの信号を各々所定の比
率で加算する多タップの波形等化回路と、前記複数の前
方遅延時間信号及び後方遅延時間信号の各々と前記主信
号との加算に関する比率を規定する等化係数の変更をそ
れらの全て又は一部の等化係数の和が一定となるように
設定する等化係数設定回路とを備えている。従って、多
タップの波形等化回路における各タップの等化係数の全
て又は一部の和が一定となる組合せで等化係数の変更設
定を行うので、タンジェンシャルチルトによりメインス
ポットの光ディスク面強度分布の偏り又はサイドローブ
の強度分布の偏りが発生した場合にも、適正な等化係数
の組合せによりタンジェンシャルチルトの悪影響が除去
される。特に、各タップの等化係数の全て又は一部の和
が一定となる組合せによるため、激しいタンジェンシャ
ルチルトが生じた状況下でも線形さを保った等化特性が
得られる。

【００１４】請求項３記載の発明は、入力信号が入力さ
れる入力側から順に縦列接続された遅延時間がともにτ
１の第１の遅延回路と第２の遅延回路と、入力信号に負
の等化係数ｋ１１を乗算する第１の乗算回路と、前記第
２の遅延回路の出力信号に負の等化係数ｋ１２を乗算す
る第２の乗算回路と、これらの第１及び第２の乗算回路
の出力信号と前記第１の遅延回路から出力される主信号
とを加算する加算回路とを有する３タップの波形等化回
路と、各乗算回路における前記等化係数ｋ１１，ｋ１２
の変更をこれらの等化係数全ての積ｋ１１×ｋ１２が一
定となるように設定する等化係数設定回路とを備えてい
る。従って、３タップの波形等化回路における等化係数
ｋ１１，ｋ１２の積が一定となる組合せでこれらの等化
係数の変更設定を行うので、タンジェンシャルチルトに
よりメインスポットの光ディスク面強度分布の偏り又は
サイドローブの強度分布の偏りが発生した場合にも、適
正な等化係数の組合せによりタンジェンシャルチルトの
悪影響が除去される。

【００１５】請求項４記載の発明は、入力信号が入力さ
れる入力側から順に縦列接続された遅延時間がともにτ
１の第１の遅延回路と第２の遅延回路と、入力信号に負
の等化係数ｋ１１を乗算する第１の乗算回路と、前記第
２の遅延回路の出力信号に負の等化係数ｋ１２を乗算す
る第２の乗算回路と、これらの第１及び第２の乗算回路
の出力信号と前記第１の遅延回路から出力される主信号
とを加算する加算回路とを有する３タップの波形等化回
路と、各乗算回路における前記等化係数ｋ１１，ｋ１２
の変更をこれらの等化係数全ての和ｋ１１＋ｋ１２が一
定となるように設定する等化係数設定回路とを備えてい
る。従って、３タップの波形等化回路における等化係数
ｋ１１，ｋ１２の和が一定となる組合せでこれらの等化
係数の変更設定を行うので、タンジェンシャルチルトに
よりメインスポットの光ディスク面強度分布の偏り又は
サイドローブの強度分布の偏りが発生した場合にも、適
正な等化係数の組合せによりタンジェンシャルチルトの
悪影響が除去される。特に、等化係数ｋ１１，ｋ１２の
和が一定となる組合せによるため、激しいタンジェンシ
ャルチルトが生じた状況下でも線形さを保った等化特性
が得られる。

【００１６】請求項５記載の発明は、入力信号が入力さ
れる入力側から順に縦列接続された遅延時間がτ２１の
第１の遅延回路と遅延時間がτ２２の第２の遅延回路と
遅延時間がτ２２の第３の遅延回路と遅延時間がτ２１
の第４の遅延回路と、入力信号に負の等化係数ｋ２１を
乗算する第１の乗算回路と、前記第１の遅延回路の出力
信号に負の等化係数ｋ２２を乗算する第２の乗算回路
と、前記第３の遅延回路の出力信号に負の等化係数ｋ２
３を乗算する第３の乗算回路と、前記第４の遅延回路の
出力信号に負の等化係数ｋ２４を乗算する第４の乗算回
路と、これらの第１ないし第４の乗算回路の出力信号と
前記第２の遅延回路から出力される主信号とを加算する
加算回路とを有する５タップの波形等化回路と、各乗算
回路における前記等化係数の変更をこれらの等化係数全
ての積ｋ２１×ｋ２２×ｋ２３×ｋ２４が一定となるよ
うに設定する等化係数設定回路とを備えている。従っ
て、５タップの波形等化回路における負の等化係数ｋ２
１，ｋ２２，ｋ２３，ｋ２４の積が一定となる組合せで
これらの負の等化係数の変更設定を行うので、タンジェ
ンシャルチルトによりメインスポットの光ディスク面強
度分布の偏り又はサイドローブの強度分布の偏りが発生
した場合にも、適正な等化係数の組合せによりタンジェ
ンシャルチルトの悪影響が除去される。

【００１７】請求項６記載の発明は、入力信号が入力さ
れる入力側から順に縦列接続された遅延時間がτ２１の
第１の遅延回路と遅延時間がτ２２の第２の遅延回路と
遅延時間がτ２２の第３の遅延回路と遅延時間がτ２１
の第４の遅延回路と、入力信号に負の等化係数ｋ２１を
乗算する第１の乗算回路と、前記第１の遅延回路の出力
信号に負の等化係数ｋ２２を乗算する第２の乗算回路
と、前記第３の遅延回路の出力信号に負の等化係数ｋ２
３を乗算する第３の乗算回路と、前記第４の遅延回路の
出力信号に負の等化係数ｋ２４を乗算する第４の乗算回
路と、これらの第１ないし第４の乗算回路の出力信号と
前記第２の遅延回路から出力される主信号とを加算する
加算回路とを有する５タップの波形等化回路と、各乗算
回路における前記等化係数の変更をこれらの等化係数全
ての和ｋ２１＋ｋ２２＋ｋ２３＋ｋ２４が一定となるよ
うに設定する等化係数設定回路とを備えている。従っ
て、５タップの波形等化回路における負の等化係数ｋ２
１，ｋ２２，ｋ２３，ｋ２４の和が一定となる組合せで
これらの負の等化係数の変更設定を行うので、タンジェ
ンシャルチルトによりメインスポットの光ディスク面強
度分布の偏り又はサイドローブの強度分布の偏りが発生
した場合にも、適正な等化係数の組合せによりタンジェ
ンシャルチルトの悪影響が除去される。特に、負の等化
係数ｋ２１，ｋ２２，ｋ２３，ｋ２４の和が一定となる
組合せによるため、激しいタンジェンシャルチルトが生
じた状況下でも線形さを保った等化特性が得られる。

【００１８】請求項７記載の発明は、請求項５又は６記
載の波形等化器において、遅延時間τ２２及び等化係数
ｋ２２，ｋ２３は、隣接マーク再生信号との符号間干渉
を抑制する値に設定され、遅延時間τ２１及び等化係数
ｋ２１，ｋ２４は、サイドローブによる再生信号を最も
除去する値に設定される。即ち、第２の遅延回路から出
力される主信号を中心に直前後の遅延時間τ２２及び等
化係数ｋ２２，ｋ２３がメインスポットの符号間干渉を
抑制する値に設定され、次前後の遅延時間τ２１及び等
化係数ｋ２１，ｋ２４がサイドローブによる再生信号を
最も除去する値に設定されるので、符号間干渉の除去と
サイドローブによる再生信号除去とを１つの波形等化器
において同時に処理できるとともに、タンジェンシャル
チルトの影響を抑制できる。

【００１９】請求項８記載の発明は、請求項５又は６記
載の波形等化器において、等化係数ｋ２２とｋ２３とは
等しい値に設定され、等化係数ｋ２１とｋ２４とはこれ
らの積ｋ２１×ｋ２４の値が一定となるように設定され
る。即ち、第２の遅延回路から出力される主信号を中心
に直前後の遅延時間及び等化係数が各々等しい値に設定
され、等化係数ｋ２１，ｋ２４の積が一定となるように
設定されるので、タンジェンシャルチルトに非常に敏感
なサイドローブによる再生信号の除去を重点的に行うこ
とができる。

【００２０】請求項９記載の発明は、請求項５又は６記
載の波形等化器において、等化係数ｋ２２とｋ２３とは
等しい値に設定され、等化係数ｋ２１とｋ２４とはこれ
らの和ｋ２１＋ｋ２４の値が一定となるように設定され
る。即ち、第２の遅延回路から出力される主信号を中心
に直前後の遅延時間及び等化係数が各々等しい値に設定
され、等化係数ｋ２１，ｋ２４の和が一定となるように
設定されるので、タンジェンシャルチルトに非常に敏感
なサイドローブによる再生信号の除去を重点的に行うこ
とができる。

【００２１】請求項１０記載の発明は、レーザ光源から
出射されるレーザ光を光ディスク面に集光させるととも
にこの光ディスクからの反射光を受光素子で受光して電
気信号に変換する光ピックアップ装置と、前記光ディス
ク面と前記光ピックアップ装置による照射光の光軸との
間のトラック方向の傾きの発生を監視するタンジェンシ
ャルチルト監視手段と、等化係数の変更の設定を前記タ
ンジェンシャルチルト監視手段の出力に基づいて行う等
化係数設定回路を有して、前記光ピックアップ装置から
の電気信号が入力される請求項１ないし９の何れか一に
記載の波形等化器と、この波形等化器から出力される電
気信号を再生信号に変換する再生信号出力回路とを備え
ている。従って、光ディスク記録再生装置において、光
ディスク面と光ピックアップ装置による照射光の光軸と
の間のトラック方向の傾きであるタンジェンシャルチル
トの発生を監視するタンジェンシャルチルト監視手段を
備え、このタンジェンシャルチルト監視手段の出力に応
じて予め設定された等化係数に変更設定するようにした
ので、良好なる再生信号を得ることができ、機械的な構
成で行うと非常に複雑かつ高価となる自己チルト修正機
構を、ＬＳＩ化すれば殆どコストアップしない電気的な
補正で実現できる。

【００２２】請求項１１記載の発明は、請求項１０記載
の光ディスク記録再生装置における光ピックアップ装置
が、レーザ光源から出射されるレーザ光の一部を遮光す
る遮光部材を有して光ディスク面にメインスポットとサ
イドローブとからなる集光点を形成するものである。即
ち、超解像光学系による光ピックアップ装置を用いた光
ディスク記録再生装置に請求項１０記載の発明が適用さ
れている。この場合、通常の光学系による光ピックアッ
プ装置の場合よりもサイドローブの強度が強いため、よ
り効果的となる。

【００２３】これらの請求項１０又は１１記載の光ディ
スク記録再生装置において、タンジェンシャルチルト監
視手段は、請求項１２記載の発明のようにトラック方向
の傾きの発生を直接的に検出するチルト検出手段によっ
てもよく、或いは、請求項１３記載の発明のように、ト
ラック方向の傾きの発生を再生信号出力回路から得られ
る再生信号の誤り率に基づき間接的に検出する誤り検出
回路によってもよい。さらには、ジッタ信号やタンジェ
ンシャルプッシュプル信号等を利用して間接的にタンジ
ェンシャルチルトを検出するようにしてもよい。

【００２４】請求項１４記載の発明は、請求項１３記載
の光ディスク記録再生装置に加えて、等化係数設定回路
により設定される等化係数に基づきレーザ光源から出射
されるレーザ光の出力を制御するレーザ出力制御回路を
有している。従って、間接的に検出されたタンジェンシ
ャルチルトに基づき最適値に設定される等化係数を参照
して予想される光ディスク面でのスポットの強度低下分
をレーザ出力制御回路の出力制御によって補正している
ので、機械的となる直接的なチルト検出手段を必要とせ
ず、光ディスク面に対するレーザ光の出力を適正にして
情報の記録再生を行える。

【００２５】請求項１５記載の発明は、請求項１４記載
の光ディスク記録再生装置においてレーザ出力制御回路
は、光ディスクへの記録時にレーザ光の出力を制御す
る。従って、記録時に光ディスク面に照射するレーザ光
の出力低下を補正しているので、記録不良につながる記
録パワーの低下を回避することができ、適正なレーザ光
出力の下に情報を記録することができる。

【００２６】

【発明の実施の形態】本発明の第一の実施の形態を図１
ないし図５に基づいて説明する。図２は本実施の形態に
おける光ディスク記録再生装置の概略を示す構成図であ
る。図示しない回転駆動系により回転駆動される光ディ
スク１に対して光ピックアップ装置２が対向配置されて
いる。この光ピックアップ装置２は、レーザ光を出射す
るレーザ光源３と、レーザ光を平行光にするコリメート
レンズ４と、前記光ディスク１側に反射させるビームス
プリッタ５と、このビームスプリッタ５により反射され
たレーザ光を前記光ディスク１面に集光照射させる対物
レンズ６と、前記光ディスク１面で反射され前記対物レ
ンズ６やビームスプリッタ５を透過した反射光を受光す
る受光素子７と、反射光をこの受光素子７に結像させる
コリメートレンズ８とにより構成されている。また、前
記受光素子７にはこの受光素子７により光電変換された
電気信号を増幅する増幅器９が接続されている。増幅器
９の出力側には電気信号の波形を所定の形状に等化する
波形等化器１０が接続されている。この波形等化器１０
の出力側には２値化された再生信号に変換して出力する
再生信号出力回路を形成する２値化回路１１が接続され
ている。また、前記レーザ光源３、波形等化器１０、２
値化回路１１等の制御を受け持つＣＰＵ１２が設けられ
ている。このＣＰＵ１２にはＲＯＭ１３が接続されてい
る。この他、λ／４板等が適宜設けられる他、フォーカ
スサーボ系やトラッキングサーボ系などが設けられる
が、要旨に影響しないので、図２では省略されている。

【００２７】ここに、本実施の形態においては、光ピッ
クアップ装置２が超解像光学系を含む構成とされてい
る。即ち、前記レーザ光源３からの出射光路上で前記コ
リメートレンズ４・ビームスプリッタ５間には超解像ス
ポットを形成するために真中に遮光部１４ａを有する遮
光部材である遮光板１４が介在されている。

【００２８】前記波形等化器１０は、例えば、図１に示
すように構成されている。この波形等化器１０は光ディ
スク１からの反射信号を入力信号とする３タップの波形
等化回路１５をベースとして構成されている。即ち、入
力端子１６から入力信号（＝前方遅延時間信号）が入力
される遅延時間τ１の遅延回路１７と、この遅延回路１
７で遅延されて出力される主信号が入力される遅延時間
τ１の遅延回路１８と、前記入力信号に負の等化係数ｋ
１１を乗算する乗算回路１９と、前記遅延回路１８の出
力信号（後方遅延時間信号）に負の等化係数ｋ１２を乗
算する乗算回路２０と、これらの乗算回路１９，２０の
出力信号と前記遅延回路１７から出力される主信号とを
加算する加算回路２１とにより波形等化回路１５が形成
されている。前記乗算回路１９，２０に対してはそれら
の等化係数ｋ１１，ｋ１２の値を変更設定するための等
化係数設定回路２２が接続されている。

【００２９】このような構成において、本実施の形態で
は、光ディスク１に集光照射するレーザ光のメインスポ
ットの径をトラック方向（タンジェンシャル方向）に小
さくするため、サイドローブもトラック方向に発生する
光ピックアップ装置２を想定している。このため、遮光
板１４を光路中に介在させる場合に、遮光部１４ａの形
状に関しては、一般には、機械的な構成上、レーザ平行
光の中心に帯状となるように形成されるが、これら限ら
ず、円形や楕円形等の形状であってもよい。

【００３０】何れにしても、光ピックアップ装置２によ
る光ディスク１面上或いは受光素子８上でのスポット強
度分布を示すと図３のようになる。なお、強度はスポッ
ト中心で正規化して示す。遮光板１４を用いない通常光
学系による場合のスポット強度は細線で示すように概ね
１山であり、その径はレーザ波長と対物レンズ６の開口
率とにより決定される。また、サイドローブは比較的小
さい。一方、遮光板１４を用いる超解像光学系による場
合には太線で示すようなスポット強度分布を示し、レー
ザ光の波長を無闇に小さくすることなく安価、高信頼性
のレーザ光源３を用いてメインスポットの小径化を図れ
る。もっとも、メインスポットから距離Ｌの位置に比較
的強度の強い一対のサイドローブが発生する。ここに、
超解像の遮光幅を大きくしてメインスポット径を小さく
すればする程、このサイドローブの強度は強くなる。こ
のようなサイドローブによる再生信号がメインスポット
による再生信号に漏れ込むことにより再生特性を悪化さ
せることが知られており、例えば、特開平８−６３８８
９号公報、特開平８−１５３３３０号公報等のようなサ
イドローブによる再生信号成分の除去処理が行われてい
る。ただし、これらの公報では前述したようにタンジェ
ンシャルチルトがない場合を想定しており、タンジェン
シャルチルトが発生した場合の処理は考慮されていな
い。

【００３１】ここに、何らかの原因でタンジェンシャル
チルト（光ディスク１面と対物レンズ６の光軸との間の
トラック方向の傾き）が発生した場合、光ディスク１面
上のスポット強度分布は例えば図４中に太線で示すよう
な特性となる。即ち、細線で示すチルトのない場合に比
べ、チルトがあると、Ａ点側ではサイドローブの強度が
強くなるのに伴いＢ点側ではサイドローブの強度が弱く
なる。逆向きのタンジェンシャルチルトの場合には、逆
の強度関係となる。つまり、一方のサイドローブの強度
が強くなれば他方のサイドローブの強度は弱くなる、と
いう相関関係を有している。

【００３２】そこで、本実施の形態ではこのようなタン
ジェンシャルチルトにおけるサイドローブの相関関係を
利用して、サイドローブによる悪影響を波形等化器１０
において除去するように構成されている。まず、遅延回
路１７，１８における遅延時間τ１は、図４中における
Ｃ‐Ｅ間及びＤ‐Ｅ間、即ち、隣接するマーク再生信号
との符号間干渉を除去するために設定する値、通常はデ
ータクロックの整数倍（１倍又は２倍が最適）に設定す
れば、タンジェンシャルチルトによるメインスポットの
強度分布変化に対応したものとなる。一方、図３中にお
いて光ディスク１の線速をＬ_vとしたとき、遅延時間τ
１をτ１＝Ｌ／Ｌ_vに設定すればタンジェンシャルチル
トによるサイドローブの強度分布変化に対応したものと
なる。

【００３３】受光素子８から得られる入力信号を乗算回
路１９により等化係数ｋ１１を用いてｋ１１倍し、遅延
回路１８の出力信号を乗算回路２０により等化係数ｋ１
２を用いてｋ１２倍し、これらの乗算回路１９，２０の
出力信号と遅延回路１７の出力信号（主信号）とを加算
回路２１で加算し、出力端子２３から２値化回路１１側
に出力する。ここに、等化係数ｋ１１，ｋ１２の値を最
適化することにより、出力端子２３から得られる出力信
号はタンジェンシャルチルトに伴うスポット強度分布で
劣化した信号を補正したものとなる。

【００３４】ここで、等化係数ｋ１１，ｋ１２の値の変
更設定は等化係数設定回路２２によって行われるが、ｋ
１１×ｋ１２の値が常に一定となる関係が維持されるよ
うに行われる。例えば、タンジェンシャルチルトが生じ
た場合に最適な再生信号が得られるための等化係数ｋ１
１，ｋ１２の実験結果を示すと図５（ｂ）のような特性
が得られたものである。なお、この特性は、誤差を含む
近似曲線である。この実験結果によれば、チルトなし
（チルト＝０）の状態ではｋ１１＝ｋ１２であるが、チ
ルトが発生すると適正となる等化係数はｋ１１とｋ１２
とでは反比例的に変化していることがわかる。従って、
上記のようにｋ１１×ｋ１２の値が常に一定となる関係
が維持されるように等化係数設定回路２２によってこれ
らの等化係数ｋ１１，ｋ１２の変更の設定を行うことに
より、タンジェンシャルチルトに対応した変更を行える
ことがわかる。これにより、タンジェンシャルチルトに
よるサイドローブの影響が除去された出力信号が波形等
化器１０から２値化回路１１に与えられ、この２値化回
路１１からはタンジェンシャルチルトによる悪影響が除
去された良好なる再生信号が得られる。

【００３５】もっとも、等化係数設定回路２２により等
化係数ｋ１１，ｋ１２の変更の設定を、これらの積がｋ
１１×ｋ１２＝ａ（ａは一定値）となる関係を維持しな
がら行う場合、激しいタンジェンシャルチルトのときに
は等化係数の最適特性の非線形性も激しくなるので、こ
れらの和がｋ１１＋ｋ１２＝ａ（ａは一定値）となる関
係が維持されるように変更設定するのが現実的となる。
図５（ａ）はｋ１１＋ｋ１２＝ａとする場合の等化係数
ｋ１１，ｋ１２の変化を示す。これによれば、激しいタ
ンジェンシャルチルトの場合にも線形性を保った等化特
性が得られる。

【００３６】本発明の第二の実施の形態を図６に基づい
て説明する。図１ないし図５で示した部分と同一部分は
同一符号を用いて示し、説明も省略する（以下の実施の
形態でも同様とする）。本実施の形態は、５タップの波
形等化回路３１をベースとする波形等化器３２に適用さ
れている。入力信号として光ディスク１からの反射光に
基づく光電変換された電気信号が入力される入力端子３
３には４つの第１〜第４の遅延回路３４〜３７が縦列接
続され、入力信号及び遅延回路３４，３６，３７の出力
信号に各々所定の負の等化係数を乗算する第１〜第４の
乗算回路３８〜４１が設けられ、これらの乗算回路３８
〜４１の出力信号と前記遅延回路３５から出力される信
号（主信号）とを加算して出力端子４２から出力する加
算回路４３が設けられることで５タップの波形等化回路
３１が形成されている。ここに、第２の遅延回路３５か
らの出力信号（主信号）を中心に、その直前後の第２，
３の遅延回路３５，３６の遅延時間はともにτ２２に設
定され、次前後の第１，４の遅延回路３４，３７の遅延
時間はともにτ２１に設定されている。これらの遅延時
間τ２１，τ２２同士も同じ値でも構わないが、本実施
の形態では、一方の遅延時間τ２２は図４中におけるＣ
‐Ｅ間及びＤ‐Ｅ間、即ち、隣接するマーク再生信号と
の符号間干渉を除去するために設定する値、通常はデー
タクロックの整数倍（１倍又は２倍が最適）に設定さ
れ、タンジェンシャルチルトによるメインスポットの強
度分布変化に対応したものとなる。また、他方の遅延時
間τ２１はτ２１−τ２２なる時間がＬ／Ｌ_vとなるよ
うに設定され、タンジェンシャルチルトによるサイドロ
ーブの強度分布変化に対応したものとなる。よって、基
本的に５タップの波形等化処理で、メインスポット及び
サイドローブの両方のタンジェンシャルチルトによる悪
影響が除去される。

【００３７】一方、第１〜第４の乗算回路３８〜４１の
各々の負の等化係数をｋ２１，ｋ２２，ｋ２３，ｋ２４
としたとき、これらの等化係数の変更の設定を行う等化
係数設定回路４４が設けられている。ここに、この等化
係数設定回路４４はこれらの等化係数の積ｋ２１×ｋ２
２×ｋ２３×ｋ２４の値が常に一定となる関係が維持さ
れるように（又は、これらの等化係数の和ｋ２１＋ｋ２
２＋ｋ２３＋ｋ２４の値が常に一定となる関係が維持さ
れるように）行われる。このように等化係数ｋ２１，ｋ
２２，ｋ２３，ｋ２４の値を最適化することにより、出
力端子４２から得られる出力信号はタンジェンシャルチ
ルトに伴うスポット強度分布で劣化した信号を補正した
ものとなる。これにより、タンジェンシャルチルトによ
るサイドローブの影響が除去された出力信号が波形等化
器３２から２値化回路１１に与えられ、この２値化回路
１１からはタンジェンシャルチルトによる悪影響が除去
された良好なる再生信号が得られる。

【００３８】なお、本実施の形態において、第２の乗算
回路３９の等化係数ｋ２２と第３の乗算回路４０の等化
係数ｋ２３とをｋ２２＝ｋ２３なる関係に設定し、第１
の乗算回路３８の等化係数ｋ２１と第４の乗算回路４１
の等化係数ｋ２４とをｋ２１×ｋ２４の値が一定となる
ように（又は、ｋ２１＋ｋ２４の値が一定となるよう
に）設定するのが好ましい。これは、タンジェンシャル
チルトによるメインスポットの強度分布の変化は図４中
のＣ点、Ｄ点に示すように微妙なためである。よって、
符号間干渉に関わる波形等化性能、即ち、主信号に直前
後する等化係数ｋ２２，ｋ２３の値は等しくしておき、
超解像によるサイドローブの影響を除去するための等化
係数ｋ２１，ｋ２４に関しては図５に準じて反比例的に
増減する組合せ（積又は和が一定となる組合せ）で設定
することが好ましい。

【００３９】本発明の第三の実施の形態を図７に基づい
て説明する。本実施の形態は、（２ｎ＋１）タップの波
形等化回路５１をベースとする一般化した波形等化器５
２に適用されている。入力信号として光ディスク１から
の反射光に基づく光電変換された電気信号が入力される
入力端子５３には２ｎ個の遅延回路５４₁ ，〜，５
４_n，５４_n+1，〜，５４_2nが縦列接続されている。こ
れらの遅延回路５４₁ ，〜，５４_n，５４_n+1，〜，５
４_2nの遅延時間は、遅延回路５４_nから出力される主信
号５５を中心に、第１の遅延時間τ₁ ，〜，第ｎの遅延
時間τ_nの如く設定されている。また、主信号５５を除
いた各信号（入力端子５３からの入力信号、遅延回路５
４₁ ，〜，５４_n+1，〜，５４_2nからの出力信号）に各
々負の等化係数ｋ₁ ，ｋ₂ ，〜，ｋ_n，ｋ_n+1，〜，ｋ
_2n-1，ｋ_2nを乗算する２ｎ個の乗算回路５６₁ ，５６
₂ ，〜，５６_n，５６_n+1，〜，５６_2n-1，５６_2nが設
けられている。これらの乗算回路５６₁ ，５６₂ ，〜，
５６_n，５６_n+1，〜，５６_2n-1，５６_2nの各出力信号
と主信号５５とを加算して出力端子５７から出力する加
算回路５８が設けられている。これらにより、（２ｎ＋
１）タップの波形等化回路５１が形成されている。前記
２ｎ個の乗算回路５６₁ ，５６₂ ，〜，５６_n，５６
_n+1，〜，５６_2n-1，５６_2nに対してはそれらの等化係
数ｋ₁ ，ｋ₂ ，〜，ｋ_n，ｋ_n+1，〜，ｋ_2n-1，ｋ_2nの
変更の設定を行う等化係数設定回路５９が接続されてい
る。

【００４０】この等化係数設定回路５９による等化係数
の変更の設定は、等化係数ｋ₁ ，ｋ₂ ，〜，ｋ_n，ｋ
_n+1，〜，ｋ_2n-1，ｋ_2n全て又はこれらの一部の積又は
和が一定となる関係が維持されるようにして行われるこ
とで、タンジェンシャルチルトに対して最適化された等
化係数の設定となる。本実施の形態において、ｎ＝１と
すれば図１に示したような３タップ方式、ｎ＝２とすれ
ば図６に示したような５タップ方式の波形等化器とな
る。

【００４１】本発明の第四の実施の形態を図８に基づい
て説明する。本実施の形態は、光ディスク記録再生装置
において、光ディスク１面と対物レンズ６の光軸φとの
間のトラック方向の傾きθであるタンジェンシャルチル
トの発生を直接的に検出するタンジェンシャルチルト監
視手段としてチルト検出手段６１が設けられている。こ
のチルト検出手段６１は光学的なものであり、レーザ光
源３から出射されるレーザ光の一部を光路分離手段（ミ
ラー）６２により光ディスク１面上に導き、この光ディ
スク１面からの反射光を受光素子６３で受光して光電変
換することにより電気信号に変換し、この電気信号の増
減に基づきチルト検出回路６４でチルト量を検出する構
成とされている。

【００４２】前記チルト検出回路６４により検出された
チルト量に関するデータはＣＰＵ１２側に送られ、波形
等化器１０（又は、３２，５２）中の等化係数設定回路
２２（又は、４４，５９）による等化係数の変更設定に
供される。ここに、ＲＯＭ１３中には等化係数同士の積
又は和が一定となるための各等化係数の組合せに関する
チルト量‐等化係数の変換テーブル（図示せず）が予め
格納されており、チルト検出回路６４からチルト量に関
するデータが送られた場合、ＣＰＵ１２はＲＯＭ１３中
のこのチルト量‐等化係数の変換テーブルに基づき等化
係数設定回路２２に適正な値を設定する。これを受け
て、等化係数設定回路２２が乗算回路１９，２０の等化
係数、具体的には、乗算器の可変利得を増減設定する。
よって、良好なる再生信号を得ることができ、機械的な
構成で行うと非常に複雑かつ高価となる自己チルト修正
機構を、ＬＳＩ化すれば殆どコストアップしない電気的
な補正で実現できる。

【００４３】本発明の第五の実施の形態を図９に基づい
て説明する。本実施の形態は、光ディスク記録再生装置
において、光ディスク１面と対物レンズ６の光軸φとの
間のトラック方向の傾きθであるタンジェンシャルチル
トの発生を間接的に検出するタンジェンシャルチルト監
視手段として誤り検出回路６５が設けられている。この
誤り検出回路６５は２値化回路１１から得られる再生信
号の誤り率に基づきタンジェンシャルチルトの発生（チ
ルト量）を回路的に検出するもので、その検出出力はＣ
ＰＵ１２に与えられている。ＣＰＵ１２は誤り検出回路
６５により検出され誤り数が最小となるように等化係数
設定回路２２を介して乗算回路１９，２０の等化係数を
自動的に変更設定する。具体的には、前記実施の形態の
場合と同様に、ＲＯＭ１３中には等化係数同士の積又は
和が一定となるための各等化係数の組合せに関する誤り
数（チルト量）‐等化係数の変換テーブル（図示せず）
が予め格納されており、誤り検出回路６５から誤り数に
関するデータが送られた場合、ＣＰＵ１２はＲＯＭ１３
中のこの誤り数‐等化係数の変換テーブルに基づき等化
係数設定回路２２に適正な値を設定する。これを受け
て、等化係数設定回路２２が乗算回路１９，２０の等化
係数、具体的には、乗算器の可変利得を増減設定する。
よって、良好なる再生信号を得ることができ、機械的な
構成で行うと非常に複雑かつ高価となる自己チルト修正
機構を、ＬＳＩ化すれば殆どコストアップしない電気的
な補正で実現できる。なお、誤り検出回路６５は２値化
回路１１の出力側に限らず、例えば、復調回路や誤り訂
正回路の出力側に接続するようにしてもよい。

【００４４】ところで、本実施の形態においては、レー
ザ光源３に対してそのレーザ光の出力を制御するための
レーザ出力制御回路６６が付加されている。このレーザ
出力制御回路６６は誤り検出回路６５の検出出力に基づ
き最適値に設定される等化係数に基づきＣＰＵ１２によ
ってその制御量が決定される。即ち、タンジェンシャル
チルトが発生した場合、図４中にＦで示すように光ディ
スク１面上のメインスポットの強度低下が発生する。そ
こで、ＣＰＵ１２は誤り検出回路６５の検出出力を受け
て波形等化器１０中の等化係数設定回路２２に選択設定
される等化係数の値を基に、予想されるメインスポット
の強度低下分をレーザ出力制御回路６６で増幅補正する
ことにより、適正なメインスポットの強度となるように
レーザ光源３のレーザ出力が補正される。特に、本実施
の形態においては、光ディスク１に対する記録時にこの
制御が行われる。

【００４５】ちなみに、再生時のメインスポットの強度
低下分については再生信号の振幅（信号レベル）を一定
に保つＡＧＣ（Ａuto Ｇain Ｃontol）回路を用いるこ
とで再生信号の振幅低下を補正し得る。しかし、記録時
のメインスポットの強度低下は記録不良を発生させるた
め重大な問題である。そこで、従来は光学系の組付け精
度を厳しくするか、機械的な構成の付加となる直接的な
チルト検出手段及び自己チルト修正機構を用いてチルト
がなくなるように補正することで対処している。この
点、本実施の形態によれば、直接的なチルト検出手段を
必要とせず、機械的な構成の付加を要せず、メインスポ
ットの強度低下分をレーザ出力制御回路６６の増幅分で
補正しているので、適正な記録強度を簡単に維持するこ
とができる。

【００４６】

【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、多タップ
の波形等化回路に対して、中心となる主信号に対して複
数の前方遅延時間信号及び後方遅延時間信号の各々と主
信号との加算に関する比率を規定する等化係数の変更を
それらの全て又は一部の等化係数の積が一定となるよう
に設定する等化係数設定回路を備えることで、多タップ
の波形等化回路における各タップの等化係数の全て又は
一部の積が一定となる組合せで等化係数の変更設定を行
うようにしたので、タンジェンシャルチルトによりメイ
ンスポットの光ディスク面強度分布の偏り又はサイドロ
ーブの強度分布の偏りが発生した場合にも、適正な等化
係数の組合せによりタンジェンシャルチルトの悪影響を
除去することができる。

【００４７】請求項２記載の発明によれば、多タップの
波形等化回路に対して、中心となる主信号に対して複数
の前方遅延時間信号及び後方遅延時間信号の各々と主信
号との加算に関する比率を規定する等化係数の変更をそ
れらの全て又は一部の等化係数の和が一定となるように
設定する等化係数設定回路を備えることで、多タップの
波形等化回路における各タップの等化係数の全て又は一
部の和が一定となる組合せで等化係数の変更設定を行う
ようにしたので、タンジェンシャルチルトによりメイン
スポットの光ディスク面強度分布の偏り又はサイドロー
ブの強度分布の偏りが発生した場合にも、適正な等化係
数の組合せによりタンジェンシャルチルトの悪影響を除
去することができ、特に、各タップの等化係数の全て又
は一部の和が一定となる組合せによるため、激しいタン
ジェンシャルチルトが生じた状況下でも線形さを保った
等化特性を得ることができる。

【００４８】請求項３記載の発明によれば、３タップの
波形等化回路における等化係数ｋ１１，ｋ１２の積が一
定となる組合せでこれらの等化係数の変更設定を等化係
数設定回路により行うようにしたので、タンジェンシャ
ルチルトによりメインスポットの光ディスク面強度分布
の偏り又はサイドローブの強度分布の偏りが発生した場
合にも、適正な等化係数の組合せによりタンジェンシャ
ルチルトの悪影響を除去することができる。

【００４９】請求項４記載の発明によれば、３タップの
波形等化回路における等化係数ｋ１１，ｋ１２の和が一
定となる組合せでこれらの等化係数の変更設定を等化係
数設定回路により行うようにしたので、タンジェンシャ
ルチルトによりメインスポットの光ディスク面強度分布
の偏り又はサイドローブの強度分布の偏りが発生した場
合にも、適正な等化係数の組合せによりタンジェンシャ
ルチルトの悪影響を除去することができ、特に、等化係
数ｋ１１，ｋ１２の和が一定となる組合せによるため、
激しいタンジェンシャルチルトが生じた状況下でも線形
さを保った等化特性を得ることができる。

【００５０】請求項５記載の発明によれば、５タップの
波形等化回路における４つの負の等化係数ｋ２１，ｋ２
２，ｋ２３，ｋ２４の積が一定となる組合せでこれらの
負の等化係数の変更設定を等化係数設定回路により行う
ようにしたので、タンジェンシャルチルトによりメイン
スポットの光ディスク面強度分布の偏り又はサイドロー
ブの強度分布の偏りが発生した場合にも、適正な等化係
数の組合せによりタンジェンシャルチルトの悪影響を除
去することができる。

【００５１】請求項６記載の発明によれば、５タップの
波形等化回路における４つの負の等化係数ｋ２１，ｋ２
２，ｋ２３，ｋ２４の和が一定となる組合せでこれらの
負の等化係数の変更設定を等化係数設定回路により行う
ようにしたので、タンジェンシャルチルトによりメイン
スポットの光ディスク面強度分布の偏り又はサイドロー
ブの強度分布の偏りが発生した場合にも、適正な等化係
数の組合せによりタンジェンシャルチルトの悪影響を除
去することができ、特に、負の等化係数ｋ２１，ｋ２
２，ｋ２３，，ｋ２４の和が一定となる組合せによるた
め、激しいタンジェンシャルチルトが生じた状況下でも
線形さを保った等化特性を得ることができる。

【００５２】請求項７記載の発明によれば、請求項５又
は６記載の波形等化器において、第２の遅延回路から出
力される主信号を中心に直前後の遅延時間τ２２及び等
化係数ｋ２２，ｋ２３がメインスポットの符号間干渉を
抑制する値に設定され、次前後の遅延時間τ２１及び等
化係数ｋ２１，ｋ２４がサイドローブによる再生信号を
最も除去する値に設定されているので、符号間干渉の除
去とサイドローブによる再生信号除去とを１つの波形等
化器において同時に処理できるとともに、タンジェンシ
ャルチルトの影響を抑制することができる。

【００５３】請求項８記載の発明によれば、請求項５又
は６記載の波形等化器において、第２の遅延回路から出
力される主信号を中心に直前後の遅延時間及び等化係数
が各々等しい値に設定され、等化係数ｋ２１，ｋ２４の
積が一定となるように設定されているので、タンジェン
シャルチルトに非常に敏感なサイドローブによる再生信
号の除去を重点的に行うことができる。

【００５４】請求項９記載の発明によれば、請求項５又
は６記載の波形等化器において、第２の遅延回路から出
力される主信号を中心に直前後の遅延時間及び等化係数
が各々等しい値に設定され、等化係数ｋ２１，ｋ２４の
和が一定となるように設定されているので、タンジェン
シャルチルトに非常に敏感なサイドローブによる再生信
号の除去を重点的に行うことができる。

【００５５】請求項１０、１２及び１３記載の発明によ
れば、光ディスク記録再生装置において、光ディスク面
と光ピックアップ装置による照射光の光軸との間のトラ
ック方向の傾きであるタンジェンシャルチルトの発生を
直接的又は間接的に監視するタンジェンシャルチルト監
視手段を備え、このタンジェンシャルチルト監視手段の
出力に応じて設定された所定の等化係数に変更設定する
ようにしたので、良好なる再生信号を得ることができ、
機械的な構成で行うと非常に複雑かつ高価となる自己チ
ルト修正機構を、ＬＳＩ化すれば殆どコストアップしな
い電気的な補正で実現することができる。

【００５６】請求項１１記載の発明によれば、超解像光
学系による光ピックアップ装置を用いた光ディスク記録
再生装置に請求項１０記載の発明を適用しているので、
通常の光学系による光ピックアップ装置の場合よりもサ
イドローブの強度が強いため、より効果的となる。

【００５７】請求項１４記載の発明によれば、請求項１
３記載の光ディスク記録再生装置に加えて、等化係数設
定回路により設定される等化係数に基づきレーザ光源か
ら出射されるレーザ光の出力を制御するレーザ出力制御
回路を有し、間接的に検出されたタンジェンシャルチル
トに基づき最適値に設定される等化係数を参照して予想
される光ディスク面でのスポットの強度低下分をレーザ
出力制御回路の出力制御によって補正するようにしたの
で、機械的となる直接的なチルト検出手段を必要とせ
ず、光ディスク面に対するレーザ光の出力を適正にして
情報の記録再生を行わせることができる。

【００５８】請求項１５記載の発明によれば、請求項１
４記載の光ディスク記録再生装置においてレーザ出力制
御回路は、記録時に光ディスク面に照射するレーザ光の
出力低下を補正しているので、記録不良につながる記録
パワーの低下を回避することができ、適正なレーザ光出
力の下に情報を記録することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施の形態における波形等化器
を示すブロック図である。

【図２】光ディスク記録再生装置の概略を示す構成図で
ある。

【図３】遮光板の有無に応じたスポットの強度分布を示
す特性図である。

【図４】タンジェンシャルチルトの有無に応じたスポッ
トの強度分布を示す特性図である。

【図５】等化係数の相関関係を示す特性図である。

【図６】本発明の第二の実施の形態における波形等化器
を示すブロック図である。

【図７】本発明の第三の実施の形態における波形等化器
を示すブロック図である。

【図８】本発明の第四の実施の形態における光ディスク
記録再生装置の概略を示す構成図である。

【図９】本発明の第五の実施の形態における光ディスク
記録再生装置の概略を示す構成図である。

【符号の説明】

１光ディスク２光ピックアップ装置３レーザ光源８受光素子１０波形等化器１１再生信号出力回路１４遮光部材１５波形等化回路２２等化係数設定回路３１波形等化回路３２波形等化器３４第１の遅延回路３５第２の遅延回路３６第３の遅延回路３７第４の遅延回路３８第１の乗算回路３９第２の乗算回路４０第３の乗算回路４１第４の乗算回路４３加算回路５１波形等化回路５２波形等化器６１チルト検出手段（タンジェンシャルチルト監
視手段）６５誤り検出回路（タンジェンシャルチルト監視
手段）６６レーザ出力制御回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】１つの主信号とこの主信号を中心とする
複数の前方遅延時間信号及び後方遅延時間信号とを生成
してこれらの信号を各々所定の比率で加算する多タップ
の波形等化回路と、前記複数の前方遅延時間信号及び後方遅延時間信号の各
々と前記主信号との加算に関する比率を規定する等化係
数の変更をそれらの全て又は一部の等化係数の積が一定
となるように設定する等化係数設定回路と、を備えるこ
とを特徴とする波形等化器。
【請求項２】１つの主信号とこの主信号を中心とする
複数の前方遅延時間信号及び後方遅延時間信号とを生成
してこれらの信号を各々所定の比率で加算する多タップ
の波形等化回路と、前記複数の前方遅延時間信号及び後方遅延時間信号の各
々と前記主信号との加算に関する比率を規定する等化係
数の変更をそれらの全て又は一部の等化係数の和が一定
となるように設定する等化係数設定回路と、を備えるこ
とを特徴とする波形等化器。
【請求項３】入力信号が入力される入力側から順に縦
列接続された遅延時間がともにτ１の第１の遅延回路と
第２の遅延回路と、入力信号に負の等化係数ｋ１１を乗
算する第１の乗算回路と、前記第２の遅延回路の出力信
号に負の等化係数ｋ１２を乗算する第２の乗算回路と、
これらの第１及び第２の乗算回路の出力信号と前記第１
の遅延回路から出力される主信号とを加算する加算回路
とを有する３タップの波形等化回路と、各乗算回路における前記等化係数ｋ１１，ｋ１２の変更
をこれらの等化係数全ての積ｋ１１×ｋ１２が一定とな
るように設定する等化係数設定回路と、を備えることを
特徴とする波形等化器。
【請求項４】入力信号が入力される入力側から順に縦
列接続された遅延時間がともにτ１の第１の遅延回路と
第２の遅延回路と、入力信号に負の等化係数ｋ１１を乗
算する第１の乗算回路と、前記第２の遅延回路の出力信
号に負の等化係数ｋ１２を乗算する第２の乗算回路と、
これらの第１及び第２の乗算回路の出力信号と前記第１
の遅延回路から出力される主信号とを加算する加算回路
とを有する３タップの波形等化回路と、各乗算回路における前記等化係数ｋ１１，ｋ１２の変更
をこれらの等化係数全ての和ｋ１１＋ｋ１２が一定とな
るように設定する等化係数設定回路と、を備えることを
特徴とする波形等化器。
【請求項５】入力信号が入力される入力側から順に縦
列接続された遅延時間がτ２１の第１の遅延回路と遅延
時間がτ２２の第２の遅延回路と遅延時間がτ２２の第
３の遅延回路と遅延時間がτ２１の第４の遅延回路と、
入力信号に負の等化係数ｋ２１を乗算する第１の乗算回
路と、前記第１の遅延回路の出力信号に負の等化係数ｋ
２２を乗算する第２の乗算回路と、前記第３の遅延回路
の出力信号に負の等化係数ｋ２３を乗算する第３の乗算
回路と、前記第４の遅延回路の出力信号に負の等化係数
ｋ２４を乗算する第４の乗算回路と、これらの第１ない
し第４の乗算回路の出力信号と前記第２の遅延回路から
出力される主信号とを加算する加算回路とを有する５タ
ップの波形等化回路と、各乗算回路における前記等化係数ｋ２１，ｋ２２，ｋ２
３，ｋ２４の変更をこれらの等化係数全ての積ｋ２１×
ｋ２２×ｋ２３×ｋ２４が一定となるように設定する等
化係数設定回路と、を備えることを特徴とする波形等化
器。
【請求項６】入力信号が入力される入力側から順に縦
列接続された遅延時間がτ２１の第１の遅延回路と遅延
時間がτ２２の第２の遅延回路と遅延時間がτ２２の第
３の遅延回路と遅延時間がτ２１の第４の遅延回路と、
入力信号に負の等化係数ｋ２１を乗算する第１の乗算回
路と、前記第１の遅延回路の出力信号に負の等化係数ｋ
２２を乗算する第２の乗算回路と、前記第３の遅延回路
の出力信号に負の等化係数ｋ２３を乗算する第３の乗算
回路と、前記第４の遅延回路の出力信号に負の等化係数
ｋ２４を乗算する第４の乗算回路と、これらの第１ない
し第４の乗算回路の出力信号と前記第２の遅延回路から
出力される主信号とを加算する加算回路とを有する５タ
ップの波形等化回路と、各乗算回路における前記等化係数ｋ２１，ｋ２２，ｋ２
３，ｋ２４の変更をこれらの等化係数全ての和ｋ２１＋
ｋ２２＋ｋ２３＋ｋ２４が一定となるように設定する等
化係数設定回路と、を備えることを特徴とする波形等化
器。
【請求項７】遅延時間τ２２及び等化係数ｋ２２，ｋ
２３は、隣接マーク再生信号との符号間干渉を抑制する
値に設定され、遅延時間τ２１及び等化係数ｋ２１，ｋ
２４は、サイドローブによる再生信号を最も除去する値
に設定されることを特徴とする請求項５又は６記載の波
形等化器。
【請求項８】等化係数ｋ２２とｋ２３とは等しい値に
設定され、等化係数ｋ２１とｋ２４とはこれらの積ｋ２
１×ｋ２４の値が一定となるように設定されることを特
徴とする請求項５又は６記載の波形等化器。
【請求項９】等化係数ｋ２２とｋ２３とは等しい値に
設定され、等化係数ｋ２１とｋ２４とはこれらの和ｋ２
１＋ｋ２４の値が一定となるように設定されることを特
徴とする請求項５又は６記載の波形等化器。
【請求項１０】レーザ光源から出射されるレーザ光を
光ディスク面に集光させるとともにこの光ディスクから
の反射光を受光素子で受光して電気信号に変換する光ピ
ックアップ装置と、前記光ディスク面と前記光ピックアップ装置による照射
光の光軸との間のトラック方向の傾きの発生を監視する
タンジェンシャルチルト監視手段と、等化係数の変更の設定を前記タンジェンシャルチルト監
視手段の出力に基づいて行う等化係数設定回路を有し
て、前記光ピックアップ装置からの電気信号が入力され
る請求項１ないし９の何れか一に記載の波形等化器と、この波形等化器から出力される電気信号を再生信号に変
換する再生信号出力回路と、を備えることを特徴とする
光ディスク記録再生装置。
【請求項１１】光ピックアップ装置は、レーザ光源か
ら出射されるレーザ光の一部を遮光する遮光部材を有し
て光ディスク面にメインスポットとサイドローブとから
なる集光点を形成することを特徴とする請求項１０記載
の光ディスク記録再生装置。
【請求項１２】タンジェンシャルチルト監視手段は、
トラック方向の傾きの発生を直接的に検出するチルト検
出手段よりなることを特徴とする請求項１０又は１１記
載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１３】タンジェンシャルチルト監視手段は、
トラック方向の傾きの発生を再生信号出力回路から得ら
れる再生信号の誤り率に基づき間接的に検出する誤り検
出回路よりなることを特徴とする請求項１０又は１１記
載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１４】等化係数設定回路により設定される等
化係数に基づきレーザ光源から出射されるレーザ光の出
力を制御するレーザ出力制御回路を有することを特徴と
する請求項１３記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１５】レーザ出力制御回路は、光ディスクへ
の記録時にレーザ光の出力を制御することを特徴とする
請求項１４記載の光ディスク記録再生装置。