JPH10281863A - レーザビームの光学的パラメータ検出装置 - Google Patents
レーザビームの光学的パラメータ検出装置Info
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- JPH10281863A JPH10281863A JP10053424A JP5342498A JPH10281863A JP H10281863 A JPH10281863 A JP H10281863A JP 10053424 A JP10053424 A JP 10053424A JP 5342498 A JP5342498 A JP 5342498A JP H10281863 A JPH10281863 A JP H10281863A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K17/00—Measuring quantity of heat
- G01K17/003—Measuring quantity of heat for measuring the power of light beams, e.g. laser beams
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/70—Auxiliary operations or equipment
- B23K26/702—Auxiliary equipment
- B23K26/705—Beam measuring device
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザービームの平均パワーや強度分布の中
心ずれの検出に加え、レーザビーム機能の正確な評価に
欠くことの出来ない直径やビーム自体の強度分布を同時
にモニタすることのできる光学的パラメータの検知用装
置を得ることである。 【解決手段】 それぞれが電気信号を発し得る複数の等
価領域(1-4)に区画された第一検知素子(12)を含んだ、
入射レーザの光力に比例する光学的パラメータを検出す
るための装置。入射レーザビーム(9)の方向から見て、
その第一検知素子(12)の前方に、第一検知素子(12)と一
線に並べそれと熱的に絶縁して、少なくとも一つの第二
検知素子(13)が設けてあり、これが入力レーザビームと
同一の形状で寸法が第一検知素子(12)からの距離と共に
増加する穴を有する。
心ずれの検出に加え、レーザビーム機能の正確な評価に
欠くことの出来ない直径やビーム自体の強度分布を同時
にモニタすることのできる光学的パラメータの検知用装
置を得ることである。 【解決手段】 それぞれが電気信号を発し得る複数の等
価領域(1-4)に区画された第一検知素子(12)を含んだ、
入射レーザの光力に比例する光学的パラメータを検出す
るための装置。入射レーザビーム(9)の方向から見て、
その第一検知素子(12)の前方に、第一検知素子(12)と一
線に並べそれと熱的に絶縁して、少なくとも一つの第二
検知素子(13)が設けてあり、これが入力レーザビームと
同一の形状で寸法が第一検知素子(12)からの距離と共に
増加する穴を有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザビームの光学
的パラメータの検出用装置に関する。
的パラメータの検出用装置に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザビームは各種分野に広く応用され
ており、その使途は工業用、科学研究用、医療用など多
岐にわたる。いずれの用途においても安定した性能を発
揮するには、そのプロセスに大きく影響する種々の光学
的パラメータの検出が非常に重要となる。
ており、その使途は工業用、科学研究用、医療用など多
岐にわたる。いずれの用途においても安定した性能を発
揮するには、そのプロセスに大きく影響する種々の光学
的パラメータの検出が非常に重要となる。
【0003】一般的な検出装置は、専ら光の平均パワー
を計測するのに用いられる。これは入射光を電気信号に
変換する部分を有しており、これにより入射パワーが表
示される。このような装置の基本原理のひとつに熱電変
換素子の考え方がある。素子内の光吸収体に入射したレ
ーザビームが、そこで温度上昇をもたらすというもので
ある。従来からある熱電対などを用いても、レーザ照射
面の裏側にこれを設置すれば、温度変化を電圧(電流)変
化の形に変換することができる。
を計測するのに用いられる。これは入射光を電気信号に
変換する部分を有しており、これにより入射パワーが表
示される。このような装置の基本原理のひとつに熱電変
換素子の考え方がある。素子内の光吸収体に入射したレ
ーザビームが、そこで温度上昇をもたらすというもので
ある。従来からある熱電対などを用いても、レーザ照射
面の裏側にこれを設置すれば、温度変化を電圧(電流)変
化の形に変換することができる。
【0004】他のビーム検出装置には、半導体を用いた
光センサ素子がある。これは、入射レーザの光子がセン
サ感知面に衝突し、これを励起させることによって電気
信号を発生させるものである。いずれの装置を用いるか
はレーザの発振源とそのパワーによって異なる。たとえ
ば CO2 レーザや大出力レーザ用の検知装置としては、
検出感度や応答速度は劣るが、熱電変換型素子がある。
光センサ素子がある。これは、入射レーザの光子がセン
サ感知面に衝突し、これを励起させることによって電気
信号を発生させるものである。いずれの装置を用いるか
はレーザの発振源とそのパワーによって異なる。たとえ
ば CO2 レーザや大出力レーザ用の検知装置としては、
検出感度や応答速度は劣るが、熱電変換型素子がある。
【0005】工業応用分野ではレーザビームのパワー検
出用素子は共振空洞器の高反射鏡背面に設置される。科
学研究・医療用などの他の用途では前記装置はレーザ源
から入射するビームの光路に沿って配置される。上述し
た2種類の装置では、熱計測型では吸収物質、半導体型
では感知物質で製作される感知素子は、いずれも駒切れ
に分割することができる。レーザビームの平均パワーに
加えて強度分布の中心ずれを検知するために、幾つかの
部分、一般には四分割される。この種の装置は「四象限
装置」と呼ばれる。
出用素子は共振空洞器の高反射鏡背面に設置される。科
学研究・医療用などの他の用途では前記装置はレーザ源
から入射するビームの光路に沿って配置される。上述し
た2種類の装置では、熱計測型では吸収物質、半導体型
では感知物質で製作される感知素子は、いずれも駒切れ
に分割することができる。レーザビームの平均パワーに
加えて強度分布の中心ずれを検知するために、幾つかの
部分、一般には四分割される。この種の装置は「四象限
装置」と呼ばれる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしいずれの装置を
用いても、レーザ装置になにか誤動作があった場合、シ
ステムの幾つかの機械要素を停止して視覚的に点検する
などしないと、それがレーザビームの特性変化に起因す
るものか、あるいは作用点までの光伝送路の劣化による
ものかが特定できない。
用いても、レーザ装置になにか誤動作があった場合、シ
ステムの幾つかの機械要素を停止して視覚的に点検する
などしないと、それがレーザビームの特性変化に起因す
るものか、あるいは作用点までの光伝送路の劣化による
ものかが特定できない。
【0007】そこで本発明の目的は、レーザビームの平
均パワーや強度分布の中心ずれの検出に加え、レーザビ
ーム機能の正確な評価に欠くことの出来ない直径やビー
ム自体の強度分布を同時にモニタすることのできる光学
的パラメータの検知用装置を得ることである。
均パワーや強度分布の中心ずれの検出に加え、レーザビ
ーム機能の正確な評価に欠くことの出来ない直径やビー
ム自体の強度分布を同時にモニタすることのできる光学
的パラメータの検知用装置を得ることである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本工業的発明では、この
目的が次のような装置によって達成されている。すなわ
ち、入射レーザビーム中央部の遮断に適した第一の感知
素子、前記中央部の外側のレーザビームの外周部の遮断
に適した複数の第二の感知素子の2者を含む入射レーザ
ビームの光学的パラメータの検知用装置である。
目的が次のような装置によって達成されている。すなわ
ち、入射レーザビーム中央部の遮断に適した第一の感知
素子、前記中央部の外側のレーザビームの外周部の遮断
に適した複数の第二の感知素子の2者を含む入射レーザ
ビームの光学的パラメータの検知用装置である。
【0009】本検知装置は好適には複数の第二の感知素
子を含み、その各々は、複数の他の第二感知素子によっ
て遮断されるビームの環状部から明白に区別されるレー
ザビームの各環状部を遮断するのに適している。これに
より、入射レーザビームの強度分布の測定の分解能を高
めることができる。また1次、2次の各検光子がそれぞれ
複数の領域に分割されており、その各領域は、レーザビ
ームの前記中央部または各外周部分の各副部分を遮断す
るのに適していることが望ましい。このような構造とす
れば、強度分布の中心の位置やレーザビームの対称性
と、直径を評価することができる。
子を含み、その各々は、複数の他の第二感知素子によっ
て遮断されるビームの環状部から明白に区別されるレー
ザビームの各環状部を遮断するのに適している。これに
より、入射レーザビームの強度分布の測定の分解能を高
めることができる。また1次、2次の各検光子がそれぞれ
複数の領域に分割されており、その各領域は、レーザビ
ームの前記中央部または各外周部分の各副部分を遮断す
るのに適していることが望ましい。このような構造とす
れば、強度分布の中心の位置やレーザビームの対称性
と、直径を評価することができる。
【0010】さらに、第一の感知素子と第二の感知素子
とがレーザビームの進行方向に直列配置されていること
が望ましく、前記第二の感知素子の一つは、レーザビー
ムに対し透明な中心領域を備え、レーザビームの進行方
向に関し、前記第一の感知素子の前に配置され、該第二
の感知素子は、前記第一の感知素子からの距離と共に増
加する直径の前記透明中心領域を備えている。
とがレーザビームの進行方向に直列配置されていること
が望ましく、前記第二の感知素子の一つは、レーザビー
ムに対し透明な中心領域を備え、レーザビームの進行方
向に関し、前記第一の感知素子の前に配置され、該第二
の感知素子は、前記第一の感知素子からの距離と共に増
加する直径の前記透明中心領域を備えている。
【0011】前記第一、第二の感知素子の各々がビーム
自体の進行方向に直交するレーザビームの断面と同一の
対称性を有する。感知素子への入射レーザービームは多
数の部分にわかれ、各感知素子へ入射する。こうして感
知素子から電気信号を作成することにより、レーザビー
ムの平均パワー、中心位置の強度、さらに強度分布、直
径の時間的変動を同時に評価することができる。
自体の進行方向に直交するレーザビームの断面と同一の
対称性を有する。感知素子への入射レーザービームは多
数の部分にわかれ、各感知素子へ入射する。こうして感
知素子から電気信号を作成することにより、レーザビー
ムの平均パワー、中心位置の強度、さらに強度分布、直
径の時間的変動を同時に評価することができる。
【0012】本発明におけるこれらの特徴や利点は、次
の示すいくつかの実施例の詳述によって明らかにされる
であろうが、表示されている図示例に限定されないのは
もちろんである。
の示すいくつかの実施例の詳述によって明らかにされる
であろうが、表示されている図示例に限定されないのは
もちろんである。
【0013】
【発明の実施の形態】図1ー3を参照して、本発明の第
1実施形態によるレーザビームの光学的パラメータ検知
用の熱量計型検出器100が表示されているが、本例に
限定されないのはもちろんである。図1に示す検出器1
00は、表面に吸収材層16を有する円板状の第1検知
素子12、および、入射レーザビーム9の伝播方向に沿
って第1検知素子12の前方に、中心孔のある表面に吸
収材層18を有する中心孔130を備えた円板状の第2
検知素子13から構成されている。さらに、検出器10
0は2つの検知素子12、13を熱的に絶縁する冷却回
路14を備えている。なお、冷却液は冷却回路14の内
部を循環している。
1実施形態によるレーザビームの光学的パラメータ検知
用の熱量計型検出器100が表示されているが、本例に
限定されないのはもちろんである。図1に示す検出器1
00は、表面に吸収材層16を有する円板状の第1検知
素子12、および、入射レーザビーム9の伝播方向に沿
って第1検知素子12の前方に、中心孔のある表面に吸
収材層18を有する中心孔130を備えた円板状の第2
検知素子13から構成されている。さらに、検出器10
0は2つの検知素子12、13を熱的に絶縁する冷却回
路14を備えている。なお、冷却液は冷却回路14の内
部を循環している。
【0014】図2は図1に示す検出器の正面図である。
中心孔130を備えた第2検知素子13と、その後方に
第1検知素子12が見える。図に示すように、第1検知
素子12は4つの扇形部1ー4に分割されている。第2
検知素子13はどちらかというと、4つの円環部5ー8
に細分されている。第1検知素子12と第2検知素子1
3の背部には、検知素子の各分割部1ー4と5ー8の温
度変化をそれぞれ電圧や電流の電気信号に変換する熱電
対11が形成されている。入射レーザビーム9の吸収の
結果、検知素子の各分割部1ー4と5ー8には、各分割
部に入射したレーザビーム9の強度の一部に比例した温
度上昇が観測される。それぞれの熱電対11によって得
られた各分割部の温度は、たとえば冷却液17から得ら
れる基準温度と比較される。したがって、2つの検知素
子12と13のそれぞれの各分割部1ー4と5ー8に入
射した光強度に比例した電気信号を得ることが可能とな
る。
中心孔130を備えた第2検知素子13と、その後方に
第1検知素子12が見える。図に示すように、第1検知
素子12は4つの扇形部1ー4に分割されている。第2
検知素子13はどちらかというと、4つの円環部5ー8
に細分されている。第1検知素子12と第2検知素子1
3の背部には、検知素子の各分割部1ー4と5ー8の温
度変化をそれぞれ電圧や電流の電気信号に変換する熱電
対11が形成されている。入射レーザビーム9の吸収の
結果、検知素子の各分割部1ー4と5ー8には、各分割
部に入射したレーザビーム9の強度の一部に比例した温
度上昇が観測される。それぞれの熱電対11によって得
られた各分割部の温度は、たとえば冷却液17から得ら
れる基準温度と比較される。したがって、2つの検知素
子12と13のそれぞれの各分割部1ー4と5ー8に入
射した光強度に比例した電気信号を得ることが可能とな
る。
【0015】検知素子12と13はそれぞれ、4つの同
等の部分に分割されているので、検出器100は熱電対
11を介してレーザビーム9の入光部の強度分布中心の
変位を可能な限り表示することができる。実際、強度分
布の中心が検知素子12の中心に完全に一致すると(例
えば、機械的スライダーを用いて検知素子を中心に置い
たり、熱電対が発生する電気信号の残留偏差を測定した
りして実現する)、検知素子12の4つの分割部1ー4
によって検出された強度は等しくなる。同様のことが検
知素子13の4つの円環部5ー8にも適用できる。中心
位置から分布強度がずれると、検知素子12の4つの分
割部1ー4と、検知素子13の4つの円環部5ー8との
入射光強度のバランスがくずれる。したがって、レーザ
ビーム9の強度分布の中心を元に戻すように動作させる
ことが可能となる。
等の部分に分割されているので、検出器100は熱電対
11を介してレーザビーム9の入光部の強度分布中心の
変位を可能な限り表示することができる。実際、強度分
布の中心が検知素子12の中心に完全に一致すると(例
えば、機械的スライダーを用いて検知素子を中心に置い
たり、熱電対が発生する電気信号の残留偏差を測定した
りして実現する)、検知素子12の4つの分割部1ー4
によって検出された強度は等しくなる。同様のことが検
知素子13の4つの円環部5ー8にも適用できる。中心
位置から分布強度がずれると、検知素子12の4つの分
割部1ー4と、検知素子13の4つの円環部5ー8との
入射光強度のバランスがくずれる。したがって、レーザ
ビーム9の強度分布の中心を元に戻すように動作させる
ことが可能となる。
【0016】入射レーザビーム9の強度分布の平均値と
中心位置を検知できるのに加えて、検出器100はまた
強度の空間分布を検知することができる。それぞれの分
割部1ー8で検知した空間分布は、検出器にさえぎられ
たレーザ放射9の空間強度分布の関数である。このよう
な分布から、入射ビーム9の空間強度分布の対称性の度
合を測定することができる。入射ビーム9のトータル強
度が同じ場合、検知素子12に入射するビーム9の強度
の一部は、ビーム9自身のビーム径と放射強度プロファ
イルの関数となる。もし、強度分布プロファイルが変化
しないとすれば、このようなビーム9の一部はビーム径
が大きくなると減少する。なぜなら、光学的強度が大き
いビーム9の一部は第2検知素子13に当たるからであ
る。したがって、第1検知素子12と第2検知素子13
との強度分布には、入射レーザビーム9のビーム径に関
して強い相関性がある。適切な較正をすれば、ビーム径
自体の実効値を計算することが可能である。両方の検知
素子12、13で測定されたトータル強度が同じ場合、
検知素子12に入射したビームの一部の変化は、強度分
布(モード)の変化または入射ビーム9のビーム径の変
化の証拠となる。
中心位置を検知できるのに加えて、検出器100はまた
強度の空間分布を検知することができる。それぞれの分
割部1ー8で検知した空間分布は、検出器にさえぎられ
たレーザ放射9の空間強度分布の関数である。このよう
な分布から、入射ビーム9の空間強度分布の対称性の度
合を測定することができる。入射ビーム9のトータル強
度が同じ場合、検知素子12に入射するビーム9の強度
の一部は、ビーム9自身のビーム径と放射強度プロファ
イルの関数となる。もし、強度分布プロファイルが変化
しないとすれば、このようなビーム9の一部はビーム径
が大きくなると減少する。なぜなら、光学的強度が大き
いビーム9の一部は第2検知素子13に当たるからであ
る。したがって、第1検知素子12と第2検知素子13
との強度分布には、入射レーザビーム9のビーム径に関
して強い相関性がある。適切な較正をすれば、ビーム径
自体の実効値を計算することが可能である。両方の検知
素子12、13で測定されたトータル強度が同じ場合、
検知素子12に入射したビームの一部の変化は、強度分
布(モード)の変化または入射ビーム9のビーム径の変
化の証拠となる。
【0017】第1、第2の検知素子12、13のそれぞ
れの分割部によって吸収された強度の経時特性をモニタ
ーすることによって、入射ビーム9のトータル強度、ビ
ーム径、ビームの強度分布の中心と対称性の度合、経時
変化等の特性を検証することができる。このため、レー
ザビームの光学的特性を回復するための適切な補正手段
を講じることが可能となる。図4に、図1の検出器の適
用可能な応用例を示す。レーザ発生装置50内部のミラ
ー22、23で構成された光学的共振器の高反射率背面
ミラー22の後方に、レーザ発生装置から発生した強度
をモニターするための強度計が通常設置される。ミラー
22は共振器内の光学的強度の微小部分9(正確に言え
ば、レーザ源から放射されたビーム40に比例する)を
強度計に導く。現行の検出器100に使用されている強
度計に代えて、レーザ源から放射されるビームの特性を
オンライン解析する強度計を備えることもできる。ま
た、前述のレーザ源50が組み込まれた稼働システムの
公称仕様をビーム特性が超えたときに備えて、保証限界
以上になった場合の警告値を設定することができる。
れの分割部によって吸収された強度の経時特性をモニタ
ーすることによって、入射ビーム9のトータル強度、ビ
ーム径、ビームの強度分布の中心と対称性の度合、経時
変化等の特性を検証することができる。このため、レー
ザビームの光学的特性を回復するための適切な補正手段
を講じることが可能となる。図4に、図1の検出器の適
用可能な応用例を示す。レーザ発生装置50内部のミラ
ー22、23で構成された光学的共振器の高反射率背面
ミラー22の後方に、レーザ発生装置から発生した強度
をモニターするための強度計が通常設置される。ミラー
22は共振器内の光学的強度の微小部分9(正確に言え
ば、レーザ源から放射されたビーム40に比例する)を
強度計に導く。現行の検出器100に使用されている強
度計に代えて、レーザ源から放射されるビームの特性を
オンライン解析する強度計を備えることもできる。ま
た、前述のレーザ源50が組み込まれた稼働システムの
公称仕様をビーム特性が超えたときに備えて、保証限界
以上になった場合の警告値を設定することができる。
【0018】警告値を正確に設定することにより、不要
動作、過剰動作などシステム仕様にない現象に迅速かつ
正確に対応することができる。さらに、レーザ源に関す
る諸問題については、このようにして、システムの光学
系統と関係する部分を分離することで即時に診断するこ
とが可能である。図5に本発明の第2実施形態による検
出器に使われる検知素子の正面図を示す。
動作、過剰動作などシステム仕様にない現象に迅速かつ
正確に対応することができる。さらに、レーザ源に関す
る諸問題については、このようにして、システムの光学
系統と関係する部分を分離することで即時に診断するこ
とが可能である。図5に本発明の第2実施形態による検
出器に使われる検知素子の正面図を示す。
【0019】分割部1ー4によって形成された第1検知
素子12、および、分割部5ー8で構成された円環状の
第2検知素子13に加えて、円環状で従前の素子の前方
に位置していて同じ対称軸を有する他の検知素子1
3'、13"が見える。検知素子13'、13"は同様に、
円環状の分割部(それぞれ29ー32、33ー36)に
細分化されている。検知素子13、13'、13"には中
心孔があって、この孔は、レーザビームの伝播軸に沿っ
て第1検知素子から遠ざかるにつれて口径が大きくな
る。このようにして入射レーザビーム9はいくつかの部
分に分割される。また、さらに強度分布分解能の精度向
上を図ることができる。検知プロセスが求める分解能に
話を戻すと、レーザビーム9の光学的パラメータの検知
に用いる検出器を作成するとき、検知素子の個数を最適
化することができる。
素子12、および、分割部5ー8で構成された円環状の
第2検知素子13に加えて、円環状で従前の素子の前方
に位置していて同じ対称軸を有する他の検知素子1
3'、13"が見える。検知素子13'、13"は同様に、
円環状の分割部(それぞれ29ー32、33ー36)に
細分化されている。検知素子13、13'、13"には中
心孔があって、この孔は、レーザビームの伝播軸に沿っ
て第1検知素子から遠ざかるにつれて口径が大きくな
る。このようにして入射レーザビーム9はいくつかの部
分に分割される。また、さらに強度分布分解能の精度向
上を図ることができる。検知プロセスが求める分解能に
話を戻すと、レーザビーム9の光学的パラメータの検知
に用いる検出器を作成するとき、検知素子の個数を最適
化することができる。
【0020】これまで述べてきた検出器の検知素子は、
円対称のビームを持つレーザビームの特性を測定するの
に特に適している。異なる対称性を持つレーザビームを
測定するときは、レーザビーム断面と同じ形状の検出器
を使うのが望ましい。図6のプロフィル60に示すよう
に、もしレーザビームの断面図がたとえば、矩形の場合
は検知素子は矩形孔を有する矩形のほうが望ましい。図
6は、図1の検出器100と同様の検出器の正面図であ
るが、矩形の検知素子を有している。 図6では、中心
孔70を有する第2検知素子63が見えるが、その後方
には第1検知素子62が存在する。特に、第1検知素子
62は4つの象限71―74に、第2検知素子63は4
つの同形状部75―78に分割されている。
円対称のビームを持つレーザビームの特性を測定するの
に特に適している。異なる対称性を持つレーザビームを
測定するときは、レーザビーム断面と同じ形状の検出器
を使うのが望ましい。図6のプロフィル60に示すよう
に、もしレーザビームの断面図がたとえば、矩形の場合
は検知素子は矩形孔を有する矩形のほうが望ましい。図
6は、図1の検出器100と同様の検出器の正面図であ
るが、矩形の検知素子を有している。 図6では、中心
孔70を有する第2検知素子63が見えるが、その後方
には第1検知素子62が存在する。特に、第1検知素子
62は4つの象限71―74に、第2検知素子63は4
つの同形状部75―78に分割されている。
【0021】本発明のこの実施形態でもまた、入射レー
ザビーム60は前述の検出器100に見られたような類
似性を考慮すると、いくつかの部分に細分化される。
ザビーム60は前述の検出器100に見られたような類
似性を考慮すると、いくつかの部分に細分化される。
【図1】本発明の第1実施形態による検出器の軸平面方
向の断面図を示す。
向の断面図を示す。
【図2】図1の検出器に使われる検知素子の正面図を示
す。
す。
【図3】図1の検出器に使われる検知素子の後方に設置
される多数の熱電対の配列を示す。
される多数の熱電対の配列を示す。
【図4】レーザ源内部の共振空洞内の高反射率ミラーの
後方に設置されている図1の検出器を示す。
後方に設置されている図1の検出器を示す。
【図5】本発明の第2実施形態による検出器に使われる
検知素子の正面図を示す。
検知素子の正面図を示す。
【図6】本発明の第3実施形態による検出器に使われる
検知素子の正面図を示す。
検知素子の正面図を示す。
1−4,5−8,29−32,33−36,71−7
4,75−78 等価領域 9 入射レーザビーム 12,62 第一検知素
子 13,13’,13”,63 第二検知素子 14
冷却回路。
4,75−78 等価領域 9 入射レーザビーム 12,62 第一検知素
子 13,13’,13”,63 第二検知素子 14
冷却回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ラウラ セッリ イタリア、20146 ミラノ、ビア メタウ ロ、12 (72)発明者 ビンチェンツォ ファンティーニ イタリア、20099 セスト サン ジョバ ンニ(ミラノ)、ビア ドン ミンツォー ニ、133 (72)発明者 フラビオ フェレッティ イタリア、20133 ミラノ、ビア バルバ ッソリ ペローニ、61
Claims (11)
- 【請求項1】入射レーザビーム(9)の実質的中心部分を
遮るのに適した第一検知素子(12;62)と、当該レーザビ
ームの中心部分に関し外側の環状部分を遮るのに適した
少なくとも一つの第二検知素子(13;63)とを含むこと
を特徴とする入射レーザビームの光学的パラメータを検
出するための装置。 - 【請求項2】複数の第二検知素子(13,13',13'')を含
み、そのそれぞれが、他の複数の第二検知素子により遮
断される光線の環状部分から明白に区別されたレーザビ
ームの環状部分のそれぞれを遮るのに適していることを
特徴とする請求項1の検出装置。 - 【請求項3】前記第一および第二検知素子がそれぞれ複
数の等価領域(1-4、5-8、29-32、33-36;71-74、75-78)
に分割され、それぞれの領域がレーザビームの前記中心
部分または前記環状部分のそれぞれの副部分を遮るのに
適していることを特徴とする前記いずれか一つの請求項
の検出装置。 - 【請求項4】前記第一検知素子(12;16)と前記少なくと
も一つの第二検知素子(13、13'、13";63)とがレーザ
ビームの進行方向に沿って縦方向の順で配列されている
ことを特徴とする前記いずれか一つの請求項の検出装
置。 - 【請求項5】前記第二検知素子(13、13'、13";63)が
レーザビームに対して透明な中心部分を備えており、そ
れらはレーザビームの進行方向から見て、前記第一検知
素子(12;62)の前方に置かれ、前記第二検知素子(13、
13'、13";63)は前記第一検知素子(12;62)からの距離
ともに増加する寸法の前記透明中心部分を有することを
特徴とする請求項2または3の請求項4の検出装置。 - 【請求項6】前記第一検知素子(12;62)と第二検知素子
(13、13'、13";63)とが、レーザビームの進行方向に
直角なレーザビーム自体の断面の対称性に等価な対称
性、を有することを特徴とする先行請求項のいずれか一
つの検出装置。 - 【請求項7】前記複数の領域(1-4、5-8、29-33、33-3
6;71-74、75-78)が半導体材料で作られていることを特
徴とする請求項6の検出装置。 - 【請求項8】前記複数の領域(1-4、5-8、29-33、33-3
6;71-74、75-78)が入射レーザを吸収する物質で作られ
ており、前記領域が温度上昇を電気信号に変換出来る感
熱素子(11)少なくとも1個にそれぞれ関連付けられてい
ることを特徴とする請求項6の検出装置。 - 【請求項9】前記感熱素子(11)が熱電対であることを特
徴とする請求項8の検出装置。 - 【請求項10】前記第一検知素子(12;62)と第二検知素
子(13、13'、13";63)とを互いに熱絶縁するため、冷
却回路(14)を用いて互いに隔離されていることを特徴と
する請求項7又は8の検出装置。 - 【請求項11】前記冷却回路内を冷却流体(17)が循環す
ることを特徴とする請求項10の検出装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IT97A000505 | 1997-03-07 | ||
IT97MI000505A IT1290576B1 (it) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | Dispositivo per la rilevazione di parametri ottici di un fascio laser |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10281863A true JPH10281863A (ja) | 1998-10-23 |
Family
ID=11376322
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10053424A Pending JPH10281863A (ja) | 1997-03-07 | 1998-03-05 | レーザビームの光学的パラメータ検出装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6025587A (ja) |
EP (1) | EP0863390A1 (ja) |
JP (1) | JPH10281863A (ja) |
IT (1) | IT1290576B1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2003034555A1 (ja) * | 2001-10-16 | 2005-02-03 | 株式会社片岡製作所 | パルス発振型固体レーザ装置及びレーザ加工装置 |
JP2015190934A (ja) * | 2014-03-28 | 2015-11-02 | ファナック株式会社 | レーザ光の強度分布を計測するビームプロファイラ、レーザ発振器、およびレーザ加工装置 |
JP2015535938A (ja) * | 2012-10-05 | 2015-12-17 | ケーエルエー−テンカー コーポレイション | 最小ビームスポットの寸法および位置を決定するシステムおよび方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL137907A0 (en) * | 2000-08-16 | 2001-10-31 | Ophir Optronics Ltd | Fast response optical power meter |
US7077564B2 (en) * | 2003-06-18 | 2006-07-18 | Coherent, Inc. | Laser power meter |
ITMI20051090A1 (it) * | 2005-06-13 | 2006-12-14 | Laser Point S R L | "dispositivo atto a rilevare ottici di un fascio laser" |
GB2447294B (en) * | 2007-03-09 | 2009-12-02 | Lasermet Ltd | A measuring apparatus comprising a Peltier-Seebeck detector |
EP2440898B1 (en) * | 2009-06-12 | 2017-08-23 | Ophir Optronics Solutions Ltd. | Multifunction laser power meter |
DE102011005775B4 (de) * | 2011-03-18 | 2012-11-15 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Detektor und Verfahren zum Erfassen einer Ausrichtung eines Laserstrahls in einer Laserbearbeitungsmaschine sowie Laserbearbeitungsmaschine |
FR3077749B1 (fr) * | 2018-02-14 | 2020-01-24 | Psa Automobiles Sa | Dispositif pour la mesure de puissance d’un faisceau laser d’une tete de soudage laser par tiret |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63215942A (ja) * | 1987-03-04 | 1988-09-08 | Natl Aerospace Lab | 粒子径分布計測用光電変換センサ− |
EP0285400A3 (en) * | 1987-03-31 | 1990-12-12 | Spectra-Physics, Inc. | Laser power monitor |
US4816665A (en) * | 1987-08-06 | 1989-03-28 | Maxtor Corporation | Sensor array for focus detection |
US4964735A (en) * | 1989-04-07 | 1990-10-23 | Coherent, Inc. | Apparatus for indicating the power and position of a laser beam |
JPH03120877A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-23 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 受光素子 |
US4982078A (en) * | 1989-12-19 | 1991-01-01 | Spectra-Physics, Inc. | Beam position sensor with time shared normalizing circuit |
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US5592285A (en) * | 1995-12-12 | 1997-01-07 | Pund; Marvin L. | Optical source position and direction sensor |
-
1997
- 1997-03-07 IT IT97MI000505A patent/IT1290576B1/it active IP Right Grant
-
1998
- 1998-03-04 EP EP98200659A patent/EP0863390A1/en not_active Withdrawn
- 1998-03-05 US US09/035,070 patent/US6025587A/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-03-05 JP JP10053424A patent/JPH10281863A/ja active Pending
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JPWO2003034555A1 (ja) * | 2001-10-16 | 2005-02-03 | 株式会社片岡製作所 | パルス発振型固体レーザ装置及びレーザ加工装置 |
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JP2015190934A (ja) * | 2014-03-28 | 2015-11-02 | ファナック株式会社 | レーザ光の強度分布を計測するビームプロファイラ、レーザ発振器、およびレーザ加工装置 |
US9304036B2 (en) | 2014-03-28 | 2016-04-05 | Fanuc Corporation | Beam profiler measuring intensity distribution of laser beam, laser oscillator, and laser processing device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
IT1290576B1 (it) | 1998-12-10 |
ITMI970505A1 (it) | 1998-09-07 |
US6025587A (en) | 2000-02-15 |
EP0863390A1 (en) | 1998-09-09 |
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