JPH10274957A

JPH10274957A - プラズマディスプレイの駆動回路

Info

Publication number: JPH10274957A
Application number: JP9080767A
Authority: JP
Inventors: Takahito Nakanishi; 隆仁中西
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1997-03-31
Filing date: 1997-03-31
Publication date: 1998-10-13

Abstract

(57)【要約】【課題】テストパターンによるテスト作業を効率化す
る。【解決手段】パネル制御回路１１は、内部にテストパ
ターン発生回路１６を内蔵している。パターン発生制御
信号により、テストモードであることを認識した場合、
パネル制御回路１１は、画像データの入力に代え、内部
で発生したテストパターンを駆動回路１４に供給する。
従って、ＰＤＰ１５においてテストパターンの表示が行
われる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、テストパターン
を発生するプラズマディスプレイパネルの駆動回路に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、フラットパネルタイプのディ
スプレイの１つとして、プラズマディスプレイパネル
（ＰＤＰ）が知られており、陰極線管（ＣＲＴ）に代わ
るものとして注目されている。

【０００３】このＰＤＰでは、まず映像信号を画素毎の
デジタルデータとする。ここで、各画素が、ＰＤＰにお
ける放電の単位である放電セルに対応する。そして、各
放電セルの輝度制御は、１フィールドを階調数に対応し
たサブフィールド分け、各サブフィールドにおける発
光、非発光を制御することによって行われている。例え
ば、各放電セルの輝度を表すデジタルデータが６ビット
のデジタルデータ（６４階調）であれば、１フィールド
を６つのサブフィールドに分割し、各ビットの「１」
「０」により各フィールドにおける発光、非発光を制御
する。そして、各サブフィールドの時間を２⁵（ＭＳ
Ｂ）〜２⁰（ＬＳＢ）に設定することによって、各放電
セルにおける輝度がデジタルデータに対応したものにな
る。

【０００４】また、カラーの場合には、各画素のそれぞ
れについてＲＧＢ３つのデジタルデータを有するＲＧＢ
画像データが入力されてくる。そして、ＰＤＰは、ＲＧ
Ｂの蛍光体が設けられた放電セルを整列させておき、１
画素に３つの放電セル（ＲＧＢそれぞれの蛍光体を有す
る放電セル）を割り付ける。これによって、ＲＧＢ３つ
の放電セルがＲＧＢ画像データに応じてそれぞれの輝度
で発光し、カラー表示が行われる。

【０００５】ここで、このようなＰＤＰの製造時には、
テストパターンを表示して、製品試験を行う必要があ
る。すなわち、ＰＤＰに所定の色のカラーバーを表示す
るなどして、ＰＤＰにおいて正常な表示が行われるかを
テストする。

【０００６】従来は、このようなテストを行う場合に
は、図６に示すように、外部の信号発生器１からＰＤＰ
駆動回路２にテストパターンを供給し、ＰＤＰ３にテス
トパターンを表示させていた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、このようなテ
ストのためには、外部の信号発生器１と駆動回路２を接
続しなければならず、このために治具等が必要である。
また、この接続は、通常手作業で行わなければならず、
作業工数が多くなり、手間がかかるという問題点があっ
た。

【０００８】なお、特開平５−５６５３９３号公報に
は、ＰＤＰ単体で駆動タイミングの制御信号などを解析
するセルフチェック機能を有するものが示されている
が、テストパターンの表示による試験評価について示す
ものではない。

【０００９】この発明は、上述のような課題を解決する
ためになされたもので、ＰＤＰの効率的なテストが行え
るプラズマディスプレイパネルの駆動回路を提供するこ
とを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明に係るプラズマ
ディスプレイパネルの駆動回路は、外部から入力されて
くる入力画像データに基づき、プラズマディスプレイパ
ネルを駆動する。そして、パターン制御回路が、パター
ン発生制御信号に基づきテストパターン信号を発生する
と共に、発生したテストパターン信号を入力画像信号に
代えて出力し、駆動回路がパターン制御回路から供給さ
れる信号に基づきプラズマディスプレイパネルを駆動す
るものである。

【００１１】また、上記パターン制御回路は、複数のテ
ストパターンを発生することが可能であり、パターン切
換信号に応じて、上記複数のテストパターンを切り換え
て出力するものである。

【００１２】また、電源投入に応じて始動し、所定時間
経過に応じてパターン切換信号を出力するタイマ回路を
さらに有するものである。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、図面に基づいて説明する。

【００１４】実施形態１．

【００１５】図１は、全体構成を示すブロック図であ
り、入力画像データは、パネル制御回路１１に入力され
る。このパネル制御回路は１１は、入力される画素毎の
デジタル信号をビット毎にスライスし、それぞれフィー
ルドメモリ１２に記憶する。このフィールドメモリは、
ｎ枚（デジタルデータのｎビットに対応する）のサブフ
ィールドメモリ１２ｊからなっており、それぞれのサブ
フィールドメモリ１２ｊにおいて、１フィールド分の画
像データの１ビットを記憶する。

【００１６】一方、駆動制御回路１３は、入力画像信号
の各データに対応したデータクロック（同期クロック）
に応じて、駆動回路１４の動作を制御する。また、この
駆動制御回路１３が、パネル制御回路１１に読み出しタ
イミング信号を供給し、パネル制御回路１１は、この読
み出しタイミングに従って、サブフィールドメモリ１２
ｊからデータを順次読み出し、駆動回路１４に供給す
る。すなわち、パネル制御回路１１で得られた１サブフ
ィールド分の書き込みデータは、駆動回路１４に供給さ
れ、１つのサブフィールドの表示がＰＤＰ１５において
行われる。

【００１７】ここで、駆動回路１４は、ＰＤＰ１５の複
数の電極に接続されている。すなわち、ＰＤＰ１５は、
水平走査方向にＸ，Ｙの２つの電極を水平走査ライン分
だけ有しており、また垂直方向に水平方向の放電セル分
だけアドレス電極を有している。そして、駆動回路１４
は、アドレス電極とＹ電極により、パネル制御回路１１
から供給される１サブフィールド分の書き込みデータを
各放電セルに書き込む。これによって、データが「１」
であった放電セルにのみ壁電圧を付与する。そして、そ
の後にＸ電極とＹ電極に交互に電圧（維持パルス）を印
加し、壁電圧が付与されていた放電セルのみを放電発光
させる。このような駆動回路１４における書き込み、維
持パルスの印加のタイミングは、駆動制御回路１３から
の制御信号によって制御される。

【００１８】このようにして、ＰＤＰ１５における画素
毎の放電、非放電がサブフィールドメモリ１２ｊに記憶
されているデータによって制御され、これが１フィール
ド分繰り返されることによって、画素毎のデジタルデー
タに基づく輝度の表示が各画素において行われ、１フィ
ールドの表示が行われる。

【００１９】ここで、この実施の形態では、パネル制御
回路１１に外部からパターン発生制御信号が印加される
ようになっている。そして、パターン発生制御信号があ
った場合には、パネル制御回路１１はテストモードであ
ることを認識し、入力画像データを無視し、内部のテス
トパターン発生回路１６でテストパターンを発生しこれ
を出力する。従って、この場合には、駆動回路１４に
は、テストパターンが供給され、ＰＤＰ１５にテストパ
ターンが表示される。

【００２０】このテストパターン発生回路１６は、例え
ば、図２に示す３ビットのカウンタであり、所定のクロ
ックのカウントにより、０００〜１１１までのカウント
を行う。すなわち、反転Ｑ出力端子の出力がＤ入力端子
に帰還されたフリップフロップＦＦ１〜ＦＦ３を設け、
ＦＦ１のクロック入力端子にクロックを反転入力し、Ｆ
Ｆ１、ＦＦ２のＱ出力端子の出力をＦＦ２、ＦＦ３のク
ロック入力端子に反転入力する。これによって、クロッ
クの立ち下がりの度に１ずつカウントアップするカウン
タが構成される。そして、カウンタの各ビット（ＦＦ１
〜ＦＦ３の各Ｑ出力）をＲＧＢにそれぞれ対応させるこ
とで、黒（０００）、ＲＧＢのそれぞれの単色、２色ず
つの組み合わせ、白（１１１）のすべての組み合わせを
指定できる。そこで、この出力に応じて、パネル制御回
路１１が書き込みデータを駆動回路１４に供給すること
で、ＰＤＰ１５において順次表示色が変化するテストパ
ターンによるテストを行うことができる。また、このよ
うな論理回路を複数種類備えることによって、所望の数
のテストパターンを発生することができる。また、パタ
ーン発生制御信号は、例えば、ディップスイッチのよう
なもので、試験を行う者が適宜セットできるようにすれ
ばよい。

【００２１】実施の形態２．次に、図３に実施の形態２
の構成を示す。この実施の形態においては、パネル制御
回路１１に、パターン切換信号が入力されるようになっ
ている。また、内部のテストパターン発生回路１６は、
試験項目に応じた複数種類のテストパターンを発生でき
る。そして、このテストパターン発生回路１６において
発生するテストパターンが、パターン切換信号に応じて
切り換えられる。すなわち、パターン発生制御信号を入
力した段階で、第１のテストパターンが発生され、この
状態で、パターン切換信号を入力することで、順次第
２、第３のテストパターンに切り換えられるようになっ
ている。この切換は、例えば内部にカウンタを設け、パ
ターン切換信号の立ち上がりをカウントすること等によ
って行うことができる。パターン切換信号を続けて入力
すれば、いくつかのテストパターンをとばして試験を行
うこともできる。さらに、内部にシフトレジスタを設
け、ここにパターン切換信号をシリアル入力し、シフト
レジスタの記憶内容で、出力するテストパターンを決定
してもよい。

【００２２】このように、本実施形態では、パターン切
換信号によって、発生パターンを選択できるようにした
ため、試験項目に応じた表示パターンを切り換えること
ができる。また、パターン切換信号をディップスイッチ
や、押しボタンスイッチ等からの入力をすることも好適
である。

【００２３】実施の形態３．図４に実施の形態３の構成
を示す。この実施の形態においては、電源投入検知回路
１７、タイマ１８、パターン切換制御回路１９を有して
いる。そして、装置の電源投入を電源投入検知回路１７
が検知した場合に、電源投入検知回路１７が検知信号を
タイマに供給する。タイマ１８は、検知信号によってカ
ウントを開始する。そして、所定時間毎にカウントアッ
プパルスを出力する。パターン切換制御回路１９はカウ
ントアップパルスに応じて、出力であるパターン切換信
号の状態を変化させる。

【００２４】そして、パネル制御回路１１は、パターン
切換制御回路１９から供給されるパターン切換信号に応
じて発生するテストパターンを変化させる。これによっ
て、電源投入に応じて、自動的にテストパターンによる
試験が開始される。また、そのテストパターンの種類も
自動的に変更される。

【００２５】なお、装置の実際の使用時には、このよう
なテストパターンの表示は不要である。そこで、実際の
使用時には、テストが行われないようにすることが好ま
しい。例えば、ＴＶチューナ等の画像データを出力する
機器が接続されているかを検知し、接続されている場合
には、テストパターンを発生しないようにすることも好
適である。すなわち、図５に示すように、入力画像デー
タを入力する側のコネクタ２１と、パネル制御回路１１
側のコネクタ２２とを設け、コネクタ２１の２端子を短
絡しておく。これによって、コネクタ２２は、コネクタ
２１が接続されているか否かを２端子が短絡されている
か否かで容易に判定できる。なお、ユーザによる実際の
使用時には、取り外すコネクタカバーを用意し、このコ
ネクタカバーにより、所定の端子を短絡しておくこと
で、テストパターンの発生を検知することも好適であ
る。

【００２６】

【発明の効果】この発明は、以上説明したように構成さ
れているので、以下に示すような効果を奏する。

【００２７】この発明に係るプラズマディスプレイパネ
ルの駆動回路は、パターン制御回路が、外部からのパタ
ーン発生制御信号に基づき、テストパターン信号を発生
し発生したテストパターン信号を入力画像信号に代えて
出力し、駆動回路がパターン制御回路から供給される信
号に基づきプラズマディスプレイパネルを駆動する。従
って、テストパターンを外部から入力することなく、プ
ラズマディスプレイパネルにおけるテストパターンの表
示試験が行える。そこで、テストパターン発生用に信号
発生器などとの接続の手間や治具を不要にすることがで
き、作業を効率化することができる。

【００２８】また、上記パターン制御回路は、複数のテ
ストパターンを発生することが可能であり、パターン切
換信号に応じて、上記複数のテストパターンを切り換え
て出力する。従って、複数の試験項目に応じテストパタ
ーンを適宜切り換えることができる。

【００２９】さらに、電源投入に応じて始動し、所定時
間経過に応じてパターン切換信号を出力するタイマ回路
をさらに有する。従って、電源投入と同時にテストパタ
ーンによる表示を自動的に開始することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施の形態１を示すブロック図で
ある。

【図２】この発明の実施の形態１のテストパターン発
生回路の構成を示す図である。

【図３】この発明の実施の形態２を示すブロック図で
ある。

【図４】この発明の実施の形態３を示すブロック図で
ある。

【図５】コネクタの構成を示す図である。

【図６】従来の構成を示すブロック図である。

【符号の説明】

１１パネル制御回路、１３駆動制御回路、１４駆
動回路、１５ＰＤＰ、１６テストパターン発生回
路、１７電源投入検知回路、１８タイマ、１９パ
ターン切換制御回路。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】外部から入力されてくる入力画像データ
に基づき、プラズマディスプレイパネルを駆動するプラ
ズマディスプレイパネルの駆動回路において、パターン発生制御信号に基づきテストパターン信号を発
生すると共に、発生したテストパターン信号を入力画像
信号に代えて出力するパターン制御回路と、パターン制御回路から供給される信号に基づきプラズマ
ディスプレイパネルを駆動する駆動回路と、を有することを特徴とするプラズマディスプレイパネル
の駆動回路。
【請求項２】上記パターン制御回路は、複数のテスト
パターンを発生することが可能であり、パターン切換信号に応じて、上記複数のテストパターン
を切り換えて出力することを特徴とする請求項１に記載
のプラズマディスプレイパネルの駆動回路。
【請求項３】電源投入に応じて始動し、所定時間経過
に応じてパターン切換信号を出力するタイマ回路をさら
に有することを特徴とする請求項２に記載のプラズマデ
ィスプレイパネルの駆動回路。