JPH10274511A - フィルム厚み斑検出方法 - Google Patents
フィルム厚み斑検出方法Info
- Publication number
- JPH10274511A JPH10274511A JP7971497A JP7971497A JPH10274511A JP H10274511 A JPH10274511 A JP H10274511A JP 7971497 A JP7971497 A JP 7971497A JP 7971497 A JP7971497 A JP 7971497A JP H10274511 A JPH10274511 A JP H10274511A
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- JP
- Japan
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- light
- film
- roll
- film roll
- measuring
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- Pending
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- Processing And Handling Of Plastics And Other Materials For Molding In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の硬度計による測定方法では、フィルム
の硬度が高い場合には測定ができず、また硬度計を押し
当てることになるため、測定した物に損傷をおよぼすた
めに製品とすることができない課題がある。 【解決手段】 対象物を含む空間領域に光を照射して、
対象物により遮られる光の量および／または形を測定す
ることにより、対象物の寸法および／または位置を測定
する遮断光測定型寸法測定手段を用いて、測定対象のフ
ィルムをロール状に巻いたフィルムロールの状態にし
て、フィルムロールのロール軸に沿った方向でのフィル
ムロールの外形寸法の変化を測定することにより、フィ
ルムの厚み斑を検出する。
の硬度が高い場合には測定ができず、また硬度計を押し
当てることになるため、測定した物に損傷をおよぼすた
めに製品とすることができない課題がある。 【解決手段】 対象物を含む空間領域に光を照射して、
対象物により遮られる光の量および／または形を測定す
ることにより、対象物の寸法および／または位置を測定
する遮断光測定型寸法測定手段を用いて、測定対象のフ
ィルムをロール状に巻いたフィルムロールの状態にし
て、フィルムロールのロール軸に沿った方向でのフィル
ムロールの外形寸法の変化を測定することにより、フィ
ルムの厚み斑を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、フィルムの厚み斑
を検出する方法に関するものである。
を検出する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】プラスチックフィルムの製造工程におい
ては、その厚み斑を管理することは重要な課題である。
従来、そうした厚み斑を検出する方法としては、まずは
製造したフィルムをロール状に巻いたフィルムロールの
状態にする。そしてフィルムロールのロール軸に沿った
方向、すなわちフィルムの幅方向に沿って、フィルムロ
ールの側面に硬度計を押し当ててフィルムロールの硬度
変化を計測する。その際フィルムに厚み斑があると、巻
き取ったフィルムロールのフィルム間に隙間ができるた
め、硬度の変化としてそれを検出することができる。
ては、その厚み斑を管理することは重要な課題である。
従来、そうした厚み斑を検出する方法としては、まずは
製造したフィルムをロール状に巻いたフィルムロールの
状態にする。そしてフィルムロールのロール軸に沿った
方向、すなわちフィルムの幅方向に沿って、フィルムロ
ールの側面に硬度計を押し当ててフィルムロールの硬度
変化を計測する。その際フィルムに厚み斑があると、巻
き取ったフィルムロールのフィルム間に隙間ができるた
め、硬度の変化としてそれを検出することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】フィルムの硬度が１２
０度以上となると従来の硬度計では測定が困難であり、
また硬度計で測定した後の製品ロールは、硬度計を押し
当てているために不良品として処理され、製品としての
価値を失う課題があった。
０度以上となると従来の硬度計では測定が困難であり、
また硬度計で測定した後の製品ロールは、硬度計を押し
当てているために不良品として処理され、製品としての
価値を失う課題があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のフィルム厚み斑
検出方法は、対象物を含む空間領域に光を照射して、対
象物により遮られる光の量および／または形を測定する
ことにより、対象物の寸法および／または位置を測定す
る遮断光測定型寸法測定手段を用いて、測定対象のフィ
ルムをロール状に巻いたフィルムロールの状態にして、
フィルムロールのロール軸に沿った方向でのフィルムロ
ールの外形寸法の変化を測定することにより、フィルム
の厚み斑を検出することを特徴としている。これによ
り、フィルムロールのロール軸に沿った方向でのフィル
ムロールの外形寸法の変化、すなわちフィルムロールの
外径の変化を、非接触で測定することができる。さら
に、測定対象の硬度に関わりなく測定ができる。
検出方法は、対象物を含む空間領域に光を照射して、対
象物により遮られる光の量および／または形を測定する
ことにより、対象物の寸法および／または位置を測定す
る遮断光測定型寸法測定手段を用いて、測定対象のフィ
ルムをロール状に巻いたフィルムロールの状態にして、
フィルムロールのロール軸に沿った方向でのフィルムロ
ールの外形寸法の変化を測定することにより、フィルム
の厚み斑を検出することを特徴としている。これによ
り、フィルムロールのロール軸に沿った方向でのフィル
ムロールの外形寸法の変化、すなわちフィルムロールの
外径の変化を、非接触で測定することができる。さら
に、測定対象の硬度に関わりなく測定ができる。
【０００５】こうした本発明においては、遮断光測定型
寸法測定手段は、対象物を含む空間領域に光を照射する
投光部と、対象物により遮られた光を測定する受光部と
を備え、投光部から照射する光には平行光化したレーザ
光を用い、受光部では光を測定するためにフィルムロー
ルのロール軸と垂直な方向に配列させた１次元イメージ
センサを用いることが好ましい。レーザ光、特にその光
源として半導体レーザを用いることで、光源の小型化
や、測定用光の制御が行ないやすく測定精度の向上を図
ることができる。特に光源の光量を周期的に変動させる
制御を行なうことで、周囲環境からの光の影響を防ぐこ
とができる。また１次元イメージセンサは、小形な装置
で精度よい測定を行なうことができる。
寸法測定手段は、対象物を含む空間領域に光を照射する
投光部と、対象物により遮られた光を測定する受光部と
を備え、投光部から照射する光には平行光化したレーザ
光を用い、受光部では光を測定するためにフィルムロー
ルのロール軸と垂直な方向に配列させた１次元イメージ
センサを用いることが好ましい。レーザ光、特にその光
源として半導体レーザを用いることで、光源の小型化
や、測定用光の制御が行ないやすく測定精度の向上を図
ることができる。特に光源の光量を周期的に変動させる
制御を行なうことで、周囲環境からの光の影響を防ぐこ
とができる。また１次元イメージセンサは、小形な装置
で精度よい測定を行なうことができる。
【０００６】さらにまた、投光部と受光部とを共通の構
造物上に対向して配置して一体型構成の投受光部とし、
フィルムロールのロール軸とは平行に投受光部を移動さ
せつつ、フィルムロールの外形寸法の変化を測定するこ
とが好ましい。これにより測定装置の小型化や測定精度
の向上を図ることができる。
造物上に対向して配置して一体型構成の投受光部とし、
フィルムロールのロール軸とは平行に投受光部を移動さ
せつつ、フィルムロールの外形寸法の変化を測定するこ
とが好ましい。これにより測定装置の小型化や測定精度
の向上を図ることができる。
【０００７】
【実施例】図１は、本発明のフィルム厚み斑検出方法を
用いたフィルム厚み斑検出の一例である。また図２は図
１の側面図である。図中、１は対象のフィルムをロール
状に巻いたフィルムロール、２はフィルムロールを固定
する取付けベース、３は平行光化したレーザ光をフィル
ムロールのロール側面の稜線部に照射する投光部、４は
フィルムロールのロール軸と垂直な方向に配列させた１
次元イメージセンサを備えた受光部、５は投光部３と受
光部４が対向して固定された移動ベースである。
用いたフィルム厚み斑検出の一例である。また図２は図
１の側面図である。図中、１は対象のフィルムをロール
状に巻いたフィルムロール、２はフィルムロールを固定
する取付けベース、３は平行光化したレーザ光をフィル
ムロールのロール側面の稜線部に照射する投光部、４は
フィルムロールのロール軸と垂直な方向に配列させた１
次元イメージセンサを備えた受光部、５は投光部３と受
光部４が対向して固定された移動ベースである。
【０００８】フィルムロール１は、そのロール軸が取付
けベース２の基準面に対して平行に固定される。また投
光部３と受光部４はその光軸が、取付けベースの基準面
に対して平行になる構成となっており、その平行の関係
を維持したまま移動ベース５は、フィルムロール１のロ
ール軸方向に移動できる構造になっている。
けベース２の基準面に対して平行に固定される。また投
光部３と受光部４はその光軸が、取付けベースの基準面
に対して平行になる構成となっており、その平行の関係
を維持したまま移動ベース５は、フィルムロール１のロ
ール軸方向に移動できる構造になっている。
【０００９】そして移動ベース５を移動させつつ、投光
部３からの光をフィルムロールの稜線が遮る光量を受光
部４で計測することにより、フィルムロールのロール軸
に沿った方向でのフィルムロールの外形寸法の変化、す
なわち外径寸法の変化を測定することができる。この寸
法変化が検出されれば、それによってフィルムの厚み斑
を検出したことになる。
部３からの光をフィルムロールの稜線が遮る光量を受光
部４で計測することにより、フィルムロールのロール軸
に沿った方向でのフィルムロールの外形寸法の変化、す
なわち外径寸法の変化を測定することができる。この寸
法変化が検出されれば、それによってフィルムの厚み斑
を検出したことになる。
【００１０】表１には、移動ベース５を移動させつつ測
定した各位置での外径寸法の変化を示す。なお表中での
外径寸法は、最初の位置を１００％として規格化した値
である。測定位置により外径寸法が変化していることが
検出でき、フィルムに厚み斑の生じていることが検出で
きる。
定した各位置での外径寸法の変化を示す。なお表中での
外径寸法は、最初の位置を１００％として規格化した値
である。測定位置により外径寸法が変化していることが
検出でき、フィルムに厚み斑の生じていることが検出で
きる。
【００１１】
【表１】
【００１２】
【発明の効果】以上記述したように本発明は、対象とな
るフィルムに損傷を与えることなく、非接触で精度良く
厚み斑を測定することができる。さらには、従来の硬度
計による測定方法では測定できなかった硬度が高いフィ
ルムの測定も可能となる。
るフィルムに損傷を与えることなく、非接触で精度良く
厚み斑を測定することができる。さらには、従来の硬度
計による測定方法では測定できなかった硬度が高いフィ
ルムの測定も可能となる。
【図１】厚み斑検出装置
【図２】厚み斑検出装置（側面）
１ フィルムロール ２ 取付けベース ３ 投光部 ４ 受光部 ５ 移動ベース
Claims (3)
- 【請求項１】 対象物を含む空間領域に光を照射して、
対象物により遮られる光の量および／または形を測定す
ることにより、対象物の寸法および／または位置を測定
する遮断光測定型寸法測定手段を用いて、測定対象のフ
ィルムをロール状に巻いたフィルムロールの状態にし
て、フィルムロールのロール軸に沿った方向でのフィル
ムロールの外形寸法の変化を測定することにより、フィ
ルムの厚み斑を検出することを特徴とするフィルム厚み
斑検出方法。 - 【請求項２】 遮断光測定型寸法測定手段は、対象物を
含む空間領域に光を照射する投光部と、対象物により遮
られた光を測定する受光部とを備え、投光部から照射す
る光には平行光化したレーザ光を用い、受光部では光を
測定するためにフィルムロールのロール軸と垂直な方向
に配列させた１次元イメージセンサを用いることを特徴
とする請求項１記載のフィルム厚み斑検出方法。 - 【請求項３】 投光部と受光部とを共通の構造物上に対
向して配置して一体型構成の投受光部とし、フィルムロ
ールのロール軸とは平行に投受光部を移動させつつ、フ
ィルムロールの外形寸法の変化を測定することを特徴と
する請求項１〜２のいずれかに記載のフィルム厚み斑検
出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7971497A JPH10274511A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | フィルム厚み斑検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7971497A JPH10274511A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | フィルム厚み斑検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10274511A true JPH10274511A (ja) | 1998-10-13 |
Family
ID=13697886
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7971497A Pending JPH10274511A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | フィルム厚み斑検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10274511A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010185763A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Mitsubishi Plastics Inc | フィルムの平面性検査装置および平面性検査方法 |
| CN111590389A (zh) * | 2020-05-28 | 2020-08-28 | 中信戴卡股份有限公司 | 端面平整检测装置和检测方法及车轮毛坯机加防撞装置 |
-
1997
- 1997-03-31 JP JP7971497A patent/JPH10274511A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010185763A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Mitsubishi Plastics Inc | フィルムの平面性検査装置および平面性検査方法 |
| CN111590389A (zh) * | 2020-05-28 | 2020-08-28 | 中信戴卡股份有限公司 | 端面平整检测装置和检测方法及车轮毛坯机加防撞装置 |
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