JPH10267626A - 端子外観検査装置及び検査方法 - Google Patents
端子外観検査装置及び検査方法Info
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- JPH10267626A JPH10267626A JP7099297A JP7099297A JPH10267626A JP H10267626 A JPH10267626 A JP H10267626A JP 7099297 A JP7099297 A JP 7099297A JP 7099297 A JP7099297 A JP 7099297A JP H10267626 A JPH10267626 A JP H10267626A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】端子の外観検査手段を自動化することにより、
検査精度の向上を図り、ひいては最終製品の品質向上を
達成することを目的とする。 【解決手段】被測定物である端子１を所定の溝にはめる
ことにより特定方向へ位置決めする手段３と、これによ
り位置決めされた端子１を間欠運動させながらレール８
上を一定方向に送る手段と、この送り手段によって端子
１の運動が止まった時点でこれにレーザ光を照射し受光
パターンを測定することで外観の異常を検査する手段
と、この手段によって異常が検出された端子１について
は送り手段による移動中にこれを排除せしめる手段と、
を備えたことを特徴とする。
検査精度の向上を図り、ひいては最終製品の品質向上を
達成することを目的とする。 【解決手段】被測定物である端子１を所定の溝にはめる
ことにより特定方向へ位置決めする手段３と、これによ
り位置決めされた端子１を間欠運動させながらレール８
上を一定方向に送る手段と、この送り手段によって端子
１の運動が止まった時点でこれにレーザ光を照射し受光
パターンを測定することで外観の異常を検査する手段
と、この手段によって異常が検出された端子１について
は送り手段による移動中にこれを排除せしめる手段と、
を備えたことを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、端子の寸法、ネジ
切りの有無等の外観を自動的に検査する端子外観検査装
置及び検査方法に係り、主に配電用避雷器に用いる端子
外観検査装置及び検査方法に関する。
切りの有無等の外観を自動的に検査する端子外観検査装
置及び検査方法に係り、主に配電用避雷器に用いる端子
外観検査装置及び検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】配電用避雷器の端部に据え付けるための
端子は、図８に示すように、通常のものとは異なった特
殊な形状を有する。この端子を避雷器本体に組込む工程
において、避雷器本体の信頼性を確保するべく端子外観
の検査がなされるが、従来では、作業者自身が目視によ
り係る検査を行っていた。
端子は、図８に示すように、通常のものとは異なった特
殊な形状を有する。この端子を避雷器本体に組込む工程
において、避雷器本体の信頼性を確保するべく端子外観
の検査がなされるが、従来では、作業者自身が目視によ
り係る検査を行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記に
示す従来の検査方法では、一連の避雷器組み立てライン
の中で行われるため、ラインのピッチタイムに従った素
早い判定が必要であり、作業者の疲労による判定ミスを
生じさせる問題があった。更に、この判定には熟練を要
するため、作業者の習熟度如何によって判定値にバラツ
キが生じるといった問題もあった。
示す従来の検査方法では、一連の避雷器組み立てライン
の中で行われるため、ラインのピッチタイムに従った素
早い判定が必要であり、作業者の疲労による判定ミスを
生じさせる問題があった。更に、この判定には熟練を要
するため、作業者の習熟度如何によって判定値にバラツ
キが生じるといった問題もあった。
【０００４】本発明は、上記諸問題を解決するためにな
されたものであり、その目的は、端子の外観検査手段を
自動化することにより、検査精度の向上を図り、ひいて
は最終製品の品質向上を達成するための端子外観検査装
置及び検査方法を提供することにある。
されたものであり、その目的は、端子の外観検査手段を
自動化することにより、検査精度の向上を図り、ひいて
は最終製品の品質向上を達成するための端子外観検査装
置及び検査方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
めに、本発明においては請求項１の発明として、被測定
物である端子を所定の溝にはめることにより特定方向へ
位置決めする手段と、これにより位置決めされた前記端
子を間欠運動させながら移動路上を一定方向に送る手段
と、この送り手段によって前記端子の運動が止まった時
点でこれにレーザ光を照射し受光パターンを測定するこ
とで外観の異常を検査する手段と、この手段によって異
常が検出された端子については前記送り手段による移動
中にこれを排除せしめる手段と、を備えたことを特徴と
する端子外観検査装置を提供する。
めに、本発明においては請求項１の発明として、被測定
物である端子を所定の溝にはめることにより特定方向へ
位置決めする手段と、これにより位置決めされた前記端
子を間欠運動させながら移動路上を一定方向に送る手段
と、この送り手段によって前記端子の運動が止まった時
点でこれにレーザ光を照射し受光パターンを測定するこ
とで外観の異常を検査する手段と、この手段によって異
常が検出された端子については前記送り手段による移動
中にこれを排除せしめる手段と、を備えたことを特徴と
する端子外観検査装置を提供する。
【０００６】かかる構成を有する端子外観検査装置にお
いては、一連の検査工程を自動で行い得るため、安定し
た検査精度の得られるために品質の安定した確保が可能
となる。
いては、一連の検査工程を自動で行い得るため、安定し
た検査精度の得られるために品質の安定した確保が可能
となる。
【０００７】また、請求項２の発明として、前記位置決
め手段は、端子が所定の溝にはまった場合にはこれを検
知するセンサを有し、このセンサからの指令に基いて前
記溝を開放し前記端子を落下せしめるものであることを
特徴とする請求項１記載の端子外観検査装置を提供す
る。
め手段は、端子が所定の溝にはまった場合にはこれを検
知するセンサを有し、このセンサからの指令に基いて前
記溝を開放し前記端子を落下せしめるものであることを
特徴とする請求項１記載の端子外観検査装置を提供す
る。
【０００８】かかる構成を有する端子外観検査装置にお
いては、適正位置にはまっていない端子を除外し得るた
め、適正な測定が可能となる。また、請求項３の発明と
して、前記位置決め手段にて端子が所定の溝にはまらな
かった場合には、この溝の下方からエアーを吹き付ける
手段を有することを特徴とする請求項１あるいは請求項
２記載の端子外観検査装置を提供する。
いては、適正位置にはまっていない端子を除外し得るた
め、適正な測定が可能となる。また、請求項３の発明と
して、前記位置決め手段にて端子が所定の溝にはまらな
かった場合には、この溝の下方からエアーを吹き付ける
手段を有することを特徴とする請求項１あるいは請求項
２記載の端子外観検査装置を提供する。
【０００９】かかる構成を有する端子外観検査装置にお
いては、適正位置にはまっていない端子であっても吹き
上げられ回転することで再び適正位置にはまるからであ
る。また、請求項４の発明として、前記送り手段は、端
子の移動方向と同一方向に往復運動しかつ一方向に運動
する際に移動路上の端子に力を印加することで端子を移
動せしめるものであることを特徴とする請求項１記載の
端子外観検査装置を提供する。
いては、適正位置にはまっていない端子であっても吹き
上げられ回転することで再び適正位置にはまるからであ
る。また、請求項４の発明として、前記送り手段は、端
子の移動方向と同一方向に往復運動しかつ一方向に運動
する際に移動路上の端子に力を印加することで端子を移
動せしめるものであることを特徴とする請求項１記載の
端子外観検査装置を提供する。
【００１０】かかる構成を有する端子外観検査装置にお
いては、端子の移動に際し間欠運動が可能となるため、
端子の安定した測定が可能となる。また、請求項５の発
明として、前記検査手段は、端子を介してレーザ光発光
部及び受光部を対向して配置し、受光部で受けたレーザ
光の検出光量を測定することで端子の外観の異常を検出
するものであることを特徴とする請求項１記載の端子外
観検査装置を提供する。
いては、端子の移動に際し間欠運動が可能となるため、
端子の安定した測定が可能となる。また、請求項５の発
明として、前記検査手段は、端子を介してレーザ光発光
部及び受光部を対向して配置し、受光部で受けたレーザ
光の検出光量を測定することで端子の外観の異常を検出
するものであることを特徴とする請求項１記載の端子外
観検査装置を提供する。
【００１１】かかる構成を有する端子外観検査装置にお
いては、端子の外観形状に異常を持った端子の測定が可
能となる。また、請求項６の発明として、前記検査手段
は、端子を介してレーザ光発光部及び受光部を対向して
配置し、この受光部の投影面には端子の外観形状に合わ
せて光電素子を配置し、この素子のレーザ光検知有無に
より端子の外観の異常を検出するものであることを特徴
とする請求項１記載の端子外観検査装置を提供する。
いては、端子の外観形状に異常を持った端子の測定が可
能となる。また、請求項６の発明として、前記検査手段
は、端子を介してレーザ光発光部及び受光部を対向して
配置し、この受光部の投影面には端子の外観形状に合わ
せて光電素子を配置し、この素子のレーザ光検知有無に
より端子の外観の異常を検出するものであることを特徴
とする請求項１記載の端子外観検査装置を提供する。
【００１２】かかる構成を有する端子外観検査装置にお
いては、複雑な外観形状であってもレーザ光のビーム性
により高精度の測定が可能となる。また、請求項７の発
明として、前記排除手段は、前記送り手段における移動
路中に解放機構を設け、前記検査手段にて異常が検出さ
れた端子が前記解放機構にさしかかった際にこれを開放
するものであることを特徴とする請求項１記載の端子外
観検査装置を提供する。
いては、複雑な外観形状であってもレーザ光のビーム性
により高精度の測定が可能となる。また、請求項７の発
明として、前記排除手段は、前記送り手段における移動
路中に解放機構を設け、前記検査手段にて異常が検出さ
れた端子が前記解放機構にさしかかった際にこれを開放
するものであることを特徴とする請求項１記載の端子外
観検査装置を提供する。
【００１３】かかる構成を有する端子外観検査装置にお
いては、簡略な構成により異常端子の排除が可能とな
る。また、請求項８の発明として、被測定物である端子
の外観の異常を検出する方法において、端子を介して光
発光部及び受光部を対向して配置し、受光部で受けた光
の検出光量を測定することで異常を検出することを特徴
とする端子外観検査方法を提供する。
いては、簡略な構成により異常端子の排除が可能とな
る。また、請求項８の発明として、被測定物である端子
の外観の異常を検出する方法において、端子を介して光
発光部及び受光部を対向して配置し、受光部で受けた光
の検出光量を測定することで異常を検出することを特徴
とする端子外観検査方法を提供する。
【００１４】かかる構成を有する端子外観検査方法にお
いては、端子の外観形状に異常を持った端子の測定が可
能となる。また、請求項９の発明として、被測定物であ
る端子の外観の異常を検査する方法において、端子を介
してレーザ光発光部及び受光部を対向して配置し、この
受光部の投影面には端子の外観形状に合わせて光電素子
を配置し、この素子のレーザ光検知有無により異常を検
出することを特徴とする端子外観検査方法を提供する。
かかる構成を有する端子外観検査方法においては、複雑
な外観形状であってもレーザ光のビーム性により高精度
の測定が可能となる。
いては、端子の外観形状に異常を持った端子の測定が可
能となる。また、請求項９の発明として、被測定物であ
る端子の外観の異常を検査する方法において、端子を介
してレーザ光発光部及び受光部を対向して配置し、この
受光部の投影面には端子の外観形状に合わせて光電素子
を配置し、この素子のレーザ光検知有無により異常を検
出することを特徴とする端子外観検査方法を提供する。
かかる構成を有する端子外観検査方法においては、複雑
な外観形状であってもレーザ光のビーム性により高精度
の測定が可能となる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の第一の実施の形態
を図１から図６を参照して説明する。図１は、本実施形
態の端子外観検査装置の正面図である。ここで、ホース
２は被測定物である端子を、エアーで強制的に送り込む
ための管路である。位置決め機構３は、ホース２によっ
て送られてきた端子を、検査のために所定の位置に揃え
る機構であり、詳細構造及び動作原理は後述する。レー
ル８は、位置決めされた端子を定められた位置までスラ
イドさせるために用いられる。端子は、このレール８上
をスライドしながら種々の測定がなされ、最終的には排
除機構４にて所定の処分がなされる。これらの部分の詳
細構造等についても後述する。なお、図２は、図１に示
す端子外観検査装置を平面から図示したものである。
を図１から図６を参照して説明する。図１は、本実施形
態の端子外観検査装置の正面図である。ここで、ホース
２は被測定物である端子を、エアーで強制的に送り込む
ための管路である。位置決め機構３は、ホース２によっ
て送られてきた端子を、検査のために所定の位置に揃え
る機構であり、詳細構造及び動作原理は後述する。レー
ル８は、位置決めされた端子を定められた位置までスラ
イドさせるために用いられる。端子は、このレール８上
をスライドしながら種々の測定がなされ、最終的には排
除機構４にて所定の処分がなされる。これらの部分の詳
細構造等についても後述する。なお、図２は、図１に示
す端子外観検査装置を平面から図示したものである。
【００１６】次に、図１及び図２に示す位置決め機構３
の詳細構造をその平面図である図３及び断面図である図
４を参照して説明する。図３及び図４に示すように、ホ
ース２から送られた端子１は、所定の溝にはまることに
より、位置決めがなされる。なお、図１に示す光電セン
サ７は、端子の有無を検知するべくフィンガ６の下面に
取り付けたものである。この際、図４に示す如く所定位
置に端子１がはまらない場合にはこの光電センサ７によ
り位置決め不良が検知される。位置決めが適切になされ
た場合には、図３に示す、開閉機構を有するエアチャッ
ク５を介してフィンガ６が開くことにより、端子１は図
１に示すレール８上に落下する。
の詳細構造をその平面図である図３及び断面図である図
４を参照して説明する。図３及び図４に示すように、ホ
ース２から送られた端子１は、所定の溝にはまることに
より、位置決めがなされる。なお、図１に示す光電セン
サ７は、端子の有無を検知するべくフィンガ６の下面に
取り付けたものである。この際、図４に示す如く所定位
置に端子１がはまらない場合にはこの光電センサ７によ
り位置決め不良が検知される。位置決めが適切になされ
た場合には、図３に示す、開閉機構を有するエアチャッ
ク５を介してフィンガ６が開くことにより、端子１は図
１に示すレール８上に落下する。
【００１７】次に、レール８上に配置された端子の送り
機構について、図１を参照して説明する。固定部である
ベース１９とレール８との間には、往復運動を行うスラ
イドベース１２が配置されている。このスライドベース
１２上には開閉機構部であるハンド９を有するエアチャ
ック１１が設置されている。ハンド９の先端には、図２
に示すように端子の背を押し当ててレール上をスライド
するためのフィンガ１０が５個ずつ対向して付着されて
いる。また、スライドベース１２の往復運動の幅は、フ
ィンガ１０の配置間隔と同一である。
機構について、図１を参照して説明する。固定部である
ベース１９とレール８との間には、往復運動を行うスラ
イドベース１２が配置されている。このスライドベース
１２上には開閉機構部であるハンド９を有するエアチャ
ック１１が設置されている。ハンド９の先端には、図２
に示すように端子の背を押し当ててレール上をスライド
するためのフィンガ１０が５個ずつ対向して付着されて
いる。また、スライドベース１２の往復運動の幅は、フ
ィンガ１０の配置間隔と同一である。
【００１８】この送り機構は、スライドベース１２が排
除機構４側の方向（図中右方向）に駆動する際には全て
のフィンガ１０がレール８中央部を閉塞し、スライドベ
ース１２が位置決め機構３側の方向（図中左方向）に駆
動する際には全てのフィンガ１０がレール８の中央部を
開くように構成されているため、スライドベース１２の
往復運動毎に、端子はフィンガ１０の間隔分ずつ排除機
構４側の方向にスライドする。
除機構４側の方向（図中右方向）に駆動する際には全て
のフィンガ１０がレール８中央部を閉塞し、スライドベ
ース１２が位置決め機構３側の方向（図中左方向）に駆
動する際には全てのフィンガ１０がレール８の中央部を
開くように構成されているため、スライドベース１２の
往復運動毎に、端子はフィンガ１０の間隔分ずつ排除機
構４側の方向にスライドする。
【００１９】次に、端子検査手段について、図２を参照
して説明する。前述した送り機構によってスライドされ
た端子の設置位置には、フィンガ１０の間隔分ずつ４種
類のレーザセンサ（１３〜１６）が、レール８上の端子
を検査するべく配置されている。
して説明する。前述した送り機構によってスライドされ
た端子の設置位置には、フィンガ１０の間隔分ずつ４種
類のレーザセンサ（１３〜１６）が、レール８上の端子
を検査するべく配置されている。
【００２０】これらのレーザセンサは、一方のレーザ光
発光部が、対向する他方のレーザ光受光部に、端子を介
してレーザ光を照射することにより、受光部での検出光
量を測定することで端子の異常の有無を検出するもので
ある。配電用避雷器用の端子においては、図６に示す部
分のうち、フランジ厚さＡ、フランジ近傍のねじ切りの
有無の確認Ｂ、端子の中央部のねじ切りの有無の確認
Ｃ、端子の一端側の全長Ｄについて、その精度を測定す
る必要がある。そこで、これらを順に測定するべくレー
ザセンサを順に４つ設けたものである。具体的には、Ａ
部の測定では、端子のフランジ部の厚さが所定の基準値
を満たすことを合格の条件とするものであり、Ｂ部の測
定では、かかる箇所にまでネジが切られていることを確
認し合格の条件とするものであり、Ｃ部の測定では、ネ
ジの中央部におけるネジ切りの有無を確認し合格の条件
とするものであり、Ｄ部の測定では、端子の一端側の寸
法が所定の基準値を満たすことを合格の条件とするもの
である。また、図１及び図２に示すように、レーザセン
サ（１３〜１６）は一つ一つ配置が異なるが、かかる測
定箇所の違いを考慮して各々を構成したためである。ま
た、これらのレーザ光から作業者の目を保護するため、
この検査手段は安全カバー２０で覆われている。
発光部が、対向する他方のレーザ光受光部に、端子を介
してレーザ光を照射することにより、受光部での検出光
量を測定することで端子の異常の有無を検出するもので
ある。配電用避雷器用の端子においては、図６に示す部
分のうち、フランジ厚さＡ、フランジ近傍のねじ切りの
有無の確認Ｂ、端子の中央部のねじ切りの有無の確認
Ｃ、端子の一端側の全長Ｄについて、その精度を測定す
る必要がある。そこで、これらを順に測定するべくレー
ザセンサを順に４つ設けたものである。具体的には、Ａ
部の測定では、端子のフランジ部の厚さが所定の基準値
を満たすことを合格の条件とするものであり、Ｂ部の測
定では、かかる箇所にまでネジが切られていることを確
認し合格の条件とするものであり、Ｃ部の測定では、ネ
ジの中央部におけるネジ切りの有無を確認し合格の条件
とするものであり、Ｄ部の測定では、端子の一端側の寸
法が所定の基準値を満たすことを合格の条件とするもの
である。また、図１及び図２に示すように、レーザセン
サ（１３〜１６）は一つ一つ配置が異なるが、かかる測
定箇所の違いを考慮して各々を構成したためである。ま
た、これらのレーザ光から作業者の目を保護するため、
この検査手段は安全カバー２０で覆われている。
【００２１】なお、これら４箇所の検出で、一つでも異
常が発覚したものは、不良品と判定され、後述する排除
機構４にて排除される。次に、かかる一連の作業によっ
て端子の不良品を選別し排除する機構４について図１及
びレール８の断面をきった図５を参照して説明する。ま
ず、図１において、不良品については不良品収納部２２
にて排除され、合格品については装置外部に排出され
る。ここで、かかる不良品をレール８から不良品収納部
２２に落下させる機構として、図５に示す機構を用い
る。すなわち、不良品収納部２２上では、レール８の一
方がシャッター１８に切り換わる。このシャッター１８
は、エアシリンダ２１からの駆動力により図中左右方向
に往復運動することで、レール８上の端子１を落下せし
める。エアシリンダ２１への駆動指令は、前述の端子検
査手段で異常と判定された不良端子が排除機構４に来た
ことが光電センサ１７によって検知された際になされる
よう予め設定されている。
常が発覚したものは、不良品と判定され、後述する排除
機構４にて排除される。次に、かかる一連の作業によっ
て端子の不良品を選別し排除する機構４について図１及
びレール８の断面をきった図５を参照して説明する。ま
ず、図１において、不良品については不良品収納部２２
にて排除され、合格品については装置外部に排出され
る。ここで、かかる不良品をレール８から不良品収納部
２２に落下させる機構として、図５に示す機構を用い
る。すなわち、不良品収納部２２上では、レール８の一
方がシャッター１８に切り換わる。このシャッター１８
は、エアシリンダ２１からの駆動力により図中左右方向
に往復運動することで、レール８上の端子１を落下せし
める。エアシリンダ２１への駆動指令は、前述の端子検
査手段で異常と判定された不良端子が排除機構４に来た
ことが光電センサ１７によって検知された際になされる
よう予め設定されている。
【００２２】これら一連の構成を有する端子外観検査装
置においては、一連の検査工程を自動で行い得るため、
安定した品質の確保が可能となる。また、本発明の他の
実施形態として、図４に示す位置決め機構において、図
４に示すように所定位置に端子がはまることがなく、光
電センサ７により異常が検知された場合に、位置決め機
構の下方から、強力なエアーを吹き付けることにより端
子を吹き上げる図示せぬ機構を設けてもよい。かかる構
成を採用すれば、端子が回転し適正な所定位置にはまる
からである。
置においては、一連の検査工程を自動で行い得るため、
安定した品質の確保が可能となる。また、本発明の他の
実施形態として、図４に示す位置決め機構において、図
４に示すように所定位置に端子がはまることがなく、光
電センサ７により異常が検知された場合に、位置決め機
構の下方から、強力なエアーを吹き付けることにより端
子を吹き上げる図示せぬ機構を設けてもよい。かかる構
成を採用すれば、端子が回転し適正な所定位置にはまる
からである。
【００２３】また、本発明の更に他の実施形態として、
端子検査手段にて、図７に示すように、被測定物Ｅを介
して投影されたレーザ光受光部分Ｆに、光電素子Ｇ及び
Ｈを設け、光電素子Ｇでレーザ光が所定値以上検出され
なければ異常と判定し、光電素子Ｈでレーザ光を検出す
れば異常と判定する手法を用いてもよい。かかる構成を
採用すれば、レーザ光のビーム性、収束性により、複雑
な形状を有する外観に対しても高精度の検査が可能とな
る。
端子検査手段にて、図７に示すように、被測定物Ｅを介
して投影されたレーザ光受光部分Ｆに、光電素子Ｇ及び
Ｈを設け、光電素子Ｇでレーザ光が所定値以上検出され
なければ異常と判定し、光電素子Ｈでレーザ光を検出す
れば異常と判定する手法を用いてもよい。かかる構成を
採用すれば、レーザ光のビーム性、収束性により、複雑
な形状を有する外観に対しても高精度の検査が可能とな
る。
【００２４】なお、本発明の端子外観検査装置は、配電
用避雷器用の端子に限らず、端子検査手段の設定条件を
変えることであらゆる端子にも適用可能なことは言うま
でもない。
用避雷器用の端子に限らず、端子検査手段の設定条件を
変えることであらゆる端子にも適用可能なことは言うま
でもない。
【００２５】
【発明の効果】以上本発明においては、端子外観の検査
を自動化せしめたことにより、検査精度の向上を図り、
ひいては最終製品の品質向上の達成を可能とする。
を自動化せしめたことにより、検査精度の向上を図り、
ひいては最終製品の品質向上の達成を可能とする。
【図１】本発明の第一の実施形態の端子外観検査装置の
全体構造を示す正面図。
全体構造を示す正面図。
【図２】図１に示した端子外観検査装置の平面図。
【図３】図１に示した端子外観検査装置のうち位置決め
機構の詳細構造を示す平面図。
機構の詳細構造を示す平面図。
【図４】図３に示した位置決め機構の詳細構造を示す断
面図。
面図。
【図５】図１及び図２に示す選別機構の断面図。
【図６】配電用避雷器に用いる端子の測定部分を示す
図。
図。
【図７】本発明の他の実施形態における端子検査手段を
示す図。
示す図。
【図８】配電用避雷器に用いる端子の形状を示す平面図
及び正面図。
及び正面図。
１…端子、３…位置決め機構、４…排除機構、７…光電
センサ、８…レール、１８…シャッター。
センサ、８…レール、１８…シャッター。
Claims (9)
- 【請求項１】被測定物である端子を所定の溝にはめるこ
とにより特定方向へ位置決めする手段と、これにより位
置決めされた前記端子を間欠運動させながら移動路上を
一定方向に送る手段と、この送り手段によって前記端子
の運動が止まった時点でこれにレーザ光を照射し受光パ
ターンを測定することで外観の異常を検査する手段と、
この手段によって異常が検出された端子については前記
送り手段による移動中にこれを排除せしめる手段と、を
備えたことを特徴とする端子外観検査装置。 - 【請求項２】前記位置決め手段は、端子が所定の溝には
まった場合にはこれを検知するセンサを有し、このセン
サからの指令に基いて前記溝を開放し前記端子を落下せ
しめるものであることを特徴とする請求項１記載の端子
外観検査装置。 - 【請求項３】前記位置決め手段にて端子が所定の溝には
まらなかった場合には、この溝の下方からエアーを吹き
付ける手段を有することを特徴とする請求項１あるいは
請求項２記載の端子外観検査装置。 - 【請求項４】前記送り手段は、端子の移動方向と同一方
向に往復運動しかつ一方向に運動する際に移動路上の端
子に力を印加することで端子を移動せしめるものである
ことを特徴とする請求項１記載の端子外観検査装置。 - 【請求項５】前記検査手段は、端子を介してレーザ光発
光部及び受光部を対向して配置し、受光部で受けたレー
ザ光の検出光量を測定することで端子の外観の異常を検
出するものであることを特徴とする請求項１記載の端子
外観検査装置。 - 【請求項６】前記検査手段は、端子を介してレーザ光発
光部及び受光部を対向して配置し、この受光部の投影面
には端子の外観形状に合わせて光電素子を配置し、この
素子のレーザ光検知有無により端子の外観の異常を検出
するものであることを特徴とする請求項１記載の端子外
観検査装置。 - 【請求項７】前記排除手段は、前記送り手段における移
動路中に解放機構を設け、前記検査手段にて異常が検出
された端子が前記解放機構にさしかかった際にこれを開
放するものであることを特徴とする請求項１記載の端子
外観検査装置。 - 【請求項８】被測定物である端子の外観の異常を検出す
る方法において、端子を介して光発光部及び受光部を対
向して配置し、受光部で受けた光の検出光量を測定する
ことで異常を検出することを特徴とする端子外観検査方
法。 - 【請求項９】被測定物である端子の外観の異常を検査す
る方法において、端子を介してレーザ光発光部及び受光
部を対向して配置し、この受光部の投影面には端子の外
観形状に合わせて光電素子を配置し、この素子のレーザ
光検知有無により異常を検出することを特徴とする端子
外観検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7099297A JPH10267626A (ja) | 1997-03-25 | 1997-03-25 | 端子外観検査装置及び検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7099297A JPH10267626A (ja) | 1997-03-25 | 1997-03-25 | 端子外観検査装置及び検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10267626A true JPH10267626A (ja) | 1998-10-09 |
Family
ID=13447560
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7099297A Pending JPH10267626A (ja) | 1997-03-25 | 1997-03-25 | 端子外観検査装置及び検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10267626A (ja) |
-
1997
- 1997-03-25 JP JP7099297A patent/JPH10267626A/ja active Pending
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