JPH10263455A - 膜形成装置および膜形成方法 - Google Patents

膜形成装置および膜形成方法

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JPH10263455A
JPH10263455A JP7154297A JP7154297A JPH10263455A JP H10263455 A JPH10263455 A JP H10263455A JP 7154297 A JP7154297 A JP 7154297A JP 7154297 A JP7154297 A JP 7154297A JP H10263455 A JPH10263455 A JP H10263455A
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Shinji Hirano
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Abstract

(57)【要約】 【課題】製造コストの削減が図られ、かつ均一な厚さの
膜が形成され、半導体ウエハ上に、例えば配線間隔の狭
い配線パターンを形成することにより半導体ウエハに凹
凸の曲面が形成された場合、配線により形成された凹部
を埋め込むように膜が形成されるなど、凹部の埋込み性
に優れた膜形成装置および膜形成方法を提供する。 【解決手段】半導体ウエハ固定部11に半導体ウエハ1
2を固定し、半導体ウエハ12にノズル31から温度1
0℃のSOG溶液を滴下し、半導体ウエハ12を200
0rpmで水平に回転させることにより溶液の膜を形成
し、半導体ウエハ12を20000rpmで水平に回転
させたまま、この溶液の膜が乾燥する前に、ノズル32
から温度23℃のSOG溶液を滴下する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ上に
溶液を滴下して膜を形成する膜形成装置および膜形成方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、半導体ウエハ上にSOG膜等
の膜を形成するにあたり、回転塗布法を採用した膜形成
装置が知られている。図2は、従来の膜形成装置を示す
図である。膜形成装置50は、半導体ウエハを水平に固
定する半導体ウエハ固定部11を備えている。この半導
体ウエハ固定部11は吸引口(図示せず)を有してお
り、この吸引口で半導体ウエハを吸引することにより、
図2に示すように半導体ウエハ12を水平に固定する。
また半導体ウエハ固定部11の下部には垂直に回転軸1
3が取り付けられており、回転軸13の下部には、この
回転軸13を回転させるモータ14が取り付けられてい
る。このモータ14により回転軸13が回転すると、半
導体ウエハ固定部11が水平に回転し、半導体ウエハ1
2が水平に回転する。また、回転塗布装置50は、半導
体ウエハ上に滴下される溶液の入った溶液タンク19を
有している。この溶液タンク19内の溶液は配管20を
流れ溶液吐出部21に送られる。この溶液吐出部21
は、配管20とは別のもう一つの配管22につながれて
おり、また、溶液吐出部21は、溶液吐出制御器(図示
せず)に接続されている。この溶液吐出制御器は、溶液
吐出部21から配管22に溶液を吐出するか否かを表す
信号を溶液吐出部21に送るものであり、溶液を吐出す
る旨を表わす信号が溶液吐出部21に送られると、溶液
吐出部21から配管22に溶液が吐出される。配管22
に吐出された溶液はこの配管22を流れ、配管22の先
端に取りつけられたノズル23から半導体ウエハ12上
に滴下される。また半導体ウエハ固定部11の周囲には
処理カップ15が設けられている。この処理カップ15
の底部には、半導体ウエハ周囲を排気する排気装置(図
示せず)につながる排気口16が設けられ、また処理カ
ップ15は、半導体ウエハに滴下される溶液に含まれる
溶剤の蒸発により生じる気流を調整する気流調整板17
を有しており、この気流調整板17で気流調整を行なう
ことにより、半導体ウエハ12上に形成される膜の厚さ
の均一化を図っている。また、処理カップ15の下部に
は、半導体ウエハ上に溶液を滴下した時に周囲に飛散す
る溶液を排出する排出口18が設けられている。
【0003】このように構成された回転塗布装置50を
用いて半導体ウエハ上に膜を形成する手順を以下に示
す。先ず、図2に示すように半導体ウエハ固定部11に
半導体ウエハ12を固定し、排気装置で半導体ウエハ1
2の周囲を排気する。次に、ノズル23から一定量の溶
液を半導体ウエハ12上に滴下し、半導体ウエハ固定部
11を回転させる。このように半導体ウエハ固定部11
を回転させることにより遠心力が発生し、半導体ウエハ
12上に溶液の膜が形成される。このように溶液の膜が
形成された半導体ウエハを400℃程度の温度で焼成す
ることにより半導体ウエハ12上に膜が形成される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した回転塗布装置
50では、半導体ウエハ12に膜厚の薄い膜を形成する
場合、ノズル23から滴下される溶液の滴下量を少量に
するが、このように、半導体ウエハ上に滴下される溶液
の滴下量が少ないと、溶液に含まれる溶剤の量も少ない
ため、滴下された溶液が膜状に成形される間にほとんど
の溶剤が蒸発してしまい、半導体ウエハ上に形成される
膜の厚さが膜の部位によってばらつき、均一な厚さを有
する膜を形成することは難しいという問題がある。
【0005】このような問題を解決する方法として特開
平5−243140号公報や特開平6−326014号
公報では、溶液の滴下に先立って、この溶液に含まれて
いる溶剤と同一の溶剤を半導体ウエハ上に滴下する方法
が開示されているが、このように溶剤を滴下すると、半
導体ウエハ上に滴下された溶液が局所的に薄まってしま
い、半導体ウエハに形成される膜の厚さが膜の部位によ
ってやはりばらついてしまうという問題がある。
【0006】また、特開平2−122615号公報や特
開平3−257920号公報では、半導体ウエハ自体を
冷却して半導体ウエハの温度を下げ、半導体ウエハ上に
滴下された溶液に含まれる溶剤の蒸発速度を遅くするこ
とにより均一な厚さの膜を形成する方法が開示されてい
るが、冷却された半導体ウエハの温度が半導体ウエハの
部位によって異なってしまうため、それぞれの部位によ
って溶剤の蒸発速度が異なり、均一な膜厚の膜を形成す
ることはやはり難しいという問題がある。
【0007】また、配線パターンが形成された半導体ウ
エハ上に溶液を滴下して膜を形成する場合、その配線パ
ターンに疎密の部分があると、半導体ウエハに滴下され
た溶液は、配線パターンの疎の部分では薄くたまり、配
線パターンの密の部分では厚くたまる性質があり、配線
パターンの疎密により、やはり膜の厚さがばらつくとい
う問題や、配線間の間隔が狭くなると、配線間に溶液が
入り込みにくく、配線間に膜を形成することが難しいと
いう問題もある。
【0008】このような問題を解決するため、特開平6
−170315号公報や特開平7−227568号公報
に、回転カップ式の膜形成装置が開示されている。この
装置は、内部に半導体ウエハ固定部を有するカップを備
えており、このカップは蓋をすることにより内部が密閉
され、半導体ウエハ固定部およびカップは、水平に回転
する。この回転カップ式の装置は、半導体ウエハ固定部
に半導体ウエハを固定した後、蓋をしてカップ内部を密
閉し、半導体ウエハ固定部とカップとを回転させること
により、半導体ウエハ上に膜を形成する。この装置を用
いると、配線パターンが形成された半導体ウエハに溶液
を滴下して膜を形成する場合、この配線パターンが疎密
の部分を有するものであっても、均一な厚さを有する膜
を形成することができる。
【0009】ところが、この回転カップ式の装置は、半
導体ウエハに滴下できる溶液の種類が限定されてしまう
という問題がある。また、回転カップ式の装置は、カッ
プ内の温度等を調整する調整ユニットが必要であり、コ
ストがかかるという問題がある。本発明は、上記事情に
鑑み、製造コストの削減が図られ、かつ均一な厚さの膜
が形成され、半導体ウエハ上に、例えば配線間隔の狭い
配線パターンを形成することにより半導体ウエハに凹凸
の曲面が形成された場合、配線により形成された凹部を
埋め込むように膜が形成されるなど、凹部の埋込み性に
優れた膜形成装置および膜形成方法を提供することを目
的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の膜形成装置は、半導体ウエハ上に溶液を滴下して膜
を形成する膜形成装置において、 (1)半導体ウエハを水平に固定する半導体ウエハ固定
部 (2)この半導体ウエハ固定部を水平に回転させる回転
手段 (3)所定の温度を有する溶液を、上記半導体ウエハ固
定部に固定された半導体ウエハ上に滴下する第1の溶液
滴下手段 (4)上記溶液と同一の溶液であって、かつ上記所定の
温度よりも高い温度を有する溶液を、前記半導体ウエハ
上に滴下する第2の溶液滴下手段 (5)上記半導体ウエハに上記第1の溶液滴下手段によ
る溶液の滴下が終了した後に、上記第2の溶液滴下手段
による溶液の滴下が開始されるように、溶液の滴下順序
を制御する溶液滴下制御器を備えたことを特徴とする。
【0011】第1の溶液滴下手段により滴下される溶液
は、この溶液の温度が第2の溶液滴下手段により滴下さ
れる溶液の温度よりも低いため、第2の溶液滴下手段に
より滴下される溶液と比較して、溶液中の溶剤は蒸発し
にくい。従って、第1の溶液滴下手段により滴下される
溶液の温度を低く設定することにより、粘性の低い溶液
を滴下することができる。本発明の膜形成装置は、溶液
滴下制御器により、初めに第1の溶液滴下手段により溶
液を滴下するため、例えば配線間隔の狭い配線パターン
が形成された半導体ウエハに溶液を滴下する場合、第1
の溶液滴下手段により滴下される溶液の温度を低い温度
に設定することにより、この半導体基板上には粘性の低
い溶液が滴下される。従って、この溶液は配線間に入り
込みやすく、半導体ウエハを回転させることにより、こ
の粘性の低い溶液は配線間を埋め込むように膜状に成形
される。この膜状に成形された溶液が十分溶剤を含んで
いる間に第2の溶液滴下手段により溶液を滴下すると、
この溶液は、膜状に成形された溶液中に含まれる溶剤に
より、膜状に広がりやすい。従って、均一の厚さを有
し、配線間を埋込むような膜が形成される。
【0012】また、本発明の膜形成装置は、半導体ウエ
ハ周囲の温度等を調整する調整ユニットは不要であり、
コストの削減が図られる。ここで本発明の膜形成装置が
備える第1の溶液滴下手段および第2の溶液滴下手段に
より滴下される溶液が、いずれも、レジスト溶液、SO
G溶液、およびポリイミド溶液のうちのいずれかの溶液
であると、半導体ウエハ上にレジスト膜、SOG膜、お
よびポリイミド膜のうちのいずれかの膜を均一な厚さを
有するように形成することができる。
【0013】また、上記目的を達成する本発明の膜形成
装置は、 (1)半導体ウエハ上に溶液を滴下して膜を形成する膜
形成方法において、半導体ウエハを水平に保持して水平
に回転させ、かつ所定の温度を有する溶液を滴下する第
1の工程 (2)上記第1の工程が終了した後、上記半導体ウエハ
を水平に保持して水平に回転させたまま、上記溶液と同
一の溶液であって、かつ上記所定の温度よりも高い温度
を有する溶液を滴下する第2の工程を備えたことを特徴
とする。
【0014】ここで、本発明の膜形成方法の第1の工程
および第2の工程が、いずれもレジスト溶液、SOG溶
液、およびポリイミド溶液のうちいずれかの溶液を滴下
する工程であってもよい。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。図1は、本発明の膜形成装置の一実施形態を
示す図である。図2に示す膜形成装置50と同一の構成
要素には同一番号を付して示し、膜形成装置50との相
違点のみについて説明する。
【0016】図1に示す膜形成装置10を構成する溶液
タンク24には10℃の温度に保温されているSOG溶
液が入っている。この溶液タンク24は10℃の温度に
保温された配管25,26とつながっており、溶液タン
ク24内の溶液は、配管25,26を流れる。この配管
25,26を流れる溶液は、それぞれ溶液吐出部27,
28に送られる。この溶液吐出部27,28は、それぞ
れ配管29,30につながれており、溶液吐出部27,
28は、いずれも溶液吐出制御器(図示せず)に接続さ
れている。この溶液吐出制御器は、溶液吐出部27から
配管29に溶液を吐出するか否かを表わす信号を溶液吐
出部27に送り、また、溶液吐出部28から配管30に
溶液を吐出するか否かを表わす信号を溶液吐出部28に
送るものであり、溶液を吐出する旨を表わす信号が溶液
吐出部27,28に送られると、配管29,30に溶液
が吐出される。
【0017】配管29,30は、それぞれ温度10℃、
23℃に保温されており、配管29,30を流れる溶液
は、この配管29の先端に取り付けられたノズル31に
到達し、このノズル31からは温度10℃の溶液が滴下
される。一方、配管30を流れる溶液は、この配管30
の先端に取り付けられたノズル32に到達するまでに温
度23℃の溶液となり、ノズル32からは温度23℃の
溶液が滴下される。また、この膜形成装置10は、ノズ
ル31から溶液が滴下されて、この溶液が膜状に成形さ
れた後に、ノズル32から滴液が滴下されるように、溶
液の滴下順序を制御する制御器(図示せず)を備えてい
る。
【0018】このように構成された回転塗布装置10を
用いて、半導体ウエハ上にSOG膜を形成する際の手順
を以下に説明する。先ず、図1に示すように半導体ウエ
ハ固定部11に半導体ウエハ12を固定し、排気装置で
半導体ウエハ12の周囲を排気する。次に、半導体ウエ
ハ12上にノズル31からSOG溶液を滴下し、モータ
14で半導体ウエハ固定部11を2000rpmで回転
させて、半導体ウエハ12上に溶液の膜を形成する。
【0019】次に、半導体ウエハ固定部11を2000
rpmで回転させたまま、上記の溶液の膜が乾燥する前
にノズル32から上記の溶液の膜にSOG溶液を滴下
し、溶液の膜を形成する。このように、異なる温度の溶
液を滴下して半導体ウエハ上に溶液の膜を形成する。次
に、このようにして形成された溶液の膜を乾燥させて窒
素雰囲気中で温度80℃、150℃、250℃の順に、
それぞれの温度で60秒間ベーキングを行なった後に、
さらに温度400℃で1時間焼成する。
【0020】このようにして半導体ウエハ上にSOG膜
が形成される。この膜形成装置10では、先ずノズル3
1から温度10℃の溶液が滴下されるため、例えば配線
パターンが形成された半導体ウエハにSOG膜を形成す
る場合、その配線パターンの配線間隔は狭くても、最初
にノズル31から滴下された溶液は粘度が低いため配線
間に容易に入り込む。また、ノズル31から溶液が滴下
されて形成された溶液の膜が乾燥する前に、ノズル32
から溶液が滴下されるため、ノズル32から滴下された
溶液は膜状に広がりやすく、均一の厚さを有し、埋込み
性に優れたSOG膜が形成される。
【0021】また、この膜形成装置10は、従来の技術
の欄で説明した回転カップ式の膜形成装置と比較して、
半導体ウエハの周囲の温度等を調整する調整ユニットは
不要であり、コストの削減が図られる。尚、本実施形態
では、SOG膜を形成する手順について述べたが、SO
G膜の代わりに、例えばポリイミド膜を形成する場合で
あっても、上述した手順により、平坦性の優れたポリイ
ミド膜を形成することができる。
【0022】また、本実施形態では、ノズル31,32
から滴下される溶液の温度は、それぞれ10℃、23℃
であるが、ノズル31から滴下される溶液の温度は、こ
の溶液が配線間に入り込む程度に低い粘度を有するので
あれば何℃でもよく、また、ノズル32から滴下される
溶液の温度は、ノズル31から滴下される溶液の温度よ
りも高い温度であって、ノズル32から滴下される溶液
が配線を覆うように成膜される程度に高い粘度を有する
のであれば何℃でもよい。
【0023】また、本実施形態では、半導体ウエハを2
000rpmで回転させているが、半導体ウエハの回転
数は、半導体ウエハ上に滴下された溶液が膜状に成形さ
れるのであれば、何回転数でもよく、また、本実施形態
では、ノズル31から溶液を滴下した後、半導体ウエハ
を回転させて膜を形成しているが、先に半導体ウエハを
回転させて、その後ノズル31から溶液を滴下してもよ
い。
【0024】また、本実施形態では、溶液を滴下するノ
ズルは2つであるが、ノズルは3つ以上備えていてもよ
く、このように、3つ以上のノズルを備え、それぞれの
ノズルから滴下される溶液の温度を異なる温度にするこ
とにより、半導体ウエハの表面の凹凸が更に複雑であっ
ても、均一の厚さを有する膜を形成することができる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の膜形成装
置および膜形成方法によれば、均一な厚さを有し、かつ
凹部を埋め込む状態に膜が形成される。また膜を形成す
る際にかかるコストを削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の膜形成装置を示す図である。
【図2】従来の膜形成装置を示す図である。
【符号の説明】 10 膜形成装置 11 半導体ウエハ固定部 12 半導体ウエハ 13 回転軸 14 モータ 15 処理カップ 16 排気口 17 気流調整板 18 排出口 24 溶液タンク 25,26,29,30 配管 27,28 溶液吐出部 31,32 ノズル

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体ウエハ上に溶液を滴下して膜を形
    成する膜形成装置において、 半導体ウエハを水平に固定する半導体ウエハ固定部と、 該半導体ウエハ固定部を水平に回転させる回転手段と、 所定の温度を有する溶液を、前記半導体ウエハ固定部に
    固定された半導体ウエハ上に滴下する第1の溶液滴下手
    段と、 前記溶液と同一の溶液であって、かつ前記所定の温度よ
    りも高い温度を有する溶液を、前記半導体ウエハ上に滴
    下する第2の溶液滴下手段と、 前記半導体ウエハに上記第1の溶液滴下手段による溶液
    の滴下が終了した後に、前記第2の溶液滴下手段による
    溶液の滴下が開始されるように、溶液の滴下順序を制御
    する溶液滴下制御器とを備えたことを特徴とする膜形成
    装置。
  2. 【請求項2】 前記第1の溶液滴下手段および第2の溶
    液滴下手段により滴下される溶液が、いずれも、レジス
    ト溶液、SOG溶液、およびポリイミド溶液のうちのい
    ずれかの溶液であることを特徴とする請求項1記載の膜
    形成装置。
  3. 【請求項3】 半導体ウエハ上に溶液を滴下して膜を形
    成する膜形成方法において、 半導体ウエハを水平に保持して水平に回転させ、かつ所
    定の温度を有する溶液を滴下する第1の工程と、 前記第1の工程が終了した後、前記半導体ウエハを水平
    に保持して水平に回転させたまま、前記溶液と同一の溶
    液であって、かつ前記所定の温度よりも高い温度を有す
    る溶液を滴下する第2の工程とを備えたことを特徴とす
    る膜形成方法。
  4. 【請求項4】 前記第1の工程および第2の工程が、い
    ずれも、レジスト溶液、SOG溶液、およびポリイミド
    溶液のうちいずれかの溶液を滴下する工程であることと
    を特徴とする請求項3記載の膜形成方法。
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