JPH10256111A - 静圧ステージ - Google Patents
静圧ステージInfo
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- JPH10256111A JPH10256111A JP7667197A JP7667197A JPH10256111A JP H10256111 A JPH10256111 A JP H10256111A JP 7667197 A JP7667197 A JP 7667197A JP 7667197 A JP7667197 A JP 7667197A JP H10256111 A JPH10256111 A JP H10256111A
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Abstract
またはスラスト外乱を減少させる。 【解決手段】 定盤上に設けられた第1のガイドに沿っ
て該定盤上を第1の方向に移動可能な第1のステージ
と、第1のステージ上に設けられた第2のガイドに沿っ
て該定盤上を第1の方向と交差する第2の方向に移動可
能な第2のステージと、前記第1および第2のステージ
に設けられ該第1および第2のステージをそれぞれ前記
定盤上に浮上させる第1および第2の流体静圧付与手段
と、前記第1および第2のステージに設けられ該第1お
よび第2のステージをそれぞれ前記定盤へ向けて吸引す
る第1および第2の与圧磁石とを具備する静圧ステージ
において、前記第1および第2の与圧磁石がそれぞれ複
数の矩形磁石片をそれらの辺を接して一次元に配列した
ものである場合に、その一次元の磁石の並びに沿う方向
と前記第1の方向とが直交するように配置する。
Description
盤に対して静圧で浮上して支持するとともに、その支持
剛性を高めるために移動ステージを定盤に向けて吸引す
る磁石を用いた静圧ステージに関し、特に走査型露光装
置用として好適な静圧ステージに関する。
光基板を逐次移動、停止して露光を繰り返すいわゆるス
テッパが知られている。
を、図12にそのウエハステージの分解図を示す。図に
おいて、ベース定盤1上にYヨーガイド2が固定され、
Yヨーガイド2の側面とベース定盤1の上面でガイドさ
れるYステージ3がベース定盤1の上にY方向に不図示
エアスライドにより滑動自在に支持されている。Yステ
ージ3は主に2本のXヨーガイド3aと、Yスライダ大
3bおよびYスライダ小3cとの4部材から構成され、
Yスライダ大3bはその側面および下面に設けた不図示
エアパッドを介してYヨーガイド2側面およびベース定
盤1上面と対面し、Yスライダ小3cはその側面に設け
た不図示エアパッドを介してベース定盤1上面と対面し
ている。この結果Yステージ3全体としては前述のよう
にYヨーガイド2の側面とベース定盤1の上面でY方向
に滑動自在に支持されることになる。
のXヨーガイド3aの側面とベース定盤1の上面とでガ
イドされるXステージ4がX軸まわりにYステージ3を
囲むように設けられ、X方向に不図示エアスライドによ
り滑動自在に支持されている。Xステージ4は主に2枚
のXステージ側板4aと、上下のXステージ天板4bお
よびXステージ底板4cとの4部材から構成され、Xス
テージ底板4cはその下面に設けたエアパッド4dを介
してベース定盤1上面と対面し、2枚のXステージ側板
4aはその側面に設けた不図示エアパッドを介してYス
テージ3の構成部材である2本のXヨーガイド3aの側
面と対面している。Xステージ天板4b下面とXヨーガ
イド3aの上面、およびXステージ底板4c上面とXヨ
ーガイド3aの下面は非接触になっている。この結果X
ステージ4全体としては前述のように2本のXヨーガイ
ド3aの側面とベース定盤1の上面でX方向に滑動自在
に支持されることになる。Xステージ天板4bの上部に
は不図示工作物保持機構が設けられウエハ等の工作物を
保持できるようになっており、またここには不図示スコ
ヤミラーが設けられ、XおよびYステージ4,3の位置
をレーザ干渉計で精密に計測できるようになっている。
2本の多相コイル切り替え方式のリニアモータが用いら
れている。固定子6a,7aはストローク方向に並べた
複数個のコイル6c,7cを枠に挿入したもので、可動
子6b,7bは箱形の磁石ユニットで構成される。7d
は磁石連結板、8はY固定子固定部材である。可動子6
b,7bの位置によって固定子6a,7aのコイル6
c,7cに選択的に電流を流すことにより推力を発生す
る。
を5μm程度に保つことが必要でこのため、分解図に示
すようにXステージ4はエアパッド4dの間に設けた2
個の与圧磁石4eでベース定盤1に吸引されるようにな
っている。Yステージ3も同様にYスライダ大3b側面
において不図示与圧磁石でYヨーガイド2に吸引される
ように、Yスライダ大3b下面とYスライダ小3c下面
において不図示与圧磁石でベース定盤1に吸引されるよ
うになっている。
形状の磁石片9を複数個並べて配置したものが用いられ
ている。ベース定盤1およびYヨーガイド2は磁石の被
吸引材である必要とエアスライドのガイド面を構成する
必要からSKSに焼き入れ研磨したものが用いられてい
る。
ップ保持のために設けた与圧磁石はエアスライドの浮力
方向と逆向きの吸引力のみを発揮してくれるのが望まし
いのであるが、実際はそれ以外にエアスライドの滑動方
向の抵抗力も発生するという問題がある。
ージ4のチルト姿勢はベース定盤1で直接ガイドされ
る。よってXステージ4はベース定盤1と対面しながら
2次元に動き、XY両方向に上記与圧磁石4eの抵抗を
受ける。Yステージ3はY方向にのみ与圧磁石の抵抗を
受ける。
の矩形磁石片9を1次元に並べて構成されるものが用い
られている。このような与圧磁石のスラスト力と変位の
関係を図2に示す。与圧磁石のスラスト力の第1の特徴
として、定盤とステージとの相対速度が小さいときは変
位とともにスラスト力が変化し、相対速度が大きくかつ
その向きが変わらないとき、すなわち大変位時には変位
によらずほぼ一定になる。つまり定盤との相対速度が小
さいときは与圧磁石は定盤に対するばねとして作用し床
振動をステージに伝達する。相対速度が大きいとばねと
して作用しなくなり、床振動をほとんど伝達しない。
て、磁石片9の並びに沿う方向(磁石片9の短辺方向)
と磁石片9の並びに垂直な方向(長辺方向)とで顕著な
異方性を示す。
ジに設けた与圧磁石と定盤との相対速度は常に小さく、
与圧磁石は定盤に対するばねとして作用し、床振動をス
テージに伝達してサーボの外乱になっていた。つまり、
ステッパではばねとして作用しなくなる領域が使えなか
った。また、ステッパにおいてはX方向、Y方向とも同
等の停止精度が要求されるため、異方性を利用した最適
な外乱低減ができなかった。
型露光装置全体図を図14に示す。図14において、床
(または地面)30から除振手段31を介して定盤1が
支持されている。定盤1上にはXY平面内に移動可能な
ウエハステージ33が設けられ、また鏡筒支持部材34
を介して縮小投影光学系35が固定されている。支持部
材34の上方にはレチクルステージベース36が設けら
れ、レチクルステージベース36上をガイドに沿って1
軸方向に走査可能なレチクルステージ37が設けられて
いる。レチクルを通してウエハに露光エネルギを与える
ための照明系38が破線で示されている。41は光学系
35の外筒、42,43は干渉計基準である。
部領域のみが照明される。このため全体を露光するには
ウエハステージ33とレチクルステージ37を光学系3
5の縮小倍率に等しい速度比で同期スキャンし、スキャ
ン中に露光する。ウエハステージ33はXYステージで
あるが露光中はレチクルステージ37の軸に平行な軸を
スキャンしもう1つの軸は静止するように制御する。
ある。鏡筒定盤45に支持される投影光学系35がウエ
ハステージ定盤46とは機械的に分離されて直接床30
から除振手段31で支持されている。このため投影光学
系35や干渉計基準にはウエハステージ33からの振動
が伝わらず光学系35や干渉計基準42,43の機械的
変形および振動を極めて小さくできるという利点があ
る。また、ウエハステージ定盤46は除振手段31を介
さず床30から直接支持されている。このためウエハス
テージ33を加減速したときの反力による定盤46の揺
り戻しがきわめて小さく停止精度が向上したり制定時間
が短縮されたりするという利点がある。
いてはスキャン中に発生する走行抵抗のむらおよび絶対
値が新たな問題となる。走査露光装置ではスキャン中に
露光するのでスキャン中の走行抵抗にむらがあると床振
動とはまた別の推力外乱となってステージに作用しスキ
ャン露光のスキャン方向の重ね合わせ精度を低下させ
る。
大変位するときの磁気ヒステリシスに起因する抵抗それ
自体のむらによるものと、仮に磁気ヒステリシス抵抗自
体のむらがゼロだとしても駆動系との組み合わせで結果
的に発生するものとに大別できる。
ついて、図7においては磁石と定盤が相対的に大変位し
たときの抵抗むらがゼロとして図示してあるが、実際に
は何らかのむらが存在する。問題はその量であって定盤
材料によって図7のようにゼロとみなしてよい材料と、
露光精度を低下させるほどむらの大きい材料とがある。
例えば、図2において、定盤材料がSKSでは磁石と定
盤が相対的に大変位したときの抵抗むらがゼロとみなせ
るが、定盤材料がNi系鋳物では磁石を構成する矩形磁
石片の並びに沿う方向(矩形磁石片の短辺方向)に走査
したとき磁極ピッチに同期した顕著なむらが発生する。
るが、これは駆動系に複数個のコイルを切り替えるタイ
プのリニアモータを用いたときに発生する。このタイプ
のモータは位置によって周期的に推力定数が変化する。
したがって定電流駆動した場合、仮に磁石からの抵抗が
一定だったとしても推力定数の周期的むらがそのまま抵
抗むらとなって作用しスキャン方向の露光精度を低下さ
せる。このむらの大きさは磁石が発生する抵抗の絶対値
に比例するのでこれを減らすには磁石の抵抗の絶対値を
減らす必要がある。
打ち勝つための余分な推力が必要になり、駆動系の発熱
が増加したり、発熱を除去する冷却系が大型化したりす
る。
ステップ方向という)では、事情はステッパと全く同じ
で上記与圧磁石抵抗は床振動の水平成分を伝達する役割
をはたす。通常はウエハステージ定盤は図14のシステ
ムのように除振手段で支持され床振動を伝達しにくくし
ているがその残差が与圧磁石を介してステージに伝わ
る。これはサーボ性能を低下させ、スキャンと直角方向
の像性能低下、つまり露光パターンのコントラスト低下
を招く。これを防ぐためには床振動レベル自身をさらに
低下させなければならずトータルコストが増加する。図
15のようにウエハステージ定盤を床から直接支持する
システムにおいては床振動はもろに伝わるのでより深刻
な問題となる。
キャン方向、非スキャン方向(ステップ方向)という概
念が現れたので、磁石のばね性の異方性を利用できる可
能性がでたことである。
鑑みてなされたもので、与圧磁石のスラスト抵抗の少な
い静圧ステージを提供することを目的とする。また、与
圧磁石によるスラスト外乱の少ない静圧ステージを提供
することをさらなる目的とする。
ため本発明では、定盤上に設けられた第1のガイドに沿
って該定盤上を第1の方向に移動可能な第1のステージ
と、第1のステージ上に設けられた第2のガイドに沿っ
て該定盤上を第1の方向と交差する第2の方向に移動可
能な第2のステージと、前記第1および第2のステージ
に設けられこれら第1および第2のステージをそれぞれ
前記定盤から浮上させる第1および第2の流体静圧付与
手段と、前記第1および第2のステージに設けられこれ
ら第1および第2のステージをそれぞれ前記定盤へ向け
て吸引する第1および第2の与圧磁石とを具備する静圧
ステージにおいて、前記第1および第2の与圧磁石がそ
れぞれ複数の矩形磁石片を辺を接して一次元に配列した
ものであることを特徴とする。前記第1の与圧磁石は、
その一次元の磁石の並びに沿う方向と前記第1の方向と
が直交するように配置することが好ましい。
用ウエハステージとして好ましく用いられる。その場
合、前記第1の方向と第2の方向とは直交しており、こ
れらの方向の一方がスキャン方向、他方がステップ方向
に設定される。そして、与圧磁石のスラスト抵抗を少な
くするためには、前記第1の方向をスキャン方向とし、
前記第2の与圧磁石を構成する磁石片の長手方向を該ス
キャン方向に向けるか、または前記第2の方向をスキャ
ン方向とし、前記第2の与圧磁石を構成する磁石片の長
手方向を該スキャン方向に向ける。
くするためには、前記第2の方向をステップ方向とし、
前記第2の与圧磁石を構成する磁石片の長手方向を該ス
テップ方向に向けるか、または前記第1の方向をステッ
プ方向とし、前記第2の与圧磁石を構成する磁石片の長
手方向を該ステップ方向に向ける。
たは純鉄もしくはS10C等の低炭素鉄系材料を用いる
のが好ましい。
は例えば図14および図15に示す構成のものを用いる
ことができる。
石を構成する矩形磁石片の磁石並びに沿う方向(短辺方
向)がスキャン軸と直角になるように、すなわち矩形磁
石片の長手方向がスキャン軸と平行になるように配置す
ることにより、与圧磁石のスラスト抵抗を減少させるこ
とができる。また、走査型露光装置用静圧ステージにお
いて与圧磁石を構成する矩形磁石片の磁石並びに沿う方
向(短辺方向)がステップ方向と直角になるように、す
なわち矩形磁石片の長手方向がステップ方向と平行にな
るように配置することにより、与圧磁石によるスラスト
外乱を減少させることができる。また、定盤材料を選択
することにより、スラスト抵抗またはスラスト外乱をさ
らに減少させることができる。
る。第1実施例 本実施例において、ステージの構成要素は図11および
図12のものと同じである。但し、ベース定盤1の材質
は従来例ではSKSであったが、本実施例および第2実
施例ではNi系鋳物材料にしてある。上記与圧磁石の抵
抗は与圧磁石が或る位置から別の位置に移動するとき、
もともと磁石のあった位置のSKSの磁化が磁石がいな
くなっても完全になくならず一部残り、これが磁石の移
動を妨げようとするために生ずる。つまり材料の磁気的
ヒステリシスに起因して生ずる。この磁気ヒステリシス
に起因する抵抗は材料のBH曲線の囲む面積に比例す
る。そこで定盤やヨーガイドの材料としてはBH曲線の
囲む面積の小さい材料が望ましい。
引材としての機能を果たさなければならないので磁束を
十分に通すこと、つまり飽和磁束密度が大きいことが望
ましい。
i系鋳物があり、代表的な組成は、
図2に示す。Ni系鋳物ではBH曲線の面積がSKSに
比べて格段に小さい。一方、飽和磁束密度は約0.8T
程度以上が期待できかなりの吸引力が望めることがわか
る。
の図で、Yをスキャン方向、Xをステップ方向とするX
ステージ4およびYステージ3を下から眺めたものであ
る。Xステージ4においても、Yステージ3においても
与圧磁石4e,3eを構成する矩形状の磁石片の磁石並
びに沿う方向(磁石片の短辺方向)がスキャン軸(Y
軸)と直角になるよう、すなわち磁石片の長手方向がス
キャン軸と平行になるよう配置されている。このように
配置する理由はNi系鋳物において、矩形磁石片の長辺
(長手方向)と直角に走査すると、磁極ピッチに同期す
る抵抗むらがあるためである。以下この辺りの事情につ
いて説明する。
てる分相当)を矩形磁石の長辺に直角に走査した場合
と、平行に走査した場合の位置と抵抗力の関係をSKS
とNi系鋳物の各々について示した図である。VS、P
S、VN、PNは走査抵抗の2倍に相当する量である
が、実測値は
さくなる。またNi系直角の場合には磁極ピッチ(例え
ば7.5mm)に同期して約30gピークツーピークの
むらが発生する。
てる分相当)を矩形磁石の長辺に直角に微小(1μm程
度)移動した場合と、平行に微小移動した場合の位置と
抵抗力の関係をSKSとNi系鋳物の各々について示し
たものである。各直線の傾きは与圧磁石が発生するスラ
スト方向のばね定数に相当するが実測値は
指標となる。これもNi系材料にすることで期待通り小
さくなる。
さく微小変位のばね定数も小さいので走査においても微
小移動においても採用するのが好ましい。Yステージ3
はベース定盤1に対してY方向にのみ1次元に相対運動
するから、このような配置が可能である。
に対して2次元に相対運動しXY両方向に磁石4eから
のスラスト抵抗を受ける。したがって、XYのどちらか
しか磁石長辺の平行方向が採用できない。この最も好ま
しい方向をどのように配置するかが問題となる。
向のステージで矩形磁石片の短辺方向をスキャン軸と直
角(磁石片の長手方向を平行)に配置すれば、スキャン
時の走行抵抗にむらがなくなり、むらに起因する推力外
乱がなくなる。
のばね定数は、表3に示す20g/mmではなくほぼゼ
ロである。何故ならスキャン中サーボ誤差で目標値に対
して正または負の値をとったとしても位置の絶対値自身
は増え続けつつ常に大変位の領域にあるからほぼ一定の
力がかかるためである。
伝達だけを考えればよいが、ばね定数が表3に示すよう
に223g/mmとなり、SKSの場合に比べて約1/
8となる。
ラスト抵抗むらを最小にするためには本実施例に示すよ
うにXステージ4においてもYステージ3においても矩
形磁石片の長手方向がスキャン軸と平行になるように配
置しなければならない。Yスキャンのスキャン動作にお
いてはYリニアモータでXステージ4とYステージ3の
一体物をスキャンするのでどちらか一方でも矩形磁石片
の短辺方向がスキャン軸と平行になっているとスキャン
抵抗にむらがでるからである。またこのようにすると、
スキャンと直角方向の振動伝達はXステージ4からの分
しか伝達されない。Yステージ3からの分はXステージ
4とYステージ3の間のエアスライドで絶縁されるから
である。
スキャン方向、Yをステップ方向とするXステージ4と
Yステージ3を下から眺めたものである。Xステージ4
においては与圧磁石4eを構成する矩形状の磁石片の磁
石並びに沿う方向(短辺方向)がスキャン軸と直角にな
るよう配置されており、Yステージ3においては与圧磁
石3eを構成する矩形状の磁石片の磁石並びに沿う方向
(短辺方向)がスキャン軸と平行になるよう配置されて
いる。
ラを発生させないようにしたことにある。この観点だけ
から言うと、Yステージ3の矩形磁石片の長辺はXYど
ちらを向いてもよいように見える。なぜならXスキャン
はXリニアモータでXステージ4のみをスキャンするの
でYステージ3の矩形磁石片の向きによらずYステージ
3からは抵抗むらは発生しないからである。
ージ3の矩形磁石片の短辺方向は本実施例のようにスキ
ャン方向に平行にするのが望ましい。このようにすると
Yステージ3にはスキャンと直角方向の床振動は伝わり
にくく、スキャン方向の床振動は伝わりやすくなる。Y
ステージ3に伝わったスキャンと直角方向の振動はヨー
ガイドを介してXステージ4に伝わる。一方、Yステー
ジ3に伝わったスキャン方向の振動はヨーガイドで絶縁
されてXステージ4には伝わらない。この結果トータル
として最もYステージ3経由の床振動がXステージ4に
伝わりにくいシステムとなる。
図12のものと同じである。但し、ベース定盤1の材質
は従来例ではSKSであったが、第3および第4実施例
では低炭素鉄系材料にしてある。上記与圧磁石の抵抗は
与圧磁石がある位置から別の位置に移動するとき、もと
もと磁石のあった位置のSKSの磁化が磁石がいなくな
っても完全に無くならず一部残り、これが磁石の移動を
妨げようとするために生ずる。つまり材料の磁気的ヒス
テリシスに起因して生ずる。この磁気ヒステリシスに起
因する抵抗は材料のBH曲線の囲む面積に比例する。そ
こで定盤1やヨーガイド2の材料としてはBH曲線の囲
む面積の小さい材料が望ましい。
としての機能をはたさなければならないので磁束を十分
に通すこと、つまり飽和磁束密度が大きいことが望まし
い。
炭素鉄系材料があり、具体的には純鉄またはS10Cを
用いる。純鉄の場合、加工性を向上させるために炭素以
外の不純物を添加することが望ましい。
示す。純鉄ではBH曲線の面積がSKSに比べて格段に
小さく、一方、飽和磁束密度は約1.6T程度以上であ
り、吸引力においても問題ない。
の図で、Yをスキャン方向、Xをステップ方向とするX
ステージ4およびYステージ3を下から眺めたものであ
る。Yステージ3においては与圧磁石3eを構成する矩
形状の磁石片の磁石並びに直角な方向(磁石片の長手方
向)がスキャン方向(Y軸)と平行になるよう配置さ
れ、Xステージ4においては与圧磁石4eを構成する矩
形状の磁石片の磁石並びに直角な方向(磁石片の長手方
向)がスキャン方向(Y軸)と直角に、ステップ方向
(X軸)とは平行になるよう配置されている。
図8は与圧磁石2個(Xステージ4についてる分相当)
を矩形磁石片の長手方向に直角に走査した場合と、平行
に走査した場合の位置と抵抗力の関係をSKSと純鉄の
各々について示した図である。VS、PS、VJ、PJ
は走査抵抗の2倍に相当する量であるが、実測値は
り小さくなる。図9は与圧磁石2個(Xステージ4につ
いてる分相当)を矩形磁石片の短辺方向に直角に微小
(1μm程度)移動した場合と、平行に微小移動した場
合の位置と抵抗力の関係をSKSと純鉄の各々について
示したものである。各直線の傾きは与圧磁石が発生する
スラスト方向のばね定数に相当するが実測値は
る床振動の水平成分の伝達のしやすさの指標となる。こ
れも低炭素鉄系材料にすることで期待通り小さくなる。
く微小変位のばね定数も小さいので走査においても微小
移動においても採用するのが好ましい。Yステージ3は
ベース定盤1に対してY方向にのみ1次元に相対運動す
るから、このような配置が可能である。
に対して2次元に相対運動しXY両方向に磁石4eから
のスラスト抵抗を受ける。したがって、XYのどちらか
しか磁石長辺の平行方向が採用できない。この最も好ま
しい方向をどのように配置するかが問題となる。
向のステージで短冊磁石片の長手方向をスキャン方向と
直角に配置すれば、スキャンと直角方向(ステップ時)
のばね定数を25g/mmと最も小さくすることができ
る。このときスキャン方向のばね定数は、260g/m
mと大きくなるが、これは静止時の話であって、スキャ
ン時はほぼゼロとなる。何故ならスキャン中サーボ誤差
で目標値に対して正または負の値をとったとしてもスキ
ャンによる移動の方が支配的なので磁石と定盤の相対変
位は時間に対して単調増加であり、この結果、磁石から
受ける抵抗はほぼ一定になるからである。このようにす
ることにより、床からの水平方向の振動伝達を最小にす
ることができる。一方、スキャン抵抗は表4に示すよう
に60gとなり、磁石片の長手方向をスキャン方向と平
行にした場合の10gよりは大きいが、SKSに比べれ
ば充分小さくなっている。
ように、Yステージ3においては矩形磁石片の長手方向
がスキャン方向と平行になるように配置するのが良い。
Yスキャンのスキャン動作においてはYリニアモータで
Xステージ4とYステージ3の一体物をスキャンするの
で、このようにするとスキャンの走査抵抗を減らすこと
ができるからである。換言すると、こうしなければYス
テージ3から無用の走査抵抗をもらい、駆動系との組み
合わせの推力むらを招くことになる。
ン中のスキャン方向のばね定数はYステージ3において
もほぼゼロである。スキャンと直角方向のばね定数はY
ステージ3において260g/mmと大きい方の値とな
りYステージ3には床振動がそれなりに伝わるのである
が、Xステージ4、すなわちウエハが搭載されたステー
ジとはヨーガイド2にてスキャンと直角方向の振動は絶
縁されるのでYステージ3にある程度の床振動が伝わっ
ても問題は無い。
をスキャン方向、Yをステップ方向とするXステージ4
とYステージ3を下から眺めたものである。Xステージ
4においては与圧磁石4eを構成する矩形状の磁石片の
磁石並びに沿う方向(短辺方向)がスキャン方向になる
よう配置されており、Yステージ3においても与圧磁石
3eを構成する矩形状の磁石片の磁石並びに沿う方向
(短辺方向)がスキャン方向になるよう配置されてい
る。
振動を最小にしたことである。第3実施例と同様、スキ
ャンと直角方向(ステップ時)のばね定数は25g/m
m、スキャン方向(スキャン時)のばね定数はほぼゼロ
である。
で行なわれYステージ3は静止しているのでスキャン抵
抗という観点からはYステージ3の磁石3eの向きはX
Yどちらでもよいように見える。
るとYステージ3の矩形磁石片の長手方向も本実施例の
ようにスキャン方向に直角にするのが望ましい。このよ
うにするとYステージ3にはスキャンと直角方向の床振
動は伝わりにくく、スキャン方向の床振動は伝わりやす
くなる。Yステージ3に伝わった振動のうちXステージ
4に伝わるのはスキャンと直角方向の振動のみである。
スキャン方向の振動はヨーガイド2で絶縁されるからで
ある。この結果トータルとして最もYステージ3経由の
床振動がXステージ4に伝わりにくいシステムとなる。
に起因するスキャン抵抗を低減することにより、発熱を
低減することができるとともに、多相モータと組み合わ
せたときの重ね合わせ精度を向上させることができる。
また、与圧磁石のスラスト力に起因するサーボ外乱を低
減することによりスキャンと直角方向の像性能を向上さ
せることができる。延ては定盤直置きのシステムを成立
させることもできる。
底面図である。
曲線比較図である。
与圧磁石の方向による走査抵抗比較図である。
与圧磁石の方向によるばね定数比較図である。
底面図である。
底面図である。
曲線比較図である。
与圧磁石の方向による走査抵抗比較図である。
与圧磁石の方向によるばね定数比較図である。
の底面図である。
ハステージの全体図である。
査型露光装置の全体図である。
の走査型露光装置の全体図である。
3a:Xヨーガイド、3b:Yスライダ大、3c:Yス
ライダ小、3e:与圧磁石、4:Xステージ、4a:X
ステージ側板、4b:Xステージ天板、4c:Xステー
ジ底板、4d:エアパッド、4e:与圧磁石、6a,7
a:固定子、6b,7b:可動子、6c,7c:コイ
ル、7d:磁石連結板、8:Y固定子固定部材、30:
床(または地面)、31:除振手段、33:ウエハステ
ージ、34:鏡筒支持部材、35:縮小投影光学系、3
6:レチクルステージベース、37:レチクルステー
ジ、38:照明系、41:外筒、42,43:干渉計基
準、45:鏡筒定盤。
Claims (11)
- 【請求項1】 定盤上に設けられた第1のガイドに沿っ
て該定盤上を第1の方向に移動可能な第1のステージ
と、第1のステージ上に設けられた第2のガイドに沿っ
て該定盤上を第1の方向と交差する第2の方向に移動可
能な第2のステージと、前記第1および第2のステージ
に設けられ該第1および第2のステージをそれぞれ前記
定盤上に浮上させる第1および第2の流体静圧付与手段
と、前記第1および第2のステージに設けられ該第1お
よび第2のステージをそれぞれ前記定盤へ向けて吸引す
る第1および第2の与圧磁石とを具備する静圧ステージ
において、前記第1および第2の与圧磁石がそれぞれ複
数の矩形磁石片をそれらの辺を接して一次元に配列した
ものであることを特徴とする静圧ステージ。 - 【請求項2】 前記一次元の磁石の並びに沿う方向と前
記第1の方向とが直交することを特徴とする請求項1記
載の静圧ステージ。 - 【請求項3】 前記第1の方向と第2の方向が直交して
おり、これらの方向の一方をスキャン方向、他方をステ
ップ方向とする走査型露光装置にウエハステージとして
配設されていることを特徴とする請求項1または2記載
の静圧ステージ。 - 【請求項4】 前記第1の方向がスキャン方向であり、
前記第2の与圧磁石を構成する磁石片の一次元の磁石並
びに沿う方向と該スキャン方向が直交することを特徴と
する請求項3記載の静圧ステージ。 - 【請求項5】 前記第2の方向がスキャン方向であり、
前記第2の与圧磁石を構成する磁石片の一次元の磁石並
びに沿う方向と該スキャン方向が直交することを特徴と
する請求項3記載の静圧ステージ。 - 【請求項6】 前記第2の方向がステップ方向であり、
前記第2の与圧磁石を構成する磁石片の一次元の磁石並
びに沿う方向と該ステップ方向が直交することを特徴と
する請求項3記載の静圧ステージ。 - 【請求項7】 前記第1の方向がステップ方向であり、
前記第2の与圧磁石を構成する磁石片の一次元の磁石並
びに沿う方向と該ステップ方向が直交することを特徴と
する請求項3記載の静圧ステージ。 - 【請求項8】 前記定盤が、Ni系鋳物または低炭素鉄
系材料からなることを特徴とする請求項1〜7のいずれ
かに記載の静圧ステージ。 - 【請求項9】 前記定盤が、床に除振手段を介して設置
され、該定盤上に前記走査型露光装置を構成する投影光
学系およびレチクルステージが搭載されていることを特
徴とする請求項1〜8のいずれかに記載の静圧ステー
ジ。 - 【請求項10】 前記定盤が、除振手段を介さず床と直
結され、前記走査型露光装置を構成する投影光学系およ
びレチクルステージは除振手段を介して床に設置された
他の定盤上に搭載されていることを特徴とする請求項1
〜8のいずれかに記載の静圧ステージ。 - 【請求項11】 前記静圧を発生するための流体が空気
であることを特徴とする請求項1〜10のいずれかに記
載の静圧ステージ。
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JP3729430B2 JP3729430B2 (ja) | 2005-12-21 |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2009258196A (ja) * | 2008-04-14 | 2009-11-05 | Hitachi High-Technologies Corp | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板移動方法、及び表示用パネル基板の製造方法 |
JP2009258195A (ja) * | 2008-04-14 | 2009-11-05 | Hitachi High-Technologies Corp | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板移動方法、及び表示用パネル基板の製造方法 |
JP2016103544A (ja) * | 2014-11-27 | 2016-06-02 | 株式会社ディスコ | 厚さ測定器 |
-
1997
- 1997-03-13 JP JP7667197A patent/JP3729430B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|---|---|---|
US7144160B2 (en) | 2003-10-16 | 2006-12-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Hydrodynamic bearing apparatus and stage apparatus using the same |
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